JP2002197924A - 透明導電フィルム及びその製造方法並びにタッチパネル - Google Patents

透明導電フィルム及びその製造方法並びにタッチパネル

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JP2002197924A
JP2002197924A JP2000395426A JP2000395426A JP2002197924A JP 2002197924 A JP2002197924 A JP 2002197924A JP 2000395426 A JP2000395426 A JP 2000395426A JP 2000395426 A JP2000395426 A JP 2000395426A JP 2002197924 A JP2002197924 A JP 2002197924A
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Masahito Yoshikawa
雅人 吉川
Yoshinori Iwabuchi
芳典 岩淵
Yukihiro Kusano
行弘 草野
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高分子フィルム上に透明導電薄膜が形成され
た透明導電フィルムであって、透明導電薄膜の密着性が
良く、耐擦傷性に優れ、タッチパネルの上部電極として
有用な透明導電フィルム及びその製造方法と、この透明
導電フィルムを備えるタッチパネルを提供する。 【解決手段】 高分子フィルム4上に透明導電薄膜5が
形成されてなる透明導電フィルム。透明導電薄膜5は、
高分子フィルム4上に下地層9を介して形成されてい
る。この下地層9は、SiCターゲットによるスパッタ
リング等で形成される。この透明導電フィルムを上部電
極6Aとして備えるタッチパネル。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、高分子フィルム上
に透明導電薄膜が形成された透明導電フィルムであっ
て、透明導電薄膜の密着性が良く耐擦傷性に優れ、タッ
チパネルの上部電極として有用な透明導電フィルム及び
その製造方法と、この透明導電フィルムを備えるタッチ
パネルに関する。
【0002】
【従来の技術】指で押したり、専用ペンで描画すると、
その部分が対面電極と接触、通電して信号が入力される
抵抗膜式タッチパネルは、小型、軽量、薄型化に有利で
あることから、各種の家電や携帯端末の入力機器として
広く用いられている。
【0003】抵抗膜式タッチパネルは、図2に示す如
く、ガラス板1の上に透明導電薄膜2を形成してなる下
部電極3の上に、高分子フィルム4に透明導電薄膜5を
形成してなる上部電極6を、透明導電薄膜2,5が対面
するようにスペーサ(マイクロドットスペーサ)7を介
して積層したものであり、上部電極6の表示面を指やペ
ンで押すと、上部電極6と下部電極3とが接触して通電
し信号が入力される。なお、上部電極6の表面には、高
分子フィルム4の保護のためにハードコート層8が設け
られている。
【0004】このようなタッチパネルでは、上部電極6
上のタッチ面を指やペンで擦るため、その際の耐擦傷性
と、上部電極6が指やペンで擦られたときに下部電極3
と接触し、その後復元する繰り返し変形に対する耐久性
が極めて重要な特性となる。
【0005】従来のタッチパネルでは、上部電極6の耐
擦傷性を向上させるためにタッチ面側にハードコート層
8が設けられているが、繰り返し変形に対する耐久性に
対しての対策は講じられていない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ハードコート
層8が設けられていても耐擦傷性が十分であるとは言え
ず、また、従来のタッチパネルでは、上部電極6の高分
子フィルム4と透明導電薄膜5との密着性が不十分であ
るために、変形を繰り返すことにより、高分子フィルム
4と透明導電薄膜5との間で剥離が生じるようになる。
透明導電薄膜5が剥離した上部電極6では、正確な入力
を行うことができないため、このことがタッチパネルの
信頼性を損ない、損傷、欠陥、耐久性低下の原因となっ
ていた。
【0007】本発明は上記従来の問題点を解決し、高分
子フィルム上に透明導電薄膜が形成された透明導電フィ
ルムであって、透明導電薄膜の密着性が良く、耐擦傷性
に優れ、タッチパネルの上部電極として有用な透明導電
フィルム及びその製造方法と、この透明導電フィルムを
備えるタッチパネルを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の透明導電フィル
ムは、高分子フィルム上に透明導電薄膜が形成されてな
る透明導電フィルムにおいて、該透明導電薄膜は、高分
子フィルム上に下地層を介して形成されていることを特
徴とする。
【0009】高分子フィルムと透明導電薄膜との間に下
地層を介在させることにより、高分子フィルムに対する
透明導電薄膜の密着性を高め、繰り返し変形による透明
導電薄膜の剥離を防止することができる。即ち、高分子
フィルムに下地層を形成することにより、成膜時に高分
子フィルムからガスが発生することを防止して、高分子
フィルムに対して透明導電薄膜を密着性良く形成するこ
とができるようになる。また、下地層が高分子フィルム
と透明導電薄膜との中間層として両者の密着性を高め
る。
【0010】更に、下地層を形成することによる透明導
電フィルムの強度向上で耐擦傷性を高めることもでき
る。
【0011】下地層としては、特に珪素化合物が、有機
材料よりなる高分子フィルムと無機材料よりなる透明導
電薄膜との中間的特性を有し、密着性の向上効果が高く
好ましい。
【0012】珪素化合物としては特にSiC(x=1
×10−6〜10)、SiO(x=1×10−6
5)、SiN(x=1×10−6〜5)、SiC
(x=1×10−6〜10、y=1×10−6
5)、SiC(x=1×10 −6〜10、y=1
×10−6〜5)、SiO(x=1×10−6
5、y=1×10−6〜5)、及びSiC
(x=1×10−6〜10、y=1×10−6〜5、
z=1×10−6〜5)よりなる群から選ばれる1種又
は2種以上が好適である。
【0013】このような下地層の膜厚は1nm〜50μ
mであることが好ましい。
【0014】本発明(請求項5)の透明導電フィルムの
製造方法は、珪素化合物よりなる下地層を有する本発明
の透明導電フィルムを製造する方法であって、前記珪素
化合物或いは珪素化合物を含む液状物を前記高分子フィ
ルム上に塗布することにより前記下地層を形成する工程
を有することを特徴とする。
【0015】本発明(請求項6)の本発明の透明導電フ
ィルムの製造方法は、珪素化合物よりなる下地層を有す
る本発明の透明導電フィルムを製造する方法であって、
前記珪素化合物を、真空蒸着、スパッタリング、イオン
プレーティング等の物理蒸着法、又はCVD等の化学蒸
着法で前記高分子フィルム上に付着させることにより前
記下地層を形成する工程を有することを特徴とする。
【0016】この方法において、スパッタリング法によ
るターゲット材料として、Si、SiC、SiO、Si
又はSiを用いることが好ましく、特に、タ
ーゲットとして密度2.9g/cm以上のSiCター
ゲット、とりわけ、炭化ケイ素粉末と非金属系焼結助剤
との混合物を焼結させることにより得られたSiCター
ゲットを用いることが好ましい。
【0017】本発明のタッチパネルは、このような本発
明の透明導電フィルム、又は、本発明の透明導電フィル
ムの製造方法で製造された透明導電フィルムを備えるこ
とを特徴とする。
【0018】
【発明の実施の形態】以下に図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
【0019】図1は本発明の透明導電フィルムを上部電
極として用いた本発明のタッチパネルの実施の形態を示
す断面図である。図1において、図2に示す部材と同一
機能を奏する部材には同一符号を付してある。
【0020】本発明の透明導電フィルムは、高分子フィ
ルム4に下地層9を介して透明導電薄膜5を形成したも
のであり、特にタッチパネルの上部電極6Aとして有用
なものである。
【0021】本発明の透明導電フィルムにおいて、基材
となる高分子フィルムの樹脂材料としては、ポリエステ
ル、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチ
レンテレフタレート、ポリメチルメタクリレート(PM
MA)、アクリル、ポリカーボネート(PC)、ポリス
チレン、トリアセテート(TAC)、ポリビニルアルコ
ール、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリエチ
レン、エチレン−酢酸ビニル共重合体、ポリビニルブチ
ラール、金属イオン架橋エチレン−メタクリル酸共重合
体、ポリウレタン、セロファン等が挙げられるが、特に
強度面でPET、PC、PMMA、TAC、とりわけP
ET、TACが好ましい。
【0022】このような高分子フィルムの厚さは、透明
導電フィルムの用途等によっても異なるが、タッチパネ
ルの上部電極としての用途には、通常の場合13μm〜
0.5mm程度とされる。この高分子フィルムの厚さが
13μm未満では、上部電極としての十分な耐久性を得
ることができず、0.5mmを超えると得られるタッチ
パネルの厚肉化を招き、また、上部電極としての柔軟性
も損なわれ、好ましくない。
【0023】このような高分子フィルム4の上に形成す
る下地層9としては、珪素化合物よりなるものが好まし
く、具体的な珪素化合物としては、SiC、Si
、SiN、SiC、SiC、SiO
又はSiCが挙げられる。なお、下地
層9は、このような珪素化合物の2種以上を含むもので
あっても良く、またこれらの珪素化合物の積層膜であっ
ても良い。
【0024】下地層9の膜厚は、過度に薄いと下地層9
を形成したことによる高分子フィルムと透明導電薄膜と
の密着性の向上効果及び耐擦傷性の向上効果が十分に得
られないが、この下地層9の膜厚が過度に厚くても、密
着性、耐擦傷性の向上効果に顕著な差異はなく、成膜コ
ストが高くつく上に透明導電フィルムの厚みが厚くなっ
て好ましくない。このため、下地層9の膜厚は0.5n
m〜100μm、特に1nm〜50μmであることが好
ましい。
【0025】下地層9上に形成する透明導電薄膜5とし
ては、ITO(スズインジウム酸化物)、ATO(スズ
アンチモン酸化物)、ZnO、AlをドープしたZn
O、SnO等の酸化物系透明導電薄膜が好ましい。こ
の透明導電薄膜5の膜厚が薄過ぎると十分な導電性を得
ることができず、過度に厚くても導電性には差異はな
く、成膜コストが高くつく上に透明導電フィルムの厚み
が厚くなって好ましくない。このため、透明導電薄膜5
の膜厚は1〜500nm、特に5〜100nmであるこ
とが好ましい。
【0026】なお、本発明の透明導電フィルムは、高分
子フィルム4の透明導電薄膜5を成膜する面とは反対側
の面にハードコート層8を形成しても良い。このハード
コート層8としては、アクリル層、エポキシ層、ウレタ
ン層、シリコン層等が挙げられ、通常その厚さは1〜5
0μm程度である。
【0027】このような本発明の透明導電フィルムは、
珪素化合物をそのまま、或いは、アルコール、ケトン、
トルエン、ヘキサン等の溶剤に溶解した溶液等の液状物
として高分子フィルムに塗布して乾燥させることにより
形成することもできるが、好ましくは、真空蒸着、スパ
ッタリング、イオンプレーティング等の物理蒸着法、又
はCVD等の化学蒸着法、特に好ましくはスパッタリン
グ法で成膜するのが、得られる下地層の緻密性、高分子
フィルムに対する接着性に優れ、成膜時のコンタミが少
なく、また高速での成膜が可能でその後の透明導電薄膜
の成膜を同一の装置内で連続的に行うことができ、成膜
効率にも優れる点で望ましい。
【0028】スパッタリング法によりSiC、SiO
、SiN、SiC、SiC、SiO
又はSiCよりなる下地層を形成する場
合、ターゲット材料としては、Si、SiC、SiO、
SiO又はSiを用いることができ、それぞれ
反応性ガスの種類、流量を調整することにより、所望の
組成の下地層を形成することができる。
【0029】特にターゲットとしては、SiC粉末をコ
ールタールピッチ、フェノール樹脂、フラン樹脂、エポ
キシ樹脂、グルコース、蔗糖、セルロース、デンプン等
の非金属系焼結助剤で焼結して得られる、密度2.9g
/cm以上のSiCターゲットが好ましい。即ち、成
膜速度を向上するために、スパッタリング成膜時に高入
力化すると、グロー放電がアーク放電となり、高分子フ
ィルムの傷付きの原因となるが、このような高密度かつ
均一なSiCターゲットであれば、スパッタリング成膜
時に高入力で安定放電を行うことができ、成膜速度を高
めることができる。
【0030】このようなSiCターゲットは、SiC粉
末に上述の非金属系焼結助剤を3〜30重量%程度均一
に混合し、混合物を1700〜2200℃程度で焼結さ
せることにより製造することができる。このようなSi
Cターゲットの密度は通常2.9g/cm以上であ
る。
【0031】なお、下地層成膜時のスパッタリング条件
には特に制限はなく、真空度0.05〜1Pa、投入電
力密度2〜500kW/m程度で実施することがで
き、このスパッタリング成膜時の反応性ガス流量及び成
膜時間を調整することにより、所望の組成、所望の膜厚
の下地層を形成することができる。
【0032】この下地層上の透明導電薄膜は、常法に従
って成膜することができるが、一般的には、下地層をス
パッタリング法で成膜した場合には、透明導電薄膜は、
ターゲットのみを変えて、同一のスパッタリング装置内
で下地層の成膜後連続的にスパッタリング成膜すること
が好適である。
【0033】なお、本発明の透明導電フィルムにおいて
は、高分子フィルム4に下地層9を成膜するに先立ち、
その表面に常法に従ってプラズマ処理を施しても良く、
プラズマ処理を施すことにより、高分子フィルムの表面
に官能基を付与して高分子フィルム4と下地層9との接
着性を高めると共に、表面のエッチングによるアンカー
効果で高分子フィルム4に対する下地層9の接着強度を
高め、より一層剥離防止効果を高めることができる。
【0034】本発明のタッチパネルは、図1に示す如
く、このような透明導電フィルムを上部電極として備え
るものであり、高分子フィルム4と透明導電薄膜5との
密着性が高く、また、耐擦傷性が良好であるため、耐久
性、信頼性に優れる。
【0035】なお、本発明の透明導電フィルムは、タッ
チパネルの上部電極としての用途の他、透明スイッチン
グデバイス、その他の各種の光学系透明導電フィルム用
途に有効に使用することができる。
【0036】
【実施例】以下に実施例及び比較例を挙げて本発明をよ
り具体的に説明する。
【0037】実施例1,2 基材として厚み188μmのPETフィルムを用い、ま
ず片面に湿式塗工によりJSR製アクリル系光硬化型ハ
ードコート剤(Z7501:固形分濃度35重量%、溶
剤MEK)を用いて厚み5μmのハードコート層を形成
した。このフィルムを100mm×100mmにカット
し、ハードコート層形成面の反対側の面に減圧下でプラ
ズマ処理を施した。プラズマ処理は、アルゴンガス10
0mL/minを流しながら真空度を13.3Paにし
た後、高周波電源(13.56MHz)で100Wにて
10分間行った。
【0038】次に、マグネトロンスパッタリング装置
で、ターゲットとして純度99.99%、100mm×
400mm×5mm厚のシリコンターゲットを用い、下
記成膜条件で膜厚10nmの珪素化合物薄膜の下地層を
成膜した。次いでその上に同じマグネトロンスパッタリ
ング装置で、ターゲットとして酸化錫10重量%、純度
99.99%、100mm×400mm×5mm厚のI
TOターゲットを用い、透明導電薄膜としてITO薄膜
を20nmの厚さに成膜することによりタッチパネル用
透明導電フィルムを作製した。 <珪素化合物薄膜成膜条件> アルゴンガス流量:表1の通り 反応性ガス流量:表1の通り 真空度:0.5Pa DC投入電力:2kW 成膜時間:表1の通り 基材回転速度:10rpm <ITO薄膜成膜条件> アルゴンガス流量:50cc/min 酸素ガス流量:3cc/min 真空度:0.5Pa DC投入電力:2kW 成膜時間:60秒 基材回転速度:10rpm
【0039】得られたフィルムについて、下記方法で摺
動筆記による耐久試験を行い、結果を表1に示した。 <耐久試験>250gの荷重を乗せた入力用ペンで、1
0万回の摺動試験を行った後、フィルムの電気特性を測
定し、試験前に対する電気抵抗値の変化率が50%未満
の場合をOKレベルとし、50%以上変化した場合をN
Gとした。
【0040】比較例1 下地層を成膜しなかったこと以外は実施例1と同様にし
て透明導電フィルムを作製し、同様に耐久試験を行っ
て、結果を表1に示した。
【0041】
【表1】
【0042】実施例3〜7 下地層として、マグネトロンスパッタリング装置で、タ
ーゲットとしてSiCターゲットを用い、下記成膜条件
にて膜厚10nmの珪素化合物薄膜の下地層を成膜した
こと以外は実施例1と同様にしてタッチパネル用透明導
電フィルムを作製し、同様に試験を行って、結果を表2
に示した。
【0043】なお、用いたSiCターゲットは、SiC
粉末に焼結助剤として20重量%のフェノール樹脂を均
一に混合したものを2100℃で焼結して得られた密度
2.92g/cmのものである。 <珪素化合物薄膜成膜条件> アルゴンガス流量:表2の通り 反応性ガス流量:表2の通り 真空度:0.5Pa DC投入電力:2kW 成膜時間:表2の通り 基材回転速度:10rpm
【0044】
【表2】
【0045】表1,2より、本発明によれば、高分子フ
ィルムと透明導電薄膜との密着性が良く、耐擦傷性、耐
久性に優れた透明導電フィルムが提供されることがわか
る。
【0046】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明によれば、高
分子フィルムと透明導電薄膜との密着性に優れ、耐擦傷
性、繰り返し変形に対する耐久性に優れた透明導電フィ
ルムが提供され、このような透明導電フィルムを用いて
高耐久性で信頼性に優れたタッチパネルが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の透明導電フィルムを備えるタッチパネ
ルの実施の形態を示す断面図である。
【図2】従来のタッチパネルを示す断面図である。
【符号の説明】 1 ガラス板 2 透明導電薄膜 3 下部電極 4 高分子フィルム 5 透明導電薄膜 6,6A 上部電極 7 スペーサ 8 ハードコート層 9 下地層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01B 13/00 503 H01B 13/00 503B Fターム(参考) 4F100 AA12C AA16C AA20C AA28 AA33 AD05C AD08C AK01A AK25 AK42 AT00A BA03 BA07 BA10A BA10B CC00 EH462 EH662 EJ482 EJ512 EJ61 GB41 JA13C JA20C JG01B JK06 JK14 JL00 JM02B JM02C JN01B YY00C 4K029 AA11 AA25 BA46 BA50 BA52 BB02 BC02 BD00 CA01 CA03 CA05 DC03 DC05 EA01 5B087 AA04 CC11 5G307 FA02 FB01 FC01 FC05 5G323 BA01 BA02 BA05 BB01 BB03 BB04 BB05

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 高分子フィルム上に透明導電薄膜が形成
    されてなる透明導電フィルムにおいて、該透明導電薄膜
    は、高分子フィルム上に下地層を介して形成されている
    ことを特徴とする透明導電フィルム。
  2. 【請求項2】 請求項1において、該下地層が珪素化合
    物よりなることを特徴とする透明導電フィルム。
  3. 【請求項3】 請求項2において、該珪素化合物がSi
    、SiO、SiN、SiC、SiC
    、SiO又はSiCであることを特
    徴とする透明導電フィルム。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれか1項におい
    て、該下地層の膜厚が1nm〜50μmであることを特
    徴とする透明導電フィルム。
  5. 【請求項5】 請求項2ないし4のいずれか1項に記載
    の透明導電フィルムを製造する方法であって、前記珪素
    化合物或いは珪素化合物を含む液状物を前記高分子フィ
    ルム上に塗布することにより前記下地層を形成する工程
    を有することを特徴とする透明導電フィルムの製造方
    法。
  6. 【請求項6】 請求項2ないし4のいずれか1項に記載
    の透明導電フィルムを製造する方法であって、前記珪素
    化合物を、真空蒸着、スパッタリング、イオンプレーテ
    ィング等の物理蒸着法、又はCVD等の化学蒸着法で前
    記高分子フィルム上に付着させることにより前記下地層
    を形成する工程を有することを特徴とする透明導電フィ
    ルムの製造方法。
  7. 【請求項7】 請求項6において、スパッタリング法に
    よるターゲット材料として、Si、SiC、SiO、S
    iO又はSiを用いることを特徴とする透明導
    電フィルムの製造方法。
  8. 【請求項8】 請求項7において、ターゲットとして密
    度2.9g/cm以上のSiCターゲットを用いるこ
    とを特徴とする透明導電フィルムの製造方法。
  9. 【請求項9】 請求項7又は8において、ターゲットと
    して、炭化ケイ素粉末と非金属系焼結助剤との混合物を
    焼結させることにより得られたSiCターゲットを用い
    ることを特徴とする透明導電フィルムの製造方法。
  10. 【請求項10】 請求項1ないし4のいずれか1項に記
    載の透明導電フィルムを備えることを特徴とするタッチ
    パネル。
  11. 【請求項11】 請求項5ないし9のいずれか1項に記
    載の透明導電フィルムの製造方法で製造された透明導電
    フィルムを備えることを特徴とするタッチパネル。
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