JP2002344301A - 半導体出力回路 - Google Patents

半導体出力回路

Info

Publication number
JP2002344301A
JP2002344301A JP2001145938A JP2001145938A JP2002344301A JP 2002344301 A JP2002344301 A JP 2002344301A JP 2001145938 A JP2001145938 A JP 2001145938A JP 2001145938 A JP2001145938 A JP 2001145938A JP 2002344301 A JP2002344301 A JP 2002344301A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
output
level conversion
power supply
conversion circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001145938A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3717109B2 (ja
Inventor
Yusuke Otomo
祐輔 大友
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2001145938A priority Critical patent/JP3717109B2/ja
Publication of JP2002344301A publication Critical patent/JP2002344301A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3717109B2 publication Critical patent/JP3717109B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高電位電源VddOの電圧に対して、低電位
電源Vddの電圧が極めて低い場合でも、良好なデュー
ティ比を持ち、高速な信号を出力することができる半導
体出力回路を提供する。 【解決手段】 反転信号生成回路が生成する正転信号と
反転信号とを入力する第1のレベル変換回路と、PMO
SトランジスタとNMOSトランジスタとが縦列接続さ
れている出力段回路とを具備し、出力段回路を構成する
トランジスタのうちで、電源に接続されているPMOS
トランジスタのゲートに上記第1のレベル変換回路の出
力端子が接続され、反転信号生成回路が生成する正転信
号と反転信号とを第2のレベル変換回路がレベル変換
し、出力段回路を構成するトランジスタのうちで、最下
段NMOSトランジスタのゲートに、上記第2のレベル
変換回路の出力端子が接続されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、CMOS出力段回
路に係り、特に、チップ内部回路が、チップの出力信号
電圧レベルに比較して、非常に低い電源電圧で動作して
も、高速である半導体出力回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来の半導体出力回路SC11
を示す回路図である。
【0003】従来の半導体出力回路SC11は、駆動回
路10と、反転信号生成回路20と、レベル変換回路3
0と、出力段回路40とによって構成されている。
【0004】(参考文献:A Fully Depleted CMOS/SIMO
X LSI Scheme Using a LVTTL-Compatible and Over-1
000-VESD-Hardness I/O Circuit for Reduction in Ac
tiveand Static Power Consumption, Yusuke Ohtomo e
t.al., IEICE Trans. Electron. VOL.E80-C, p.458 Fi
g. 5, March 1997)。
【0005】駆動回路10の入力端子が、従来の半導体
出力回路SC11の入力端子である。駆動回路10の出
力端子は、反転信号生成回路20の入力端子に接続され
ている。反転信号生成回路20の正転出力端子は、レベ
ル変換回路30の第1の入力端子に接続され、反転信号
生成回路20の反転出力端子は、レベル変換回路30の
第2の入力端子と、出力段回路40の最下位に位置する
NMOSトランジスタのゲートとに接続されている。
【0006】レベル変換回路30の出力端子は、出力段
回路40の最上部に位置するPMOSトランジスタのゲ
ートに接続されている。出力段回路40の出力端子が、
従来の半導体出力回路SC11の出力端子である。
【0007】また、従来の半導体出力回路SC11は、
低電位電源Vddと高電位電源VddOとを使用する。
【0008】駆動回路10と反転信号発生回路20との
電源は、低電位電源Vddに接続され、グランド端子は
それぞれ、従来の半導体出力回路SC11のグランド端
子に接続されている。レベル変換回路30の電源端子
は、高電位電源VddOに接続され、レベル固定端子
は、低電位電源Vddに接続され、グランド端子は、従
来の半導体出力回路SC11のグランド端子に接続され
ている。
【0009】出力段回路40の電源端子は、高電位電源
VddOに接続され、レベル固定端子は、低電位電源V
ddに接続され、グランド端子は、従来の半導体出力回
路SC11のグランド端子に接続されている。
【0010】次に、従来の半導体出力回路SC11の動
作について説明する。
【0011】従来の半導体出力回路SC11は、低電位
電源Vdd(たとえば1.8V)で動作する内部回路の
信号、すなわちハイレベルが低電位電源Vdd(たとえ
ば1.8V)であり、ローレベルが0Vである信号を、
ハイレベルが高電位電源VddO(たとえば3.3V)
であり、ローレベルが0Vである大振幅信号に増幅し、
出力する回路である。内部回路の小振幅信号は、駆動回
路10を介して、反転信号生成回路20によって、正転
信号と反転信号とが生成される。
【0012】これらの信号は、レベル変換回路30の差
動NMOSトランジスタのゲートにそれぞれ、入力され
る。レベル変換回路30は、ハイレベルが低電位電源V
ddであり、ローレベルが0Vである信号を、ハイレベ
ルが高電位電源VddOであり、ローレベルが低電位電
源Vddである信号に変換する。
【0013】レベル変換回路30の差動NMOSトラン
ジスタのドレインは、NMOSトランジスタとPMOS
トランジスタとが縦列接続されている縦列接続回路にお
けるNMOSトランジスタのソースに接続され、上記縦
列接続回路におけるNMOSトランジスタのゲートとP
MOSトランジスタのゲートとに、低電位電源Vddが
印加されている。
【0014】これによって、レベル変換回路30を構成
するトランジスタのソース/ドレイン間に印加される電
圧を、分割し、低減する。上記縦列接続されているNM
OSトランジスタとPMOSトランジスタとにおけるP
MOSトランジスタのソースには、クロスカップル接続
されているPMOSトランジスタのドレインが接続され
ている。クロスカップルしたPMOSトランジスタのソ
ースは、電源高電位電源VddOに接続されている。
【0015】クロスカップルしたPMOSトランジスタ
が完全にONすると、出力端子のハイレベルが高電位電
源VddOになり、クロスカップルしたPMOSトラン
ジスタがオフ近くになると、駆動NMOSトランジスタ
の駆動力で決まるローレベル(低電位電源Vddに設
計)が出力される。
【0016】出力段回路40では、最上段のPMOSト
ランジスタと最下段のNMOSトランジスタとが出力端
子Yを駆動する。出力段回路40において、ゲートが低
電位電源Vddに接続されているPMOSトランジスタ
とNMOSトランジスタとは、各ソースを低電位電源V
dd+Vth(Vthはトランジスタの閾値)の電位に
クランプし、したがって、縦列接続されているトランジ
スタのソース/ドレイン間に印加される電圧を分割し、
低減する。
【0017】これによって、出力段回路40を構成する
トランジスタのソース/ドレイン耐圧が、電源高電位電
源VddOの電圧よりも低い場合でも、出力段回路40
とレベル変換回路30内のトランジスタヘの印加電圧を
低減しながら、ハイレベルが高電位電源VddOである
信号を出力する。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の半導
体出力回路SC11では、たとえば高電位電源VddO
の電圧を3.3Vとし、低電位電源Vddの電圧を1.
0V以下に低下させて使用する場合、出力段回路40の
電流駆動力が著しく低下し、信号のデューティ比が悪く
なるという問題があり、しかも、高速な信号を出力でき
なくなるという問題がある。
【0019】図5は、従来の半導体出力回路SC11に
おいて、出力段回路40のNMOSトランジスタとPM
OSトランジスタとの駆動電流を、内部電源低電位電源
Vddの電圧をパラメータとして示す図である。
【0020】従来の半導体出力回路SC11では、内部
回路の低電位電源Vddが低いときに、NMOSトラン
ジスタ側の電流駆動力が著しく低下することが、図5を
見れば、理解できる。
【0021】つまり、内部電源低電位電源Vddの電圧
が1.0V未満になると、NMOSトランジスタの電流
駆動力が、PMOSトランジスタの電流駆動力の5分の
1以下になる。これによって、出力信号の立ち上がり遷
移時間に対して、降下遷移時間が約5倍に増大し、出力
信号のデューティ比が著しく大きくなる。そして、増大
した降下遷移時間によって、高速の信号を出力できなく
なる。
【0022】これを補償する方法として、NMOSトラ
ンジスタのトランジスタチャネル幅を5倍以上に拡大す
る方法がある。
【0023】しかし、出力段回路40の面積が大幅に増
大するという新たな問題が生じる。また、低電位電源V
ddの電圧をさらに低下させ、0.5V付近まで低下さ
せて使用すると、NMOSトランジスタの電流駆動力
が、PMOSトランジスタの電流駆動力の70分の1に
なり、チャネル幅を増加しても、現実的な面積では対処
不可能になる。
【0024】つまり、従来の半導体出力回路SC11
は、高電位電源VddOの電圧に対して、低電位電源V
ddの電圧が極めて低い場合には、出力段回路40の電
流駆動力が著しく低下し、信号のデューティ比が悪くな
り、しかも、高速な信号を出力できないという問題があ
る。
【0025】本発明は、高電位電源VddOの電圧に対
して、低電位電源Vddの電圧が極めて低い場合でも、
良好なデューティ比を持ち、高速な信号を出力すること
ができる半導体出力回路を提供することを目的とするも
のである。
【0026】
【課題を解決するための手段】本発明は、駆動回路と、
駆動回路の出力信号を反転する反転信号生成回路と、上
記反転信号生成回路が生成する正転信号と反転信号とを
入力する第1のレベル変換回路と、PMOSトランジス
タとNMOSトランジスタとが縦列接続されている出力
段回路とを具備し、上記出力段回路を構成するトランジ
スタのうちで、電源に接続されているPMOSトランジ
スタのゲートに上記第1のレベル変換回路の出力端子が
接続されている半導体出力回路において、上記反転信号
生成回路が生成する正転信号と反転信号とを入力する第
2のレベル変換回路を有し、上記出力段回路を構成する
トランジスタのうちで、最下段NMOSトランジスタの
ゲートに、上記第2のレベル変換回路の出力端子が接続
されている半導体出力回路である。
【0027】また、本発明は、上記第1のレベル変換回
路の第2の出力端子に入力端子が接続されている第3の
レベル変換回路を有し、上記出力段回路を構成するトラ
ンジスタのうちで、上記半導体出力回路の出力端子に接
続されているPMOSトランジスタのゲートに、上記第
3のレベル変換回路の出力端子が接続されている半導体
出力回路である。
【0028】さらに、本発明は、上記第1のレベル変換
回路の第2の出力端子に入力端子が接続されている第3
のレベル変換回路を有し、上記出力段回路を構成するト
ランジスタのうちで、上記半導体出力回路の出力端子に
接続されているNMOSトランジスタのゲートに、上記
第3のレベル変換回路の出力端子が接続されている半導
体出力回路である。
【0029】
【発明の実施の形態および実施例】図1は、本発明の第
1の実施例である半導体出力回路SC1を示す回路図で
ある。
【0030】半導体出力回路SC1は、駆動回路10
と、反転信号生成回路50と、第1のレベル変換回路6
1と、第2のレベル変換回路62と、出力段回路40と
を有する。
【0031】駆動回路10の入力端子は、半導体出力回
路SC1の入力端子である。駆動回路10の出力端子
は、反転信号生成回路50の入力端子に接続されてい
る。
【0032】反転信号生成回路50の正転出力端子は、
第1のレベル変換回路61の第1の入力端子と、第2の
レベル変換回路62の第1の入力端子とに接続され、反
転出力端子は、第1のレベル変換回路61の第2の入力
端子と、第2のレベル変換回路62の第2の入力端子と
に接続されている。
【0033】第1のレベル変換回路61の出力端子は、
出力段回路40の最上部に位置するPMOSトランジス
タのゲートに接続されている。第2のレベル変換回路6
2の出力端子は、出力段回路40の最下部に位置するN
MOSトランジスタのゲートに接続されている。
【0034】出力段回路40の出力端子は、半導体出力
回路SC1の出力端子である。
【0035】また、半導体出力回路SC1では、低電位
電源Vddと高電位電源VddOとを使用する。駆動回
路10と反転信号発生回路50との電源は、低電位電源
Vddに接続され、グランド端子はそれぞれ、半導体出
力回路SC1のグランド端子に接続されている。第1の
レベル変換回路61と第2のレベル変換回路62との電
源端子は、高電位電源VddOに接続され、レベル固定
端子は、低電位電源Vddに接続され、グランド端子
は、半導体出力回路SC1のグランド端子に接続されて
いる。
【0036】出力段回路40の電源端子は、高電位電源
VddOに接続され、レベル固定端子は、低電位電源V
ddに接続され、グランド端子は、半導体出力回路SC
1のグランド端子に接続されている。ただし、レベル固
定端子に与える電圧は、低電位電源Vddの電圧に限ら
ず、トランジスタの耐圧に応じて、高電位電源VddO
から生成し、低電位電源Vddよりも高い電圧を与える
こともあり得る。
【0037】次に、半導体出力回路SC1の動作につい
て説明する。
【0038】半導体出力回路SC1は、低電位電源Vd
d(たとえば0.5V)で動作する内部回路の信号、す
なわちハイレベル低電位電源Vdd(たとえば0.5
V)、ローレベル0Vの信号を、ハイレベルが高電位電
源VddO(たとえば3.3V)であり、ローレベルが
0Vである大振幅信号に増幅し、出力する回路である。
【0039】内部回路の小振幅信号は、駆動回路10を
介して、反転信号生成回路50に入力され、反転信号生
成回路50が、正転信号と反転信号とを生成する。
【0040】これら生成された正転信号、反転信号は、
第1のレベル変換回路61の差動NMOSトランジスタ
のゲートと、第2のレベル変換回路62の差動NMOS
トランジスタのゲートとに、それぞれ印加されている。
【0041】ハイレベルが低電位電源Vddであり、ロ
ーレベルが0Vである信号を、第1のレベル変換回路6
1が、ハイレベルが高電位電源VddOであり、ローレ
ベルが低電位電源Vddである信号に変換する。第1の
レベル変換回路61の差動NMOSトランジスタのドレ
インは、縦列接続されているNMOSトランジスタとP
MOSトランジスタとのうちのNMOSトランジスタの
ソースに接続され、縦列接続されているNMOSトラン
ジスタとPMOSトランジスタとの各ゲートには、低電
位電源Vdd(または低電位電源Vddと高電位電源V
ddOとの中間の電圧)が印加される。
【0042】これによって、レベル変換回路61、62
を構成するトランジスタのソース/ドレイン間に印加さ
れる電圧を分割し、低減する。
【0043】縦列接続されているNMOSトランジスタ
とPMOSトランジスタとのうちのPMOSトランジス
タのソースには、クロスカップル接続したPMOSトラ
ンジスタのドレインが接続されている。クロスカップル
したPMOSトランジスタのソースは、電源高電位電源
VddOに接続されている。
【0044】クロスカップルしたPMOSトランジスタ
が完全にONすると、出力端子のハイレベルが高電位電
源VddOになり、逆に、クロスカップルしたPMOS
トランジスタがオフ近くになると、駆動NMOSトラン
ジスタの駆動力で決まるローレベル(低電位電源Vdd
に設計)が出力される。
【0045】一方、第2のレベル変換回路62は、第1
のレベル変換回路61における上記動作と同様の動作を
行うが、第2のレベル変換回路62は、出力信号の取り
出しノードが異なるので、その出力信号レベルが異な
る。すなわち、差動NMOSトランジスタの出力ノード
側のNMOSトランジスタがオンすると、0Vであるロ
ーレベルを出力し、そのNMOSトランジスタがオフす
ると、ドレインに縦列接続されているPMOSトランジ
スタとNMOSトランジスタとの大きさによって決まる
低電位電源Vddと高電位電源VddOとの中間電位で
あるハイレベルを出力する。
【0046】出力段回路40では、最上段のPMOSト
ランジスタと最下段のNMOSトランジスタとが、出力
端子Yを駆動する。ゲートが低電位電源Vdd(または
低電位電源Vddと高電位電源VddOとの中間の電
圧)に接続されているPMOSトランジスタとNMOS
トランジスタとは、各ソースを低電位電源Vdd+Vt
h(Vthはトランジスタの閾値)の電位にクランプ
し、縦列接続されているトランジスタのソース/ドレイ
ン間に印加される電圧を分割し、低減する。
【0047】これによって、出力段回路40を構成する
トランジスタのソース/ドレイン耐圧が、電源高電位電
源VddOの電圧よりも低い場合でも、出力段回路40
と第1のレベル変換回路61とにおけるトランジスタヘ
の印加電圧を低減しながら、ハイレベルが高電位電源V
ddOである信号を出力する。
【0048】すなわち、半導体出力回路SC1は、駆動
回路と、上記駆動回路の出力信号を反転する反転信号生
成回路と、上記反転信号生成回路が生成する正転信号と
反転信号とを入力する第1のレベル変換回路と、PMO
SトランジスタとNMOSトランジスタとが縦列接続さ
れている出力段回路とを具備し、上記出力段回路を構成
するトランジスタのうちで、電源に接続されているPM
OSトランジスタのゲートに上記第1のレベル変換回路
の出力端子が接続されている半導体出力回路において、
上記反転信号生成回路が生成する正転信号と反転信号と
を入力する第2のレベル変換回路を有し、上記出力段回
路を構成するトランジスタのうちで、最下段NMOSト
ランジスタのゲートに、上記第2のレベル変換回路の出
力端子が接続されている半導体出力回路の例である。
【0049】図2は、上記実施例において、出力段回路
40を構成する全トランジスタについて、ソース/ドレ
イン、ゲート/ソース、ドレイン/ゲート間に印加され
る電圧が、トランジスタの耐圧Vb未満になる条件をま
とめた図である。
【0050】出力段回路40の出力電圧が0Vであると
きには、2段のPMOSトランジスタに高電位電源Vd
dO(=3.3V)が印加される。出力端子に接続され
ているPMOSトランジスタのゲートには、次の(1)
式で制限される低電位電源Vddcを印加する必要があ
る。
【0051】 3.3−Vb<低電位電源Vddc<Vb …式(1) このときに、出力端子Yから電流を引くNMOSトラン
ジスタのゲート電位Van1とVan2とは、耐圧Vb
よりも小さい値であり、しかも、できる限り大きな値を
取ることがNMOSトランジスタにおいて、高い電流駆
動力を得る上で重要である。
【0052】一方、出力段回路40の出力電圧が、高電
位電源VddO(=3.3V)であるときには、2段の
NMOSトランジスタに、高電位電源VddO(=3.
3V)が印加される。出力端子Yに接続されているNM
OSトランジスタのゲートには、やはり、上記式(1)
で制限される低電位電源Vddcを与え、各NMOSト
ランジスタに印加される電圧を、耐圧Vb未満に低減す
る。
【0053】そして、このときに、出力端子Yに電流を
流すPMOSトランジスタのゲート電位Vap1とVa
p2とは、高電位電源VddO−Vap1と高電位電源
VddO−Vap2とが、耐圧Vbよりも小さい値であ
り、しかも、ゲート電位Vap1とVap2とは、でき
る限り、小さな値を取ることが、PMOSトランジスタ
において高い電流駆動力を得る上で重要である。
【0054】第2のレベル変換回路62は、ゲート電位
Van1が、耐圧Vbよりも小さい値であり、しかも、
できる限り大きな電圧を印加することを可能とする。従
来例においては、NMOSトランジスタのゲート電位
は、低電位電源Vddに制限され、低電位電源Vddが
0.5V等の非常に低い電圧である場合には、NMOS
トランジスタの駆動力が著しく低下するのに対して、上
記第1の実施例では、第2のレベル変換回路62によっ
て、出力段回路40のNMOSトランジスタの駆動力を
高めることができる。たとえば、第2のレベル変換回路
62の出力信号ハイレベルを10Vに設定すると、出力
段回路40のPMOSトランジスタとNMOSトランジ
スタとの電流駆動力を(PMOSトランジスタとNMO
Sトランジスタのチャネル幅の調整も加えて)同等にす
ることが可能である。
【0055】つまり、半導体出力回路SC1によれば、
出力段回路40のNMOSトランジスタのゲートに高い
電圧を印加することができ、内部回路の低電位電源Vd
dが0.5V等の非常に低い電圧の場合でも、出力段回
路40のNMOSトランジスタの駆動力を高めることが
できる。これによって、出力段回路40のPMOSトラ
ンジスタとNMOSトランジスタとの電流駆動力を同等
にすることが可能になり、出力信号のデューティ比が5
0%に近くなり、また、高速な信号を出力することがで
きる。
【0056】図3は、本発明の第2の実施例である半導
体出力回路SC2を示す図である。
【0057】半導体出力回路SC2は、基本的には、半
導体出力回路SC1と同じであり、半導体出力回路SC
1において、第3のレベル変換回路63が付加されてい
る点が、半導体出力回路SC1とは異なる。
【0058】つまり、半導体出力回路SC2は、駆動回
路10と、反転信号生成回路50と、第1のレベル変換
回路61と、第2のレベル変換回路62と、第3のレベ
ル変換回路63と、出力段回路40とを有する。
【0059】次に、半導体出力回路SC2について、半
導体出力回路SC1と異なる部分を説明する。
【0060】半導体出力回路SC2において、第3のレ
ベル変換回路63の入力端子が、第1のレベル変換回路
61の第2の出力端子に接続され、出力段回路40にお
ける出力端子Yにドレインが接続されているPMOSト
ランジスタのゲートに、第3のレベル変換回路63の出
力端子が、接続されている。そして、第3のレベル変換
回路63の第1の電源端子が、低電位電源Vddに接続
され、第3のレベル変換回路63の第2の電源端子が、
高電位電源VddOに接続されている。グランド端子
は、それぞれ、半導体出力回路SC2のグランド端子に
接続されている。
【0061】次に、半導体出力回路SC2の動作につい
て説明する。
【0062】半導体出力回路SC2における駆動回路1
0と、反転信号生成回路50と、第1のレベル変換回路
61と、第2のレベル変換回路62との動作は、半導体
出力回路SC1におけるそれらの動作と同様であるの
で、その説明を省略する。
【0063】第3のレベル変換回路63は、第1のレベ
ル変換回路61の第2の出力信号を入力する。この入力
信号は、およそ、ハイレベル低電位電源Vdd(たとえ
ば、低電位電源Vddは0.5V)、ローレベル0Vの
信号である。また、第3のレベル変換回路63は、ハイ
レベル低電位電源Vdd、ローレベル0Vの入力信号
を、ハイレベル3.3V、ローレベル1.2Vに、レベ
ル変換して出力する。
【0064】第2のレベル変換回路62が出力段回路4
0のNMOSトランジスタの駆動力を高めるのに対し
て、第3のレベル変換回路63は、出力段回路40にお
いて出力端子Yに接続されているPMOSトランジスタ
の駆動力を高める。
【0065】半導体出力回路SC2が、ハイレベルであ
る高電位電源VddO(=3.3V)を出力する際に、
第3のレベル変換回路63が0Vを出力するので、半導
体出力回路SC1において電圧低電位電源Vddに固定
されている場合と比較して、より低い電圧を、出力段回
路40におけるPMOSトランジスタのゲートに与える
ことができる。したがって、上記出力段回路40におけ
るPMOSトランジスタは、同一のチャネル幅では、よ
り大きな電流駆動力を得る。これによって、半導体出力
回路SC2では、半導体出力回路SC1と比較して、よ
り高速な動作が得られる。
【0066】つまり、半導体出力回路SC2によれば、
出力段回路40の出力端子に接続されているPMOSト
ランジスタのゲートに、低電位電源Vddよりも低い電
位を与えることによって、出力段回路40のNMOSト
ランジスタの駆動力を強化でき、しかも、PMOSトラ
ンジスタの電流駆動力を高めることができ、これによっ
て、半導体出力回路SC1よりも高速な信号を出力する
ことができる。
【0067】また、上記実施例において、2段のPMO
Sトランジスタと、2段のNMOSトランジスタとによ
る縦列接続回路によって、出力段回路40を構成してい
るが、PMOSトランジスタとNMOSトランジスタと
の耐圧が、高電位電源VddOに比べて高ければ、PM
OSトランジスタを1段にし、NMOSトランジスタを
1段にし、レベル変換回路61、62、63を構成する
ようにしてもよい。
【0068】すなわち、半導体出力回路SC2は、半導
体出力回路SC1において、第1のレベル変換回路の第
2の出力端子に入力端子が接続されている第3のレベル
変換回路を有し、半導体出力回路を構成するトランジス
タのうちで、上記半導体回路の出力端子に接続されてい
るPMOSトランジスタのゲートに、上記第3のレベル
変換回路の出力端子が接続されている半導体出力回路の
例である。
【0069】なお、出力段回路40を構成する残りのN
MOSトランジスタのゲートに、第3のレベル変換回路
63の出力端子を接続するようにしてもよい。
【0070】つまり、半導体出力回路SC1において、
上記第1のレベル変換回路の第2の出力端子に入力端子
が接続されている第3のレベル変換回路を有し、上記半
導体出力回路を構成するトランジスタのうちで、上記半
導体回路の出力端子に接続されているNMOSトランジ
スタのゲートに、上記第3のレベル変換回路の出力端子
が接続されている半導体出力回路であってもよい。
【0071】また、上記各実施例において、反転信号生
成回路50の代わりに、従来例における反転信号生成回
路20を使用するようにしてもよい。このようにして
も、高電位電源VddOの電圧に対して、低電位電源V
ddの電圧が極めて低い場合でも、ある程度良好なデュ
ーティ比を持ち、ある程度、高速な信号を出力すること
ができる。
【0072】上記のように、反転信号生成回路50の代
わりに、従来例における反転信号生成回路20を使用し
た場合、反転信号生成回路50における正転信号と反転
信号との時間差は、変転信号生成回路20における正転
信号と反転信号との時間差よりも少ないので、上記各実
施例において反転信号生成回路50を使用した場合の方
が、上記各実施例における出力端子Yにおける出力信号
がより高速な信号になる。
【0073】
【発明の効果】本発明によれば、高電位電源VddOの
電圧に対して、低電位電源Vddの電圧が極めて低い場
合でも、良好なデューティ比を持ち、高速な信号を出力
することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例である半導体出力回路S
C1を示す回路図である。
【図2】上記実施例において、出力段回路40を構成す
る全トランジスタについて、ソース/ドレイン、ゲート
/ソース、ドレイン/ゲート間に印加される電圧が、ト
ランジスタの耐圧Vb未満になる条件をまとめた図であ
る。
【図3】本発明の第2の実施例である半導体出力回路S
C2を示す図である。
【図4】従来の半導体出力回路SC11を示す回路図で
ある。
【図5】従来の半導体出力回路SC11において、出力
段回路40のNMOSトランジスタとPMOSトランジ
スタとの駆動電流を、内部電源低電位電源Vddの電圧
をパラメータとして示す図である。
【符号の説明】 SC1、SC2…半導体出力回路、 Vdd…低電位電源、 VddO…高電位電源、 10…駆動回路、 40…出力段回路、 50…反転信号生成回路、 61…第1のレベル変換回路、 62…第2のレベル変換回路、 63…第3のレベル変換回路。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を駆動する駆動回路と、上記駆
    動回路の出力信号を反転する反転信号生成回路と、上記
    反転信号生成回路が生成する正転信号と反転信号とを入
    力する第1のレベル変換回路と、PMOSトランジスタ
    とNMOSトランジスタとが縦列接続されている出力段
    回路とを具備し、上記出力段回路を構成するトランジス
    タのうちで、電源に接続されているPMOSトランジス
    タのゲートに上記第1のレベル変換回路の出力端子が接
    続されている半導体出力回路において、 上記反転信号生成回路が生成する正転信号と反転信号と
    を入力する第2のレベル変換回路を有し、上記出力段回
    路を構成するトランジスタのうちで、最下段NMOSト
    ランジスタのゲートに、上記第2のレベル変換回路の出
    力端子が接続されていることを特徴とする半導体出力回
    路。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 上記第1のレベル変換回路の第2の出力端子に入力端子
    が接続されている第3のレベル変換回路を有し、上記出
    力段回路を構成するトランジスタのうちで、上記半導体
    出力回路の出力端子に接続されているPMOSトランジ
    スタのゲートに、上記第3のレベル変換回路の出力端子
    が接続されていることを特徴とする半導体出力回路。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 上記第1のレベル変換回路の第2の出力端子に入力端子
    が接続されている第3のレベル変換回路を有し、上記出
    力段回路を構成するトランジスタのうちで、上記半導体
    出力回路の出力端子に接続されているNMOSトランジ
    スタのゲートに、上記第3のレベル変換回路の出力端子
    が接続されていることを特徴とする半導体出力回路。
JP2001145938A 2001-05-16 2001-05-16 半導体出力回路 Expired - Fee Related JP3717109B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001145938A JP3717109B2 (ja) 2001-05-16 2001-05-16 半導体出力回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001145938A JP3717109B2 (ja) 2001-05-16 2001-05-16 半導体出力回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002344301A true JP2002344301A (ja) 2002-11-29
JP3717109B2 JP3717109B2 (ja) 2005-11-16

Family

ID=18991663

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001145938A Expired - Fee Related JP3717109B2 (ja) 2001-05-16 2001-05-16 半導体出力回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3717109B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006303753A (ja) * 2005-04-19 2006-11-02 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
JP2007329818A (ja) * 2006-06-09 2007-12-20 Sony Corp レベルシフタ回路及び情報再生装置
US7355446B2 (en) 2005-05-20 2008-04-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage conversion circuit with stable transition delay characteristic

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006303753A (ja) * 2005-04-19 2006-11-02 Renesas Technology Corp 半導体集積回路装置
US7355446B2 (en) 2005-05-20 2008-04-08 Samsung Electronics Co., Ltd. Voltage conversion circuit with stable transition delay characteristic
JP2007329818A (ja) * 2006-06-09 2007-12-20 Sony Corp レベルシフタ回路及び情報再生装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3717109B2 (ja) 2005-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6819142B2 (en) Circuit for transforming a differential mode signal into a single ended signal with reduced standby current consumption
US7683668B1 (en) Level shifter
US6791391B2 (en) Level shifting circuit
JP4768300B2 (ja) 電圧レベル変換回路及び半導体集積回路装置
US20080157816A1 (en) Level conversion circuit
JP5295889B2 (ja) レベル変換回路
JP2002290230A (ja) Cmosインバータ
US7301399B2 (en) Class AB CMOS output circuit equipped with CMOS circuit operating by predetermined operating current
US6329840B1 (en) Tristate output buffer with matched signals to PMOS and NMOS output transistors
KR19990062842A (ko) 반도체집적회로
JP3192937B2 (ja) バスホールド回路
US20060214717A1 (en) Low amplitude differential output circuit and serial transmission interface using the same
JP2002344301A (ja) 半導体出力回路
JP2001127615A (ja) 分割レベル論理回路
JP2015076718A (ja) レベルシフト回路および表示駆動回路
JP2005064952A (ja) レベルダウンコンバータ
JP2001044819A (ja) 高電圧出力インバーター
JPH09307420A (ja) 出力バッファ
JP2003101405A (ja) レベルシフト回路
JP3077664B2 (ja) 入力回路
JP2006060690A (ja) 適応型インバータ
JP4273881B2 (ja) 差動信号出力回路及びそれを内蔵した半導体集積回路
JP2002026715A (ja) レベルシフト回路
US7236030B2 (en) Method to implement hysteresis in a MOSFET differential pair input stage
JP3193218B2 (ja) 半導体論理回路

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20050530

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20050603

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050802

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050826

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050826

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080909

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090909

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100909

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100909

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110909

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120909

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130909

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees