JP2002202337A - ファインピッチ基板検査用治具 - Google Patents
ファインピッチ基板検査用治具Info
- Publication number
- JP2002202337A JP2002202337A JP2001032975A JP2001032975A JP2002202337A JP 2002202337 A JP2002202337 A JP 2002202337A JP 2001032975 A JP2001032975 A JP 2001032975A JP 2001032975 A JP2001032975 A JP 2001032975A JP 2002202337 A JP2002202337 A JP 2002202337A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- jig
- circuit board
- printed circuit
- view
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】 プリント基板検査機用治具の信頼性の向上
【解決手段】 従来からある、プローブ1自身が湾曲す
ることでバネ性を持つプローブ1を使用した治具に対し
て、プローブ1の中央付近にプローブ1の湾曲する方向
を制御する制御板11を追加することで、プローブ1同
士の接触を防ぎ、治具の信頼性を向上させる。
ることでバネ性を持つプローブ1を使用した治具に対し
て、プローブ1の中央付近にプローブ1の湾曲する方向
を制御する制御板11を追加することで、プローブ1同
士の接触を防ぎ、治具の信頼性を向上させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板検査器の
治具に関し、特にファインピッチと呼称される集積度の
高いプリント基板検査器用の治具の製作の簡素化と信頼
性の向上に関する。
治具に関し、特にファインピッチと呼称される集積度の
高いプリント基板検査器用の治具の製作の簡素化と信頼
性の向上に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のプリント基板検査機用治
具は、複数枚のベース板に対して垂直に複数個のベース
穴を開口し、その穴に垂直に差し込まれる複数個のプロ
ーブとで構成されており、プローブを押す力が加わった
再には、上記ベース板の間隔が大きく開いた部分の空間
で、プローブをたわませる事によって、プローブの動く
ストロークと、バネ性を持たせている。
具は、複数枚のベース板に対して垂直に複数個のベース
穴を開口し、その穴に垂直に差し込まれる複数個のプロ
ーブとで構成されており、プローブを押す力が加わった
再には、上記ベース板の間隔が大きく開いた部分の空間
で、プローブをたわませる事によって、プローブの動く
ストロークと、バネ性を持たせている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、プロー
ブをたわませる構造上、プローブがたわむ方向によって
は、プローブが互いに接触したりぶつかり合ったりする
為、プローブがたわんで曲がる方向を制御するのが難し
く、特にプローブが密集した状態の治具は、製作が困難
であり、最初からプローブに微妙な湾曲をつけて、曲が
る方向をある程度制御してはいるものの、プローブが互
いにぶつかるのを防ぐ有効な手段が無く、プローブの表
面の絶縁処理部分が剥離してショートする可能性がある
事、従来の治具製作の上での大きなネックとなってい
た。
ブをたわませる構造上、プローブがたわむ方向によって
は、プローブが互いに接触したりぶつかり合ったりする
為、プローブがたわんで曲がる方向を制御するのが難し
く、特にプローブが密集した状態の治具は、製作が困難
であり、最初からプローブに微妙な湾曲をつけて、曲が
る方向をある程度制御してはいるものの、プローブが互
いにぶつかるのを防ぐ有効な手段が無く、プローブの表
面の絶縁処理部分が剥離してショートする可能性がある
事、従来の治具製作の上での大きなネックとなってい
た。
【0004】本発明は、従来の上記実状に鑑みてなされ
たものであり、従って本発明の目的は、従来の技術に内
在する上記欠点を解消し、より信頼性の高い治具を提供
することにある。
たものであり、従って本発明の目的は、従来の技術に内
在する上記欠点を解消し、より信頼性の高い治具を提供
することにある。
【0008】
【課題を解決する為の手段】上記目的を解決する為に、
本発明に係わるプリント基板検査機用治具では、従来の
治具に、ガイド板を追加することで、プローブのたわむ
方向を常に一方向とし、プローブ同士が接触するのを防
いでいる。
本発明に係わるプリント基板検査機用治具では、従来の
治具に、ガイド板を追加することで、プローブのたわむ
方向を常に一方向とし、プローブ同士が接触するのを防
いでいる。
【0009】又、プローブが曲がる方向をコントロール
する為に従来のプローブには最初からわずかな湾曲が設
けられているが、この治具では中央のガイド板を常にわ
ずかに他のガイド板よりもずらして配設することで、プ
ローブに湾曲を与えている為、プローブに自体に湾曲を
設ける必要が無く、ストレートな形状で作ることが可能
となっており、プローブ製造の工数削減に貢献してい
る。
する為に従来のプローブには最初からわずかな湾曲が設
けられているが、この治具では中央のガイド板を常にわ
ずかに他のガイド板よりもずらして配設することで、プ
ローブに湾曲を与えている為、プローブに自体に湾曲を
設ける必要が無く、ストレートな形状で作ることが可能
となっており、プローブ製造の工数削減に貢献してい
る。
【0010】
【実施例】次に本発明をその好ましい各実施例について
図面を参照しながら具体的に説明する。
図面を参照しながら具体的に説明する。
【0011】図1(a)は、従来例の代表的な一例を示
した実施例の正面図であり、(b)は、その側面図、
(c)は、(a)をY−Y′で切断し、矢印の方向に見
た断面図である。
した実施例の正面図であり、(b)は、その側面図、
(c)は、(a)をY−Y′で切断し、矢印の方向に見
た断面図である。
【0012】図1(a)〜(c)を参照するに、従来の
代表的な治具では、複数の穴が開口された複数の板状の
ガイド板3〜5と、そのガイド板3、4に開口された穴
に配設されたバネ性を持つ金属製で、細長い棒状のプロ
ーブ1と、ガイド板5に開口された穴に配設され、尚且
つ前記プローブ1に電気的に接触した金属製で細長い棒
状の端子2と、ガイド板3〜5に適当な間隔を与えて固
定する為に、ガイド板3〜5の間にそれぞれ挟まれる形
で配設されるスペーサ6、7で構成される。
代表的な治具では、複数の穴が開口された複数の板状の
ガイド板3〜5と、そのガイド板3、4に開口された穴
に配設されたバネ性を持つ金属製で、細長い棒状のプロ
ーブ1と、ガイド板5に開口された穴に配設され、尚且
つ前記プローブ1に電気的に接触した金属製で細長い棒
状の端子2と、ガイド板3〜5に適当な間隔を与えて固
定する為に、ガイド板3〜5の間にそれぞれ挟まれる形
で配設されるスペーサ6、7で構成される。
【0013】図2(a)は、図1(c)の中央部分を拡
大した部分断面図であり、(b)は、(a)の作動状態
を示した部分断面図である。
大した部分断面図であり、(b)は、(a)の作動状態
を示した部分断面図である。
【0014】図2(a)〜(b)を参照するに、従来の
代表的な治具では、(b)の様に治具に対してプリント
基板9が図2の上方向から押し付けられた再、プリント
基板9が、まずはプローブ1を図の下方向へ押し下げ
る。この時、プローブ1は、(a)の様に最初から僅か
な湾曲が与えられている為、湾曲の方向に更に曲がり、
この時に発生する反発力によって、プローブ1は、プリ
ント基板1に適当な圧力で押し付けられる事によって、
確実に電気的に接触する。この状態で端子2からプロー
ブ1を経由してプリント基板9に電流を流すことで、各
種検査を行う。
代表的な治具では、(b)の様に治具に対してプリント
基板9が図2の上方向から押し付けられた再、プリント
基板9が、まずはプローブ1を図の下方向へ押し下げ
る。この時、プローブ1は、(a)の様に最初から僅か
な湾曲が与えられている為、湾曲の方向に更に曲がり、
この時に発生する反発力によって、プローブ1は、プリ
ント基板1に適当な圧力で押し付けられる事によって、
確実に電気的に接触する。この状態で端子2からプロー
ブ1を経由してプリント基板9に電流を流すことで、各
種検査を行う。
【0015】しかしながら、従来の治具では、プローブ
1が湾曲する方向が正確には決められない為、プローブ
1同士が非常に密集した治具を製作すると、プローブ1
が互いに接触しやすくなり、図2(a)のX−X′の間
をプローブ1の絶縁のためにプローブ1の表面を樹脂等
の絶縁皮膜で覆っているものの、長い間の使用により、
プローブ1同士がぶつかる場所では、絶縁皮膜の剥離に
よるショートなどの事故が起こる可能性があり、従来の
治具製作の大きな問題点だった。
1が湾曲する方向が正確には決められない為、プローブ
1同士が非常に密集した治具を製作すると、プローブ1
が互いに接触しやすくなり、図2(a)のX−X′の間
をプローブ1の絶縁のためにプローブ1の表面を樹脂等
の絶縁皮膜で覆っているものの、長い間の使用により、
プローブ1同士がぶつかる場所では、絶縁皮膜の剥離に
よるショートなどの事故が起こる可能性があり、従来の
治具製作の大きな問題点だった。
【0016】図3は、本発明で使用される治具の断面図
である。
である。
【0017】図3を参照するに、本発明で使用される治
具の従来の治具との違いは、プローブ1の長さ方向の中
央付近に配設され、ガイド板3〜5と同じ位置にプロー
ブ1が自由に移動可能な穴が開口された制御板11と、
制御版11を、プローブ1の中央付近に保持し、尚且
つ、制御板11が図3の左右方向に移動可能に配設する
為に設けられた制御板ガイド10と、制御板11の通常
状態の位置を調整する為の制御ネジ12と、プローブ1
に最初から湾曲が与えられずに、直線状となっている事
の4点のみであり、その他の構造は、従来の治具と同様
である。
具の従来の治具との違いは、プローブ1の長さ方向の中
央付近に配設され、ガイド板3〜5と同じ位置にプロー
ブ1が自由に移動可能な穴が開口された制御板11と、
制御版11を、プローブ1の中央付近に保持し、尚且
つ、制御板11が図3の左右方向に移動可能に配設する
為に設けられた制御板ガイド10と、制御板11の通常
状態の位置を調整する為の制御ネジ12と、プローブ1
に最初から湾曲が与えられずに、直線状となっている事
の4点のみであり、その他の構造は、従来の治具と同様
である。
【0018】図4(a)は、図3の中央部分を拡大した
部分断面図であり、(b)及び、(c)は、(a)の矢
印で示す部分を更に拡大した部分断面図である。
部分断面図であり、(b)及び、(c)は、(a)の矢
印で示す部分を更に拡大した部分断面図である。
【0019】図4(a)〜(c)を参照するに、本発明
におけるプローブ1の形状は、(b)の様に先端部分が
剣先形状になっているが、この先端形状は球形等、色々
な形状があり、特に限定しない。又、(c)の様に、プ
ローブ1には、従来と同様にプローブ1が治具本体から
抜け落ちない為のストッパー13が存在するが、この部
分の形状も、様々なので、特に限定しない。
におけるプローブ1の形状は、(b)の様に先端部分が
剣先形状になっているが、この先端形状は球形等、色々
な形状があり、特に限定しない。又、(c)の様に、プ
ローブ1には、従来と同様にプローブ1が治具本体から
抜け落ちない為のストッパー13が存在するが、この部
分の形状も、様々なので、特に限定しない。
【0020】図5(a)〜(c)は、図4(a)をそれ
ぞれ(a)制御板11の無調整状態、(b)制御板11
を図3で表示した制御ネジ12を使用して正規な位置に
調整した、通常状態、(c)プローブにプリント基板が
押し当てられた作動状態、を示す部分断面図である。
ぞれ(a)制御板11の無調整状態、(b)制御板11
を図3で表示した制御ネジ12を使用して正規な位置に
調整した、通常状態、(c)プローブにプリント基板が
押し当てられた作動状態、を示す部分断面図である。
【0021】図5(a)〜(c)、を参照するに、プロ
ーブ1は、(a)の様に、従来とは違う湾曲の無いスト
レートな形状をしており、その表面には、従来のプロー
ブと同様の絶縁皮膜処理がなされている。そして、
(b)の様に、図3で示した制御ネジ12をねじ込むこ
とによって、制御ネジ12が、制御板11を図の左方向
に押し出し、すべてのプローブ1に、同じ方向への湾曲
が与えられ、この状態が、本発明における治具の通常状
態となる。
ーブ1は、(a)の様に、従来とは違う湾曲の無いスト
レートな形状をしており、その表面には、従来のプロー
ブと同様の絶縁皮膜処理がなされている。そして、
(b)の様に、図3で示した制御ネジ12をねじ込むこ
とによって、制御ネジ12が、制御板11を図の左方向
に押し出し、すべてのプローブ1に、同じ方向への湾曲
が与えられ、この状態が、本発明における治具の通常状
態となる。
【0022】そして、(c)で示すように、プリント基
板9が、プローブ1に、図の下方向へ押し当てられる
と、プローブ1が湾曲し、その際の発生する反発力によ
って、プリント基板1に適当な圧力で押し付けられる事
によって、確実に電気的に接触する。この状態で端子2
からプローブ1を経由してプリント基板9に電流を流す
ことで、各種検査を行う所までは従来の治具と同様であ
るが、この、プローブが湾曲する方向は、制御板11に
よって、すべてプローブ1が同じ方向となる為、プロー
ブ1同士の接触で絶縁皮膜の剥離が起こり、プローブ1
同士がショートする事故を防止し、治具の信頼性の向上
に大きく貢献するものである。
板9が、プローブ1に、図の下方向へ押し当てられる
と、プローブ1が湾曲し、その際の発生する反発力によ
って、プリント基板1に適当な圧力で押し付けられる事
によって、確実に電気的に接触する。この状態で端子2
からプローブ1を経由してプリント基板9に電流を流す
ことで、各種検査を行う所までは従来の治具と同様であ
るが、この、プローブが湾曲する方向は、制御板11に
よって、すべてプローブ1が同じ方向となる為、プロー
ブ1同士の接触で絶縁皮膜の剥離が起こり、プローブ1
同士がショートする事故を防止し、治具の信頼性の向上
に大きく貢献するものである。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
従来のプリント基板検査機用治具に比べ、治具製作の
際、一番数を多く使用する、プローブをストレート形状
とする事で、湾曲を付ける工数を削減し、更に、制御板
の追加によって、治具の信頼性の向上に大きく貢献する
ものである。
従来のプリント基板検査機用治具に比べ、治具製作の
際、一番数を多く使用する、プローブをストレート形状
とする事で、湾曲を付ける工数を削減し、更に、制御板
の追加によって、治具の信頼性の向上に大きく貢献する
ものである。
【図1】図1(a)は、従来例の代表的な一例を示した
実施例の正面図であり、(b)は、その側面図、(c)
は、(a)をY−Y′で切断し、矢印の方向に見た断面
図である。
実施例の正面図であり、(b)は、その側面図、(c)
は、(a)をY−Y′で切断し、矢印の方向に見た断面
図である。
【図2】図2(a)は、図1(c)の中央部分を拡大し
た部分断面図であり、(b)は、(a)の作動状態を示
した部分断面図である。
た部分断面図であり、(b)は、(a)の作動状態を示
した部分断面図である。
【図3】図3は、本発明で使用される治具の断面図であ
る。
る。
【図4】図4(a)は、図3の中央部分を拡大した部分
断面図であり、(b)及び、(c)は、(a)の矢印で
示す部分を更に拡大した部分断面図である。
断面図であり、(b)及び、(c)は、(a)の矢印で
示す部分を更に拡大した部分断面図である。
【図5】図5(a)〜(c)は、図4(a)をそれぞれ
(a)制御板11の無調整状態、(b)制御板11を図
3で表示した制御ネジ12を使用して正規な位置に調整
した、通常状態、(c)プローブにプリント基板が押し
当てられた作動状態、を示す部分断面図である。
(a)制御板11の無調整状態、(b)制御板11を図
3で表示した制御ネジ12を使用して正規な位置に調整
した、通常状態、(c)プローブにプリント基板が押し
当てられた作動状態、を示す部分断面図である。
1…プローブ 2…端子 3…ガイド板 4…ガイド板 5…ガイド板 6…スペーサ 7…スペーサ 8…固定ネジ 9…プリント基板 10…制御板ガイド 11…制御板 12…制御ネジ 13…ストッパー 14…ベース部分
Claims (1)
- 【請求項1】薄い板状のガイド板と、そのガイド板を複
数枚、間隔を空け、重ねて構成されるベース部分と、そ
のベース部分に開口された穴をガイドとして、配設され
る細長い棒状のプローブと、前記プローブが軸方向から
の力を受けて、曲がる再に、前記ガイド板の内の1〜2
枚が一定方向にスライドする事で、プローブを一定方向
に、複数本のプローブが互いに接触するのを防ぎなが
ら、バネ性を持たせている事を特徴とするプリント基板
検査機用治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001032975A JP2002202337A (ja) | 2001-01-04 | 2001-01-04 | ファインピッチ基板検査用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001032975A JP2002202337A (ja) | 2001-01-04 | 2001-01-04 | ファインピッチ基板検査用治具 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002202337A true JP2002202337A (ja) | 2002-07-19 |
Family
ID=18896809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001032975A Pending JP2002202337A (ja) | 2001-01-04 | 2001-01-04 | ファインピッチ基板検査用治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002202337A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004072661A1 (ja) * | 2003-02-17 | 2004-08-26 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 電気的接続装置 |
JP2006226702A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Nidec-Read Corp | 基板検査用治具、基板検査装置及び検査用接触子 |
JP2007165391A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Tsutomu Takahashi | プリント基板検査装置およびプリント基板検査装置用グリッド変換基板 |
JP2008298555A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Hioki Ee Corp | プローブユニット、プローブピンおよび回路基板検査装置 |
KR101061593B1 (ko) | 2008-04-21 | 2011-09-01 | 윌테크놀러지(주) | 프로브 카드 |
KR20160074271A (ko) * | 2014-12-18 | 2016-06-28 | 이채갑 | 프로브 장치 |
JP2017533446A (ja) * | 2015-01-04 | 2017-11-09 | イル キム、 | 検査接触装置 |
WO2018190194A1 (ja) * | 2017-04-12 | 2018-10-18 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
-
2001
- 2001-01-04 JP JP2001032975A patent/JP2002202337A/ja active Pending
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2004072661A1 (ja) * | 2003-02-17 | 2004-08-26 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 電気的接続装置 |
US7119561B2 (en) | 2003-02-17 | 2006-10-10 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | Electrical connecting apparatus |
JP2006226702A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Nidec-Read Corp | 基板検査用治具、基板検査装置及び検査用接触子 |
JP2007165391A (ja) * | 2005-12-09 | 2007-06-28 | Tsutomu Takahashi | プリント基板検査装置およびプリント基板検査装置用グリッド変換基板 |
JP2008298555A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Hioki Ee Corp | プローブユニット、プローブピンおよび回路基板検査装置 |
KR101061593B1 (ko) | 2008-04-21 | 2011-09-01 | 윌테크놀러지(주) | 프로브 카드 |
KR20160074271A (ko) * | 2014-12-18 | 2016-06-28 | 이채갑 | 프로브 장치 |
KR101716803B1 (ko) * | 2014-12-18 | 2017-03-15 | 이채갑 | 프로브 장치 |
JP2017533446A (ja) * | 2015-01-04 | 2017-11-09 | イル キム、 | 検査接触装置 |
WO2018190194A1 (ja) * | 2017-04-12 | 2018-10-18 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
JP2018179721A (ja) * | 2017-04-12 | 2018-11-15 | 株式会社日本マイクロニクス | 電気的接続装置 |
TWI660179B (zh) * | 2017-04-12 | 2019-05-21 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | 電性連接裝置 |
US10859599B2 (en) | 2017-04-12 | 2020-12-08 | Kabushiki Kaisha Nihon Micronics | Electrical connection apparatus |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6654061B2 (ja) | プローブガイド、プローブカード及びプローブガイドの製造方法 | |
JP4965341B2 (ja) | プローブユニットおよび回路基板検査装置 | |
KR101011360B1 (ko) | 검사 지그 및 그 검사 장치 | |
KR20080044332A (ko) | 도전성 접촉자 및 도전성 접촉자의 제조방법 | |
JP2009128218A (ja) | 電気接触子およびそれを備える検査冶具 | |
JP2002202337A (ja) | ファインピッチ基板検査用治具 | |
EP1243931A1 (en) | "Testing head having vertical probes for semiconductor integrated electronic devices." | |
JP4079444B2 (ja) | コネクタ | |
JP2020143976A (ja) | 電気的接続装置 | |
US10454193B2 (en) | Contact having a press-fit portion | |
JP2009186210A (ja) | コンタクトプローブ | |
JPH0921828A (ja) | 垂直作動式プローブカード | |
WO2016167095A1 (ja) | プレスフィット端子及び基板用コネクタ | |
US6034534A (en) | Laminated contact probe for inspection of ultra-microscopic pitch | |
JP3703423B2 (ja) | フレキシブル回路基板接続装置 | |
CN110662969A (zh) | 接触探针和用于测试电子器件的装置的相关探头 | |
JP2018004260A (ja) | 電気的接続装置及び接触子 | |
JP3904564B2 (ja) | 電子部品検査用プローブ及び該プローブを備えた電子部品検査用ソケット | |
CN1518667A (zh) | 导电性探针及电探测装置 | |
JP4359196B2 (ja) | 凸型スパイラル状接触子、それを用いた電子部品用接続端子、コネクタ、および、その製造方法 | |
KR102202297B1 (ko) | 전극 구조체, 검사 지그 및 전극 구조체의 제조 방법 | |
JP3198619B2 (ja) | 電子部品挿入方法及びその装置 | |
JP2006098066A (ja) | プローブ針及びその使用方法並びにプローブ針の製造方法 | |
US8395405B2 (en) | Probe | |
JP2007033363A (ja) | プローブ、プローブユニットおよび回路基板検査装置 |