JP2005300324A - 被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測定手段と、表示手段と、入力手段と、記憶手段と、演算および制御を行う演算・制御手段とを備えた半導体測定装置における操作方法であって、表示手段において半導体測定評価用アプリケーションの雛型を入力手段により選択する第1の雛形選択ステップ50と、表示手段に表示された前記アプリケーションの雛型に関して実行に必要な設定情報を入力手段により設定し52、該設定情報を記憶手段に保存する設定保存ステップ53と、アプリケーションを実行するステップ55と、実行結果と実行結果属性情報とを前記記憶装置に保存し、前記表示装置に表示する第1の表示ステップ54、56、57、58とを含む。
【選択図】図5
Description
Agilent New Dimensions in Parametric Analysis カタログ 2001
また本発明は、上記に加えて被試験対象デバイスの測定のためのプログラムの作成環境を、多くの技術分野にわたるユーザにとってわかりやすい操作環境として提供し、迅速に容易に被試験対象デバイスの測定や測定後の処理を行うための方法を提供するものである。
具体的には、測定手段と、表示手段と、入力手段と、記憶手段と、それらに接続され、演算および制御を行う演算・制御手段とを含む半導体測定装置における操作方法であって、前記表示手段において技術分野別に表示された半導体測定評価用アプリケーションの雛型を前記入力手段により選択する第1の雛形選択ステップと、前記表示手段に表示された前記アプリケーションの雛型に関して実行に必要な設定情報を前記入力手段により設定し、該設定情報を前記記憶手段に保存する設定保存ステップと、前記設定情報が保存されたアプリケーションを実行するステップと、前記設定情報が保存されたアプリケーションを実行して得られた実行結果と実行結果属性情報とを前記記憶装置に保存し、前記表示装置に表示する第1の表示ステップと
を含んでなる操作方法を提供する。
さらに、第2の表示ステップにおいて表示されるグラフプレビューは、直前に実行されたアプリケーションの実行結果を表すものである態様や、グラフプレビューは、表示手段に常に表示されている態様であることがより好ましい。
また、上記プログラミング環境によるプログラム構文は、コンピュータによって実行され、例えば、プログラム構文は、流れ図を用いてプログラムを表現したときに、そこに記述される1つのブロックの単位でありうる。このようなプログラム構文を組み合わせたり並べ替えたりすることにより、ユーザが、所望の半導体測定評価用アプリケーションに対応するプログラムを構築することができる。
また、記憶されている半導体測定評価用アプリケーションがMOSFETや抵抗などの「デバイス」別に分類されているのではなく、例えばHigh-speed CMOS Logic等の技術分野別に分類されてユーザに提示されているので、特定の専門分野の特性評価を担当するユーザが、その特性評価に関係のない測定評価用アプリケーションを目にすることがない。そのため、ユーザが目的とする測定評価用アプリケーションを迅速に容易に選択することができるので、目的以外の測定評価用アプリケーションを誤って選択する等の不具合を回避することができる。
さらに、ユーザがある半導体測定評価用アプリケーションを選択すると、その半導体測定評価用アプリケーションに関連する技術分野の測定評価用アプリケーションをさらに表示することができる。そのため、ある技術分野を担当するユーザがその技術分野に関連する別の技術分野の測定を行う場合に、予め関連する知識を習得しておく必要性がなくなり、ユーザへの負担が軽減される。
加えて、本発明によれば、作成済みの半導体測定評価用アプリケーションと、アプリケーション作成用の雛型すなわちテンプレートの表示・選択部分を明確に分離したので、ユーザが勘違いして、本来測定用に保存していたアプリケーションや、それに関連するデータを壊してしまうことがない。
加えて、本発明によれば、予め記憶手段に記憶されている測定評価用アプリケーションに対応するプログラムと、ユーザが新たに作成した測定評価用アプリケーションに対応するプログラムとが、同じ形式である。そのため、予め記憶手段に記憶されている測定評価用アプリケーションと同様に、その新たなアプリケーションを他のユーザが容易に共有して利用することができる。従って、ユーザ間での作業効率の向上が期待できる。
また、本発明によれば、半導体測定評価用アプリケーション用のプログラムの作成を、ドラッグアンドドロップ等の簡単なマウス操作によりプログラム構文を所定の場所に移動させることにより行うことができる。そして、このプログラム構文は、少なくとも1つの命令を単位として、例えばアイコンの形式等により、表示部に表示されている。そのため、ユーザは、マウスを操作して所望のプログラム構文を選択してそれを組み合わせていくことにより、測定評価用アプリケーションに対応するプログラムの作成を行うことができる。従って、特別な文法や形式等を事前に習得することなく、ユーザの所望の半導体測定評価用アプリケーションに必要なプログラムを容易に作成することができる。
さらに、本発明によれば、半導体測定評価用アプリケーションの選択や設定を行うための表示と、半導体測定評価用アプリケーションを用いた測定データのグラフ表示とが、同じ画面に提示されている。そのため、半導体測定評価用アプリケーションの設定および修正と、その半導体測定評価用アプリケーションを用いた測定データの検証とを行う場合に、ユーザが画面表示を切り替える必要がない。従って、ある半導体測定評価用アプリケーションの設定をユーザが変更すると、これによって測定データがどのように変化するのかがユーザが直ちに示されるため、ユーザによる半導体測定評価用アプリケーションの改良のためのフィードバックが迅速に容易に行われる。
加えて、本発明によれば、測定データはユーザがファイル名を意識することなく自動的に保存され、実行日時や実行回数の番号などの属性情報と共にリスト表示され、さらにこのリスト上においてソートや条件による絞り込みや日時をキーワードとした検索や、マーク付与などを行う機能が提供されるので、複数の測定データの比較や検討などの作業を円滑に行うことができる。
さらに、図2には、本発明の表示手段3に隣接して設置され、前記半導体測定評価用アプリケーションに関連付けることができるハードウェアボタン群302も示されている。そして、ハードウェアボタン群302のうちの1つを選択することにより、そのボタンに関連付けられている半導体測定評価用アプリケーションを直ちに起動することができる。
なお、GUI305の表示及び入力フィールドの種類や配置は、半導体測定評価用アプリケーション毎に適した形態をとることができる。
さらに、上記の表示に加えて、例えば測定の終了時などに、符号311に示すように、測定結果に関する注釈を測定データに添付することもできる。同様に、測定の終了時などに、測定結果に対して符号312に示すような記号すなわちマークを付することもできる。このようなマークの付け方としては、測定終了時に表示されるダイアログボックス中の実行結果属性リストにおいてマークの選択を行うか、または、測定終了後に測定結果リスト上においてマークの部分をユーザがクリックして、マーク選択用のメニューもしくはダイアログを表示する仕方などにより行うことができる。このようなマークには、例えば、「疑わしいデータ」や、「重要なデータ」や、「捨てて構わないデータ」などの表示をダイアログボックスに表示するような仕方により行うことができる。
これによって、ユーザは、実行結果属性リストの所望の行に、短時間でマークを付することができ、このマークに基づいてこのリストから特定の測定データを容易に検索して、そのときの測定評価用アプリケーションの種類および設定やその測定データなどを、符号305に示す設定用エリアや、符号313に示すグラフプロットエリアなどに容易に呼び出すことができる。以上のように、実行結果属性リストには、実行された測定の表題、実行日時、実行番号、注釈(Remarks)、マークなどを含む。
さらに、実行結果属性リストから探した過去の測定データを選択し、その測定の際の設定情報をGUI305のエリアに呼び出し、そのアプリケーションを再度実行することもできるように構成されている。したがって、既に作成したアプリケーションを再度実行する際には、1)On Hand Steup Listから選択する、2)実行結果属性リストから選択する、の2つの方法がある。
ここで、符号302に示されるハードウェアボタン群と直接に関連付けることができるのは、符号308に示すリストのうちの上位にあるいくつかのものであるか、または、そのリスト中においてユーザに選択されたもののうちの上位にあるいくつかのものだけを関連付けるようにすることができる。
ここで、図3は、図2の符号304に示される記憶手段に予め記憶されている半導体測定評価用アプリケーションに対応するプログラムではなく、アプリケーションに対応する新たなプログラムを作成している様子を示していることに注意されたい。ここで、符号315において(「BLOCK」で示される)選択されているアイコンは、符号316にあるIF-ELSE構文とは特につながっていない。ユーザによるプログラム構文の追加は、符号315に示す選択されたアイコンをマウスのドラッグアンドドロップやコピー&ペースト等の操作によって、符号316のプログラム編集エリアへと移動させることによって行うことができる。
ここで、符号317に示すリストは、符号303および符号304のリストと同じ構成になっているので、記憶手段に予め記憶されている半導体測定評価用アプリケーションを選択するのと同様に、ユーザが新たに作成された半導体測定評価用アプリケーションに対応するプログラムを容易に呼び出すことができる。
また、図3の点線332に示されるプログラミング環境での該当測定モジュールの表示(この例では、一種のサブルーチンである測定モジュールMOS Gate Coxのプログラミング環境での表示)と、図2の点線330に示される実行時パラメータの設定画面(MOS Gate Coxのパラメータ設定の画面)とを、同様な形式で画面に表示することができる。そのため、ユーザは、半導体測定評価用アプリケーションを実行するのと同様に半導体測定評価用アプリケーションに対応するプログラムを作成することができる。
まず、ステップ50において、ユーザがアプリケーションの雛型を選択する。次に、ステップ51において、選択された雛型に基づく初期設定値による設定の表示を行う。そして、ステップ52において、実行時の設定入力を行う。ここで、ステップ52は、以下に説明するステップ53〜59のそれぞれに互いにリンクしており、互いに行き来することができる。ここで、ステップ53では、設定の保存とその表示を行う。ステップ55では、測定の実行を行う。ステップ54では、直前に行われた測定結果の記憶と表示を行う。ステップ56では、以前に保存した実行結果を選択して、設定情報を表示する。ステップ57では、測定結果をソートして表示する。ステップ58では、以前に保存した設定を選択して表示する。ステップ59では、プログラム作成または変更を行う。なお、ステップ51からステップ59への矢印に示すように、ステップ59には、ステップ52を介さずに移行することができる。
ここで、アプリケーションを実行した結果や設定情報等を表示手段3に表示するときにグラフプレビューを用いてこの実行結果や設定情報を表示手段3に表示することができる。なお、このグラフプレビューは、直前に実行されたアプリケーションの実行結果を表すだけでなく、それ以前に実行されたアプリケーションの実行結果を表すこともできる。また、このようなグラフプレビューは、表示手段3に常に表示させておくこともできる。そして、ステップ52において、終了操作を選択した場合には、ステップ60にて操作が終了する。
このように、本発明によれば、アプリケーションの作成および実行や、これに伴うプログラムの作成および編集を連続的にスムーズに行うことができる。
なお、上記に説明したステップは、コンピュータに読み取り可能なプログラムを用いて自動的に実行することができる。
3 表示手段
4 入力手段
5 演算・制御手段
100 測定器
102 DUT
200 インターフェイス
Claims (17)
- 測定手段と、表示手段と、入力手段と、記憶手段と、それらに接続され、演算および制御を行う演算・制御手段とを含む半導体測定装置における操作方法であって、
前記表示手段において技術分野別に表示された半導体測定評価用アプリケーションの雛型を前記入力手段により選択する第1の雛形選択ステップと、
前記表示手段に表示された前記アプリケーションの雛型に関して実行に必要な設定情報を前記入力手段により設定し、該設定情報を前記記憶手段に保存する設定保存ステップと、
前記設定情報が保存されたアプリケーションを実行するステップと、
前記設定情報が保存されたアプリケーションを実行して得られた実行結果と実行結果属性情報とを前記記憶装置に保存し、前記表示装置に表示する第1の表示ステップと
を含んでなる操作方法。 - 前記第1の雛形選択ステップは、選択されたアプリケーションに対応するプログラムの雛形を選択する第2の雛形選択ステップを含む請求項1に記載の操作方法。
- 前記第2の雛形選択ステップの後に、プログラムの新規作成または既存のプログラムの変更を行うステップをさらに含む請求項2に記載の操作方法。
- 前記プログラムの新規作成または既存のプログラムの変更を行うステップにおける前記表示手段への表示は、前記設定保存ステップにおいて前記表示手段に表示されるデータ入力フィールドおよび測定回路図情報の表示を含むことを特徴とする請求項3に記載の操作方法。
- 前記設定保存ステップにおいて、データ入力フィールドと測定回路図情報とを前記表示手段に表示することを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の操作方法。
- 前記設定保存ステップは、実行されるアプリケーションの情報と、該アプリケーションが必要とする実行時の設定情報とを保存することを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 前記設定保存ステップは、ファイル名入力を要求せずに保存を行うことを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載の操作方法。
- 前記設定保存ステップは、以前保存した情報を上書きすることなく保存することを特徴とする請求項1から7のいずれかに記載の操作方法。
- 前記設定保存ステップの後に、保存リストを保存時刻順に前記表示手段に表示する保存リスト表示ステップがあることを特徴とする請求項1から8のいずれかに記載の操作方法。
- 前記保存リストに表示されたものの一つを選択し、その実行の際のアプリケーションと実行時の設定情報を前記表示手段に表示する、第1の実行時設定読み出しステップをさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の操作方法。
- 前記第1の表示ステップは、表題、実行番号、実行時刻、注釈、マークのうちの少なくとも1つを実行結果属性リストとして含むことを特徴とする請求項1から10に記載の操作方法。
- 前記マークとは、「疑わしいデータ」や、「重要なデータ」や、「捨てて構わないデータ」を示す記号を表示することができるものである請求項11に記載の操作方法。
- 前記第1の表示ステップにおいて表示される実行結果属性リストは、該リストに表示された各属性のいずれかに着目したソートを行い、その結果を表示することができるものである請求項1から12のいずれかに記載の操作方法。
- 前記実行結果属性リストから実行結果を選択し、その実行の際のアプリケーションと実行時の設定情報とを前記表示手段に表示する、第2の実行時設定読み出しステップをさらに含む請求項1から13のいずれかに記載の操作方法。
- 前記第1の表示ステップは、前記表示手段にグラフプレビューを表示する第2の表示ステップをさらに含む請求項1から14のいずれかに記載の操作方法。
- 前記第2の表示ステップにおいて表示されるグラフプレビューは、直前に実行されたアプリケーションの実行結果を表すものであることを特徴とする請求項15に記載の操作方法。
- 前記グラフプレビューは、前記表示手段に常に表示されていることを特徴とする請求項15または16に記載の操作方法。
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US11/102,259 US7184923B2 (en) | 2004-04-09 | 2005-04-08 | Method for analyzing measurement data of device under test, program, measurement data analyzing system |
US11/654,750 US7472035B2 (en) | 2004-04-09 | 2007-01-18 | Method for analyzing measurement data of device under test, program, measurement data analyzing system |
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008122213A (ja) * | 2006-11-13 | 2008-05-29 | Yokogawa Electric Corp | Icテストシステム |
JP2009121869A (ja) * | 2007-11-13 | 2009-06-04 | Yokogawa Electric Corp | Lsiテスタ |
JP2009250908A (ja) * | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Yokogawa Electric Corp | シュムーパラメータ設定装置およびシュムーパラメータ設定方法 |
JP2011043403A (ja) * | 2009-08-21 | 2011-03-03 | Shimadzu Corp | 分析装置 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005300324A (ja) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Agilent Technol Inc | 被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム |
US7890806B2 (en) * | 2005-05-24 | 2011-02-15 | Alcatel-Lucent Usa, Inc. | Auto-executing tool for developing test harness files |
US20080155354A1 (en) * | 2006-12-20 | 2008-06-26 | Kolman Robert S | Method and apparatus for collection and comparison of test data of multiple test runs |
US7921381B2 (en) * | 2007-04-26 | 2011-04-05 | Verigy (Singapore) Pte. Ltd. | Method and apparatus for displaying test data |
US20080270847A1 (en) * | 2007-04-26 | 2008-10-30 | Carli Connally | Methods and Apparatus for Displaying Production and Debug Test Data |
US20080270898A1 (en) * | 2007-04-26 | 2008-10-30 | Kristin Petersen | Methods and Apparatus for Dynamically Updating a Graphical User Interface, to Focus on a Production Display or a Debug Display |
US20080282192A1 (en) * | 2007-05-07 | 2008-11-13 | Kristin Petersen | Method and apparatus for selecting and displaying a number of test data items |
EP2740156B1 (en) | 2011-08-03 | 2018-05-30 | Fluke Corporation | Maintenance management systems and methods |
US10095659B2 (en) | 2012-08-03 | 2018-10-09 | Fluke Corporation | Handheld devices, systems, and methods for measuring parameters |
EP2973071B1 (en) | 2013-03-15 | 2020-05-06 | Fluke Corporation | Automatic recording and graphing of measurement data |
US9739801B2 (en) | 2013-07-16 | 2017-08-22 | Fluke Corporation | Analytical gateway device for measurement devices |
US9766270B2 (en) | 2013-12-30 | 2017-09-19 | Fluke Corporation | Wireless test measurement |
JP6626630B2 (ja) * | 2015-04-28 | 2019-12-25 | キーサイト テクノロジーズ, インク. | データシート形式の表示を備える電子デバイス評価方法、装置、及び記憶媒体 |
Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08250560A (ja) * | 1995-01-09 | 1996-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 電子ビームテストシステムを使用する故障解析方法 |
JPH09189750A (ja) * | 1995-08-01 | 1997-07-22 | Schlumberger Technol Inc | 混合信号vlsiテスタ用アナログチャンネル |
JP2001153892A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-06-08 | Agilent Technol Inc | 波形表示方法 |
JP2002022503A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-23 | Horiba Ltd | 測定システム、測定器、表示方法、および表示プログラムを記録した記録媒体 |
JP2003107022A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Hitachi Ltd | 欠陥検査装置及び検査方法 |
JP2003140895A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Ricoh Co Ltd | 組み替え可能なソフトウェアを持つ検査システム |
JP2003161761A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-06-06 | Agilent Technol Inc | 電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 |
JP2003208330A (ja) * | 2001-11-19 | 2003-07-25 | Agilent Technol Inc | 電子テストシステム及びそのソフトウエアプログラムの作成方法 |
JP2003207542A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-07-25 | Agilent Technol Inc | 電子テストシステム |
JP2003296134A (ja) * | 2002-03-20 | 2003-10-17 | Agilent Technol Inc | テスト実行システムとその操作方法 |
JP2003330750A (ja) * | 2002-05-09 | 2003-11-21 | Agilent Technol Inc | 外部から制御可能な電子テストシステム |
JP2003330748A (ja) * | 2002-05-09 | 2003-11-21 | Agilent Technol Inc | 電子テスト及びデータ構造を生成する為の方法及び装置 |
JP2003337718A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-11-28 | Agilent Technol Inc | 電子試験装置及びテスト結果の表示方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5910895A (en) * | 1997-06-13 | 1999-06-08 | Teradyne, Inc. | Low cost, easy to use automatic test system software |
US7043391B2 (en) * | 2001-02-16 | 2006-05-09 | Shuji Miyazaki | User interface for semiconductor evaluation device |
JP2005300324A (ja) * | 2004-04-09 | 2005-10-27 | Agilent Technol Inc | 被試験対象デバイスの測定データ解析方法、プログラム、および測定データ解析システム |
-
2004
- 2004-04-09 JP JP2004116170A patent/JP2005300324A/ja active Pending
-
2005
- 2005-03-21 TW TW094108569A patent/TW200600809A/zh unknown
- 2005-04-08 US US11/102,259 patent/US7184923B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-01-18 US US11/654,750 patent/US7472035B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08250560A (ja) * | 1995-01-09 | 1996-09-27 | Mitsubishi Electric Corp | 電子ビームテストシステムを使用する故障解析方法 |
JPH09189750A (ja) * | 1995-08-01 | 1997-07-22 | Schlumberger Technol Inc | 混合信号vlsiテスタ用アナログチャンネル |
JP2001153892A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-06-08 | Agilent Technol Inc | 波形表示方法 |
JP2002022503A (ja) * | 2000-07-06 | 2002-01-23 | Horiba Ltd | 測定システム、測定器、表示方法、および表示プログラムを記録した記録媒体 |
JP2003107022A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-09 | Hitachi Ltd | 欠陥検査装置及び検査方法 |
JP2003161761A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-06-06 | Agilent Technol Inc | 電子試験装置及び電子試験のデータポイント値を表示する方法 |
JP2003337718A (ja) * | 2001-10-23 | 2003-11-28 | Agilent Technol Inc | 電子試験装置及びテスト結果の表示方法 |
JP2003140895A (ja) * | 2001-11-06 | 2003-05-16 | Ricoh Co Ltd | 組み替え可能なソフトウェアを持つ検査システム |
JP2003207542A (ja) * | 2001-11-15 | 2003-07-25 | Agilent Technol Inc | 電子テストシステム |
JP2003208330A (ja) * | 2001-11-19 | 2003-07-25 | Agilent Technol Inc | 電子テストシステム及びそのソフトウエアプログラムの作成方法 |
JP2003296134A (ja) * | 2002-03-20 | 2003-10-17 | Agilent Technol Inc | テスト実行システムとその操作方法 |
JP2003330750A (ja) * | 2002-05-09 | 2003-11-21 | Agilent Technol Inc | 外部から制御可能な電子テストシステム |
JP2003330748A (ja) * | 2002-05-09 | 2003-11-21 | Agilent Technol Inc | 電子テスト及びデータ構造を生成する為の方法及び装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008122213A (ja) * | 2006-11-13 | 2008-05-29 | Yokogawa Electric Corp | Icテストシステム |
JP2009121869A (ja) * | 2007-11-13 | 2009-06-04 | Yokogawa Electric Corp | Lsiテスタ |
JP2009250908A (ja) * | 2008-04-10 | 2009-10-29 | Yokogawa Electric Corp | シュムーパラメータ設定装置およびシュムーパラメータ設定方法 |
JP2011043403A (ja) * | 2009-08-21 | 2011-03-03 | Shimadzu Corp | 分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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TW200600809A (en) | 2006-01-01 |
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US20070118323A1 (en) | 2007-05-24 |
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