JP2005019609A - 発光ダイオード用パッケージおよびそれを用いた発光装置 - Google Patents

発光ダイオード用パッケージおよびそれを用いた発光装置 Download PDF

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Abstract

【課題】実装基板への実装面積を小さくすることができ且つ外部への光取り出し効率を向上可能な発光ダイオード用パッケージおよびそれを用いた発光装置を提供する。
【解決手段】パッケージ1は、半導体基板たるシリコン基板10の厚み方向の一面側に発光ダイオードチップAを収納する収納凹所11が形成されるとともに、他面側に外部接続用電極15a,15bが形成され、収納凹所11の内底面に発光ダイオードチップAを金バンプ3a,3bを介して接続するチップ接続用電極13a,13bが形成され、チップ接続用電極13a,13bと外部接続用電極15a,15bとを接続する配線16a,16bがシリコン基板10における収納凹所11の内底面と上記他面との間の部分からなる実装部12に貫設されている。パッケージ1は、収納凹所11の内周面に反射膜18が形成されている。
【選択図】 図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、発光ダイオード用パッケージおよびそれを用いた発光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来から、図5に示すように、サファイア基板41の厚み方向の一表面(図5における下面)側に、バッファ層42、n形半導体層43、発光層44、p形半導体層45が順次形成された発光ダイオードチップAが知られている(例えば、特許文献1、特許文献2参照)。また、発光ダイオードチップAは、n形半導体層43上にn電極(パッド)48が設けられるとともに、p形半導体層45上に電流拡散膜46を介してp電極(パッド)47が設けられ、電流拡散膜46が導電性を有し且つ反射率の高い金属材料により形成されており、発光層44にて発光した光がサファイア基板41を通して外部へ放射される。要するに、発光ダイオードチップAは、サファイア基板41の厚み方向の他表面(図5における上面)からなる裏面を光取り出し面として用いられる。
【0003】
なお、図5中の矢印Eは、発光層44からn形半導体層43側へ放射されサファイア基板41の光取り出し面を通して外部へ放射された光を示し、同図中の矢印Rは、電流拡散膜46にて反射されサファイア基板41の光取り出し面を通して外部へ放射された光を示し、同図中の矢印Lは、サファイア基板41とバッファ層42との界面で全反射して発光層44に再吸収される光を示している。また、バッファ層42、n形半導体層43、発光層44、p形半導体層45は、それぞれ窒化ガリウム系の化合物半導体材料(例えば、GaN、InGaNなど)により形成されている。
【0004】
ところで、上述の発光ダイオードチップAを備えた発光装置としては、例えば、図6に示す構造のものや図7に示す構造のものが提案されている。
【0005】
図6に示した構造の発光装置は、発光ダイオードチップAと、発光ダイオードチップAを収納したパッケージ(発光ダイオード用パッケージ)5と、パッケージ5を実装した金属基板20とを備えている。ここにおいて、パッケージ5は、セラミック基板50の厚み方向の一面に発光ダイオードチップAを収納する収納凹所51が形成され、収納凹所51の内底面に発光ダイオードチップAがバンプ3a,3bを介して電気的に接続されるチップ接続用電極52a,52bが形成されている。すなわち、発光ダイオードチップAはパッケージ5に対してフリップチップ実装されている。また、金属基板20は、金属板21の一表面上に絶縁層22が形成され、絶縁層22上に導電パターン23a,23bが形成されたものであって、パッケージ5と絶縁層22との間に半田からなる接着層55が介在しており、導電パターン23a,23bがボンディングワイヤ57a,57bを介してチップ接続用電極52a,52bと電気的に接続されている。この図6に示した構造の発光装置では、発光ダイオードチップAから放射された光が収納凹所51内に充填された封止樹脂よりなる樹脂封止部(図示せず)を通して前面側(図6における上面側)へ取り出される。なお、収納凹所51は内底面に近づくほど開口面積が小さくなるように開口されている。
【0006】
また、図7に示した構造の発光装置は、発光ダイオードチップAが金属基板20にフリップチップ実装され、発光ダイオードチップAを全周に亘って囲む枠状の枠部材6が接着材からなる接着層66を介して金属基板20に固着されている。ここにおいて、発光ダイオードチップAは、バンプ3a,3bを介して金属基板20の導電パターン23a,23bと電気的に接続されている。この図7に示した構造の発光装置では、発光ダイオードチップAから放射された光が枠部材6の内側に充填された封止樹脂よりなる樹脂封止部(図示せず)を通して前面側(図7における上面側)へ取り出される。ここにおいて、枠部材6は、金属基板20に近づくほど開口面積が小さくなるように開口されており、内周面に金属材料からなる反射膜64が形成されている。したがって、図7に示した構造の発光装置では、発光ダイオードチップAから側方へ放射された光を反射膜64にて反射させて前面側へ取り出すことができる。
【0007】
【特許文献1】
特開平11−220170号公報
【特許文献2】
特開2001−237458号公報
【0008】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、図6に示した構造の発光装置では、チップ接続用電極52a,52bにボンディングワイヤ57a,57bの一端部をボンディングする必要があるので、収納凹所51の内底面の面積を比較的大きくする必要があり、しかも、パッケージ5を実装する実装基板としての金属基板20においてボンディングワイヤ57a,57bの他端をボンディングするためのスペースを確保する必要があるので、金属基板20に対するパッケージ5の実装面積が比較的大きくなってしまうという不具合があった。
【0009】
これに対して、図7に示した構造の発光装置では、枠部材6を実装基板としての金属基板20に接着材からなる接着層66を介して固着する必要があり、接着材のはみ出しなどを考慮すると実装面積が比較的大きくなってしまうという不具合があった。
【0010】
また、図6に示した構造の発光装置では、発光ダイオードチップAから側方へ放射された光の一部がセラミック基板からなるパッケージ5に吸収されてしまい、図7に示した構造の発光装置では、発光ダイオードチップAから側方へ放射された光の一部が接着層66で吸収されてしまうので、いずれの発光装置においても外部への光取り出し効率の更なる向上が望まれている。
【0011】
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、請求項1および請求項2の発明の主目的は、実装基板への実装面積を小さくすることができ且つ外部への光取り出し効率を向上可能な発光ダイオード用パッケージを提供することにあり、請求項3ないし請求項6の発明の主目的は、実装基板に対する実装面積を小さくでき且つ外部への光取り出し効率を向上した発光装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】
請求項1の発明は、半導体基板の厚み方向の一面に他面に近づくほど開口面積が小さくなり発光ダイオードチップを収納する収納凹所が形成されるとともに、半導体基板の上記他面側に外部接続用電極が形成され、収納凹所の内底面にフェースダウンで対向配置される発光ダイオードチップを接続するチップ接続用電極が形成され、チップ接続用電極と外部接続用電極とを電気的に接続する配線が半導体基板における収納凹所の内底面と前記他面との間の部分からなる実装部の厚み方向に貫設され、収納凹所の内周面に金属材料からなる反射膜が形成されてなることを特徴とする。
【0013】
この発明によれば、発光ダイオードチップを収納する収納凹所を厚み方向の一面側に形成した半導体基板の他面側に外部接続用電極を形成してあるので、実装基板への実装面積を小さくすることができ、また、収納凹所の内周面に発光ダイオードチップからの光を反射する反射膜が形成されているので、発光ダイオードチップから側方へ放射された光を反射膜により反射させて収納凹所の外部へ取り出すことが可能となり、外部への光取り出し効率を向上可能となる。
【0014】
請求項2の発明は、前記半導体基板における前記他面に放熱用電極が形成されるとともに、前記収納凹所の内底面に放熱用金属部が形成され、放熱用金属部と放熱用電極とを熱的に結合する金属材料からなる熱結合部が前記実装部の厚み方向に貫設されてなることを特徴とする。
【0015】
この発明によれば、前記収納凹所に収納する発光ダイオードチップを放熱用金属部と熱的に結合させることにより、前記発光ダイオードチップで発生した熱を放熱用電極を通して前記半導体基板の前記他面側から放熱させることができるので、放熱性が向上し、前記発光ダイオードチップの温度上昇を抑制でき、結果的に温度上昇に伴う前記発光ダイオードチップの発光効率の低下を抑制できる。
【0016】
請求項3の発明は、請求項1または請求項2記載の発光ダイオード用パッケージと、裏面を光取り出し面とし発光ダイオード用パッケージの前記収納凹所内で前記実装部にフリップチップ実装された発光ダイオードチップとを備えることを特徴とする。
【0017】
この発明によれば、発光ダイオード用パッケージの前記外部接続用電極が前記半導体基板の厚み方向における前記他面側に形成されているので、実装基板に対する発光ダイオード用パッケージの実装面積を小さくすることができ、また、発光ダイオードチップから側方へ放射された光が前記収納凹所の内周面に形成した前記反射膜で反射されて外部へ取り出されることになり、発光ダイオードチップで発光した光の外部への取り出し効率を向上させることができる。
【0018】
請求項4の発明は、請求項2記載の発光ダイオード用パッケージと、裏面を光取出し面とし発光ダイオード用パッケージの前記収納凹所内で前記実装部にフリップチップ実装された発光ダイオードチップとを備え、発光ダイオードチップの表面に前記放熱用金属部と接続される金属電極が設けられてなることを特徴とする
この発明によれば、発光ダイオード用パッケージの前記外部接続用電極が前記半導体基板の厚み方向における前記他面側に形成されているので、実装基板に対する発光ダイオード用パッケージの実装面積を小さくすることができ、また、発光ダイオードチップから側方へ放射された光が前記収納凹所の内周面に形成した前記反射膜で反射されて外部へ取り出されることになり、発光ダイオードチップで発光した光の外部への取り出し効率を向上させることができる。しかも、発光ダイオードチップが前記半導体基板における前記他面側の前記放熱用電極と熱的に結合されているので、発光ダイオードチップで発生した熱を前記半導体基板における前記他面側の放熱用電極を通して放熱させることができ、放熱性が向上する。
【0019】
請求項5の発明は、請求項4の発明において、前記発光ダイオードチップと前記チップ接続用電極との電気的な接続に金バンプを用いてなることを特徴とする。
【0020】
この発明によれば、前記発光ダイオードチップで発生した熱を金バンプを介して放熱させることで放熱性を向上させることができる。
【0021】
請求項6の発明は、請求項4または請求項5の発明において、金属板の一表面上に絶縁層が形成され絶縁層上に導電パターンが形成された金属基板を備え、金属基板の導電パターンに前記発光ダイオード用パッケージの前記外部接続用電極がろう材を介して電気的に接続され、前記放熱用電極が金属基板の金属板にろう材を介して熱的に結合されてなることを特徴とする。
【0022】
この発明によれば、前記放熱用電極と金属板とが熱的に結合されているので、金属板が前記発光ダイオードチップで発生した熱を外部へ放熱させる放熱部材として機能することになるから、放熱面積が広くなって放熱性をさらに向上させることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】
本実施形態の発光装置は、図1に示すように、発光ダイオードチップAと、発光ダイオードチップAを収納するパッケージ1と、パッケージ1が実装される実装基板たる金属基板2とを備えている。
【0024】
発光ダイオードチップAは、上述の図5に示した構成を有する青色発光ダイオードチップであり、サファイア基板41の厚み方向の一表面(図5における下面)側に、バッファ層42、n形半導体層43、発光層44、p形半導体層45が順次形成されている。また、発光ダイオードチップAは、n形半導体層43上にn電極(パッド)48が設けられるとともに、p形半導体層45上に電流拡散膜46を介してp電極(パッド)47が設けられ、電流拡散膜46が導電性を有し且つ反射率の高い金属材料により形成されており、発光層44にて発光した光がサファイア基板41を通して外部へ放射される。要するに、発光ダイオードチップAは、サファイア基板41の厚み方向の他表面(図5における上面)からなる裏面を光取り出し面としたものであって、パッケージ1にフリップチップ実装されている。なお、バッファ層42、n形半導体層43、発光層44、p形半導体層45は、それぞれ窒化ガリウム系の化合物半導体材料(例えば、GaN、InGaNなど)により形成されている。また、本実施形態における発光ダイオードチップAはダブルへテロ構造を有しているが、発光ダイオードチップAの構造は特に限定するものではなく、上述の電流拡散膜46についても必ずしも設ける必要はない。
【0025】
一方、実装基板2は、金属材料(例えば、Al,Cuなどの高熱伝導性を有する金属材料)からなる金属板21の一表面上に絶縁性材料(例えば、ガラスエポキシ樹脂などの絶縁性樹脂)からなる絶縁層22が形成され、絶縁層22上に銅箔からなる導電パターン(配線パターン)23a,23bが形成されている。
【0026】
また、パッケージ1は、半導体基板たるシリコン基板10を加工することにより形成されており、厚み方向の一面側に発光ダイオードチップAを収納する収納凹所11が形成されるとともに、他面側に金属材料(例えば、Al、Ag、Rhなど)からなる外部接続用電極15a,15bおよび金属材料(例えば、Al、Ag、Rhなど)からなる放熱用電極15cが形成されている。
【0027】
ここにおいて、パッケージ1は、収納凹所11の内底面が平面状に形成されており、収納凹所11の内底面に、発光ダイオードチップAのパッド47,48を金バンプ3a,3bを介して電気的に接続する金属材料(例えば、Al、Ag、Rhなど)からなるチップ接続用電極13a,13bが形成され、チップ接続用電極13a,13bと外部接続用電極15a,15bとを電気的に接続する金属材料(例えば、W、Cu、Niなど)からなる配線16a,16bがシリコン基板10における収納凹所11の内底面と上記他面との間の薄肉の部分からなる実装部12に貫設されており、外部接続用電極15a,15bはろう材(半田など)からなる接合部31a,31bを介して金属基板2の導電パターン23a,23bと電気的に接続されている。
【0028】
また、パッケージ1は、収納凹所11の内底面にチップ接続用電極13a,13bと同じ金属材料からなる放熱用金属部13cが形成され、放熱用金属部13cと放熱用電極15cとを熱的に結合する金属材料(例えば、W、Cu、Niなど)からなる熱結合部16cが実装部12に貫設されている。なお、発光ダイオードチップAと放熱用金属部13cとは発光ダイオードチップAの表面に設けた金属電極(図示せず)と放熱用金属部13cとの間に介在させた金バンプ3cを介して熱的に結合されている。
【0029】
これに対して、金属基板2は、パッケージ1の放熱用電極15cに対向する部位の絶縁層22を開口して金属板21の上記一表面の一部を露出させてあり、放電用電極15cと金属板21の上記一表面との間にろう材(例えば、半田など)からなる接合部32を介在させてある。したがって、発光ダイオードチップAが金バンプ3c、放熱用金属部13c、熱結合部16c、放熱用電極15cおよび接合部32を介して金属板21に熱的に結合されており、金属板21が放熱部材として機能することになる(図1(b)中の一点鎖線の矢印は、発光ダイオードチップAで発生した熱の放熱経路を示している)。なお、本実施形態では、パッケージ1を実装する実装基板として金属基板20を用いているが、リードフレームを用いるようにしてもよい。
【0030】
また、パッケージ1における収納凹所11は、シリコン基板10の厚み方向において上記一面から上記内底面に近づくほど開口面積が小さくなっており(言い換えれば、パッケージ1における収納凹所11は、実装部12から離れるほど開口面積が大きくなっており)、収納凹所11の内周面には反射率の高い金属材料(例えば、Al、Ag、Rhなど)からなる反射膜18が略全面に形成されている。なお、図示していないが、発光ダイオードチップAをパッケージ1の実装部12にフェースダウンで実装した後で、発光ダイオードチップAから発光する光に対して透明な樹脂(例えば、エポキシ樹脂やシリコーン樹脂など)に収納凹所11内の発光ダイオードチップAを封止すれば、発光ダイオードチップAを封止樹脂部にて保護することができる。ここに、発光ダイオードチップAを封止する封止樹脂中に発光ダイオードチップAの発光によって励起されて所望の波長の光を放射する蛍光物質を分散させておけば、発光ダイオードチップAから放射される光と蛍光物質から放射される光との合成光を得ることができ、例えば白色光を得ることも可能となる。また、反射膜18をチップ接続用電極13a,13bと同じ金属材料により形成するようにすれば、反射膜18をチップ接続用電極13a,13bと同時に形成することができ、チップ接続用電極13a,13bを反射膜18と同じ反射率の高い金属材料により形成することで、発光ダイオードチップAから収納凹所11の内底面側へ放射された光をチップ接続用電極13a,13bで反射させて収納凹所11の外部へ取り出すことができる。
【0031】
以下、本実施形態の発光装置の製造方法について図2を参照しながら説明する。
【0032】
まず、図2(a)に示すようなシリコン基板10に対して熱酸化処理を行うことによってシリコン基板10の厚み方向の両面にシリコン酸化膜(図示せず)を形成してから、収納凹所11を形成するためにシリコン基板10の厚み方向の一面(図2(a)の上面)側のシリコン酸化膜をパターニングし、当該パターニングされたシリコン酸化膜をマスクとして、アルカリ系溶液(例えば、KOH、TMAHなど)を用いた異方性エッチングを行うことで収納凹所11を形成し、その後、厚み方向の両面のシリコン酸化膜を除去することによって、図2(b)に示す構造を得る。なお、シリコン基板10に収納凹所11を形成することにより、シリコン基板10における収納凹所11の内底面と上記他面との間に他の部位に比べて薄肉の実装部12が形成される。
【0033】
次に、リソグラフィ技術およびエッチング技術を利用して実装部12のうち配線16a,16bおよび熱結合部16cそれぞれの形成予定部位に貫通孔12a(図3(a)参照)を形成してから、配線16a,16bおよび熱結合部16cを形成することによって、図2(c)に示す構造を得る。なお、配線16aの形成方法についてより詳しく説明すれば、図3(a)に示すように実装部12における配線16の形成予定部位に反応性イオンエッチング(RIE)などにより貫通孔12aを形成した後、熱酸化処理を行うことで図3(b)に示すようにシリコン基板10の露出した部位および貫通孔12aの内周面にシリコン酸化膜からなる絶縁膜12bを形成し、その後、配線16aの金属材料(例えば、W、Cu、Niなど)を溶融させて貫通孔12a内へ充填することで図3(c)に示すように配線16aを形成している。配線16bおよび熱結合部16cについても配線16aと同様の形成方法で配線16aと同時に形成している。
【0034】
続いて、シリコン基板10の上記他面側に外部接続用電極15a,15bおよび放熱用電極15cを例えば蒸着法やスパッタ法などを利用して形成してから、シリコン基板10における収納凹所11の内底面に金属材料(例えば、Al、Ag、Rhなど)からなるチップ接続用電極13a,13bおよび金属材料(例えば、Al、Ag、Rhなど)からなる放熱金属部13cを例えば蒸着法やスパッタ法などを利用して形成するのと同時に収納凹所11の内周面に金属材料(例えば、Alなど)からなる反射膜18を形成することによって、図2(d)に示す構造のパッケージ1を完成させる。
【0035】
次に、図4に示すように表面側に金バンプ3a,3b,3cを形成した発光ダイオードチップAを実装部12へフリップチップ実装することによって、図2(e)に示す構造を得る。なお、ここでは、発光ダイオードチップA側に金バンプ3a,3b,3cを形成したが、実装部12側にバンプ3a,3b,3cを形成するようにしてもよい。
【0036】
その後、ろう材(例えば、半田など)を用いてパッケージ1を金属基板2へ実装することによって、図2(f)に示す構造の発光装置を完成させればよい。
【0037】
以上説明した本実施形態の発光装置におけるパッケージ1では、シリコン基板10の厚み方向の一面に発光ダイオードチップAを収納する収納凹所11が形成されるとともに、厚み方向の他面に外部接続用電極15a,15bが形成されているので、実装基板たる金属基板2への実装面積を小さくすることができ、しかも、収納凹所11の内周面に反射膜18が形成されているので、発光ダイオードチップAから側方へ放射された光を反射膜18により反射させて収納凹所11の外部へ取り出すことが可能となり、発光ダイオードチップAから側方へ放射された光が図6に示した従来例のようにパッケージ5で吸収されたり図7に示した従来例のように接着層66で吸収されたりすることがなく、外部への光取り出し効率を向上可能となる。なお、図1(b)中の実線の矢印は、発光ダイオードチップAから放射された光の進行方向を示している。
【0038】
また、本実施形態の発光装置では、上述のパッケージ1の収納凹所11に収納した発光ダイオードチップAが金属基板2の金属板21に熱的に結合しているので、発光ダイオードチップAの発光時(つまり、発光ダイオードチップAへの通電時)に発生した熱が、金属板21を通して放熱されるから、従来のようにセラミック基板50を加工して形成したパッケージ5に発光ダイオードチップAを実装したものに比べて放熱性が向上し、発光ダイオードチップAの温度上昇を抑制でき、結果的に温度上昇に伴う発光ダイオードチップAの発光効率の低下を抑制できる。また、発光ダイオードチップAの温度上昇を抑制することで、発光ダイオードチップAの寿命低下、発光ダイオードチップAを封止している封止樹脂部の劣化を抑制することができ、長寿命化を図ることができる。
【0039】
【発明の効果】
請求項1および請求項2の発明では、発光ダイオードチップを収納する収納凹所を厚み方向の一面側に形成した半導体基板の他面側に外部接続用電極を形成してあるので、実装基板への実装面積を小さくすることができるという効果があり、また、収納凹所の内周面に発光ダイオードチップからの光を反射する反射膜が形成されているので、発光ダイオードチップから側方へ放射された光を反射膜により反射させて収納凹所の外部へ取り出すことが可能となり、外部への光取り出し効率を向上可能となるという効果がある。
【0040】
また、請求項2の発明では、前記発光ダイオードチップで発生した熱を放熱用電極を通して前記半導体基板の前記他面側から放熱させることができるので、放熱性が向上し、前記発光ダイオードチップの温度上昇を抑制でき、結果的に温度上昇に伴う前記発光ダイオードチップの発光効率の低下を抑制できるという効果がある。
【0041】
請求項3の発明では、発光ダイオード用パッケージの前記外部接続用電極が前記半導体基板の厚み方向における前記他面側に形成されているので、実装基板に対する発光ダイオード用パッケージの実装面積を小さくすることができるという効果があり、また、発光ダイオードチップから側方へ放射された光が前記収納凹所の内周面に形成した前記反射膜で反射されて外部へ取り出されることになり、発光ダイオードチップで発光した光の外部への取り出し効率を向上させることができるという効果がある。
【0042】
請求項4ないし請求項6の発明では、発光ダイオード用パッケージの前記外部接続用電極が前記半導体基板の厚み方向における前記他面側に形成されているので、実装基板に対する発光ダイオード用パッケージの実装面積を小さくすることができるという効果があり、また、発光ダイオードチップから側方へ放射された光が前記収納凹所の内周面に形成した前記反射膜で反射されて外部へ取り出されることになり、発光ダイオードチップで発光した光の外部への取り出し効率を向上させることができるという効果がある。しかも、発光ダイオードチップが前記半導体基板における前記他面側の前記放熱用電極と熱的に結合されているので、発光ダイオードチップで発生した熱を前記半導体基板における前記他面側の放熱用電極を通して放熱させることができ、放熱性が向上するという効果がある。
【0043】
また、請求項5の発明では、前記発光ダイオードチップで発生した熱を金バンプを介して放熱させることで放熱性を向上させることができるという効果がある。
【0044】
また、請求項6の発明では、前記放熱用電極と金属板とが熱的に結合されているので、金属板が前記発光ダイオードチップで発生した熱を外部へ放熱させる放熱部材として機能することになるから、放熱面積が広くなって放熱性をさらに向上させることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態における発光装置を示し、(a)は概略平面図、(b)は(a)のA−A’断面図である。
【図2】同上における発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。
【図3】同上における発光装置の製造方法を説明するための主要工程断面図である。
【図4】同上における発光装置の製造方法の説明図である。
【図5】従来の発光ダイオードチップの一例を示す概略断面図である。
【図6】従来例を示す発光装置の概略断面図である。
【図7】他の従来例を示す発光装置の概略断面図である。
【符号の説明】
A 発光ダイオードチップ
1 パッケージ
2 金属基板
3a,3b,3c 金バンプ
10 シリコン基板
11 収納凹所
12 実装部
13a,13b チップ接続用電極
13c 放熱用金属部
16a,16b 配線
16c 熱結合部
15a,15b 外部接続用電極
15c 放熱用電極
18 反射膜
21 金属板
22 絶縁層
23a,23b 導電パターン
31a,31b 接合部
32 接合部

Claims (6)

  1. 半導体基板の厚み方向の一面に他面に近づくほど開口面積が小さくなり発光ダイオードチップを収納する収納凹所が形成されるとともに、半導体基板の上記他面側に外部接続用電極が形成され、収納凹所の内底面にフェースダウンで対向配置される発光ダイオードチップを接続するチップ接続用電極が形成され、チップ接続用電極と外部接続用電極とを電気的に接続する配線が半導体基板における収納凹所の内底面と前記他面との間の部分からなる実装部の厚み方向に貫設され、収納凹所の内周面に金属材料からなる反射膜が形成されてなることを特徴とする発光ダイオード用パッケージ。
  2. 前記半導体基板における前記他面に放熱用電極が形成されるとともに、前記収納凹所の内底面に放熱用金属部が形成され、放熱用金属部と放熱用電極とを熱的に結合する金属材料からなる熱結合部が前記実装部の厚み方向に貫設されてなることを特徴とする請求項1記載の発光ダイオード用パッケージ。
  3. 請求項1または請求項2記載の発光ダイオード用パッケージと、裏面を光取り出し面とし発光ダイオード用パッケージの前記収納凹所内で前記実装部にフリップチップ実装された発光ダイオードチップとを備えることを特徴とする発光装置。
  4. 請求項2記載の発光ダイオード用パッケージと、裏面を光取出し面とし発光ダイオード用パッケージの前記収納凹所内で前記実装部にフリップチップ実装された発光ダイオードチップとを備え、発光ダイオードチップの表面に前記放熱用金属部と接続される金属電極が設けられてなることを特徴とする発光装置。
  5. 前記発光ダイオードチップと前記チップ接続用電極との電気的な接続に金バンプを用いてなることを特徴とする請求項4記載の発光装置。
  6. 金属板の一表面上に絶縁層が形成され絶縁層上に導電パターンが形成された金属基板を備え、金属基板の導電パターンに前記発光ダイオード用パッケージの前記外部接続用電極がろう材を介して電気的に接続され、前記放熱用電極が金属基板の金属板にろう材を介して熱的に結合されてなることを特徴とする請求項4または請求項5記載の発光装置。
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Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006112039A1 (ja) * 2005-04-01 2006-10-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 表面実装型光半導体装置およびその製造方法
JP2007027752A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Samsung Electro Mech Co Ltd Ledパッケージ及びその製造方法
JP2007095855A (ja) * 2005-09-28 2007-04-12 Hitachi Lighting Ltd Led光源モジュール
JP2007116165A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Advanced Optoelectronic Technology Inc 半導体照明装置のためのパッケージ構造体およびその製造方法
JP2007134645A (ja) * 2005-11-14 2007-05-31 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2008016583A (ja) * 2006-07-05 2008-01-24 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2008034622A (ja) * 2006-07-28 2008-02-14 Sharp Corp 半導体発光素子アセンブリ
JP2008066454A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Nikon Corp 発光装置
US7582496B2 (en) 2005-03-30 2009-09-01 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. LED package using Si substrate and fabricating method thereof
JP2010278316A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光装置
US7897510B2 (en) 2006-09-06 2011-03-01 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Semiconductor device package, semiconductor apparatus, and methods for manufacturing the same
JP2011119732A (ja) * 2009-11-30 2011-06-16 Samsung Led Co Ltd 発光ダイオードパッケージ、これを備えた発光ダイオードパッケージモジュール及びその製造方法、並びに該モジュールを備えたヘッドランプモジュール及びその制御方法
JP2011159968A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Advanced Optoelectronic Technology Inc 化合物半導体素子収納用パッケージ及びその製造方法
US8088635B2 (en) 2006-10-17 2012-01-03 C.I. Kasei Company, Limited Vertical geometry light emitting diode package aggregate and production method of light emitting device using the same
JP2012238698A (ja) * 2011-05-11 2012-12-06 Shindo Denshi Kogyo Kk 電子モジュール、配線基体および照明装置
JP2013543277A (ja) * 2010-11-19 2013-11-28 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 発光デバイスのための点在キャリア
JP2016506634A (ja) * 2013-01-10 2016-03-03 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 側方放射用に成形された成長基板を有するled
EP2304817B1 (en) * 2008-05-23 2020-01-08 Cree, Inc. White light emitting package comprising LED array

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7582496B2 (en) 2005-03-30 2009-09-01 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. LED package using Si substrate and fabricating method thereof
JPWO2006112039A1 (ja) * 2005-04-01 2008-11-27 松下電器産業株式会社 表面実装型光半導体装置およびその製造方法
WO2006112039A1 (ja) * 2005-04-01 2006-10-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 表面実装型光半導体装置およびその製造方法
US7867794B2 (en) 2005-04-01 2011-01-11 Panasonic Corporation Surface-mount type optical semiconductor device and method for manufacturing the same
US7705465B2 (en) 2005-04-01 2010-04-27 Panasonic Corporation Surface-mount type optical semiconductor device and method for manufacturing the same
US8012778B2 (en) 2005-07-20 2011-09-06 Samsung Led Co., Ltd. LED package and fabricating method thereof
JP2011101052A (ja) * 2005-07-20 2011-05-19 Samsung Led Co Ltd Ledパッケージ及びその製造方法
JP2007027752A (ja) * 2005-07-20 2007-02-01 Samsung Electro Mech Co Ltd Ledパッケージ及びその製造方法
JP2007095855A (ja) * 2005-09-28 2007-04-12 Hitachi Lighting Ltd Led光源モジュール
JP2007116165A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Advanced Optoelectronic Technology Inc 半導体照明装置のためのパッケージ構造体およびその製造方法
JP4658897B2 (ja) * 2005-10-21 2011-03-23 アドヴァンスト オプトエレクトロニック テクノロジー インコーポレイテッド 半導体照明装置のためのパッケージ構造体およびその製造方法
JP2007134645A (ja) * 2005-11-14 2007-05-31 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP2008016583A (ja) * 2006-07-05 2008-01-24 Nichia Chem Ind Ltd 発光装置
JP2008034622A (ja) * 2006-07-28 2008-02-14 Sharp Corp 半導体発光素子アセンブリ
US7897510B2 (en) 2006-09-06 2011-03-01 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Semiconductor device package, semiconductor apparatus, and methods for manufacturing the same
JP2008066454A (ja) * 2006-09-06 2008-03-21 Nikon Corp 発光装置
US8088635B2 (en) 2006-10-17 2012-01-03 C.I. Kasei Company, Limited Vertical geometry light emitting diode package aggregate and production method of light emitting device using the same
EP2304817B1 (en) * 2008-05-23 2020-01-08 Cree, Inc. White light emitting package comprising LED array
JP2010278316A (ja) * 2009-05-29 2010-12-09 Panasonic Electric Works Co Ltd 発光装置
JP2011119732A (ja) * 2009-11-30 2011-06-16 Samsung Led Co Ltd 発光ダイオードパッケージ、これを備えた発光ダイオードパッケージモジュール及びその製造方法、並びに該モジュールを備えたヘッドランプモジュール及びその制御方法
KR101619832B1 (ko) * 2009-11-30 2016-05-13 삼성전자주식회사 발광다이오드 패키지, 이를 구비한 발광다이오드 패키지 모듈과 그 제조 방법, 및 이를 구비한 헤드 램프 모듈과 그 제어 방법
JP2011159968A (ja) * 2010-01-29 2011-08-18 Advanced Optoelectronic Technology Inc 化合物半導体素子収納用パッケージ及びその製造方法
JP2013543277A (ja) * 2010-11-19 2013-11-28 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 発光デバイスのための点在キャリア
US9997686B2 (en) 2010-11-19 2018-06-12 Lumileds Llc Islanded carrier for light emitting device
JP2012238698A (ja) * 2011-05-11 2012-12-06 Shindo Denshi Kogyo Kk 電子モジュール、配線基体および照明装置
JP2016506634A (ja) * 2013-01-10 2016-03-03 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. 側方放射用に成形された成長基板を有するled

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