JP2003035702A - 金属異物の検査装置 - Google Patents

金属異物の検査装置

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JP2003035702A
JP2003035702A JP2001222696A JP2001222696A JP2003035702A JP 2003035702 A JP2003035702 A JP 2003035702A JP 2001222696 A JP2001222696 A JP 2001222696A JP 2001222696 A JP2001222696 A JP 2001222696A JP 2003035702 A JP2003035702 A JP 2003035702A
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JP2001222696A
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English (en)
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Akira Uragami
旦 浦上
Shinichi Inaba
伸一 稲場
Hiroyuki Uozumi
弘行 魚澄
Koji Ueda
高次 上田
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Kanebo Ltd
Kanebo Engineering Ltd
Original Assignee
Kanebo Ltd
Kanebo Engineering Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ガラス繊維のようなレンズ効果を有するものや
不透明なものであっても、これに混在等した金属異物を
正確に検出し得る検査装置を提供する。 【解決手段】被検査物に付着、若しくはその内部に混在
した金属異物を検出する検査装置10であって、被検査
物に対向配置され、所定の検出信号を出力する磁気セン
サ12群と、各磁気センサ12を保持する保持手段と、
各磁気センサ12から出力された検出信号を、予め定め
られた基準値と比較して金属異物の有無を判定する判定
手段16,17,18とを設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被検査物に付着、
若しくはその内部に混在した金属異物を検出する検査装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、電気部品の絶縁材料として、無
機繊維(ガラス繊維など),合成樹脂,合成繊維や天然
繊維などからなる織物,不織布やフィルムなどがある。
例えば、プリント配線板の基材として用いられるガラス
布の場合、金属異物が付着したり、或いはこれがガラス
布内部に混在していると、製造されるプリント配線板の
絶縁性が損なわれて、当該プリント配線板に形成される
回路が短絡するおそれがある。
【0003】そこで、従来、ガラス布を織成後、これを
プリント配線板の製造工程に投入する前に、当該ガラス
布を検査して金属異物の存在を確認し、その存在が確認
された場合には、これを取り除く処理が行われている。
【0004】かかるガラス布の検査としては、従来、ガ
ラス布に検査光を照射してその透過光をCCDカメラな
どによって撮像し、得られた濃淡画像に2値化処理など
の処理を加えることによって、金属異物を検出するとい
った光学検査方法が採用されている。即ち、ガラス布を
構成するガラス繊維は透明であり、一方、金属異物は不
透明であるため、前記透過光をCCDカメラなどで撮像
することにより、金属異物に対応した部分が高濃度にな
った濃淡画像を得ることができるのである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来の光学検査方法には以下に説明するような問題があっ
た。即ち、ガラス繊維の断面は円形若しくは楕円形状を
しており、この断面形状に起因したレンズ効果によって
透過光が屈折したり回折したりし、ガラス布の織目との
相乗効果によって、撮像画像に、金属異物とは別に、モ
アレ縞や回折格子効果による濃淡を生じるのである。こ
のため、モアレ縞や回折格子効果によって生じた高濃度
画像と、金属異物に対応した高濃度画像との判別がつか
ず、この結果、金属異物を正確に検出することができな
いのである。
【0006】この他サーチコイル式の金属探知装置やX
線透過式の金属探知装置もあるが、サーチコイル式の金
属探知装置の場合、1mm程度以下の金属異物の検出が
困難であるという欠点があり、X線透過式の金属探知装
置の場合には、安全上の問題や装置が複雑且つ高価であ
るという欠点があった。
【0007】また、通常、上記光学検査によって金属異
物が検出されると、この検出結果に基づいて目視による
詳細な検査が行われ、当該金属異物が取り除かれるが、
この目視検査や除去処理は非常に煩雑であり、且つ時間
を要する作業であるため、光学検査による一次検査が正
確に行われないと、その後の二次検査(目視検査)以降
の作業が無駄になり、検査作業全体にロスを生じること
になる。
【0008】また、上述したガラス布の他にも、縫製さ
れた衣類などについては、縫製時に折損した縫い針の先
端部が製品に混在する可能性があり、これらの製品につ
いても、金属異物を正確に検出することができる検査法
が望まれる。しかるに、上述した光学検査法では、不透
明な衣類に混在した金属異物を検出することができな
い。
【0009】本発明は、以上の実情に鑑みなされたもの
であって、検査対象物がガラス繊維のようなレンズ効果
を有するものや不透明なものであっても、これに混在等
した金属異物を正確に検出することができる検査装置の
提供を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段及びその効果】上記課題を
解決するための本発明の請求項1に記載した発明は、被
検査物に付着、若しくはその内部に混在した金属異物を
検出する検査装置であって、前記被検査物に対向配置さ
れ、所定の検出信号を出力する磁気センサ群と、前記各
磁気センサを保持する保持手段と、前記各磁気センサか
ら出力された検出信号を、予め定められた基準値と比較
して前記金属異物の有無を判定する判定手段とを設けて
構成したことを特徴とする金属異物検査装置に係る。
【0011】前記磁気センサは、並設された2つの磁気
抵抗素子と、この磁気抵抗素子に対して対向配置され、
当該磁気抵抗素子にバイアス磁界を印加する永久磁石と
からなるものであり、金属体が磁気抵抗素子に印加され
る磁界内を通過すると当該磁界が変化し、この磁界の変
化に応じて、前記磁気抵抗素子から出力される電圧信号
(検出信号)が変化する。したがって、被検査物に金属
異物が付着、若しくはその内部に混在している場合に
は、この金属異物の存在を、前記磁気抵抗素子から出力
される電圧信号の変化として捉えることができる。
【0012】本発明に係る金属異物検査装置では、前記
被検査物に対し磁気センサ群を対向させて、これらを被
検査物に沿って走査させ、各磁気センサから出力される
検出信号を判定手段により監視し、これが予め定められ
た基準値を超えたとき、被検査物に金属異物が混在して
いると判定される。尚、基準値は検出対象物たる金属異
物の大きさや材質に応じて定められる。
【0013】斯くして、この金属異物検査装置によれ
ば、上述した光学検査法に比べて、検査対象物がガラス
繊維のようなレンズ効果を有するものや不透明なもので
あっても、これに混在等した金属異物を正確に検出する
ことができる。また、複数の磁気センサを用いて所定領
域を検査するようにしているので、当該検査を効率良く
行うことができる。
【0014】被検査物がガラス布のような長尺のウェブ
である場合には、請求項2に記載した発明のように、被
検査物たる長尺のウェブを所定経路で搬送する搬送手段
と、該搬送手段の作動を制御する制御手段とを、更に設
け、前記磁気センサ群を、その検知面が前記ウェブの搬
送経路に臨み、且つ該ウェブと対向するように配設する
とともに、その検知領域が前記ウェブの幅方向全域に及
ぶように配設すると良い。かかる金属異物検査装置によ
れば、搬送手段によって搬送される長尺のウェブを順次
磁気センサによって検査することができるので、より効
率的な検査を行うことができる。
【0015】尚、磁気センサ群を、その検知領域がウェ
ブの幅方向全域に及ぶように配設する態様としては、磁
気センサをウェブの幅方向に一列に配列し、更に、これ
をウェブの搬送方向に複列に配列して、各列の磁気セン
サの検知領域が、列間で順次これが重なり合いながらウ
ェブの幅方向に所定ピッチでずれるように成し、磁気セ
ンサ群全体の検知領域がウェブの全幅を隙間無くカバー
するようにした配列態様を挙げることができる。
【0016】また、本発明の請求項3に記載した発明
は、前記請求項2記載の金属異物検査装置における前記
判定手段が、前記各磁気センサから出力された検出信号
幅を予め定められた基準時間と比較して、前記金属異物
を検出した信号と、ノイズとを判別するように構成され
た金属異物検査装置に係る。この金属異物検査装置によ
れば、各磁気センサから出力される検出信号からノイズ
を効果的に除去することができ、金属異物の検出精度を
高めることができる。尚、前記基準時間は、検出対象物
たる金属異物の大きさや、ウェブの搬送速度に応じて定
められる。
【0017】また、本発明の請求項4に記載した発明
は、請求項2又は3記載の金属異物検査装置における前
記保持手段が、前記各磁気センサを、前記ウェブの移送
経路に臨む位置と、これから離れた位置との間で移動さ
せる移動機構を備えて構成される金属異物検査装置に係
る。この装置によれば、移動機構の作動により、各磁気
センサを、ウェブの移送経路に臨む位置から、これから
離れた位置へ移動させることができるので、磁気センサ
の交換作業などのメンテナンス作業を容易に行うことが
可能となる。
【0018】また、本発明の請求項5に記載した発明
は、請求項1乃至4記載のいずれかの金属異物検査装置
において、前記判定手段による判定結果データ、及び前
記測長手段によって算出された搬送距離データに基づい
て、被検査物上の金属異物の有無に関する二次元マップ
データを生成するマップ生成手段と、該マップ生成手段
によって生成された二次元マップデータを出力する出力
手段とを更に備えた金属異物検査装置に係る。この装置
によれば、目視検査員が、被検査物上の金属異物の有無
に関する二次元マップデータを確認することで、金属異
物が存在する位置を即座に認識することができ、より効
率的な検査,除去作業を行うことができる。
【0019】また、本発明の請求項6に記載した発明
は、請求項1乃至5記載のいずれかの金属異物検査装置
において、前記磁気センサ群の各検知面を、非磁性のフ
ィルムで被覆したことを特徴とする金属異物検査装置に
係る。磁気センサは金属体に近づくほどその探知能力が
高まる。したがって、金属異物を高精度に検出するに
は、磁気センサを被検査物にできるだけ近づける必要が
ある。その一方、磁気センサを被検査物に直接接触させ
ると、被検査物との摩擦によって磁気センサが損傷する
懸念がある。この金属異物検査装置によれば、磁気セン
サの検知面を非磁性のフィルムで被覆しているので、セ
ンサ検知面を被検査物に接触させても、フィルムによっ
て当該検知面が保護されるため、センサの損傷を防止し
つつ、磁気センサと被検査物との距離(ギャップ)を一
定に保つことができ、金属異物の高精度な検出が可能と
なる。
【0020】また、本発明の請求項7に記載した発明
は、請求項6記載の金属異物検査装置において、前記フ
ィルムに帯電防止剤を混入せしめた金属異物検査装置に
係る。例えば、被検査物がガラス繊維からなるガラス布
である場合、フィルムとの摩擦によって容易に静電気を
帯電する。ガラス布が帯電すると雰囲気中の塵埃を吸着
して、後の製造工程で問題を生じるおそれがある。この
金属異物検査装置によれば、フィルムに帯電防止剤が混
入されているので、帯電抑制効果が発現され、フィルム
との摩擦によって被検査物が帯電するのを防止すること
ができる。
【0021】本発明の請求項8に記載した発明は、請求
項6又は7記載の金属異物検査装置における前記保持手
段が、前記フィルムのテンションを調整するテンション
調整機構を備えて構成される金属異物検査装置に係る。
この検査装置によれば、フィルムに加わるテンションを
調整することで、フィルムを弛みの無い状態にすること
ができる。そして、フィルムに摺接した状態で被検査物
を搬送せしめることにより、磁気センサの検知面と被検
査物との間隔を常に一定に保つことができる。斯くし
て、この検査装置によれば、検出精度の安定した検査を
行うことができる。
【0022】尚、本発明における被検査物としては、ガ
ラス布や天然繊維,合成繊維からなる布帛を代表的な例
として挙げることができるが、磁気センサから出力され
る信号から、金属と明確に判別し得るものであれば、ど
のような材質からなるものであっても良い。
【0023】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施形態
について、添付図面に基づき説明する。尚、本例の検査
装置では、被検査物の一例として、ガラス布をその検査
対象としている。
【0024】図1及び図5に示すように、本例の金属異
物検査装置(以下、単に検査装置という)1は、ガラス
布ロール4からガラス布Wを繰り出す繰出装置2と、繰
り出されたガラス布Wを所定の経路を経由するように案
内するガイドローラ9と、ガラス布Wをロール状に巻き
取る巻取装置5と、前記ガイドローラ9を回転自在に支
持する架台8と、巻取装置5の作動を制御する制御装置
23と、搬送されるガラス布Wに付着した若しくはその
内部に混在した金属異物を検出する固定検出装置10及
び可搬検出装置50などからなる。
【0025】前記巻取装置5は、ロール6を支持すると
ともに、電動モータなどによって当該ロール6に回転動
力を伝達するように構成されており、ガラス布Wはこの
ロール6に付与される動力によって前記ガラス布ロール
4から繰り出され(引き出され)、各ガイドローラ9に
案内されて所定の経路に沿って搬送された後、ロール6
に巻き取られてガラス布ロール7に形成される。一方、
前記繰出装置2は、ガラス布ロール4のローラ3を回転
可能に支持するとともに、このローラ3の繰出方向への
回転に対して、これに制動力を付与するように構成され
ており、この制動力によって繰り出し,搬送されるガラ
ス布Wに所定の張力が付与されるようになっている。
【0026】前記固定検出装置10は、図5に示すよう
に、複数の磁気センサ12を備えたセンサユニット11
と、各磁気センサ12から出力される検出信号を処理す
る処理装置15などからなる。
【0027】図3及び図4に示すように、センサユニッ
ト11は、検知部12aが外部に露出し、且つ一列に整
列された状態で容器13に保持された複数の磁気センサ
12を備えてなり、このセンサユニット11の複数個が
ガラス布Wの搬送方向と直交する方向(ガラス布Wの幅
方向)に一列に整列され、更に、かかるセンサユニット
11列がガラス布Wの搬送方向に沿って複列(11a,
11b,11c,11d,11e,11f)に配列さ
れ、このように複列に配列されたセンサユニット11群
が基台31に固設されている。
【0028】構造については特に図示しないが、前記磁
気センサ12は、並設された2つの磁気抵抗素子と、こ
の磁気抵抗素子に対して対向配置され、当該磁気抵抗素
子にバイアス磁界を印加する永久磁石とを備えてなり、
金属体が磁気抵抗素子に印加される磁界内を通過すると
当該磁界が変化し、この磁界の変化に応じて、前記磁気
抵抗素子から出力される電圧信号(検出信号)が変化す
るようになっている。
【0029】また、図4に示すように、単一の磁気セン
サ12の検知領域は、ガラス布Wの幅方向にdの幅を有
しており、各列(11a,11b,11c,11d,1
1e,11f)の磁気センサ12の検知幅領域dは、図
示する如く列間で順次これが重なり合いながらガラス布
Wの幅方向に所定ピッチでズレており、複数の磁気セン
サ12全体では、ガラス布Wの幅方向に隙間無く幅Dの
検知領域が形成されている。そして、ガラス布Wは、こ
の検知領域幅D内を通過するように搬送される。
【0030】図3に示すように、前記基台31は支持フ
レーム32に固設されている。また、この支持フレーム
32には、所定の間隔で一対の対向プレート37,40
が立設されており、前記基台31はこの対向プレート3
7,40間に配設されている。
【0031】一方の前記対向プレート37には固定金具
39が固設され、この固定金具39には更に固定金具3
8が固設されている。また、他方の前記対向プレート4
0にも同様に固定金具42が固設され、これと対向する
ように固定金具41が設けられている。固定金具42,
41は、これらを貫通する調整ボルト43、この調整ボ
ルト43に螺合したナット44、並びに前記調整ボルト
43によって挿通された状態で固定金具42,41間に
配設された圧縮コイルバネ45を介して相互に係合して
おり、ナット44を締め込むことにより固定金具42に
対して固定金具41が接近し、ナット44を緩めること
により固定金具42から固定金具41が離反するように
なっている。
【0032】また、前記固定金具38には、非磁性の樹
脂フィルム46の一方端が粘着テープなどによって接着
される一方、前記固定金具41には、同様にして樹脂フ
ィルム46の他方端が接着されており、かかる樹脂フィ
ルム46が一対の対向プレート37,40間に掛け渡さ
れた状態となっている。そして、前記ナット44を適宜
締め込むことにより、樹脂フィルム46に張力が付与さ
れ、各磁気センサ12の検知面がこの樹脂フィルム46
に接触し、これによって被覆された状態となっている。
【0033】図2に示すように、前記支持フレーム32
は、架台8を構成する縦フレーム8a,8a間に横架さ
れた横フレーム35に、ヒンジ33を介して揺動自在に
取り付けられており、同図において実線で示す起立状態
では、支持フレーム32の上端部が固定プレート34に
固定されて、磁気センサ12の検知面がガラス布Wの搬
送経路に臨んだ状態にあり、即ち、磁気センサ12の検
知面を被覆した前記樹脂フィルム46がガラス布Wと摺
接する状態にあり、他方、二点鎖線で示すように、前記
固定プレート34への固定が解除され、横倒した状態で
は、架台8上に立設された支柱36によって支持される
ようになっている。
【0034】以上の説明から容易に理解されるように、
前記樹脂フィルム46は、磁気センサ12の検知面を、
ガラス布Wとの摺接による摩耗,損傷から保護する役割
を担うものであるが、その材質は磁気センサ12の金属
体検知を阻害しないようなものであるのが好ましく、そ
の厚さは0.05mm〜0.15mmの範囲であるのが
好ましい。厚さを0.05mmより薄くすると摩耗耐久
面で極端に劣り、逆に0.15mmより厚くすると、磁
気センサ12の検知面とガラス布Wとの間の距離が大き
くなりすぎて、磁気センサ12の検知感度が低下するか
らである。また、ガラス布Wは他の物体との摩擦によっ
て容易に帯電する。このため、前記樹脂フィルム46
は、帯電防止剤(例えば、界面活性剤)が練り込まれた
帯電防止効果を有するものであるのが好ましい。
【0035】前記処理装置15は、図5に示すように、
増幅器16,コンパレータ17,欠点検出部18,検反
制御部19,マップ生成部20及び測長部21からな
る。尚、増幅器16及びコンパレータ17は前記基台3
1内に格納されており、欠点検出部18,検反制御部1
9,マップ生成部20及び測長部21は、これらとは別
に適宜設置される。
【0036】前記増幅器16は、前記各磁気センサ12
から出力される検出信号を増幅して出力する処理器であ
る。また、コンパレータ17は比較器であり、予め設定
された基準値と前記増幅器16から出力された各検出信
号とを比較して、検出信号が前記基準値を超えたとき、
その時間だけ矩形波(パルス信号)を生成して前記欠点
検出部18に送信する。前記基準値は金属異物を検出す
るための閾値であり、磁気センサ12が金属異物を検出
すると、当該磁気センサ12から前記基準値より大きな
値の検出信号が出力される。
【0037】前記欠点検出部18は、前記コンパレータ
17から送信される各信号を受信して、これらに含まれ
るパルス幅が予め設定された基準時間を超えたとき、金
属異物が存在すると判定し、当該検出信号に対応した磁
気センサ12の番地情報(アドレス情報)とともに、金
属異物の存在確認信号を検反制御部19及びマップ生成
部20に送信する。前記磁気センサ12から出力される
検出信号にはノイズも含まれており、コンパレータ17
によって生成される矩形波にもノイズ成分が含まれるこ
とになるが、このノイズ成分は欠点検出部18の前記処
理によって除去される。即ち、ノイズ成分の矩形波はそ
のパルス幅が短いため、矩形波のパルス幅を前記基準時
間と比較して、当該基準時間より短いパルス幅の矩形波
についてはこれをノイズとみなすことができるため、上
記処理によってノイズが除去されるのである。尚、前記
基準時間は、検出対象たる金属異物の大きさやガラス布
の搬送速度に応じて定められる。
【0038】前記測長部21は、ガラス布Wの搬送距離
を算出する処理部であり、図2に示すように、ガイドロ
ーラ9に付設されたロータリエンコーダ47から回転位
置信号を受信し、受信した回転位置信号を基に、ガラス
布Wの搬送距離を算出する。ガイドローラ9は矢示方向
に搬送されるガラス布Wに当接しており、このガラス布
Wの移動に伴って回転する。したがって、ガイドローラ
9に円周長にロータリエンコーダ47によって検出され
る回転数を乗じることにより、ガラス布Wの搬送距離を
算出することができる。そして、測長部21は、このよ
うにして算出されるガラス布Wの搬送距離を、逐次、検
反制御部19及びマップ生成部20に送信する。
【0039】前記検反制御部19は、前記欠点検出部1
8から信号を受信し、これが金属異物の存在を認める信
号である場合には、直ちに、制御装置23に対して減速
信号を送信するとともに、前記測長部21から送信され
るガラス布Wの搬送距離データを基に、磁気センサ12
によって金属異物が検出された時点からのガラス布Wの
搬送距離を算出し、これを基に、ガラス布Wの金属異物
を有する部分が所定の目視検査位置(図1におけるM位
置)に達したかどうかを確認し、目視検査位置に達した
とき、制御装置23に対して停止信号を送信する。検反
制御部19は、金属異物を検出した磁気センサ12の番
地情報を欠点検出部18から受信し、どの磁気センサ1
2が金属異物を検出したかを認識しており、各磁気セン
サ12から前記目視検査位置までの距離は、これを予め
算出することができるので、上述の如く、前記測長部2
1から送信されるガラス布Wの搬送距離データを基に、
ガラス布Wの金属異物を有する部分が所定の目視検査位
置に達したかどうかを確認することができるのである。
【0040】前記制御装置23は、検反制御部19から
前記減速信号を受信して、巻取装置5の巻取速度を減速
させるとともに、警報手段24に信号を送信してアラー
ムブザーの鳴動やアラームランプの点灯など、警報手段
24に備えられた適宜アラームを発動させる。また、検
反制御部19から前記停止信号を受信して巻取装置5の
駆動を停止する。
【0041】前記マップ生成部20は、前記欠点検出部
18から金属異物を検出した磁気センサ12の番地情報
と金属異物の存在確認信号とを受信し、また、測長部2
1からガラス布Wの搬送距離に関するデータを受信し
て、これらのデータを基に、ガラス布Wの幅方向及び長
手方向(搬送方向)を各座標軸とする二次元のマップデ
ータを生成する。即ち、図4に示した磁気センサ12群
の配置情報及び探知磁気センサ12の番地情報から、ガ
ラス布Wの幅方向における金属異物の位置情報が特定さ
れ、同様に、磁気センサ12群の配置情報,探知磁気セ
ンサ12の番地情報及びガラス布Wの搬送距離データか
ら、ガラス布Wの搬送方向における金属異物の位置情報
が特定され、これらの位置情報からガラス布Wにおける
金属異物の存在位置を示す二次元マップデータが生成さ
れる。尚、処理装置15にはディスプレイ22が接続し
ており、マップ生成部20によって生成された二次元マ
ップデータがこのディスプレイ22に表示されるように
なっている。この他、二次元マップデータを適宜プリン
タによって印刷するようにしても良く、また、これを適
宜記録媒体に保存するようにしても良い。
【0042】図6乃至図8に示すように、前記可搬検出
装置50は、複数の磁気センサ52を備えたセンサユニ
ット51と、各磁気センサ52から出力される検出信号
を処理する処理装置56と、これらセンサユニット51
及び処理装置56を保持する容器54などからなる。
【0043】図6及び図7に示すように、センサユニッ
ト51は、前記センサユニット11と同様の構成を備え
るものであり、検知部52aが外部に露出し、且つ一列
に整列された状態で容器53に保持された複数の磁気セ
ンサ52を備えてなる。また、容器54は、図7に示す
ように、把手55を有しており、上述したように、セン
サユニット51を保持するとともに、その内部に処理装
置56を収納している。
【0044】前記処理装置56は、図8に示すように、
増幅器57,コンパレータ58,欠点検出部59及び警
報手段60からなる。増幅器57は、前記増幅器16と
同様に、各磁気センサ52から出力される検出信号を増
幅して出力する処理器であり、コンパレータ58も、前
記コンパレータ17と同様に、予め設定された基準値と
前記増幅器57から出力された各検出信号とを比較し
て、検出信号が基準値を超えたとき、その時間だけ矩形
波(パルス信号)を生成して欠点検出部59に送信する
比較器である。
【0045】また、前記欠点検出部59は、前記欠点検
出部19と略同様の処理を行う処理部であり、コンパレ
ータ58から送信される各信号を受信して、これらに含
まれるパルス幅が予め設定された基準時間を超えたと
き、金属異物が存在すると判定し、警報手段60に対し
て金属異物の存在確認信号を送信する処理を行う。そし
て、警報手段60は欠点検出部59からの前記信号を受
信してアラームブザーの鳴動やアラームランプの点灯な
ど、警報手段60に備えられた適宜アラームを発動させ
る。
【0046】尚、前記固定検出装置10を構成するコン
パレータ17及び欠点検出部18、並びに前記可搬検出
装置50を構成するコンパレータ58及び欠点検出部5
9が、本発明(請求項1,3及び5)における判定手段
に相当する。
【0047】以上の構成を備えた本例の検査装置1によ
れば、以下のようにして、被検査物たるガラス布Wの検
査が行われる。尚、ガラス布ロール4からガラス布Wの
先端部が引き出され、ガイドローラ9を順次経由してロ
ール6に巻き取られているものとする。
【0048】まず、制御装置23によって巻取装置5が
駆動,制御され、これにより、ガラス布Wは前記ガラス
布ロール4から順次引き出され、各ガイドローラ9に案
内されて所定の経路に沿って走行した後、ロール6に巻
き取られてガラス布ロール7に形成される。そして、走
行する間に、ガラス布Wは固定検出装置10によって金
属異物の有無について検査される。
【0049】即ち、固定検査装置10では、走行中のガ
ラス布Wに樹脂フィルムを介して摺接する磁気センサ1
2から検出信号が出力され、これが増幅器16によって
増幅された後、コンパレータ17によって所定の基準値
と比較されて、検出信号が基準値を超えたとき、その時
間だけ矩形波が生成され、これが欠点検出部18に送信
される。そして、欠点検出部18は、コンパレータ17
から送信される信号に含まれるパルス幅が予め設定され
た基準時間を超えたとき、金属異物が存在すると判定
し、当該検出信号に対応した磁気センサ12の番地情報
とともに、金属異物の存在確認信号を検反制御部19及
びマップ生成部20に送信する。
【0050】検反制御部19は、欠点検出部18から受
信した信号が金属異物の存在を認める信号である場合に
は、直ちに、制御装置23に対して減速信号を送信し、
ついで、前記測長部21から送信されるガラス布Wの搬
送距離データを基に、ガラス布Wの金属異物を有する部
分が目視検査位置に達したかどうかを確認し、これが目
視検査位置に達したとき、制御装置23に対して停止信
号を送信する。また、マップ生成部20は、欠点検出部
18から金属異物を検出した磁気センサ12の番地情報
と金属異物の存在確認信号とを、測長部21からガラス
布Wの搬送距離に関するデータをそれぞれ受信して、こ
れらのデータを基に、ガラス布Wにおける金属異物の存
在位置を示す二次元マップデータを生成し、これをディ
スプレイ22に表示する。
【0051】一方、制御装置23は、検反制御部19か
ら減速信号を受信して、巻取装置5の巻取速度を減速さ
せるとともに、警報手段24に信号を送信してアラーム
を鳴動させ、検反制御部19から停止信号を受信して巻
取装置5の駆動を停止する。
【0052】警報手段24からアラーム音が発せられる
と、検査員はディスプレイ22に表示されたマップ情報
から金属異物が存在する位置を確認した後、図1に示し
たように、可搬検出装置50を形態して目視検査位置に
移動し、マップ情報から特定される金属異物の存在位置
付近を、可搬検出装置50を用いて精緻に検査する。即
ち、検査員は、可搬検出装置50の磁気センサ検知部5
2aをガラス布Wに接触させながら、これに沿って走査
させて金属異物を検知し、警報手段60からアラーム音
が発せられると、当該検査部を更に精緻に目視して金属
異物を検出し、これを取り除く。
【0053】そして、このようにして、金属異物の除去
を完了した後、再び、制御装置23によって巻取装置5
を駆動させ、以後同様にして、ガラス布Wの全体につ
き、その検査を行う。
【0054】以上詳述したように、本例の検査装置1に
よれば、磁気センサ12,52によって金属異物を検出
するようにしているので、従来の光学検査法に比べて、
検査対象物がガラス繊維のようなレンズ効果を有するも
のや不透明なものであっても、これに混在等した金属異
物を正確に検出することができ、また、複数の磁気セン
サ12,52を用いて所定領域を検査するようにしてい
るので、当該検査を効率良く行うことができる。また、
長尺のガラス布Wを、所定経路を経由するように走行さ
せながら検査するようにしているので、かかる長尺の検
査対象物を効率的に検査することができる。
【0055】また、金属異物が存在すると判定された場
合に、金属異物の存在する部分を自動的に目視検査位置
に搬送するとともに、ガラス布W上の金属異物の位置を
示す二次元マップ情報をディスプレイ22に表示するよ
うにしているので、固定検出装置10による一次検査後
の目視検査及び金属異物の除去作業を効率的に行うこと
ができる。
【0056】金属異物を高精度に検出するには、磁気セ
ンサ12をガラス布Wにできるだけ近づける必要があ
る。その一方、磁気センサ12をガラス布Wに直接接触
させると、ガラス布Wとの摩擦によって磁気センサ12
が損傷する懸念がある。本例の検査装置1によれば、磁
気センサ12の検知面を非磁性の樹脂フィルム46で被
覆しているので、この樹脂フィルム46によって磁気セ
ンサ12の検知面が保護される。これにより、磁気セン
サ12の損傷を防止しつつ、金属異物の高精度な検出が
可能となる。
【0057】また、ガラス布Wが帯電すると雰囲気中の
塵埃を吸着して、後の製造工程で問題を生じるおそれが
あるが、前記樹脂フィルム46に界面活性剤を混入させ
ているので、この界面活性剤によって帯電抑制効果が発
現され、樹脂フィルム46との摩擦によるガラス布Wの
帯電を防止することができる。また、本例の検査装置1
では、樹脂フィルム46に加わるテンションを調整する
ことができ、樹脂フィルム46を弛みの無い状態にする
ことができるので、磁気センサ12の検知面とガラス布
Wとの間隔を常に一定に保つことができ、これにより、
安定した検出精度を維持することができる。
【0058】また、固定検出装置10を、その各磁気セ
ンサ12を、ガラス布Wの移送経路に臨む位置と、これ
から離れた位置(退避位置)との間で揺動させることが
できるようになっているので、固定検出装置10を退避
位置に揺動させることで、樹脂フィルム46や磁気セン
サ12の交換作業などを容易に行うことが可能である。
【0059】以上、本発明の一実施形態について説明し
たが、本発明の採り得る具体的な態様は何らこれに限定
されるものではない。特に、被検査物は上述したガラス
布Wに何ら限定されるものではなく、また、被検査物が
短尺のものであっても何ら差し支えない。尚、被検査物
が短尺である場合には、上記可搬検出装置50を用いて
検査するのが、扱い勝手が良く、効率的である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る金属異物検査装置の
概略構成を示した正面図である。
【図2】本実施形態に係る固定検出装置が配置される部
分を拡大して示した拡大図である。
【図3】図2におけるA部を拡大して示した拡大図であ
る。
【図4】本実施形態に係る磁気センサの配置状態を示し
た図であり、図3における矢視B方向の側面図である。
【図5】本実施形態に係る固定検査装置の概略構成を示
したブロック図である。
【図6】本実施形態に係る可搬検出装置を示した正面図
である。
【図7】図6の底面図である。
【図8】本実施形態に係る可搬検査装置の概略構成を示
したブロック図である。
【符号の説明】
1 (金属異物)検査装置 2 繰出装置 4 ガラス布ロール 5 巻取装置 7 ガラス布ロール 10 固定検出装置 11 センサユニット 12 磁気センサ 15 処理装置 16 増幅器 17 コンパレータ 18 欠点検出部 19 検反制御部 20 マップ生成部 21 測長部 23 制御装置 24 警報手段 46 樹脂フィルム 50 可搬検出装置 51 センサユニット 56 処理装置 57 増幅器 58 コンパレータ 59 欠点検出部 60 警報手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 稲場 伸一 群馬県邑楽郡大泉町大字吉田1204番地 カ ネボウ株式会社内 (72)発明者 魚澄 弘行 大阪府大阪市北区中崎西2丁目4番12号 カネボウ株式会社内 (72)発明者 上田 高次 大阪府大阪市北区南森町1丁目4番19号 カネボウエンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 2G053 AA13 AB19 BB03 BB11 BC20 CB20 CB24 DB03 DB06 DB09

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査物に付着、若しくはその内部に混
    在した金属異物を検出する検査装置であって、 前記被検査物に対向配置され、所定の検出信号を出力す
    る磁気センサ群と、 前記各磁気センサを保持する保持手段と、 前記各磁気センサから出力された検出信号を、予め定め
    られた基準値と比較して前記金属異物の有無を判定する
    判定手段とを設けて構成したことを特徴とする金属異物
    の検査装置。
  2. 【請求項2】 被検査物たる長尺のウェブを所定経路で
    搬送する搬送手段と、該搬送手段の作動を制御する制御
    手段とを、更に備えてなり、 前記磁気センサ群は、その検知面が前記ウェブの搬送経
    路に臨み、且つ該ウェブと対向するように配設され、そ
    の検知領域が前記ウェブの幅方向全域に及ぶように配設
    されてなる請求項1記載の金属異物の検査装置。
  3. 【請求項3】 前記判定手段が、前記各磁気センサから
    出力された検出信号幅を予め定められた基準時間と比較
    して、前記金属異物を検出した信号と、ノイズとを判別
    するように構成されてなる請求項2記載の金属異物の検
    査装置。
  4. 【請求項4】 前記保持手段が、前記各磁気センサを、
    前記ウェブの移送経路に臨む位置と、これから離れた位
    置との間で移動させる移動機構を備えてなる請求項2又
    は3記載の金属異物の検査装置。
  5. 【請求項5】 前記判定手段による判定結果データ、及
    び前記測長手段によって算出された搬送距離データに基
    づいて、被検査物上の金属異物の有無に関する二次元マ
    ップデータを生成するマップ生成手段と、該マップ生成
    手段によって生成された二次元マップデータを出力する
    出力手段とを更に備えたことを特徴とする請求項1乃至
    4記載のいずれかの金属異物の検査装置。
  6. 【請求項6】 前記磁気センサ群の各検知面を、非磁性
    のフィルムで被覆したことを特徴とする請求項1乃至5
    記載のいずれかの金属異物の検査装置。
  7. 【請求項7】 前記フィルムが帯電防止剤を含んでなる
    請求項6記載の金属異物の検査装置。
  8. 【請求項8】 前記保持手段が、前記フィルムのテンシ
    ョンを調整するテンション調整機構を備えてなる請求項
    6又は7記載の金属異物の検査装置。
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