JP2005326259A - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005326259A JP2005326259A JP2004144453A JP2004144453A JP2005326259A JP 2005326259 A JP2005326259 A JP 2005326259A JP 2004144453 A JP2004144453 A JP 2004144453A JP 2004144453 A JP2004144453 A JP 2004144453A JP 2005326259 A JP2005326259 A JP 2005326259A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shield
- mesh sheet
- current
- conductor
- wire
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
【解決手段】非導電性メッシュシート9および導電性メッシュシート10と、シールド線21の芯線21aとシールド導体21bとの間に配設された信号源11と、シールド線22の芯線22aとシールド導体22bとの間に配設された電圧測定回路12と、シールド線23の芯線23aとシールド導体23bとの間に配設された電流測定回路13と、測定された電圧Vsおよび電流Isに基づいて導体パターン52の良否を判別する演算制御部6とを備え、プローブHc,Hpは測定ポイントAに接触させられ、プローブLc,Lpは測定ポイントBに接触させられ、シールド線21,22,31,32のシールド導体21b,22b,31b,32bは導電性メッシュシート10を介して接続させられる。
【選択図】図1
Description
2,3 プローブユニット
5 測定部
6 演算制御部
9 非導電性メッシュシート
10 導電性メッシュシート
11 信号源
12 電圧測定回路
13 電流測定回路
15 可変電流源
16 差動増幅回路
21,22,31,32 シールド線
21a,22a,31a,32a 芯線
21b,22b,31b,32b シールド導体
23,33,63,73 保持部材
51 回路基板
52 導体パターン
A,B 測定ポイント
Hc,Hp,Lc,Lp プローブ
Is 電流
Vs 電圧
Claims (2)
- 回路基板における導体パターンの形成面上に敷設される非導電性メッシュシートと、
当該非導電性メッシュシート上に敷設される導電性メッシュシートと、
第1から第4のプローブと、
一端側における芯線の端部が前記第1のプローブに接続された第1のシールド線と、
一端側における芯線の端部が前記第2のプローブに接続された第2のシールド線と、
一端側における芯線の端部が前記第3のプローブに接続された第3のシールド線と、
一端側における芯線の端部が前記第4のプローブに接続された第4のシールド線と、
前記第1のシールド線の他端側における前記芯線の端部とシールド導体の端部との間に配設された信号源と、
前記第2のシールド線の他端側における前記芯線の端部とシールド導体の端部との間に配設された電圧測定部と、
前記第3のシールド線の他端側における前記芯線の端部とシールド導体の端部との間に直列に配設された電流測定部および可変電流源と、
前記第4のシールド線の他端側における前記芯線の端部とシールド導体の端部との間に配設された電流制御部と、
演算制御部とを備え、
前記導体パターンの検査時において、前記第1および第2のプローブは前記導電性メッシュシートをそれぞれ突き抜けて前記非導電性メッシュシート内に進入させられると共に前記導体パターンに設定された第1の測定ポイントにそれぞれ接触させられ、前記第3および第4のプローブは前記導電性メッシュシートをそれぞれ突き抜けて前記非導電性メッシュシート内に進入させられると共に前記導体パターンに設定された第2の測定ポイントにそれぞれ接触させられ、かつ前記第1から第4のシールド線の前記一端側における前記各シールド導体の端部は前記導電性メッシュシートを介して互いに接続させられて、
前記信号源および前記可変電流源は、当該信号源、前記第1のシールド線の前記芯線、前記第1のプローブ、前記導体パターン、前記第3のプローブ、前記第3のシールド線の前記芯線、前記電流測定部、当該可変電流源、前記第3のシールド線の前記シールド導体、前記導電性メッシュシートおよび前記第1のシールド線の前記シールド導体を含んで構成される電流ループにそれぞれ電流を供給し、
前記電流制御部は、前記電流ループに前記電流が流れることに起因して前記第4のシールド線の他端側における前記芯線および前記シールド導体の各端部間に生じる電位差を検出すると共に当該電位差がゼロになるように前記可変電流源に対して前記電流の供給量を制御し、
前記電流測定部は前記電流ループに流れる前記電流を測定し、
前記電圧測定部は前記電流ループに前記電流が流れることに起因して前記第2のシールド線の他端側における前記芯線および前記シールド導体の各端部間に生じる電圧を測定し、
前記演算制御部は、前記電圧測定部によって測定された前記電圧および前記電流測定部によって測定された前記電流に基づいて前記導体パターンについての電気的パラメータを算出すると共に当該電気的パラメータに基づいて当該導体パターンの良否を判別する回路基板検査装置。 - 一端側の外周面が縮径する筒体に導体を用いて形成された一対の保持部材を備え、
前記第1および第2のプローブは、それぞれ、一方の前記保持部材における前記一端側の内部において、互いに絶縁させると共に当該保持部材とも絶縁された状態を維持しつつ、当該一端側の開口部から前記非導電性メッシュシートの厚み未満の所定長だけ各先端を突出させて配設され、
前記第3および第4のプローブは、それぞれ、他方の前記保持部材における前記一端側の内部において、互いに絶縁させると共に当該保持部材とも絶縁された状態を維持しつつ、当該一端側の開口部から前記非導電性メッシュシートの厚み未満の所定長だけ各先端を突出させて配設され、
前記第1および第2のシールド線の前記一端側における前記各シールド導体の前記端部は前記一方の保持部材に電気的に接続され、
前記第3および第4のシールド線の前記一端側における前記各シールド導体の前記端部は前記他方の保持部材に電気的に接続されている請求項1記載の回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004144453A JP4448732B2 (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004144453A JP4448732B2 (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005326259A true JP2005326259A (ja) | 2005-11-24 |
JP4448732B2 JP4448732B2 (ja) | 2010-04-14 |
Family
ID=35472729
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004144453A Expired - Fee Related JP4448732B2 (ja) | 2004-05-14 | 2004-05-14 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4448732B2 (ja) |
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007165391A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Tsutomu Takahashi | プリント基板検査装置およびプリント基板検査装置用グリッド変換基板 |
JP2011257340A (ja) * | 2010-06-11 | 2011-12-22 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012018116A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査用プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
JP2012026743A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012132736A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012132738A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012132737A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2013019742A (ja) * | 2011-07-11 | 2013-01-31 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2013104663A (ja) * | 2011-11-10 | 2013-05-30 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2016020828A (ja) * | 2014-07-14 | 2016-02-04 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび測定装置 |
KR101849248B1 (ko) | 2010-07-20 | 2018-04-16 | 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤 | 회로 기판 검사 장치 |
CN108072825A (zh) * | 2016-11-18 | 2018-05-25 | 富士施乐株式会社 | 检查装置 |
-
2004
- 2004-05-14 JP JP2004144453A patent/JP4448732B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007165391A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Tsutomu Takahashi | プリント基板検査装置およびプリント基板検査装置用グリッド変換基板 |
JP2011257340A (ja) * | 2010-06-11 | 2011-12-22 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012018116A (ja) * | 2010-07-09 | 2012-01-26 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査用プローブユニットおよび回路基板検査装置 |
JP2012026743A (ja) * | 2010-07-20 | 2012-02-09 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
KR101849248B1 (ko) | 2010-07-20 | 2018-04-16 | 히오끼 덴끼 가부시끼가이샤 | 회로 기판 검사 장치 |
JP2012132736A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012132738A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2012132737A (ja) * | 2010-12-21 | 2012-07-12 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2013019742A (ja) * | 2011-07-11 | 2013-01-31 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2013104663A (ja) * | 2011-11-10 | 2013-05-30 | Hioki Ee Corp | 回路基板検査装置 |
JP2016020828A (ja) * | 2014-07-14 | 2016-02-04 | 日置電機株式会社 | プローブユニットおよび測定装置 |
CN108072825A (zh) * | 2016-11-18 | 2018-05-25 | 富士施乐株式会社 | 检查装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4448732B2 (ja) | 2010-04-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4448732B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP5285068B2 (ja) | リッツ線の素線内の電流の流れを点検するための方法およびこの方法を実施するための装置 | |
JP5507430B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
CN112611911A (zh) | 电流传感器的磁场检测部件位置确定方法、***及传感器 | |
JP6265836B2 (ja) | 電流センサ検査システム、電流センサ検査方法 | |
JP5538107B2 (ja) | 回路基板検査用プローブユニットおよび回路基板検査装置 | |
JP5627442B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
WO2014174852A1 (en) | Circuit board inspection apparatus and circuit board inspection method | |
JP5430500B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP4582869B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP5420277B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP4742757B2 (ja) | 漏洩磁束探傷装置 | |
CN109997046B (zh) | 电阻测量装置及电阻测量方法 | |
KR101354031B1 (ko) | 임피던스 측정장치 | |
JP2019056578A (ja) | 回路基板検査装置 | |
KR101849248B1 (ko) | 회로 기판 검사 장치 | |
JP2001330631A (ja) | 回路基板検査方法および回路基板検査装置 | |
JPS62187258A (ja) | 回路板の検査方法 | |
JP2004184374A (ja) | インピーダンス測定装置 | |
JP5420303B2 (ja) | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | |
JP7364434B2 (ja) | ゼロアジャスト補正方法及びインピーダンス測定方法 | |
JP5480740B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
US8704545B2 (en) | Determination of properties of an electrical device | |
JP5624452B2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP4751687B2 (ja) | 電気測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070507 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090717 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090728 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090924 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100119 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100125 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130129 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150129 Year of fee payment: 5 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |