JP2005147768A - 赤外線検出器 - Google Patents

赤外線検出器 Download PDF

Info

Publication number
JP2005147768A
JP2005147768A JP2003382943A JP2003382943A JP2005147768A JP 2005147768 A JP2005147768 A JP 2005147768A JP 2003382943 A JP2003382943 A JP 2003382943A JP 2003382943 A JP2003382943 A JP 2003382943A JP 2005147768 A JP2005147768 A JP 2005147768A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
infrared
control circuit
infrared detector
detection element
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003382943A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuaki Watanabe
和明 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2003382943A priority Critical patent/JP2005147768A/ja
Priority to DE102004054079A priority patent/DE102004054079A1/de
Publication of JP2005147768A publication Critical patent/JP2005147768A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/04Casings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/0215Compact construction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/0225Shape of the cavity itself or of elements contained in or suspended over the cavity
    • G01J5/024Special manufacturing steps or sacrificial layers or layer structures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/04Casings
    • G01J5/041Mountings in enclosures or in a particular environment
    • G01J5/045Sealings; Vacuum enclosures; Encapsulated packages; Wafer bonding structures; Getter arrangements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/06Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • G01J5/12Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0203Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/10Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors characterised by potential barriers, e.g. phototransistors
    • H01L31/101Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Abstract

【課題】小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器を提供する。
【解決手段】赤外線検出素子10が形成されたセンサチップ20と、赤外線検出素子10の入出力を制御する制御回路チップ31とを有し、センサチップ20が、制御回路チップ31上に積層配置される赤外線検出器100であって、センサチップ20が、制御回路チップ31における相対的に発熱量の小さな領域に配置される赤外線検出器とする。
【選択図】 図1

Description

本発明は、温度変化を測定して赤外線を感知する、熱型赤外線検出器に関するものである。
温度変化を測定して赤外線を感知する熱型赤外線検出器が、例えば、特開特開平6−137935号公報(特許文献1)に開示されている。特許文献1に開示されている熱型赤外線検出器は、赤外線による温度変化を抵抗値変化で測定するもので、他に、赤外線による温度変化を熱電対で測定する熱型赤外線検出器がある。
図5(a)は、従来の熱型赤外線検出器の一例を示す模式的な断面図である。
図5(a)に示す赤外線検出器90は、赤外線検出素子10が形成されたセンサチップ20と赤外線検出素子10の入出力を制御する制御回路チップ30が別体として形成され、ケース1aに並んで配置されている。センサチップ20は、薄肉部として形成されたメンブレン4aを有するシリコン半導体基板20aからなり、熱電対10aと赤外線吸収膜10bとからなる赤外線検出素子10が、メンブレン4a上に形成されている。このようなメンブレン4aを有するセンサチップ20では、赤外線検出素子10の熱が半導体基板20a側に逃げ難く、高感度の赤外線検出が可能である。
図5(b)は、従来の別の熱型赤外線検出器を示す模式的な断面図である。
図5(b)に示す赤外線検出器91も、図5(a)の赤外線検出器90と同様に、センサチップ20と制御回路チップ30が別体として形成されている。一方、図5(b)の赤外線検出器91においては、センサチップ20が制御回路チップ30上に積層して配置され、ケース1b内に収納されている。
図5(a),(b)に示す赤外線検出器90,91は、いずれも、センサチップ20と制御回路チップ30が別体として形成されている。このように、赤外線検出素子とその制御回路を別チップとする図5(a),(b)の赤外線検出器90,91は、赤外線検出素子とその制御回路を一つのチップに形成する場合に較べて、安価に製造することができる。
特開平6−137935号公報
センサチップ20が制御回路チップ30上に積層配置された図5(b)の赤外線検出器91は、センサチップ20と制御回路チップ30が並んで配置された図5(a)の赤外線検出器90に較べて、小型化できる。一方、図5(b)の赤外線検出器91では、制御回路チップ30が発熱すると、センサチップ20に形成された赤外線検出素子10が、図のように被測定物からの赤外線だけでなく制御回路チップ30からの赤外線を直接検出して、センサ出力が求める値からずれてしまう。
図6は、図5(b)の赤外線検出器91において、制御回路チップ30の発熱の有無によるセンサ出力の違いを測定した結果である。制御回路チップ30が発熱して温度が数度上昇すると、センサ出力誤差が、温度換算で10℃以上となる。このようなセンサ出力のずれは、メンブレン4aを有する高感度のセンサチップ20において、特に顕著である。
そこで本発明は、小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器を提供することを目的としている。
請求項1に記載の発明は、赤外線検出素子が形成されたセンサチップと、前記赤外線検出素子の入出力を制御する制御回路チップとを有し、前記センサチップが、前記制御回路チップ上に積層配置される赤外線検出器であって、前記センサチップが、前記制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域に配置されることを特徴としている。
これによれば、センサチップと制御回路チップが別体として形成されるため安価であり、センサチップが制御回路チップ上に積層配置されるため、赤外線検出器を小型にすることができる。また、センサチップは制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域に配置されるため、制御回路の発熱による赤外線を赤外線検出素子が検出し、センサ出力がずれることも抑制される。このようにして、小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器とすることができる。
請求項2に記載の発明は、前記制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域が、回路パターンが配置されていない領域であることを特徴としている。
回路パターンが配置されていない領域は、発熱を伴わないため、制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域となる。このため、上記のようにセンサチップを積層配置することで、小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器とすることができる。
請求項3に記載の発明は、前記制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域が、前記赤外線検出素子の信号処理回路が形成される領域であることを特徴としている。
赤外線検出素子の信号処理回路は、一般的にほとんど発熱を伴わず、制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域となる。従って、上記センサチップが積層配置される制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域を有効利用することができ、小型赤外線検出器とすることができる。
請求項4に記載の発明は、赤外線検出素子が形成されたセンサチップと、前記赤外線検出素子の入出力を制御する制御回路チップとを有し、前記センサチップが、前記制御回路チップ上に積層配置される赤外線検出器であって、前記制御回路チップの発熱領域上に断熱層が形成され、前記センサチップが、前記断熱層上に配置されることを特徴としている。
これによれば、上記と同様にして、小型で安価な赤外線検出器とすることができる。また、制御回路チップの発熱領域上には断熱層が形成されるため、制御回路チップの発熱領域からの赤外線放射が断熱層によって抑制される。このため、断熱層上に配置されるセンサチップに到達する赤外線も抑制されて、制御回路チップからの赤外線による赤外線検出素子の起電力(センサ出力)のずれが抑制される。従って、小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器とすることができる。
請求項5に記載の発明は、赤外線検出素子が形成されたセンサチップと、前記赤外線検出素子の入出力を制御する制御回路チップとを有し、前記センサチップが、前記制御回路チップ上に積層配置される赤外線検出器であって、前記センサチップが、前記制御回路チップの時間的に一定温度にある経時定温領域に配置されることを特徴としている。
これによれば、上記と同様にして、小型で安価な赤外線検出器とすることができる。また、経時定温領域は発熱量および赤外線放射が時間的に一定であり、赤外線検出素子が制御回路チップからの赤外線を検出してセンサ出力がずれても、簡単な温度補正回路により、センサ出力のずれを補正することができる。簡単な温度補正回路により、センサ出力のずれを補正することができる。従って、小型で安価であり、かつ高精度な赤外線検出器とすることができる。
請求項6に記載のように、前記赤外線検出器は、前記センサチップが、薄肉部として形成されたメンブレンを有する基板からなり、前記赤外線検出素子が、前記基板上に形成された熱電対と赤外線吸収膜とからなり、前記熱電対の温接点が前記メンブレン上に形成され、前記熱電対の冷接点が前記メンブレンの外側の基板上に形成され、前記赤外線吸収膜が、前記温接点を被覆するようにメンブレン上に形成され、前記赤外線検出素子が、赤外線を受光したときに前記熱電対における温接点と冷接点との間に生じる温度差によって熱電対の起電力を変化させ、その変化した起電力に基づいて赤外線を検出する赤外線検出器に好適である。
上記のようなメンブレンを有するセンサチップは、熱電対の温接点における熱が基板側に逃げ難く、高感度の赤外線検出が可能である。このような高感度赤外線検出器であっても、センサチップを上記のようにして制御回路チップ上へ配置することで、小型で安価であり、かつ高精度な赤外線検出器とすることができる。
請求項7に記載のように、上記の赤外線検出器は、前記熱電対が、基板の上に異種材料の膜が交互に複数組直列に延設され、一つおきの接合部が前記温接点と冷接点となる、いわゆるサーモパイル式赤外線検出器であることが好ましい。サーモパイル式赤外線検出器は、大きなセンサ出力が得られ、高感度で高精度な赤外線検出器とすることができる。このような高感度かつ高精度な赤外線検出器であっても、センサチップを上記のようにして制御回路チップ上へ配置することで、小型で安価であり、かつ制御回路チップの発熱の影響が抑制された赤外線検出器とすることができる。
請求項8に記載のように、前記基板は半導体基板であり、前記赤外線検出素子は、絶縁膜を介して、前記半導体基板上に形成されることが好ましい。半導体基板を用いることで、一般的な半導体製造技術により容易にメンブレンを有する基板とすることができ、高感度な赤外線検出器を、低コストで製造することができる。
以下、本発明の実施の形態を、図に基づいて説明する。
図1(a)は、本発明の一例である熱型赤外線検出器100の模式的な断面図である。また、図1(b)は、赤外線検出器100に用いられているセンサチップ20と制御回路チップ31の配置関係を示す図である。尚、図1(a),(b)に示す赤外線検出器100において、図5(b)の赤外線検出器91と同様の部分については、同一の符号を付けた。
図1(a),(b)に示す赤外線検出器100は、図5(a),(b)の赤外線検出器90,91と同様に、別体として形成されたセンサチップ20と制御回路チップ31を有する。このように、センサチップ20と制御回路チップ31を別体として形成することで、それらを一体のチップとして形成する場合に較べて製造が容易になり、安価に製造することができる。
図2(a)〜(c)は、センサチップ20の詳細を示す図である。図2(a)は、センサチップ20の模式的な断面図であり、図2(b)は、模式的な上面図である。また、図2(c)は、赤外線検出素子10の構成およびセンサ出力の取り出しを示す模式図である。
図2(a)に示すように、センサチップ20はシリコン半導体基板20aからなり、裏面からエッチングされて薄肉部として形成されたメンブレン4aを有する。メンブレン4aは、一般的な半導体製造技術により、容易に形成することができる。半導体基板20a上には、赤外線検出素子10が、絶縁膜4を介して形成されている。半導体基板20a上に形成された赤外線検出素子10は、熱電対10aと赤外線吸収膜10bとからなる。
図2(b)に示すように、熱電対10aは、メンブレン4aを取り囲むように配置される。尚、見やすくするために、図2(b)と図2(c)では、赤外線吸収膜10bの図示が省略されている。
図2(c)に示すように、熱電対10aは、半導体基板20aの上に異種材料10am,10anの膜が交互に複数組直列に延設され(サーモパイル)、一つおきの接合部が温接点10ahと冷接点10acとなる。異種材料10am,10anの膜の組み合せとしては、例えば、アルミニウム膜とポリシリコン膜の組み合せを用いることができる。このような熱電対10aを持つ赤外線検出器100は、いわゆるサーモパイル式赤外線検出器と呼ばれるものである。図2(a)〜(c)に示すように、熱電対10aの温接点ahは、熱容量の小さいメンブレン4a上に形成されている。一方、熱電対10aの冷接点10acは、メンブレン4aの外側における熱容量の大きい半導体基板20a上に形成されており、半導体基板20aがヒートシンクとしての役割を果たしている。
図2(a)に示すように、赤外線検出素子10においては、温接点10ahを被覆するようにして、赤外線吸収膜10bが、メンブレン4a上に形成される。
人体などから赤外線が照射されると、赤外線吸収膜10bに赤外線が吸収されて、温度上昇が起こる。その結果、赤外線吸収膜10bの下に配置された温接点10ahの温度が上昇する。一方、冷接点10acは、半導体基板2aがヒートシンクとなっているため、温度上昇は起きない。このように、赤外線検出素子10は、赤外線を受光したときの温接点10ahと冷接点10acとの間に生じる温度差により熱電対10aの起電力を変化(ゼーペック効果)させ、その変化した起電力に基づいて赤外線を検出する。尚、図2(c)に示す熱電対10aはサーモパイルとなっているため、各異種材料10am,10anの組で発生する起電力の総和が、赤外線検出素子10の出力となる。
図2(a)のメンブレン4aを有するセンサチップ20は、熱電対10aの温接点10ahにおける熱が半導体基板20a側に逃げ難く、高感度の赤外線検出が可能である。また、サーモパイルとなっている熱電対10aは、大きな起電力(センサ出力)が得られ、高感度で高精度な赤外線検出素子とすることができる。
図1(a),(b)に示す赤外線検出器100は、図5(b)の赤外線検出器91と同様に、センサチップ20が制御回路チップ31上に積層して配置されており、小型の赤外線検出器となっている。一方、図1(b)に示すように、赤外線検出器100では赤外線検出器91の場合と異なり、センサチップ20が、制御回路チップ31における発熱量の大きな領域を除いた、図中の一点差線で示す相対的に発熱量の小さな領域に特定して配置される。制御回路チップ31における発熱量の大きな領域には、例えば、発熱量の大きな抵抗体が形成された領域や、電力用トランジスタ等のパワー素子が形成された領域がある。また、赤外線検出素子100の信号処理回路は一般的にほとんど発熱を伴わないため、相対的に発熱量の小さな領域は、回路パターンが全く配置されていない領域のみならず、赤外線検出素子10の信号処理回路が形成された領域であってもよい。赤外線検出器100では、上記のような相対的に発熱量の小さな領域にセンサチップ20が配置されるため、制御回路が発熱して発熱領域から赤外線が発生しても、センサチップ20の赤外線検出素子10が、発熱領域から放射される赤外線を直接検出しない。このため、発熱領域からの赤外線によるセンサ出力(起電力)のずれを抑制することができる。
以上のようにして、図1(a),(b)の赤外線検出器100は、小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器とすることができる。
図3と図4は、本発明の別の熱型赤外線検出器101,102に関するもので、赤外線検出器101,012に用いられているセンサチップ20と制御回路チップ32,33の配置関係を示す図である。尚、図3と図4の赤外線検出器101,102に用いられているセンサチップ20は、図2(a)に示すセンサチップ20と同じもので、図1(a),(b)の赤外線検出器100に用いられているセンサチップと同じである。また、センサチップ20と制御回路チップ32,33が積層された赤外線検出器101,102の模式的な断面図は、図1(a)と同様になる。
図3と図4に示す赤外線検出器101,102についても、図1(a),(b)に示す赤外線検出器100と同様に、別体として形成されたセンサチップ20が制御回路チップ31,32上に積層配置されている。従って、赤外線検出器101,102は、赤外線検出器100と同様に、小型で安価な赤外線検出器とすることができる。
図3に示す赤外線検出器101では、図1(a),(b)の赤外線検出器100と異なり、制御回路チップ32の発熱領域上に断熱層32dが形成され、この断熱層32d上にセンサチップ20が配置される。断熱層32dには、例えば、ホトリソグラフィ、リフトオフ、スクリーン印刷法等により形成した樹脂材料等の比熱の大きな材料を用いることができる。制御回路チップ32において発熱があっても、発熱領域上に形成された比熱の大きい材料からなる断熱層32dは温度が上昇し難く、断熱層32dからの赤外線放射が抑制される。
このように、図3に示す赤外線検出器101においては、制御回路チップ32の発熱領域上に断熱層32dが形成されているため、制御回路チップ32dの発熱領域からの赤外線放射が、断熱層32dによって抑制される。このため、断熱層32d上に配置されるセンサチップ20に到達する赤外線も抑制されて、制御回路チップ32dからの赤外線による赤外線検出素子10の起電力(センサ出力)のずれが抑制される。従って、図3の赤外線検出器101についても、小型で安価であり、かつセンサ出力のずれが小さく高精度な赤外線検出器とすることができる。
図4に示す赤外線検出器102では、センサチップ20が、制御回路チップ32の時間的に一定温度にある経時定温領域に配置される。経時定温領域は、特性調整時および実動作時共に、定電流・定電圧で動作する素子のみが配置された領域で、温度上昇は起きるものの、温度が常時一定に保たれる領域である。
時間的に一定温度にある経時定温領域は、発熱量および赤外線放射が時間的に一定であり、センサチップ20の赤外線検出素子10が制御回路チップ32dからの赤外線を検出して起電力(センサ出力)がずれても、簡単な温度補正回路により、センサ出力のずれを補正することができる。従って、図4の赤外線検出器102についても、小型で安価であり、かつ高精度な赤外線検出器とすることができる。
(他の実施形態)
上記の各実施形態では、赤外線検出素子が形成されるセンサチップとして、メンブレンを有するシリコン半導体基板からなるセンサチップの例を示した。シリコン半導体基板を用いた場合には、一般的な半導体製造技術により容易にメンブレンを形成することができ、低コストで製造できるため好ましい。しかしながら、赤外線検出素子が形成されるセンサチップはこれに限らず、ガラス等の任意の材料を用いた基板であってよい。また、高感度の赤外線検出素子とするために、基板にメンブレンを形成することが好ましいが、本発明は、メンブレンを有しないセンサチップであっても効果的である。また、赤外線検出素子は、熱電対を用いたものに限らず、薄膜抵抗体の温度による抵抗値変化を利用して赤外線を検出するものであってもよい。
(a)は、本発明の赤外線検出器の模式的な断面図であり、(b)は、(a)の赤外線検出器に用いられているセンサチップと制御回路チップの配置関係を示す図である。 センサチップの詳細を示す図で、(a)は模式的な断面図であり、(b)は模式的な断面図であり、(c)は赤外線検出素子の構成およびセンサ出力の取り出しを示す模式図である。 本発明の別の熱型赤外線検出器に関するもので、センサチップと制御回路チップの配置関係を示す図である。 本発明の別の熱型赤外線検出器に関するもので、センサチップと制御回路チップの配置関係を示す図である。 (a),(b)は、従来の赤外線検出器の模式的な断面図である。 図5(b)の赤外線検出器において、制御回路チップの発熱の有無によるセンサ出力の違いを測定した結果である。
符号の説明
90,91,100〜102 赤外線検出器
10 赤外線検出素子
10a 熱電対
10ah 温接点
10ac 冷接点
10b 赤外線吸収膜
20 センサチップ
20a (半導体)基板
30〜33 制御回路チップ
32d 断熱層
4 絶縁膜
4a メンブレン

Claims (8)

  1. 赤外線検出素子が形成されたセンサチップと、前記赤外線検出素子の入出力を制御する制御回路チップとを有し、
    前記センサチップが、前記制御回路チップ上に積層配置される赤外線検出器であって、
    前記センサチップが、前記制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域に配置されることを特徴とする赤外線検出器。
  2. 前記制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域が、回路パターンが配置されていない領域であることを特徴とする請求項1に記載の赤外線検出器。
  3. 前記制御回路チップにおける相対的に発熱量の小さな領域が、前記赤外線検出素子の信号処理回路が形成される領域であることを特徴とする請求項1に記載の赤外線検出器。
  4. 赤外線検出素子が形成されたセンサチップと、前記赤外線検出素子の入出力を制御する制御回路チップとを有し、
    前記センサチップが、前記制御回路チップ上に積層配置される赤外線検出器であって、
    前記制御回路チップの発熱領域上に断熱層が形成され、
    前記センサチップが、前記断熱層上に配置されることを特徴とする赤外線検出器。
  5. 赤外線検出素子が形成されたセンサチップと、前記赤外線検出素子の入出力を制御する制御回路チップとを有し、
    前記センサチップが、前記制御回路チップ上に積層配置される赤外線検出器であって、
    前記センサチップが、前記制御回路チップの時間的に一定温度にある経時定温領域に配置されることを特徴とする赤外線検出器。
  6. 前記センサチップが、薄肉部として形成されたメンブレンを有する基板からなり、
    前記赤外線検出素子が、前記基板上に形成された熱電対と赤外線吸収膜とからなり、
    前記熱電対の温接点が前記メンブレン上に形成され、前記熱電対の冷接点が前記メンブレンの外側の基板上に形成され、
    前記赤外線吸収膜が、前記温接点を被覆するようにメンブレン上に形成され、
    前記赤外線検出素子が、赤外線を受光したときに前記熱電対における温接点と冷接点との間に生じる温度差によって熱電対の起電力を変化させ、その変化した起電力に基づいて赤外線を検出することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の赤外線検出器。
  7. 前記熱電対が、基板の上に異種材料の膜が交互に複数組直列に延設され、一つおきの接合部が前記温接点と冷接点となることを特徴とする請求項6に記載の赤外線検出器。
  8. 前記基板が半導体基板であり、
    前記赤外線検出素子が、絶縁膜を介して、前記半導体基板上に形成されることを特徴とする請求項6または7に記載の赤外線検出器。
JP2003382943A 2003-11-12 2003-11-12 赤外線検出器 Pending JP2005147768A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003382943A JP2005147768A (ja) 2003-11-12 2003-11-12 赤外線検出器
DE102004054079A DE102004054079A1 (de) 2003-11-12 2004-11-09 Infrarotstrahlungsdetektor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003382943A JP2005147768A (ja) 2003-11-12 2003-11-12 赤外線検出器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005147768A true JP2005147768A (ja) 2005-06-09

Family

ID=34567293

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003382943A Pending JP2005147768A (ja) 2003-11-12 2003-11-12 赤外線検出器

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2005147768A (ja)
DE (1) DE102004054079A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009079946A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Seiko Npc Corp サーモパイル型赤外線センサ
JP2013185996A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 非分散型赤外線分析式ガス検知器
US8952331B2 (en) 2009-12-18 2015-02-10 Panasonic Corporation Infrared sensor module

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005061206B4 (de) * 2005-09-30 2019-10-17 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verwendung einer Detektoranordnung als Umgebungslichtsensor

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03135739A (ja) * 1989-10-20 1991-06-10 Tdk Corp 赤外線検出装置
JPH11258040A (ja) * 1998-03-12 1999-09-24 Omron Corp サーモパイル型赤外線センサ
JP2002043512A (ja) * 2000-07-28 2002-02-08 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
JP2002076248A (ja) * 2000-08-29 2002-03-15 Oki Micro Design Co Ltd マルチチップパッケージ
JP2003017638A (ja) * 2001-07-02 2003-01-17 Fujitsu Ltd 積層型マルチチップ半導体装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03135739A (ja) * 1989-10-20 1991-06-10 Tdk Corp 赤外線検出装置
JPH11258040A (ja) * 1998-03-12 1999-09-24 Omron Corp サーモパイル型赤外線センサ
JP2002043512A (ja) * 2000-07-28 2002-02-08 Mitsubishi Electric Corp パワーモジュール
JP2002076248A (ja) * 2000-08-29 2002-03-15 Oki Micro Design Co Ltd マルチチップパッケージ
JP2003017638A (ja) * 2001-07-02 2003-01-17 Fujitsu Ltd 積層型マルチチップ半導体装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009079946A (ja) * 2007-09-26 2009-04-16 Seiko Npc Corp サーモパイル型赤外線センサ
US8952331B2 (en) 2009-12-18 2015-02-10 Panasonic Corporation Infrared sensor module
JP2013185996A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Ngk Spark Plug Co Ltd 非分散型赤外線分析式ガス検知器

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004054079A1 (de) 2005-06-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6129648B2 (ja)
US9989409B2 (en) IR sensor for IR sensing based on power control
JP2007033154A (ja) 赤外線検出器
WO2000023774A1 (fr) Capteur infrarouge et ensemble capteur infrarouge comprenant celui-ci
JP5564681B2 (ja) 赤外線センサ
JP2005147768A (ja) 赤外線検出器
JP2009042097A (ja) 水素ガスセンサ
US7005643B2 (en) Infrared sensor
US6437331B1 (en) Bolometer type infrared sensor with material having hysterisis
JP2002156283A (ja) サーモパイル型赤外線センサ
JP2008232863A (ja) 赤外線センサ装置
JPH04299225A (ja) 体温計
JPH0634448A (ja) 放射温度計
JPH06258144A (ja) 温度センサ
JP2003254824A (ja) 赤外線センサ装置、非接触型測温計および非接触型体温計
JP2005227180A (ja) 赤外線検出器
JP2006047086A (ja) 赤外線センサ
WO2022038681A1 (ja) 赤外線センサ装置
JP6820789B2 (ja) 赤外線センサ装置
Katzmann et al. Fast thin-film isothermal ac-dc converter with radiometric sensing
JP2002156279A (ja) サーモパイル型赤外線センサ
JP3733839B2 (ja) 赤外線検出素子および測温計
JP3733838B2 (ja) 赤外線検出素子および測温計
JP2005221264A (ja) 赤外線検出器
JPH07140008A (ja) 放射温度計

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20051226

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070514

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070605

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070802

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080304

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081021

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090303