JP2002080715A - 難燃性樹脂製磁石用組成物および難燃性樹脂製磁石 - Google Patents

難燃性樹脂製磁石用組成物および難燃性樹脂製磁石

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JP2002080715A JP2001154145A JP2001154145A JP2002080715A JP 2002080715 A JP2002080715 A JP 2002080715A JP 2001154145 A JP2001154145 A JP 2001154145A JP 2001154145 A JP2001154145 A JP 2001154145A JP 2002080715 A JP2002080715 A JP 2002080715A
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宏 浦部
Hajime Oyama
一 大山
Masami Suzuki
政己 鈴木
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 成形加工時に腐食性のガスを発生して成形機
や金型を腐食することなく、かつ、成形品を廃棄し焼却
する際に有害物質を発生することがない難燃性樹脂製磁
石用組成物および難燃性樹脂製磁石を提供する。 【解決手段】 熱可塑性ポリアミド樹脂(A)、磁性粉
(B)及びホスファゼン化合物(C)から成る難燃性樹
脂製磁石用組成物であって、磁性粉(B)の含有量が組
成物に対し50〜95重量%、ホスファゼン化合物
(C)の含有量が組成物に対し0.1〜40重量%であ
ることを特徴とする難燃性樹脂製磁石用組成物、および
当該組成物から成る難燃性樹脂製磁石。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、難燃性樹脂製磁石
用組成物および難燃性樹脂製磁石に関する。詳しくは、
難燃性、磁気特性、成形性、機械的特性に優れた成形品
が得られる難燃性ポリアミド樹脂製磁石用組成物、およ
びこの組成物から成る樹脂製磁石に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、熱可塑性樹脂をバインダーとし、
磁性粉を配合して成る樹脂製磁石は、成形加工性、機械
的特性、磁気特性において優れており、モーター、音響
機器、OA機器、各種電気・電子部品の分野で広く使用
されている。近年において、安全性向上のため、さらに
樹脂製磁石の難燃化が要求されている。
【0003】現在、樹脂製磁石用に使用される熱可塑性
樹脂としては、優れた成形性、磁気特性、機械的性質な
どの観点からポリアミド樹脂が最も広く使用されてお
り、特に、ポリアミド6が好ましく使用されている。し
かしながら、ポリアミド樹脂自体は燃焼性であるので、
これを難燃化するには難燃剤を配合することが必要であ
る。従来、ポリアミド樹脂を難燃化するための難燃剤と
しては、臭素、塩素などのハロゲン類を含んだハロゲン
系難燃剤が広く使用されてきたが、ハロゲン系難燃剤は
成形加工時に腐食性のガスを発生し、成形機や金型を腐
食させるばかりでなく、これらハロゲン系難燃剤が配合
された成形品を廃棄し、焼却する際にダイオキシンなど
の環境を汚染する物質を発生する虞れがあるという問題
点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、成形加工時に腐食性のガスを発生して成形機や金型
を腐食することなく、かつ、成形品を廃棄し焼却する際
に有害物質を発生することがない難燃性樹脂製磁石用組
成物および難燃性樹脂製磁石を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の事情を鑑み、本発
明者は鋭意検討した結果、難燃剤としてホスファゼン化
合物を使用することにより、上記課題が解決できること
を見いだし、本発明を完成するに至った。
【0006】すなわち、本発明の第1の要旨は、熱可塑
性ポリアミド樹脂(A)、磁性粉(B)及びホスファゼ
ン化合物(C)から成る難燃性樹脂製磁石用組成物であ
って、磁性粉(B)の含有量が組成物に対し50〜95
重量%、ホスファゼン化合物(C)の含有量が組成物に
対し0.1〜40重量%であることを特徴とする難燃性
樹脂製磁石用組成物に存する。
【0007】本発明の第2の要旨は、第1の要旨に記載
の難燃性樹脂製磁石用組成物から成る難燃性樹脂製磁石
に存する。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。
本発明の難燃性樹脂製磁石用組成物は、熱可塑性ポリア
ミド樹脂(A)、磁性粉(B)及びホスファゼン化合物
(C)から成る。
【0009】ポリアミド樹脂(A)(以下(A)成分と
記載することがある)としては、3員環以上のラクタ
ム、重合可能なωーアミノ酸、または、二塩基酸とジア
ミン等の重縮合によって得られるポリアミドが使用でき
る。具体的には、ε−カプロラクタム、アミノカプロン
酸、エナントラクタム、7−アミノヘプタン酸、11−
アミノウンデカン酸、9−アミノノナン酸、α−ピロリ
ドン、α−ピペリドンなどの重合体、ヘキサメチレンジ
アミン、ノナメチレンジアミン、ウンデカメチレンジア
ミン、ドデカメチレンジアミン、メタキシリレンジアミ
ン等のジアミンと、テレフタル酸、イソフタル酸、アジ
ピン酸、セバシン酸、ドデカン二塩基酸、グルタール酸
などのジカルボン酸とを重縮合して得られる重合体また
はこれらの共重合体が挙げられる。
【0010】より具体的には、ポリアミド4、6、7、
8、11、12、6・6、6・9、6・10、6・1
1、6・12、6T、6/6・6、6/12、6/6
T、6I/6T等が例示され、好ましくは、ポリアミド
6、ポリアミド6・6、共重合ポリアミド6/66、特
に好ましくはポリアミド6である。これらポリアミド
は、2種以上を組合せて使用してもよい。
【0011】上記ポリアミド樹脂(A)は、特定範囲内
の重合度、すなわち相対粘度を有するものが好ましい。
相対粘度は、JIS K 6810に準じ、98%硫酸
中濃度1%、25℃の温度で測定し、通常1.8〜5.
0、好ましくは1.8〜2.3である。相対粘度が低す
ぎると材料強度が小さくなり、高すぎると流動性が低下
して成形性が悪化し、成形品の外観を損なうことがあ
る。
【0012】磁性粉(B)(以下、(B)成分と記載す
ることがある)は、難燃性樹脂製磁石用組成物に磁性を
付与する機能を有する。(B)成分としては、磁性を有
する粉末であれば特に制限はなく、フェライト系磁性
粉、アルニコ系磁性粉および希土類磁性粉などが例示さ
れる。フェライト系磁性粉としては、酸化鉄、炭酸バリ
ウム等のバリウムフェライト系磁性粉および酸化鉄、炭
酸ストロンチウム等のストロンチウムフェライト系磁性
粉などが例示される。アルニコ系磁性粉としては、ニッ
ケル、アルミニウム、コバルト、銅から成るアルニコ
5、ニッケル、アルミニウム、コバルト、銅、チタンか
ら成るアルニコ7等が例示される。希土類磁性粉として
は、サマリウムコバルト、サマリウムコバルトのコバル
ト成分を銅、鉄、チタン、ジルコニウム、ナフニウム、
ニオブ、タンタルなどで置換した希土類コバルト磁石、
ネオジウム−鉄−ほう素磁石などが例示される。これら
磁性粉は、2種以上を組合せて使用してもよい。
【0013】磁性粉(B)の平均粒径は、通常300μ
m以下、好ましくは200μm以下、特に好ましくは1
00μm以下である。平均粒径300μmを超えると、
難燃性樹脂製磁石用組成物の流動性や、機械的強度が低
下する傾向がある。熱可塑性ポリアミド樹脂(A)に配
合した際の分散性または密着性を改良するために、磁性
粉(B)を表面処理したものを使用してもよい。表面処
理法としては、各種シランカップリング剤、チタネート
カップリング剤などによる処理方法が例示される。
【0014】(B)成分の含有量は、難燃性樹脂製磁石
用組成物の磁性、成形性、機械的特性などの観点から、
難燃性樹脂製磁石用組成物に対して、50〜95重量
%、好ましくは65〜85重量%である。(B)成分の
含有量が少なすぎると十分な磁性を得られず、また、多
すぎると成形性が悪化し、十分な機械的強度が得られな
くなる。
【0015】本発明におけるホスファゼン化合物(C)
(以下(C)成分と記載することがある)は、好ましく
は、下記一般式[I]で表される環状フェノキシホスフ
ァゼン、下記一般式[II]で表される鎖状フェノキシ
ホスファゼン、ならびに、下記一般式[I]および下記
一般式[II]からなる群より選択される少なくとも一
種のフェノキシホスファゼンが、架橋基によって架橋さ
れて成る架橋フェノキシホスファゼン化合物、よりなる
群から選択される少なくとも1種の化合物である。
【0016】
【化4】 一般式[I]において、mは3〜25の整数であり、P
hはフェニル基を示す。
【0017】
【化5】 一般式[II]において、X1は−N=P(OPh)3
または−N=P(O)OPh基であり、Y1は−P(O
Ph)4基または−P(O)OPh2基であり、nは3〜
10000の整数であり、Phはフェニル基を示す。
【0018】
【化6】 一般式[III]において、Aは−C(CH32−、−
SO2−、−S−又は−O−であり、aは0又は1であ
る。
【0019】架橋フェノキシホスファゼン化合物におい
て、架橋基がホスファゼン化合物のフェニル基が脱離し
た2個の酸素原子間に存在し、フェニル基の含有割合が
一般式[I]で表される環状フェノキシホスファゼン、
及び/又は、一般式[II]で表される鎖状フェノキシ
ホスファゼン化合物中の全フェニル基の総数を基準にし
て50〜99.9%であり、かつ、ホスファゼン化合物
(C)の分子内にフリーの水酸基を有しない架橋フェノ
キシホスファゼン化合物であることが特に好ましい。
【0020】一般式[I]で表される環状フェノキシホ
スファゼン化合物、一般式[II]で表される鎖状フェ
ノキシホスファゼン化合物としては、(1)塩化アンモ
ニウムと五塩化リンとを120〜130℃の温度で反応
させて得られるヘキサクロルシクロトリホスファゼン、
オクタクロルシクロテトラホスファゼンなどの環状およ
び直鎖状のクロルホスファゼン混合物において、フェノ
キシ基および/またはアルコキシ基で置換したホスファ
ゼン化合物、(2)上記クロルホスファゼン混合物から
ヘキサクロルシクロトリホスファゼン、オクタクロルシ
クロテトラホスファゼン、デカクロルシクロペンタホス
ファゼンなどの単一物を取り出した後に、フェノキシ基
および/またはアルコキシ基で置換して得られるフェノ
キシシクロトリホスファゼン、オクタフェノキシシクロ
テトラホスファゼン、デカフェノキシシクロペンタホス
ファゼン、ヘキサアルコキシシクロトリホスファゼン、
オクタアルコキシテトラホスファゼン、デカアルコキシ
シクロペンタホスファゼンなどの環状ホスファゼン化合
物が例示される。
【0021】また、一般式[II]で表される鎖状フェ
ノキシホスファゼン化合物としては、220〜250℃
の温度でヘキサクロルシクロトリホスファゼンを開還重
合し、得られた重合度3〜10000の直鎖状ジクロル
ホスファゼンをフェノキシ基および/またはアルコキシ
基で置換することにより得られるホスファゼン化合物が
例示される。
【0022】一般式[III]で表される架橋ホスファ
ゼン化合物としては、4,4’−スルホニルジフェニレ
ン(ビスフェノールS残基)の架橋構造を有するフェノ
キシホスファゼン、2,2−(4,4’−ジフェニレ
ン)イソプロピリデン基の架橋構造を有するフェノキシ
ホスファゼン、4,4’−オキシジフェニレン基の架橋
構造を有するフェノキシホスファゼン、4,4’−チオ
ジフェニレン基の架橋構造を有するフェノキシホスファ
ゼン、4,4’−ジフェニレン基の架橋構造を有するフ
ェノキシホスファゼン等が例示される。架橋フェノキシ
ホスファゼン化合物中のフェニレン基の含有量は、一般
式[I]で表される環状ホスファゼン化合物および/ま
たは一般式[II]で表される鎖状フェノキシホスファ
ゼン化合物中の全フェニル基およびフェニレン基の総数
を基準として通常50〜99.9モル%、好ましくは7
0〜90モル%である。
【0023】一般式[I]で表される環状フェノキシホ
スファゼン化合物としては、mが3〜8の整数である化
合物が好ましい。一般式[II]で表される直鎖状フェ
ノキシホスファゼン化合物としては、nが3〜25の整
数である化合物が好ましい。一般式[III]で表され
る架橋ホスファゼン化合物としては、Aが−SO2
基、−S−基、または−C(CH32−基のである化合
物が好ましい。
【0024】一般式[I]で表される環状フェノキシホ
スファゼン化合物、および、一般式[II]で表される
鎖状フェノキシホスファゼン化合物は、例えばH.R.
Allcook著、“Phosphorus−Nitr
ogen Compounds”、Academic
Press,(1972)、J.E.Mark、H.
R.Allcook、R.West著、“Inorga
nic Polymers”Prentice−Hal
l International、Inc.(199
2)に記載されている方法によって合成することができ
る。
【0025】本発明の難燃性樹脂磁石用組成物におい
て、ホスファゼン化合物(C)の含有量は、難燃性樹脂
磁石用組成物に対して通常0.1〜40重量%、好まし
くは1〜10重量%である。40重量%を超えると、機
械的強度が低下し易く、0.1重量%より少ないと十分
な難燃性が得られないことがある。
【0026】本発明の難燃性樹脂磁石用組成物におい
て、ホスファゼン化合物のモールドデポジット及び/又
はブリードアウトを抑制するために、ホスファゼン化合
物(C)と相溶性に優れたポリアミド6以外の熱可塑性
樹脂(D)(以下、(D)成分と記載することがある)
を1種類以上配合することが好ましい。
【0027】(D)成分としては、ポリプロピレン(P
P)、ポリエチレン(PE)等のオレフィン系樹脂、一
般用ポリスチレン(GPPS)、ゴム強化ポリスチレン
(HIPS)、アクリロニトリル−スチレン共重合体
(AS樹脂)、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレ
ン共重合体(ASS樹脂)などのスチレン系樹脂、ポリ
ブチレンテレフタレート(PBT)、ポリエチレンテレ
フタレート(PET)などのポリエステル系樹脂、ポリ
カーボネート系樹脂、ポリフェニレンエーテル系樹脂、
ポリメチルメタクリレート樹脂、ポリフェニレンスルフ
ォン、ポリテトラフルオロエチレン、ノボラックフェノ
ール樹脂、液晶樹脂が例示され、ホスファゼン化合物
(C)との相溶性の観点から、スチレン系樹脂、ポリカ
ーボネート系樹脂、ポリフェニレンエーテル系樹脂が好
ましく、スチレン系樹脂、ポリフェニレンエーテル系樹
脂が特に好ましい。(D)成分の熱可塑性樹脂に対し、
ポリアミド樹脂との相溶性を高めるために、例えば、酸
変性のような処理を施してもよい。
【0028】ポリアミド6以外の熱可塑性樹脂(D)の
配合量は、ホスファゼン化合物(C)に対し通常10〜
500重量%、好ましくは30〜300重量%である。
(D)成分の配合割合が、ホスファゼン化合物(C)成
分の重量の10重量%未満の場合、(C)成分のブリー
ドアウトの問題が生じ、500重量%を越える場合は機
械的強度の低下の問題が生じる。
【0029】本発明の難燃性樹脂磁石用組成物には、流
動性、寸法安定性、耐薬品性、難燃性、熱安定性、機械
的特性を向上させる目的で、本発明の目的・効果を損な
わない範囲で各種の添加剤を配合することができる。添
加剤としては、滑剤、難燃剤、難燃助剤、熱安定剤、耐
衝撃性改良剤、着色剤、充填剤が例示される。これらの
添加剤は、(A)成分を製造する任意の段階で配合する
ことができるが、ポリアミド樹脂(A)製造後の得られ
た粉末または粒状物に混合し、押出機によって溶融混練
する方法により配合する方法が好ましい。
【0030】滑剤としては、脂肪酸エステル、脂肪酸ア
ミド、脂肪酸金属塩、シリコーンオイル等が例示され、
熱安定剤としては、ヒンダートフェノール、銅化合物な
どが例示される。難燃剤、難燃助剤としては、赤燐、リ
ン酸エステル、ホスホン酸エステル、ホスフィンオキシ
ド、各種リン酸塩などのリン含有化合物類、メラミン、
硫酸メラミン、リン酸メラミン、シアヌル酸メラミン、
メレム、メラムなどの窒素含有化合物類、水酸化マグネ
シウム、水酸化アルミニウム、ハイドロタルサイトなど
の金属水和物類、酸化マグネシウム酸化亜鉛、酸化モリ
ブデン、酸化鉄、酸化アンチモン、酸化錫などの金属酸
化物類、ホウ酸亜鉛などのホウ素含有化合物類などが例
示される。
【0031】耐衝撃性改良剤としては、オレフィン系エ
ラストマー、シリコーン系エラストマー、アクリル系エ
ラストマー、アイオノマー等が例示され、着色剤として
は、カーボンブラック、酸化チタン等が例示され、補強
用充填材としては、ガラス繊維、ほう酸アルミニウムウ
ィスカー、チタン酸カリウムウィスカー、ワラストナイ
ト、層状珪酸塩、タルク、カオリン、炭酸カルシウム、
マイカ、フレカ、膨潤性マイカ等が例示される。
【0032】本発明の難燃性樹脂磁石用組成物は、各種
成形法によって目的の製品を製造することができる。適
用できる成形法としては、射出成形法、押出成形法、圧
縮成形法、ブロー成形法、ガス注入射出成形法、トラン
スファー成形法、射出二色成形法、真空成形法などが例
示される。製品の種類、形状、大きさについては、上記
成形法によって製造できるものであれば特に制限はな
い。本発明の難燃性樹脂磁石用組成物を使用した製品と
しては、モーター、音響機器、OA機器、各種電気・電
子部品などの産業分野において使用する製品が例示でき
る。また製品の形状などに特に制限はなく、円板状、棒
状、パイプ状、箱状など各種の形状の製品を提供するこ
とができる。本発明の難燃性樹脂磁石用組成物は、特
に、磁石としての機能を要求される各種製品を製造する
のに好適に使用できる。
【0033】
【実施例】以下、本発明を実施例により詳述するが、以
下の実施例は本発明の単なる例示であって、本発明は以
下の実施例に限定されない。
【0034】合成例1(フェノキシホスファゼン化合物
の合成):撹拌機、温度計および還流冷却器を備えた容
量1リットルの四つ口フラスコに、フェノール1.30
モル(123.0g)を入れ、テトラヒドロフラン(T
HF)500ミリリットルを加え、撹拌して均一に溶解
した。次に、液温を25℃以下として金属ナトリウム
7.6gを投入し、この後1時間を要して内温を62℃
まで昇温し、ナトリウムフェノラート溶液を調製した。
この反応と並行して、0.5ユニットモル(58g)の
ジクロロホスファゼンオリゴマー(3量体59重量%、
4量体12重量%、5および6量体11重量%、7量体
3重量%、8量体以上15重量%の混合物)を含む20
重量%クロロベンゼン溶液290gを、容量2リットル
の四つ口フラスコに入れ、この中へ、25℃以下で撹拌
下、上記で調製したナトリウムフェノラート溶液を滴下
した。滴下終了後、撹拌下71〜73℃の温度範囲で、
15時間反応させた。
【0035】反応終了後、反応混合物を濃縮し、500
ミリリットルのクロロベンゼンに再溶解させた後、水洗
し、5%水酸化ナトリウム水溶液による洗浄を3回、5
%硫酸による洗浄、5%重曹水による洗浄および水洗を
3回、順次行い、濃縮乾固させて淡黄色のワックス状の
生成物108gを得た。生成物の収率は98.5%であ
り、生成物のGPC分析による重量平均分子量(Mw)
はポリスチレン換算で810であり、生成物中の残存塩
素量は0.09%であり、リンおよびCHN元素分析法
により、生成物は[N=P(−O−Ph)2.00]の化学
構造式を有する化合物であることを確認した。なお、−
Phはフェニル基であり、以下も同じ意味で使用する。
【0036】合成例2(パラフェニレンによる架橋構造
を有するフェノキシホスファゼン化合物の合成):容量
2リットルの四つ口フラスコに、2.04モル(196
g)のフェノール、2.04モル(82g)の水酸化ナ
トリウム、およびトルエンを添加し、共沸脱水すること
により、ナトリウムフェノラートの20%トルエン溶液
約1200gを調製した。この反応と並行して、容量2
リットルの四つ口フラスコに、1ユニットモル(11
5.9g)のジクロロホスファゼンオリゴマー(合成例
1で使用したものと同じ組成のもの)を含む20%クロ
ロベンゼン溶液580gを入れ、撹拌下、25℃以下
で、別途調製したハイドロキノンのジリチウム塩0.1
5モル(18.3g)の10%トルエン溶液を滴下し
た。滴下終了後、撹拌下、50℃で5時間反応させ、引
続いて、先に調製したナトリウムフェノラートの20%
トルエン溶液1200gを滴下し、100℃で8時間反
応させた。
【0037】反応終了後、反応混合物を濃縮し、水/メ
タノール(容量比1/1)混合溶媒3リットル中に撹拌
下で投入し、希硫酸で中和した後濾過した。次いで、水
/メタノール(容量比1/1)混合溶媒3リットルで2
回洗浄し、濾過し、80℃で11時間乾燥することによ
り220gの微黄色粉末を得た。生成物の収率は99.
7%であり、生成物のGPC分析による重量平均分子量
(Mw)は、ポリスチレン換算で1200であり、生成
物中の残存塩素量は0.01%であり、リンおよびCH
N元素分析法により、生成物は[N=P(−O−Ph−
O−)0.15(−O−Ph)1.7]の化学構造式を有する
化合物であることを確認した。なお、−Ph−は、p−
フェニレン基であり、以下も同じ意味である。
【0038】合成例3(2,2−(4,4´−ジフェニ
レン)イソプロピリデン基による架橋構造を有するフェ
ノキシホスファゼン化合物の合成):容量2リットルの
四つ口フラスコに、ビスフェノールA86.7g(0.
38モル)及びTHF460ミリリットルを加え、撹拌
溶解して、均一溶液を調製した。次に、液温を19℃に
保持しつつ、裁断した金属リチウム3.5g(0.5グ
ラム当量)を投入し、液温を61〜68℃の温度範囲に
1時間維持し、ビスフェノールAのリチウム塩を調製し
た。
【0039】容量2リットルの四つ口フラスコにフェノ
ール215.6g(2.25モル)及びトルエン500
ミリリットルを加え、撹拌下、液温を25℃に保持しつ
つ、裁断した金属ナトリウム34.5g(1.5グラム
当量)を投入し、4時間かけて内温を77℃まで昇温
し、77〜113℃の温度範囲で3時間撹拌を続け、ナ
トリウムフェノラートを調製した。
【0040】容量5リットルの四つ口フラスコに、ジク
ロロホスファゼンオリゴマー(合成例1で使用したもの
と同じ組成のもの)313.1g(1.0モル)を入
れ、撹拌下、液温を20℃に保持しつつ、上記で調製し
たビスフェノールAのリチウム塩を1時間かけて滴下し
た。次いで、撹拌下、液温を20℃に保持しつつ、上記
で調製したナトリウムフェノラートを1時間かけて滴下
した。滴下終了後、撹拌下、47℃で13時間反応させ
た。
【0041】反応終了後、反応混合物を濃縮し、2%水
酸化ナトリウム水溶液で3回洗浄した後、濾過した。次
いで、水/メタノール(容量比1/1)混合溶媒3リッ
トルで3回洗浄した後、濾過した。濾液を濃縮し、さら
に80℃で11時間乾燥し、白色粉末を得た。生成物の
重量は208.7gであり、生成物の収率は86.5%
であった。GPC分析による生成物の重量平均分子量
(Mw)はポリスチレン換算で1190であり、生成物
中の残存塩素量は0.09%であり、リンおよびCHN
元素分析法により、生成物は[N=P(−O−Ph−C
(CH32−Ph−O−)0.25(−O−Ph)1.50]の
化学構造式を有する化合物であることを確認した。
【0042】合成例4(4,4´−スルホニルジフェニ
レン(ビスフェノールS残基)による架橋構造を有する
フェノキシホスファゼン化合物の合成):容量1リット
ルの四つ口フラスコに、1.25モル(118.0g)
のフェノール及び0.03モル(8.3g)のビスフェ
ノールSを加え、合成例1におけると同様の手順で反応
を行い、淡黄色のワックス状の生成物を得た。。生成物
の収率は91.5%であった。GPC分析による生成物
の重量平均分子量(Mw)はポリスチレン換算で820
であり、生成物中の残存塩素量は0.01%以下であ
り、リンおよびCHN元素分析法により、生成物は[N
=P(−O−Ph−SO2−Ph−O−)0.05(−O−
Ph)1.90]、の化学構造式を有する化合物であること
を確認した。
【0043】以下の実施例、比較例で使用した原材料を
表1に示す。
【0044】
【表1】・ポリアミド6(PA6):ノバミッド100
7J(登録商標、三菱エンジニアリングプラスチックス
社製、 相対粘度=2.2) ・変性ポリフェニレンエーテル系樹脂(PPE):ユピ
エースPME50(登録商標、三菱エンジニアリングプ
ラスチックス社製、ゴム含有の酸変性PPE) ・磁性粉 :バリウム−フェライト磁性粉 、平均粒子系
=2μm ・ホスファゼン化合物 :前記合成例1から4に示し
た、環状、鎖状フェノキシホスファゼン化合物 ・Br系難燃剤:デカブロモジフェニルエーテル DE
83K(グレートレークス社製 )
【0045】実施例1〜7、比較例1〜3:表1に記載
の組成物用原材料を、表2及び表3に記載した配合量で
秤量・混合し、二軸押出機(TEX30HCT、日本製
鋼所社製)を使用して、シリンダー温度270℃で溶融
混練し、樹脂組成物のペレットを得た。得られたペレッ
トを、120℃で8時間減圧乾燥した後、射出成形機
(J75ED、日本製鋼所社製)を使用して、シリンダ
ー設定温度270℃、金型温度80℃で射出成形し、試
験片を得た。得られたペレット及び試験片について下記
項目を試験した。結果を表2及び表3に示す。
【0046】(1)UL94による燃焼試験:厚さ1/
16”および1/32”の試験片について、UL94の
試験法(Test of Flammability
ofPlastic Materials for P
arts in Device and Applia
nces UL−94, Fourth Editio
n)に準じて垂直燃焼試験を行った。UL94の判定基
準に基づき、燃焼試験結果をHB、「V−2」、「V−
1」、「V−0」と表示した。
【0047】(2)曲げ強度、曲げ弾性率:ASTM
D790に準拠して測定した。
【0048】
【表2】
【0049】
【表3】
【0050】表2及び表3より以下のことが明らかであ
る。(1)本発明の難燃性樹脂磁石用組成物は、ポリア
ミド樹脂に難燃剤としてホスファゼン化合物が配合され
ているので、優れた難燃性を発揮した(実施例1〜7参
照)。(2)これに対して比較例の樹脂組成物は、ポリ
アミド樹脂に難燃剤を配合しないものは難燃性に劣り
(比較例1及び2参照)、ホスファゼン化合物以外の難
燃剤を配合したもの(比較例3参照)は、長時間の成形
において難燃剤のブリードアウト、モールドデポジット
現象が認められ、成形金型表面の変色が認められた。
【0051】
【発明の効果】本発明の難燃性樹脂磁石用組成物は、
(1)優れた難燃性を発揮し、(2)ハロゲン含有化合
物を使用していないため、腐食性ガスの発生や、成形機
のシリンダー、スクリュー、成形金型などが腐食される
問題が無く、(3)難燃剤として配合されているホスフ
ァゼン化合物のブリードアウト、モールドデポジット現
象などが認められず、(4)上記組成物から成る樹脂製
磁石は、長期間の使用においても変質せず、優れた磁性
を発揮するという優れた利点を有するため、本発明の工
業的価値は高い。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C08L 71/12 C08L 71/12 85/02 85/02 101/00 101/00 C09K 21/12 C09K 21/12 H01F 1/113 H01F 1/113 (72)発明者 大山 一 神奈川県平塚市東八幡五丁目6番2号 三 菱エンジニアリングプラスチックス株式会 社技術センター内 (72)発明者 鈴木 政己 神奈川県平塚市東八幡五丁目6番2号 三 菱エンジニアリングプラスチックス株式会 社技術センター内 Fターム(参考) 4H028 AA08 AA28 AA38 AA40 AA42 AA44 AA48 BA06 4J002 BB033 BB123 BC033 BD153 BG063 BN143 BN153 CC033 CF063 CF073 CG003 CH073 CL001 CL011 CL021 CL031 CL051 CL061 CN033 CQ012 DA086 DC006 DE116 EW157 FD01 FD06 FD13 FD17 GM00 GQ00 GR02 5E040 AC01

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 熱可塑性ポリアミド樹脂(A)、磁性粉
    (B)及びホスファゼン化合物(C)から成る難燃性樹
    脂製磁石用組成物であって、磁性粉(B)の含有量が組
    成物に対し50〜95重量%、ホスファゼン化合物
    (C)の含有量が組成物に対し0.1〜40重量%であ
    ることを特徴とする難燃性樹脂製磁石用組成物。
  2. 【請求項2】 熱可塑性ポリアミド樹脂(A)がポリア
    ミド6である請求項1に記載の難燃性樹脂製磁石用組成
    物。
  3. 【請求項3】 更に、ホスファゼン化合物(C)に対し
    10〜500重量%のポリアミド6以外の熱可塑性樹脂
    (D)を含有する請求項1又は2に記載の難燃性樹脂製
    磁石用組成物。
  4. 【請求項4】 ポリアミド6以外の熱可塑性樹脂(D)
    が、ポリフェニレンエーテル系樹脂、ポリカーボネート
    系樹脂およびスチレン系樹脂より選択される少なくとも
    1種の熱可塑性樹脂である請求項3に記載の難燃性樹脂
    製磁石用組成物。
  5. 【請求項5】 磁性粉(B)が、フェライト系磁性粉お
    よび/またはアルニコ系磁性粉である請求項1〜4の何
    れかに記載の難燃性樹脂製磁石用組成物。
  6. 【請求項6】 ホスファゼン化合物(C)が、下記一般
    式[I]で表される環状フェノキシホスファゼン、下記
    一般式[II]で表される鎖状フェノキシホスファゼ
    ン、ならびに、下記一般式[I]および下記一般式[I
    I]からなる群より選択される少なくとも一種のフェノ
    キシホスファゼンが、架橋基によって架橋されて成る架
    橋フェノキシホスファゼン化合物、よりなる群から選択
    される少なくとも1種である、請求項1〜5の何れかに
    記載の難燃性樹脂製磁石用組成物。 【化1】 一般式[I]において、mは3〜25の整数であり、P
    hはフェニル基を示す。 【化2】 一般式[II]において、X1は−N=P(OPh)3
    または−N=P(O)OPh基であり、Y1は−P(O
    Ph)4基または−P(O)OPh2基であり、nは3〜
    10000の整数であり、Phはフェニル基を示す。
  7. 【請求項7】 架橋基がフェニレン基またはビスフェニ
    レン基である請求項6に記載の難燃性樹脂製磁石用組成
    物。
  8. 【請求項8】 架橋基が、o−フェニレン基、m−フェ
    ニレン基、p−フェニレン基、および次の一般式[II
    I]で表されるビスフェニレン基から成る群より選択さ
    れる少なくとも1種の架橋基である、請求項6に記載の
    難燃性樹脂製磁石用組成物。 【化3】 一般式[III]において、Aは−C(CH32−、−
    SO2−、−S−又は−O−であり、aは0又は1であ
    る。
  9. 【請求項9】 前記架橋フェノキシホスファゼン化合物
    において、架橋基がホスファゼン化合物のフェニル基が
    脱離した2個の酸素原子間に存在し、一般式[III]
    に由来するフェニレン基の含有割合が、前記一般式
    [I]で表される環状フェノキシホスファゼン及び/又
    は前記一般式[II]で表される鎖状フェノキシホスフ
    ァゼン化合物中の全フェニル基およびフェニレン基の総
    数を基準にして50〜99.9モル%であり、かつ、ホ
    スファゼン化合物(C)の分子内にフリーの水酸基を有
    しない架橋フェノキシホスファゼン化合物である請求項
    6〜8の何れかに記載の難燃性樹脂製磁石用組成物。
  10. 【請求項10】 請求項1〜9の何れかに記載の難燃性
    樹脂製磁石用組成物から成る難燃性樹脂製磁石。
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