JP2003318779A - Ｓｉｒ測定装置および方法 - Google Patents

Ｓｉｒ測定装置および方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳ
ＩＲを受信後短時間で高精度に測定すること。 【解決手段】 ミッドアンブル部を用いて遅延プロファ
イルを作成し、この遅延プロファイルと推定したパス位
置とを用いてＳＩＲを測定する。すなわち、信号電力測
定部１４２で、遅延プロファイルと選択パス位置から信
号電力を測定し、干渉電力測定部１４４で、遅延プロフ
ァイルと選択パス位置から干渉電力を測定する。そし
て、信号電力補正部１４６と干渉電力補正部１４８で、
それぞれ、必要な補正を行い、ＳＩＲ演算部１５０で、
所定の演算式により、ＳＩＲを演算する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＳＩＲ測定装置お
よび方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】高精度な送信電力制御（ＴＣＰ：Transm
it Power Control）を実現するためには、ＳＩＲ（Sign
al to Interference Ratio：信号電力対干渉電力の比）
を高い精度で測定する必要がある。
【０００３】たとえば、ＴＤ−ＳＣＤＭＡ（Time Divis
ion-Synchronous Code Division Multiple Access）シ
ステムでは、下りタイムスロットの干渉除去（たとえ
ば、ＪＤ復調）後のＳＩＲを高い精度で測定し、その結
果を用いて送信電力制御（ＴＰＣ）ビットを計算するよ
うにしている。ジョイントディテクション（ＪＤ：Join
t Detection）は、干渉除去技術の一つであり、遅延プ
ロファイルと拡散コードから得られる行列（システムマ
トリクス）を用いた演算により高精度な干渉除去を行う
受信方式である。
【０００４】この場合、従来のＳＩＲ測定法では、ＪＤ
復調後のデータ部からＳＩＲを測定していた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ＳＩＲ測定法においては、ＪＤ復調後のＳＩＲを測定す
るため、この結果を用いたＴＰＣビットの計算が次の上
りタイムスロットの送信に間に合わないおそれがある。
すなわち、ＪＤ復調は計算量が多く、時間がかかるた
め、送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロッ
トに間に合わせるためには、上記ＳＩＲ測定処理、また
は、ＪＤ復調処理を高速に行う必要がある。しかし、上
記ＳＩＲ測定処理またはＪＤ復調処理の高速化には、一
定の限界がある。なお、ＴＰＣビットの計算が次の上り
タイムスロットの送信に間に合わない場合、伝搬環境の
変動に高速に追従することができず、送信電力制御の精
度向上に一定の限界が生じることになる。
【０００６】そのため、ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムで
は、下りタイムスロットの干渉除去後のＳＩＲを高い精
度で測定し、その結果を用いたＴＰＣビットの計算を次
の上りタイムスロットに間に合わせることが強く求めら
れている。
【０００７】本発明は、かかる点に鑑みてなされたもの
であり、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを
受信後短時間で高精度に測定することができるＳＩＲ測
定装置および方法を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】（１）本発明のＳＩＲ測
定装置は、受信信号に含まれる既知信号を用いて遅延プ
ロファイルを作成する作成手段と、作成された遅延プロ
ファイルを用いて実在するパスを選択する選択手段と、
受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成手段と、作成
された遅延プロファイル、選択されたパスの位置、およ
びＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩ
Ｒを測定する測定手段と、を有する構成を採る。
【０００９】この構成によれば、遅延プロファイル、選
択パス位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩ
Ｒを測定するため、たとえば、ＪＤ復調処理の終了を待
たずにＳＩＲを測定することができ、つまり、下りタイ
ムスロットを受信した後すぐにＳＩＲを測定することが
でき、送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロ
ットに間に合わせることができる。しかも、その際、選
択パス位置によって信号成分と干渉成分を分けることが
できるため、干渉除去後のＳＩＲを測定することができ
る。すなわち、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳ
ＩＲを受信後短時間で測定することができる。
【００１０】（２）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記既知信号は、各スロットのミッドアン
ブル部である構成を採る。
【００１１】この構成によれば、ミッドアンブル部を用
いて遅延プロファイルを作成するため、データ部を利用
する従来のＳＩＲ測定法に比べて処理利得が大きく、高
い精度でＳＩＲを測定することができる。
【００１２】（３）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記測定手段は、作成された遅延プロファ
イルおよび選択されたパスの位置を用いて信号電力を測
定する信号電力測定手段と、作成された遅延プロファイ
ルおよび選択されたパスの位置を用いて干渉電力を測定
する干渉電力測定手段と、測定された信号電力および干
渉電力ならびにＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて、所
定の演算式により、ＳＩＲを演算する演算手段と、を有
する構成を採る。
【００１３】この構成によれば、遅延プロファイルと選
択パス位置から信号電力と干渉電力をそれぞれ測定し、
各測定結果とＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩＲを測
定するため、上記のように、ＪＤ復調を行うことなく干
渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で測定することができ
る。
【００１４】（４）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記測定手段は、選択されたパス同士の干
渉による影響を除去するように、測定された信号電力を
補正する信号電力補正手段、をさらに有し、前記演算手
段は、測定された信号電力に代えて前記信号電力補正手
段によって補正された信号電力を用いてＳＩＲの演算を
行う、構成を採る。
【００１５】この構成によれば、選択パス同士の干渉
（各パスの信号電力に含まれている）による影響を除去
するように信号電力を補正するため、信号電力の測定精
度が向上し、ＳＩＲの測定精度を高めることができる。
【００１６】（５）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記測定手段は、自己相関成分による影響
を除去するように、測定された干渉電力を補正する第１
干渉電力補正手段、をさらに有し、前記演算手段は、測
定された干渉電力に代えて前記第１干渉電力補正手段に
よって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行
う、構成を採る。
【００１７】この構成によれば、自己相関成分による影
響（干渉電力には信号成分の自己相関により生じた電力
が含まれている）を除去するように干渉電力を補正する
ため、干渉電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度
をさらに高めることができる。
【００１８】（６）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記測定手段は、受信フィルタによる影響
を除去するように、測定された干渉電力を補正する第２
干渉電力補正手段、をさらに有し、前記演算手段は、測
定された干渉電力に代えて前記第２干渉電力補正手段に
よって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行
う、構成を採る。
【００１９】この構成によれば、受信フィルタ（たとえ
ば、ロールオフフィルタ）による影響（各パスはロール
オフフィルタにより信号がひずんでいるため干渉電力に
信号電力が含まれている）を除去するように干渉電力を
補正するため、干渉電力の測定精度がさらに向上し、Ｓ
ＩＲの測定精度をさらに高めることができる。
【００２０】（７）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記既知信号が各スロットのミッドアンブ
ル部である場合、前記作成手段は、自ユーザが使用して
いるミッドアンブルシフトの遅延プロファイルおよび自
ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プ
ロファイルを作成し、前記第２測定手段は、自ユーザが
使用しているミッドアンブルシフトの遅延プロファイル
および自ユーザが使用していないミッドアンブルシフト
の遅延プロファイルを用いて干渉電力の測定を行う、構
成を採る。
【００２１】この構成によれば、自ユーザが使用してい
るミッドアンブルシフトの遅延プロファイルに加えて自
ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プ
ロファイルを用いて干渉電力を測定するため、干渉電力
の測定範囲が拡大され、動特性の伝搬路の場合において
も、干渉電力の測定精度が改善され、ＳＩＲの測定精度
を改善することができる。
【００２２】（８）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記既知信号が各スロットのミッドアンブ
ル部である場合、前記演算手段で用いられる演算式は、
各アロケーションモードに対応している構成を採る。
【００２３】この構成によれば、演算式が各アロケーシ
ョンモード（Allocation Mode）、具体的には、共通ミ
ッドアンブル（Common Midamble）、デフォルトミッド
アンブル（Default Midamble）、およびＵＥ個別ミッド
アンブル（UE Specific Midamble）に対応しているた
め、各アロケーションモードにおいて、ＪＤ復調を行う
ことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に
測定することができる。
【００２４】（９）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記構
成において、前記既知信号が各スロットのミッドアンブ
ル部である場合、前記演算手段は、各アロケーションモ
ードに対応する演算式を記憶する手段と、指定されたア
ロケーションモードに対応する演算式を選択する手段
と、を含み、選択された演算式によりＳＩＲの演算を行
う、構成を採る。
【００２５】この構成によれば、あらかじめ各アロケー
ションモードに対応する演算式を記憶しておき、指定さ
れたアロケーションモードに対応する演算式によりＳＩ
Ｒを演算する、つまり、アロケーションモードごとにＳ
ＩＲの測定方法を切り替えるため、アロケーションモー
ドが異なる場合でも１つの装置でＳＩＲを測定すること
ができる。
【００２６】（１０）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記
構成において、前記測定手段は、前記信号電力測定手段
によって測定された信号電力を用いて受信信号コード電
力を測定するＲＳＣＰ測定手段、をさらに有する構成を
採る。
【００２７】この構成によれば、測定された信号電力を
用いて受信信号コード電力（ＲＳＣＰ：Received Signa
l Code Power）を測定するため、たとえば、３ＧＰＰ
ＴＤＤの測定項目であるＰ−ＣＣＰＣＨ（Primary-Comm
on Control Physical Channel）のＲＳＣＰの測定を、
遅延プロファイルと選択パス位置から、ＳＩＲの測定と
並行して同時に行うことができる。
【００２８】（１１）本発明のＳＩＲ測定装置は、上記
構成において、前記測定手段は、前記干渉電力測定手段
によって測定された干渉電力を用いて干渉信号コード電
力を測定するＩＳＣＰ測定手段、をさらに有する構成を
採る。
【００２９】この構成によれば、測定された干渉電力を
用いて干渉信号コード電力（ＩＳＣＰ：Interference S
ignal Code Power）（３ＧＰＰ ＴＤＤではタイムスロ
ットＩＳＣＰと呼ばれる）を測定するため、たとえば、
３ＧＰＰ ＴＤＤの測定項目であるタイムスロットＩＳ
ＣＰの測定を、遅延プロファイルと選択パス位置から、
ＳＩＲの測定と並行して同時に行うことができる。
【００３０】（１２）本発明の移動局装置は、上記構成
のいずれかに記載のＳＩＲ測定装置を有する構成を採
る。
【００３１】この構成によれば、上記と同様の作用効果
を有する移動局装置を提供することができる。
【００３２】（１３）本発明の基地局装置は、上記構成
のいずれかに記載のＳＩＲ測定装置を有する構成を採
る。
【００３３】この構成によれば、上記と同様の作用効果
を有する基地局装置を提供することができる。
【００３４】（１４）本発明のＳＩＲ測定方法は、受信
信号に含まれる既知信号を用いて遅延プロファイルを作
成する作成ステップと、作成した遅延プロファイルを用
いて実在するパスを選択する選択ステップと、受信信号
をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成ステップと、作成した
遅延プロファイル、選択したパスの位置、およびＲＡＫ
Ｅ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩＲを測定
する測定ステップと、を有するようにした。
【００３５】この方法によれば、遅延プロファイル、選
択パス位置、およびＲＡＫＥ合成後の受信電力からＳＩ
Ｒを測定するため、たとえば、ＪＤ復調処理を待たずに
ＳＩＲを測定することができ、つまり、下りタイムスロ
ットを受信した後すぐにＳＩＲを測定することができ、
送信電力制御ビットの計算を次の上りタイムスロットに
間に合わせることができる。しかも、その際、選択パス
位置によって信号成分と干渉成分を分けることができる
ため、干渉除去後のＳＩＲを測定することができる。す
なわち、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを
受信後短時間で測定することができる。
【００３６】（１５）本発明のＳＩＲ測定方法は、上記
方法において、アロケーションモードごとに測定方法を
切り替えるようにした。
【００３７】この方法によれば、アロケーションモード
ごとに測定方法を切り替えるため、アロケーションモー
ドが異なる場合でも１つの装置でＳＩＲを測定すること
ができる。
【００３８】（１６）本発明のＳＩＲ測定方法は、アロ
ケーションモードが共通ミッドアンブルの場合、次の式
により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにした。
【数１０】 ただし、 Ｎp：パス数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力 ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＰRAKE_own：自ユーザの拡散コードによるＲＡＫＥ合成
後の電力 ＰRAKE_total：各拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電
力の全拡散コード分の合計電力 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
【００３９】この方法によれば、アロケーションモード
が共通ミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調を行う
ことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精度に
測定することができる。
【００４０】（１７）本発明のＳＩＲ測定方法は、上記
方法（アロケーションモードが共通ミッドアンブルの場
合）において、さらに、信号電力に対してパス同士の干
渉による影響を除去するための補正を行い、信号電力に
対する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定するよ
うにした。
【数１１】
【００４１】この方法によれば、選択パス同士の干渉に
よる影響を除去するように信号電力を補正するため、信
号電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度を高める
ことができる。
【００４２】（１８）本発明のＳＩＲ測定方法は、上記
方法（アロケーションモードが共通ミッドアンブルの場
合）において、さらに、干渉電力に対して自己相関成分
による影響を除去するための補正を行い、干渉電力に対
する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定するよう
にした。
【数１２】
【００４３】この方法によれば、自己相関成分による影
響を除去するように干渉電力を補正するため、干渉電力
の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高める
ことができる。
【００４４】（１９）本発明のＳＩＲ測定方法は、上記
方法（アロケーションモードが共通ミッドアンブルの場
合）において、さらに、干渉電力に対して受信フィルタ
による影響を除去するための補正を行い、干渉電力に対
する当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定するよう
にした。
【数１３】 ただし、 Ｎp'：同一パスとみなされる範囲のパス数
【００４５】この方法によれば、受信フィルタ（たとえ
ば、ロールオフフィルタ）による影響を除去するように
干渉電力を補正するため、干渉電力の測定精度がさらに
向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高めることができ
る。
【００４６】（２０）本発明のＳＩＲ測定方法は、上記
方法（アロケーションモードが共通ミッドアンブルの場
合）において、さらに、自ユーザが使用しているミッド
アンブルシフトおよび自ユーザが使用していないミッド
アンブルシフトを用いて干渉電力を測定し、干渉除去後
のＳＩＲを、次の式により測定するようにした。
【数１４】 ただし、 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall：ミッドアンブルシフトの集合 Ｎpk'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされ
る範囲のパス数 ＤＰk(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチ
ップ目の電力
【００４７】この方法によれば、自ユーザが使用してい
るミッドアンブルシフトの遅延プロファイルに加えて自
ユーザが使用していないミッドアンブルシフトの遅延プ
ロファイルを用いて干渉電力を測定するため、干渉電力
の測定範囲が拡大され、動特性の伝搬路の場合において
も、干渉電力の測定精度が改善され、ＳＩＲの測定精度
を改善することができる。
【００４８】（２１）本発明のＳＩＲ測定方法は、アロ
ケーションモードがデフォルトミッドアンブルの場合、
ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算し、得られた計算結
果を平均することにより、次の式により、干渉除去後の
ＳＩＲを測定するようにした。
【数１５】
【数１６】 ただし、 ＳＩＲk：ミッドアンブルｋのＳＩＲ ＮK：多重されている総ミッドアンブルシフト数 Ｋ：多重されている総ミッドアンブルシフトの集合 Ｎpk：ミッドアンブルｋのパス数 Ｎpk'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされ
る範囲のパス数 Ｎcode,k：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散
コード数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰk(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチ
ップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合 ＮKown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
数 Ｋown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
の集合
【００４９】この方法によれば、アロケーションモード
がデフォルトミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調
を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高
精度に測定することができる。
【００５０】（２２）本発明のＳＩＲ測定方法は、アロ
ケーションモードがデフォルトミッドアンブルの場合、
ミッドアンブルごとに信号電力および干渉電力を計算
し、それぞれの計算結果を平均することにより、次の式
により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにした。
【数１７】 ただし、 ＮKown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
数 Ｋown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
の集合 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合 Ｎpk：ミッドアンブルｋのパス数 Ｎpk'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされ
る範囲のパス数 Ｎcode,k：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散
コード数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰk(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチ
ップ目の電力 ＤＰk(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチ
ップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
【００５１】この方法によれば、アロケーションモード
がデフォルトミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調
を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高
精度に測定することができる。
【００５２】（２３）本発明のＳＩＲ測定方法は、アロ
ケーションモードがＵＥ個別ミッドアンブルの場合、次
の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定するようにし
た。
【数１８】 ただし、 Ｎp：パス数 Ｎp'：同一パスとみなされる範囲のパス数 Ｎcode：割り付けられている拡散コード数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力 ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合
【００５３】この方法によれば、アロケーションモード
がＵＥ個別ミッドアンブルの場合において、ＪＤ復調を
行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短時間で高精
度に測定することができる。
【００５４】
【発明の実施の形態】本発明の骨子は、ミッドアンブル
部を用いて遅延プロファイルを作成し、この遅延プロフ
ァイルと推定したパス位置とを用いてＳＩＲを測定する
ことにより、ＪＤ復調を行わずに干渉除去後のＳＩＲを
求めることである。これにより、下りスロット受信後す
ぐに送信電力制御（ＴＰＣ）ビットの計算を行うことが
でき、ＴＰＣビットの計算を次の上りタイムスロットの
送信に間に合わせることができる。
【００５５】以下、本発明の実施の形態について、図面
を参照して詳細に説明する。なお、ここでは、本発明を
ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムに適用した場合を例にとって
説明する。
【００５６】（実施の形態１）図１は、本発明の実施の
形態１に係るＳＩＲ測定装置の構成を示すブロック図で
ある。
【００５７】図１に示すＳＩＲ測定装置１００は、大別
して、アンテナ１１０、無線受信部１２０、ＪＤ復調部
１３０、およびＳＩＲ測定部１４０を有する。ＪＤ復調
部１３０は、相関処理部１３１、遅延プロファイル作成
部１３２、パス選択部１３３、ＲＡＫＥ合成部１３４、
およびＪＤ演算部１３５で構成されている。
【００５８】アンテナ１１０で受信された無線信号は、
無線受信部１２０で、ダウンコンバートなどの所定の受
信処理が施されてベースバンド信号に変換される。無線
受信部１２０には、図示しない受信フィルタ（たとえ
ば、ロールオフフィルタ）が設けられている。無線受信
部１２０で得られたベースバンド信号は、ＪＤ復調部１
３０へ出力される。
【００５９】ＪＤ復調部１３０は、受信信号のＪＤ復調
を行う。具体的には、まず、相関処理部１３１で、受信
信号に含まれる既知信号（ここでは、下りタイムスロッ
トのミッドアンブル部）を用いて相関処理を行った後、
この相関処理結果を用いて遅延プロファイル作成部１３
２で遅延プロファイルを作成し、この遅延プロファイル
を用いてパス選択部１３３で所定のしきい値処理により
実在するパスを選択（推定）する。このパス選択結果
は、ＲＡＫＥ合成部１３４およびＪＤ演算部１３５へ出
力される。ＲＡＫＥ合成部１３４では、パス選択結果を
用いて受信信号のＲＡＫＥ合成を行う。ＪＤ演算部１３
５では、ＲＡＫＥ合成結果とパス選択結果を用いてＪＤ
演算を行い、干渉が除去された復調信号を得る。ＪＤ演
算部１３５で得られた干渉除去後の復調信号は、図示し
ない復号部へ送られる。
【００６０】ＳＩＲ測定部１４０は、ＪＤ復調部１３０
でそれぞれ得られる遅延プロファイル、選択パス位置、
ＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて、ＪＤ復調処理の終
了を待たずに、干渉除去後のＳＩＲを測定する。ＳＩＲ
測定部１４０には、遅延プロファイル作成部１３２から
遅延プロファイルが、パス選択部１３３から選択パス位
置が、ＲＡＫＥ合成部１３４からＲＡＫＥ合成後の受信
電力がそれぞれ入力さえる。また、ＳＩＲ測定部１４０
には、拡散率およびアロケーションモードに加えて、Ｊ
Ｄ演算部１３５からコード情報が入力される。コード情
報は、ＪＤ演算の途中段階で得られる。ＳＩＲ測定部１
４０の測定結果は、図示しない送信電力制御（ＴＰＣ）
ビット計算部へ送られる。
【００６１】図２は、ＳＩＲ測定部１４０の構成の一例
を示すブロック図である。
【００６２】ＳＩＲ測定部１４０は、図２に示すよう
に、信号電力測定部１４２、干渉電力測定部１４４、信
号電力補正部１４６、干渉電力補正部１４８、およびＳ
ＩＲ演算部１５０を有する。信号電力測定部１４２は、
遅延プロファイルと選択パス位置を用いて信号電力を測
定し、干渉電力測定部１４４は、遅延プロファイルと選
択パス位置を用いて干渉電力を測定する。信号電力補正
部１４６と干渉電力補正部１４８は、測定精度を上げる
ための補正を行う。そのため、たとえば、信号電力補正
部１４６にはコード情報が入力され、干渉電力補正部１
４８には自己相関値が入力される。ＳＩＲ演算部１５０
は、信号電力と干渉電力の比を計算し、データ部のＳＩ
Ｒに変換する。具体的には、たとえば、信号電力、干渉
電力、ＲＡＫＥ合成後の受信電力、アロケーションモー
ド、および拡散率を用いて、所定の演算式により、ＳＩ
Ｒを算出する。
【００６３】次いで、上記構成を有するＳＩＲ測定部１
４０によって実現されるＳＩＲ測定方法について、詳細
に説明する。
【００６４】まず、ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムで用いら
れるミッドアンブルアロケーションモード（Midamble A
llocation Mode）（以下単に「アロケーションモード」
という）について説明する。ＳＩＲ測定方法（演算式）
は、後で詳述するように、アロケーションモードごとに
異なる。
【００６５】ＴＤ−ＳＣＤＭＡシステムのアロケーショ
ンモードには、共通ミッドアンブル（Common Midambl
e）、デフォルトミッドアンブル（Default Midambl
e）、ＵＥ個別ミッドアンブル（UE Specific Midambl
e）の３つがある。
【００６６】図３は、共通ミッドアンブルのタイムスロ
ットの一例を示す図である。共通ミッドアンブルの場
合、図３に示すように、１つのタイムスロットに１つの
ミッドアンブルしかなく、データ部には複数のユーザの
データが１または複数のコードで多重されている。この
とき、多重されたデータ部の電力とミッドアンブル部の
電力とは等しい。
【００６７】図４は、デフォルトミッドアンブルのタイ
ムスロットの一例を示す図である。デフォルトミッドア
ンブルの場合、図４に示すように、１つのタイムスロッ
トに複数のミッドアンブルが存在し、複数のユーザが複
数のミッドアンブルを使用する。また、各ミッドアンブ
ルに対して、データが１つまたは複数のコードで多重さ
れており、そのデータ部の電力と当該ミッドアンブルの
電力とは等しい。
【００６８】図５は、ＵＥ個別ミッドアンブルのタイム
スロットの一例を示す図である。ＵＥ個別ミッドアンブ
ルの場合、図５に示すように、１つのタイムスロットに
複数のミッドアンブルが存在し、複数のユーザがそれぞ
れ１つのミッドアンブルを使用する。また、各ミッドア
ンブルに対して、データが１つまたは複数のコードで多
重されており、そのデータ部の電力と当該ミッドアンブ
ルの電力とは等しい。
【００６９】以下、各アロケーションモードに対して、
具体的に、ミッドアンブル部を用いたＳＩＲ測定方法に
ついて説明する。ここでは、まず、タイムスロットの構
造が比較的簡単な共通ミッドアンブルの場合について説
明し、その後、他のアロケーションモードについて順次
説明する。
【００７０】ここで、仮定する条件は次のとおりであ
る。 １）ミッドアンブル相関演算時に干渉成分は平均で１／
ｐｇに抑圧される。ｐｇは、相関をとるミッドアンブル
長（ミッドアンブル部のチップ数）であり、ＴＤ−ＳＣ
ＤＭＡの場合、１２８となる。 ２）ミッドアンブル相関のパス位置以外のところには干
渉成分が現れている。 ３）自セル内の干渉は、ＪＤで完全に除去可能である。
ＪＤの干渉除去が不完全であることを考慮する場合は、
干渉除去率（たとえば、０.８など）を導入すればよ
い。
【００７１】なお、本実施の形態では、ミッドアンブル
部を用いてＳＩＲを測定するが、本発明はこれに限定さ
れるわけではない。ミッドアンブル部に代えて他のパイ
ロット信号（既知信号）を用いることも可能である。
【００７２】共通ミッドアンブルを用いたＳＩＲ測定 まず、基本的なＳＩＲ算出方法について説明する。
【００７３】図６は、遅延プロファイルの一例を示す図
である。この遅延プロファイルは、遅延プロファイル作
成部１３２で、ミッドアンブル部を用いて作成される。
図６において、Ｐ1、Ｐ2、Ｐ3は信号成分と、Ｎ1〜Ｎ6
は干渉成分とそれぞれみなすことができる。
【００７４】ここで、Ｎpをパス数、Ｗを遅延プロファ
イル長、ＤＰ(i)を遅延プロファイルのｉチップ目の電
力、ＤＰ(j)を遅延プロファイルのｊチップ目の電力、
Ｐを実在パスの集合とすると、ミッドアンブル部のＳＩ
Ｒは、次の（式１）、
【数１９】 で求められる。
【００７５】図６の例では、（式１）の分子の信号電力
は、実在パス位置であるＰ1、Ｐ2、Ｐ3の合計になり、
分母の干渉電力は実在パス位置でないＮ1〜Ｎ6の平均に
なる。また、Ｎp＝３、Ｗ＝９である。なお、干渉電力
について平均をとるのは、同相でないためである。
【００７６】そして、ミッドアンブル部で測定したＳＩ
Ｒをデータ部のＳＩＲに換算するために、ミッドアンブ
ル部の信号電力をデータ部の１コード、１シンボル当た
りの信号電力にする必要がある。共通ミッドアンブルの
タイムスロットは、たとえば、上記図３に示すとおりで
ある。
【００７７】まず、ミッドアンブル部の信号電力をデー
タ部の１コード当たりの信号電力に変換する。上記のよ
うに、データ部は、複数の拡散コードで多重されてお
り、多重された信号の電力の総和は、ミッドアンブル部
の電力と等しい。そのため、ＪＤ演算部１３５でのコー
ド判定時に作成された使用コードのＲＡＫＥ合成結果の
比を用いて、ミッドアンブル部の電力から自ユーザの受
信コード電力を算出することができる。すなわち、ミッ
ドアンブル部の信号電力をＰRAKE_own／ＰRAKE_t otal倍
する。ここで、ＰRAKE_ownは、自ユーザの拡散コードに
よるＲＡＫＥ合成後の電力、ＰRAKE_totalは、各拡散コ
ードによるＲＡＫＥ合成後の電力の全拡散コード分の合
計電力である。なお、自ユーザが複数の拡散コードを使
用していた場合は、自ユーザが使用していた全コードの
受信コード電力の平均値をＰRAKE_o wnとする。
【００７８】次に、１シンボル当たりの信号電力に換算
する。ミッドアンブル部ではｐｇの処理利得があるが、
データ部では拡散率ＳＦ（Spreading Factor）の処理利
得しかない。よって、ＳＦ／ｐｇ倍する。
【００７９】以上から、データ部のＳＩＲは、次の（式
２）、
【数２０】 で表される。これが、ＳＩＲ測定の基本式となる。
【００８０】ここで、（式２）を用いて、図７に示すシ
ミュレーション条件の下でＳＩＲ測定シミュレーション
を行ったところ、図８に示すシミュレーション結果（基
本ＳＩＲ測定特性）が得られた。
【００８１】次に、測定精度を上げるための各種補正を
行う。補正には、信号電力の補正（選択パス同士の干渉
による影響の除去）、干渉電力の補正（自己相関成分に
よる影響の除去）、干渉電力の補正（ロールオフフィル
タによる影響の除去）、干渉電力測定範囲の拡大（動特
性の伝搬路に対する改善策）がある。以下、順に説明す
る。
【００８２】まず、信号電力の補正（選択パス同士の干
渉による影響の除去）について、図９を用いて説明す
る。図９は、パス同士の干渉を説明するための図であ
る。
【００８３】図９に示すように、各パスの測定された信
号電力には他のパスからの干渉成分も含まれている。た
とえば、その電力は、 パス１に含まれるパス２からの干渉成分：Ｐ2×１／ｐ
ｇ パス１に含まれるパス３からの干渉成分：Ｐ3×１／ｐ
ｇ となる。
【００８４】これらの干渉成分の位相はランダムである
ため、他のパスからの干渉成分の合計は、これらの電力
の次元での加算でよい。よって、パス１の本当の電力
は、 Ｐ1−（Ｐ2×１／ｐｇ＋Ｐ3×１／ｐｇ） となる。同様に、パス２の本当の電力、パス３の本当の
電力は、それぞれ、 Ｐ2−（Ｐ3×１／ｐｇ＋Ｐ1×１／ｐｇ） Ｐ3−（Ｐ1×１／ｐｇ＋Ｐ2×１／ｐｇ） となる。
【００８５】したがって、補正後の信号電力は、 Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3−（Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3）×１／ｐｇ×（Ｎp
−１）＝（Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3）×（１−（Ｎp−１）／ｐ
ｇ） となる。
【００８６】以上から、信号電力補正後のＳＩＲの一般
式は、次の（式３）、
【数２１】 で表される。
【００８７】このように、選択パス同士の干渉による影
響を除去するように信号電力を補正することにより、信
号電力の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度を高める
ことができる。
【００８８】次に、干渉電力の補正（自己相関成分によ
る影響の除去）について説明する。
【００８９】図９に示すように、測定された干渉電力に
は自己相関により生じた電力が含まれている。よって、
自セル内干渉除去後の干渉電力を求めるためには、測定
された干渉電力から信号電力成分（好ましくは、補正後
の信号電力成分）を差し引く必要がある。たとえば、信
号電力成分は、 干渉信号電力に含まれるパス１の成分：Ｐ1×１／ｐｇ 干渉信号電力に含まれるパス２の成分：Ｐ2×１／ｐｇ 干渉信号電力に含まれるパス３の成分：Ｐ3×１／ｐｇ
となる。
【００９０】したがって、本当の干渉信号電力は、 （Ｎ1〜Ｎ6の平均）−（Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3）×１／ｐｇ となる。さらに、上述した信号電力の補正を考慮する
と、（Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3）を（Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3）×（１−
（Ｎp−１）／ｐｇ）に置き換えて、 （Ｎ1〜Ｎ6の平均）−（Ｐ1＋Ｐ2＋Ｐ3）×（１−（Ｎp
−１）／ｐｇ） となる。
【００９１】以上から、信号電力の補正に加えて干渉電
力補正（自己相関成分による影響除去）後のＳＩＲの一
般式は、次の（式４）、
【数２２】 で表される。
【００９２】このように、自己相関成分による影響を除
去するように干渉電力を補正することにより、干渉電力
の測定精度が向上し、ＳＩＲの測定精度をさらに高める
ことができる。
【００９３】なお、実際には、信号電力成分の干渉信号
電力に対する影響は１／ｐｇではなく、ミッドアンブル
に依存する傾向があるため、基本ミッドアンブル（Basi
c Midamble）から自己相関値を算出している。
【００９４】ここで、補正後の（式４）を用いてＳＩＲ
測定シミュレーションを行ったところ、図１０に示すシ
ミュレーション結果（補正後のＳＩＲ測定特性）が得ら
れた。図１０に示すように、高いＳＩＲ付近でずれが生
じている。これは、ロールオフフィルタにより信号電力
がひずみ、干渉電力に影響を与えているためであると考
えられる。
【００９５】そこで、次に、さらなる干渉電力の補正
（ロールオフフィルタによる影響の除去）について、図
１１を用いて説明する。図１１は、ロールオフフィルタ
の影響を説明するための図である。
【００９６】図１１に示すように、オーバサンプリング
された遅延プロファイルでは、ロールオフフィルタの影
響により、ピーク（パス位置）以外にも信号成分が現れ
る。この信号成分が干渉成分に含まれてしまうため、こ
れを補正する必要がある。
【００９７】具体的な補正方法としては、ロールオフフ
ィルタの影響は選択パス位置付近の数チップ分の範囲に
大きく現れるため（たとえば、図１１のＰ1'、Ｐ2'、Ｐ
3'）、選択パス位置付近での干渉電力を干渉電力の計算
に含めないようにする方法をとる。ここで、Ｎp'を同一
パスとみなされる範囲のパス数とすると、干渉電力補正
（ロールオフフィルタによる影響除去）後のＳＩＲの一
般式は、次の（式５）、
【数２３】 で表される。
【００９８】ここで、同一パスとみなす範囲を決めるに
当たって、フィルタのインパルス応答の電力の広がりを
調べた。図１２は、フィルタのインパルス応答の波形を
示す図であり、図１３は、同一パスとみなした範囲のチ
ップ数に対する同一パス内電力と総電力の比（同一パス
範囲内電力比）を示す図である。図１３に示すように、
同一パスとみなす範囲を広くするほどフィルタの影響は
少なくなっていくが、他方で、同一パスとみなす範囲を
広くするほど干渉電力を測定する範囲が狭くなるため、
除外範囲をできるだけ小さくしてフィルタの影響を取り
除く必要がある。そこで、たとえば、図１３の例の場
合、３チップを同一パス範囲とするのが好ましい。
【００９９】３チップを同一パス範囲として補正後の
（式５）を用いてＳＩＲ測定シミュレーションを行った
ところ、図１４に示すシミュレーション結果（ロールオ
フフィルタの補正を行った後のＳＩＲ測定特性）が得ら
れた。このシミュレーション結果によれば、先のシミュ
レーション結果（図８、図９参照）と比較して、高いＳ
ＩＲ付近でのずれが補正され全体的に理論値に近いＳＩ
Ｒ測定特性になっていることがわかる。
【０１００】このように、ロールオフフィルタによる影
響を除去するように干渉電力を補正することにより、干
渉電力の測定精度がさらに向上し、ＳＩＲの測定精度を
さらに高めることができる。
【０１０１】さらに、伝搬路によるＳＩＲ測定特性の違
いを調べた。図１５、図１６、図１７は、それぞれ、伝
搬路が動特性である場合の、（式５）を用いたＳＩＲ測
定シミュレーションの結果を示している。図１５は、伝
搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース
１）の一例を示し、図１６は、伝搬路特性の違いによる
ＳＩＲ測定特性（動特性ケース２）の一例を示し、図１
７は、伝搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性
ケース３）の一例を示している。図１８は、各ケース１
〜３の伝搬路特性を示す図である。これを見ると、図１
６に示すケース２の場合に、測定精度の劣化が生じてい
る。これは、遅延波の間隔が広がったマルチパス状態で
は、干渉電力の測定範囲（Ｗ−Ｎp'）が少ないため、干
渉電力の測定精度が劣化したためであると考えられる。
【０１０２】そこで、次に、干渉電力測定範囲の拡大
（動特性の伝搬路に対する改善策）について説明する。
【０１０３】上記のように、遅延波の間隔が広がったマ
ルチパス状態では、干渉電力を平均化する範囲（Ｗ−Ｎ
p'）が少ないため、干渉電力の測定精度が劣化したと考
えられる。そこで、干渉電力を平均化する範囲を増やす
ために、自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
（Midamble Shift）により作成された遅延プロファイル
に加えて、自ユーザが使用していないミッドアンブルシ
フトにより作成された遅延プロファイルを利用する。
【０１０４】アロケーションモードが共通ミッドアンブ
ルの場合、遅延プロファイルには１つのミッドアンブル
シフトの相関値が現れる。１スロット内にあるミッドア
ンブルシフト（ミッドアンブル）は、１つの基本ミッド
アンブルから生成される。このため、遅延プロファイル
を作成する際に、すべてのミッドアンブルシフトの遅延
プロファイルを一度に作成することができる。
【０１０５】図１９は、共通ミッドアンブルの遅延プロ
ファイルの一例を示す図である。図１９に示すように、
使用されているミッドアンブルシフトがミッドアンブル
(2)の場合、作成された遅延プロファイルのミッドアン
ブル(2)の部分のみに相関値が現れている。使用されて
いないミッドアンブルシフト（ミッドアンブル(1)、ミ
ッドアンブル(3)〜ミッドアンブル(8)）には、信号電力
は現れず、干渉電力のみが現れている。そこで、他のミ
ッドアンブルシフトにより作成された遅延プロファイル
の干渉電力を平均化することで、干渉電力の測定範囲を
拡大する。
【０１０６】これにより、補正（干渉電力測定範囲拡
大）後のＳＩＲの一般式は、次の（式６）、
【数２４】 で表される。ただし、ＮKallは、ミッドアンブルシフト
数、Ｋallは、ミッドアンブルシフトの集合、Ｎpk'は、
ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲の
パス数、ＤＰk(j)は、ミッドアンブルｋの遅延プロファ
イルのｊチップ目の電力である。
【０１０７】ここで、伝搬路特性が動特性ケース２の場
合において、補正後の（式６）を用いてＳＩＲ測定シミ
ュレーションを行ったところ、図２０に示すシミュレー
ション結果（遅延プロファイル長の違いによるＳＩＲ測
定特性）が得られた。図２０によれば、干渉電力の測定
範囲を拡大するにつれてＳＩＲの測定精度が改善されて
いることがわかる。
【０１０８】このように、自ユーザが使用しているミッ
ドアンブルシフトの遅延プロファイルに加えて自ユーザ
が使用していないミッドアンブルシフトの遅延プロファ
イルを用いて干渉電力を測定することにより、干渉電力
の測定範囲が拡大され、動特性の伝搬路の場合において
も、干渉電力の測定精度が改善され、ＳＩＲの測定精度
を改善することができる。
【０１０９】なお、この方法は、共通ミッドアンブルの
場合だけでなく、他のアロケーションモードでも使用可
能である。図２１は、デフォルト（ＵＥ個別）ミッドア
ンブルの遅延プロファイルの一例を示す図である。この
場合、図２１に示すように、１タイムスロットに複数の
ミッドアンブルが使用されており、各ミッドアンブルで
作成された遅延プロファイルにおいて、選択パス範囲以
外に干渉電力が現れている。よって、他のミッドアンブ
ルで作成された遅延プロファイルの選択パス範囲以外で
は、干渉電力を測定することができる。これにより、干
渉電力の測定範囲が拡大され、干渉電力の測定精度が改
善される（後述する（式７）〜（式１０）参照）。
【０１１０】デフォルトミッドアンブルを用いたＳＩＲ
測定 デフォルトミッドアンブルの場合、１ユーザが複数のミ
ッドアンブルを使用する可能性がある（図４参照）。そ
こで、この場合、ＳＩＲ算出方法として、大きく分けて
次の２つの方法、つまり、 ａ）ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算し、それを平均
する方法、 ｂ）ミッドアンブルごとに信号電力を計算して平均した
ものをＳとし、ミッドアンブルごとに干渉電力を計算し
て平均したものをＩとし、両者（ＳとＩ）の比をとる方
法、 が考えられる。ＳＩＲの計算は、他ユーザも含めた全遅
延プロファイルのパスを用いて、共通ミッドアンブルの
場合と同様に行うことができる。以下、それぞれの方法
について順に説明する。
【０１１１】ａ）ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算
し、それを平均する方法 この方法では、まず、各ミッドアンブルに対して共通ミ
ッドアンブルの場合と同様にＳＩＲを計算する。このと
き、分子の干渉電力の補正項のパスには他のミッドアン
ブルのパス（他ユーザの信号成分）も含めるようにす
る。
【０１１２】ここで、ＳＩＲkをミッドアンブルｋのＳ
ＩＲ、ＮKを多重されている総ミッドアンブルシフト
数、Ｋを多重されている総ミッドアンブルシフトの集
合、Ｎpkをミッドアンブルｋのパス数、Ｎpk'をミッド
アンブルｋにおける同一パスとみなされる範囲のパス
数、Ｎcode,kをミッドアンブルｋに割り付けられている
拡散コード数、Ｗを遅延プロファイル長、ＤＰk(i)をミ
ッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチップ目の電
力、Ｐを実在パスの集合、ＳＦを拡散率、ｐｇをミッド
アンブル部のチップ数、ＮKallをミッドアンブルシフト
数、Ｋallをミッドアンブルシフトの集合とすると、ミ
ッドアンブルｋから求められるＳＩＲは、次の（式
７）、
【数２５】 で表される。
【０１１３】このＳＩＲを自ユーザが使用している全ミ
ッドアンブルコードについて計算し、それを平均するこ
と、つまり、次の（式８）、
【数２６】 により、デフォルトミッドアンブルのＳＩＲが算出され
る。ここで、ＮKownは、自ユーザが使用しているミッド
アンブルシフト数、Ｋownは、自ユーザが使用している
ミッドアンブルシフトの集合である。（式７）と（式
８）が、本方法によるＳＩＲ測定の一般式（共通ミッド
アンブルの場合と同様の上記各種補正後の式）となる。
【０１１４】たとえば、図４に示すデフォルトミッドア
ンブルのタイムスロットの例において、本方法における
具体的な遅延プロファイルの一例を図２２に示す。ここ
では、自ユーザがミッドアンブル(2)とミッドアンブル
(4)を使用していると仮定する。この場合、ミッドアン
ブル(2)とミッドアンブル(4)でそれぞれＳＩＲを算出す
る。その際、１つのミッドアンブルで複数のコードが多
重されている場合、１コード当たりの信号電力の平均を
出すためにコード数で割る必要がある。各ＳＩＲ kを算
出した後、それらの平均をとる。
【０１１５】ｂ）ミッドアンブルごとに信号電力と干渉
電力を計算し、それぞれを平均する方法 この方法では、分子の信号成分は、自ユーザが使用する
ミッドアンブルコードごとの信号電力の平均となる。ま
た、分母の干渉電力は、自ユーザが使用するミッドアン
ブルコードごとの干渉電力の平均から全ユーザ分の信号
電力補正分を差し引いたものとなる。
【０１１６】すなわち、本方法によるＳＩＲ測定の一般
式（共通ミッドアンブルの場合と同様の上記各種補正後
の式）は、次の（式９）、
【数２７】 で表される。ただし、ＮKownは、自ユーザが使用してい
るミッドアンブルシフト数、Ｋownは、自ユーザが使用
しているミッドアンブルシフトの集合、ＮKallは、ミッ
ドアンブルシフト数、Ｋallは、ミッドアンブルシフト
の集合、Ｎpkは、ミッドアンブルｋのパス数、Ｎpk'
は、ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされる範
囲のパス数、Ｎcode,kは、ミッドアンブルｋに割り付け
られている拡散コード数、Ｗは、遅延プロファイル長、
ＤＰk(i)は、ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉ
チップ目の電力、ＤＰk(j)は、ミッドアンブルｋの遅延
プロファイルのｊチップ目の電力、Ｐは、実在パスの集
合、ＳＦは、拡散率、ｐｇは、ミッドアンブル部のチッ
プ数である。
【０１１７】図２３は、本方法における具体的な遅延プ
ロファイルの一例を示す図である。ここでは、信号電力
をミッドアンブル(2)とミッドアンブル(4)の信号電力の
和とする。干渉電力は、全ミッドアンブルの干渉電力の
和とする。ミッドアンブル(2)、ミッドアンブル(4)、ミ
ッドアンブル(6)、ミッドアンブル(7)の信号電力からパ
ス間での干渉成分を算出し、上記干渉電力の和から差し
引くことにより、補正を行う。そして、こうして求めた
信号電力と干渉電力の比をとって、ＳＩＲを算出する。
【０１１８】ＵＥ個別ミッドアンブルを用いたＳＩＲ測
定 ＵＥ個別ミッドアンブルの場合、１ユーザが１つのミッ
ドアンブルを使用する。また、自ユーザのコードのみで
ＪＤを行うため、他ユーザの干渉除去が行われず、他ユ
ーザの信号電力による干渉電力の補正は不要である。し
たがって、ＳＩＲ測定の一般式（共通ミッドアンブルの
場合と同様の上記各種補正後の式）は、次の（式１
０）、
【数２８】 で表される。ただし、Ｎpは、パス数、Ｎp'は、同一パ
スとみなされる範囲のパス数、Ｎcodeは、割り付けられ
ている拡散コード数、Ｗは、遅延プロファイル長、ＤＰ
(i)は、遅延プロファイルのｉチップ目の電力、ＤＰ(j)
は、遅延プロファイルのｊチップ目の電力、Ｐは、実在
パスの集合、ＳＦは、拡散率、ｐｇは、ミッドアンブル
部のチップ数、ＮKallは、ミッドアンブルシフト数、Ｋ
allは、ミッドアンブルシフトの集合である。
【０１１９】たとえば、図５のＵＥ個別ミッドアンブル
のタイムスロットの例に示すように、この場合、複数の
ミッドアンブルが多重されており、各ユーザは１つのミ
ッドアンブルを用いており、その際、複数のコードでデ
ータ部を多重している。
【０１２０】以上のように、本実施の形態によれば、遅
延プロファイル、選択パス位置、およびＲＡＫＥ合成後
の受信電力からＳＩＲを測定するため、たとえば、ＪＤ
復調処理の終了を待たずにＳＩＲを測定することがで
き、つまり、下りタイムスロットを受信した後すぐにＳ
ＩＲを測定することができ、送信電力制御ビットの計算
を次の上りタイムスロットに間に合わせることができ
る。しかも、その際、ミッドアンブル部を用いて遅延プ
ロファイルを作成するため、データ部を利用する従来の
ＳＩＲ測定法に比べて処理利得が大きく、高い精度でＳ
ＩＲを測定することができるとともに、選択パス位置に
よって信号成分と干渉成分を分けることができるため、
干渉除去後のＳＩＲを測定することができる。すなわ
ち、ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信
後短時間で高精度に測定することができる。
【０１２１】なお、本実施の形態の変更例として、アロ
ケーションモードごとにＳＩＲの測定方法を切り替える
ことが考えられる。具体的には、あらかじめ各アロケー
ションモード（共通ミッドアンブル、デフォルトミッド
アンブル、ＵＥ個別ミッドアンブル）に対応する演算式
（たとえば、上記の（式６）〜（式１０））を記憶して
おき、スロットごとに、指定されたアロケーションモー
ドに対応する演算式を選択し、選択された演算式により
ＳＩＲの演算を行うようにする。これにより、アロケー
ションモードが異なる場合でも１つの装置でＳＩＲを測
定することができる。
【０１２２】（実施の形態２）図２４は、本発明の実施
の形態２に係るＳＩＲ測定装置のＳＩＲ測定部の構成を
示すブロック図である。なお、このＳＩＲ測定装置（お
よびＳＩＲ測定部）は、図１および図２に示す実施の形
態１に対応するＳＩＲ測定装置（およびＳＩＲ測定部）
と同様の基本的構成を有しており、同一の構成要素には
同一の符号を付し、その説明を省略する。
【０１２３】本実施の形態の特徴は、ＳＩＲを測定する
際に得られるパラメータを利用して同時に受信信号コー
ド電力（ＲＳＣＰ）および干渉信号コード電力（ＩＳＣ
Ｐ）をも算出することである。そのため、ＳＩＲ測定部
１４０ａは、さらに、ＲＳＣＰ演算部２１０とＩＳＣＰ
演算部２２０を有する。なお、上記のように、Ｐ−ＣＣ
ＰＣＨのＲＳＣＰは、３ＧＰＰ ＴＤＤの測定項目であ
り、タイムスロットＩＳＣＰも、３ＧＰＰ ＴＤＤの測
定項目である。
【０１２４】ＲＳＣＰ演算部２１０は、測定されたＳＩ
Ｒの信号電力成分からＲＳＣＰを測定する。具体的に
は、ＲＳＣＰは、アロケーションモードに応じて、つま
り、共通ミッドアンブル、デフォルトミッドアンブル、
ＵＥ個別ミッドアンブルに対して、それぞれ、次の（式
１１）、（式１２）、（式１３）、
【数２９】
【数３０】
【数３１】 で求められる。
【０１２５】ＩＳＣＰ演算部２２０は、測定されたＳＩ
Ｒの干渉電力成分からＩＳＣＰを測定する。具体的に
は、ＩＳＣＰは、アロケーションモードに応じて、つま
り、共通ミッドアンブル、デフォルトミッドアンブル、
ＵＥ個別ミッドアンブルに対して、それぞれ、次の（式
１４）、（式１５）、（式１６）、
【数３２】
【数３３】
【数３４】 で求められる。
【０１２６】このように、本実施の形態によれば、ＲＳ
ＣＰおよびＩＳＣＰの測定を、遅延プロファイルと選択
パス位置から、ＳＩＲの測定と並行して同時に行うこと
ができる。
【０１２７】なお、本実施の形態では、ＲＳＣＰとＩＳ
ＣＰの測定をＳＩＲの測定と並行して同時に行うように
しているが、これに限定されるわけではない。たとえ
ば、ＲＳＣＰとＩＳＣＰのいずれか一方のみを測定する
ことも可能である。また、ＳＩＲの測定と並行して同時
に行うことなく、ＲＳＣＰとＩＳＣＰのいずれか一方ま
たは両方をＳＩＲの測定と切り離して独立の構成で測定
することも可能である。
【０１２８】上記各実施の形態に係るＳＩＲ測定装置
は、移動局装置および／または基地局装置に搭載可能で
ある。
【０１２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ＪＤ復調を行うことなく干渉除去後のＳＩＲを受信後短
時間で高精度に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施の形態１に係るＳＩＲ測定装置の
構成を示すブロック図
【図２】図１のＳＩＲ測定部の構成の一例を示すブロッ
ク図
【図３】共通ミッドアンブルのタイムスロットの一例を
示す図
【図４】デフォルトミッドアンブルのタイムスロットの
一例を示す図
【図５】ＵＥ個別ミッドアンブルのタイムスロットの一
例を示す図
【図６】共通ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例
を示す図
【図７】シミュレーション条件の一例を示す図
【図８】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である基本
ＳＩＲ測定特性の一例を示す図
【図９】パス同士の干渉を説明するための図
【図１０】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である補
正後のＳＩＲ測定特性の一例を示す図
【図１１】ロールオフフィルタの影響を説明するための
図
【図１２】フィルタのインパルス応答の波形を示す図
【図１３】同一パスとみなした範囲のチップ数に対する
同一パス内電力と総電力の比（同一パス範囲内電力比）
を示す図
【図１４】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果であるロ
ールオフフィルタの補正を行った後のＳＩＲ測定特性の
一例を示す図
【図１５】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である伝
搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース
１）の一例を示す図
【図１６】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である伝
搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース
２）の一例を示す図
【図１７】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である伝
搬路特性の違いによるＳＩＲ測定特性（動特性ケース
３）の一例を示す図
【図１８】図１５〜図１７の各ケース１〜３の伝搬路特
性を示す図
【図１９】干渉電力測定範囲を拡大した場合における共
通ミッドアンブルの遅延プロファイルの一例を示す図
【図２０】ＳＩＲ測定シミュレーションの結果である遅
延プロファイル長の違いによるＳＩＲ測定特性の一例を
示す図
【図２１】干渉電力測定範囲を拡大した場合におけるデ
フォルト（ＵＥ個別）ミッドアンブルの遅延プロファイ
ルの一例を示す図
【図２２】ミッドアンブルごとにＳＩＲを計算し、それ
を平均する方法における具体的な遅延プロファイルの一
例を示す図
【図２３】ミッドアンブルごとに信号電力と干渉電力を
計算し、それぞれを平均する方法における具体的な遅延
プロファイルの一例を示す図
【図２４】本発明の実施の形態２に係るＳＩＲ測定装置
のＳＩＲ測定部の構成を示すブロック図
【符号の説明】 １１０ アンテナ １２０ 無線受信部 １３０ ＪＤ復調部 １３１ 相関処理部 １３２ 遅延プロファイル作成部 １３３ パス選択部 １３４ ＲＡＫＥ合成部 １３５ ＪＤ演算部 １４０、１４０ａ ＳＩＲ測定部 １４２ 信号電力測定部 １４４ 干渉電力測定部 １４６ 信号電力補正部 １４８ 干渉電力補正部 １５０ ＳＩＲ演算部 ２１０ ＲＳＣＰ演算部 ２２０ ＩＳＣＰ演算部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5K022 EE02 EE14 EE35 5K042 AA06 CA02 DA01 DA04 DA13 EA15 FA11 GA11 5K067 AA21 CC10 EE02 EE10 LL11

Claims (23)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 受信信号に含まれる既知信号を用いて遅
    延プロファイルを作成する作成手段と、 作成された遅延プロファイルを用いて実在するパスを選
    択する選択手段と、 受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成手段と、 作成された遅延プロファイル、選択されたパスの位置、
    およびＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後の
    ＳＩＲを測定する測定手段と、 を有することを特徴とするＳＩＲ測定装置。
  2. 【請求項２】 前記既知信号は、各スロットのミッドア
    ンブル部であることを特徴とする請求項１記載のＳＩＲ
    測定装置。
  3. 【請求項３】 前記測定手段は、 作成された遅延プロファイルおよび選択されたパスの位
    置を用いて信号電力を測定する信号電力測定手段と、 作成された遅延プロファイルおよび選択されたパスの位
    置を用いて干渉電力を測定する干渉電力測定手段と、 測定された信号電力および干渉電力ならびにＲＡＫＥ合
    成後の受信電力を用いて、所定の演算式により、ＳＩＲ
    を演算する演算手段と、 を有することを特徴とする請求項１記載のＳＩＲ測定装
    置。
  4. 【請求項４】 前記測定手段は、 選択されたパス同士の干渉による影響を除去するよう
    に、測定された信号電力を補正する信号電力補正手段、
    をさらに有し、 前記演算手段は、 測定された信号電力に代えて前記信号電力補正手段によ
    って補正された信号電力を用いてＳＩＲの演算を行う、 ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
  5. 【請求項５】 前記測定手段は、 自己相関成分による影響を除去するように、測定された
    干渉電力を補正する第１干渉電力補正手段、をさらに有
    し、 前記演算手段は、 測定された干渉電力に代えて前記第１干渉電力補正手段
    によって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行
    う、 ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
  6. 【請求項６】 前記測定手段は、 受信フィルタによる影響を除去するように、測定された
    干渉電力を補正する第２干渉電力補正手段、をさらに有
    し、 前記演算手段は、 測定された干渉電力に代えて前記第２干渉電力補正手段
    によって補正された干渉電力を用いてＳＩＲの演算を行
    う、 ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
  7. 【請求項７】 前記既知信号が各スロットのミッドアン
    ブル部である場合、前記作成手段は、 自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プ
    ロファイルおよび自ユーザが使用していないミッドアン
    ブルシフトの遅延プロファイルを作成し、 前記第２測定手段は、 自ユーザが使用しているミッドアンブルシフトの遅延プ
    ロファイルおよび自ユーザが使用していないミッドアン
    ブルシフトの遅延プロファイルを用いて干渉電力の測定
    を行う、 ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
  8. 【請求項８】 前記既知信号が各スロットのミッドアン
    ブル部である場合、前記演算手段で用いられる演算式
    は、各アロケーションモードに対応していることを特徴
    とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
  9. 【請求項９】 前記既知信号が各スロットのミッドアン
    ブル部である場合、前記演算手段は、 各アロケーションモードに対応する演算式を記憶する手
    段と、 指定されたアロケーションモードに対応する演算式を選
    択する手段と、を含み、 選択された演算式によりＳＩＲの演算を行う、 ことを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ測定装置。
  10. 【請求項１０】 前記測定手段は、 前記信号電力測定手段によって測定された信号電力を用
    いて受信信号コード電力を測定するＲＳＣＰ測定手段、 をさらに有することを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ
    測定装置。
  11. 【請求項１１】 前記測定手段は、 前記干渉電力測定手段によって測定された干渉電力を用
    いて干渉信号コード電力を測定するＩＳＣＰ測定手段、 をさらに有することを特徴とする請求項３記載のＳＩＲ
    測定装置。
  12. 【請求項１２】 請求項１から請求項１１のいずれかに
    記載のＳＩＲ測定装置を有することを特徴とする移動局
    装置。
  13. 【請求項１３】 請求項１から請求項１１のいずれかに
    記載のＳＩＲ測定装置を有することを特徴とする基地局
    装置。
  14. 【請求項１４】 受信信号に含まれる既知信号を用いて
    遅延プロファイルを作成する作成ステップと、 作成した遅延プロファイルを用いて実在するパスを選択
    する選択ステップと、 受信信号をＲＡＫＥ合成するＲＡＫＥ合成ステップと、 作成した遅延プロファイル、選択したパスの位置、およ
    びＲＡＫＥ合成後の受信電力を用いて干渉除去後のＳＩ
    Ｒを測定する測定ステップと、 を有することを特徴とするＳＩＲ測定方法。
  15. 【請求項１５】 アロケーションモードごとに測定方法
    を切り替えることを特徴とする請求項１４記載のＳＩＲ
    測定方法。
  16. 【請求項１６】 アロケーションモードが共通ミッドア
    ンブルの場合、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測
    定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。 【数１】 ただし、 Ｎp：パス数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力 ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＰRAKE_own：自ユーザの拡散コードによるＲＡＫＥ合成
    後の電力 ＰRAKE_total：各拡散コードによるＲＡＫＥ合成後の電
    力の全拡散コード分の合計電力 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
  17. 【請求項１７】 信号電力に対してパス同士の干渉によ
    る影響を除去するための補正を行い、信号電力に対する
    当該補正後のＳＩＲを、次の式により測定することを特
    徴とする請求項１６記載のＳＩＲ測定方法。 【数２】
  18. 【請求項１８】 干渉電力に対して自己相関成分による
    影響を除去するための補正を行い、干渉電力に対する当
    該補正後のＳＩＲを、次の式により測定することを特徴
    とする請求項１７記載のＳＩＲ測定方法。 【数３】
  19. 【請求項１９】 干渉電力に対して受信フィルタによる
    影響を除去するための補正を行い、干渉電力に対する当
    該補正後のＳＩＲを、次の式により測定することを特徴
    とする請求項１８記載のＳＩＲ測定方法。 【数４】 ただし、 Ｎp'：同一パスとみなされる範囲のパス数
  20. 【請求項２０】 自ユーザが使用しているミッドアンブ
    ルシフトおよび自ユーザが使用していないミッドアンブ
    ルシフトを用いて干渉電力を測定し、干渉除去後のＳＩ
    Ｒを、次の式により測定することを特徴とする請求項１
    ９記載のＳＩＲ測定方法。 【数５】 ただし、 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合 Ｎpk'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされ
    る範囲のパス数 ＤＰk(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチ
    ップ目の電力
  21. 【請求項２１】 アロケーションモードがデフォルトミ
    ッドアンブルの場合、ミッドアンブルごとにＳＩＲを計
    算し、得られた計算結果を平均することにより、次の式
    により、干渉除去後のＳＩＲを測定することを特徴とす
    るＳＩＲ測定方法。 【数６】 【数７】 ただし、 ＳＩＲk：ミッドアンブルｋのＳＩＲ ＮK：多重されている総ミッドアンブルシフト数 Ｋ：多重されている総ミッドアンブルシフトの集合 Ｎpk：ミッドアンブルｋのパス数 Ｎpk'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされ
    る範囲のパス数 Ｎcode,k：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散
    コード数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰk(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチ
    ップ目の電力 ＤＰk(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチ
    ップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合 ＮKown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
    数 ＫOWN：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
    の集合
  22. 【請求項２２】 アロケーションモードがデフォルトミ
    ッドアンブルの場合、ミッドアンブルごとに信号電力お
    よび干渉電力を計算し、それぞれの計算結果を平均する
    ことにより、次の式により、干渉除去後のＳＩＲを測定
    することを特徴とするＳＩＲ測定方法。 【数８】 ただし、 ＮKown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
    数 Ｋown：自ユーザが使用しているミッドアンブルシフト
    の集合 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合 Ｎpk：ミッドアンブルｋのパス数 Ｎpk'：ミッドアンブルｋにおける同一パスとみなされ
    る範囲のパス数 Ｎcode,k：ミッドアンブルｋに割り付けられている拡散
    コード数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰk(i)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｉチ
    ップ目の電力 ＤＰk(j)：ミッドアンブルｋの遅延プロファイルのｊチ
    ップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数
  23. 【請求項２３】 アロケーションモードがＵＥ個別ミッ
    ドアンブルの場合、次の式により、干渉除去後のＳＩＲ
    を測定することを特徴とするＳＩＲ測定方法。 【数９】 ただし、 Ｎp：パス数 Ｎp'：同一パスとみなされる範囲のパス数 Ｎcode：割り付けられている拡散コード数 Ｗ：遅延プロファイル長 ＤＰ(i)：遅延プロファイルのｉチップ目の電力 ＤＰ(j)：遅延プロファイルのｊチップ目の電力 Ｐ：実在パスの集合 ＳＦ：拡散率 ｐｇ：ミッドアンブル部のチップ数 ＮKall：ミッドアンブルシフト数 Ｋall:ミッドアンブルシフトの集合
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