JP2002292499A - Method and apparatus for controlling press - Google Patents

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and an apparatus for controlling a press capable of providing a press controller that can precisely control the press. SOLUTION: The press controller monitors appropriate variables in the press which expresses a force generated in the material to be processed operated by the press and the force is compared with a time-series force data associated with the position of which the force is picked out, to be memorized. The control array can compute based on one signal array or many signal arrays memorized, and this computation takes deviation of variables monitored in the press into consideration, and the variables include the force and position. While monitoring the press based on the control array, each force data is compared with the values inside the high and low control array upon sampling. The press controller exerts its controlling function during a specific press cycle when an unacceptable sampling is executed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【０００１】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プロセスコントロ
ーラに係り、特にプレス処理のサイクル内の複数の位置
の各々の圧力での負荷を正確に解折するプロセスコント
ローラに関する。本プロセスコントローラは、高速度で
のプレス作業に耐え得るように構成されている。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a process controller and, more particularly, to a process controller for accurately breaking a load at each of a plurality of positions in a press processing cycle at a pressure. The present process controller is configured to withstand high-speed press work.

【０００２】[0002]

【従来の技術】一般的に、プレス装置は、被加工物に力
を加える装置であり、この力は、プレス処理の１サイク
ル内においてある位置から他の位置へと変化する。例え
ば、フォーミング（成型）、パンチング（打抜き）、モ
ールド封じ、圧縮、曲げ、引張りあるいは射出成型のた
めの多様な種類のプレスがある。一般的に、これらの種
類のプレスを監視し制御するためには、プレス処理にお
いて２変数（２次元）が監視される。第１の変数は、プ
レス処理のサイクルにおける絶対位置であればよい。通
常、回転駆動機構を有し、この回転駆動機構の回転位置
がプレスサイクルでの絶対位置に直接関連するようなプ
レス装置のプレス位置は、プレスサイクル内での位置を
表す信号を出力するエンコーダ、レゾルバといった位置
フィードバック装置または変換装置により求められる。
回転位置がプレスサイクルでの絶対位置に直接関連する
回転駆動機構を有していないプレス装置にとって、通
常、プレス作業を行う直線経路上の位置を表す信号を得
るためリニアレゾルバが用いられる。第２の変数は力で
ある。力は流体の圧力またはプレス装置若しくはその器
具に設けられたストレインゲージに直結されたセンサま
たは変換器により監視され、この監視の結果、プレス装
置により行われる処理に効果を付与するのに必要な力に
係る信号が生成される。2. Description of the Related Art Generally, a pressing device is a device for applying a force to a workpiece, and this force changes from one position to another within one cycle of the pressing process. For example, there are various types of presses for forming, punching, molding, compressing, bending, tensioning or injection molding. Generally, to monitor and control these types of presses, two variables (two dimensions) are monitored in the press process. The first variable may be any absolute position in the cycle of the press process. Normally, a press position of a press device having a rotary drive mechanism, and a rotational position of the rotary drive mechanism is directly related to an absolute position in the press cycle, an encoder that outputs a signal representing a position in the press cycle, It is determined by a position feedback device such as a resolver or a conversion device.
For a press device that does not have a rotary drive mechanism whose rotational position is directly related to the absolute position in the press cycle, a linear resolver is usually used to obtain a signal representing a position on a linear path where the press operation is performed. The second variable is force. The force is monitored by the pressure of the fluid or by a sensor or transducer directly connected to the strain gauges on the press or its equipment, and as a result of this monitoring the force required to effect the processing performed by the press Is generated.

【０００３】プレスを監視し制御する装置および方法が
知られている。特にＭｉｃｈａｅｌＪ．０'Ｂｒｉｅｎ
に対し１９９１年１月２２日に発行された米国特許第
４，９８７，５２８号（以下、’５２８特許という）
は、プレスのための信号解折制御システムを開示してい
る。このシステムは、プレスサイクルを通じてプレス圧
を監視し、監視により得られた力が許容し得ないもので
ある場合のプレスの遮断をすることも可能である。プレ
ス圧がプレスにおける所与のサイクルにとって許容し得
るものか否かを決定するため、所与のプレスサイクルに
ついての力信号が上側または下側の基準値の組と比較さ
れる。上側基準値は一連のオフセット値をある基準値に
加えることによって生成され、下側基準値は一連のオフ
セット値の第２のものを基準値から減算することにより
生成される。他の種類のプレス監視および／または制御
システムは、Ｇｅｏｒｇｅ Ｂ．Ｆｏｓｔｅｒに対し１
９６６年６月２１日に発行された米国特許第３，２５
７，６５２号、ＭｃＧａｒｖｅｙ Ｇ．Ｓｕｍｍｅｒｓ
に対し１９７２年８月１日に発行された米国特許第３，
６８０，３６５号、Ｗｉ１１ｉａｍｓ他に対して１９７
７年４月１２日に発行された米国特許第４，０１６，７
４４号、Ｍｉ１１ｅｒ他に対して１９７７年５月１０日
に発行された米国特許第４，０２３，０４４号、Ｆｒａ
ｎｋ Ｒ．Ｄｙｂｅ１に対して１９７７年９月２０日に
発行された米国特許第４，０４８，８４８号、Ｄｙｂｅ
１他に対して１９７７年１１月２９日に発行された米国
特許第４，０５９，９９１号、Ｄｙｂｅ１他に対して１
９７７年１２月６日に発行された米国特許第４，０６
２，０５５号、Ｍｉｌｌｅｒ他に対して１９７８年５月
９日に発行された米国特許第４，０８８，８９９号、Ｔ
ａｎａｈａｓｈｉ他に対して１９７８年９月２６日に発
行された米国特許第４，１６６，０５０号、Ｄｙｂｅ１
他に対して１９７９年１０月２３日に発行された米国特
許第４，１７１，６４６号、Ｍｅｔｔｅ他に対して１９
７９年１２月４日に発行された米国特許第４，１７７，
５１７号、Ｂｕｄｒａｉｔｉｓ他に対して１９８０年４
月１日に発行された米国特許第４，１９５，５６３号、
Ｒｉｃｈａｒｄ ０，Ｊｕｅｎｇｅ１に対して１９８０
年６月１０日に発行された米国特許第４，２０７，５６
７号、Ｋｏｂａｙａｓｋｉ他に対して１９８１年４月７
日に発行された米国特許第４，２６０，９８６号、Ｄｙ
ｂｅ１他に対して１９８１年９月１５日に発行された米
国特許第４，２８９，０２２号、Ｒｏｂｅｒｔ Ｄ．Ｋ
ｏｈｌｅｒに対して１９８４年４月２４日に発行された
米国特許第４，４４５，０９３号、ＹａｓｕｈｉｒｏＵ
ｍａｎｏに対して１９８４年６月１２日に発行された米
国特許第４，４５３，４２１号、Ｊｏｈｎ Ｍｉｃｋｏ
ｗｓｋｉに対して１９８５年３月１２日に発行された米
国特許第４，５０４，９２０号、Ｂｒａｎｋａｍ他に対
して１９８５年５月２１日に発行された米国特許第４，
５１９，０４０号、Ｌｕｃａｓ他に対して１９８５年６
月２５日に発行された米国特許第４，５２４，５８２
号、Ｎａｗｒｏｃｋｉ他に対して１９８５年７月２日に
発行された米国特許第４，５２７，１５６号、Ｗｉｌｌ
ｉａｍ Ｊ．Ｊｏｎｅｓに対して１９８５年１１月１９
日に発行された米国特許第４．５５４，５３４号、Ｄｙ
ｂｅ１他に対して１９８７年１月６日に発行された米国
特許第４，６３３．７２０号、Ｆｕｊｉｔａ他に対して
１９８７年９月２２日に発行された米国特許第４，６９
５，９６５号、Ｌｕｃａｓ他に対して１９８８年１月２
６日に発行された米国特許第４，７２１，０２８号、Ｗ
ｅｂｅｒ他に対して１９８８年２月９日に発行された米
国特許第４，７２３．４２９号、Ｍｉｇｕｅｌ Ｒ．Ｍ
ａｒｔｉｎｅｚに対して１９８８年６月７日に発行され
た米国特許第４，７５０，１３０号、Ｌｕｃａｓ他に対
して１９８８年８月３０日に発行された米国特許第４，
７６６，７５８号、Ｇｏｌｄ他に対して１９９０年７月
３日に発行された米国特許第４，９３９，６６５号、及
びドイツ特許ドキュメントＮｏ．ＤＥ３７１５０７７Ａ
１において説明されている。[0003] Devices and methods for monitoring and controlling presses are known. In particular, MichaelJ. 0'Brien
U.S. Patent No. 4,987,528 issued January 22, 1991 (the '528 patent)
Discloses a signal breaking control system for a press. The system also monitors the press pressure throughout the press cycle and can shut off the press if the resulting force is unacceptable. To determine whether the press pressure is acceptable for a given cycle in the press, the force signal for a given press cycle is compared to an upper or lower set of reference values. The upper reference value is generated by adding a series of offset values to a reference value, and the lower reference value is generated by subtracting a second of the series of offset values from the reference value. Other types of press monitoring and / or control systems are described in George B.A. 1 for Foster
U.S. Pat. No. 3,25, issued June 21, 966
7, 652, McGarvey G .; Summers
US Patent No. 3, issued August 1, 1972
No. 680,365, 197 to Wiiiams et al.
US Patent No. 4,016,7, issued April 12, 2007
No. 44, U.S. Pat. No. 4,023,044 issued May 10, 1977 to Mi11er et al., Fra
nk R.N. U.S. Pat. No. 4,048,848 issued Sep. 20, 1977 to Dybe 1;
U.S. Pat. No. 4,059,991 issued Nov. 29, 1977 to Dybe1 et al.
U.S. Pat. No. 4,06, issued Dec. 6, 977
U.S. Pat. No. 4,088,899 issued May 9, 1978 to Miller et al.
U.S. Pat. No. 4,166,050 issued Sep. 26, 1978 to Anahashi et al., Dybe 1
U.S. Pat. No. 4,171,646 issued Oct. 23, 1979 to Mette et al.
U.S. Pat. No. 4,177, issued Dec. 4, 1979,
No. 517, against Budraitis et al. 1980 4
U.S. Pat. No. 4,195,563, issued on Jan. 1,
Richard 0, 1980 for Judge 1
U.S. Pat. No. 4,207,56, issued Jun. 10, 2014
No. 7, April 7, 1981, against Kobayashiki et al.
U.S. Patent No. 4,260,986, issued to
U.S. Pat. No. 4,289,022 issued Sep. 15, 1981 to Robert Be. K
U.S. Patent No. 4,445,093, issued April 24, 1984 to Ohler,
U.S. Patent No. 4,453,421, issued June 12, 1984 to Mano, John Micko
U.S. Patent No. 4,504,920 issued March 12, 1985 to Wski, U.S. Patent No. 4, issued May 21, 1985 to Blankam et al.
No. 519,040, June 1985 to Lucas et al.
US Patent No. 4,524,582 issued on March 25
No. 4,527,156, issued Jul. 2, 1985 to Narocki et al., Will.
iam J .; November 19, 1985 against Jones
U.S. Patent No. 4,554,534 issued to Dy
U.S. Pat. No. 4,633,720 issued on Jan. 6, 1987 to Be1 et al., and U.S. Pat.
5,965, against Lucas et al., January 2, 1988.
U.S. Patent No. 4,721,028, issued on Wednesday, W.
U.S. Pat. No. 4,723.429, issued Feb. 9, 1988 to Eber et al. M
U.S. Pat. No. 4,750,130 issued June 7, 1988 to Artinez, U.S. Pat.
No. 766,758, U.S. Pat. No. 4,939,665, issued Jul. 3, 1990 to Gold et al., And German Patent Document No. DE 3715077A
1.

【０００４】一方、スタンピングプロセスを監視するた
めの多様な構造のプレスコントローラが知られており、
プレス作業において生じる一連の負荷を監視し、これら
の負荷をプレスのスプリアス遮断を引き起こさない方法
で解折するプレス制御を提供することが重要である。通
常、プレス制御は、プレスにより生産される製品の品質
を確保する大量なプレス処理に使用される。また、これ
らのプレス装置は、５００〜１，０００サイクル／分の
範囲で動作し、プレスの監視の不正確さに起因したプレ
ス遮断は、生産の停止を引き起こし、これにより経済的
損失が生じる。On the other hand, various types of press controllers for monitoring a stamping process are known.
It is important to provide a press control that monitors a series of loads that occur in the press operation and breaks these loads in a manner that does not cause spurious breaks in the press. Normally, press control is used for high-volume press processing to ensure the quality of the products produced by the press. Also, these press machines operate in the range of 500 to 1,000 cycles / minute, and press interruptions due to inaccurate press monitoring can cause production downtime, which results in economic losses.

【０００５】しかしながら、プレス圧の解析手法はスプ
リアスおよび不要な遮断を防止するのに十分に耐え得る
ものでなくてはならないが、この耐性はプレスの欠陥ま
たはプレス装置自体の動作メカニズムの問題の検出に関
しプレスコントローラを不感状態にするほどに大きくす
る必要はない。従って、多数のシステムがプレス圧の監
視および解折に使用され得るが、望まれないプレスの遮
断を可能にすると共にプレスにより発生する故障箇所お
よびプレス機構の動作における問題を正確に検出する仕
方でプレス圧の解析を避ける監視システムの提供が望ま
れる。[0005] However, the press pressure analysis technique must be sufficiently tolerant to prevent spurs and unnecessary interruptions, but this tolerance must be met by detecting press defects or problems with the operating mechanism of the press device itself. Need not be so large as to render the press controller insensitive. Thus, a number of systems can be used for monitoring and breaking press pressure, but in a manner that allows undesired press shutdown and accurately detects faults caused by the press and problems in the operation of the press mechanism. It is desired to provide a monitoring system that avoids the analysis of press pressure.

【０００６】上述のように、プレス制御に通常適合する
プレスは、生産効率の高いプレスである。そして、プレ
スサイクルを通じて可能な限り頻繁にプレス圧をサンプ
ルすることが好ましいが、この処理は、プレス制御のハ
ードウェアにより課せられる制限があるため困難であ
り、例えば多様な状況下でのハードウェアの速度は、高
速度のプレスにおいて、有効なサイクルにおける力およ
び位置に関し十分な分解能で力の監視および制御を行う
のには不十分である。従って、例えばプレス装置がツー
ルを被加工物に向けて移動させるプレスサイクル内の区
問とは逆に、ツールが被加工物に作用するプレスサイク
ル内のクリチカルな区間については位置分解能を増大さ
せる、という具合にプレスサイクル内の重要な区間につ
いては可変的かつ選択的に位置分解能を変化させること
ができるプレスコントローラを提供することが有効であ
る。ツールが被加工物に作用するプレスサイクル内の区
間において位置分解能を増大させることにより、処理済
みの被加工物の形成に使用された力のプロファイルまた
は情報がさらに正確に記録される。[0006] As mentioned above, presses that are normally compatible with press control are presses with high production efficiency. It is preferable to sample the press pressure as frequently as possible throughout the press cycle, but this process is difficult due to the limitations imposed by the hardware of the press control, for example, hardware under various circumstances. Speed is not sufficient to monitor and control forces in high speed presses with sufficient resolution for force and position in the active cycle. Thus, for example, in contrast to a section in a press cycle in which a press device moves a tool toward a workpiece, the position resolution is increased for a critical section in a press cycle in which a tool acts on a workpiece, Thus, it is effective to provide a press controller that can change the position resolution variably and selectively for an important section in the press cycle. By increasing the positional resolution in the section of the press cycle where the tool acts on the workpiece, the profile or information of the force used to form the processed workpiece is more accurately recorded.

【０００７】プレス処理の制御に関して直面する別の問
題は、水圧プレスまたはクランクシャフトにより駆動さ
れるプレスといったプレスにおいて、プレスおよびツー
ルの駆動機構の弾性によりツールの位置が逆戻りする状
況である。例えば、この状況は、パンチすべき部材をツ
ールが打抜く打抜き処理の期間に生じる。Another problem encountered with controlling the press process is the situation in presses such as hydraulic presses or presses driven by crankshafts where the resilience of the press and tool drive mechanisms causes the tool position to return. For example, this situation occurs during a punching process in which a tool punches a member to be punched.

【０００８】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる問題
を克服したプレスの監視制御のためのコントローラを提
供することを目的としている。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a controller for monitoring and controlling a press which overcomes such a problem.

【０００９】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は、プレス等の処
理を行う装置を監視制御するコントローラを提供するも
のである。上記装置は、力または圧力といった第１のプ
ロセス変数を表す第１の信号を発生すべく設けられた力
センサまたは圧力センサ等の第１の装置を有する。ま
た、上記装置は、位置変換装置等の第２の装置が回転位
置または直線経路上の位置といった第２のプロセス変数
を表す信号を発生すべく設けられている。本コントロー
ラの一態様においては、所定の基準値の組と、これらの
各基準値に関連した第２、第３、第４および第５の値が
記憶される。第２の信号は、予め定義された限界値より
も大きな第２の信号の変化が生じた時にサンプリング信
号が発生されるという仕方でサンプリング（標本化）さ
れる。そして、１つのサンプリング信号に応じ、第１の
信号を表す第１の信号値および第２の信号を表す第２の
信号値が発生される。第２の信号値は上記基準値の組と
比較され、第２の信号値とほぼ一致する基準値が求めら
れる。第２の信号値が基準値の中の１つとほぼ同じであ
る場合に、第１の信号値は、基準値と関連した第２、第
３、第４および第５の値と比較される。この比較は、サ
ンプリング回路によって後に続く第２の信号のサンプリ
ングが行われる前に行われる。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a controller for monitoring and controlling an apparatus for performing processing such as pressing. The device has a first device, such as a force or pressure sensor, provided to generate a first signal representative of a first process variable, such as a force or pressure. The apparatus is also provided such that a second device, such as a position conversion device, generates a signal representing a second process variable, such as a rotational position or a position on a linear path. In one embodiment of the present controller, a set of predetermined reference values and second, third, fourth, and fifth values associated with each of these reference values are stored. The second signal is sampled in such a way that a sampling signal is generated when a change in the second signal that is greater than a predefined limit value occurs. Then, a first signal value representing the first signal and a second signal value representing the second signal are generated according to one sampling signal. The second signal value is compared with the set of reference values to determine a reference value that substantially matches the second signal value. If the second signal value is substantially the same as one of the reference values, the first signal value is compared to the second, third, fourth and fifth values associated with the reference value. This comparison is performed before the subsequent sampling of the second signal is performed by the sampling circuit.

【００１０】また、本コントローラの一態様において、
コントローラが循環型プロセスを制御する場合、該コン
トローラを、プロセスが順方向に進みつつあるときに第
１の値を基準値と関連した少なくとも１個の値と比較す
るように構成してもよい。本コントローラの他の態様に
おいて、コントローラが循環型プロセスを制御する場
合、該コントローラを、サイクルを通じて１以上の周波
数において第１の値を基準値と関連した少なくとも１個
の値と比較するように構成してもよい。In one embodiment of the present controller,
If the controller controls the cyclic process, the controller may be configured to compare the first value with at least one value associated with the reference value as the process proceeds in the forward direction. In another aspect of the controller, when the controller controls the cyclic process, the controller is configured to compare the first value at one or more frequencies throughout the cycle with at least one value associated with the reference value. May be.

【００１１】[0011]

【発明の実施の形態】図１はプレスシステム１０を示
す。システム１０は、パンチングプレス１２、プロセス
コントローラ１４、レゾルバ１６、ストレインゲージ１
８およびマシンドライブ２０を有する。プレス１２は、
ベース２２、第１のプレスサポート部材２４および第２
のプレスサポート部材を有するサポートフレームを備え
ている。ベース２２、部材２４および２６は、第１図に
示すように従来公知の態様で共に配置固定されている。
駆動シャフト２８は、一組の適当なベアリング（図示
略）により部材２４および２６間に回動自在に支持され
ている。駆動シャフト２８は、従来公知のモータおよび
電気クラッチ装置を含むマシンドライブ２０といった機
構に機械的に結合されている。また、シャフト２８はド
ライブカム３０に係合しこれを保持している。また、プ
レス１２は、プレスラム３２を有し、このプレスラム３
２は一組の口ーラ３４を有し、この一組のローラ３４は
シャフト３６によりシャフトサポート３８内に回動自在
に支持されている。プレスＲＡＭ３２は、トッブダイ
（ツール）３１に係合しこれを支持しており、このトッ
プダイはベース２２により支持されたポトムダイ３３と
協働する。ダイ３３およびラム３２問に配置された４個
の圧縮スブリング３９は、ローラ３４がカム３０と当接
し続けるようにラム３２を上方に持土げている。ドライ
ブカム３０の回動の下、カム３０のカム部表面と、一組
のローラ３４の相互作用とが、部材２４および２６によ
りガイドされたラム３２を、トップダイ３１が被加工物
４０およびボトムダイ３３と係合するように、下方に移
動させる。FIG. 1 shows a press system 10. The system 10 includes a punching press 12, a process controller 14, a resolver 16, a strain gauge 1
8 and a machine drive 20. Press 12,
Base 22, first press support member 24 and second press support member 24
And a support frame having the press support member. The base 22, the members 24 and 26 are arranged and fixed together in a conventionally known manner as shown in FIG.
Drive shaft 28 is rotatably supported between members 24 and 26 by a set of suitable bearings (not shown). The drive shaft 28 is mechanically coupled to a mechanism such as a machine drive 20 including a conventionally known motor and electric clutch device. Further, the shaft 28 engages with and holds the drive cam 30. The press 12 has a press ram 32, and the press ram 3
2 has a set of rollers 34, which are rotatably supported by a shaft 36 in a shaft support 38. The press RAM 32 engages and supports a top die (tool) 31, which cooperates with a pottom die 33 supported by the base 22. The four compression springs 39 arranged between the die 33 and the ram 32 hold the ram 32 upward so that the roller 34 keeps contacting the cam 30. Under the rotation of the drive cam 30, the surface of the cam portion of the cam 30 and the interaction of the set of rollers 34 form the ram 32 guided by the members 24 and 26. Move down to engage 33.

【００１２】上述したパンチングプレス１２を参考にプ
ロセスコントローラ１４の好適な態様について説明す
る。なお、プレスコントローラ１４は種々の使用法、例
えばフォーミング、パンチング、モールドクロージン
グ、圧縮、曲げ、引張り、射出成型等に応じて変形し得
るものであることを付け加えておく。これらの処理は、
プロセスコントローラ１４がリニアレゾルバ、力検出装
置またはストレインゲージ１８以外のセンサといったセ
ンサおよび変換器を伴った機能で構成されることを要求
する。A preferred embodiment of the process controller 14 will be described with reference to the punching press 12 described above. It should be added that the press controller 14 can be deformed according to various usages, for example, forming, punching, mold closing, compression, bending, tension, injection molding and the like. These processes are
It requires that the process controller 14 be configured with functions with sensors and transducers, such as linear resolvers, force detectors or sensors other than strain gauges 18.

【００１３】プロセスコントローラ１４はレゾルバ１
６、ストレインゲージ１８およびマシンドライブ２０に
結合されている。一般に、レゾルバ１６は絶対位置信号
をプロセスコントローラ１４へ出力するものであり、か
かる絶対位置信号はシャフト２８の回転位置、すなわ
ち、トッブダイ３１の位置に対応するものを示すアナロ
グ信号である。プロセスコントローラ１４は、レゾルバ
１６が上記位置信号を出力し得るように適当な電圧信号
をレゾルバ１６へ出力する。システム１０についての本
実施例は、レゾルバ１６を使用するものであるが、しか
しながら、プロセスコントローラ１４は他の位置検出装
置、例えばエンコーダ、ダイナミックオプティカルポテ
ンショメータ等を使用し得るように変更可能である。ス
トレインゲージ１８はアナログ電圧信号をプロセスコン
トローラ１４へ出力する。このアナログ電圧信号は、部
材２４および２６の歪、すなわち、プレスによってトッ
プダイ３１および被加工物４０へ加えられる力を表して
いる。プロセスコントローラ１４はストレインゲージ１
８を駆動するための適当な電流源を有している。マシン
ドライブ２０は、ドライブ２０がレゾルバ１６を介して
測定されたダイ３１およびラム３２の位置に関連したゲ
ージ１８の歪に応じてオン状態およびオフ状態に切り換
えられるようにプロセスコントローラ１４によって制御
される場合がある。また、コントローラ１４はゲージ１
８の歪の解析結果に基づいて部分除去装置（図示せず）
を作動させる。The process controller 14 is a resolver 1
6, coupled to the strain gauge 18 and the machine drive 20. Generally, the resolver 16 outputs an absolute position signal to the process controller 14, and the absolute position signal is an analog signal indicating the rotational position of the shaft 28, that is, the position corresponding to the position of the tob die 31. The process controller 14 outputs an appropriate voltage signal to the resolver 16 so that the resolver 16 can output the position signal. This embodiment of the system 10 uses a resolver 16, however, the process controller 14 can be modified to use other position sensing devices, such as an encoder, a dynamic optical potentiometer, and the like. The strain gauge 18 outputs an analog voltage signal to the process controller 14. The analog voltage signal represents the distortion of the members 24 and 26, that is, the force applied to the top die 31 and the workpiece 40 by pressing. Process controller 14 is strain gauge 1
8 has an appropriate current source. The machine drive 20 is controlled by the process controller 14 such that the drive 20 is switched on and off in response to strain on the gauge 18 associated with the position of the die 31 and ram 32 measured via the resolver 16. There are cases. The controller 14 has a gauge 1
Partial removal device (not shown) based on the analysis result of strain 8
Activate

【００１４】一般的に、プロセスコントローラ１４は、
プレス１２の作動中にシャフト２８の複数の特定の回転
位置でのゲージ１８の各電圧をサンプリングし得るよう
になっている。コントローラ１４は、ゲージ１８の電圧
およびレゾルバ１６からの位置信号を非常に高い分解能
（例えば１０〜１２ビットの分解能）であり、かつ、非
常に高速度（例えば５００〜１０００サイクル／分）で
サンプリングするように構成されている。さらにストレ
インゲージ１８に関して分解能を向上させるため、プロ
セスコントローラ１４を可変の位置分解能としてもよ
い。さらに詳述すると、コントローラ１４は、プレスサ
イクル内のクリチカルな部分、例えばトップダイ（ツー
ル）３１が被加工物を打つあるいは成型するサイクル内
の部分については位置分解能を上昇させるという仕方
で、プレスサイクル内で特に重要な各位置について位置
分解能を選択的に変更する。多くのプレスにとって、ツ
ールのスピードは、ツールが被加工物に接触しておらず
そのサイクル内の各部を通過している時に比ベ、ツール
が被加工物に作用している時の方が低い。そして、コン
トローラ１４は、ツール３１がよりゆっくりと移動する
場合に、ツールのサイクル（移動行程）の一部におい
て、より多くの位置についての歪信号のサンプルを処理
する。これにより高い位置分解能が得られ、被加工物４
０と係合する期問でのツール３１に関連した力をよりよ
く解析することができる。Generally, the process controller 14
During operation of the press 12, each voltage of the gauge 18 at a plurality of specific rotational positions of the shaft 28 can be sampled. The controller 14 samples the voltage of the gauge 18 and the position signal from the resolver 16 at a very high resolution (for example, a resolution of 10 to 12 bits) and at a very high speed (for example, 500 to 1000 cycles / minute). It is configured as follows. In order to further improve the resolution of the strain gauge 18, the process controller 14 may have a variable position resolution. More specifically, the controller 14 increases the press resolution in a critical part in the press cycle, for example, in a part in which the top die (tool) 31 hits or molds a workpiece in a press cycle. The position resolution is selectively changed for each position that is particularly important. For many presses, the speed of the tool is lower when the tool is acting on the workpiece than when the tool is not in contact with the workpiece and passes through parts of the cycle . Then, when the tool 31 moves more slowly, the controller 14 processes the sample of the distortion signal for more positions in a part of the tool cycle (movement stroke). As a result, a high positional resolution is obtained, and the workpiece 4
A better analysis of the forces associated with the tool 31 at the time of engagement with zero can be performed.

【００１５】プロセスコントローラ１４は、前方に限り
動きの監視をし得るように構成されている。さらに詳述
すると、コントローラ１４は、ラム３２、ツール３１が
動きの方向に関し逆戻りする状況においてストレインゲ
ージ１８のサンプリングを中断する場合がある。この逆
戻りは、打抜き処理の終りにダイ３１が被加工物４０を
打抜くといった状況において収縮しエネルギーを放つと
いった、プレスの要素の弾性等の効果に起因して生しる
場合がある。The process controller 14 is configured to monitor movement only forward. More specifically, the controller 14 may interrupt sampling of the strain gauge 18 in a situation where the ram 32 and the tool 31 return in the direction of movement. This reversion may occur due to effects such as the elasticity of the elements of the press, such as contraction and release of energy in the situation where the die 31 punches the workpiece 40 at the end of the punching process.

【００１６】プレス１２のスプリアス遮断を防ぐため、
プロセスコントローラ１４は、２アレイの上側限界値お
よび２アレイの下側限界値を参照してストレインゲージ
１８から得られる値を解折する。これらの限界値は、限
界値がゲージ１８から得られる歪の値と比較されるツー
ルの位置と関連する。この構成は、プレス故障に起因し
たプレス故障警告信号、プレス遮断信号および部分除去
信号を発生し得る。限界値のアレイは、既に述べた良好
な打抜き処理の問、プレス１２から得られるサンプル値
に基づいて計算され求められる。限界値のアレイの決定
については、後でプロセッサ１４が実行するブログラム
を説明する際に詳細に説明する。To prevent the spurious cutoff of the press 12,
The process controller 14 interprets the value obtained from the strain gauge 18 with reference to the upper limit value of the two arrays and the lower limit value of the two arrays. These limits relate to the position of the tool where the limits are compared to the strain values obtained from the gauge 18. This configuration can generate a press failure warning signal due to a press failure, a press cutoff signal, and a partial removal signal. An array of limit values is calculated and determined based on the sample values obtained from the press 12 for the good punching process already described. The determination of the limit value array will be described in detail when describing a program executed by the processor 14 later.

【００１７】第２図はプレス１２のブラシレスレゾルバ
１６およびストレインゲージ１８に結合されたプロセス
コントローラ１４のブロック図である。例えば、ブラシ
レスレゾルバ１６は、オートテックコーポレーション
（Ａｕｔｏｔｅｃｈ ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ）製のモ
デルＮｏ．Ｅ７Ｒ−ＲＬ１０１を含む型により構成して
よい。ストレインゲージ１８は、±１２Ｖ，１０Ｖ，５
Ｖおよび３Ｖの各電圧を供給する電源４１に接続され
る。電源４１は、ろ過され、安定化された直流電庄を出
力するように構成された従来公知の電源である。ストレ
インゲージ１８として用いるストレインゲージの種類に
依存し、１０Ｖまたは３Ｖのいずれかの励起電圧がスト
レインゲージ１８に与えられる。FIG. 2 is a block diagram of the process controller 14 coupled to the brushless resolver 16 and the strain gauge 18 of the press 12. For example, the brushless resolver 16 is a model No. 1 manufactured by Autotech Corporation. You may comprise with the type | mold containing E7R-RL101. Strain gauge 18 is ± 12V, 10V, 5
It is connected to a power supply 41 that supplies each voltage of V and 3V. The power supply 41 is a conventionally known power supply configured to output a filtered and stabilized DC voltage. Depending on the type of strain gauge used as strain gauge 18, an excitation voltage of either 10V or 3V is applied to strain gauge 18.

【００１８】複数のストレインゲージ１８は、各々、計
測用増幅器および自動オフセット修正回路４２に差電圧
を出力する。一般的にこの差電圧はプレス１２の部材２
４および２６の歪に比例し、電源１８により供給される
電流、この電流に関連した電圧およびストレインゲージ
１８の抵抗の関数となる。ストレインゲージ１８の歪ま
たはその平均値はダイ３１での力に比例するので、ダイ
３１での力はストレインゲージ１８により回路４２に与
えられる電圧に比例している。特にゲージ１８により出
力される電圧信号はプレス１２によりツール３１に与え
られる力を表しており、このツール３１は被加工物４０
に力を及ぼす。Each of the plurality of strain gauges 18 outputs a difference voltage to the measuring amplifier and the automatic offset correction circuit 42. Generally, this difference voltage is applied to the member 2 of the press 12.
Proportional to the distortions of 4 and 26, it is a function of the current supplied by power supply 18, the voltage associated with this current and the resistance of strain gauge 18. Since the strain or average value of strain gauge 18 is proportional to the force at die 31, the force at die 31 is proportional to the voltage applied to circuit 42 by strain gauge 18. In particular, the voltage signal output by the gauge 18 represents the force applied to the tool 31 by the press 12, which tool 31
Exerts force on

【００１９】また、回路４２に加え、プロセスコントロ
ーラ１４は、２個のラインレシーバ４４、アナログ多重
化回路４６、アナログ／デジタル変換器４８、デジタル
信号処理回路５０、レゾルバ励起回路５２、レゾルバ／
デジタル変換回路５４、レゾルババッファ５６、ポート
Ｂバッファ５８、デジタル入力回路６０、デジタル出力
回路（ＤＳＰ回路）６２、オフセット修正駆動回路６
４、オフセット修正制御回路６６、クロック発生器６
８、ＲＡＭ７０、ＰＲＯＭ７２、ストローブ発生器７４
および電源７６を有している。以下、コントローラ１４
の詳細な回路について説明する。一般的に、一部上述し
たように、３種類の入力信号がコントローラ１４に与え
られる。すなわち、プレスラム３２における力を表すス
トレインゲージ１８からの電圧信号、シャフト２８の回
転絶対位置を表すレゾルバ１６からの電圧信号およびキ
ーボードまたはコントロールパネルのうち選択されたも
のから入力されるユーザコマンドを表すデジタル入力回
路６０からのデジタル信号である。In addition to the circuit 42, the process controller 14 includes two line receivers 44, an analog multiplexing circuit 46, an analog / digital converter 48, a digital signal processing circuit 50, a resolver excitation circuit 52, a resolver /
Digital conversion circuit 54, resolver buffer 56, port B buffer 58, digital input circuit 60, digital output circuit (DSP circuit) 62, offset correction drive circuit 6
4. Offset correction control circuit 66, clock generator 6
8, RAM 70, PROM 72, strobe generator 74
And a power supply 76. Hereinafter, the controller 14
Will be described in detail. Generally, three types of input signals are provided to the controller 14, as described in part above. That is, a voltage signal from the strain gauge 18 representing a force in the press ram 32, a voltage signal from the resolver 16 representing an absolute rotation position of the shaft 28, and a digital signal representing a user command input from a selected one of a keyboard and a control panel. It is a digital signal from the input circuit 60.

【００２０】ＤＳＰ回路５０は入力信号を処理して出力
信号をデジタル出力端６２へ出力する。例えばＤＳＰ回
路５０は、レゾルバ／デジタル変換器５４からデジタル
信号として取り出され、シャフト２８において監視され
たツール３１の特定位置に関連し、ストレインゲージ１
８の電圧を表すデジタル値のサンプリングを行う。変換
器５４は、レゾルバ１６からのアナログ位置信号をデジ
タル信号に変換する。一般にＤＳＰ回路５０はツール３
１における力、ツール３１の位置を各々表す各デジタル
値、ＲＡＭ７０および／またはＰＲＯＭ７２に記憶され
たデータ識別のためのデータのセットまたはアレイおよ
び関連する力の限界値の複雑な比較を行う。The DSP circuit 50 processes an input signal and outputs an output signal to a digital output terminal 62. For example, the DSP circuit 50 may be extracted as a digital signal from the resolver / digital converter 54 and associated with a particular location of the tool 31 monitored on the shaft 28 and may include a strain gauge 1
Sampling of a digital value representing the voltage of 8 is performed. The converter 54 converts the analog position signal from the resolver 16 into a digital signal. Generally, the DSP circuit 50 is a tool 3
A complex comparison of the force at 1, each digital value representing the position of the tool 31, the data set or array for data identification stored in the RAM 70 and / or the PROM 72 and the associated force limits is performed.

【００２１】さらにコントローラ１４について詳述する
と、計測用増幅器および自動オフセット修正回路４２
は、低レベルの信号については１０００、高レベルの信
号については２のスイッチ可能なゲインでゲージ１８か
らの電圧の増幅を行う。また、回路４２は、ゲージ１８
での電圧を表す差信号を出力する。回路４２は、オフセ
ット修正制御回路６６によって出力されるオートゼロ信
号に応答し、ラインレシーバ４４に与えられるその増幅
出力を０とする。ツール３１が被加工物４０に作用して
いない場合、オートゼロ信号はプレスサイクル毎に少な
くとも１回、回路４２に与えられ（例えばｔｏｐ ｄｅ
ａｄ ｃｅｎｔｅｒ）、これにより回路４２はプレスの
収縮、プレスの温度変化、回路４２の温度変化、装置の
経時変化、ストレインゲージの経時変化といった要素に
よって引き起こされるドリフトを補債することができ
る。回路４２に対する電力は、電源４１により、＋１２
Ｖおよび１２Ｖが供給される。増幅されたストレインゲ
ージ１８からの電圧信号は回路４２により２組のデータ
伝送線９０を介してラインレシーバ４４へ与えられる。The controller 14 will be described in more detail.
Amplifies the voltage from gauge 18 with a switchable gain of 1000 for low level signals and 2 for high level signals. The circuit 42 includes the gauge 18
And outputs a difference signal representing the voltage at. The circuit 42 responds to the auto-zero signal output by the offset correction control circuit 66 and sets its amplified output provided to the line receiver 44 to zero. If the tool 31 is not acting on the workpiece 40, the auto-zero signal is provided to the circuit 42 at least once per press cycle (eg, top de
ad center), which allows circuit 42 to compensate for drift caused by factors such as press shrinkage, press temperature change, circuit 42 temperature change, equipment aging, strain gauge aging, and the like. The power for the circuit 42 is +12
V and 12V are supplied. The amplified voltage signal from the strain gauge 18 is provided by the circuit 42 to the line receiver 44 via two sets of data transmission lines 90.

【００２２】回路４２は回路４２および４４間を走行す
る導体に導入される同相雑音を除去し得るように構成さ
れている。回路４２は差電圧を回路４４へ与える。回路
４４は、シングルエンデッド電圧がデータ伝送線９２を
介し多重化回路４６へ与えられるように、ろ過された差
電圧を処理する。Circuit 42 is configured to remove common mode noise introduced into conductors running between circuits 42 and 44. Circuit 42 provides the difference voltage to circuit 44. Circuit 44 processes the filtered difference voltage so that a single-ended voltage is provided to multiplexing circuit 46 via data transmission line 92.

【００２３】多重化回路４６は、１つの入力チャネルを
選択し、バッファ出力電圧をデータ伝送線９４を介しア
ナログ／デジタル変換器４８へ与える。本実施例では、
回路４６は、各ラインレシーバ４４のうち１つが出力す
る電圧信号を選択するものであり、各電圧信号は電圧を
表し、選択された電圧信号は各部材２４または２６に与
えられる力のうち対応するものを表している。回路４
２、４４および４６の動作は、装置１０のアナロググラ
ンドに基づいて適切に調整された電圧信号を生成する。
これらの電圧信号は、ゲージ１８の歪を表し（ほぼ比例
している）、これらの歪は部材２４および２６に加わる
力に比例している。勿論、回路４２は、２個以上のスト
レインゲージ１８を監視するように変形してもよく、こ
の場合、適切な数のラインレシーバを使用し、多重化回
路４６は対応する数のチャネルを取り扱い得るように構
成する。The multiplexing circuit 46 selects one input channel and supplies the buffer output voltage to the analog / digital converter 48 via the data transmission line 94. In this embodiment,
The circuit 46 selects the voltage signal output by one of the line receivers 44, each voltage signal representing a voltage, and the selected voltage signal corresponds to the force applied to each member 24 or 26. Represents a thing. Circuit 4
The operations of 2, 44 and 46 generate a properly adjusted voltage signal based on the analog ground of the device 10.
These voltage signals represent (approximately proportional) the strain of the gauge 18, and these strains are proportional to the forces applied to the members 24 and 26. Of course, circuit 42 may be modified to monitor more than one strain gauge 18, in which case an appropriate number of line receivers may be used and multiplexing circuit 46 may handle a corresponding number of channels. The configuration is as follows.

【００２４】アナログ／デジタル変換器４８は、多重化
回路４６からの調整された電圧信号を歪（部材２４およ
び２６における力に比例している）を表す１２ビットの
デジタル信号に変換する。また、アナログ／デジタル変
換器４８は、多重化回路４６からの調整された電圧信号
のサンプリングをＡ／Ｄ変換のスタート時刻を制御する
ストローブ信号に応答して行う。ここで、ストローブ信
号はＤＳＰ回路５０からストローブ発生器７４を介して
Ａ／Ｄ変換器４８へ供給される。ＤＳＰ回路５０は、ス
トローブ信号の出力に伴い、適切なチャネルを選択する
ため、チャネル選択信号をデータバス９８、ポートＢバ
ッファ５８およびデータバス１００を介し多重化回路４
６へ供給する。各部材２４または２６のうち対応するも
のに加わる力を表すデジタル信号は、データバス１０４
を介しＤＳＰ回路５８へ与えられる。An analog-to-digital converter 48 converts the conditioned voltage signal from the multiplexing circuit 46 to a 12-bit digital signal representing distortion (proportional to the forces at members 24 and 26). Further, the analog / digital converter 48 performs sampling of the adjusted voltage signal from the multiplexing circuit 46 in response to a strobe signal for controlling a start time of A / D conversion. Here, the strobe signal is supplied from the DSP circuit 50 to the A / D converter 48 via the strobe generator 74. The DSP circuit 50 transmits a channel selection signal to the multiplexing circuit 4 via the data bus 98, the port B buffer 58 and the data bus 100 in order to select an appropriate channel in accordance with the output of the strobe signal.
Supply to 6. A digital signal representing the force applied to the corresponding one of the members 24 or 26 is transmitted to the data bus 104.
To the DSP circuit 58.

【００２５】レゾルバ１６について説明すると、レゾル
バ励起回路５２は２．５ｋＨｚの正弦波をレゾルバ１６
およびレゾルバ／デジタル変換回路５４へ信号線１０６
を介して出力する。レゾルバ１６はレゾルバのシャフト
の絶対変位角（シャフトの回転角の絶対値に比例）の正
弦および余弦に比例した２個のアナログ信号を出力す
る。これらの信号はデータバス１０８を介しレゾルバ／
デジタル変換回路５４へ出力される。To describe the resolver 16, the resolver excitation circuit 52 outputs a sine wave of 2.5 kHz to the resolver 16.
And a signal line 106 to the resolver / digital conversion circuit 54
Output via. The resolver 16 outputs two analog signals proportional to the sine and cosine of the absolute displacement angle of the resolver shaft (proportional to the absolute value of the rotation angle of the shaft). These signals are transmitted via the data bus 108 to the resolver /
Output to the digital conversion circuit 54.

【００２６】レゾルバ／デジタル変換回路５４は、レゾ
リューション信号、レゾルバシャフト絶対変位角信号お
よび割込み信号を出力する。レゾリューション信号はデ
ータバス１１０を介しポートＢバッファ５８に与えられ
る。このレソリューション信号は絶対変位角信号により
提供される分解能をビット数で表している。絶対変位角
信号は、レゾルバ１６からの２個の入力信号に基づい
て、レゾルバシャフトの絶対変位角を表す１０，１２，
１４又は１６ビットのデジタル信号として出力される。
この絶対変位角信号はデータバス１１２を介しレゾルバ
バッファ５６に与えられる。割込み信号はデータバス１
１４を介しＤＳＰ５０の端子ＩＲＱＡ（第１８図および
第１９図参照）に与えられる。割込み信号は、絶対変位
角信号に関し、所定の限界値の変化、例えばＬＳＢ（最
下位ビット）の変化が生じる毎に発生される。この構成
の自的とするところは、変位の変化、例えば絶対変位角
信号のＬＳＢが変化した時のみシャフト２８の絶対変位
角として用いるデジタルデータを更新すべくＤＳＰ回路
５０に割込みを掛けることにある。ポートＢバッファ５
８に与えられるレゾリューション信号が発生されるの
は、ストレインゲージ１８からの電圧がサンプリングさ
れる際の分解能が回路５４に適切な接続を施すことによ
って変化し得るからである。The resolver / digital conversion circuit 54 outputs a resolution signal, a resolver shaft absolute displacement angle signal, and an interrupt signal. The resolution signal is supplied to the port B buffer 58 via the data bus 110. The resolution signal represents the resolution provided by the absolute displacement angle signal in bits. The absolute displacement angle signal is based on two input signals from the resolver 16 and indicates the absolute displacement angle of the resolver shaft 10, 12, 12,.
It is output as a 14 or 16 bit digital signal.
This absolute displacement angle signal is supplied to the resolver buffer 56 via the data bus 112. The interrupt signal is data bus 1
14 to a terminal IRQA of the DSP 50 (see FIGS. 18 and 19). The interrupt signal is generated every time a change in a predetermined limit value, for example, a change in an LSB (least significant bit) of the absolute displacement angle signal occurs. The point of this configuration is that the DSP circuit 50 is interrupted to update the digital data used as the absolute displacement angle of the shaft 28 only when the displacement changes, for example, when the LSB of the absolute displacement angle signal changes. . Port B buffer 5
The resolution signal applied to 8 is generated because the resolution with which the voltage from strain gauge 18 is sampled can be changed by making the appropriate connections to circuit 54.

【００２７】レゾルババッファ５６は、変換器５４から
のＮビットのデジタル信号を記憶している。このデジタ
ル信号は、これは変換器５４によりデータバス１１４を
介し回路５０へ割込み信号が供給されるのに応答し、回
路５０によって読み出される。デジタル入力回路６０
は、プッシュボタン、マシンステータス信号といった入
力情報を取り込むための４個の入力端子を備えており、
これらの入力に関し光学的アイソレーションを有してい
る。入力信号はポートＢバッファ５８に与えられ、後に
詳述するようにＤＳＰ回路５０によって周期的にサンプ
リングされる。デジタル出力回路６２は、シャットダウ
ン、部分除去または警告表示といったプレスの機能を制
御する情報を出力するための４個の出力端を有してい
る。これらの出力もまた光学的にアーソレーションされ
ている。出力信号はポートＢバッファ５８により出力さ
れ、ＤＳＰ回路５０によりストレインゲージ１８、レゾ
ルバ１６およびデジタル入力回路６０からのデータの解
析の結果として直ちに更新される。The resolver buffer 56 stores the N-bit digital signal from the converter 54. This digital signal is read by circuit 50 in response to the interrupt signal being provided by converter 54 to circuit 50 via data bus 114. Digital input circuit 60
Has four input terminals for capturing input information such as push buttons and machine status signals,
These inputs have optical isolation. The input signal is provided to a port B buffer 58, and is periodically sampled by the DSP circuit 50 as described in detail later. The digital output circuit 62 has four output terminals for outputting information for controlling functions of the press such as shutdown, partial removal, and warning display. These outputs are also optically isolated. The output signal is output by the port B buffer 58, and is immediately updated by the DSP circuit 50 as a result of analyzing the data from the strain gauge 18, the resolver 16, and the digital input circuit 60.

【００２８】ポートＢバッファ５８は、ＤＳＰ回路５０
の入力および出力のバッファリングを行う。さらに詳述
すると、ポートＢバッファは、回路５４から入力される
レゾリューション信号および回路６２からのバッファリ
ングを行う。また、ポートＢバッファ５８は、回路４６
に与えられるチャネル選択信号、回路６２に与えられる
デジタル出力およびオフセット修正駆動回路６４へ与え
られるオフセット修正信号のバッファリングを行う。The port B buffer 58 includes a DSP circuit 50
Buffer input and output. More specifically, the port B buffer buffers the resolution signal input from the circuit 54 and the buffer from the circuit 62. Further, the port B buffer 58
, The digital output supplied to the circuit 62 and the offset correction signal supplied to the offset correction drive circuit 64 are buffered.

【００２９】オフセット修正駆動回路６４は、オフセッ
ト修正信号をＤＳＰ回路５０からデータバス１１６を介
して受け取り、オフセット修正信号のデュレーション
（オン期間）を２００ｎｓから約１０ｍｓまで増加させ
る。回路６４の出力は、オフセソト修正制御回路６６へ
供給される。The offset correction driving circuit 64 receives the offset correction signal from the DSP circuit 50 via the data bus 116, and increases the duration (on period) of the offset correction signal from 200 ns to about 10 ms. The output of the circuit 64 is supplied to an off-soto correction control circuit 66.

【００３０】回路６６は、オフセット修正信号を約１２
Ｖの振幅を有する１０ｍｓのパルスに整形する。この回
路６６の１０ｍｓの出力パルス（オートゼロ信号）は、
計測用増幅器および自動オフセソト修正回路４２に与え
られる。上述したように、回路４２はドリフトを補償す
るためにオートゼロ信号を用いる。さらに詳述すると、
回路４２は、オートゼロ信号のタイミングにおいて出力
信号が０に向うように数パルスのオートゼロ信号に応答
して差電圧を積分する。回路６６は、電源４１から電源
線１２２を介し±１２Ｖおよび５Ｖがデジタル論理部に
供給される。Circuit 66 provides an offset correction signal of about 12
The pulse is shaped into a 10 ms pulse having an amplitude of V. The output pulse (auto zero signal) of 10 ms of this circuit 66 is
The measurement amplifier and the automatic offset correction circuit 42 are provided. As described above, circuit 42 uses the auto-zero signal to compensate for drift. More specifically,
The circuit 42 integrates the difference voltage in response to several pulses of the auto-zero signal so that the output signal goes to 0 at the timing of the auto-zero signal. The circuit 66 supplies ± 12 V and 5 V to the digital logic unit from the power supply 41 via the power supply line 122.

【００３１】クロック発生器６８は、２０．４８ＭＨｚ
のクロック信号をＤＳＰ回路５０へ出力する。クロック
発生器６８は、従来公知の構成であり、データ線６９を
介しＤＳＰ回路５０に接続される。ＲＡＭ回路７０は、
ＤＳＰ回路５０がプレスの制御を行うために使用するブ
ログラムデータおよび限界値アレイ、現在データアレイ
等の他のデータを記憶する。ＰＲＯＭ７２は、レゾルバ
１６、ストレインゲージ１８、デジタル入力回路６０か
らの信号およびＲＡＭ７０からのデータを解析すべくＤ
ＳＰ回路５０によって実行されるブログラムを記億して
いる。デフォルトデータおよびブログラムデータは従来
公知の方法によりＰＲＯＭ７２に格納される。The clock generator 68 has a frequency of 20.48 MHz.
Is output to the DSP circuit 50. The clock generator 68 has a conventionally known configuration, and is connected to the DSP circuit 50 via a data line 69. The RAM circuit 70
The DSP circuit 50 stores the program data used for controlling the press and other data such as a limit value array and a current data array. The PROM 72 is used to analyze signals from the resolver 16, the strain gauge 18, the digital input circuit 60, and data from the RAM 70.
The program executed by the SP circuit 50 is stored. Default data and program data are stored in the PROM 72 by a conventionally known method.

【００３２】ストローブ発生器７４は、適切なストロー
ブを、ＰＲＯＭ７２、アナログ／デジタル変換器４８お
よびレゾルババッファ５６へ供給する。これら３種のス
トローブの各々は、異なったタイミングで発生される
が、しかし、レゾルバ／デジタル変換器５４によりデー
タバス１１４を介して供給される割込み信号に応答し、
全てのストローブがＤＳＰ回路５０によって初期化され
る。また、これらの全てのストローブはレゾルバ１６の
位置により割込み信号を介し制御される。以下、第３図
〜第１９図を参照しプロセスコントローラ１４の回路に
ついて詳述する。The strobe generator 74 supplies the appropriate strobe to the PROM 72, the analog / digital converter 48 and the resolver buffer 56. Each of these three strobes is generated at a different timing, but in response to an interrupt signal provided by the resolver / digital converter 54 via the data bus 114,
All strobes are initialized by the DSP circuit 50. All of these strobes are controlled by the position of the resolver 16 via an interrupt signal. Hereinafter, the circuit of the process controller 14 will be described in detail with reference to FIGS.

【００３３】第３図および第４図は計測用増幅器および
自動オフセット修正回路４２の構成図である。回路４２
は２個の入力チャネル１３０および１３２に対応した回
路を有しており、各チャネルは各ストレインゲージ１８
に接続されている。勿論、回路４２は、ストレインゲー
ジ１８等の入力変換器に併せて多くの入力チャネルを持
たせてもよい。例えば、所与の用途において、プレスに
おける負荷を適切に監視するために２以上のストレイン
ゲージを必要とすることがあるからである。チャネル１
３０および１３２のための各回路は同じであるので、チ
ャネル１３０のための回路のみについて詳述する。両チ
ャネル１３０および１３２に対応した各要素は同一の符
号が付けられており、以下の説明はチャネル１３２にも
適用され得る。FIGS. 3 and 4 are block diagrams of the measuring amplifier and the automatic offset correction circuit 42. Circuit 42
Has circuitry corresponding to the two input channels 130 and 132, each channel being associated with a respective strain gauge 18.
It is connected to the. Of course, circuit 42 may have many input channels in conjunction with an input transducer such as strain gauge 18. For example, a given application may require more than one strain gauge to properly monitor the load on the press. Channel 1
Since the circuits for 30 and 132 are the same, only the circuit for channel 130 will be described in detail. Elements corresponding to both channels 130 and 132 have the same reference numerals and the following description can be applied to channel 132 as well.

【００３４】ストレインゲージ１８は端子１３４および
１３６に接続される。これらの端子は、各々抵抗１４２
および１４４を介し計測用増幅器（オペアンプ）１３８
の反転入力端および非反転入力端に接続される。ダイオ
ード１４６および１４８は入力端１３４または１３６が
＋１２Ｖを越えて上昇したときに導通し、正の電圧変化
から増幅器１３８の入力を保護する。ダイオード１５０
および１５２は入力１３４または１３６がグランド電位
以下に下がると導通し、増幅器１３８の入力を負の電圧
変化から保護する。容量１５４は、オペアンプ１３８の
反転入力端および非反転入力端間に介挿されており、こ
れらの入力に印加される信号をろ過する。増幅器１３８
のゲイン選択端子（ピン１１，３）はスイッチ１３９に
接続されており、このスイッチは閉じることにより増幅
器１３８のゲインを５００に設定すべく反転入力端およ
び非反転入力端を接続する。増幅器１３８の基準出力ピ
ン６はグランドに接続され、増幅器１３８の出力（ピン
９、１０）は共通接続され、非差動出力を端子１５６へ
出力する。端子１５６はオペアンプ１５８の反転入力端
に抵抗１６０を介して接続される。オペアンプ１５８は
電源４１から±１２Ｖの電源が供給される。The strain gauge 18 is connected to terminals 134 and 136. These terminals are each connected to a resistor 142
Measurement amplifier (op-amp) 138
Are connected to the inverting input terminal and the non-inverting input terminal. Diodes 146 and 148 conduct when input 134 or 136 rises above +12 volts, protecting the input of amplifier 138 from positive voltage changes. Diode 150
And 152 conduct when input 134 or 136 falls below ground potential, protecting the input of amplifier 138 from negative voltage changes. The capacitor 154 is interposed between the inverting input terminal and the non-inverting input terminal of the operational amplifier 138, and filters a signal applied to these inputs. Amplifier 138
Is connected to a switch 139 which, when closed, connects the inverting and non-inverting inputs to set the gain of amplifier 138 to 500. The reference output pin 6 of the amplifier 138 is connected to the ground, the outputs (pins 9 and 10) of the amplifier 138 are connected in common, and outputs a non-differential output to the terminal 156. The terminal 156 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 158 via the resistor 160. The operational amplifier 158 is supplied with power of ± 12 V from the power supply 41.

【００３５】オペアンプ１５８の出力は、容量１６２お
よび抵抗１６４の並列回路を介して反転入力端に接続さ
れている。この容量１６２、抵抗１６０および抵抗１６
４からなる構成は、フィルタリングおよびゲイン２での
増幅をオペアンプ１５８にもたらす。従って、回路４２
全体としてのゲインは１０００となる。また、オペアン
プ１５６の出力は抵抗１６８を介し出力端１６６に接続
されている。The output of the operational amplifier 158 is connected to an inverting input terminal via a parallel circuit of a capacitor 162 and a resistor 164. The capacitance 162, the resistor 160 and the resistor 16
The four configuration provides filtering and amplification at a gain of two to operational amplifier 158. Therefore, the circuit 42
The gain as a whole is 1000. The output of the operational amplifier 156 is connected to the output terminal 166 via the resistor 168.

【００３６】また、オペアンプ１５８の出力は、オペア
ンプ１７０の反転入力端に抵抗１７２を介して接続され
ると共にトランジスタ１８４のソースに抵抗１８６を介
して接続される。そして、オペアンプ１７０の非反転入
力端はグランドに接続されている。オペアンプ１７０の
出力は出力端１９６に抵抗１９８を介して接続されると
共に反転入力端に抵抗１９４を介し接続される。このオ
ペアンプ１７０および同じ抵抗値の抵抗１７２、１９４
からなる構成は、端子１６６での信号の補信号（逆相信
号）を端子１９６へ出力するインバータとしての機能を
提供する。このようにして生成された相補対称な信号が
ラインレシーバ４４に与えられる結果、ラインレシーバ
４４においてデータ線９０に導入されるはずの同相雑音
（コモンモード雑音）の除去が行われる。The output of the operational amplifier 158 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 170 via the resistor 172 and to the source of the transistor 184 via the resistor 186. The non-inverting input terminal of the operational amplifier 170 is connected to the ground. The output of the operational amplifier 170 is connected to the output terminal 196 via a resistor 198 and to the inverting input terminal via a resistor 194. This operational amplifier 170 and resistors 172 and 194 having the same resistance value
Provides a function as an inverter that outputs a complementary signal (negative-phase signal) of the signal at the terminal 166 to the terminal 196. The complementary symmetric signal thus generated is supplied to the line receiver 44, so that the line receiver 44 removes common-mode noise (common mode noise) to be introduced to the data line 90.

【００３７】また、トランジスタ１８４のソースは、抵
抗１９０を介してそのゲートに接続されると共に抵抗１
９２を介して接地されている。トランジスタ１８４のド
レインはオペアンプ１７４の反転入力端に接続されてい
る。オペアンプ１７４の非反転入力端は接地されてい
る。オペアンプ１７４の出力はオペアンプ１５８の非反
転入力端に接続されている。容量１７６はオペアンプ１
７４の反転入力端を出力に結合させており、これにより
オペアンプ１７４はトランジスタ１８４が導通している
ときにオペアンプ１５８の出力電圧の積分器として機能
する。The source of the transistor 184 is connected to the gate of the transistor 184 via a resistor 190 and the resistor 1
It is grounded via 92. The drain of the transistor 184 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 174. The non-inverting input terminal of the operational amplifier 174 is grounded. The output of the operational amplifier 174 is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 158. The capacity 176 is the operational amplifier 1
The inverting input of 74 is coupled to the output so that op amp 174 functions as an integrator of the output voltage of op amp 158 when transistor 184 is conducting.

【００３８】トランジスタ１８４のゲートはオフセット
修正制御回路６６にダイオード１８８を介して接続さ
れ、このオフセット修正制御回路６６はオフセット修正
信号ＺＳＴＲＯＢＥ（後に詳述する〉をゲートヘ出力し
トランジスタ１８４を導通させる。従って、オペアンプ
１５８の出力が０でなく、トランジスタ１８４が導通し
た場合に、正のオフセット修正信号ＺＳＴＲＯＢＥが与
えられることによりオペアンプ１５８の出力信号の積分
が行われると共にオペアンプ１５８の出力は０に向う。
容量１７６はオペアンプ１７４の出力におけるオフセッ
ト電圧を維持し、オペアンプ１５８の反転入力端に与え
られる信号にオフセットを付与する。例えば、オフセッ
ト修正信号ＺＳＴＲＯＢＥは、オペアンプ１７０の出力
が理想的に０、すなわち、ストレインゲージが理想的な
ものであり、熱による膨張および収縮が現れず、回路の
素子の値の経時変化および温度変化がない場合、プレス
１２の動作サイクルの一部の期問内において生じるよう
にタイミング制御される。ストレインゲージおよび回路
素子は理想的ではなく、プレス１２は除去できないスト
レスにさらされるので、オペアンプ５８の出力が０であ
るべき時、サイクル内のある位置において、０に修正ま
たはオフセットされるべきオペアンプ１５８の出力を生
じてしまう場合がある。The gate of the transistor 184 is connected to the offset correction control circuit 66 via a diode 188, and the offset correction control circuit 66 outputs an offset correction signal ZSTROBE (to be described in detail later) to the gate to make the transistor 184 conductive. When the output of the operational amplifier 158 is not 0 and the transistor 184 is turned on, the output signal of the operational amplifier 158 is integrated by the application of the positive offset correction signal ZSTROBE, and the output of the operational amplifier 158 goes to 0.
The capacitor 176 maintains the offset voltage at the output of the operational amplifier 174 and applies an offset to the signal supplied to the inverting input terminal of the operational amplifier 158. For example, the offset correction signal ZSTROBE is such that the output of the operational amplifier 170 is ideally zero, that is, the strain gauge is ideal, expansion and contraction due to heat do not appear, and the aging of the element values of the circuit and the temperature change. If not, the timing is controlled to occur within a portion of the operating cycle of the press 12. Because the strain gauges and circuit elements are not ideal and the press 12 is subjected to non-removable stress, when the output of op amp 58 should be zero, op amp 158 should be modified or offset to zero at some point in the cycle. In some cases.

【００３９】トランジスタ１７８は容量１７６に接続さ
れており、トランジスタ１７８が導通した場合に容量１
７６の両端電圧は０になる。容量１７６の両端電圧が０
の場合、オペアンプ１７４の出力電圧は０となり、０Ｖ
のオフセット電圧がオペアンプ１５８に与えられ、オペ
アンプ１５８の出力はオフセソトを含まない状態に修正
される。コントローラ１４の回路が調整されるときにオ
ペアンプ１５８のオフセット電圧を除去することが好ま
しい。The transistor 178 is connected to the capacitor 176, and when the transistor 178 turns on, the capacitor 1
The voltage at both ends of 76 becomes zero. When the voltage across the capacitor 176 is 0
In the case of, the output voltage of the operational amplifier 174 becomes 0,
Is applied to the operational amplifier 158, and the output of the operational amplifier 158 is corrected to a state that does not include the offset. It is preferable to remove the offset voltage of the operational amplifier 158 when the circuit of the controller 14 is adjusted.

【００４０】トランジスタ１７８のソースは、抵抗１８
０を介しトランジスタ１７８のゲートに接続され、ま
た、このゲートはダイオード１８２を介してオフセット
修正制御回路６６に接続される。回路６６は、キャリブ
レーション信号ＺＯＦＦ（調整信号；後に詳述する）を
ゲートヘ出力し、トランジスタ１８２を導通させる。従
って、オフセット修正信号ＺＳＴＲＯＢＥが負である場
合、正のキャリブレーション信号ＺＯＦＦがオペアンプ
１５８のオフセットを除去する。The source of the transistor 178 is connected to the resistor 18
0 is connected to the gate of the transistor 178, and this gate is connected to the offset correction control circuit 66 via the diode 182. The circuit 66 outputs the calibration signal ZOFF (adjustment signal; described later in detail) to the gate, and makes the transistor 182 conductive. Therefore, when the offset correction signal ZSTROBE is negative, the positive calibration signal ZOFF removes the offset of the operational amplifier 158.

【００４１】出力端１６６および１９６は、回路図を第
５図に示すラインレシーバ４４の入力端２００および２
０２に接続される。第５図に示すように、１個のライン
レシーバは入力チャネル１３０および１３２のうち１つ
に関連している。勿論、所与の用途が２以上の入力チャ
ネルを必要とする場合は２より多くのラインレシーバ４
４を設けてもよい。各ラインレシーバ４４は同一の回路
によって構成されているので、１個のラインレシーバ４
４の回路のみを詳細に説明する。また、両ラインレシー
バ４４の各要素は同一の符号が付けられており、以下の
説明は両ラインレシーバに適用し得る。The outputs 166 and 196 are connected to the inputs 200 and 2 of the line receiver 44 whose circuit diagram is shown in FIG.
02. As shown in FIG. 5, one line receiver is associated with one of the input channels 130 and 132. Of course, if a given application requires more than one input channel, more than two line receivers 4
4 may be provided. Since each line receiver 44 is constituted by the same circuit, one line receiver 4
Only the circuit No. 4 will be described in detail. In addition, each element of both line receivers 44 is given the same reference numeral, and the following description can be applied to both line receivers.

【００４２】入力端２００はオペアンプ２０４の反転入
力端に抵抗２０６を介して接続されている。オペアンプ
２０４の出力は、容量２０８および抵抗２１０の並列回
路を介して反転入力端に接続されている。容量２０８、
抵抗２１０および２０６からなる構成は、オペアンプ２
０４にフィルタリングおよびゲイン０．５での増幅機能
を与える。オペアンプ２０４の非反転入力は、抵抗２１
２を介して入力端２０２に接続されると共に抵抗２１４
および容量２１６の並列回路を介して接地される。オペ
アンプ２０４の各出力に各々接続された出力端２１８お
よび２２０は、各々、第６図に示す多重化回路２２２の
１つのチャネルに接続される。ラインレシーバ４４の構
成は、端子２００および２０２に与えられる同相雑音を
除去せしめる。The input terminal 200 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 204 via a resistor 206. The output of the operational amplifier 204 is connected to an inverting input terminal via a parallel circuit of a capacitor 208 and a resistor 210. Capacity 208,
The configuration including the resistors 210 and 206 corresponds to the operational amplifier 2
04 is given a filtering and amplification function with a gain of 0.5. The non-inverting input of the operational amplifier 204 is connected to the resistor 21
2 and the resistor 214
And a parallel circuit of the capacitor 216. Output terminals 218 and 220 connected to respective outputs of the operational amplifier 204 are each connected to one channel of the multiplexing circuit 222 shown in FIG. The configuration of line receiver 44 eliminates common mode noise applied to terminals 200 and 202.

【００４３】出力端２１８は、多重化回路２２２の入力
端２２４に接続され、出力端２２０は多重化回路２２２
の入力端２２６に接続されている。アドレス線２２８、
２３０および２３２、多重化回路２２２のイネーブル線
２３４はデータバス１００に接続され、このデータバス
１００はポートＢバッファ５８に接続される（第１３
図）。多重化回路２２２の出力線は、抵抗２３８と直列
に接続されたポテンショメータ２３６を介して接地され
ている。ポテンショメータ２３６のタップは、オペアン
プ２４０の非反転入力端に接続されている。ポテンショ
メータ２３６は、データ線９４を介しアナログ／デジタ
ル変換器２４２へ与えられる出力信号の調整をすること
ができる。オペアンプ２４０は、多重化回路２２３のバ
ッファリングを行い、５Ｖの範囲内の電圧をアナログ／
デジタル変換器２４２の入力端へ出力する。The output terminal 218 is connected to the input terminal 224 of the multiplexing circuit 222, and the output terminal 220 is connected to the multiplexing circuit 222.
Is connected to the input terminal 226 of the second. Address line 228,
230 and 232 and the enable line 234 of the multiplexing circuit 222 are connected to the data bus 100, and this data bus 100 is connected to the port B buffer 58 (the thirteenth).
Figure). The output line of the multiplexing circuit 222 is grounded via a potentiometer 236 connected in series with the resistor 238. The tap of the potentiometer 236 is connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 240. Potentiometer 236 can adjust the output signal provided to analog / digital converter 242 via data line 94. The operational amplifier 240 buffers the multiplexing circuit 223 and converts a voltage within a range of 5 V to an analog /
Output to the input terminal of the digital converter 242.

【００４４】第７図はアナログ／デジタル変換器４８を
示している。アナログ／デジタル変換器２４２は５Ｖお
よび１２Ｖの電力が電源７６によって与えられる。この
電源７６は従来公知の電源であり、＋５Ｖの電圧をデジ
タル論理回路に、±１２Ｖの電圧をアナログ回路に供給
する。アナログ／デジタル変換器２４２は、容量２４４
を介し接地され、接地レベルを参照している。アナログ
／デジタル変換器２４２の５Ｖ入力端にはデータ線９４
が接続され、１０Ｖ入力端は接地されている。アナログ
／デジタル変換器２４２は５Ｖ入力端のアナログ信号を
１２ビットのデジタル信号に変換し、このデジタル信号
はアナログ／デジタル変換器２４２をＤＳＰ回路５０
（第１８図およぴ第１９図参照）に接続するデータバス
１０４へ出力される。データ線２４６は、アナログ／デ
ジタル変換器２４２のビジー（ｂｕｓｙ）線をＤＳＰ回
路５０のＡＤＣビジー端子に接続する（第１８図および
第１９図参照）。アナログ／デジタル変換器２４２の変
換およびチップセレクトの各端子は、データバス９６を
介しストローブ発生器７４へ接続される（第１０図）。
アナログ／デジタル変換器２４２の変換端子は、抵抗２
４８を介してストローブ発生器７４に接続されると共に
容量２５０を介して接地されており、これにより１発の
変換パルスを１発のチップセレクトパルスに関して僅か
に遅らせるようにしている。FIG. 7 shows an analog / digital converter 48. Analog / digital converter 242 is powered by power supply 76 at 5V and 12V. The power supply 76 is a conventionally known power supply, and supplies a voltage of +5 V to a digital logic circuit and a voltage of ± 12 V to an analog circuit. The analog / digital converter 242 has a capacity 244
And is referenced to the ground level. The data line 94 is connected to the 5 V input terminal of the analog / digital converter 242.
Are connected, and the 10 V input terminal is grounded. The analog / digital converter 242 converts the analog signal at the 5V input terminal into a 12-bit digital signal.
(See FIGS. 18 and 19). The data line 246 connects the busy line of the analog / digital converter 242 to the ADC busy terminal of the DSP circuit 50 (see FIGS. 18 and 19). The conversion and chip select terminals of the analog / digital converter 242 are connected to the strobe generator 74 via the data bus 96 (FIG. 10).
The conversion terminal of the analog / digital converter 242 is a resistor 2
Connected to strobe generator 74 via 48 and grounded via capacitor 250, this causes one conversion pulse to be slightly delayed with respect to one chip select pulse.

【００４５】レゾルバ１６は、公知のレゾルバであり、
２．５ｋＨｚの正弦波が与えられる。２．５ｋＨｚの正
弦波はレゾルバ励起回路５２により生成される。このレ
ゾルバ励起回路は２．５ｋＨｚの正弦波を発生する通常
の回路でよい。また、２．５ｋＨｚの正弦波は、レゾル
バ／デジタル変換回路５４におけるレゾルバ／デジタル
変換器２５２の基準入力端１０６に与えられる。The resolver 16 is a known resolver,
A 2.5 kHz sine wave is provided. The 2.5 kHz sine wave is generated by the resolver excitation circuit 52. This resolver excitation circuit may be an ordinary circuit that generates a sine wave of 2.5 kHz. The 2.5 kHz sine wave is applied to the reference input terminal 106 of the resolver / digital converter 252 in the resolver / digital converter 54.

【００４６】第８図はレゾルバ／デジタル変換回路５４
の回路図である。レゾルバ１６からの正弦波信号および
余弦波信号は、信号バス１０８を介し変換器２５２の正
弦波入力端および余弦波入力端に入力され、レゾルバ１
６における正弦波信号および余弦波信号の戻り線は各々
信号バス１０８に接続された１組の抵抗２５４および２
５６を介し変換器２５２の信号グランドに接続される。
変換器２５２の信号グランド端子は、抵抗２５４および
２５６が変換器２５２の信号グランドに接続される点に
接地される。変換器２５２のエラー出力端は抵抗２５８
および容量２６０の直列回路と容量２６２および抵抗２
６４の並列回路とを介し接地される。変換器２５２のＤ
ＭＤ ＩＮ端子は抵抗２５８および容量２６０の直列回
路を介してエラー出力端に接続されている。また、変換
器２５２のＤＭＤ ＯＵＴ端子は抵抗２６６を介しＩＮ
Ｔ ＩＮ端子に接続されており、このｌＮＴ ＩＮ端子
は容量２７２に並列接続された容量２６４および抵抗２
７０を介しＩＮＴ ＯＵＴ端子に接続されている。ＩＮ
Ｔ ＯＵＴ端子は抵抗２７４を介しＶＣＯ ＩＮ端子に
接続されており、このＶＣＯ ＩＮ端子は容量２７６お
よび低抗２７８を直列に介して接地されている。要素２
５８〜２７８からなる構成およびそれらの変換器２５２
への接続は、アナログ装置たる変換器２５２のメーカに
より提示されている。FIG. 8 shows a resolver / digital conversion circuit 54.
FIG. The sine wave signal and the cosine wave signal from the resolver 16 are input to the sine wave input terminal and the cosine wave input terminal of the converter 252 via the signal bus 108, and the resolver 1
The return lines of the sine and cosine signals at 6 are connected to a set of resistors 254 and 2 respectively connected to the signal bus 108.
56 is connected to the signal ground of the converter 252.
The signal ground terminal of converter 252 is grounded to the point where resistors 254 and 256 are connected to the signal ground of converter 252. The error output terminal of the converter 252 is a resistor 258.
And a series circuit of the capacitor 260, the capacitor 262 and the resistor 2
And 64 parallel circuits. D of converter 252
The MD IN terminal is connected to an error output terminal via a series circuit of a resistor 258 and a capacitor 260. The DMD OUT terminal of the converter 252 is connected to the IN terminal via the resistor 266.
T IN terminal, which is connected to a capacitor 264 and a resistor 2 connected in parallel with the capacitor 272.
70 is connected to the INT OUT terminal. IN
The T OUT terminal is connected to a VCO IN terminal via a resistor 274, and the VCO IN terminal is grounded via a capacitor 276 and a resistor 278 in series. Element 2
58-278 and their converters 252
Is provided by the manufacturer of the converter 252, which is an analog device.

【００４７】変換器２５２は、分解能として設定された
１０，１２，１４または１６ビットのうちいずれかを選
択することができる。変換器２５２の分解能を選択する
ための適切な論理情報が変換器２５２の端子ＳＣ１およ
びＳＣ２に与えられる。さらに詳述すると、端子ＳＣ１
およびＳＣ２に与えられる論理情報は、ジャンパ２８０
および２８２を介して接地される端子ＳＣ１およびＳＣ
２を適切な接続を施すことによって選択的に発生され
る。変形例として、変換器２５２の分解能は、ＤＳＰ回
路５０が選択することができ、この場合、ジャンパ２８
０および２８２はＤＳＰ回路５０によりポートＢバッフ
ァ５８を介し制御される適切なスイッチに置き換える。The converter 252 can select any one of 10, 12, 14 and 16 bits set as the resolution. Appropriate logic information for selecting the resolution of converter 252 is provided to terminals SC1 and SC2 of converter 252. More specifically, the terminal SC1
And the logical information provided to SC2 are jumpers 280
SC1 and SC grounded via
2 is selectively generated by making the appropriate connections. As a variant, the resolution of the converter 252 can be selected by the DSP circuit 50, in which case the jumper 28
0 and 282 are replaced by appropriate switches controlled by the DSP circuit 50 via the port B buffer 58.

【００４８】端子ＳＣ１およびＳＣ２は、ダイオード２
８４および抵抗２８６の直列回路とダイオード２８８お
よび抵抗２９０の直列回路とを各々介し電源７６の＋５
Ｖ電源端子に接続される。ダイオード２８４および２８
８のカソードは、各々に対応した端子ＳＣ１およびＳＣ
２に接続される。ダイオード２８４および２８８の各ア
ノードは、抵抗２８６および２９０に各々接続されると
共にデータバス１１０を介しポートＢバッファ５８（第
１３図）内のバッファ２９２の端子Ｊ２２２およびＪ２
２４に接続される。端子ＳＣ１およびＳＣ２の状態は、
ＤＳＰ回路５０に変換器２５２が動作する際の分解能を
知らせる。The terminals SC1 and SC2 are connected to the diode 2
84 and the resistor 286 and the series circuit of the diode 288 and the resistor 290, respectively.
Connected to V power supply terminal. Diodes 284 and 28
8 are connected to terminals SC1 and SC
2 is connected. The anodes of diodes 284 and 288 are connected to resistors 286 and 290, respectively, and are connected via data bus 110 to terminals J222 and J2 of buffer 292 in port B buffer 58 (FIG. 13).
24. The state of the terminals SC1 and SC2 is
The DSP circuit 50 is informed of the resolution when the converter 252 operates.

【００４９】レゾルバ１６の絶対変位角を表すデジタル
値は、変換器２５２の端子Ｄ１〜Ｄ１６に並列データと
して出力される。変換器２５２の端子Ｊ２−１〜Ｊ２−
１６は、第９図に示すレゾルババッファ５６を構成する
バッファ２９４および２９６の各端子Ｊ２−１〜Ｊ２−
１６に接続されている。レゾルバ２５２のビジー端子
は、データ線１１４およびバッファ４１６（第１８図お
よび第１９図）を介しＤＳＰ回路５０の割込み端子ｌＲ
ＱＡおよびＩＲＱＢに接続される。The digital value representing the absolute displacement angle of the resolver 16 is output as parallel data to the terminals D1 to D16 of the converter 252. Terminals J2-1 to J2- of converter 252
16 are terminals J2-1 to J2- of buffers 294 and 296 constituting the resolver buffer 56 shown in FIG.
16 are connected. The busy terminal of the resolver 252 is connected to the interrupt terminal lR of the DSP circuit 50 via the data line 114 and the buffer 416 (FIGS. 18 and 19).
Connected to QA and IRQB.

【００５０】第９図において、レゾルババッファ５６は
２個の８ビットバッファ２９４および２９６を有し、こ
れらは変換器２５２によって発生されたレゾルバの回転
角度の絶対値を表すデジタル信号を増幅する。この信号
はＤＳＰ回路５０に接続されたデータバス１０４に与え
られる（第１８図および第１９図）。In FIG. 9, resolver buffer 56 has two 8-bit buffers 294 and 296, which amplify a digital signal generated by converter 252 and representing the absolute value of the rotational angle of the resolver. This signal is applied to data bus 104 connected to DSP circuit 50 (FIGS. 18 and 19).

【００５１】第１０図はストローブ発生器７４の回路図
である。ストローブ発生器７４は、バッファドアドレス
バス１０７およびコントロールバス４１４に接続された
ＰＡＬ７５を有しており、コントロールバス４１４はＤ
ＳＰ回路５０に接続されている（第１８図および第１９
図）。ＰＡＬ７５は、データバス１０７および４１４に
与えられる各信号に応答し、ＰＲＯＭイネーブル信号、
変換器２４２に変換を指示する信号およびチソプセレク
ト信号を含む多様な制御信号を出力する。FIG. 10 is a circuit diagram of the strobe generator 74. The strobe generator 74 has a PAL 75 connected to the buffered address bus 107 and the control bus 414, and the control bus 414
18 and 19 is connected to the SP circuit 50.
Figure). PAL 75 responds to signals provided on data buses 107 and 414 by providing a PROM enable signal,
It outputs various control signals to the converter 242, including a signal instructing conversion and a chisop select signal.

【００５２】第１１図はデジタル入力回路６０の回路図
である。デジタル入力回路６０は４個の入力チャネル２
９４、２９６、２９８および３００のための回路を有し
ている。勿論、回路６０は特定用途に要求される多くの
入力チャネルを含むように変更し得る。チャネル２９
４、２９６、２９８および３００のための回路は同一で
あるので、チャネル２９４のための回路のみを詳述す
る。また、各チャネル対応の回路の全ての要素はチャネ
ル問で共通の符号が付けられており、従って、以下の説
明はチャネル２９６、２９８および３００にも当てはま
る。FIG. 11 is a circuit diagram of the digital input circuit 60. The digital input circuit 60 has four input channels 2
It has circuits for 94, 296, 298 and 300. Of course, circuit 60 may be modified to include as many input channels as required for a particular application. Channel 29
Since the circuits for 4, 296, 298 and 300 are identical, only the circuit for channel 294 will be described in detail. Also, all the components of the circuit corresponding to each channel are assigned the same reference numeral in the channel, so that the following description also applies to the channels 296, 298 and 300.

【００５３】チャネル２９４は入力端子Ｊ５−１８およ
びＪ５−１９を含んでおり、これらの入力端子はプッシ
ュボタン、リレーといった入力装置に接続されている。
端子Ｊ５−１８は発光ダイオード３０２のアノードに抵
抗３０４を介して接続され、端子Ｊ５−１９は発光ダイ
オード３０２のカソードに接続される。また、端子Ｊ５
−１８およびＪ５−１９は抵抗３０６を介して相互に接
続されている。ダイオード３０８および容量３１０の並
列回路は発光ダイオード３０２に接続されており、より
詳しくはダイオード３０８のアノードがダイオード３０
２のカソードに接続され、ダイオード３０８のカソード
がダイオード３０２のアノードに接続されている。ダイ
オード３０２の出力光は、フォトトランジスタ３１２に
与えられ、このフォトトランジスタのエミッタはトラン
ジスタ３１４のべースに接続され、トランジスタ３１４
のエミッタは接地されている。フォトトランジスタ３１
２およびトランジスタ３１４の各コレクタは、抵抗３１
６を介し電源６１の５Ｖ電源端子に接続されると共にイ
ンバータ３１８の入力に接続されており、このインバー
タ３１８の出力は出力端Ｊ２−３４に接続されている。
出力端Ｊ２−３４、Ｊ２−３２、Ｊ２−３０およびＪ２
−２８はポートＢバッファ５８（第１３図）におけるバ
ッファ２９２の対応する入力端に接続されている。The channel 294 includes input terminals J5-18 and J5-19, which are connected to input devices such as push buttons and relays.
The terminal J5-18 is connected to the anode of the light emitting diode 302 via the resistor 304, and the terminal J5-19 is connected to the cathode of the light emitting diode 302. Also, terminal J5
-18 and J5-19 are connected to each other via a resistor 306. The parallel circuit of the diode 308 and the capacitor 310 is connected to the light emitting diode 302. More specifically, the anode of the diode 308 is connected to the diode 30.
2, and the cathode of the diode 308 is connected to the anode of the diode 302. The output light of the diode 302 is provided to a phototransistor 312, the emitter of which is connected to the base of the transistor 314.
Are grounded. Phototransistor 31
2 and the collector of transistor 314
6 is connected to the 5V power supply terminal of the power supply 61 and to the input of the inverter 318, and the output of the inverter 318 is connected to the output terminal J2-34.
Output terminals J2-34, J2-32, J2-30 and J2
-28 is connected to the corresponding input terminal of the buffer 292 in the port B buffer 58 (FIG. 13).

【００５４】フォトダイオード３０２とフォトトランジ
スタ３１２の組合せは、入力端Ｊ５−１８〜Ｊ５−２５
と出力端Ｊ２−３４〜Ｊ２−２８との間の光学式アイソ
レーション（光学的に結合し電気的には絶縁すること）
を提供するものである。チャネル２９４、２９６、２９
８および３００の出力はバッファ２９２により増幅さ
れ、データバス９８を介しＤＳＰ回路５０に与えられ
る。The combination of the photodiode 302 and the phototransistor 312 is connected to the input terminals J5-18 to J5-25.
Isolation between the output and the output terminals J2-34 to J2-28 (optically coupled and electrically insulated)
Is provided. Channels 294, 296, 29
The outputs of 8 and 300 are amplified by buffer 292 and applied to DSP circuit 50 via data bus 98.

【００５５】第１２図はデジタル出力回路６２を示す回
路図である。デジタル出力回路６２は１番から８番まで
の絶縁された出力チャネルを備えており、第１２図はこ
れらのうち４個のチャネル３２０、３２２、３２４およ
び３２６に対応した回路を示している。チャネル３２
０、３２２、３２４および３２６の各々は制御装置、例
えばプレスのオン／オフを切り換えるリレー、製品除去
装置を制御するリレー、オペレータ表示パネルに配備さ
れた表示灯を含む警告または制御の表示のためのＬＥＤ
といった表示装置を制御するリレーに接続される。各チ
ャネル３２０、３２２、３２４および３２６に対応した
回路は同一であるので、チャネル３２０に対応した回路
のみについて詳述する。また、全てのチャネルについて
各要素には各チャネル間で共通した符号が付けられてお
り、従って、チャネル３２０についての説明はチャネル
３２２、３２４および３２６にも当てはまる。FIG. 12 is a circuit diagram showing the digital output circuit 62. The digital output circuit 62 has first to eighth insulated output channels, and FIG. 12 shows a circuit corresponding to four of these channels 320, 322, 324 and 326. Channel 32
Each of 0, 322, 324 and 326 is a control device, for example, a relay for switching the press on / off, a relay for controlling the product removal device, a warning or control display including an indicator light provided on an operator display panel. LED
Connected to a relay that controls the display device. Since the circuits corresponding to the channels 320, 322, 324, and 326 are the same, only the circuit corresponding to the channel 320 will be described in detail. Also, for all the channels, the elements are assigned the same reference numerals among the channels, and therefore, the description of the channel 320 also applies to the channels 322, 324, and 326.

【００５６】チャネル３２０は、入力端Ｊ２−５０を有
し、この入力端はポートＢバッファ５８の８ビットのレ
ジスタ３２８に接続されている（第１３図）。ＤＳＰ回
路５０はデータバス９８からレジスタ３２８を介し端子
Ｊ２−５０へ信号を出力する。同様に、ＤＳＰ回路５０
はチャネル３２２、３２４および３２６の入力端Ｊ２−
４８、Ｊ２−４６およびＪ２−４４に各々出力信号を供
給する。また、入力端Ｊ２−５０は抵抗３３２およびこ
れに直列接続された発光ダイオード３３０を介して接地
されている。ＤＳＰ回路５０によって端子Ｊ２−５０に
信号が出力されると、発光ダイオード３５０からフォト
トランジスタ３３４に光が照射される。フォトトランジ
スタ３３４のコレクタは出力端Ｊ５−１０に接続され、
フォトトランジスタ３３４のエミッタはトランジスタ３
３６のベースに接続されている。トランジスタ３３６の
コレクタは出力端Ｊ５−１０に接続され、トランジスタ
３３６のエミソタは出力端Ｊ５−１１に接続されてい
る。また、出力端Ｊ５−１０およびＪ５−１１はダイオ
ード３３８を介して相互に接続され、ダイオード３３８
のカソードは出力端Ｊ５−１０に接続されている。トラ
ンジスタ３３６はフォトトランジスタ３３４からの信号
を増幅する。The channel 320 has an input terminal J2-50, which is connected to the 8-bit register 328 of the port B buffer 58 (FIG. 13). The DSP circuit 50 outputs a signal from the data bus 98 to the terminal J2-50 via the register 328. Similarly, the DSP circuit 50
Is the input J2- of channels 322, 324 and 326
48, J2-46 and J2-44, respectively. The input terminal J2-50 is grounded via the resistor 332 and the light emitting diode 330 connected in series to the resistor 332. When a signal is output from the DSP circuit 50 to the terminal J2-50, light is emitted from the light emitting diode 350 to the phototransistor 334. The collector of the phototransistor 334 is connected to the output terminal J5-10,
The emitter of the phototransistor 334 is the transistor 3
It is connected to 36 bases. The collector of the transistor 336 is connected to the output terminal J5-10, and the emitter of the transistor 336 is connected to the output terminal J5-11. The output terminals J5-10 and J5-11 are connected to each other via a diode 338.
Are connected to the output terminal J5-10. Transistor 336 amplifies the signal from phototransistor 334.

【００５７】第１３図はポートＢバッファ５８の回路図
である。この回路の一部についてはプロセスコントロー
ラ１４のための他の部分の回路と関連し説明した。ポー
トＢバッファ５８は、バッファ２９２およびレジスタ３
２８に加え、８ビットのレジスタ３４０を有している。
レジスタ３４０は、多重化回路２２２のアドレスを選択
するアドレス信号をＤＳＰ回路５０から受け取って保持
する。レジスタ３４０はバッファ２９２およびレジスタ
３２８と共にデータバス９８を介しＤＳＰ回路５０に接
続されている。FIG. 13 is a circuit diagram of the port B buffer 58. Some of this circuitry has been described in connection with other circuitry for the process controller 14. Port B buffer 58 includes buffer 292 and register 3
28, an 8-bit register 340 is provided.
The register 340 receives an address signal for selecting an address of the multiplexing circuit 222 from the DSP circuit 50 and holds the address signal. The register 340 is connected to the DSP circuit 50 via the data bus 98 together with the buffer 292 and the register 328.

【００５８】第１４図はオフセット修正駆動回路６４を
示す。オフセット修正駆動回路６４はポートＢバッファ
５８のレジスタ３２８（第１３図）とデータ線１１６を
介し端子Ｊ２３８において接続されている。レジスタ３
２８はＤＳＰ回路５０からデータバスを介し送られてく
るオフセット修正パルスを保持する。上述したように、
回路６４はＤＳＰ回路５０からのパルスのデュレーショ
ンを約２００ｎｓから１０ｍｓまで増加させる。FIG. 14 shows the offset correction driving circuit 64. The offset correction drive circuit 64 is connected to the register 328 (FIG. 13) of the port B buffer 58 at the terminal J238 via the data line 116. Register 3
Numeral 28 holds the offset correction pulse sent from the DSP circuit 50 via the data bus. As mentioned above,
Circuit 64 increases the duration of the pulse from DSP circuit 50 from about 200 ns to 10 ms.

【００５９】端子Ｊ２ ３８はインバータ３４２に接続
され、このインバータ３４２はダイオード３４４のカソ
ードに接続される。ダイオード３４４のアノードは、容
量３４６を介し接地されると共に抵抗３４８を介して電
源４１の＋５Ｖ電圧端子に接続され、さらにインバータ
３５０の入力に接続されている。インバータ３５０の出
力はダイオード３５２のアノードに接続され、このダイ
オード３５２のカソードは容量３５４を介し接地されて
いる。ダイオード３５２のカソードは、抵抗３５６を介
し接地されると共にインバータ３５８の入力に接続され
ている。インバータ３５８の出力は、インバータ３６０
の入力に接続されると共にダイオード３６２のカソード
に接続されている。インバータ３６０の出力はデータ線
１１８を介しオフセット修正パルスＺをオフセット修正
回路６６へ供給する。Terminal J 238 is connected to inverter 342, which is connected to the cathode of diode 344. The anode of the diode 344 is grounded via the capacitor 346, connected to the +5 V voltage terminal of the power supply 41 via the resistor 348, and further connected to the input of the inverter 350. The output of the inverter 350 is connected to the anode of a diode 352, and the cathode of the diode 352 is grounded via a capacitor 354. The cathode of the diode 352 is grounded via the resistor 356 and is connected to the input of the inverter 358. The output of inverter 358 is
, And to the cathode of the diode 362. The output of inverter 360 supplies offset correction pulse Z to offset correction circuit 66 via data line 118.

【００６０】ダイオード３６２のアノードは、抵抗３６
６を介しインバータ３６４の入力に接続される。インバ
ータ３６４の入カは容量３６８を介し接地されると共に
抵抗３７０を介し電源４１の５Ｖ電源端子に接続されて
いる。インバータ３６４の出力は抵抗３７４を介しトラ
ンジスタ３７２のベースに接続されている。トランジス
タ３７２のエミッタは接地され、トランジスタ３７２の
コレクタはＬＥＤのカソードに接続され、このＬＥＤの
アノードは抵抗３７８を介し５Ｖの電源に接続されてい
る。従って、オフセット修正パルスが回路６４に入力さ
れると、回路６４は、同パルスのデュレーションを、回
路６４をライン１１８を介して駆動しＬＥＤ３７６をト
ランジスタ３７２を介して点灯させるのに十分な時問に
増加させる。The anode of the diode 362 is connected to the resistor 36
6 is connected to the input of the inverter 364. The input of the inverter 364 is grounded via the capacitor 368 and connected to the 5V power supply terminal of the power supply 41 via the resistor 370. The output of the inverter 364 is connected to the base of the transistor 372 via the resistor 374. The emitter of the transistor 372 is grounded, the collector of the transistor 372 is connected to the cathode of the LED, and the anode of the LED is connected via a resistor 378 to a power supply of 5V. Thus, when an offset correction pulse is input to circuit 64, circuit 64 changes the duration of the pulse at a time sufficient to drive circuit 64 via line 118 and light LED 376 through transistor 372. increase.

【００６１】また、回路６４は端子Ｊ３１８を有し、こ
の端子はレジスタ３４０（第１３図）の端子Ｊ３１８に
接続されている。データバス９８を介しレジスタ３４０
に転送されたＤＳＰ回路５０からのパルスは、レジスタ
３４０を経て端子Ｊ３１８へも入力され得る。端子Ｊ３
１８は抵抗３８２を介しトランジスタ３８０のべースに
接続されている。このトランジスタ３８０のエミッタは
接地され、コレクタはＬＥＤ３８４のカソードに接続さ
れ、このＬＥＤのアノードは抵抗３８６を介し５Ｖの電
源に接続されている。従って、端子Ｊ３１８にパルスが
入力されると、ＬＥＤ３８４が点灯する。The circuit 64 has a terminal J318, which is connected to the terminal J318 of the register 340 (FIG. 13). Register 340 via data bus 98
Can be input to the terminal J318 via the register 340. Terminal J3
Reference numeral 18 is connected to the base of the transistor 380 via the resistor 382. The emitter of the transistor 380 is grounded, the collector is connected to the cathode of the LED 384, and the anode of the LED is connected to a 5V power supply via the resistor 386. Therefore, when a pulse is input to the terminal J318, the LED 384 is turned on.

【００６２】端子Ｊ２ ３６はレジスタ３２８の端子Ｊ
２３６に接続されており、このため、ＤＳＰ回路５０に
よりデータバス９８を介してレジスタ３２８にパルスが
入力されると、ＬＥＤ３８８が点灯し得る。さらに詳述
すると、端子Ｊ２３６は抵抗３９２を介しトランジスタ
３９０のべースに接続されている。トランジスタ３９０
のエミッタは接地され、コレクタはＬＥＤ３８８のカソ
ードに接続されている。ＬＥＤ３８８のアノードは抵抗
３９４を介し５Ｖの電源に接続されている。そして、Ｌ
ＥＤ３８４および３８８がＤＳＰ回路５０により点灯さ
れることによりユーザに対し警告としてフィードバック
される。The terminal J2 36 is connected to the terminal J of the register 328.
The LED 388 can be turned on when a pulse is input to the register 328 via the data bus 98 by the DSP circuit 50. More specifically, the terminal J236 is connected to the base of the transistor 390 via the resistor 392. Transistor 390
Is connected to the cathode of the LED 388. The anode of the LED 388 is connected to a 5V power supply via the resistor 394. And L
When the EDs 384 and 388 are turned on by the DSP circuit 50, a feedback is given to the user as a warning.

【００６３】第１５図はオフセット修正回路６６を示
す。回路６６は、オフセット修正信号ＺＳＴＲＯＢＥと
調整信号ＺＯＦＦとを計測用増幅器とオフセット修正回
路４２に信号バス１２０を介し供給する。信号ＺＳＴＲ
ＯＢＥおよびＺＯＦＦは各々回路４２のダイオード１８
８および１８２に供給される。信号ＺＳＴＲＯＢＥは−
１２Ｖから＋１２Ｖまで立ち上がるパルスであり、１０
ｍｓのデュレーションを有しており、信号ＺＯＦＦは＋
１２Ｖまたは−１２Ｖのいずれかの電圧値をとり得る。FIG. 15 shows the offset correction circuit 66. The circuit 66 supplies the offset correction signal ZSTROBE and the adjustment signal ZOFF to the measurement amplifier and the offset correction circuit 42 via the signal bus 120. Signal ZSTR
OBE and ZOFF are the diodes 18 of circuit 42, respectively.
8 and 182. The signal ZSTROBE is-
A pulse that rises from 12 V to +12 V.
ms, and the signal ZOFF is +
It can take either a voltage value of 12V or -12V.

【００６４】オフセット修正回路６４からのオフセット
修正パルスＺは正のパルスであり、データ線１１８を介
しインバータ６５０に入力される。インバータ６５０の
出力は、抵抗６５４に直列接続された容量６５２を介し
電源４１の５Ｖ電源端子に接続される。容量６５２およ
び抵抗６５４の接続点はインバータ６５６に接続されて
いる。このインバータ６５６の出力はカウンタ６５８の
リセット端子およびＮＯＲゲート６６０の１つの入力端
に接続されている。インバータ６５０に正の５Ｖの信号
Ｚが入力されると、５Ｖの信号ＺＥＤＧＥがカウンタ６
５８のリセット端子およびＮＯＲゲート６６０に入力さ
れる。The offset correction pulse Z from the offset correction circuit 64 is a positive pulse, and is input to the inverter 650 via the data line 118. The output of the inverter 650 is connected to the 5V power supply terminal of the power supply 41 via the capacitor 652 connected in series with the resistor 654. A connection point between the capacitor 652 and the resistor 654 is connected to the inverter 656. The output of the inverter 656 is connected to the reset terminal of the counter 658 and one input terminal of the NOR gate 660. When a positive 5V signal Z is input to inverter 650, 5V signal ZEDGE is output to counter 6
It is input to a reset terminal 58 and a NOR gate 660.

【００６５】カウンタ６５８のクロック入力端子は、約
１０ＭＨｚで発振する回路に接続されている。この回路
は、ダイオード６６２を有し、このダイオードのカソー
ドはカウンタ６５８の出力ＳＴＯＰに接続されており、
この出力ＳＴＯＰは１２８カウント毎にローレベルにな
り発振回路の発振を停止させる。ダイオード６６２のカ
ソードはインバータ６６４の入力に接続されると共に抵
抗６６６および６６８を直列に介してインバータ６６４
の出力に接続されている。The clock input terminal of the counter 658 is connected to a circuit that oscillates at about 10 MHz. This circuit has a diode 662, the cathode of which is connected to the output STOP of the counter 658,
This output STOP goes low every 128 counts to stop the oscillation of the oscillation circuit. The cathode of diode 662 is connected to the input of inverter 664 and connected in series through resistors 666 and 668.
Connected to the output.

【００６６】インバータ６６４の出力はインバータ６７
０の入力に接続されると共にインバータ６７０の出力に
抵抗６６８および容量６７２を直列に介して接続されて
いる。インバータ６７０の出力はインバータ６７４の入
力に接続され、このインバータ６７４の出力はカウンタ
６５８のクロック入力に接続されている。The output of the inverter 664 is
0, and connected to the output of the inverter 670 via a resistor 668 and a capacitor 672 in series. The output of inverter 670 is connected to the input of inverter 674, and the output of inverter 674 is connected to the clock input of counter 658.

【００６７】カウンタ６５８の出力ＳＴＯＰは、ＮＯＲ
ゲート６６０の第２の入力に接続されている。ＮＯＲゲ
ート６６０の出力はＡＮＤゲート６７６の第１の入力に
接続されている。ＡＮＤゲート６７６の第２の入力はノ
ーマリオフ型のスイッチ６７さを介して接地されると共
に抵抗６８０を介し電源４１の５Ｖ電源端子に接続され
ている。The output STOP of the counter 658 is NOR
Connected to the second input of gate 660. The output of NOR gate 660 is connected to a first input of AND gate 676. The second input of the AND gate 676 is grounded via a normally-off switch 67 and connected to the 5V power supply terminal of the power supply 41 via a resistor 680.

【００６８】オペアンプ６８２の反転入力は、抵抗６８
４を介し５Ｖの電源に接続されると共に抵抗６８６を介
して接地され、さらにオペアンプ６８８に接続されてい
る。このオペアンプ６８８は１２Ｖの電源に接続されて
いる。オペアンプ６８２の出力は信号ＺＳＴＲＯＢＥを
信号バス１２０を介し回路４２のダイオード１８８へ供
給し、オペアンプ６８８は信号ＺＯＦＦを信号バス１２
０を介し回路４２のダイオード１８２へ供給する。The inverting input of the operational amplifier 682 is connected to the resistor 68
4 is connected to a 5V power supply, grounded via a resistor 686, and further connected to an operational amplifier 688. This operational amplifier 688 is connected to a 12 V power supply. The output of the operational amplifier 682 supplies the signal ZSTROBE to the diode 188 of the circuit 42 via the signal bus 120, and the operational amplifier 688 outputs the signal ZOFF to the signal bus 12
0 to the diode 182 of the circuit 42.

【００６９】以下の状態テーブルは回路６６の動作を説
明するものである。 Ｚ ＺＥＤＧＥ ０ ０ ０〜５ ＋５パルス ＺＥＤＧＥ ＳＴＯＰ（パルス） ＮＯＲ６６０出力 ０ ０ ＲＵＮ ５ ５ ０ ＲＵＮ ０ ０ ５ ＳＴＯＰ ０ ５ ５ ＳＴＯＰ ０ ＮＯＲ660出力 スイッチ678 AND676出力 オペアンプ682 オペアンプ688 ０ 開（５） ０ −１２ ＋１２ ５ 開（５） ０ −１２ ＋１２ ０ 閉（０） ５ ＋１２ −１２ ５ 閉（０） ０ −１２ −１２The following state table describes the operation of the circuit 66. Z ZEDGE 00 0-5 +5 pulse ZEDGE STOP (pulse) NOR660 output 0 0 RUN 5 5 0 RUN 0 0 5 STOP 0 5 5 STOP 0 NOR660 output Switch 678 AND676 output Operational amplifier 682 Operational amplifier 688 0 -12 Open (5) +12 5 Open (5) 0 -12 +12 0 Close (0) 5 +12 -12 5 Close (0) 0 -12 -12

【００７０】プレス１２の作動中、信号Ｚはサイクル内
の選択された位置で出力されるが、上述したように適切
なオフセットを設けることが好ましい。信号Ｚが０Ｖか
ら５Ｖへ立ち上がり、スイッチ６７８が閉じると、５Ｖ
のパルスＺＥＤＧＥが出力され、この結果、約＋１２Ｖ
の信号ＺＳＴＲＯＢＥが出力される。そして、この結
果、回路４２を参照して説明したように、オペアンプ１
７４（第３図）において積分が行われる。信号ＺＥＤＧ
ＥおよびＳＴＯＰが共に０であり、スイッチ６７８が閉
じていると、−１２Ｖの信号ＺＳＴＲＯＢＥおよびＺＯ
ＦＦが回路４２へ送られ、積分を終了させる。During operation of the press 12, the signal Z is output at a selected position in the cycle, preferably with an appropriate offset as described above. When signal Z rises from 0V to 5V and switch 678 closes, 5V
Is output, and as a result, about +12 V
Is output. As a result, as described with reference to the circuit 42, the operational amplifier 1
Integration is performed at 74 (FIG. 3). Signal ZEDG
When E and STOP are both 0 and switch 678 is closed, the -12V signals ZSTROBE and ZO
The FF is sent to the circuit 42 to terminate the integration.

【００７１】プレス１２が停止すると、回路４１からの
信号を０Ｖとすべく、積分器に０信号が入力される。さ
らに詳述すると、信号ＺＥＤＧＥ（ＺＥＤＧＥはレゾル
バ１６の回動から生じる）が発生しないと、カウンタ６
５８は約１０秒以内に信号ＳＴＯＰを出力する。スイッ
チ６７８が閉じていると、オペアンプ６８２は＋１２Ｖ
の信号ＺＳＴＲＯＢＥを出力する。When the press 12 stops, a 0 signal is input to the integrator so that the signal from the circuit 41 is set to 0V. More specifically, when the signal ZEDGE (ZEDGE is generated from the rotation of the resolver 16) is not generated, the counter 6
58 outputs a signal STOP within about 10 seconds. When the switch 678 is closed, the operational amplifier 682 is at + 12V
Is output.

【００７２】スイッチ６７８が開くと、信号ＺＥＤＧＥ
およびＳＴＯＰとは無関係に、信号ＺＳＴＲＯＢＥは約
−１２Ｖ、信号ＺＯＦＦは約＋１２Ｖとなる。従って、
オペアンプ１７４による積分が禁止された以後、コント
ローラ１４は調整され、容量１７６の電圧が０、すなわ
ち、トランジスタ１７８が導通してから以後、オペアン
プ１７４はオフセット電圧を出力しない。When the switch 678 is opened, the signal ZEDGE
And STOP, signal ZSTROBE is about -12V and signal ZOFF is about + 12V. Therefore,
After the integration by the operational amplifier 174 is inhibited, the controller 14 is adjusted, and the operational amplifier 174 does not output the offset voltage after the voltage of the capacitor 176 becomes 0, that is, after the transistor 178 is turned on.

【００７３】第１６図はＲＡＭ７０の構成を、第１７図
はＰＲＯＭ７２の構成を示す。ＲＡＭ７０は３個のＲＡ
Ｍチップ３９６、３９８および４００を有しており、こ
れらのチップは各々１２８ｋ×Ｋ８ビットのチップであ
る。メモリチップ３９６、３９８および４００はＤＳＰ
回路５０に接続されたアドレスバス１０５を介してアド
レス指定される。アドレスバス１０５は１６ビットのア
ドレスバスである。また、メモリチップ３９６、３９８
および４００はデータバス１０４に接続されており、こ
のデータバスはＤＳＰ回路５０に接続されている。ＲＡ
Ｍチップ３９６、３９８および４００はアナログ／デジ
タル変換器４８から出力されるストレインゲージ１８の
歪を表すデータ、レゾルバ／デジタル変換回路５８によ
りレゾルババッファ５６を介し出力されるレゾルバ１６
の絶対変位角（プレス１２の回転位置と関連）を表すデ
ータ、およびＤＳＰ回路５０によりプレス１２の監視制
御ブログラムＰＲＯＧＲＡＭ（後述）を実行すべく使用
されるデータを記億する処理を担っている。特に力を表
すデータおよび絶対変位を表すデータは力／変位信号デ
ータアレイとして記億される。FIG. 16 shows the configuration of the RAM 70, and FIG. 17 shows the configuration of the PROM 72. RAM 70 has three RAs
It has M chips 396, 398 and 400, each of which is a 128k × K8 bit chip. Memory chips 396, 398 and 400 are DSP
It is addressed via an address bus 105 connected to the circuit 50. The address bus 105 is a 16-bit address bus. Also, the memory chips 396, 398
And 400 are connected to a data bus 104, which is connected to the DSP circuit 50. RA
The M chips 396, 398 and 400 output data representing the distortion of the strain gauge 18 output from the analog / digital converter 48, and the resolver 16 output via the resolver buffer 56 by the resolver / digital conversion circuit 58.
And the data used to execute the monitor control program PROGRAM (described later) of the press 12 by the DSP circuit 50. . In particular, data representing force and data representing absolute displacement are stored as a force / displacement signal data array.

【００７４】チップ３９６、３９８および４００のＤ
Ｓ、書き込みＷＲおよび読み出しＯＥの各線はデータバ
ス４１４を介しＤＳＰ回路５０に接続される（第１８図
および第１９図）。ＰＲＯＭ７２は３個のＰＲＯＭチッ
プ４０２、４０４および４０６を有している。これらの
ＰＲＯＭチップ４０２、４０４および４０６は３２ｋ×
８ビットのＰＲＯＭであり、ＤＳＰ回路４０に接続され
たバッファードアドレスバス１０７に接続されている。
また、ＰＲＯＭチップ４０２、４０４および４０６はポ
ートＡデータバス１０４に接続されている。ＰＲＯＭチ
ップ４０２、４０４および４０６はＤＳＰ回路５０によ
り実行されるブログラムＰＲＯＧＲＡＭの記億手段とし
ての機能を担っている。ＰＲＯＭチップ４０２、４０４
および４０６のＰＲＯＭイネーブル線ＰＲＯＭＥはデー
タ線４０５を介しＰＡＬ５に接続されている。D of chips 396, 398 and 400
The S, write WR, and read OE lines are connected to the DSP circuit 50 via the data bus 414 (FIGS. 18 and 19). The PROM 72 has three PROM chips 402, 404 and 406. These PROM chips 402, 404 and 406 are 32k ×
It is an 8-bit PROM, and is connected to a buffered address bus 107 connected to the DSP circuit 40.
The PROM chips 402, 404, and 406 are connected to the port A data bus 104. The PROM chips 402, 404, and 406 have a function as storage means of the program PROGRAM executed by the DSP circuit 50. PROM chips 402, 404
And 406 are connected to PAL5 via data line 405.

【００７５】第１８図および第１９図はＤＳＰ回路５０
を示している。回路５０はデジタル信号プロセッサ４０
８、８ビットアドレスバッファ４１０、８ビットアドレ
スバッファ４１２およびバッファ４１６を有している。
一般に、プロセッサ４０８はデータバス１０４を介しＲ
ＡＭチップ３９６、３９８、４００およびＰＲＯＭチッ
プ４０２、４０４、４０６からのデータをアクセスす
る。プロセッサ４０８は例えばモトローラ製プロセッサ
ＤＳＰ５６００１である。ＲＡＭチップ３９６、３９８
および４００からのデータはプロセッサ４０８によりア
ドレスバス１０５に出力され、ＰＲＯＭチップ４０２、
４０４および４０６からのデータはプロセッサ４０８に
よりバッファードアドレスバス１０７へ出力される。こ
のバッファードアドレスバス１０７はバッファ４１０お
よび４１２を介しアドレスバス１０５に接続されてい
る。バッファ４１０および４１２は、アドレスバス１０
５の負荷容量を減らすべく設けられたバッファであり、
プロセッサ４０８からのアドレスデータを保持する。FIGS. 18 and 19 show the DSP circuit 50.
Is shown. The circuit 50 is a digital signal processor 40
It has an 8-, 8-bit address buffer 410, an 8-bit address buffer 412, and a buffer 416.
Generally, processor 408 transmits R
Access data from the AM chips 396, 398, 400 and the PROM chips 402, 404, 406. The processor 408 is, for example, a Motorola processor DSP56001. RAM chips 396, 398
And 400 are output by the processor 408 to the address bus 105 and the PROM chip 402,
Data from 404 and 406 is output by processor 408 to buffered address bus 107. The buffered address bus 107 is connected to the address bus 105 via buffers 410 and 412. Buffers 410 and 412 are connected to address bus 10
5 is a buffer provided to reduce the load capacity of
The address data from the processor 408 is held.

【００７６】プロセッサ４０８のポートＢは双方向デー
タバス９８を介しバッファ２９２、レジスタ３２８およ
び３４０に接続されている。データバス９８はＤＳＰ回
路５０およびポートＢバッファ５８間のデータ転送を行
う。上述のように、バッファ５８は、多重化回路４６、
レゾルバ／デジタル変換器５４、デジタル入力回路６０
およびデジタル出力回路に接続されている。プロセッサ
４０８はコントロールバス４１４に接続されたコントロ
ールデータポートを有している。コントロールバス４１
４はＲＡＭ７０（第１６図）およびストローブ発生器７
４（第１０図）に接続されている。バス９８はポートＢ
バッファ５８に接続されている。Port B of processor 408 is connected to buffer 292, registers 328 and 340 via bidirectional data bus 98. The data bus 98 performs data transfer between the DSP circuit 50 and the port B buffer 58. As described above, the buffer 58 includes the multiplexing circuit 46,
Resolver / digital converter 54, digital input circuit 60
And a digital output circuit. Processor 408 has a control data port connected to control bus 414. Control bus 41
4 is a RAM 70 (FIG. 16) and a strobe generator 7
4 (FIG. 10). Bus 98 is port B
It is connected to a buffer 58.

【００７７】次の表Ａはコントローラ１４の各要素およ
びそれらに関連した説明を列挙したものである。 [表Ａ] 要素 説 明 ７５ ＰＡＬ ＰＡＬ２２Ｖ１０ １３８ バーブラウン ｌＮＡ−１１０ １４２ 抵抗 １５００ Ω １４４ 抵抗 １５００ Ω １４６ ダイオード ＭＭＤＢ７０００ １４８ ダイオード ＭＭＤＢ７０００ １４９ 容量 １００ ｐｆ １５０ ダイオード ＭＭＤＢ７０００ １５１ 容量 １０００ ｐｆ １５２ ダイオード ＭＭＤＢ７０００ １５４ 容量 ．０１ ｕｐ １５８ オペアンプ ＬＦ３５３ １６０ 抵抗 １０ Ｋ Ω １６２ 容量 １０００ ｐｆ １６４ 抵抗 ２０ Ｋ Ω １６８ 抵抗 １００ Ω １７０ オペアンプ ＬＦ３５３ １７２ １０ Ｋ Ω １７４ オペアンプ ＬＦ３５３ １７６ 容量．１ ｕｆ １７８ トランジスタ ２Ｎ４３９３ １８０ 抵抗 １ Ｍ Ω １８２ ダイオード １Ｎ４１４８ １８４ トランジスタ ２Ｎ４３９３ １８６ 抵抗 １００ Ｋ Ω １８８ ダイオード １Ｎ４１４８ １９０ 抵抗 １ Ｍ Ω １９２ 抵抗 １００ Ｋ Ω １９４ 抵抗 １０ Ｋ Ω １９８ 抵抗 １００ Ω ２０４ オペアンプ ＬＦ３５３ ２０６ 抵抗 ２０ Ｋ Ω ２０８ 容量 １０００ ｐｆ ２１０ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ２１２ 抵抗 ２０ Ｋ Ω ２１４ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ２１６ 容量 １０００ ｐｆ ２２２ マルチプレクサ（多重化回路） ＡＤＧ５０８Ａ ２３６ ポテンショメータ １０００ Ω ２３８ 抵抗 １００ Ｋ Ω ２４０ オペアンプ ＬＦ３５３ ２４２ Ａ／Ｄ（アナログ／デジタル） ＡＤＳ７８００ ２４４ 容量 ４７ ｕｆ ２４８ 抵抗 １５００ Ω ２５０ 容量 ２２ ｐｆ ２５２ Ｒ／Ｄ（レゾルバ／デジタル） ２Ｓ８２ＨＰ ２５４ 抵抗 ２２ Ω ２５６ 抵抗 ２２ Ω ２５８ 抵抗 ５６ Ｋ Ωｓ ２６０ 容量 １０００ ｐｆ ２６２ 容量 １０００ ｐｆ ２６４ 抵抗 ５６ Ｋ Ωｓ ２６６ 抵抗 ５１０ Ｋ Ωｓ ２６８ 容量 １０００ ｐｆ ２７０ 抵抗 ｌ Ｍ Ωｓ ２７２ 容量 １００ ｐｆ ２７４ 抵抗 ５１０ Ｋ Ωｓ ２７６ 容量 ４７０ ｐｆ ２７８ 抵抗 ６８ Ωｓ ２８０ ジャンパ ２８２ ジャンパ ２８４ ダイオード １Ｎ４１４８ ２８６ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ２８８ ダイオード １Ｎ４１４８ ２９０ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ２９２ バッファ ＨＣ５４１ ２９４ バッフア ＨＣ５４１ ２９６ バッファ ＨＣ５４１ ３０２ 光アイソレータ ＭＯＣ２２３ ３０４ 抵抗 ３３００ Ωｓ ３０６ 抵抗 ３３００ Ωｓ ３０８ ダイオード １Ｎ４１４８ ３１０ 容量 ．１ｕｆ ３１２ 光アイソレータ ＭＯＣ２２３ ３１４ 光アイソレータ ＭＯＣ２２３ ３１６ 抵抗 １０ Ｋ Ω ３１８ インバータ ＨＣ１４ ３２８ Ｒｅｇｉｓｔｅｒ ＨＣ５７４ ３３０ 光アイソレータ ＭＯＣ２２３ ３３２ 抵抗 ３３０ Ω ３３４ 光アイソレータ ＭＯＣ２２３ ３３６ 光アイソレータ ＭＯＣ２２３ ３３８ ダイオード １Ｎ４１４８ ３４０ レジスタ ＨＣ５７４ ３４２ インバータ ＨＣ１４ ３４４ ダイオード ｌＮ ４１４８ ３４６ 容量 ２２ ｐｆ ３４８ 抵抗 １ Ｍ Ω ３５０ インバータ ＨＣ１４ ３５２ ダイオード ｌＮ ４１４８ ３５４ 容量 １０００ ｐｆ ３５６ 抵抗 １ Ｍ Ω ３５８ インバータ ＨＣ１４ ３６０ インバータ ＨＣ１４ ３６２ ダイオード １Ｎ４１４８ ３６４ インバータ ＨＣ１４ ３６６ 抵抗 １５００ Ω ３６８ 容量 ．１ｕｆ ３７０ 抵抗 ５１０ Ｋ Ω ３７２ トランジスタ ＭＭＢＴ２２２２Ｌ ３７４ 抵抗 １０ Ｋ Ω ３７６ ＬＥＤ ３７８ 抵抗 １６０ Ω ３８０ トランジスタ ＭＭＢＴ２２２２Ｌ ３８２ 抵抗 １０ Ｋ Ω ３８４ ＬＥＤ ３８６ 抵抗 １６０ Ω ３８８ ＬＥＤ ３９０ トランジスタ ＭＭＢＴ２２２２Ｌ ３９２ 抵抗 １０ Ｋ Ω ３９４ 抵抗 １６０ Ω ３９６ ＲＡＭ ＭＣ６２２６ ３９８ ＲＡＭ ＭＣ６２２６ ４００ ＲＡＭ ＭＣ６２２６ ４０２ ＰＲＯＭ ２７Ｃ２５６ ４０４ ＰＲＯＭ ２７Ｃ２５６ ４０６ ＰＲＯＭ ２７Ｃ２５６ ４０８ ＤＳＰ ５６００１ ４１０ バッファ ＨＣ５４１ ４１２ バッファ ＨＣ５４１ ４１６ バッファ ＨＣ２４１ ６５０ インバータ ＨＣ０４ ６５２ 容量 ．１ｕｆ ６５４ 抵抗 ３３００ Ωｓ ６５６ インバータ ＨＣ０４ ６５８ カウンタ ＨＣ４０４０ ６６０ ＮＯＲ ＨＣ０２ ６６２ ダイオード ＩＮ４１４８ ６６４ インバータ ＨＣ０４ ６６６ 抵抗 １ Ｍ Ωｓ ６６８ 抵抗 ５１０ Ｋ Ωｓ ６７０ インバータ ＨＣ０４ ６７２ 容量 ．１ｕｆ ６７４ インバータ ＨＣ０４ ６７６ ＮＯＲ ＨＣ０２ ６７８ スイッチ ＳＰＳＴ ６８０ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ６８２ オペアンプ ＬＦ３５３ ６８４ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ６８６ 抵抗 １０ Ｋ Ωｓ ６８８ オぺアンプ ＬＦ３５３Table A below lists each element of the controller 14 and its associated description. [Table A] Element Description 75 PAL PAL22V10 138 Burr-Brown lNA-110 142 Resistance 1500 Ω 144 Resistance 1500 Ω 146 Diode MMDB7000 148 Diode MMDB7000 149 Capacity 100 pf 150 Diode MMDB7000 151 Capacitance 1500 000 1000 POD 01 up 158 operational amplifier LF353 160 resistance 10 KΩ 162 capacitance 1000 pf 164 resistance 20 KΩ 168 resistance 100 Ω 170 operational amplifier LF353 172 10 KΩ 174 operational amplifier LF353 176 capacitance. 1 uf 178 Transistor 2N4393 180 Resistance 1 MΩ 182 Diode 1N4148 184 Transistor 2N4393 186 Resistance 100 KΩ 188 Diode 1N4148 190 Resistance 1 MΩ 192 Resistance 100 KΩ 194 Ω Resistor 10 KΩ Ω Resistor 10 KΩ Ω 208 Capacity 1000 pf 210 Resistance 10 KΩs 212 Resistance 20 KΩ 214 Resistance 10 KΩs 216 Capacity 1000 pf 222 Multiplexer (Multiplexing circuit) ADG508A 236 Potentiometer 1000 Ω 238 Resistance 100 KΩ 240 Operational amplifier LFA3D / Digital) ADS7800 244 Capacity 47 uf 248 Resistance 1500 Ω 250 Capacity 22 pf 252 R / D (Resolver / Digital) 2S82HP 254 Resistance 22 Ω 256 Resistance 22 Ω 258 Resistance 56 KΩs 260 Capacity 1000 pf 262 Capacity 1000 pf 264 Resistance 56 KΩs 266 Resistance 510 KΩs 268 Capacity 1000 pf 2700 Ω 272 Capacitance 100 pf 274 Resistance 510 KΩs 276 Capacity 470 pf 278 Resistance 68 Ωs 280 Jumper 282 Jumper 284 Diode 1N4148 286 Resistance 10 KΩs 288 Diode 1N4148 290 Resistance 10K Ω 1 buffer 2K1 buffer buffer buffer 304 resistance 3300 Ωs 306 resistance 3300 Ωs 308 diode 1N4148 3 10 capacity. 1uf 312 Optical isolator MOC223 314 Optical isolator MOC223 316 Resistor 10 KΩ 318 Inverter HC14 328 Register HC574 330 Optical isolator MOC223 332 Resistance 330 Ω 334 Optical isolator MOC223 336 Optical isolator MOC3 423 OA3 Capacity 22 pf 348 Resistance 1 MΩ 350 Inverter HC14 352 Diode 1N 4148 354 Capacity 1000 pf 356 Resistance 1 MΩ 358 Inverter HC14 360 Inverter HC14 362 Diode 1N4148 364 Inverter HC14 365 Ω Resistance 500 Amount. 1uf 370 Resistance 510 KΩ 372 Transistor MMBT2222L 374 Resistance 10 KΩ 376 LED 378 Resistance 160 Ω 380 Transistor MMBT2222L 382 Resistance 10 KΩ 384 LED 386 Resistance 160 Ω 380 KM 390 LED 390 380 MM MC6226 398 RAM MC6226 400 RAM MC6226 402 PROM 27C256 404 PROM 27C256 406 PROM 27C256 408 DSP 56001 410 Buffer HC541 412 Buffer HC541 416 Buffer HC241 650 Inverter HC04 652 Capacity 1uf 654 Resistance 3300 Ωs 656 Inverter HC04 658 Counter HC4040 660 NOR HC02 662 Diode IN4148 664 Inverter HC04 666 Resistance 1 MΩs 668 Resistance 510 KΩs 670 Inverter HC04 672 Capacity. 1uf 674 Inverter HC04 676 NOR HC02 678 Switch SPST 680 Resistance 10 KΩs 682 Operational amplifier LF353 684 Resistance 10 KΩs 686 Resistance 10 KΩs 688 Operational amplifier LF353

【００７８】監視制御ブログラムについて 第２０図〜第２３図を参照し監視制御プログラムＰＲＯ
ＧＲＡＭについて説明する。一般に監視制御プログラム
ＰＲＯＧＲＡＭはコントローラ１４が４種類の主機能を
果すのを可能にする。第１の機能は処理装置、例えば
１，０００サイクル／分を超える速度で作動し得るプレ
ス１２を監視制御することである。第２の機能はハイバ
ンドデータアレイおよびローバンドデータアレイを定義
することである。第３の機能はハイおよびロー境界デー
タアレイを定義することであり、２次元の偏差または誤
差（例えば力（歪）および変位の偏差または誤差）はこ
れらのアレイの定義により考慮される。従来技術による
プレスは力の測定結果の偏差または誤差（１次元の偏
差）のみを考慮していた。第４の機能はハイおよびロー
の警告アレイ、ハイおよびローの故障アレイといったコ
ントロールアレイを定義することである。ブログラムＰ
ＲＯＧＲＡＭを構成するコードはAppendix Aに含まれて
いる。Monitoring Control Program Referring to FIGS. 20 to 23, a monitoring control program PRO will be described.
The GRAM will be described. In general, the supervisory control program PROGRAM allows the controller 14 to perform four main functions. The first function is to monitor and control the processing equipment, for example, the press 12, which can operate at speeds exceeding 1,000 cycles / minute. The second function is to define a high band data array and a low band data array. A third function is to define high and low boundary data arrays, where two-dimensional deviations or errors (eg, force (strain) and displacement deviations or errors) are taken into account by these array definitions. Prior art presses only account for deviations or errors (one-dimensional deviations) in force measurement results. The fourth function is to define control arrays such as high and low warning arrays, high and low fault arrays. Program P
The code that makes up the ROGRAM is contained in Appendix A.

【００７９】第２０図はプレス１２の監視制御を行うべ
くプロセスコントローラ１４により実行されるメインス
テップを示すフローテャートである。ＤＳＰ回路５０に
おけるレゾルバ割込みＩＲＱＡ，ｌＲＱＢの発生により
（ステップ５００）、ＤＳＰ回路５０はレゾルババッフ
ァ５６のサンプリングを行い、レゾルバ１６の絶対位置
を求める（ステップ５０２）。FIG. 20 is a flowchart showing the main steps executed by the process controller 14 to monitor and control the press 12. Upon occurrence of the resolver interrupts IRQA and IRQB in the DSP circuit 50 (step 500), the DSP circuit 50 samples the resolver buffer 56 to determine the absolute position of the resolver 16 (step 502).

【００８０】ステップ５０４では、ＤＳＰ回路５０はレ
ゾルバ１６の位置を、ＲＡＭ７０またはＰＲＯＭ７２に
記億されたオフセットゼロ位置に対応する位置と比較す
る。レゾルバ１６の位置と記億されたオフセットゼロ位
置とが一致する場合、ＤＳＰ回路５０はオフセット修正
信号をポートＢバッファ５８へ出力し、ポートＢバッフ
ァ５８は該信号をオフセット修正駆動回路６４へ出力す
る。回路６４は、上述のように該信号のデュレーション
を増加させ、オフセット修正制御回路６６へ出力する。
回路６６は、オフセット修正信号を計測用増幅器および
自動ゼロ回路４２に出力し、この結果、回路４２はゼロ
クリアされる（ステップ５０６）。In step 504, the DSP circuit 50 compares the position of the resolver 16 with the position corresponding to the offset zero position stored in the RAM 70 or the PROM 72. When the position of the resolver 16 matches the stored offset zero position, the DSP circuit 50 outputs an offset correction signal to the port B buffer 58, and the port B buffer 58 outputs the signal to the offset correction drive circuit 64. . The circuit 64 increases the duration of the signal as described above and outputs the signal to the offset correction control circuit 66.
The circuit 66 outputs the offset correction signal to the measuring amplifier and the automatic zero circuit 42, and as a result, the circuit 42 is cleared to zero (step 506).

【００８１】現在のレゾルバ１６の位置がオフセットゼ
ロ位置と一致していない場合、ＤＳＰ回路５０は現在の
レゾルバ１６の位置を既にサンプルされたレゾルバ１６
の位置の最大位置（最も進んだ位置）と比較する。仮に
現在位置が既にサンプルされた最大のレゾルバ１６の位
置よりも大きいとすると、ステップ５１０において反転
フラグがセットされる。If the current position of the resolver 16 does not match the offset zero position, the DSP circuit 50 determines the current position of the resolver 16 by using the already sampled resolver 16.
Is compared with the maximum position (the most advanced position). If the current position is greater than the position of the largest resolver 16 already sampled, then at step 510 an inversion flag is set.

【００８２】ステップ５０８および必要に応じステップ
５１０の実行に続き、レゾルバ１６の現在位置がＤＳＰ
回路５０によってチェックされ、現在位置がデータ獲得
位置であるか否かが決定される（ステップ５１２）。Ｄ
ＳＰ回路５０がデータ獲得位置のアレイを使用し現在位
置がデータ獲得位置か否かを判定し得るように、データ
獲得位置の基準アレイはＲＡＭ７０またはＰＲＯＭ７２
に記億させてもよい。上述したように、レゾルバ／デジ
タル変換器２５２は、レソルバ１６の分解能として、１
０、１２、１４または１６ビットの分解能を提供するも
のである。そして、必要に応じ、０．１７６度、０．０
１１度または０．００３度毎にデータ獲得が行われる。Following execution of step 508 and optionally step 510, the current position of resolver 16 is
A check is made by circuit 50 to determine whether the current location is a data acquisition location (step 512). D
The reference array of data acquisition locations is either RAM 70 or PROM 72 so that SP circuit 50 can use the array of data acquisition locations to determine whether the current location is a data acquisition location.
May be stored. As described above, the resolver / digital converter 252 sets the resolution of the resolver 16 to 1
It provides 0, 12, 14 or 16 bits of resolution. Then, if necessary, 0.176 degrees, 0.0
Data acquisition is performed every 11 or 0.003 degrees.

【００８３】従って、データ獲得位置のアレイデータ
は、プレスサイクル内のデータ獲得にとって重要な位置
に基づき、コントローラ１４のユーザによって構成され
る。例えば、第１図に示されたようなプレスにおいて、
データ獲得位置のアレイは、ツール３１が被加工物３１
に係合しない場合の被加工物３１の位置に対応したレゾ
ルバ１６の位置について、比較的少数のデータ獲得位置
がアレイに格納されるように、用意される。しかしなが
ら、ツール３１が被加工物３１に係合し、ツール３１が
非常にゆっくりと動いている場合の被加工物３１の位置
に対応したレゾルバ１６の位置については、データ獲得
位置のアレイにおけるデータ獲得位置の数は実効的に増
加することがある。この増加は、ツール３１が被加工物
４０と係合する比較的小さく、しかし、重要な区間にお
いて、非常に多くの力（歪）のサンプルを生成せしめる
こととなる。勿論、プロセスコントローラ１４によって
監視制御されるプレスのタイプにより、データ獲得位置
データアレイは、特定のプレス、プレス速度、プレス処
理についての最適な力（歪）のサンプリングが行われる
ように変更してよい。Thus, the array data at the data acquisition location is configured by the user of the controller 14 based on the locations important for data acquisition within the press cycle. For example, in a press as shown in FIG.
The array of data acquisition positions is such that the tool 31
With respect to the position of the resolver 16 corresponding to the position of the workpiece 31 in the case where it does not engage with, a relatively small number of data acquisition positions are prepared so as to be stored in the array. However, for the position of the resolver 16 corresponding to the position of the workpiece 31 when the tool 31 is engaged with the workpiece 31 and the tool 31 is moving very slowly, the data acquisition in the array of data acquisition positions The number of locations may effectively increase. This increase results in a relatively large sample of force (strain) in the relatively small, but important, sections where the tool 31 engages the workpiece 40. Of course, depending on the type of press monitored and controlled by the process controller 14, the data acquisition position data array may be modified to provide optimal force (strain) sampling for a particular press, press speed, and press process. .

【００８４】レゾルバ１６の現在位置がデータ獲得位置
でない場合、ＤＳＰ回路５０はステソブ５００に戻る。
レゾルバ１６の現在位置がデータ獲得位置である場合、
ＤＳＰ回路５０はレゾルバ／デジタル変換器がポートＢ
バッファ５８からセットされる分解能を読み出す（ステ
ップ５１４）。If the current position of the resolver 16 is not the data acquisition position, the DSP circuit 50 returns to the step 500.
When the current position of the resolver 16 is the data acquisition position,
In the DSP circuit 50, the resolver / digital converter is port B
The set resolution is read from the buffer 58 (step 514).

【００８５】ステップ５１６では、ＤＳＰ回路５０は反
転フラグがセットされているか否かを判定し、データ獲
得モードが順方向のデータ獲得に限定されるか否かを決
定する。プロセスコントローラ１４のユーザは、プレス
ツールの順方向の動きの期問のみにデータ獲得を行うべ
く、ストレインゲージ１８等の力センサからのデータ獲
得を制限するオプションを有している。上述したよう
に、ツールが前方の位置に動くときのみ力のサンプリン
グ（データ獲得）が行われる場合に、プレスの監視は向
上する。さらに詳述すると、水圧式プレスまたはクラン
クシャフトにより駆動されるプレスといったプレスにお
いて、プレスおよびツールを駆動する機構の弾性に起因
しツールの位置が逆戻りする場合、コントローラ１４に
望まれない警告またはプレスの遮断を生じさせるスプリ
アス力が発生される。例えばプレスの反動が、パンチす
べき部材を打抜きツールが打抜く打抜き処理の期間に起
こり得る。反転フラグがセットされ、データ獲得がプレ
スツール３１の順方向の動きに制限されている場合、Ｄ
ＳＰ回路５０の処理はステップ５００に戻る。反転フラ
グがセットされておらず、データ獲得がプレスツール３
１の順方向の動きに制限されていない場合、ＤＳＰ回路
５０は多重化回路４６における１つのチャネルを選択す
る（ステップ５１８）。At step 516, the DSP circuit 50 determines whether or not the inversion flag has been set, and determines whether or not the data acquisition mode is limited to forward data acquisition. The user of the process controller 14 has an option to limit data acquisition from force sensors such as strain gauges 18 so that data acquisition is only performed during the forward motion of the press tool. As noted above, press monitoring is improved if force sampling (data acquisition) is only performed when the tool moves to a forward position. More specifically, in presses such as hydraulic presses or presses driven by crankshafts, if the position of the tool reverses due to the elasticity of the press and the mechanism driving the tool, an unwanted warning or press A spurious force that causes a break is generated. For example, a recoil of the press can occur during a punching process in which a punching tool punches a member to be punched. If the inversion flag is set and data acquisition is restricted to forward movement of the press tool 31, D
The process of the SP circuit 50 returns to Step 500. The reversal flag is not set and data acquisition is performed by Press Tool 3.
If not, the DSP circuit 50 selects one channel in the multiplexing circuit 46 (step 518).

【００８６】多重化回路４６におけるチャネルの選択に
続き、ＤＳＰ回路５０は、選択されたチャネルに対応し
たストレインゲージ１８の力（歪）を表すデジタル値を
サンプルする（ステップ５２０）。ステップ５２２で
は、ＤＳＰ回路５０は現在の信号アレイにサンプルを格
納し、ステップ５２０においてサンプルしたデジタル値
をレゾルバ１６から得られる現在位置に関連した適切な
コントロールデータアレイ（ハイおよびローの警告およ
び故障限界値アレイ）と比較する。現在の信号アレイは
ＦｌＦＯメモリとして構成されたＲＡＭ７０のある位置
にアレイとして、あるいはＲＡＭ７０に値の組として格
納される。サンプルが警告限界値から外れている場合、
ＤＳＰ回路５０はデジタル出力回路６２におけるデジタ
ル出力をポートＢバッファを介して操作し、この結果、
ＬＥＤの点灯等の警告表示が行われる。Following the channel selection in the multiplexing circuit 46, the DSP circuit 50 samples a digital value representing the force (strain) of the strain gauge 18 corresponding to the selected channel (step 520). In step 522, the DSP circuit 50 stores the samples in the current signal array and converts the sampled digital values in step 520 to the appropriate control data array (high and low warning and fault limits) associated with the current position obtained from the resolver 16. Value array). The current signal array is stored as an array at a location in RAM 70 configured as FlFO memory, or as a set of values in RAM 70. If the sample is outside the warning limits,
The DSP circuit 50 operates the digital output of the digital output circuit 62 via the port B buffer, and as a result,
A warning display such as lighting of an LED is performed.

【００８７】サンプル値がハイおよびローの故障限界値
を外れている場合、ＤＳＰ回路５０はデジタル出力回路
６２の適切なデジタル出力を操作し、この結果、リレー
または他のスイッチが駆動されてプレス１２が遮断され
る。例えばサンプル値がハイまたはローの警告または故
障限界値から外れている場合、デジタル出力回路６２の
出力がＤＳＰ回路５０によって操作されることにより、
ステップ５２０におけるサンプルが行われるときに制御
された製品を除去すべく製品除去装置が起動される。勿
論、デジタル出力回路６２の複数の出力信号（制御信
号）を使用し、ステップ５２０におけるサンプル値がハ
イおよびローの警告および故障限界値から外れるのに応
答し広範囲の出力動作を行うこともできる。If the sampled values are outside the high and low fault limits, the DSP circuit 50 operates the appropriate digital output of the digital output circuit 62 so that a relay or other switch is activated to cause the press 12 to operate. Is shut off. For example, if the sampled value deviates from a high or low warning or failure limit, the output of the digital output circuit 62 is manipulated by the DSP circuit 50 to provide:
The product removal device is activated to remove the controlled product when the sample in step 520 is taken. Of course, a plurality of output signals (control signals) of the digital output circuit 62 may be used to perform a wide range of output operations in response to the sample values in step 520 deviating from high and low warning and failure thresholds.

【００８８】ステップ５２４では、多重化回路４６の全
てのチャネルが選択され、全てのストレインゲージ１８
の力（歪）を示すデジタル値のサンプルが行われたか否
かが判断される。全てのチャネルのサンプリングが終了
していない場合、ステップ５１８に戻り、チャネルが設
定され、ステップ５２０および５２２が再び実行され
る。上述したように、多重化回路４６において選択され
るチャネルの数はプレスコントローラ１４によって監視
されるストレインゲージ１８または他の圧力、力または
ストレイン検出装置の数に依存する。全てのチャネルの
サンプリングが終了した場合、ステップ５２６から戻
り、ＤＳＰ回路５０は他のレゾルバ割込みを待つ（ステ
ップ５００）。At step 524, all the channels of the multiplexing circuit 46 are selected and all the strain gauges 18 are selected.
It is determined whether or not a sample of a digital value indicating the force (strain) is performed. If sampling has not been completed for all channels, the process returns to step 518, the channel is set, and steps 520 and 522 are executed again. As mentioned above, the number of channels selected in the multiplexing circuit 46 depends on the number of strain gauges 18 or other pressure, force or strain sensing devices monitored by the press controller 14. When sampling of all channels is completed, the process returns from step 526 and the DSP circuit 50 waits for another resolver interrupt (step 500).

【００８９】ＤＳＰ回路５０がレゾルバ割込みを待機し
ている期間、デジタル入力回路６０のサンプリングが行
われる。デジタル入力回路６０の入力の１つは、データ
獲得位置のアレイに格納された全てのレゾルバ１６の位
置に関連したハイおよびローの警告限界値とハイおよび
ローの故障限界値を含むデータアレイの一部であり、ハ
イおよびローの警告および故障限界値（コントロールデ
ータアレイ）の演算と関連した入力キーである場合があ
る。While the DSP circuit 50 is waiting for a resolver interrupt, sampling of the digital input circuit 60 is performed. One of the inputs of the digital input circuit 60 is one of a data array containing high and low warning limits and high and low fault limits associated with all resolver 16 locations stored in the data acquisition location array. Part, and may be input keys associated with the operation of high and low warning and failure thresholds (control data array).

【００９０】第２１図はハイおよびローの警告および故
障限界値アレイを作成すべくＤＳＰ回路５０により実行
されるステップを示している。ステップＳ５２８では、
ＤＳＰ回路５０はポートＢバッファ５８のバッファ２９
２のサンプリングを行い、限界アレイ演算キーが押下さ
れたか否かを判定する。同キーが押下された場合、プレ
スサイクルを完了するための信号アレイが準備されたか
否かが判定される。さらに詳述すると、ＤＳＰ回路５０
はＲＡＭ７０内の現在の信号アレイがデータ獲得位置の
アレイの全ての位置についての力（歪）デークを含んで
いるか否かを判定する。FIG. 21 illustrates the steps performed by the DSP circuit 50 to create the high and low warning and fault limit arrays. In step S528,
The DSP circuit 50 is connected to the buffer 29 of the port B buffer 58.
2 is performed, and it is determined whether or not the limit array operation key has been pressed. When the key is pressed, it is determined whether or not a signal array for completing the press cycle is prepared. More specifically, the DSP circuit 50
Determines whether the current signal array in RAM 70 contains force (strain) data for all locations in the array of data acquisition locations.

【００９１】完全な信号アレイが準備されていない場
合、ＤＳＰ回路５０は限界アレイ決定ルーチンの実行を
中断する（ステップ５３１）。完全な信号アレイが完成
すると、信号アレイが限界アレイの演算のため最初にサ
ンプルされた信号アレイであるか否かが判定される（ス
テップ５３２）。信号アレイが最初にサンプルされた信
号アレイである場合、この信号アレイはＲＡＭ７０内の
ハイバンドアレイおよびローバンドアレイに格納され
る。If the complete signal array has not been prepared, the DSP circuit 50 interrupts the execution of the limit array determination routine (step 531). Upon completion of the complete signal array, it is determined whether the signal array is the first sampled signal array to compute the limit array (step 532). If the signal array is the first sampled signal array, the signal array is stored in the high band array and the low band array in RAM 70.

【００９２】ステップ５３５では、後続の各信号アレイ
の各値が、信号アレイのデータと同位置に関連した、ハ
イバンドアレイおよびローバンドアレイ内のデータと比
較される。信号アレイのデータが対応するハイバンドア
レイのデータよりも大きい場合、当該ハイバンドアレイ
のデータは信号アレイのデータによって置き換えられ
る。また、信号アレイのデータが対応するローバンドア
レイのデータよりも小さい場合、当該ローバンドアレイ
のデータは信号アレイのデータによって置き換えられ
る。信号アレイのデータが対応するハイバンドアレイお
よびローバンドアレイの各データの間にある場合には何
の処理も行われない。In step 535, each value in each subsequent signal array is compared with data in the high band array and the low band array associated with the same location as the data in the signal array. If the data in the signal array is larger than the data in the corresponding high band array, the data in the high band array is replaced by the data in the signal array. If the data in the signal array is smaller than the corresponding data in the low band array, the data in the low band array is replaced by the data in the signal array. If the data of the signal array is between the corresponding data of the high band array and the data of the low band array, no processing is performed.

【００９３】ステップ５３６では、サンプルカウンタが
１だけ減算される。限界アレイを求めるのに使用する信
号アレイの数はユーザがセット可能であり、また、変更
も可能である。サンプルカウンタはＲＡＭ７０内に設定
され、ＰＲＯＭ７２に格納されたデフォルト値を有す
る。例えば、コントローラ１４のユーザがＪ個の信号ア
レイを用いて、コントローラ１４によるプレス１２の適
切な監視制御をもたらす限界アレイの決定を行うことと
決定したとする。すると、この数Ｊはサンプルカウンタ
に設定される。ステップ５３８では、サンプルカウンタ
が読み出される。サンプルカウンタが減算されて０にな
ると、限界アレイ演算ルーチンが実行される（第２２
図、ステップ５４０）。サンプルカウンタが０に減少し
ていない場合、限界アレイ演算ルーチンは終了する（ス
テソブ５３１）。In step 536, the sample counter is decremented by one. The number of signal arrays used to determine the limit array can be set by the user and can be changed. The sample counter is set in the RAM 70 and has a default value stored in the PROM 72. For example, suppose that the user of controller 14 decides to use J signal arrays to determine a limit array that will result in proper monitoring and control of press 12 by controller 14. Then, this number J is set in the sample counter. At step 538, the sample counter is read. When the sample counter is decremented to 0, a limit array calculation routine is executed (the 22nd limit).
FIG. 540). If the sample counter has not decreased to zero, the limit array calculation routine ends (Step Sob 531).

【００９４】第２３図には、５個の信号アレイ（Ｊ＝
５）がグラフにプロットされており、１個のストレイン
ゲージ１８の各値がレゾルバ１６の位置に関連してプロ
ットされている（勿論、実際、各信号アレイは各位置に
ついて２個のストレインゲージの値を有している。しか
し、簡単のため、１個のストレインゲージの値のみが各
信号アレイの各位置について示されている。）。ステッ
プ５３５の実行の結果、エンベローブが生成され、エン
ベロープの境界がハイバンドアレイ６００およびローバ
ンドアレイ６０２によって表されている。さらに詳述す
ると、ハイバンドアレイ６００は５個の信号アレイの最
大値のすべてと、７個の信号アレイの最小値のすべてを
含んでいる。FIG. 23 shows five signal arrays (J =
5) is plotted on a graph, and each value of one strain gauge 18 is plotted in relation to the position of the resolver 16 (in fact, each signal array actually has two strain gauges for each position). However, for simplicity, only one strain gauge value is shown for each position in each signal array.) Execution of step 535 results in the generation of an envelope, with the envelope boundaries represented by high band array 600 and low band array 602. More specifically, high band array 600 includes all of the maximums of the five signal arrays and all of the minimums of the seven signal arrays.

【００９５】再びステップ５４０を説明すると、第２２
図は限界アレイ演算ルーチンにおいて実行されるステッ
プを示している。上述したように、ＤＳＰ回路５０は、
ステップ２０（第２０図）においてサンオルしたデジタ
ル値を、ハイおよびローの警告および故障限界値のアレ
イの形式を採り得る適切なコントロール（限界）データ
アレイ内の値と比較する。勿論、用途により、コントロ
ーラ１４が適切な監視制御を行い得るように、いかなる
数の限界値アレイも選択される可能性がある。例えば、
ハイおよびローの警告、故障および差迫った問題のアレ
イを準備し、差迫った問題のアレイから外れるデジタル
値により、ＤＳＰ回路５０が差迫った問題を示す信号を
デジタル出力回路６２に接続されたＬＥＤまたは他の表
示器へ供給するようにしてもよい。Step 540 will be described again.
The figure shows the steps performed in the limit array calculation routine. As described above, the DSP circuit 50
The digital values sampled in step 20 (FIG. 20) are compared to the values in an appropriate control (limit) data array, which may take the form of an array of high and low warning and failure thresholds. Of course, depending on the application, any number of limit value arrays may be selected so that the controller 14 can provide appropriate supervisory control. For example,
An array of high and low alerts, faults and impending problems was prepared, and a digital value deviating from the impending problem array caused the DSP circuit 50 to connect a signal indicative of the impending problem to the digital output circuit 62. It may be supplied to an LED or other display.

【００９６】ハイおよびローの警告および故障のアレイ
は、ステップ５４２において演算されたハイおよびロー
の限界値アレイに基づいて演算される。限界値アレイの
演算はプレス１２の監視において生じる２次元偏差を考
慮している。さらに詳述すると、これまでのプレスの監
視制御は、監視されているプレスの力のサンプリングの
範囲での偏差または誤差のみを考慮していた。コントロ
ーラ１４は、レゾルパ１６の位置のサンプリングにおい
て生じる偏差および誤差をも考慮した２次元の偏差の補
償を行うものである。The high and low warning and fault arrays are computed based on the high and low limit value arrays computed in step 542. The calculation of the limit value array takes into account the two-dimensional deviations that occur in the monitoring of the press 12. More specifically, press monitoring control so far has considered only deviations or errors in the range of sampling of the force of the press being monitored. The controller 14 compensates for a two-dimensional deviation in consideration of a deviation and an error generated in sampling the position of the resolver 16.

【００９７】第２３図において、ハイおよびローの限界
値アレイは、ハイバンドおよびローバンドのデータアレ
イに基づいて作成される。さらに詳述すると、ハイ限界
値アレイを演算するため、ハイバンドデータアレイ内の
各特定位置についての歪値が、当該特定位置の前のＭ個
の位置についての歪値および当該特定位置の後のＫ個の
位置についての歪値と共に読み出される。特定位置につ
いてハイの限界値アレイに書き込まれる値は、Ｍ＋Ｋサ
ンプルの窓内の各位置のうち特定位置において生じる最
も高い歪値である。窓の幅は、ＰＲＯＭ７２内にデフォ
ルト値として格納されている。ローの限界値アレイはハ
イの限界値アレイと同様の仕方で生成される。さらに詳
述すると、特定位置の周囲を占める位置窓内に生じる全
ての歪値がローバンドデータアレイから読み出され、こ
れらの値のうち最小のものが特定位置についてロー限界
値アレイに格納される。再び第２３図を参照し、ポイン
ト６０４〜６０６はＮ番目の位置についての限界値アレ
イに格納された歪値である。In FIG. 23, the high and low limit value arrays are created based on the high band and low band data arrays. More specifically, in order to calculate the high limit value array, the distortion value for each specific position in the high band data array includes the distortion value for the M positions before the specific position and the distortion value for the M positions before the specific position. It is read out together with the distortion values for the K positions. The value written to the high limit array for a particular location is the highest distortion value that occurs at that particular location among each location within the window of M + K samples. The width of the window is stored in the PROM 72 as a default value. The low limit array is generated in a manner similar to the high limit array. More specifically, all distortion values that occur within a position window occupying the perimeter of a particular location are read from the low band data array, and the smallest of these values is stored in the row limit array for the particular location. Referring again to FIG. 23, points 604-606 are the distortion values stored in the limit value array for the Nth position.

【００９８】ステップ５４４では、ハイおよびローの警
告および故障のアレイが演算される。特にハイ限界値ア
レイに現れる各歪値、ハイ警告アレイおよびハイ故障ア
レイは、限界値アレイ内の各位置についての歪値に警告
および故障のオフセット値を加算することにより作成さ
れる。ローの警告および故障のアレイを作成するため、
ローの警告および故障のアレイの記憶の前に、限界値ア
レイ内の各位置についての歪値がローの警告および故障
のオフセット値により縮小される。そして、Ｎ個の位置
について、歪値６０８がハイ警告アレイに格納され、歪
値６１０がハイ故障アレイに格納され、歪値６１２がロ
ー警告アレイに格納され、歪値６１４がロー故障アレイ
に格納される。In step 544, an array of high and low warning and faults is computed. In particular, each distortion value, high warning array, and high fault array that appears in the high threshold array is created by adding the warning and fault offset values to the distortion values for each location in the threshold array. To create an array of row warnings and faults,
Prior to storage of the row warning and fault array, the distortion value for each location in the limit value array is reduced by the row warning and fault offset value. Then, for N locations, the distortion value 608 is stored in the high warning array, the distortion value 610 is stored in the high fault array, the distortion value 612 is stored in the low warning array, and the distortion value 614 is stored in the low fault array. Is done.

【００９９】ハイ故障オフセット値、ハイ警告オフセッ
ト値、ロー警告オフセット値およびロー故障オフセット
値はＰＲＯＭ７２内にデフォルト値を格納しておいても
よく、用途に応じた態様に変形してもよい。また、これ
らの値は、全てが異なった値をどるように、相互に独立
に構成してもよい。以上が終了することを以て限界値ア
レイの演算が終了する（ステップ５４６）。The high fault offset value, the high warning offset value, the low warning offset value, and the low fault offset value may be stored in the PROM 72 as default values, or may be modified in a manner depending on the application. Further, these values may be configured independently of each other so that all values return different values. Completion of the above ends the calculation of the limit value array (step 546).

【０１００】上記説明は本発明の好適な態様の例示であ
り、本発明は特定の態様に限定されるものではない。例
えば、ハードウェアおよびソフトウェアの発展により、
コントローラ１４の速度を高めるべくソフトウェアの様
々な部分がハードウェアロジックに置き換えられ、逆に
あるハードウェアの機能が適切にプログラムされたハー
ドウェアによって発揮されることも有り得る。さらに、
プレス内の力は、プレスの部材を歪ませるのに関与して
いればよく、機械式のプレスまたは水圧式プレスの場合
にあっては、機械式のプレスを駆動するモータの消費電
力または水圧式プレスの水圧であってもよい。さらに詳
述すると、マシンドライブ２０のモータによる電流引き
込みおよびその監視はコントローラ１４が特定のプレス
の監視制御を適切に行い得るのに十分な情報をもたらす
ものであればよい。当該分野において知られているよう
に、モータの電流は変流器を使用することにより簡単に
監視することができ、この場合、同変流器から供給され
るモータの電流を表す電圧が計測用増幅器および自動オ
フセット修正回路４２に入力されるようにする。添付し
た請求の範囲に記載された発明の思想から逸脱すること
なく、多様な他の構成、変形例、変更および省略が設計
装置の好適な態様として生成され得る。The above description is an exemplification of a preferred embodiment of the present invention, and the present invention is not limited to a specific embodiment. For example, with the development of hardware and software,
Various parts of the software may be replaced by hardware logic to increase the speed of the controller 14, and conversely, the functions of the hardware may be performed by appropriately programmed hardware. further,
The force in the press only needs to be involved in distorting the members of the press. The water pressure of the press may be used. More specifically, the current draw and monitoring by the motor of machine drive 20 may be sufficient to provide sufficient information for controller 14 to properly monitor and control a particular press. As is known in the art, the current of a motor can be easily monitored by using a current transformer, where a voltage representing the motor current supplied by the current transformer is used for measurement. The signal is input to the amplifier and automatic offset correction circuit 42. Various other configurations, modifications, changes and omissions may be made as preferred aspects of the design apparatus without departing from the spirit of the invention as set forth in the appended claims.

【０１０１】[0101]

【発明の効果】本発明は以上のように、簡単な方法及び
装置により、プレス圧の解析とこの解析結果に基づくプ
レス圧の制御が可能なため、トラブルによる生産停止や
これによる経済的な損失と云ったことを防止できる効果
がある。As described above, according to the present invention, the analysis of the press pressure and the control of the press pressure based on the result of the analysis can be performed by the simple method and the simple apparatus, so that the production stoppage due to the trouble or the economical loss due to the trouble can be achieved. There is an effect that can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図１】本発明の一実施例として構成されたプレスシス
テムのブロック図。FIG. 1 is a block diagram of a press system configured as one embodiment of the present invention.

【図２】本発明の一実施例として構成されたプロセスコ
ントローラのブロック図。FIG. 2 is a block diagram of a process controller configured as one embodiment of the present invention.

【図３】本発明の一実施例として構成された計測用増幅
器および自動オフセット修正回路の構成図。FIG. 3 is a configuration diagram of a measurement amplifier and an automatic offset correction circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図４】本発明の一実施例として構成された計測用増幅
器および自動オフセット修正回路の構成図。FIG. 4 is a configuration diagram of a measurement amplifier and an automatic offset correction circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図５】本発明の一実施例として構成された一組のライ
ンレシーバの回路図。FIG. 5 is a circuit diagram of a set of line receivers configured as one embodiment of the present invention.

【図６】本発明の一実施例として構成されたマルチプレ
クサ（多重化回路）の回路図。FIG. 6 is a circuit diagram of a multiplexer (multiplexing circuit) configured as one embodiment of the present invention.

【図７】本発明の一実施例として構成されたアナログ／
デジタル変換回路の回路図。FIG. 7 shows an analog / digital converter configured as an embodiment of the present invention;
FIG. 3 is a circuit diagram of a digital conversion circuit.

【図８】本発明の一実施例として構成されたレゾルバ／
デジタル変換回路の回路図。FIG. 8 shows a resolver configured as an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a circuit diagram of a digital conversion circuit.

【図９】本発明の一実施例として構成されたレゾルババ
ッファの回路図。FIG. 9 is a circuit diagram of a resolver buffer configured as one embodiment of the present invention.

【図１０】本発明の一実施例として構成されたＰＡＬ
（Ｐｒｏｇｒａｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ａｒｒａｙ；
プログラマブルロジックアレイ）を示す図。FIG. 10 shows a PAL configured as one embodiment of the present invention.
(Programmable Logic Array;
FIG.

【図１１】本発明の一実施例として構成されたデジタル
入力回路の回路図。FIG. 11 is a circuit diagram of a digital input circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図１２】本発明の一実施例として構成されたデジタル
出力回路の回路図。FIG. 12 is a circuit diagram of a digital output circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図１３】本発明の一実施例として構成されたバッファ
回路の回路図。FIG. 13 is a circuit diagram of a buffer circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図１４】本発明の一実施例として構成されたオフセッ
ト修正駆勤回路の回路図。FIG. 14 is a circuit diagram of an offset correction drive circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図１５】本発明の一実施例として構成されたオフセッ
ト修正制御回路の回路図。FIG. 15 is a circuit diagram of an offset correction control circuit configured as one embodiment of the present invention.

【図１６】本発明の一実施例として構成されたＲＡＭの
構成図。FIG. 16 is a configuration diagram of a RAM configured as one embodiment of the present invention.

【図１７】本発明の一実施例として構成されたＰＲＯＭ
の構成図。FIG. 17 is a PROM configured as one embodiment of the present invention.
FIG.

【図１８】本発明の一実施例として構成されたＤＳＰの
回路図。FIG. 18 is a circuit diagram of a DSP configured as one embodiment of the present invention.

【図１９】本発明の一実施例として構成されたＤＳＰの
回路図。FIG. 19 is a circuit diagram of a DSP configured as one embodiment of the present invention.

【図２０】本発明によるブロセスコントローラの一態様
により実行されるステップを示すフローチャート。FIG. 20 is a flowchart illustrating steps performed by one embodiment of a process controller according to the present invention.

【図２１】高レベル側限界値および低レベル側限界値を
作成するために本発明によるプロセスコントローラの一
態様により実行されるステップを示すフローチャート。FIG. 21 is a flowchart illustrating steps performed by one aspect of a process controller according to the present invention to create a high limit and a low limit.

【図２２】結合限界値アレイを作成するために本発明に
よるプロセスコントローラの一態様により実行されるス
テップを示すフローチャート。FIG. 22 is a flowchart illustrating steps performed by one aspect of a process controller according to the present invention to create a binding limit array.

【図２３】限界値アレイを示すグラフ。FIG. 23 is a graph showing a limit value array.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

１０ プレスシステム １１ プレス １４ プレスコントローラ １６ レゾルバ １８ ストレインゲージ ２０ マシンドライブ ３１ ツール ４０ 被加工物 ４１ 電源 ５０ デジタル信号処理回路 ６０ デジタル入力回路 ９０ データ伝送線 １３０ 入力チャンネル １５８ オペアンプ DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Press system 11 Press 14 Press controller 16 Resolver 18 Strain gauge 20 Machine drive 31 Tool 40 Workpiece 41 Power supply 50 Digital signal processing circuit 60 Digital input circuit 90 Data transmission line 130 Input channel 158 Operational amplifier

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 4E089 EA01 EB01 EB03 EC01 EE01 EE02 EE06 EF08 FA09 FB05 FC01 5H223 AA06 BB05 BB09 BB10 CC06 EE06 EE15 FF01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4E089 EA01 EB01 EB03 EC01 EE01 EE02 EE06 EF08 FA09 FB05 FC01 5H223 AA06 BB05 BB09 BB10 CC06 EE06 EE15 FF01

Claims (52)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項１】 第１のプロセス変数を表す第１の信号を
出力すべく設置された第１の装置と、第２のプロセス変
数を表す信号を出力すべく設置された第２の装置とを少
なくとも有するプレスを行う装置を監視するコントロー
ラであり、該第１および第２の装置に接続されるコント
ローラにおいて、 所定の基準値の集合、各基準値に関連した第２、第３、
第４および第５の値を記憶するメモリと、 前記第１の信号をサンプルし、予め定義された限界値よ
り大きな変化が生じた場合にサンプリング信号および前
記第１の信号を表す第１の信号値を出力すべく設けられ
た監視回路と、 前記サンプリング信号に応答して前記第２の信号をサン
プルし、該第２の信号を表す第２の信号値を出力すべく
設けられたサンプリング回路と、 前記第１の信号値を前記基準値の集合と比較し、前記基
準値の１つが前記第１の信号値にほぼ等しいか否かを判
定し、該第１の信号値が前記基準値の１つにほぼ等しい
場合に前記第２の信号値を該基準値に関連した前記第
２、第３、第４および第５の値と比較するものであり、
該比較を前記サンプリング回路による後に続く第２の信
号の先立って行う比較回路とを具備するコントローラ。1. A first device installed to output a first signal representing a first process variable and a second device installed to output a signal representing a second process variable. A controller for monitoring at least an apparatus for performing a press, the controller being connected to the first and second apparatuses, wherein a set of predetermined reference values, second, third,
A memory for storing fourth and fifth values; and a first signal for sampling the first signal and representing a sampling signal and the first signal when a change greater than a predefined limit occurs. A monitoring circuit provided to output a value; a sampling circuit provided to sample the second signal in response to the sampling signal, and to output a second signal value representing the second signal; Comparing the first signal value with the set of reference values to determine whether one of the reference values is substantially equal to the first signal value, wherein the first signal value is equal to the reference value; Comparing said second signal value to said second, third, fourth and fifth values associated with said reference value when substantially equal to one;
A comparison circuit for performing said comparison prior to a subsequent second signal from said sampling circuit. 【請求項２】 前記メモリがランダムアクセスメモリで
ある請求項１記載のコントローラ。2. The controller according to claim 1, wherein said memory is a random access memory. 【請求項３】 前記第１の装置は位置を表す電圧信号を
出力するように構成されたレゾルバであり、前記監視回
路は前記レゾルバに接続されたレゾルバ／デジタル変換
器を有する請求項１記載のコントローラ。3. The apparatus according to claim 1, wherein said first device is a resolver configured to output a voltage signal indicative of a position, and said monitoring circuit comprises a resolver / digital converter connected to said resolver. controller. 【請求項４】 前記第２の装置は力を表す電圧を出力す
るストレインゲージであり、前記サンプリング回路は該
力を表すデジタル信号を出力すべく前記ストレインゲー
ジに接続されたアナログ／デジタル変換器を有する請求
項３記載のコントローラ。4. The apparatus of claim 2, wherein the second device is a strain gauge that outputs a voltage representing a force, and the sampling circuit includes an analog / digital converter connected to the strain gauge to output a digital signal representing the force. The controller according to claim 3, further comprising: 【請求項５】 前記比較回路がマイクロプロセッサを有
する請求項４記載のコントローラ。5. The controller according to claim 4, wherein said comparison circuit includes a microprocessor. 【請求項６】 データ獲得位置を使用し、ツールと、該
ツールの位置を表す第１の信号を出力すべく設けられた
第１の装置と、該ツールにおける力を表す第２の信号を
出力すべく設けられた第２の装置とを有するプレスを監
視するプレスコントローラにおいて、 前記第１の装置に接続され、前記第１の信号の変化が所
定の限界値より大きい場合にサンプリング信号および前
記第１の信号を表す第１の値を出力する監視回路と、 前記監視回路に接続されると共に前記第２の装置に接続
可能であり、前記サンプリング信号に応答し、前記第２
の信号を表す第２の値を出力するサンプリング回路と、 所定のデータ獲得位置のアレイ、各位置に関連した第１
のハイおよびローの値、および各位置に関連した第２の
ハイおよびローの値を記憶するメモリと、 前記監視回路、サンプリング回路およびメモリに接続さ
れ、前記第１の値に関連した前記デーク獲得位置を求
め、後に続く前記第２の信号のサンプリングに先立ち、
前記第２の値を該データ獲得位置に関連した前記第１の
ハイおよびローの値と比較する比較回路とを具備するプ
レスコントローラ。6. Using a data acquisition location, outputting a tool, a first device provided to output a first signal representative of the position of the tool, and outputting a second signal representative of a force at the tool. A press controller having a second device provided to monitor the press, wherein the press signal is connected to the first device, and when a change in the first signal is greater than a predetermined limit value, the sampling signal and the second A monitoring circuit that outputs a first value representing a signal of 1; a monitoring circuit that is connected to the monitoring circuit and is connectable to the second device;
A sampling circuit for outputting a second value representing the signal of
A memory for storing the high and low values of the first and second high and low values associated with each location; and the data acquisition associated with the monitoring circuit, the sampling circuit and the memory and associated with the first value. Determining the position and prior to the subsequent sampling of said second signal,
A comparison circuit for comparing the second value with the first high and low values associated with the data acquisition location. 【請求項７】 前記第１の装置がレゾルバであり、前記
第１の信号は位置を表す電圧信号であり、前記監視回路
は前記レゾルバに接続されたレゾルバ／デジタル変換器
を有する請求項６記載のプレスコントローラ。7. The resolver according to claim 6, wherein the first device is a resolver, the first signal is a voltage signal indicative of a position, and the monitoring circuit comprises a resolver / digital converter connected to the resolver. Press controller. 【請求項８】 前記第２の装置は力を表す電圧を出力す
るように構成されたストレインゲージであり、前記サン
プリング回路は前記ストレインゲージに接続されたアナ
ログ／デジタル変換器を有する請求項７記載のプレスコ
ントローラ。8. The strain gauge according to claim 7, wherein the second device is a strain gauge configured to output a voltage representing a force, and the sampling circuit includes an analog / digital converter connected to the strain gauge. Press controller. 【請求項９】 前記比較回路がマイクロプロセッサを有
する請求項８記載のプレスコントローラ。9. The press controller according to claim 8, wherein said comparison circuit includes a microprocessor. 【請求項１０】 前記データ獲得位置のアレイは、第１
および第２のデータ獲得位置の集合を有し、該第１のデ
ータ獲得位置の集合は、前記第２のデータ獲得位置の集
合によって表されるツールの位置よりも接近したツール
の位置を表しており、前記第２の値が前記第１および第
２のハイおよびローの値と、該第１の値が前記第１のデ
ータ獲得位置の集合に対応する時よりは該第１の値が前
記第２のデータ獲得位置の集合に対応する時の方が高い
周波数で比較される請求項６記載のプレスコントロー
ラ。10. The array of data acquisition locations may include a first
And a set of second data acquisition positions, wherein the first set of data acquisition positions represents a tool position closer than the tool position represented by the second data acquisition position. Wherein the second value is more than the first and second high and low values and the first value is less than the time when the first value corresponds to the first set of data acquisition locations. 7. The press controller according to claim 6, wherein comparison is made at a higher frequency when corresponding to the second set of data acquisition positions. 【請求項１１】 制御回路は、現在、サンプリングされ
た第１の値が既にサンプリングされた第１の信号に対応
した位置より進んだ位置に対応している場合に、前記第
２の信号と、前記第１および第２のハイおよびローの値
とを比較する請求項７記載のプレスコントローラ。11. The control circuit further comprises: if the first sampled value currently corresponds to a position advanced from a position corresponding to the already sampled first signal, the second signal; The press controller of claim 7, wherein the first and second high and low values are compared. 【請求項１２】 ツールと、サイクルを通じて該ツール
を作動させる機構と、プレスに接続されたセンサと、プ
レスに接続された位置検出器とを有し、前記センサが前
記プレスによって前記ツールに付与される力を表す第１
の信号を出力し、前記位置検出器が前記ツールの位置を
表す第２の信号を出力し、プレスを可変の位置分解能で
監視するプレスコントローラであって、 前記センサおよび位置検出器に接続され、前記第１およ
び第２の信号をサンプルし、力データおよび位置データ
を各々出力する監視回路と、 予め定義されたサイクル内のツールの位置の第１および
第２の集合であって、第１の集合のツールの位置は第２
の集合のツールの位置よりも接近している第１および第
２の集合と、前記各位置に関連した力の限界値とを記憶
すべく設けられたメモリと、 前記監視回路およびメモリに接続され、サンプルするこ
とにより得られた前記位置データを前記ツールの位置と
比較し、前記位置データに対応する前記ツールの位置を
求め、前記位置データが前記ツールの位置の第２の集合
に対応する場合よりも前記位置データが前記ツールの位
置の第１の集合に対応する場合に高い頻度で前記第１の
値が前記力の限界値と比較されるように、前記第１の値
を前記ツールの位置に関連した前記力の限界値と比較す
るプロセッサとを具備するプレスコントローラ。12. A tool, a mechanism for operating the tool through a cycle, a sensor connected to a press, and a position detector connected to the press, wherein the sensor is applied to the tool by the press. The first representing the power
And a position controller outputs a second signal indicating the position of the tool, the press controller monitors the press with a variable position resolution, the press controller is connected to the sensor and the position detector, A monitoring circuit that samples the first and second signals and outputs force data and position data, respectively; and a first and second set of tool positions within a predefined cycle, the first and second sets comprising: The position of the set of tools is second
A memory provided to store first and second sets that are closer to the position of the tool of the set, and a force limit value associated with each of the sets; and a memory connected to the monitoring circuit and the memory. Comparing the position data obtained by sampling with the position of the tool to determine the position of the tool corresponding to the position data, wherein the position data corresponds to a second set of tool positions The first value of the tool such that the first value is more often compared to the force limit if the position data corresponds to a first set of tool positions than the first value of the tool. A processor that compares the force with a position. 【請求項１３】 前記第２の信号の後続のサンプルに先
立ち、前記第１の値が前記ツールの位置に関連した前記
力の限界値と比較される請求項１２記載のプレスコント
ローラ。13. The press controller of claim 12, wherein prior to a subsequent sample of the second signal, the first value is compared to a limit value of the force associated with a position of the tool. 【請求項１４】 前記監視回路が、前記力データを発生
すべく前記センサに接続されたアナログ／デジタル変換
器と、前記位置データを発生すべく前記位置検出器に接
続されたレゾルバ／デジタル変換器とを有する請求項１
３記載のプレスコントローラ。14. An analog / digital converter connected to the sensor to generate the force data and a resolver / digital converter connected to the position detector to generate the position data. Claim 1 having
3. The press controller according to 3. 【請求項１５】 前記プロセッサがマイクロプロセッサ
を有する請求項１４記載のプレスコントローラ。15. The press controller according to claim 14, wherein said processor comprises a microprocessor. 【請求項１６】 前記プロセッサがデジタル信号プロセ
ッサを有する請求項１４記載のプレスコントローラ。16. The press controller according to claim 14, wherein said processor comprises a digital signal processor. 【請求項１７】 前記プロセッサは、現在の位置データ
がそれ以前の位置データに対応した位置よりも進んだ位
置に対応している場合に前記第１の値を前記力の限界値
と比較する請求項１３記載のプレスコントローラ。17. The processor as claimed in claim 17, wherein the first value is compared with the force limit value when the current position data corresponds to a position that is more advanced than the position corresponding to the previous position data. Item 14. The press controller according to item 13. 【請求項１８】 ツールの各位置に関連した力の限界値
がハイバンドデータとローバンドデータとを含み、前記
プロセッサは、複数のデータ収集サイクル内において、 前記データ収集サイクルの最初の期間、関連するツール
の位置を参照し、第１の値の各々を該ツールの位置に関
連したハイバンドデータおよびローバンドデータとして
前記メモリに格納し、 第１の値の各々を前記ツールの位置に関連したハイバン
ドデータおよびローバンドデータと比較し、最初のデー
タ収集サイクルに続く各データ収集サイクルについて、
第１の値がハイバンドデータより大きい場合は該ハイバ
ンドデータを該第１の値によって置き換え、第１の値が
ローバンドデータよりも小さい場合は該ローバンドデー
タを置き換え、 １つのツールの位置、該１つのツールの位置の前のＭ個
のツールの位置および該１つのツールの位置の後のＫ個
のツールの位置に各々関連したハイバンドデータおよび
ローバンドデータを読み出し、 最高のハイバンドデータは前記１つのツールの位置に関
運したハイ限界値として前記メモリに格納され、最低の
ローバンドデータは前記１つのツールの位置に関連した
ロー限界値として前記メモリに格納される請求項１２記
載のプレスコントローラ。18. The method of claim 18, wherein the force limits associated with each position of the tool include high band data and low band data, and wherein the processor is associated with a plurality of data collection cycles during a first period of the data collection cycle. Referring to the position of the tool, storing each of the first values in the memory as high band data and low band data associated with the position of the tool, and storing each of the first values in the high band associated with the position of the tool. Data and low band data, and for each data collection cycle following the first data collection cycle,
If the first value is larger than the high band data, the high band data is replaced by the first value; if the first value is smaller than the low band data, the low band data is replaced. Reading the high band data and the low band data respectively associated with the positions of the M tools before the position of the one tool and the positions of the K tools after the position of the one tool; 13. The press controller of claim 12, wherein the memory is stored as a high limit associated with one tool position and the lowest low band data is stored in the memory as a low limit associated with the one tool position. . 【請求項１９】 ツールと、サイクルを通じて前記ツー
ルを駆動する機構と、プレスに接続されたセンサと、プ
レスに接続された位置検出器とを有し、前記センサが前
記プレスによって前記ツールに与えられる力を表す第１
の信号を出力し、前記位置検出器が前記ツールの位置を
表す第２の信号を出力するプレスの順方向に限定された
動きの監視を行うプレスコントローラであって、 前記センサおよび位置検出器に接続され、前記第１およ
び第２の信号をサンプルし、第１の値および位置データ
を各々出力する監視回路と、 プレスサイクルについて予め定義されたツールの位置の
集合と、該ツールの各位置に関連した力の限界値とを記
憶するメモリと、 前記監視回路およびメモリに接続され、サンプルされた
前記位置データを前記ツールの位置の集合と比較し、該
位置データに対応したツールの位置を求め、サンプルさ
れた前記位置データを既にサンプルされた位置データと
比較し、前記第１の値をツールの位置に関連した前記力
の限界値と比較し、前記サンプルされた位置データが前
記位置データの１つに対応し、前記サンプルされた位置
データが前記位置データよりも進んでおり、第１の値が
前記力の限界値よりも大きい場合にコントロール信号を
出力するプロセッサとを有するプレスコントローラ。19. A tool having a tool, a mechanism for driving the tool through a cycle, a sensor connected to a press, and a position detector connected to the press, wherein the sensor is provided to the tool by the press. The first representing power
And a position controller outputs a second signal indicating the position of the tool, a press controller that monitors the movement limited to the forward direction of the press, wherein the sensor and the position detector A monitoring circuit that is connected and samples the first and second signals, and outputs a first value and position data, respectively; a set of tool positions predefined for a press cycle; A memory for storing associated force limits; comparing the sampled position data to a set of tool positions, connected to the monitoring circuit and memory, to determine a tool position corresponding to the position data; Comparing the sampled position data with already sampled position data, comparing the first value with the force limit associated with the position of the tool, Outputting a control signal when the sampled position data corresponds to one of the position data, the sampled position data is ahead of the position data, and the first value is greater than the force limit value. Press controller having a processor that performs the processing. 【請求項２０】 前記第２の信号の後続のサンプルに先
立ち、前記第１の値が前記ツールの位置に関連した前記
力の限界値と比較される請求項１９記載のプレスコント
ローラ。20. The press controller of claim 19, wherein the first value is compared to a limit value of the force associated with a position of the tool prior to a subsequent sample of the second signal. 【請求項２１】 前記監視回路が、前記力を表す前記第
１の信号を発生すべく前記センサに接続されたアナログ
／デジタル変換器と、前記位置データを発生すべく前記
位置検出器に接続されたレゾルバ／デジタル変換器とを
有する請求項２０記載のプレスコントローラ。21. The monitoring circuit is connected to an analog / digital converter connected to the sensor to generate the first signal representing the force, and to the position detector to generate the position data. 21. The press controller according to claim 20, further comprising a resolver / digital converter. 【請求項２２】 前記プロセッサがマイクロプロセッサ
を有する講求項２１記載のプレスコントローラ。22. The press controller according to claim 21, wherein said processor includes a microprocessor. 【請求項２３】 前記プロセッサがデジタル信号プロセ
ッサを有する請求項２１記載のプレスコントローラ。23. The press controller according to claim 21, wherein said processor comprises a digital signal processor. 【請求項２４】 前記プロセッサは、前記プレスサイク
ル内の第１の区間については第１の周波数で、該プレス
サイクル内の第２の区間については第２の周波数で、前
記第１の値を前記力の限界値と比較するものであり、前
記第１の周波数は前記第２の周波数よりも大きい請求項
１９記載のプレスコントローラ。24. The processor according to claim 1, wherein the first value is the first frequency for a first interval in the press cycle, and the second value is a second frequency for a second interval in the press cycle. 20. The press controller of claim 19, wherein the first frequency is greater than the second frequency, wherein the first frequency is compared to a force limit. 【請求項２５】 ツールの各位置に関連した力の限界値
がハイバンドデータとローバンドデータとを含み、前記
プロセッサは、複数のデータ収集サイクルにおいて、 前記データ収集サイクルの最初の区間、関連するツール
の位置を参照し、第１の値の各々をツールの位置に関連
したハイバンドデータおよびローバンドデータとして、
前記メモリに格納し、 データ収集サイクルの最初のサイクルに続く各サイクル
について、ツールの位置に関連した前記第１の値の各々
を対応するハイバンドデータおよびローバンドデータと
比較し、該第１の値が前記ハイバンドデータよりも大き
い場合は該ハイバンドデータを該第１の値によって置き
換え、前記ローバンドデータが前記ローバンドデータよ
りも小さい場合は前記ローバンドデータを置き換え、 １つのツールの位置、該１つのツールの位置の前のＭ個
のツールの位置および該１つのツールの位置の後のＫ個
のツールの位置に各々関連したハイバンドデータおよび
ローバンドデータを読み出し、 最高のハイバンドデータは該１つのツールの位置に関連
したハイ限界値としてメモリに記億され、最低のローバ
ンドデータは該１つのツールの位置に関連したロー限界
値としてメモリに記億される請求項１９記載のプレスコ
ントローラ。25. The method of claim 25, wherein the force limits associated with each position of the tool include high band data and low band data, and wherein the processor includes, in a plurality of data collection cycles, a first section of the data collection cycle; , Each of the first values as high band data and low band data associated with the position of the tool,
Comparing each of the first values associated with the position of the tool with corresponding high-band data and low-band data for each cycle following the first cycle of the data collection cycle stored in the memory; Is greater than the high band data, the high band data is replaced by the first value, and if the low band data is smaller than the low band data, the low band data is replaced. Read the high band data and low band data respectively associated with the position of the M tools before the position of the tool and the position of the K tools after the position of the one tool, wherein the highest high band data is the one It is stored in memory as a high limit associated with the position of the tool, and the lowest low band data is the one Press controller according to claim 19 as a low limit value associated with the position of the tool is Kioku in memory. 【請求項２６】 第１のプロセス変数を表す第１の信号
を発生すべく設けられた第１の装置と、第２のプロセス
変数を表す信号を発生すべく設けられた第２の装置とを
有しプロセスを実行する装置を監視するコントローラで
あって、 所定の基準値の集合、各基準値に関連した第２、第３、
第４および第５の値を記億する手段と、 所定値より大きな変化が前記第１の信号に生じた場合、
該第１の信号をサンプリングし、サンプリング信号およ
び該第１の信号を表す第１の信号値を出力する手段と、 サンプリング信号に応答して前記第ａの信号をサンプリ
ングし、該第２の信号を表す第２の信号値を出力する手
段と、 前記第１の信号値を前記基準値の集合と比較し、前記第
１の信号値がほぼ一致する前記基準値を求め、前記第１
の信号値が前記基準値の１つにほぼ一致する時に前記第
２の信号値を前記第２、第３、第４および第５の値と比
較するものであり、後に続くサンプリング回路による前
記第２の信号のサンプリングに先立ち該比較を行う手段
とを有するコントローラ。26. A first device provided to generate a first signal representative of a first process variable and a second device provided to generate a signal representative of a second process variable. A controller for monitoring a device performing the process, comprising: a set of predetermined reference values; second, third,
Means for storing fourth and fifth values; and if a change greater than a predetermined value occurs in said first signal,
Means for sampling the first signal and outputting a sampling signal and a first signal value representative of the first signal; sampling the a-th signal in response to the sampling signal; Means for outputting a second signal value representing the first signal value; and comparing the first signal value with the set of reference values to obtain the reference value with which the first signal value is substantially the same.
Comparing the second signal value with the second, third, fourth, and fifth values when the signal value of the second signal value substantially coincides with one of the reference values. Means for performing the comparison prior to sampling of the second signal. 【請求項２７】 前記記憶をする手段がランダムアクセ
スメモリである請求項２６記載のコントローラ。27. The controller according to claim 26, wherein said means for storing is a random access memory. 【請求項２８】 前記第１の装置は位置を表す電庄を出
力するように構成されたレゾルバであり、前記第１の信
号をサンプリングする手段は前記レゾルバに接続された
レゾルバ／デジタル変換器を有する請求項２６記載のコ
ントローラ。28. The apparatus according to claim 28, wherein the first device is a resolver configured to output a signal indicative of a position, and the means for sampling the first signal comprises a resolver / digital converter connected to the resolver. 27. The controller of claim 26, comprising: 【請求項２９】 前記第２の装置は力を表す電圧を出力
するように構成されたストレインゲージであり、前記第
２の信号をサンプリングする手段は前記第２の信号値を
出力ずべく前記ストレインゲージに接続されたアナログ
／デジタル変換器を有する請求項２８記載のコントロー
ラ。29. The second device is a strain gauge configured to output a voltage representative of a force, and the means for sampling the second signal is configured to output the second signal value. 29. The controller of claim 28, comprising an analog / digital converter connected to the gauge. 【請求項３０】 前記比較を行う手段はマイクロプロセ
ッサを有する請求項２９記載のコントローラ。30. The controller according to claim 29, wherein said means for performing a comparison comprises a microprocessor. 【請求項３１】 前記比較を行う手段はデジタル信号プ
ロセッサを有する請求項２９記載のコントローラ。31. The controller of claim 29, wherein said means for performing a comparison comprises a digital signal processor. 【請求項３２】 データ獲得位置を使用し、ツールと、
該ツールの位置を表す第１の信号を出力すべく設けられ
た第１の装置と、該ツールにおける力を表す第２の信号
を出力すべく設けられた第２の装置とを有するプレスを
監視するプレスコントローラにおいて、 前記第１の装置に接続され、前記第１の信号の変化が所
定の限界値より大きい場合にサンプリング信号を出力す
る手段と、 前記サンプリング信号に応答し、前記第２の信号をサン
プリングする手段と、 所定のデータ獲得位置の集合、各位置に関連した第１の
ハイおよびローの値、および各位置に関連した第２のハ
イおよびローの値を記億する手段と、 サンプリングされた前記第１の信号値に関連した獲得位
置を求め、後に続く前記第２の信号のサンプリングに先
立ち、前記第２の値を該位置に関連した前記第１のハイ
およびローの値および該位置に関連した前記第２のハイ
およびローの値と比較する手段とを具備するプレスコン
トローラ。32. Using a data acquisition location, a tool,
Monitoring a press having a first device provided to output a first signal representative of the position of the tool and a second device provided to output a second signal representative of a force at the tool. A press controller that is connected to the first device and outputs a sampling signal when a change in the first signal is greater than a predetermined limit value; and a second signal responsive to the sampling signal. Means for sampling a set of predetermined data acquisition locations, a first high and low value associated with each location, and a second high and low value associated with each location; Determining an acquired position associated with the first signal value obtained and, prior to subsequent sampling of the second signal, replacing the second value with the first high and low values associated with the position And a means for comparing with said second high and low values associated with said position. 【請求項３３】 前記第１の装置がレゾルバであり、前
記第１の信号は位置を表す電圧信号であり、前記サンプ
リング信号を出力する手段は位置を表す第２の信号を出
力すべく前記レゾルバに接続されたレゾルバ／デジタル
変換器を有する請求項３２記載のプレスコントローラ。33. The method according to claim 33, wherein the first device is a resolver, the first signal is a voltage signal representing a position, and the means for outputting the sampling signal is a signal that outputs the second signal representing the position. 33. The press controller of claim 32, further comprising a resolver / digital converter connected to. 【請求項３４】 前記第２の装置は力を表す電圧を出力
するように構成されたストレインゲージであり、前記第
１および第２の信号をサンプリングする手段は前記力を
表すデジタル信号を出力すべく前記ストレインゲージに
接続されたアナログ／デジタル変換器を有する請求項３
３記載のプレスコントローラ。34. The second device is a strain gauge configured to output a voltage representing a force, and the means for sampling the first and second signals outputs a digital signal representing the force. 4. An analog-to-digital converter connected to the strain gauge for the purpose.
3. The press controller according to 3. 【請求項３５】 前記獲得位置を求める手段はマイクロ
プロセッサを有する請求項３４記載のプレスコントロー
ラ。35. The press controller according to claim 34, wherein the means for obtaining the acquired position includes a microprocessor. 【請求項３６】 前記獲得位置を求める手段はデジタル
信号プロセッサを有する請求項３４記載のプレスコント
ローラ。36. The press controller according to claim 34, wherein the means for determining the acquired position includes a digital signal processor. 【請求項３７】 前記データ獲得位置の集合は第１およ
び第２のデータ獲得位置のサブ集合を有し、該第１のデ
ータ獲得位置のサブ集合は、前記第２のデータ獲得位置
のサブ集合によって表されるツールの位置よりも接近し
たツールの位置を表しており、前記第２の信号が前記第
１および第２のハイおよびローの値と、該第１の信号が
前記第１のデータ獲得位置のサブ集合に対応する時より
は該第１の信号が前記第２のデータ獲得位置のサブ集合
に対応する時の方が高い周波数で比較される請求項３２
記載のプレスコントローラ。37. The set of data acquisition locations comprises a subset of first and second data acquisition locations, wherein the subset of the first data acquisition location is a subset of the second data acquisition location. Wherein the second signal is the first and second high and low values and the first signal is the first data. 33. The first signal is compared at a higher frequency when corresponding to the subset of the second data acquisition position than when corresponding to a subset of the acquisition position.
Press controller as described. 【請求項３８】 前記獲得位置を求める手段は、現在、
サンプリングされた第１の信号が既にサンプリングされ
た第１の信号に対応した位置より進んだ位置に対応して
いる場合に、前記第２の信号と、前記第１および第２の
ハイおよびローの値とを比較する請求項３２記載のプレ
スコントローラ。38. The means for determining the acquired position includes:
The second signal and the first and second high and low signals when the sampled first signal corresponds to a position advanced from a position corresponding to the already sampled first signal; 33. The press controller according to claim 32, wherein the value is compared with a value. 【請求項３９】 ツールと、サイクルを通じて前記ツー
ルを駆動する機構と、プレスに接続されたセンサと、プ
レスに接続された位置検出器とを有し、前記センサが前
記プレスによって前記ツールに与えられる力を表す第１
の信号を出力し、前記位置検出器が前記ツールの位置を
表す第２の信号を出力するプレスの監視を司変の位置分
解能で行うプレスコントローラであって、 前記第１および第２の信号をサンプルし、第１の値およ
び位置データを各々出力する手段と、 プレスサイクルについて予め定義された一連のツールの
位置の第１および第２の集合であって該ツールの位置の
第１の集合が該ツールの位置の第２の集合よりも各位置
が近接している第１および第２の集合と、該ツールの各
位置に関連した力の限界値とを記億する手段と、 サンプルされた前記位置データを前記ツールの位置の集
合と比較し、該位置データに対応したツールの位置を求
め、前記位置データが前記ツールの位置の第１の集合に
対応する時に前記位置データが前記ツールの位置の第２
の集合に対応する時よりも高い周波数で、前記第１の値
が力の限界値と比較されるように、前記第１の値をツー
ルの位置に関連した前記力の限界値と比較する手段とを
有するプレスコントローラ。39. A tool, a mechanism for driving the tool through a cycle, a sensor connected to a press, and a position detector connected to the press, wherein the sensor is provided to the tool by the press. The first representing power
A press controller that outputs a second signal representing the position of the tool by the position detector, and monitors the press at a controlled position resolution, wherein the first and second signals are Means for sampling and outputting first value and position data, respectively; first and second sets of tool positions predefined for the press cycle, wherein the first set of tool positions is Means for recording first and second sets, each location being closer than the second set of tool locations, and a force limit associated with each location of the tool; Comparing the position data with the set of tool positions to determine the position of the tool corresponding to the position data, wherein when the position data corresponds to a first set of tool positions, the position data is Position number
Means for comparing said first value to a force limit associated with a tool position, such that said first value is compared to a force limit at a higher frequency than when corresponding to the set of And a press controller having the same. 【請求項４０】 前記第２の信号の後続のサンプルに先
立ち、前記第１の値が前記ツールの位置に関連した前記
力の限界値と比較される請求項３９記載のプレスコント
ローラ。40. The press controller of claim 39, wherein the first value is compared to a limit value of the force associated with a position of the tool prior to a subsequent sample of the second signal. 【請求項４１】 前記サンプリングを行う手段が、前記
力を表す前記第１のデジタル信号を発生すべく前記セン
サに接続されたアナログ／デジタル変換器と、位置を表
す第２のデジタル信号を発生すべく前記位置検出器に接
続されたレゾルバ／デジタル変換器とを有する請求項４
０記載のプレスコントローラ。41. The means for sampling generates an analog-to-digital converter connected to the sensor to generate the first digital signal representing the force and a second digital signal representing position. 5. A resolver / digital converter connected to the position detector for the purpose.
0. The press controller according to item 0. 【請求項４２】 前記比較を行う手段がマイクロプロセ
ッサを有する請求項４１記載のプレスコントローラ。42. The press controller according to claim 41, wherein said means for performing a comparison comprises a microprocessor. 【請求項４３】 前記比較を行う手段がデジタル信号プ
ロセッサを有する請求項４１記載のプレスコントロー
ラ。43. The press controller according to claim 41, wherein said means for performing a comparison comprises a digital signal processor. 【請求項４４】 前記比較を行う手段は、現在、サンプ
リングされた位置データが既にサンプリングされた位置
データに対応した位置より進んだ位置に対応している場
合に、前記第１の値と、前記力の限界値とを比較する請
求項３９記載のプレスコントローラ。44. The means for performing the comparison, wherein if the currently sampled position data corresponds to a position ahead of the position corresponding to the already sampled position data, the first value The press controller of claim 39, wherein the press controller compares the force limit. 【請求項４５】 ツールの各位置に関連した力の限界値
がハイバンドデータとローバンドデータとを含み、前記
比較を行う手段は、複数のデータ収集サイクルにおい
て、 前記データ収集サイクルの最初の区間、関連するツール
の位置を参照し、第１の値の各々をツールの位置に関連
したハイバンドデータおよびローバンドデータとして記
憶し、 データ収集サイクルの最初のサイクルに続く各サイクル
について、ツールの位置に関連した前記第１の値の各々
を対応するハイバンドデータおよびローバンドデータと
比較し、該第１の値が前記ハイバンドデータよりも大き
い場合は該ハイバンドデータを該第１の値によって置き
換え、前記第１の値が前記ローバンドデークよりも小さ
い場合は前記ローバンドデータを置き換え、 １つのツールの位置、該１つのツールの位置の前のＭ個
のツールの位置および該１つのツールの位置の後のＫ個
のツールの位置に各々関連したハイバンドデータおよび
ローバンドデータを読み出し、 最高のハイバンドデータは該つのツールの位置に関連し
たハイ限界値として記憶され、最低のローバンドデータ
は該１つのツールの位置に関連したロー限界値として記
憶される請求項３９記載のプレスコントローラ。45. The force limit associated with each position of the tool includes high band data and low band data, and the means for performing the comparison includes: in a plurality of data collection cycles, a first section of the data collection cycle; Referencing the associated tool position, storing each of the first values as high band data and low band data associated with the tool position, and for each cycle following the first cycle of the data collection cycle, relating to the tool position. Comparing each of the first values with the corresponding high-band data and low-band data, and if the first value is greater than the high-band data, replacing the high-band data with the first value; If the first value is smaller than the low-band data, replace the low-band data; Reading the high band data and the low band data respectively associated with the positions of the M tools before the position of the one tool and the positions of the K tools after the position of the one tool, 40. The press controller of claim 39, wherein is stored as a high limit associated with the position of the one tool, and the lowest low band data is stored as a low limit associated with the position of the one tool. 【請求項４６】 ツールと、サイクルを通じて前記ツー
ルを駆動する機構と、プレスに接続されたセンサと、プ
レスに接続された位置検出器とを有し、前記センサが前
記プレスによって前記ツールに与えられる力を表す第１
の信号を出力し、前記位置検出器が前記ツールの位置を
表す第２の信号を出力するプレスの順方向に限定された
動きの監視を行うプレスコントローラであって、 前記第１および第２の信号をサンプルし、第１の値およ
び位置データを各々出力する手段と、 プレスサイクルについて予め定義されたツールの位置の
集合と、該ツールの各位置に関連した力の限界値とを記
億する手段と、 サンプルされた前記位置データを前記ツールの位置と比
較し、該位置データに対応したツールの位置を求め、サ
ンプルされた前記位置データを既にサンプルされた位置
データと比較し、前記第１の値をツールの位置に関連し
た前記力の限界値と比較し、前記サンプルされた位置デ
ータが前記位置データの１つに対応し、前記サンプルさ
れた位置データが前記既にサンプルされた位置データよ
りも進んでおり、第１の値が前記力の限界値よりも大き
い場合にコントロール信号を出力する手段とを有するプ
レスコントローラ。46. A tool, a mechanism for driving the tool through a cycle, a sensor connected to a press, and a position detector connected to the press, wherein the sensor is provided to the tool by the press. The first representing power
A press controller that outputs a second signal indicating the position of the tool, the position detector outputs a second signal indicating the position of the tool, and monitors movement of the press limited in the forward direction. Means for sampling the signal and outputting the first value and position data, respectively; storing a set of tool positions predefined for the press cycle and force limits associated with each position of the tool. Means, comparing the sampled position data with the position of the tool, determining a position of the tool corresponding to the position data, comparing the sampled position data with already sampled position data, Is compared to the force limit value associated with the position of the tool, the sampled position data corresponding to one of the position data, and the sampled position data And ahead of the sampled position data, press controller having a means for a first value and outputs a control signal is greater than the limit value of the force. 【請求項４７】 前記第２の信号の後続のサンプルに先
立ち、前記第１の値が前記ツールの位置に関連した力の
限界値と比較される請求項４６記載のプレスコントロー
ラ。47. The press controller of claim 46, wherein the first value is compared to a force limit associated with the position of the tool prior to a subsequent sample of the second signal. 【請求項４８】 前記第１および第２の信号をサンプリ
ングする手段が、前記力を表す第１の値を出力すべく前
記センサに接続されたアナログ／デジタル変換器と、前
記位置データを出力すべく前記位置検出器に接続された
レゾルバ／デジタル変換器とを有する請求項４７記載の
プレスコントローラ。48. The means for sampling the first and second signals outputs an analog-to-digital converter connected to the sensor to output a first value representative of the force, and outputs the position data. 48. The press controller of claim 47, further comprising a resolver / digital converter connected to the position detector. 【請求項４９】 前記比較をする手段がマイクロプロセ
ッサを有する請求項４８記載のプレスコントローラ。49. The press controller according to claim 48, wherein said means for comparing comprises a microprocessor. 【請求項５０】 前記比較をする手段がデジタル信号ブ
ロセッサを有する請求項４８記載のプレスコントロー
ラ。50. The press controller according to claim 48, wherein said means for comparing comprises a digital signal processor. 【請求項５１】 前記比較を行う手段は、前記プレスサ
イクル内の第１の区間については第１の周波数で、該プ
レスサイクル内の第２の区間については第２の周波数
で、前記第１の値を前記力の限界値と比較するものであ
り、前記第１の周波数は前記第２の周波数よりも大きい
請求項４６記載のプレスコントローラ。51. The means for performing the comparison comprises: a first frequency for a first interval in the press cycle; a second frequency for a second interval in the press cycle; 47. The press controller of claim 46, wherein the value is compared to a force limit, wherein the first frequency is greater than the second frequency. 【請求項５２】 ツールの各位置に関連した力の限界値
がハイバンドデータとローバンドデータとを含み、前記
比較を行う手段は、複数のデータ収集サイクルにおい
て、 前記データ収集サイクルの最初の区間、関連するツール
の位置を参照し、第１の値の各々をツールの位置に関連
したハイバンドデータおよびローバンドデータとして記
億し、 データ収集サイクルの最初のサイクルに続く各サイクル
について、ツールの位置に関連した前記第１の値の各々
を対応するハイバンドデータおよびローバンドデータと
比較し、該第１の値が前記ハイバンドデータよりも大き
い場合は該ハイバンドデータを該第１の値によって置き
換え、前記ローバンドデータが前記ローバンドデータよ
りも小さい場合は前記ローバンドデータを置き換え、 １つのツールの位置、該１つのツールの位置の前のＭ個
のツールの位置および該１つのツールの位置の後のＫ個
のツールの位置に各々関連したハイバンドデータおよび
ローバンドデータを読み出し、 最高のハイバンドデータは該１つのツールの位置に関連
したハイ限界値として記憶され、最低のローバンドデー
タは該１つのツールの位置に関連したロー限界値として
記億される請求項４６記載のプレスコントローラ。52. The force limit value associated with each position of the tool includes high band data and low band data, and the means for performing the comparison includes: in a plurality of data collection cycles, a first section of the data collection cycle; With reference to the associated tool position, each of the first values is recorded as high band data and low band data associated with the tool position, and for each cycle following the first cycle of the data collection cycle, the tool position is stored. Comparing each of the associated first values to corresponding high band data and low band data, replacing the high band data by the first value if the first value is greater than the high band data; If the low-band data is smaller than the low-band data, replace the low-band data; Read the high band data and low band data respectively associated with the position of the tool, the position of the M tools before the position of the one tool, and the position of the K tools after the position of the one tool. 47. The press controller of claim 46, wherein high band data is stored as a high limit associated with the one tool position and lowest low band data is stored as a low limit associated with the one tool position.