JP2002042344A - 光ディスク装置およびpll回路 - Google Patents
光ディスク装置およびpll回路Info
- Publication number
- JP2002042344A JP2002042344A JP2001140783A JP2001140783A JP2002042344A JP 2002042344 A JP2002042344 A JP 2002042344A JP 2001140783 A JP2001140783 A JP 2001140783A JP 2001140783 A JP2001140783 A JP 2001140783A JP 2002042344 A JP2002042344 A JP 2002042344A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- jitter
- variable
- divided
- measured
- minimum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 起動時間および読み出し時間を短縮すること
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク装置は、初期領域を複数の第
1分割領域に分割し、複数の第1分割領域の重心にそれ
ぞれ位置する複数の第1ジッタ計測点で計測されたジッ
タのうち最小のジッタが計測された複数の第1分割領域
のうちの1つを探索し、複数の第1分割領域のうちの1
つを複数の第2分割領域に分割し、複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された複数の
第2分割領域のうちの1つを探索し、複数の第2分割領
域のうちの1つに含まれる複数の第2ジッタ計測点のう
ちの1つに対応する変数Xと変数Yとの最適な組み合わ
せを決定するジッタ最小値探索手段を備える。
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク装置は、初期領域を複数の第
1分割領域に分割し、複数の第1分割領域の重心にそれ
ぞれ位置する複数の第1ジッタ計測点で計測されたジッ
タのうち最小のジッタが計測された複数の第1分割領域
のうちの1つを探索し、複数の第1分割領域のうちの1
つを複数の第2分割領域に分割し、複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された複数の
第2分割領域のうちの1つを探索し、複数の第2分割領
域のうちの1つに含まれる複数の第2ジッタ計測点のう
ちの1つに対応する変数Xと変数Yとの最適な組み合わ
せを決定するジッタ最小値探索手段を備える。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザ等の
光源からの光ビームを利用して光学的に情報担体上の信
号を再生する光ディスク装置およびデータスライスバラ
ンス回路のオフセットを除去するPLL回路に関するも
のである。
光源からの光ビームを利用して光学的に情報担体上の信
号を再生する光ディスク装置およびデータスライスバラ
ンス回路のオフセットを除去するPLL回路に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】情報担体である光ディスクを再生する光
ディスク装置には、所定の回転数で回転する円盤状の情
報担体(光ディスク)に半導体レーザ等の光源より発生
した光ビームを収束照射し、信号を再生するものがあ
る。この情報担体には、情報ピット列として微小トラッ
クがスパイラル状に形成されている。一般的に光ディス
ク装置では光ディスクを所定の回転数で回転させる回転
制御と、光ディスク上に照射される光ビームが所定の収
束状態になるようなフォーカス制御と、情報担体上のト
ラックを光ビームが正しく走査するようなトラッキング
制御がなされている。
ディスク装置には、所定の回転数で回転する円盤状の情
報担体(光ディスク)に半導体レーザ等の光源より発生
した光ビームを収束照射し、信号を再生するものがあ
る。この情報担体には、情報ピット列として微小トラッ
クがスパイラル状に形成されている。一般的に光ディス
ク装置では光ディスクを所定の回転数で回転させる回転
制御と、光ディスク上に照射される光ビームが所定の収
束状態になるようなフォーカス制御と、情報担体上のト
ラックを光ビームが正しく走査するようなトラッキング
制御がなされている。
【0003】また、光ディスクには、CDオーディオ、
CD−ROM、DVD−ROMなどの情報がピット列で
記録してある再生専用型、CD−R、DVD−R等の一
回のみ記録型、CD−RW、DVD−RAM、DVD−
RWなどの記録再生型まで、様々な種類があるので、記
録密度、ディスクの反射率および再生信号は各々の光デ
ィスクにより異なる。従って各々の光ディスクの特徴に
適応させて再生方法を最適化する必要がある。特に密度
の2種類以上のディスクを再生したり、再生速度を切り
換える場合には、光ディスク装置に含まれる波形等化器
の周波数特性を適応させることにより、再生方法の最適
化を図っていた。
CD−ROM、DVD−ROMなどの情報がピット列で
記録してある再生専用型、CD−R、DVD−R等の一
回のみ記録型、CD−RW、DVD−RAM、DVD−
RWなどの記録再生型まで、様々な種類があるので、記
録密度、ディスクの反射率および再生信号は各々の光デ
ィスクにより異なる。従って各々の光ディスクの特徴に
適応させて再生方法を最適化する必要がある。特に密度
の2種類以上のディスクを再生したり、再生速度を切り
換える場合には、光ディスク装置に含まれる波形等化器
の周波数特性を適応させることにより、再生方法の最適
化を図っていた。
【0004】図27は、波形等化器のゲインとノイズと
の周波数特性を示すグラフを示す。光ディスクからの再
生信号はランダム信号であるが、高い周波数の信号成分
は低い周波数の信号成分に比べ、符号間干渉により極端
にゲインが低下する。このため図27に示すように波形
等化器により再生信号における所定の周波数FCをブー
ストすることにより、高い周波数の信号成分のゲインの
改善を図り、さらに高次の等リプルフィルタ等でゲイン
を急減して所定の周波数FCよりも高い周波数帯域での
ノイズを除去し、再生信号品質の改善を図っている。
の周波数特性を示すグラフを示す。光ディスクからの再
生信号はランダム信号であるが、高い周波数の信号成分
は低い周波数の信号成分に比べ、符号間干渉により極端
にゲインが低下する。このため図27に示すように波形
等化器により再生信号における所定の周波数FCをブー
ストすることにより、高い周波数の信号成分のゲインの
改善を図り、さらに高次の等リプルフィルタ等でゲイン
を急減して所定の周波数FCよりも高い周波数帯域での
ノイズを除去し、再生信号品質の改善を図っている。
【0005】図28は、フォーカス位置に対するジッタ
の特性を示すグラフである。フォーカス位置が最適位置
(ジャストフォーカス位置2701)からずれるとジッ
タが悪化するが、これは、図27に示す再生信号のゲイ
ンが低下し、再生信号のSN比が悪化して再生信号品質
が悪化するために起こるものである。ジッタを検出し
て、それが最小になるような最適な波形等化の周波数特
性を決定するためには、フォーカス位置をジャストフォ
ーカス位置2701に調整しておく必要がある。
の特性を示すグラフである。フォーカス位置が最適位置
(ジャストフォーカス位置2701)からずれるとジッ
タが悪化するが、これは、図27に示す再生信号のゲイ
ンが低下し、再生信号のSN比が悪化して再生信号品質
が悪化するために起こるものである。ジッタを検出し
て、それが最小になるような最適な波形等化の周波数特
性を決定するためには、フォーカス位置をジャストフォ
ーカス位置2701に調整しておく必要がある。
【0006】これを実現する従来の技術として、波形等
化した再生信号のジッタを計測し、焦点位置であるフォ
ーカス位置と波形等化部の遮断周波数とを2次元的に可
変し、ジッタが最小になるようにフォーカス位置および
遮断周波数を最適化する構成がある(特開平10−69
657号公報)。
化した再生信号のジッタを計測し、焦点位置であるフォ
ーカス位置と波形等化部の遮断周波数とを2次元的に可
変し、ジッタが最小になるようにフォーカス位置および
遮断周波数を最適化する構成がある(特開平10−69
657号公報)。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記構成のような従来
の光ディスク装置において、フォーカス位置と遮断周波
数といった2つのパラメータの組み合わせを全て実行
し、そのときのジッタを計測して最もよい(ジッタが最
小になる)組み合わせを求めることで再生信号品質を確
保していた。
の光ディスク装置において、フォーカス位置と遮断周波
数といった2つのパラメータの組み合わせを全て実行
し、そのときのジッタを計測して最もよい(ジッタが最
小になる)組み合わせを求めることで再生信号品質を確
保していた。
【0008】しかしながら前述したように再生するメデ
ィア(光ディスク)の種類が増え、特にCD−R/RW
やDVD−R/RW/RAMといった記録系のメディア
を再生する場合は、フォーカス位置は遮断周波数と独立
して調整して遮断周波数とブースト量を最適に合わせな
いとジッタが良くならないという課題が発生した。
ィア(光ディスク)の種類が増え、特にCD−R/RW
やDVD−R/RW/RAMといった記録系のメディア
を再生する場合は、フォーカス位置は遮断周波数と独立
して調整して遮断周波数とブースト量を最適に合わせな
いとジッタが良くならないという課題が発生した。
【0009】また各ディスクの再生速度の種類、例えば
CD標準速から48倍速、あるいはDVD標準速から1
6倍速といったように信号周波数帯域の種類が非常に増
加した場合に、起動時に毎回再生速度の種類毎にパラメ
ータの組み合わせを全て実行し、そのときのジッタを計
測して最もよい(ジッタが最小になる)組み合わせを求
めていたのでは起動時間が増大する。あるいは再生速度
の切換時にパラメータの組み合わせを全て実行し、その
ときのジッタを計測して最もよい(ジッタが最小にな
る)組み合わせを求めていたのでは、すぐに読み出しが
実行できないという課題が発生する。
CD標準速から48倍速、あるいはDVD標準速から1
6倍速といったように信号周波数帯域の種類が非常に増
加した場合に、起動時に毎回再生速度の種類毎にパラメ
ータの組み合わせを全て実行し、そのときのジッタを計
測して最もよい(ジッタが最小になる)組み合わせを求
めていたのでは起動時間が増大する。あるいは再生速度
の切換時にパラメータの組み合わせを全て実行し、その
ときのジッタを計測して最もよい(ジッタが最小にな
る)組み合わせを求めていたのでは、すぐに読み出しが
実行できないという課題が発生する。
【0010】本発明の目的は、多種類の光ディスクに対
応しかつ再生速度を多段階に切り換える光ディスク装置
において、起動時間および読み出し時間を短縮すること
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供するこ
とにある。
応しかつ再生速度を多段階に切り換える光ディスク装置
において、起動時間および読み出し時間を短縮すること
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供するこ
とにある。
【0011】本発明の他の目的は、ジッタが最小になる
パラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めること
が出来る光ディスク装置およびPLL回路を提供するこ
とにある。
パラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めること
が出来る光ディスク装置およびPLL回路を提供するこ
とにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
装置は、光源から発光させる光ビームによって情報担体
上に記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置
であって、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前
記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光
に対応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検
出手段によって生成された前記再生信号の周波数特性を
変化させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出
力信号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッ
タ計測手段によって計測されるジッタを変化させること
のできる変数Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平
面上の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジ
ッタ最小値探索手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手
段は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の
第1分割領域に分割し、前記複数の第1分割領域の重心
にそれぞれ位置する複数の第1ジッタ計測点で計測され
たジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の第
1分割領域のうちの1つを探索し、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索した前記複数の第1分割領域のうちの前
記1つを互いに等しい形状を有する複数の第2分割領域
に分割し、前記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位
置する複数の第2ジッタ計測点で計測されたジッタのう
ち最小のジッタが計測された前記複数の第2分割領域の
うちの1つを探索し、探索した前記複数の第2分割領域
のうちの前記1つに含まれる前記複数の第2ジッタ計測
点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記変数Yとの
最適な組み合わせを決定し、そのことにより上記目的が
達成される。
装置は、光源から発光させる光ビームによって情報担体
上に記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置
であって、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前
記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光
に対応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検
出手段によって生成された前記再生信号の周波数特性を
変化させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出
力信号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッ
タ計測手段によって計測されるジッタを変化させること
のできる変数Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平
面上の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジ
ッタ最小値探索手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手
段は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の
第1分割領域に分割し、前記複数の第1分割領域の重心
にそれぞれ位置する複数の第1ジッタ計測点で計測され
たジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の第
1分割領域のうちの1つを探索し、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索した前記複数の第1分割領域のうちの前
記1つを互いに等しい形状を有する複数の第2分割領域
に分割し、前記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位
置する複数の第2ジッタ計測点で計測されたジッタのう
ち最小のジッタが計測された前記複数の第2分割領域の
うちの1つを探索し、探索した前記複数の第2分割領域
のうちの前記1つに含まれる前記複数の第2ジッタ計測
点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記変数Yとの
最適な組み合わせを決定し、そのことにより上記目的が
達成される。
【0013】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記4つの第1分割領域の重心にそれぞ
れ位置する4つの第1ジッタ計測点で計測されたジッタ
のうち最小のジッタが計測された前記4つの第1分割領
域のうちの1つを探索し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい形状を有する4つの第2分割領域に分割
し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ位置する
4つの第2ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小
のジッタが計測された前記4つの第2分割領域のうちの
1つを探索してもよい。
域を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記4つの第1分割領域の重心にそれぞ
れ位置する4つの第1ジッタ計測点で計測されたジッタ
のうち最小のジッタが計測された前記4つの第1分割領
域のうちの1つを探索し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい形状を有する4つの第2分割領域に分割
し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ位置する
4つの第2ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小
のジッタが計測された前記4つの第2分割領域のうちの
1つを探索してもよい。
【0014】前記ジッタ計測手段によって計測されたジ
ッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索動作を終了してもよい。
ッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索動作を終了してもよい。
【0015】前記ジッタ計測手段がある領域でジッタを
測定することができなかった場合には、前記ジッタ計測
手段は前記ジッタを測定することができなかった前記領
域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索してもよい。
測定することができなかった場合には、前記ジッタ計測
手段は前記ジッタを測定することができなかった前記領
域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索してもよい。
【0016】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
【0017】前記変数Xは、高域遅延量を含み、前記変
数Yは、低域遅延量を含んでもよい。
数Yは、低域遅延量を含んでもよい。
【0018】前記光ビームが前記記録担体に対して所定
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Xは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Yは、フォーカス位置
を含んでもよい。
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Xは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Yは、フォーカス位置
を含んでもよい。
【0019】前記光ビームの前記記録担体に対するラジ
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Xは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Xは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。
【0020】本発明に係る他の光ディスク装置は、光源
から発光させる光ビームによって情報担体上に記録され
た情報を光学的に再生する光ディスク装置であって、前
記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情報担体か
らの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対応する再
生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手段によっ
て生成された前記再生信号の周波数特性を変化させる波
形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信号のジッ
タを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計測手段に
よって計測されるジッタを変化させることのできる変数
Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平面上の初期領
域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ最小値探
索手段と、前記情報担体の種類を判別する情報担体判別
手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
領域を互いに等しい形状を有する複数の第1分割領域に
分割し、前記情報担体判別手段によって判別された前記
情報担体の種類に基づいて、前記複数の第1分割領域の
うちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記複数の第1分割領域のうちの前記1つを互い
に等しい形状を有する複数の第2分割領域に分割し、前
記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第2分割領域のうちの1つを探索
し、探索した前記複数の第2分割領域のうちの前記1つ
に含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの1つに対応
する前記変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決
定し、そのことにより上記目的が達成される。
から発光させる光ビームによって情報担体上に記録され
た情報を光学的に再生する光ディスク装置であって、前
記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情報担体か
らの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対応する再
生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手段によっ
て生成された前記再生信号の周波数特性を変化させる波
形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信号のジッ
タを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計測手段に
よって計測されるジッタを変化させることのできる変数
Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平面上の初期領
域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ最小値探
索手段と、前記情報担体の種類を判別する情報担体判別
手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
領域を互いに等しい形状を有する複数の第1分割領域に
分割し、前記情報担体判別手段によって判別された前記
情報担体の種類に基づいて、前記複数の第1分割領域の
うちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記複数の第1分割領域のうちの前記1つを互い
に等しい形状を有する複数の第2分割領域に分割し、前
記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第2分割領域のうちの1つを探索
し、探索した前記複数の第2分割領域のうちの前記1つ
に含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの1つに対応
する前記変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決
定し、そのことにより上記目的が達成される。
【0021】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別され
た前記情報担体の種類に基づいて、前記4つの第1分割
領域のうちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、選択した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第2分割領
域に分割し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ
位置する4つの第2ジッタ計測点で計測されたジッタの
うち最小のジッタが計測された前記4つの第2分割領域
のうちの1つを探索してもよい。
域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別され
た前記情報担体の種類に基づいて、前記4つの第1分割
領域のうちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、選択した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第2分割領
域に分割し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ
位置する4つの第2ジッタ計測点で計測されたジッタの
うち最小のジッタが計測された前記4つの第2分割領域
のうちの1つを探索してもよい。
【0022】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
【0023】前記変数Xは、高域遅延量を含み、前記変
数Yは、低域遅延量を含んでもよい。
数Yは、低域遅延量を含んでもよい。
【0024】前記光ビームが前記記録担体に対して所定
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Xは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Yは、フォーカス位置
を含んでもよい。
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Xは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Yは、フォーカス位置
を含んでもよい。
【0025】前記光ビームの前記記録担体に対するラジ
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Xは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Xは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。
【0026】本発明に係るさらに他の光ディスク装置
は、光源から発光させる光ビームによって情報担体上に
記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置であ
って、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情
報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対
応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手
段によって生成された前記再生信号の周波数特性を変化
させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信
号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計
測手段によって計測されるジッタを変化させることので
きる変数Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平面上
の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ
最小値探索手段と、前記再生信号の再生速度を検出する
再生速度検出手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段
は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の第
1分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検
出された前記再生速度に基づいて、前記複数の第1分割
領域のうちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記複数の第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい形状を有する複数の第2分割領域に分割
し、前記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位置する
複数のジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジ
ッタが計測された前記複数の第2分割領域のうちの1つ
を探索し、探索した前記複数の第2分割領域のうちの前
記1つに含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの1つ
に対応する前記変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わ
せを決定し、そのことにより上記目的が達成される。
は、光源から発光させる光ビームによって情報担体上に
記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置であ
って、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情
報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対
応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手
段によって生成された前記再生信号の周波数特性を変化
させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信
号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計
測手段によって計測されるジッタを変化させることので
きる変数Xと変数Yとの2変数で定義されたXY平面上
の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ
最小値探索手段と、前記再生信号の再生速度を検出する
再生速度検出手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段
は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の第
1分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検
出された前記再生速度に基づいて、前記複数の第1分割
領域のうちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記複数の第1分割領域のうちの前記1つ
を互いに等しい形状を有する複数の第2分割領域に分割
し、前記複数の第2分割領域の重心にそれぞれ位置する
複数のジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジ
ッタが計測された前記複数の第2分割領域のうちの1つ
を探索し、探索した前記複数の第2分割領域のうちの前
記1つに含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの1つ
に対応する前記変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わ
せを決定し、そのことにより上記目的が達成される。
【0027】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出され
た前記再生速度に基づいて、前記4つの第1分割領域の
うちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つを互い
に等しい正方形の形状を有する4つの第2分割領域に分
割し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ位置す
る4つのジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小の
ジッタが計測された前記4つの第2分割領域のうちの1
つを探索してもよい。
域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1分割
領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出され
た前記再生速度に基づいて、前記4つの第1分割領域の
うちの1つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記4つの第1分割領域のうちの前記1つを互い
に等しい正方形の形状を有する4つの第2分割領域に分
割し、前記4つの第2分割領域の重心にそれぞれ位置す
る4つのジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小の
ジッタが計測された前記4つの第2分割領域のうちの1
つを探索してもよい。
【0028】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。本発明に係るPL
L回路は、単調信号を発生する基準信号発生手段と、前
記単調信号を2値化する2値化手段と、前記単調信号の
信号振幅の中心を2値化することができるように前記2
値化回路を設定するデータスライスバランス設定手段
と、クロック信号を生成するクロック生成手段と、前記
2値化手段によって2値化された前記単調信号と前記ク
ロック信号生成手段によって生成された前記クロック信
号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相比較
手段と、前記位相比較手段から出力された前記位相誤差
信号を平均化するチャージポンプ回路と、前記位相比較
手段から出力された前記位相誤差信号の位相ずれを調整
する位相調整手段と、前記位相比較手段から出力された
前記位相誤差信号に基づいてジッタを計測するジッタ計
測手段と、前記ジッタ計測手段によって計測された前記
ジッタを変化させることのできる変数Xと変数Yとの2
変数で定義されたXY平面上の初期領域における前記ジ
ッタの最小値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、
前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の
第1分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有
する複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割
領域の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点
で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
記複数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した
前記複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前
記複数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記
変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定し、そ
のことにより上記目的が達成される。
数Yは、ブースト量を含んでもよい。本発明に係るPL
L回路は、単調信号を発生する基準信号発生手段と、前
記単調信号を2値化する2値化手段と、前記単調信号の
信号振幅の中心を2値化することができるように前記2
値化回路を設定するデータスライスバランス設定手段
と、クロック信号を生成するクロック生成手段と、前記
2値化手段によって2値化された前記単調信号と前記ク
ロック信号生成手段によって生成された前記クロック信
号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相比較
手段と、前記位相比較手段から出力された前記位相誤差
信号を平均化するチャージポンプ回路と、前記位相比較
手段から出力された前記位相誤差信号の位相ずれを調整
する位相調整手段と、前記位相比較手段から出力された
前記位相誤差信号に基づいてジッタを計測するジッタ計
測手段と、前記ジッタ計測手段によって計測された前記
ジッタを変化させることのできる変数Xと変数Yとの2
変数で定義されたXY平面上の初期領域における前記ジ
ッタの最小値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、
前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の
第1分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有
する複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割
領域の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点
で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
記複数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した
前記複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前
記複数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記
変数Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定し、そ
のことにより上記目的が達成される。
【0029】前記変数Xは、遮断周波数を含み、前記変
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
数Yは、ブースト量を含んでもよい。
【0030】前記位相調整手段は、前記位相比較手段か
ら出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調整す
るように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力段に
おける電流バランスを可変してもよい。
ら出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調整す
るように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力段に
おける電流バランスを可変してもよい。
【0031】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。なお図面中、同様の機能を有する
部材には、同一の参照符号を示す。
を参照して説明する。なお図面中、同様の機能を有する
部材には、同一の参照符号を示す。
【0032】(実施の形態1)実施の形態1は、ジッタ
を可変し得る変数として、遮断周波数を変数X、ブース
ト量を変数YとしたXY平面を所定の割合で分割した各
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその領域
を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求
めていき、最適な変数X、Yの組み合わせを決定する方
法を実現する構成である。ここでは説明を分かりやすく
するため遮断周波数とブースト量との最適な組み合わせ
を決定する方法を実現する構成を一例とする。
を可変し得る変数として、遮断周波数を変数X、ブース
ト量を変数YとしたXY平面を所定の割合で分割した各
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその領域
を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求
めていき、最適な変数X、Yの組み合わせを決定する方
法を実現する構成である。ここでは説明を分かりやすく
するため遮断周波数とブースト量との最適な組み合わせ
を決定する方法を実現する構成を一例とする。
【0033】図1は、実施の形態1に係る光ディスク装
置100の構成を説明するためのブロック図を示す。図
1に示すように、光ディスク装置100は、半導体レー
ザなどの光源から発光された光ビームを情報担体である
光ディスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド
2から出力される光ディスク1からの反射光に対応した
再生信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によ
って増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4
と、波形等化回路4によって波形等化された再生信号を
パルス化する2値化回路13と、パルス化された再生信
号のジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ
3によって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検
出回路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射
される光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド
2を制御する制御部7とを備える。
置100の構成を説明するためのブロック図を示す。図
1に示すように、光ディスク装置100は、半導体レー
ザなどの光源から発光された光ビームを情報担体である
光ディスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド
2から出力される光ディスク1からの反射光に対応した
再生信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によ
って増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4
と、波形等化回路4によって波形等化された再生信号を
パルス化する2値化回路13と、パルス化された再生信
号のジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ
3によって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検
出回路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射
される光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド
2を制御する制御部7とを備える。
【0034】制御部7は、ジッタ検出回路5によって検
出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部
6と、振幅検出回路8によって検出された再生信号の振
幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅探査
部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光ディス
ク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制御を
実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から照射
される光ビームが光ディスク1上のトラックを正しく走
査するようにトラッキング制御を実行するトラッキング
制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォーカ
ス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラッキ
ング制御部10からのトラッキング制御信号と合成する
合成回路11とを含む。
出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部
6と、振幅検出回路8によって検出された再生信号の振
幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅探査
部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光ディス
ク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制御を
実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から照射
される光ビームが光ディスク1上のトラックを正しく走
査するようにトラッキング制御を実行するトラッキング
制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォーカ
ス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラッキ
ング制御部10からのトラッキング制御信号と合成する
合成回路11とを含む。
【0035】光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようなフォーカス制
御部10の目標位置すなわちフォーカス位置を設定する
ために、振幅検出回路8はプリアンプ3の再生信号の振
幅を検出する。制御装置7はトラッキング制御部12も
含んでいるが、トラッキング制御は本発明に直接関係な
いので、詳しい説明は省略する。
ィスク1上で最適な収束状態になるようなフォーカス制
御部10の目標位置すなわちフォーカス位置を設定する
ために、振幅検出回路8はプリアンプ3の再生信号の振
幅を検出する。制御装置7はトラッキング制御部12も
含んでいるが、トラッキング制御は本発明に直接関係な
いので、詳しい説明は省略する。
【0036】波形等化回路4によって波形等化された再
生信号は2値化回路13によってパルス化され、そのジ
ッタをジッタ検出部5が検出する。ジッタ検出回路5
は、2値化回路13によってパルス化された再生信号と
PLLクロックと間のの位相誤差を電圧変換することに
よってジッタを検出している。
生信号は2値化回路13によってパルス化され、そのジ
ッタをジッタ検出部5が検出する。ジッタ検出回路5
は、2値化回路13によってパルス化された再生信号と
PLLクロックと間のの位相誤差を電圧変換することに
よってジッタを検出している。
【0037】ジッタ検出回路5によって検出されたジッ
タは、ジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部6
へ入力される。最小値ジッタ探査部6は、ジッタが最小
となるように遮断周波数FCとブースト量BSTとを波
形等化回路4に与えることで波形等化回路4の周波数特
性を設定する。こうして、最適に設定された周波数特性
を有する波形等化回路4のフィルタを通して光ディスク
1上のに記録された情報を再生する。
タは、ジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部6
へ入力される。最小値ジッタ探査部6は、ジッタが最小
となるように遮断周波数FCとブースト量BSTとを波
形等化回路4に与えることで波形等化回路4の周波数特
性を設定する。こうして、最適に設定された周波数特性
を有する波形等化回路4のフィルタを通して光ディスク
1上のに記録された情報を再生する。
【0038】上記した構成を用いた実施の形態1におけ
るジッタ最小探査部6の探索動作について詳しく説明す
る。
るジッタ最小探査部6の探索動作について詳しく説明す
る。
【0039】波形等化回路4は、再生信号の高域のノイ
ズ成分を除去するための遮断周波数FCと、再生信号の
高域成分を相対的に高くするブースト量BSTとを可変
できる構成になっている。波形等化回路4はベッセルフ
ィルタや等リップルフィルタなどのアクティブフィルタ
を用いて構成できる。上記したように波形等化回路4に
よって波形等化された再生信号は2値化回路13によっ
て2値化される。ジッタ検出回路5で検出されたジッタ
を用いて最小値ジッタ探査部6は、ジッタが最小になる
ような遮断周波数FCとブースト量BSTとを波形等化
回路4に設定する。
ズ成分を除去するための遮断周波数FCと、再生信号の
高域成分を相対的に高くするブースト量BSTとを可変
できる構成になっている。波形等化回路4はベッセルフ
ィルタや等リップルフィルタなどのアクティブフィルタ
を用いて構成できる。上記したように波形等化回路4に
よって波形等化された再生信号は2値化回路13によっ
て2値化される。ジッタ検出回路5で検出されたジッタ
を用いて最小値ジッタ探査部6は、ジッタが最小になる
ような遮断周波数FCとブースト量BSTとを波形等化
回路4に設定する。
【0040】最小値ジッタ探査部6が実行する最小ジッ
タ探査方法について説明をするために、まず遮断周波数
FCとブースト量BST及びジッタの間の関係について
述べる。
タ探査方法について説明をするために、まず遮断周波数
FCとブースト量BST及びジッタの間の関係について
述べる。
【0041】図2(a)、 図2(b)および 図2
(c)は、実施の形態1に係る遮断周波数FCとブース
ト量BSTとジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。このグラフは、波形等化回路4の遮断周波数FCと
ブースト量BSTにより定義されるジッタの最小値を探
査するために使用される。直角座標系201は、遮断周
波数FC、ブースト量BSTおよびジッタにより定義す
る。一般に光ディスクからの再生信号のジッタは遮断周
波数FCとブースト量BSTに対して独立変数とはなら
ない。なぜならば、光ディスクからの再生信号では、遮
断周波数FCを高くすれば高域のノイズが多くなりジッ
タが増加し、また遮断周波数FCを低くすればノイズ成
分に対する再生信号成分の比が低くなるので、遮断周波
数FCを高くしても低くしても何れにしても再生信号の
SN比が悪くなりジッタが増加するからであり、ブース
ト量BSTについても遮断周波数FCと同様なことが言
えるからである。
(c)は、実施の形態1に係る遮断周波数FCとブース
ト量BSTとジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。このグラフは、波形等化回路4の遮断周波数FCと
ブースト量BSTにより定義されるジッタの最小値を探
査するために使用される。直角座標系201は、遮断周
波数FC、ブースト量BSTおよびジッタにより定義す
る。一般に光ディスクからの再生信号のジッタは遮断周
波数FCとブースト量BSTに対して独立変数とはなら
ない。なぜならば、光ディスクからの再生信号では、遮
断周波数FCを高くすれば高域のノイズが多くなりジッ
タが増加し、また遮断周波数FCを低くすればノイズ成
分に対する再生信号成分の比が低くなるので、遮断周波
数FCを高くしても低くしても何れにしても再生信号の
SN比が悪くなりジッタが増加するからであり、ブース
ト量BSTについても遮断周波数FCと同様なことが言
えるからである。
【0042】したがって、遮断周波数FCとブースト量
BSTとを可変した時に同じジッタの値を示すポイント
を結線すると、図2(a)、図2(b)および図2
(c)に示すように、遮断周波数FCを横軸とし、ブー
スト量BSTを縦軸とする平面においてジッタ等高線2
05A、205Bおよび205Cを描くことができる。
ここで、ΔJはジッタ等高線間隔を示しており、ジッタ
等高線間隔ΔJの大きさによりジッタ特性を推測するこ
ともできる。
BSTとを可変した時に同じジッタの値を示すポイント
を結線すると、図2(a)、図2(b)および図2
(c)に示すように、遮断周波数FCを横軸とし、ブー
スト量BSTを縦軸とする平面においてジッタ等高線2
05A、205Bおよび205Cを描くことができる。
ここで、ΔJはジッタ等高線間隔を示しており、ジッタ
等高線間隔ΔJの大きさによりジッタ特性を推測するこ
ともできる。
【0043】ブースト量BSTとジッタとの間の相関が
遮断周波数FCとジッタとの間の相関よりも強い場合に
は、グラフ202上のジッタ等高線205Aにより示さ
れるジッタ特性となる。その逆に遮断周波数FCとジッ
タとの間の相関がブースト量BSTとジッタとの間の相
関よりも強い場合には、グラフ204上のジッタ等高線
205Cにより示されるジッタ特性となる。ブースト量
BSTとジッタとの間の相関が遮断周波数FCとジッタ
との間の相関とほぼ等しい場合には、グラフ203上の
ジッタ等高線205Bにより示されるジッタ特性とな
る。前述したように光ディスクは様々な種類があり、ジ
ッタ特性も前述した光ディスクのさまざまな種類によっ
てさまざまに変化する。
遮断周波数FCとジッタとの間の相関よりも強い場合に
は、グラフ202上のジッタ等高線205Aにより示さ
れるジッタ特性となる。その逆に遮断周波数FCとジッ
タとの間の相関がブースト量BSTとジッタとの間の相
関よりも強い場合には、グラフ204上のジッタ等高線
205Cにより示されるジッタ特性となる。ブースト量
BSTとジッタとの間の相関が遮断周波数FCとジッタ
との間の相関とほぼ等しい場合には、グラフ203上の
ジッタ等高線205Bにより示されるジッタ特性とな
る。前述したように光ディスクは様々な種類があり、ジ
ッタ特性も前述した光ディスクのさまざまな種類によっ
てさまざまに変化する。
【0044】遮断周波数FCを横軸とし、ブースト量B
STを縦軸とする平面においてジッタが最小になる位置
を求め、求められたジッタが最小になる位置に対応する
遮断周波数FCとブースト量BSTとを得ることによ
り、最適等化量を波形等化回路4に設定することが可能
となる。
STを縦軸とする平面においてジッタが最小になる位置
を求め、求められたジッタが最小になる位置に対応する
遮断周波数FCとブースト量BSTとを得ることによ
り、最適等化量を波形等化回路4に設定することが可能
となる。
【0045】図3、図4および図5を用いて本実施の形
態1の最小ジッタ探査方法について説明する。図3は、
実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を説明する
ための図である。図4は、実施の形態1に係る最小ジッ
タ領域を説明するためのグラフである。図5は、実施の
形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を説明するフロー
チャートである。
態1の最小ジッタ探査方法について説明する。図3は、
実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を説明する
ための図である。図4は、実施の形態1に係る最小ジッ
タ領域を説明するためのグラフである。図5は、実施の
形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を説明するフロー
チャートである。
【0046】図3では、横軸に遮断周波数FC、縦軸に
ブースト量BSTをとる。図3に示すように、遮断周波
数FCとブースト量BSTとは、説明の簡単化のために
初期領域301において8ステップの可変幅をそれぞれ
有しているものとする。図3(a)に示すように初期領
域301は正方形の形状を有する。初期領域301は、
分割領域A1、A2、A3およびA4を含む。図3
(a)に示すように分割領域A1、A2、A3およびA
4は正方形の形状を有する。初期領域301は、分割領
域A1、A2、A3およびA4によって等分割されてい
る。初期領域301は、分割領域A0をさらに含む。図
3(a)に示すように分割領域A0は、正方形の形状を
有し、初期領域301の重心の位置に配置されており、
分割領域A1、A2、A3およびA4とそれぞれ4分の
1の面積分ずつオーバーラップしている。
ブースト量BSTをとる。図3に示すように、遮断周波
数FCとブースト量BSTとは、説明の簡単化のために
初期領域301において8ステップの可変幅をそれぞれ
有しているものとする。図3(a)に示すように初期領
域301は正方形の形状を有する。初期領域301は、
分割領域A1、A2、A3およびA4を含む。図3
(a)に示すように分割領域A1、A2、A3およびA
4は正方形の形状を有する。初期領域301は、分割領
域A1、A2、A3およびA4によって等分割されてい
る。初期領域301は、分割領域A0をさらに含む。図
3(a)に示すように分割領域A0は、正方形の形状を
有し、初期領域301の重心の位置に配置されており、
分割領域A1、A2、A3およびA4とそれぞれ4分の
1の面積分ずつオーバーラップしている。
【0047】図3(a)に示すように、各分割領域A
0、A1、A2、A3およびA4は、ジッタ測定点J
0、J1、J2、J3、J4を有する。各ジッタ測定点
J0、J1、J2、J3、J4は、各分割領域A0、A
1、A2、A3およびA4の重心の位置に配置されてい
る。
0、A1、A2、A3およびA4は、ジッタ測定点J
0、J1、J2、J3、J4を有する。各ジッタ測定点
J0、J1、J2、J3、J4は、各分割領域A0、A
1、A2、A3およびA4の重心の位置に配置されてい
る。
【0048】測定点J4に対応する分割領域A4は、さ
らに細かい分割領域に分割される。即ち分割領域A4
は、分割領域B1、B2、B3およびB4を含む。図3
(b)に示すように分割領域B1、B2、B3およびB
4は正方形の形状を有する。分割領域A4は、分割領域
B1、B2、B3およびB4によって等分割されてい
る。分割領域A4は、分割領域B0をさらに含む。図3
(b)に示すように分割領域B0は、正方形の形状を有
し、分割領域A4の重心の位置に配置されており、分割
領域B1、B2、B3およびB4とそれぞれ4分の1の
面積分ずつオーバーラップしている。
らに細かい分割領域に分割される。即ち分割領域A4
は、分割領域B1、B2、B3およびB4を含む。図3
(b)に示すように分割領域B1、B2、B3およびB
4は正方形の形状を有する。分割領域A4は、分割領域
B1、B2、B3およびB4によって等分割されてい
る。分割領域A4は、分割領域B0をさらに含む。図3
(b)に示すように分割領域B0は、正方形の形状を有
し、分割領域A4の重心の位置に配置されており、分割
領域B1、B2、B3およびB4とそれぞれ4分の1の
面積分ずつオーバーラップしている。
【0049】図3(b)に示すように、各分割領域B
0、B1、B2、B3およびB4は、ジッタ測定点J
4、J5、J6、J7およびJ8を有する。各ジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8は、各分割領域
B0、B1、B2、B3およびB4の重心の位置に配置
されている。
0、B1、B2、B3およびB4は、ジッタ測定点J
4、J5、J6、J7およびJ8を有する。各ジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8は、各分割領域
B0、B1、B2、B3およびB4の重心の位置に配置
されている。
【0050】初期領域Aにおいて、遮断周波数FCが値
4、ブースト量BSTが値4で直交する太線302およ
び303によって分割される4つの分割領域A1、A
2、A3およびA4を作る。これら4つの分割領域A
1、A2、A3およびA4においてジッタを計測する点
としてジッタ測定点J1、J2、J3およびJ4の4点
が決定される。次にこの4つのジッタ測定点J1、J
2、J3およびJ4においてジッタを計測し、4つの分
割領域A1、A2、A3およびA4のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、4点すべてが同
じジッタ値であった場合、ジッタが最も小さい領域が決
定できない。
4、ブースト量BSTが値4で直交する太線302およ
び303によって分割される4つの分割領域A1、A
2、A3およびA4を作る。これら4つの分割領域A
1、A2、A3およびA4においてジッタを計測する点
としてジッタ測定点J1、J2、J3およびJ4の4点
が決定される。次にこの4つのジッタ測定点J1、J
2、J3およびJ4においてジッタを計測し、4つの分
割領域A1、A2、A3およびA4のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、4点すべてが同
じジッタ値であった場合、ジッタが最も小さい領域が決
定できない。
【0051】そこで4つの分割領域A1、A2、A3お
よびA4のすべてに接するJ0をジッタ測定点として、
ジッタ測定点J0におけるジッタも計測し、上記5つの
ジッタ計測値が同じであった場合には、ジッタ測定点J
0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値とし
て決定する。
よびA4のすべてに接するJ0をジッタ測定点として、
ジッタ測定点J0におけるジッタも計測し、上記5つの
ジッタ計測値が同じであった場合には、ジッタ測定点J
0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値とし
て決定する。
【0052】初期領域301におけるジッタ特性は、図
4に示されるグラフ302上のジッタ等高線205Dに
より示されるものとすると、図4に示されるジッタ特性
によれば、上記5つのジッタ測定点J0、J1、J2、
J3およびJ4のうち測定されたジッタが最小であるジ
ッタ測定点はジッタ測定点J4となる。
4に示されるグラフ302上のジッタ等高線205Dに
より示されるものとすると、図4に示されるジッタ特性
によれば、上記5つのジッタ測定点J0、J1、J2、
J3およびJ4のうち測定されたジッタが最小であるジ
ッタ測定点はジッタ測定点J4となる。
【0053】次に、このジッタ測定点J4に対応する領
域A4において、遮断周波数FCの値が2、ブースト量
BSTの値が2で直交する2本の直線304および30
5によって領域A4を分割する4つの分割領域B1、B
2、B3およびB4を再び設定し、ジッタ計測点J5、
J6、J7およびJ8の4点が決定される。この4つの
ジッタ計測点J5、J6、J7およびJ8におけるジッ
タを計測し、4つの分割領域B1、B2、B3およびB
4のうちジッタが最も小さい領域を比較決定する。図4
のジッタ特性により、ジッタ最小位置は、ジッタ計測点
J4となることが分かる。
域A4において、遮断周波数FCの値が2、ブースト量
BSTの値が2で直交する2本の直線304および30
5によって領域A4を分割する4つの分割領域B1、B
2、B3およびB4を再び設定し、ジッタ計測点J5、
J6、J7およびJ8の4点が決定される。この4つの
ジッタ計測点J5、J6、J7およびJ8におけるジッ
タを計測し、4つの分割領域B1、B2、B3およびB
4のうちジッタが最も小さい領域を比較決定する。図4
のジッタ特性により、ジッタ最小位置は、ジッタ計測点
J4となることが分かる。
【0054】領域A4におけるジッタ計測点J4と他の
4つのジッタ計測点J5、J6、J7およびJ8との間
の幅が1となり最小単位設定幅となったため、ジッタ計
測点J4はジッタ最小位置となる。このジッタ計測点J
4に対応した、遮断周波数FCとブースト量BSTを設
定することにより、波形等化回路4の周波数特性の最適
化が完了する。
4つのジッタ計測点J5、J6、J7およびJ8との間
の幅が1となり最小単位設定幅となったため、ジッタ計
測点J4はジッタ最小位置となる。このジッタ計測点J
4に対応した、遮断周波数FCとブースト量BSTを設
定することにより、波形等化回路4の周波数特性の最適
化が完了する。
【0055】最小ジッタ探査領域の分割方法とジッタ計
測点との関係を説明する。まず最小ジッタ探査領域の分
割方法を説明する。図6(a)および図6(b)は、実
施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法におけるジッ
タ計測点を説明する図である。初期領域301上のすべ
てのジッタ計測点において、計測したジッタが最小のジ
ッタとなる確率は等しい。従って各分割領域で最小ジッ
タを探査する各段階において、計測したジッタが最小の
ジッタとなる確率は各分割領域上のすべてのジッタ計測
点において等しい。
測点との関係を説明する。まず最小ジッタ探査領域の分
割方法を説明する。図6(a)および図6(b)は、実
施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法におけるジッ
タ計測点を説明する図である。初期領域301上のすべ
てのジッタ計測点において、計測したジッタが最小のジ
ッタとなる確率は等しい。従って各分割領域で最小ジッ
タを探査する各段階において、計測したジッタが最小の
ジッタとなる確率は各分割領域上のすべてのジッタ計測
点において等しい。
【0056】図3(a)に示すように分割領域A1、A
2、A3およびA4のジッタ測定点J1、J2、J3お
よびJ4は、分割領域A1、A2、A3およびA4の重
心と一致している事が好ましい。図6(a)に示すよう
に分割領域のジッタ測定点の少なくとも1つが分割領域
の重心からずれた位置に配置されていると、すべての分
割領域A1、A2、A3およびA4のジッタ測定点J
1、J2、J3およびJ4が分割領域A1、A2、A3
およびA4の重心と一致している場合に比較して、ジッ
タが最小となる分割領域を探索するために以下に示すよ
うにより多くの探査回数が必要になるからである。
2、A3およびA4のジッタ測定点J1、J2、J3お
よびJ4は、分割領域A1、A2、A3およびA4の重
心と一致している事が好ましい。図6(a)に示すよう
に分割領域のジッタ測定点の少なくとも1つが分割領域
の重心からずれた位置に配置されていると、すべての分
割領域A1、A2、A3およびA4のジッタ測定点J
1、J2、J3およびJ4が分割領域A1、A2、A3
およびA4の重心と一致している場合に比較して、ジッ
タが最小となる分割領域を探索するために以下に示すよ
うにより多くの探査回数が必要になるからである。
【0057】図6(a)に示されるように、分割領域A
1、A3およびA4のジッタ測定点J1、J3およびJ
4は、分割領域A1、A3およびA4の重心と一致して
いる。分割領域A2のジッタ測定点JC0は、分割領域
A2の重心G1からずれた位置に配置されている。分割
領域A2の重心G1からずれた位置に配置されているジ
ッタ測定点JC0で計測されたジッタが、ジッタ計測点
J1、J3、J4およびJC0で計測されたジッタのう
ち最小のジッタであると、図6(b)に示す分割領域2
500が設定される。分割領域2500は正方形であ
る。分割領域2500の対角線の長さの2分の1は、ジ
ッタ測定点J0およびJC0を結ぶ線分2501の長さ
と等しい。分割領域2500は、さらに遮断周波数FC
の値が7、ブースト量BSTの値が7で直交する直線3
06および307によって4つの分割領域C1、C2、
C3およびC4に分割される。分割領域C1、C2およ
びC3のジッタ測定点JC1、JC2およびJC3は、
分割領域C1、C2およびC3の重心と一致している。
分割領域C4のジッタ測定点JC4は、分割領域C4の
重心G2からずれた位置に配置されている。
1、A3およびA4のジッタ測定点J1、J3およびJ
4は、分割領域A1、A3およびA4の重心と一致して
いる。分割領域A2のジッタ測定点JC0は、分割領域
A2の重心G1からずれた位置に配置されている。分割
領域A2の重心G1からずれた位置に配置されているジ
ッタ測定点JC0で計測されたジッタが、ジッタ計測点
J1、J3、J4およびJC0で計測されたジッタのう
ち最小のジッタであると、図6(b)に示す分割領域2
500が設定される。分割領域2500は正方形であ
る。分割領域2500の対角線の長さの2分の1は、ジ
ッタ測定点J0およびJC0を結ぶ線分2501の長さ
と等しい。分割領域2500は、さらに遮断周波数FC
の値が7、ブースト量BSTの値が7で直交する直線3
06および307によって4つの分割領域C1、C2、
C3およびC4に分割される。分割領域C1、C2およ
びC3のジッタ測定点JC1、JC2およびJC3は、
分割領域C1、C2およびC3の重心と一致している。
分割領域C4のジッタ測定点JC4は、分割領域C4の
重心G2からずれた位置に配置されている。
【0058】図6(a)に示す領域301の対角線の長
さを100%とすると、線分2501の長さは40%で
ある。図6(b)に示すように、初期領域301の中に
入っているジッタ測定点は、ジッタ測定点JC1、JC
2、JC3およびJC4のうちジッタ測定点JC2のみ
である。ジッタ測定点JC1、JC3およびJC4は初
期領域301の外にあるので、ジッタ測定点JC1、J
C3およびJC4では測定しないようなプログラムの処
理が必要になる。従って、ジッタ測定点JC0およびJ
C2のみにおいてジッタが測定される。ジッタが最小と
なる位置がジッタ測定点JC0とJC2との間以外の位
置にあるときは、さらに新たな分割領域を設定してジッ
タが最小となる位置を探索しなければならない。
さを100%とすると、線分2501の長さは40%で
ある。図6(b)に示すように、初期領域301の中に
入っているジッタ測定点は、ジッタ測定点JC1、JC
2、JC3およびJC4のうちジッタ測定点JC2のみ
である。ジッタ測定点JC1、JC3およびJC4は初
期領域301の外にあるので、ジッタ測定点JC1、J
C3およびJC4では測定しないようなプログラムの処
理が必要になる。従って、ジッタ測定点JC0およびJ
C2のみにおいてジッタが測定される。ジッタが最小と
なる位置がジッタ測定点JC0とJC2との間以外の位
置にあるときは、さらに新たな分割領域を設定してジッ
タが最小となる位置を探索しなければならない。
【0059】分割領域A2のジッタ測定点がジッタ測定
点JCXであって、分割領域A2の重心G1からジッタ
測定点J0側にずれた位置に配置されており、線分25
01の長さが20%であるとする。このときの分割領域
2500は、分割領域A2をカバーできない程度に小さ
くなる。ジッタが最小となる位置がジッタ測定点JC0
とJCXとの間以外の位置にあるときは、さらに新たな
分割領域を設定してジッタが最小となる位置を探索しな
ければならない。
点JCXであって、分割領域A2の重心G1からジッタ
測定点J0側にずれた位置に配置されており、線分25
01の長さが20%であるとする。このときの分割領域
2500は、分割領域A2をカバーできない程度に小さ
くなる。ジッタが最小となる位置がジッタ測定点JC0
とJCXとの間以外の位置にあるときは、さらに新たな
分割領域を設定してジッタが最小となる位置を探索しな
ければならない。
【0060】このように、分割領域のジッタ測定点の少
なくとも1つが分割領域の重心からずれた位置に配置さ
れていると、すべての分割領域A1、A2、A3および
A4のジッタ測定点J1、J2、J3およびJ4が分割
領域A1、A2、A3およびA4の重心と一致している
場合に比較して、ジッタが最小となる分割領域を探索す
るためにより多くの探査回数が必要になる。
なくとも1つが分割領域の重心からずれた位置に配置さ
れていると、すべての分割領域A1、A2、A3および
A4のジッタ測定点J1、J2、J3およびJ4が分割
領域A1、A2、A3およびA4の重心と一致している
場合に比較して、ジッタが最小となる分割領域を探索す
るためにより多くの探査回数が必要になる。
【0061】初期領域および分割領域は、4つの正方形
または長方形に分割すると、探索処理のためのプログラ
ムを簡略化することができる。図4に示すジッタは、連
続的に変化し、ステップ状に変化することはない。一般
に光ディスク装置において再生信号品質の指標とされる
ジッタの発生確率分布は正規分布するからである。図4
に示すジッタ等高線は、遮断周波数FCの軸またはブー
スト量BSTの軸と平行になることはない。波形等化手
段の波形等化特性(遮断周波数FCおよびブースト量B
ST)が変化すると、ジッタも変化するからである。さ
らにジッタが最小となる位置を探索する初期領域におい
てジッタが最小となる位置が実質的に複数個存在するこ
とはない。ジッタが最小となる位置が初期領域の外に存
在していたとしても、ジッタが最小となる位置が複数個
存在することがない限り初期領域の中でジッタが最小と
なる位置を探索することが出来る。従って光ディスク装
置の信号系の伝送特性が極端に劣化している場合を除
き、初期領域の中でジッタが最小となる位置を探索する
ことが出来る。
または長方形に分割すると、探索処理のためのプログラ
ムを簡略化することができる。図4に示すジッタは、連
続的に変化し、ステップ状に変化することはない。一般
に光ディスク装置において再生信号品質の指標とされる
ジッタの発生確率分布は正規分布するからである。図4
に示すジッタ等高線は、遮断周波数FCの軸またはブー
スト量BSTの軸と平行になることはない。波形等化手
段の波形等化特性(遮断周波数FCおよびブースト量B
ST)が変化すると、ジッタも変化するからである。さ
らにジッタが最小となる位置を探索する初期領域におい
てジッタが最小となる位置が実質的に複数個存在するこ
とはない。ジッタが最小となる位置が初期領域の外に存
在していたとしても、ジッタが最小となる位置が複数個
存在することがない限り初期領域の中でジッタが最小と
なる位置を探索することが出来る。従って光ディスク装
置の信号系の伝送特性が極端に劣化している場合を除
き、初期領域の中でジッタが最小となる位置を探索する
ことが出来る。
【0062】図5において、ステップ501から、ステ
ップ504は初期領域301における最小値探査の過程
を示しており、ステップ505からステップ510は領
域A4における最小位置探査過程を示している。
ップ504は初期領域301における最小値探査の過程
を示しており、ステップ505からステップ510は領
域A4における最小位置探査過程を示している。
【0063】この最小位置探査過程を実行する最小ジッ
タ探査手段は、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)
及び、中央演算処理装置(CPU)などのファームウェ
アにより実現することができる。
タ探査手段は、デジタルシグナルプロセッサ(DSP)
及び、中央演算処理装置(CPU)などのファームウェ
アにより実現することができる。
【0064】初期領域301において5つのジッタ測定
点J0、J1、J2、J3およびJ4を設定する(ステ
ップ501)。ジッタ測定点J0、J1、J2、J3お
よびJ4のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周
波数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ5
02)。設定された遮断周波数FCとブースト値BST
とに基づいてジッタを計測する(ステップ503)。5
つのジッタ測定点J0、J1、J2、J3およびJ4の
すべてのジッタ測定点においてジッタを計測したか否か
を判定する(ステップ504)。5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測していないと判定された場合に
は(ステップ504でNO)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち未だジッタを計
測していないジッタ測定点においてジッタを計測するた
めにステップ502へ戻る。5つのジッタ測定点J0、
J1、J2、J3およびJ4のすべてのジッタ測定点に
おいてジッタを計測したと判定された場合には(ステッ
プ504でYES)、5つのジッタ測定点J0、J1、
J2、J3およびJ4のうち計測したジッタが最小であ
るジッタ測定点を決定する(ステップ505)。以下5
つのジッタ測定点J0、J1、J2、J3およびJ4の
のうち計測したジッタが最小であるジッタ測定点がジッ
タ測定点J4であった場合を例に挙げて説明を進める。
点J0、J1、J2、J3およびJ4を設定する(ステ
ップ501)。ジッタ測定点J0、J1、J2、J3お
よびJ4のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周
波数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ5
02)。設定された遮断周波数FCとブースト値BST
とに基づいてジッタを計測する(ステップ503)。5
つのジッタ測定点J0、J1、J2、J3およびJ4の
すべてのジッタ測定点においてジッタを計測したか否か
を判定する(ステップ504)。5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測していないと判定された場合に
は(ステップ504でNO)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち未だジッタを計
測していないジッタ測定点においてジッタを計測するた
めにステップ502へ戻る。5つのジッタ測定点J0、
J1、J2、J3およびJ4のすべてのジッタ測定点に
おいてジッタを計測したと判定された場合には(ステッ
プ504でYES)、5つのジッタ測定点J0、J1、
J2、J3およびJ4のうち計測したジッタが最小であ
るジッタ測定点を決定する(ステップ505)。以下5
つのジッタ測定点J0、J1、J2、J3およびJ4の
のうち計測したジッタが最小であるジッタ測定点がジッ
タ測定点J4であった場合を例に挙げて説明を進める。
【0065】計測したジッタが最小であるジッタ測定点
J4に対応する分割領域A4において4つのジッタ測定
点J5、J6、J7およびJ8を設定する(ステップ5
06)。ジッタ測定点J4、J5、J6、J7およびJ
8のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周波数F
Cとブースト値BSTとを設定し、設定された遮断周波
数FCとブースト値BSTとに基づいてジッタを計測す
る(ステップ507)。5つのジッタ測定点J4、J
5、J6、J7およびJ8のすべてのジッタ測定点にお
いてジッタを計測したか否か(計測動作回数が5回であ
るか)を判定する(ステップ508)。5つのジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8のすべてのジッ
タ測定点においてジッタを計測していないと判定された
場合には(ステップ508でNO)、5つのジッタ測定
点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち未だジッタ
を計測していないジッタ測定点においてジッタを計測す
るためにステップ506へ戻る。5つのジッタ測定点J
4、J5、J6、J7およびJ8のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測動作したと判定された場合には
(ステップ508でYES)、領域A4におけるジッタ
計測点J4と他の4つのジッタ計測点J5、J6、J7
およびJ8との間の幅が1となり最小単位設定幅になっ
ているか否かを判定する(ステップ509)。ここでい
う最小単位設定幅は、ジッタを可変する2変数である、
遮断周波数FCとブースト量BSTの最小単位設定幅の
ことである。
J4に対応する分割領域A4において4つのジッタ測定
点J5、J6、J7およびJ8を設定する(ステップ5
06)。ジッタ測定点J4、J5、J6、J7およびJ
8のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周波数F
Cとブースト値BSTとを設定し、設定された遮断周波
数FCとブースト値BSTとに基づいてジッタを計測す
る(ステップ507)。5つのジッタ測定点J4、J
5、J6、J7およびJ8のすべてのジッタ測定点にお
いてジッタを計測したか否か(計測動作回数が5回であ
るか)を判定する(ステップ508)。5つのジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8のすべてのジッ
タ測定点においてジッタを計測していないと判定された
場合には(ステップ508でNO)、5つのジッタ測定
点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち未だジッタ
を計測していないジッタ測定点においてジッタを計測す
るためにステップ506へ戻る。5つのジッタ測定点J
4、J5、J6、J7およびJ8のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測動作したと判定された場合には
(ステップ508でYES)、領域A4におけるジッタ
計測点J4と他の4つのジッタ計測点J5、J6、J7
およびJ8との間の幅が1となり最小単位設定幅になっ
ているか否かを判定する(ステップ509)。ここでい
う最小単位設定幅は、ジッタを可変する2変数である、
遮断周波数FCとブースト量BSTの最小単位設定幅の
ことである。
【0066】ジッタ計測点J4と他の4つのジッタ計測
点J5、J6、J7およびJ8との間の幅が最小単位設
定幅になっていないと判定された場合には(ステップ5
09でNO)、ステップ505へ戻る。ジッタ計測点J
4と他の4つのジッタ計測点J5、J6、J7およびJ
8との間の幅が最小単位設定幅になっていると判定され
た場合には(ステップ509でYES)、5つのジッタ
測定点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち
遮断周波数FCとブースト値BSTとを設定する(ステ
ップ510)。
点J5、J6、J7およびJ8との間の幅が最小単位設
定幅になっていないと判定された場合には(ステップ5
09でNO)、ステップ505へ戻る。ジッタ計測点J
4と他の4つのジッタ計測点J5、J6、J7およびJ
8との間の幅が最小単位設定幅になっていると判定され
た場合には(ステップ509でYES)、5つのジッタ
測定点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち
遮断周波数FCとブースト値BSTとを設定する(ステ
ップ510)。
【0067】次に、上述のジッタ計測点を設定する方法
をデジタルシグナルプロセッサ等で実行する場合の一般
的なアルゴリズムについて説明する。
をデジタルシグナルプロセッサ等で実行する場合の一般
的なアルゴリズムについて説明する。
【0068】変数を以下のように順次、定義する。
【0069】1.遮断周波数FCとブースト量BSTの
可変範囲をそれぞれ、FCtoral、BSTtota
lとする。
可変範囲をそれぞれ、FCtoral、BSTtota
lとする。
【0070】2.遮断周波数FCとブースト量BSTに
より定義される平面上のジッタをJとする。
より定義される平面上のジッタをJとする。
【0071】3.αを初期遮断周波数、βを初期ブース
ト量とする。
ト量とする。
【0072】4.初期領域または最小ジッタとなるジッ
タ測定点に対応する分割領域におけるジッタ測定点の間
の幅を遮断周波数に関してΔX、ブースト量に関してΔ
Yとする。
タ測定点に対応する分割領域におけるジッタ測定点の間
の幅を遮断周波数に関してΔX、ブースト量に関してΔ
Yとする。
【0073】5.最小ジッタとなるジッタ測定点に対応
する分割領域はr番目の分割領域であるとする。
する分割領域はr番目の分割領域であるとする。
【0074】これらの条件により、初期遮断周波数FC
の可変範囲FCtoralとブースト量BSTの可変範
囲BSTtotalに関して (α,β)=(FCtotal/2,BSTtotal/2) (1) とおき、代表点設定可変幅を ΔX=FCtotal/2(r+1) (2−1) ΔY=BSTtotal/2(r+1) (2−2) とすると、初期領域におけるジッタ計測点は Jc(α+ΔX,β+ΔY) (4−1) Jb(α−ΔX,β+ΔY) (4−2) Ja(α,β) (4−3) Jd(α+ΔX,β−ΔY) (4−4) Je(α−ΔX,β−ΔY) (4−5) の5点で、決定することができる。
の可変範囲FCtoralとブースト量BSTの可変範
囲BSTtotalに関して (α,β)=(FCtotal/2,BSTtotal/2) (1) とおき、代表点設定可変幅を ΔX=FCtotal/2(r+1) (2−1) ΔY=BSTtotal/2(r+1) (2−2) とすると、初期領域におけるジッタ計測点は Jc(α+ΔX,β+ΔY) (4−1) Jb(α−ΔX,β+ΔY) (4−2) Ja(α,β) (4−3) Jd(α+ΔX,β−ΔY) (4−4) Je(α−ΔX,β−ΔY) (4−5) の5点で、決定することができる。
【0075】次に、r番目の分割領域におけるジッタ計
測点は、 Jc’(α’+ΔX,β’+ΔY) (5−1) Jb’(α’−ΔX,β’+ΔY) (5−2) Ja’(α’,β’) (5−3) Jd’(α’+ΔX,β’−ΔY) (5−4) Je’(α’−ΔX,β’−ΔY) (5−5) の5点で決定することができる。ここで、α’、β’は
5つのジッタ測定点のうち計測したジッタが最小である
ジッタ測定点に順次更新される。
測点は、 Jc’(α’+ΔX,β’+ΔY) (5−1) Jb’(α’−ΔX,β’+ΔY) (5−2) Ja’(α’,β’) (5−3) Jd’(α’+ΔX,β’−ΔY) (5−4) Je’(α’−ΔX,β’−ΔY) (5−5) の5点で決定することができる。ここで、α’、β’は
5つのジッタ測定点のうち計測したジッタが最小である
ジッタ測定点に順次更新される。
【0076】また、ΔX,ΔYも、分割した回数を表す
rの値の応じて変化する。数式(5−1)から数式(5
−5)の中でジッタ最小となるジッタ計測点に対応した
遮断周波数FCとブースト量BSTとを設定する。
rの値の応じて変化する。数式(5−1)から数式(5
−5)の中でジッタ最小となるジッタ計測点に対応した
遮断周波数FCとブースト量BSTとを設定する。
【0077】上記した数式を、DSPやファームウェア
で実行する際には、同一の演算モジュールによる繰り返
し処理で実行することができるので、より少ない資源
(プログラム容量やワーク領域)で波形等化量即ち遮断
周波数FCとブースト量BSTとを設定可能となる。
で実行する際には、同一の演算モジュールによる繰り返
し処理で実行することができるので、より少ない資源
(プログラム容量やワーク領域)で波形等化量即ち遮断
周波数FCとブースト量BSTとを設定可能となる。
【0078】PLLまたはサーボが外れている領域でジ
ッタが測定できなかった場合には、そのジッタが測定で
きなかった領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探査
すれば最適な遮断周波数FCとブースト量BSTとを速
やかに決定することができる。
ッタが測定できなかった場合には、そのジッタが測定で
きなかった領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探査
すれば最適な遮断周波数FCとブースト量BSTとを速
やかに決定することができる。
【0079】さらに、基本モジュールを有効に使うため
の方法を説明する。図7は、実施の形態1に係る最小ジ
ッタ領域探査方法におけるジッタ計測点の測定順序を説
明する図を示す。図7では遮断周波数FCとブースト量
BSTとにより定義される初期領域601をジッタ計測
平面として示している。上述したように、ジッタ計測は
各分割領域602、603、604、605および60
6において行うが、測定を行う順番を常に一定にする方
法がある。
の方法を説明する。図7は、実施の形態1に係る最小ジ
ッタ領域探査方法におけるジッタ計測点の測定順序を説
明する図を示す。図7では遮断周波数FCとブースト量
BSTとにより定義される初期領域601をジッタ計測
平面として示している。上述したように、ジッタ計測は
各分割領域602、603、604、605および60
6において行うが、測定を行う順番を常に一定にする方
法がある。
【0080】図7に示すように、初期領域601は5つ
の分割領域602、603、604、605および60
6で構成されている。まず分割領域602におけるジッ
タを計測し、次に分割領域603、分割領域604、分
割領域605、分割領域606の順にジッタを計測す
る。これは、分割領域をさらに分割していく各段階にお
いても5つの分割領域602、603、604、605
および606と同じ位置関係を有する5つの分割領域を
設定し、同様な順番で測定する。このように測定する分
割領域に対する測定の順番を一定にしておけば、同一の
演算モジュールによる繰り返し処理で実行することがで
きるから、μコードやファームウエアの処理が簡単にな
る。
の分割領域602、603、604、605および60
6で構成されている。まず分割領域602におけるジッ
タを計測し、次に分割領域603、分割領域604、分
割領域605、分割領域606の順にジッタを計測す
る。これは、分割領域をさらに分割していく各段階にお
いても5つの分割領域602、603、604、605
および606と同じ位置関係を有する5つの分割領域を
設定し、同様な順番で測定する。このように測定する分
割領域に対する測定の順番を一定にしておけば、同一の
演算モジュールによる繰り返し処理で実行することがで
きるから、μコードやファームウエアの処理が簡単にな
る。
【0081】前述した最小ジッタ探索では、理想的には
波形等化回路の遮断周波数FCとブースト量BSTの分
解能性能ぎりぎりまで、領域の分割を繰り返して精密に
探査していくことが好ましいが、ジッタの検出感度が波
形等化回路の遮断周波数FCとブースト量BSTの分解
能よりも低い場合には、この方法は余分な時間がかかる
ので好ましくない。そこで、ジッタ計測が5つのジッタ
測定点で終了した時点で、測定されたジッタの値が所定
の設定値JH以下になった場合に最小ジッタ探査を終了
するようにすれば、アルゴリズムの短縮を図ることがで
きる。
波形等化回路の遮断周波数FCとブースト量BSTの分
解能性能ぎりぎりまで、領域の分割を繰り返して精密に
探査していくことが好ましいが、ジッタの検出感度が波
形等化回路の遮断周波数FCとブースト量BSTの分解
能よりも低い場合には、この方法は余分な時間がかかる
ので好ましくない。そこで、ジッタ計測が5つのジッタ
測定点で終了した時点で、測定されたジッタの値が所定
の設定値JH以下になった場合に最小ジッタ探査を終了
するようにすれば、アルゴリズムの短縮を図ることがで
きる。
【0082】図8にこの最小ジッタ探査のフローチャー
トを示す。図5を参照して前述した実施の形態1に係る
最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートに含
まれるステップと同一のステップには同一の参照符号を
付している。これらのステップの詳細な説明は省略す
る。
トを示す。図5を参照して前述した実施の形態1に係る
最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートに含
まれるステップと同一のステップには同一の参照符号を
付している。これらのステップの詳細な説明は省略す
る。
【0083】図5を参照して前述した実施の形態1に係
る最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートと
異なる点は、ステップ509の代わりに5つのジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8で測定されたジ
ッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の設定値
JH以下であるか否かを判定するステップ901を実行
する点である。5つのジッタ測定点J4、J5、J6、
J7およびJ8で測定されたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度に対応する所定の設定値JH以下でないと判
定された場合には(ステップ901でNO)、ステップ
505へ戻る。5つのジッタ測定点J4、J5、J6、
J7およびJ8で測定できたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度を表す所定の設定値JH以下であると判定さ
れた場合には(ステップ901でYES)、5つのジッ
タ測定点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち計測
したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即
ち遮断周波数FCとブースト値BSTとを設定する(ス
テップ510)。
る最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートと
異なる点は、ステップ509の代わりに5つのジッタ測
定点J4、J5、J6、J7およびJ8で測定されたジ
ッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の設定値
JH以下であるか否かを判定するステップ901を実行
する点である。5つのジッタ測定点J4、J5、J6、
J7およびJ8で測定されたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度に対応する所定の設定値JH以下でないと判
定された場合には(ステップ901でNO)、ステップ
505へ戻る。5つのジッタ測定点J4、J5、J6、
J7およびJ8で測定できたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度を表す所定の設定値JH以下であると判定さ
れた場合には(ステップ901でYES)、5つのジッ
タ測定点J4、J5、J6、J7およびJ8のうち計測
したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即
ち遮断周波数FCとブースト値BSTとを設定する(ス
テップ510)。
【0084】所定の設定値JHは上記したジッタ検出感
度に基づいて設定することができる。このように最小ジ
ッタ探査を特定の収束条件で終了することにより、探査
時間の短縮を図ることができる。
度に基づいて設定することができる。このように最小ジ
ッタ探査を特定の収束条件で終了することにより、探査
時間の短縮を図ることができる。
【0085】図9は、実施の形態1に係る他の光ディス
ク装置200の構成を説明するためのブロック図を示
す。図1を参照して前述した光ディスク装置100に含
まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を
付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略す
る。
ク装置200の構成を説明するためのブロック図を示
す。図1を参照して前述した光ディスク装置100に含
まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を
付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略す
る。
【0086】図9を参照して、ジッタが最小になる最適
な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する他
の構成として、波形等化回路4の周波数帯毎の群遅延量
すなわち高い周波数域(高域)における群遅延量と低い
周波数域(低域)のおける群遅延量とを可変な構成と
し、高い周波数域(高域)における群遅延量と低い周波
数域(低域)のおける群遅延量との最適な組み合わせを
決定する方法を実現する構成を説明する。
な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する他
の構成として、波形等化回路4の周波数帯毎の群遅延量
すなわち高い周波数域(高域)における群遅延量と低い
周波数域(低域)のおける群遅延量とを可変な構成と
し、高い周波数域(高域)における群遅延量と低い周波
数域(低域)のおける群遅延量との最適な組み合わせを
決定する方法を実現する構成を説明する。
【0087】光ディスク装置200に含まれる最小値ジ
ッタ探査部6Aが実行する最小ジッタ探査方法について
説明をするために、まず群遅延量とジッタとの間の関係
について述べる。
ッタ探査部6Aが実行する最小ジッタ探査方法について
説明をするために、まず群遅延量とジッタとの間の関係
について述べる。
【0088】波形等化する際に、周波数に対する位相の
変化により定義される群遅延量(群遅延量の単位は時
間)は、波形等化する信号の周波数帯域のうちの相対的
に低い側に対応する低域群遅延量GDLと相対的に低い
側に対応する高域群遅延量GDHとを含む。低域群遅延
量GDLと高域群遅延量GDHとはそれぞれを可変でき
るように構成しておく。群遅延特性を表す群遅延量は、
多段のフィルタで構成した場合には、所望の特性が得ら
れるように、いずれかのフィルタ部の特性を可変するこ
とにより決定でき、また、FIR (Finite I
mpulse Response) フィルタで構成す
る場合には、各タップ係数を可変することにより群遅延
特性を決定することができる。
変化により定義される群遅延量(群遅延量の単位は時
間)は、波形等化する信号の周波数帯域のうちの相対的
に低い側に対応する低域群遅延量GDLと相対的に低い
側に対応する高域群遅延量GDHとを含む。低域群遅延
量GDLと高域群遅延量GDHとはそれぞれを可変でき
るように構成しておく。群遅延特性を表す群遅延量は、
多段のフィルタで構成した場合には、所望の特性が得ら
れるように、いずれかのフィルタ部の特性を可変するこ
とにより決定でき、また、FIR (Finite I
mpulse Response) フィルタで構成す
る場合には、各タップ係数を可変することにより群遅延
特性を決定することができる。
【0089】図10に波形等化回路4の群遅延特性を示
す。横軸に周波数、縦軸(左)に利得(点線)、縦軸
(右)に群遅延量を示している。理想的な伝送路の場合
には、波形等化する際の群遅延量は全周波数帯域で同じ
(フラット)になる。もし、伝送路(回路及び回路素子
を含む)に群遅延特性を歪ませる要素が存在するなら
ば、群遅延量を可変した方がより品質の良い信号を得る
ことができる。実際には、どのような伝送路にも、遅延
特性の歪みは存在し、これによる再生信号品質の劣化が
ジッタに現れる。従って、波形等化回路の高域群遅延量
GDH及び低域群遅延量GDLのそれぞれに最適な遅延
量が存在し、高域群遅延量GDH及び低域群遅延量GD
Lの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定すること
が可能となる。
す。横軸に周波数、縦軸(左)に利得(点線)、縦軸
(右)に群遅延量を示している。理想的な伝送路の場合
には、波形等化する際の群遅延量は全周波数帯域で同じ
(フラット)になる。もし、伝送路(回路及び回路素子
を含む)に群遅延特性を歪ませる要素が存在するなら
ば、群遅延量を可変した方がより品質の良い信号を得る
ことができる。実際には、どのような伝送路にも、遅延
特性の歪みは存在し、これによる再生信号品質の劣化が
ジッタに現れる。従って、波形等化回路の高域群遅延量
GDH及び低域群遅延量GDLのそれぞれに最適な遅延
量が存在し、高域群遅延量GDH及び低域群遅延量GD
Lの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定すること
が可能となる。
【0090】図11は、実施の形態1に係る低域遅延量
と高域遅延量とジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。高域群遅延量GDHと低域群遅延量GDLとを可変
した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、図1
1に示すように、図2および図4で前述した遮断周波数
FCとブースト量BSTとで描いたジッタ等高線205
A〜205Dと同様にジッタ等高線205Eで表される
ジッタ特性図を描くことができる。
と高域遅延量とジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。高域群遅延量GDHと低域群遅延量GDLとを可変
した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、図1
1に示すように、図2および図4で前述した遮断周波数
FCとブースト量BSTとで描いたジッタ等高線205
A〜205Dと同様にジッタ等高線205Eで表される
ジッタ特性図を描くことができる。
【0091】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様に高域群遅延量GDHと低域群遅延量GD
Lとを横軸と縦軸とする特性平面上でジッタ最小位置を
求めることにより、最適な群遅延特性を実現する高域群
遅延量GDHと低域群遅延量GDLとを波形等化回路4
に設定することが可能となる。
の場合と同様に高域群遅延量GDHと低域群遅延量GD
Lとを横軸と縦軸とする特性平面上でジッタ最小位置を
求めることにより、最適な群遅延特性を実現する高域群
遅延量GDHと低域群遅延量GDLとを波形等化回路4
に設定することが可能となる。
【0092】図12は、実施の形態1に係るさらに他の
光ディスク装置300の構成を説明するためのブロック
図である。図1を参照して前述した光ディスク装置10
0に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。
光ディスク装置300の構成を説明するためのブロック
図である。図1を参照して前述した光ディスク装置10
0に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。
【0093】図12を参照して、ジッタが最小となる最
適な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ビームの収束状態を所定の状態になるよ
うに制御するフォーカス制御と光ビームが正しくトラッ
ク上を走査するように制御するトラッキング制御手段の
各目標位置(フォーカス位置、トラッキング位置)を可
変な構成とし、フォーカス位置、トラッキング位置の最
適な組み合わせを決定する方法を実現する構成を説明す
る。
適な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ビームの収束状態を所定の状態になるよ
うに制御するフォーカス制御と光ビームが正しくトラッ
ク上を走査するように制御するトラッキング制御手段の
各目標位置(フォーカス位置、トラッキング位置)を可
変な構成とし、フォーカス位置、トラッキング位置の最
適な組み合わせを決定する方法を実現する構成を説明す
る。
【0094】制御装置7Bにはプリアンプ3で生成され
たフォーカスエラー信号FEがバランス回路2203を
介してAD変換されて入力される。制御装置7Bにはプ
リアンプ3で生成されたトラッキングエラー信号TEが
バランス回路2201を介しAD変換されて入力され
る。入力されたフォーカスエラー信号FEは制御装置7
B内のフォーカス制御部10でデジタルフィルタ(不図
示)によって位相補償、ゲイン補償されてDA変換器
(不図示)を介して光ヘッド2に含まれるフォーカス駆
動部(不図示)へ出力される。
たフォーカスエラー信号FEがバランス回路2203を
介してAD変換されて入力される。制御装置7Bにはプ
リアンプ3で生成されたトラッキングエラー信号TEが
バランス回路2201を介しAD変換されて入力され
る。入力されたフォーカスエラー信号FEは制御装置7
B内のフォーカス制御部10でデジタルフィルタ(不図
示)によって位相補償、ゲイン補償されてDA変換器
(不図示)を介して光ヘッド2に含まれるフォーカス駆
動部(不図示)へ出力される。
【0095】また、入力されたトラッキングエラー信号
TEは制御装置7B内のトラッキング制御部12でデジ
タルフィルタ(不図示)によって位相補償、ゲイン補償
されてDA変換器(不図示)を介して光ヘッド2に含ま
れるトラッキング駆動部(不図示)へ出力される。
TEは制御装置7B内のトラッキング制御部12でデジ
タルフィルタ(不図示)によって位相補償、ゲイン補償
されてDA変換器(不図示)を介して光ヘッド2に含ま
れるトラッキング駆動部(不図示)へ出力される。
【0096】ここでジッタ検出部5より入力されたジッ
タが、最小になるように、フォーカス制御部10からの
出力を受け取る合成回路11および、トラッキング制御
部12からの出力を受け取る合成回路2202に加える
べきオフセット、すなわちフォーカス位置、トラッキン
グ位置の設定値を最小値ジッタ探査部6Bで探査する。
これによってフォーカス位置と、トラッキング位置とを
可変した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、
図13に示すように、図2および図4で前述した遮断周
波数FCとブースト量BSTとで描いたジッタ等高線2
05A〜205Dと同様にジッタ等高線205Fで表さ
れるジッタ特性図を描くことができる。
タが、最小になるように、フォーカス制御部10からの
出力を受け取る合成回路11および、トラッキング制御
部12からの出力を受け取る合成回路2202に加える
べきオフセット、すなわちフォーカス位置、トラッキン
グ位置の設定値を最小値ジッタ探査部6Bで探査する。
これによってフォーカス位置と、トラッキング位置とを
可変した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、
図13に示すように、図2および図4で前述した遮断周
波数FCとブースト量BSTとで描いたジッタ等高線2
05A〜205Dと同様にジッタ等高線205Fで表さ
れるジッタ特性図を描くことができる。
【0097】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様にトラッキング位置を横軸としフォーカス
位置を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求めるこ
とにより、最適なフォーカス位置、トラッキング位置を
設定することが可能となる。上記説明では、フォーカス
位置、トラッキング位置を可変する構成として、制御装
置7B内部のフォーカス制御部10からの信号、トラッ
キング制御部12からの信号にデジタル的なオフセット
を印加する場合を示したが、図12中点線で示すように
フォーカスエラー信号FEを受け取るバランス回路22
03の出力およびトラッキングエラー信号TEを受け取
るバランス回路2201の出力を変化させることで実現
することもできる。
の場合と同様にトラッキング位置を横軸としフォーカス
位置を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求めるこ
とにより、最適なフォーカス位置、トラッキング位置を
設定することが可能となる。上記説明では、フォーカス
位置、トラッキング位置を可変する構成として、制御装
置7B内部のフォーカス制御部10からの信号、トラッ
キング制御部12からの信号にデジタル的なオフセット
を印加する場合を示したが、図12中点線で示すように
フォーカスエラー信号FEを受け取るバランス回路22
03の出力およびトラッキングエラー信号TEを受け取
るバランス回路2201の出力を変化させることで実現
することもできる。
【0098】図14は、実施の形態1に係るさらに他の
光ディスク装置400の構成を説明するためのブロック
図である。図1を参照して前述した光ディスク装置10
0に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。
光ディスク装置400の構成を説明するためのブロック
図である。図1を参照して前述した光ディスク装置10
0に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。
【0099】図14を参照して、ジッタが最小となる最
適な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ディスク1のラジアル方向のラジアルチ
ルトとタンジェンシャル方向のタンジェンシャルチルト
を補正可能な構成とし、光ディスク1のラジアルチルト
の補正値(調整値)とタンジェンシャルチルトとの補正
値(調整値)の最適な組み合わせを決定する方法を実現
する構成を説明する。
適な変数X、Yの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ディスク1のラジアル方向のラジアルチ
ルトとタンジェンシャル方向のタンジェンシャルチルト
を補正可能な構成とし、光ディスク1のラジアルチルト
の補正値(調整値)とタンジェンシャルチルトとの補正
値(調整値)の最適な組み合わせを決定する方法を実現
する構成を説明する。
【0100】図15は、実施の形態1に係るチルト座標
系を説明するための模式図である。図15では、光ディ
スク1と光ディスク1上のトラック1802及び座標系
を示している。ディスク半径方向をX軸、ディスク上の
トラック走査方向をY軸とし、ディスク面に垂直方向を
Z軸としている。光ビームのトラック走査方向はY軸方
向とする。いま、z軸に沿って光ビームが照射している
ものとすると、図15に示すように、光ビーム照射軸が
XZ平面内で傾いた場合をラジアルチルトθrが生じて
いるとし、光ビーム照射軸がYZ平面内で傾いた場合を
タンジェンシャルチルトθtが生じているとする。
系を説明するための模式図である。図15では、光ディ
スク1と光ディスク1上のトラック1802及び座標系
を示している。ディスク半径方向をX軸、ディスク上の
トラック走査方向をY軸とし、ディスク面に垂直方向を
Z軸としている。光ビームのトラック走査方向はY軸方
向とする。いま、z軸に沿って光ビームが照射している
ものとすると、図15に示すように、光ビーム照射軸が
XZ平面内で傾いた場合をラジアルチルトθrが生じて
いるとし、光ビーム照射軸がYZ平面内で傾いた場合を
タンジェンシャルチルトθtが生じているとする。
【0101】図14には、図15に示すラジアルチルト
θr及びタンジェンシャルチルトθtを変化させる構成
を示す。ラジアルチルト制御部1901とタンジェンシ
ャルチルト制御部1902とを制御装置7Cに設けるこ
とによりラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチル
トθtを変化させることができる。実際にラジアルチル
トθr及びタンジェンシャルチルトθtを変化させる手
法としては、機械的に光ヘッド2全体を傾けることによ
り、ラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチルトθ
tを生じさせるものや、光学的に光の進路を可変し、光
ビーム照射軸を傾けラジアルチルトθr及びタンジェン
シャルチルトθtを生じさせる手法などがあげられる
が、これらの手法により、限定されるものではない。ラ
ジアルチルトθr及びタンジェンシャルチルトθtのう
ちの一方、もしくは両方が変化した場合には、光ディス
ク1上での光ビームの分布が歪んでしまい、従って、ジ
ッタが劣化する。ラジアルチルトθr及びタンジェンシ
ャルチルトθtのどちらに関しても、最適なチルト量が
存在し、ラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチル
トθtの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定する
ことが可能となる。
θr及びタンジェンシャルチルトθtを変化させる構成
を示す。ラジアルチルト制御部1901とタンジェンシ
ャルチルト制御部1902とを制御装置7Cに設けるこ
とによりラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチル
トθtを変化させることができる。実際にラジアルチル
トθr及びタンジェンシャルチルトθtを変化させる手
法としては、機械的に光ヘッド2全体を傾けることによ
り、ラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチルトθ
tを生じさせるものや、光学的に光の進路を可変し、光
ビーム照射軸を傾けラジアルチルトθr及びタンジェン
シャルチルトθtを生じさせる手法などがあげられる
が、これらの手法により、限定されるものではない。ラ
ジアルチルトθr及びタンジェンシャルチルトθtのう
ちの一方、もしくは両方が変化した場合には、光ディス
ク1上での光ビームの分布が歪んでしまい、従って、ジ
ッタが劣化する。ラジアルチルトθr及びタンジェンシ
ャルチルトθtのどちらに関しても、最適なチルト量が
存在し、ラジアルチルトθr及びタンジェンシャルチル
トθtの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定する
ことが可能となる。
【0102】ラジアルチルトθr及びタンジェンシャル
チルトθtを可変した時に同じジッタを示すポイントを
結線すると、図16に示すように、図2および図4で前
述した遮断周波数FCとブースト量BSTとで描いたジ
ッタ等高線205A〜205Dと同様にジッタ等高線2
05Gで表されるジッタ特性図を描くことができる。
チルトθtを可変した時に同じジッタを示すポイントを
結線すると、図16に示すように、図2および図4で前
述した遮断周波数FCとブースト量BSTとで描いたジ
ッタ等高線205A〜205Dと同様にジッタ等高線2
05Gで表されるジッタ特性図を描くことができる。
【0103】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様にラジアルチルトθrを横軸としタンジェ
ンシャルチルトθtを縦軸とする特性平面でジッタ最小
位置を求めることにより、最適なラジアルチルトθr及
びタンジェンシャルチルトθtを設定することが可能と
なる。実際のチルト補正操作は液晶による補正やチルト
アクチュエータで行うのが一般的であるが、本発明はそ
のチルトの操作部の構成によっては限定されない。
の場合と同様にラジアルチルトθrを横軸としタンジェ
ンシャルチルトθtを縦軸とする特性平面でジッタ最小
位置を求めることにより、最適なラジアルチルトθr及
びタンジェンシャルチルトθtを設定することが可能と
なる。実際のチルト補正操作は液晶による補正やチルト
アクチュエータで行うのが一般的であるが、本発明はそ
のチルトの操作部の構成によっては限定されない。
【0104】(実施の形態2)実施の形態2は、実施の
形態1を種々のディスクを再生する装置に適応するため
のものである。装填されたディスクの種別を判別し、判
別したディスクの種別に応じて、ジッタを可変し得る変
数として、遮断周波数FCを変数X、ブースト量BST
を変数YとしたXY平面上の初期領域を分割した各分割
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割
領域を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返
し求めていくことで、最適な変数X、Yの組み合わせを
装填されたディスクの種別毎に速やかに決定する方法を
実現する構成である。
形態1を種々のディスクを再生する装置に適応するため
のものである。装填されたディスクの種別を判別し、判
別したディスクの種別に応じて、ジッタを可変し得る変
数として、遮断周波数FCを変数X、ブースト量BST
を変数YとしたXY平面上の初期領域を分割した各分割
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割
領域を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返
し求めていくことで、最適な変数X、Yの組み合わせを
装填されたディスクの種別毎に速やかに決定する方法を
実現する構成である。
【0105】ここでは説明を分かりやすくするため遮断
周波数FCとブースト量BSTの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図17は、実
施の形態2に係る光ディスク装置500の構成を説明す
るためのブロック図である。図1を参照して前述した光
ディスク装置100に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。
周波数FCとブースト量BSTの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図17は、実
施の形態2に係る光ディスク装置500の構成を説明す
るためのブロック図である。図1を参照して前述した光
ディスク装置100に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。
【0106】光ディスク装置100は、半導体レーザな
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド2か
ら出力される光ディスク1からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4と、
波形等化回路4によって波形等化された再生信号をパル
ス化する2値化回路13と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ3に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド2を
制御する制御部7Dとを備える。
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド2か
ら出力される光ディスク1からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4と、
波形等化回路4によって波形等化された再生信号をパル
ス化する2値化回路13と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ3に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド2を
制御する制御部7Dとを備える。
【0107】制御部7Dは、ジッタ検出回路5によって
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部6Dと、振幅検出回路8によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から
照射される光ビームが光ディスク1上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォ
ーカス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部10からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路11とを含む。制御部7Dは、ディスク判
別部20をさらに備える。
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部6Dと、振幅検出回路8によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から
照射される光ビームが光ディスク1上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォ
ーカス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部10からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路11とを含む。制御部7Dは、ディスク判
別部20をさらに備える。
【0108】ディスク判別部20は、振幅検出回路8か
ら得られた光ディスク1の反射ビームに応じた信号の振
幅すなわちRF信号振幅を測定し、その測定したRF信
号を所定の判定レベルと比較することで、装填された光
ディスク1の種類を判別して、そのディスクの種類に応
じて、最小ジッタ領域探索部6Dの処理を切り換える。
ら得られた光ディスク1の反射ビームに応じた信号の振
幅すなわちRF信号振幅を測定し、その測定したRF信
号を所定の判定レベルと比較することで、装填された光
ディスク1の種類を判別して、そのディスクの種類に応
じて、最小ジッタ領域探索部6Dの処理を切り換える。
【0109】本発明は、再生するディスクの種類には限
定されないが、少なくとも2種類以上の反射率や密度、
容量の違うディスクを再生する光ディスク装置のための
ものである。よって説明を分かりやすくするために、例
えば(表1)に示す種類のディスクを再生するものとす
る。
定されないが、少なくとも2種類以上の反射率や密度、
容量の違うディスクを再生する光ディスク装置のための
ものである。よって説明を分かりやすくするために、例
えば(表1)に示す種類のディスクを再生するものとす
る。
【0110】
【表1】 装着するディスクの反射率の差異に応じて、フォーカス
制御部10を動作させる前に光ヘッド2を光ディスク1
に接近離間させると、光ビームスポットが光ディスク1
上に合焦したところで図18に示すようにフォーカスエ
ラー信号とRF信号が出力される。
制御部10を動作させる前に光ヘッド2を光ディスク1
に接近離間させると、光ビームスポットが光ディスク1
上に合焦したところで図18に示すようにフォーカスエ
ラー信号とRF信号が出力される。
【0111】振幅検出回路8は、このRF信号の振幅を
エンベロープ検波等により処理し、例えばAD変換器
(不図示)を通してデジタル値として制御部7Dに入力
する。制御装置7Dは入力されたRF振幅をその内部の
ディスク判別部20において、所定の判別レベルと比較
して装填されたディスクがディスクαなのか、ディスク
βなのか、ディスクγなのか、あるいは未装填なのかを
判別する。判別結果は最小値ジッタ探査部6Dへ入力さ
れ、判別結果に応じて探索アルゴリズムを切り換える。
エンベロープ検波等により処理し、例えばAD変換器
(不図示)を通してデジタル値として制御部7Dに入力
する。制御装置7Dは入力されたRF振幅をその内部の
ディスク判別部20において、所定の判別レベルと比較
して装填されたディスクがディスクαなのか、ディスク
βなのか、ディスクγなのか、あるいは未装填なのかを
判別する。判別結果は最小値ジッタ探査部6Dへ入力さ
れ、判別結果に応じて探索アルゴリズムを切り換える。
【0112】次に、この判別結果に応じて切り換える判
別アルゴリズムについて図19(a)、図19(b)お
よび図19(c)を用いて説明する。図19(a)、図
19(b)および図19(c)では、実施の形態1と同
じく横軸に遮断周波数FC、縦軸にブースト量BSTを
とり、簡単化のために遮断周波数FCとブースト量BS
Tの可変幅を8ステップずつとした初期領域Aをディス
ク判別部20の判別結果に基づいて、ジッタ測定点J
0、J1、J2、J3、J4に対応して分割した分割領
域を示したものである。
別アルゴリズムについて図19(a)、図19(b)お
よび図19(c)を用いて説明する。図19(a)、図
19(b)および図19(c)では、実施の形態1と同
じく横軸に遮断周波数FC、縦軸にブースト量BSTを
とり、簡単化のために遮断周波数FCとブースト量BS
Tの可変幅を8ステップずつとした初期領域Aをディス
ク判別部20の判別結果に基づいて、ジッタ測定点J
0、J1、J2、J3、J4に対応して分割した分割領
域を示したものである。
【0113】ディスク判別部20においてディスクαと
判別された場合、ディスクαはチャネルクロックが4M
Hzと3種類のディスクの中で一番低速の再生速度であ
る。よって初期領域Aを遮断周波数FCの低い側の1/
4の領域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に分割さ
れた分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作る。これ
ら4つの分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4において
ジッタを計測するジッタ計測点としてJ1、J2、J3
およびJ4の4点が決定される。次にこの4点において
ジッタを計測し、4つの領域Z1、Z2、Z3およびZ
4のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、4点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。
判別された場合、ディスクαはチャネルクロックが4M
Hzと3種類のディスクの中で一番低速の再生速度であ
る。よって初期領域Aを遮断周波数FCの低い側の1/
4の領域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に分割さ
れた分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作る。これ
ら4つの分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4において
ジッタを計測するジッタ計測点としてJ1、J2、J3
およびJ4の4点が決定される。次にこの4点において
ジッタを計測し、4つの領域Z1、Z2、Z3およびZ
4のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、4点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。
【0114】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
【0115】領域Zにおけるジッタ特性は、図4に示さ
れるものとすると、上記5つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はJ3となり、J3に対応した遮断周波数F
Cとブースト量BSTを設定することにより、ディスク
αにおける波形等化回路4の周波数特性の最適化が完了
する。
れるものとすると、上記5つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はJ3となり、J3に対応した遮断周波数F
Cとブースト量BSTを設定することにより、ディスク
αにおける波形等化回路4の周波数特性の最適化が完了
する。
【0116】同様にディスク判別部20においてディス
クβと判別された場合、ディスクβはチャネルクロック
が27MHzと3種類のディスクの中で2番目の再生速
度である。よって図19(b)に示すように初期領域A
を遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1/4の領域
Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分割した分割
領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る。これら4つの
分割領域Y1、Y2、Y3およびY4においてジッタ計
測点としてJ1、J2、J3およびJ4の4点が決定さ
れる。次にこの4点においてジッタを計測し、4つの領
域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、4点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。
クβと判別された場合、ディスクβはチャネルクロック
が27MHzと3種類のディスクの中で2番目の再生速
度である。よって図19(b)に示すように初期領域A
を遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1/4の領域
Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分割した分割
領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る。これら4つの
分割領域Y1、Y2、Y3およびY4においてジッタ計
測点としてJ1、J2、J3およびJ4の4点が決定さ
れる。次にこの4点においてジッタを計測し、4つの領
域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、4点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。
【0117】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
【0118】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J3とすると、ジッタ計測点J3に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、ディスクβにおける波形等化回路4の周波数特
性の最適化が完了する。
はジッタ計測点J3とすると、ジッタ計測点J3に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、ディスクβにおける波形等化回路4の周波数特
性の最適化が完了する。
【0119】同様にディスク判別部20においてディス
クγと判別された場合、ディスクγはチャネルクロック
が29MHzと3種類のディスクの中で最速の再生速度
である。よって初期領域Aを遮断周波数FCの最も高い
側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量BSTの値2
で分割する分割領域X1、X2、X3およびX4を作
る。これら4つの分割領域X1、X2、X3およびX4
においてジッタ計測点としてJ1、J2、J3、J4の
4点が決定される。次にこの4点においてジッタを計測
し、4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。
クγと判別された場合、ディスクγはチャネルクロック
が29MHzと3種類のディスクの中で最速の再生速度
である。よって初期領域Aを遮断周波数FCの最も高い
側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量BSTの値2
で分割する分割領域X1、X2、X3およびX4を作
る。これら4つの分割領域X1、X2、X3およびX4
においてジッタ計測点としてJ1、J2、J3、J4の
4点が決定される。次にこの4点においてジッタを計測
し、4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。
【0120】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0を代表点として、J0におけるジッタも計測し、上記
5つの計測値が同じであった場合には、計測点J0での
遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値として決定
する。
0を代表点として、J0におけるジッタも計測し、上記
5つの計測値が同じであった場合には、計測点J0での
遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値として決定
する。
【0121】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J2とすると、ジッタ計測点J2に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、ディスクγにおける波形等化回路4の周波数特
性の最適化が完了する。この実施の形態2の制御部7D
における処理の流れを図20に示す。
はジッタ計測点J2とすると、ジッタ計測点J2に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、ディスクγにおける波形等化回路4の周波数特
性の最適化が完了する。この実施の形態2の制御部7D
における処理の流れを図20に示す。
【0122】ディスク判別部20はディスクの種類を判
別する(ステップ1201)。ディスク判別部20にお
いてディスクαと判別された場合には、初期領域Aを遮
断周波数FCの低い側の1/4の領域Zにおいて、ブー
スト量BSTが2毎に分割された分割領域Z1、Z2、
Z3およびZ4を作る(ステップ1202)。ディスク
判別部20においてディスクβと判別された場合には、
初期領域Aを遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1
/4の領域Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分
割した分割領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る(ス
テップ1203)。ディスク判別部20においてディス
クγと判別された場合には、初期領域Aを遮断周波数F
Cの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量
BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、X3およ
びX4を作る(ステップ1204)。
別する(ステップ1201)。ディスク判別部20にお
いてディスクαと判別された場合には、初期領域Aを遮
断周波数FCの低い側の1/4の領域Zにおいて、ブー
スト量BSTが2毎に分割された分割領域Z1、Z2、
Z3およびZ4を作る(ステップ1202)。ディスク
判別部20においてディスクβと判別された場合には、
初期領域Aを遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1
/4の領域Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分
割した分割領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る(ス
テップ1203)。ディスク判別部20においてディス
クγと判別された場合には、初期領域Aを遮断周波数F
Cの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量
BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、X3およ
びX4を作る(ステップ1204)。
【0123】4つの分割領域においてジッタを計測する
ジッタ計測点を決定し、等価量(遮断周波数およびブー
スト量)を設定する(ステップ1205)。5つのジッ
タ計測点J0、J1、J2、J3およびJ4においてジ
ッタを計測する(ステップ1206)。5つのジッタ測
定点J0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点を決定する(ステップ
1207)。
ジッタ計測点を決定し、等価量(遮断周波数およびブー
スト量)を設定する(ステップ1205)。5つのジッ
タ計測点J0、J1、J2、J3およびJ4においてジ
ッタを計測する(ステップ1206)。5つのジッタ測
定点J0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点を決定する(ステップ
1207)。
【0124】ジッタ計測点J0とジッタ計測点J2およ
びJ3との間の幅が1となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する(ステップ1208)。ジッタ計測
点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には(ステ
ップ1208でNO)、ステップ1205へ戻る。ジッ
タ計測点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
(ステップ1208でYES)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ12
09)。
びJ3との間の幅が1となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する(ステップ1208)。ジッタ計測
点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には(ステ
ップ1208でNO)、ステップ1205へ戻る。ジッ
タ計測点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
(ステップ1208でYES)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ12
09)。
【0125】以上のようにディスク判別部20で判別し
たディスクの種類に応じて、探索を開始する分割領域を
限定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定で
き、最適な波形等化器の設定を行うことができる。
たディスクの種類に応じて、探索を開始する分割領域を
限定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定で
き、最適な波形等化器の設定を行うことができる。
【0126】また実施の形態1で説明したように、ジッ
タを可変し得る変数XYとして、遮断周波数FCとブー
スト量BST以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルトとタンジェ
ンシャルチルトを適応した構成を実現することが可能で
あるが、構成、方法は同様であるので説明を省略する。
タを可変し得る変数XYとして、遮断周波数FCとブー
スト量BST以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルトとタンジェ
ンシャルチルトを適応した構成を実現することが可能で
あるが、構成、方法は同様であるので説明を省略する。
【0127】(実施の形態3)実施の形態3は、実施の
形態1をディスクの再生速度が可変する装置、例えばC
AV再生の装置に適応するためのものである。装置が起
動し、ディスク上から得られたアドレス情報あるいはデ
ィスクから得られるデータ周波数に基づいて、ジッタを
可変し得る変数として、遮断周波数FCを変数X、ブー
スト量BSTを変数YとしたXY平面を所定の範囲の領
域で限定をかけ、その初期領域を分割した各分割領域で
ジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割領域を
小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求め
ていくことで、最適な変数X、Yの組み合わせを求め、
ディスクの内周と外周とで光ディスクの回転数をダイナ
ミックに切り換えるとき、各再生速度で最適な波形等化
器の周波数特性を決定する方法を実現する構成である。
形態1をディスクの再生速度が可変する装置、例えばC
AV再生の装置に適応するためのものである。装置が起
動し、ディスク上から得られたアドレス情報あるいはデ
ィスクから得られるデータ周波数に基づいて、ジッタを
可変し得る変数として、遮断周波数FCを変数X、ブー
スト量BSTを変数YとしたXY平面を所定の範囲の領
域で限定をかけ、その初期領域を分割した各分割領域で
ジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割領域を
小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求め
ていくことで、最適な変数X、Yの組み合わせを求め、
ディスクの内周と外周とで光ディスクの回転数をダイナ
ミックに切り換えるとき、各再生速度で最適な波形等化
器の周波数特性を決定する方法を実現する構成である。
【0128】ここでは説明を分かりやすくするため遮断
周波数FCとブースト量BSTの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図21は、実
施の形態3に係る光ディスク装置600の構成を説明す
るためのブロック図である。図1を参照して前述した光
ディスク装置100に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。
周波数FCとブースト量BSTの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図21は、実
施の形態3に係る光ディスク装置600の構成を説明す
るためのブロック図である。図1を参照して前述した光
ディスク装置100に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。
【0129】光ディスク装置600は、半導体レーザな
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド2か
ら出力される光ディスク1からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4と、
波形等化回路4によって波形等化された再生信号をパル
ス化する2値化回路13と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ3に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド2を
制御する制御部7Eとを備える。
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク1上に収束照射する光ヘッド2と、光ヘッド2か
ら出力される光ディスク1からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ3と、プリアンプ3によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路4と、
波形等化回路4によって波形等化された再生信号をパル
ス化する2値化回路13と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路5と、プリアンプ3に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路8と、光ヘッド2から光ディスク1上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド2を
制御する制御部7Eとを備える。
【0130】制御部7Eは、ジッタ検出回路5によって
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部6Eと、振幅検出回路8によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から
照射される光ビームが光ディスク1上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォ
ーカス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部10からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路11とを含む。
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部6Eと、振幅検出回路8によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部9と、光ヘッド2から照射される光ビームが光デ
ィスク1上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部10と、光ヘッド2から
照射される光ビームが光ディスク1上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部12と、最大振幅探査部9からの信号をフォ
ーカス制御部10からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部10からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路11とを含む。
【0131】光ディスク装置100は、2値化回路13
の出力に基づいて再生信号の再生速度を検出する再生速
度検出部30をさらに備える。再生速度検出部30は、
2値化回路13から入力されたデータ信号の周期(周波
数)を検出し、光ディスク1上の光ビームが走査してい
るトラックでの再生信号の再生速度を算出する。具体的
には種々な算出方法があるが、例えば記録フォーマット
上最長マークの周期を検出する。あるいは最短マークの
周期を検出することで再生信号の再生速度を一意に算出
することができる。算出された再生速度を表すデータ
は、制御装置7Eに入力される。制御装置7Eは、この
入力された再生速度を表すデータに基づいて、最小ジッ
タ探査部6Eの処理を切り換える。
の出力に基づいて再生信号の再生速度を検出する再生速
度検出部30をさらに備える。再生速度検出部30は、
2値化回路13から入力されたデータ信号の周期(周波
数)を検出し、光ディスク1上の光ビームが走査してい
るトラックでの再生信号の再生速度を算出する。具体的
には種々な算出方法があるが、例えば記録フォーマット
上最長マークの周期を検出する。あるいは最短マークの
周期を検出することで再生信号の再生速度を一意に算出
することができる。算出された再生速度を表すデータ
は、制御装置7Eに入力される。制御装置7Eは、この
入力された再生速度を表すデータに基づいて、最小ジッ
タ探査部6Eの処理を切り換える。
【0132】再生速度は、CAV再生の場合は内周と外
周とのアクセスの間で最大約2.5倍変化する。例えば
内周チャネルクロック27MHzであれば外周チャネル
クロックは約27×2.5=57.5MHzとなる。ま
た、光ディスク装置の設定により例えばCDのオーディ
オ再生では1倍速再生、ROMの読み取りは40倍速
(内周16倍速)といったように使用状態に応じてCD
のオーディオ再生のモードとROMの読み取りのモード
とを切り換えることで16倍変化することもある。よっ
て信号周波数もその倍率分変動するので、波形等化器で
の遮断周波数FCの設定範囲は、再生速度に応じて決定
することができる。よって再生速度を表すデータに応じ
て波形等化器の遮断周波数FCとブースト量BSTで定
義される領域を限定することができるので、遮断周波数
FCとブースト量BSTとの速やかな設定が可能とな
る。
周とのアクセスの間で最大約2.5倍変化する。例えば
内周チャネルクロック27MHzであれば外周チャネル
クロックは約27×2.5=57.5MHzとなる。ま
た、光ディスク装置の設定により例えばCDのオーディ
オ再生では1倍速再生、ROMの読み取りは40倍速
(内周16倍速)といったように使用状態に応じてCD
のオーディオ再生のモードとROMの読み取りのモード
とを切り換えることで16倍変化することもある。よっ
て信号周波数もその倍率分変動するので、波形等化器で
の遮断周波数FCの設定範囲は、再生速度に応じて決定
することができる。よって再生速度を表すデータに応じ
て波形等化器の遮断周波数FCとブースト量BSTで定
義される領域を限定することができるので、遮断周波数
FCとブースト量BSTとの速やかな設定が可能とな
る。
【0133】図22(a)、図22(b)および図22
(c)は、実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図である。図22
(a)、図22(b)および図22(c)では、実施の
形態1と同じく横軸を遮断周波数FC、縦軸をブースト
量BSTをとり、簡単化のために遮断周波数FCとブー
スト量BSTの可変幅を8ステップずつとした初期領域
Aを再生速度検出回路30の検出結果に基づいて、ジッ
タ測定点J0、J1、J2、J3、J4に対応して分割
した分割領域を示したものである。説明を分かりやすく
するためディスクの内周(チャネルクロック27MH
z)、中周(チャネルクロック43MHz)、外周(チ
ャネルクロック57.5MHz)の3カ所で波形等化器
を最適に設定するためのアルゴリズムの切換について説
明する。
(c)は、実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図である。図22
(a)、図22(b)および図22(c)では、実施の
形態1と同じく横軸を遮断周波数FC、縦軸をブースト
量BSTをとり、簡単化のために遮断周波数FCとブー
スト量BSTの可変幅を8ステップずつとした初期領域
Aを再生速度検出回路30の検出結果に基づいて、ジッ
タ測定点J0、J1、J2、J3、J4に対応して分割
した分割領域を示したものである。説明を分かりやすく
するためディスクの内周(チャネルクロック27MH
z)、中周(チャネルクロック43MHz)、外周(チ
ャネルクロック57.5MHz)の3カ所で波形等化器
を最適に設定するためのアルゴリズムの切換について説
明する。
【0134】再生速度検出部30において、例えばチャ
ネルクロック27MHz、最高周波数4.5MHzの再
生速度と検出された場合、内周の低い再生速度と判定で
きる。この結果、初期領域Aを遮断周波数FCの低い側
の1/4の領域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に
分割された分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作
る。これら4つの領域Z1、Z2、Z3およびZ4にお
いてジッタ計測点としてJ1、J2、J3およびJ4の
4点が決定される。次にこの4点においてジッタを計測
し、4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。
ネルクロック27MHz、最高周波数4.5MHzの再
生速度と検出された場合、内周の低い再生速度と判定で
きる。この結果、初期領域Aを遮断周波数FCの低い側
の1/4の領域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に
分割された分割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作
る。これら4つの領域Z1、Z2、Z3およびZ4にお
いてジッタ計測点としてJ1、J2、J3およびJ4の
4点が決定される。次にこの4点においてジッタを計測
し、4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。
【0135】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ計測点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
0をジッタ計測点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
【0136】領域Zにおけるジッタ特性は、図4に示さ
れるものとすると、上記5つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はJ3となり、J3に対応した遮断周波数F
Cとブースト量BSTを設定することにより、内周にお
ける波形等化回路4の周波数特性の最適化が完了する。
れるものとすると、上記5つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はJ3となり、J3に対応した遮断周波数F
Cとブースト量BSTを設定することにより、内周にお
ける波形等化回路4の周波数特性の最適化が完了する。
【0137】同様に再生速度検出部30において、例え
ばチャネルクロック43MHz、最高周波数7.1MH
zとの再生速度と検出された場合、中周の2番目の再生
速度と判定できる。よって図22(b)に示すように初
期領域Aを遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1/
4の領域Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分割
した分割領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る。これ
ら4つの分割領域Y1、Y2、Y3およびY4において
ジッタ計測点としてJ1、J2、J3およびJ4の4点
が決定される。次にこの4点においてジッタを計測し、
4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定す
るのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場合、
最小ジッタ領域が決定できない。
ばチャネルクロック43MHz、最高周波数7.1MH
zとの再生速度と検出された場合、中周の2番目の再生
速度と判定できる。よって図22(b)に示すように初
期領域Aを遮断周波数FCの中心よりやや高い側の1/
4の領域Yにおいて、ブースト量BSTの値2毎に分割
した分割領域Y1、Y2、Y3およびY4を作る。これ
ら4つの分割領域Y1、Y2、Y3およびY4において
ジッタ計測点としてJ1、J2、J3およびJ4の4点
が決定される。次にこの4点においてジッタを計測し、
4つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定す
るのであるが、4点すべてが同じ計測値であった場合、
最小ジッタ領域が決定できない。
【0138】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
0をジッタ測定点として、J0におけるジッタも計測
し、上記5つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点J0での遮断周波数FCとブースト値BSTを最
適値として決定する。
【0139】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J3とすると、ジッタ計測点J3に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、中周における波形等化回路4の周波数特性の最
適化が完了する。
はジッタ計測点J3とすると、ジッタ計測点J3に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、中周における波形等化回路4の周波数特性の最
適化が完了する。
【0140】同様に再生速度検出部30において、例え
ばチャネルクロック67.5MHz、最高周波数11.
25MHzとの再生速度と判別された場合、最速の外周
の再生速度と判定できる。この結果、初期領域Aを遮断
周波数FCの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブ
ースト量BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、
X3およびX4を作る。これら4つの分割領域X1、X
2、X3およびX4においてジッタ計測点としてJ1、
J2、J3、J4の4点が決定される。次にこの4点に
おいてジッタを計測し、4つの領域のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、4点すべてが同
じ計測値であった場合、最小ジッタ領域が決定できな
い。
ばチャネルクロック67.5MHz、最高周波数11.
25MHzとの再生速度と判別された場合、最速の外周
の再生速度と判定できる。この結果、初期領域Aを遮断
周波数FCの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブ
ースト量BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、
X3およびX4を作る。これら4つの分割領域X1、X
2、X3およびX4においてジッタ計測点としてJ1、
J2、J3、J4の4点が決定される。次にこの4点に
おいてジッタを計測し、4つの領域のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、4点すべてが同
じ計測値であった場合、最小ジッタ領域が決定できな
い。
【0141】そこで4領域のセンター(中心)相当のJ
0を代表点として、J0におけるジッタも計測し、上記
5つの計測値が同じであった場合には、計測点J0での
遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値として決定
する。
0を代表点として、J0におけるジッタも計測し、上記
5つの計測値が同じであった場合には、計測点J0での
遮断周波数FCとブースト値BSTを最適値として決定
する。
【0142】上記5つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点J2とすると、ジッタ計測点J2に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、外周における波形等化回路4の周波数特性の最
適化が完了する。この実施の形態3の制御装置7Eにお
ける処理の流れを図23に示す。
はジッタ計測点J2とすると、ジッタ計測点J2に対応
した遮断周波数FCとブースト量BSTを設定すること
により、外周における波形等化回路4の周波数特性の最
適化が完了する。この実施の形態3の制御装置7Eにお
ける処理の流れを図23に示す。
【0143】再生速度検出回路30は再生信号の再生速
度を検出する。(ステップ1501)。再生速度検出回
路30において内周の低い再生速度と判別された場合に
は、初期領域Aを遮断周波数FCの低い側の1/4の領
域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に分割された分
割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作る(ステップ1
502)。再生速度検出回路30において中周の2番目
の再生速度と判別された場合には、初期領域Aを遮断周
波数FCの中心よりやや高い側の1/4の領域Yにおい
て、ブースト量BSTの値2毎に分割した分割領域Y
1、Y2、Y3およびY4を作る(ステップ150
3)。再生速度検出回路30において外周の最速の再生
速度と判別された場合には、初期領域Aを遮断周波数F
Cの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量
BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、X3およ
びX4を作る(ステップ1504)。
度を検出する。(ステップ1501)。再生速度検出回
路30において内周の低い再生速度と判別された場合に
は、初期領域Aを遮断周波数FCの低い側の1/4の領
域Zにおいて、ブースト量BSTが2毎に分割された分
割領域Z1、Z2、Z3およびZ4を作る(ステップ1
502)。再生速度検出回路30において中周の2番目
の再生速度と判別された場合には、初期領域Aを遮断周
波数FCの中心よりやや高い側の1/4の領域Yにおい
て、ブースト量BSTの値2毎に分割した分割領域Y
1、Y2、Y3およびY4を作る(ステップ150
3)。再生速度検出回路30において外周の最速の再生
速度と判別された場合には、初期領域Aを遮断周波数F
Cの最も高い側の1/4の領域Xにおいて、ブースト量
BSTの値2で分割する分割領域X1、X2、X3およ
びX4を作る(ステップ1504)。
【0144】4つの分割領域においてジッタを計測する
ジッタ計測点を決定し、等価量(ブースト量を設定する
(ステップ1505)。5つのジッタ計測点J0、J
1、J2、J3およびJ4においてジッタを計測する
(ステップ1506)。5つのジッタ測定点J0、J
1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタが最小
であるジッタ測定点を決定する(ステップ1507)。
ジッタ計測点を決定し、等価量(ブースト量を設定する
(ステップ1505)。5つのジッタ計測点J0、J
1、J2、J3およびJ4においてジッタを計測する
(ステップ1506)。5つのジッタ測定点J0、J
1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタが最小
であるジッタ測定点を決定する(ステップ1507)。
【0145】ジッタ計測点J0とジッタ計測点J2およ
びJ3との間の幅が1となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する(ステップ1508)。ジッタ計測
点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には(ステ
ップ1508でNO)、ステップ1205へ戻る。ジッ
タ計測点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
(ステップ1508でYES)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ15
09)。
びJ3との間の幅が1となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する(ステップ1508)。ジッタ計測
点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には(ステ
ップ1508でNO)、ステップ1205へ戻る。ジッ
タ計測点J0とジッタ計測点J2およびJ3との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
(ステップ1508でYES)、5つのジッタ測定点J
0、J1、J2、J3およびJ4のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数FCとブースト値BSTとを設定する(ステップ15
09)。
【0146】以上のように再生速度検出回路30で検出
した再生速度に基づいて、探索を開始する初期領域を限
定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定でき、
最適な波形等化器の設定を行うことができる。上記説明
では、内周、中周および外周の3カ所の設定に例をあげ
て説明したが、刻々と変化する再生速度を常時検出し
て、波形等化器の設定値を更新するように構成してもよ
い。
した再生速度に基づいて、探索を開始する初期領域を限
定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定でき、
最適な波形等化器の設定を行うことができる。上記説明
では、内周、中周および外周の3カ所の設定に例をあげ
て説明したが、刻々と変化する再生速度を常時検出し
て、波形等化器の設定値を更新するように構成してもよ
い。
【0147】また実施の形態1で説明したように、ジッ
タを可変し得る変数XYとして、遮断周波数FCとブー
スト量BST以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルト補正量とタ
ンジェンシャルチルト補正量を適応した構成を実現する
ことが可能であるが、構成、方法は同様であるので説明
を省略する。
タを可変し得る変数XYとして、遮断周波数FCとブー
スト量BST以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルト補正量とタ
ンジェンシャルチルト補正量を適応した構成を実現する
ことが可能であるが、構成、方法は同様であるので説明
を省略する。
【0148】また再生速度検出回路30により検出され
る再生速度は再生信号の周期(周波数)を検出するよう
な構成で説明したが、例えば、光ディスク1上に記録さ
れたアドレス情報によって半径位置を算出して、その半
径位置より再生速度を検出してもよい。またコマンド等
によって光ディスク1の目標回転数や、実際に光ディス
ク1を回転させるモータのFG等によっても再生速度は
検出することが可能である。
る再生速度は再生信号の周期(周波数)を検出するよう
な構成で説明したが、例えば、光ディスク1上に記録さ
れたアドレス情報によって半径位置を算出して、その半
径位置より再生速度を検出してもよい。またコマンド等
によって光ディスク1の目標回転数や、実際に光ディス
ク1を回転させるモータのFG等によっても再生速度は
検出することが可能である。
【0149】さらに、実施の形態3において一度内周、
中周、外周あるいは各再生速度モードでの最適な設定値
を決定すれば、その設定値を制御部7E等のメモリに格
納しておき、シークや速度切換のコマンドが来るたび
に、メモリの格納値をロードして波形等化器に設定する
ことができる。再生不能な場合に再度最小ジッタ領域探
索方法を用いて、再設定するように構成することによ
り、波形等化回路性能を一段と向上することができる。
中周、外周あるいは各再生速度モードでの最適な設定値
を決定すれば、その設定値を制御部7E等のメモリに格
納しておき、シークや速度切換のコマンドが来るたび
に、メモリの格納値をロードして波形等化器に設定する
ことができる。再生不能な場合に再度最小ジッタ領域探
索方法を用いて、再設定するように構成することによ
り、波形等化回路性能を一段と向上することができる。
【0150】(実施の形態4)図24は、実施の形態4
に係るPLL回路700の構成を説明するためのブロッ
ク図である。図1を参照して前述した光ディスク装置1
00に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参
照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は
省略する。
に係るPLL回路700の構成を説明するためのブロッ
ク図である。図1を参照して前述した光ディスク装置1
00に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参
照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は
省略する。
【0151】実施の形態4は、実施の形態1をデータス
ライスバランスの回路オフセットを除去するPLL回路
に適用したものである。PLL回路700は、回路オフ
セットを除去する単調信号を発生する基準信号発生回路
2600と、単調信号を2値化する2値化回路13と、
単調信号の信号振幅の中心を2値化することができるよ
うに2値化回路13を設定するデータスライスバランス
設定部2601とクロック信号を生成するクロック信号
生成回路2605と、2値化回路13により2値化され
た信号とクロック信号生成回路2605によって生成さ
れたクロック信号との位相を比較して位相誤差信号を出
力する位相比較部2606と、位相誤差信号を積算する
ジッタ検出回路5と、位相比較部2606によって出力
された位相誤差信号を平均化するチャージポンプ回路2
602と、チャージポンプ回路2602の出力の交流成
分を除去し安定した発振基準電圧をクロック信号生成回
路2605に供給するローパスフィルタ(LPF)26
04と、位相誤差信号の位相ずれを調整する位相調整部
2603と、最小値ジッタ探索部6Fとを備える。
ライスバランスの回路オフセットを除去するPLL回路
に適用したものである。PLL回路700は、回路オフ
セットを除去する単調信号を発生する基準信号発生回路
2600と、単調信号を2値化する2値化回路13と、
単調信号の信号振幅の中心を2値化することができるよ
うに2値化回路13を設定するデータスライスバランス
設定部2601とクロック信号を生成するクロック信号
生成回路2605と、2値化回路13により2値化され
た信号とクロック信号生成回路2605によって生成さ
れたクロック信号との位相を比較して位相誤差信号を出
力する位相比較部2606と、位相誤差信号を積算する
ジッタ検出回路5と、位相比較部2606によって出力
された位相誤差信号を平均化するチャージポンプ回路2
602と、チャージポンプ回路2602の出力の交流成
分を除去し安定した発振基準電圧をクロック信号生成回
路2605に供給するローパスフィルタ(LPF)26
04と、位相誤差信号の位相ずれを調整する位相調整部
2603と、最小値ジッタ探索部6Fとを備える。
【0152】データスライスバランス設定部2601を
説明する。光ディスク上に記録されているマーク若しく
はピットから情報を再生するためには、記録されている
マーク若しくはピットの長さを正確に読取る必要があ
る。そのためには、再生信号の振幅の中心を2値化のた
めのデータスライスレベルとすることが望ましい。マー
ク若しくはピットの長さを正確に読取ることができるか
らである。データスライスレベルは、2値化回路13に
よって2値化された2値化データの正負パルスを積分す
ることによってフィードバック制御することも可能であ
る。しかしながら、データスライスレベルをフィードバ
ック制御したとしても、2値化回路13には一般に回路
オフセットが存在するから、フィードバック制御のみで
は不十分である。従って、データスライスレベルをデー
タスライスバランス設定部2601によって微調整する
必要がある。
説明する。光ディスク上に記録されているマーク若しく
はピットから情報を再生するためには、記録されている
マーク若しくはピットの長さを正確に読取る必要があ
る。そのためには、再生信号の振幅の中心を2値化のた
めのデータスライスレベルとすることが望ましい。マー
ク若しくはピットの長さを正確に読取ることができるか
らである。データスライスレベルは、2値化回路13に
よって2値化された2値化データの正負パルスを積分す
ることによってフィードバック制御することも可能であ
る。しかしながら、データスライスレベルをフィードバ
ック制御したとしても、2値化回路13には一般に回路
オフセットが存在するから、フィードバック制御のみで
は不十分である。従って、データスライスレベルをデー
タスライスバランス設定部2601によって微調整する
必要がある。
【0153】位相調整部2603を説明する。クロック
生成回路2605は、発振基準電圧(制御電圧)に応じ
て可変するクロック信号を生成する、電圧制御型発振回
路である。クロック生成回路2605が受け取る発振基
準電圧(制御電圧)は、2値化回路13により2値化さ
れた信号とクロック信号生成回路2605によって生成
されたクロック信号との位相を比較して位相比較部26
06から出力される位相誤差信号をチャージポンプ回路
2602によって平均化しPLLのループ特性を安定に
するためのローパスフィルタ2604通過させることに
よりクロック生成回路2605へ入力される。
生成回路2605は、発振基準電圧(制御電圧)に応じ
て可変するクロック信号を生成する、電圧制御型発振回
路である。クロック生成回路2605が受け取る発振基
準電圧(制御電圧)は、2値化回路13により2値化さ
れた信号とクロック信号生成回路2605によって生成
されたクロック信号との位相を比較して位相比較部26
06から出力される位相誤差信号をチャージポンプ回路
2602によって平均化しPLLのループ特性を安定に
するためのローパスフィルタ2604通過させることに
よりクロック生成回路2605へ入力される。
【0154】チャージポンプ回路2602は、位相誤差
信号を積分し平均化する。チャージポンプ回路2602
は、2値化回路13により2値化された信号に対するク
ロック信号生成回路2605によって生成されたクロッ
ク信号の進みまたは遅れに基づいて、チャージ電流を増
加または減少させる。しかし、チャージポンプ回路26
02に含まれる集積回路の中に設けられるトランジスタ
の特性の影響によって、チャージポンプ回路2602か
ら出力される出力電流の吸い込み特性と吐き出し特性と
が対称にならず、結果としてチャージポンプ回路260
2から出力される出力電流がアンバランスになる。チャ
ージポンプ回路2602から出力される出力電流がアン
バランスになると、クロック生成回路2605に供給さ
れる発振基準電圧(制御電圧)が変動するから、クロッ
ク信号生成回路2605によって生成されたクロック信
号と2値化回路13により2値化された信号との間に位
相ずれが生じる。
信号を積分し平均化する。チャージポンプ回路2602
は、2値化回路13により2値化された信号に対するク
ロック信号生成回路2605によって生成されたクロッ
ク信号の進みまたは遅れに基づいて、チャージ電流を増
加または減少させる。しかし、チャージポンプ回路26
02に含まれる集積回路の中に設けられるトランジスタ
の特性の影響によって、チャージポンプ回路2602か
ら出力される出力電流の吸い込み特性と吐き出し特性と
が対称にならず、結果としてチャージポンプ回路260
2から出力される出力電流がアンバランスになる。チャ
ージポンプ回路2602から出力される出力電流がアン
バランスになると、クロック生成回路2605に供給さ
れる発振基準電圧(制御電圧)が変動するから、クロッ
ク信号生成回路2605によって生成されたクロック信
号と2値化回路13により2値化された信号との間に位
相ずれが生じる。
【0155】位相調整部2603は、このような位相ず
れを調整する。具体的には位相調整部2603はチャー
ジポンプ回路2602に含まれる出力段における電流バ
ランスを可変することによって、クロック信号生成回路
2605によって生成されたクロック信号と2値化回路
13により2値化された信号との間に位相ずれを調整し
得る。位相調整部2603は、位相調整部2603に含
まれるA/D変換器を用いて電流バランスを可変するこ
とによって、このような位相ずれを調整してもよい。
れを調整する。具体的には位相調整部2603はチャー
ジポンプ回路2602に含まれる出力段における電流バ
ランスを可変することによって、クロック信号生成回路
2605によって生成されたクロック信号と2値化回路
13により2値化された信号との間に位相ずれを調整し
得る。位相調整部2603は、位相調整部2603に含
まれるA/D変換器を用いて電流バランスを可変するこ
とによって、このような位相ずれを調整してもよい。
【0156】このような位相ずれが生じると、再生信号
のジッタが増加するので、再生信号のジッタをモニタし
ながら最適な位相調整量を探査する必要がある。このよ
うに、位相調整部2603が最適に設定されていないた
めに位相ずれが生じると、再生信号のジッタが増加す
る。再生信号のジッタをモニタしながらデータスライス
バランス量を最適に設定しようとすると、データスライ
スバランス量に対するジッタの変化の度合いが小さいた
めに最適なデータスライスバランス量を探査することが
困難になる場合がある。
のジッタが増加するので、再生信号のジッタをモニタし
ながら最適な位相調整量を探査する必要がある。このよ
うに、位相調整部2603が最適に設定されていないた
めに位相ずれが生じると、再生信号のジッタが増加す
る。再生信号のジッタをモニタしながらデータスライス
バランス量を最適に設定しようとすると、データスライ
スバランス量に対するジッタの変化の度合いが小さいた
めに最適なデータスライスバランス量を探査することが
困難になる場合がある。
【0157】そこで、再生信号のジッタをモニタしなが
らジッタが最も小さくなるようなデータスライスバラン
ス設定部2601によって設定されるデータスライスバ
ランス量と位相調整部2603によって調整される位相
調整量との最適な組み合わせを探索する。
らジッタが最も小さくなるようなデータスライスバラン
ス設定部2601によって設定されるデータスライスバ
ランス量と位相調整部2603によって調整される位相
調整量との最適な組み合わせを探索する。
【0158】図25は、実施の形態4に係る位相調整量
とデータスライスバランス量とジッタ等高線との関係を
示すグラフである。位相調整量及びデータスライスバラ
ンス量を可変した時に同じジッタを示すポイントを結線
すると、図25に示すように、図2および図4で前述し
た遮断周波数FCとブースト量BSTとで描いたジッタ
等高線205A〜205Dと同様にジッタ等高線205
Hで表されるジッタ特性図を描くことができる。
とデータスライスバランス量とジッタ等高線との関係を
示すグラフである。位相調整量及びデータスライスバラ
ンス量を可変した時に同じジッタを示すポイントを結線
すると、図25に示すように、図2および図4で前述し
た遮断周波数FCとブースト量BSTとで描いたジッタ
等高線205A〜205Dと同様にジッタ等高線205
Hで表されるジッタ特性図を描くことができる。
【0159】よって遮断周波数FCとブースト量BST
の場合と同様に位相調整量を横軸としデータスライスバ
ランス量を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求め
ることにより、最適な位相調整量及びデータスライスバ
ランス量を設定することが可能となる。ジッタ最小位置
を求める探査方法は、実施の形態1で前述したジッタ最
小位置を求める探査方法において変数Xと変数Yとをそ
れぞれ位相調整量とデータスライスバランス量とにした
ものであるので、詳細な説明は省略する。
の場合と同様に位相調整量を横軸としデータスライスバ
ランス量を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求め
ることにより、最適な位相調整量及びデータスライスバ
ランス量を設定することが可能となる。ジッタ最小位置
を求める探査方法は、実施の形態1で前述したジッタ最
小位置を求める探査方法において変数Xと変数Yとをそ
れぞれ位相調整量とデータスライスバランス量とにした
ものであるので、詳細な説明は省略する。
【0160】図26は、実施の形態4に係る最小ジッタ
領域探査方法を説明するフローチャートである。 初期
領域において5つのジッタ測定点を設定する(ステップ
2801)。ジッタ測定点のうちのいずれかに対応する
等価量即ち位相調整量及びデータスライスバランス量を
設定する(ステップ2802)。設定された位相調整量
及びデータスライスバランス量に基づいてジッタを計測
する(ステップ2803)。5つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判
定する(ステップ2804)。5つのジッタ測定点のす
べてのジッタ測定点においてジッタを計測していないと
判定された場合には(ステップ2804でNO)、5つ
のジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッ
タ測定点においてジッタを計測するためにステップ28
02へ戻る。5つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測したと判定された場合には(ス
テップ2804でYES)、5つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定する
(ステップ2805)。
領域探査方法を説明するフローチャートである。 初期
領域において5つのジッタ測定点を設定する(ステップ
2801)。ジッタ測定点のうちのいずれかに対応する
等価量即ち位相調整量及びデータスライスバランス量を
設定する(ステップ2802)。設定された位相調整量
及びデータスライスバランス量に基づいてジッタを計測
する(ステップ2803)。5つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判
定する(ステップ2804)。5つのジッタ測定点のす
べてのジッタ測定点においてジッタを計測していないと
判定された場合には(ステップ2804でNO)、5つ
のジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッ
タ測定点においてジッタを計測するためにステップ28
02へ戻る。5つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測したと判定された場合には(ス
テップ2804でYES)、5つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定する
(ステップ2805)。
【0161】計測したジッタが最小であるジッタ測定点
に対応する分割領域において5つのジッタ測定点を設定
する(ステップ2806)。5つのジッタ測定点のうち
のいずれかに対応する等価量即ち位相調整量とデータス
ライスバランス量とを設定し、設定された位相調整量と
データスライスバランス量とに基づいてジッタを計測す
る(ステップ2807)。5つのジッタ測定点のすべて
のジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判定
する(ステップ2808)。5つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測していないと判
定された場合には(ステップ2808でNO)、5つの
ジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッタ
測定点においてジッタを計測するためにステップ280
6へ戻る。5つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定点
においてジッタを計測したと判定された場合には(ステ
ップ2808でYES)、5つのジッタ測定点で測定で
きたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の
設定値JH以下であるか否かを判定する(ステップ28
09)。5つのジッタ測定点で測定されたジッタの値す
べてがジッタの検出感度に対応する所定の設定値JH以
下でないと判定された場合には(ステップ2809でN
O)、ステップ2805へ戻る。5つのジッタ測定点で
測定されたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す
所定の設定値JH以下であると判定された場合には(ス
テップ2809でYES)、5つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計
測したジッタが最小であるジッタ測定点に対応する位相
調整量とデータスライスバランス量とを設定する(ステ
ップ2810)。
に対応する分割領域において5つのジッタ測定点を設定
する(ステップ2806)。5つのジッタ測定点のうち
のいずれかに対応する等価量即ち位相調整量とデータス
ライスバランス量とを設定し、設定された位相調整量と
データスライスバランス量とに基づいてジッタを計測す
る(ステップ2807)。5つのジッタ測定点のすべて
のジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判定
する(ステップ2808)。5つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測していないと判
定された場合には(ステップ2808でNO)、5つの
ジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッタ
測定点においてジッタを計測するためにステップ280
6へ戻る。5つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定点
においてジッタを計測したと判定された場合には(ステ
ップ2808でYES)、5つのジッタ測定点で測定で
きたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の
設定値JH以下であるか否かを判定する(ステップ28
09)。5つのジッタ測定点で測定されたジッタの値す
べてがジッタの検出感度に対応する所定の設定値JH以
下でないと判定された場合には(ステップ2809でN
O)、ステップ2805へ戻る。5つのジッタ測定点で
測定されたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す
所定の設定値JH以下であると判定された場合には(ス
テップ2809でYES)、5つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計
測したジッタが最小であるジッタ測定点に対応する位相
調整量とデータスライスバランス量とを設定する(ステ
ップ2810)。
【0162】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、多種類の
光ディスクに対応しかつ再生速度を多段階に切り換える
光ディスク装置において、起動時間および読み出し時間
を短縮することができる高信頼性で高速な光ディスク装
置を提供することができる。
光ディスクに対応しかつ再生速度を多段階に切り換える
光ディスク装置において、起動時間および読み出し時間
を短縮することができる高信頼性で高速な光ディスク装
置を提供することができる。
【0163】さらに本発明によれば、ジッタが最小にな
るパラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めるこ
とが出来る光ディスク装置およびPLL回路を提供する
ことができる。
るパラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めるこ
とが出来る光ディスク装置およびPLL回路を提供する
ことができる。
【図1】実施の形態1に係る光ディスク装置の構成を説
明するためのブロック図
明するためのブロック図
【図2】実施の形態1に係る遮断周波数とブースト量と
ジッタ等高線との関係を示すグラフ
ジッタ等高線との関係を示すグラフ
【図3】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を
説明するための図
説明するための図
【図4】実施の形態1に係る最小ジッタ領域を説明する
ためのグラフ
ためのグラフ
【図5】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法を
説明するフローチャート
説明するフローチャート
【図6】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法に
おけるジッタ計測点を説明する図
おけるジッタ計測点を説明する図
【図7】実施の形態1に係る最小ジッタ領域探査方法に
おけるジッタ計測点の測定順序を説明する図
おけるジッタ計測点の測定順序を説明する図
【図8】実施の形態1に係る他の最小ジッタ領域探査方
法を説明するフローチャート
法を説明するフローチャート
【図9】実施の形態1に係る他の光ディスク装置の構成
を説明するためのブロック図
を説明するためのブロック図
【図10】実施の形態1に係る波形等化回路の群遅延特
性図
性図
【図11】実施の形態1に係る低域遅延量と高域遅延量
とジッタ等高線との関係を示すグラフ
とジッタ等高線との関係を示すグラフ
【図12】実施の形態1に係るさらに他の光ディスク装
置の構成を説明するためのブロック図
置の構成を説明するためのブロック図
【図13】実施の形態1に係るトラッキング制御目標位
置とフォーカス位置とジッタ等高線との関係を示すグラ
フ
置とフォーカス位置とジッタ等高線との関係を示すグラ
フ
【図14】実施の形態1に係るさらに他の光ディスク装
置の構成を説明するためのブロック図
置の構成を説明するためのブロック図
【図15】実施の形態1に係るチルト座標系を説明する
ための模式図
ための模式図
【図16】実施の形態1に係るラジアルチルトとタンジ
ェンシャルチルトとジッタ等高線との関係を示すグラフ
ェンシャルチルトとジッタ等高線との関係を示すグラフ
【図17】実施の形態2に係る光ディスク装置の構成を
説明するためのブロック図
説明するためのブロック図
【図18】実施の形態2に係る光ディスク装置のディス
ク判別部の動作を説明するためのグラフ
ク判別部の動作を説明するためのグラフ
【図19】実施の形態2に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図
におけるジッタ計測点を説明する図
【図20】実施の形態2に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート
を説明するフローチャート
【図21】実施の形態3に係る光ディスク装置の構成を
説明するためのブロック図
説明するためのブロック図
【図22】実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図
におけるジッタ計測点を説明する図
【図23】実施の形態3に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート
を説明するフローチャート
【図24】実施の形態4に係るPLL回路の構成を説明
するためのブロック図
するためのブロック図
【図25】実施の形態4に係る位相調整量とデータスラ
イスバランス量とジッタ等高線との関係を示すグラフ
イスバランス量とジッタ等高線との関係を示すグラフ
【図26】実施の形態4に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート
を説明するフローチャート
【図27】波形等化手段のゲインとノイズ周波数特性を
示すグラフ
示すグラフ
【図28】フォーカス位置に対するジッタの特性を示す
グラフ
グラフ
1 光ディスク 2 光ヘッド 3 プリアンプ 4 波形等化回路 5 ジッタ検出部 6 最小値ジッタ探査部 7 制御装置 8 振幅検出部 9 最大振幅探査部 10 フォーカス制御部 11 合成回路 12 トラッキング制御部 13 2値化回路 20 ディスク判別部 30 再生速度検出部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H03L 7/093 H03L 7/08 M (72)発明者 渡邊 克也 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D044 BC02 CC06 FG02 FG05 FG06 FG11 FG16 GM12 GM18 5D090 AA01 CC04 DD03 EE17 FF01 FF41 5D118 AA14 BA01 BF02 CA04 CA11 CA13 CC12 CD08 5J106 AA04 BB03 BB04 CC03 CC15 CC24 CC59 EE10 FF02 GG15 HH02 KK25
Claims (20)
- 【請求項1】 光源から発光させる光ビームによって情
報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディス
ク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
せることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義され
たXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
求めるジッタ最小値探索手段とを備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複
数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記
複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複
数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数
Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定する光ディ
スク装置。 - 【請求項2】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
領域を互いに等しい正方形の形状を有する4つの第1分
割領域に分割し、前記4つの第1分割領域の重心にそれ
ぞれ位置する4つの第1ジッタ計測点で計測されたジッ
タのうち最小のジッタが計測された前記4つの第1分割
領域のうちの1つを探索し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記4つの第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
4つの第2分割領域に分割し、前記4つの第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する4つの第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記4
つの第2分割領域のうちの1つを探索する、請求項1記
載の光ディスク装置。 - 【請求項3】 前記ジッタ計測手段によって計測された
ジッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値
探索手段は、探索動作を終了する、請求項1記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項4】 前記ジッタ計測手段がある領域でジッタ
を測定することができなかった場合には、前記ジッタ計
測手段は前記ジッタを測定することができなかった前記
領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索する、請求
項1記載の光ディスク装置。 - 【請求項5】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項1記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項6】 前記変数Xは、高域遅延量を含み、 前記変数Yは、低域遅延量を含む、請求項1記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項7】 前記光ビームが前記記録担体に対して所
定の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォ
ーカス制御手段と、 前記光ビームが前記記録担体上のトラックを正しく走査
するように前記収束手段を制御するトラッキング制御手
段とをさらに備え、 前記変数Xは、トラッキング位置を含み、 前記変数Yは、フォーカス位置を含む、請求項1記載の
光ディスク装置。 - 【請求項8】 前記光ビームの前記記録担体に対するラ
ジアル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、 前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシャル
方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調整手
段とをさらにを備え、 前記変数Xは、ラジアルチルトを含み、 前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含む、請求項
1記載の光ディスク装置。 - 【請求項9】 光源から発光させる光ビームによって情
報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディス
ク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
せることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義され
たXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
求めるジッタ最小値探索手段と、 前記情報担体の種類を判別する情報担体判別手段とを備
え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記情
報担体判別手段によって判別された前記情報担体の種類
に基づいて、前記複数の第1分割領域のうちの1つを選
択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数のジッタ計測点で計測さ
れたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の
第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記複数
の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複数の
ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記
変数Yとの最適な組み合わせを決定する光ディスク装
置。 - 【請求項10】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初
期領域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1
分割領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別
された前記情報担体の種類に基づいて、前記4つの第1
分割領域のうちの1つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記4つの第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい正方形の形状
を有する4つの第2分割領域に分割し、前記4つの第2
分割領域の重心にそれぞれ位置する4つの第2ジッタ計
測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測され
た前記4つの第2分割領域のうちの1つを探索する、請
求項9記載の光ディスク装置。 - 【請求項11】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項9記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項12】 前記変数Xは、高域遅延量を含み、 前記変数Yは、低域遅延量を含む、請求項9記載の光デ
ィスク装置。 - 【請求項13】 前記光ビームが前記記録担体に対して
所定の収束状態になるように前記収束手段を制御するフ
ォーカス制御手段と、 前記光ビームが前記記録担体上のトラックを正しく走査
するように前記収束手段を制御するトラッキング制御手
段とをさらに備え、 前記変数Xは、トラッキング位置を含み、 前記変数Yは、フォーカス位置を含む、請求項9記載の
光ディスク装置。 - 【請求項14】 前記光ビームの前記記録担体に対する
ラジアル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手
段と、 前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシャル
方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調整手
段とをさらにを備え、 前記変数Xは、ラジアルチルトを含み、 前記変数Yは、タンジェンシャルチルトを含む、請求項
9記載の光ディスク装置。 - 【請求項15】 光源から発光させる光ビームによって
情報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディ
スク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
せることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義され
たXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
求めるジッタ最小値探索手段と、 前記再生信号の再生速度を検出する再生速度検出手段と
を備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記再
生速度検出手段によって検出された前記再生速度に基づ
いて、前記複数の第1分割領域のうちの1つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数のジッタ計測点で計測さ
れたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の
第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記複数
の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複数の
ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数Xと前記
変数Yとの最適な組み合わせを決定する光ディスク装
置。 - 【請求項16】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初
期領域を互いに等しい長方形の形状を有する4つの第1
分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出
された前記再生速度に基づいて、前記4つの第1分割領
域のうちの1つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記4つの第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい正方形の形状
を有する4つの第2分割領域に分割し、前記4つの第2
分割領域の重心にそれぞれ位置する4つのジッタ計測点
で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
記4つの第2分割領域のうちの1つを探索する、請求項
15記載の光ディスク装置。 - 【請求項17】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項15記載の光
ディスク装置。 - 【請求項18】 単調信号を発生する基準信号発生手段
と、 前記単調信号を2値化する2値化手段と、 前記単調信号の信号振幅の中心を2値化することができ
るように前記2値化回路を設定するデータスライスバラ
ンス設定手段と、 クロック信号を生成するクロック生成手段と、 前記2値化手段によって2値化された前記単調信号と前
記クロック信号生成手段によって生成された前記クロッ
ク信号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相
比較手段と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号を平
均化するチャージポンプ回路と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号の位
相ずれを調整する位相調整手段と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号に基
づいてジッタを計測するジッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測された前記ジッタを変
化させることのできる変数Xと変数Yとの2変数で定義
されたXY平面上の初期領域における前記ジッタの最小
値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第1分割領域に分割し、前記複
数の第1分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第1
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第1分割領域のうちの1つを探索
し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第1
分割領域のうちの前記1つを互いに等しい形状を有する
複数の第2分割領域に分割し、前記複数の第2分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第2ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複
数の第2分割領域のうちの1つを探索し、探索した前記
複数の第2分割領域のうちの前記1つに含まれる前記複
数の第2ジッタ計測点のうちの1つに対応する前記変数
Xと前記変数Yとの最適な組み合わせを決定するPLL
回路。 - 【請求項19】 前記変数Xは、遮断周波数を含み、 前記変数Yは、ブースト量を含む、請求項18記載のP
LL回路。 - 【請求項20】 前記位相調整手段は、前記位相比較手
段から出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調
整するように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力
段における電流バランスを可変する、請求項18記載の
PLL回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001140783A JP2002042344A (ja) | 2000-05-15 | 2001-05-10 | 光ディスク装置およびpll回路 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000141495 | 2000-05-15 | ||
JP2000-141495 | 2000-05-15 | ||
JP2001140783A JP2002042344A (ja) | 2000-05-15 | 2001-05-10 | 光ディスク装置およびpll回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002042344A true JP2002042344A (ja) | 2002-02-08 |
Family
ID=26591877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001140783A Pending JP2002042344A (ja) | 2000-05-15 | 2001-05-10 | 光ディスク装置およびpll回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002042344A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008282514A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Mediatek Inc | 光ディスクアクセス時のサーボパラメータを定める校正方法 |
US7512051B2 (en) | 2003-09-26 | 2009-03-31 | Sony Corporation | Information processing apparatus |
JP2013077372A (ja) * | 2007-10-19 | 2013-04-25 | Sharp Corp | 光情報記録媒体再生方法、および光情報記録媒体 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03100971A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Sony Corp | 自動等化器及び等化器の設定方法 |
JPH1069657A (ja) * | 1996-06-20 | 1998-03-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
JP2001023167A (ja) * | 1999-07-06 | 2001-01-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置及び再生方法 |
JP2001126261A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Yamaha Corp | 光ディスク再生装置 |
JP2001332028A (ja) * | 2000-05-17 | 2001-11-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置の制御方法 |
JP2002074845A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-15 | Victor Co Of Japan Ltd | 波形等化回路の制御方法 |
JP2002208155A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクのチルト補正方法ならびに光ディスク装置 |
-
2001
- 2001-05-10 JP JP2001140783A patent/JP2002042344A/ja active Pending
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03100971A (ja) * | 1989-09-13 | 1991-04-25 | Sony Corp | 自動等化器及び等化器の設定方法 |
JPH1069657A (ja) * | 1996-06-20 | 1998-03-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置 |
JP2001023167A (ja) * | 1999-07-06 | 2001-01-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置及び再生方法 |
JP2001126261A (ja) * | 1999-10-29 | 2001-05-11 | Yamaha Corp | 光ディスク再生装置 |
JP2001332028A (ja) * | 2000-05-17 | 2001-11-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスク装置の制御方法 |
JP2002074845A (ja) * | 2000-09-01 | 2002-03-15 | Victor Co Of Japan Ltd | 波形等化回路の制御方法 |
JP2002208155A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-07-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ディスクのチルト補正方法ならびに光ディスク装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7512051B2 (en) | 2003-09-26 | 2009-03-31 | Sony Corporation | Information processing apparatus |
JP2008282514A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Mediatek Inc | 光ディスクアクセス時のサーボパラメータを定める校正方法 |
US7778120B2 (en) | 2007-05-08 | 2010-08-17 | Mediatek Inc. | Calibration method for determining servo parameters for accessing an optical disc |
JP2013077372A (ja) * | 2007-10-19 | 2013-04-25 | Sharp Corp | 光情報記録媒体再生方法、および光情報記録媒体 |
US8625397B2 (en) | 2007-10-19 | 2014-01-07 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical information storage medium reproduction apparatus and control method of the same |
US8767516B2 (en) | 2007-10-19 | 2014-07-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical information storage medium reproduction apparatus and control method of the same |
US8976637B2 (en) | 2007-10-19 | 2015-03-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical information storage medium reproduction apparatus and control method of the same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6680887B2 (en) | Optical disk apparatus and PLL circuit | |
US6469965B1 (en) | Apparatus for and method of playing back optical disc | |
US7046593B2 (en) | Optical disk apparatus and method for adjusting tilt based on optical disk type | |
JP3914018B2 (ja) | ウォブル信号検出装置及び光学的情報記録再生装置 | |
JPH09212865A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2003346369A (ja) | 光学式記録再生装置及びチルト制御方法 | |
JP2002042344A (ja) | 光ディスク装置およびpll回路 | |
US20070274174A1 (en) | Optical disk device and optical disk gain adjusting method | |
JP3768142B2 (ja) | ドロップアウト検出回路及び光ディスク装置 | |
JP4079658B2 (ja) | 2値化ウォブル信号を生成する回路、ライトクロック生成回路、2値化ウォブル信号を生成する方法、ライトクロック生成方法及び光ディスク装置 | |
JP4623677B2 (ja) | 自動利得制御回路、および信号再生装置 | |
JP3576137B2 (ja) | 光ディスク装置、光ディスク装置のサーボ調整方法、光ディスクのサーボ調整プログラム、及び光ディスクのサーボ調整プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
JP2005085307A (ja) | 光ディスク駆動装置および方法、記録媒体、並びにプログラム | |
US20050078588A1 (en) | Wobbling signal demodulation method, wobbling signal demodulation circuit, and optical disk drive | |
JP4103240B2 (ja) | トラッキング制御方法及び光ディスク装置 | |
JP2002025090A (ja) | 光ディスク装置および傾き補正方法 | |
US20060002248A1 (en) | Disc drive calibration with forced track traversing signal | |
US20030198174A1 (en) | Optical pickup apparatus and optical disk apparatus | |
JP2002343023A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2012018732A (ja) | 光ディスク装置及び光ディスクへの記録においてレーザ光のパワーを制御する方法 | |
KR100301670B1 (ko) | 광디스크의 기록제어 장치 및 방법 | |
JP2003317288A (ja) | 光ディスク装置及びディスクチルト検出方法 | |
JP2003109228A (ja) | 光ディスク装置 | |
WO2001013366A1 (fr) | Procede de reproduction de disque optique et dispositif de reproduction | |
WO2007086284A1 (ja) | 光ディスク装置運転方法および光ディスク装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080408 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091214 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100614 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101021 |