JP2002061535A - Abnormality detecting device - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、車両の各種制御を
実行するマイクロコンピュータを用いて異常を検出する
異常検出装置に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an abnormality detecting apparatus for detecting an abnormality using a microcomputer for executing various controls of a vehicle.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来より車両には、部品やシステム等の
異常を検出する目的で異常検出装置が搭載されている。
この種の異常検出装置では、所定時間毎、あるいは所定
回転角度（クランク軸の回転角度）毎に異常診断が実施
され、センサ、アクチュエータやワイヤハーネス等にお
ける異常が検出される。2. Description of the Related Art Conventionally, a vehicle is provided with an abnormality detecting device for detecting an abnormality of a component or a system.
In this type of abnormality detection device, abnormality diagnosis is performed every predetermined time or every predetermined rotation angle (rotation angle of the crankshaft), and abnormality in a sensor, an actuator, a wire harness, or the like is detected.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、車両に発生
する異常はより迅速に検出されることが望まれている
が、このためには、異常診断の処理間隔を短縮する必要
がある。しかし、この処理間隔を短縮すると異常検出装
置における処理負荷が増す。また一般に、異常検出装置
は、エンジンを制御するための電子制御装置（ＥＣＵ）
に配設されている。つまり、異常検出装置は、エンジン
制御を司るマイクロコンピュータなどのハードウエアを
共有している場合が多い。この場合、異常診断のための
処理負荷が増大すると、エンジン制御に影響を及ぼすお
それがある。これを避けるためには、より高速に処理で
きるマイクロコンピュータの採用など装置の改良が必要
となり、コストアップの問題が生じてしまう。By the way, it is desired that abnormalities occurring in the vehicle be detected more quickly, but for this purpose, it is necessary to shorten the processing interval of the abnormality diagnosis. However, if the processing interval is shortened, the processing load on the abnormality detection device increases. Generally, an abnormality detection device is an electronic control unit (ECU) for controlling an engine.
It is arranged in. That is, the abnormality detection device often shares hardware such as a microcomputer that controls the engine. In this case, an increase in the processing load for abnormality diagnosis may affect the engine control. In order to avoid this, it is necessary to improve the apparatus such as adoption of a microcomputer capable of processing at a higher speed, which causes a problem of cost increase.
【０００４】本発明は、上記問題に着目してなされたも
のであって、その目的とするところは、マイクロコンピ
ュータの処理負荷の増加を抑えつつ、異常を迅速に検出
できる異常検出装置を提供することである。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an abnormality detection device capable of detecting an abnormality quickly while suppressing an increase in the processing load of a microcomputer. That is.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明で
は、異常の発生頻度を増大させる各種の要因を予め設定
しておき、その各種の要因が発生したか否かを判定す
る。そして、前記要因のいずれかが発生した場合、その
要因に対応づけられた異常診断について処理間隔を短く
するとともに、それ以外の異常診断のいずれかについて
処理間隔を長くする。この場合、異常の発生頻度を増大
させる要因に基づき、異常診断の処理間隔の変更が行わ
れるので、その時々の異常発生の可能性を考慮して必要
時にのみ処理間隔が変更される。この変更により、異常
発生の可能性が高くなる異常診断については、処理間隔
が短縮されるので、該異常が迅速に検出される。また、
その短縮した異常診断以外のいずれかの処理間隔が拡げ
られるので、マイクロコンピュータの処理負荷の増加が
抑えられる。従って、マイクロコンピュータが実行する
各種制御への影響が抑えられ、車両を好適に制御でき
る。以上のことより、マイクロコンピュータの処理負荷
の増加を抑えつつ、異常を迅速に検出できる。According to the present invention, various factors for increasing the frequency of occurrence of an abnormality are set in advance, and it is determined whether or not the various factors have occurred. Then, when any of the above factors occurs, the processing interval is shortened for the abnormality diagnosis associated with the factor, and the processing interval is lengthened for any other abnormality diagnosis. In this case, the processing interval of the abnormality diagnosis is changed based on a factor that increases the frequency of occurrence of the abnormality. Therefore, the processing interval is changed only when necessary in consideration of the possibility of the occurrence of the abnormality at each time. As a result of this change, the processing interval is shortened for the abnormality diagnosis in which the possibility of occurrence of the abnormality increases, so that the abnormality can be quickly detected. Also,
Since any processing interval other than the shortened abnormality diagnosis is extended, an increase in the processing load of the microcomputer is suppressed. Therefore, the influence on various controls executed by the microcomputer is suppressed, and the vehicle can be suitably controlled. As described above, an abnormality can be quickly detected while suppressing an increase in the processing load of the microcomputer.
【０００６】具体的には、請求項２に記載の発明のよう
に、各々の異常診断について、予め優先順位を決めてお
き、要因の発生により処理間隔を変更する際には、各異
常診断の優先順位に基づいて、処理間隔を長くする異常
診断が選択される。この場合、複数の異常診断の中から
優先順位が低い異常診断を選択できる。そして、優先順
位の低い異常診断を選択しその処理間隔を長くすること
により、好適な処理間隔で異常診断を実施できる。More specifically, as in the second aspect of the present invention, priorities are determined in advance for each abnormality diagnosis, and when the processing interval is changed due to occurrence of a factor, each abnormality diagnosis is performed. Based on the priority, an abnormality diagnosis that extends the processing interval is selected. In this case, an abnormality diagnosis having a lower priority can be selected from a plurality of abnormality diagnoses. Then, by selecting an abnormality diagnosis with a low priority and increasing the processing interval, abnormality diagnosis can be performed at a suitable processing interval.
【０００７】請求項３に記載の発明によれば、異常診断
の処理間隔を変更する際、処理間隔を短くした異常診断
については優先順位を上位に変更する。従って、異常診
断の処理間隔変更時に、優先順位が低いものを選択し処
理間隔を長くする場合において、短い処理間隔に変更さ
れた異常診断が、長い処理間隔に再度変更されてしまう
といった不都合は生じない。その結果、より好適な処理
間隔で異常診断を実施できる。According to the third aspect of the present invention, when the processing interval of the abnormality diagnosis is changed, the priority of the abnormality diagnosis with the reduced processing interval is changed to a higher priority. Therefore, when the processing interval of the abnormality diagnosis is changed, when a low priority is selected and the processing interval is lengthened, an inconvenience such that the abnormality diagnosis changed to the short processing interval is changed to the long processing interval again occurs. Absent. As a result, abnormality diagnosis can be performed at more suitable processing intervals.
【０００８】請求項４に記載の発明によれば、他の異常
の発生により発生頻度が高くなる異常の診断間隔を、他
の異常が発生したとき短くするので、異常に起因して発
生する異常を迅速に検出できる。According to the fourth aspect of the present invention, the diagnosis interval of the abnormality whose occurrence frequency increases due to the occurrence of another abnormality is shortened when the other abnormality occurs. Can be detected quickly.
【０００９】請求項５に記載の発明によれば、異常診断
における判定値が異常値へ接近することにより発生頻度
が高くなる異常の診断間隔を、判定値が異常値へ接近し
たとき短くするので、センサやアクチュエータ等の経年
劣化による異常を迅速に検出できる。According to the fifth aspect of the present invention, the abnormality diagnosis interval in which the occurrence frequency increases when the determination value in the abnormality diagnosis approaches the abnormal value is shortened when the determination value approaches the abnormal value. In addition, abnormalities due to aging of sensors, actuators, and the like can be quickly detected.
【００１０】請求項６に記載の発明によれば、異常履歴
の有無により発生頻度が異なる異常の診断間隔を、異常
履歴が有るとき短くするので、再発する異常を迅速に検
出できる。According to the invention described in claim 6, the diagnosis interval of the abnormality whose occurrence frequency differs depending on the presence or absence of the abnormality history is shortened when the abnormality history exists, so that the recurring abnormality can be detected quickly.
【００１１】請求項７に記載の発明によれば、車両の初
期使用時に発生頻度が高くなる異常の診断間隔を、使用
期間が一定期間内であるとき短くするので、初期不良に
よる異常を迅速に検出できる。According to the seventh aspect of the present invention, the diagnosis interval of the abnormality that occurs frequently during the initial use of the vehicle is shortened when the use period is within a certain period, so that the abnormality due to the initial failure can be promptly performed. Can be detected.
【００１２】請求項８に記載の発明によれば、車両の使
用に伴い発生頻度が高くなる異常の診断間隔を、使用期
間が一定期間経過したとき短くするので、センサやアク
チュエータ等の経年劣化による異常を迅速に検出でき
る。According to the invention described in claim 8, the diagnosis interval of the abnormality, which becomes more frequent with the use of the vehicle, is shortened after a certain period of use, so that the sensor or the actuator is deteriorated over time. Anomalies can be detected quickly.
【００１３】[0013]
【発明の実施の形態】以下、この発明を具体化した実施
の形態を図面に従って説明する。本実施の形態では自動
車用のエンジン制御システムに適用している。図１は、
車載エンジンを制御するための電子制御装置（ＥＣＵ）
１の概要を示す構成図である。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the present embodiment, the present invention is applied to an engine control system for an automobile. FIG.
Electronic control unit (ECU) for controlling in-vehicle engine
FIG. 1 is a configuration diagram showing an outline of No. 1.
【００１４】図１に示すように、ＥＣＵ１は、マイクロ
コンピュータ（マイコン）２、入力回路３及び出力回路
４等を備えている。入力回路３には、回転数センサ１
１、エアフロメータ１２、Ａ／Ｆセンサ１３、リアＯ２
センサ１４等、各種センサ・スイッチが接続されてい
る。回転数センサ１１は、クランク軸に配設され、エン
ジン回転数を検出する。エアフロメータ１２は、吸気通
路に配設され、エンジンへの吸入空気量を検出する。Ａ
／Ｆセンサ１３は、排気通路において触媒の上流側に配
設され、触媒通過前の排ガスの酸素濃度を検出する。リ
アＯ２センサ１４は、排気通路において触媒の下流側に
配設され、触媒を通過した排ガスの空燃比（リッチ又は
リーン）を検出する。As shown in FIG. 1, the ECU 1 includes a microcomputer (microcomputer) 2, an input circuit 3, an output circuit 4, and the like. The input circuit 3 includes a rotation speed sensor 1
1. Air flow meter 12, A / F sensor 13, rear O2
Various sensor switches such as the sensor 14 are connected. The rotation speed sensor 11 is provided on the crankshaft and detects the engine rotation speed. The air flow meter 12 is provided in the intake passage, and detects the amount of intake air to the engine. A
The / F sensor 13 is disposed upstream of the catalyst in the exhaust passage, and detects the oxygen concentration of the exhaust gas before passing through the catalyst. The rear O2 sensor 14 is disposed downstream of the catalyst in the exhaust passage, and detects the air-fuel ratio (rich or lean) of the exhaust gas passing through the catalyst.
【００１５】入力回路３は、マイコン２に接続されてお
り、前記各種センサ・スイッチの検出信号が入力回路３
を介してマイコン２に取り込まれるようになっている。
また、マイコン２には、出力回路４が接続されており、
同出力回路４には、インジェクタ２１、イグナイタ２
２、ソレノイドバルブ２３、警告ランプ２４等、各種ア
クチュエータが接続されている。なお、ソレノイドバル
ブ２３は、排ガス再循環装置におけるＥＧＲ量を調節す
るためのバルブである。The input circuit 3 is connected to the microcomputer 2 and outputs detection signals of the various sensors and switches.
Through the microcomputer 2.
An output circuit 4 is connected to the microcomputer 2.
The output circuit 4 includes an injector 21, an igniter 2
2. Various actuators such as a solenoid valve 23 and a warning lamp 24 are connected. The solenoid valve 23 is a valve for adjusting the EGR amount in the exhaust gas recirculation device.
【００１６】マイコン２は、ＣＰＵ２ａ、ＲＯＭ２ｂ、
ＲＡＭ２ｃ等からなる周知の論理演算回路から構成され
ており、各センサ・スイッチ等の検出信号によりエンジ
ン運転状態を判定する。そして、その運転状態に基づい
て駆動信号を出力回路４を介して各種アクチュエータに
出力する。これにより、インジェクタ２１による燃料噴
射量、イグナイタ２２による点火時期、ソレノイドバル
ブ２３によるＥＧＲ量等が制御される。The microcomputer 2 includes a CPU 2a, a ROM 2b,
It is composed of a well-known logic operation circuit including a RAM 2c and the like, and determines an engine operation state based on detection signals from the respective sensors and switches. Then, a drive signal is output to various actuators via the output circuit 4 based on the operation state. Thus, the fuel injection amount by the injector 21, the ignition timing by the igniter 22, the EGR amount by the solenoid valve 23, and the like are controlled.
【００１７】また、本実施の形態におけるＥＣＵ１はダ
イアグノーシス機能を有している。つまり、ＥＣＵ１の
マイコン２は、ＲＯＭ２ｃに格納されるプログラムに従
い各種センサ、アクチュエータ、ハーネス等の異常診断
を実施しており、異常発生時には、その異常を検出して
異常箇所をＲＡＭ２ｃに記憶するとともに、警告ランプ
２４を点灯する。The ECU 1 according to the present embodiment has a diagnosis function. That is, the microcomputer 2 of the ECU 1 performs an abnormality diagnosis of various sensors, actuators, harnesses, and the like according to a program stored in the ROM 2c. When an abnormality occurs, the microcomputer 2 detects the abnormality and stores the abnormality location in the RAM 2c. The warning lamp 24 is turned on.
【００１８】ここで、マイコン２により実施される異常
診断について、図２を用いて説明する。マイコン２は、
先ず、ステップ１００にて車両情報を収集し、その車両
情報に基づきステップ１１０で異常の発生を判定する。
ここで、肯定判別した場合、マイコン２はステップ１２
０に移行して、異常時の処置として、警告ランプ２４を
点灯するとともに、異常である旨をＲＡＭ２ｃに記憶し
た後本処理を終了する。一方、ステップ１１０で否定判
別した場合、マイコン２はステップ１３０に移行して、
正常時の処置として、警告ランプ２４を消灯するととも
に、正常である旨をＲＡＭ２ｃに記憶した後本処理を終
了する。Here, the abnormality diagnosis performed by the microcomputer 2 will be described with reference to FIG. The microcomputer 2
First, vehicle information is collected in step 100, and occurrence of an abnormality is determined in step 110 based on the vehicle information.
If the determination is affirmative, the microcomputer 2 determines in step 12
The process proceeds to 0, and as a measure in the event of an abnormality, the warning lamp 24 is turned on, and the fact that the abnormality is present is stored in the RAM 2c, and then this processing is terminated. On the other hand, if a negative determination is made in step 110, the microcomputer 2 proceeds to step 130 and
As a normal process, the warning lamp 24 is turned off, the fact that the process is normal is stored in the RAM 2c, and the process is terminated.
【００１９】以下、異常診断の具体例を説明する。 （ａ）点火系の異常（失火）を検出するための異常診断
では、回転数センサ１１の検出信号（パルス信号）に基
づき、１燃焼毎のエンジン回転数の回転変動量を求める
とともに、その回転変動量から失火の有無を判定し所定
燃焼回数に対する失火の割合（失火率）を求める。そし
て、失火率が予め設定された異常値以上であると、点火
系の異常（失火）有りと判定してその異常情報をＲＡＭ
２ｃに記憶し、失火率が異常値未満であると、点火系の
異常（失火）無しと判定してその正常情報をＲＡＭ２ｃ
に記憶する。Hereinafter, a specific example of the abnormality diagnosis will be described. (A) In the abnormality diagnosis for detecting an abnormality (misfire) of the ignition system, a rotation fluctuation amount of the engine rotation speed for each combustion is obtained based on a detection signal (pulse signal) of the rotation speed sensor 11, and the rotation speed is determined. The presence or absence of a misfire is determined from the amount of fluctuation, and the ratio of misfire to a predetermined number of combustions (misfire rate) is determined. If the misfire rate is equal to or greater than a predetermined abnormal value, it is determined that there is an abnormality (misfire) in the ignition system, and the abnormality information is stored in the RAM.
If the misfire rate is less than the abnormal value, it is determined that there is no abnormality (misfire) in the ignition system, and the normal information is stored in the RAM 2c.
To memorize.
【００２０】（ｂ）エアフロメータ１２の異常を検出す
るための異常診断では、エアフロメータ１２の検出値
（電圧値）Ｖ１を取り込み、その検出値Ｖ１が、異常値
（例えば４．７Ｖ）以上であるか否かを判定する。そし
て、Ｖ１≧４．７であると、エアフロメータ１２の異常
有りと判定してエアフロメータ１２の異常情報をＲＡＭ
２ｃに記憶し、Ｖ１＜４．７であると、エアフロメータ
１２の異常無しと判定してエアフロメータ１２の正常情
報をＲＡＭ２ｃに記憶する。(B) In an abnormality diagnosis for detecting an abnormality of the air flow meter 12, a detection value (voltage value) V1 of the air flow meter 12 is taken, and when the detection value V1 is equal to or larger than an abnormal value (for example, 4.7 V). It is determined whether or not there is. If V1 ≧ 4.7, it is determined that there is an abnormality in the air flow meter 12 and the abnormality information of the air flow meter 12 is stored in the RAM.
When V1 <4.7, it is determined that there is no abnormality in the air flow meter 12, and normal information of the air flow meter 12 is stored in the RAM 2c.
【００２１】（ｃ）ソレノイドバルブ２３の異常を検出
するための異常診断では、ソレノイドバルブ２３の作動
状態を検出し、その作動状態が、出力回路４を介して出
力した駆動信号に対応した状態であるか否かを判定す
る。そして、作動状態が駆動信号に対応していなけれ
ば、ソレノイドバルブ２３の異常と判定してソレノイド
バルブ２３の異常情報をＲＡＭ２ｃに記憶し、作動状態
が駆動信号に対応していれば、ソレノイドバルブ２３の
異常無しと判定してソレノイドバルブ２３の正常情報を
ＲＡＭ２ｃに記憶する。(C) In the abnormality diagnosis for detecting the abnormality of the solenoid valve 23, the operation state of the solenoid valve 23 is detected, and the operation state corresponds to the drive signal output via the output circuit 4. It is determined whether or not there is. If the operation state does not correspond to the drive signal, it is determined that the solenoid valve 23 is abnormal, and the abnormality information of the solenoid valve 23 is stored in the RAM 2c. If the operation state corresponds to the drive signal, the solenoid valve 23 Is determined to be normal and the normal information of the solenoid valve 23 is stored in the RAM 2c.
【００２２】（ｄ）触媒の異常（劣化）を検出するため
の異常診断では、Ａ／Ｆセンサ１３の検出値とリアＯ２
センサ１４の検出値とに基づき触媒能力を推定し、その
触媒能力が異常判定レベル以下であるか否かを判定す
る。そして、推定した触媒能力が異常判定レベル以下で
あると、触媒の劣化有りと判定して触媒の異常情報をＲ
ＡＭ２ｃに記憶し、推定した触媒能力が異常判定レベル
より高いと、触媒の劣化無しと判定して触媒の正常情報
をＲＡＭ２ｃに記憶する。(D) In the abnormality diagnosis for detecting the abnormality (deterioration) of the catalyst, the detection value of the A / F sensor 13 and the rear O2
The catalyst capacity is estimated based on the detection value of the sensor 14, and it is determined whether or not the catalyst capacity is equal to or lower than the abnormality determination level. If the estimated catalyst capacity is equal to or lower than the abnormality determination level, it is determined that the catalyst has deteriorated, and the abnormality information of the catalyst is set to R
If the estimated catalyst capacity is higher than the abnormality determination level and stored in the AM 2c, it is determined that the catalyst has not deteriorated, and normal information of the catalyst is stored in the RAM 2c.
【００２３】なお、上記異常診断（ａ）〜（ｄ）の他に
も多数の異常診断があり、これら異常診断のいずれかに
おいて異常が判定された場合、警告ランプ２４が点灯さ
れ、全て正常と判定された場合に警告ランプ２４が消灯
される。In addition, there are a number of abnormal diagnoses other than the above-mentioned abnormal diagnoses (a) to (d). If an abnormality is determined in any of these abnormal diagnoses, a warning lamp 24 is turned on, and all of them are determined to be normal. When it is determined, the warning lamp 24 is turned off.
【００２４】上述した異常診断は、所定時間毎、或いは
所定回転角度（クランク軸の回転角度）毎に実施される
ようになっているが、その処理間隔は、各センサやアク
チュエータ等の異常診断毎に異なる。また、本実施の形
態では、異常の発生頻度を増大させる各種の要因を予め
設定しておき、その要因が発生したときに、その要因に
関係する異常診断の処理間隔を短くするとともに、要因
に無関係の異常診断の処理間隔を長くするようにしてい
る。The above-described abnormality diagnosis is performed at predetermined time intervals or at predetermined rotation angles (rotation angles of the crankshaft). Different. Further, in the present embodiment, various factors for increasing the frequency of occurrence of an abnormality are set in advance, and when the factor occurs, the processing interval of the abnormality diagnosis related to the factor is shortened, and The processing interval of irrelevant abnormality diagnosis is extended.
【００２５】ここで、異常診断の処理間隔を短縮すべき
要因（１）〜（５）を、以下に示す。すなわち、 （１）関連する異常が発生すること。 （２）判定値が異常値へ接近すること。 （３）異常履歴があること。 （４）使用期間が初期使用時の一定期間内であること。 （５）使用開始から一定期間経過していること。 であり、より具体的には、（１）の要因について、例え
ば、点火系の異常が発生したときには、失火により未燃
ガスが多く発生するため、触媒異常の発生する可能性が
高くなる。よって、点火系の異常が検出されたときに
は、それに応じて触媒の異常診断の処理間隔を短くす
る。また例えば、ＥＧＲ量を調節するためのソレノイド
バルブ２３の異常が検出されたときには、それに応じて
燃料系の異常診断の処理間隔を短くする。Here, the factors (1) to (5) for shortening the processing interval of the abnormality diagnosis are shown below. That is, (1) Related abnormalities occur. (2) The judgment value approaches the abnormal value. (3) There is an abnormality history. (4) The use period is within a certain period of the initial use. (5) A certain period has elapsed since the start of use. More specifically, regarding the factor (1), for example, when an abnormality occurs in the ignition system, a large amount of unburned gas is generated due to misfire, so that the possibility of occurrence of a catalyst abnormality increases. Therefore, when the abnormality of the ignition system is detected, the processing interval of the abnormality diagnosis of the catalyst is shortened accordingly. Further, for example, when an abnormality of the solenoid valve 23 for adjusting the EGR amount is detected, the processing interval of the abnormality diagnosis of the fuel system is shortened accordingly.
【００２６】（２）の要因について、例えば、エアフロ
メータ１２の検出値Ｖ１が、４．６Ｖを超えたとき、つ
まり、異常値の４．７Ｖに接近したとき、エアフロメー
タ１２の異常となる可能性が高くなる。よって、判定値
としてのエアフロメータ１２の検出値Ｖ１が４．６Ｖを
超えたときには、エアフロメータ１２の異常診断の処理
間隔を短くする。また例えば、点火系の異常診断におい
て、判定値としての失火率が異常値に接近したときに、
点火系の異常診断の処理間隔を短くする。Regarding the factor (2), for example, when the detected value V1 of the air flow meter 12 exceeds 4.6V, that is, when the value approaches the abnormal value of 4.7V, the air flow meter 12 may become abnormal. The nature becomes high. Therefore, when the detection value V1 of the air flow meter 12 as the determination value exceeds 4.6 V, the processing interval for abnormality diagnosis of the air flow meter 12 is shortened. Further, for example, in the abnormality diagnosis of the ignition system, when the misfire rate as the determination value approaches the abnormal value,
Shorten the processing interval for abnormality diagnosis of the ignition system.
【００２７】（３）の要因について、センサやアクチュ
エータの異常が検出された後、システムの初期化（具体
的には、イグニッションスイッチのオフ・オン操作）等
により正常状態に復帰した場合には、異常が再発する可
能性が高くなる。よって、センサやアクチュエータにお
いて異常履歴が有る場合、その異常診断の処理間隔を短
くする。Regarding the factor (3), when an abnormality in a sensor or an actuator is detected and the system is returned to a normal state by initialization of the system (specifically, turning off / on an ignition switch) or the like, The abnormalities are more likely to recur. Therefore, when there is an abnormality history in the sensor or the actuator, the processing interval of the abnormality diagnosis is shortened.
【００２８】（４）の要因について、センサやアクチュ
エータでは、初期不良の発生頻度が高いものがあるが、
こうした部品では、初期使用時に異常が発生する可能性
が高いので、車両が完成し、使用期間が初期使用時の一
定期間内であるとき、その部品の異常診断の処理間隔を
短くする。Regarding the factor (4), some sensors and actuators have a high frequency of initial failures.
Such components are highly likely to cause abnormalities at the time of initial use. Therefore, when the vehicle is completed and its use period is within a certain period at the time of initial use, the processing interval for abnormality diagnosis of the components is shortened.
【００２９】（５）の要因について、例えば、アクチュ
エータは機械的動作を伴うので、長期の使用によって劣
化し、異常が発生する可能性が高くなる。そのため、ア
クチュエータ等の経年劣化する部品では、車両が完成
し、使用開始から定期間経過したとき、その異常診断の
処理間隔を短くする。Regarding the factor (5), for example, since the actuator is accompanied by a mechanical operation, the actuator is likely to deteriorate due to long-term use and to cause an abnormality. Therefore, when a vehicle is completed and a fixed period of time elapses from the start of use of a component that deteriorates over time, such as an actuator, the processing interval of the abnormality diagnosis is shortened.
【００３０】なお、上記（４），（５）における使用期
間の判定は、車両完成後の時間を計測することにより実
施する。また、ＥＣＵ１の実作動時間や車両の走行時間
等を計測することにより使用期間の判定を行ってもよ
い。The determination of the use period in the above (4) and (5) is performed by measuring the time after the vehicle is completed. Further, the usage period may be determined by measuring the actual operation time of the ECU 1, the traveling time of the vehicle, and the like.
【００３１】次に、異常診断の処理間隔を変更するため
の処理を図３を用いて説明する。ステップ２００にて、
マイコン２は、要因の発生有りか否かを判定し、肯定判
別した場合ステップ２１０に移行する。そして、その要
因に関係する異常診断の処理間隔を短くする。Next, the processing for changing the processing interval of the abnormality diagnosis will be described with reference to FIG. In step 200,
The microcomputer 2 determines whether or not a factor has occurred, and proceeds to step 210 if affirmatively determined. Then, the processing interval of the abnormality diagnosis related to the factor is shortened.
【００３２】詳しくは、各異常診断に対して、上記
（１）〜（５）の要因のうち、異常の発生頻度が高くな
る要因が選択的に設定されている。そして、ステップ２
００では、その要因のうちいずれかの要因が発生した時
に肯定判別され、全ての要因が発生していない時に否定
判別される。例えば、触媒の異常診断を行う場合には、
上記（１）、（３）、（５）の要因が設定されている。
そして、（１）の要因として点火系の異常が発生してい
ること、（３）の要因として過去に触媒の異常履歴が有
ること、（５）の要因として使用期間が一定期間（例え
ば５年）経過すること、のいずれかが生じていることを
条件に、ステップ２１０に移行して触媒の異常診断の処
理間隔を短くする。また一方で、エアフロメータ１２の
異常診断を行う場合には、上記（２）、（３）、（４）
の要因が設定されている。そして、（２）の要因として
エアフロメータ１２の検出値Ｖ１が４．６Ｖを超えてい
ること、（３）の要因として過去にエアフロメータ１２
の異常履歴があること、（４）の要因として使用期間が
一定期間（例えば３ヶ月）内であること、のいずれかが
生じていることを条件に、ステップ２１０に移行してエ
アフロメータ１２の異常診断の処理間隔を短くする。More specifically, for each abnormality diagnosis, of the above-mentioned factors (1) to (5), a factor that causes the occurrence frequency of the abnormality to be high is selectively set. And step 2
In the case of 00, an affirmative determination is made when any of the factors has occurred, and a negative determination is made when all the factors have not occurred. For example, when performing catalyst abnormality diagnosis,
The factors (1), (3), and (5) are set.
The cause of (1) is that an abnormality in the ignition system has occurred, the cause of (3) is that there has been an abnormality history of the catalyst in the past, and the cause of (5) is that the usage period is a certain period (for example, 5 years). ), The process proceeds to step 210, and the processing interval of the catalyst abnormality diagnosis is shortened on condition that one of the following occurs. On the other hand, when performing the abnormality diagnosis of the air flow meter 12, the above (2), (3), (4)
Are set. The factor (2) is that the detected value V1 of the air flow meter 12 exceeds 4.6 V, and the factor (3) is that the air flow meter 12
The process proceeds to step 210 on the condition that the abnormality history of the air flow meter 12 exists, or that the use period is within a certain period (for example, three months) as a factor of (4). Shorten the processing interval for abnormality diagnosis.
【００３３】このように、要因に関係する異常診断の処
理間隔を短くした後、マイコン２はステップ２２０に移
行する。そして、処理間隔を長くする異常診断を選択
し、ステップ２３０では、選択した異常診断の処理間隔
を長くする。After shortening the processing interval of the abnormality diagnosis related to the factor, the microcomputer 2 proceeds to step 220. Then, an abnormality diagnosis for increasing the processing interval is selected, and in step 230, the processing interval for the selected abnormality diagnosis is increased.
【００３４】ここで、要因発生時における異常診断の処
理間隔の変更について、その一例を、図４及び図５のタ
イムチャートを用いて説明する。なお、図４，図５で
は、便宜上、４つの異常診断Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄで説明を行
うこととする。Here, an example of the change of the processing interval of the abnormality diagnosis when a factor occurs will be described with reference to the time charts of FIGS. In FIGS. 4 and 5, for the sake of convenience, description will be made of four abnormality diagnoses A, B, C, and D.
【００３５】要因が発生していない初期の状態では、図
４に示すように、異常診断Ａ，Ｂは、１２８ｍｓの間隔
で実行され、異常診断Ｃ，Ｄは、２５６ｍｓの間隔で実
行されている。なお、これら各診断毎の処理間隔は、テ
ーブルデータに予め設定されている。そして、異常診断
Ａの処理間隔を短縮すべき要因が発生した場合では、処
理間隔を設定したテーブルデータを組み替えることによ
って、図５に示すように、異常診断Ａを６４ｍｓの間隔
で実行し、異常診断Ｂを２５６ｍｓの間隔で実行する。
ここで、各異常診断Ａ〜Ｄについて、優先順位が予め決
められており、長くする異常診断Ｂは、その優先順位に
基づいて選択される。この異常診断を選択する処理の詳
細については、図６を用いて後述する。In the initial state in which no factor has occurred, as shown in FIG. 4, abnormality diagnoses A and B are executed at intervals of 128 ms, and abnormality diagnoses C and D are executed at intervals of 256 ms. . The processing interval for each diagnosis is set in the table data in advance. Then, when a factor for shortening the processing interval of the abnormality diagnosis A occurs, the abnormality diagnosis A is executed at an interval of 64 ms as shown in FIG. Diagnosis B is executed at an interval of 256 ms.
Here, the priorities of the abnormality diagnoses A to D are determined in advance, and the longer abnormality diagnosis B is selected based on the priority order. The details of the process of selecting the abnormality diagnosis will be described later with reference to FIG.
【００３６】フローチャートの説明に戻り、図３のステ
ップ２４０にて、マイコン２は復帰条件が成立してるか
否かを判定する。ここで、復帰条件は、例えば、ＥＣＵ
１に接続される外部ツールからの指示（処理間隔の復帰
指示）があることである。同ステップ２４０において否
定判別した場合、ステップ２５０を迂回して本処理を終
了する。一方、ステップ２４０にて、肯定判別した場
合、前記要因の発生により変更した処理間隔を初期状態
に戻した後本処理を終了する。Returning to the description of the flowchart, in step 240 of FIG. 3, the microcomputer 2 determines whether the return condition is satisfied. Here, the return condition is, for example, ECU
1 is an instruction from an external tool (instruction to return the processing interval). If a negative determination is made in step 240, the process bypasses step 250 and ends this processing. On the other hand, if a positive determination is made in step 240, the processing interval changed due to the occurrence of the factor is returned to the initial state, and then this processing ends.
【００３７】また、処理間隔を短縮すべき要因が解消さ
れたときには、マイコン２は、ステップ２００にて否定
判別しステップ２１０〜ステップ２４０の処理を迂回す
る。そして、ステップ２５０において、異常診断の処理
間隔を戻す。When the cause for which the processing interval should be shortened has been eliminated, the microcomputer 2 makes a negative determination in step 200 and bypasses the processing in steps 210 to 240. Then, in step 250, the processing interval of the abnormality diagnosis is returned.
【００３８】次いで、異常診断の処理間隔を変更する際
の処理の詳細について、図６を用いて説明する。なお、
図６においても、図４及び図５と同様に４つの異常診断
Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄで説明を行うこととする。また、図６に
おいては、２つの要因（診断Ａの要因と診断Ｃの要因）
が連続して発生した場合、及びその要因が解消した場合
での処理間隔の変更例を示している。Next, the details of the processing for changing the processing interval of the abnormality diagnosis will be described with reference to FIG. In addition,
In FIG. 6 as well, a description will be given of four abnormality diagnoses A, B, C, and D as in FIGS. 4 and 5. In FIG. 6, two factors (factor of diagnosis A and factor of diagnosis C) are shown.
Of the processing interval in the case where the error occurs continuously and the cause is eliminated.
【００３９】詳述すると、図６に示すように、初期状態
において、各異常診断の優先順位は、診断Ａ→診断Ｂ→
診断Ｃ→診断Ｄの順に高くなるよう設定されている。ま
た、各異常診断の処理間隔は、診断Ａ，Ｂ＝１２８ｍ
ｓ、診断Ｃ，Ｄ＝２５６ｍｓでそれぞれ設定されてい
る。この状態からｔ１のタイミングで診断Ａに関係する
要因が発生すると、診断Ａの処理間隔が１２８ｍｓから
６４ｍｓに短縮される（図３のステップ２１０）。これ
と同時に、各異常診断の優先順位は、診断Ｂ→診断Ｃ→
診断Ｄ→診断Ａの順に入れ替えられる。そして、優先順
位の最も低い診断Ｂが選択され（図３のステップ２２
０）、その診断Ｂの処理間隔が、１２８ｍｓから２５６
ｍｓに拡げられる（図３のステップ２３０）。More specifically, as shown in FIG. 6, in the initial state, the priority order of each abnormality diagnosis is diagnosis A → diagnosis B →
The diagnosis is set so as to increase in the order of diagnosis C → diagnosis D. The processing interval of each abnormality diagnosis is as follows: diagnosis A, B = 128 m
s, diagnosis C, D = 256 ms. When a factor related to the diagnosis A occurs at the timing of t1 from this state, the processing interval of the diagnosis A is reduced from 128 ms to 64 ms (step 210 in FIG. 3). At the same time, the priority of each abnormality diagnosis is diagnosis B → diagnosis C →
The diagnosis D is replaced in the order of diagnosis A. Then, the diagnosis B having the lowest priority is selected (step 22 in FIG. 3).
0), the processing interval of the diagnosis B is from 128 ms to 256
ms (step 230 in FIG. 3).
【００４０】その後、ｔ２のタイミングで診断Ｃに関係
する要因が発生すると、診断Ｃの処理間隔が２５６ｍｓ
から１２８ｍｓに短縮される（図３のステップ２１
０）。これと同時に、各異常診断の優先順位は、診断Ｂ
→診断Ｄ→診断Ａ→診断Ｃの順に入れ替えられる。この
とき、優先順位が最も低い診断Ｂは既に処理間隔が拡げ
られているので、診断Ｄが選択され（図３のステップ２
２０）、その診断Ｄの処理間隔が、２５６ｍｓから５１
２ｍｓに拡げられる（図３のステップ２３０）。Thereafter, when a factor related to the diagnosis C occurs at the timing of t2, the processing interval of the diagnosis C becomes 256 ms.
To 128 ms (step 21 in FIG. 3).
0). At the same time, the priority of each abnormality diagnosis is diagnosis B
→ Diagnosis D → Diagnosis A → Diagnosis C At this time, since the processing interval of the diagnosis B having the lowest priority has already been extended, the diagnosis D is selected (step 2 in FIG. 3).
20), the processing interval of the diagnosis D is changed from 256 ms to 51
It is extended to 2 ms (step 230 in FIG. 3).
【００４１】そして、ｔ３のタイミングにて診断Ａに関
係する要因が解消されたとき、診断Ａの処理間隔が６４
ｍｓから１２８ｍｓに戻される（図３のステップ２５
０）。また、優先順位は、診断Ａ→診断Ｂ→診断Ｄ→診
断Ｃの順に入れ替えられ、処理間隔が拡げられている診
断Ｂと診断Ｄのうち優先順位の高い診断Ｄの処理間隔が
５１２ｍｓから２５６ｍｓに戻される（図３のステップ
２５０）。When the factor related to the diagnosis A is eliminated at the timing t3, the processing interval of the diagnosis A becomes 64
ms to 128 ms (step 25 in FIG. 3).
0). In addition, the priority order is changed in the order of diagnosis A → diagnosis B → diagnosis D → diagnosis C, and the processing interval of diagnosis D having a higher priority among diagnosis B and diagnosis D whose processing interval is extended is changed from 512 ms to 256 ms. It is returned (step 250 in FIG. 3).
【００４２】さらに、ｔ４のタイミングにて診断Ｃに関
係する要因が解消されたとき、診断Ｃの処理間隔が、２
５６ｍｓから１２８ｍｓに戻される（図３のステップ２
５０）。また、優先順位は、診断Ａ→診断Ｂ→診断Ｃ→
診断Ｄの順に入れ替えられ、処理間隔が拡げられている
診断Ｂの処理間隔が２５６ｍｓから１２８ｍｓに戻され
る（図３のステップ２５０）。これにより、優先順位と
処理間隔とがともに初期状態に戻される。Further, when the factor relating to the diagnosis C is eliminated at the timing of t4, the processing interval of the diagnosis C is set to 2
It is returned from 56 ms to 128 ms (step 2 in FIG. 3).
50). The priority order is diagnosis A → diagnosis B → diagnosis C →
The processing interval of diagnosis B, which is replaced in the order of diagnosis D and the processing interval is extended, is returned from 256 ms to 128 ms (step 250 in FIG. 3). As a result, both the priority and the processing interval are returned to the initial state.
【００４３】なお、診断Ａ及び診断Ｃに関する要因が発
生した後（ｔ２のタイミング以降）に、さらに診断Ｂに
関係する要因が発生したときには、図示しない別の異常
診断が選択され、その処理間隔が拡げられるようになっ
ている。When a factor related to the diagnosis A further occurs after the factor related to the diagnosis A and the diagnosis C (after the timing of t2), another abnormality diagnosis (not shown) is selected, and the processing interval is set. It can be expanded.
【００４４】また、上記図４〜図６に示す例では、所定
時間毎に実施される異常診断Ａ〜Ｄの処理間隔を変更す
るものであったが、所定回転角度（クランク軸の回転角
度）毎に実施される異常診断においても、その処理間隔
を変更してもよい。Further, in the examples shown in FIGS. 4 to 6, the processing intervals of the abnormality diagnosis A to D performed at predetermined time intervals are changed, but the predetermined rotation angle (the rotation angle of the crankshaft) is changed. In the abnormality diagnosis performed every time, the processing interval may be changed.
【００４５】以上詳述した本実施の形態によれば、以下
に示す効果が得られる。 （イ）異常の発生頻度を増大させる各種の要因（１）〜
（５）のいずれかが発生した場合、その要因に対応づけ
られた異常診断の処理間隔を短くするとともに、それ以
外の異常診断のいずれかについて処理間隔を長くする。
この場合、異常の発生頻度を増大させる要因に基づき、
異常診断の処理間隔の変更が行われるので、その時々の
異常発生の可能性を考慮して必要時にのみ処理間隔が変
更される。この変更により、異常の発生する可能性が高
くなる異常診断については、処理間隔が短縮されるの
で、該異常を迅速に検出できる。また、その短縮した異
常診断以外のいずれかの処理間隔が拡げられるので、マ
イコン２の処理負荷の増加が抑えられる。よって、マイ
コン２が実行するエンジン制御への影響が抑えられるの
で、高性能なマイコンを用いる等、装置の改良を行うこ
となく、車両を好適に制御できる。According to the embodiment described in detail above, the following effects can be obtained. (B) Various factors (1) to increase the frequency of occurrence of abnormalities
When any of (5) occurs, the processing interval of the abnormality diagnosis associated with the cause is shortened, and the processing interval of any other abnormality diagnosis is increased.
In this case, based on factors that increase the frequency of occurrence of abnormalities,
Since the processing interval of the abnormality diagnosis is changed, the processing interval is changed only when necessary in consideration of the possibility of occurrence of an abnormality at each time. With this change, the processing interval is shortened for the abnormality diagnosis in which the possibility of occurrence of the abnormality increases, so that the abnormality can be quickly detected. In addition, since any processing interval other than the shortened abnormality diagnosis is extended, an increase in the processing load on the microcomputer 2 can be suppressed. Therefore, the influence on the engine control executed by the microcomputer 2 can be suppressed, so that the vehicle can be favorably controlled without using a high-performance microcomputer or improving the device.
【００４６】（ロ）各々の異常診断について、予め優先
順位を決めておき、処理間隔を変更する際には、各異常
診断の優先順位に基づいて、処理間隔を長くする異常診
断が選択される。この場合、複数の異常診断の中から優
先順位の低い異常診断を選択できる。そして、優先順位
の低い異常診断を選択しその処理間隔を長くすることに
より、好適な処理間隔で異常診断を実施できる。(B) Priorities are determined in advance for each abnormality diagnosis, and when the processing interval is changed, an abnormality diagnosis that extends the processing interval is selected based on the priority of each abnormality diagnosis. . In this case, an abnormality diagnosis having a lower priority can be selected from a plurality of abnormality diagnoses. Then, by selecting an abnormality diagnosis with a low priority and increasing the processing interval, abnormality diagnosis can be performed at a suitable processing interval.
【００４７】（ハ）異常診断の処理間隔変更時に、処理
間隔を短くした異常診断については優先順位を上位に変
更するようにした。この場合、短い処理間隔に変更され
た異常診断が、長い処理間隔に再度変更されてしまうと
いった不都合は生じない。よって、より好適な処理間隔
で異常診断を実施できる。また、異常診断の選択時に
は、長い処理間隔に変更したものを除いて処理間隔を長
くする異常診断を選択するようにしたので、特定の異常
診断の処理間隔が過剰に長くなることがない。(C) When the processing interval of the abnormality diagnosis is changed, the priority of the abnormality diagnosis with the shortened processing interval is changed to a higher priority. In this case, there is no inconvenience that the abnormality diagnosis changed to a short processing interval is changed to a long processing interval again. Therefore, abnormality diagnosis can be performed at more suitable processing intervals. Further, at the time of selecting an abnormality diagnosis, an abnormality diagnosis in which the processing interval is extended is selected except for a case where the processing interval is changed to a long processing interval, so that the processing interval of a specific abnormality diagnosis does not become excessively long.
【００４８】（ニ）点火系の異常が発生したとき触媒の
異常診断の処理間隔が短縮されるので、点火系の異常に
起因して発生する触媒異常を迅速に検出できる。また、
ソレノイドバルブ２３の異常が発生したとき、燃料系の
異常診断の処理間隔が短縮されるので、ソレノイドバル
ブ２３の異常に起因して発生する燃料系の異常を迅速に
検出できる。(D) When an abnormality occurs in the ignition system, the processing interval of the abnormality diagnosis of the catalyst is shortened, so that the abnormality in the catalyst caused by the abnormality in the ignition system can be quickly detected. Also,
When the abnormality of the solenoid valve 23 occurs, the processing interval of the abnormality diagnosis of the fuel system is shortened, so that the abnormality of the fuel system caused by the abnormality of the solenoid valve 23 can be quickly detected.
【００４９】（ホ）エアフロメータ１２の検出値Ｖ１
が、４．６Ｖを超えて異常値の４．７Ｖへ接近したと
き、エアフロメータ１２の異常診断の処理間隔が短縮さ
れるので、経年劣化によるエアフロメータ１２の異常を
迅速に検出できる。また、点火系の異常診断において、
失火率が異常値に接近したときに、点火系の異常診断の
処理間隔が短縮されるので、経年劣化による点火系の異
常（失火）を迅速に判定できる。(E) The detected value V1 of the air flow meter 12
However, when the value exceeds 4.6 V and approaches the abnormal value of 4.7 V, the processing interval of the abnormality diagnosis of the air flow meter 12 is shortened, so that the abnormality of the air flow meter 12 due to aging can be quickly detected. In the diagnosis of the ignition system abnormality,
When the misfire rate approaches an abnormal value, the processing interval of the abnormality diagnosis of the ignition system is shortened, so that the abnormality (misfire) of the ignition system due to aging deterioration can be quickly determined.
【００５０】（ヘ）異常履歴が有るときセンサやアクチ
ュエータの異常診断の処理間隔が短縮されるので、再発
する異常を迅速に検出できる。 （ト）センサやアクチュエータ等の部品において、使用
期間が一定期間内であるとき、その異常診断の処理間隔
が短縮されるので、初期不良による異常を迅速に検出で
きる。(F) When there is an abnormality history Since the processing interval for abnormality diagnosis of sensors and actuators is shortened, a recurring abnormality can be detected quickly. (G) When the usage period of a component such as a sensor or an actuator is within a certain period, the processing interval of the abnormality diagnosis is shortened, so that an abnormality due to an initial failure can be quickly detected.
【００５１】（チ）センサやアクチュエータ等の部品に
おいて、使用期間が一定期間経過したとき、その異常診
断の処理間隔が短縮されるので、経年劣化による異常を
迅速に検出できる。(H) In a part such as a sensor or an actuator, when a certain period of use elapses, the processing interval of the abnormality diagnosis is shortened, so that abnormality due to aging can be quickly detected.
【００５２】なお本発明は、上記以外に次の形態にて具
体化できる。上記実施の形態では、優先順位に基づき処
理間隔を長くする異常診断を決定するものであったが、
これに限定するものではない。例えば、処理間隔を短く
する異常診断に対応する異常診断を予め決めておき、要
因発生時には、異常診断の処理間隔を短くするととも
に、予め決めておいた異常診断の処理間隔を長くする。
具体的には、図４における診断Ａの処理間隔を１２８ｍ
ｓから６４ｍｓに短くした時には、診断Ｃの処理間隔を
２５６ｍｓから５１２ｍｓに長くし、診断Ｂの処理間隔
を１２８ｍｓから６４ｍｓに短くした時には、診断Ｄの
処理間隔を２５６ｍｓから５１２ｍｓに長くする。なお
この場合、診断Ｃ及び診断Ｄは、処理間隔を短くする必
要がないものとする。The present invention can be embodied in the following modes other than the above. In the above embodiment, the abnormality diagnosis for extending the processing interval is determined based on the priority order.
It is not limited to this. For example, an abnormality diagnosis corresponding to the abnormality diagnosis for shortening the processing interval is determined in advance, and when a factor occurs, the processing interval of the abnormality diagnosis is shortened and the predetermined processing interval of the abnormality diagnosis is lengthened.
Specifically, the processing interval of the diagnosis A in FIG.
When the processing interval of diagnosis C is increased from 256 ms to 512 ms when the processing interval is shortened from s to 64 ms, the processing interval of diagnosis D is increased from 256 ms to 512 ms when the processing interval of diagnosis B is reduced from 128 ms to 64 ms. In this case, it is assumed that the processing intervals of the diagnosis C and the diagnosis D do not need to be shortened.
【００５３】また、処理間隔を短縮すべき要因は、上記
実施の形態における要因（１）〜（５）に限るものでは
ない。例えば、動力伝達装置（例えばトランスミッショ
ン）等に使用される部品では、車両走行距離の増加に伴
い異常の発生頻度が高くなるので、車両走行距離が所定
値を超えることを要因としてもよい。要は、処理間隔を
短縮すべき要因は、部品やシステムなどの異常の発生頻
度が高くなる要因であればよい。The factors for which the processing interval should be shortened are not limited to the factors (1) to (5) in the above embodiment. For example, in a component used in a power transmission device (for example, a transmission) or the like, the frequency of occurrence of an abnormality increases with an increase in the vehicle traveling distance, and therefore, the factor may be that the vehicle traveling distance exceeds a predetermined value. In short, any factor that should shorten the processing interval may be a factor that increases the frequency of occurrence of an abnormality in a component or system.
【００５４】上記実施の形態のＥＣＵ１は、車両のエン
ジンを制御するものであったが、例えばトランスミッシ
ョンを制御するＥＣＵなど、他の車載ＥＣＵについても
全く同様に構成することができる。Although the ECU 1 of the above embodiment controls the engine of the vehicle, other ECUs mounted on the vehicle, such as an ECU for controlling a transmission, can be configured in exactly the same manner.
【図１】発明の実施の形態における電子制御装置の概要
を示す構成図。FIG. 1 is a configuration diagram showing an outline of an electronic control device according to an embodiment of the present invention.
【図２】異常診断を説明するためのフローチャート。FIG. 2 is a flowchart for explaining abnormality diagnosis.
【図３】異常診断の処理間隔の変更を説明するためのフ
ローチャート。FIG. 3 is a flowchart for explaining a change in a processing interval of abnormality diagnosis.
【図４】異常診断の処理間隔の変更を説明するためのタ
イムチャート。FIG. 4 is a time chart for explaining a change in a processing interval of abnormality diagnosis.
【図５】異常診断の処理間隔の変更を説明するためのタ
イムチャート。FIG. 5 is a time chart for explaining a change in a processing interval of abnormality diagnosis.
【図６】異常診断の処理間隔の変更を説明するための
図。FIG. 6 is a diagram for explaining a change in a processing interval of abnormality diagnosis.
１…異常検出装置としてのＥＣＵ、２…マイクロコンピ
ュータ。1 ... ECU as an abnormality detection device, 2 ... microcomputer.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｆ０２Ｄ 45/00 ３６８ Ｆ０２Ｄ 45/00 ３６８Ｚ ３７２ ３７２Ｇ ３７２Ｆ ３７２Ｄ Ｆ０２Ｐ 5/15 Ｆ０２Ｐ 5/15 Ｌ Ｆターム(参考） 3G022 EA08 FA06 GA01 GA05 GA16 3G084 BA05 BA11 BA16 BA33 DA27 EB05 EB22 EC01 FA00 FA07 FA24 FA26 FA29 FA33 FA38 3G301 HA01 JB09 LA00 LA01 LC01 MA11 MA18 NB12 NB17 NB20 PA01Z PC09Z PD02Z PE01Z PE03Z ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) F02D 45/00 368 F02D 45/00 368Z 372 372G 372F 372D F02P 5/15 F02P 5/15 L F term (reference) 3G022 EA08 FA06 GA01 GA05 GA16 3G084 BA05 BA11 BA16 BA33 DA27 EB05 EB22 EC01 FA00 FA07 FA24 FA26 FA29 FA33 FA38 3G301 HA01 JB09 LA00 LA01 LC01 MA11 MA18 NB12 NB17 NB20 PA01Z PC09Z PD02Z PE01Z PE03Z
Claims (8)
ピュータを備え、前記マイクロコンピュータを用い、所
定の処理間隔で各種の異常診断を実施することにより異
常を検出する異常検出装置において、 異常の発生頻度を増大させる各種の要因を予め設定して
おき、その各種の要因が発生したか否かを判定し、 前記要因のいずれかが発生した場合、その要因に対応づ
けられた異常診断について処理間隔を短くするととも
に、それ以外の異常診断のいずれかについて処理間隔を
長くすることを特徴とする異常検出装置。An abnormality detection device, comprising: a microcomputer that executes various controls of a vehicle, and detects an abnormality by performing various types of abnormality diagnosis at predetermined processing intervals using the microcomputer. Are set in advance, and it is determined whether or not the various factors have occurred.If any of the above factors has occurred, the processing interval for the abnormality diagnosis associated with the factor is determined. An abnormality detection device characterized by shortening and increasing the processing interval for any of the other abnormality diagnoses.
て、 前記異常診断について、予め優先順位を決めておき、前
記要因の発生により処理間隔を変更する際には、各異常
診断の優先順位に基づいて、処理間隔を長くする異常診
断を選択することを特徴とする異常検出装置。2. The abnormality detection device according to claim 1, wherein priorities of the abnormality diagnosis are determined in advance, and when the processing interval is changed due to the occurrence of the factor, the priority of each abnormality diagnosis is determined. An abnormality detection device that selects an abnormality diagnosis that extends a processing interval based on the abnormality diagnosis.
て、 前記異常診断の処理間隔を変更する際、処理間隔を短く
した異常診断については優先順位を上位に変更すること
を特徴とする異常検出装置。3. The abnormality detection device according to claim 2, wherein when changing the processing interval of the abnormality diagnosis, the priority of the abnormality diagnosis with the shortened processing interval is changed to a higher priority. apparatus.
出装置において、 他の異常の発生により発生頻度が高くなる異常の診断間
隔を、前記他の異常が発生したとき短くすることを特徴
とする異常検出装置。4. The abnormality detection device according to claim 1, wherein a diagnosis interval of the abnormality whose occurrence frequency increases due to the occurrence of another abnormality is shortened when the other abnormality occurs. Characteristic abnormality detection device.
出装置において、 異常診断における判定値が異常値へ接近することにより
発生頻度が高くなる異常の診断間隔を、前記判定値が異
常値へ接近したとき短くすることを特徴とする異常検出
装置。5. The abnormality detection device according to claim 1, wherein the abnormality detection interval is set such that the frequency of occurrence of the abnormality increases when the determination value in the abnormality diagnosis approaches the abnormal value. An abnormality detection device characterized by shortening when approaching a value.
出装置において、 異常履歴の有無により発生頻度が異なる異常の診断間隔
を、異常履歴が有るとき短くすることを特徴とする異常
検出装置。6. The abnormality detection apparatus according to claim 1, wherein a diagnosis interval of an abnormality whose occurrence frequency differs depending on the presence or absence of an abnormality history is shortened when an abnormality history exists. apparatus.
出装置において、 車両の初期使用時に発生頻度が高くなる異常の診断間隔
を、使用期間が一定期間内であるとき短くすることを特
徴とする異常検出装置。7. The abnormality detection device according to claim 1, wherein a diagnosis interval of an abnormality that occurs frequently at the time of initial use of the vehicle is shortened when the use period is within a certain period. Characteristic abnormality detection device.
出装置において、 車両の使用に伴い発生頻度が高くなる異常の診断間隔
を、使用期間が一定期間経過したとき短くすることを特
徴とする異常検出装置。8. The abnormality detection device according to claim 1, wherein a diagnosis interval of an abnormality whose occurrence frequency increases with use of the vehicle is shortened after a certain period of use. Abnormality detection device.
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000247716A Pending JP2002061535A (en) | 2000-08-17 | 2000-08-17 | Abnormality detecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002061535A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8381043B2 (en) | 2009-02-27 | 2013-02-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | System for testing a hinge and a cable connecting the main body and the display of a device |
| JP2017054173A (en) * | 2015-09-07 | 2017-03-16 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | Memory management circuit, storage device, memory management method, and memory management program |
-
2000
- 2000-08-17 JP JP2000247716A patent/JP2002061535A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8381043B2 (en) | 2009-02-27 | 2013-02-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | System for testing a hinge and a cable connecting the main body and the display of a device |
| JP2017054173A (en) * | 2015-09-07 | 2017-03-16 | Ｎｅｃプラットフォームズ株式会社 | Memory management circuit, storage device, memory management method, and memory management program |
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