JP2002162400A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JP2002162400A
JP2002162400A JP2000356484A JP2000356484A JP2002162400A JP 2002162400 A JP2002162400 A JP 2002162400A JP 2000356484 A JP2000356484 A JP 2000356484A JP 2000356484 A JP2000356484 A JP 2000356484A JP 2002162400 A JP2002162400 A JP 2002162400A
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automatic analyzer
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automatic
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JP2000356484A
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Shigenori Watari
亘  重範
Hatsue Katahira
初恵 片平
Atsushi Maeda
淳 前田
Takeshi Shibuya
武志 渋谷
Yoshio Kiyonari
能夫 清成
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】自動分析装置の電源を24時間連続でON状態
のまま待機させた運用法を行なった場合でも、分析準備
動作及び測定実行プログラムの主記憶装置への転送を定
期的に実行し、信頼性及び使用性が向上された自動分析
装置を実現する。 【解決手段】制御部2は自動分析装置が既に電源の無切
断に対応する制御となっているか否かを判断し対応制御
ではない場合は電源監視部3に情報送信を要求する。電
源監視部3は制御部2への通電開始時からタイマ回路3
2による経過時間情報を電源監視部制御回路30に渡
す。制御回路30は経過時間情報値が大きい場合は制御
部2へ連絡し表示部9に24時間連続通電での運用への
設定をユーザに要求する。ユーザが24時間連続通電運
用を承認すると24時間連続通電運用を可能にする自動
メンテナンスの開始時刻と項目の選択画面が現れ、ユー
ザは自動メンテナンスを開始してもよい時刻と必要項目
とを選択して登録する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、分析対象であるサ
ンプルの成分を分析する自動分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】自動分析装置は、この装置の動作を統括
制御し、装置動作に必要な情報の処理を行なう、MP
U、メモリ、I/O、シーケンサ等の電子回路や、H/
D等の各種記憶装置によって構成される制御部と、この
制御部により、試薬等を使用して分析対象である検体の
成分を分析する機構を有する分析部と、分析対象である
検体の成分を分析する為に使用する薬品を格納する試薬
容器と、分析対象であるサンプルを保持するサンプラ部
と、制御部、分析部、サンプラ部などの装置各部位に対
し、各部位の動作に必要な電力を供給する電源部と、こ
れら部位の動作状況及び分析部結果をユーザに対し表示
し、又、ユーザの操作を装置に伝える、インタフェース
で構成される。
【0003】上記自動分析装置における従来の技術で
は、電源スイッチが投入された時点を自動分析装置の動
作の起点とし、装置の電源のなかで、制御部への電源が
立上った場合にのみ、分析動作用プログラム及びデータ
をH/Dなどの補助記憶装置から主記憶装置へ転送して
いる。
【0004】さらに、プログラムを主記憶装置へ転送し
た後に、MPUにより主記憶装置上の、分析装置動作用
プログラムを実行することにより、水交換や、反応セル
の洗浄などの分析準備動作を行っていた。
【0005】また、自動分析装置にタイマ機能を付加
し、ユーザの設定した時刻になると、装置の電源を自動
投入し、分析業務を開始する前に分析準備動作を完了す
るものも存在する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、自動分析装
置は、この自動分析装置に使用されている、反応槽の水
などの交換や、分析動作開始以前の反応セルの洗浄など
の、分析準備動作が必要である。
【0007】このため、従来の技術では、自動分析装置
の電源立上げ後の分析動作用プログラムを主記憶装置へ
転送した後に、MPUにより主記憶装置上の、分析動作
用プログラムを実行することにより、これらの水交換
や、反応セルの洗浄などの分析準備動作を行うか、装置
で分析動作を実行しない時間帯に、使用者が装置の手動
メンテナンス機能を操作して水交換等を行う必要があっ
た。
【0008】これらの分析準備動作には、それぞれ時間
が必要であり、電源投入後にこれら分析準備動作を行な
ってから実際の分析動作を開始するまでに15分から4
5分必要とする項目も存在するため、緊急分析が必要な
場合などは特に不便であった。
【0009】そこで、タイマによる装置の自動立上げ機
構を有する自動分析装置が考案された。この自動立ち上
げ機構は、予めユーザが時刻設定を行い、設定時刻にな
ると自動的に電源が投入され、水交換、反応セル洗浄な
どの分析準備動作を行うものである。
【0010】しかし、自動分析装置の緊急使用を考慮
し、装置の電源を24時間連続でON状態のまま待機さ
せる運用法を行なった場合は、タイマによる起動は使用
不可能であり、水交換や、反応セルの洗浄は、装置を使
用しない時間帯に、使用者が装置の手動メンテナンス機
能を操作して行う必要があり、不便っであった。
【0011】さらに、自動分析装置の動作を統括制御す
る制御部内において、MPUが動作する為のプログラム
やデータを格納する主記憶装置は、半導体メモリで構成
されるが、半導体メモリは、記憶をつかさどる電荷の経
時的減衰や、アルファ線、X線などの放射線による影響
により、記憶内容が破壊されてしまうことが知られてい
る。
【0012】一般的にソフトエラーと呼ばれる現象は、
記憶素子の構造や材質、高度などの設置条件によって発
生確率が変化するが、同条件下に置かれた装置におい
て、主記憶装置上のプログラムまたはデータの領域にソ
フトエラーが発生し、その破壊された領域のプログラム
またはデータをMPUが使用して、誤動作に至る確立
は、時間と比例して増加すると言える。
【0013】このため、制御部への電源が立上った場合
にのみ、分析動作用プログラム及びデータをH/Dなど
の補助記憶装置から主記憶装置への転送を行う自動分析
装置を、24時間連続して通電状態に置いた場合は、主
記憶装置上の分析動作用プログラム及びデータは、時間
の経過と共に、その一部が壊れる可能性が高くなり、M
PUが破壊された領域のプログラム及びデータを使用し
た場合は、自動分析装置の動作に影響を及ぼす場合も考
えられる。
【0014】このプログラム等の破壊を防止させる手段
として、1ビットのメモリエラーを自動訂正することが
可能なECC付きの主記憶装置を適用する装置もある
が、これらは一般的にECC無しの装置より高価であ
り、また、2ビット以上のビットが同時に破壊されたメ
モリエラーは、訂正することができない、と言う欠点が
あった。
【0015】本発明の目的は、自動分析装置の電源を2
4時間連続でON状態のまま待機させた運用法を行なっ
た場合でも、分析準備動作及び測定実行プログラムの主
記憶装置への転送を定期的に実行し、信頼性及び使用性
が向上された自動分析装置を実現することである。
【0016】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は次のように構成される。 (1)分析対象である検体の成分を分析する機構を有す
る分析部と、使用者に対して情報を表示する表示部と、
この表示部及び分析部の動作を制御する制御部と、この
制御部分析部及び表示部の動作に必要な電力を供給する
電源部とを有する自動分析装置において、上記制御部
は、上記の電源部の立ち上げ後から、所定の時間が経過
したか否かを判断し、上記所定時間が経過したとき、自
動分析装置の制御を、電源の無切断運用に対応する制御
動作へ移行するか否かを、上記表示部に表示させる。
【0017】(2)好ましくは、上記(1)において、
上記表示部は、電源の無切断運用に対応する制御へ移行
するか否かを表示するとともに、電源の無切断運用に対
応した所定の制御動作の実行予定時刻も表示し、その時
刻または使用者が指定した時刻となった時に、分析準備
動作及び分析装置動作用プログラムの制御部内の主記憶
手段への転送動作のうち、少なくともいずれか一方を実
行する。
【0018】(3)また、好ましくは、上記(2)にお
いて、上記表示部は、上記所定の制御動作として、少な
くとも、洗浄、水交換を含む各種準備動作項目及び分析
装置動作用プログラムの主記憶手段への転送を、選択可
能なように表示する。
【0019】(4)また、好ましくは、上記(1)、
(2)又は(3)において、上記制御部は、自動分析装
置の稼動した時間帯を複数日に亘り記憶し、記憶した統
計データと、最適な各種準備動作項目及び分析装置動作
用プログラムの制御部内主記手段への転送を行う各項目
の実行時間を累積したデータとの比較から、電源の無切
断運用に対応した所定の制御動作を実行するに最適な時
間帯を算出し、算出結果を使用者に表示する。
【0020】(5)また、好ましくは、上記(1)、
(2)、(3)又は(4)において、上記制御部は、自
動分析装置の稼動した時間帯を複数日に亘り記憶し、記
憶した統計データと、個々の準備動作項目の実行に必要
な時間とを比較し、個々の準備動作項目及び分析装置動
作用プログラムの制御部内主記憶手段への転送の実行を
別々の時間帯に分割する。
【0021】(6)また、好ましくは、上記(1)、
(2)又は(3)において、自動分析装置と使用者との
インタフェースを担当する部位に、PC又はワークステ
ションなどの情報処理装置を設置し、自動分析装置と上
記情報処理装置との間をLANなどの通信手段で接続す
る。
【0022】自動分析装置の電源を、不連続でオンとす
る状態で使用している場合から、連続で使用する場合と
なり、24時間連続でオン状態のまま待機させた運用法
を継続的に行なったとき、24時間連続でオン状態の所
定の動作制御に移行するか否かを自動的に使用者に表示
する。
【0023】そして、その所定の制御動作の開始時刻
は、24時間連続運転の実績データから算出され、この
算出した開始時刻となったら、自動的に所定の制御動作
を行う。
【0024】これにより、自動分析装置の電源を24時
間連続でON状態のまま待機させた運用法を行なった場
合でも、分析準備動作及び測定実行プログラムの主記憶
装置への転送を定期的に実行し、信頼性及び使用性が向
上された自動分析装置を実現することができる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を添付図
面を参照して詳細に説明する。 [第1の実施形態]図1は、本発明による第1の実施形
態である自動分析装置の概略機能ブロック図であり、図
2は、自動分析装置の概略構成図である。
【0026】図1において、制御部2は、MPU、メモ
リ、I/O、通信回路、H/Dなどの補助記憶装置など
を有する情報処理装置又はシーケンサ等で構成され、自
動分析装置の動作及び分析動作に必要な情報を処理又は
統括制御する。
【0027】また、分析部5は、図2に示すように、試
薬と検体とを混合する容器である反応セル29が、複数
の反応セル29を搭載して同時に移動させるための可動
式反応ディスク26上に配置され、検出器27により吸
光度を測定することにより、分析対象である検体の成分
を分析する。
【0028】また、試薬保管部6は、分析に使用する試
薬を格納し、試薬プローブ25によって、試薬を吸引可
能な位置まで、必要な試薬を移動し、又試薬を保冷する
機能を有する。サンプラ部4は、分析対象である検体を
試験管やサンプルカップなどの容器に入れて格納する。
また、サンプラ部4は、分析を行う検体をサンプルプロ
ーブ24によって分注される位置まで移動する。
【0029】これら、制御部1、分析部5、試薬保管部
6、サンプラ部4は、各要素の動作に必要な電力を装置
内電源7より供給される。この装置内電源7は、装置外
部の商用電源12から、電力を引き入れ、装置内の各部
位の必要な電圧値、電流値、周波数値に変更し供給す
る。
【0030】また、電源監視部3は、図3に示すよう
に、制御部電源線20の通電状態を監視するセンサ34
と、このセンサ34を動作させるセンサ制御回路33と
を有している。センサ34には電流を監視するものや電
圧を監視するセンサまたは磁界や温度を検出するセンサ
も使用可能である。
【0031】また、電源監視部3は、時刻を知らせる時
計回路31と、経過時間が測定可能なタイマ回路32と
を有し、タイマ回路32は、センサ34が通電開始を検
知した場合にセンサ制御回路33が発生するセンサトリ
ガ信号42又は制御部2からのトリガ信号により動作を
開始し、トリガ信号入力後からの経過時間を計測するこ
とが可能である。
【0032】また、タイマ回路32は制御部電源線20
の通電が停止するか、制御部2からの信号によりリセッ
トされる。これら時計回路31やタイマ回路32の時刻
及び経過時間情報は、バス又は通信線により電源監視信
号14で制御部2に伝達される。また、センサ制御回路
33は通電開始を検知をすると共に停電状態も検出で
き、タイマ回路32によって停電時間を測定することも
可能なように構成されている。
【0033】次に、本発明の第1の実施形態である自動
分析装置の動作の詳細を図4のフローチャートを用いて
説明する。
【0034】図4において、電源スイッチ11が投入さ
れると、装置内電源7は、制御部2への電源供給を開始
し、制御部2の内部では、H/DやRAMディスクなど
の補助記憶装置から主記憶装置へ分析動作用プログラム
及びデータがブートされ、その後、MPUが分析動作用
プログラムを実行し装置の動作が開始される(ステップ
401)。
【0035】次に、ステップ402において、制御部2
はブートしたデータファイルの内容などから、装置が、
既に電源の無切断に対応する制御に変更されているか否
かを判断する。そして、電源の無切断に対応する制御に
変更されている場合には、ステップ414に進む。
【0036】また、ステップ402において、電源の無
切断に対応する制御に変更されていないと判断した場合
は、電源監視部3に情報送信を要求し、情報が来るのを
待つ。
【0037】つまり、電源監視部3は制御部2に電源が
通電された時点から、タイマ回路32の動作を開始し、
通電開始からの経過時間情報を電源監視部制御回路30
に渡す。電源監視部制御回路30には、マイコン等の判
断回路があり、あらかじめ信頼性を考慮し設定してある
値と、タイマ回路32の出す通電開始からの経過時間情
報とを比較し、タイマ回路32の出す通電開始からの経
過時間情報の値が大きくなった場合は、制御部2へ連絡
する(ステップ403、404)。
【0038】次に、制御部2は、表示制御部8に対し、
表示部9に、図5に示すような、24時間連続通電での
運用に対応する設定を行うように要求する表示を行う
(ステップ407)。
【0039】ステップ408において、ユーザ(使用
者)が連続通電対応への移行を承認しなかった場合は、
ステップ408、409、410を介してステップ40
5、406に進み、待機時間の経過後に、ステップ40
7に戻る。
【0040】ステップ408において、ユーザが24時
間連続通電での運用に対応する設定を行うことを承認
し、その入力があると(ステップ409、410)、2
4時間連続通電での運用を可能にする為の、自動メンテ
ナンスを開始する時刻と、自動メンテナンス項目を選択
する画面(図6に示す)が現れる(ステップ411)。
【0041】そして、ユーザは、自動メンテナンスを開
始しても支障の無い開始時刻と、自動メンテナンスに必
要な項目とを選択して登録する(ステップ412)。自
動メンテナンス項目としては、主記憶装置への分析動作
用プログラム及びデータのリブートや、分析部の水交換
や、流路洗浄や、反応セル29の洗浄などがある。
【0042】本発明の第1の実施形態の画面(図6に示
す)では、主記憶装置への分析装置動作用プログラム及
びデータのリブートの項目は、デホルト設定項目とし
て、ユーザが除外することができない構成となってお
り、項目選択方法は、不要項目を除外していく方式をと
る。ユーザの入力が完了すると(ステップ413)、
制御装置2は、電源監視部3に設定時刻を送る。
【0043】続いて、電源監視部3は、時計回路31に
よって時刻計測を行い(ステップ414)、時刻が設定
時刻に達する30分前であることを検出すると、制御装
置2に連絡する(ステップ415)。
【0044】制御装置2は、装置が分析動作であるか否
かを確認し(ステップ416)、分析動作状態であれば
分析動作が優先され、自動メンテナンス動作は翌日の同
時刻に延期される(ステップ421)。また、自動分析
装置が、分析動作状態ではなく、待機状態であった場合
は、図7に示す表示画面のように、自動メンテナンス開
始までの残り時間をユーザに知らせる(ステップ41
7)。
【0045】もし、この残時間警告画面の表示中(ステ
ップ417)に、緊急の分析が必要になった場合は、ユ
ーザは画面上(図7に示す)の自動メンテナンスキャン
セルボタン74を選択することにより(ステップ41
8)、当日の自動メンテナンスの開始を意図的に24時
間延期させることが可能である(ステップ421)。但
し、延期時間も設定が可能である。
【0046】また、残り時間表示期間中に自動メンテナ
ンスキャンンセルボタン74が押されなかった場合(ス
テップ419)、メンテナンス設定時刻に達した時点で
(ステップ420)、制御部2は、ユーザが設定したメ
ンテナンス項目を開始する(ステップ422)。
【0047】制御部2は、電源立上げ後にブートしたデ
ータファイルの内容などから、装置が既に電源の無切断
運用に対応する制御に変更されている場合は、電源監視
部3の、時計回路31によって時刻計測(ステップ41
4)の状態から動作を行う。
【0048】以上のように、本発明の第1の実施形態に
よれば、ユーザが自動分析装置を24時間連続運転と設
定した場合には、メンテナンス開始時刻の設定画面を表
示し、ユーザが入力したメンテナンス開始時刻により、
以降のメンテナンスを自動的に実行する。このメンテナ
ンスには、分析動作用のプログラムの補助記憶装置から
主記憶装置への再転送も含まれている。
【0049】したがって、自動分析装置の電源を24時
間連続でON状態のまま待機させた運用法を行なった場
合でも、分析準備動作及び測定実行プログラムの主記憶
装置への転送を定期的に実行し、信頼性及び使用性が向
上された自動分析装置を実現することができる。
【0050】また、上記メンテナンス開始時刻に、分析
動作状態か否かを自動的に判断し、自動分析動作実行中
であれば、メンテナンスよりも自動分析動作を優先して
実行するように構成されているので、緊急の分析動作に
対しても支障無く実行することができる。
【0051】また、メンテナンス開始時刻開始時刻の3
0分前に、メンテナンス開始を予告表示し、ユーザが指
示することによりメンテナンス動作がキャンセルされ
る。これにより、緊急の分析動作に対しても支障無く実
行することができる。
【0052】[第2の実施形態]次に、本発明の第2の
実施形態である自動分析装置を、図8、図9及び図10
のフローチャートを参照して説明する。この第2の実施
形態の概略構成は、第1の実施形態の概略構成と同等で
あるので、その詳細な説明は省略する。また、この第2
の実施形態において、図10に示すフローチャートのス
テップ1001〜1018と、図4に示すステップ40
1〜418とは、同様な内容であるので、その説明は省
略する(ただし、ステップ416は、イエスの場合、ス
テップ421に進むが、ステップ1016においては、
イエスの場合、ステップ1023に進む点は異なってい
る )。
【0053】また、図8に示した電源監視部は、図3に
示した電源監視部のタイマ回路32にキャンセル数カウ
ンタ回路80を追加し、このキャンセル数カウンタ回路
80を電源監視部制御回路30からのキャンセルカウン
タ制御信号により制御するように構成したものである。
他の部分については、図3の例と図8の例とは同様な構
成となっている。
【0054】図10のステップ1019において、自動
メンテナンス開始伺い画面70の表示中に、ユーザが緊
急の分析が必要になり、自動メンテナンス開始をキャン
セルした場合、ステップ1023、1024を介してス
テップ1021で、装置は自動メンテナンス開始を24
時間延期する。
【0055】自動メンテナンス開始を24時間延期する
際には、電源開始部3内部のキャンセル数カウンタ回路
80のカウント値を1カウント増加させる(ステップ1
023)。キャンセルカウンタ回路80は、自動メンテ
ナンス実行及び電源の停止などでリセットされ0カウン
トとなる、自動メンテナンスのキャンセルが連続的に行
われる。そして、キャンセルカウンタ回路80のカウン
ト値が、設定値を超えると(ステップ1024)、電源
開始部3は、キャンセルカウンタ制御信号81と電源監
視信号14とにより、その旨を制御部2に伝達する。
【0056】制御部2は、常時、稼動時間帯を記憶して
あるが、設定日数分の稼動状況を、自動メンテナンス時
刻変更画面90に表示し(図9に示す)、稼動状況の統
計データから、装置の非稼動時間帯を抽出する機能を有
している。
【0057】また、自動メンテナンス時刻・項目設定画
面60においてユーザが設定した、自動メンテナンス項
目の実行時間の総和を求め、設定した自動メンテナンス
項目全てが、非稼動時間内に終了する時間帯を算出し
(ステップ1025)、自動メンテナンス時刻変更画面
90の、自動メンテナンス可能時間帯表示欄93に表示
する(ステップ1026)。
【0058】また、同時に最適な開始時間を、推奨開始
時刻表示96として表示する(ステップ1026)。変
更メッセージ欄97には、現在の設定時刻から推奨時刻
への開始時刻を移動することを承認してもらう旨のメッ
セージを表示する(ステップ1026)。ユーザは、表
示によって、自分の装置の稼動状況を確認し、問題が無
ければ、変更承認ボタンを選択する(ステップ102
7)ことで、ステップ1028及び1029を介して、
自動メンテナンス開始時刻の変更は終了し、ステップ1
014に戻る。
【0059】ユーザが再設定を拒否した場合は(ステッ
プ1028)、警告表示(ステップ1030)を行い、
手動のメンテナンスを実行することを要求する。手動の
メンテナンス又は自動メンテナンス開始時刻の変更を行
わなければ(ステップ1031)、再び、警告表示を行
い(ステップ1030)、装置は動作しない。
【0060】なお、ステップ1019において、キャン
セルボタンが押されていない場合は、ステップ1020
にて、設定時刻に達したか否かが判断され、達していな
ければ、ステップ1017に戻る。
【0061】ステップ1020において、設定時刻に達
したならば、ステップ1022において、メンテナンス
項目の実行を開始し、処理はステップ1014に戻る。
【0062】以上のように、本発明の第2の実施形態に
よれば、第1の実施形態と同様な効果を得ることができ
る他、次のような効果を得ることができる。つまり、予
定されたメンテナンス時刻となってもキャンセルされる
回数が所定回数を超えた場合には、先に設定されたメン
テナンス開始時刻とは異なる最適時刻を算出して、その
最適時刻に変更するか否かについて表示し、変更を要求
された場合には、メンテナンス開始時刻を、その変更時
刻と設定するように構成したので、分析時刻の推移に応
じて、メンテナンス開始時刻を機動的に変更可能な自動
分析装置を実現することができる。
【0063】[第3の実施形態]次に、本発明の第3の
実施形態である自動分析装置を、図11を参照して説明
する。なお、この第3の実施形態の概略構成は、第1の
実施形態の概略構成と同等であるので、その詳細な説明
は省略する。図11において、制御部2は、常時稼動時
間帯を記憶し、設定日数分の稼動状況を表示する。ま
た、稼動状況の統計データをから、自動分析装置の非稼
動時間帯を抽出する機能を有している。
【0064】また、自動メンテナンス時刻・項目設定画
面60において、ユーザが設定した、自動メンテナンス
項目の実行時間の総和を求め、設定した自動メンテナン
ス項目全てが、非稼動時間内に終了する時間帯を算出す
る。
【0065】その結果、ユーザが設定した全ての項目を
連続的に実施する時間が取れない場合が生じたとき、制
御部2は、自動メンテナンス項目の個々の動作(例え
ば、水交換、セル洗浄、プログラムのリブート)に必要
な時間を確保可能な時間帯を選ぶ。そして、個々の項目
に対してユーザに推奨する開始時刻を算出し、自動メン
テナンス分割変更画面100に、自動分析装置の稼動情
報と共に、推奨分割開始時刻表示欄104に表示する。
【0066】また、変更メッセージ欄97には、メンテ
ナンス項目の分割実施と個々の項目の推奨開始時刻とを
ユーザに承認してもらう旨のメッセージを表示する。ユ
ーザは、この表示によって、自分の装置の稼動状況を確
認し、推奨開始時刻に問題が無ければ、変更承認ボタン
を選択することで開始時刻の変更は終了する。
【0067】ユーザが再設定を拒否した場合は、警告表
示を出し、手動のメンテナンスを実行することをユーザ
に要求する。なお、手動のメンテナンスまたは、自動メ
ンテナンス開始時刻の変更を行わなければ、装置は動作
しないように構成されている。
【0068】以上のように、本発明の第3の実施形態に
よれば、第2の実施形態と同様な効果を得ることができ
る他、次のような効果を得ることができる。つまり、ユ
ーザが設定した全てのメンテナンス項目を連続的に実施
する時間が取れない場合が生じたとき、自動メンテナン
ス項目の個々の動作に必要な時間を確保可能な時間帯
を、それぞれ別個に選び、個々の項目に対してユーザに
推奨する開始時刻を算出し、自動メンテナンス分割変更
画面に表示するように構成したので、分析時刻の推移及
び非可動時間の減少に応じて、メンテナンス開始時刻を
個々のメンテナンス項目毎に機動的に変更可能な自動分
析装置を実現することができる。
【0069】[第4の実施形態]次に、本発明の第4の
実施形態である自動分析装置を、図12を参照して説明
する。
【0070】この第4の実施形態においては、上述した
第1、第2及び 第3の実施形態における、表示部9を
制御する表示制御部8と、指示入力部10とを、PC
(パーソナルコンピュータ)108に置き換え、自動分
析装置の計測部105と構造的に分離し、さらに、表示
部9と、キーボード109とを備えた自動分析装置操作
部106としている。
【0071】電源監視部3は、外付けセンサ信号線11
1を介して接続された外付けセンサ110を有し、自動
分析装置操作部106への電力供給線の通電及び停電状
態を監視し、PC108の動作状況を検出する。
【0072】PC108は、使用者とのインターフェー
スであるワークステーションなどのコンピュータでも良
い。また、PC108は制御部2と通信手段であるLA
N107で接続され、表示情報などのデータの転送を行
う。
【0073】なお、他の構成は、上述した第1〜第3の
実施形態と同様とすることができるので、その詳細な説
明は省略する。
【0074】以上のように、本発明の第4の実施形態に
よれば、第1、第2の実施形態と同様な効果を得ること
ができる他、表示部9を制御する表示制御部8と、指示
入力部10とを、PC(パーソナルコンピュータ)10
8に置き換え、自動分析装置の計測部105と構造的に
分離し、さらに、表示部9と、キーボード109とを備
えた自動分析装置操作部106としたので、自動分析装
置が設置された個所から遠方の箇所からであっても、メ
ンテナンス開始時刻やその変更を指令することができ
る。
【0075】なお、上述した例においては、分析準備動
作及び分析装置動作用プログラムの制御部内の主記憶装
置への転送動作を行うように構成したが、分析準備動作
及び分析装置動作用プログラムの制御部内の主記憶装置
への転送動作のうちの少なくとも一方を実行するように
構成することもできる。
【0076】
【発明の効果】本発明によれば、自動分析装置を24時
間の連続通電状態で使用している環境下においても、定
期メンテナンスが必要な項目を、分析業務に影響の無い
時間に自動的に実行可能であり、使用性が向上される。
また、定期メンテナンスには、補助記憶装置からのプロ
グラムの主記憶装置への転送も含まれ、これにより、制
御部の主記憶装置上の分析プログラムやデータを格納す
る領域の、ソフトエラーに起因する誤動作の発生確率の
低減が可能となり、信頼性を向上することができる。
【0077】つまり、自動分析装置の電源を24時間連
続でON状態のまま待機させた運用法を行なった場合で
も、分析準備動作及び測定実行プログラムの主記憶装置
への転送を定期的に実行し、信頼性及び使用性が向上さ
れた自動分析装置を実現することができる。
【0078】また、予定されたメンテナンス時刻となっ
てもキャンセルされる回数が所定回数を超えた場合に
は、先に設定されたメンテナンス開始時刻とは異なる最
適時刻を算出して、その最適時刻に変更するか否かにつ
いて表示し、変更を要求された場合にはメンテナンス開
始時刻をその変更時刻に設定するように構成すれば、分
析時刻の推移に応じて、メンテナンス開始時刻を機動的
に変更可能な自動分析装置を実現することができる。
【0079】また、ユーザが設定した全てのメンテナン
ス項目を連続的に実施する時間が取れない場合が生じた
とき、メンテナンス項目の個々の動作に必要な時間を確
保可能な時間帯を、それぞれ別個に選び、個々の項目に
対してユーザに推奨する開始時刻を算出し、自動メンテ
ナンス分割変更画面に表示するように構成すれば、分析
時刻の推移及び非可動時間の減少に応じて、メンテナン
ス開始時刻を個々のメンテナンス項目毎に機動的に変更
可能な自動分析装置を実現することができる。
【0080】また、自動分析装置の操作部を自動分析装
置の計測部と構造的に分離し、自動分析装置操作部とす
れば、自動分析装置が設置された個所から遠方の箇所か
らであっても、メンテナンス開始時刻やその変更を指令
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態である自動分析装置の
概略機能ブロック図である。
【図2】自動分析装置の概略構成図である。
【図3】本発明の第1の実施形態における電源監視部の
概略構成図である。
【図4】本発明の第1の実施形態である自動分析装置の
動作フローチャートである。
【図5】24時間連続通電での運用への対応を要求する
表示画面例を示す図である。
【図6】自動メンテナンスを開始する時刻と、自動メン
テナンス項目を選択する画面の一例を示す図である。
【図7】自動メンテナンス開始までの残り時間をユーザ
に知らせる表示画面例を示す図である。
【図8】第2の実施形態における電源監視部の概略構成
図である。
【図9】自動メンテナンス時刻変更画面の例を示す図で
ある。
【図10】本発明の第2の実施形態である自動分析装置
の動作フローチャートである。
【図11】本発明の第3の実施形態における自動メンテ
ナンス分割変更画面の一例を示す図である。
【図12】本発明の第4の実施形態の概略機能ブロック
図である。
【符号の説明】
1 自動分析装置 2 制御部 3 電源監視部 4 サンプラ部 5 分析部 6 試薬保管部 7 装置内電源 8 表示制御部 9 表示部 10 指示入力部 11 電源スイッチ 12 商用電源 13 商用電源線 22 電源監視回路用電源線 23 試薬容器 24 サンプルプローブ 25 試薬プローブ 26 可動式反応ディスク 27 検出器 28 検体 29 反応セル 30 電源監視部制御回路 31 時計回路 32 タイマ回路 33 センサ制御回路 34 センサ 35 通信I/F回路 36 電源切替え回路 37 電池 38 電源監視回路用電源 39 時計回路用電源 50 連続通電処理移行画面 51 移行メッセージ欄 52 承認ボタン 53 移行処理キャンセルボタン 60 自動メンテナンス時刻・項目設定画面 61 自動メンテナンス項目表示欄 62 項目選択ボタン 63 項目確定ボタン 64 選択処理キャンセルボタン 65 開始時刻選択ボタン 70 自動メンテナンス開始伺い画面 71 メンテナンスメセージ欄 72 開始迄の時間表示 73 残時間グラフ表示 74 自動メンテナンスキャンセルボタン 80 キャンセル数カウンタ回路 90 自動メンテナンス時刻変更画面 91 稼動実績グラフ表示欄 92 稼動時間 93 自動メンテナンス可能時間帯表示欄 94 自動メンテナンス設定可能時間帯 95 現行設定時刻表示 96 推奨開始時刻表示 97 変更メセージ欄 98 変更承認ボタン 99 変更キャンセルボタン 100 自動メンテナンス分割変更画面 104 推奨分割開始時刻表示欄 105 自動分析装置計測部 106 自動分析装置操作部 107 LAN 108 PC 109 キーボード 110 外付けセンサ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前田 淳 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器グループ内 (72)発明者 渋谷 武志 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器グループ内 (72)発明者 清成 能夫 茨城県ひたちなか市市毛882番地 株式会 社日立製作所計測器グループ内 Fターム(参考) 2G058 AA07 CB04 CD04 CE08 EA02 EA04 FB01 GB10 GE00 GE08

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】分析対象である検体の成分を分析する機構
    を有する分析部と、使用者に対して情報を表示する表示
    部と、この表示部及び分析部の動作を制御する制御部
    と、この制御部分析部及び表示部の動作に必要な電力を
    供給する電源部とを有する自動分析装置において、 上記制御部は、上記の電源部の立ち上げ後から、所定の
    時間が経過したか否かを判断し、上記所定時間が経過し
    たとき、自動分析装置の制御を、電源の無切断運用に対
    応する制御動作へ移行するか否かを、上記表示部に表示
    させることを特徴とする自動分析装置。
  2. 【請求項2】請求項1記載の自動分析装置において、上
    記表示部は、電源の無切断運用に対応する制御へ移行す
    るか否かを表示するとともに、電源の無切断運用に対応
    した所定の制御動作の実行予定時刻も表示し、その時刻
    または使用者が指定した時刻となった時に、分析準備動
    作及び分析装置動作用プログラムの制御部内の主記憶手
    段への転送動作のうち、少なくともいずれか一方を実行
    することを特徴とする自動分析装置。
  3. 【請求項3】請求項2記載の自動分析装置において、上
    記表示部は、上記所定の制御動作として、少なくとも、
    洗浄、水交換を含む各種準備動作項目及び分析装置動作
    用プログラムの主記憶手段への転送を、選択可能なよう
    に表示することを特徴とする自動分析装置。
  4. 【請求項4】請求項1、2又は3のうちのいずれか一項
    記載の自動分析装置において、上記制御部は、自動分析
    装置の稼動した時間帯を複数日に亘り記憶し、記憶した
    統計データと、最適な各種準備動作項目及び分析装置動
    作用プログラムの制御部内主記手段への転送を行う各項
    目の実行時間を累積したデータとの比較から、電源の無
    切断運用に対応した所定の制御動作を実行するに最適な
    時間帯を算出し、算出結果を使用者に表示することを特
    徴とする自動分析装置。
  5. 【請求項5】請求項1、2、3又は4記載の自動分析装
    置において、上記制御部は、自動分析装置の稼動した時
    間帯を複数日に亘り記憶し、記憶した統計データと、個
    々の準備動作項目の実行に必要な時間とを比較し、個々
    の準備動作項目及び分析装置動作用プログラムの制御部
    内主記憶手段への転送の実行を別々の時間帯に分割する
    ことを特徴とする自動分析装置。
  6. 【請求項6】請求項1、2又は3のうちのいずれか一項
    記載の自動分析装置において、自動分析装置と使用者と
    のインタフェースを担当する部位に、PC又はワークス
    テションなどの情報処理装置を設置し、自動分析装置と
    上記情報処理装置との間をLANなどの通信手段で接続
    することを特徴と自動分析装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1986013A2 (en) * 2007-04-27 2008-10-29 Sysmex Corporation Sample analyzing apparatus
WO2012120755A1 (ja) * 2011-03-04 2012-09-13 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 分析装置
JP2012225903A (ja) * 2011-04-19 2012-11-15 F. Hoffmann-La Roche Ag 連続的装填のための供給ユニット
JP5730785B2 (ja) * 2009-12-21 2015-06-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
WO2015182256A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2017044507A (ja) * 2015-08-25 2017-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN111198519A (zh) * 2018-11-16 2020-05-26 松下知识产权经营株式会社 信息输出方法、信息输出装置以及记录介质
JP2020128884A (ja) * 2019-02-07 2020-08-27 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、及び分析方法
JP2020180966A (ja) * 2019-03-25 2020-11-05 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 診断機器の動作方法
CN113811773A (zh) * 2019-05-13 2021-12-17 株式会社日立高新技术 自动分析装置及其清洗方法

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1986013A2 (en) * 2007-04-27 2008-10-29 Sysmex Corporation Sample analyzing apparatus
JP5730785B2 (ja) * 2009-12-21 2015-06-10 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
EP2518513B1 (en) * 2009-12-21 2021-02-17 Hitachi High-Tech Corporation Immunoassay device
US9494611B2 (en) 2009-12-21 2016-11-15 Hitachi High-Technologies Corporation Immunological analyzing apparatus
WO2012120755A1 (ja) * 2011-03-04 2012-09-13 株式会社 日立ハイテクノロジーズ 分析装置
CN103348249A (zh) * 2011-03-04 2013-10-09 株式会社日立高新技术 分析装置
JPWO2012120755A1 (ja) * 2011-03-04 2014-07-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分析装置
JP2015108641A (ja) * 2011-03-04 2015-06-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ 臨床検査用分析装置
US9978044B2 (en) 2011-03-04 2018-05-22 Hitachi High-Technologies Corporation Analyzing device
JP2012225903A (ja) * 2011-04-19 2012-11-15 F. Hoffmann-La Roche Ag 連続的装填のための供給ユニット
JPWO2015182256A1 (ja) * 2014-05-30 2017-04-20 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
US10234472B2 (en) 2014-05-30 2019-03-19 Hitachi High-Technologies Corporation Automatic analysis device
WO2015182256A1 (ja) * 2014-05-30 2015-12-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
JP2017044507A (ja) * 2015-08-25 2017-03-02 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CN111198519A (zh) * 2018-11-16 2020-05-26 松下知识产权经营株式会社 信息输出方法、信息输出装置以及记录介质
JP2020128884A (ja) * 2019-02-07 2020-08-27 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、及び分析方法
JP7210309B2 (ja) 2019-02-07 2023-01-23 株式会社日立ハイテク 自動分析装置、及び分析方法
JP2020180966A (ja) * 2019-03-25 2020-11-05 エフ.ホフマン−ラ ロシュ アーゲーF. Hoffmann−La Roche Aktiengesellschaft 診断機器の動作方法
JP7104738B2 (ja) 2019-03-25 2022-07-21 エフ.ホフマン-ラ ロシュ アーゲー 診断機器の動作方法
US11947344B2 (en) 2019-03-25 2024-04-02 Roche Diagnostics Operations, Inc. Method of operating a diagnostic instrument
CN113811773A (zh) * 2019-05-13 2021-12-17 株式会社日立高新技术 自动分析装置及其清洗方法

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