JP2003164859A - 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法 - Google Patents

水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法

Info

Publication number
JP2003164859A
JP2003164859A JP2001367213A JP2001367213A JP2003164859A JP 2003164859 A JP2003164859 A JP 2003164859A JP 2001367213 A JP2001367213 A JP 2001367213A JP 2001367213 A JP2001367213 A JP 2001367213A JP 2003164859 A JP2003164859 A JP 2003164859A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waste liquid
liquid
taah
concentration
film evaporator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001367213A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3766629B2 (ja
Inventor
Yoshifumi Yamashita
喜文 山下
Soichi Mochizuki
創一 望月
Kazumasa Oka
和正 岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuyama Corp
Original Assignee
Tokuyama Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuyama Corp filed Critical Tokuyama Corp
Priority to JP2001367213A priority Critical patent/JP3766629B2/ja
Publication of JP2003164859A publication Critical patent/JP2003164859A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3766629B2 publication Critical patent/JP3766629B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Vaporization, Distillation, Condensation, Sublimation, And Cold Traps (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Heat Treatment Of Water, Waste Water Or Sewage (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】フォトレジストの現像廃液等として得られる低
濃度の水酸化テトラアルキルアンモニウムを含有する廃
液を、流下式薄膜蒸発器に供給して効率的に且つ簡易に
濃縮して高濃度のTAAH廃液を得るための濃縮方法を
提供する 【解決手段】水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液を
流下式薄膜蒸発器に供給して濃縮するに際し、該流下式
薄膜蒸発器の加熱面の下端における液膜の厚み(T
を0.1〜1.2mmに調整することにより、該加熱面
における発泡を防止し、これに伴う気泡の蓄積を防止す
る。該流下式薄膜蒸発器による水酸化テトラアルキルア
ンモニウムを含有する廃液の濃縮は減圧下に行うことが
好ましく、特に、100〜200torrの圧力下に行
うことが好ましい。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、フォトレジストの
現像廃液等として得られる低濃度の水酸化テトラアルキ
ルアンモニウム(以下、TAAH)を含有する廃液の流
下式薄膜蒸発器による新規な濃縮方法に関する。詳しく
は、上記TAAHを含有する廃液を、流下式薄膜蒸発器
に供給して効率的に且つ簡易に濃縮して高濃度のTAA
H廃液を得るための濃縮方法を提供するものである。
【0002】
【従来の技術】電子部品の製造工程において、ウェハー
等の基板上にパターンを形成する場合、基板表面に形成
した金属層にネガ型或いはポジ型のレジストを塗布し、
これに、該パターン形成用のフォトマスクを介して露光
し、未硬化部分或いは硬化部分に対してTAAHを含有
する水溶液よりなる現像液を使用して現像後、エッチン
グを行って上記金属層にパターンを形成する作業が行わ
れる。
【0003】上記方法によって得られるTAAH含有廃
液は、通常、1重量%以下の低濃度でTAAHを含有す
る。このような低濃度TAAH含有廃液を、焼却処分場
や回収再生工場に運搬することはエネルギーコスト的に
極めて不利である。したがって、焼却処分や回収して再
利用する場合において、焼却処分場や回収再生工場への
運搬に先立ち、該廃液を高濃度に濃縮することが必要で
あった。
【0004】TAAH含有廃液の濃縮方法として、水を
蒸発させることによって濃縮を行う方法が提案されてい
る。ところが、レジスト現像工程から発生するTAAH
含有廃液は、通常界面活性剤や、レジスト由来の有機物
を含有している。上記界面活性剤は、レジスト膜への濡
れ性向上のために、現像液に添加されている。また、レ
ジスト由来の有機物もある程度の界面活性を有してい
る。そのため、水の蒸発時における液の発泡が激しく、
濃縮効率を低下させるという問題を有していた。
【0005】かかる問題に対して、消泡剤を使用して発
泡を抑える方法が考えられるが、消泡剤はTAAHの回
収・リサイクルに妨げとなる場合があり、その使用が制
限される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、レジスト及び界面活性剤を溶解したTAA廃液を蒸
発濃縮する際に、上記レジスト及び界面活性剤による発
泡を抑えながら、効率よく濃縮を行うことができる濃縮
方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記課題
を解決すべく研究を重ねた結果、前記TAAH廃液の蒸
発濃縮に流下式薄膜蒸発器を使用し、その加熱面の下端
における液膜の厚みが特定の範囲となるようにTAAH
廃液の供給液量及び/又は加熱面の加熱条件を調節する
ことにより、かかる加熱面におけるTAAH廃液の発泡
が極めて効果的に防止でき、TAAH廃液の濃縮液を効
率よく得ることができることを見い出し、本発明を完成
するに至った。
【0008】即ち、本発明は、水酸化テトラアルキルア
ンモニウム廃液を流下式薄膜蒸発器に供給して濃縮する
に際し、該流下式薄膜蒸発器の加熱面の下端における液
膜の厚み(T)を0.3〜1.2mmに調整すること
を特徴とする水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の
濃縮方法である。
【0009】尚、本発明において、上記加熱面の下端に
おける液膜の厚み(T)は、Wilkeの実験式を用
いて下記の算出方法によって求めた値である。
【0010】先ず、加熱面下端における単位横幅あたり
の流量m[kg/m・h]を次式で求める。
【0011】
【数1】 w;液流量[kg/h] L;加熱面下端の長さ[m] (加熱面が複数の管の内壁により形成される場合、L
は、N×Di×πにより求められる。但し、Nは管本数
[本]、Diは管内径[m]、πは円周率[−]であ
る。) 次に、レイノルズ数Reを次式で求める。
【0012】
【数2】 μl;濃縮液の粘度[kg/m・h] 上記式により求めたReが1600未満の場合、Tは次
式で求められる。
【0013】
【数3】 また、上記式により求めたReが1600以上の場合、T
は次式で求められる。
【0014】
【数4】 g;重力加速度[m/h] ρl;濃縮液の密度[kg/m
【0015】
【発明の実施の形態】本発明において、処理の対象とな
るTAAH廃液は、レジスト由来の有機物及び界面活性
剤を溶解したTAAH水溶液であれば特にその由来は問
わない。代表的なものとして、半導体やカラーフィルタ
ー等の電子部品等を製造する設備の現像工程においてレ
ジスト現像液としてTAAH水溶液を使用して現像後に
得られる廃液が挙げられる。上記廃液には、一般的に
は、界面活性剤やレジスト由来の有機物が含有されてい
る。このような界面活性剤やレジスト由来の有機物の含
有量は、通常0.01〜1重量%程度である。
【0016】本発明において、上記TAAHのアルキル
基の種類は、メチル、エチル、プロピル、ブチル等が一
般的である。そのうち、現像液としては、アルキル基が
メチルである水酸化テトラメチルアンモニウムが通常使
用される。
【0017】また、本発明の濃縮方法に好適に供される
TAAH廃液のTAAH濃度は、0.01〜30重量%
であり、特に、0.01〜20重量%である。そのう
ち、TAAH濃度が1重量%以下のTAAH廃液は、蒸
発時の発泡が激しく、本発明が好ましく適用される。
【0018】本発明において使用される流下式薄膜蒸発
器は、公知の構造のものが特に制限なく使用される。一
般的な構造を示せば、図1に示すように、加熱手段2を
備えた、垂直又は傾斜させて設けられた湾曲面或いは平
面よりなる加熱面1、該加熱面の上部に設けられる液供
給口3、及び該加熱面の下部に設けられる液取出口4を
有し、上記液供給口から供給された液を加熱面表面で液
膜5として流下せしめるようにした構造を有するものが
挙げられる。
【0019】更に具体的に流下式薄膜蒸発器を例示すれ
ば、加熱面を湾曲面で形成する態様としては、筒状又は
コーン状の形状が好適である。この場合、加熱面を内面
とし、外面を加熱手段によって加熱する方法が一般的で
ある。
【0020】また、上記加熱面の加熱手段は特に制限さ
れないが、図に示すように、熱媒体供給口6と排出口7
を有するジャケットを設けて熱媒体を供給する方法、ヒ
ーターにより加熱する方法等挙げられるが、上記熱媒体
を使用する方法が特に好ましい。上記熱媒体としては、
水蒸気が一般的である。
【0021】上記加熱面は、1つの蒸発器に単数設けて
もよいし、複数設けてもよい。また、加熱手段は、1つ
の加熱面に1つの加熱手段を設けてもよいが、加熱面の
上端から下端までの温度分布を調整するために上下方向
に複数に分割してもよい。
【0022】なお、本発明の流下式薄膜蒸発器を使用し
た濃縮は常圧で実施してもよいし、減圧装置を設けて減
圧下で行ってもよいが、減圧下に行うことが望ましい。
この場合、圧力は300torr以下、特に、100〜
200torrが好ましい。
【0023】本発明において、重要な要件は、上記流下
式薄膜蒸発器において、加熱面の下端における液膜の厚
み(T;図において矢印で示す部分の厚み)を0.3
〜1.2mm、好ましくは0.3〜0.8mmに調整す
ることにある。即ち、上記加熱面下端における液膜の厚
みを1.2mm以下に制限することにより、該加熱面の
下部における発泡が極めて効果的に防止でき、発泡によ
り発生した泡が堆積し、該加熱面における液の流下を妨
げることなく、効率的にTAAH廃液を濃縮することが
できる。かかる効果は、供給される液粘度の変化によっ
ても変わりなく発揮されるが、特に、加熱面の下端から
取り出されるTAAH廃液の液粘度が1〜4センチポイ
ズの範囲で効果が顕著である。
【0024】上記Tを1.2mm以下とすることによ
り、発泡が防止できる機構については、明らかではない
が、本発明者らは、液膜を薄くすることによって該液膜
が加熱されて発生する気泡が成長する間に液膜表面に出
て破裂し易くなるためと推定している。
【0025】一方、前記Tが0.3mmより薄い場合
は、工業的な実施において処理能力が低下するという問
題を有する。また、特に、加熱面での濃縮倍率が高い場
合には、含有されるレジストの析出物等により液の滞留
が起こるおそれがある。
【0026】本発明において、Tを上記範囲に調整す
る方法は特に制限されない。好適な方法を例示すれば、
加熱面に対して供給するTAAH廃液の供給量を調整す
る方法、加熱面への供給熱量を調整する方法などが一般
的である。
【0027】本発明において、上記方法によってT
調整するに際し、加熱面の上端における液膜の厚み(T
mm)は、特に制限されないが、下記の範囲となるよ
うに供給液量を調整することにより、加熱面の全面にわ
たって濃縮時の発泡をより防止することができ、好まし
い。
【0028】T < T ≦ 5 上記Tの厚みを調整する方法は特に制限されないが、
液供給口3より供給するTAAH廃液の量を調整するこ
とが好ましい。
【0029】本発明の流下式薄膜蒸発器を使用した濃縮
方法は、対象とするTAAH廃液に対して1回実施して
もよいし、液を循環して複数回実施してもよい。
【0030】図2は本発明の方法の実施に使用すること
ができる代表的な流下式薄膜蒸発器を示す概略図であ
る。図において、TAAH廃液槽103より液供給ポン
プ102によって縦型流下式薄膜蒸発器101に供給さ
れたTAAH廃液は、複数の管の内壁に形成された加熱
面を流下して濃縮されながら該加熱面の下端に至る。該
加熱面の下端では、前記したように液膜の厚みを調整す
るように運転条件が採用される。また、加熱面下端より
滴下する液滴が下部の貯液部109に落下することによ
る発泡を防止するため、液面カバー108を設けること
が好ましい。一方、真空ポンプ3によって吸引されたガ
スは、凝縮器105によって冷却され、貯槽106より
水13が取り出される。該真空ポンプ107の出力を調
整することにより、蒸発器内の圧力を任意に減圧するこ
とができる。
【0031】本発明において、流下式薄膜蒸発器による
濃縮の程度は特に制限されないが、1回の濃縮による濃
縮倍率が、供給されるTAAH廃液のTAAH濃度を
1.1〜50倍、好ましくは、1.2〜40倍程度に濃
縮するように、且つ濃縮液のTAAH濃度が40重量%
を超えない範囲で行うのが一般的である。
【0032】また、本発明において、流下式薄膜蒸発器
より得られる濃縮液を更に、減圧蒸発器の気相部に供給
して更に濃縮を行うことも好適な態様である。即ち、流
下式薄膜蒸発器において得られる濃縮液は高温度の液で
あり、かかる温度を実質的に維持した状態で、或いは必
要に応じて追加の加熱を行った後気相部に供給すること
により、減圧蒸発器の液相部に加熱器を設けること無
く、効率的に濃縮を行うことができる。
【0033】また、該液相部に加熱器を設ける場合にお
いても、該加熱器での加熱を減少することができ、かか
る加熱による発泡を抑えることも可能である。上記気相
部への濃縮液の供給は内壁面に対して行い、該壁面を流
下させることが発泡を抑えるために好ましい。
【0034】上記流下式薄膜蒸発器による濃縮と減圧蒸
発器による濃縮は、両者を組み合わせて少なくとも2回
実施することも可能である。
【0035】また、上記流下式薄膜蒸発器及び減圧蒸発
器は、液相部(貯液部)の液面に、消泡機能を有するメ
ッシュ状、或いは多孔質状のフロートを浮かべることに
より、発泡によって生じた気泡を積極的に破壊するよう
にした構造を採用することは、TAAH廃液の濃縮時の
発泡による問題を軽減する手段として好ましい。
【0036】
【実施例】以下、本発明をより具体的に説明するため、
実施例を示すが、本発明はこれらの実施例に限定される
ものではない。
【0037】実施例1 LSI製造工程から排出されるフォトレジスト、界面活
性剤及び水酸化テトラメチルアンモニウム(TMAH)
を含有するフォトレジスト現像廃液を使用した。この廃
液は、TMAH濃度が0.6重量%、界面活性剤、フォ
トレジスト由来のCOD濃度が67ppm、pHが1
2.9であった。
【0038】図2に示す縦型流下式膜膜蒸発器を使用し
て上記廃液の濃縮を行った。上記濃縮は、真空ポンプ7
にて蒸発器内を150torrの減圧にして実施した。
また、縦型流下式薄膜式蒸発器1の加熱面は、伝熱管内
径が0.0214m、伝熱管長さが1m、伝熱管本数が
7本のものによって構成し、その表面を水蒸気で約13
0℃に加熱した。
【0039】上記蒸発器に前記TMAH廃液(被処理
液)を表1に示す供給量で供給し、加熱面下端より得ら
れる濃縮液の液流量、密度、粘度より、前述したWil
keの実験式により液膜の厚さを算出した。
【0040】各TMAH廃液の供給量毎に下記の基準に
より発泡性を観察し、その結果を表1に併せて示した。
【0041】 ○:加熱面下端での発泡がなく安定に連続運転が可能 △:加熱面下端での若干の発泡があるが連続運転は可能 ×:加熱面下端での発泡により連続運転不可
【0042】
【表1】
【発明の効果】以上の説明より理解されるように、本発
明の方法によれば、TAAHを含有する廃液を、効率的
に且つ簡易に濃縮して高濃度のTAAH廃液を得ること
が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明において使用される流下式薄膜蒸発器の
部分的な構造を示す概略図
【図2】本発明において使用される流下式薄膜蒸発器の
代表的な態様を示す概略図
【符号の説明】
1 加熱面 2 加熱手段 3 液供給口 4 液取出口 5 液膜 6 熱媒体供給口 7 熱媒体排出口 101 たて型流下式薄膜蒸発器 102 被処理液供給ポンプ 103 被処理液槽 104 濃縮液槽 105 冷却器 106 凝縮水槽 107 真空ポンプ 108 分散板
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H096 AA25 AA27 GA09 LA25 LA30 4D034 AA11 BA01 CA17 CA21 4D076 AA04 AA16 AA24 BA13 BA15 BA19 BA45 EA02Y EA11Z EA16Y HA03 HA06 JA03 5F046 LA19

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液
    を流下式薄膜蒸発器に供給して濃縮するに際し、該流下
    式薄膜蒸発器の加熱面の下端における液膜の厚み
    (T)を0.1〜1.2mmに調整することを特徴と
    する水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方
    法。
  2. 【請求項2】 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液
    が、レジスト由来の有機物及び界面活性剤を含有する水
    酸化テトラアルキルアンモニウム水溶液である請求項1
    記載の水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方
    法。
JP2001367213A 2001-11-30 2001-11-30 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法 Expired - Fee Related JP3766629B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001367213A JP3766629B2 (ja) 2001-11-30 2001-11-30 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001367213A JP3766629B2 (ja) 2001-11-30 2001-11-30 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003164859A true JP2003164859A (ja) 2003-06-10
JP3766629B2 JP3766629B2 (ja) 2006-04-12

Family

ID=19176994

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001367213A Expired - Fee Related JP3766629B2 (ja) 2001-11-30 2001-11-30 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3766629B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011521781A (ja) * 2008-05-28 2011-07-28 スンチュンヒャン ユニバーシティ インダストリー アカデミー コオペレーション ファウンデーション アミン含有廃水からのアミン回収方法
JP2015217371A (ja) * 2014-05-20 2015-12-07 国立大学法人 東京大学 表面流下式濃縮装置並びに表面流下式濃縮方法及びその方法を使用する装置
JP2021021890A (ja) * 2019-07-30 2021-02-18 旭化成株式会社 分離回収方法並びに現像装置及び現像方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011521781A (ja) * 2008-05-28 2011-07-28 スンチュンヒャン ユニバーシティ インダストリー アカデミー コオペレーション ファウンデーション アミン含有廃水からのアミン回収方法
US8545704B2 (en) 2008-05-28 2013-10-01 Soonchunhyang University Industry Academy Cooperation Foundation Method for recovering amine from amine-containing waste water
JP2015217371A (ja) * 2014-05-20 2015-12-07 国立大学法人 東京大学 表面流下式濃縮装置並びに表面流下式濃縮方法及びその方法を使用する装置
JP2021021890A (ja) * 2019-07-30 2021-02-18 旭化成株式会社 分離回収方法並びに現像装置及び現像方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3766629B2 (ja) 2006-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103165411B (zh) 基板处理方法以及基板处理***
JP2003164859A (ja) 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法
AU603400B2 (en) Method of treating photographic process waste liquor through concentration by evaporation and apparatus therefor
CN111603791A (zh) 一种一体化蒸发器
JPH05185094A (ja) 水溶液の濃縮処理方法及び濃縮処理装置
JPH0857202A (ja) ヒートポンプ方式蒸発濃縮装置及びそれを用いた処理方法
TW423985B (en) Apparatus for removing impurities in air
JP2003164858A (ja) 水酸化テトラアルキルアンモニウム廃液の濃縮方法
JP4872613B2 (ja) ガス溶解洗浄水の製造装置及び製造方法
JP4138473B2 (ja) 発泡性液の蒸発濃縮方法及び装置
KR101193925B1 (ko) 수산화테트라알킬암모늄 함유 현상 폐액의 중화방법
JPH0729095B2 (ja) 写真処理廃液の蒸発濃縮処理装置
US6582552B1 (en) Method and device for evaporating liquid
US10293388B2 (en) Method of cleaning an evaporator
JPH07303877A (ja) 写真処理廃液などのアンモニア含有溶液の処理方法と装置
JP2002086135A (ja) 廃液処理装置と、その廃液処理システム
JP3910050B2 (ja) 水酸化テトラアルキルアンモニウム含有廃液の処理方法
JPH01304462A (ja) 廃液処理の作業性等が改善される非銀塩感光材料の処理方法
JP2007292457A (ja) 蒸気ボイラ装置
JPH10249101A (ja) 液濃縮装置
JPH04281890A (ja) 廃液処理装置
JPH10192601A (ja) 蒸発濃縮装置
JPH01304463A (ja) 廃液処理の作業性等が改善される非銀塩感光材料用自動現像機
JPH063790A (ja) 写真処理廃液の再利用方法
TW201115636A (en) Method and apparatus for treating substrates

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040528

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050714

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050719

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050916

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20051024

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20051219

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20060124

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20060127

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090203

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120203

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120203

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150203

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees