JP2005286019A - 基板把持装置 - Google Patents
基板把持装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005286019A JP2005286019A JP2004096354A JP2004096354A JP2005286019A JP 2005286019 A JP2005286019 A JP 2005286019A JP 2004096354 A JP2004096354 A JP 2004096354A JP 2004096354 A JP2004096354 A JP 2004096354A JP 2005286019 A JP2005286019 A JP 2005286019A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- wafer
- reference axis
- gripping
- substrate support
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 362
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 53
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 42
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 20
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 14
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 238
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 24
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 14
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 10
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 9
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 8
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 5
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 5
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 5
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 5
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 5
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 4
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68707—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a robot blade, or gripped by a gripper for conveyance
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S414/00—Material or article handling
- Y10S414/135—Associated with semiconductor wafer handling
- Y10S414/141—Associated with semiconductor wafer handling includes means for gripping wafer
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
- Y10T29/5313—Means to assemble electrical device
- Y10T29/532—Conductor
- Y10T29/53209—Terminal or connector
- Y10T29/53213—Assembled to wire-type conductor
- Y10T29/53222—Means comprising hand-manipulatable implement
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
- Y10T29/5313—Means to assemble electrical device
- Y10T29/53265—Means to assemble electrical device with work-holder for assembly
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/53—Means to assemble or disassemble
- Y10T29/53274—Means to disassemble electrical device
- Y10T29/53283—Means comprising hand-manipulatable implement
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Robotics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Manipulator (AREA)
Abstract
【課題】 基板支持体とは反対側から基板に接近して、基板支持体の支持する基板を把持する基板把持装置を提供することを目的とする。
【解決手段】 ロボットハンド23に設けられる複数の当接体40〜42によってウェハ22を挟持した状態で、各当接体40の第1案内部50,60と、第2案内部51,61とによって形成されるV字状の溝にウェハ22の周縁部19を収容する。このとき下側に設けられる第1案内部50,60には、下側端部で第1案内面52,62から基準軸線J1に向かって突出する突起55,65が形成される。これによってウェハ22が各当接体40〜42から抜出ることを阻止することができる。またロボットハンド23を小形化することができる。
【選択図】 図1
Description
予め定める基準軸線を有し、基準軸線に垂直な板状に形成されるハンド本体と、
ハンド本体を変位駆動する変位駆動手段と、
基準軸線の周方向に間隔をあけてハンド本体にそれぞれ設けられ、互いに協働して基板の周縁部を挟持および挟持解除可能な複数の当接体と、
複数の当接体のうち少なくとも1つとなる可動当接体を、前記基準軸線に対して近接する近接方向および離反する離反方向に往復駆動する往復駆動手段と、
変位駆動手段および往復駆動手段を制御する制御手段とを有し、
基板支持体に支持される基板に関して基板支持体と反対側にハンド本体を配置した状態で、各当接体は、基板支持体側に延びる第1案内部と、第1案内部から基準軸線に向かって延びる第2案内部とをそれぞれ有し、第1案内部と第2案内部とによって基板の周縁部を収容可能な略V字状の溝が形成され、第1案内部には、第2案内部から離れた位置で基準軸線に向かって突出する突起が形成されることを特徴とする基板把持装置である。
第1案内部は、基準軸線に向かうにつれて基板から離れる第1案内面が形成され、
第2案内部は、第1案内面に連なり、基準軸線に垂直な位置合せ面と、
位置合せ面に連なり基準軸線に向かうにつれて基板から離れる傾斜面とが形成されることを特徴とする。
検出手段の検出結果を報知する報知手段とをさらに有することを特徴とする。
ハンド本体を基板に関して基板支持体と反対側から基板に近接させる近接段階と、
可動当接体とは異なる当接体である固定当接体を基板の周縁部に当接させる当接段階と、
当接段階のあと、可動当接体を基準軸線に対して当接させる挟持段階と、
ハンド本体を基板支持体から離反させる離反段階とを有することを特徴とする基板把持装置の把持方法である。
基板が支持されるべき基板支持位置に関して基板支持体と反対側から基板支持位置にハンド本体を近接させ、基板を基板支持体に当接させる近接段階と、
各当接体を基板の周縁部から離反させる挟持解除段階と、
ハンド本体を基板支持体から離反させる離反段階とを有することを特徴とする基板把持装置の把持解除方法である。
21 基板支持体
22 ウェハ
23 ロボットハンド
24 多関節ロボット
32 制御手段
34 エアシリンダ
40,41 固定当接体
42 可動当接体
50,60 第1案内部
51,61 第2案内部
52,62 第1案内面
53,63 第2案内面
55,65 突起
J1 基準軸線
J2 中心軸線
Claims (9)
- 基板支持体に支持される基板を把持する基板把持装置であって、
予め定める基準軸線を有し、基準軸線に垂直な板状に形成されるハンド本体と、
ハンド本体を変位駆動する変位駆動手段と、
基準軸線の周方向に間隔をあけてハンド本体にそれぞれ設けられ、互いに協働して基板の周縁部を挟持および挟持解除可能な複数の当接体と、
複数の当接体のうち少なくとも1つとなる可動当接体を、前記基準軸線に対して近接する近接方向および離反する離反方向に往復駆動する往復駆動手段と、
変位駆動手段および往復駆動手段を制御する制御手段とを有し、
基板支持体に支持される基板に関して基板支持体と反対側にハンド本体を配置した状態で、各当接体は、基板支持体側に延びる第1案内部と、第1案内部から基準軸線に向かって延びる第2案内部とをそれぞれ有し、第1案内部と第2案内部とによって基板の周縁部を収容可能な略V字状の溝が形成され、第1案内部には、第2案内部から離れた位置で基準軸線に向かって突出する突起が形成されることを特徴とする基板把持装置。 - 各当接体は、基準軸線から半径方向に基板の半径距離分離れ、かつ基準軸線の周方向に間隔をあけてそれぞれ配置され、円板状の基板を基準軸線と同軸でかつ基準軸線に平行に位置合せすることを特徴とする請求項1記載の基板把持装置。
- 基板支持体に支持される基板を把持した状態で、
第1案内部は、基準軸線に向かうにつれて基板から離れる第1案内面が形成され、
第2案内部は、第1案内面に連なり、基準軸線に垂直な位置合せ面と、
位置合せ面に連なり基準軸線に向かうにつれて基板から離れる傾斜面とが形成されることを特徴とする請求項2記載の基板把持装置。 - 往復駆動手段は、可動当接体を近接方向に移動させるときに、近接方向に移動するバネ力を可動当接体に与えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の基板把持装置。
- 各当接体によって基板を挟持したときに可動当接体が移動するであろう挟持位置に、可動当接体が配置されたことを検出する検出手段と、
検出手段の検出結果を報知する報知手段とをさらに有することを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載の基板把持装置。 - 可動当接体は、ハンド本体に固定される第1案内部と、往復駆動手段によって近接方向および離反方向に変位駆動される第2案内部とを含んで構成されることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載の基板把持装置。
- 複数のハンド本体と、ハンド本体毎に設けられる複数の当接体とを有することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1つに記載の基板把持装置。
- 基準軸線に垂直な板状に形成されるハンド本体と、ハンド本体を変位駆動する変位駆動手段と、基準軸線の周方向に間隔をあけてハンド本体にそれぞれ設けられ互いに協働して基板の周縁部を挟持および挟持解除可能な複数の当接体と、複数の当接体のうち少なくとも1つとなる可動当接体を前記基準軸線に対して近接する方向および離反する方向に往復駆動する往復駆動手段と、変位駆動手段および往復駆動手段を制御する制御手段とを有する基板把持装置が、基板支持体に支持される基板を把持する基板把持装置の把持方法であって、
ハンド本体を基板に関して基板支持体と反対側から基板に近接させる近接段階と、
可動当接体とは異なる当接体である固定当接体を基板の周縁部に当接させる当接段階と、
当接段階のあと、可動当接体を基準軸線に対して当接させる挟持段階と、
ハンド本体を基板支持体から離反させる離反段階とを有することを特徴とする基板把持装置の把持方法。 - 基準軸線に垂直な板状に形成されるハンド本体と、ハンド本体を変位駆動する変位駆動手段と、基準軸線の周方向に間隔をあけてハンド本体にそれぞれ設けられ互いに協働して基板の周縁部を挟持および挟持解除可能な複数の当接体と、複数の当接体のうち少なくとも1つとなる可動当接体を前記基準軸線に対して近接する方向および離反する方向に往復駆動する往復駆動手段と、変位駆動手段および往復駆動手段を制御する制御手段とを有する基板把持装置が、把持した基板を基板支持体に配置する基板把持装置の把持解除方法であって、
基板が支持されるべき基板支持位置に関して基板支持体と反対側から基板支持位置にハンド本体を近接させ、基板を基板支持体に当接させる近接段階と、
各当接体を基板の周縁部から離反させる挟持解除段階と、
ハンド本体を基板支持体から離反させる離反段階とを有することを特徴とする基板把持装置の把持解除方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004096354A JP3909770B2 (ja) | 2004-03-29 | 2004-03-29 | 基板把持装置 |
US11/090,236 US7547053B2 (en) | 2004-03-29 | 2005-03-28 | Substrate gripping apparatus, substrate gripping method and substrate releasing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004096354A JP3909770B2 (ja) | 2004-03-29 | 2004-03-29 | 基板把持装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005286019A true JP2005286019A (ja) | 2005-10-13 |
JP3909770B2 JP3909770B2 (ja) | 2007-04-25 |
Family
ID=34988005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004096354A Expired - Lifetime JP3909770B2 (ja) | 2004-03-29 | 2004-03-29 | 基板把持装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7547053B2 (ja) |
JP (1) | JP3909770B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094506A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Asm Japan Kk | 基板搬送ロボット用の位置検出装置を備えた半導体処理装置及びその方法 |
US8181769B2 (en) | 2007-10-19 | 2012-05-22 | Tokyo Electron Limited | Workpiece transfer mechanism, workpiece transfer method and workpiece processing system |
JP2013046022A (ja) * | 2011-08-26 | 2013-03-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板反転装置および基板処理装置 |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7933685B1 (en) * | 2006-01-10 | 2011-04-26 | National Semiconductor Corporation | System and method for calibrating a wafer handling robot and a wafer cassette |
JP5201576B2 (ja) * | 2008-03-24 | 2013-06-05 | 株式会社安川電機 | 揺動機構を有するハンド及びそれを備えた基板搬送装置 |
US9859141B2 (en) | 2010-04-15 | 2018-01-02 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Apparatus and method for aligning and centering wafers |
US9837295B2 (en) | 2010-04-15 | 2017-12-05 | Suss Microtec Lithography Gmbh | Apparatus and method for semiconductor wafer leveling, force balancing and contact sensing |
US9314921B2 (en) | 2011-03-17 | 2016-04-19 | Sarcos Lc | Robotic lift device with human interface operation |
US8942846B2 (en) | 2011-04-29 | 2015-01-27 | Raytheon Company | System and method for controlling a teleoperated robotic agile lift system |
US9789603B2 (en) | 2011-04-29 | 2017-10-17 | Sarcos Lc | Teleoperated robotic system |
JP2013198960A (ja) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Disco Corp | ロボットハンド |
US9616580B2 (en) | 2012-05-14 | 2017-04-11 | Sarcos Lc | End effector for a robotic arm |
US10766133B2 (en) | 2014-05-06 | 2020-09-08 | Sarcos Lc | Legged robotic device utilizing modifiable linkage mechanism |
WO2016043750A1 (en) * | 2014-09-18 | 2016-03-24 | Halliburton Energy Services, Inc. | Electrically conductive pattern printer for downhole tools |
US10828767B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-11-10 | Sarcos Corp. | Tunable actuator joint modules having energy recovering quasi-passive elastic actuators with internal valve arrangements |
US10821614B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-11-03 | Sarcos Corp. | Clutched joint modules having a quasi-passive elastic actuator for a robotic assembly |
US10919161B2 (en) | 2016-11-11 | 2021-02-16 | Sarcos Corp. | Clutched joint modules for a robotic system |
US10765537B2 (en) | 2016-11-11 | 2020-09-08 | Sarcos Corp. | Tunable actuator joint modules having energy recovering quasi-passive elastic actuators for use within a robotic system |
US10843330B2 (en) | 2017-12-07 | 2020-11-24 | Sarcos Corp. | Resistance-based joint constraint for a master robotic system |
US11331809B2 (en) | 2017-12-18 | 2022-05-17 | Sarcos Corp. | Dynamically controlled robotic stiffening element |
KR20200078773A (ko) * | 2018-12-21 | 2020-07-02 | 세메스 주식회사 | 반전 유닛 및 이를 가지는 기판 처리 장치 |
US11241801B2 (en) | 2018-12-31 | 2022-02-08 | Sarcos Corp. | Robotic end effector with dorsally supported actuation mechanism |
US10906191B2 (en) | 2018-12-31 | 2021-02-02 | Sarcos Corp. | Hybrid robotic end effector |
US11351675B2 (en) | 2018-12-31 | 2022-06-07 | Sarcos Corp. | Robotic end-effector having dynamic stiffening elements for conforming object interaction |
US11833676B2 (en) | 2020-12-07 | 2023-12-05 | Sarcos Corp. | Combining sensor output data to prevent unsafe operation of an exoskeleton |
US11794345B2 (en) | 2020-12-31 | 2023-10-24 | Sarcos Corp. | Unified robotic vehicle systems and methods of control |
CN113013082B (zh) * | 2021-03-01 | 2022-09-13 | 深圳市容微精密电子有限公司 | 一种晶圆检测的夹具机构 |
CN113140485B (zh) * | 2021-03-31 | 2022-09-20 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 晶圆清洗设备 |
US11826907B1 (en) | 2022-08-17 | 2023-11-28 | Sarcos Corp. | Robotic joint system with length adapter |
US11717956B1 (en) | 2022-08-29 | 2023-08-08 | Sarcos Corp. | Robotic joint system with integrated safety |
US11924023B1 (en) | 2022-11-17 | 2024-03-05 | Sarcos Corp. | Systems and methods for redundant network communication in a robot |
US11897132B1 (en) | 2022-11-17 | 2024-02-13 | Sarcos Corp. | Systems and methods for redundant network communication in a robot |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6243144A (ja) | 1985-08-21 | 1987-02-25 | Toshiba Corp | ウエハの着脱装置 |
US4900214A (en) * | 1988-05-25 | 1990-02-13 | American Telephone And Telegraph Company | Method and apparatus for transporting semiconductor wafers |
CH680275A5 (ja) * | 1990-03-05 | 1992-07-31 | Tet Techno Investment Trust | |
JP3655417B2 (ja) | 1996-12-26 | 2005-06-02 | 株式会社東芝 | 基板保持装置 |
US6256555B1 (en) * | 1998-12-02 | 2001-07-03 | Newport Corporation | Robot arm with specimen edge gripping end effector |
US6454332B1 (en) * | 1998-12-04 | 2002-09-24 | Applied Materials, Inc. | Apparatus and methods for handling a substrate |
JP2000208599A (ja) | 1999-01-07 | 2000-07-28 | Hm Acty:Kk | 半導体ウエハハンドリング装置 |
US6361422B1 (en) * | 1999-06-15 | 2002-03-26 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for transferring semiconductor substrates using an input module |
JP4600856B2 (ja) | 2000-10-24 | 2010-12-22 | ムラテックオートメーション株式会社 | 基板保持装置 |
JP3724361B2 (ja) | 2000-10-31 | 2005-12-07 | ダイキン工業株式会社 | 基板搬送装置 |
JP2003142393A (ja) | 2001-11-07 | 2003-05-16 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 電子ビーム露光装置 |
US6678581B2 (en) * | 2002-01-14 | 2004-01-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd | Method of calibrating a wafer edge gripping end effector |
JP2003338531A (ja) | 2002-05-20 | 2003-11-28 | Toshiba Ceramics Co Ltd | 半導体ウエハの搬送装置および熱処理装置 |
JP2005197482A (ja) | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Toyoko Kagaku Co Ltd | 基板移載ロボットの把持体 |
-
2004
- 2004-03-29 JP JP2004096354A patent/JP3909770B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-03-28 US US11/090,236 patent/US7547053B2/en active Active
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009094506A (ja) * | 2007-10-04 | 2009-04-30 | Asm Japan Kk | 基板搬送ロボット用の位置検出装置を備えた半導体処理装置及びその方法 |
US8181769B2 (en) | 2007-10-19 | 2012-05-22 | Tokyo Electron Limited | Workpiece transfer mechanism, workpiece transfer method and workpiece processing system |
JP2013046022A (ja) * | 2011-08-26 | 2013-03-04 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板反転装置および基板処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050210669A1 (en) | 2005-09-29 |
US7547053B2 (en) | 2009-06-16 |
JP3909770B2 (ja) | 2007-04-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3909770B2 (ja) | 基板把持装置 | |
US5783834A (en) | Method and process for automatic training of precise spatial locations to a robot | |
JP2619742B2 (ja) | プレート状の基板を搬送する方法および装置 | |
JP5833959B2 (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JPH02311288A (ja) | 要素搬送アライメント装置及び方法 | |
TWI226097B (en) | Method and apparatus for transferring a thin plate, and manufacturing method of substrate using the same | |
JPH11220294A (ja) | 電気部品搬送装置ならびにそれにおける保持具交換方法および装置 | |
CN107026110B (zh) | 基板交接位置的示教方法和基板处理*** | |
JP7474325B2 (ja) | ウエハ搬送装置、およびウエハ搬送方法 | |
TW201824382A (zh) | 切斷裝置及加工手段之裝卸方法 | |
JP2017209746A (ja) | ワイヤ放電加工システム | |
CN113874995A (zh) | 半导体翻转器 | |
CN113056815A (zh) | 机械手和具备机械手的机器人 | |
JP6630884B2 (ja) | 基板のアライメント装置 | |
JP5827046B2 (ja) | 板状部材の支持装置および支持方法、ならびに板状部材の搬送装置 | |
JP2019087546A (ja) | コレット調整装置、コレット調整方法、およびダイボンダ | |
JP2017076679A (ja) | テープフレーム搬送のためのエンドエフェクタ、及びこれを備える搬送ロボット | |
US6860027B2 (en) | Wafer alignment device | |
WO2024011418A1 (en) | Clamping apparatus, robotic system and method of operating clamping apparatus | |
JP7289596B2 (ja) | 加工装置及び加工方法 | |
JP2005353723A (ja) | 切断装置、及び切断方法 | |
JP2019155565A (ja) | ねじ締めシステム、ねじ締め方法 | |
JP7436165B2 (ja) | ダイシングユニットの診断方法、及び、ダイシングシステム | |
TWI843378B (zh) | 取放工具、具有其之測試系統及測試方法 | |
JP6976123B2 (ja) | 搬送装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20061017 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061211 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070116 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070119 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 3909770 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110202 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120202 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120202 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130202 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130202 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140202 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140202 Year of fee payment: 7 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |