JP2005340732A - ウェーハ清浄化装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】生産性を低下させることなくウェーハの外周部を清浄化し、ウェーハを構成する各層を積層させる工程の環境が汚染されるのを防止する。
【解決手段】チャックテーブルに保持されたウェーハの外周部を研磨する研磨手段と、チャックテーブルに保持され研磨手段によって外周部が研磨されたウェーハの該外周部を鏡面仕上げするポリッシング手段と、チャックテーブルに保持されたウェーハを研磨手段またはポリッシング手段に所定の圧力で作用させる圧力調整手段とを備え、ウェーハ外周部に付着した物質を効率良く除去し、鏡面仕上げする。
【選択図】図1
【解決手段】チャックテーブルに保持されたウェーハの外周部を研磨する研磨手段と、チャックテーブルに保持され研磨手段によって外周部が研磨されたウェーハの該外周部を鏡面仕上げするポリッシング手段と、チャックテーブルに保持されたウェーハを研磨手段またはポリッシング手段に所定の圧力で作用させる圧力調整手段とを備え、ウェーハ外周部に付着した物質を効率良く除去し、鏡面仕上げする。
【選択図】図1
Description
本発明は、ウェーハの外周部を清浄化するウェーハ清浄化装置に関するものである。
集積回路が形成された半導体ウェーハは、シリコンウェーハ等の表面に絶縁膜や配線層を形成していくことにより製造される。その過程においては、シラン、アルミ、銅、リン、マンガン、白金等の種々の物質が複雑に積層されていくため、これら各物質を積層させる工程においては、所望の物質のみが積層されるよう、その他の物質が混入しないような環境を維持する必要がある。
しかし、各積層工程においては、ウェーハ中央部のデバイスが形成された領域にはマスキングが施されて不純物が混入しないような処理がなされるものの、ウェーハ外周部には、特段の処理が施されないため、ウェーハ外周部には各積層工程において付着した物質が残存し、その付着した物質が後続する工程における環境を汚染するという問題がある。
そこで、次の物質を積層させる工程に移る前に、汚染の原因となる物質をウェーハ外周部から除去して清浄化することも行われている(例えば特許文献1参照)。
しかしながら、ウェーハの外周に付着した物質を除去するには相当の時間がかかり、生産性が低下するという問題がある。そこで、本発明が解決しようとする課題は、効率良くウェーハの外周部を清浄化することである。
本発明は、ウェーハの外周部を清浄化するウェーハ清浄化装置に関するもので、ウェーハを吸引保持し回転可能なチャックテーブルと、チャックテーブルに保持されたウェーハの外周部を研磨する研磨手段と、チャックテーブルに保持され研磨手段によって外周部が研磨されたウェーハの外周部を鏡面仕上げするポリッシング手段と、チャックテーブルに保持されたウェーハを研磨手段またはポリッシング手段に作用させる圧力を調整する圧力調整手段とを少なくとも備えることを要旨とする。
研磨手段は、ウェーハの外周部に作用する研磨砥石と、研磨砥石を回転させる砥石駆動部とを備え、ポリッシング手段は、ウェーハの外周部に作用するポリッシングパッドと、ポリッシングパッドを回転させるパッド駆動部とを備えることが好ましい。また、研磨砥石とポリッシングパッドのいずれか一方をウェーハの外周部に選択的に作用させる選択手段を備えることが好ましい。
研磨及びポリッシングの対象となるウェーハにはオリエンテーションフラットが形成されていてもよい。
本発明に係るウェーハ清浄化装置においては、ウェーハの外周部を研磨する研磨手段と、研磨手段によって外周部が研磨されたウェーハの外周部を鏡面仕上げするポリッシング手段とを備えたため、研磨手段によってウェーハの外周部に付着した物質を効率良く除去すると共に、ポリッシング手段によって当該外周部を鏡面加工することができるため、汚染の原因となる物質を次の工程に持ち込んで環境を汚染するのを防止することができる。そして、チャックテーブルに保持されたウェーハを研磨手段またはポリッシング手段に所定の圧力で作用させる圧力調整手段とを少なくとも備えることにより、適度な圧力で研磨またはポリッシングを行うことができ、より効率的に物質の除去及び鏡面仕上げができる。
また、研磨砥石とポリッシングパッドのいずれか一方をウェーハの外周部に選択的に作用させる選択手段を備えた場合には、研磨工程とポリッシング工程との間での移行を円滑に行うことができる。
更に、研磨及びポリッシングの対象となるウェーハにはオリエンテーションフラットが形成されている場合には、圧力調整手段による作用によってオリエンテーションフラットも含めてウェーハの外周部の研磨及びポリッシングを確実に行うことができる。
図1のウェーハ清浄化装置1は、基台2の上に保持手段3が固定されていると共に、加工手段4が駆動手段5によって駆動されて基台2上を水平方向に移動する構成となっている。
保持手段3は、ウェーハを吸引保持するチャックテーブル30と、チャックテーブル30を回転及び昇降させるテーブル駆動部31とから構成される。
加工手段4は、基部40と、基部40に固定されたモータ41と、モータ41に連結された回転部42と、回転部42と共通のベルト43が巻かれた回転軸44と、回転軸44に固定された研磨砥石45及びポリッシングパッド46とから構成されており、モータ41による動力がベルト43を介して回転軸44に伝達され、その動力により研磨砥石45及びポリッシングパッド46が回転する構成となっており、モータ41、回転部42、ベルト43及び回転軸44が砥石駆動部及びパッド駆動部として機能する。研磨砥石45と砥石駆動部とで研磨手段45aが構成され、ポリッシングパッド46とパッド駆動部とでポリッシング手段46aが構成される。なお、砥石駆動部とパッド駆動部とが別個に構成されていてもよい。
研磨砥石45及びポリッシングパッド46は、その側面に、ウェーハの外周部の形状に対応した凹部450、460をそれぞれ有している。研磨砥石45は、例えば粒径が1μm〜2μm程度のダイヤモンド砥粒をレジンボンドで固めた構成のものが好ましい。また、ポリッシングパッド46は、例えば研磨布により構成される。
駆動手段5は、エアーシリンダ50によってピストン51の先端に連結されたスライド部52が水平方向にスライドする構成となっており、スライド部52が水平方向にスライドするのに伴い、スライド部52に連結された基部40も同方向にスライドする構成となっている。
加工手段4を構成する基部40の下部には圧力調整手段6が連結されている。この圧力調整手段6は、図示の例では基部40の下部に取り付けられたロープ60の先端におもり61が連結されて構成される。ロープ60は基台2に固定された支持部62に巻き付けられており、圧力調整手段6は、基部40を保持手段3側に引っ張る役目を果たし、これによってウェーハを研磨手段45aまたはポリッシング手段46aに作用させる際の圧力を調整することができる。なお、圧力調整手段の構成は図示の例には限られない。
加工手段4の近傍には研磨水供給手段7及びスラリー供給手段8が配設されている。研磨水供給手段7は、研磨水を蓄えるタンク70とタンク70から加工部位に研磨水を供給する研磨水供給管71と研磨水供給管71へ研削水への流出量を調整するバルブ72とを備え、研磨水供給管71の先端は研磨砥石45に向けられている。一方、スラリー供給手段8は、ポリッシング用のスラリーを蓄えるタンク80とタンク80から加工部位にスラリーを供給するスラリー供給管81とスラリー供給管81へのスラリーの流出量を調整するバルブ82とを備え、スラリー供給管81の先端はポリッシングパッド46に向けられている。
例えば、図1に示すように、オリエンテーションフラットFが形成され表面W1にデバイスDが複数形成されたウェーハWについて、外周部Sに付着した物質を除去しようとするときは、最初にチャックテーブル30においてウェーハWを吸引保持する。なお、オリエンテーションフラットFも外周部Sに含まれる。
そして、テーブル駆動部31による駆動のもとで、図2に示すように、テーブル駆動部31によってチャックテーブル30を昇降させることにより、ウェーハWの外周部Sの高さが研磨砥石45の凹部450の高さに合致するように位置付けると共に、チャックテーブル30をゆっくりと(例えば0.5rpm〜2rpm程度で)回転させてウェーハWを回転させながら、モータ41(図1参照)により研磨砥石45を例えば3000rpm〜6000rpm程度で回転させる。これと共に、駆動手段5(図1参照)によって加工手段4をスライドさせることにより、ウェーハWの外周部Sと研磨砥石45の凹部450とが接触するようにして、研磨水供給管71からウェーハWの外周部Sに研磨水を供給しながら外周部Sを研磨する。このとき、圧力調整手段6によって研磨砥石45からウェーハWに対して適度な圧力(例えば100g〜500g)がかけられ、外周部Sを効率良く研磨して付着した物質を除去することができる。
オリエンテーションフラットFの部分の外周部を研磨する際は、圧力調整手段6からの圧力によって研磨砥石45がウェーハW側に若干移動する。また、チャックテーブル30はゆっくりと回転している。従って、研磨砥石45の凹部450とオリエンテーションフラットFの外周部Sとは常に接触し、研磨砥石45が空回りすることがない。従って、オリエンテーションフラットFに倣って研磨が行われ、オリエンテーションフラットFに付着した物質も確実に除去することができる。
このようにして外周部Sを研磨することにより外周部Sに付着した物質を除去した後は、駆動手段5によって研磨砥石45をウェーハWから遠ざけてから、図3に示すように、テーブル駆動部31によってチャックテーブル30を上昇させ、ウェーハWの外周部Sがポリッシングパッド46の凹部460に接触するように位置付ける。即ち、テーブル駆動部31は、研磨砥石45とポリッシングパッド46のいずれか一方をウェーハWの外周部Sに選択的に作用させる選択手段としての役割を果たす。
そして、モータ40(図1参照)によりポリッシングパッド46を例えば3000rpm〜6000rpm程度で回転させると共に、駆動手段5によって加工手段4をスライドさせることにより、ウェーハWの外周部Sとポリッシングパッド46の凹部460とが接触するようにして、スラリー供給管81から外周部Sにスラリーを供給しながら外周部Sをポリッシングする。このとき、圧力調整手段6によってポリッシングパッド46からウェーハWに対して適度な圧力(例えば100g〜500g)がかけられ、外周部Sを効率良くポリッシングして鏡面仕上げすることができる。なお、ポリッシングパッド46としてフェルトに砥粒を混入させたものを使用することもでき、その場合にはスラリーは不要となる。
オリエンテーションフラットFのポリッシング時においても、研磨時と同様に、圧力調整手段6からの圧力によってポリッシングパッド46がウェーハW側に若干移動すると共に、チャックテーブル30はゆっくりと回転しているため、ポリッシングパッド46の凹部460とオリエンテーションフラットFの外周部Sとは常に接触し、ポリッシングパッド46が空回りすることがない。従って、オリエンテーションフラットFの外周部Sも確実に鏡面仕上げすることができる。
以上のようにしてウェーハWの高さを変えるだけで研磨とポリッシングを行うことができ、オリエンテーションフラットFも含めてウェーハWの外周部Sに付着した物質を効率良く除去できると共に、外周部Sを鏡面仕上げすることができる。従って、生産性を低下させずに、絶縁膜や配線層の積層の障害となる物質を除去することができ、後続の積層工程の環境が汚染されるのを防止することができる。
なお、上記の例においては、チャックテーブル30が昇降する構成としたが、加工手段4が昇降する構成としてもよい。また、研磨及びポリッシングの対象は、オリエンテーションフラットが形成されたウェーハには限られない。
1:ウェーハ清浄化装置
2:基台
3:保持手段
30:チャックテーブル 31:テーブル駆動部(選択手段)
4:加工手段
40:基部 41:モータ 42:回転部 43:ベルト 44:回転軸
45a:研磨手段
45:研磨砥石 450:凹部
46a:ポリッシング手段
46:ポリッシングパッド 460:凹部
5:駆動手段
50:エアーシリンダ 51:ピストン 52:スライド部
6:圧力調整手段
60:ロープ 61:おもり 62:支持部
7:研磨水供給手段
70:タンク 71:研磨水供給管 72:バルブ
8:スラリー供給手段
80:タンク 81:スラリー供給管 82:バルブ
W:ウェーハ
W1:表面 W2:裏面 D:デバイス F:オリエンテーションフラット
S:外周部
2:基台
3:保持手段
30:チャックテーブル 31:テーブル駆動部(選択手段)
4:加工手段
40:基部 41:モータ 42:回転部 43:ベルト 44:回転軸
45a:研磨手段
45:研磨砥石 450:凹部
46a:ポリッシング手段
46:ポリッシングパッド 460:凹部
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W:ウェーハ
W1:表面 W2:裏面 D:デバイス F:オリエンテーションフラット
S:外周部
Claims (3)
- ウェーハの外周部を清浄化するウェーハ清浄化装置であって、
ウェーハを吸引保持し回転可能なチャックテーブルと、
該チャックテーブルに保持されたウェーハの外周部を研磨する研磨手段と、
該チャックテーブルに保持され該研磨手段によって外周部が研磨されたウェーハの該外周部を鏡面仕上げするポリッシング手段と、
該チャックテーブルに保持されたウェーハを該研磨手段または該ポリッシング手段に作用させる圧力を調整する圧力調整手段と
を少なくとも備えたウェーハ清浄化装置。 - 前記研磨手段は、ウェーハの外周部に作用する研磨砥石と、該研磨砥石を回転させる砥石駆動部とを備え、
前記ポリッシング手段は、ウェーハの外周部に作用するポリッシングパッドと、該ポリッシングパッドを回転させるパッド駆動部とを備える
請求項1に記載のウェーハ清浄化装置。 - 前記研磨砥石と前記ポリッシングパッドのいずれか一方を前記ウェーハの外周部に選択的に作用させる選択手段を備える請求項2に記載のウェーハ清浄化装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004161161A JP2005340732A (ja) | 2004-05-31 | 2004-05-31 | ウェーハ清浄化装置 |
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JP2004161161A JP2005340732A (ja) | 2004-05-31 | 2004-05-31 | ウェーハ清浄化装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2005340732A true JP2005340732A (ja) | 2005-12-08 |
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JP2004161161A Pending JP2005340732A (ja) | 2004-05-31 | 2004-05-31 | ウェーハ清浄化装置 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007208184A (ja) * | 2006-02-06 | 2007-08-16 | Elpida Memory Inc | ウエハ研磨装置 |
WO2015050185A1 (ja) * | 2013-10-04 | 2015-04-09 | 株式会社 フジミインコーポレーテッド | 研磨装置、研磨部材の加工方法、研磨部材の修正方法、形状加工用切削工具及び表面修正用工具 |
-
2004
- 2004-05-31 JP JP2004161161A patent/JP2005340732A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007208184A (ja) * | 2006-02-06 | 2007-08-16 | Elpida Memory Inc | ウエハ研磨装置 |
WO2015050185A1 (ja) * | 2013-10-04 | 2015-04-09 | 株式会社 フジミインコーポレーテッド | 研磨装置、研磨部材の加工方法、研磨部材の修正方法、形状加工用切削工具及び表面修正用工具 |
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