JP2002170274A - 光ピックアップ - Google Patents
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Abstract
ない光ピックアップを提供する。 【解決手段】 光源から照射された光ビームを情報記録
媒体の記録層に集光する対物レンズ及び対物レンズの光
源側に配置される開口絞りを含む集光光学系を備えかつ
該光ビームの照射により情報の記録及び/又は再生を行
う装置における光ピックアップであって、開口絞りが、
対物レンズの入射側主面位置から集光光学系の光軸上の
光源側へ対物レンズの略焦点距離だけ離間した位置に配
置されている。
Description
に記録する光ディスクなどの光学式情報記録媒体の記録
層に対して集光された光ビームの照射により情報の記録
及び/又は再生を行う装置における光ピックアップに関
し、特に、当該光ピックアップにおける光学系に関す
る。
データ及びコンピュータデータなどのデータを記録再生
する手段として広く用いられている。例えば、DVD(D
igitalVersatile Disc)と称される高密度記録型光ディ
スクが実用化されている。記録容量を拡大するという要
求から次世代光ディスクシステムとして、光ピックアッ
プにおいては例えばNA=0.85という高開口数の対
物レンズを用いつつ、DVDよりさらに高い密度で記録
した光ディスクを用いることが検討されている。
層であるカバー層が設けられているが、対物レンズの開
口数を大きくした場合、情報を記録再生する際に透過す
るカバー層の厚さが基準値から偏倚していると、球面収
差が多く発生し、本来の対物レンズがもっている空間周
波数特性(MTF)を実現することができない。特に短
いマークやピットを記録再生する場合に、カバー層の厚
さムラによりジッタの発生量が増加するという問題点が
生じる。
レンズを組み合わせた球面収差補正光学装置であるビー
ムエキスパンダを光源と対物レンズとの間に挿入し、発
生する球面収差を補正することが考えられる。ビームエ
キスパンダにより対物レンズに入射する光ビームを平行
光から収束光又は拡散光とすることによって、対物レン
ズからの射出光に予め球面収差を発生させ、カバー層で
発生する球面収差を補正する。すなわち、カバー層厚さ
が基準値である場合には、ビームエキスパンダが平行に
入射した光ビームを平行に射出するように動作し、光ビ
ーム径を若干変化させる。このとき、対物レンズ射出時
に発生する球面収差が基準厚さのカバー層で発生する球
面収差とちょうど打ち消し合うように対物レンズが設計
されていれば、基準厚さのカバー層を通して集光したス
ポットでは球面収差が発生しない。カバー層厚が基準値
から偏倚している場合には、ビームエキスパンダにより
射出光ビームを平行光から拡散光又は収束光に変化させ
る。具体的には、例えばカバー層が薄い場合には対物レ
ンズに収束光を入射させ、これによって対物レンズで発
生する球面収差量をカバー層厚によって減少した球面収
差発生量と相殺するように増加させ、情報記録面上では
無収差とするような補正を行なうのである。
示すように、従来の光ピックアップの対物レンズの入射
瞳面に絞りを設けた光学系を用いて上記のような球面収
差補正を行う場合、例えば収束光(発散光)を入射させ
ることによって実際の集光位置が焦点より手前(奥)と
なり、記録層上での開口数が増加(減少)するなど、球
面収差の補償に伴って記録層上での開口数が変動(NA
1>NA0>NA2)してしまうという問題があった。
開口数NAが大きくなると信号帯域外までMTF特性が
延びてしまい、信号ノイズが増加するという問題があ
り、逆に開口数が減少すると信号再生に必要なMTF帯
域が得られず、信号変調度の減少により再生信号のSN
比が劣化する。
され、その目的は、球面収差補償を行っても記録層上で
の開口数の変動を抑制する光学系を有する光ピックアッ
プを提供することを目的とする。
は、光源から照射された光ビームを情報記録媒体に集光
する対物レンズと前記対物レンズの光源側に配置される
開口絞りを含む集光光学系とを備えかつ、情報記録媒体
の記録層に対して集光された光ビームの照射により情報
の記録及び/又は再生を行う装置における光ピックアッ
プであって、前記開口絞りが、前記対物レンズの入射側
主面位置から前記集光光学系の光軸上の光源側へ前記対
物レンズの略焦点距離だけ離間した位置に配置されてい
ることを特徴とする。
集光光学系は、前記光ビームを収束光若しくは発散光と
して球面収差を補正しつつ前記開口絞りへ導く集光位置
可変光学系を備えたことを特徴とする。
クアップを添付図面を用いて詳細に説明する。まず、球
面収差補償を行っても光ディスクの記録層上での開口数
の変動を抑制する光学系のために、開口数の変化を考え
る。図1に示す従来の対物レンズの入射面の大きな径の
絞りを通って制限された収束光ビームであるので、焦点
を結ぶ位置が近くなった分だけ光ディスクの記録層上で
の開口数が拡大するようになる。すなわち、図1に示す
ように球面収差の補償によって開口数NA1が拡大して
いた。対物レンズに入射する光ビーム径は、図1に示す
ように、入射光が平行光であっても収束光であっても入
射側主面位置において常に一定であるためである。
うに、開口絞り16の位置を入射側主面位置18から光
源側に所定距離Dだけ変位した位置に配置する。開口絞
り16は光軸に関して回転対称な円形の開口部を有す
る。開口絞り16の位置を従来の対物レンズの入射面か
ら光源側に移動させると、入射面での入射平行光のビー
ム径Rに比べて、入射収束光のビーム径は光ビーム径r
が収束している分だけ入射側主面から開口絞り16まで
の距離Dに応じて小さくなることになる。すなわち、開
口数が開口絞り16によって制限される。この距離Dに
応じた入射光ビーム径rの減少量を、収束光の入射によ
る記録層上での光ビームの開口数(図1のNA1)の拡
大量にて相殺させることによって、球面収差補償を行っ
ても開口数が変化しないようにすることができる。
16を、入射側主面位置18から光源側に対物レンズの
略焦点距離Dfだけ離れたところに設置する。図示する
ように、実施形態の光ピックアップでは、ビームエキス
パンダで球面収差補正を行う場合、球面収差の補償に伴
う収束光(発散光)を対物レンズ17に入射させても、
開口絞り16により、記録層上での開口数が変動しない
(NA1≒NA0≒NA2)。これにより、開口数NA
の変動によるMTF特性が安定する。なお、対物レンズ
17の有効径は開口絞り16の開口径より大とする。光
量を確保するためである。球面収差補正手段として集光
位置を可変とすることができる集光位置可変光学系のビ
ームエキスパンダを用いるが、他の集光位置可変光学系
も用いることができる。
録再生装置の光ピックアップの光学系の概略を示す。該
情報記録再生装置の光ピックアップは、波長が400n
m〜415nm好ましくは405nm付近の短波長の青
を射出する青色半導体レーザ11を備えている。さら
に、光ピックアップは、コリメータレンズ12、偏光ビ
ームスプリッタ13、ビームエキスパンダ第1レンズ1
4及びビームエキスパンダ第2レンズ15からなるビー
ムエキスパンダ、開口絞り16、並びに2つのレンズを
含む2群対物レンズユニット17を備えている。以上の
光照射光学系によって、半導体レーザ11からの発散光
ビームは、コリメートタレンズ14で平行光ビームに変
換され、偏光ビームスプリッタ13を透過して、対物レ
ンズユニット17によって、その焦点付近にその記録層
が位置するように置かれている光ディスク19に向けて
集光され、光ディスク19の情報記録面のピット列上で
光スポットを形成する。なお、符号18は対物レンズの
入射側主面位置を示す。2枚のレンズを組み合わせたビ
ームエキスパンダは、両レンズ14、15を光軸に沿っ
て離すように駆動して対物レンズに入射する光ビームを
平行光から収束光とし、逆に近接するように駆動して拡
散光とすることによって、波面を制御して予め球面収差
を発生させ、これによって、光ディスク19のカバー層
で発生する球面収差を相殺する。また、対物レンズとし
て2群対物レンズユニット17を用いているが、対物レ
ンズは開口絞り16と光ディスク19の間にあるレンズ
(レンズ群)全てを含むものであり、単一レンズでも複
数レンズでも良い。開口絞りと光ディスクの間にある全
てのレンズにより所定焦点距離が決まるので、かかる対
物レンズの焦点距離に基づいて開口絞りの位置が定ま
る。
ップはさらに検出レンズなど光検出光学系を有してお
り、対物レンズユニット17及び偏光ビームスプリッタ
13は光検出光学系にも利用されている。光検出光学系
により、光ディスク19からの反射光は、対物レンズユ
ニット17で集められ偏光ビームスプリッタ13によっ
て検出用集光レンズ110に向けられる。検出レンズ1
10で集光された集束光は、例えば、シリンドリカルレ
ンズ、マルチレンズなどの非点収差発生素子(図示せ
ず)を通過して、光検出器の受光面111中心付近に光
スポットを形成する。
調回路30及びエラー検出回路31に接続されている。
エラー検出回路31は、対物レンズユニットのトラッキ
ング制御及びフォーカス制御用のアクチュエータ26を
含む機構を駆動する駆動回路33に、さらにビームエキ
スパンダの第1及び第2レンズ14、15間の光軸上距
離を制御するアクチュエータ26aを含む機構を駆動す
る駆動回路33aに接続されている。
結像された光スポット像に応じた電気信号を復調回路3
0及びエラー検出回路31に供給する。復調回路30
は、その電気信号に基づいて記録信号を生成する。エラ
ー検出回路31は、その電気信号に基づいてフォーカス
エラー信号や、トラッキングエラー信号や、球面収差エ
ラー信号や、その他サーボ信号などを生成し、アクチュ
エータの駆動回路33、33aを介して各駆動信号を各
アクチュエータに供給し、これらが各駆動信号に応じて
対物レンズユニット17、ビームエキスパンダなどをサ
ーボ制御して駆動する。
明する。偏光ビームスプリッタ13を透過した平行光ビ
ームは、ビームエキスパンダ第1レンズ14によってビ
ームエキスパンダ倍率に対応した拡散光となる。この拡
散光をビームエキスパンダ第2レンズ15は、球面収差
エラー信号に応じて光軸上で駆動される収差を補償する
ようになっており、平行光或いは収差が補償された収束
光若しくは発散光を開口絞り16を介して対物レンズユ
ニット17へと導く。
さ例えば100μmである場合において、光学系に例え
ば開口数が0.85の対物レンズユニットを用いて、対
物レンズユニット17に平行に入射した光ビームが光デ
ィスク19上に設計上無収差でスポットを形成するよう
に光学系が設計されている。光ディスク19のカバー層
膜厚が基準厚100μmである場合には、図5に示すよ
うに、ビームエキスパンダ第2レンズ15は平行光ビー
ムを対物レンズユニット17に射出する。
が薄いときには、ビームエキスパンダ第2レンズ15を
上記の位置よりも光源から遠ざけるように移動し、対物
レンズの入射側主面位置18には収束光が入射するよう
に動作させる。これによって、対物レンズユニット17
での球面収差発生量が増加し、カバー層が薄くなったこ
とによってカバー層で発生する球面収差量が減少してい
る分を補償する。これに対し、図7に示すように、カバ
ー層の厚さが基準値より厚いときには、ビームエキスパ
ンダ第2レンズ15を上記の位置よりも光源に近づける
ように移動し、対物レンズの入射側主面位置18には発
散光が入射するように動作させ、カバー層による球面収
差量の増加分を補償する。
00μmから±10μm変動したときに、上記実施形態
の場合と図1に示す従来の場合における記録層上の開口
数の変化を測定した。図8にその結果を示す。上記実施
形態の光ピックアップの場合の方が図1に示す従来の場
合よりも開口数の変動が少ないことが確認された。さら
に、図9に示すように、上記実施形態の光ピックアップ
の光軸における開口数0.85の対物レンズユニット1
7の入射側レンズ面の頂点から開口絞り16までの距離
をdとして、距離d(mm)をD=0、D=1.25、
D=2.5と変化させた場合の光ディスク19のカバー
層の厚み誤差の開口数に対応する変化量をシミレートし
た。D=0は従来の場合に、D=1.25は本願発明の
場合に対応する。図10にその結果を示す。本願発明の
場合(D=1.25)すなわち、開口絞り16を、対物
レンズユニットの入射側主面位置18から光源側に対物
レンズの略焦点距離Dfだけ離れたところに設置した場
合では、開口数が0.85で一定である。
トの鏡筒内に配置するような構成としなくとも、例えば
対物レンズがアクチュエータによって駆動されるような
構成である場合、そのアクチュエータのボビンに開口絞
り16を設けておき、ここに対物レンズを所定の位置に
取り付けるようにしても良い。開口絞り16は、所定の
大きさの光学的な開口部をもつものであれば、円環状絞
り、透明部材の周囲を遮光したものなど、いろいろな構
成のものを用いることができる。絞りの厚さは適宜選ぶ
ことができ、厚くすることによって開口数を一定にする
精度が低下するが、規定の位置はその絞りの厚さ部分に
含まれていれば同様の効果が得られる。
径よりも小さければ、いくつであってもこの効果は発揮
される。上記実施形態では、開口絞り16の開口部の形
状は円形とした場合の説明をしたが、楕円形、長方形、
正方形など特殊な形状であっても構わない。本発明によ
れば、ビームエキスパンダなど、光ビームの収束状態を
変えることによって球面収差の補償を行う光ピックアッ
プ光学系で補償に伴って対物レンスの開口数が変化しな
いので、2層ディスクなどの多層記録媒体の記録再生時
にも各記録層において同一のMTF特性を得ることがで
きる。
わゆるソリッドイマージョンレンズを用いた光学系に対
しても同様に適用することができる。以上の実施形態に
おいては、球面収差補正手段として2つのレンズ14,
15からなるビームエキスパンダを用いた場合を説明し
たが、ビームエキスパンダに限らす、平行光から集光位
置を変化させて対物レンズに入射させることにより球面
収差の補正が可能なものであれば、他の構成の集光位置
可変光学系も用いることができる。例えば、図11に示
すように、平行平板からなるビームスプリッタ93及び
コリメータレンズ95からなるいわゆる有限光学系も本
発明の情報記録再生装置に適用できる。図11中図4に
示す同一符号の部材は同一のものである。この例ではコ
リメータレンズ95を駆動する構成としたが、代わりに
半導体レーザ11を光軸方向に移動せしめる構成として
も球面収差を変化させることができる。
設けるという簡単な構成によって、情報記録媒体におい
て球面収差補償を行った場合に発生する開口数変化を一
定に保ち、球面収差補償に伴う信号記録再生特性の変化
の発生を抑制することができる。
図。
図。
明するの概略断面 図。
ピックアップ光学 系を説明する概略ブロック図。
を説明する概略部 分断面図。
を説明する概略部 分断面図。
を説明する概略部 分断面図。
の記録層上の光ビ ームの開口数の変化を示すグラフ。
を説明する概略部 分断面図。
ィスクの記録層上 の光ビームの開口数の変化を示すグ
ラフ。
置の光ピックアップ光学系を説明する概略ブロック図。
Claims (2)
- 【請求項1】 光源から照射された光ビームを情報記録
媒体の記録層に集光する対物レンズ及び前記対物レンズ
の光源側に配置される開口絞りを含む集光光学系を備え
かつ該光ビームの照射により情報の記録及び/又は再生
を行う装置における光ピックアップであって、 前記開口絞りが、前記対物レンズの入射側主面位置から
前記集光光学系の光軸上の光源側へ前記対物レンズの略
焦点距離だけ離間した位置に配置されていることを特徴
とする光ピックアップ。 - 【請求項2】 前記集光光学系は、前記光ビームを収束
光若しくは発散光として球面収差を補正しつつ前記開口
絞りへ導く集光位置可変光学系を備えたことを特徴とす
る請求項1記載の光ピックアップ。
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080819 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081020 |
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A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081118 |