JP2005142323A - 半導体モジュール - Google Patents

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Abstract

【課題】温度差や熱膨張率に起因する放熱部材の変形を抑制しつつ、冷却フィンと放熱部材との密着性を向上させることができる半導体モジュールを提供する。
【解決手段】パワー半導体素子5が上面に配設された複数の絶縁基板4と、各絶縁基板4が上面に配設された複数の放熱部材3とを備えている。各放熱部材3は、保持板1の嵌入孔1aに嵌入される。その嵌入状態において、パワー半導体素子5は、ケース2により囲繞されている。そして、保持板1は金属製であり、取付孔1bが穿設されている。
【選択図】図2

Description

この発明は、半導体モジュールに係る発明であって、例えば、絶縁基板の個数単位で設けられている、複数の放熱部材を有する半導体モジュールに適用することができる。
複数のパワー半導体素子を樹脂ケースに組み込んだ半導体モジュールとして、次に示すような技術が存在している(例えば、特許文献1参照)。
特許文献1に係る従来の技術は、当該樹脂ケースの底面に開口部が穿設されている。また、当該従来の技術は、複数の放熱部材(金属ベース板)を有している。各放熱部材には、それぞれに一の絶縁基板が載置されている。ここで、各絶縁基板には、パワー半導体素子が載置されている。さらに、当該従来の技術では、絶縁基板を有する各放熱部材が、樹脂ケースの底面に穿設されている開口部に嵌入されている。
そして、複数のパワー半導体素子を樹脂ケースに組み込んだ状態において、当該半導体モジュールは、底面において冷却フィンと接合される。ここで、当該接合は、樹脂ケースの底面の4隅に穿設されているネジ孔と、冷却フィンの4隅に穿設されているネジ孔とに、ネジを螺合することにより行われる。
当該従来の技術のように、放熱部材を各絶縁基板毎に分割して設けることにより、製造途中で熱処理を施したとしても、温度差や熱膨張率に起因する放熱部材の変形を抑制する等の効果を奏することができていた。
特開平8−213547号公報(第1図、第3欄の第11段落等)
しかし、上記従来の技術では、半導体モジュールに冷却フィンを接合する場合において、樹脂製のケースにネジ孔が穿設されていたために、ネジ孔の強度が弱く、ネジを強く締めることができなかった。したがって、冷却フィンと放熱部材との密着性が悪くなり、放熱効果が減退していた。
そこで、この発明は、放熱部材における温度差や熱膨張率に起因する当該放熱部材の変形を抑制しつつ、冷却フィンと放熱部材との密着性を向上させることができる、半導体モジュールを提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明に係る請求項1に記載の半導体モジュールは、上面に半導体素子が配設された複数の絶縁基板と、上面に各前記絶縁基板が配設さえた複数の放熱部材と、各前記放熱部材が嵌入すべき複数の嵌入孔を有する保持板と、前記保持板の前記嵌入孔に前記放熱部材が嵌入されている状態において、前記保持板の外周縁部で前記半導体素子を囲繞するケースとを、備えており、前記保持板は金属製であり、取付孔が穿設されている。
本発明の請求項1に記載の半導体モジュールは、上面に半導体素子が配設された複数の絶縁基板と、上面に各前記絶縁基板が配設さえた複数の放熱部材と、各前記放熱部材が嵌入すべき複数の嵌入孔を有する保持板と、前記保持板の前記嵌入孔に前記放熱部材が嵌入されている状態において、前記保持板の外周縁部で前記半導体素子を囲繞するケースとを、備えており、前記保持板は金属製であり、取付孔が穿設されているので、例えば半導体モジュールと冷却フィンとを接合させるために、ネジ等を用いて強い力で締め付けることができる。よって、熱膨張率に起因する放熱部材の変形を抑制しつつ、冷却フィンと放熱部材との密着性を向上させることができる。また保持板は、放熱部材をより水平に保持する必要がある。これは、放熱部材が傾いて保持されると、冷却フィンとの接触が悪くなるからである。そこで、半導体モジュールの保持板は金属製であるので、プレス加工等を容易に行うことができる。よって、放熱部材の水平保持を考慮した、保持板の嵌入孔の精密な加工も可能となる。
以下、この発明をその実施の形態を示す図面に基づいて具体的に説明する。
<実施の形態1>
本実施の形態に係る半導体モジュールの上面を示す平面図を、図1に示す。また、図1のA−A断面の断面図を、図2に示す。
図2に示すように、本実施の形態に係る半導体モジュールの外形は、半導体モジュールの底面を構成する保持板1と、半導体モジュールの上面及び側面を構成するケース2とで成立している。
ここで、保持板1とケース2とは、例えば接着材であるシール材9等を用いて保持板1の外周縁部で接続されている。また、保持板1は金属製の部材であり、ケース2は、樹脂製の部材である。さらに、保持板1には、複数の嵌入孔1aが穿設されている。嵌入孔1aは、外側が大径、内側が小径となる段階的に穿設されており、例えば図2から分かるように、2つの嵌入孔1a間に存する保持板1の断面形状は、T字状であり、嵌入孔1aと保持板1の端部との間に存する保持板1の断面形状は、L字状となっている。
また、図1に示すように、ケース2には、周辺部において数箇所切欠き部2aが設けられており、当該切欠き部2aから露出している保持板1には、冷却フィンの取付孔であるネジ孔1bが設けられている。
また、図2に示しているように、本実施の形態に係る半導体モジュールは、金属ベース板である放熱部材3、絶縁基板4およびパワー半導体素子5等を有している。ここで、放熱部材3の側面は、嵌入孔1aの段々に合わせた末広がりとなる階段形状となっている。また、放熱部材3は複数個であり、一の放熱部材3は、一の絶縁基板4を有しており、一の絶縁基板4には、複数のパワー半導体素子5が搭載されている。
具体的に、絶縁基板4上には、回路パターンである電極部6が形成されており、この電極部6を介して、複数のパワー半導体素子5が配置されている。ここで、パワー半導体素子5と電極部6とは、はんだ10により接合されている。はんだ10の厚さは、ヒートサイクル時の熱ストレスによる当該はんだ10の熱耐性及び放熱性を考慮して、50μm〜100μm程度であることが望ましい。また、複数のパワー半導体素子5は、アルミ配線7等により電気的に接続されている。
絶縁基板4の下面には金属パターン8が形成されており、複数のパワー半導体素子5を有する絶縁基板4の下面は、金属パターン8を介して放熱部材3の上面に載置されている。ここで、放熱部材3と金属パターン8とは、はんだ10により接合されている。はんだ10の厚さは、ヒートサイクル時の熱ストレスによる当該はんだ10の熱耐性を考慮して、100μm〜300μm程度であることが望ましい。
図2から分かるように、上記各部材(絶縁基板4やパワー半導体素子5等)が搭載された各放熱部材3は、その搭載側をケースの内側にして、保持板1に穿設されている各嵌入孔1aに、各々嵌入されている。つまり、各パワー半導体素子5は、保持板1の外周縁部においてケース2により囲繞されている。
ここで、放熱部材3側面の階段部の上面が、段階的に穿設されている嵌入孔1a内の保持板1の下面で係り止められている。また、当該階段部の上面と当該嵌入孔1a内の保持板1の下面との間には、接着剤であるシール材9が充填されており、当該シール材9により、保持板1は放熱部材3を接着・保持している。さらに、放熱部材3が保持板1に保持されている状態において、放熱部材3の下面は、保持板1の下面よりも突出している。
以上のように、図2に示すように、保持板1がケース2と接合し、保持板1に穿設されている複数の嵌入孔1aに、各部材4,5等を有する放熱部材3を各々嵌入させることにより、半導体モジュールは構成されている。なお、保持板1とケース2とで囲まれた空間には、シリコンゲル11が充填されている。また、パワー半導体素子5等から構成されている回路から突出している電極部12は、ケース2の内部を貫通しており、当該ケース2の上面において外部接続可能に配設されている。
上記構成を有する半導体モジュールは、ネジやボルト等を用いて、冷却フィンと接合される。
具体的に、図3に示すように、保持板1に穿設されているネジ孔1bに、ネジ15を通し、冷却フィン16に設けられているネジ孔に対して、ネジ15を螺合するこで、当該螺合により、半導体モジュールは、冷却フィン16と接合される。
本実施の形態に係る半導体モジュールでは、各絶縁基板4毎に放熱部材3を分割して設けているので、製造途中ではんだ付け等の熱処理を施したとしても、放熱部材3の各部所における温度差および当該放熱部材3の熱膨張率等に起因した、当該放熱部材3の変形を抑制することができる。
さらに、本実施の形態に係る半導体モジュールでは、保持板1は、剛性の高い金属製である。そして、当該金属製の保持板1には、複数のネジ孔1bが穿設されている。したがって、図3で示したように、半導体モジュールと冷却フィン16とを接合させるために、ネジ等を用いて強い力で締め付けることができる。これにより、従来の樹脂製のケースに冷却フィンを取付けるときと比較して、半導体モジュールと冷却フィン16との接触向上を図ることができる。
また、保持板1は、放熱部材3をより水平に保持する必要がある。これは、放熱部材3が傾いて保持されると、冷却フィン16との接触が悪くなるからである。したがって、保持板1に段階的に穿設されている嵌入孔1aの加工には、精密さが要求される。
本実施の形態に係る半導体モジュールの保持板1は、金属製であるので、プレス加工等を容易に行うことができる。よって、放熱部材3の水平保持を考慮した、保持板1の嵌入孔1aの精密な加工も可能となる。
また、放熱部材3が保持板1に保持されている状態において、放熱部材3の下面は、保持板1の下面よりも突出しているので、ネジ15の締付によってより確実に、放熱部材3を冷却フィン16に接合することができ、より放熱効果を向上させることができる。
一方、図4に示すように、放熱部材3の上面の幅が、下面の幅よりも大きくなるように、放熱部材3の側面を階段形状に形成し、側面の当該階段形状の階段部の下面と保持板1の上面部とが接するように、放熱部材3を保持板1の嵌入孔1aに嵌入してもよい。
しかし、図2で示したように、放熱部材3の側面を末広がりとなる階段形状とし、放熱部材3側面の階段部の上面が、段階的に穿設されている嵌入孔1a内の保持板1の下面で係り止められている構造を採用することにより、冷却フィン16と接合する放熱部材3の面積が増大し、より放熱効果を向上させることができる。
また、放熱部材3が保持板1の嵌入孔1aに嵌入されている状態において、保持板1の上面が、放熱部材3の上面より上となるように構成しても良い。しかし、図2に示しているように、放熱部材3が保持板1の嵌入孔1aに嵌入されている状態において、保持板1の上面が、放熱部材3の上面以下の位置になるように構成することにより、ケース2と保持板1との間に存する空間が広く取れ、他の部品を配設するなど当該空間を有効活用することができる。
<実施の形態2>
本実施の形態に係る半導体モジュールの断面図を図5に示す。
本実施の形態に係る半導体モジュールは、実施の形態1に係る半導体モジュールとほぼ同じ構成であるが、以下の点において異なる。
つまり、図5に示している様に、本実施の形態に係る半導体モジュールの保持板1に穿設されている嵌入孔1aは、外側も内側も同径であって段階的に形成されておらず、嵌入孔1aと嵌入孔1aとの間に存する保持板1の断面形状は平板形状であり、また、嵌入孔1aと保持板1の端部との間に存する保持板1の断面形状も、平面形状である。
ここで、嵌入孔1aと保持板1の端部との間に存する保持板1の断面形状は、実施の形態1と同様に、L字形状であってもよい。しかし、嵌入孔1aと嵌入孔1aとの間に存する保持板1の断面形状を平板形状とする場合には、嵌入孔1aと保持板1の端部との間に存する保持板1の断面形状も平面形状とする方が、嵌入孔1aを有する保持板1の加工を容易に行うことができる。
その他の部材の構成は、実施の形態1と同様であるので、ここでの説明は省略する。
以上のように、本実施の形態に係る半導体モジュールでは、嵌入孔1aと嵌入孔1aとの間に存する保持板1の断面形状が平板形状であるので、嵌入孔1aと嵌入孔1aとの間に存する保持板1の水平長さをより短く設定することができる。よって、保持板1に各部材4,5を搭載した放熱部材3を嵌入孔1aに嵌入した状態において、実施の形態1よりも、放熱部材3同士を互いにより接近させることができる。よって、半導体モジュール全体の縮小化を図ることができる。
<実施の形態3>
本実施の形態に係る半導体モジュールの断面図を図6に示す。
本実施の形態に係る半導体モジュールは、実施の形態1に係る半導体モジュールとほぼ同じ構成であるが、以下の点において異なる。
つまり、図6に示している様に、本実施の形態に係る半導体モジュールの放熱部材3の側面は、2段からなる階段部を有する、末広がりの階段形状となっている。そして、放熱部材3の下面側から最初の階段部の上面が、段階的に穿設されている嵌入孔1a内の保持板1の下面で係り止められている。
そして、絶縁基板4の外周縁部は、放熱部材3の下面側から2段目の階段部の上面と対面している。つまり、絶縁基板4の外周縁部と対面する放熱部材3の上面は掘り下げられている。
その他の部材の構成は、実施の形態1と同様であるので、ここでの説明は省略する。
以上のように、絶縁基板4の外周縁部と対面する放熱部材3の上面は掘り下げられているので、絶縁基板4の外周縁部と、これに対面する放熱部材3の上面との間の絶縁耐性を大きくすることができる。
実施の形態1に係る半導体モジュールの上面を示す平面図である。 実施の形態1に係る半導体モジュールの断面を示す断面図である。 半導体モジュールと冷却フィンとの接合の様子を示す上面斜視図である。 実施の形態1に係る半導体モジュールの他の例を示す断面図である。 実施の形態2に係る半導体モジュールの断面を示す断面図である。 実施の形態3に係る半導体モジュールの断面を示す断面図である。
符号の説明
1 保持板、1a 嵌入孔、1b ネジ孔、2 ケース、2a 切欠き部、3 放熱部材、4 絶縁基板、5 パワー半導体素子、6,12 電極部、7 アルミ配線、8 導電部、9 シール材、10 はんだ、11 シリコンゲル、15 ネジ、16 冷却フィン。

Claims (5)

  1. 上面に半導体素子が配設された複数の絶縁基板と、
    上面に各前記絶縁基板が配設さえた複数の放熱部材と、
    各前記放熱部材が嵌入すべき複数の嵌入孔を有する保持板と、
    前記保持板の外周縁部で支持されており、前記保持板の前記嵌入孔に前記放熱部材が嵌入されている状態において、前記半導体素子を囲繞するケースとを、備えており、
    前記保持板は金属製であり、取付孔が穿設されている、
    ことを特徴とする半導体モジュール。
  2. 前記嵌入孔間に存する前記保持板の断面形状は、平板形状である、
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。
  3. 前記放熱部材の側面は、末広がりとなる階段形状であり、
    前記放熱部材の前記階段形状の階段部の上面が、前記保持板の下面で係り止めされている、
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。
  4. 前記放熱部材が前記保持板に嵌入されている状態において、
    前記保持板の上面は、前記放熱部材の上面以下の位置に存する、
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。
  5. 前記放熱部材が前記保持板の前記嵌入孔に嵌入されている状態において、
    前記放熱部材の下面は、前記保持板の下面よりも突出している、
    ことを特徴とする請求項1に記載の半導体モジュール。
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