JP2002324612A - 電気的な端子 - Google Patents

電気的な端子

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電気的な端子、特に直列端子１であって、端
子ケーシング３、該端子ケーシング内に配置された導体
接続部材若しくは端子接点、特に引っ張りばねクランプ
及び電流ビームを備えており、端子ケーシングが接続す
べき電気的な導体の差込のための導体差込開口６、導体
接続部材の開放のための操作工具の導入用の操作開口
７、及びテストプラグ１３の差込のためのテストプラグ
開口８を有している形式のものにおいて、構成寸法を著
しく小さくする。 【解決手段】 テストプラグ開口８が端子の中央平面
（中心線）から側方へずらして操作開口７に隣接して配
置されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】電気的な端子、特に直列端子
であって、端子ケーシング、該端子ケーシング内に配置
された少なくとも１つの導体接続部、例えば引っ張りば
ねクランプ若しくは引っ張りばね接点、及び少なくとも
１つの電流ビームを備えており、端子ケーシングが接続
すべき電気的な導体の差込のための少なくとも１つの導
体差込開口、導体接続部（引っ張りばねクランプ）の開
放のための操作工具の導入用の少なくとも１つの操作開
口、及びテストプラグの差込のための少なくとも１つの
テストプラグ開口を有している形式のものに関する。
【０００２】電気的な端子、特に直列端子は電気的な設
備及び装置若しくはデバイスの配線に際して大量に使用
される。端子は多くの場合支持レール上に係止され、支
持レールが配電箱若しくはエンクロージャ内に配置され
ている。端子、特に直列端子内の導体接続部分若しくは
導体接続部材としては通常はねじクランプ若しくは引っ
張りばねクランプが用いられる。引っ張りばねクランプ
の締め付け原理は、ねじの締め付け原理に類似してい
る。ねじクランプにおいては引っ張りスリーブがクラン
プねじの操作によって導体を電流ビームに向けて引き付
けるのに対して、このような機能が引っ張りばねクラン
プにおいては引っ張りばねによって生ぜしめられる。こ
のために、初期荷重（プレロード）の掛けられた引っ張
りばねが操作工具、例えばねじ回しを用いて開かれ、そ
の結果、導体が引っ張りばねのばね脚部の窓（切欠き）
を通して接続室若しくは接続スペース内に差し込まれ
る。次いで操作工具を取り除くことによって、導体が引
っ張りばねのばね力で電流ビームに引き付けられる。導
体若しくは操作工具の先端を端子内に差し込むために、
端子ケーシングが導体差込開口及び操作開口を有してい
る。
【０００３】電気的な端子は通常は接続端子であり、従
って少なくとも２つの導体接続部若しくは導体接続部材
を有しており、該導体接続部若しくは導体接続部材が導
電性の接続レール若しくは電流ビームを介して互いに電
気的に結合（接続）されている。このような標準タイプ
の直列端子のほかに、特別にそれぞれの使用例に適合さ
れた種々のタイプの直列端子がある。例えば２つの差込
口若しくは３つの差込口を備える端子若しくは３つ若し
くは４つの導体を接続可能な端子は、相応に多くの数の
導体接続部材を有している。さらに１つのベース端子若
しくは基準端子及び１つの接続プラグから成る直列端子
もあり、この場合、ベース端子が端子ケーシング、該端
子ケーシング内に配置された導体接続部材及び該導体接
続部材に電気的に結合された差込部分を有している。接
続プラグが同じく導体接続部材及び該導体接続部材に電
気的に結合された差込接点を有している。このようなタ
イプの直列端子においては、ベース端子が通常は支持レ
ール上に係止され、かつ接続プラグが差込接点を介して
ベース端子の対応する差込部分に差込装着される。
【０００４】設備の運転開始の前に配線が正しいかどう
かをテストするために、若しくは故障に際して誤った配
線をできるだけ簡単に突き止めるために、端子の端子ケ
ーシングに適当なテストプラグ若しくはテスターの差込
のためのテストプラグ開口が付加的に設けられている。
テストプラグ開口が、端子ケーシング内の導電性の構成
部分、例えば導体接続部材若しくは電流ビームとテスト
プラグとの接触を可能にし、かつテストプラグの案内及
び確実な固定のために役立っている。
【０００５】電気的な装置及び設備の小型化に伴って、
配電箱の寸法の縮小も望まれている。電気的な装置及び
設備が互いに接続若しくは配線されねばならないので、
配電箱内での電気的な端子の所要スペースも減少され
る。従って、著しくコンパクトな構造、即ち幅の著しく
狭くかつ長さの短いいわゆるミニ直列端子の要求が高ま
っている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
に述べた形式の電気的な端子を改善して、端子のテスト
若しくは検査を可能にすると共に、構成寸法を著しく小
さくすることである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に本発明に基づく構成では、テストプラグ開口が端子の
中央平面から側方へずらして操作開口に隣接して配置さ
れている。
【０００８】公知技術では、導体差込開口、操作開口及
びテストプラグ開口がそれぞれ端子の中央平面に対して
対称的に、即ち端子の中心線上に配置されている。この
場合、テストプラグ開口が導体差込開口と操作開口との
間の中央に位置している。
【０００９】
【発明の効果】テストプラグ開口を有利には導体差込開
口と操作開口との間で側方に配置することによって、電
気的な端子が、公知技術に比べて短くされた構成寸法で
実施可能である。
【００１０】本発明の特に有利な構成では、電気的な端
子が操作開口とテストプラグ開口とを互いに移行させ合
う、即ち互いにオーバーラップさせて形成されている。
これによって、実質的に全体で２つの開口しか設けられ
ておらず、この場合、１つ（第１）の開口が導体差込開
口を成しており、かつ別（第２）の開口の一部分が操作
開口を形成し、該別（第２）の開口の別の部分がテスト
プラグ開口として役立っている。これによって、端子の
長さがさらに短くされる。
【００１１】本発明に基づく端子はさらに種々の変更が
可能であり、特に操作開口及びテストプラグ開口の形、
大きさ及び配置形式が、その都度の要求、特にその都度
使用されるテストプラグに合わせて変化させられてよ
い。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１には、電気的なそれぞれ異な
る３つの直列端子１を示してあり、該直列端子が１つの
端子ブロック２にまとまられている。個別の各直列端子
１がそれぞれ端子ケーシング３を有しており、端子ケー
シング内に引っ張りばねクランプ４及び電流ビーム５が
配置されている。引っ張りばねクランプ（端子接点）４
が、ここには図示してない電気的な導体の電気的な接触
（接続）のために役立っており、このために電気的な導
体が引っ張りばねクランプ４によって電流ビーム５に向
けて引っ張られる。
【００１３】電気的な各直列端子１の端子ケーシング３
が導体差込開口６、操作開口７及びテストプラグ開口８
を有している。操作開口７内に操作工具を、例えばねじ
回しの先端を挿入すると、ねじ回しの先端がケーシング
壁９と引っ張りばねクランプ４の背部１０との間を移動
し、引っ張りばねクランプ４のクランプ脚部１１内に形
成された切欠き（窓）が導体差込開口６の下側に移さ
れ、その結果、接続すべき導体が導体差込開口６を通し
て引っ張りばねクランプ４の切欠き内に押し込まれ得
る。操作工具を操作開口７から抜き取ると、引っ張りば
ねクランプ４が弾性的に戻り、これによって切欠き内に
差し込まれた導体が電流ビーム５に向けて引っ張られ
る。該電気的な導体が直列端子１に電気的に接続され
る。
【００１４】特に図２から明らかなように、テストプラ
グ開口８が端子の中央平面Ｍから側方へずらして操作開
口７に隣接して配置されている。操作開口７とテストプ
ラグ開口８とが、図２の中央の直列端子１で示してある
ように、薄い壁１２によって互いに仕切られていてよ
い。しかしながら有利には、操作開口７がテストプラグ
開口８内へ移行している。通常は導体差込開口６がほぼ
円形の横断面を有しているので、テストプラグ開口８を
中央平面Ｍから側方へずらして配置することによって、
導体差込開口６と操作開口７とが互いに密に、即ち互い
に接近して配置され得る。
【００１５】テストプラグ開口８の形及び大きさは、テ
ストプラグ１３の構造に対応して選ばれる。テストプラ
グ１３が比較的細い円柱状のシャフトしか有していない
場合には、テストプラグ開口８は、図２の下側の直列端
子１で示してあるように、直径の小さい孔として形成さ
れていてよい。これに対して、異なる構造の接触ピン１
４を備えたテストプラグ１３を用いる場合には、接触ピ
ン１４が実質的に正方形の横断面を有しているので、テ
ストプラグ開口８も相応にほぼ正方形に形成されてい
る。
【００１６】操作開口７とテストプラグ開口８とが有利
な実施例に基づき互いに移行し合っている場合には、操
作開口７とテストプラグ開口８との間の移行部１５の幅
が、テストプラグ１３若しくは接触ピン１４の直径若し
くは幅よりも小さくなっている。操作開口７とテストプ
ラグ開口８との間の移行部１５が突出部１６によって制
限されており、突出部が操作開口７内へ突出している。
従って、テストプラグ１３がテストプラグ開口８内への
差込に際して突出部によって確実に案内され、かつ操作
開口７内へのテストプラグ１３の滑り込みが避けられ
る。図３及び図４に示してあるように、端子ケーシング
３内に引っ張りばねクランプ４を配置してあることによ
って、操作工具は操作開口７内への差込に際して操作開
口７の、導体差込開口６と逆の側の縁部に押し付けられ
る。テストプラグ開口８を操作開口７の、導体差込開口
６に向いた側に配置してあるので、テストプラグ開口８
が操作開口７内への操作工具の押し込みを妨げることは
ない。
【００１７】図５に、ベース端子１７及び接続プラグ１
８から成る電気的な直列端子１が示してある。ベース端
子１７が、ここには図示してない支持レール上に係止さ
れるようになっており、このためにベース端子１７の底
部１９に適当な係止部分２０が形成されている。ベース
端子１７と接続プラグ１８との結合が、ベース端子１７
内に設けられた差込ピン２１と接続プラグ１８内に設け
られた差込ブッシュ２２を介して行われており、差込ブ
ッシュが電流ビーム５と一体に結合されている。電気的
な２つの導体の接続のための２つの引っ張りばねクラン
プ４を備えた接続プラグ１８（図５）の代わりに、図１
乃至図４に示す電気的な直列端子１が差込ブッシュ２２
を介してベース端子１７の差込ピン２１に差しはめられ
てよい。
【００１８】図３及び図５から明らかなように、電気的
な直列端子１若しくは接続プラグ１８にコード部分２３
を配置してあり、コード部分が、目標破断箇所として形
成された薄い結合ウエブ２４を介して端子ケーシング３
に結合されている。これによって、コード部分２３が端
子ケーシング３から手で容易に切り取られて、ベース端
子１７に設けられた開口２５内に差し込まれるようにな
っていてよい。このようにしてベース端子１７も簡単な
形式でコード化されてよく、これによって接続プラグ１
８が正しいベース端子１７に結合される。
【００１９】さらに図１から明らかなように、端子ケー
シング３に複数の係止部分２６を形成してあり、該係止
部分が電気的な個別の直列端子１を互いに結合若しくは
連結するために役立つ。このために、個別の端子ケーシ
ング３が係止部分２６及び該係止部分に対応する係止切
欠き若しくは係止凹所を用いて互いにまとめ合わされ
る。図１乃至図３からさらに明らかなように、端子ケー
シング３が別の開口２７を備えており、該開口内に隣接
の２つ若しくは複数の直列端子１の短絡のための短絡プ
ラグ若しくはブリッジが差し込まれる。
【００２０】図６の図ａに、公知技術の直列端子の導体
差込開口６、操作開口７及びテストプラグ開口８の配置
が示してある。テストプラグ開口８が、導体差込開口６
と操作開口７との間の中央に、かつ導体差込開口６及び
操作開口７と同様に中央平面Ｍを基準として対称的に配
置されている。これに対して、図６の図ｂに示してある
ように本発明では、テストプラグ開口８が中央平面Ｍか
ら側方へずらして、かつ操作開口７に隣接して配置され
ている。図６の図ｂの例では、導体差込開口６のほか
に、操作開口７も円形の横断面で形成されている。テス
トプラグ開口８を中央平面Ｍから側方へずらして配置し
たことによって、導体差込開口６と操作開口７とが、図
６の図ａの配置構成よりも互いに狭い間隔で配置され、
従って端子１が中央平面Ｍの方向での寸法を小さくでき
る。
【００２１】図６の図ｃ乃至図ｅに示す実施例において
は、操作開口７とテストプラグ開口８とが互いに移行し
合って、即ち互いにオーバーラップしている。操作開口
７とテストプラグ開口８との間のオーバーラップが操作
開口７及びテストプラグ開口８の仮想の縁部の破線によ
って暗示してある。
【００２２】図６の図ｃの実施例では操作開口７及びテ
ストプラグ開口８がそれぞれ円形の横断面を有している
のに対して、図６の図ｄの実施例では操作開口７及びテ
ストプラグ開口８が正方形に形成されている。テストプ
ラグ開口８の形及び大きさは、使用されるテストプラグ
１３の形及び大きさに合わせられている。図６の図ｅの
実施例では付加的に別のテストプラグ開口８を操作開口
７に隣接して配置してある。このような構成によって、
異なるテストプラグ１３を該テストプラグの横断面に応
じていずれか一方のテストプラグ開口８に差し込んで用
いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明に基づく電気的な３つの端子から成る１
つの端子ブロックの実施例の斜め上方から見た斜視図。
【図２】図１の実施例の平面図。
【図３】図１の実施例を斜め側方から見た斜視図。
【図４】本発明に基づく端子の部分拡大側面図。
【図５】ベース端子及び接続プラグから成る電気的な直
列端子の側面図。
【図６】導体差込開口、操作開口及びテストプラグ開口
の種々の配置を示した概略図。
【符号の説明】
１ 直列端子、 ２ 端子ブロック、 ３ 端子ケーシ
ング、 ４ 引っ張りばねクランプ、 ５ 電流ビー
ム、 ６ 導体差込開口、 ７ 操作開口、 ８テスト
プラグ開口、 ９ ケーシング壁、 １０ 背部、 １
１ クランプ脚部、 １２ 壁、 １３ テストプラ
グ、 １４ 接触ピン、 １５ 移行部、１６ 突出
部、 １７ ベース端子、 １８ 接続プラグ、 １９
底部、２０ 係止部分、 ２１ 差込ピン、 ２２
差込ブッシュ、 ２３ コード部分、 ２４ 結合ウエ
ブ、 ２５ 開口、 ２６ 係止部分、 ２７ 開口、
Ｍ 中央平面
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ユルゲン ブラント ドイツ連邦共和国 デトモルト ドーラシ ュトラーセ 20 (72)発明者 オリヴァー ランゲ ドイツ連邦共和国 シーダー−シュヴァー レンベルク シラーシュトラーセ ５

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 電気的な端子であって、端子ケーシング
    （３）、該端子ケーシング内に配置された少なくとも１
    つの導体接続部、及び少なくとも１つの電流ビーム
    （５）を備えており、端子ケーシング（３）が接続すべ
    き電気的な導体の差込のための少なくとも１つの導体差
    込開口（６）、導体接続部の開放のための操作工具の導
    入用の少なくとも１つの操作開口（７）、及びテストプ
    ラグ（１３）の差込のための少なくとも１つのテストプ
    ラグ開口（８）を有している形式のものにおいて、テス
    トプラグ開口（８）が中央平面（Ｍ）から側方へずらし
    て操作開口（７）に隣接して配置されていることを特徴
    とする電気的な端子。
  2. 【請求項２】 操作開口（７）とテストプラグ開口
    （８）とが互いに移行し合っている請求項１記載の端
    子。
  3. 【請求項３】 実質的に方形の操作開口（７）の１つの
    角隅部がテストプラグ開口（８）として形成されている
    請求項２記載の端子。
  4. 【請求項４】 テストプラグ開口（８）が、導体差込開
    口（６）に比べて小さな孔として形成されている請求項
    １から３のいずれか１項記載の端子。
  5. 【請求項５】 テストプラグ開口（８）が、実質的に方
    形に形成されている請求項１から３のいずれか１項記載
    の端子。
  6. 【請求項６】 操作開口（７）とテストプラグ開口
    （８）との間の移行部（１５）の幅が、テストプラグの
    直径若しくは幅よりも小さくなっている請求項２から５
    のいずれか１項記載の端子。
  7. 【請求項７】 操作開口（７）及びテストプラグ開口
    （８）が、移行部（１５）を制限する突出部（１６）に
    よって画成されている請求項２から６のいずれか１項記
    載の端子。
JP2002116114A 2001-04-18 2002-04-18 電気的な端子 Pending JP2002324612A (ja)

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DE20106710U DE20106710U1 (de) 2001-04-18 2001-04-18 Elektrische Klemme
DE20106710.2 2001-04-18

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JP2002116114A Pending JP2002324612A (ja) 2001-04-18 2002-04-18 電気的な端子

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US (1) US6736683B2 (ja)
EP (1) EP1251590B1 (ja)
JP (1) JP2002324612A (ja)
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