JP2002062261A - 光学装置および顕微鏡 - Google Patents

光学装置および顕微鏡

Info

Publication number
JP2002062261A
JP2002062261A JP2000249320A JP2000249320A JP2002062261A JP 2002062261 A JP2002062261 A JP 2002062261A JP 2000249320 A JP2000249320 A JP 2000249320A JP 2000249320 A JP2000249320 A JP 2000249320A JP 2002062261 A JP2002062261 A JP 2002062261A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
microscope
wavelength
sample
pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP2000249320A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Iketaki
慶記 池滝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP2000249320A priority Critical patent/JP2002062261A/ja
Priority to US09/934,440 priority patent/US6633432B2/en
Publication of JP2002062261A publication Critical patent/JP2002062261A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/58Optics for apodization or superresolution; Optical synthetic aperture systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458Fluorescence microscopy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で、結像性能の良好な超解像性を
容易に発現できる光学装置および顕微鏡を提供する。 【解決手段】 波長の異なる複数の光を発生する光源手
段(2,3,4,6,8)と、上記複数の光を対象1に
集光する集光手段13と、上記対象1から発せられる光
を検出する発光検出手段17とを有し、上記光源手段か
ら発生する波長の異なる複数の光のうち、少なくとも1
つの光はマルチ空間モードの集光パターンが形成される
光として、これら複数の光を上記集光手段13により上
記マルチ空間モードの集光パターンの一部領域のみが他
の光の集光パターンと空間的に重ね合わされるように上
記対象1に集光させるよう構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光学装置および顕
微鏡に関するもので、より詳しくは、異なる2波長の光
を用いる超解像の蛍光顕微鏡のような顕微分光装置にお
いて、2波長の光の波面を操作して試料面に集光させる
ことにより、検出感度および空間分解能の向上を図った
顕微分光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光学顕微鏡の技術は古く、種々のタイプ
の顕微鏡が開発されてきた。また、近年では、レーザー
技術および電子画像技術をはじめとする周辺技術の進歩
により、更に高機能の顕微鏡システムが開発されてい
る。
【0003】このような背景の中、例えば特開平8−1
84552号公報において、複数波長の光で試料を照明
することにより発する二重共鳴吸収過程を用いて、得ら
れる画像のコントラストの制御のみならず化学分析も可
能にした高機能な顕微鏡が提案されている。
【0004】この顕微鏡は、二重共鳴吸収を用いて特定
の分子を選択し、特定の光学遷移に起因する吸収および
蛍光を観測するもので、その原理を図9〜図17を参照
して説明する。図9は、試料を構成する分子の価電子軌
道の電子構造を示すもので、先ず、図9に示す基底(S
0)の分子がもつ価電子軌道の電子を光により励起して
図10に示す第1励起状態(S1状態)とする。次に、
別な波長の光により同様に励起して図11に示す第2励
起状態(S2状態)とする。この励起状態により、分子
は蛍光あるいは燐光を発光したりして、図12に示すよ
うに基底状態に戻る。
【0005】二重共鳴吸収過程を用いた顕微鏡法では、
図10の吸収過程や図11の蛍光や燐光の発光を用い
て、吸収像や発光像を観察する。この顕微鏡法では、ま
ず最初にレーザー光等により共鳴波長λ1の光で図10
のように試料を構成する分子をS1状態に励起させる
が、この際、単位体積内でのS1状態の分子数は、照射
する光の強度が増加するに従って増加する。
【0006】ここで、線吸収係数は、分子一個当りの吸
収断面積と単位体積当たりの分子数との積で与えられる
ので、図11のような励起過程においては、続いて照射
する共鳴波長λ2に対する線吸収係数は、最初に照射し
た波長λ1の光の強度に依存することになる。すなわ
ち、波長λ2に対する線吸収係数は、波長λ1の光の強
度で制御できることになる。このことは、波長λおよび
波長λ2の2波長の光で試料を照射し、波長λ2による
透過像を撮影すれば、透過像のコントラストは波長λ1
の光で完全に制御できることを示している。
【0007】また、図11の励起状態での蛍光または燐
光による脱励起過程が可能である場合には、その発光強
度はS1状態にある分子数に比例する。したがって、蛍
光顕微鏡として利用する場合にも画像コントラストの制
御が可能となる。
【0008】さらに、二重共鳴吸収過程を用いた顕微鏡
法では、上記の画像コントラストの制御のみならず、化
学分析も可能にする。すなわち、図9に示される最外殻
価電子軌道は、各々の分子に固有なエネルギー準位を持
つので、波長λ1は分子によって異なることになり、同
時に、波長λ2も分子固有のものとなる。
【0009】ここで、従来の単一波長で照明する場合で
も、ある程度特定の分子の吸収像あるいは蛍光像を観察
することが可能であるが、一般にはいくつかの分子の吸
収帯の波長領域は重複するので、試料の化学組成の正確
な同定までは不可能である。
【0010】これに対し、二重共鳴吸収過程を用いた顕
微鏡法では、波長λ1および波長λ2の2波長により吸
収あるいは発光する分子を限定するので、従来法よりも
正確な試料の化学組成の同定が可能となる。また、価電
子を励起する場合、分子軸に対して特定の電場ベクトル
をもつ光のみが強く吸収されるので、波長λ1および波
長λ2の偏光方向を決めて吸収または蛍光像を撮影すれ
ば、同じ分子でも配向方向の同定まで可能となる。
【0011】また、最近では、例えば特開平10−14
2151号公報に開示されているように、二重共鳴吸収
過程を用いて回折限界を越える高い空間分解能をもつ蛍
光顕微鏡も提案されている。図13は、やはり分子にお
ける二重共鳴吸収過程の概念図で、基底状態S0の分子
が、波長λ1の光で第1励起状態であるS1に励起さ
れ、更に波長λ2の光で第2励起状態であるS2に励起
されている様子を示していると共に、S2からの蛍光が
極めて弱い場合を示している。
【0012】図13に示すような光学的性質を持つ分子
の場合には、極めて興味深い現象が起きる。図14は、
図13と同じく二重共鳴吸収過程の概念図で、横軸のX
軸は空間的距離の広がりを表わし、波長λ2の光を照射
した空間領域A1と波長λ2の光が照射されない空間領
域A0とを示している。
【0013】図14において、空間領域A0では波長λ
1の光の励起によりS1状態の分子が多数生成され、そ
の際に空間領域A0からは波長λ3で発光する蛍光が見
られる。しかし、空間領域A1では、波長λ2の光を照
射したため、S1状態の分子のほとんどが即座に高位の
S2状態に励起されて、S1状態の分子は存在しなくな
る。このような現象は、幾つかの分子により確認されて
いる。これにより、波長λ3の蛍光は完全になくなり、
しかも、S2状態からの蛍光はもともとないので、A1
領域では蛍光自体が完全に抑制されることになる。した
がって、空間領域で蛍光があるのは、A0領域のみとな
る。
【0014】この結果は、顕微鏡の応用分野から考察す
ると、極めて重要な意味をもつものである。すなわち、
従来の走査型レーザー顕微鏡等では、レーザー光を集光
レンズによりマイクロビームに集光して観察試料上を走
査するが、その際のマイクロビームのサイズは、集光レ
ンズの開口数と波長とで決まる回折限界となり、原理的
にそれ以上の空間分解能は期待できない。
【0015】ところが、図14の場合には、波長λ1と
λ2との2種類の光を空間的に上手く重ね合わせて、波
長λ2の光の照射により蛍光領域を抑制することで、例
えば波長λ1の光の照射領域に着目すると、蛍光領域が
集光レンズの開口数と波長とで決まる回折限界よりも狭
くでき、実質的に空間分解能を向上させることが可能と
なる。したがって、この原理を利用することで、回折限
界を越える二重共鳴吸収過程を用いた超解像顕微鏡、例
えば蛍光顕微鏡が可能となる。
【0016】さらに、本発明者は、顕微鏡の超解像性を
高めるための新たな工夫も既に提案している。すなわ
ち、超解像顕微鏡の機能を十分に活かすための蛍光ラベ
ラー分子や、利用する波長λ1およびλ2の2つの光の
試料への照射タイミング等の提案である。この提案で
は、少なくとも基底状態を含め3つの量子状態を有して
いて、第1励起状態をのぞく高位のエネルギー状態から
基底状態へ脱励起するときの遷移が蛍光による緩和過程
よりも熱緩和過程が支配的である各種分子が染色する蛍
光プローブ分子と、生化学的な染色技術を施した生体分
子とを化学結合させた試料を、染色する分子を波長λ1
の光でS1状態に励起し、続いて波長λ2の光により即
座に高位の量子準位に励起することで、S1状態からの
蛍光を抑制するものである。このように、分子の光学的
性質を利用し、空間的な蛍光領域を人為的に抑制するこ
とで、空間分解能の向上をはかるものである。
【0017】このような分子の光学的性質は、量子化学
的な立場から説明することができる。すなわち、一般
に、分子はそれを構成する各原子がσまたはπ結合によ
って結ばれている。言い換えると、分子の分子軌道は、
σ分子軌道またはπ分子軌道を有していて、これらの分
子軌道に存在する電子が各原子を結合する重要な役割を
担っている。そのうちでも、σ分子軌道の電子は各原子
を強く結合し、分子の骨格である分子内の原子間距離を
決めている。それに対して、π分子軌道の電子は各原子
の結合にほとんど寄与しないで、むしろ分子全体に極め
て弱い力で束縛されている。
【0018】多くの場合、σ分子軌道にいる電子を光で
励起すると、分子の原子間隔が大きく変化し、分子の解
離を含む大きな構造変化が起こる。その結果として、原
子の運動エネルギーや、構造変化のために光が分子に与
えたエネルギーのほとんどが熱エネルギーに変化する。
したがって、励起エネルギーは蛍光という光の形態では
消費されない。また、分子の構造変化は極めて高速(ps
ecより短い)に起こるので、その過程で仮に蛍光が起き
てもその寿命が極めて短い。
【0019】それに対し、π分子軌道の電子は、励起し
ても分子の構造自体はほとんど変化せず、高位の量子的
な離散順位に長時間とどまり、nsecのオーダで蛍光を放
出して脱励起する性質を有している。
【0020】量子化学によれば、分子がπ分子軌道をも
つことと、二重結合をもつこととは同等であり、用いる
蛍光ラベラー分子には、二重結合を豊富にもつ分子を選
定することが必要条件となる。このことは、二重結合を
もつ分子でもベンゼンやピラジン等の6員環分子におい
ては、S2励起状態からの蛍光が極めて弱いことが確か
められている(例えば、M.Fujii et.al.Chem.Phys.Let
t.171(1990)341)。
【0021】したがって、ベンゼンやピラジン等の6員
環分子を含む分子を蛍光ラベラー分子として選定すれ
ば、S1状態からの蛍光寿命が長く、しかも光励起によ
りS1状態からS2状態に励起することで、分子からの
蛍光を容易に抑制できるので、超解像性を効果的に利用
することができる。すなわち、これら蛍光ラベラー分子
により染色して観察を行えば、高空間分解能で試料の蛍
光像を観察することができるのみならず、その分子の側
鎖の化学基を調整することにより、生体試料の特定の化
学組織のみ選択的に染色できるので、試料の詳細な化学
組成までも分析可能となる。
【0022】また、一般に、2重共鳴吸収過程は2つ光
の波長や偏光状態等が特定の条件を満たすときにのみ起
こるので、これを用いることで分子の構造を非常に詳細
に知ることができる。すなわち、光の偏光方向と分子の
配向方向とは強い相関関係があり、2つ波長の光のそれ
それの偏光方向と分子の配向方向とが特定の角度をなす
とき、2重共鳴吸収過程が強く起こる。したがって、2
つ波長の光を試料に同時に照射して、それそれの光りの
偏光方向を回転することにより、蛍光の消失の程度が変
化するので、その様子から観測しようとする組織の空間
配向の情報も得ることができる。このことは、2つ波長
の光を調整することでも可能である。
【0023】以上のように、本発明者による先の提案に
よると、超解像性以外にも、高い分析能力を有している
ことがわかる。さらに、波長λ1とλ2との2つの光の
照射タイミングを工夫することで、S/Nを改善し、か
つ蛍光抑制を効果的に起こすことができ、超解像性をよ
り効果的に発現することが可能となる。
【0024】図15は、上述した本発明者の先の提案に
係る超解像顕微鏡の一例の構成を示すものである。この
超解像顕微鏡では、Nd:YAGレーザー51からのレ
ーザー光をハーフミラー52で2分し、その一方を3倍
波発生器53を経てダイクロイックミラー54に入射さ
せ、他方をミラー55、ラマンシフタ56、ミラー57
および位相板58を経てダイクロイックミラー54に入
射させて、3倍波発生器53からのレーザー光と、位相
板58を透過したレーザー光とをダイクロイックミラー
54で空間的に重ね合わせ、その重ね合わせたレーザー
光を、コンデンサレンズ59、ピンホール60、ダイク
ロイックミラー61および対物レンズ62を経て、移動
ステージ63上でカバーガラス64により保持された試
料65に集光させている。なお、位相板58は、図16
に示すように、光軸に対して点対称な位置で位相差πを
与えるように形成されており、試料65は、予め蛍光ラ
ベラー分子で染色されている。
【0025】また、試料65から発する蛍光は、対物レ
ンズ62を経てダイクロイックミラー61により往路と
分離し、ピンホール66、シャープカットフィルタ6
7、バンドパスフィルタ68およびノッチフィルタ69
を経てフォトマル70で受光している。なお、シャープ
カットフィルタ67、バンドパスフィルタ68、ノッチ
フィルタ69およびフォトマル70は、遮光ボックス7
1に収容し、この遮光ボックス71にピンホール66を
形成している。
【0026】図15に示す超解像顕微鏡は、3倍波発生
器53からのレーザー光を、蛍光ラベラー分子をS0状
態からS1状態へ励起するポンプ光とし、ラマンシフタ
56からのレーザー光をS1状態からS2状態へ励起す
るイレース光として、このイレース光を位相板58で中
空ビーム化してダイクロイックミラー54でポンプ光と
空間的に重ね合わせ、これにより試料65上でイレース
光の強度がゼロとなる光軸近傍以外の蛍光を抑制して、
結果的にポンプ光の広がりより狭い領域に存在する蛍光
ラベラー分子のみを超解像で観察するものである。
【0027】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、本発明
者による種々の実験検討によると、上述した各種の超解
像顕微鏡には、結像性能の点で更に改良すべき点がある
ことが判明した。例えば、図15に示した超解像顕微鏡
では、イレース光を図16に示した位相板58を通すこ
とにより中空ビーム化してポンプ光と空間的に重ね合わ
せ、これにより試料65上でイレース光の強度がゼロと
なる光軸近傍以外の蛍光を抑制するので、理論上は非常
にエレガントな方法であるが、実際には、イレース光の
中央部の強度を完全にゼロにするのは困難である。
【0028】その理由は、位相板58を設計値通りに理
想的に加工することができないために、ビーム光軸に対
して点対称な位置で位相差πを与えることができず、電
場強度を完全には相殺できないためである。このため、
ビーム光軸に対して点対称な位置にある光波のうち、相
殺されない分が光軸上に残留し、しかもビーム光軸を中
心とする全方位角2πの成分の光波に対して相殺されな
い残留分が光軸上に堆積し、結果として図17に示すよ
うに、ビーム光軸中央でも無視できない電場強度が発生
することになる。
【0029】したがって、このような状態で、ポンプ光
とイレース光とを試料面で重複させ、蛍光抑制現象を利
用して超解像性を発現させようとしても、ポンプ光中心
部での蛍光強度が低下し、結果として超解像性が弱くな
り、むしろ蛍光信号の全体量の低下による弊害が目立つ
ようなる。
【0030】本発明は、かかる点に鑑みてなされたもの
で、簡単な構成で、結像性能の良好な超解像性を容易に
発現できる光学装置および顕微鏡を提供することを目的
とするものである。
【0031】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する請求
項1に係る光学装置の発明は、波長の異なる複数の光を
発生する光源手段と、上記複数の光を対象に集光する集
光手段と、上記対象から発せられる光を検出する発光検
出手段とを有し、上記光源手段から発生する波長の異な
る複数の光のうち、少なくとも1つの光はマルチ空間モ
ードの集光パターンが形成される光として、これら複数
の光を上記集光手段により上記マルチ空間モードの集光
パターンの一部領域のみが他の光の集光パターンと空間
的に重ね合わされるように上記対象に集光させるよう構
成したことを特徴とするものである。
【0032】請求項2に係る顕微鏡の発明は、少なくと
も基底状態を含め3つの電子状態を有する分子で染色し
た試料を観察する顕微鏡であって、上記分子を基底状態
から第1の励起状態へ遷移させる波長λ1の第1の光を
発生する第1の光源と、上記分子を上記第1の励起状態
から、よりエネルギー準位の高い第2の励起状態へ遷移
させる波長λ2の第2の光を発生させる第2の光源と、
上記第1の光および第2の光を上記試料に集光させる集
光光学系と、上記分子からの発光を検出する発光検出器
とを有し、上記第1の光源から上記第1の光としてマル
チ空間モードの集光パターンが形成される光を発生さ
せ、上記集光光学系により上記第1の光の集光パターン
の一部領域のみが上記第2の光の集光パターンと空間的
に重ね合わされるように上記試料に集光させるよう構成
したことを特徴とするものである。
【0033】請求項3に係る発明は、請求項2に記載の
顕微鏡において、上記第1の光源および第2の光源がコ
ヒーレント光源であることを特徴とするものである。
【0034】請求項4に係る発明は、請求項3に記載の
顕微鏡において、上記波長λ1の第1の光の波面に位相
分布をもたせる位相分布発生素子を有することを特徴と
するものである。
【0035】請求項5に係る発明は、請求項4に記載の
顕微鏡において、上記位相分布発生素子は、波面がゼロ
またはπの位相差をもつ複数の分割された領域を有する
ことを特徴とするものである。
【0036】請求項6に係る発明は、請求項5に記載の
顕微鏡において、上記分割された領域は、隣接する領域
とπの位相差をもつことを特徴とするものである。
【0037】請求項7に係る発明は、請求項2から6の
いずれか一つに記載の顕微鏡において、上記第2の光
も、マルチ空間モードの集光パターンを有することを特
徴とするものである。
【0038】すなわち、本発明では、ポンプ光および/
またはイレース光の集光ビームパターンをマルチモード
化して空間的に複数の区域に分割し、これらのビームを
試料集光面上で空間的に一部重複させて、ポンプ光の1
部の分割区域からの蛍光を抑制し、これによりポンプ光
の回折限界のサイズよりも微小な空間領域からの蛍光信
号の検出を可能にするものである。
【0039】一般に、レーザー光源のように波面が揃っ
た光ビームを、2次元的な位相分布をもつ位相フィルタ
に通すと、任意の空間モードを持った集光ビームが形成
される。これは、光情報技術の分野では既に実用化され
ている技術である(例えば、T.M.Turpin et.al.Rroc.SP
IE,3073(1997)178-184)。
【0040】例えば、図1に示すように、ポンプ光を集
光ビーム内をマルチモード化して2つに分割する。同様
に、イレース光も2つに分割する。この二つのビーム
を、1分割領域のみを重ね合わせると、その部分からの
蛍光は完全に抑制され、分解能を倍に向上したことにな
る。
【0041】また、この他にも図2に示すように3分割
する方法もあり、高次のモードを生成するに従い空間分
解能も向上する。さらに、図3に示すように2次元的な
高次の空間モードもつポンプ光を形成し、イレース光の
空間パターンは輪帯状にして、空間分割されたポンプ光
の1分割領域を残し、それ以外の領域をイレース光の照
射領域と重複させて蛍光を消去する方法も可能である。
【0042】このように、ポンプ光またはイレース光の
集光ビームパターンをマルチモード化して空間的に複数
の区域に分割することは、既存技術を用いることで複数
の方法が可能であり、基本的には、波面の揃ったコヒー
レント光を用いて、波面走査することにより行なうこと
ができる。
【0043】その一つは、位相板を用いる方法で、図1
〜図3に示したように、レーザー光の波面を光軸と直交
する平面内で位相差が0かπ異なる領域を適当に配置し
てやればよい。また、ポンプ光を2分割する場合には、
瞳面を左右半分の2領域に分けて、ポンプ光またはイレ
ース光の位相差が互いにπ異なるようにすればよい。こ
のようにしてビームを集光すれば、2領域の境界面で電
場強度の符号が反転して、結果として電場がゼロとな
り、集光ビームは2つのピークをもつ形状になる。同様
に、瞳面を3領域に分け、隣接する領域の位相差が互い
にπ異なるようにすれば、図2に示したように、集光ビ
ームは3つのピークをもつ形状になる。
【0044】なお、上記の位相差を与えるには、光学研
磨されたガラス基板の上に、例えばフッ化マグネシウム
のような高屈折率の光学薄膜を蒸著したり、直接、ガラ
ス基板をケミカルエッチングする等の方法により可能で
ある。その他、光源であるレーサ自体が、空間的にマル
チモード化したビームを発生するものを用いることでも
可能である。すなわち、レーザー共振器の境界条件を選
ぶことにより、ビーム断面で縦がn、横がmのn×mの
複数のピークを持つモードパターンの光を発振させるこ
とができる。これは、いわゆるTEMモードと呼ばれる
もので、図4(a),(b)および(c)に代表的な低
次のTEMモードの三つのパターンを示す(オーム社:
新世代工学シリーズ「レーザー工学」1999年、中井貞
雄著)。このように、レーザー自身が空間的にマルチモ
ード化したビームを発振する場合には、位相板を用いる
ことなく超解像を実現することができるので、簡潔な顕
微鏡システムの構成が可能となる。
【0045】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態につ
いて、図5〜図8を参照して説明する。図5は顕微鏡の
一例の構成を示す図である。本実施の形態では、蛍光色
素ローダミン6Gで染色した生物試料1を観察する。ロ
ーダミン6Gは、図6および表1に示す光学特性を有す
るので、光源2としては、レーザー媒体がNd:YAG
からなり、30psec程度のパルス幅のレーザー光
(基本波長:1064nm)を出射するNd:YAGピ
コ秒レーザーを用い、このレーザー光を倍波した波長5
32nmの光をポンプ光として用い、ラマン結晶で波長
変換した2次のストークス光に対応する波長599nm
の光をイレース光として用いる。本実施の形態では、ポ
ンプ光およびイレース光をそれぞれ2分割した1×2の
空間モードとして、図1に示したように、試料1上でポ
ンプ光とイレース光とを一部空間的にオーバーラップさ
せて集光させる。
【0046】
【表1】
【0047】図5において、Nd:YAGピコ秒レーザ
ー2からの出射光は、ビームスプリッタ3で2本のビー
ムに分岐し、その一方のビームをKDP結晶4により2
倍の波長532nmのビームに変換してポンプ光とし、
他方のビームはミラー5で反射させた後、酸化バリウム
結晶Ba(NOからなるラマンシフタ6により波
長599nmのビームに変換してイレース光とする。
【0048】KDP結晶4から出射されるポンプ光は、
位相板7を通過させることにより、1×2で空間的にマ
ルチモード化してダイクロイックミラー8に入射させ
る。位相板7は、図7に示すように、光学研磨した石英
ガラス基板をケミカルエッチングし、そのエッチング深
さにより波長532nmのポンプ光に対して隣接する2
領域でπだけの位相差を与えるように構成して、ポンプ
光を空間的にマルチモード化したビームに変形する。
【0049】同様に、ラマンシフタ6から出射されるイ
レース光も、位相板9を通過させることにより1×2で
空間的にマルチモード化し、そのイレース光をミラー1
0を経てダイクロイックミラー8に入射させる。位相板
9は、図8に示すように、位相板7と同様、光学研磨し
た石英ガラス基板をケミカルエッチングし、そのエッチ
ング深さを波長599nmのイレース光に調整すること
により、イレース光を空間的にマルチモード化したビー
ムに変形する。
【0050】ダイクロイックミラー8では、ポンプ光と
イレース光とをコンバインし、そのコンバインしたビー
ムをリレーレンズ11およびハーフミラー12を経て対
物レンズ13により、サンプルステージ14に載置され
た試料1上に集光させる。
【0051】ここで、試料1上に集光されるポンプ光お
よびイレース光は、図1に示した位置関係となり、1×
2で空間的にマルチモード化されたポンプ光の半分が、
イレース光と空間的に重複し、その重複部分は蛍光が抑
制される。このポンプ光とイレース光との空間的な重ね
合わせは、ダイクロイックミラー8、ミラー10および
ハーフミラー12により調整することができる。
【0052】一方、試料1から発する蛍光は、対物レン
ズ13、ハーフミラー12およびハーフミラー15を透
過させて、結像レンズ16によりCCDカメラ17の撮
像面上に結像させ、これにより蛍光像を目視できるよう
にする。
【0053】また、ハーフミラー15で一部反射される
蛍光は、レンズ18により空間フィルタであるピンホー
ル19に結像させ、このピンホール19を通過した蛍光
をレンズ20および透過型回折格子21を経てICCD
カメラ22の撮像面上に結像させる。
【0054】ここで、ICCDカメラ22は、光−電子
変換膜と2次元光電子増倍管からなり、蛍光は透過型回
折格子21を経て蛍光スペクトルの形としてICCDカ
メラ22で撮影される。したがって、試料1をサンプル
ステージ14により2次元走査しながら蛍光信号を計測
し、各点におけるデータをパーソナルコンピュータ等の
メモリに格納してCRT等のモニタ上に表示させれば、
目的とする試料1の構造を画像化することができる。
【0055】本実施の形態の顕微鏡によれば、試料1に
集光したレーザー光よりも遥かに微小な領域の蛍光信号
をセレクトすることができるので、計測法としてのポテ
ンシャルを極めて高くすることができる。また、サンプ
ルステージ14として、ピエゾ素子で駆動するものを用
いれば、位置分解能を10nm程度と極めて高くできる
ので、超解像顕微鏡の空間分解能に十分見合った性能を
持たせることができる。
【0056】さらに、本実施の形態の顕微鏡では、ピン
ホール19を顕微鏡光学系の共焦点に配置しているの
で、試料1の3次元観察も可能である。すなわち、ピン
ホール19は、レーザー光の焦点位置から発する蛍光の
みを通過させることができるので、サンプルステージ1
4を光軸方向に移動させて、レーザー光に対して2次元
走査すれば、光学深さ方向における試料1の断層像を得
ることができる。
【0057】また、上記実施の形態では、一つのNd:
YAGピコ秒レーザー2の出射光からポンプ光およびイ
レース光を得るようにしたが、ポンプ光およびイレース
光を別々の光源から得るように構成することもできる。
【0058】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、波長の
異なる複数の光のうち、少なくとも1つの光はマルチ空
間モードの集光パターンが形成される光として、これら
複数の光をマルチ空間モードの集光パターンの一部領域
のみが他の光の集光パターンと空間的に重ね合わされる
ように対象に集光させるようにしたので、簡単な構成
で、結像性能の良好な超解像性を容易に発現できる光学
装置および顕微鏡を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の原理を説明するための図である。
【図2】 同じく、本発明の原理を説明するための図で
ある。
【図3】 同じく、本発明の原理を説明するための図で
ある。
【図4】 代表的な低次のTEMモードの三つのパター
ンを示す図である。
【図5】 本発明の一実施の形態による顕微鏡の構成を
示す図である。
【図6】 図5に示す試料の光学特性を示す図である。
【図7】 図5において、ポンプ光をマルチモード化す
る位相板の構成および作用を説明するための図である。
【図8】 同じく、図5において、イレース光をマルチ
モード化する位相板の構成および作用を説明するための
図である。
【図9】 試料を構成する分子の価電子軌道の電子構造
を示す概念図である。
【図10】 図9の分子の第1励起状態を示す概念図で
ある。
【図11】 同じく、第2励起状態を示す概念図であ
る。
【図12】 同じく、第2励起状態から基底状態に戻る
状態を示す概念図である。
【図13】 分子における二重共鳴吸収過程を説明する
ための概念図である。
【図14】 同じく、二重共鳴吸収過程を説明するため
の概念図である。
【図15】 本発明者が先の提案した超解像顕微鏡の一
例の構成を示す図である。
【図16】 図15に示す位相板の構成を示す平面図で
ある。
【図17】 図15に示す超解像顕微鏡の改良点を説明
するための図である。
【符号の説明】
1 試料 2 Nd:YAGピコ秒レーザー 3 ビームスプリッタ 4 KDP結晶 5,10 ミラー 6 ラマンシフタ 7,9 位相板 8 ダイクロイックミラー 11 リレーレンズ 12,15 ハーフミラー 13 対物レンズ 14 サンプルステージ 16 結像レンズ 17 CCDカメラ 18,20 レンズ 19 ピンホール 21 透過型回折格子 22 ICCDカメラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) // G01N 21/17 G01N 21/17 A 620 620 Fターム(参考) 2G020 CA01 CB23 CB43 CC02 CD04 CD24 CD52 2G043 AA03 CA09 EA01 FA01 FA02 GA02 GA04 GA06 GA08 GB01 HA01 HA09 HA15 JA04 KA02 KA05 KA08 KA09 LA03 LA07 MA11 2G059 AA05 DD03 DD13 EE07 FF02 FF03 FF13 GG01 GG08 GG09 HH02 HH06 JJ05 JJ07 JJ11 JJ22 JJ30 KK04 LL10 2H052 AA07 AA08 AA09 AC04 AC10 AC11 AC14 AC34 AF02

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 波長の異なる複数の光を発生する光源手
    段と、 上記複数の光を対象に集光する集光手段と、 上記対象から発せられる光を検出する発光検出手段とを
    有し、 上記光源手段から発生する波長の異なる複数の光のう
    ち、少なくとも1つの光はマルチ空間モードの集光パタ
    ーンが形成される光として、これら複数の光を上記集光
    手段により上記マルチ空間モードの集光パターンの一部
    領域のみが他の光の集光パターンと空間的に重ね合わさ
    れるように上記対象に集光させるよう構成したことを特
    徴とする光学装置。
  2. 【請求項2】 少なくとも基底状態を含め3つの電子状
    態を有する分子で染色した試料を観察する顕微鏡であっ
    て、 上記分子を基底状態から第1の励起状態へ遷移させる波
    長λ1の第1の光を発生する第1の光源と、 上記分子を上記第1の励起状態から、よりエネルギー準
    位の高い第2の励起状態へ遷移させる波長λ2の第2の
    光を発生させる第2の光源と、 上記第1の光および第2の光を上記試料に集光させる集
    光光学系と、 上記分子からの発光を検出する発光検出器とを有し、 上記第1の光源から上記第1の光としてマルチ空間モー
    ドの集光パターンが形成される光を発生させ、上記集光
    光学系により上記第1の光の集光パターンの一部領域の
    みが上記第2の光の集光パターンと空間的に重ね合わさ
    れるように上記試料に集光させるよう構成したことを特
    徴とする顕微鏡。
  3. 【請求項3】 上記第1の光源および第2の光源がコヒ
    ーレント光源であることを特徴とする請求項2に記載の
    顕微鏡。
  4. 【請求項4】 上記波長λ1の第1の光の波面に位相分
    布をもたせる位相分布発生素子を有することを特徴とす
    る請求項3に記載の顕微鏡。
  5. 【請求項5】 上記位相分布発生素子は、波面がゼロま
    たはπの位相差をもつ複数の分割された領域を有するこ
    とを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡。
  6. 【請求項6】 上記分割された領域は、隣接する領域と
    πの位相差をもつことを特徴とする請求項5に記載の顕
    微鏡。
  7. 【請求項7】 上記第2の光も、マルチ空間モードの集
    光パターンを有することを特徴とする請求項2から6の
    いずれか一つに記載の顕微鏡。
JP2000249320A 2000-08-21 2000-08-21 光学装置および顕微鏡 Withdrawn JP2002062261A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000249320A JP2002062261A (ja) 2000-08-21 2000-08-21 光学装置および顕微鏡
US09/934,440 US6633432B2 (en) 2000-08-21 2001-08-21 Optical device and a microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000249320A JP2002062261A (ja) 2000-08-21 2000-08-21 光学装置および顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002062261A true JP2002062261A (ja) 2002-02-28

Family

ID=18739076

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000249320A Withdrawn JP2002062261A (ja) 2000-08-21 2000-08-21 光学装置および顕微鏡

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6633432B2 (ja)
JP (1) JP2002062261A (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005024497A1 (ja) * 2003-09-05 2005-03-17 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha 光制御装置および光制御方法
WO2005038441A1 (ja) * 2003-10-15 2005-04-28 Japan Science And Technology Agency 3次元分析装置
JP2010500563A (ja) * 2006-08-07 2010-01-07 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
JP2010506203A (ja) * 2006-10-06 2010-02-25 カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置
JP2012504226A (ja) * 2008-09-30 2012-02-16 カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー 試料を検査するための装置、特に顕微鏡
JP2012093757A (ja) * 2010-10-22 2012-05-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Sted光シートを用いるspim顕微鏡
JP2012515930A (ja) * 2009-01-26 2012-07-12 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレーション 広視野の超解像顕微鏡を提供するためのシステム、方法及びコンピューターがアクセス可能な媒体
US8564792B2 (en) 2007-12-21 2013-10-22 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
JP2013545127A (ja) * 2010-10-15 2013-12-19 バイオアキシアル エスエーエス 光学測定方法および光学測定装置
CN104020526A (zh) * 2014-05-28 2014-09-03 江苏金迪电子科技有限公司 一种支持偏振复用的光纤模式复用及解复用装置
JP2015060230A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 高分解能走査顕微鏡
US10073035B2 (en) 2006-08-07 2018-09-11 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution and other imaging techniques

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10056382B4 (de) * 2000-11-14 2004-07-01 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Scanmikroskop
JP4683869B2 (ja) * 2004-07-08 2011-05-18 独立行政法人理化学研究所 半導体デバイスの故障診断方法と装置
DE102005013116B4 (de) * 2005-03-18 2022-05-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Phasenfilter und ein Mikroskop
DE102005012739B4 (de) * 2005-03-19 2010-09-16 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Verfahren zur Herstellung räumlicher Feinstrukturen
EP3203235A1 (en) 2005-05-23 2017-08-09 Harald F. Hess Optical microscopy with phototransformable optical labels
US7485875B2 (en) * 2005-07-22 2009-02-03 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Resolution-enhanced luminescence microscopy
ATE441103T1 (de) 2005-07-22 2009-09-15 Zeiss Carl Microimaging Gmbh Auflísungsgesteigerte lumineszenz-mikroskopie
JP4512698B2 (ja) * 2005-08-30 2010-07-28 ナノフォトン株式会社 レーザ顕微鏡
US7619732B2 (en) 2006-03-01 2009-11-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Method and microscope for high spatial resolution examination of samples
DE102006009830B4 (de) * 2006-03-01 2019-06-13 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben
DE102006009832B4 (de) * 2006-03-01 2013-07-04 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Mikroskop zur räumlich hochauflösenden Untersuchung von Proben
DE102006026204A1 (de) * 2006-05-31 2007-12-06 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskop mit erhöhter Auflösung
JP2008026471A (ja) * 2006-07-19 2008-02-07 Olympus Corp 試料観察方法および顕微鏡
DE102008021641A1 (de) 2008-04-30 2009-11-05 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Lumineszenzmikroskopie
DE102008054317A1 (de) 2008-11-03 2010-05-06 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Kombinationsmikroskopie
DE102008059328A1 (de) 2008-11-27 2010-06-02 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Auflösungsgesteigerte Mikroskopie
DE102009043744A1 (de) 2009-09-30 2011-03-31 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren und Mikroskop zur dreidimensional auflösungsgesteigerten Mikroskopie
EP2317362B1 (de) 2009-10-28 2020-01-15 Carl Zeiss Microscopy GmbH Mikroskopisches Verfahren und Mikroskop mit gesteigerter Auflösung
DE102009060793A1 (de) 2009-12-22 2011-07-28 Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
FR2989472B1 (fr) 2012-04-13 2015-09-25 Bioaxial Procede et dispositif optique
EP2839298B1 (fr) 2012-04-13 2022-06-01 Bioaxial SAS Procédé et dispositif de mesure optique
CN103439767B (zh) * 2013-06-26 2015-07-29 江苏金迪电子科技有限公司 一种可编程的光纤模式激励和耦合方法
DE102014111167A1 (de) 2014-08-06 2016-02-11 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche
EP3230784A1 (fr) 2014-12-09 2017-10-18 Bioaxial SAS Procédé et dispositif de mesure optique
DE102015111702A1 (de) 2015-07-20 2017-01-26 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende, spektral selektive Scanning-Mikroskopie einer Probe
DE102015116435A1 (de) 2015-09-29 2017-03-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Spektralbereiche
LU93117B1 (de) * 2016-06-23 2018-01-24 Leica Microsystems Beleuchtungsvorrichtung für ein Mikroskop
CN106444069B (zh) * 2016-12-21 2019-01-11 上海理工大学 空心介质微球辅助的远场超分辨成像***
DE102017113683A1 (de) 2017-06-21 2018-12-27 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche
FR3073050B1 (fr) * 2017-11-02 2023-06-30 Centre Nat Rech Scient Appareil et procede de microscopie a fluorescence a super-resolution et de mesure de temps de vie de fluorescence
CN108183750B (zh) * 2017-12-28 2020-04-24 长春理工大学 一种基于光学相控阵的分口径激光通信***

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4917462A (en) * 1988-06-15 1990-04-17 Cornell Research Foundation, Inc. Near field scanning optical microscopy
JP2575270B2 (ja) * 1992-11-10 1997-01-22 浜松ホトニクス株式会社 核酸の塩基配列決定方法、単一分子検出方法、その装置及び試料の作成方法
JP3164989B2 (ja) 1994-12-28 2001-05-14 科学技術振興事業団 試料観察方法および多波長光光学顕微鏡
JP3020453B2 (ja) 1996-11-13 2000-03-15 科学技術振興事業団 光学顕微鏡
ATE272224T1 (de) * 1997-11-17 2004-08-15 Max Planck Gesellschaft Konfokales spektroskopiesystem und -verfahren

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005024497A1 (ja) * 2003-09-05 2005-03-17 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha 光制御装置および光制御方法
WO2005038441A1 (ja) * 2003-10-15 2005-04-28 Japan Science And Technology Agency 3次元分析装置
US7304315B2 (en) 2003-10-15 2007-12-04 Japan Science & Technology Agency Three dimensional analyzing device
US10794828B2 (en) 2006-08-07 2020-10-06 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution and other imaging techniques
JP2014199263A (ja) * 2006-08-07 2014-10-23 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
US10073035B2 (en) 2006-08-07 2018-09-11 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution and other imaging techniques
JP2010500563A (ja) * 2006-08-07 2010-01-07 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
JP2018044963A (ja) * 2006-08-07 2018-03-22 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
JP2012215594A (ja) * 2006-08-07 2012-11-08 President & Fellows Of Harvard College 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
JP2015194505A (ja) * 2006-08-07 2015-11-05 プレジデント アンド フェローズ オブ ハーバード カレッジ 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
JP2014074725A (ja) * 2006-08-07 2014-04-24 President & Fellows Of Harvard College 回折限界以下の画像解像技術および他の画像化技術
JP2010506203A (ja) * 2006-10-06 2010-02-25 カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー 並行化された顕微鏡イメージングのための方法および装置
US9712805B2 (en) 2007-12-21 2017-07-18 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
US8564792B2 (en) 2007-12-21 2013-10-22 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
US10412366B2 (en) 2007-12-21 2019-09-10 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
US9077975B2 (en) 2007-12-21 2015-07-07 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
US9137516B2 (en) 2007-12-21 2015-09-15 President And Fellows Of Harvard College Sub-diffraction limit image resolution in three dimensions
JP2012504226A (ja) * 2008-09-30 2012-02-16 カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー 試料を検査するための装置、特に顕微鏡
JP2012515930A (ja) * 2009-01-26 2012-07-12 ザ ジェネラル ホスピタル コーポレーション 広視野の超解像顕微鏡を提供するためのシステム、方法及びコンピューターがアクセス可能な媒体
JP2013545127A (ja) * 2010-10-15 2013-12-19 バイオアキシアル エスエーエス 光学測定方法および光学測定装置
JP2012093757A (ja) * 2010-10-22 2012-05-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Sted光シートを用いるspim顕微鏡
JP2015060230A (ja) * 2013-09-19 2015-03-30 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 高分解能走査顕微鏡
JP2019211788A (ja) * 2013-09-19 2019-12-12 カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh 高分解能走査顕微鏡
CN104020526A (zh) * 2014-05-28 2014-09-03 江苏金迪电子科技有限公司 一种支持偏振复用的光纤模式复用及解复用装置

Also Published As

Publication number Publication date
US20020141052A1 (en) 2002-10-03
US6633432B2 (en) 2003-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002062261A (ja) 光学装置および顕微鏡
JP4487078B2 (ja) 蛍光顕微鏡及び観察方法
JP5771422B2 (ja) 顕微鏡
JP5536650B2 (ja) 自己干渉蛍光顕微鏡検査のためのシステムと方法、及び、それに関連するコンピュータがアクセス可能な媒体
US7304315B2 (en) Three dimensional analyzing device
JP2008058003A (ja) 顕微鏡
JP2010092002A (ja) 光学顕微鏡
JP4545337B2 (ja) 顕微鏡
JP2002196252A (ja) 走査型顕微鏡検査における照明用光源装置、及び走査型顕微鏡
JP2010015026A (ja) 超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子
JP5065668B2 (ja) 顕微鏡法および顕微鏡
JP2004317741A (ja) 顕微鏡およびその光学調整方法
JP4334835B2 (ja) 顕微鏡
JP2009047435A (ja) レーザ顕微鏡
JP2006047912A (ja) 超解像顕微鏡
JPH08184552A (ja) 多波長光光学顕微鏡
JP3020453B2 (ja) 光学顕微鏡
JP2006058477A (ja) 超解像顕微鏡
JP4869562B2 (ja) 走査型共焦点顕微鏡
JP5086765B2 (ja) 顕微鏡
JP2008026471A (ja) 試料観察方法および顕微鏡
JP4614495B2 (ja) 二重共鳴吸収顕微鏡
JP4659952B2 (ja) 超解像顕微鏡
JP2003262798A (ja) 顕微鏡
JP4017472B2 (ja) 顕微鏡

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20071106