JP2003210431A - Ｆｉｄ信号の位相ずれ測定方法、ｓｅ・ｓｔｅ信号の位相ずれ測定方法、ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｆｉｄ信号の位相ずれ測定方法、ｓｅ・ｓｔｅ信号の位相ずれ測定方法、ｍｒイメージング方法およびｍｒｉ装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】バンドアーチファクトの無い画像を得る。
【解決手段】ＳＳＦＰ状態でデータの収集を行うパルス
シーケンスでＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の０次
の位相ずれを補正するようにＲＦパルスαの位相を調整
すると共にＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の１次の
位相ずれを補正する補正パルスをリード軸パルスに足し
込む。 【効果】バンドアーチファクトを抑制できる。
シーケンスでＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の０次
の位相ずれを補正するようにＲＦパルスαの位相を調整
すると共にＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の１次の
位相ずれを補正する補正パルスをリード軸パルスに足し
込む。 【効果】バンドアーチファクトを抑制できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＦＩＤ（Free Ind
uction Decay）信号の位相ずれ測定方法、ＳＥ（Spin E
cho）・ＳＴＥ（STimulated Echo）信号の位相ずれ測定
方法、ＭＲ（Magnetic Resonance）イメージング方法お
よびＭＲＩ（Magnetic Resonance Imaging）装置に関
し、更に詳しくは、静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号
の位相ずれを測定する方法、静磁場不均一に起因するＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号（ＳＥ信号およびＳＴＥ信号）の位相ず
れを測定する方法、静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号
の位相ずれとＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれとを補正して
行うＭＲイメージング方法およびそれら方法を実施しう
るＭＲＩ装置に関する。
uction Decay）信号の位相ずれ測定方法、ＳＥ（Spin E
cho）・ＳＴＥ（STimulated Echo）信号の位相ずれ測定
方法、ＭＲ（Magnetic Resonance）イメージング方法お
よびＭＲＩ（Magnetic Resonance Imaging）装置に関
し、更に詳しくは、静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号
の位相ずれを測定する方法、静磁場不均一に起因するＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号（ＳＥ信号およびＳＴＥ信号）の位相ず
れを測定する方法、静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号
の位相ずれとＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれとを補正して
行うＭＲイメージング方法およびそれら方法を実施しう
るＭＲＩ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】特許第２８９８３２９号公報には、次の
ＭＲイメージング方法が開示されている。 （１）ＳＳＦＰ（Steady State Free Precession）状態
でデータ収集を行うことを位相エンコード量を次々に変
えて繰り返してｋ空間を埋める各ビューｖのデータｆｖ
(０)を取得する。 （２）ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うことを位相エン
コード量を次々に変えると共にＲＦ位相を交互に１８０
゜変えることを繰り返してｋ空間を埋める各ビューｖの
データｆｖ(１)を取得する。 （３）ｆｖ(０)とｆｖ(１)を加算処理または減算処理し
てデータＡｖを生成する。 Ａｖ＝０.５×Ｆｖ(０)＋０.５×Ｆｖ(１) または Ａｖ＝０.５×Ｆｖ(０)−０.５×Ｆｖ(１) （４）得られたデータＡｖから画像を再構成する。
ＭＲイメージング方法が開示されている。 （１）ＳＳＦＰ（Steady State Free Precession）状態
でデータ収集を行うことを位相エンコード量を次々に変
えて繰り返してｋ空間を埋める各ビューｖのデータｆｖ
(０)を取得する。 （２）ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うことを位相エン
コード量を次々に変えると共にＲＦ位相を交互に１８０
゜変えることを繰り返してｋ空間を埋める各ビューｖの
データｆｖ(１)を取得する。 （３）ｆｖ(０)とｆｖ(１)を加算処理または減算処理し
てデータＡｖを生成する。 Ａｖ＝０.５×Ｆｖ(０)＋０.５×Ｆｖ(１) または Ａｖ＝０.５×Ｆｖ(０)−０.５×Ｆｖ(１) （４）得られたデータＡｖから画像を再構成する。
【０００３】上記ＭＲイメージング方法のようにＳＳＦ
Ｐ状態で収集したデータは、ＦＩＤ信号の成分とＳＥ・
ＳＴＥ信号の成分の両方を含むデータである。
Ｐ状態で収集したデータは、ＦＩＤ信号の成分とＳＥ・
ＳＴＥ信号の成分の両方を含むデータである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】特許第２８９８３２９
号公報に開示のＭＲイメージング方法のようにＳＳＦＰ
状態で収集したデータからイメージを生成した場合、静
磁場不均一があると、イメージ上にバンドアーチファク
トを生じることが知られている。このバンドアーチファ
クトを生じる原因は、静磁場不均一による位相ずれがＦ
ＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号とに生じ、ＦＩＤ信号とＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号とが相互干渉を起こすためである。そこ
で、本発明の目的は、静磁場不均一に起因するＦＩＤ信
号の位相ずれを測定する方法、静磁場不均一に起因する
ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを測定する方法、静磁場不
均一に起因するＦＩＤ信号の位相ずれとＳＥ・ＳＴＥ信
号の位相ずれとを補正して行うＭＲイメージング方法お
よびそれら方法を実施しうるＭＲＩ装置を提供すること
にある。
号公報に開示のＭＲイメージング方法のようにＳＳＦＰ
状態で収集したデータからイメージを生成した場合、静
磁場不均一があると、イメージ上にバンドアーチファク
トを生じることが知られている。このバンドアーチファ
クトを生じる原因は、静磁場不均一による位相ずれがＦ
ＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号とに生じ、ＦＩＤ信号とＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号とが相互干渉を起こすためである。そこ
で、本発明の目的は、静磁場不均一に起因するＦＩＤ信
号の位相ずれを測定する方法、静磁場不均一に起因する
ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを測定する方法、静磁場不
均一に起因するＦＩＤ信号の位相ずれとＳＥ・ＳＴＥ信
号の位相ずれとを補正して行うＭＲイメージング方法お
よびそれら方法を実施しうるＭＲＩ装置を提供すること
にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、本発明
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスにＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセット
するためのクラッシャーを加えると共に位相エンコード
軸パルスを省いたパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ
状態で位相ずれ測定用データを収集し、得られた位相ず
れ測定用データからＦＩＤ信号の位相ずれを測定するこ
とを特徴とするＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法を提供す
る。上記第１の観点によるＦＩＤ信号の位相ずれ測定方
法では、クラッシャーを加えることによりＳＥ・ＳＴＥ
信号の位相をリセットするため、得られた位相ずれ測定
用データは、ＦＩＤ信号成分の位相ずれを表すこととな
る。よって、得られた位相ずれ測定用データからＦＩＤ
信号の位相ずれを測定可能となる。
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスにＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセット
するためのクラッシャーを加えると共に位相エンコード
軸パルスを省いたパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ
状態で位相ずれ測定用データを収集し、得られた位相ず
れ測定用データからＦＩＤ信号の位相ずれを測定するこ
とを特徴とするＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法を提供す
る。上記第１の観点によるＦＩＤ信号の位相ずれ測定方
法では、クラッシャーを加えることによりＳＥ・ＳＴＥ
信号の位相をリセットするため、得られた位相ずれ測定
用データは、ＦＩＤ信号成分の位相ずれを表すこととな
る。よって、得られた位相ずれ測定用データからＦＩＤ
信号の位相ずれを測定可能となる。
【０００６】第２の観点では、本発明は、上記構成のＦ
ＩＤ信号の位相ずれ測定方法において、前記ＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相をリセットするためのクラッシャーは、デ
ータ収集期間より後のタイミングで位相エンコード軸お
よびリード軸の少なくとも一方に印加される勾配パルス
であることを特徴とするＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法
を提供する。上記第２の観点によるＦＩＤ信号の位相ず
れ測定方法では、データ収集期間より後のタイミングで
位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方に勾
配パルスを印加するため、ＦＩＤ信号成分の位相には影
響を与えずに、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットする
ことが出来る。
ＩＤ信号の位相ずれ測定方法において、前記ＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相をリセットするためのクラッシャーは、デ
ータ収集期間より後のタイミングで位相エンコード軸お
よびリード軸の少なくとも一方に印加される勾配パルス
であることを特徴とするＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法
を提供する。上記第２の観点によるＦＩＤ信号の位相ず
れ測定方法では、データ収集期間より後のタイミングで
位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方に勾
配パルスを印加するため、ＦＩＤ信号成分の位相には影
響を与えずに、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットする
ことが出来る。
【０００７】第３の観点では、本発明は、ＳＳＦＰ状態
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
にＦＩＤ信号の位相をリセットするためのクラッシャー
を加えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルス
シーケンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用デ
ータを収集し、得られた位相ずれ測定用データからＳＥ
・ＳＴＥ信号の位相ずれを測定することを特徴とするＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を提供する。上記第
３の観点によるＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法では、ク
ラッシャーを加えることによりＦＩＤ信号の位相をリセ
ットするため、得られた位相ずれ測定用データは、ＳＥ
・ＳＴＥ信号成分の位相ずれを表すこととなる。よっ
て、得られた位相ずれ測定用データからＳＥ・ＳＴＥ信
号の位相ずれを測定可能となる。
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
にＦＩＤ信号の位相をリセットするためのクラッシャー
を加えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルス
シーケンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用デ
ータを収集し、得られた位相ずれ測定用データからＳＥ
・ＳＴＥ信号の位相ずれを測定することを特徴とするＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を提供する。上記第
３の観点によるＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法では、ク
ラッシャーを加えることによりＦＩＤ信号の位相をリセ
ットするため、得られた位相ずれ測定用データは、ＳＥ
・ＳＴＥ信号成分の位相ずれを表すこととなる。よっ
て、得られた位相ずれ測定用データからＳＥ・ＳＴＥ信
号の位相ずれを測定可能となる。
【０００８】第４の観点では、本発明は、上記構成のＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法において、前記ＦＩ
Ｄ信号の位相をリセットするためのクラッシャーは、Ｒ
Ｆパルスより後で且つデータ収集期間より前のタイミン
グで位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方
に印加される勾配パルスであることを特徴とするＳＥ・
ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を提供する。上記第４の
観点によるＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法では、ＲＦパ
ルスより後で且つデータ収集期間より前のタイミングで
位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方に勾
配パルスを印加するため、ＳＥ・ＳＴＥ信号成分の位相
には影響を与えずに、ＦＩＤ信号の位相をリセットする
ことが出来る。
Ｅ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法において、前記ＦＩ
Ｄ信号の位相をリセットするためのクラッシャーは、Ｒ
Ｆパルスより後で且つデータ収集期間より前のタイミン
グで位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方
に印加される勾配パルスであることを特徴とするＳＥ・
ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を提供する。上記第４の
観点によるＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法では、ＲＦパ
ルスより後で且つデータ収集期間より前のタイミングで
位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方に勾
配パルスを印加するため、ＳＥ・ＳＴＥ信号成分の位相
には影響を与えずに、ＦＩＤ信号の位相をリセットする
ことが出来る。
【０００９】第５の観点では、本発明は、ＳＳＦＰ状態
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
のＲＦパルスの位相を調整してＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相ずれを補正したパルスシーケンスを反復し
てＳＳＦＰ状態でイメージング用データを収集し、得ら
れたイメージング用データからイメージを生成すること
を特徴とするＭＲイメージング方法を提供する。上記第
５の観点によるＭＲイメージング方法では、ＲＦパルス
の位相を調整することにより、ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の０次の位相ずれを補正することが出来るので、
静磁場不均一に起因するバンドアーチファクトを抑制す
ることが出来る。
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
のＲＦパルスの位相を調整してＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相ずれを補正したパルスシーケンスを反復し
てＳＳＦＰ状態でイメージング用データを収集し、得ら
れたイメージング用データからイメージを生成すること
を特徴とするＭＲイメージング方法を提供する。上記第
５の観点によるＭＲイメージング方法では、ＲＦパルス
の位相を調整することにより、ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の０次の位相ずれを補正することが出来るので、
静磁場不均一に起因するバンドアーチファクトを抑制す
ることが出来る。
【００１０】第６の観点では、本発明は、ＳＳＦＰ状態
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
にＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する
補正パルスを加えたパルスシーケンスを反復してＳＳＦ
Ｐ状態でイメージング用データを収集し、得られたイメ
ージング用データからイメージを生成することを特徴と
するＭＲイメージング方法を提供する。上記第６の観点
によるＭＲイメージング方法では、補正パルスを加える
ことにより、ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の１次の位
相ずれを補正することが出来るので、静磁場不均一に起
因するバンドアーチファクトを抑制することが出来る。
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
にＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する
補正パルスを加えたパルスシーケンスを反復してＳＳＦ
Ｐ状態でイメージング用データを収集し、得られたイメ
ージング用データからイメージを生成することを特徴と
するＭＲイメージング方法を提供する。上記第６の観点
によるＭＲイメージング方法では、補正パルスを加える
ことにより、ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の１次の位
相ずれを補正することが出来るので、静磁場不均一に起
因するバンドアーチファクトを抑制することが出来る。
【００１１】第７の観点では、本発明は、ＳＳＦＰ状態
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
のＲＦパルスの位相を調整すると共にＦＩＤ信号とＳＥ
・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する補正パルスを加えて
ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正したパ
ルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージング
用データを収集し、得られたイメージング用データから
イメージを生成することを特徴とするＭＲイメージング
方法を提供する。上記第７の観点によるＭＲイメージン
グ方法では、ＲＦパルスの位相を調整すること及び補正
パルスを加えることにより、ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ
信号の０次及び１次の位相ずれを補正することが出来る
ので、静磁場不均一に起因するバンドアーチファクトを
抑制することが出来る。
でデータ収集を行うために反復されるパルスシーケンス
のＲＦパルスの位相を調整すると共にＦＩＤ信号とＳＥ
・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する補正パルスを加えて
ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正したパ
ルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージング
用データを収集し、得られたイメージング用データから
イメージを生成することを特徴とするＭＲイメージング
方法を提供する。上記第７の観点によるＭＲイメージン
グ方法では、ＲＦパルスの位相を調整すること及び補正
パルスを加えることにより、ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ
信号の０次及び１次の位相ずれを補正することが出来る
ので、静磁場不均一に起因するバンドアーチファクトを
抑制することが出来る。
【００１２】第８の観点では、本発明は、上記構成のＭ
Ｒイメージング方法において、前記補正パルスがリード
軸パルスに足し込まれていることを特徴とするＭＲイメ
ージング方法を提供する。補正パルスは、独自に加えて
もよいが、リード軸パルスに足し込んでもよい。
Ｒイメージング方法において、前記補正パルスがリード
軸パルスに足し込まれていることを特徴とするＭＲイメ
ージング方法を提供する。補正パルスは、独自に加えて
もよいが、リード軸パルスに足し込んでもよい。
【００１３】第９の観点では、本発明は、ＲＦパルスを
送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するため
の勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コイ
ルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを駆
動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデー
タを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを具
備してなるＭＲＩ装置であって、ＳＳＦＰ状態でデータ
収集を行うために反復されるパルスシーケンスにＳＥ・
ＳＴＥ信号の位相をリセットするためのクラッシャーを
加えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルスシ
ーケンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用デー
タを収集し、得られた位相ずれ測定用データからＦＩＤ
信号の位相ずれを測定する位相ずれ測定手段を具備した
ことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第９の観
点によるＭＲＩ装置では、上記第１の観点によるＦＩＤ
信号の位相ずれ測定方法を好適に実施できる。
送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するため
の勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コイ
ルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを駆
動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデー
タを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを具
備してなるＭＲＩ装置であって、ＳＳＦＰ状態でデータ
収集を行うために反復されるパルスシーケンスにＳＥ・
ＳＴＥ信号の位相をリセットするためのクラッシャーを
加えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルスシ
ーケンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用デー
タを収集し、得られた位相ずれ測定用データからＦＩＤ
信号の位相ずれを測定する位相ずれ測定手段を具備した
ことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第９の観
点によるＭＲＩ装置では、上記第１の観点によるＦＩＤ
信号の位相ずれ測定方法を好適に実施できる。
【００１４】第１０の観点では、本発明は、上記構成の
ＭＲＩ装置において、前記ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリ
セットするためのクラッシャーは、データ収集期間より
後のタイミングで位相エンコード軸およびリード軸の少
なくとも一方に印加される勾配パルスであることを特徴
とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１０の観点による
ＭＲＩ装置では、上記第２の観点によるＦＩＤ信号の位
相ずれ測定方法を好適に実施できる。
ＭＲＩ装置において、前記ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリ
セットするためのクラッシャーは、データ収集期間より
後のタイミングで位相エンコード軸およびリード軸の少
なくとも一方に印加される勾配パルスであることを特徴
とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１０の観点による
ＭＲＩ装置では、上記第２の観点によるＦＩＤ信号の位
相ずれ測定方法を好適に実施できる。
【００１５】第１１の観点では、本発明は、ＲＦパルス
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、ＳＳＦＰ状態でデー
タ収集を行うために反復されるパルスシーケンスにＦＩ
Ｄ信号の位相をリセットするためのクラッシャーを加え
ると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルスシーケ
ンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用データを
収集し、得られた位相ずれ測定用データからＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相ずれを測定する位相ずれ測定手段を具備し
たことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１１
の観点によるＭＲＩ装置では、上記第３の観点によるＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を好適に実施でき
る。
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、ＳＳＦＰ状態でデー
タ収集を行うために反復されるパルスシーケンスにＦＩ
Ｄ信号の位相をリセットするためのクラッシャーを加え
ると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルスシーケ
ンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用データを
収集し、得られた位相ずれ測定用データからＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相ずれを測定する位相ずれ測定手段を具備し
たことを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１１
の観点によるＭＲＩ装置では、上記第３の観点によるＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を好適に実施でき
る。
【００１６】第１２の観点では、本発明は、上記構成の
ＭＲＩ装置において、前記ＦＩＤ信号の位相をリセット
するためのクラッシャーは、ＲＦパルスより後で且つデ
ータ収集期間より前のタイミングで位相エンコード軸お
よびリード軸の少なくとも一方に印加される勾配パルス
であることを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第
１２の観点によるＭＲＩ装置では、上記第４の観点によ
るＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を好適に実施で
きる。
ＭＲＩ装置において、前記ＦＩＤ信号の位相をリセット
するためのクラッシャーは、ＲＦパルスより後で且つデ
ータ収集期間より前のタイミングで位相エンコード軸お
よびリード軸の少なくとも一方に印加される勾配パルス
であることを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第
１２の観点によるＭＲＩ装置では、上記第４の観点によ
るＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定方法を好適に実施で
きる。
【００１７】第１３の観点では、本発明は、ＲＦパルス
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、前記スキャン手段
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスのＲＦパルスの位相を調整してＦＩＤ
信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正したパルスシ
ーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージング用デー
タを収集することを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
上記第１３の観点によるＭＲＩ装置では、上記第５の観
点によるＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、前記スキャン手段
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスのＲＦパルスの位相を調整してＦＩＤ
信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正したパルスシ
ーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージング用デー
タを収集することを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。
上記第１３の観点によるＭＲＩ装置では、上記第５の観
点によるＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
【００１８】第１４の観点では、本発明は、ＲＦパルス
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、前記スキャン手段
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスにＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位
相ずれを補正する補正パルスを加えたパルスシーケンス
を反復してＳＳＦＰ状態でイメージング用データを収集
することを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１
４の観点によるＭＲＩ装置では、上記第６の観点による
ＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、前記スキャン手段
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスにＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位
相ずれを補正する補正パルスを加えたパルスシーケンス
を反復してＳＳＦＰ状態でイメージング用データを収集
することを特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１
４の観点によるＭＲＩ装置では、上記第６の観点による
ＭＲイメージング方法を好適に実施できる。
【００１９】第１５の観点では、本発明は、ＲＦパルス
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、前記スキャン手段
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスのＲＦパルスの位相を調整すると共に
ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する補
正パルスを加えてＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相
ずれを補正したパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状
態でイメージング用データを収集することを特徴とする
ＭＲＩ装置を提供する。上記第１５の観点によるＭＲＩ
装置では、上記第７の観点によるＭＲイメージング方法
を好適に実施できる。
を送信するための送信コイルと、勾配磁場を印加するた
めの勾配コイルと、ＮＭＲ信号を受信するための受信コ
イルと、前記送信コイルと勾配コイルと受信コイルとを
駆動してデータを収集するスキャン手段と、収集したデ
ータを演算処理して画像を生成するデータ処理手段とを
具備してなるＭＲＩ装置であって、前記スキャン手段
は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復される
パルスシーケンスのＲＦパルスの位相を調整すると共に
ＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する補
正パルスを加えてＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相
ずれを補正したパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状
態でイメージング用データを収集することを特徴とする
ＭＲＩ装置を提供する。上記第１５の観点によるＭＲＩ
装置では、上記第７の観点によるＭＲイメージング方法
を好適に実施できる。
【００２０】第１６の観点では、本発明は、請求項１３
または請求項１５上記構成のＭＲＩ装置において、前記
補正パルスがリード軸パルスに足し込まれていることを
特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１６の観点に
よるＭＲＩ装置では、上記第８の観点によるＭＲイメー
ジング方法を好適に実施できる。
または請求項１５上記構成のＭＲＩ装置において、前記
補正パルスがリード軸パルスに足し込まれていることを
特徴とするＭＲＩ装置を提供する。上記第１６の観点に
よるＭＲＩ装置では、上記第８の観点によるＭＲイメー
ジング方法を好適に実施できる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施形態により本
発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明
が限定されるものではない。
【００２２】図１は、本発明の一実施形態にかかるＭＲ
Ｉ装置を示すブロック図である。このＭＲＩ装置１００
において、マグネットアセンブリ１は、内部に被検体を
挿入するための空間部分（ボア）を有し、この空間部分
を取りまくようにして、被検体に一定の静磁場を印加す
る静磁場コイル１ｐと、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の勾配磁場
（Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の組み合わせによりスライス軸，リ
ード軸，位相エンコード軸が形成される）を発生するた
めの勾配磁場コイル１ｇと、被検体内の原子核のスピン
を励起するためのＲＦパルスを与える送信コイル１ｔ
と、被検体からのＮＭＲ信号を検出する受信コイル１ｒ
とが配置されている。静磁場コイル１ｐ，勾配磁場コイ
ル１ｇ，送信コイル１ｔおよび受信コイル１ｒは、それ
ぞれ静磁場電源２，勾配磁場駆動回路３，ＲＦ電力増幅
器４および前置増幅器５に接続されている。なお、静磁
場コイル１ｐの代わりに永久磁石を用いてもよい。
Ｉ装置を示すブロック図である。このＭＲＩ装置１００
において、マグネットアセンブリ１は、内部に被検体を
挿入するための空間部分（ボア）を有し、この空間部分
を取りまくようにして、被検体に一定の静磁場を印加す
る静磁場コイル１ｐと、Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の勾配磁場
（Ｘ軸，Ｙ軸，Ｚ軸の組み合わせによりスライス軸，リ
ード軸，位相エンコード軸が形成される）を発生するた
めの勾配磁場コイル１ｇと、被検体内の原子核のスピン
を励起するためのＲＦパルスを与える送信コイル１ｔ
と、被検体からのＮＭＲ信号を検出する受信コイル１ｒ
とが配置されている。静磁場コイル１ｐ，勾配磁場コイ
ル１ｇ，送信コイル１ｔおよび受信コイル１ｒは、それ
ぞれ静磁場電源２，勾配磁場駆動回路３，ＲＦ電力増幅
器４および前置増幅器５に接続されている。なお、静磁
場コイル１ｐの代わりに永久磁石を用いてもよい。
【００２３】シーケンス記憶回路６は、計算機７からの
指令に従い、記憶しているパルスシーケンスに基づいて
勾配磁場駆動回路３を操作し、マグネットアセンブリ１
の勾配磁場コイル１ｇから勾配磁場を発生させると共
に、ゲート変調回路８を操作し、ＲＦ発振回路９の搬送
波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパルス
状信号に変調し、それをＲＦパルスとしてＲＦ電力増幅
器４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した後、マ
グネットアセンブリ１の送信コイル１ｔに印加し、所望
の撮像面を選択励起する。
指令に従い、記憶しているパルスシーケンスに基づいて
勾配磁場駆動回路３を操作し、マグネットアセンブリ１
の勾配磁場コイル１ｇから勾配磁場を発生させると共
に、ゲート変調回路８を操作し、ＲＦ発振回路９の搬送
波出力信号を所定タイミング・所定包絡線形状のパルス
状信号に変調し、それをＲＦパルスとしてＲＦ電力増幅
器４に加え、ＲＦ電力増幅器４でパワー増幅した後、マ
グネットアセンブリ１の送信コイル１ｔに印加し、所望
の撮像面を選択励起する。
【００２４】前置増幅器５は、マグネットアセンブリ１
の受信コイル１ｒで受信された被検体からのＮＭＲ信号
を増幅し、位相検波器１０に入力する。位相検波器１０
は、ＲＦ発振回路９の搬送波出力信号を参照信号とし、
前置増幅器５からのＮＭＲ信号を位相検波して、ＡＤ変
換器１１に与える。ＡＤ変換器１１は、位相検波後のア
ナログ信号をデジタルデータに変換して、計算機７に入
力する。
の受信コイル１ｒで受信された被検体からのＮＭＲ信号
を増幅し、位相検波器１０に入力する。位相検波器１０
は、ＲＦ発振回路９の搬送波出力信号を参照信号とし、
前置増幅器５からのＮＭＲ信号を位相検波して、ＡＤ変
換器１１に与える。ＡＤ変換器１１は、位相検波後のア
ナログ信号をデジタルデータに変換して、計算機７に入
力する。
【００２５】計算機７は、操作コンソール１２から入力
された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
また、計算機７は、ＡＤ変換器１１からデジタルデータ
を読み込み、演算処理を行って画像を生成する。表示装
置１３は、画像やメッセージを表示する。
された情報を受け取るなどの全体的な制御を受け持つ。
また、計算機７は、ＡＤ変換器１１からデジタルデータ
を読み込み、演算処理を行って画像を生成する。表示装
置１３は、画像やメッセージを表示する。
【００２６】図２は、ＦＩＤ信号の位相ずれ測定用パル
スシーケンスの第１例を示すパルスシーケンス図であ
る。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦＰ状
態となるまで反復される。このＦＩＤ信号の位相ずれ測
定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を
行うために反復されるパルスシーケンスにＳＥ・ＳＴＥ
信号の位相をリセットするためのクラッシャーＣｓを加
えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルスシー
ケンスである。ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットする
ためのクラッシャーＣｓは、データ収集期間より後のタ
イミングで、位相エンコード軸に加えられている。
スシーケンスの第１例を示すパルスシーケンス図であ
る。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦＰ状
態となるまで反復される。このＦＩＤ信号の位相ずれ測
定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を
行うために反復されるパルスシーケンスにＳＥ・ＳＴＥ
信号の位相をリセットするためのクラッシャーＣｓを加
えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルスシー
ケンスである。ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットする
ためのクラッシャーＣｓは、データ収集期間より後のタ
イミングで、位相エンコード軸に加えられている。
【００２７】図３は、ＦＩＤ信号の位相ずれ測定用パル
スシーケンスの第２例を示すパルスシーケンス図であ
る。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦＰ状
態となるまで反復される。このＦＩＤ信号の位相ずれ測
定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を
行うために反復されるパルスシーケンスのリード軸パル
スに、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットするためのク
ラッシャーＣｓを足し込むと共に、位相エンコード軸パ
ルスを省いたパルスシーケンスである。ＳＥ・ＳＴＥ信
号の位相をリセットするためのクラッシャーＣｓは、デ
ータ収集期間より後のタイミングで、位相エンコード軸
に加えられている。
スシーケンスの第２例を示すパルスシーケンス図であ
る。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦＰ状
態となるまで反復される。このＦＩＤ信号の位相ずれ測
定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を
行うために反復されるパルスシーケンスのリード軸パル
スに、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットするためのク
ラッシャーＣｓを足し込むと共に、位相エンコード軸パ
ルスを省いたパルスシーケンスである。ＳＥ・ＳＴＥ信
号の位相をリセットするためのクラッシャーＣｓは、デ
ータ収集期間より後のタイミングで、位相エンコード軸
に加えられている。
【００２８】図４は、上記ＦＩＤ信号の位相ずれ測定用
パルスシーケンスを用いて収集されたローデータＲＤｆ
を示す概念図である。静磁場不均一がない場合にはサン
プリング番号０での信号の強さがピークになるが、静磁
場不均一がある場合にはサンプリング番号０からズレて
信号の強さのピークが現れる。このズレからＦＩＤ信号
の１次の位相ずれΔφｆを測定することが出来る。
パルスシーケンスを用いて収集されたローデータＲＤｆ
を示す概念図である。静磁場不均一がない場合にはサン
プリング番号０での信号の強さがピークになるが、静磁
場不均一がある場合にはサンプリング番号０からズレて
信号の強さのピークが現れる。このズレからＦＩＤ信号
の１次の位相ずれΔφｆを測定することが出来る。
【００２９】図５は、上記ＦＩＤ信号の位相ずれ測定用
パルスシーケンスを用いて収集されたローデータＲＤｆ
をフーリエ変換して得たイメージの位相を示す概念図で
ある。静磁場不均一がない場合には位置にかかわらず位
相が０になるが、静磁場不均一がある場合には位相が０
にならず、位置に依存した変化を示すことが多い。この
位置に依存した位相の変化からＦＩＤ信号の１次の位相
ずれΔΦｆを測定することが出来る。また、ＦＩＤ信号
の０次の位相ずれφf0を測定することが出来る。
パルスシーケンスを用いて収集されたローデータＲＤｆ
をフーリエ変換して得たイメージの位相を示す概念図で
ある。静磁場不均一がない場合には位置にかかわらず位
相が０になるが、静磁場不均一がある場合には位相が０
にならず、位置に依存した変化を示すことが多い。この
位置に依存した位相の変化からＦＩＤ信号の１次の位相
ずれΔΦｆを測定することが出来る。また、ＦＩＤ信号
の０次の位相ずれφf0を測定することが出来る。
【００３０】図６は、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定
用パルスシーケンスの第１例を示すパルスシーケンス図
である。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦ
Ｐ状態となるまで反復される。このＳＥ・ＳＴＥ信号の
位相ずれ測定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデ
ータ収集を行うために反復されるパルスシーケンスにＦ
ＩＤ信号の位相をリセットするためのクラッシャーＣｆ
を加えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルス
シーケンスである。ＦＩＤ信号の位相をリセットするた
めのクラッシャーＣｆは、ＲＦパルスαよりも後で且つ
データ収集期間より前のタイミングで、位相エンコード
軸に加えられている。
用パルスシーケンスの第１例を示すパルスシーケンス図
である。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦ
Ｐ状態となるまで反復される。このＳＥ・ＳＴＥ信号の
位相ずれ測定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデ
ータ収集を行うために反復されるパルスシーケンスにＦ
ＩＤ信号の位相をリセットするためのクラッシャーＣｆ
を加えると共に位相エンコード軸パルスを省いたパルス
シーケンスである。ＦＩＤ信号の位相をリセットするた
めのクラッシャーＣｆは、ＲＦパルスαよりも後で且つ
データ収集期間より前のタイミングで、位相エンコード
軸に加えられている。
【００３１】図７は、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定
用パルスシーケンスの第２例を示すパルスシーケンス図
である。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦ
Ｐ状態となるまで反復される。このＳＥ・ＳＴＥ信号の
位相ずれ測定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデ
ータ収集を行うために反復されるパルスシーケンスのリ
ード軸パルスに、ＦＩＤ信号の位相をリセットするため
のクラッシャーＣｆを足し込むと共に、位相エンコード
軸パルスを省いたパルスシーケンスである。ＦＩＤ信号
の位相をリセットするためのクラッシャーＣｆは、ＲＦ
パルスαより後で且つデータ収集期間より前のタイミン
グで、位相エンコード軸に加えられている。
用パルスシーケンスの第２例を示すパルスシーケンス図
である。なお、図では２ＴＲ分を示しているが、ＳＳＦ
Ｐ状態となるまで反復される。このＳＥ・ＳＴＥ信号の
位相ずれ測定用パルスシーケンスは、ＳＳＦＰ状態でデ
ータ収集を行うために反復されるパルスシーケンスのリ
ード軸パルスに、ＦＩＤ信号の位相をリセットするため
のクラッシャーＣｆを足し込むと共に、位相エンコード
軸パルスを省いたパルスシーケンスである。ＦＩＤ信号
の位相をリセットするためのクラッシャーＣｆは、ＲＦ
パルスαより後で且つデータ収集期間より前のタイミン
グで、位相エンコード軸に加えられている。
【００３２】図８は、上記ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ
測定用パルスシーケンスを用いて収集されたローデータ
ＲＤｅを示す概念図である。静磁場不均一がない場合に
はサンプリング番号０での信号の強さがピークになる
が、静磁場不均一がある場合にはサンプリング番号０か
らズレて信号の強さのピークが現れる。このズレからＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の１次の位相ずれΔΦｅを測定すること
が出来る。
測定用パルスシーケンスを用いて収集されたローデータ
ＲＤｅを示す概念図である。静磁場不均一がない場合に
はサンプリング番号０での信号の強さがピークになる
が、静磁場不均一がある場合にはサンプリング番号０か
らズレて信号の強さのピークが現れる。このズレからＳ
Ｅ・ＳＴＥ信号の１次の位相ずれΔΦｅを測定すること
が出来る。
【００３３】図９は、上記ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ
測定用パルスシーケンスを用いて収集されたローデータ
ＲＤｅをフーリエ変換して得たイメージの位相を示す概
念図である。静磁場不均一がない場合には位置にかかわ
らず位相が０になるが、静磁場不均一がある場合には位
相が０にならず、位置に依存した変化を示すことが多
い。この位置に依存した位相の変化からＳＥ・ＳＴＥ信
号の１次の位相ずれΔΦｅを測定することが出来る。ま
た、ＳＥ・ＳＴＥ信号の０次の位相ずれφe0を測定する
ことが出来る。
測定用パルスシーケンスを用いて収集されたローデータ
ＲＤｅをフーリエ変換して得たイメージの位相を示す概
念図である。静磁場不均一がない場合には位置にかかわ
らず位相が０になるが、静磁場不均一がある場合には位
相が０にならず、位置に依存した変化を示すことが多
い。この位置に依存した位相の変化からＳＥ・ＳＴＥ信
号の１次の位相ずれΔΦｅを測定することが出来る。ま
た、ＳＥ・ＳＴＥ信号の０次の位相ずれφe0を測定する
ことが出来る。
【００３４】次に、クラッシャＣｓ，Ｃｆの働きを説明
する。図１０は、静磁場不均一によるＦＩＤ信号の位相
ずれを説明するための模式図である。図１０では、静磁
場不均一や渦電流や残留磁化等の影響を、リード軸に存
在する一定の磁場として表している。この一定の磁場
を、各ＴＲ毎に、ＲＦパルスαからデータ収集期間まで
積分した面積Ｚｆが、ＦＩＤ信号の位相ずれを生じさせ
る。
する。図１０は、静磁場不均一によるＦＩＤ信号の位相
ずれを説明するための模式図である。図１０では、静磁
場不均一や渦電流や残留磁化等の影響を、リード軸に存
在する一定の磁場として表している。この一定の磁場
を、各ＴＲ毎に、ＲＦパルスαからデータ収集期間まで
積分した面積Ｚｆが、ＦＩＤ信号の位相ずれを生じさせ
る。
【００３５】図１１は、静磁場不均一によるＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相ずれを説明するための模式図である。図１
１では、静磁場不均一や渦電流や残留磁化等の影響を、
リード軸に存在する一定の磁場として表している。この
一定の磁場を、着目するデータ収集期間より２つ以上前
のＲＦパルスαから着目するデータ収集期間まで積分し
た面積Ｚｅ（ＲＦパルスαを挟む同じ面積同士は影響が
相殺されるので、面積Ｚｅだけが実際に影響する面積と
なる）が、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを生じさせる。
Ｅ信号の位相ずれを説明するための模式図である。図１
１では、静磁場不均一や渦電流や残留磁化等の影響を、
リード軸に存在する一定の磁場として表している。この
一定の磁場を、着目するデータ収集期間より２つ以上前
のＲＦパルスαから着目するデータ収集期間まで積分し
た面積Ｚｅ（ＲＦパルスαを挟む同じ面積同士は影響が
相殺されるので、面積Ｚｅだけが実際に影響する面積と
なる）が、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを生じさせる。
【００３６】図２のクラッシャＣｓの面積は、図１１の
面積Ｚｅよりずっと大きいため、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位
相がクラッシャＣｓでリセットされる。また、図２のク
ラッシャＣｓは、データ収集期間より後であるため、Ｆ
ＩＤ信号の位相に影響しない。
面積Ｚｅよりずっと大きいため、ＳＥ・ＳＴＥ信号の位
相がクラッシャＣｓでリセットされる。また、図２のク
ラッシャＣｓは、データ収集期間より後であるため、Ｆ
ＩＤ信号の位相に影響しない。
【００３７】他方、図６のクラッシャＣｆの面積は、図
１０の面積Ｚｆよりずっと大きいため、ＦＩＤ信号の位
相がクラッシャＣｆでリセットされる。また、図６のク
ラッシャＣｆは、ＲＦパルスαを挟んで存在するため、
ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相に影響しない（相殺される）。
１０の面積Ｚｆよりずっと大きいため、ＦＩＤ信号の位
相がクラッシャＣｆでリセットされる。また、図６のク
ラッシャＣｆは、ＲＦパルスαを挟んで存在するため、
ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相に影響しない（相殺される）。
【００３８】なお、クラッシャＣｓ，Ｃｆを、位相エン
コード軸とリード軸の両方に印加してもよい。
コード軸とリード軸の両方に印加してもよい。
【００３９】図１２は、位相ずれの補正方法を示す概念
図である。（ａ）に示すようにＲＦパルスαの位相を調
整することで、ＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の０
次の位相ずれφf0およびφe0を補正できる。また、
（ｂ）に示すように補正パルスｈをリード軸パルスに足
し込むことで、ＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の１
次の位相ずれΔΦｆおよびΔΦｅを補正できる。
図である。（ａ）に示すようにＲＦパルスαの位相を調
整することで、ＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の０
次の位相ずれφf0およびφe0を補正できる。また、
（ｂ）に示すように補正パルスｈをリード軸パルスに足
し込むことで、ＦＩＤ信号およびＳＥ・ＳＴＥ信号の１
次の位相ずれΔΦｆおよびΔΦｅを補正できる。
【００４０】なお、位相調整したＲＦパルスαおよび補
正パルスｈを足し込んだリード軸パルスを用いて位相ず
れを再測定し、得られた位相ずれを基にＲＦパルスαの
位相の再調整と補正パルスの再調整とを行うことを数回
繰り返し、補正を最適化する。
正パルスｈを足し込んだリード軸パルスを用いて位相ず
れを再測定し、得られた位相ずれを基にＲＦパルスαの
位相の再調整と補正パルスの再調整とを行うことを数回
繰り返し、補正を最適化する。
【００４１】図１３は、ＳＳＦＰ状態でイメージング用
データを収集するために反復されるパルスシーケンスを
示すパルスシーケンス図である。ＲＦパルスαの位相
は、０次の位相ずれを補正するように調整されている。
また、リード軸パルスには、１次の位相ずれを補正する
補正パルスが足し込まれている。位相エンコード軸に
は、位相エンコード軸パルス（エンコーダおよびリワイ
ンダ）が印加される。このパルスシーケンスを用いて収
集したイメージング用データからイメージを生成すれ
ば、静磁場不均一があった場合でも、バンドアーチファ
クトを抑制することが出来る。
データを収集するために反復されるパルスシーケンスを
示すパルスシーケンス図である。ＲＦパルスαの位相
は、０次の位相ずれを補正するように調整されている。
また、リード軸パルスには、１次の位相ずれを補正する
補正パルスが足し込まれている。位相エンコード軸に
は、位相エンコード軸パルス（エンコーダおよびリワイ
ンダ）が印加される。このパルスシーケンスを用いて収
集したイメージング用データからイメージを生成すれ
ば、静磁場不均一があった場合でも、バンドアーチファ
クトを抑制することが出来る。
【００４２】上記ＭＲＩ装置１００によれば、次の効果
が得られる。 （Ａ）静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号の位相ずれを
測定できる。 （Ｂ）静磁場不均一に起因するＳＥ・ＳＴＥ信号の位相
ずれを測定できる。 （Ｃ）静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号の位相ずれと
ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれとを補正でき、イメージ上
のバンドアーチファクトを抑制できる。
が得られる。 （Ａ）静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号の位相ずれを
測定できる。 （Ｂ）静磁場不均一に起因するＳＥ・ＳＴＥ信号の位相
ずれを測定できる。 （Ｃ）静磁場不均一に起因するＦＩＤ信号の位相ずれと
ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれとを補正でき、イメージ上
のバンドアーチファクトを抑制できる。
【００４３】なお、本発明は、ＳＳＦＰ状態でデータの
収集を行うパルスシーケンス、例えばＦＩＥＳＴＡ（Fa
st Imaging Employing STeady state Acqisition）、Tr
ueＳＳＦＰなどに適用可能である。また、これらパルス
シーケンスの３Ｄの場合にも適用可能である。また、こ
れらパルスシーケンスで流れ補正を行う場合にも適用可
能である。
収集を行うパルスシーケンス、例えばＦＩＥＳＴＡ（Fa
st Imaging Employing STeady state Acqisition）、Tr
ueＳＳＦＰなどに適用可能である。また、これらパルス
シーケンスの３Ｄの場合にも適用可能である。また、こ
れらパルスシーケンスで流れ補正を行う場合にも適用可
能である。
【００４４】
【発明の効果】本発明のＭＲイメージング方法およびＭ
ＲＩ装置によれば、バンドアーチファクトの無い画質の
良好な画像が得られる可能性がある。
ＲＩ装置によれば、バンドアーチファクトの無い画質の
良好な画像が得られる可能性がある。
【図１】本発明の一実施形態にかかるＭＲＩ装置のブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】ＦＩＤ信号の位相ずれ測定用パルスシーケンス
の第１例を示すパルスシーケンス図である。
の第１例を示すパルスシーケンス図である。
【図３】ＦＩＤ信号の位相ずれ測定用パルスシーケンス
の第２例を示すパルスシーケンス図である。
の第２例を示すパルスシーケンス図である。
【図４】ＦＩＤ信号の０次の位相ずれを示す概念図であ
る。
る。
【図５】ＦＩＤ信号の１次の位相ずれを示す概念図であ
る。
る。
【図６】ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定用パルスシー
ケンスの第１例を示すパルスシーケンス図である。
ケンスの第１例を示すパルスシーケンス図である。
【図７】ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定用パルスシー
ケンスの第２例を示すパルスシーケンス図である。
ケンスの第２例を示すパルスシーケンス図である。
【図８】ＳＥ・ＳＴＥ信号の０次の位相ずれを示す概念
図である。
図である。
【図９】ＳＥ・ＳＴＥ信号の１次の位相ずれを示す概念
図である。
図である。
【図１０】ＦＩＤ信号の位相ずれを説明するための模式
図である。
図である。
【図１１】ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを説明するため
の模式図である。
の模式図である。
【図１２】位相ずれの補正方法を説明するための模式図
である。
である。
【図１３】イメージング用パルスシーケンスを示すパル
スシーケンス図である。
スシーケンス図である。
１ マグネットアセンブリ
１ｔ 送信コイル
１ｒ 受信コイル
４ ＲＦ電力増幅器
５ 前置増幅器
７ 計算機
８ シーケンス記憶回路
１００ ＭＲＩ装置
Ｃｓ，Ｃｆ クラッシャ
ｈ 補正パルス
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 山崎 亜紀
東京都日野市旭ケ丘４丁目７番地の127
ジーイー横河メディカルシステム株式会社
内
Ｆターム(参考） 4C096 AA20 AB05 AB18 AD02 AD06
AD12 AD24 BA05 BA08 BA24
BA41 DA06
Claims (16)
- 【請求項１】 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために
反復されるパルスシーケンスにＳＥ・ＳＴＥ信号の位相
をリセットするためのクラッシャーを加えると共に位相
エンコード軸パルスを省いたパルスシーケンスを反復し
てＳＳＦＰ状態で位相ずれ測定用データを収集し、得ら
れた位相ずれ測定用データからＦＩＤ信号の位相ずれを
測定することを特徴とするＦＩＤ信号の位相ずれ測定方
法。 - 【請求項２】 請求項１に記載のＦＩＤ信号の位相ずれ
測定方法において、前記ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセ
ットするためのクラッシャーは、データ収集期間より後
のタイミングで位相エンコード軸およびリード軸の少な
くとも一方に印加される勾配パルスであることを特徴と
するＦＩＤ信号の位相ずれ測定方法。 - 【請求項３】 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために
反復されるパルスシーケンスにＦＩＤ信号の位相をリセ
ットするためのクラッシャーを加えると共に位相エンコ
ード軸パルスを省いたパルスシーケンスを反復してＳＳ
ＦＰ状態で位相ずれ測定用データを収集し、得られた位
相ずれ測定用データからＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを
測定することを特徴とするＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ
測定方法。 - 【請求項４】 請求項３に記載のＳＥ・ＳＴＥ信号の位
相ずれ測定方法において、前記ＦＩＤ信号をリセットす
るためのクラッシャーは、ＲＦパルスより後で且つデー
タ収集期間より前のタイミングで位相エンコード軸およ
びリード軸の少なくとも一方に印加される勾配パルスで
あることを特徴とするＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれ測定
方法。 - 【請求項５】 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために
反復されるパルスシーケンスのＲＦパルスの位相を調整
してＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正し
たパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージ
ング用データを収集し、得られたイメージング用データ
からイメージを生成することを特徴とするＭＲイメージ
ング方法。 - 【請求項６】 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために
反復されるパルスシーケンスにＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴ
Ｅ信号の位相ずれを補正する補正パルスを加えたパルス
シーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージング用デ
ータを収集し、得られたイメージング用データからイメ
ージを生成することを特徴とするＭＲイメージング方
法。 - 【請求項７】 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために
反復されるパルスシーケンスのＲＦパルスの位相を調整
すると共にＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを
補正する補正パルスを加えてＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ
信号の位相ずれを補正したパルスシーケンスを反復して
ＳＳＦＰ状態でイメージング用データを収集し、得られ
たイメージング用データからイメージを生成することを
特徴とするＭＲイメージング方法。 - 【請求項８】 請求項５または請求項７に記載のＭＲイ
メージング方法において、前記補正パルスがリード軸パ
ルスに足し込まれていることを特徴とするＭＲイメージ
ング方法。 - 【請求項９】 ＲＦパルスを送信するための送信コイル
と、勾配磁場を印加するための勾配コイルと、ＮＭＲ信
号を受信するための受信コイルと、前記送信コイルと勾
配コイルと受信コイルとを駆動してデータを収集するス
キャン手段と、収集したデータを演算処理して画像を生
成するデータ処理手段とを具備してなるＭＲＩ装置であ
って、 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復されるパル
スシーケンスにＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットする
ためのクラッシャーを加えると共に位相エンコード軸パ
ルスを省いたパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態
で位相ずれ測定用データを収集し、得られた位相ずれ測
定用データからＦＩＤ信号の位相ずれを測定する位相ず
れ測定手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項１０】 請求項９に記載のＭＲＩ装置におい
て、前記ＳＥ・ＳＴＥ信号の位相をリセットするための
クラッシャーは、データ収集期間より後のタイミングで
位相エンコード軸およびリード軸の少なくとも一方に印
加される勾配パルスであることを特徴とするＭＲＩ装
置。 - 【請求項１１】 ＲＦパルスを送信するための送信コイ
ルと、勾配磁場を印加するための勾配コイルと、ＮＭＲ
信号を受信するための受信コイルと、前記送信コイルと
勾配コイルと受信コイルとを駆動してデータを収集する
スキャン手段と、収集したデータを演算処理して画像を
生成するデータ処理手段とを具備してなるＭＲＩ装置で
あって、 ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行うために反復されるパル
スシーケンスにＦＩＤ信号の位相をリセットするための
クラッシャーを加えると共に位相エンコード軸パルスを
省いたパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態で位相
ずれ測定用データを収集し、得られた位相ずれ測定用デ
ータからＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを測定する位相ず
れ測定手段を具備したことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項１２】 請求項１１に記載のＭＲＩ装置におい
て、前記ＦＩＤ信号の位相をリセットするためのクラッ
シャーは、ＲＦパルスより後で且つデータ収集期間より
前のタイミングで位相エンコード軸およびリード軸の少
なくとも一方に印加される勾配パルスであることを特徴
とするＭＲＩ装置。 - 【請求項１３】 ＲＦパルスを送信するための送信コイ
ルと、勾配磁場を印加するための勾配コイルと、ＮＭＲ
信号を受信するための受信コイルと、前記送信コイルと
勾配コイルと受信コイルとを駆動してデータを収集する
スキャン手段と、収集したデータを演算処理して画像を
生成するデータ処理手段とを具備してなるＭＲＩ装置で
あって、 前記スキャン手段は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行う
ために反復されるパルスシーケンスのＲＦパルスの位相
を調整してＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相ずれを
補正したパルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイ
メージング用データを収集することを特徴とするＭＲＩ
装置。 - 【請求項１４】 ＲＦパルスを送信するための送信コイ
ルと、勾配磁場を印加するための勾配コイルと、ＮＭＲ
信号を受信するための受信コイルと、前記送信コイルと
勾配コイルと受信コイルとを駆動してデータを収集する
スキャン手段と、収集したデータを演算処理して画像を
生成するデータ処理手段とを具備してなるＭＲＩ装置で
あって、 前記スキャン手段は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行う
ために反復されるパルスシーケンスにＦＩＤ信号とＳＥ
・ＳＴＥ信号の位相ずれを補正する補正パルスを加えた
パルスシーケンスを反復してＳＳＦＰ状態でイメージン
グ用データを収集することを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項１５】 ＲＦパルスを送信するための送信コイ
ルと、勾配磁場を印加するための勾配コイルと、ＮＭＲ
信号を受信するための受信コイルと、前記送信コイルと
勾配コイルと受信コイルとを駆動してデータを収集する
スキャン手段と、収集したデータを演算処理して画像を
生成するデータ処理手段とを具備してなるＭＲＩ装置で
あって、 前記スキャン手段は、ＳＳＦＰ状態でデータ収集を行う
ために反復されるパルスシーケンスのＲＦパルスの位相
を調整すると共にＦＩＤ信号とＳＥ・ＳＴＥ信号の位相
ずれを補正する補正パルスを加えてＦＩＤ信号とＳＥ・
ＳＴＥ信号の位相ずれを補正したパルスシーケンスを反
復してＳＳＦＰ状態でイメージング用データを収集する
ことを特徴とするＭＲＩ装置。 - 【請求項１６】 請求項１３または請求項１５に記載の
ＭＲＩ装置において、前記補正パルスがリード軸パルス
に足し込まれていることを特徴とするＭＲＩ装置。
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