JP3064913B2 - 光伝送路障害点検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】光伝送システムの伝送路の障
害地点検出に関し、特に伝送路の途中に受動光分岐回路
を配置し、１台の光伝送装置と複数の光伝送装置間で通
信を行うパッシブ・オプティカル・ネットワーク（Ｐａ
ｓｓｉｖｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｎｅｔｗｏｒｋ：ＰＯ
Ｎ）の伝送路の損失測定や、障害地点を検出する装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】ＰＯＮシステムにおいて光パルス試験装
置、光合分波器及び光フィルタを用いて、光伝送路の障
害地点を検出装置として、例えば、ＵＳ Ｐａｔｅｎｔ
１，１７７，３５４に記載されているものが知られて
いる。

【０００３】図８は、ＵＳ Ｐａｔｅｎｔ ５，１７
７，３５４に記載されている装置の構成図を示してい
る。

【０００４】光送信器１から出力される信号光（波長λ
Ｓ）は、伝送路障害点検出装置７から出力されるパルス
状の光である試験光（波長λＯ ＴＤＲ）とＷＤＭカプ
ラ１１で合波され、光ファイバ２を伝送させ、ｎ（２以
上の整数）個の出力光ポートを有する光分岐回路６に入
力される。

【０００５】光分岐回路６で、信号光と試験光はｎ分岐
され、それぞれ伝送路４−１〜４−ｎを伝送される。受
信端において、伝送路４−１〜４−ｎを伝送して来た信
号光と試験光は光フィルタ１２−１〜１２−ｎに入力さ
れる。信号光は、これらの光フィルタを透過され、光受
信器５−１〜５−ｎに入力される。一方、試験光は、光
フィルタにより反射され、再び伝送路４−１〜４−ｎに
入力され、光分岐回路６で合波され、光ファイバ２に再
び伝送させ、ＷＤＭカプラ１１を化して伝送路障害点検
出装置に戻される。

【０００６】次に、この伝送路障害点検出装置の動作に
ついて、図９を参照しながら説明する。伝送路障害点検
出装置に入力する試験光は、伝送路からの後方散乱光
（レーリー散乱光）と光フィルタ１２−１〜１２−ｎか
らの反射光である。伝送路障害点検出装置から出力され
るパルス光の出力時間から、この後方散乱光と反射光の
受信するまでの時間と、後方散乱光と反射光の光パワー
を測定することにより、図９に示す特性が得られる。

【０００７】図９では、光送信器１の位置を基準に、光
分岐回路６、光受信器５−１，５−２，５−ｎまでの距
離をそれぞれＬ１，Ｌ４，Ｌ５，Ｌ６（Ｌ１＜Ｌ４＜Ｌ
５＜Ｌ６）としている。図中、実線は伝送路４−１〜４
−ｎに障害が無い場合に得られる特性であり、破線は伝
送路４−２に障害として破断点が１カ所有る場合を示し
ている。障害点の検出は、実線と破線を比較することに
より行っている。具体的には、伝送距離Ｌ５での反射点
が消滅していることにより、光ファイバ４−２のどこか
で障害が生じていることが判り、また、破線に、伝送距
離Ｌ１とＬ４との間に実線では見られなかった伝送損失
の減少を示す輝線が現れることにより、この輝線に位置
において、光ファイバ４−２が破断したことが判る。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上述の従来の技術にお
ける問題点は、障害点が複数箇所有る場合に、その特定
が困難であることである。

【０００９】その理由を、図７を参照しながら説明す
る。図７では、光ファイバ４−１と４−２の光送信器か
らの伝送距離Ｌ１とＬ４との間にそれぞれ１カ所ずつ破
断点が有る場合を示している。この場合、伝送路に全く
障害が無い場合には得られる実線と比較し、伝送距離Ｌ
４とＬ５での反射光が無くなったことにより、光ファイ
バ４−１と４−２に障害が有ることは判る。

【００１０】このとき、伝送距離Ｌ２，Ｌ３の位置に伝
送路の破断を示す輝線が得られる。しかしながら、この
２カ所の破断点において、伝送距離Ｌ２の破断点が光フ
ァイバ４−１であるか、光ファイバ４−２であるかが判
らず、同様に伝送距離Ｌ３の破断点が光ファイバ４−
１，４−２のどちらであるかは断定できない。従来の技
術では、伝送路中に光分岐回路を有するＰＯＮシステム
において、複数の障害点を検出することは不可能であ
る。

【００１１】本発明の目的は、ＰＯＮシステムにおい
て、伝送路中に複数の障害点が有る場合に、どの伝送路
のどの位置かを断定するという性能を向上することと、
いかなる障害点検出を可能とするという保守性向上する
ことである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上述の欠点を除去するた
めに、本発明の光伝送路障害点検出装置は、信号光を送
出する光送信器と、信号光とは異なる波長を有する試験
光を送出する試験光送出器と、これら信号光と試験光を
合波して合波光を出力する光合波器と、合波光を伝送す
る第１の光伝送路とを備えている。また、第１の光伝送
路を伝送した合波光を信号光と試験光にｎ分岐（ｎは２
以上の自然数）して分岐光を出力する光分岐器と、分岐
光からそれぞれ信号光を通過させ、信号光と試験光のう
ちあらかじめ定められた波長の信号光のみを選択的に通
過させ、選択光を出力するｎ個の第１の光フィルタとを
備えている。さらに、選択光を伝送するｎ個の第２の光
伝送路と、第２の光伝送路にそれぞれ接続され、第２の
光伝送路を伝送してきた選択光のうち、それぞれ信号光
のみを選択的に通過させ選択信号光を出力するｎ個の第
２の光フィルタと、選択信号光をそれぞれ受光して電気
信号に変換するｎ個の光受信器とを備えていることを特
徴としている。

【００１３】ここで、あらかじめ定められた波長は、互
いに異なることを特徴としている。

【００１４】また、本発明の光伝送路障害点検出装置
は、ｎ個の第１の光フィルタはそれぞれ、信号光と試験
光を分離して分離信号光と分離試験光をそれぞれ出力す
る光波長分離器と、分離試験光のうちあらかじめ定めら
れた波長のみの試験光を通過させ選択分離試験光を出力
する第３の光フィルタと分離信号光と選択分離試験光を
合波して第２の光伝送路に出力する光波長多重合波器と
を有している。

【００１５】一方、試験光送信器は、パルス光を出力す
るパルス発生器と、パルス光の第１の光伝送路および第
２の光伝送路からの戻り光を受光する光検出器とを備
え、さらに、パルス光を光合波器に送出するとともに、
第１の光伝送路および第２の光伝送路からの戻り光を光
検出手段に結合させる光合波分波器と、パルス光の送出
時刻を基準に経過時間と戻り光の受光レベルとの関係を
検出する演算器とを備えていることを特徴としている。

【００１６】また、本発明の光伝送路障害点検出装置
は、上記構成の類似の構成として、信号光を送出する光
送信器と、信号光とは異なる波長を有する試験光を送出
する試験光送信器と、これら信号光と試験光を合波して
ｎ分岐（ｎは２以上の自然数）して合波分岐光を出力す
る光合波分岐器と、合波分岐器のｎ個の出力にそれぞれ
接続され信号光と試験光のうちあらかじめ定められた波
長の上記試験光のみを選択的に通過させ選択光を出力す
るｎ個の前記第１の光フィルタと、ｎ個の選択光をそれ
ぞれ伝送する光伝送路と、ｎ個の光伝送路のそれぞれに
接続され、光伝送路を伝送した選択光から信号光のみを
通過させるｎ個の第２の光フィルタと、選択信号光をそ
れぞれ受光して電気信号に変換するｎ個の光受信器とを
備えている。

【００１７】本発明の光伝送路障害点検出システムは以
下の特徴を有する。すなわち、伝送路中に配置された光
分岐回路のｎ個の出力ポート直後に、光フィルタ（図１
の２０−１〜２０−ｎ）を有している。この光フィルタ
は、信号光（波長λｓ）と、試験光（λｎ）の試験光の
みを通過させる。λｎは上記光フィルタのそれぞれの通
過波長であり、互いに異なる波長である。

【００１８】また、試験光として、波長が上記光フィル
タの通過波長の一つであるλｎであるパルス光を出力
し、この波長λｎの伝送路からの後方散乱光と反射光を
受光する光伝送路障害点検出装置（図１の７）を有して
いる。

【００１９】上記光フィルタと上記光伝送路障害点検出
装置をＰＯＮシステムに配置することにより、試験光波
長λｎの通過パスは、伝送路途中に配置された光分岐回
路により複数の伝送路に分岐されるが、この複数の伝送
路のどれか一つに限られる。これにより、光伝送路障害
点検出装置で受光される試験光の後方散乱光と反射光は
光分岐回路によって複数の分岐された伝送路の内、どれ
か一つのものに限定される。この試験光出力からの後方
散乱光と反射光の受光するまでの時間とそのパワーを測
定することにより、障害点を検出できる。試験光の波長
をλ１〜λｎと設定することにより、複数に分岐された
伝送路の障害を各々独立に検出できるため、複数の障害
点が有る場合も、障害点の分岐された伝送路と位置を特
定することが可能となる。

【００２０】

【発明の実施の形態】本発明の光伝送路障害点検出装置
について、図面を参照して、構成、動作の順に詳細に説
明する。

【００２１】まず、本発明の構成について、図１を参照
しながら説明する。

【００２２】光送信器１から出力される信号光（波長：
λＳ）は、伝送路障害点検出装置７から出力されるパル
ス状の光である試験光（波長λ１，λ２，・・・・・，
λｎ：λ１≠λ２≠・・・・・≠λｎ）とＷＤＭカプラ
１１で合波され、光ファイバ２を伝送させ、ｎ個の出力
光ポートを有する光分岐回路６に入力される。光分岐回
路６で、信号光と試験光はｎ分岐され、それぞれ光フィ
ルタ２０−１〜２０−ｎに入力される。

【００２３】光フィルタ２０−１〜２０−ｎの通過波長
は、全てのフィルタ共通の通過波長として信号光波長λ
Ｓμｍと、各々の光フィルタの通過波長として、それぞ
れ試験光波長λ１，λ２，・・・・・，λｎである。具
体的には、光フィルタ２０−１の通過波長は、信号光波
長λＳと試験光波長λ１であり、光フィルタ２０−ｎの
通過波長は、信号光波長λＳと試験光波長λｎであり、
その他の試験光波長はこの光フィルタ２０−ｎで遮断さ
れる。

【００２４】光フィルタ２０−１〜２０−ｎの出力光
は、それぞれ光ファイバ４−１〜４−ｎに入力される。
受信端において、光ファイバ４−１〜４−ｎを伝送して
来た信号光と試験光は光フィルタ１３−１〜１３−ｎに
入力される。信号光（波長：λＳ）は、これらの光フィ
ルタを透過され、光受信器５−１〜５−ｎに入力され
る。一方、試験光（波長：λ１，λ２，・・・・・，λ
ｎ）は、光フィルタにより遮断される。

【００２５】光フィルタ２０−１〜２０−ｎの構成を図
２に、波長通過特性を図３に示す。信号光（波長λＳ）
と試験光（波長λｎ）は融着型のＷＤＭカプラ２１−１
に入力され、ＷＤＭカプラ２１−１の２つの出力ポート
に分離され出力される。ＷＤＭカプラ２１−１の一つの
出力ポートから出力される試験光（波長λｎ）は、通過
中心波長がλｎである酸化膜を多層に重ねた干渉膜型の
光バンドパスフィルタ２２−ｎに入力される。

【００２６】光バンドパスフィルタ２２−ｎでは、波長
λｎのみが透過され、その他の波長は遮断される。従っ
て、試験光波長が他のλ１，λ２，・・・・・，λｎ−
１の場合は、この光バンドパスフィルタ２２−ｎで遮断
される。

【００２７】ＷＤＭカプラ２１−１のもう一つの出力ポ
ートから出力される信号光（波長λＳ）と、光バンドパ
スフィルタ２２−ｎから出力される試験光は、融着型の
ＷＤＭカプラ２１−２に入力され合波され、光ファイバ
４−ｎに出力される。試験光（波長λｎ）の後方散乱光
や反射光は、光ファイバ４−ｎからＷＤＭカプラ２１−
２、光バンドパスフィルタ２２−ｎ、ＷＤＭカプラ２１
−１の経路で、光分岐回路に入力される。この光フィル
タの波長通過特性は、図３に示されるように、信号光波
長λＳと試験光波長λｎを通過させる。

【００２８】伝送路障害点検出装置７の構成を以下に説
明する。半導体レーザをパルス駆動させることによりパ
ルス光を出力するパルス光源７１は、試験光を出力し、
その波長として、λ１，λ２，・・・・・，λｎと設定
可能な光源であり、このパルス光源７１の出力光は融着
型の光カプラ７４に入力される。光カプラ７４の出力光
は、ＷＤＭカプラ１１を介して伝送路に出力される。こ
の出力された試験光の伝送路（光ファイバ２〜光フィル
タ１３−１〜１３−ｎの区間）における後方散乱光と反
射光は、ＷＤＭカプラ１１に光ファイバ２から入力さ
れ、光伝送路障害点検出装置７に入力される。この光
は、光カプラ７４を介して、光検出器７２に入力され受
光される。パルス光源７１と光検出器７２は、計算機７
３に接続され、伝送路の障害点を検出する。

【００２９】次に、この伝送路障害点検出装置の動作に
ついて、図４、図５を参照しながら説明する。

【００３０】図４、図５は、光伝送路障害点検出装置７
からの試験光波長としてλ１を用いて伝送路損失を測定
した場合の一例を示した物である。この場合に伝送路損
失を測定される伝送路は、試験光波長λ１を通過させる
光フィルタ２０−１が光ファイバ４−１に配置されてい
ることから、光ファイバ２から光フィルタ１３−１まで
の区間である。

【００３１】光伝送路障害点検出装置７から出力された
試験光（波長：λ１）は、伝送路や光分岐回路６の損失
によりそのパワーが減衰すると同時に、試験光のパワー
の一部は、伝送路における後方散乱（レーリー散乱）や
反射（伝送路破断による障害点が有る場合）により、進
行方向とは逆方向に戻される。この後方散乱光と障害点
による反射光が光伝送路障害点検出装置７に入力され
る。

【００３２】伝送路障害点検出装置７において、出力さ
れるパルス光の出力時間から、この後方散乱光と反射光
の受信するまでの時間と、後方散乱光と反射光の光パワ
ーを測定することにより、図４に示す特性が得られる。

【００３３】図４では、光送信器１の位置を基準に、光
分岐回路６、破断点、光受信器５−１までの距離をそれ
ぞれＬ１，Ｌ２，Ｌ３（Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３）としてい
る。図中、実線は伝送路に障害が無い場合に得られる特
性を示して有り、破線は光ファイバ４−１に障害として
破断点が１カ所有る場合を示している。伝送距離Ｌ１で
伝送損失が増大しているのは、光分岐回路６の分岐損失
のためである。障害点の検出は、実線と破線を比較する
ことにより行っている。具体的には、Ｌ２の位置に、実
線では見られない輝線が現れ、Ｌ２以降で伝送損失が増
大していることから、光ファイバ４−１の光送信器１か
らの距離Ｌ２の地点に、障害が発生していることがわか
る。

【００３４】図５では、光送信器１の位置を基準に、破
断点、光分岐回路６、光受信器５−１までの距離をそれ
ぞれＬ２，Ｌ１，Ｌ３（Ｌ２＜Ｌ１＜Ｌ３）としてい
る。図４同様、実線は伝送路に障害が無い場合に得られ
る特性を示して有り、破線は光ファイバ２に障害として
破断点が１カ所有る場合を示している。障害点の検出
は、実線と破線を比較することにより行っている。具体
的には、Ｌ２の位置に、実線では見られない輝線が現
れ、Ｌ２以降で伝送損失が増大していることから、光フ
ァイバ２の光送信器１からの距離Ｌ２の地点に、障害が
発生していることがわかる。

【００３５】図４、図５に示すように、光伝送路障害点
検出装置７からの試験光波長として、λ１を用いること
により、光ファイバ２と光ファイバ４−１の障害点を検
出する。また、試験光波長として、λ２を用いることに
より、λ１を用いた場合と同様に光ファイバ２の障害点
を検出できると同時に、光ファイバ４−２の障害点を検
出する。さらに、試験光波長として、λｎを用いること
により、λ１，λ２を用いた場合と同様に光ファイバ２
の障害点を検出できると同時に、光ファイバ４−ｎの障
害点を検出する。

【００３６】以上の様に、試験光波長として、λ１〜λ
ｎの波長を用いることにより、光ファイバ２と、予め決
められた試験光波長を通過させる光フィルタが備えてあ
る光ファイバ４−１〜４−ｎ全ての障害点を検出する。

【実施例】上述の実施の形態の各要素の具体的構成と、
他の実施の具体的構成を下記に示す。

【００３７】信号光波長として、ここではλＳ＝１．３
μｍが用いられているが、１．５μｍ帯など他の波長で
も、伝送に支障が無ければ用いることができる。変調方
式、変調符号は特に限定されない。

【００３８】試験光波長として、λ１＝１．６４０μ
ｍ、λ２＝１．６４２μｍ、・・・・・，λｎ＝１．６
４０＋０．００２×（ｎ−１）μｍで構成される。信号
波長と異なり、かつ光フィルタ２０−１〜２０−ｎやＷ
ＤＭカプラ１１の波長特性を満足すれば、その他の波長
帯でも構成され、波長間隔も２ｎｍに限定されず、それ
以上でもそれ以下でも構わない。

【００３９】ＷＤＭカプラ１１は融着型カプラで構成さ
れているが、波長特性を持ったミラー型のカプラや導波
路型のカプラでも構成される。

【００４０】また、光ファイバ２，４−１〜４−ｎは
１．３μｍ帯に零分散波長を持つシングルモードファイ
バで構成されているが、１．５μｍ帯に零分散波長を持
つ光ファイバでも、その他のマルチモードファイバでも
構成される。

【００４１】光分岐回路６は融着型の光カプラを多段に
縦続接続された光カプラで構成されているが、ミラー型
の光カプラの縦続接続で構成してもよい。又、半導体や
石英基板上に作られた導波路による光カプラでも構成さ
れる。

【００４２】分岐数として、１６の例をとりあげたが、
それ以上でもそれ以下の分岐数でも構成される。

【００４３】光フィルタ２０−１〜２０−ｎはＷＤＭカ
プラ２１−１，２１−２として、融着型の光カプラで構
成されているが、ミラー型の光カプラでも構成され得
る。又、光バンドパスフィルタ２２−ｎとして、酸化膜
を多層に重ねた干渉膜フィルタで構成される。ファブリ
・ペロ型のフィルタでも実施される。

【００４４】光フィルタ２０−１〜２０−ｎとして、上
記機能を備えた半導体や石英基盤上に作られる導波路型
のフィルタでも構成される。

【００４５】光フィルタ１３−１〜１３−ｎも酸化膜を
多層に重ねた干渉膜フィルタで構成されているが、ファ
ブリ・ペロ型フィルタやＷＤＭ機能を備えた融着型の光
カプラでも構成される。

【００４６】光伝送路障害点検出装置７において、パル
ス光源７１は、半導体レーザをパルス駆動したもので、
パルス幅として１ｎｓ、繰り返し周期は１０ｍｓで構成
される。半導体レーザの代わりに固体レーザでも構成さ
れる。パルス幅として、１ｎｓから、障害点の分解能に
よりそれ以上でもそれ以下でも構成される。繰り返し周
期は、伝送路の距離によりそれ以上でもそれ以下でも構
成される。

【００４７】光検出器７２は、ＰＩＮフォトダイオード
と増幅器で構成される。光電子増倍管などの光電変換機
能を備えているものでも構成される。計算機７３は、パ
ルス光源７１の発光時刻と、光検出器７２の受光時刻と
そのパワーを取り込み、伝送路の伝送損失を演算する機
能を備えているもので実現される。光カプラ７４は、融
着型の光カプラで構成される。ミラー型の光カプラでも
構成される。

【００４８】本発明の光伝送路障害点検出装置につい
て、図面を参照して、構成、動作の順に詳細に説明す
る。

【００４９】まず、構成について、図６を参照しながら
説明する。

【００５０】光送信器１から出力され、光ファイバ２を
伝送する信号光（波長：λＳ）と、伝送路障害点検出装
置７から出力され、光ファイバ３を伝送するパルス状の
光である試験光（波長λ１，λ２，・・・・・，λｎ：
λ１≠λ２≠・・・・・≠λｎ）は、２つの入力ポート
とｎ個の出力光ポートを有する光分岐回路６に入力され
る。光分岐回路６で、信号光と試験光は合波された後、
ｎ分岐され、それぞれ光フィルタ２０−１〜２０−ｎに
入力される。

【００５１】光フィルタ２０−１〜２０−ｎの通過波長
は、全てのフィルタ共通の通過波長として信号光波長λ
Ｓμｍと、各々の光フィルタの通過波長として、それぞ
れ試験光波長λ１，λ２，・・・・・，λｎである。具
体的には、光フィルタ２０−１の通過波長は、信号光波
長λＳと試験光波長λ１であり、光フィルタ２０−ｎの
通過波長は、信号光波長λＳと試験光波長λｎであり、
その他の試験光波長はこの光フィルタ２０−ｎで遮断さ
れる。

【００５２】光フィルタ２０−１〜２０−ｎの出力光
は、それぞれ光ファイバ４−１〜４−ｎに入力される。
受信端において、光ファイバ４−１〜４−ｎを伝送して
来た信号光と試験光は光フィルタ１３−１〜１３−ｎに
入力される。信号光（波長：λＳ）は、これらの光フィ
ルタを透過され、光受信器５−１〜５−ｎに入力され
る。一方、試験光（波長：λ１，λ２，・・・・・，λ
ｎ）は、光フィルタにより遮断される。

【００５３】光フィルタ２０−１〜２０−ｎの構成を図
２に、波長通過特性を図３に示す。信号光（波長λＳ）
と試験光（波長λｎ）は融着型のＷＤＭカプラ２１−１
に入力され、ＷＤＭカプラ２１−１の２つの出力ポート
に分離され出力される。ＷＤＭカプラ２１−１の一つの
出力ポートから出力される試験光（波長λｎ）は、通過
中心波長がλｎである酸化膜を多層に重ねた干渉膜型の
光バンドパスフィルタ２２−ｎに入力される。この光バ
ンドパスフィルタ２２−ｎでは、波長λｎのみが透過さ
れ、その他の波長は遮断される。従って、試験光波長が
他のλ１，λ２，・・・・・，λｎ−１の場合は、この
光バンドパスフィルタ２２−ｎで遮断される。

【００５４】ＷＤＭカプラ２１−１のもう一つの出力ポ
ートから出力される信号光（波長λＳ）と、光バンドパ
スフィルタ２２−ｎから出力される試験光は、融着型の
ＷＤＭカプラ２１−２に入力され合波され、光ファイバ
４−ｎに出力される。試験光（波長λｎ）の後方散乱光
や反射光は、光ファイバ４−ｎからＷＤＭカプラ２１−
２、光バンドパスフィルタ２２−ｎ、ＷＤＭカプラ２１
−１の経路で、光分岐回路に入力される。この光フィル
タの波長通過特性は、図３に示す様に、信号光波長λＳ
と試験光波長λｎを通過させる。

【００５５】伝送路障害点検出装置７の構成を以下に説
明する。半導体レーザをパルス駆動させることによりパ
ルス光を出力するパルス光源７１は、試験光を出力し、
その波長として、λ１，λ２，・・・・・，λｎと設定
可能な光源であり、このパルス光源７１の出力光は融着
型の光カプラ７４に入力される。光カプラ７４の出力光
は、ＷＤＭカプラ１１を介して伝送路に出力される。こ
の出力された試験光の伝送路（光ファイバ２〜光フィル
タ１３−１〜１３−ｎの区間）における後方散乱光と反
射光は、ＷＤＭカプラ１１に光ファイバ２から入力さ
れ、光伝送路障害点検出装置７に入力される。この光
は、光カプラ７４を介して、光検出器７２に入力され受
光される。パルス光源７１と光検出器７２は、計算機７
３に接続され、伝送路の障害点を検出する。

【００５６】次に、この伝送路障害点検出装置の動作に
ついて説明する。

【００５７】光伝送路障害点検出装置７から出力された
試験光（波長：λ１）は、伝送路や光分岐回路６の損失
によりそのパワーが減衰すると同時に、試験光のパワー
の一部は、伝送路における後方散乱（レーリー散乱）や
反射（伝送路破断による障害点が有る場合）により、進
行方向とは逆方向に戻される。この後方散乱光と障害点
による反射光が光伝送路障害点検出装置７に入力され
る。

【００５８】伝送路障害点検出装置７において、出力さ
れるパルス光の出力時間から、この後方散乱光と反射光
の受信するまでの時間と、後方散乱光と反射光の光パワ
ーを測定することにより、伝送距離に対する伝送路の損
失が得られる。

【００５９】図４において、伝送距離の基準位置を、光
送信器１の位置から光伝送路障害点検出装置７の位置と
すれば、図４と全く同様な特性が得られる。光分岐回路
６、破断点、光受信器５−１までの距離をそれぞれＬ
１，Ｌ２，Ｌ３（Ｌ１＜Ｌ２＜Ｌ３）としている。図
中、実線は伝送路に障害が無い場合に得られる特性を示
して有り、破線は光ファイバ４−１に障害として破断点
が１カ所有る場合を示している。伝送距離Ｌ１で伝送損
失が増大しているのは、光分岐回路６の分岐損失のため
である。障害点の検出は、実線と破線を比較することに
より行っている。具体的には、Ｌ２の位置に、実線では
見られない輝線が現れ、Ｌ２以降で伝送損失が増大して
いることから、光ファイバ４−１の光送信器１からの距
離Ｌ２の地点に、障害が発生していることがわかる。

【００６０】図４に示すように、光伝送路障害点検出装
置７からの試験光波長として、λ１を用いることによ
り、光ファイバ４−１の障害点を検出する。また、試験
光波長として、λ２を用いることにより、λ１を用いた
場合と同様に、光ファイバ４−２の障害点を検出する。
さらに、試験光波長として、λｎを用いることにより、
λ１，λ２を用いた場合と同様に、光ファイバ４−ｎの
障害点を検出する。

【００６１】以上の様に、試験光波長として、λ１〜λ
ｎの波長を用いることにより、予め決められた試験光波
長を通過させる光フィルタが備えてある光ファイバ４−
１〜４−ｎ全ての障害点を検出する。

【００６２】

【発明の効果】本発明の効果は、伝送路の途中に光分岐
回路により複数の伝送路に分けられているＰＯＮシステ
ムにおいて、複数の伝送路で複数の障害点が有る場合で
も、その障害点の位置を１００％検出できるということ
にある。

【００６３】その理由は、光分岐回路により分けられた
複数の伝送路に、信号光とある特定の波長の試験光を通
過させる光フィルタを配置することと、光送信器付近に
配置される光伝送路障害点検出装置の出力波長を、障害
試験したい複数に分けられた伝送路の内の一つの伝送路
に配置された光フィルタの通過波長に対応する波長に設
定することからである。つまり、ある波長の試験光は、
分岐された伝送路の内、唯一の伝送路のみを伝送するた
め、他の伝送路の影響を受けずに障害試験を行えること
と、波長を他の伝送路の通過波長に設定することによ
り、全ての伝送路の障害試験が行えることからである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第一の実施形態を示すブロック図であ
る。

【図２】光フィルタ２０−ｎの詳細な一実施の形態を示
すブロック図である。

【図３】光フィルタ２０−ｎの波長通過特性を表す図で
ある。

【図４】本発明の第一の発明による測定で得られる結果
の第一の例を示した図である。

【図５】本発明の第一の発明による測定で得られる結果
の第二の例を示した図である。

【図６】本発明の第二の実施形態を示すブロック図であ
る。

【図７】従来の発明の課題の説明図である。

【図８】従来の発明の構成を示すブロック図である。

【図９】従来の発明による測定で得られる結果の一例を
示した図である。

【符号の説明】

１ 光送信器 ２，３，４−１〜４−ｎ 光ファイバ ５−１〜５−ｎ 光受信器 ６ 光分岐回路 ７ 光伝送路障害点検出装置 ７１ パルス光源 ７２ 光検出器 ７３ 計算機 ７４ 光カプラ １１−１〜１１−ｎ ＷＤＭカプラ １２−１〜１２−ｎ，１３−１〜１３−ｎ，２０−１〜
２０−ｎ 光フィルタ ２１−１，２１−２ ＷＤＭカプラ ２２−ｎ 光バンドパスフィルタ

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 信号光を送出する光送信手段と、 前記信号光とは異なる波長を有する試験光を送出する試
   験光送出手段と、前記信号光と前記試験光を合波して合
   波光を出力する光合波手段と、 前記合波光を伝送する第１の光伝送路と、 前記第１の光伝送路を伝送した前記合波光を前記信号光
   と前記試験光にｎ分岐（ｎは２以上の自然数）して分岐
   光を出力する光分岐手段と、 前記分岐光からそれぞれ前記信号光を通過させ、前記信
   号光と前記試験光のうちあらかじめ定められた波長の信
   号光のみを選択的に通過させ、選択光を出力するｎ個の
   第１の光フィルタと、 前記選択光を伝送するｎ個の第２の光伝送路と、 前記第２の光伝送路にそれぞれ接続され、該第２の光伝
   送路を伝送してきた前記選択光のうち、それぞれ前記信
   号光のみを選択的に通過させ選択信号光を出力するｎ個
   の第２の光フィルタと、 前記選択信号光をそれぞれ受光して電気信号に変換する
   ｎ個の光受信器とを備えた光伝送路障害点検出装置であ
   って、 前記ｎ個の第１の光フィルタはそれぞれ、前記信号光と
   前記試験光を分離して分離信号光と分離試験光をそれぞ
   れ出力する光波長分離手段と、 前記分離試験光のうち、あらかじめ定められた波長のみ
   の試験光を通過させ選択分離試験光を出力する第３の光
   フィルタと前記分離信号光と前記選択分離試験光を合波
   して前記第２の光伝送路に出力する光波長多重手段とを
   含んでいる ことを特徴とする光伝送路障害点検出装置。
2. 【請求項２】 前記あらかじめ定められた波長は、互い
   に異なることを特徴とする請求項１記載の光伝送路障害
   点検出装置。
3. 【請求項３】 前記試験光送出手段は、パルス光を出力
   するパルス発生手段と、 前記パルス光の前記第１の光伝送路および前記第２の光
   伝送路からの戻り光を受光する光検出手段と、 前記パルス光を前記光合波手段に送出するとともに、前
   記第１の光伝送路および前記第２の光伝送路からの前記
   戻り光を前記光検出手段に結合させる光合波分波手段
   と、 前記パルス光の送出時刻を基準に経過時間と前記戻り光
   の受光レベルとの関係を検出する演算手段とを備えてい
   ることを特徴とする請求項１または請求項２記載の光伝
   送路障害点検出装置。
4. 【請求項４】 信号光を送出する光送信手段と、 前記信号光とは異なる波長を有する試験光を送出する試
   験光送出手段と、 前記信号光と前記試験光を合波して、ｎ分岐（ｎは２以
   上の自然数）して合波分岐光を出力する光合波分岐手段
   と、 前記合波分岐手段のｎ個の出力にそれぞれ接続され、前
   記信号光と前記試験光のうちあらかじめ定められた波長
   の前記試験光のみを選択的に通過させ選択光を出力する
   ｎ個の前記第１の光フィルタと、 ｎ個の前記選択光をそれぞれ伝送する光伝送路と、 ｎ個の前記光伝送路のそれぞれに接続され、該光伝送路
   を伝送した前記選択光から前記信号光のみを通過させる
   ｎ個の第２の光フィルタと、 前記選択信号光をそれぞれ受光して電気信号に変換する
   ｎ個の光受信器とを備えた光伝送路障害点検出装置であ
   って、 前記ｎ個の第１の光フィルタはそれぞれ、前記信号光と
   前記試験光を分離して分離信号光と分離試験光をそれぞ
   れ出力する光波長分離手段と、 前記分離試験光のうち、あらかじめ定められた波長のみ
   の試験光を通過させ選択分離試験光を出力する第３の光
   フィルタと前記分離信号光と前記選択分離試験光を合波
   して前記光伝送路に出力する光波長多重手段と を含んで
   いることを特徴とする光伝送路障害点検出装置。
5. 【請求項５】 前記あらかじめ定められた波長は、互い
   に異なることを特徴とする請求項４記載の光伝送路障害
   点検出装置。
6. 【請求項６】 前記試験光送出手段は、パルス光を出力
   するパルス発生手段と、 前記パルス光の前記光伝送路からの戻り光を受光する光
   検出手段と、 前記パルス光を前記光合波手段に送出するとともに、前
   記光伝送路からの前記戻り光を前記光検出手段に結合さ
   せる光合波分波手段と、 前記パルス光の送出時刻を基準に経過時間と前記戻り光
   の受光レベルとの関係を検出する演算手段とを備えてい
   ることを特徴とする請求項４または請求項５記載の光伝
   送路障害点検出装置。