JP2002324612A - 電気的な端子 - Google Patents
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Abstract
子ケーシング3、該端子ケーシング内に配置された導体
接続部材若しくは端子接点、特に引っ張りばねクランプ
及び電流ビームを備えており、端子ケーシングが接続す
べき電気的な導体の差込のための導体差込開口6、導体
接続部材の開放のための操作工具の導入用の操作開口
7、及びテストプラグ13の差込のためのテストプラグ
開口8を有している形式のものにおいて、構成寸法を著
しく小さくする。 【解決手段】 テストプラグ開口8が端子の中央平面
(中心線)から側方へずらして操作開口7に隣接して配
置されている。
Description
であって、端子ケーシング、該端子ケーシング内に配置
された少なくとも1つの導体接続部、例えば引っ張りば
ねクランプ若しくは引っ張りばね接点、及び少なくとも
1つの電流ビームを備えており、端子ケーシングが接続
すべき電気的な導体の差込のための少なくとも1つの導
体差込開口、導体接続部(引っ張りばねクランプ)の開
放のための操作工具の導入用の少なくとも1つの操作開
口、及びテストプラグの差込のための少なくとも1つの
テストプラグ開口を有している形式のものに関する。
備及び装置若しくはデバイスの配線に際して大量に使用
される。端子は多くの場合支持レール上に係止され、支
持レールが配電箱若しくはエンクロージャ内に配置され
ている。端子、特に直列端子内の導体接続部分若しくは
導体接続部材としては通常はねじクランプ若しくは引っ
張りばねクランプが用いられる。引っ張りばねクランプ
の締め付け原理は、ねじの締め付け原理に類似してい
る。ねじクランプにおいては引っ張りスリーブがクラン
プねじの操作によって導体を電流ビームに向けて引き付
けるのに対して、このような機能が引っ張りばねクラン
プにおいては引っ張りばねによって生ぜしめられる。こ
のために、初期荷重(プレロード)の掛けられた引っ張
りばねが操作工具、例えばねじ回しを用いて開かれ、そ
の結果、導体が引っ張りばねのばね脚部の窓(切欠き)
を通して接続室若しくは接続スペース内に差し込まれ
る。次いで操作工具を取り除くことによって、導体が引
っ張りばねのばね力で電流ビームに引き付けられる。導
体若しくは操作工具の先端を端子内に差し込むために、
端子ケーシングが導体差込開口及び操作開口を有してい
る。
って少なくとも2つの導体接続部若しくは導体接続部材
を有しており、該導体接続部若しくは導体接続部材が導
電性の接続レール若しくは電流ビームを介して互いに電
気的に結合(接続)されている。このような標準タイプ
の直列端子のほかに、特別にそれぞれの使用例に適合さ
れた種々のタイプの直列端子がある。例えば2つの差込
口若しくは3つの差込口を備える端子若しくは3つ若し
くは4つの導体を接続可能な端子は、相応に多くの数の
導体接続部材を有している。さらに1つのベース端子若
しくは基準端子及び1つの接続プラグから成る直列端子
もあり、この場合、ベース端子が端子ケーシング、該端
子ケーシング内に配置された導体接続部材及び該導体接
続部材に電気的に結合された差込部分を有している。接
続プラグが同じく導体接続部材及び該導体接続部材に電
気的に結合された差込接点を有している。このようなタ
イプの直列端子においては、ベース端子が通常は支持レ
ール上に係止され、かつ接続プラグが差込接点を介して
ベース端子の対応する差込部分に差込装着される。
かをテストするために、若しくは故障に際して誤った配
線をできるだけ簡単に突き止めるために、端子の端子ケ
ーシングに適当なテストプラグ若しくはテスターの差込
のためのテストプラグ開口が付加的に設けられている。
テストプラグ開口が、端子ケーシング内の導電性の構成
部分、例えば導体接続部材若しくは電流ビームとテスト
プラグとの接触を可能にし、かつテストプラグの案内及
び確実な固定のために役立っている。
配電箱の寸法の縮小も望まれている。電気的な装置及び
設備が互いに接続若しくは配線されねばならないので、
配電箱内での電気的な端子の所要スペースも減少され
る。従って、著しくコンパクトな構造、即ち幅の著しく
狭くかつ長さの短いいわゆるミニ直列端子の要求が高ま
っている。
に述べた形式の電気的な端子を改善して、端子のテスト
若しくは検査を可能にすると共に、構成寸法を著しく小
さくすることである。
に本発明に基づく構成では、テストプラグ開口が端子の
中央平面から側方へずらして操作開口に隣接して配置さ
れている。
びテストプラグ開口がそれぞれ端子の中央平面に対して
対称的に、即ち端子の中心線上に配置されている。この
場合、テストプラグ開口が導体差込開口と操作開口との
間の中央に位置している。
口と操作開口との間で側方に配置することによって、電
気的な端子が、公知技術に比べて短くされた構成寸法で
実施可能である。
子が操作開口とテストプラグ開口とを互いに移行させ合
う、即ち互いにオーバーラップさせて形成されている。
これによって、実質的に全体で2つの開口しか設けられ
ておらず、この場合、1つ(第1)の開口が導体差込開
口を成しており、かつ別(第2)の開口の一部分が操作
開口を形成し、該別(第2)の開口の別の部分がテスト
プラグ開口として役立っている。これによって、端子の
長さがさらに短くされる。
可能であり、特に操作開口及びテストプラグ開口の形、
大きさ及び配置形式が、その都度の要求、特にその都度
使用されるテストプラグに合わせて変化させられてよ
い。
る3つの直列端子1を示してあり、該直列端子が1つの
端子ブロック2にまとまられている。個別の各直列端子
1がそれぞれ端子ケーシング3を有しており、端子ケー
シング内に引っ張りばねクランプ4及び電流ビーム5が
配置されている。引っ張りばねクランプ(端子接点)4
が、ここには図示してない電気的な導体の電気的な接触
(接続)のために役立っており、このために電気的な導
体が引っ張りばねクランプ4によって電流ビーム5に向
けて引っ張られる。
が導体差込開口6、操作開口7及びテストプラグ開口8
を有している。操作開口7内に操作工具を、例えばねじ
回しの先端を挿入すると、ねじ回しの先端がケーシング
壁9と引っ張りばねクランプ4の背部10との間を移動
し、引っ張りばねクランプ4のクランプ脚部11内に形
成された切欠き(窓)が導体差込開口6の下側に移さ
れ、その結果、接続すべき導体が導体差込開口6を通し
て引っ張りばねクランプ4の切欠き内に押し込まれ得
る。操作工具を操作開口7から抜き取ると、引っ張りば
ねクランプ4が弾性的に戻り、これによって切欠き内に
差し込まれた導体が電流ビーム5に向けて引っ張られ
る。該電気的な導体が直列端子1に電気的に接続され
る。
グ開口8が端子の中央平面Mから側方へずらして操作開
口7に隣接して配置されている。操作開口7とテストプ
ラグ開口8とが、図2の中央の直列端子1で示してある
ように、薄い壁12によって互いに仕切られていてよ
い。しかしながら有利には、操作開口7がテストプラグ
開口8内へ移行している。通常は導体差込開口6がほぼ
円形の横断面を有しているので、テストプラグ開口8を
中央平面Mから側方へずらして配置することによって、
導体差込開口6と操作開口7とが互いに密に、即ち互い
に接近して配置され得る。
ストプラグ13の構造に対応して選ばれる。テストプラ
グ13が比較的細い円柱状のシャフトしか有していない
場合には、テストプラグ開口8は、図2の下側の直列端
子1で示してあるように、直径の小さい孔として形成さ
れていてよい。これに対して、異なる構造の接触ピン1
4を備えたテストプラグ13を用いる場合には、接触ピ
ン14が実質的に正方形の横断面を有しているので、テ
ストプラグ開口8も相応にほぼ正方形に形成されてい
る。
な実施例に基づき互いに移行し合っている場合には、操
作開口7とテストプラグ開口8との間の移行部15の幅
が、テストプラグ13若しくは接触ピン14の直径若し
くは幅よりも小さくなっている。操作開口7とテストプ
ラグ開口8との間の移行部15が突出部16によって制
限されており、突出部が操作開口7内へ突出している。
従って、テストプラグ13がテストプラグ開口8内への
差込に際して突出部によって確実に案内され、かつ操作
開口7内へのテストプラグ13の滑り込みが避けられ
る。図3及び図4に示してあるように、端子ケーシング
3内に引っ張りばねクランプ4を配置してあることによ
って、操作工具は操作開口7内への差込に際して操作開
口7の、導体差込開口6と逆の側の縁部に押し付けられ
る。テストプラグ開口8を操作開口7の、導体差込開口
6に向いた側に配置してあるので、テストプラグ開口8
が操作開口7内への操作工具の押し込みを妨げることは
ない。
8から成る電気的な直列端子1が示してある。ベース端
子17が、ここには図示してない支持レール上に係止さ
れるようになっており、このためにベース端子17の底
部19に適当な係止部分20が形成されている。ベース
端子17と接続プラグ18との結合が、ベース端子17
内に設けられた差込ピン21と接続プラグ18内に設け
られた差込ブッシュ22を介して行われており、差込ブ
ッシュが電流ビーム5と一体に結合されている。電気的
な2つの導体の接続のための2つの引っ張りばねクラン
プ4を備えた接続プラグ18(図5)の代わりに、図1
乃至図4に示す電気的な直列端子1が差込ブッシュ22
を介してベース端子17の差込ピン21に差しはめられ
てよい。
な直列端子1若しくは接続プラグ18にコード部分23
を配置してあり、コード部分が、目標破断箇所として形
成された薄い結合ウエブ24を介して端子ケーシング3
に結合されている。これによって、コード部分23が端
子ケーシング3から手で容易に切り取られて、ベース端
子17に設けられた開口25内に差し込まれるようにな
っていてよい。このようにしてベース端子17も簡単な
形式でコード化されてよく、これによって接続プラグ1
8が正しいベース端子17に結合される。
シング3に複数の係止部分26を形成してあり、該係止
部分が電気的な個別の直列端子1を互いに結合若しくは
連結するために役立つ。このために、個別の端子ケーシ
ング3が係止部分26及び該係止部分に対応する係止切
欠き若しくは係止凹所を用いて互いにまとめ合わされ
る。図1乃至図3からさらに明らかなように、端子ケー
シング3が別の開口27を備えており、該開口内に隣接
の2つ若しくは複数の直列端子1の短絡のための短絡プ
ラグ若しくはブリッジが差し込まれる。
差込開口6、操作開口7及びテストプラグ開口8の配置
が示してある。テストプラグ開口8が、導体差込開口6
と操作開口7との間の中央に、かつ導体差込開口6及び
操作開口7と同様に中央平面Mを基準として対称的に配
置されている。これに対して、図6の図bに示してある
ように本発明では、テストプラグ開口8が中央平面Mか
ら側方へずらして、かつ操作開口7に隣接して配置され
ている。図6の図bの例では、導体差込開口6のほか
に、操作開口7も円形の横断面で形成されている。テス
トプラグ開口8を中央平面Mから側方へずらして配置し
たことによって、導体差込開口6と操作開口7とが、図
6の図aの配置構成よりも互いに狭い間隔で配置され、
従って端子1が中央平面Mの方向での寸法を小さくでき
る。
は、操作開口7とテストプラグ開口8とが互いに移行し
合って、即ち互いにオーバーラップしている。操作開口
7とテストプラグ開口8との間のオーバーラップが操作
開口7及びテストプラグ開口8の仮想の縁部の破線によ
って暗示してある。
ストプラグ開口8がそれぞれ円形の横断面を有している
のに対して、図6の図dの実施例では操作開口7及びテ
ストプラグ開口8が正方形に形成されている。テストプ
ラグ開口8の形及び大きさは、使用されるテストプラグ
13の形及び大きさに合わせられている。図6の図eの
実施例では付加的に別のテストプラグ開口8を操作開口
7に隣接して配置してある。このような構成によって、
異なるテストプラグ13を該テストプラグの横断面に応
じていずれか一方のテストプラグ開口8に差し込んで用
いることができる。
つの端子ブロックの実施例の斜め上方から見た斜視図。
列端子の側面図。
の種々の配置を示した概略図。
ング、 4 引っ張りばねクランプ、 5 電流ビー
ム、 6 導体差込開口、 7 操作開口、 8テスト
プラグ開口、 9 ケーシング壁、 10 背部、 1
1 クランプ脚部、 12 壁、 13 テストプラ
グ、 14 接触ピン、 15 移行部、16 突出
部、 17 ベース端子、 18 接続プラグ、 19
底部、20 係止部分、 21 差込ピン、 22
差込ブッシュ、 23 コード部分、 24 結合ウエ
ブ、 25 開口、 26 係止部分、 27 開口、
M 中央平面
Claims (7)
- 【請求項1】 電気的な端子であって、端子ケーシング
(3)、該端子ケーシング内に配置された少なくとも1
つの導体接続部、及び少なくとも1つの電流ビーム
(5)を備えており、端子ケーシング(3)が接続すべ
き電気的な導体の差込のための少なくとも1つの導体差
込開口(6)、導体接続部の開放のための操作工具の導
入用の少なくとも1つの操作開口(7)、及びテストプ
ラグ(13)の差込のための少なくとも1つのテストプ
ラグ開口(8)を有している形式のものにおいて、テス
トプラグ開口(8)が中央平面(M)から側方へずらし
て操作開口(7)に隣接して配置されていることを特徴
とする電気的な端子。 - 【請求項2】 操作開口(7)とテストプラグ開口
(8)とが互いに移行し合っている請求項1記載の端
子。 - 【請求項3】 実質的に方形の操作開口(7)の1つの
角隅部がテストプラグ開口(8)として形成されている
請求項2記載の端子。 - 【請求項4】 テストプラグ開口(8)が、導体差込開
口(6)に比べて小さな孔として形成されている請求項
1から3のいずれか1項記載の端子。 - 【請求項5】 テストプラグ開口(8)が、実質的に方
形に形成されている請求項1から3のいずれか1項記載
の端子。 - 【請求項6】 操作開口(7)とテストプラグ開口
(8)との間の移行部(15)の幅が、テストプラグの
直径若しくは幅よりも小さくなっている請求項2から5
のいずれか1項記載の端子。 - 【請求項7】 操作開口(7)及びテストプラグ開口
(8)が、移行部(15)を制限する突出部(16)に
よって画成されている請求項2から6のいずれか1項記
載の端子。
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DE20106710U DE20106710U1 (de) | 2001-04-18 | 2001-04-18 | Elektrische Klemme |
DE20106710.2 | 2001-04-18 |
Publications (2)
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JP2002324612A true JP2002324612A (ja) | 2002-11-08 |
JP2002324612A5 JP2002324612A5 (ja) | 2005-03-17 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2002116114A Pending JP2002324612A (ja) | 2001-04-18 | 2002-04-18 | 電気的な端子 |
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EP (1) | EP1251590B1 (ja) |
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DE (1) | DE20106710U1 (ja) |
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