JP2005159136A - Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置 - Google Patents

Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005159136A
JP2005159136A JP2003397457A JP2003397457A JP2005159136A JP 2005159136 A JP2005159136 A JP 2005159136A JP 2003397457 A JP2003397457 A JP 2003397457A JP 2003397457 A JP2003397457 A JP 2003397457A JP 2005159136 A JP2005159136 A JP 2005159136A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame
semiconductor chip
cob
mounting
frame body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003397457A
Other languages
English (en)
Inventor
Shingo Matsuoka
新吾 松岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2003397457A priority Critical patent/JP2005159136A/ja
Publication of JP2005159136A publication Critical patent/JP2005159136A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

【課題】 COB実装において、さらなる小型化を実現する。
【解決手段】 本発明の枠体は、枠部材と、導体部と、導電性のバンプ部とを有している。枠部材の一方の面には、半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられる。導体部は、枠部材における、前記一方の面とは反対側の面上に形成されている。バンプ部は、半導体チップのパッドと導体部とを電気的に接続するために、導体部上に形成されている。このため、本発明の枠体を用いれば、ボンディングワイヤを用いずに半導体チップをCOB実装できる。従って、従来のCOB実装方法よりも、実装サイズを小型化できる。
【選択図】 図1

Description

本発明は、半導体チップの実装、及び半導体装置に関する。特に本発明は、COB実装用の枠体、及びパッケージ実装用の枠体に関する。
半導体チップの実装方法として、COB(Chip On Board)実装と、パッケージ実装とが知られている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。図15は、従来方法によりCOB実装された半導体装置の上面模式図を上側に示し、その断面模式図を下側に示したものである。図に示すように、COB実装では、外部信号線に接続されるスルーホール10及びポスト12を有するCOB基板14上に、半導体チップ16が固定される。そして、半導体チップ16のパッド18は、ボンディングワイヤ20によりポスト12に接続される(この接続方法をワイヤボンドという)。通常のCOB実装では、ボンディングワイヤ20及び半導体チップ16を保護するため、枠体24を設けてその上にガラスリッド26を接着したり、半導体チップ16の周囲に樹脂を流し込んで硬化させたりする。
図16は、従来方法によりパッケージ実装された半導体装置の上面模式図を上側に示し、その断面模式図を下側に示したものである。図に示すように、パッケージ実装では、パッケージ基板30のダイパッド部32に半導体チップ16を接着後、パッド18とインナーリード34とをワイヤボンドする。そして、ボンディングワイヤ20及び半導体チップ16を保護するため、パッケージ基板30の上部にガラスリッド36を接着する。
COB実装では、COB基板14のポスト12と半導体チップ16との間に、ボンディングワイヤ20を配置するための間隔が必要となる。この間隔は、ワイヤボンド時に使用されるキャピラリが十分に入る長さである必要があり、通常1.5〜3mm程度である。パッケージ実装の場合も、COB実装の場合と同様の理由により、インナーリード34と半導体チップ16との間に一定の間隔が必要となる。この間隔は、COB実装の場合と同等である。COB実装やパッケージ実装は、こうしたスペースを必要とするため、小型化に限界があった。
そこで、さらなる高密度化、小型軽量化を図るため、半導体チップとほぼ同じ寸法のパッケージを使うCSP(チップサイズパッケージ)が近年導入されている。この技術では、例えば、BGA(Ball Grid Array)などを用いて、半田ボールや半田バンプにより、半導体チップとパッケージ側のリードとを接続している。
特開平10−199909号公報 (第2−4項、図1−図7) 特開平10−125833号公報 (第2−6項、図1−図4)
しかしながら、CSP実装は、主にフェイスダウン方式であるため、受光素子や、CCD等の光学素子には適用できないという問題があった。なぜなら、これらの素子は、チップにおける素子形成面を受光面として活用するからである。
本発明の目的は、COB実装においてさらなる小型化を実現することと、これにより、COB実装される受光素子や光学素子を小型化することである。
本発明の別の目的は、パッケージ実装においてさらなる小型化を実現することと、これにより、パッケージ実装される受光素子や光学素子を小型化することである。
請求項1の発明は、半導体チップをCOB実装するために用いる枠体であり、枠部材と、導体部と、導電性のバンプ部とを備えていることを特徴とする。枠部材の一方の面には、半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられる。導体部は、枠部材における、前記一方の面とは反対側の面上に形成されている。バンプ部は、半導体チップのパッドと導体部とを電気的に接続するために、導体部上に形成されている。
請求項2のCOB実装用の枠体は、請求項1の発明において、枠部材における外縁側の面には、サイドスルーホールが形成されていることを特徴とする。
請求項3の発明は、半導体チップをCOB実装するために用いる枠体であって、枠部材と、外部端子部と、導体部と、導電性のバンプ部とを備えていることを特徴とする。枠部材は、その内縁及び外縁が半導体チップの外周に沿った枠状に形成されている。枠部材の一方の面には、半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられる。この一方の面とは反対側には、内縁側に凹んだ少なくとも1つの段差により分けられた第1面と、第1面よりも内縁側の第2面とが形成されている。外部端子部は、第1面に形成されたスルーホール、または、第1面から枠部材を挿通するように設けられたピンである。導体部は、第2面上から、外部端子部まで形成されている。バンプ部は、半導体チップのパッドと導体部とを電気的に接続するために、第2面上の導体部上に形成されている。
請求項4の半導体装置は、請求項1〜請求項3のいずれかのCOB実装用の枠体を用いて、光電変換素子である半導体チップをCOB実装したことを特徴とする。
請求項5の発明は、半導体チップをパッケージ実装するために用いる枠体であって、枠部材と、導体部と、導電性のバンプ部とを備えていることを特徴とする。枠部材の一方の面には、半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられる。導体部は、枠部材における、前記一方の面とは反対側の面上に形成されている。バンプ部は、半導体チップのパッドと導体部とを電気的に接続するために、導体部上に形成されている。
請求項6の発明は、半導体チップをパッケージ実装するために用いる枠体であって、枠部材と、リードと、導電性のバンプ部とを備えていることを特徴とする。枠部材は、その内縁及び外縁が半導体チップの外周に沿った枠状に形成されている。枠部材の一方の面には、半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられる。この一方の面とは反対側には、内縁側に凹んだ少なくとも1つの段差によって分けられた外側面と、外側面よりも内縁側の内側面とが形成されている。リードは、内側面上から、枠部材の外縁に挿通している。バンプ部は、半導体チップのパッドとリードとを電気的に接続するために、内側面上のリード上に形成されている。
請求項7の半導体装置は、請求項5または請求項6のパッケージ実装用の枠体を用いて、光電変換素子である半導体チップをパッケージ実装したことを特徴とする。
本発明のCOB実装用の枠体を用いれば、ボンディングワイヤを用いずに半導体チップをCOB実装できる。このため、従来のCOB実装方法よりも、実装サイズを小型化できる。同様に、本発明のパッケージ実装用の枠体を用いれば、従来よりも実装サイズを小型化できる。従って、CSP実装を適用できないために従来は実装サイズの小型化に限界があった半導体チップに対しては、本発明の枠体を用いてCOB実装またはパッケージ実装することで、小型化できる。
以下、図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。なお、各図において、同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。
<第1の実施形態>
図1(a)は、本発明の第1の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、図1(b)は、図1(a)のX−X’間の断面模式図を示している。本実施形態は、請求項1及び請求項4に対応する。半導体装置40は、本発明の枠体44と、COB基板46と、透明リッド48とを用いて、半導体チップ50をCOB実装することで構成されている。
半導体チップ50は、固体撮像素子として形成されている。また、透明リッド48は、半導体チップ50を保護すると共に光学窓として機能し、例えばガラス製である。COB基板46は、半導体チップ50を収納及び固定するためのキャビティ部54と、複数のスルーホール56(この例では32個)と、各スルーホール56に対応して形成された複数の基板配線58とを有している。スルーホール56の内面には金属メッキが施されており、各基板配線58の一端は、各スルーホール56まで延在している。
枠体44は、その外縁の寸法がキャビティ部54の外縁の寸法より大きくなるように、且つ、その内縁の寸法がキャビティ部54の外縁の寸法より小さくなるように形成されている。枠体44は、例えば、テフロン(登録商標)やセラミックを切削することで形成されている。なお、枠体44の材料は、これらに限定されるものではない。所望の形状に加工可能で、且つ、十分な強度を有する絶縁性の固体であれば何でもよい。これは、後述する第2〜第5の実施形態に関しても同様である。
図2(a)は、図1(b)の枠体44近辺を拡大した図であり、図2(b)は、これを分解断面図として示したものである。図に示すように、枠体44は、透明リッド48を貼り付けるための段差部62を有している。また、枠体44における段差部62とは反対側の面上には、金属薄膜による枠体配線64が形成されている。この枠体配線64は、例えば、金やアルミニウム等の導電性素材を蒸着等の方法で付着して形成すればよい。
そして、枠体配線64上には、半田バンプ66が形成されている。半田バンプ66は、枠体44が半導体チップ50及びCOB基板46上に配置されたときに、半導体チップ50のパッド68に対向する位置に形成されている。なお、枠体配線64及び半田バンプ66は、各基板配線58に対応して複数形成されている。即ち、COB基板46上に配置されたときに、基板配線58に対向しない領域(例えば図1(a)のY−Y’間断面)には、枠体配線64及び半田バンプ66は形成されていない。また、以下の説明では、枠体におけるリッド貼り付け用の段差部とは反対側の面において、配線が形成されていない領域を、非配線領域という。
ここで、請求項と本実施形態との対応関係を説明する。なお、以下に示す対応関係は、参考のために示した一解釈であり、本発明を限定するものではない。請求項記載の導体部は、枠体配線64に対応する。請求項記載のバンプ部は、半田バンプ66に対応する。請求項記載の枠部材は、枠体44から、枠体配線64及び半田バンプ66を除いた部分に対応する。
次に、上述した枠体44を用いた実装方法を説明する。まず、例えば接着剤を用いて、COB基板46のキャビティ部54に半導体チップ50を貼り付ける。このとき、半導体チップ50の受光面がCOB基板46とは反対側になるようにする。次に、半田バンプ66、及び枠体配線64における半田バンプ66とは反対側に、例えばクリーム半田を塗布し、前記非配線領域に例えば絶縁性接着剤を塗布する。次に、枠体44の半田バンプ66がパッド68に合わさるように、且つ、枠体配線64における半田バンプ66とは反対側が基板配線58上になるように位置合わせをする。
この状態で、半田バンプ66が溶けない程度に枠体44及びCOB基板46が熱くなるように、例えば、これらをホットプレート上に載置する。その後、これらをホットプレート上から移して冷ます。これにより、先に塗布したクリーム半田及び絶縁性接着剤によって、半田バンプ66はパッド68に半田付けされ、枠体配線64は基板配線58に半田付けされ、前記非配線領域はCOB基板46に接着される。この後、透明リッド48を枠体44の段差部62に貼り付けて、半導体チップ50を封止すればよい。なお、半田バンプ66が溶けない程度に枠体44を熱くするのではなく、半田バンプ66をパッド68に熱圧着するようにしてもよい(後述する他の実施形態についても同様)。以上が実装方法の説明である。
このように第1の実施形態では、枠体44上に形成された半田バンプ66及び枠体配線64を介して、半導体チップ50のパッド68と、COB基板46の基板配線58とを接続する。従って、実装の際にワイヤボンディングを用いる必要がないので、従来よりも簡単な工程でCOB実装できる。また、ワイヤボンドするのに必要であったパッドとポストとの間隔は不要となる。従って、最小のサイズで半導体チップをCOB実装できる。また、CSP実装を適用できないために従来は実装サイズの小型化に限界があった半導体チップに対しては、本実施形態の枠体を用いてCOB実装することで、チップサイズに限りなく近いサイズで実装できる。
なお、第1の実施形態では、COB基板46上において、基板配線58がキャビティ部54の外縁まで延在していない例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。図3に示すように、基板配線58をキャビティ部54の外縁まで延在させて、枠体配線64と、基板配線58との接触面積を大きくしてもよい。
パッド68と枠体44との接続手段として、半田バンプ66を用いる例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。半田バンプ66の代わりに、例えば、金ボール、半田ボールを枠体配線64上に形成したり、プローブピンを設けてもよい。これは、後述する第2〜第5の実施形態に関しても同様である。また、外部信号線(図示せず)との接続手段として、COB基板46にスルーホール56が形成されている例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。スルーホールの代わりに、COB基板を挿通すると共に基板配線に接続されたピンを設けてもよい。
<第2の実施形態>
図4(a)は、本発明の第2の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、図4(b)は、図4(a)のX−X’間の断面模式図を示している。本実施形態は、請求項1、請求項2、及び請求項4に対応する。半導体装置80は、本実施形態の枠体84と、COB基板86と、透明リッド48とを用いて、半導体チップ50をCOB実装することで構成されている。COB基板86は、半導体チップ50を固定するためのキャビティ部94と、複数のスルーホール96とを有している。枠体84の外縁側の面には、複数のスルーホール96にそれぞれ対向するように、複数の端面スルーホール90(サイドスルーホール)が形成されている。これらサイドスルーホールが形成されていることが、本実施形態と第1の実施形態との主な違いである。
図5(a)は、図4(b)の枠体84近辺を拡大した図であり、図5(b)は、これを分解断面図で示したものである。図に示すように、枠体84は、透明リッド48を貼り付けるための段差部98を有している。また、枠体84における段差部98とは反対側の面上には、各端面スルーホール90に対応する枠体配線100が形成されている。枠体配線100上には、半導体チップ50のパッド68に対向する位置に、半田バンプ104が形成されている。
次に、上述した枠体84を用いた実装方法を説明する。まず、第1の実施形態と同様に、キャビティ部94に半導体チップ50を貼り付ける。次に、端面スルーホール90の下端及び半田バンプ104にクリーム半田を塗布し、非配線領域に絶縁性接着剤を塗布する。次に、位置合わせをしてから、第1の実施形態と同様にして、半田バンプ104をパッド68に半田付けし、端面スルーホール90をスルーホール96に半田付けし、非配線領域をCOB基板86に接着する。この後、透明リッド48を段差部98に貼り付ける。なお、端面スルーホール90にクリーム半田を塗布せずに、枠体84とCOB基板86とを接着後に、端面スルーホール90をスルーホール96に半田付けしてもよい。以上、第2の実施形態においても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
<第3の実施形態>
図6(a)は、本発明の第3の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、図6(b)は、図6(a)のX−X’間の断面模式図を示している。本実施形態は、請求項3及び請求項4に対応する。半導体装置110は、枠体114と、COB基板116と、透明リッド48とを用いて、半導体チップ50をCOB実装することで構成されている。第1の実施形態との主な違いは、以下の2点である。
第1に、COB基板116は、キャビティ部やスルーホールを有さず、板状に形成されている。なお、COB基板116の寸法は、半導体チップ50のサイズより大きい。第2に、枠体114は、第1及び第2の実施形態のCOB基板の外周部をさらに含む構造を有している。以下、図7を用いて枠体の構造を詳細に説明する。なお、図7(a)は、図6(b)における枠体114近辺を拡大した図であり、図7(b)は、これを分解断面図で示したものである。
枠体114は、透明リッド48を貼り付けるための段差部118を有している。枠体114における段差部118とは反対側は、内縁側に凹んだ2つの段差によって階段状に形成されている。これら2つの段差の内、内縁側の段差は、半導体チップ50を収納するためのものであり、半導体チップ50の外周より若干外側になる位置に形成されている。また、外縁側の段差は、COB基板116を嵌合するために、COB基板116の外周とほぼ等しくなる位置に形成されている。なお、外縁側の段差は、COB基板116の寸法より外周よりも若干外側になる位置に形成してもよい。
ここで、図7(b)に示すように、段差により分けられた3つの面の内、内縁側の面をバンプ面(請求項記載の第2面に対応)、外縁側の面をホール面(請求項記載の第1面に対応)、これらの間の面を基板貼付面とする。ホール面には、複数のスルーホール120が形成されている(この例では、図6(a)に示したように32個)。そして、これらスルーホール120にそれぞれ対応して、枠体配線124が形成されている。枠体配線124の一端側は、バンプ面上に形成されており、他端側はスルーホール120まで延在している。また、バンプ面上の枠体配線124上には、パッド68に対向する位置に、半田バンプ126が形成されている。
図8は、枠体114の製造方法の要部を示す模式的工程断面図である。以下、図8を用いて、枠体114の製造方法を説明する。まず、テフロン(登録商標)等で形成された正方形状の基板を用意し、その中心部を四角く刳り抜くことで、枠状の第1基板130を形成する。次に、スルーホール120を形成する。次に、導電性素材をメッキ等の方法で付着して、枠体配線124を形成する。図8(a)は、この状態を示している。
次に、第1基板130における枠体配線124側の面上に、第1基板130と同等の寸法及び形状を有する第2基板132を、例えば接着剤により貼り付ける。図8(b)は、この状態を示している。次に、第1基板130を切削して、階段状にバンプ面、基板貼付面、ホール面を形成する。このとき、先に形成した枠体配線124が露出するように、且つ、枠体配線124が切削されないようにする。そして、各枠体配線124上に半田バンプ126を形成する。図8(c)は、この状態を示している。この後、第2基板132を切削して、図7に示した形状に加工すればよい。以上が枠体114の製造方法の説明である。
次に、前述した図7(b)を参照して、本実施形態の枠体114を用いた実装方法を説明する。まず、枠体114のホール面を上に向け、半田バンプ126にクリーム半田を塗布してから、半導体チップ50の受光面を下に向けて位置合わせをする。この状態で、第1の実施形態と同様にして、各半田バンプ126を各パッド68に半田付けする。次に、半導体チップ50の裏面とCOB基板116、枠体114の基板貼付面とCOB基板116をそれぞれ接着する。この後、透明リッド48を枠体114の段差部62に貼り付ければよい。なお、以下のように工程順を変えてもよい。まず、COB基板116上に半導体チップ50の裏面を貼り付ける。次に、各半田バンプ126を各パッド68に半田付けすると共に、基板貼付面をCOB基板116に接着する。この後、透明リッド48を枠体44の段差部118に貼り付ける。以上が実装方法の説明である。
以上、第3の実施形態においても、第1及び第2の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、第3の実施形態では、枠体114は、第1及び第2の実施形態のCOB基板の外周部をさらに含む構造を有している。このため、枠体の配線部(第1の実施形態では枠体配線64)と、COB基板の配線部(第1の実施形態では基板配線58)とを半田付け等により接続する必要がない。従って、チップ実装時の工程数を少なくできる。
なお、第3の実施形態では、外部信号線との接続手段として、枠体114にスルーホール120が形成されている例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。スルーホールの代わりに、枠体を挿通すると共に枠体配線に接続されたピンを設けてもよい。ここでのスルーホール及びピンは、請求項記載の外部端子部に対応する。
また、枠体114における段差部118とは反対側に、2つの段差が形成されている例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。例えば、図9に示すように、段差を1つのみにしてもよい。この場合、COB基板を、半導体チップ50の寸法より若干大きく形成する。また、COB基板が枠体に嵌合されるように、枠体における段差の位置を、COB基板の寸法にほぼ等しくする。実装の際には、COB基板の側面に接着剤を塗布することで、COB基板と枠体とを接着すればよい。
<第4の実施形態>
図10(a)は、本発明の第4の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、図10(b)は、図10(a)のX−X’間の断面模式図を示している。本実施形態は、請求項5及び請求項7に対応する。半導体装置140は、本実施形態の枠体144と、パッケージ146と、透明リッド48とを用いて、半導体チップ50をパッケージ実装することで構成されている。
パッケージ146は、半導体チップ50を収納及び固定するためのダイパッド部150と、複数のリード152(この例では32本)とを有している。枠体144の構造は、第1の実施形態の枠体24と同様である。即ち、枠体144は、透明リッド48を貼り付けるための段差部160と、複数のリード152にそれぞれ対応する複数の枠体配線164と、複数の半田バンプ166とを有している。
次に、本実施形態の枠体144を用いたパッケージ実装の工程を説明する。まず、例えば接着剤を用いて、パッケージ146のダイパッド部150に半導体チップ50を貼り付ける。このとき、半導体チップ50の受光面がパッケージ146とは反対側になるようにする。次に、半田バンプ166及び枠体配線164にクリーム半田を塗布し、枠体144の非配線領域に絶縁性接着剤を塗布する。次に、半田バンプ166がパッド68に合わさるように、且つ、枠体配線164がリード152上になるように位置合わせをする。この状態で、第1の実施形態と同様にして、半田バンプ166をパッド68に半田付けし、枠体配線164をリード152に半田付けし、非配線領域をパッケージ146に接着する。この後、透明リッド48を枠体144の段差部160に貼り付ける。以上が実装方法の説明である。このように第4の実施形態では、ワイヤボンドをせずに半導体チップ50をパッケージ実装できる。従って、第4の実施形態においても、第1の実施形態と同様の効果を得ることができる。
<第5の実施形態>
図11(a)は、本発明の第5の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、図11(b)は、図11(a)のX−X’間の断面模式図を示している。本実施形態は、請求項6及び請求項7に対応する。半導体装置180は、本実施形態のパッケージ184と、透明リッド48とを用いて、半導体チップ50をパッケージ実装することで構成されている。パッケージ184は、枠体186と、裏蓋部188とで構成されている。
裏蓋部188は、ダイパッド部を有さず、半導体チップ50より若干大きい寸法の板状に形成されている。枠体186は、第4の実施形態のパッケージ146の外周部をさらに含む構造を有している。以下、図12を用いて枠体186の構造を詳細に説明する。なお、図12(a)は、図11(b)における枠体186近辺を拡大した図であり、図12(b)は、これを分解断面図で示したものである。
枠体186は、透明リッド48を貼り付けるための段差部192を有している。枠体186における段差部192とは反対側は、内縁側に凹んだ2つの段差によって階段状に形成されている。これら2つの段差の内、内縁側の段差は、半導体チップ50を収納するためのものであり、半導体チップ50の外周より若干外側になる位置に形成されている。また、外縁側の段差は、裏蓋部188を嵌合するためのものであり、裏蓋部188の外周とほぼ等しくなる位置に形成されている。なお、外縁側の段差は、裏蓋部188の外周より若干外側になる位置に形成してもよい。
ここで、図12(b)に示すように、段差により分けられた3つの面の内、内縁側の面を内側面、外縁側の面を外側面、これらの間の面を裏蓋貼付面とする。そして、枠体186は、内側面上からその外縁に挿通していると共に外縁において折曲された複数のリード196を有している(この例では、図11(a)に示したように32本)。内側面上のリード196(インナーリードに相当)上には、パッド68に対向する位置に、半田バンプ200が形成されている。
図13は、枠体186の製造方法の要部を示す模式的工程断面図である。以下、図13を用いて、枠体186の製造方法を説明する。まず、リードフレームを刳り抜き、これを折曲し、リード196を形成する。また、テフロン(登録商標)等で形成された正方形状の基板を2つ用意し、それらの中心部を四角く刳り抜くことで、枠状の上側基板204及び下側基板208を形成する。上側基板204は、枠体186におけるリードフレームよりも段差部192側に相当し、下側基板208は、その反対側に相当する。次に、上側基板204及び下側基板208を切削により加工する。図13(a)は、この状態を示している。次に、下側基板208上にリード196を貼り付け、その上にさらに上側基板204を貼り付ける。図13(b)は、この状態を示している。この後、リード196上に、半田バンプ200を形成すればよい。図13(c)は、この状態を示している。
なお、別の工程でも枠体186を製造できる。この場合、図13(a)までの工程は前述と同様でよい。その後、下側基板208上にリード196を貼り付ける。図13(d)は、この状態を示している。次に、リード196上に、半田バンプ200を形成する。図13(e)は、この状態を示している。この後、上側基板204をリード196及び下側基板208上に貼り付ければよい。
次に、前述した図12(b)を参照して、本実施形態の枠体186及び裏蓋部188を用いた実装方法を説明する。まず、枠体186の外側面を上に向け、半田バンプ200にクリーム半田を塗布してから、半導体チップ50の受光面を下に向けて位置合わせをする。この状態で、第1の実施形態と同様にして、各半田バンプ200を各パッド68に半田付けする。次に、半導体チップ50の裏面と裏蓋部188、枠体186の裏蓋貼付面と裏蓋部188をそれぞれ接着する。この後、透明リッド48を段差部192に貼り付ければよい。なお、工程順を変えて以下のように実装してもよい。まず、裏蓋部188に半導体チップの裏面を貼り付ける。次に、各半田バンプ200を各パッド68に半田付けすると共に、枠体186の裏蓋貼付面を裏蓋部188に接着する。この後、透明リッド48を段差部192に貼り付ける。以上が実装方法の説明である。
以上、第5の実施形態においても、第4の実施形態と同様の効果を得ることができる。さらに、第5の実施形態では、枠体186は、第4の実施形態のパッケージ146の外周部をさらに含む構造を有している。このため、枠体配線と、リードとを半田付け等により接続する必要がない。従って、チップ実装時の工程数を少なくできる。
なお、第5の実施形態では、枠体186における段差部192とは反対側に、2つの段差が形成されている例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。例えば、図14に示すように、段差を1つのみにしてもよい。この場合、裏蓋部を、半導体チップ50の寸法より若干大きく形成する。また、裏蓋部が枠体に嵌合されるように、枠体における段差の位置を、裏蓋部の寸法にほぼ等しくする。実装の際には、裏蓋部の側面に接着剤を塗布することで、裏蓋部と枠体とを接着すればよい。
また、第1〜第5の実施形態では、半導体チップ50が固体撮像素子として形成されている例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。本発明のCOB実装用の枠体及びパッケージ実装用の枠体は、固体撮像素子以外の光電変換素子や、その他の半導体チップの実装にも適用可能である。なお、本明細書での光電変換素子は、光電変換を行う半導体チップを意味し、例えば、フォトダイオードなどの受光素子や、CCDなどの撮像素子、ラインセンサ等を指す。
以上詳述したように本発明は、半導体チップの実装において大いに利用可能である。
(a)は第1の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、(b)はその断面模式図である。 (a)は図1(b)における枠体部分の詳細を示す断面模式図であり、(b)はその模式的分解断面図である。 第1の実施形態において、基板配線をキャビティ部の外縁まで延在させる例を示す説明図である。 (a)は第2の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、(b)はその断面模式図である。 (a)は図4(b)における枠体部分の詳細を示す断面模式図であり、(b)はその模式的分解断面図である。 (a)は第3の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、(b)はその断面模式図である。 (a)は図6(b)における枠体部分の詳細を示す断面模式図であり、(b)はその模式的分解断面図である。 第3の実施形態における枠体の製造工程の要部を示す模式的工程断面図である。 第3の実施形態において、枠体の段差を1つにする例を示す断面模式図である。 (a)は第4の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、(b)はその断面模式図である。 (a)は第5の実施形態における半導体装置の上面模式図であり、(b)はその断面模式図である。 (a)は図11(b)における枠体部分の詳細を示す断面模式図であり、(b)はその模式的分解断面図である。 第5の実施形態における枠体の製造方法の要部を示す模式的工程断面図である。 第5の実施形態において、枠体の段差を1つにする例を示す断面模式図である。 従来のCOB実装の概略を示す上面模式図及び断面模式図である。 従来のパッケージ実装の概略を示す上面模式図及び断面模式図である。
符号の説明
10 スルーホール
12 ポスト
14 COB基板
16 半導体チップ
18 パッド
20 ボンディングワイヤ
24 枠体
26 ガラスリッド
30 パッケージ基板
32 ダイパッド部
34 インナーリード
36 ガラスリッド
40 半導体装置
44 枠体
46 COB基板
48 透明リッド
50 半導体チップ
54 キャビティ部
56 スルーホール
58 基板配線
62 段差部
64 枠体配線
66 半田バンプ
68 パッド
80 半導体装置
84 枠体
86 COB基板
90 端面スルーホール
94 キャビティ部
96 スルーホール
100 枠体配線
104 半田バンプ
110 半導体装置
114 枠体
116 COB基板
118 段差部
120 スルーホール
124 枠体配線
126 半田バンプ
130 第1基板
132 第2基板
140 半導体装置
144 枠体
146 パッケージ
150 ダイパッド部
152 リード
160 段差部
164 枠体配線
166 半田バンプ
180 半導体装置
184 パッケージ
186 枠体
188 裏蓋部
192 段差部
196 リード
200 半田バンプ
204 上側基板
208 下側基板

Claims (7)

  1. 半導体チップをCOB(Chip On Board)実装するために用いる枠体であって、
    前記半導体チップを保護するためのリッドが一方の面に貼り付けられる枠部材と、
    前記枠部材における、前記一方の面とは反対側の面上に形成された導体部と、
    前記半導体チップのパッドと前記導体部とを電気的に接続するために、前記導体部上に形成された導電性のバンプ部と
    を備えていることを特徴とするCOB実装用の枠体。
  2. 請求項1記載のCOB実装用の枠体において、
    前記枠部材における外縁側の面には、サイドスルーホールが形成されている
    ことを特徴とするCOB実装用の枠体。
  3. 半導体チップをCOB実装するために用いる枠体であって、
    内縁及び外縁が前記半導体チップの外周に沿った枠状に形成されており、一方の面には前記半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられ、前記一方の面とは反対側には、内縁側に凹んだ少なくとも1つの段差により分けられた第1面と、前記第1面よりも内縁側の第2面とが形成されている枠部材と、
    前記第1面に形成されたスルーホール、または、前記第1面から前記枠部材を挿通するように設けられたピンである外部端子部と、
    前記第2面上から、前記外部端子部まで形成された導体部と、
    前記半導体チップのパッドと前記導体部とを電気的に接続するために、前記第2面上の前記導体部上に形成された導電性のバンプ部と
    を備えていることを特徴とするCOB実装用の枠体。
  4. 請求項1〜請求項3記載のいずれか1項記載のCOB実装用の枠体を用いて、光電変換素子である半導体チップをCOB実装したことを特徴とする半導体装置。
  5. 半導体チップをパッケージ実装するために用いる枠体であって、
    前記半導体チップを保護するためのリッドが一方の面に貼り付けられる枠部材と、
    前記枠部材における、前記一方の面とは反対側の面上に形成された導体部と、
    前記半導体チップのパッドと前記導体部とを電気的に接続するために、前記導体部上に形成された導電性のバンプ部と
    を備えていることを特徴とするパッケージ実装用の枠体。
  6. 半導体チップをパッケージ実装するために用いる枠体であって、
    内縁及び外縁が前記半導体チップの外周に沿った枠状に形成されており、一方の面には前記半導体チップを保護するためのリッドが貼り付けられ、前記一方の面とは反対側には、内縁側に凹んだ少なくとも1つの段差によって分けられた外側面と、前記外側面よりも内縁側の内側面とが形成されている枠部材と、
    前記内側面上から、前記枠部材の外縁に挿通したリードと、
    前記半導体チップのパッドと前記リードとを電気的に接続するために、前記内側面上の前記リード上に形成された導電性のバンプ部と
    を備えていることを特徴とするパッケージ実装用の枠体。
  7. 請求項5または請求項6記載のパッケージ実装用の枠体を用いて、光電変換素子である半導体チップをパッケージ実装したことを特徴とする半導体装置。
JP2003397457A 2003-11-27 2003-11-27 Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置 Pending JP2005159136A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003397457A JP2005159136A (ja) 2003-11-27 2003-11-27 Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003397457A JP2005159136A (ja) 2003-11-27 2003-11-27 Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005159136A true JP2005159136A (ja) 2005-06-16

Family

ID=34722613

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003397457A Pending JP2005159136A (ja) 2003-11-27 2003-11-27 Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005159136A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017086222A1 (ja) * 2015-11-19 2018-07-05 京セラ株式会社 電子素子実装用基板および電子装置
CN108431946A (zh) * 2016-01-07 2018-08-21 赛灵思公司 具有加强件的堆叠的硅封装组件
CN109273395A (zh) * 2018-09-26 2019-01-25 宁波润华全芯微电子设备有限公司 一种用于方形基片对中结构

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2017086222A1 (ja) * 2015-11-19 2018-07-05 京セラ株式会社 電子素子実装用基板および電子装置
CN108431946A (zh) * 2016-01-07 2018-08-21 赛灵思公司 具有加强件的堆叠的硅封装组件
KR20180100603A (ko) * 2016-01-07 2018-09-11 자일링크스 인코포레이티드 강화된 보강재를 구비한 적층형 실리콘 패키지 어셈블리
US10840192B1 (en) * 2016-01-07 2020-11-17 Xilinx, Inc. Stacked silicon package assembly having enhanced stiffener
CN108431946B (zh) * 2016-01-07 2021-12-07 赛灵思公司 具有加强件的堆叠的硅封装组件
KR102542735B1 (ko) * 2016-01-07 2023-06-12 자일링크스 인코포레이티드 강화된 보강재를 구비한 적층형 실리콘 패키지 어셈블리
CN109273395A (zh) * 2018-09-26 2019-01-25 宁波润华全芯微电子设备有限公司 一种用于方形基片对中结构
CN109273395B (zh) * 2018-09-26 2023-12-15 宁波润华全芯微电子设备有限公司 一种用于方形基片对中结构

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11508776B2 (en) Image sensor semiconductor packages and related methods
KR100500919B1 (ko) 수지봉입형 반도체장치 및 그 제조방법
JP3526788B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US6995448B2 (en) Semiconductor package including passive elements and method of manufacture
JP5757852B2 (ja) 撮像モジュールおよび撮像ユニット
KR20170064624A (ko) 반도체 패키지
JPH11312706A (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法、リードフレーム
JP2006505126A (ja) 光センサパッケージ
JPWO2008018524A1 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2001185657A (ja) 半導体パッケージ及びその製造方法
JP4828261B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
KR100494474B1 (ko) 카메라 모듈 및 그 제조방법
JP2008288327A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP3127584B2 (ja) 樹脂製中空パッケージを用いた半導体装置
JP2005159136A (ja) Cob実装用の枠体、パッケージ実装用の枠体、及び半導体装置
JP5555400B2 (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP4840385B2 (ja) 半導体パッケージ
JP6184106B2 (ja) 固体撮像素子用中空パッケージ、固体撮像素子及び固体撮像装置
JP2005311099A (ja) 半導体装置及びその製造方法
KR20050118833A (ko) 이미지 센서용 패키지
KR100489115B1 (ko) 반도체패키지 및 그 제조 방법
JP2007234683A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP2006294687A (ja) 積層型半導体装置およびその製造方法
JP3314139B2 (ja) 半導体装置
KR100359790B1 (ko) 반도체 패키지 및 그 제조방법