JP2003234788A - 二進パルスビットストリームの特性測定装置及び特性決定法 - Google Patents

二進パルスビットストリームの特性測定装置及び特性決定法

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JP2003234788A
JP2003234788A JP2002338251A JP2002338251A JP2003234788A JP 2003234788 A JP2003234788 A JP 2003234788A JP 2002338251 A JP2002338251 A JP 2002338251A JP 2002338251 A JP2002338251 A JP 2002338251A JP 2003234788 A JP2003234788 A JP 2003234788A
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トマス・ユージーン・ワッシュラ
Andrei Poskatcheev
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高速二進パルスビットストリームの特性及び
質を示すアイダイアグラムを生成する単一のヒストグラ
ムを形成して、二進パルス符号化波形測定装置の機能
性、経済性及び効率性を改善する。 【解決手段】 本発明による二進パルスビットストリー
ム(13,14)の特性を決定する装置は、ウインドウコンパ
レータ(202,203)を形成する制御装置と、ウインドウコ
ンパレータ(202,203)内のポイントに該当するビットス
トリーム(13,14)の時間数カウントに由来する数を蓄積
しかつ図示する論理装置(2)とを備え、論理装置(2)は、
ビットストリーム(13,14)の特性を特徴付けるアイダイ
アグラムを抽出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】 本発明は、波形分析装置及
びその方法、ウインドウコンパレータによりアイダイア
グラムをサンプリングする装置及び方法、特に領域コン
パレータを有する高速二進パルス符号化ビットストリー
ムのアイダイアグラムを形成する装置及び方法に属す
る。
【０００２】
【従来の技術】高速通信システムでは、一般的に送受信
機間で連続的なビットストリームデータを相互に送信し
て通信を行う。前記ビットストリームデータは、通常
「０」及び「１」で表される二進パルス信号であり、送
信機の信号から誘導される電圧又は光学信号である。パ
ルス符号化信号は、送信機と受信機とを接続する伝送装
置に送られ、受信機は、受信したパルス符号信号データ
を複号して情報を得る。
【０００３】受信機が伝送装置の原因によるエラーによ
って変形したパルス符号信号を受信し又は受信機がパル
ス符号化信号を誤って複号するとき、受信機の不正情報
によって、通信のビットエラー（符号誤り）が発生する
おそれがある。デザイナ、エンジニア、インストーラ及
びメンテナンスする個人は、「二進パルスビットストリ
ーム」と呼ばれるパルス符号化信号のデータ（ストリー
ム）を評価し、システム効率を監視しかつシステムの問
題を診断する必要がある。サンプリングオシロスコープ
を用いてビットストリームの質を監視するのが一般的で
ある。
【０００４】監視操作の際に、二進パルスビットストリ
ーム、ビットストリームの二進パルスと一致する反復速
度を有するクロック信号形式によるトリガインプット及
びそれらの同期信号は、サンプリングオシロスコープの
入力側に供給される。ビットストリームの二進パルスの
電圧レベルサンプルは、反復するトリガインプットから
様々な時間偏差で取り出され、オシロスコープの表示上
の標本点としてプロットされる。電圧サンプルは、連続
的にビットストリームから取り出され、先行の標本点と
共にサンプリングオシロスコープに加えられる。比較的
短い時間で、サンプリングオシロスコープ表示装置の数
百又は数千の標本点が、トリガインプットにより各時間
ずれの電圧分布をプロットする。対応する範囲の全時間
ずれ（時間偏差）について取り出すことにより、測定さ
れる高速ビットストリームの質又は特性を示すサンプリ
ングオシロスコープ表示装置上にダイアグラムが表示さ
れる。この種のダイアグラム（「アイ」ダイアグラムと
いう）は、高速通信システムの開発、インストール及び
メンテナンス段階に、高速二進パルスビットストリーム
の検査に頻繁に使用される。
【０００５】前記のように、サンプリングオシロスコー
プを使用して、高速通信システムの質を測定することが
問題である。ビットストリームデータ速度が増加すると
き、アイダイアグラムに必要なサンプリングオシロスコ
ープの帯域幅は比例して増加することにより、より高い
コストとなる。他の問題は、サンプリングオシロスコー
プのコストが上昇し、超高速システム設計の問題に影響
するため、現在のサンプリング法は、ビットストリーム
パルスの全ての可能なエッジで少ないサンプルしか取り
出せないため、1０万個／秒から２０万個／秒の現在有
効なサンプリング速度が制限される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】高速二進パルスビット
ストリームの質を統計的に測定するアイダイアグラムを
形成する他の型式の装置が開発された。この装置では、
多数のヒストグラムを形成しかつ組み合わせて、アイダ
イアグラムを確立することを必要とする点、及びアイダ
イアグラムを作成する２つのヒストグラムを必要とする
点が問題である。第１のヒストグラム中の縦方向に隣接
する要素を減算して、アイダイアグラムの作成に使用す
る第２のヒストグラムを形成することが要求される。試
験中に、装置を通過するユーザ信号のデータカウント
が、縦方向の２つの要素を取り出す時間の間で急激に変
化する場合、減算結果にノイズが加えられ、アイダイア
グラムにノイズを生じることがある。従って、通信装置
間の情報及びデータの転送用に使用する高速二進パルス
ビットストリームの特性を測定するアイダイアグラムを
積極的に決定し、ノイズの無い単一ヒストグラムを形成
する装置及び方法が望まれる。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、二進パルスビ
ットストリーム(13,14)の特性を測定するサンプリング
装置とサンプリング法とを提供することを目的とし、こ
のサンプリング装置は、ウインドウコンパレータ(202,2
03)を形成する制御装置(3)と、二進パルスビットストリ
ーム(13,14)の持続時間の間に異なる時間偏差（オフセ
ット）及び電圧領域位置で、ウインドウコンパレータ(2
02,203)内のポイント内に該当するビットストリームパ
ルス(13,14)のイベントカウント（種目評価点）を蓄積
し、ビットストリーム(13,14)の特性を特徴付けるアイ
ダイアグラムをイベントカウントから抽出し作成する論
理装置(2)とを備えている。
【０００８】また、本発明は、二進パルスビットストリ
ーム(13,14)の所定の持続時間の間に、二進パルスビッ
トストリーム(13,14)のイベントカウントを蓄積したポ
イントを形成する縦列−横列から成る配列のウインドウ
コンパレータ(202,203)を形成することを目的とする。
本発明は、高速二進パルスビットストリーム(13,14)の
特性及び質を示すアイダイアグラムを生成する単一のヒ
ストグラムを形成することにより、二進パルス符号化波
形測定装置(2)の機能性、経済性及び効率性を改善する
ことを目的とする。
【０００９】また、本発明は、縦列−横列の配列のうち
横列の縦方向への変化に対し、最小電圧と最大電圧との
間を移動する電圧閾値領域を形成し、持続時間の間に二
進データの時間偏差で、電圧閾値の範囲内で発生する二
進パルスの電圧レベルのカウントを配列の各縦列−横列
ポイントに蓄積し、二進パルスビットストリーム(13,1
4)の特性を特徴付けるアイダイアグラムとして、蓄積さ
れたカウントの配列の縦列−横列ポイントを表示するこ
とを目的とする。
【００１０】本発明の好適な実施の形態では、サンプリ
ング装置は、二進パルスビットストリーム(13,14)の所
定の持続時間中に時間偏差でイベントカウントを蓄積し
たポイントを形成する縦列−横列から成る配列のウイン
ドウコンパレータ(202,203)を形成し、配列の横列の変
化に対し、最小電圧と最大電圧との間で変動する電圧閾
値領域を形成する。パルス電圧レベルが配列の各縦列−
横列のポイントの電圧閾値領域内にあるとき、論理装置
(2)は、ビットストリーム(13,14)の時間偏差で発生する
二進パルスの電圧レベルを検出する。カウンタ装置は、
二進パルスビットストリーム(13,14)の所定の持続時間
中に時間偏差で検出された二進パルス電圧レベルのカウ
ントを配列の縦列−横列ポイントに蓄積し、カウンタ装
置(207,210)は、検出された二進パルス電圧レベルを配
列の各ポイントに蓄積する二進ビットストリーム(13,1
4)の持続時間を決定する。表示装置(4)は、二進パルス
ビットストリーム(13,14)の特性を特徴付けるアイダイ
アグラムとして、蓄積されたイベントカウントの配列の
縦列−横列ポイントを表示する。
【００１１】また、本発明の好適な実施の形態では、二
進パルスビットストリーム(13,14)の特性を決定する方
法は、二進パルスビットストリーム(13,14)の所定の持
続時間中に時間偏差で電圧カウントを蓄積したポイント
を形成する縦列−横列から成る配列のウインドウコンパ
レータ(202,203)を形成する過程を含む。このサンプリ
ング法は、最小電圧閾値と最大電圧閾値との間で、配列
の各横列の変化と共に変化する電圧閾値領域を形成す
る。パルス電圧レベルが配列の各縦列−横列ポイントで
電圧閾値領域の範囲内にあるとき、ビットストリーム(1
3,14)の時間偏差で発生する二進パルスの電圧レベルが
検出される。検出された二進パルス電圧レベルのカウン
トは、二進パルスビットストリーム(13,14)の各所定の
持続時間の間に時間偏差で配列の縦列−横列ポイント内
に蓄積され、二進パルスビットストリーム(13,14)の特
性を特徴付けるアイダイアグラムとして表示される。図
２に示す閾値論理装置(2)の論理素子回路(200〜210)
は、本発明の理解に詳細な開示を要しない各動作が公知
の論理回路及び中央処理装置ユニットにより実施され
る。多くの教本に論理回路の典型例が記載される。例え
ば、論理回路の形態は、特にＪ.ミルマン及びＨ.タウ
ブ、「パルスデジタル波形及びスイッチング波形」１９
６５年、マクグロウ−ホール社、Ｈ.アレックスロマノ
イズ及びラッセルＥ.パケット「電子工学への序文」１
９６８年、ジョンワイリー＆サンズ社、Ｅ.Ｊ.アンジェ
ロジュニア「電子循環路第２版」１９５８年、マグロウ
ヒル社、及び「設計技術者のためのＴＴＬデータブック
第２版」１９７６年、テキサスインスツルメンツ社に記
載されている。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１に示すように、高速通信シス
テム1は、伝送装置12により受信機11と相互に接続する
送信機10を備える。送信機10は、伝送装置12の入力側に
印加される高速二進パルスビットストリーム13として二
進（バイナリ）符号化パルス形式により受信機11に情報
を送信する。伝送装置12は、例えばプリント基板配線、
同軸ケーブル、光ファイバ、無線接続及び衛星接続等、
多数の高速伝送装置のうちの何れかである。代表的な適
用例では、入力されたバイナリビットストリーム13の二
進パルスは、伝送装置12の特性により形状が変形され、
受信機11で受信された二進ビットストリーム14として、
丸みを帯びた二進符号化パルス形式として表れる。送信
機10の出力装置、受信機11の入力装置、伝送装置12上の
何れかの位置又は送信されかつ受信される二進パルス符
号化ビットストリーム13,14の質及び特性を測定するこ
とが望ましい送信機10内及び受信機11内の種々の位置の
何れかで、二進パルス符号化波形測定装置を伝送装置12
に接続することができる。動作の際に、制御装置3は、
カウント論理回路2の動作を制御して、測定された二進
パルス符号化ビットストリーム13,14の質及び特性を示
すアイダイアグラムを表示装置4上に形成する。表示装
置4は、例えば、コンピュータ又は独立するモニタ、プ
ロッタ、種々の記憶装置、ワークステーション等、多く
の周知の表示装置の何れかを用いることができる。表示
装置4に表示されるアイダイアグラムの形態は、測定し
た二進パルスビットストリームの特性を示す。
【００１３】一般に二進パルス符号化ビットストリーム
は、連続する「０」及び「１」のパルス列から成り、各
「０」パルスは一電圧レベルで送信され、各「１」パル
スは他の電圧レベルで送信される。「０」及び「１」の
パルスの特殊なパルスシーケンスは、送信機10によっ
て、受信機11へ送信される情報又はデータを形成する。
パルスは、「パルス周期（pulse period）」と後述する
一定のパルス周期又は期間の反復速度を有し、通信シス
テムクロックにより決定される反復速度で先行するパル
スに追従する。本発明の例示的な実施の形態では、本発
明による二進パルスビットストリーム13,14の特性測定
装置は、ウインドウコンパレータを形成する制御装置3
を備える。制御装置3は、詳細まで周知のコンピュー
タ、処理装置、ワークステーション等であり、特に、測
定された二進パルスビットストリームの所定の持続時間
中に時間偏差でイベントカウント（種目評価点）を蓄積
したポイントを形成する縦列と横列とから成る図３の配
列を表示するように、制御装置3はプログラムされ又は
形成される。二進パルスビットストリームの一部分の所
定の持続時間の間に、二進パルスビットストリームの測
定波形から収集したデータは、各縦列−横列の位置（以
下、「ポイント」という）に蓄積される。その後、図１
に示すアイダイアグラムとして表示装置4上に蓄積デー
タを抽出して、二進パルスビットストリーム13及び14の
特性を特徴付ける。
【００１４】図１に示す制御装置3をプログラム制御し
て、配列の横列変化に対する最小電圧VMINと最大電圧V
MAXとの間で変動する電圧閾値領域を形成すると共に、
（VMIN−VMAX）値を配列の横列の最大数で割った値に等
しい電圧増加分ΔVを電圧閾値領域に与える。パルス電
圧レベルが電圧閾値領域内にあるとき、カウント論理回
路装置2は、ビットストリームの時間偏差（オフセッ
ト）で発生する二進パルスの電圧レベルを検出し、配列
の各横列−縦列ポイントに持続時間中のカウントを蓄積
する。特に、図２に示す制御装置3は、電圧値V+ΔV200
をコンパレータ202の非反転入力端子に印加し、電圧値V
201をコンパレータ203の反転入力端子に印加して、電圧
閾値領域を形成する。カウント論理装置2は、時間のず
れによる（時間偏差で）パルス電圧レベルを検出するこ
とにより、二進パルスビットストリームの一部の持続時
間中に発生する信号に応答して、配列のウインドウコン
パレータにより定めた電圧閾値領域レベルの範囲内に測
定パルス電圧レベルがあるか否かを決定する。測定パル
ス電圧レベルが閾電圧レベルV+ΔVより小さいとき、コ
ンパレータ202が動作して論理装置（例えば、Ｄフリッ
プフロップ装置）204をセットする。測定パルス電圧レ
ベルが電圧閾レベルVより大きいとき、コンパレータ203
が動作して論理装置（例えば、Ｄフリップフロップ装
置）205をセットする。論理装置204及び205のセットに
より、アンドゲート206は、配列の各縦列−横列で測定
パルスレベルがVとV+ΔVとの間の値の電圧閾値領域内に
あることを指示する出力を発生できる。論理カウンタ20
7は、二進パルスビットストリームの各持続時間中に時
間偏差で電圧閾値領域の範囲内で検出される二進パルス
電圧レベルのカウントを配列の縦列−横列ポイントに蓄
積する。
【００１５】カウント論理回路2は、持続時間の最大値
まで反復するトリガ信号を計数することにより、反復す
るトリガ信号に応答して持続時間を計数し、持続時間の
終期に論理装置204,205にリセット信号を付与する持続
時間カウンタ210を備える。配列の各縦列−横列ポイン
トの電圧閾値領域内に、パルス電圧計数レベルのイベン
ト（種目）を蓄積する二進パルスビットストリームの持
続時間として、持続時間の最大値を定める。持続時間の
最大値は、イベントカウントを十分に収集し、アイダイ
アグラムを完成するのにどの位の合計時間が必要である
かを定める。一般に、各縦列−横列ポイントの持続時間
の最大値DurationMAXはパルス数自体である。縦列−横
列ポイントへのサンプリングを実施し又は開始すべきと
き、論理カウンタ207及び持続時間カウンタ210を初期カ
ウントの値のゼロにリセットする。縦列１及び横列１を
識別し、電圧閾値領域内のパルス電圧レベルのイベント
カウント（種目評価計数）を開始して、特定配列の縦列
−横列ポイントの初期評価計数を開始する。論理装置20
4,205をリセットしパルス種目測定のカウント毎に反復
的な初期設定を開始して、その後、電圧閾値領域レベル
内のパルス電圧レベルを記録する。有効な各カウント
は、論理カウンタ207に蓄積され、持続時間カウンタ210
により決定される持続時間の最後に、配列の縦列１−横
列１ポイントへ記録される。横列のカウントは、電圧閾
値領域がΔVだけ増加した横列２に進み、持続時間中の
電圧閾値領域の変化に対して評価計数のシーケンスを繰
り返し、配列の縦列１−横列２ポイントに記録される。
本明細書では配列の縦列１−横列１で計数を開始するこ
とを記載するが、これは例示に過ぎず、本発明では、全
縦列−横列ポイントの計数が完了する限り、配列の縦列
１−横列最大値のポイントからカウント（評価計数）を
開始し又は無作為の配列の縦列−横列からカウントを開
始できることは理解されよう。測定装置は、二進パルス
ビットストリームが持続する間、電圧閾値ウインドウコ
ンパレータ内のポイント内に該当するビットストリーム
パルスのイベントカウントを蓄積し、蓄積したイベント
カウントからビットストリームの特性を特徴付けるアイ
ダイアグラムを抽出し作成する。
【００１６】図４、図５及び図６に示す操作法は、ウイ
ンドウコンパレータを形成する過程と、二進パルスビッ
トストリームの所定の持続時間中に時間偏差でウインド
ウコンパレータ内のポイントにビットストリームの種々
のイベントカウントを蓄積する過程と、その後、ビット
ストリームの特性を特徴付けるアイダイアグラムをイベ
ントカウントから抽出する過程とを含む。図４に示す操
作法では、配列の縦列−横列ポイントへのイベントカウ
ントの蓄積に要する周期の持続時間最大値DurationMAX
を設定する（ステップ300）。本発明の実施の形態で
は、持続時間最大値DurationMAXを持続時間カウンタ210
（図２）内に設計してもよく、又はユーザが持続時間最
大値を持続時間カウンタ210内に設定して、蓄積される
カウントが持続時間カウンタ210の設定値に達したとき
出力を生じる型式の持続時間カウンタ210としてもよ
い。
【００１７】本発明による特性測定法では、配列の縦列
Colの初期値をゼロ(Col=0)に設定し（ステップ301）、
最小電圧閾値VMIN及び最大電圧閾値VMAXを設定して（ス
テップ302）、引き続きウインドウコンパレータを形成
する。最小電圧閾値VMIN及び最大電圧閾値VMAXは、測定
すべき二進パルスビットストリームの形式に依存し個々
の用途により変更される。横列最大値RowMAX及び縦列最
大値ColMAXを設定して配列の大きさが確立される（ステ
ップ304）。また、横列最大値RowMAX及び縦列最大値Col
MAXの大きさは、装置及び個々の用途に依存する。ユー
ザが要求する値に遅延最大値DelayMax及び遅延最小値De
layMINを設定し（ステップ305）、（VMA X−VMIN）をRow
MAXで割った値に等しいΔVの値を設定する（ステップ30
6）。値（DelayMAX−DelayMIN）を値ColMAXで割った値
に等しく値ΔDelayを設定し（ステップ307）、値Delay
を値DelayMINに設定して初期化する（ステップ308）。
可変遅延回路208は、反復トリガ信号を受信して、論理
装置204,205、論理カウンタ207及び持続時間カウンタ21
0の各クロック入力端子に遅延出力信号を付与する。
【００１８】所定の持続時間のパルス電圧レベルカウン
ト等のイベント（種目）を蓄積するポイントを形成する
縦列−横列から成る配列を確立して、図３に示すウイン
ドウコンパレータを形成する。配列の縦列−横列ポイン
トを無作為に選択し又は１個の縦列１の最大横列で開始
してもよいと理解できるが、本発明の本実施の形態では
縦列１−横列１から開始する。従って、値VをVMINに設
定し（ステップ309）、図５に示すように最初に横列を
０に設定して（ステップ311）縦列を１に設定する（ス
テップ312）。縦列−横列ポイントが値ColMAX（ステッ
プ313）及び図６に示すように値RowMAX（ステップ325）
に達したとき、本サンプリング法（ステップ313）は、
測定シーケンスが終了し又は実行完了かを決定する（ス
テップ314）。終了又は実行完了でない場合、横列の値
をRow+1に設定する（ステップ315、図５）。
【００１９】図２に示すサンプリング開始装置209をオ
ンし、論理カウンタ207と持続時間カウンタ210をリセッ
トして、論理カウンタ207に蓄積されたデータカウント
をゼロに初期化し、持続時間カウント210をゼロに初期
化（ステップ318）した後、特定の配列（縦列、横列）
ポイントの測定を開始する（ステップ319）。ステップ3
19では、配列の各横列−縦列ポイントでVとV+ΔVとの間
の電圧閾値領域内にパルス電圧レベルがあるとき、ビッ
トストリームの時間偏差で発生する二進パルスの電圧レ
ベルを図２に示す論理装置2により検出する。検出パル
ス電圧レベルが、閾レベルVより大きく電圧閾値V+ΔV以
下の場合（ステップ319）、図２に示す論理カウンタ207
の蓄積データカウントが増加して（ステップ320）、持
続値を増加する（ステップ322）。持続値が持続時間最
大値に達しない場合（ステップ323）、本サンプリング
法では次のトリガ信号を待機し（ステップ321）、持続
値が持続時間最大値に達するまで、ステップ319、320、
321、322及び323を繰り返す。持続値が持続時間最大値
に達したとき、特定の時間ずれ（時間偏差）で持続間隔
の全周期の間に、電圧閾値領域内にあるとして、測定さ
れたビットストリームの二進パルスのパルス電圧レベル
を検出した回数を記録したのが図２に示す論理カウンタ
207の値である。
【００２０】持続値が持続時間最大値に達したと決定さ
れると（ステップ323）、配列[横列、縦列]のポイント
に、図２に示す論理カウンタ207に蓄積されたデータ値
が設定される（ステップ324）。その後、同一縦列の次
の横列のイベントカウントの蓄積に備え、VをV+ΔVに等
しくすることにより（ステップ316）、電圧閾値領域をV
MINとVMAXとの間で繰り上げる。配列の横列がrowMAXに
達しない場合（ステップ325）、図５に示すように、横
列の値を１だけ加算し（ステップ315）、ステップ316か
ら324を繰り返して、同一の縦列の次の横列のポイント
に対しパルスレベルデータを蓄積する。１つの縦列の複
数の横列の値がRowMAXに達すると（ステップ325）、処
理はステップ310に移行し、ΔDelayを加算して、ステッ
プ309から325を繰り返し、次の縦列の各横列に対してデ
ータを蓄積する。従って、電圧閾値領域範囲内の検出さ
れる二進パルス電圧レベルのカウントは、配列の各縦列
−横列ポイントの二進パルスビットストリームの各持続
部分の時間偏差で蓄積される。配列の横列−縦列ポイン
トにカウントデータを図３に示すように蓄積すると、配
列のヒストグラムは、測定された二進パルスビットスト
リームの特性を特徴付けるアイダイアグラムとして、蓄
積されたイベントカウントの縦列−横列ポイントを表示
する。
【００２１】高速二進パルスビットストリームを測定す
るウインドウコンパレータを用い、測定された高速二進
パルスビットストリームの特性及び質を示すアイダイア
グラムを生成する単一のヒストグラムを形成できる装置
により、二進パルス符号化波形測定装置の機能性、経済
性及び効率性を改善できることは前記より明らかであ
る。
【００２２】二進パルスビットストリームの特性を測定
する具体的な装置の実施の形態を示す前記詳細な説明
は、実施の形態の例示に過ぎず、開示する発明を制限す
るものではないことを理解すべきである。特に他の構成
は本発明の範囲及び趣旨に従う。このように、本発明は
特許請求の範囲によってのみ制限される。
【００２３】
【発明の効果】前記のように、本発明では、高速二進パ
ルスビットストリームを測定するウインドウコンパレー
タを用い、測定された高速二進パルスビットストリーム
の特性及び質を示すアイダイアグラムを生成する単一の
ヒストグラムを形成することにより、二進パルス符号化
波形測定装置の機能性、経済性及び効率性を改善できる
利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】 通信システムに接続されかつシステム送信機
からシステム受信機に送信される二進パルス符号化波形
ビットストリームのアイダイアグラム測定値を発生する
本発明の原理よる二進パルス符号化波形測定装置のブロ
ック図
【図２】 図１のカウント論理回路のブロック図
【図３】 図１の二進パルスビットストリームの測定に
より形成された記号ヒストグラム図
【図４】 図１の二進パルス符号化波形測定装置の操作
シーケンスを示すフローチャート
【図５】 図１の二進パルス符号化波形測定装置の操作
シーケンスを示すフローチャート
【図６】 図１の二進パルス符号化波形測定装置の操作
シーケンスを示すフローチャート
【符号の説明】
(1)・・高速通信システム、 (2)・・二進パルス符号化
波形測定装置（論理手段、カウント論理回路）、 (3)
・・制御装置、 (4)・・表示装置、 (10)・・送信
機、 (11)・・受信機、 (12)・・伝送装置、 (13,1
4)・・二進パルスビットストリーム、
フロントページの続き (72)発明者 アンドレイ・ポストカットチーブ アメリカ合衆国94025カリフォルニア州メ ンロ・パーク、エディソン・ウェイ3475− ディー Ｆターム(参考） 5K029 AA02 KK25

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 ウインドウコンパレータを有する制御手
    段と、 二進パルスビットストリームの持続時間中にウインドウ
    コンパレータの領域内のポイントに該当するビットスト
    リームのイベントカウントを蓄積する論理手段とを備
    え、 論理手段は、蓄積されたイベントカウントからビットス
    トリームの特性を特徴付けるアイダイアグラムを抽出し
    作成することを特徴とする二進パルスビットストリーム
    の特性測定装置。
  2. 【請求項２】 制御手段は、持続時間中に時間偏差でパ
    ルス電圧レベルのカウントを蓄積するポイントを形成す
    る縦列−横列から成る配列を確立するプログラマブル手
    段を備え、プログラマブル手段は、配列の横列の変化に
    対して、最小電圧と最大電圧との間で移動する電圧閾値
    領域を形成する請求項１に記載の二進パルスビットスト
    リームの特性測定装置。
  3. 【請求項３】 論理手段は、パルス電圧レベルが配列の
    各縦列−横列ポイントの電圧閾値領域内にあるとき、ビ
    ットストリームの様々な時間偏差で発生する二進パルス
    の電圧レベルを検出する論理回路を備える請求項２に記
    載の二進パルスビットストリームの特性測定装置。
  4. 【請求項４】 論理手段は、二進パルスビットストリー
    ムの各持続時間中に時間偏差で検出された二進パルス電
    圧レベルのカウントを配列の縦列−横列ポイントに蓄積
    する第１のカウンタ手段を備える請求項３に記載の二進
    パルスビットストリームの特性測定装置。
  5. 【請求項５】 論理手段は、二進パルスビットストリー
    ムの持続時間を決定して、配列の各ポイントの電圧閾値
    領域内に該当する検出された二進パルス電圧レベルのカ
    ウントを蓄積する第２のカウンタ手段を備える請求項４
    に記載の二進パルスビットストリームの特性測定装置。
  6. 【請求項６】 二進パルスビットストリームの特性を特
    徴付けるアイダイアグラムとして、蓄積された時間及び
    電圧カウントの配列の縦列−横列ポイントを表示する装
    置を備える請求項５に記載の二進パルスビットストリー
    ムの特性測定装置。
  7. 【請求項７】 二進パルスビットストリームの所定の持
    続時間の間に時間偏差で二進パルスビットストリームの
    電圧カウントを蓄積するポイントを形成する縦列−横列
    から成る配列を形成するウインドウコンパレータを備え
    た制御手段と、 最小電圧レベルと最大電圧レベルとの間で配列の各横列
    を変動する電圧閾値領域を形成すると共に、パルス電圧
    レベルが配列の各横列−縦列ポイントで電圧閾値領域内
    にあるとき、持続時間の間にビットストリームの時間偏
    差で発生する二進パルスの電圧レベルのカウントを蓄積
    し、二進パルスビットストリームの特性を特徴付けるア
    イダイアグラムとして、蓄積された時間カウント及び電
    圧カウントの縦列−横列から成る配列のポイントを表示
    する装置とを備えることを特徴とする二進パルスビット
    ストリームの特性測定装置。
  8. 【請求項８】 二進パルスビットストリームの所定の持
    続時間中に時間偏差でイベントカウントを蓄積するポイ
    ントを形成する縦列−横列から成る配列のウインドウコ
    ンパレータを形成する第１の制御手段と、 配列の各横列の変化に対して、最小電圧閾値と最大電圧
    閾値との間で変動する電圧閾値領域を形成する第２の制
    御手段と、 パルス電圧レベルが配列の各横列−縦列ポイントで電圧
    閾値領域内にあるとき、ビットストリームの時間偏差で
    発生する二進パルスの電圧レベルを検出する論理手段
    と、 二進パルスビットストリームの所定の各持続時間中に時
    間偏差で検出された二進パルス電圧レベルのカウントを
    配列の縦列−横列ポイントに蓄積する第１のカウンタ手
    段と、 検出された二進パルス電圧レベルを配列の各ポイントに
    蓄積する二進ビットストリームの周期の持続時間を決定
    する第２のカウンタ手段と、 二進パルスビットストリームの特性を特徴付けるアイダ
    イアグラムとして、蓄積されたイベントカウントの配列
    の縦列−横列ポイントを表示する表示装置とを備えるこ
    とを特徴とする二進パルスビットストリームの特性測定
    装置。
  9. 【請求項９】 ウインドウコンパレータを形成する過程
    と、 ウインドウコンパレータ内のポイントに二進パルスビッ
    トストリームの所定の持続時間中に時間偏差でビットス
    トリームパルスのイベントカウントを蓄積して、蓄積さ
    れたイベントカウントからビットストリームパルスの特
    性を特徴付けるアイダイアグラムを抽出し作成する過程
    とを含むことを特徴とする二進パルスビットストリーム
    の特性決定法。
  10. 【請求項１０】 ウインドウコンパレータを形成する過
    程は、所定の持続時間中に時間偏差でイベントカウント
    を蓄積するポイントを形成する縦列−横列から成る配列
    を表示する過程を含む請求項９に記載の二進パルスビッ
    トストリームの特性決定法。
  11. 【請求項１１】 ウインドウコンパレータを形成する過
    程は、最小電圧閾値及び最大電圧閾値に対して変動しか
    つ配列の横列に対して変化する電圧閾値領域を形成する
    過程を含む請求項１０に記載の二進パルスビットストリ
    ームの特性決定法。
  12. 【請求項１２】 イベントカウントを蓄積する過程は、
    パルス電圧レベルが配列の各横列−縦列ポイントで電圧
    閾値領域内にあるとき、ビットストリームの時間偏差で
    発生する二進パルスの電圧レベルを検出する過程を含む
    請求項１１に記載の二進パルスビットストリームの特性
    決定法。
  13. 【請求項１３】 イベントカウントを蓄積する過程は、
    二進パルスビットストリームの各持続時間の間に時間偏
    差で検出された二進パルス電圧レベルのカウントを配列
    の縦列−横列ポイントに蓄積する過程を含む請求項１２
    に記載の二進パルスビットストリームの特性決定法。
  14. 【請求項１４】 イベントカウントを蓄積する過程は、
    二進パルスビットストリームの特性を特徴付けるアイダ
    イアグラムとして、蓄積されたイベントカウントの配列
    の縦列−横列ポイントを表示する過程を含む請求項１３
    に記載の二進パルスビットストリームの特性決定法。
  15. 【請求項１５】 二進パルスビットストリームの所定の
    持続時間中に時間偏差で二進パルスビットストリームの
    イベントカウントを蓄積するポイントを形成する縦列−
    横列から成る配列のウインドウコンパレータを形成する
    過程と、 配列の各横列で最小電圧閾値と最大電圧閾値との間を変
    動する電圧閾値領域を形成する過程と、 パルス電圧レベルが配列の各横列−縦列のポイントで電
    圧閾値領域内にあるとき、持続時間の間にビットストリ
    ームの時間偏差で発生する二進パルスの電圧レベルのカ
    ウントを蓄積して、二進パルスビットストリームの特性
    を特徴付けるアイダイアグラムとして、蓄積されたイベ
    ントカウントの配列の縦列−横列ポイントを表示する過
    程とを含むことを特徴とする二進パルスビットストリー
    ムの特性決定法。
  16. 【請求項１６】 二進パルスビットストリームの所定の
    持続時間中に時間偏差でイベントカウントを蓄積するポ
    イントを形成する縦列−横列から成る配列のウインドウ
    コンパレータを形成する過程と、 所定の電圧レベル間を配列の縦方向に各横列を移動する
    電圧閾値領域を形成する過程と、 パルス電圧レベルが配列の各横列−縦列のポイントで電
    圧閾値領域内にあるとき、ビットストリームの時間偏差
    で発生する二進パルスの電圧レベルを検出する過程と、 時間偏差で検出された二進パルス電圧レベルのカウント
    を配列の縦列−横列ポイントに蓄積する過程と、 二進パルスビットストリームの特性を特徴付けるアイダ
    イアグラムとして、蓄積された時間及び電圧カウントの
    配列の縦列−横列ポイントを表示する過程とを含むこと
    を特徴とする二進パルスビットストリームの特性決定
    法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006133218A (ja) * 2004-09-24 2006-05-25 Tektronix Inc パターン識別方法
KR101288315B1 (ko) 2011-12-30 2013-07-23 (주) 와이팜 아이-다이어그램용 입력 신호 결정방법
JP2022126536A (ja) * 2021-02-18 2022-08-30 株式会社日立製作所 伝送制御方法、伝送制御システム

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7606297B2 (en) * 2002-03-15 2009-10-20 Synthesys Research, Inc. Method and system for creating an eye diagram using a binary data bit decision mechanism
US6745148B2 (en) * 2002-06-03 2004-06-01 Agilent Technologies, Inc. Intelligent test point selection for bit error rate tester-based diagrams
US6804633B2 (en) * 2003-01-31 2004-10-12 Agilent Technologies, Inc. Fast eye diagram analyzer uses nearest neighbor transverse to quickly discover basic eye diagrams
US7408981B2 (en) 2003-05-20 2008-08-05 Rambus Inc. Methods and circuits for performing margining tests in the presence of a decision feedback equalizer
US7590175B2 (en) 2003-05-20 2009-09-15 Rambus Inc. DFE margin test methods and circuits that decouple sample and feedback timing
US7336749B2 (en) 2004-05-18 2008-02-26 Rambus Inc. Statistical margin test methods and circuits
WO2004105334A2 (en) * 2003-05-20 2004-12-02 Rambus Inc. Margin test methods and circuits
US7627029B2 (en) 2003-05-20 2009-12-01 Rambus Inc. Margin test methods and circuits
US7467336B2 (en) * 2004-02-02 2008-12-16 Synthesys Research, Inc Method and apparatus to measure and display data dependent eye diagrams
US20060274873A1 (en) 2005-06-02 2006-12-07 Abramovitch Daniel Y Rapid data point selection for generating eye diagrams
KR100712519B1 (ko) * 2005-07-25 2007-04-27 삼성전자주식회사 아이 마스크를 이용하여 회로의 특성을 검출하는 테스트장비 및 테스트 방법
US7873132B2 (en) * 2005-09-21 2011-01-18 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Clock recovery
CN101119185B (zh) * 2006-08-02 2010-11-17 凌阳科技股份有限公司 自动等化器装置及其数字眼图侦测单元与方法
US9384107B2 (en) * 2010-11-08 2016-07-05 Mentor Graphics Corporation Improper voltage level detection in emulation systems
US9852057B2 (en) * 2015-06-24 2017-12-26 Finisar Corporation Light-weight on-chip signal monitor with integrated memory management and data collection
US20170089953A1 (en) * 2015-09-25 2017-03-30 Microsoft Technology Licensing, Llc Contour generation of prompted data signal
CN110688814B (zh) * 2018-07-06 2023-04-28 创意电子股份有限公司 眼图量测装置与眼图量测方法
TWI679860B (zh) * 2018-07-06 2019-12-11 創意電子股份有限公司 眼圖量測裝置與眼圖量測方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA2056679C (en) * 1991-11-29 2002-02-12 Timothy Joseph Nohara Automatic monitoring of digital communication channel conditions using eye patterns
US6728311B1 (en) * 2000-04-04 2004-04-27 Thomas Eugene Waschura Apparatus and method for creating eye diagram
US7013183B1 (en) * 2000-07-14 2006-03-14 Solvisions Technologies Int'l Multiplexer hardware and software for control of a deformable mirror
US7606297B2 (en) * 2002-03-15 2009-10-20 Synthesys Research, Inc. Method and system for creating an eye diagram using a binary data bit decision mechanism

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006133218A (ja) * 2004-09-24 2006-05-25 Tektronix Inc パターン識別方法
KR101288315B1 (ko) 2011-12-30 2013-07-23 (주) 와이팜 아이-다이어그램용 입력 신호 결정방법
JP2022126536A (ja) * 2021-02-18 2022-08-30 株式会社日立製作所 伝送制御方法、伝送制御システム
JP7266054B2 (ja) 2021-02-18 2023-04-27 株式会社日立製作所 伝送制御方法、伝送制御システム
US11644976B2 (en) 2021-02-18 2023-05-09 Hitachi, Ltd. Transmission control method and transmission control system

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