JP2003309523A - 光伝送路障害検出システム - Google Patents
光伝送路障害検出システムInfo
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Abstract
な、複数の網終端装置を備える光通信網においても、障
害のある端末側光伝送路を特定することができる 【解決手段】 検査光反射器1071〜1077は、そ
れぞれ、λ1、λ2、λ3、λ1及びλ2、λ1及びλ
3、λ2及びλ3、λ1〜λ3の波長の検査光を反射す
る。検査光源1021〜1023から同時に出力された
λ1、λ2及びλ3の検査光は、検査光反射器1071
〜1077で反射され、検査光受信器106で受信され
る。検査光反射器1071〜1077は、それぞれ反射
する波長の組み合わせが異なるため、反射された検査光
を検査光受信器106で観測した場合、どの端末側光伝
送路で障害が発生しているかによって、波長毎の光強度
が異なる。
Description
システムに関する。
線の有無を判断する装置として、後方錯乱光測定装置
(OTDR)が知られている。このOTDRは、光ファ
イバの一端(入射点)から入射された光パルスが、光フ
ァイバ中を伝搬する際に生じるレイリー錯乱光のうち、
光パルスの入射点に戻ってくる光の強度を測定し、測定
した光の強度の時間に対する変化率から光損を算出する
装置である。時間を横軸とし、戻ってくるレイリー錯乱
光の強度を縦軸にプロットすると、曲線状のグラフが得
られる。横軸は光ファイバ長に対応すると考えられるた
め、このグラフの傾きは、光ファイバの単位長さに対す
る光損を表すこととなる。そのため、光伝送路が断線し
ていれば、断線した位置に対応するグラフ地点に顕著な
光損特性が現れ、光伝送路の断線の有無を判断すること
ができる。
信網の一例を示したブロック図である。この光通信網
は、局側光終端装置1000と、スターカプラ1001
と、5つの端末側光終端装置1003〜1007とを備
える。局側光終端装置1000及びスターカプラ100
1は、光伝送路1002を介して接続されている。スタ
ーカプラ1001と、端末側光終端装置1003〜10
07はそれぞれ端末側光伝送路1008〜1012を介
して接続されている。
ファイバと複数の出力用光ファイバとを備え、入力用光
ファイバから入射した光の強度を等分し、各出力用ファ
イバに出力する光デバイスである。また、スターカプラ
1001は、光信号を逆方向に伝搬することも可能であ
り、この場合、複数の出力用光ファイバのいずれか1つ
の端子から光信号が入射すると、入射した光を、入力用
光ファイバから出力する。
光通信網の端末側光伝送路の障害検出を上記OTDRを
用いて行う場合、局側光終端装置1000にOTDRを
接続し、局側光終端装置1000から検査光を端末側光
終端装置1003〜1007に向けて出力する。局側光
終端装置から出力された検査光は、光伝送路1002を
伝搬し、スターカプラ1001に到達し、各端末側光伝
送路1008〜1012に伝搬する。そして、各端末側
光伝送路1008〜1012を伝搬する検査光のレイリ
ー錯乱光のうち局側光終端装置に戻ってくる光を測定し
光損を算出する。しかし、局側光終端装置1000に
は、各端末側光伝送路1008〜1012からレイリー
錯乱光が戻ってくるため、特定の端末側光伝送路の光損
を調べることができず、どの端末側光伝送路が断線した
かを特定することができない。
れたものであり、パッシブダブルスター形式の光通信網
のような、複数の網終端装置を備える光通信網において
も、障害のある端末側光伝送路を特定することができる
光伝送路障害検出システムを提供することを目的とす
る。
複数の端末側光終端装置と、光信号を分岐するスターカ
プラと、当該スターカプラを介して端末側光終端装置に
光信号を出力する局側光終端装置と、スターカプラによ
り分岐された光信号を各端末側光終端装置に伝達する複
数の端末側光伝送路とを備え、当該端末側光伝送路の障
害を検出する光伝送路障害検出システムであって、スタ
ーカプラを介して各端末側光伝送路に検査光を出力する
検査光源と、端末側光伝送路毎に設けられ、当該端末側
光伝送路を流れる検査光を受信し、受信した検査光に各
光伝送路毎に異なる処理を施し、処理した検査光を端末
側光伝送路に折り返して出力する検査光折返手段と、折
り返して出力された検査光をスターカプラを介して受信
し、当該検査光をもとに障害のある端末側光伝送路を検
出する障害検出手段とを備えることを特徴とする光伝送
路障害検出システムである。
査光が、端末側光伝送路毎に異なる処理が施され端末側
光伝送路に折り返して出力される。そして、障害検出手
段により、折り返し出力された検査光をもとに障害のあ
る端末側光伝送路が特定される。折返し出力された検査
光は、端末側光伝送路毎に異なる処理が施されているた
め、障害検出手段によって、どの光伝送路に障害が発生
したかを特定することができる。
明において、検査光源は、それぞれ波長の異なる検査光
を出力する複数の検査光源を含み、検査光折返手段は、
端末側光伝送路毎に反射する検査光の組み合わせが異な
るように少なくとも1つの検査光を反射する検査光反射
手段を備え、障害検出手段は、反射された検査光を波長
毎の光強度を基に障害のある端末側光伝送路を検出する
ことを特徴とする。
出力手段より出力され、スターカプラを介して各端末側
光伝送路上を流れる検査光が反射される。この検査光反
射手段は、検査光の反射する波長の組み合わせが異なる
ように少なくとも1つの検査光を反射する。そのため、
検査光源より出力された検査光の波長毎の、検査光反射
手段により反射された検査光の光強度パターンは、障害
が発生している端末側光伝送路によって、異なるパター
ンを示すこととなる。その結果、障害の発生した光伝送
路を特定することが可能となる。
それぞれ反射する光の波長が異なる光反射手段を備える
必要が無くなるとともに、検査光源も、網終端装置毎に
それぞれ異なる波長の検査光を出力する必要がなくな
り、光伝送路障害検出システムの構成をシンプルにする
ことができる。
明において、検査光折返手段のそれぞれは、互いに異な
る第1の設定値に基づいて検査光の遅延特性を変化させ
る端末側光特性変化手段を備え、障害検出手段は、端末
側光特性変化手段により変化された検査光の遅延特性を
第2の設定値に基づいて更に変化させる局側光特性変化
手段と、当該局側光特性変化手段により出力された検査
光を受信する検査光受信手段とを備えることを特徴とす
る。
第1の設定値に基づいて特性が変化された検査光は、局
側光特性変化手段により、第2の設定値に基づいて更に
特性が変化される。第1の設定値は、それぞれ端末側光
伝送路毎に異なる設定値が設定されている。第1及び第
2の設定値が等しい端末側特性変化手段及び局側特性変
化手段を通過した検査光と、第1及び第2の設定値が異
なる局側光特性変化手段及び端末側光特性変化手段を通
過した検査光は、それぞれ異なる特性をもって検査光受
信手段に出力される。そのため、第2の設定値を端末側
光特性変化手段に設定された第1の設定値に順次一致さ
せ、検査光出力により受信される検査光の強度を観測す
ることにより、いずれの光伝送路に障害が発生したかを
検出することができる。また、この構成によれば1つの
波長の検査光を用いて、障害のある端末側光伝送路を特
定することができる。
伝送路障害検出システムにおいて、端末側光特性変化手
段は、2個の出力端と、受信した光を第1の設定値に基
づいて所定時間遅延させる第1の光路と、当該第1の光
路と並列接続された第2の光路と、第1及び第2の光路
から出力された光が干渉性を有する場合、両光を合成
し、合成した光を一方の出力端のみから出力するととも
に、第1及び第2の光路から出力された光が干渉性を有
さない場合、両光を両出力端に分岐して出力する光分配
手段とを備え、局側光特性変化手段は、2個の出力端子
と、受信した光を第2の設定値に基づいて所定時間遅延
させる第3の光路と、当該第3の光路と並列接続された
第4の光路と、第3及び第4の光路から出力された光が
干渉性を有する場合、両光を合成し、合成した光を一方
の出力端のみから出力するとともに、第3及び第4の光
路から出力された光が干渉性を有さない場合、両光のそ
れぞれを両出力端に分岐して出力する光分配手段とを備
え、検査光受信手段は、局側光特性光変化手段の両出力
端から出力された検査光の差分をとることを特徴とす
る。
た検査光は、第1の光路により、第1の設定値に基づい
て所定時間遅延されるとともに、第2の光路により、遅
延されずに光分配手段へと導かれる。そして、光分配手
段により、第1の光路を通過した検査光と、第2の光路
を通過した検査光とは、それぞれ、2個の出力端に分配
されて出力される。したがって、両出力端のそれぞれか
ら出力された検査光は、第1の光路により遅延された検
査光と、第2の光路により遅延されていない検査光とを
含むこととなる。そして、両入力端のうち一方の入力端
から出力された検査光は、局側光特性変化手段に入力さ
れる。局側特性変化手段に入力された検査光は、第3の
光路により所定時間遅延されるとともに、第4の光路に
より遅延されずに、光分配手段に導かれる。ここで、局
側光特性変化手段に入力された検査光は、端末側光特性
変化手段により所定時間遅延された検査光と遅延されて
いない検査光とを含むため、端末側光特性変化手段と局
側光特性変化手段との遅延時間が一致している場合、第
3の光路を通過した検査光と第4の光路を通過した検査
光の一部は、それぞれ干渉し、一方の出力端から出力さ
れることとなる。一方、遅延時間の異なる局側光特性変
化手段及び端末側光特性変化手段を通過した検査光は、
干渉性を有さないため、分岐手段により、両出力端子か
ら分岐されて出力される。そして、検査光受信手段は、
両出力端子から出力された検査光の差分をとるため、両
出力端子から分岐して出力された検査光を相殺するが、
干渉性を有し両出力端のうち一方の出力端のみから出力
された検査光を相殺しない。そのため、障害のある端末
側光伝送路を特定することができる。
伝送路障害検出システムにおいて、端末側光特性変化手
段は、並列接続され、かつ、それぞれ異なる遅延時間が
設定された複数の光遅延器を備え、光遅延器の各設定値
は第1の設定値に基づいて設定され、局側光特性変化手
段は、並列接続され、かつ、それぞれ異なる遅延時間が
設定された複数の光遅延器を備え、光遅延器の各設定値
は第2の設定値に基づいて設定されることを特徴とす
る。
時間が設定された光遅延器は、光符号拡散器と呼ばれ
る。この光符号拡散器に例えば光パルス入射すると、こ
の光パルスは、それぞれ異なる遅延時間が設定された光
遅延器を通過するため、光パルス列となって出力され
る。この光パルス列を符号拡散形式と呼ぶ。光符号拡散
器は、符号拡散形式の等しい符号拡散器より出力された
検査光を受信した場合、この検査光を重畳させ、各検査
光を集中させ、強い光を出力する。一方、光符号拡散器
は、符号拡散形式の異なる光符号拡散器より出力された
検査光を受信した場合、受信した検査光の光強度を分散
させて出力する。そのため、検査光受信器は、符号形式
が共に等しい端末側光符号拡散器及び局側光符号拡散器
を通過した検査光を受信した場合、強度の強い検査光を
受信するが、符号形式が異なる端末側光符号拡散器及び
局側光符号拡散器を通過した検査光を受信した場合、強
度の弱い検査光を受信することとなる。したがって、局
側光特性変化手段の光符号拡散器の設定値を端末側光符
号拡散器の設定値に順次一致させ、網側終端装置の光符
号拡散器から出力される検査光を検査光受信器で観測す
ることにより、どの光伝送路に障害が発生したかを特定
することができる。
に係る光伝送路障害検出システムの第1の実施形態のブ
ロック構成図を示している。この光伝送路障害検出シス
テムは、局側光終端装置101と、3個の検査光源10
21〜1023と、スターカプラ104と、7個の検査
光反射器1071〜1077と、7個の端末側光終端装
置1081〜1087を主な構成要素としている。
3及び光伝送路105を介してスターカプラ104に接
続されている。スターカプラ104には、7本の端末側
光伝送路1061〜1067が接続されている。端末側
光伝送路1061〜1067には、それぞれ検査光反射
器1071〜1077が接続されている。検査光反射器
1071〜1077には、それぞれ端末側光終端装置1
081〜1087が接続されている。光カプラ1033
には、光カプラ1032を介して検査光受信器106が
接続されている。光カプラ1033には、光カプラ10
31及び1032を介して3個の検査光源1021〜1
023が接続されている。
1〜1067は、単一モード光ファイバ(single mood
fiber;SMF)であり、全て同等の基本特性を備えて
いる。基本特性とは、単位長さあたりの光損、遮断周波
数及び分散特性をいう。
の波長の光を反射するが、それ以外の波長の光を透過す
る性質を有する光素子であり、本実施形態では、FBG
(fiber bragg grating)が使用されている。FBG
は、反射率が高い、透過光損が小さい、小型軽量である
などの優れた特徴がある。以下の説明においては、例え
ば波長λの光を反射するFBGをλのFBGと言う。検
査光反射器1071〜1077は、3種類の波長λ1、
λ2及びλ3のFBGの組み合わせからなり、その組み
合わせは全て異なる。また、3種類の波長λ1、λ2及
びλ3は、局側光終端装置101から出力される光とは
波長帯域が異なる。
2及びλ3とすると、検査光反射器1071はλ1のF
BGを含み、検査光反射器1072はλ2のFBGを含
み、検査光反射器1073はλ3のFBGを含み、検査
光反射器1074はλ1のFBG及びλ2のFBGを含
み、検査光反射器1075はλ1のFBG及びλ3のF
BGを含み、検査光反射器1076はλ2のFBG及び
λ3のFBGを含み、検査光反射器1077はλ1のF
BG、λ2のFBG及びλ3のFBGを含む。
し、検査光源1022は波長λ2の光を発生し、検査光
源1023は波長λ3の光を発生する。なお、検査光源
1021〜1023の発生する光は、連続光及びパルス
光のいずれを出力してもよい。検査光源1021〜10
23の光は、光カプラ1031によって合波される。本
実施形態では、光カプラ1031はスターカプラである
が、WDM(wavelengthdivision multiplexing;波長
分割多重)カプラであってもよい。
光とを合波するための光カプラであり、本実施形態で
は、波長λ1と波長λ2と波長λ3と局側光終端装置1
01の通信用信号光とを合波及び分波することができる
WDMカプラが用いられる。なお、光カプラ1033と
しては、WDMカプラに代えて3dB(デシベル)カプ
ラを用いてもよい。光カプラ1033として、3dBカ
プラを用いる場合は、局側光終端装置101側への光の
逆流を防止するために、局側光終端装置101と光カプ
ラ1033との間に光アイソレータなどを挿入すればよ
い。
接近させることにより光が相互に結合するようにした光
デバイスであり、基本的には入力用の2端子と出力用の
2端子をもつ4端子の光デバイスである。ただし、構造
の対称性から、入力側と出力側とはと特性上の区別はな
い。
る。入力端子のいずれかに光が入射したときは、出力用
の2端子には、同一の強度の光が出力される。その強度
は入射光の半分であるため、3dBカプラと言われる。
入力用の2端子の両方から光が同時に入射する場合に
は、光の干渉性によって結果が異なる。干渉性のない光
が入力用の2端子から同時に入射する場合は、一つの端
子から入射する場合の単純な重ね合わせであるため、出
力用の2端子には同じ強度の光が出力される。干渉性の
ある光が2つの入力端子から入射した場合には、出力端
子の一方の端子のみから出力される。2つの端子のうち
どちらから出力されるかは、光の結合部に到達した2つ
の光の位相関係によって決まる。すなわち、光の位相が
同位相で加わるか、あるいは逆位相で加わるかによって
決まる。
ある。光サーキュレータは、第1〜第3の3つのポート
を持つ光デバイスであり、第1のポートに入射した光
は、第2のポートから出力され、第2のポートに入射し
た光は、第3のポートから出力される。本実施形態で
は、光カプラ1032の第1のポートには、光カプラ1
031が接続されている。光カプラ1032の第2のポ
ートには、光カプラ1033の一端が接続されている。
光カプラ1032の第3のポートには、検査光受信器1
06が接続されている。なお、光カプラ1032として
は、光サーキュレータに代えて3dBカプラを用いても
よい。
度を測定可能な装置であって、本実施形態では光スペク
トルアナライザ(光SP)が使用されている。
について説明する。
光源1021から送出された波長λ1の光は、光カプラ
1031、1032、1033、光伝送路105、スタ
ーカプラ104を通過して、端末側光伝送路1061〜
1067に分配され、検査光反射器1071〜1077
に到達する。検査光反射器1071、1074、107
5及び1077には、λ1のFBGが含まれているた
め、波長λ1の光は、検査光反射器1071、107
4、1075及び1077により反射され、図1で示す
光伝搬方向とは逆方向(逆伝搬方向)に伝搬される。
された波長λ1の光は、光カプラ1033に入射した
後、光カプラ1032の第2ポートに入射する。次い
で、波長λ1の光は、光カプラ1032の第3のポート
から出力され、検査光受信器106に入力される。以
下、説明の便宜上、各検査光反射器1071〜1077
により反射された検査光の強度は同一の値1Pであると
する。本実施形態では、端末側光伝送路1061〜10
67に異常がない場合、波長λ1の光は、検査光反射器
1071、1074、1075及び1077で反射され
るため、検査光受信器106により4Pの強度が示され
る。また、端末側光伝送路1061〜1067に異常が
ない場合、検査光源1022及び1023からそれぞれ
出力される波長λ2及びλ3の光も波長λ1の光と同様
に、それぞれ4個の検査光反射器により反射されるた
め、検査光受信器106により、それぞれ4Pの強度が
示される。したがって、検査光源1021〜1023か
らそれぞれ波長λ1、λ2及びλ3の光を同時に出力す
ると、検査光受信器106は、波長λ1、λ2及びλ3
の検査光に対してそれぞれ4Pの強度を示す。この状態
を(4P、4P、4P)と表す。
のうちのどれか1本が断線した場合を考える。例えば端
末側光伝送路1061が断線した場合、波長λ1の光が
検査光反射器1071によって反射されないため、光伝
送路105を逆方向に伝搬される光の強度が1P分減少
する。したがって、検査光受信器106は、状態(3
P、4P、4P)を示す。同様に、端末側光伝送路10
62〜1067が順次断線したとすると、検査光受信器
106は、(4P、3P、4P)、(4P、4P、3
P)、(3P、3P、4P)、(3P、4P、3P)、
(4P、3P、3P)、(3P、3P、3P)の状態を
示す。
によれば、断線のある端末側光伝送路1061〜106
7によって、検査光受信器106の観測する状態(スペ
クトル)が全て異なるため、どの光伝送路が断線したか
を知ることができる。
により反射される光の強度は、同一にする必要はない
が、検査光反射器1071〜1077の手前に光の減衰
量を調節することができる光減衰器を挿入すれば、各検
査光反射器1071〜1077により反射される光の強
度を同一にすることができる。
伝送路障害検出システムの第2の実施形態のブロック構
成図である。本光伝送路障害検出システムは、局側装置
210と、局側装置210と光伝送路250を介して接
続されたスターカプラ240と、スターカプラ240と
それぞれ端末側光伝送路230を介して接続された複数
の端末側装置220とを備える。
と、検査光源212と、WDMカプラ213と、光カプ
ラ214と、局側光干渉系215と、検査光受信器21
6とを備える。
13及び光伝送路217を介して光カプラ214と接続
されている。検査光受信器216は、局側光干渉系21
5を介して光カプラ214と接続されている。検査光源
212は、WDMカプラ213と接続されている。
光カプラ222と、端末側光干渉系223と、端末側光
終端装置224とを備える。光カプラ221は、端末側
光伝送路230と接続されている。端末側光終端装置2
24は、光カプラ222を介して光カプラ221と接続
されている。端末側光干渉系223は、光カプラ222
と光カプラ221との間に接続された折返しループ22
5上に接続されている。
査光とを合波して光伝送路217に出力する。なお、W
DMカプラ213としては、3dBカプラを用いてもよ
い。
通信用信号光と検査光とを端末側光伝送路230に出力
し、戻ってきた検査光を取り出すための光カプラであ
る。
り、検査光を元の光伝送路250に戻すための光カプラ
である。なお、光カプラ221は、光サーキュレータに
代えて、3dBカプラを用いてもよい。
つの光入力端などを備え、両入力端から入射した光を、
光電変換素子によりそれぞれ電気信号に変換し、両電気
信号の強度差(差分値)をモニタなどに出力する。検査
光受信器216としては、光電変換素子として、周知の
バランストレシーバを用いる。
構成図を示している。端末側光干渉系223は、光入力
端301a及び308aと、3dBカプラ302aと、
光遅延器303aと、光導波路304aと、3dBカプ
ラ305aと、光出力端306a及び307aとを備え
る。光入力端301a及び308aは、3dBカプラ3
05aに接続されている。光出力端306a及び307
aは、3dBカプラ305aと接続されている。3dB
カプラ302aと3dBカプラ305aとは、光遅延器
303aを介して接続されている。光導波路304a
は、光遅延器303aと並列接続されている。
個の光入力端と2個の光出力端とを備え、両光入力端子
に、干渉性のない光が同時に入力されると、これらの光
強度を2分岐して、両光出力端から強度の等しい光を出
力する。一方、3dBカプラ302a及び305aは、
干渉性のある光が両入力端に入力されると、一方の出力
端子のみから光を出力する。
する。光入力端301aよりスーパルミネセントダイオ
ード光のようなコヒーレンスがあまり高くない光を入射
すると、入射した光は、3dBカプラ302aにより強
度の等しい2つの光に分岐される。一方の光は、光遅延
器303aを通過し、他方の光は光導波路304aを通
過する。3dBカプラ302a、光遅延器303a及び
3dBカプラ305a間の光路R1と、3dBカプラ3
02a、光導波路304a及び3dBカプラ305a間
の光路R2との光路長の差が無い場合(光遅延器303
aによる遅延が無い場合)、光路R1を通過した光と光
路R2とを通過した光とは、干渉性を有するため、3d
Bカプラ305aで合成され、光出力端306aから出
力される。一方、光路R1と光路R2との間に、光路差
がある場合、両光は、干渉性を有しないため、それぞれ
等しい強度の光に2分岐され、光出力端306a及び光
出力端307aから出力される。
23と構成を同一とする。以下の説明では、端末側光干
渉系223に対応する局側光干渉系215の同一名称の
部品は、「b」の番号を付して説明する。また、端末側光
干渉系223の光路R1及びR2に対応する局側光干渉
系215の光路は、光路R3及びR4とする。局側光干
渉系215の光遅延器303bは、光遅延時間を調節す
ることができる可変式のものを採用する。また、端末側
光干渉系223は、端末側装置220毎に異なる光路長
差を有するものとする。端末側装置220毎に異なる光
路長差を持たせることは、光遅延量が可変な光干渉系の
光遅延器を半固定で用いることにより、容易に実現でき
ることであり、装置のコスト低減にもつながる。
ムの動作について説明する。検査光源212から出力さ
れた検査光は、WDMカプラ213、光カプラ214、
光カプラ221、光カプラ222を順番に通過し、折返
しループ225を通って端末側光干渉系223に入射す
る。端末側干渉系223から出力された検査光は、更
に、光カプラ221、端末側光伝送路230、光カプラ
214を通過し、局側光干渉系215に入射する。そし
て、局側光干渉系215から出力された検査光は、検査
光受信器216に入射し、電気信号に変換される。
を例に挙げて、光伝送路障害検出システムの動作の詳細
な説明を行う。検査光源212から出力された検査光
は、端末側光干渉系223に入射する。端末側光干渉系
223に入射するまでは、検査光は、単一の光パルスで
ある。そして、検査光が端末側光干渉系223に入射す
ると、図4(a)に示すように、3dBカプラ302a
により2分岐される。光路R1を通過する光は、光遅延
器303aにより所定時間遅延され(遅延時間T)、3
dBカプラ305aに到達する。一方、光路R2を通過
する光は、遅延されることなく3dBカプラに到達す
る。したがって、検査光は、端末側光干渉系223によ
り、光パルスX1と、光パルスX1に対してT時間ずれ
た光パルスX2との2つの光パルスとなって出力され
る。そして、光パルスX1及びX2は、局側光干渉系2
15に到達し、光入力端301bを介して3dBカプラ
302bに入射する。3dBカプラ302bに入射した
光パルスX1及びX2は、光入力端308bから干渉性
のある光パルスが入力されていないため、図4(b)に
示すように、それぞれ強度の等しい光パルスに2分岐さ
れる。ここでは、光パルスX1は、光パルスX11及び
X12に、光パルスX2は、光パルスX21及びX22
に2分岐されたとする。したがって、光路R1には、光
パルスX11及びX21が、光路R2には、光パルスX
21及びX22が存在する。光遅延器303a及び30
3bの遅延時間が等しい場合、光パルスX11は、光パ
ルスX12に対してT時間ずれて3dBカプラに到達
し、光パルスX21は、光パルスX22に対して、T時
間ずれて3dBカプラ305bに到達する。光パルスX
12及びX21は、単独で3dBカプラ305bに到達
するため、それぞれ2分岐されて、検査光受信器216
に入射するが、光パルスX11及びX22は、同時に3
dBカプラ305bに到達するため、ともに干渉して光
出力端306bのみに干渉した光が出力される。そのた
め、検査光受信器216は、光パルスX11及びX22
が干渉した光パルスについて、両入力端子間の電気信号
の差分値を出力することができる。
延時間とが異なる場合(光路長差が異なる場合)、3d
Bカプラ305bへの光パルスの到達時刻が全て異なる
ため、光出力端306b及び307bには、それぞれ4
つの光パルス列が出力される。そのため、検査光受信器
216は、両入力端子間の電気信号の差分値を出力する
ことができない。
るためには、以下のような構成とする。端末側光干渉系
223の光遅延時間は、それぞれ異なるものとする。局
側光干渉系215の光遅延時間は可変であって、各端末
側装置220の端末側光干渉系223の光遅延時間に一
致できる構造とする。
光遅延時間を調節し、各端末側装置220の光遅延時間
に順次合わせる。端末側光伝送路230に障害があれ
ば、障害のある端末側光伝送路230の端末側装置22
0の遅延時間と同一の遅延時間を局側光干渉系215の
遅延時間として設定したとき、検査光受信器216は電
気信号を出力しないため、障害のある端末側光伝送路2
30を特定することができる。
したが、干渉性のある光が3dBカプラに到達するか否
かが要点であるので、連続光を用いても端末側光伝送路
230の障害を検出することが可能である。
5は、検査光受信器216の手前に接続されているが、
検査光源212とWDMカプラ213との間に接続して
もよい。
びWDMカプラ213間に接続してもよい。この場合、
光カプラ214を光サーキュレータとすることによっ
て、光損を小さくすることができる。
223を図5に示すような構成にしてもよい。図5に示
す光干渉系は、WDMカプラ401と、3dBカプラ4
02と、光遅延器403と、光導波路404と、光反射
体405及び406とを備える。WDMカプラ401及
び光反射体405間には、3dBカプラ402、光遅延
器403が順番に接続されている。また、3dBカプラ
402の一方の光出力端には、光反射体406が光導波
路404を介して接続されている。
カプラ401により波長に応じて分割され、3dBカプ
ラ402により2分岐される。2分岐された光はそれぞ
れ光遅延器403及び光導波路404を通過し、光反射
体405及び406で反射され、元の光伝送路250を
引き返す。したがって、3dBカプラ402で合波され
た光は、片道の2倍の光遅延量を有することとなる。
路障害検出システムの第3の実施形態のブロック構成図
である。本光伝送路障害検出システムは、図2に示す光
伝送路障害検出システムにおいて、局側光干渉系215
に代えて局側光符号拡散器502を、端末側光干渉系2
23に代えて、端末側光符号拡散器501を接続してい
る。
ック構成図である。端末側光符号拡散器501は、光入
力端601aと、スターカプラ602a及び603a
と、4個の光遅延器604a〜607aと、光出力端6
08aとを備える。光入力端601aは、スターカプラ
602aに接続されている。光出力端608aは、スタ
ーカプラ603aに接続されている。スターカプラ60
2a及びスターカプラ603a間には、光遅延器604
a〜607aが並列に接続されている。スターカプラ6
02a及び603aは、1対Nのスターカプラであり、
本実施形態では、N=4のスターカプラを用いる。光遅
延器604a〜607aは、それぞれ光遅延時間が異な
る。光路R4a〜R7aのそれぞれの光路長は、光遅延
器604a〜607aにより調節することができる。こ
の場合、各光路R4a〜R7aの光パルスの遅延時間
は、時間Tの整数倍となるように設定する。時間Tは、
例えばナノセカンドオーダーである。
は、光路R4a〜R7aを通過すると、光遅延器604
a〜607aの設定によって、4つの時間差をもった光
パルス列に変換される。光路R4a〜R7aの光遅延器
604a〜607aの設定の仕方によって、光出力端6
08aから出力される4つの光パルスは、時間軸上の並
び方が変わる。この光パルスの時間軸上の並び方のこと
を符号形式という。
述べる性質を持っている。光符号拡散器通過した光は、
光パルス列となって、時間軸上で分散して出力される
(符号拡散)。光符号拡散器から出力した光パルス列
は、再度同じ符号形式の光符号拡散器を通過すると、非
コヒーレントな光のパワーの加算が起こり、パルス列の
時間軸上の中央部に光のパワーが集中し、ピーク強度の
強い光信号となる。一方、光符号拡散器から出力した光
パルス列は、異なる符号形式の光符号拡散器を通過する
と、光パワーの集中が起こらず、雑音的な光信号、すな
わち、ピーク強度の弱い光信号となる。
ついて行ったが、一定周期の光パルス列とすると、検査
光受信器216の感度が上昇するため好ましい。ただ
し、光符号拡散器に入射する光パルス列の周期は、光符
号拡散器によって形成される光パルス列の周期よりも十
分に大きいとする。
拡散器501と構成を同一とする。したがって、端末側
光符号拡散器501に対応する局側光符号拡散器502
の同一名称の部品は、「b」の番号を付して説明する。ま
た、端末側光符号拡散器501の光路R4a〜R7aに
対応する局側光符号拡散器502の光路は、光路R4b
〜R7bとする。
ムの動作について説明する。検査光源212より出力さ
れた検査光は、WDM213、光カプラ214及び光カ
プラ221を通過して光カプラ222に入射する。検査
光は、光カプラ221により、通信用信号光と分離さ
れ、端末側光符号拡散器501に入射し、符号拡散され
る。符号拡散された検査光は、光カプラ221により、
端末側光伝送路230に戻され、光カプラ214に入射
し、局側光符号拡散器502を経て、検査光受信器21
6に入射する。
光符号拡散器を2回通過している。そのため、光符号拡
散器の性質により、局側光符号拡散器502の符号形式
と端末側光符号拡散器501の符号形式とが一致してい
れば、検査光は、一定の強度以上の強度をもった光に変
換され、検査光受信器216に出力される。一方、局側
光符号拡散器502の符号形式と端末側光符号拡散器5
01との符号形式が一致していない場合、検査光は、雑
音的な光信号に変換され、検査光受信器216に出力さ
れる。
強度が所定強度以上であれば、電気信号を出力する。し
たがって、検査光受信器216は、局側光符号拡散器5
02と端末側光符号拡散器501との符号形式が一致し
ていなければ、ピーク強度が所定強度以下である雑音的
な光信号を受信するため、電気信号を出力しない。一
方、検査光受信器216は、局側光符号拡散器502と
端末側光符号拡散器501との符号形式が一致している
場合は、ピーク強度が所定強度以上の光信号を受信する
ため、電気信号を出力する。そのため、局側光符号拡散
器502と端末側光符号拡散器501との符号形式の一
致の有無を判別することができる。
理を用いて、次のような構成により端末側光伝送路23
0の障害を検出する。端末側光符号拡散器501の光符
号形式は、各々異なるものとする。局側光符号拡散器5
02の光符号形式は、可変であって端末側光符号拡散器
501光符号形式に一致させることができる構造とす
る。
502の光符号形式を変え、複数の端末側光符号拡散器
501の光符号形式に順次合わせる。スターカプラより
端末側光終端装置側の伝送路に障害があれば、所定の光
符号形式に対して電気信号が出力されないため、障害の
ある端末側光伝送路230を特定することができる。
502は、検査光受信器216の手前に接続されている
が、検査光源212とWDMカプラ213との間に接続
してもよい。また、光カプラ214を、検査光源212
とWDMカプラ213との間に接続してもよい。この場
合、光カプラ214を光サーキュレータとすることによ
り本光伝送路障害検出システムの光損を小さくすること
ができる。
光折返手段により、受信した検査光に対し、端末側光伝
送路毎に異なる処理が施され、端末側光伝送路に折返し
出力され、折返し出力された検査光をもとに障害を検出
するため、パッシブダブルスター形式のような光通信網
においても障害の発生した端末側光伝送路を特定するこ
とができる。
1の実施形態のブロック構成図である。
2の実施形態のブロック構成図である。
る。
(a)は端末側光干渉系を、(b)は局側光干渉系を示
している。
である。
施形態のブロック構成図である。
器のブロック構成図である。
を示した図である。
ラ 303a 303b 光遅延器 304a 304b 光導波路 306a 306b 307a 307b 光出力端 401 WDMカプラ 402 3dBカプラ 403 光遅延器 404 光導波路 405 406 光反射体 501 端末側光符号拡散器 502 局側光符号拡散器 601a 608a 601b 608b 光入力端 602a 602b 603a 603b スターカプ
ラ 604a〜607a 604b〜607b 光遅延器 1000 局側光終端装置 1001 スターカプラ 1002 光伝送路 1003〜1007 端末側光終端装置 1008〜1012 端末側光伝送路
Claims (5)
- 【請求項1】 複数の端末側光終端装置と、光信号を分
岐するスターカプラと、当該スターカプラを介して前記
端末側光終端装置に光信号を出力する局側光終端装置
と、前記スターカプラにより分岐された光信号を各端末
側光終端装置に伝達する複数の端末側光伝送路とを備
え、当該端末側光伝送路の障害を検出する光伝送路障害
検出システムであって、 前記スターカプラを介して各端末側光伝送路に検査光を
出力する検査光源と、 前記端末側光伝送路毎に設けられ、当該端末側光伝送路
を流れる検査光を受信し、受信した検査光に各光伝送路
毎に異なる処理を施し、処理した検査光を前記端末側光
伝送路に折り返して出力する検査光折返手段と、 前記折り返して出力された検査光を前記スターカプラを
介して受信し、当該検査光をもとに障害のある端末側光
伝送路を検出する障害検出手段とを備えることを特徴と
する光伝送路障害検出システム。 - 【請求項2】 前記検査光源は、それぞれ波長の異なる
検査光を出力する複数の検査光源を含み、 前記検査光折返手段は、前記端末側光伝送路毎に反射す
る検査光の組み合わせが異なるように少なくとも1つの
検査光を反射する検査光反射手段を備え、 前記障害検出手段は、反射された検査光を波長毎の光強
度を基に障害のある端末側光伝送路を検出することを特
徴とする請求項1記載の光伝送路障害検出システム。 - 【請求項3】 前記検査光折返手段のそれぞれは、互い
に異なる第1の設定値に基づいて検査光の遅延特性を変
化させる端末側光特性変化手段を備え、 前記障害検出手段は、前記端末側光特性変化手段により
変化された検査光の遅延特性を第2の設定値に基づいて
更に変化させる局側光特性変化手段と、当該局側光特性
変化手段により出力された検査光を受信する検査光受信
手段とを備えることを特徴とする請求項1記載の光伝送
路障害検出システム。 - 【請求項4】 前記端末側光特性変化手段は、2個の出
力端と、受信した光を前記第1の設定値に基づいて所定
時間遅延させる第1の光路と、当該第1の光路と並列接
続された第2の光路と、前記第1及び第2の光路から出
力された光が干渉性を有する場合、両光を合成し、合成
した光を一方の出力端のみから出力するとともに、前記
第1及び第2の光路から出力された光が干渉性を有さな
い場合、両光を両出力端に分岐して出力する光分配手段
とを備え、 前記局側光特性変化手段は、2個の出力端子と、受信し
た光を前記第2の設定値に基づいて所定時間遅延させる
第3の光路と、当該第3の光路と並列接続された第4の
光路と、前記第3及び第4の光路から出力された光が干
渉性を有する場合、両光を合成し、合成した光を一方の
出力端のみから出力するとともに、前記第3及び第4の
光路から出力された光が干渉性を有さない場合、両光の
それぞれを両出力端に分岐して出力する光分配手段とを
備え、 前記検査光受信手段は、前記局側光特性光変化手段の両
出力端から出力された検査光の差分をとることを特徴と
する請求項3記載の光伝送路障害検出システム。 - 【請求項5】 前記端末側光特性変化手段は、並列接続
され、かつ、それぞれ異なる遅延時間が設定された複数
の光遅延器を備え、前記光遅延器の各設定値は前記第1
の設定値に基づいて設定され、 前記局側光特性変化手段は、並列接続され、かつ、それ
ぞれ異なる遅延時間が設定された複数の光遅延器を備
え、前記光遅延器の各設定値は前記第2の設定値に基づ
いて設定されることを特徴とする請求項3記載の光伝送
路障害検出システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002112589A JP4057333B2 (ja) | 2002-04-15 | 2002-04-15 | 光伝送路障害検出システム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2002112589A JP4057333B2 (ja) | 2002-04-15 | 2002-04-15 | 光伝送路障害検出システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003309523A true JP2003309523A (ja) | 2003-10-31 |
JP4057333B2 JP4057333B2 (ja) | 2008-03-05 |
Family
ID=29395047
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP4057333B2 (ja) |
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- 2002-04-15 JP JP2002112589A patent/JP4057333B2/ja not_active Expired - Fee Related
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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