JP2003133505A - 半導体装置 - Google Patents
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Abstract
ップを、ヒートシンクの周囲に設けられたリードフレー
ムにワイヤボンディングしてなる半導体装置において、
ヒートシンクとリード部との間を支持する支持具を用い
ないでワイヤボンディングを可能としつつ、ヒートシン
クを適切に大型化できるような構成を実現する。 【解決手段】 半導体装置S1は、ヒートシンク10の
一面11上に搭載された半導体チップ20と、ヒートシ
ンク10の周囲からヒートシンク10の一面11上に延
設されたリード部31を有するリードフレーム30と、
ワイヤボンディングにより形成されリード部31と半導
体チップ20とを電気的に接続するワイヤ40とを備え
る。リード部31の先端側の折り曲げ部32は、ヒート
シンク10の一面11と交差する位置関係となってお
り、ワイヤ40が接続されている。
Description
面上に搭載された半導体チップを、ヒートシンクの周囲
に設けられたリードフレームにワイヤボンディングして
なる半導体装置に関する。
開2001−1442422号公報に記載のものが提案
されている。そのような半導体装置の一般的な構成を図
7に示す。
半導体チップ20が搭載され、ヒートシンク10の周囲
にはリードフレーム30のリード部(インナーリード)
31が設けられ、リード部31と半導体チップ20と
は、ワイヤボンディングにより形成されたワイヤ40に
より接続されている。
部31、ヒートシンク10およびワイヤ40は、ヒート
シンク10の他面(下面)12を露出した状態で樹脂5
0により包み込まれるようにモールドされている。この
ような半導体装置においては、半導体チップ20の熱を
ヒートシンク10から放熱できるようになっている。
体装置においては、放熱性を向上させるために、上記図
7中の破線で示すように、ヒートシンク10を大型化し
たいという要望がある。このように、ヒートシンク10
を大型化すると、ヒートシンク10とリードフレーム3
0のリード部31とが重なる。すると、次に述べるよう
な問題が生じる。
ボンディング工程を説明する説明図であり、(a)はヒ
ートシンク10とリード部31とが重なっていない状
態、(b)はヒートシンク10を大型化してヒートシン
ク10とリード部31とが重なった状態を示す。
0に接続されたワイヤ40は、ボンディングツール10
0によりリード部31の上まで引き回されて接続され
る。このとき、リード部31には、ボンディングツール
100が押し付けられるために、リード部31の下側に
治具110をあてがって支えている。
が重なった状態では、図8(b)に示すように、ヒート
シンク10の周囲からヒートシンク10の一面11上に
延設されたリード部31とヒートシンク10の一面11
との間に、さらに、支持具120を介在させる必要が生
じる。
て、ツール100によってワイヤ40が押し付けられた
ときに、リード部31がヒートシンク10の一面11側
へ曲がり変形することを防止する。ヒートシンク10お
よびリード部31は、両者とも良好な電気伝導体であ
り、リード部31とヒートシンク10とがショートする
危険性があるためである。
31とが重なった状態では、ワイヤボンディングを行う
際に、従来の治具110以外に、さらに支持具120を
用いる必要があり、ワイヤボンディング工程の煩雑化は
まぬがれない。
シンクの一面上に搭載された半導体チップを、ヒートシ
ンクの周囲に設けられたリードフレームにワイヤボンデ
ィングしてなる半導体装置において、ヒートシンクとリ
ード部との間を支持する支持具を用いないでワイヤボン
ディングを可能としつつ、ヒートシンクを適切に大型化
できるような構成を実現することを目的とする。
め、請求項1に記載の発明では、ヒートシンク(10)
と、ヒートシンクの一面(11)上に搭載された半導体
チップ(20)と、ヒートシンクの周囲からヒートシン
クの一面上に延設されたリード部(31)を有するリー
ドフレーム(30)と、リード部と半導体チップとを電
気的に接続しワイヤボンディングにより形成されたワイ
ヤ(40)とを備える半導体装置であって、リード部の
先端側が折り曲げられており、この折り曲げ部(32)
はヒートシンクの一面と交差する位置関係となってお
り、折り曲げ部にワイヤが接続されていることを特徴と
する。
にはボンディングツールによりリード部(31)の折り
曲げ部(32)が押されるが、その押される力の方向
は、ヒートシンク(10)の一面(11)に正対する方
向とはならない。
ード部(31)の折り曲げ部(32)におけるツール側
の面(ボンディング面)とは反対側の面を治具(11
0)により支持するだけで良く、リード部(31)とヒ
ートシンク(10)の一面(11)との間に、支持具を
介在させることが不要となる。
(31)をヒートシンク(10)の周囲からヒートシン
クの一面(11)上に延設して、ヒートシンクとリード
部とを重なるようにしても、ヒートシンクとリード部と
の間を支持する支持具を用いないでワイヤボンディング
を可能とすることができ、ヒートシンクを適切に大型化
できるような構成を実現することができる。
1の半導体装置において、ヒートシンク(10)は矩形
板形状を有し、リード部(31)は、ヒートシンクの矩
形をなす4辺のうち3辺以下の周囲に配置されているこ
とを特徴とする。
で、ヒートシンク(10)を大型化するには好ましい構
成とすることができる。
する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一
例である。
について説明する。図1は本発明の実施形態に係る半導
体装置S1の概略断面構成を示す図である。
と、ヒートシンク10の一面(上面)11上に搭載され
た半導体チップ20と、ヒートシンク10の周囲からヒ
ートシンク10の一面11上に延設されたリード部(イ
ンナーリード)31を有するリードフレーム30と、リ
ード部31と半導体チップ20とを電気的に接続しワイ
ヤボンディングにより形成されたワイヤ40とを備えて
いる。
シンク10の他面(下面)12およびリードフレーム3
0のアウターリードを露出させた状態で、樹脂50によ
り包み込まれるようにモールドされており、いわゆる樹
脂封止型半導体装置が構成されている。
放熱部材として用いられ、例えば銅やアルミ等からなる
板材を採用することができる。半導体チップ20は、例
えば、電源やアクチュエータの駆動回路等として機能す
るパワー素子(パワーIC)等であり、MOSFETと
バイポーラトランジスタとが組み合わされて形成された
単結晶シリコンチップ等からなる。この半導体チップ2
0は、Agペーストやはんだ等の接合部材60を介して
ヒートシンク20に接着されている。
合金等からなる板材をエッチングまたはプレス等により
所定形状に加工したものであり、ヒートシンク10に対
し図示しない部位にてかしめ等によって取り付けられて
いる。なお、ヒートシンク10とリードフレーム30と
は、樹脂50のモールドにより一体化されていれば良
く、上記かしめ等による一体化がなされていなくても良
い。
ートシンク10の周囲からヒートシンク10の一面11
と平行に延びてヒートシンク10の一面11上まで配置
されている。そして、樹脂50内に位置するリード部
(インナーリード)31の先端部側が折り曲げられてお
り、この折り曲げ部32はヒートシンク10の一面11
と交差する位置関係となっている。
エッチングにより成形した後に、プレス等によって折り
曲げ加工するか、リードフレーム30を所定形状にプレ
ス加工するときに同時に折り曲げ加工する等により形成
することができる。本例では、折り曲げ部32は、ヒー
トシンク10の一面11側(図1中の下方側)へ折り曲
げられている。
ップ20とが、ワイヤ40により結線され電気的に接続
されている。このワイヤ40は、金やアルミ等のワイヤ
ボンディングを行うことにより形成されている。また、
樹脂50はエポキシ系樹脂等よりなり、型等を用いて成
形されている。
装置S1は、例えば、回路基板の上に実装され、リード
フレーム30のアウターリードを介して当該回路基板と
電気的、機械的に接続される。
示す方法によって製造することができる。まず、ヒート
シンク10とリードフレーム30とをかしめることによ
り一体化する。次に、ヒートシンク10の一面11に、
接合部材60を介して半導体チップ20を搭載し接着す
る。
り、リード部31と半導体チップ20とをワイヤ40に
より接続する。このとき、半導体チップ20に一次ボン
ディングされたワイヤ40は、ボンディングツール(図
示せず)によりリード部31の折り曲げ部32に引き回
され、折り曲げ部32に二次ボンディングされる。な
お、ボンディング順序は上記の逆でも良い。
際、折り曲げ部32は当該ツールによって図1中の矢印
Y方向へ押されるが、この折り曲げ部32が押される力
の方向は、ヒートシンク10の一面11に正対する方向
とはならない。つまり、ワイヤボンディングの際に、リ
ード部31はヒートシンク10の一面11へ曲がり変形
することは無くなる。
に、リード部31の折り曲げ部32におけるボンディン
グ面とは反対側の面を治具110により支持するだけで
良く、リード部31とヒートシンク10の一面11との
間に、さらに支持具を介在させることが不要となる。そ
して、このように、治具110で支持した状態でワイヤ
ボンディングを行い、ワイヤ40による接続を行う。
型に投入し、樹脂成形を行うことにより、ヒートシンク
10の他面(下面)12およびリードフレーム30のア
ウターリードを露出させた状態で、樹脂50によって上
記部品10〜40が封止された半導体装置S1ができあ
がる。
部31をヒートシンク10の周囲からヒートシンク10
の一面11上に延設して、ヒートシンク10とリード部
31とを重なるようにしても、ヒートシンク10とリー
ド部31との間を支持する支持具を用いないでワイヤボ
ンディングを可能とすることができ、ヒートシンク10
を適切に大型化できるような構成を実現することができ
る。
は、ヒートシンク10の一面11側(図1中の下方側)
へ折り曲げられることにより、ヒートシンク10の一面
11と交差する位置関係となっているが、図2および図
3に示すように、折り曲げ部32は、ヒートシンク10
の一面11とは反対側へ折り曲げられていても良い。
および図3に示す例(本実施形態の第2変形例)におい
ても、図2、図3中の一点鎖線に示すように、リード部
31の折り曲げ部32におけるボンディング面とは反対
側の面を治具110により支持するだけで良く、上記図
1と同様に、さらに支持具を介在させることが不要とな
る。
曲げ部32は、ヒートシンク10の一面11と直角(図
3参照)か、もしくは上方に向かって半導体チップ20
から離れるように傾斜した配置(図1、図2参照)とな
っているが、図4(本実施形態の第3変形例)および図
5(本実施形態の第4変形例)に示すように、上方に向
かって半導体チップ20に近づくように傾斜した配置と
なっていても良い。
かって先すぼまりの逆「ハ」の字形状となっているが、
図4、図5では、図中の上方に向かって先すぼまり
「ハ」の字形状となっている。これら図2〜図5に示す
各変形例においても、上記図1の例と同様の作用効果を
実現することができる。
て、ヒートシンク10が、その一面11からみたときの
形状が矩形形状を有する場合(つまり、ヒートシンク1
0が矩形板形状を有する場合)、リード部31は、ヒー
トシンク10の矩形をなす4辺のうち3辺以下の周囲に
配置されていることが好ましい。
る。図6(a)〜(d)は、半導体装置S1を、樹脂5
0から露出するヒートシンク10の他面12から見た平
面構成図である。ヒートシンク10の矩形をなす4辺の
うち、図6(a)では3辺の周囲に、図6(b)では2
辺の周囲に、図6(c)では1辺の周囲に、図6(d)
では4辺の周囲に、リードフレーム30のリード部31
が配置されている。
ク10の全周にリード部31が配置された形となるが、
図6(a)〜(c)の場合では、リード部31の配置さ
れていない部分において、ヒートシンク10をそれだけ
大きくすることができる。
図6において(c)が最もヒートシンク10を大きくす
ることができ、次いで(b)、(a)、(d)の順にヒ
ートシンク10を大きくすることができる。つまり、リ
ード部31を、ヒートシンク10の矩形をなす4辺のう
ち3辺以下の周囲に配置することは、限られた装置サイ
ズの中で、ヒートシンク10を大型化するには好ましい
構成となる。
搭載された半導体チップを、ヒートシンクの周囲に設け
られたリードフレームにワイヤボンディングしてなる半
導体装置に適用可能であり、樹脂でモールドされたもの
でなくても良い。
図である。
の概略断面図である。
の概略断面図である。
の概略断面図である。
の概略断面図である。
るヒートシンクの他面から見た平面構成図である。
ある。
工程を説明する説明図である。
…半導体チップ、30…リードフレーム、31…リード
フレームのリード部、32…リード部の折り曲げ部、4
0…ワイヤ。
Claims (2)
- 【請求項1】 ヒートシンク(10)と、 前記ヒートシンクの一面(11)上に搭載された半導体
チップ(20)と、 前記ヒートシンクの周囲から前記ヒートシンクの一面上
に延設されたリード部(31)を有するリードフレーム
(30)と、 前記リード部と前記半導体チップとを電気的に接続し、
ワイヤボンディングにより形成されたワイヤ(40)と
を備える半導体装置であって、 前記リード部の先端側が折り曲げられており、この折り
曲げ部(32)は前記ヒートシンクの一面と交差する位
置関係となっており、前記折り曲げ部に前記ワイヤが接
続されていることを特徴とする半導体装置。 - 【請求項2】 前記ヒートシンク(10)は矩形板形状
を有し、 前記リード部(31)は、前記ヒートシンクの矩形をな
す4辺のうち3辺以下の周囲に配置されていることを特
徴とする請求項1に記載の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001327689A JP3991649B2 (ja) | 2001-10-25 | 2001-10-25 | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2001327689A JP3991649B2 (ja) | 2001-10-25 | 2001-10-25 | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003133505A true JP2003133505A (ja) | 2003-05-09 |
JP3991649B2 JP3991649B2 (ja) | 2007-10-17 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2001327689A Expired - Fee Related JP3991649B2 (ja) | 2001-10-25 | 2001-10-25 | 半導体装置の製造方法および半導体装置 |
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JP (1) | JP3991649B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014093409A (ja) * | 2012-11-02 | 2014-05-19 | Denso Corp | 電子装置およびその製造方法 |
WO2023115666A1 (zh) * | 2021-12-21 | 2023-06-29 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种半导体结构及其制造方法 |
-
2001
- 2001-10-25 JP JP2001327689A patent/JP3991649B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2014093409A (ja) * | 2012-11-02 | 2014-05-19 | Denso Corp | 電子装置およびその製造方法 |
WO2023115666A1 (zh) * | 2021-12-21 | 2023-06-29 | 长鑫存储技术有限公司 | 一种半导体结构及其制造方法 |
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---|---|
JP3991649B2 (ja) | 2007-10-17 |
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FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
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