JP2003344176A - 半導体センサ装置及びその調整方法 - Google Patents

半導体センサ装置及びその調整方法

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JP2003344176A
JP2003344176A JP2002152971A JP2002152971A JP2003344176A JP 2003344176 A JP2003344176 A JP 2003344176A JP 2002152971 A JP2002152971 A JP 2002152971A JP 2002152971 A JP2002152971 A JP 2002152971A JP 2003344176 A JP2003344176 A JP 2003344176A
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Shuji Sato
修治 佐藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度−出力電圧特性の傾き調整及びオフセッ
ト調整を簡単、かつ正確に調整できる半導体センサ装置
の構造及びその調整方法を提供する。 【解決手段】 回路基板5は、ブリッジ回路21の中間
電圧の差を増幅し、圧力に関する検出信号を得るための
圧力検出増幅回路22と、ブリッジ回路21の両端を少
なくとも含む電圧を増幅し、温度に関する検出信号を得
るための温度検出増幅回路23とを少なくとも構成す
る。ランド部5dは、回路基板5に備えられ、異なる温
度に応じた少なくとも2つの疑似入力電圧をブリッジ回
路21の両端に印加する。ゲイン調整用抵抗23aは温
度検出増幅回路23に備えられ、ランド部5dに前記各
入力電圧を印加することで得られる温度−出力電圧特性
が、所定のフルスケール電圧の範囲に達するように前記
温度−出力電圧特性の傾きを調整する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板上にピ
エゾ抵抗効果を有する感圧素子を形成し、前記感圧素子
を用いてブリッジ回路を構成する半導体センサを用いた
半導体センサ装置及びその調整方法に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】半導体センサ装置としては、シリコン等
の半導体基板に薄肉のダイアフラム部を形成し、前記ダ
イアフラム部にピエゾ抵抗効果を有する圧力検出用の圧
感素子をブリッジ状に構成してなる半導体式圧力センサ
(半導体センサ)を、下ケースに備えられる圧力導入ポ
ートの上端部にベース板を介し配設するとともに、前記
圧力センサと回路基板とをワイヤボンディングによって
電気的に接続し、前記回路基板を介して前記圧力センサ
への電源供給及び前記圧力センサからの信号出力を行う
ためのリードピンを備えた上ケースによって前記圧力セ
ンサ及び前記回路基板を覆ってなる圧力検出装置があ
る。
【0003】このような圧力検出装置は、例えば車両の
エンジンを被検出体とすることがある。前記エンジンを
被検出体とすると、エンジンオイルの圧力(以下、油圧
という)のみならず前記エンジンオイルの温度(以下、
油温という)を検出することが可能な圧力温度検出装置
が望まれており、このような圧力温度検出装置として
は、特開平11−72402号公報に開示されるものが
ある。
【0004】かかる圧力温度検出装置は、サーミスタ等
の温度検出手段を前記油温が検出できるように圧力セン
サを配設するケース内に配設し、前記圧力センサ及び前
記温度検出手段を単一のケース内に配設することで、異
なる被測定対象(油圧及び油温)を検出することが可能
となる。
【0005】しかしながら、単一の被測定物から異なる
被測定対象を検出する前記圧力温度検出装置において、
前記装置の前記エンジンへの取付は簡素化されるもの
の、前記圧力センサと前記温度検出手段とをそれぞれ前
記ケース内に配設することから、圧力温度検出装置とし
ての構造が複雑になるばかりでなく、構成部品が多くな
ることから装置が大型化してしまうといった問題点を有
していた。
【0006】そこで、本願出願人は、構造を複雑にする
ことなく簡単な構成で圧力と温度とを検出することが可
能な圧力温度検出装置(半導体センサ装置)を特願20
01−185737号で提案している。かかる圧力温度
検出装置は、半導体基板上にピエゾ抵抗効果を有する感
圧素子を形成し、前記感圧素子を用いてブリッジ回路を
構成するとともに、薄肉のダイアフラム部を有する半導
体センサと、前記半導体センサと電気的に接続する回路
基板とを備え、前記回路基板に、単一の前記半導体セン
サからの出力に基づいて、圧力に関する第1の検出信号
を圧力検出増幅回路を介して出力する第1の出力部と、
温度に関する第2の検出信号を温度検出増幅回路を介し
て出力する第2の出力部とを備えてなるものである。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】かかる圧力温度検出装
置は、前記温度に関する情報を、例えば0.5V〜4.
5Vのフルスケール電圧の範囲内の温度−出力電圧特性
として取り出すものであり、製造工程において、前記温
度−出力電圧特性の傾き及びオフセット量を調整する必
要がある。
【0008】そこで、本発明は、前述の半導体センサ装
置の更なる改良に関し、前記温度−出力電圧特性の傾き
調整及びオフセット量調整において、簡単、かつ正確に
調整できる半導体センサ装置の構造及びその装置の調整
方法を提供することを目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するため、請求項1に記載の半導体センサ装置のよう
に、ピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を用いて半導体基
板上にブリッジ回路を構成するとともに、薄肉のダイア
フラム部を有する単一の半導体センサを備え、被検出体
の圧力及び温度に関する情報を得る半導体センサ装置で
あって、前記ブリッジ回路の両端を少なくとも含む電圧
を増幅し、前記温度に関する検出信号を得るための温度
検出増幅回路を構成する回路基板と、前記回路基板に備
えられ、異なる温度に応じた少なくとも2つの入力電圧
を前記ブリッジ回路の両端に印加するためのランド部
と、前記温度検出増幅回路に備えられ、前記ランド部に
前記各入力電圧を印加することで得られる前記第2の検
出信号に関する温度−出力電圧特性が、所定のフルスケ
ール電圧の範囲に達するように前記温度−出力電圧特性
の傾きを調整するゲイン調整用抵抗と、を備えてなるも
のである。
【0010】また、請求項2に記載の半導体センサ装置
は、請求項1に記載の半導体センサ装置において、前記
温度−出力電圧特性が予め定められる前記フルスケール
電圧の許容範囲内に入るように、前記温度−出力電圧特
性をオフセット調整するオフセット電圧調整用抵抗を前
記温度検出増幅回路に備えてなるものである。
【0011】また、請求項3に記載の半導体センサ装置
は、請求項1もしくは請求項2に記載の半導体センサ装
置において、前記半導体センサとワイヤを介して接続す
る複数のボンディングパッドを前記回路基板に備えると
ともに、前記ボンディングパッドと前記温度検出増幅回
路の回路パターンとに電気的に接続されるチェックラン
ドを前記各ボンディングパッドの近傍に備えてなるもの
である。
【0012】また、請求項4に記載の半導体センサ装置
の調整方法のように、ピエゾ抵抗効果を有する感圧素子
を用いて半導体基板上にブリッジ回路を構成するととも
に、薄肉のダイアフラム部を有する単一の半導体センサ
を備え、被検出体の圧力及び温度に関する情報を得る半
導体センサ装置の調整方法であって、前記ブリッジ回路
の両端を少なくとも含む電圧を増幅し、前記温度に関す
る検出信号を得るための温度検出増幅回路を回路基板に
少なくとも備え、異なる温度に応じた少なくとも2つの
入力電圧を、前記回路基板に備えられるランド部を介し
て前記ブリッジ回路の両端に印加することで前記検出信
号に関する温度−出力電圧特性を得るとともに、前記温
度検出増幅回路に備えられるゲイン調整用抵抗をトリミ
ングし、前記温度−出力電圧特性が所定のフルスケール
電圧の範囲に達するように前記温度−出力電圧特性の傾
きを調整するものである。
【0013】また、請求項5に記載の半導体センサ装置
の調整方法は、請求項4に記載の半導体センサ装置の調
整方法において、前記温度検出増幅回路に前記温度−出
力電圧特性の基準電圧を調整するオフセット電圧調整用
抵抗を備え、前記オフセット電圧調整用抵抗を調整する
ことで、前記温度−出力電圧特性が予め定められる前記
フルスケール電圧の許容範囲内に入るようにオフセット
調整してなるものである。
【0014】また、請求項6に記載の半導体センサ装置
の調整方法は、請求項4に記載の半導体センサ装置の調
整方法において、前記温度−出力電圧特性の前記傾きの
調整において、前記温度−出力電圧特性の前記フルスケ
ール電圧が前記範囲外を含む特性である場合に、前記温
度−出力電圧特性の温度範囲における最低温度から30
%〜70%の温度に応じた入力電圧を印加する1つの入
力電圧として設定してなるものである。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に基づき説明する。
【0016】図1において、半導体センサ装置としての
圧力温度検出装置Aは、下ケース1と、上ケース2と、
ベース板3と、半導体センサ4と、回路基板5と、シー
ルド板6と、グロメット7とから主に構成されている。
【0017】下ケース1は、SUS等の金属材料からな
る取付ねじ部を有する六角部材である圧力導入部1a
と、PBT等の樹脂材料からなるフランジ部1bとを備
え、圧力導入部1aとフランジ部1bとはインサート成
形によって一体的に構成される。また圧力導入部1aの
略中央には、圧力導入穴1cが形成されている。
【0018】上ケース2は、PBT等の樹脂材料から形
成され、上ケース2の開口端部を下ケース1のフランジ
部1bに対して熱加締めすることによって配設固定さ
れ、ベース板3,半導体センサ4,回路基板5等を収納
する。また、上ケース2は、後述する電極リードを介し
て電源供給及び信号出力を行うためのコネクタ部2aを
備えている。
【0019】ベース板3は、コバール等の金属材料から
構成され、下ケース1における圧力導入部1aの上端部
に抵抗溶接によって配設固定するためのフランジ部3a
が設けられ、このフランジ部3aから一段高くなった位
置には、圧力センサ4を配設するための載置部3bが設
けられている。また載置部3bの略中央には、半導体セ
ンサ4に被測定物の圧力及び温度を伝達するための穴部
3cが設けられている。ベース板3は、圧力導入部1a
の上端部に抵抗溶接によって配設固定されることで、圧
力導入穴1cの一端を塞ぐ状態で下ケース1に配設され
ることになる。
【0020】尚、ベース板3におけるフランジ部3a
は、圧力導入部1aに抵抗溶接できる構成であれば単な
る段差形状であっても良い。
【0021】半導体センサ4は、シリコン等の半導体基
板に薄肉部となるダイアフラム部を形成する半導体素子
4aをガラス基板4b上に配設し、半導体素子4aとガ
ラス台座4cとを陽極接合法によって接合してなるもの
である。半導体センサ4は、前記ダイアフラム部に対応
する部位にボロン等の不純物を拡散処理することによっ
て、ピエゾ抵抗効果を有する4つの感圧素子である抵抗
体を形成し、この各抵抗をアルミ等の導電性材料を用い
た配線パターンによって接続することで後で詳述するブ
リッジ回路が構成される。
【0022】尚、半導体センサ4は、ガラス基板4bの
裏面側にメタライズ層を形成するとともに、半田を介し
てベース板3と接合する。
【0023】回路基板5は、紙フェノール,ガラス繊維
入り樹脂及びセラミック等の絶縁材料を支持材とし、後
述する回路構成を得るための所定の配線パターンが表裏
に形成されてなる両面印刷回路基板であり、ベース板3
上に位置するように下ケース1のフランジ部1bの上方
に設けられる載置部1dに配設される。回路基板5は、
後で詳述する回路構成の構成部品である各種電子部品
(半導体センサ4の出力電圧を増幅するための増幅回路
やノイズを除去するためのコンデンサ等)が実装され
る。
【0024】また、回路基板5は、周縁部が下ケース1
の載置部1dに支持される配設構造であって、回路基板
5の略中央には、ベース板3の載置部3bに配設される
半導体センサ4の上方から回路基板5を下ケース1の載
置部1dに配設した際に、回路基板5が半導体センサ4
を取り巻くように配設するための収納穴部5aが形成さ
れる。
【0025】また、回路基板5には、上ケース2のコネ
クタ部2aにグロメット7を介して配設される電極リー
ド9とリードピン付き貫通コンデンサ10を介し電気的
に接続するリードピン11が実装されている。
【0026】また、回路基板5の収納孔部5aの周辺に
は、図2で示すように、半導体センサ4の半導体素子4
aに形成される電極部4dとワイヤボンディングによる
ワイヤYを介して電気的に接続する複数のボンディング
パッド5bが形成されている。またボンディングパッド
5bの近傍には、後述する圧力検出増幅回路及び前記温
度検出増幅回路等の回路パターンに電気的に接続され、
導通確認用のチェックランド5cが設けられている。
【0027】シールド板6は、SPTE等の金属材料か
らなり、ホルダ部6aと、下ケース1と上ケース2との
間に狭持状態にて配設するためのフランジ部6bとが設
けられている。
【0028】ホルダ部6aは、グロメット7の載置面よ
りも一段高くなる位置に設けられ、貫通コンデンサ10
を配設するための配設部6cが形成されるとともに、こ
の配設部6cには、複数の孔部が形成され、この各孔部
に各貫通コンデンサ10が半田を介し配設固定される。
【0029】グロメット7は、ニトリルゴム等の弾性部
材によって構成され、電極リード9がインサート形成さ
れてなる。グロメット7は、上ケース2のコネクタ部2
aに設けられる凹部2bに設けられた穴部2cに電極リ
ード9を挿通させるとともに、グロメット7を凹部2b
に嵌め込むことで、シールド板6のホルダ部6aから一
段低くなった前記載置面に配設される。
【0030】グロメット7にインサート成形される電極
リード9は、半導体センサ4への電源供給と半導体セン
サ4からの後述する圧力及び温度に関する検出信号を外
部に伝達するものである。
【0031】以上の各部によって圧力温度検出装置Aが
構成される。次に図3を用いて、圧力温度検出装置Aの
回路構成の一例を説明する。圧力検出装置Aの回路構成
は、定電流源回路20と、ブリッジ回路21と、圧力検
出増幅回路22と、温度検出増幅回路23とを有するも
ので、ブリッジ回路21以外の各回路は回路基板5上で
構成される。
【0032】定電流源回路20は、定電流源調整用抵抗
20aや演算増幅器20b等から構成され、ブリッジ回
路21へ所定の定電流を供給する。
【0033】ブリッジ回路21は、圧力センサ4のダイ
アフラム部上に形成される4つの感圧素子である抵抗R
a,Rb,Rc,Rdから形成される。ブリッジ回路2
1において、直列接続される第1抵抗群Ra,Rb及び
第2抵抗群Rc,Rdからそれぞれ引き出された中間電
圧va,vbは、圧力検出増幅回路22へ供給される。
【0034】圧力検出増幅回路22は、入力インピーダ
ンスの影響の少ない増幅回路によって構成されるもの
で、図4で示す圧力と出力電圧V1との関係を示す圧力
−出力電圧特性T1の傾きの調整であるゲイン調整を行
うためのゲイン調整用抵抗22a,22bや、第1の出
力特性T1のオフセット調整を行うためのオフセット電
圧調整用抵抗22c、ブリッジ回路21における中間電
圧va,vbをそれぞれ入力する第1,第2の演算増幅
器22d,22e等から構成される。圧力検出増幅回路
22は、中間電圧v1,v2を入力すると中間電圧v
1,v2の差分を増幅して出力電圧V1として出力し圧
力検出するものである。
【0035】温度検出増幅回路23は、ブリッジ回路2
1の両端電圧vcを増幅して出力電圧V2として取り出
すものであって、図5で示す温度と出力電圧V2との関
係を示す温度−出力電圧特性T2の傾きの調整であるゲ
イン調整を行うためのゲイン調整用抵抗23aや、第2
の出力特性T2のオフセット調整を行うためのオフセッ
ト電圧調整用抵抗23b、ブリッジ回路21における両
端電圧vcを入力するとともに、所定の倍率によって増
幅する演算増幅器23c等から構成される。
【0036】次に、図3,図6及び図7を用いて、温度
検出増幅回路23における温度−出力電圧特性の調整方
法について説明する。
【0037】回路基板5には、圧力温度検出装置Aの使
用環境によって決定される所定の温度範囲(−30℃〜
130℃)において、最低温度(−30℃)と、最高温
度(130℃)とに応じて予め設定される2つの疑似入
力電圧(例えば最低温度−30℃の場合が2.3V、最
高温度130℃の場合が2.8V)を、ブリッジ回路2
1の両端に印加するためのランド5dが設けられてい
る。尚、本実施の形態におけるブリッジ回路21の両端
とは、一端がブリッジ回路21に、他端がGNDレベル
に直列に接続される抵抗を含むものである。尚、図6に
より示される特性Tiは、2つの疑似入力電圧に基づく
センサチップ(半導体チップ)出力電圧特性を示してい
る。
【0038】まず、回路基板5に備えられるランド部5
dに各温度に応じた2つの疑似入力電圧を印加して温度
−出力電圧特性Txを得る。そして、各温度に応じた2
つの入力電圧を交互に印加するとともに、温度検出増幅
回路23に備えられるゲイン調整用抵抗23aをトリミ
ングし、温度−出力電圧特性Txが0.5V〜4.5V
のフルスケール電圧の範囲に達するように、温度−出力
電圧特性Txの傾きを調整する(図6参照)。
【0039】尚、温度−出力電圧特性Txが0.5V〜
4.5Vのフルスケール電圧の範囲外を含む特性である
場合に、温度−出力電圧特性Txの前記温度範囲の前記
最低温度から30%〜70%の温度(例えば50℃)t
0に応じた入力電圧を交互に印加する最高温度側の入力
電圧(1つの入力電圧)として用いて、温度−出力電圧
特性Txの傾きを調整するべく、ゲイン調整用抵抗23
aをトリミングしてなるものである。
【0040】次に、温度検出増幅回路23に備えられる
オフセット電圧調整用抵抗23bをトリミングして温度
−出力電圧特性Txの基準電圧Eを調整することで、温
度−出力電圧特性Txが予め定められるフルスケール電
圧の許容範囲(−20mV〜+20mV)αに入る基準
温度−出力電圧特性T2になるようにオフセット調整す
る(図7参照)。
【0041】尚、図6及び図7で示す温度−出力電圧特
性Txは、温度検出増幅回路23によって増幅された出
力電圧を示している。
【0042】かかる圧力温度検出装置Aは、ブリッジ回
路21へ所定の定電流を供給する定電流源回路20と、
ブリッジ回路21の中間電圧の差を増幅し、圧力に関す
る出力電圧V1を得るための圧力検出増幅回路22と、
ブリッジ回路21の両端を少なくとも含む電圧を増幅
し、前記温度に関する出力電圧V2を得るための温度検
出増幅回路23とを構成する回路基板5と、回路基板5
に備えられ、温度範囲の最低温度及び最高温度に応じた
2つの疑似入力電圧をブリッジ回路21の両端に印加す
るためのランド部5dと、温度検出増幅回路23に備え
られ、ランド部5dに前記各疑似入力電圧を印加するこ
とで得られる出力電圧V2の温度−出力電圧特性Tx
が、0.5V〜4.5Vのフルスケール電圧の範囲に達
するように温度−出力電圧特性Txの傾きを調整するゲ
イン調整用抵抗23aと、を備えるものであり、前記各
疑似入力電圧を、回路基板5に備えられるランド部5d
を介してブリッジ回路21の両端に交互に印加すること
で出力電圧V2の温度−出力電圧特性Txを得るととも
に、温度検出増幅回路23に備えられるゲイン調整用抵
抗23aをトリミングし、温度−出力電圧特性Txが前
記フルスケール電圧の範囲に達するように温度−出力電
圧特性Txの傾きを調整するものである。
【0043】従って、温度−出力電圧特性Txの前記フ
ルスケール電圧の傾きの調整において、製造工程におけ
る調整工程において、調整を行う環境を前記温度範囲に
して電圧を印加するような煩雑な製造工程を必要とする
ことなく、温度補償された圧力温度検出装置Aを得るこ
とができる。また、前記各入力電圧を交互に印加するこ
とで温度−出力電圧特性Txを常にモニタしながら調整
できるため、正確なゲイン調整を行うことが可能とな
る。
【0044】また、温度−出力電圧特性Txをオフセッ
ト調整するオフセット電圧調整用抵抗23bを温度検出
増幅回路23に備え、オフセット電圧調整用抵抗23b
をトリミング調整することで、温度−出力電圧特性Tx
が予め定められる前記フルスケール電圧の許容範囲α内
に入るように、オフセット調整するものであり、簡単な
調整によって前記温度−出力電圧特性Txを許容範囲α
に納めることが可能となる。
【0045】また、温度−出力電圧特性Txの前記傾き
調整において、温度−出力電圧特性Txの前記フルスケ
ール電圧が0.5V〜4.5Vの範囲外を含む特性であ
る場合に、温度−出力電圧特性Txの温度範囲における
最低温度から30%〜70%の温度に応じた入力電圧を
交互に印加する1つの入力電圧として設定してなるもの
であり、温度検出増幅回路23による高温時の電圧入力
において、4.5V以上の調整不可能領域(温度出力増
幅回路23の飽和領域)が存在する場合であっても温度
−出力電圧特性Txの前記傾き調整が可能となる。
【0046】また、圧力温度検出装置Aにおいて、回路
基板5にチェックランド5cを設けることによって、定
電流源回路20,圧力検出増幅回路22及び温度検出増
幅回路23等の各回路を構成する前の基板単品における
配線パターンの導通確認を行うことができる。従って、
予め配線パターンの短絡及び断線等の不具合を発見する
ことができるため、不具合が生じる配線パターンを有す
る回路基板5への電子部品実装を防止することが可能と
なり、圧力温度検出装置Aにおける構成部品の廃却費を
低減することが可能となる。
【0047】尚、本発明の温度検出増幅回路の回路構成
にあっては、本発明の実施の形態で説明した回路構成に
限定されるものではなく、図5で示すような温度−出力
特性T2が得られる回路構成において、ゲイン調整用抵
抗及びオフセット電圧調整用抵抗を備え、温度−出力電
圧特性Txの傾き調整及びオフセット調整がであれる構
成であればよい。
【0048】また、本発明の実施の形態では、ゲイン調
整において、2つの疑似入力電圧を印加することで、温
度−出力電圧特性Txを得るものであったが、本発明に
あっては、最低温度,中間温度及び最高温度の3つの各
温度に応じた入力電圧を印加して温度−出力電圧特性T
xを得るものであっても良い。
【0049】
【発明の効果】本発明は、ピエゾ抵抗効果を有する感圧
素子を用いて半導体基板上にブリッジ回路を構成すると
ともに、薄肉のダイアフラム部を有する単一の半導体セ
ンサを備え、被検出体の圧力及び温度に関する情報を得
る半導体センサ装置及びその調整方法に関し、温度−出
力電圧特性のフルスケール電圧の調整を簡単、かつ正確
に行うことが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の圧力温度検出装置を示す
要部断面図。
【図2】同上実施の形態の回路基板を示す図。回路構成
を示す図。
【図3】同上実施の形態の回路構成を示す図。
【図4】同上実施の形態の圧力−出力電圧特性を示す
図。
【図5】同上実施の形態の温度−出力電圧特性を示す
図。
【図6】同上実施の形態の温度−出力電圧特性の傾き調
整を示す図。
【図7】同上実施の形態の温度−出力電圧特性のオフセ
ット調整を示す図。
【符号の説明】
A 圧力温度検出装置(半導体センサ装置) 4 半導体センサ 5 回路基板 5b ボンディングパッド 5c チェックランド 5d ランド部 20 定電流源回路 21 ブリッジ回路 22 圧力検出増幅回路 23 温度検出増幅回路 23a ゲイン調整用抵抗 23b オフセット電圧調整用抵抗 Ra〜Rd 抵抗(感圧素子) va,vb 中間電圧 vc 両端電圧 α 許容範囲 Y ワイヤ T2 温度−出力電圧特性 Tx 温度−出力電圧特性

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を用い
    て半導体基板上にブリッジ回路を構成するとともに、薄
    肉のダイアフラム部を有する単一の半導体センサを備
    え、被検出体の圧力及び温度に関する情報を得る半導体
    センサ装置であって、 前記ブリッジ回路の両端を少なくとも含む電圧を増幅
    し、前記温度に関する検出信号を得るための温度検出増
    幅回路を構成する回路基板と、 前記回路基板に備えられ、異なる温度に応じた少なくと
    も2つの入力電圧を前記ブリッジ回路の両端に印加する
    ためのランド部と、 前記温度検出増幅回路に備えられ、前記ランド部に前記
    各入力電圧を印加することで得られる前記第2の検出信
    号に関する温度−出力電圧特性が、所定のフルスケール
    電圧の範囲に達するように前記温度−出力電圧特性の傾
    きを調整するゲイン調整用抵抗と、 を備えてなることを特徴とする半導体センサ装置。
  2. 【請求項2】 前記温度−出力電圧特性が予め定められ
    る前記フルスケール電圧の許容範囲内に入るように、前
    記温度−出力電圧特性をオフセット調整するオフセット
    電圧調整用抵抗を前記温度検出増幅回路に備えてなるこ
    とを特徴とする請求項1に記載の半導体センサ装置。
  3. 【請求項3】 前記半導体センサとワイヤを介して接続
    する複数のボンディングパッドを前記回路基板に備える
    とともに、前記ボンディングパッドと前記温度検出増幅
    回路の回路パターンとに電気的に接続されるチェックラ
    ンドを前記各ボンディングパッドの近傍に備えてなるこ
    とを特徴とする請求項1もしくは請求項2に記載の半導
    体センサ装置。
  4. 【請求項4】 ピエゾ抵抗効果を有する感圧素子を用い
    て半導体基板上にブリッジ回路を構成するとともに、薄
    肉のダイアフラム部を有する単一の半導体センサを備
    え、被検出体の圧力及び温度に関する情報を得る半導体
    センサ装置の調整方法であって、 前記ブリッジ回路の両端を少なくとも含む電圧を増幅
    し、前記温度に関する検出信号を得るための温度検出増
    幅回路を回路基板に少なくとも備え、 異なる温度に応じた少なくとも2つの入力電圧を、前記
    回路基板に備えられるランド部を介して前記ブリッジ回
    路の両端に印加することで前記検出信号に関する温度−
    出力電圧特性を得るとともに、前記温度検出増幅回路に
    備えられるゲイン調整用抵抗をトリミングし、前記温度
    −出力電圧特性が所定のフルスケール電圧の範囲に達す
    るように前記温度−出力電圧特性の傾きを調整すること
    を特徴とする半導体センサ装置の調整方法。
  5. 【請求項5】 前記温度検出増幅回路に前記温度−出力
    電圧特性の基準電圧を調整するオフセット電圧調整用抵
    抗を備え、前記オフセット電圧調整用抵抗を調整するこ
    とで、前記温度−出力電圧特性が予め定められる前記フ
    ルスケール電圧の許容範囲内に入るようにオフセット調
    整してなることを特徴とする請求項4に記載の半導体セ
    ンサ装置の調整方法。
  6. 【請求項6】 前記温度−出力電圧特性の前記傾きの調
    整において、前記温度−出力電圧特性の前記フルスケー
    ル電圧が前記範囲外を含む特性である場合に、前記温度
    −出力電圧特性の温度範囲における最低温度から30%
    〜70%の温度に応じた入力電圧を印加する1つの入力
    電圧として設定してなることを特徴とする請求項4に記
    載の半導体センサ装置の調整方法。
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