JP2003008080A - 発光又は受光装置 - Google Patents
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Abstract
く、製造し易い発光又は受光装置を提供する。 【解決手段】 透光基板3の裏面に形成された窒化ガリ
ウム系化合物半導体15からなる発光素子2又は受光素
子を第1リード16に実装した発光又は受光装置に於
て、透光基板3を第1リード16の窓19に重ね、又
は、少なくとも、透光基板3と接触する第1リード16
の部分を透光性材質で構成し、透光基板3を第1リード
16の裏面にダイボンディングする。
Description
関する。
子は例えば、特開平11−177135号公報に示され
ている。この公報によると、絶縁性基板10と、その上
に積層された第1導電型層11と、発光領域12と、第
2導電型層13とが形成されている。
々、第1導電型層11と第2導電型層13の表面に形成
されている。第1電極14と第2電極15との間に、所
定の電圧が印加されている。
光効率(光利用効率)が低い第1の欠点が有る。本発明
者がその原因を究明したところ、この装置はジョンクシ
ョンアップ型(発光領域12が絶縁性基板10の上方に
位置している)であるためである事が分った。即ち、発
光領域12からの出射光の大部分は絶縁性基板10に入
射するが、この入射光は下向きであるので、外側に向か
う光(即ち、上向きの光)の量が少ない事が分った。
ャンクション型の構成を試みた。即ち、この発光素子を
逆さにし、第1サブマウント(図示せず)上に第1電極
14を固着し、第2サブマウント(図示せず)上に第2
電極15を固着した。しかし発光素子を水平に維持する
ために、第1、第2サブマウントの段差を厳密に管理
し、上記各電極と上記各サブマウントのダイボンディン
グ時にも、高さ調節や、平面的位置の調節等、高精度の
組み立て技術が必要となり、製造しにくい第2の欠点が
有る。
慮して、光利用効率が高く、高さ調節する必要がなく、
製造し易い発光又は受光装置を提供する。
に、請求項1の本発明では、透光基板の裏面に形成され
た窒化ガリウム系化合物半導体からなる発光素子又は受
光素子を第1リードに実装した発光又は受光装置に於
て、前記透光基板を前記第1リードの窓に重ね、又は、
少なくとも、前記透光基板と接触する前記第1リードの
部分を透光性材質で構成し、前記透光基板を前記第1リ
ードの裏面にダイボンディングし、前記素子の第1電極
を前記第1リード又は第2リードにワイヤボンディング
し、前記素子の第2電極を第2リード又は前記第1リー
ドにワイヤボンディングした。
透光基板と、該透光基板の裏面に設けられた第1導電型
層と、該第1導電型層に部分的に設けられた第1電極
と、該第1導電型層に部分的に積層された発光又は受光
領域と第2導電型層と第2電極とを有する。
の略中央に前記第2電極を設け、前記第2電極を囲む様
に、前記第1電極を設けた。
の略中央に前記第1電極を設け、前記第1電極を囲む様
に、前記第2電極を設けた。
けられる前記第1導電型層の第1部分の面積に対し、前
記第1電極の面積の比率が60%ないし100%である
ものとする。
けられる前記第2導電型層の第2部分の面積に対し、前
記第2電極の面積の比率が60%ないし100%である
ものとする。
発明の実施の形態1に係る発光装置1を説明する。図1
は、この発光装置1の断面図、図2は、この発光装置1
に用いられる発光素子2の断面図、図3は、この発光素
子2の裏面図である。
の製造を説明する。まず、製造者は透光基板3を準備す
る。透光基板3として例えば、透光性があり、絶縁性が
あるサファイヤ基板を用いる。
ず)に収納し、クリーニングする。そして、製造者は成
長温度を510℃に設定し、キャリアガスとして水素、
原料ガスとして、アンモニアとトリメチルガリウムを用
い、透光基板3上に、GaNから成るバッファ層4を、
約200オングストロームの厚さにて成長させる。
供給のみを止め、反応管内の温度を1030℃まで上昇
させる。製造者は、反応管内の1030℃において、ト
リメチルガリウムとアンモニアガス、ドーパントガスと
してシランガスを用い、シリコン(Si)をドープした
n型GaN層5を、4μmの厚さまで成長させる。
スの供給を止め、反応管内の温度を800℃に設定し、
原料ガスとして、トリメチルガリウムとトリメチルアル
ミニウムとアンモニア、ドーパントガスとしてシランガ
スを用いる。その結果、製造者は、n型GaN層5の上
に、第1クラッド層6として、シリコンがドープされた
n型Ga0.86Al0.14N層を、0.15μmの厚さまで
成長させる。
の供給を止め、反応管内の温度を800℃に設定し、キ
ャリアガスを窒素ガスに切り替えた後、トリメチルガリ
ウムとトリメチルインジウムとアンモニア、ドーパント
ガスとして、シランガスを用いる。その結果、製造者
は、第1クラッド層6の上に、発光領域7(シリコンが
ドープされたn型In0.01Ga0.99N層)を、100オ
ングストロームの厚さまで成長させる。
ガスの供給を止め、反応管内の温度を1020℃まで上
昇させ、原料ガスとして、トリメチルガリウムとトリメ
チルアルミニウムとアンモニア、ドーパントガスとし
て、シクロペンタジエニルマグネシウムを用いる。その
結果、製造者は、発光領域7の上に、第2クラッド層8
(p型Ga0.86Al0.14N層)を、0.15μmの厚さ
まで成長させる。
の供給を止め、コンタクト層9(マグネシウムがドープ
されたp型GaN層)を0.4μmの厚さまで成長させ
る。
6、7、8、9が成長された透光基板3(以下、半導体
11と呼ぶ)を、反応管から取り出す。そして製造者
は、アニーリング装置内に、この半導体11を収納し、
半導体11を、窒素雰囲気中に、700℃にて、約20
分間、アニーリングを行う。その結果、半導体11に於
て、第2クラッド層8とコンタクト層9の低抵抗化が行
われる。
体11の側面の一部をエッチングしn型GaN層5の一
部(第1部分)11を露出させる。
分11上に、アルミニウム等から成る第1電極12を形
成する。製造者は、コンタクト層9の表面である第2部
分13上に、金等から成る第2電極14を形成する。
リング装置内に収納し、500℃にてアニーリングす
る。その結果、窒化ガリウム系化合物半導体15と、第
1電極12、第2電極14とがなじむ。そして製造者は
500μm角のチップ(素子)に切断し、発光素子2を
得る。
等の電気伝導度の高い材質から成り立上り部17と載置
部18とから構成されている。載置部18の適所には、
窓(開口部)19が形成されている。
度の高い材質から成り、立上り部21と載置部22とか
ら構成されている。載置部22は載置部18と略同じ高
さに設けられ、かつ、載置部22は載置部18に対し、
所定の距離だけ離れて配置されている。
状態を逆さにした状態にて、第1リード16に固定され
たものである。即ち、発光素子2の透光基板3を、第1
リード16の窓19に重ねる様にして、透光基板3は、
第1リード16に設けられた載置部18の裏面に、接着
材(図示せず)等を介し、固着(ダイボンディング)さ
れている。
第1リード16の部分、即ち、載置部18を透光性材質
にて構成しても良い。
の裏面に形成された窒化ガリウム系化合物半導体15か
ら成る発光素子2は、第1リード16に実装されてい
る。
ッファ層4(例えば、厚さ200オングストロームのG
aN層から成る)が形成されている。バッファ層4の裏
面には、下向きに凸状のn型GaN層5(例えば、厚さ
4μm、シリコンをドープされたn型GaN層から成
る)が形成されている。
り、凸状のn型GaN層5の第1部分11(凸部の平坦
部)に形成されている。
の底面に形成され、例えば、厚さが0.15μmで、シ
リコンがドープされたn型Ga0.86Al0.14N層から成
る。これらのn型GaN層5と、第1クラッド層6とに
より、第1導電型層23が構成されている。
成され、例えば、厚さが100オングストロームであ
り、シリコンがドープされたn型In0.01Ga0.99N層
から成る。
形成され、例えば、厚さが0.15μmであり、シクロ
ペンタジエニルマグネシウムがドープされたp型Ga
0.86Al0.14N層から成る。
に形成され、例えば、厚さが0.4μmで、マグネシウ
ムがドープされたp型GaN層から成る。これらの第2
クラッド層8と、コンタクト層9とにより、第2導電型
層24が構成されている。
タクト層9の裏面、即ち、第2導電型層24の第2部分
13に形成されている。これらの層により、発光素子2
は構成されている。
る。発光素子2は透光基板3を有している。透光基板3
の裏面には、第1導電型層23が設けられている。第1
電極12は、第1導電型層23に部分的に設けられてい
る。即ち、第1電極12は、第1導電型層23に形成さ
れた第1部分11の裏面に設けられている。
ラッド層8とコンタクト層9により成る)と、第2電極
14は、第1導電型層23に部分的に積層されている。
即ち上記層7、24、14は、第1導電型層23を構成
する凸部の底面に積層されている。
める。この発光素子2を裏面から見ると(図3参照)、
発光素子2を構成する化合物半導体15(第1導電型層
23と発光領域7と第2導電型層24等から成る)の略
中央に、第2電極14が設けられている。第2電極14
を囲む様に、第1電極12が設けられている。
とめる。第1電極12が設けられた第1導電型層23の
第1部分11の面積S1に対して、第1電極12の面積
S2の比率は、60%ないし100%に設けられている
(図3参照)。
型層24の第2部分13の面積S3に対して、第2電極
14の面積S4の比率は、60%ないし100%に設け
られている(図3参照)。
成る)25は、発光素子2の第1電極12と、第1リー
ド16の載置部18との間に、ワイヤボンディングされ
ている。
発光素子2の第2電極14と、第2リード20の載置部
22との間に、ワイヤボンディングされている。
25と、第2リード20の載置部22との間にワイヤボ
ンディングされ、金属細線26は、第2電極14と、第
1リード16の載置部18との間にワイヤボンディング
されても良い。
ら成り、第1リード16の下端近傍および第2リード2
0の下端近傍を除き、上述した部品を覆う様に、形成さ
れている。以上の部品により、この発光装置1は構成さ
れている。
置1の動作を説明する。第1リード16と第2リード2
0に所定の電圧が印加される。
に各々、所定の電圧が印加され、発光領域7は発光す
る。
ダウン型(発光領域7が透光基板3の下方に位置してい
る)であるので、発光領域7からの出射光の大部分は、
透光基板3に入射する。
8に設けられた窓19を通り、透光性樹脂27のドーム
部を通り、外側に向って放射される。
性材質で構成されている場合は、透光基板3からの出射
光は、載置部18を通り、上記ドーム部を通り、外側に
向って放射される。
光領域7の上方に位置し、かつ光を通し易い透光基板3
を通って、上方に(外側に)放出されるので、輝度が高
く、発光効率(光利用効率)が高い。
中央に第2電極14を設け、第2電極を囲む様に、第1
電極12を設ける。上記構成により、化合物半導体15
の略中央から周辺に、電流が均一に、かつ等方性良く、
拡散され、発光効率が更に高くなる。
1電極12の面積S2の比率を60〜100%とし、第
2部分13の面積S3に対し、第2電極14の面積S4
の比率を60〜100%とする。
に向かう光は、第2電極14で反射される。前述した様
に、第2面積14の面積S4は比較的大きいので、上記
反射光の量は多い。この反射光は上向きに進み、透光性
樹脂27のドーム部を通り、外側向って放射される。そ
の結果、発光効率は更に高くなる。
S2と、第2電極14の面積S4を比較的大きくする事
により、チップマウンタは第1電極12と第2電極14
のパターンを正確に認識できる。その結果、発光素子2
は、第1リード16に設けられた載置部18の所定位置
に、正確に載置される事ができる。
第2リード20にワイヤボンディングされ、第2電極1
4は第2リード20又は第1リード16にワイヤボンデ
ィングされる。その結果、従来の様に、第1電極、第2
電極の下に、段差の異なる第1サブマウント、第2サブ
マウントを固着する必要がない。故に、各サブマウント
の高さ調節や、平面的位置の調節等、高精度の組み立て
技術が不要となり、製造し易くなる。
施の形態2に係る発光装置1aを説明する。図1は発光
装置1aの断面図、図2aは発光装置1aに用いられる
発光素子2aの断面図、図3は発光素子2aの裏面図で
ある。
板等の電気伝導度の高い材質から成り、立上り部17a
と載置部18aとから構成されている。載置部18aの
適所には、窓(開口部)19aが形成されている。
導度の高い材質から成り、立上り部21aと載置部22
aとから構成されている。載置部22aは載置部18a
と略同じ高さに設けられ、かつ、載置部22aは載置部
18aに対し、所定の距離だけ離れて配置されている。
1リード16aに固定されたものである。即ち、発光素
子2aの透光基板3aを、第1リード16aの窓19a
に重ねる様にして、透光基板3aは、第1リード16a
に設けられた載置部18aの裏面に、接着材(図示せ
ず)等を介し、固着(ダイボンディング)されている。
る第1リード16aの部分、即ち、載置部18aを透光
性材質にて構成しても良い。
3aの裏面に形成された窒化ガリウム系化合物半導体1
5aから成る発光素子2aは、第1リード16aに実装
されている。
(例えば、厚さ200オングストロームのGaN層から
成る)が形成されている。バッファ層4aの裏面には、
下向きに凹状のn型GaN層5(例えば、厚さ4μm、
シリコンをドープされたn型GaN層から成る)が形成
されている。
成り、凹状のn型GaN層5aの第1部分11a(凹部
の底部)に形成されている。
の凹部の裏面に形成され、例えば、厚さが0.15μm
で、シリコンがドープされたn型Ga0.86Al0.14N層
から成る。これらのn型GaN層5aと、第1クラッド
層6aとにより、第1導電型層23aが構成されてい
る。
に形成され、例えば、厚さが100オングストローム
で、シリコンがドープされたn型In0.01Ga0.99N層
から成る。
面に形成され、例えば、厚さが0.15μmであって、
シクロペンタジエニルマグネシウムが、ドープされたp
型Ga0.86Al0.14N層から成る。
の裏面に形成され、例えば、厚さが0.4μmで、マグ
ネシウムがドープされたp型GaN層から成る。これら
の第2クラッド層8aと、コンタクト層9aとにより、
第2導電型層24aが構成されている。
ンタクト層9aの裏面、即ち、第2導電型層24aの第
2部分13aに形成されている。これらの層により、発
光素子2aは構成されている。
める。発光素子2aは透光基板3aを有している。透光
基板3aの裏面に、第1導電型層23aが設けられてい
る。第1電極12aは、第1導電型層23aに部分的に
設けられている。即ち、第1電極12aは、第1導電型
層23aに形成された第1部分11aの裏面に設けられ
ている。
2クラッド層8aとコンタクト層9aにより成る)と、
第2電極14aは、第1導電型層23aに部分的に積層
されている。即ち、上記層7a、24a、14aは、第
1導電型層23aを構成する凹部の裏面に積層されてい
る。
とめる。この発光素子2aを裏面から見ると(図6参
照)、発光素子2aを構成する化合物半導体15a(第
1導電型層23aと発光領域7aと第2導電型層24a
等から成る)の略中央に、第1電極12aが設けられて
いる。第1電極12aを囲む様に、第2電極14aが設
けられている。
とめる。第1電極12aが設けられた第1導電型層23
aの第1部分11aの面積S5に対して、第1電極12
aの面積S6の比率は、60%ないし100%に設けら
れている(図6参照)。
電型層24aの第2部分13aの面積S7に対して、第
2電極14aの面積S8の比率は、60%ないし100
%に設けられている(図6参照)。
る)26aは、発光素子2aの第1電極12aと、第2
リード20aの載置部22aとの間に、ワイヤボンディ
ングされている。
は、発光素子2aの第2電極14aと第1リード16a
の載置部18aとの間に、ワイヤボンディングされてい
る。
極12aと、第1リード16aの載置部18aとの間に
ワイヤボンディングされ、金属細線25aは、第2電極
14aと、第2リード20aの載置部22aとの間にワ
イヤボンディングされても良い。
から成り、第1リード16aの下端近傍および第2リー
ド20aの下端近傍を除き、上述した部品を覆う様に、
形成されている。以上の部品により、この発光装置1a
は構成されている。
置1aの動作を説明する。第1リード16aと第2リー
ド20aに所定の電圧が印加される。
4aに各々、所定の電圧が印加され発光領域7aは発光
する。
ンダウン型(発光領域7aが透光基板3aの下方に位置
している)であるので、発光領域7aからの出射光の大
部分は、透光基板3aに入射する。
18aに設けられた窓19aを通り透光性樹脂27aの
ドーム部を通り、外側に向って放射される。
透光性材質で構成されている場合は透光基板3aからの
出射光は、載置部18aを通り、上記ドーム部を通り、
外側に向って放射される。
発光領域7aの上方に位置し、かつ光を通し易い透光基
板3aを通って、上方に(外側に)放出されるので、輝
度が高く、発光効率(光利用効率)が高い。
略中央に第1電極12aを設け、第1電極を囲む様に、
第2電極14aを設ける。上記構成により、化合物半導
体15aの周辺から略中央に、電流が均一に、かつ等方
性良く、拡散され、発光効率が更に高くなる。
第1電極12aの面積S6の比率を60〜100%と
し、第2部分13aの面積S7に対し、第2電極14a
の面積S8の比率を60〜100%とする。
方に向かう光は、第2電極14aで反射される。前述し
た様に、第2面積14aの面積S8は比較的大きいの
で、上記反射光の量は多い。この反射光は上向きに進
み、透光性樹脂27aのドーム部を通り、外側に向って
放射される。その結果、発光効率は更に高くなる。
積S6と、第2電極14aの面積S8を比較的大きくす
る事により、チップマウンタは第1電極12aと第2電
極14aのパターンを正確に認識できる。その結果、発
光素子2aは、第1リード16aに設けられた載置部1
8aの所定位置に、正確に載置される事ができる。
又は第2リード20aにワイヤボンディングされ、第2
電極14aは第2リード20a又は第1リード16aに
ワイヤボンディングされる。その結果、従来の様に、第
1電極、第2電極の下に、段差の異なる第1サブマウン
ト、第2サブマウントを固着する必要がない。故に、各
サブマウントの高さ調節や、平面的位置の調節等、高精
度の組み立て技術が不要となり、製造し易くなる。
素子2、2aを各々用いた発光装置1、1aを説明し
た。しかし、同じ窒化ガリウム系化合物半導体でも、受
光素子として機能するものを用いれば、受光装置を製造
できる。これまでに、本発明による受光装置1、1aの
作用効果として説明してきた点は、そのまま受光装置の
作用効果でもある。
に形成された窒化ガリウム系化合物半導体からなる発光
素子又は受光素子を第1リードに実装した発光又は受光
装置に於て、前記透光基板を前記第1リードの窓に重
ね、又は、少なくとも、前記透光基板と接触する前記第
1リードの部分を透光性材質で構成し、前記透光基板を
前記第1リードの裏面にダイボンディングし、前記素子
の第1電極を前記第1リード又は第2リードにワイヤボ
ンディングし、前記素子の第2電極を第2リード又は前
記第1リードにワイヤボンディングした構成とする。こ
の様に、発光素子はジャンクション型(発光領域が透光
基板の下方に位置している)であるので、発光領域から
の出射光の大部分は、透光基板に入射する。この入射光
は、第1リードの窓を通り、又は透光性の第1リードを
通り、外側に向って放射される。その結果、発光効率
(光利用効率)は高くなる。また、第1電極と第2電極
は、第1リードと第2リードにワイヤボンディングされ
るので、従来の様に、段差の異なる第1サブマウント、
第2サブマウントを設ける必要がない。その結果、各サ
ブマウントの高さ調整や、平面的位置の調節等、高精度
の組み立て技術が不要となり、製造し易くなる。
透光基板と、該透光基板の裏面に設けられた第1導電型
層と、該第1導電型層に部分的に設けられた第1電極
と、該第1導電型層に部分的に積層された発光又は受光
領域と第2導電型層と第2電極とを有する構成とする。
この様に、透光基板の裏面に設けられた第1導電型層に
第1電極を設け、第1導電型層の裏面に、発光(受光)
領域と、第2導電型層と第2電極を積層する事により、
発光領域又は受光領域は、透光基板の下方に位置させる
事ができる。その結果、ジョンクションダウン構造の発
光素子又は受光素子が容易に得られる。
の略中央に前記第2電極を設け、前記第2電極を囲む様
に、前記第1電極を設けた構成とする。上記構成によ
り、化合物半導体の略中央から周辺に、電流が均一に、
かつ等方性良く、拡散されるので、発光効率(光利用効
率)が高くなる。
の略中央に前記第1電極を設け、前記第1電極を囲む様
に、前記第2電極を設けた構成とする。上記構成によ
り、化合物半導体の周辺から略中央に、電流が均一に、
かつ等方性良く、拡散されるので、発光効率(光利用効
率)が高くなる。
けられる前記第1導電型層の第1部分の面積に対し、前
記第1電極の面積の比率が60%ないし100%である
構成とする。この様に、第1電極の面積を大きくする事
により、下向きに向かう光は第1電極で反射され、上向
きに向かい、外側に放射されるので、発光効率又は光利
用効率は高くなる。また、第1部分の面積に対し、第1
電極の面積の比率が60〜100%と、大きくする事に
より、チップマウンタは第1電極のパターンを正確に認
識できる。その結果、発光素子又は受光素子は、第1リ
ードに設けられた載置部の所定位置に、正確に載置され
る事ができる。
けられる前記第2導電型層の第2部分の面積に対し、前
記第2電極の面積の比率が60%ないし100%である
構成とする。この様に、第2電極の面積を大きくする事
により、発光領域からの出射光は、第2電極で反射さ
れ、上向きに向かい、外側に放射されるので、発光効率
又は光利用効率は高くなる。また、第2部分の面積に対
し、第2電極の面積の比率が60〜100%と、大きく
する事により、チップマウンタは第2電極のパターンを
正確に認識できる。その結果、発光素子又は受光素子
は、第1リードに設けられた載置部の所定位置に、正確
に載置される事ができる。
図である。
図である。
面図である。
断面図である。
Claims (6)
- 【請求項1】 透光基板の裏面に形成された窒化ガリウ
ム系化合物半導体からなる発光素子又は受光素子を第1
リードに実装した発光又は受光装置に於て、前記透光基
板を前記第1リードの窓に重ね、又は、少なくとも、前
記透光基板と接触する前記第1リードの部分を透光性材
質で構成し、前記透光基板を前記第1リードの裏面にダ
イボンディングし、前記素子の第1電極を前記第1リー
ド又は第2リードにワイヤボンディングし、前記素子の
第2電極を第2リード又は前記第1リードにワイヤボン
ディングした事を特徴とする発光又は受光装置。 - 【請求項2】 前記素子は、前記透光基板と、該透光基
板の裏面に設けられた第1導電型層と、該第1導電型層
に部分的に設けられた第1電極と、該第1導電型層に部
分的に積層された発光又は受光領域と第2導電型層と第
2電極とを有する事を特徴とする請求項1の発光又は受
光装置。 - 【請求項3】 前記化合物半導体の略中央に前記第2電
極を設け、前記第2電極を囲む様に、前記第1電極を設
けた事を特徴とする請求項2の発光又は受光装置。 - 【請求項4】 前記化合物半導体の略中央に前記第1電
極を設け、前記第1電極を囲む様に、前記第2電極を設
けた事を特徴とする請求項2の発光又は受光装置。 - 【請求項5】 前記第1電極が設けられる前記第1導電
型層の第1部分の面積に対し、前記第1電極の面積の比
率が60%ないし100%である事を特徴とする請求項
3又は請求項4の発光又は受光装置。 - 【請求項6】 前記第2電極が設けられる前記第2導電
型層の第2部分の面積に対し、前記第2電極の面積の比
率が60%ないし100%である事を特徴とする請求項
3又は請求項4の発光又は受光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001195109A JP2003008080A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 発光又は受光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001195109A JP2003008080A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 発光又は受光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003008080A true JP2003008080A (ja) | 2003-01-10 |
Family
ID=19033142
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001195109A Pending JP2003008080A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 発光又は受光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2003008080A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2008004437A1 (ja) * | 2006-07-05 | 2009-12-03 | パナソニック株式会社 | 半導体発光素子及び製造方法 |
US9666761B2 (en) | 2015-09-10 | 2017-05-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light-emitting device |
-
2001
- 2001-06-27 JP JP2001195109A patent/JP2003008080A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPWO2008004437A1 (ja) * | 2006-07-05 | 2009-12-03 | パナソニック株式会社 | 半導体発光素子及び製造方法 |
US9666761B2 (en) | 2015-09-10 | 2017-05-30 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Light-emitting device |
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