JP2002042344A - 光ディスク装置およびｐｌｌ回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 起動時間および読み出し時間を短縮すること
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供する。 【解決手段】 光ディスク装置は、初期領域を複数の第
１分割領域に分割し、複数の第１分割領域の重心にそれ
ぞれ位置する複数の第１ジッタ計測点で計測されたジッ
タのうち最小のジッタが計測された複数の第１分割領域
のうちの１つを探索し、複数の第１分割領域のうちの１
つを複数の第２分割領域に分割し、複数の第２分割領域
の重心にそれぞれ位置する複数の第２ジッタ計測点で計
測されたジッタのうち最小のジッタが計測された複数の
第２分割領域のうちの１つを探索し、複数の第２分割領
域のうちの１つに含まれる複数の第２ジッタ計測点のう
ちの１つに対応する変数Ｘと変数Ｙとの最適な組み合わ
せを決定するジッタ最小値探索手段を備える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザ等の
光源からの光ビームを利用して光学的に情報担体上の信
号を再生する光ディスク装置およびデータスライスバラ
ンス回路のオフセットを除去するＰＬＬ回路に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】情報担体である光ディスクを再生する光
ディスク装置には、所定の回転数で回転する円盤状の情
報担体（光ディスク）に半導体レーザ等の光源より発生
した光ビームを収束照射し、信号を再生するものがあ
る。この情報担体には、情報ピット列として微小トラッ
クがスパイラル状に形成されている。一般的に光ディス
ク装置では光ディスクを所定の回転数で回転させる回転
制御と、光ディスク上に照射される光ビームが所定の収
束状態になるようなフォーカス制御と、情報担体上のト
ラックを光ビームが正しく走査するようなトラッキング
制御がなされている。

【０００３】また、光ディスクには、ＣＤオーディオ、
ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭなどの情報がピット列で
記録してある再生専用型、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ等の一
回のみ記録型、ＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−
ＲＷなどの記録再生型まで、様々な種類があるので、記
録密度、ディスクの反射率および再生信号は各々の光デ
ィスクにより異なる。従って各々の光ディスクの特徴に
適応させて再生方法を最適化する必要がある。特に密度
の２種類以上のディスクを再生したり、再生速度を切り
換える場合には、光ディスク装置に含まれる波形等化器
の周波数特性を適応させることにより、再生方法の最適
化を図っていた。

【０００４】図２７は、波形等化器のゲインとノイズと
の周波数特性を示すグラフを示す。光ディスクからの再
生信号はランダム信号であるが、高い周波数の信号成分
は低い周波数の信号成分に比べ、符号間干渉により極端
にゲインが低下する。このため図２７に示すように波形
等化器により再生信号における所定の周波数ＦＣをブー
ストすることにより、高い周波数の信号成分のゲインの
改善を図り、さらに高次の等リプルフィルタ等でゲイン
を急減して所定の周波数ＦＣよりも高い周波数帯域での
ノイズを除去し、再生信号品質の改善を図っている。

【０００５】図２８は、フォーカス位置に対するジッタ
の特性を示すグラフである。フォーカス位置が最適位置
（ジャストフォーカス位置２７０１）からずれるとジッ
タが悪化するが、これは、図２７に示す再生信号のゲイ
ンが低下し、再生信号のＳＮ比が悪化して再生信号品質
が悪化するために起こるものである。ジッタを検出し
て、それが最小になるような最適な波形等化の周波数特
性を決定するためには、フォーカス位置をジャストフォ
ーカス位置２７０１に調整しておく必要がある。

【０００６】これを実現する従来の技術として、波形等
化した再生信号のジッタを計測し、焦点位置であるフォ
ーカス位置と波形等化部の遮断周波数とを２次元的に可
変し、ジッタが最小になるようにフォーカス位置および
遮断周波数を最適化する構成がある（特開平１０−６９
６５７号公報）。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記構成のような従来
の光ディスク装置において、フォーカス位置と遮断周波
数といった２つのパラメータの組み合わせを全て実行
し、そのときのジッタを計測して最もよい（ジッタが最
小になる）組み合わせを求めることで再生信号品質を確
保していた。

【０００８】しかしながら前述したように再生するメデ
ィア（光ディスク）の種類が増え、特にＣＤ−Ｒ／ＲＷ
やＤＶＤ−Ｒ／ＲＷ／ＲＡＭといった記録系のメディア
を再生する場合は、フォーカス位置は遮断周波数と独立
して調整して遮断周波数とブースト量を最適に合わせな
いとジッタが良くならないという課題が発生した。

【０００９】また各ディスクの再生速度の種類、例えば
ＣＤ標準速から４８倍速、あるいはＤＶＤ標準速から１
６倍速といったように信号周波数帯域の種類が非常に増
加した場合に、起動時に毎回再生速度の種類毎にパラメ
ータの組み合わせを全て実行し、そのときのジッタを計
測して最もよい（ジッタが最小になる）組み合わせを求
めていたのでは起動時間が増大する。あるいは再生速度
の切換時にパラメータの組み合わせを全て実行し、その
ときのジッタを計測して最もよい（ジッタが最小にな
る）組み合わせを求めていたのでは、すぐに読み出しが
実行できないという課題が発生する。

【００１０】本発明の目的は、多種類の光ディスクに対
応しかつ再生速度を多段階に切り換える光ディスク装置
において、起動時間および読み出し時間を短縮すること
ができる高信頼性で高速な光ディスク装置を提供するこ
とにある。

【００１１】本発明の他の目的は、ジッタが最小になる
パラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めること
が出来る光ディスク装置およびＰＬＬ回路を提供するこ
とにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光ディスク
装置は、光源から発光させる光ビームによって情報担体
上に記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置
であって、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前
記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光
に対応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検
出手段によって生成された前記再生信号の周波数特性を
変化させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出
力信号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッ
タ計測手段によって計測されるジッタを変化させること
のできる変数Ｘと変数Ｙとの２変数で定義されたＸＹ平
面上の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジ
ッタ最小値探索手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手
段は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の
第１分割領域に分割し、前記複数の第１分割領域の重心
にそれぞれ位置する複数の第１ジッタ計測点で計測され
たジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の第
１分割領域のうちの１つを探索し、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索した前記複数の第１分割領域のうちの前
記１つを互いに等しい形状を有する複数の第２分割領域
に分割し、前記複数の第２分割領域の重心にそれぞれ位
置する複数の第２ジッタ計測点で計測されたジッタのう
ち最小のジッタが計測された前記複数の第２分割領域の
うちの１つを探索し、探索した前記複数の第２分割領域
のうちの前記１つに含まれる前記複数の第２ジッタ計測
点のうちの１つに対応する前記変数Ｘと前記変数Ｙとの
最適な組み合わせを決定し、そのことにより上記目的が
達成される。

【００１３】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい正方形の形状を有する４つの第１分割
領域に分割し、前記４つの第１分割領域の重心にそれぞ
れ位置する４つの第１ジッタ計測点で計測されたジッタ
のうち最小のジッタが計測された前記４つの第１分割領
域のうちの１つを探索し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記４つの第１分割領域のうちの前記１つ
を互いに等しい形状を有する４つの第２分割領域に分割
し、前記４つの第２分割領域の重心にそれぞれ位置する
４つの第２ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小
のジッタが計測された前記４つの第２分割領域のうちの
１つを探索してもよい。

【００１４】前記ジッタ計測手段によって計測されたジ
ッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値探
索手段は、探索動作を終了してもよい。

【００１５】前記ジッタ計測手段がある領域でジッタを
測定することができなかった場合には、前記ジッタ計測
手段は前記ジッタを測定することができなかった前記領
域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索してもよい。

【００１６】前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、前記変
数Ｙは、ブースト量を含んでもよい。

【００１７】前記変数Ｘは、高域遅延量を含み、前記変
数Ｙは、低域遅延量を含んでもよい。

【００１８】前記光ビームが前記記録担体に対して所定
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Ｘは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Ｙは、フォーカス位置
を含んでもよい。

【００１９】前記光ビームの前記記録担体に対するラジ
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Ｘは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Ｙは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。

【００２０】本発明に係る他の光ディスク装置は、光源
から発光させる光ビームによって情報担体上に記録され
た情報を光学的に再生する光ディスク装置であって、前
記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情報担体か
らの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対応する再
生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手段によっ
て生成された前記再生信号の周波数特性を変化させる波
形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信号のジッ
タを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計測手段に
よって計測されるジッタを変化させることのできる変数
Ｘと変数Ｙとの２変数で定義されたＸＹ平面上の初期領
域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ最小値探
索手段と、前記情報担体の種類を判別する情報担体判別
手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
領域を互いに等しい形状を有する複数の第１分割領域に
分割し、前記情報担体判別手段によって判別された前記
情報担体の種類に基づいて、前記複数の第１分割領域の
うちの１つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記複数の第１分割領域のうちの前記１つを互い
に等しい形状を有する複数の第２分割領域に分割し、前
記複数の第２分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第２分割領域のうちの１つを探索
し、探索した前記複数の第２分割領域のうちの前記１つ
に含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの１つに対応
する前記変数Ｘと前記変数Ｙとの最適な組み合わせを決
定し、そのことにより上記目的が達成される。

【００２１】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい長方形の形状を有する４つの第１分割
領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別され
た前記情報担体の種類に基づいて、前記４つの第１分割
領域のうちの１つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、選択した前記４つの第１分割領域のうちの前記１つ
を互いに等しい正方形の形状を有する４つの第２分割領
域に分割し、前記４つの第２分割領域の重心にそれぞれ
位置する４つの第２ジッタ計測点で計測されたジッタの
うち最小のジッタが計測された前記４つの第２分割領域
のうちの１つを探索してもよい。

【００２２】前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、前記変
数Ｙは、ブースト量を含んでもよい。

【００２３】前記変数Ｘは、高域遅延量を含み、前記変
数Ｙは、低域遅延量を含んでもよい。

【００２４】前記光ビームが前記記録担体に対して所定
の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォー
カス制御手段と、前記光ビームが前記記録担体上のトラ
ックを正しく走査するように前記収束手段を制御するト
ラッキング制御手段とをさらに備え、前記変数Ｘは、ト
ラッキング位置を含み、前記変数Ｙは、フォーカス位置
を含んでもよい。

【００２５】前記光ビームの前記記録担体に対するラジ
アル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
と、前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシ
ャル方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調
整手段とをさらにを備え、前記変数Ｘは、ラジアルチル
トを含み、前記変数Ｙは、タンジェンシャルチルトを含
んでもよい。

【００２６】本発明に係るさらに他の光ディスク装置
は、光源から発光させる光ビームによって情報担体上に
記録された情報を光学的に再生する光ディスク装置であ
って、前記光ビームを収束照射する収束手段と、前記情
報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過光に対
応する再生信号を生成する光検出手段と、前記光検出手
段によって生成された前記再生信号の周波数特性を変化
させる波形等化手段と、前記波形等化手段からの出力信
号のジッタを計測するジッタ計測手段と、前記ジッタ計
測手段によって計測されるジッタを変化させることので
きる変数Ｘと変数Ｙとの２変数で定義されたＸＹ平面上
の初期領域における前記ジッタの最小値を求めるジッタ
最小値探索手段と、前記再生信号の再生速度を検出する
再生速度検出手段とを備え、前記ジッタ最小値探索手段
は、前記初期領域を互いに等しい形状を有する複数の第
１分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検
出された前記再生速度に基づいて、前記複数の第１分割
領域のうちの１つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段
は、探索した前記複数の第１分割領域のうちの前記１つ
を互いに等しい形状を有する複数の第２分割領域に分割
し、前記複数の第２分割領域の重心にそれぞれ位置する
複数のジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジ
ッタが計測された前記複数の第２分割領域のうちの１つ
を探索し、探索した前記複数の第２分割領域のうちの前
記１つに含まれる前記複数のジッタ計測点のうちの１つ
に対応する前記変数Ｘと前記変数Ｙとの最適な組み合わ
せを決定し、そのことにより上記目的が達成される。

【００２７】前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領
域を互いに等しい長方形の形状を有する４つの第１分割
領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出され
た前記再生速度に基づいて、前記４つの第１分割領域の
うちの１つを選択し、前記ジッタ最小値探索手段は、選
択した前記４つの第１分割領域のうちの前記１つを互い
に等しい正方形の形状を有する４つの第２分割領域に分
割し、前記４つの第２分割領域の重心にそれぞれ位置す
る４つのジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小の
ジッタが計測された前記４つの第２分割領域のうちの１
つを探索してもよい。

【００２８】前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、前記変
数Ｙは、ブースト量を含んでもよい。本発明に係るＰＬ
Ｌ回路は、単調信号を発生する基準信号発生手段と、前
記単調信号を２値化する２値化手段と、前記単調信号の
信号振幅の中心を２値化することができるように前記２
値化回路を設定するデータスライスバランス設定手段
と、クロック信号を生成するクロック生成手段と、前記
２値化手段によって２値化された前記単調信号と前記ク
ロック信号生成手段によって生成された前記クロック信
号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相比較
手段と、前記位相比較手段から出力された前記位相誤差
信号を平均化するチャージポンプ回路と、前記位相比較
手段から出力された前記位相誤差信号の位相ずれを調整
する位相調整手段と、前記位相比較手段から出力された
前記位相誤差信号に基づいてジッタを計測するジッタ計
測手段と、前記ジッタ計測手段によって計測された前記
ジッタを変化させることのできる変数Ｘと変数Ｙとの２
変数で定義されたＸＹ平面上の初期領域における前記ジ
ッタの最小値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、
前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
しい形状を有する複数の第１分割領域に分割し、前記複
数の第１分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第１
ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
計測された前記複数の第１分割領域のうちの１つを探索
し、前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の
第１分割領域のうちの前記１つを互いに等しい形状を有
する複数の第２分割領域に分割し、前記複数の第２分割
領域の重心にそれぞれ位置する複数の第２ジッタ計測点
で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
記複数の第２分割領域のうちの１つを探索し、探索した
前記複数の第２分割領域のうちの前記１つに含まれる前
記複数の第２ジッタ計測点のうちの１つに対応する前記
変数Ｘと前記変数Ｙとの最適な組み合わせを決定し、そ
のことにより上記目的が達成される。

【００２９】前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、前記変
数Ｙは、ブースト量を含んでもよい。

【００３０】前記位相調整手段は、前記位相比較手段か
ら出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調整す
るように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力段に
おける電流バランスを可変してもよい。

【００３１】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。なお図面中、同様の機能を有する
部材には、同一の参照符号を示す。

【００３２】（実施の形態１）実施の形態１は、ジッタ
を可変し得る変数として、遮断周波数を変数Ｘ、ブース
ト量を変数ＹとしたＸＹ平面を所定の割合で分割した各
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその領域
を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求
めていき、最適な変数Ｘ、Ｙの組み合わせを決定する方
法を実現する構成である。ここでは説明を分かりやすく
するため遮断周波数とブースト量との最適な組み合わせ
を決定する方法を実現する構成を一例とする。

【００３３】図１は、実施の形態１に係る光ディスク装
置１００の構成を説明するためのブロック図を示す。図
１に示すように、光ディスク装置１００は、半導体レー
ザなどの光源から発光された光ビームを情報担体である
光ディスク１上に収束照射する光ヘッド２と、光ヘッド
２から出力される光ディスク１からの反射光に対応した
再生信号を増幅するプリアンプ３と、プリアンプ３によ
って増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路４
と、波形等化回路４によって波形等化された再生信号を
パルス化する２値化回路１３と、パルス化された再生信
号のジッタを検出するジッタ検出回路５と、プリアンプ
３によって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検
出回路８と、光ヘッド２から光ディスク１上に収束照射
される光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド
２を制御する制御部７とを備える。

【００３４】制御部７は、ジッタ検出回路５によって検
出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部
６と、振幅検出回路８によって検出された再生信号の振
幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅探査
部９と、光ヘッド２から照射される光ビームが光ディス
ク１上で最適な収束状態になるようにフォーカス制御を
実行するフォーカス制御部１０と、光ヘッド２から照射
される光ビームが光ディスク１上のトラックを正しく走
査するようにトラッキング制御を実行するトラッキング
制御部１２と、最大振幅探査部９からの信号をフォーカ
ス制御部１０からのフォーカス制御信号およびトラッキ
ング制御部１０からのトラッキング制御信号と合成する
合成回路１１とを含む。

【００３５】光ヘッド２から照射される光ビームが光デ
ィスク１上で最適な収束状態になるようなフォーカス制
御部１０の目標位置すなわちフォーカス位置を設定する
ために、振幅検出回路８はプリアンプ３の再生信号の振
幅を検出する。制御装置７はトラッキング制御部１２も
含んでいるが、トラッキング制御は本発明に直接関係な
いので、詳しい説明は省略する。

【００３６】波形等化回路４によって波形等化された再
生信号は２値化回路１３によってパルス化され、そのジ
ッタをジッタ検出部５が検出する。ジッタ検出回路５
は、２値化回路１３によってパルス化された再生信号と
ＰＬＬクロックと間のの位相誤差を電圧変換することに
よってジッタを検出している。

【００３７】ジッタ検出回路５によって検出されたジッ
タは、ジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査部６
へ入力される。最小値ジッタ探査部６は、ジッタが最小
となるように遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとを波
形等化回路４に与えることで波形等化回路４の周波数特
性を設定する。こうして、最適に設定された周波数特性
を有する波形等化回路４のフィルタを通して光ディスク
１上のに記録された情報を再生する。

【００３８】上記した構成を用いた実施の形態１におけ
るジッタ最小探査部６の探索動作について詳しく説明す
る。

【００３９】波形等化回路４は、再生信号の高域のノイ
ズ成分を除去するための遮断周波数ＦＣと、再生信号の
高域成分を相対的に高くするブースト量ＢＳＴとを可変
できる構成になっている。波形等化回路４はベッセルフ
ィルタや等リップルフィルタなどのアクティブフィルタ
を用いて構成できる。上記したように波形等化回路４に
よって波形等化された再生信号は２値化回路１３によっ
て２値化される。ジッタ検出回路５で検出されたジッタ
を用いて最小値ジッタ探査部６は、ジッタが最小になる
ような遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとを波形等化
回路４に設定する。

【００４０】最小値ジッタ探査部６が実行する最小ジッ
タ探査方法について説明をするために、まず遮断周波数
ＦＣとブースト量ＢＳＴ及びジッタの間の関係について
述べる。

【００４１】図２（ａ）、 図２（ｂ）および 図２
（ｃ）は、実施の形態１に係る遮断周波数ＦＣとブース
ト量ＢＳＴとジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。このグラフは、波形等化回路４の遮断周波数ＦＣと
ブースト量ＢＳＴにより定義されるジッタの最小値を探
査するために使用される。直角座標系２０１は、遮断周
波数ＦＣ、ブースト量ＢＳＴおよびジッタにより定義す
る。一般に光ディスクからの再生信号のジッタは遮断周
波数ＦＣとブースト量ＢＳＴに対して独立変数とはなら
ない。なぜならば、光ディスクからの再生信号では、遮
断周波数ＦＣを高くすれば高域のノイズが多くなりジッ
タが増加し、また遮断周波数ＦＣを低くすればノイズ成
分に対する再生信号成分の比が低くなるので、遮断周波
数ＦＣを高くしても低くしても何れにしても再生信号の
ＳＮ比が悪くなりジッタが増加するからであり、ブース
ト量ＢＳＴについても遮断周波数ＦＣと同様なことが言
えるからである。

【００４２】したがって、遮断周波数ＦＣとブースト量
ＢＳＴとを可変した時に同じジッタの値を示すポイント
を結線すると、図２（ａ）、図２（ｂ）および図２
（ｃ）に示すように、遮断周波数ＦＣを横軸とし、ブー
スト量ＢＳＴを縦軸とする平面においてジッタ等高線２
０５Ａ、２０５Ｂおよび２０５Ｃを描くことができる。
ここで、ΔＪはジッタ等高線間隔を示しており、ジッタ
等高線間隔ΔＪの大きさによりジッタ特性を推測するこ
ともできる。

【００４３】ブースト量ＢＳＴとジッタとの間の相関が
遮断周波数ＦＣとジッタとの間の相関よりも強い場合に
は、グラフ２０２上のジッタ等高線２０５Ａにより示さ
れるジッタ特性となる。その逆に遮断周波数ＦＣとジッ
タとの間の相関がブースト量ＢＳＴとジッタとの間の相
関よりも強い場合には、グラフ２０４上のジッタ等高線
２０５Ｃにより示されるジッタ特性となる。ブースト量
ＢＳＴとジッタとの間の相関が遮断周波数ＦＣとジッタ
との間の相関とほぼ等しい場合には、グラフ２０３上の
ジッタ等高線２０５Ｂにより示されるジッタ特性とな
る。前述したように光ディスクは様々な種類があり、ジ
ッタ特性も前述した光ディスクのさまざまな種類によっ
てさまざまに変化する。

【００４４】遮断周波数ＦＣを横軸とし、ブースト量Ｂ
ＳＴを縦軸とする平面においてジッタが最小になる位置
を求め、求められたジッタが最小になる位置に対応する
遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとを得ることによ
り、最適等化量を波形等化回路４に設定することが可能
となる。

【００４５】図３、図４および図５を用いて本実施の形
態１の最小ジッタ探査方法について説明する。図３は、
実施の形態１に係る最小ジッタ領域探査方法を説明する
ための図である。図４は、実施の形態１に係る最小ジッ
タ領域を説明するためのグラフである。図５は、実施の
形態１に係る最小ジッタ領域探査方法を説明するフロー
チャートである。

【００４６】図３では、横軸に遮断周波数ＦＣ、縦軸に
ブースト量ＢＳＴをとる。図３に示すように、遮断周波
数ＦＣとブースト量ＢＳＴとは、説明の簡単化のために
初期領域３０１において８ステップの可変幅をそれぞれ
有しているものとする。図３（ａ）に示すように初期領
域３０１は正方形の形状を有する。初期領域３０１は、
分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４を含む。図３
（ａ）に示すように分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ
４は正方形の形状を有する。初期領域３０１は、分割領
域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４によって等分割されてい
る。初期領域３０１は、分割領域Ａ０をさらに含む。図
３（ａ）に示すように分割領域Ａ０は、正方形の形状を
有し、初期領域３０１の重心の位置に配置されており、
分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４とそれぞれ４分の
１の面積分ずつオーバーラップしている。

【００４７】図３（ａ）に示すように、各分割領域Ａ
０、Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４は、ジッタ測定点Ｊ
０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４を有する。各ジッタ測定点
Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４は、各分割領域Ａ０、Ａ
１、Ａ２、Ａ３およびＡ４の重心の位置に配置されてい
る。

【００４８】測定点Ｊ４に対応する分割領域Ａ４は、さ
らに細かい分割領域に分割される。即ち分割領域Ａ４
は、分割領域Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ４を含む。図３
（ｂ）に示すように分割領域Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ
４は正方形の形状を有する。分割領域Ａ４は、分割領域
Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ４によって等分割されてい
る。分割領域Ａ４は、分割領域Ｂ０をさらに含む。図３
（ｂ）に示すように分割領域Ｂ０は、正方形の形状を有
し、分割領域Ａ４の重心の位置に配置されており、分割
領域Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ４とそれぞれ４分の１の
面積分ずつオーバーラップしている。

【００４９】図３（ｂ）に示すように、各分割領域Ｂ
０、Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ４は、ジッタ測定点Ｊ
４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８を有する。各ジッタ測
定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８は、各分割領域
Ｂ０、Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ４の重心の位置に配置
されている。

【００５０】初期領域Ａにおいて、遮断周波数ＦＣが値
４、ブースト量ＢＳＴが値４で直交する太線３０２およ
び３０３によって分割される４つの分割領域Ａ１、Ａ
２、Ａ３およびＡ４を作る。これら４つの分割領域Ａ
１、Ａ２、Ａ３およびＡ４においてジッタを計測する点
としてジッタ測定点Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４の４点
が決定される。次にこの４つのジッタ測定点Ｊ１、Ｊ
２、Ｊ３およびＪ４においてジッタを計測し、４つの分
割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、４点すべてが同
じジッタ値であった場合、ジッタが最も小さい領域が決
定できない。

【００５１】そこで４つの分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３お
よびＡ４のすべてに接するＪ０をジッタ測定点として、
ジッタ測定点Ｊ０におけるジッタも計測し、上記５つの
ジッタ計測値が同じであった場合には、ジッタ測定点Ｊ
０での遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最適値とし
て決定する。

【００５２】初期領域３０１におけるジッタ特性は、図
４に示されるグラフ３０２上のジッタ等高線２０５Ｄに
より示されるものとすると、図４に示されるジッタ特性
によれば、上記５つのジッタ測定点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、
Ｊ３およびＪ４のうち測定されたジッタが最小であるジ
ッタ測定点はジッタ測定点Ｊ４となる。

【００５３】次に、このジッタ測定点Ｊ４に対応する領
域Ａ４において、遮断周波数ＦＣの値が２、ブースト量
ＢＳＴの値が２で直交する２本の直線３０４および３０
５によって領域Ａ４を分割する４つの分割領域Ｂ１、Ｂ
２、Ｂ３およびＢ４を再び設定し、ジッタ計測点Ｊ５、
Ｊ６、Ｊ７およびＪ８の４点が決定される。この４つの
ジッタ計測点Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８におけるジッ
タを計測し、４つの分割領域Ｂ１、Ｂ２、Ｂ３およびＢ
４のうちジッタが最も小さい領域を比較決定する。図４
のジッタ特性により、ジッタ最小位置は、ジッタ計測点
Ｊ４となることが分かる。

【００５４】領域Ａ４におけるジッタ計測点Ｊ４と他の
４つのジッタ計測点Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８との間
の幅が１となり最小単位設定幅となったため、ジッタ計
測点Ｊ４はジッタ最小位置となる。このジッタ計測点Ｊ
４に対応した、遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴを設
定することにより、波形等化回路４の周波数特性の最適
化が完了する。

【００５５】最小ジッタ探査領域の分割方法とジッタ計
測点との関係を説明する。まず最小ジッタ探査領域の分
割方法を説明する。図６（ａ）および図６（ｂ）は、実
施の形態１に係る最小ジッタ領域探査方法におけるジッ
タ計測点を説明する図である。初期領域３０１上のすべ
てのジッタ計測点において、計測したジッタが最小のジ
ッタとなる確率は等しい。従って各分割領域で最小ジッ
タを探査する各段階において、計測したジッタが最小の
ジッタとなる確率は各分割領域上のすべてのジッタ計測
点において等しい。

【００５６】図３（ａ）に示すように分割領域Ａ１、Ａ
２、Ａ３およびＡ４のジッタ測定点Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３お
よびＪ４は、分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４の重
心と一致している事が好ましい。図６（ａ）に示すよう
に分割領域のジッタ測定点の少なくとも１つが分割領域
の重心からずれた位置に配置されていると、すべての分
割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４のジッタ測定点Ｊ
１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４が分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３
およびＡ４の重心と一致している場合に比較して、ジッ
タが最小となる分割領域を探索するために以下に示すよ
うにより多くの探査回数が必要になるからである。

【００５７】図６（ａ）に示されるように、分割領域Ａ
１、Ａ３およびＡ４のジッタ測定点Ｊ１、Ｊ３およびＪ
４は、分割領域Ａ１、Ａ３およびＡ４の重心と一致して
いる。分割領域Ａ２のジッタ測定点ＪＣ０は、分割領域
Ａ２の重心Ｇ１からずれた位置に配置されている。分割
領域Ａ２の重心Ｇ１からずれた位置に配置されているジ
ッタ測定点ＪＣ０で計測されたジッタが、ジッタ計測点
Ｊ１、Ｊ３、Ｊ４およびＪＣ０で計測されたジッタのう
ち最小のジッタであると、図６（ｂ）に示す分割領域２
５００が設定される。分割領域２５００は正方形であ
る。分割領域２５００の対角線の長さの２分の１は、ジ
ッタ測定点Ｊ０およびＪＣ０を結ぶ線分２５０１の長さ
と等しい。分割領域２５００は、さらに遮断周波数ＦＣ
の値が７、ブースト量ＢＳＴの値が７で直交する直線３
０６および３０７によって４つの分割領域Ｃ１、Ｃ２、
Ｃ３およびＣ４に分割される。分割領域Ｃ１、Ｃ２およ
びＣ３のジッタ測定点ＪＣ１、ＪＣ２およびＪＣ３は、
分割領域Ｃ１、Ｃ２およびＣ３の重心と一致している。
分割領域Ｃ４のジッタ測定点ＪＣ４は、分割領域Ｃ４の
重心Ｇ２からずれた位置に配置されている。

【００５８】図６（ａ）に示す領域３０１の対角線の長
さを１００％とすると、線分２５０１の長さは４０％で
ある。図６（ｂ）に示すように、初期領域３０１の中に
入っているジッタ測定点は、ジッタ測定点ＪＣ１、ＪＣ
２、ＪＣ３およびＪＣ４のうちジッタ測定点ＪＣ２のみ
である。ジッタ測定点ＪＣ１、ＪＣ３およびＪＣ４は初
期領域３０１の外にあるので、ジッタ測定点ＪＣ１、Ｊ
Ｃ３およびＪＣ４では測定しないようなプログラムの処
理が必要になる。従って、ジッタ測定点ＪＣ０およびＪ
Ｃ２のみにおいてジッタが測定される。ジッタが最小と
なる位置がジッタ測定点ＪＣ０とＪＣ２との間以外の位
置にあるときは、さらに新たな分割領域を設定してジッ
タが最小となる位置を探索しなければならない。

【００５９】分割領域Ａ２のジッタ測定点がジッタ測定
点ＪＣＸであって、分割領域Ａ２の重心Ｇ１からジッタ
測定点Ｊ０側にずれた位置に配置されており、線分２５
０１の長さが２０％であるとする。このときの分割領域
２５００は、分割領域Ａ２をカバーできない程度に小さ
くなる。ジッタが最小となる位置がジッタ測定点ＪＣ０
とＪＣＸとの間以外の位置にあるときは、さらに新たな
分割領域を設定してジッタが最小となる位置を探索しな
ければならない。

【００６０】このように、分割領域のジッタ測定点の少
なくとも１つが分割領域の重心からずれた位置に配置さ
れていると、すべての分割領域Ａ１、Ａ２、Ａ３および
Ａ４のジッタ測定点Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４が分割
領域Ａ１、Ａ２、Ａ３およびＡ４の重心と一致している
場合に比較して、ジッタが最小となる分割領域を探索す
るためにより多くの探査回数が必要になる。

【００６１】初期領域および分割領域は、４つの正方形
または長方形に分割すると、探索処理のためのプログラ
ムを簡略化することができる。図４に示すジッタは、連
続的に変化し、ステップ状に変化することはない。一般
に光ディスク装置において再生信号品質の指標とされる
ジッタの発生確率分布は正規分布するからである。図４
に示すジッタ等高線は、遮断周波数ＦＣの軸またはブー
スト量ＢＳＴの軸と平行になることはない。波形等化手
段の波形等化特性（遮断周波数ＦＣおよびブースト量Ｂ
ＳＴ）が変化すると、ジッタも変化するからである。さ
らにジッタが最小となる位置を探索する初期領域におい
てジッタが最小となる位置が実質的に複数個存在するこ
とはない。ジッタが最小となる位置が初期領域の外に存
在していたとしても、ジッタが最小となる位置が複数個
存在することがない限り初期領域の中でジッタが最小と
なる位置を探索することが出来る。従って光ディスク装
置の信号系の伝送特性が極端に劣化している場合を除
き、初期領域の中でジッタが最小となる位置を探索する
ことが出来る。

【００６２】図５において、ステップ５０１から、ステ
ップ５０４は初期領域３０１における最小値探査の過程
を示しており、ステップ５０５からステップ５１０は領
域Ａ４における最小位置探査過程を示している。

【００６３】この最小位置探査過程を実行する最小ジッ
タ探査手段は、デジタルシグナルプロセッサ（ＤＳＰ）
及び、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などのファームウェ
アにより実現することができる。

【００６４】初期領域３０１において５つのジッタ測定
点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４を設定する（ステ
ップ５０１）。ジッタ測定点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３お
よびＪ４のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周
波数ＦＣとブースト値ＢＳＴとを設定する（ステップ５
０２）。設定された遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴ
とに基づいてジッタを計測する（ステップ５０３）。５
つのジッタ測定点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４の
すべてのジッタ測定点においてジッタを計測したか否か
を判定する（ステップ５０４）。５つのジッタ測定点Ｊ
０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測していないと判定された場合に
は（ステップ５０４でＮＯ）、５つのジッタ測定点Ｊ
０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のうち未だジッタを計
測していないジッタ測定点においてジッタを計測するた
めにステップ５０２へ戻る。５つのジッタ測定点Ｊ０、
Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のすべてのジッタ測定点に
おいてジッタを計測したと判定された場合には（ステッ
プ５０４でＹＥＳ）、５つのジッタ測定点Ｊ０、Ｊ１、
Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のうち計測したジッタが最小であ
るジッタ測定点を決定する（ステップ５０５）。以下５
つのジッタ測定点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４の
のうち計測したジッタが最小であるジッタ測定点がジッ
タ測定点Ｊ４であった場合を例に挙げて説明を進める。

【００６５】計測したジッタが最小であるジッタ測定点
Ｊ４に対応する分割領域Ａ４において４つのジッタ測定
点Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８を設定する（ステップ５
０６）。ジッタ測定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ
８のうちのいずれかに対応する等価量即ち遮断周波数Ｆ
Ｃとブースト値ＢＳＴとを設定し、設定された遮断周波
数ＦＣとブースト値ＢＳＴとに基づいてジッタを計測す
る（ステップ５０７）。５つのジッタ測定点Ｊ４、Ｊ
５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８のすべてのジッタ測定点にお
いてジッタを計測したか否か（計測動作回数が５回であ
るか）を判定する（ステップ５０８）。５つのジッタ測
定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８のすべてのジッ
タ測定点においてジッタを計測していないと判定された
場合には（ステップ５０８でＮＯ）、５つのジッタ測定
点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８のうち未だジッタ
を計測していないジッタ測定点においてジッタを計測す
るためにステップ５０６へ戻る。５つのジッタ測定点Ｊ
４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測動作したと判定された場合には
（ステップ５０８でＹＥＳ）、領域Ａ４におけるジッタ
計測点Ｊ４と他の４つのジッタ計測点Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７
およびＪ８との間の幅が１となり最小単位設定幅になっ
ているか否かを判定する（ステップ５０９）。ここでい
う最小単位設定幅は、ジッタを可変する２変数である、
遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴの最小単位設定幅の
ことである。

【００６６】ジッタ計測点Ｊ４と他の４つのジッタ計測
点Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８との間の幅が最小単位設
定幅になっていないと判定された場合には（ステップ５
０９でＮＯ）、ステップ５０５へ戻る。ジッタ計測点Ｊ
４と他の４つのジッタ計測点Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ
８との間の幅が最小単位設定幅になっていると判定され
た場合には（ステップ５０９でＹＥＳ）、５つのジッタ
測定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８のうち計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち
遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴとを設定する（ステ
ップ５１０）。

【００６７】次に、上述のジッタ計測点を設定する方法
をデジタルシグナルプロセッサ等で実行する場合の一般
的なアルゴリズムについて説明する。

【００６８】変数を以下のように順次、定義する。

【００６９】１．遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴの
可変範囲をそれぞれ、ＦＣｔｏｒａｌ、ＢＳＴｔｏｔａ
ｌとする。

【００７０】２．遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴに
より定義される平面上のジッタをＪとする。

【００７１】３．αを初期遮断周波数、βを初期ブース
ト量とする。

【００７２】４．初期領域または最小ジッタとなるジッ
タ測定点に対応する分割領域におけるジッタ測定点の間
の幅を遮断周波数に関してΔＸ、ブースト量に関してΔ
Ｙとする。

【００７３】５．最小ジッタとなるジッタ測定点に対応
する分割領域はｒ番目の分割領域であるとする。

【００７４】これらの条件により、初期遮断周波数ＦＣ
の可変範囲ＦＣｔｏｒａｌとブースト量ＢＳＴの可変範
囲ＢＳＴｔｏｔａｌに関して （α，β）＝（ＦＣｔｏｔａｌ／２，ＢＳＴｔｏｔａｌ／２） （１） とおき、代表点設定可変幅を ΔＸ＝ＦＣｔｏｔａｌ／２^(r+1) （２−１） ΔＹ＝ＢＳＴｔｏｔａｌ／２^(r+1) （２−２） とすると、初期領域におけるジッタ計測点は Ｊｃ（α＋ΔＸ，β＋ΔＹ） （４−１） Ｊｂ（α−ΔＸ，β＋ΔＹ） （４−２） Ｊａ（α，β） （４−３） Ｊｄ（α＋ΔＸ，β−ΔＹ） （４−４） Ｊｅ（α−ΔＸ，β−ΔＹ） （４−５） の５点で、決定することができる。

【００７５】次に、ｒ番目の分割領域におけるジッタ計
測点は、 Ｊｃ’（α’＋ΔＸ，β’＋ΔＹ） （５−１） Ｊｂ’（α’−ΔＸ，β’＋ΔＹ） （５−２） Ｊａ’（α’，β’） （５−３） Ｊｄ’（α’＋ΔＸ，β’−ΔＹ） （５−４） Ｊｅ’（α’−ΔＸ，β’−ΔＹ） （５−５） の５点で決定することができる。ここで、α’、β’は
５つのジッタ測定点のうち計測したジッタが最小である
ジッタ測定点に順次更新される。

【００７６】また、ΔＸ，ΔＹも、分割した回数を表す
ｒの値の応じて変化する。数式（５−１）から数式（５
−５）の中でジッタ最小となるジッタ計測点に対応した
遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとを設定する。

【００７７】上記した数式を、ＤＳＰやファームウェア
で実行する際には、同一の演算モジュールによる繰り返
し処理で実行することができるので、より少ない資源
（プログラム容量やワーク領域）で波形等化量即ち遮断
周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとを設定可能となる。

【００７８】ＰＬＬまたはサーボが外れている領域でジ
ッタが測定できなかった場合には、そのジッタが測定で
きなかった領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探査
すれば最適な遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとを速
やかに決定することができる。

【００７９】さらに、基本モジュールを有効に使うため
の方法を説明する。図７は、実施の形態１に係る最小ジ
ッタ領域探査方法におけるジッタ計測点の測定順序を説
明する図を示す。図７では遮断周波数ＦＣとブースト量
ＢＳＴとにより定義される初期領域６０１をジッタ計測
平面として示している。上述したように、ジッタ計測は
各分割領域６０２、６０３、６０４、６０５および６０
６において行うが、測定を行う順番を常に一定にする方
法がある。

【００８０】図７に示すように、初期領域６０１は５つ
の分割領域６０２、６０３、６０４、６０５および６０
６で構成されている。まず分割領域６０２におけるジッ
タを計測し、次に分割領域６０３、分割領域６０４、分
割領域６０５、分割領域６０６の順にジッタを計測す
る。これは、分割領域をさらに分割していく各段階にお
いても５つの分割領域６０２、６０３、６０４、６０５
および６０６と同じ位置関係を有する５つの分割領域を
設定し、同様な順番で測定する。このように測定する分
割領域に対する測定の順番を一定にしておけば、同一の
演算モジュールによる繰り返し処理で実行することがで
きるから、μコードやファームウエアの処理が簡単にな
る。

【００８１】前述した最小ジッタ探索では、理想的には
波形等化回路の遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴの分
解能性能ぎりぎりまで、領域の分割を繰り返して精密に
探査していくことが好ましいが、ジッタの検出感度が波
形等化回路の遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴの分解
能よりも低い場合には、この方法は余分な時間がかかる
ので好ましくない。そこで、ジッタ計測が５つのジッタ
測定点で終了した時点で、測定されたジッタの値が所定
の設定値ＪＨ以下になった場合に最小ジッタ探査を終了
するようにすれば、アルゴリズムの短縮を図ることがで
きる。

【００８２】図８にこの最小ジッタ探査のフローチャー
トを示す。図５を参照して前述した実施の形態１に係る
最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートに含
まれるステップと同一のステップには同一の参照符号を
付している。これらのステップの詳細な説明は省略す
る。

【００８３】図５を参照して前述した実施の形態１に係
る最小ジッタ領域探査方法を説明するフローチャートと
異なる点は、ステップ５０９の代わりに５つのジッタ測
定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８で測定されたジ
ッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の設定値
ＪＨ以下であるか否かを判定するステップ９０１を実行
する点である。５つのジッタ測定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、
Ｊ７およびＪ８で測定されたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度に対応する所定の設定値ＪＨ以下でないと判
定された場合には（ステップ９０１でＮＯ）、ステップ
５０５へ戻る。５つのジッタ測定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、
Ｊ７およびＪ８で測定できたジッタの値すべてがジッタ
の検出感度を表す所定の設定値ＪＨ以下であると判定さ
れた場合には（ステップ９０１でＹＥＳ）、５つのジッ
タ測定点Ｊ４、Ｊ５、Ｊ６、Ｊ７およびＪ８のうち計測
したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計測し
たジッタが最小であるジッタ測定点に対応する等価量即
ち遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴとを設定する（ス
テップ５１０）。

【００８４】所定の設定値ＪＨは上記したジッタ検出感
度に基づいて設定することができる。このように最小ジ
ッタ探査を特定の収束条件で終了することにより、探査
時間の短縮を図ることができる。

【００８５】図９は、実施の形態１に係る他の光ディス
ク装置２００の構成を説明するためのブロック図を示
す。図１を参照して前述した光ディスク装置１００に含
まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を
付している。これらの構成要素の詳細な説明は省略す
る。

【００８６】図９を参照して、ジッタが最小になる最適
な変数Ｘ、Ｙの組み合わせを決定する方法を実現する他
の構成として、波形等化回路４の周波数帯毎の群遅延量
すなわち高い周波数域（高域）における群遅延量と低い
周波数域（低域）のおける群遅延量とを可変な構成と
し、高い周波数域（高域）における群遅延量と低い周波
数域（低域）のおける群遅延量との最適な組み合わせを
決定する方法を実現する構成を説明する。

【００８７】光ディスク装置２００に含まれる最小値ジ
ッタ探査部６Ａが実行する最小ジッタ探査方法について
説明をするために、まず群遅延量とジッタとの間の関係
について述べる。

【００８８】波形等化する際に、周波数に対する位相の
変化により定義される群遅延量（群遅延量の単位は時
間）は、波形等化する信号の周波数帯域のうちの相対的
に低い側に対応する低域群遅延量ＧＤＬと相対的に低い
側に対応する高域群遅延量ＧＤＨとを含む。低域群遅延
量ＧＤＬと高域群遅延量ＧＤＨとはそれぞれを可変でき
るように構成しておく。群遅延特性を表す群遅延量は、
多段のフィルタで構成した場合には、所望の特性が得ら
れるように、いずれかのフィルタ部の特性を可変するこ
とにより決定でき、また、ＦＩＲ （Ｆｉｎｉｔｅ Ｉ
ｍｐｕｌｓｅ Ｒｅｓｐｏｎｓｅ） フィルタで構成す
る場合には、各タップ係数を可変することにより群遅延
特性を決定することができる。

【００８９】図１０に波形等化回路４の群遅延特性を示
す。横軸に周波数、縦軸（左）に利得（点線）、縦軸
（右）に群遅延量を示している。理想的な伝送路の場合
には、波形等化する際の群遅延量は全周波数帯域で同じ
（フラット）になる。もし、伝送路（回路及び回路素子
を含む）に群遅延特性を歪ませる要素が存在するなら
ば、群遅延量を可変した方がより品質の良い信号を得る
ことができる。実際には、どのような伝送路にも、遅延
特性の歪みは存在し、これによる再生信号品質の劣化が
ジッタに現れる。従って、波形等化回路の高域群遅延量
ＧＤＨ及び低域群遅延量ＧＤＬのそれぞれに最適な遅延
量が存在し、高域群遅延量ＧＤＨ及び低域群遅延量ＧＤ
Ｌの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定すること
が可能となる。

【００９０】図１１は、実施の形態１に係る低域遅延量
と高域遅延量とジッタ等高線との関係を示すグラフであ
る。高域群遅延量ＧＤＨと低域群遅延量ＧＤＬとを可変
した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、図１
１に示すように、図２および図４で前述した遮断周波数
ＦＣとブースト量ＢＳＴとで描いたジッタ等高線２０５
Ａ〜２０５Ｄと同様にジッタ等高線２０５Ｅで表される
ジッタ特性図を描くことができる。

【００９１】よって遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴ
の場合と同様に高域群遅延量ＧＤＨと低域群遅延量ＧＤ
Ｌとを横軸と縦軸とする特性平面上でジッタ最小位置を
求めることにより、最適な群遅延特性を実現する高域群
遅延量ＧＤＨと低域群遅延量ＧＤＬとを波形等化回路４
に設定することが可能となる。

【００９２】図１２は、実施の形態１に係るさらに他の
光ディスク装置３００の構成を説明するためのブロック
図である。図１を参照して前述した光ディスク装置１０
０に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。

【００９３】図１２を参照して、ジッタが最小となる最
適な変数Ｘ、Ｙの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ビームの収束状態を所定の状態になるよ
うに制御するフォーカス制御と光ビームが正しくトラッ
ク上を走査するように制御するトラッキング制御手段の
各目標位置（フォーカス位置、トラッキング位置）を可
変な構成とし、フォーカス位置、トラッキング位置の最
適な組み合わせを決定する方法を実現する構成を説明す
る。

【００９４】制御装置７Ｂにはプリアンプ３で生成され
たフォーカスエラー信号ＦＥがバランス回路２２０３を
介してＡＤ変換されて入力される。制御装置７Ｂにはプ
リアンプ３で生成されたトラッキングエラー信号ＴＥが
バランス回路２２０１を介しＡＤ変換されて入力され
る。入力されたフォーカスエラー信号ＦＥは制御装置７
Ｂ内のフォーカス制御部１０でデジタルフィルタ（不図
示）によって位相補償、ゲイン補償されてＤＡ変換器
（不図示）を介して光ヘッド２に含まれるフォーカス駆
動部（不図示）へ出力される。

【００９５】また、入力されたトラッキングエラー信号
ＴＥは制御装置７Ｂ内のトラッキング制御部１２でデジ
タルフィルタ（不図示）によって位相補償、ゲイン補償
されてＤＡ変換器（不図示）を介して光ヘッド２に含ま
れるトラッキング駆動部（不図示）へ出力される。

【００９６】ここでジッタ検出部５より入力されたジッ
タが、最小になるように、フォーカス制御部１０からの
出力を受け取る合成回路１１および、トラッキング制御
部１２からの出力を受け取る合成回路２２０２に加える
べきオフセット、すなわちフォーカス位置、トラッキン
グ位置の設定値を最小値ジッタ探査部６Ｂで探査する。
これによってフォーカス位置と、トラッキング位置とを
可変した時に同じジッタを示すポイントを結線すると、
図１３に示すように、図２および図４で前述した遮断周
波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとで描いたジッタ等高線２
０５Ａ〜２０５Ｄと同様にジッタ等高線２０５Ｆで表さ
れるジッタ特性図を描くことができる。

【００９７】よって遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴ
の場合と同様にトラッキング位置を横軸としフォーカス
位置を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求めるこ
とにより、最適なフォーカス位置、トラッキング位置を
設定することが可能となる。上記説明では、フォーカス
位置、トラッキング位置を可変する構成として、制御装
置７Ｂ内部のフォーカス制御部１０からの信号、トラッ
キング制御部１２からの信号にデジタル的なオフセット
を印加する場合を示したが、図１２中点線で示すように
フォーカスエラー信号ＦＥを受け取るバランス回路２２
０３の出力およびトラッキングエラー信号ＴＥを受け取
るバランス回路２２０１の出力を変化させることで実現
することもできる。

【００９８】図１４は、実施の形態１に係るさらに他の
光ディスク装置４００の構成を説明するためのブロック
図である。図１を参照して前述した光ディスク装置１０
０に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参照
符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は省
略する。

【００９９】図１４を参照して、ジッタが最小となる最
適な変数Ｘ、Ｙの組み合わせを決定する方法を実現する
構成として、光ディスク１のラジアル方向のラジアルチ
ルトとタンジェンシャル方向のタンジェンシャルチルト
を補正可能な構成とし、光ディスク１のラジアルチルト
の補正値（調整値）とタンジェンシャルチルトとの補正
値（調整値）の最適な組み合わせを決定する方法を実現
する構成を説明する。

【０１００】図１５は、実施の形態１に係るチルト座標
系を説明するための模式図である。図１５では、光ディ
スク１と光ディスク１上のトラック１８０２及び座標系
を示している。ディスク半径方向をＸ軸、ディスク上の
トラック走査方向をＹ軸とし、ディスク面に垂直方向を
Ｚ軸としている。光ビームのトラック走査方向はＹ軸方
向とする。いま、ｚ軸に沿って光ビームが照射している
ものとすると、図１５に示すように、光ビーム照射軸が
ＸＺ平面内で傾いた場合をラジアルチルトθｒが生じて
いるとし、光ビーム照射軸がＹＺ平面内で傾いた場合を
タンジェンシャルチルトθｔが生じているとする。

【０１０１】図１４には、図１５に示すラジアルチルト
θｒ及びタンジェンシャルチルトθｔを変化させる構成
を示す。ラジアルチルト制御部１９０１とタンジェンシ
ャルチルト制御部１９０２とを制御装置７Ｃに設けるこ
とによりラジアルチルトθｒ及びタンジェンシャルチル
トθｔを変化させることができる。実際にラジアルチル
トθｒ及びタンジェンシャルチルトθｔを変化させる手
法としては、機械的に光ヘッド２全体を傾けることによ
り、ラジアルチルトθｒ及びタンジェンシャルチルトθ
ｔを生じさせるものや、光学的に光の進路を可変し、光
ビーム照射軸を傾けラジアルチルトθｒ及びタンジェン
シャルチルトθｔを生じさせる手法などがあげられる
が、これらの手法により、限定されるものではない。ラ
ジアルチルトθｒ及びタンジェンシャルチルトθｔのう
ちの一方、もしくは両方が変化した場合には、光ディス
ク１上での光ビームの分布が歪んでしまい、従って、ジ
ッタが劣化する。ラジアルチルトθｒ及びタンジェンシ
ャルチルトθｔのどちらに関しても、最適なチルト量が
存在し、ラジアルチルトθｒ及びタンジェンシャルチル
トθｔの最適な組み合わせを、本発明を用いて決定する
ことが可能となる。

【０１０２】ラジアルチルトθｒ及びタンジェンシャル
チルトθｔを可変した時に同じジッタを示すポイントを
結線すると、図１６に示すように、図２および図４で前
述した遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとで描いたジ
ッタ等高線２０５Ａ〜２０５Ｄと同様にジッタ等高線２
０５Ｇで表されるジッタ特性図を描くことができる。

【０１０３】よって遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴ
の場合と同様にラジアルチルトθｒを横軸としタンジェ
ンシャルチルトθｔを縦軸とする特性平面でジッタ最小
位置を求めることにより、最適なラジアルチルトθｒ及
びタンジェンシャルチルトθｔを設定することが可能と
なる。実際のチルト補正操作は液晶による補正やチルト
アクチュエータで行うのが一般的であるが、本発明はそ
のチルトの操作部の構成によっては限定されない。

【０１０４】（実施の形態２）実施の形態２は、実施の
形態１を種々のディスクを再生する装置に適応するため
のものである。装填されたディスクの種別を判別し、判
別したディスクの種別に応じて、ジッタを可変し得る変
数として、遮断周波数ＦＣを変数Ｘ、ブースト量ＢＳＴ
を変数ＹとしたＸＹ平面上の初期領域を分割した各分割
領域でジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割
領域を小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返
し求めていくことで、最適な変数Ｘ、Ｙの組み合わせを
装填されたディスクの種別毎に速やかに決定する方法を
実現する構成である。

【０１０５】ここでは説明を分かりやすくするため遮断
周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図１７は、実
施の形態２に係る光ディスク装置５００の構成を説明す
るためのブロック図である。図１を参照して前述した光
ディスク装置１００に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。

【０１０６】光ディスク装置１００は、半導体レーザな
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク１上に収束照射する光ヘッド２と、光ヘッド２か
ら出力される光ディスク１からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ３と、プリアンプ３によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路４と、
波形等化回路４によって波形等化された再生信号をパル
ス化する２値化回路１３と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路５と、プリアンプ３に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路８と、光ヘッド２から光ディスク１上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド２を
制御する制御部７Ｄとを備える。

【０１０７】制御部７Ｄは、ジッタ検出回路５によって
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部６Ｄと、振幅検出回路８によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部９と、光ヘッド２から照射される光ビームが光デ
ィスク１上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部１０と、光ヘッド２から
照射される光ビームが光ディスク１上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部１２と、最大振幅探査部９からの信号をフォ
ーカス制御部１０からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部１０からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路１１とを含む。制御部７Ｄは、ディスク判
別部２０をさらに備える。

【０１０８】ディスク判別部２０は、振幅検出回路８か
ら得られた光ディスク１の反射ビームに応じた信号の振
幅すなわちＲＦ信号振幅を測定し、その測定したＲＦ信
号を所定の判定レベルと比較することで、装填された光
ディスク１の種類を判別して、そのディスクの種類に応
じて、最小ジッタ領域探索部６Ｄの処理を切り換える。

【０１０９】本発明は、再生するディスクの種類には限
定されないが、少なくとも２種類以上の反射率や密度、
容量の違うディスクを再生する光ディスク装置のための
ものである。よって説明を分かりやすくするために、例
えば（表１）に示す種類のディスクを再生するものとす
る。

【０１１０】

【表１】 装着するディスクの反射率の差異に応じて、フォーカス
制御部１０を動作させる前に光ヘッド２を光ディスク１
に接近離間させると、光ビームスポットが光ディスク１
上に合焦したところで図１８に示すようにフォーカスエ
ラー信号とＲＦ信号が出力される。

【０１１１】振幅検出回路８は、このＲＦ信号の振幅を
エンベロープ検波等により処理し、例えばＡＤ変換器
（不図示）を通してデジタル値として制御部７Ｄに入力
する。制御装置７Ｄは入力されたＲＦ振幅をその内部の
ディスク判別部２０において、所定の判別レベルと比較
して装填されたディスクがディスクαなのか、ディスク
βなのか、ディスクγなのか、あるいは未装填なのかを
判別する。判別結果は最小値ジッタ探査部６Ｄへ入力さ
れ、判別結果に応じて探索アルゴリズムを切り換える。

【０１１２】次に、この判別結果に応じて切り換える判
別アルゴリズムについて図１９（ａ）、図１９（ｂ）お
よび図１９（ｃ）を用いて説明する。図１９（ａ）、図
１９（ｂ）および図１９（ｃ）では、実施の形態１と同
じく横軸に遮断周波数ＦＣ、縦軸にブースト量ＢＳＴを
とり、簡単化のために遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳ
Ｔの可変幅を８ステップずつとした初期領域Ａをディス
ク判別部２０の判別結果に基づいて、ジッタ測定点Ｊ
０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４に対応して分割した分割領
域を示したものである。

【０１１３】ディスク判別部２０においてディスクαと
判別された場合、ディスクαはチャネルクロックが４Ｍ
Ｈｚと３種類のディスクの中で一番低速の再生速度であ
る。よって初期領域Ａを遮断周波数ＦＣの低い側の１／
４の領域Ｚにおいて、ブースト量ＢＳＴが２毎に分割さ
れた分割領域Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３およびＺ４を作る。これ
ら４つの分割領域Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３およびＺ４において
ジッタを計測するジッタ計測点としてＪ１、Ｊ２、Ｊ３
およびＪ４の４点が決定される。次にこの４点において
ジッタを計測し、４つの領域Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３およびＺ
４のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、４点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。

【０１１４】そこで４領域のセンター（中心）相当のＪ
０をジッタ測定点として、Ｊ０におけるジッタも計測
し、上記５つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点Ｊ０での遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最
適値として決定する。

【０１１５】領域Ｚにおけるジッタ特性は、図４に示さ
れるものとすると、上記５つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はＪ３となり、Ｊ３に対応した遮断周波数Ｆ
Ｃとブースト量ＢＳＴを設定することにより、ディスク
αにおける波形等化回路４の周波数特性の最適化が完了
する。

【０１１６】同様にディスク判別部２０においてディス
クβと判別された場合、ディスクβはチャネルクロック
が２７ＭＨｚと３種類のディスクの中で２番目の再生速
度である。よって図１９（ｂ）に示すように初期領域Ａ
を遮断周波数ＦＣの中心よりやや高い側の１／４の領域
Ｙにおいて、ブースト量ＢＳＴの値２毎に分割した分割
領域Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３およびＹ４を作る。これら４つの
分割領域Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３およびＹ４においてジッタ計
測点としてＪ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４の４点が決定さ
れる。次にこの４点においてジッタを計測し、４つの領
域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定するのであ
るが、４点すべてが同じ計測値であった場合、最小ジッ
タ領域が決定できない。

【０１１７】そこで４領域のセンター（中心）相当のＪ
０をジッタ測定点として、Ｊ０におけるジッタも計測
し、上記５つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点Ｊ０での遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最
適値として決定する。

【０１１８】上記５つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点Ｊ３とすると、ジッタ計測点Ｊ３に対応
した遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴを設定すること
により、ディスクβにおける波形等化回路４の周波数特
性の最適化が完了する。

【０１１９】同様にディスク判別部２０においてディス
クγと判別された場合、ディスクγはチャネルクロック
が２９ＭＨｚと３種類のディスクの中で最速の再生速度
である。よって初期領域Ａを遮断周波数ＦＣの最も高い
側の１／４の領域Ｘにおいて、ブースト量ＢＳＴの値２
で分割する分割領域Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３およびＸ４を作
る。これら４つの分割領域Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３およびＸ４
においてジッタ計測点としてＪ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４の
４点が決定される。次にこの４点においてジッタを計測
し、４つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、４点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。

【０１２０】そこで４領域のセンター（中心）相当のＪ
０を代表点として、Ｊ０におけるジッタも計測し、上記
５つの計測値が同じであった場合には、計測点Ｊ０での
遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最適値として決定
する。

【０１２１】上記５つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点Ｊ２とすると、ジッタ計測点Ｊ２に対応
した遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴを設定すること
により、ディスクγにおける波形等化回路４の周波数特
性の最適化が完了する。この実施の形態２の制御部７Ｄ
における処理の流れを図２０に示す。

【０１２２】ディスク判別部２０はディスクの種類を判
別する（ステップ１２０１）。ディスク判別部２０にお
いてディスクαと判別された場合には、初期領域Ａを遮
断周波数ＦＣの低い側の１／４の領域Ｚにおいて、ブー
スト量ＢＳＴが２毎に分割された分割領域Ｚ１、Ｚ２、
Ｚ３およびＺ４を作る（ステップ１２０２）。ディスク
判別部２０においてディスクβと判別された場合には、
初期領域Ａを遮断周波数ＦＣの中心よりやや高い側の１
／４の領域Ｙにおいて、ブースト量ＢＳＴの値２毎に分
割した分割領域Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３およびＹ４を作る（ス
テップ１２０３）。ディスク判別部２０においてディス
クγと判別された場合には、初期領域Ａを遮断周波数Ｆ
Ｃの最も高い側の１／４の領域Ｘにおいて、ブースト量
ＢＳＴの値２で分割する分割領域Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３およ
びＸ４を作る（ステップ１２０４）。

【０１２３】４つの分割領域においてジッタを計測する
ジッタ計測点を決定し、等価量（遮断周波数およびブー
スト量）を設定する（ステップ１２０５）。５つのジッ
タ計測点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４においてジ
ッタを計測する（ステップ１２０６）。５つのジッタ測
定点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のうち計測した
ジッタが最小であるジッタ測定点を決定する（ステップ
１２０７）。

【０１２４】ジッタ計測点Ｊ０とジッタ計測点Ｊ２およ
びＪ３との間の幅が１となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する（ステップ１２０８）。ジッタ計測
点Ｊ０とジッタ計測点Ｊ２およびＪ３との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には（ステ
ップ１２０８でＮＯ）、ステップ１２０５へ戻る。ジッ
タ計測点Ｊ０とジッタ計測点Ｊ２およびＪ３との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
（ステップ１２０８でＹＥＳ）、５つのジッタ測定点Ｊ
０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数ＦＣとブースト値ＢＳＴとを設定する（ステップ１２
０９）。

【０１２５】以上のようにディスク判別部２０で判別し
たディスクの種類に応じて、探索を開始する分割領域を
限定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定で
き、最適な波形等化器の設定を行うことができる。

【０１２６】また実施の形態１で説明したように、ジッ
タを可変し得る変数ＸＹとして、遮断周波数ＦＣとブー
スト量ＢＳＴ以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルトとタンジェ
ンシャルチルトを適応した構成を実現することが可能で
あるが、構成、方法は同様であるので説明を省略する。

【０１２７】（実施の形態３）実施の形態３は、実施の
形態１をディスクの再生速度が可変する装置、例えばＣ
ＡＶ再生の装置に適応するためのものである。装置が起
動し、ディスク上から得られたアドレス情報あるいはデ
ィスクから得られるデータ周波数に基づいて、ジッタを
可変し得る変数として、遮断周波数ＦＣを変数Ｘ、ブー
スト量ＢＳＴを変数ＹとしたＸＹ平面を所定の範囲の領
域で限定をかけ、その初期領域を分割した各分割領域で
ジッタが最小になる領域を求め、さらにその分割領域を
小さく分割し、ジッタが最小となる領域を繰り返し求め
ていくことで、最適な変数Ｘ、Ｙの組み合わせを求め、
ディスクの内周と外周とで光ディスクの回転数をダイナ
ミックに切り換えるとき、各再生速度で最適な波形等化
器の周波数特性を決定する方法を実現する構成である。

【０１２８】ここでは説明を分かりやすくするため遮断
周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴの最適な組み合わせを決
定する方法を実現する構成を一例とする。図２１は、実
施の形態３に係る光ディスク装置６００の構成を説明す
るためのブロック図である。図１を参照して前述した光
ディスク装置１００に含まれる構成要素と同一の構成要
素には同一の参照符号を付している。これらの構成要素
の詳細な説明は省略する。

【０１２９】光ディスク装置６００は、半導体レーザな
どの光源から発光された光ビームを情報担体である光デ
ィスク１上に収束照射する光ヘッド２と、光ヘッド２か
ら出力される光ディスク１からの反射光に対応した再生
信号を増幅するプリアンプ３と、プリアンプ３によって
増幅された再生信号を波形等化する波形等化回路４と、
波形等化回路４によって波形等化された再生信号をパル
ス化する２値化回路１３と、パルス化された再生信号の
ジッタを検出するジッタ検出回路５と、プリアンプ３に
よって増幅された再生信号の振幅を検出する振幅検出回
路８と、光ヘッド２から光ディスク１上に収束照射され
る光ビームが最適な収束状態になるように光ヘッド２を
制御する制御部７Ｅとを備える。

【０１３０】制御部７Ｅは、ジッタ検出回路５によって
検出されたジッタの最小値を探査する最小値ジッタ探査
部６Ｅと、振幅検出回路８によって検出された再生信号
の振幅が最大になるフォーカス位置を探査する最大振幅
探査部９と、光ヘッド２から照射される光ビームが光デ
ィスク１上で最適な収束状態になるようにフォーカス制
御を実行するフォーカス制御部１０と、光ヘッド２から
照射される光ビームが光ディスク１上のトラックを正し
く走査するようにトラッキング制御を実行するトラッキ
ング制御部１２と、最大振幅探査部９からの信号をフォ
ーカス制御部１０からのフォーカス制御信号およびトラ
ッキング制御部１０からのトラッキング制御信号と合成
する合成回路１１とを含む。

【０１３１】光ディスク装置１００は、２値化回路１３
の出力に基づいて再生信号の再生速度を検出する再生速
度検出部３０をさらに備える。再生速度検出部３０は、
２値化回路１３から入力されたデータ信号の周期（周波
数）を検出し、光ディスク１上の光ビームが走査してい
るトラックでの再生信号の再生速度を算出する。具体的
には種々な算出方法があるが、例えば記録フォーマット
上最長マークの周期を検出する。あるいは最短マークの
周期を検出することで再生信号の再生速度を一意に算出
することができる。算出された再生速度を表すデータ
は、制御装置７Ｅに入力される。制御装置７Ｅは、この
入力された再生速度を表すデータに基づいて、最小ジッ
タ探査部６Ｅの処理を切り換える。

【０１３２】再生速度は、ＣＡＶ再生の場合は内周と外
周とのアクセスの間で最大約２．５倍変化する。例えば
内周チャネルクロック２７ＭＨｚであれば外周チャネル
クロックは約２７×２．５＝５７．５ＭＨｚとなる。ま
た、光ディスク装置の設定により例えばＣＤのオーディ
オ再生では１倍速再生、ＲＯＭの読み取りは４０倍速
（内周１６倍速）といったように使用状態に応じてＣＤ
のオーディオ再生のモードとＲＯＭの読み取りのモード
とを切り換えることで１６倍変化することもある。よっ
て信号周波数もその倍率分変動するので、波形等化器で
の遮断周波数ＦＣの設定範囲は、再生速度に応じて決定
することができる。よって再生速度を表すデータに応じ
て波形等化器の遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴで定
義される領域を限定することができるので、遮断周波数
ＦＣとブースト量ＢＳＴとの速やかな設定が可能とな
る。

【０１３３】図２２（ａ）、図２２（ｂ）および図２２
（ｃ）は、実施の形態３に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図である。図２２
（ａ）、図２２（ｂ）および図２２（ｃ）では、実施の
形態１と同じく横軸を遮断周波数ＦＣ、縦軸をブースト
量ＢＳＴをとり、簡単化のために遮断周波数ＦＣとブー
スト量ＢＳＴの可変幅を８ステップずつとした初期領域
Ａを再生速度検出回路３０の検出結果に基づいて、ジッ
タ測定点Ｊ０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４に対応して分割
した分割領域を示したものである。説明を分かりやすく
するためディスクの内周（チャネルクロック２７ＭＨ
ｚ）、中周（チャネルクロック４３ＭＨｚ）、外周（チ
ャネルクロック５７．５ＭＨｚ）の３カ所で波形等化器
を最適に設定するためのアルゴリズムの切換について説
明する。

【０１３４】再生速度検出部３０において、例えばチャ
ネルクロック２７ＭＨｚ、最高周波数４．５ＭＨｚの再
生速度と検出された場合、内周の低い再生速度と判定で
きる。この結果、初期領域Ａを遮断周波数ＦＣの低い側
の１／４の領域Ｚにおいて、ブースト量ＢＳＴが２毎に
分割された分割領域Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３およびＺ４を作
る。これら４つの領域Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３およびＺ４にお
いてジッタ計測点としてＪ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４の
４点が決定される。次にこの４点においてジッタを計測
し、４つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決
定するのであるが、４点すべてが同じ計測値であった場
合、最小ジッタ領域が決定できない。

【０１３５】そこで４領域のセンター（中心）相当のＪ
０をジッタ計測点として、Ｊ０におけるジッタも計測
し、上記５つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
測定点Ｊ０での遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最
適値として決定する。

【０１３６】領域Ｚにおけるジッタ特性は、図４に示さ
れるものとすると、上記５つのジッタ計測代表点のジッ
タ最小位置はＪ３となり、Ｊ３に対応した遮断周波数Ｆ
Ｃとブースト量ＢＳＴを設定することにより、内周にお
ける波形等化回路４の周波数特性の最適化が完了する。

【０１３７】同様に再生速度検出部３０において、例え
ばチャネルクロック４３ＭＨｚ、最高周波数７．１ＭＨ
ｚとの再生速度と検出された場合、中周の２番目の再生
速度と判定できる。よって図２２（ｂ）に示すように初
期領域Ａを遮断周波数ＦＣの中心よりやや高い側の１／
４の領域Ｙにおいて、ブースト量ＢＳＴの値２毎に分割
した分割領域Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３およびＹ４を作る。これ
ら４つの分割領域Ｙ１、Ｙ２、Ｙ３およびＹ４において
ジッタ計測点としてＪ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４の４点
が決定される。次にこの４点においてジッタを計測し、
４つの領域のうちジッタが最も小さい領域を比較決定す
るのであるが、４点すべてが同じ計測値であった場合、
最小ジッタ領域が決定できない。

【０１３８】そこで４領域のセンター（中心）相当のＪ
０をジッタ測定点として、Ｊ０におけるジッタも計測
し、上記５つの計測値が同じであった場合には、ジッタ
計測点Ｊ０での遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最
適値として決定する。

【０１３９】上記５つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点Ｊ３とすると、ジッタ計測点Ｊ３に対応
した遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴを設定すること
により、中周における波形等化回路４の周波数特性の最
適化が完了する。

【０１４０】同様に再生速度検出部３０において、例え
ばチャネルクロック６７．５ＭＨｚ、最高周波数１１．
２５ＭＨｚとの再生速度と判別された場合、最速の外周
の再生速度と判定できる。この結果、初期領域Ａを遮断
周波数ＦＣの最も高い側の１／４の領域Ｘにおいて、ブ
ースト量ＢＳＴの値２で分割する分割領域Ｘ１、Ｘ２、
Ｘ３およびＸ４を作る。これら４つの分割領域Ｘ１、Ｘ
２、Ｘ３およびＸ４においてジッタ計測点としてＪ１、
Ｊ２、Ｊ３、Ｊ４の４点が決定される。次にこの４点に
おいてジッタを計測し、４つの領域のうちジッタが最も
小さい領域を比較決定するのであるが、４点すべてが同
じ計測値であった場合、最小ジッタ領域が決定できな
い。

【０１４１】そこで４領域のセンター（中心）相当のＪ
０を代表点として、Ｊ０におけるジッタも計測し、上記
５つの計測値が同じであった場合には、計測点Ｊ０での
遮断周波数ＦＣとブースト値ＢＳＴを最適値として決定
する。

【０１４２】上記５つのジッタ計測点のジッタ最小位置
はジッタ計測点Ｊ２とすると、ジッタ計測点Ｊ２に対応
した遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴを設定すること
により、外周における波形等化回路４の周波数特性の最
適化が完了する。この実施の形態３の制御装置７Ｅにお
ける処理の流れを図２３に示す。

【０１４３】再生速度検出回路３０は再生信号の再生速
度を検出する。（ステップ１５０１）。再生速度検出回
路３０において内周の低い再生速度と判別された場合に
は、初期領域Ａを遮断周波数ＦＣの低い側の１／４の領
域Ｚにおいて、ブースト量ＢＳＴが２毎に分割された分
割領域Ｚ１、Ｚ２、Ｚ３およびＺ４を作る（ステップ１
５０２）。再生速度検出回路３０において中周の２番目
の再生速度と判別された場合には、初期領域Ａを遮断周
波数ＦＣの中心よりやや高い側の１／４の領域Ｙにおい
て、ブースト量ＢＳＴの値２毎に分割した分割領域Ｙ
１、Ｙ２、Ｙ３およびＹ４を作る（ステップ１５０
３）。再生速度検出回路３０において外周の最速の再生
速度と判別された場合には、初期領域Ａを遮断周波数Ｆ
Ｃの最も高い側の１／４の領域Ｘにおいて、ブースト量
ＢＳＴの値２で分割する分割領域Ｘ１、Ｘ２、Ｘ３およ
びＸ４を作る（ステップ１５０４）。

【０１４４】４つの分割領域においてジッタを計測する
ジッタ計測点を決定し、等価量（ブースト量を設定する
（ステップ１５０５）。５つのジッタ計測点Ｊ０、Ｊ
１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４においてジッタを計測する
（ステップ１５０６）。５つのジッタ測定点Ｊ０、Ｊ
１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のうち計測したジッタが最小
であるジッタ測定点を決定する（ステップ１５０７）。

【０１４５】ジッタ計測点Ｊ０とジッタ計測点Ｊ２およ
びＪ３との間の幅が１となり最小単位設定幅になってい
るか否かを判定する（ステップ１５０８）。ジッタ計測
点Ｊ０とジッタ計測点Ｊ２およびＪ３との間の幅が最小
単位設定幅になっていないと判定された場合には（ステ
ップ１５０８でＮＯ）、ステップ１２０５へ戻る。ジッ
タ計測点Ｊ０とジッタ計測点Ｊ２およびＪ３との間の幅
が最小単位設定幅になっていると判定された場合には
（ステップ１５０８でＹＥＳ）、５つのジッタ測定点Ｊ
０、Ｊ１、Ｊ２、Ｊ３およびＪ４のうち計測したジッタ
が最小であるジッタ測定点を決定し、計測したジッタが
最小であるジッタ測定点に対応する等価量即ち遮断周波
数ＦＣとブースト値ＢＳＴとを設定する（ステップ１５
０９）。

【０１４６】以上のように再生速度検出回路３０で検出
した再生速度に基づいて、探索を開始する初期領域を限
定することで非常に高速に最小ジッタ領域を特定でき、
最適な波形等化器の設定を行うことができる。上記説明
では、内周、中周および外周の３カ所の設定に例をあげ
て説明したが、刻々と変化する再生速度を常時検出し
て、波形等化器の設定値を更新するように構成してもよ
い。

【０１４７】また実施の形態１で説明したように、ジッ
タを可変し得る変数ＸＹとして、遮断周波数ＦＣとブー
スト量ＢＳＴ以外に、高域と低域の群遅延量、フォーカ
ス位置とトラッキング位置、ラジアルチルト補正量とタ
ンジェンシャルチルト補正量を適応した構成を実現する
ことが可能であるが、構成、方法は同様であるので説明
を省略する。

【０１４８】また再生速度検出回路３０により検出され
る再生速度は再生信号の周期（周波数）を検出するよう
な構成で説明したが、例えば、光ディスク１上に記録さ
れたアドレス情報によって半径位置を算出して、その半
径位置より再生速度を検出してもよい。またコマンド等
によって光ディスク１の目標回転数や、実際に光ディス
ク１を回転させるモータのＦＧ等によっても再生速度は
検出することが可能である。

【０１４９】さらに、実施の形態３において一度内周、
中周、外周あるいは各再生速度モードでの最適な設定値
を決定すれば、その設定値を制御部７Ｅ等のメモリに格
納しておき、シークや速度切換のコマンドが来るたび
に、メモリの格納値をロードして波形等化器に設定する
ことができる。再生不能な場合に再度最小ジッタ領域探
索方法を用いて、再設定するように構成することによ
り、波形等化回路性能を一段と向上することができる。

【０１５０】（実施の形態４）図２４は、実施の形態４
に係るＰＬＬ回路７００の構成を説明するためのブロッ
ク図である。図１を参照して前述した光ディスク装置１
００に含まれる構成要素と同一の構成要素には同一の参
照符号を付している。これらの構成要素の詳細な説明は
省略する。

【０１５１】実施の形態４は、実施の形態１をデータス
ライスバランスの回路オフセットを除去するＰＬＬ回路
に適用したものである。ＰＬＬ回路７００は、回路オフ
セットを除去する単調信号を発生する基準信号発生回路
２６００と、単調信号を２値化する２値化回路１３と、
単調信号の信号振幅の中心を２値化することができるよ
うに２値化回路１３を設定するデータスライスバランス
設定部２６０１とクロック信号を生成するクロック信号
生成回路２６０５と、２値化回路１３により２値化され
た信号とクロック信号生成回路２６０５によって生成さ
れたクロック信号との位相を比較して位相誤差信号を出
力する位相比較部２６０６と、位相誤差信号を積算する
ジッタ検出回路５と、位相比較部２６０６によって出力
された位相誤差信号を平均化するチャージポンプ回路２
６０２と、チャージポンプ回路２６０２の出力の交流成
分を除去し安定した発振基準電圧をクロック信号生成回
路２６０５に供給するローパスフィルタ（ＬＰＦ）２６
０４と、位相誤差信号の位相ずれを調整する位相調整部
２６０３と、最小値ジッタ探索部６Ｆとを備える。

【０１５２】データスライスバランス設定部２６０１を
説明する。光ディスク上に記録されているマーク若しく
はピットから情報を再生するためには、記録されている
マーク若しくはピットの長さを正確に読取る必要があ
る。そのためには、再生信号の振幅の中心を２値化のた
めのデータスライスレベルとすることが望ましい。マー
ク若しくはピットの長さを正確に読取ることができるか
らである。データスライスレベルは、２値化回路１３に
よって２値化された２値化データの正負パルスを積分す
ることによってフィードバック制御することも可能であ
る。しかしながら、データスライスレベルをフィードバ
ック制御したとしても、２値化回路１３には一般に回路
オフセットが存在するから、フィードバック制御のみで
は不十分である。従って、データスライスレベルをデー
タスライスバランス設定部２６０１によって微調整する
必要がある。

【０１５３】位相調整部２６０３を説明する。クロック
生成回路２６０５は、発振基準電圧（制御電圧）に応じ
て可変するクロック信号を生成する、電圧制御型発振回
路である。クロック生成回路２６０５が受け取る発振基
準電圧（制御電圧）は、２値化回路１３により２値化さ
れた信号とクロック信号生成回路２６０５によって生成
されたクロック信号との位相を比較して位相比較部２６
０６から出力される位相誤差信号をチャージポンプ回路
２６０２によって平均化しＰＬＬのループ特性を安定に
するためのローパスフィルタ２６０４通過させることに
よりクロック生成回路２６０５へ入力される。

【０１５４】チャージポンプ回路２６０２は、位相誤差
信号を積分し平均化する。チャージポンプ回路２６０２
は、２値化回路１３により２値化された信号に対するク
ロック信号生成回路２６０５によって生成されたクロッ
ク信号の進みまたは遅れに基づいて、チャージ電流を増
加または減少させる。しかし、チャージポンプ回路２６
０２に含まれる集積回路の中に設けられるトランジスタ
の特性の影響によって、チャージポンプ回路２６０２か
ら出力される出力電流の吸い込み特性と吐き出し特性と
が対称にならず、結果としてチャージポンプ回路２６０
２から出力される出力電流がアンバランスになる。チャ
ージポンプ回路２６０２から出力される出力電流がアン
バランスになると、クロック生成回路２６０５に供給さ
れる発振基準電圧（制御電圧）が変動するから、クロッ
ク信号生成回路２６０５によって生成されたクロック信
号と２値化回路１３により２値化された信号との間に位
相ずれが生じる。

【０１５５】位相調整部２６０３は、このような位相ず
れを調整する。具体的には位相調整部２６０３はチャー
ジポンプ回路２６０２に含まれる出力段における電流バ
ランスを可変することによって、クロック信号生成回路
２６０５によって生成されたクロック信号と２値化回路
１３により２値化された信号との間に位相ずれを調整し
得る。位相調整部２６０３は、位相調整部２６０３に含
まれるＡ／Ｄ変換器を用いて電流バランスを可変するこ
とによって、このような位相ずれを調整してもよい。

【０１５６】このような位相ずれが生じると、再生信号
のジッタが増加するので、再生信号のジッタをモニタし
ながら最適な位相調整量を探査する必要がある。このよ
うに、位相調整部２６０３が最適に設定されていないた
めに位相ずれが生じると、再生信号のジッタが増加す
る。再生信号のジッタをモニタしながらデータスライス
バランス量を最適に設定しようとすると、データスライ
スバランス量に対するジッタの変化の度合いが小さいた
めに最適なデータスライスバランス量を探査することが
困難になる場合がある。

【０１５７】そこで、再生信号のジッタをモニタしなが
らジッタが最も小さくなるようなデータスライスバラン
ス設定部２６０１によって設定されるデータスライスバ
ランス量と位相調整部２６０３によって調整される位相
調整量との最適な組み合わせを探索する。

【０１５８】図２５は、実施の形態４に係る位相調整量
とデータスライスバランス量とジッタ等高線との関係を
示すグラフである。位相調整量及びデータスライスバラ
ンス量を可変した時に同じジッタを示すポイントを結線
すると、図２５に示すように、図２および図４で前述し
た遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴとで描いたジッタ
等高線２０５Ａ〜２０５Ｄと同様にジッタ等高線２０５
Ｈで表されるジッタ特性図を描くことができる。

【０１５９】よって遮断周波数ＦＣとブースト量ＢＳＴ
の場合と同様に位相調整量を横軸としデータスライスバ
ランス量を縦軸とする特性平面でジッタ最小位置を求め
ることにより、最適な位相調整量及びデータスライスバ
ランス量を設定することが可能となる。ジッタ最小位置
を求める探査方法は、実施の形態１で前述したジッタ最
小位置を求める探査方法において変数Ｘと変数Ｙとをそ
れぞれ位相調整量とデータスライスバランス量とにした
ものであるので、詳細な説明は省略する。

【０１６０】図２６は、実施の形態４に係る最小ジッタ
領域探査方法を説明するフローチャートである。 初期
領域において５つのジッタ測定点を設定する（ステップ
２８０１）。ジッタ測定点のうちのいずれかに対応する
等価量即ち位相調整量及びデータスライスバランス量を
設定する（ステップ２８０２）。設定された位相調整量
及びデータスライスバランス量に基づいてジッタを計測
する（ステップ２８０３）。５つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判
定する（ステップ２８０４）。５つのジッタ測定点のす
べてのジッタ測定点においてジッタを計測していないと
判定された場合には（ステップ２８０４でＮＯ）、５つ
のジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッ
タ測定点においてジッタを計測するためにステップ２８
０２へ戻る。５つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定
点においてジッタを計測したと判定された場合には（ス
テップ２８０４でＹＥＳ）、５つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定する
（ステップ２８０５）。

【０１６１】計測したジッタが最小であるジッタ測定点
に対応する分割領域において５つのジッタ測定点を設定
する（ステップ２８０６）。５つのジッタ測定点のうち
のいずれかに対応する等価量即ち位相調整量とデータス
ライスバランス量とを設定し、設定された位相調整量と
データスライスバランス量とに基づいてジッタを計測す
る（ステップ２８０７）。５つのジッタ測定点のすべて
のジッタ測定点においてジッタを計測したか否かを判定
する（ステップ２８０８）。５つのジッタ測定点のすべ
てのジッタ測定点においてジッタを計測していないと判
定された場合には（ステップ２８０８でＮＯ）、５つの
ジッタ測定点のうち未だジッタを計測していないジッタ
測定点においてジッタを計測するためにステップ２８０
６へ戻る。５つのジッタ測定点のすべてのジッタ測定点
においてジッタを計測したと判定された場合には（ステ
ップ２８０８でＹＥＳ）、５つのジッタ測定点で測定で
きたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す所定の
設定値ＪＨ以下であるか否かを判定する（ステップ２８
０９）。５つのジッタ測定点で測定されたジッタの値す
べてがジッタの検出感度に対応する所定の設定値ＪＨ以
下でないと判定された場合には（ステップ２８０９でＮ
Ｏ）、ステップ２８０５へ戻る。５つのジッタ測定点で
測定されたジッタの値すべてがジッタの検出感度を表す
所定の設定値ＪＨ以下であると判定された場合には（ス
テップ２８０９でＹＥＳ）、５つのジッタ測定点のうち
計測したジッタが最小であるジッタ測定点を決定し、計
測したジッタが最小であるジッタ測定点に対応する位相
調整量とデータスライスバランス量とを設定する（ステ
ップ２８１０）。

【０１６２】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、多種類の
光ディスクに対応しかつ再生速度を多段階に切り換える
光ディスク装置において、起動時間および読み出し時間
を短縮することができる高信頼性で高速な光ディスク装
置を提供することができる。

【０１６３】さらに本発明によれば、ジッタが最小にな
るパラメータの組み合わせを効率良く速やかに求めるこ
とが出来る光ディスク装置およびＰＬＬ回路を提供する
ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態１に係る光ディスク装置の構成を説
明するためのブロック図

【図２】実施の形態１に係る遮断周波数とブースト量と
ジッタ等高線との関係を示すグラフ

【図３】実施の形態１に係る最小ジッタ領域探査方法を
説明するための図

【図４】実施の形態１に係る最小ジッタ領域を説明する
ためのグラフ

【図５】実施の形態１に係る最小ジッタ領域探査方法を
説明するフローチャート

【図６】実施の形態１に係る最小ジッタ領域探査方法に
おけるジッタ計測点を説明する図

【図７】実施の形態１に係る最小ジッタ領域探査方法に
おけるジッタ計測点の測定順序を説明する図

【図８】実施の形態１に係る他の最小ジッタ領域探査方
法を説明するフローチャート

【図９】実施の形態１に係る他の光ディスク装置の構成
を説明するためのブロック図

【図１０】実施の形態１に係る波形等化回路の群遅延特
性図

【図１１】実施の形態１に係る低域遅延量と高域遅延量
とジッタ等高線との関係を示すグラフ

【図１２】実施の形態１に係るさらに他の光ディスク装
置の構成を説明するためのブロック図

【図１３】実施の形態１に係るトラッキング制御目標位
置とフォーカス位置とジッタ等高線との関係を示すグラ
フ

【図１４】実施の形態１に係るさらに他の光ディスク装
置の構成を説明するためのブロック図

【図１５】実施の形態１に係るチルト座標系を説明する
ための模式図

【図１６】実施の形態１に係るラジアルチルトとタンジ
ェンシャルチルトとジッタ等高線との関係を示すグラフ

【図１７】実施の形態２に係る光ディスク装置の構成を
説明するためのブロック図

【図１８】実施の形態２に係る光ディスク装置のディス
ク判別部の動作を説明するためのグラフ

【図１９】実施の形態２に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図

【図２０】実施の形態２に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート

【図２１】実施の形態３に係る光ディスク装置の構成を
説明するためのブロック図

【図２２】実施の形態３に係る最小ジッタ領域探査方法
におけるジッタ計測点を説明する図

【図２３】実施の形態３に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート

【図２４】実施の形態４に係るＰＬＬ回路の構成を説明
するためのブロック図

【図２５】実施の形態４に係る位相調整量とデータスラ
イスバランス量とジッタ等高線との関係を示すグラフ

【図２６】実施の形態４に係る最小ジッタ領域探査方法
を説明するフローチャート

【図２７】波形等化手段のゲインとノイズ周波数特性を
示すグラフ

【図２８】フォーカス位置に対するジッタの特性を示す
グラフ

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ 光ヘッド ３ プリアンプ ４ 波形等化回路 ５ ジッタ検出部 ６ 最小値ジッタ探査部 ７ 制御装置 ８ 振幅検出部 ９ 最大振幅探査部 １０ フォーカス制御部 １１ 合成回路 １２ トラッキング制御部 １３ ２値化回路 ２０ ディスク判別部 ３０ 再生速度検出部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０３Ｌ 7/093 Ｈ０３Ｌ 7/08 Ｍ (72)発明者 渡邊 克也 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D044 BC02 CC06 FG02 FG05 FG06 FG11 FG16 GM12 GM18 5D090 AA01 CC04 DD03 EE17 FF01 FF41 5D118 AA14 BA01 BF02 CA04 CA11 CA13 CC12 CD08 5J106 AA04 BB03 BB04 CC03 CC15 CC24 CC59 EE10 FF02 GG15 HH02 KK25

Claims (20)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源から発光させる光ビームによって情
   報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディス
   ク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
   光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
   数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
   ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
   せることのできる変数Ｘと変数Ｙとの２変数で定義され
   たＸＹ平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
   求めるジッタ最小値探索手段とを備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
   しい形状を有する複数の第１分割領域に分割し、前記複
   数の第１分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第１
   ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
   計測された前記複数の第１分割領域のうちの１つを探索
   し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第１
   分割領域のうちの前記１つを互いに等しい形状を有する
   複数の第２分割領域に分割し、前記複数の第２分割領域
   の重心にそれぞれ位置する複数の第２ジッタ計測点で計
   測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複
   数の第２分割領域のうちの１つを探索し、探索した前記
   複数の第２分割領域のうちの前記１つに含まれる前記複
   数の第２ジッタ計測点のうちの１つに対応する前記変数
   Ｘと前記変数Ｙとの最適な組み合わせを決定する光ディ
   スク装置。
2. 【請求項２】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期
   領域を互いに等しい正方形の形状を有する４つの第１分
   割領域に分割し、前記４つの第１分割領域の重心にそれ
   ぞれ位置する４つの第１ジッタ計測点で計測されたジッ
   タのうち最小のジッタが計測された前記４つの第１分割
   領域のうちの１つを探索し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記４つの第１
   分割領域のうちの前記１つを互いに等しい形状を有する
   ４つの第２分割領域に分割し、前記４つの第２分割領域
   の重心にそれぞれ位置する４つの第２ジッタ計測点で計
   測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記４
   つの第２分割領域のうちの１つを探索する、請求項１記
   載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 前記ジッタ計測手段によって計測された
   ジッタの値が所定値以下の場合には、前記ジッタ最小値
   探索手段は、探索動作を終了する、請求項１記載の光デ
   ィスク装置。
4. 【請求項４】 前記ジッタ計測手段がある領域でジッタ
   を測定することができなかった場合には、前記ジッタ計
   測手段は前記ジッタを測定することができなかった前記
   領域での測定を省いて最小ジッタ領域を探索する、請求
   項１記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】 前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、 前記変数Ｙは、ブースト量を含む、請求項１記載の光デ
   ィスク装置。
6. 【請求項６】 前記変数Ｘは、高域遅延量を含み、 前記変数Ｙは、低域遅延量を含む、請求項１記載の光デ
   ィスク装置。
7. 【請求項７】 前記光ビームが前記記録担体に対して所
   定の収束状態になるように前記収束手段を制御するフォ
   ーカス制御手段と、 前記光ビームが前記記録担体上のトラックを正しく走査
   するように前記収束手段を制御するトラッキング制御手
   段とをさらに備え、 前記変数Ｘは、トラッキング位置を含み、 前記変数Ｙは、フォーカス位置を含む、請求項１記載の
   光ディスク装置。
8. 【請求項８】 前記光ビームの前記記録担体に対するラ
   ジアル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手段
   と、 前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシャル
   方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調整手
   段とをさらにを備え、 前記変数Ｘは、ラジアルチルトを含み、 前記変数Ｙは、タンジェンシャルチルトを含む、請求項
   １記載の光ディスク装置。
9. 【請求項９】 光源から発光させる光ビームによって情
   報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディス
   ク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
   光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
   数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
   ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
   せることのできる変数Ｘと変数Ｙとの２変数で定義され
   たＸＹ平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
   求めるジッタ最小値探索手段と、 前記情報担体の種類を判別する情報担体判別手段とを備
   え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
   しい形状を有する複数の第１分割領域に分割し、前記情
   報担体判別手段によって判別された前記情報担体の種類
   に基づいて、前記複数の第１分割領域のうちの１つを選
   択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記複数の第１
   分割領域のうちの前記１つを互いに等しい形状を有する
   複数の第２分割領域に分割し、前記複数の第２分割領域
   の重心にそれぞれ位置する複数のジッタ計測点で計測さ
   れたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の
   第２分割領域のうちの１つを探索し、探索した前記複数
   の第２分割領域のうちの前記１つに含まれる前記複数の
   ジッタ計測点のうちの１つに対応する前記変数Ｘと前記
   変数Ｙとの最適な組み合わせを決定する光ディスク装
   置。
10. 【請求項１０】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初
    期領域を互いに等しい長方形の形状を有する４つの第１
    分割領域に分割し、前記情報担体判別手段によって判別
    された前記情報担体の種類に基づいて、前記４つの第１
    分割領域のうちの１つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記４つの第１
    分割領域のうちの前記１つを互いに等しい正方形の形状
    を有する４つの第２分割領域に分割し、前記４つの第２
    分割領域の重心にそれぞれ位置する４つの第２ジッタ計
    測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測され
    た前記４つの第２分割領域のうちの１つを探索する、請
    求項９記載の光ディスク装置。
11. 【請求項１１】 前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、 前記変数Ｙは、ブースト量を含む、請求項９記載の光デ
    ィスク装置。
12. 【請求項１２】 前記変数Ｘは、高域遅延量を含み、 前記変数Ｙは、低域遅延量を含む、請求項９記載の光デ
    ィスク装置。
13. 【請求項１３】 前記光ビームが前記記録担体に対して
    所定の収束状態になるように前記収束手段を制御するフ
    ォーカス制御手段と、 前記光ビームが前記記録担体上のトラックを正しく走査
    するように前記収束手段を制御するトラッキング制御手
    段とをさらに備え、 前記変数Ｘは、トラッキング位置を含み、 前記変数Ｙは、フォーカス位置を含む、請求項９記載の
    光ディスク装置。
14. 【請求項１４】 前記光ビームの前記記録担体に対する
    ラジアル方向のチルトを調整するラジアルチルト調整手
    段と、 前記光ビームの前記記録担体に対するタンジェンシャル
    方向のチルトを調整するタンジェンシャルチルト調整手
    段とをさらにを備え、 前記変数Ｘは、ラジアルチルトを含み、 前記変数Ｙは、タンジェンシャルチルトを含む、請求項
    ９記載の光ディスク装置。
15. 【請求項１５】 光源から発光させる光ビームによって
    情報担体上に記録された情報を光学的に再生する光ディ
    スク装置であって、 前記光ビームを収束照射する収束手段と、 前記情報担体からの前記光ビームの反射光あるいは透過
    光に対応する再生信号を生成する光検出手段と、 前記光検出手段によって生成された前記再生信号の周波
    数特性を変化させる波形等化手段と、 前記波形等化手段からの出力信号のジッタを計測するジ
    ッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測されるジッタを変化さ
    せることのできる変数Ｘと変数Ｙとの２変数で定義され
    たＸＹ平面上の初期領域における前記ジッタの最小値を
    求めるジッタ最小値探索手段と、 前記再生信号の再生速度を検出する再生速度検出手段と
    を備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
    しい形状を有する複数の第１分割領域に分割し、前記再
    生速度検出手段によって検出された前記再生速度に基づ
    いて、前記複数の第１分割領域のうちの１つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第１
    分割領域のうちの前記１つを互いに等しい形状を有する
    複数の第２分割領域に分割し、前記複数の第２分割領域
    の重心にそれぞれ位置する複数のジッタ計測点で計測さ
    れたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複数の
    第２分割領域のうちの１つを探索し、探索した前記複数
    の第２分割領域のうちの前記１つに含まれる前記複数の
    ジッタ計測点のうちの１つに対応する前記変数Ｘと前記
    変数Ｙとの最適な組み合わせを決定する光ディスク装
    置。
16. 【請求項１６】 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初
    期領域を互いに等しい長方形の形状を有する４つの第１
    分割領域に分割し、前記再生速度検出手段によって検出
    された前記再生速度に基づいて、前記４つの第１分割領
    域のうちの１つを選択し、 前記ジッタ最小値探索手段は、選択した前記４つの第１
    分割領域のうちの前記１つを互いに等しい正方形の形状
    を有する４つの第２分割領域に分割し、前記４つの第２
    分割領域の重心にそれぞれ位置する４つのジッタ計測点
    で計測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前
    記４つの第２分割領域のうちの１つを探索する、請求項
    １５記載の光ディスク装置。
17. 【請求項１７】 前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、 前記変数Ｙは、ブースト量を含む、請求項１５記載の光
    ディスク装置。
18. 【請求項１８】 単調信号を発生する基準信号発生手段
    と、 前記単調信号を２値化する２値化手段と、 前記単調信号の信号振幅の中心を２値化することができ
    るように前記２値化回路を設定するデータスライスバラ
    ンス設定手段と、 クロック信号を生成するクロック生成手段と、 前記２値化手段によって２値化された前記単調信号と前
    記クロック信号生成手段によって生成された前記クロッ
    ク信号との位相を比較して位相誤差信号を出力する位相
    比較手段と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号を平
    均化するチャージポンプ回路と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号の位
    相ずれを調整する位相調整手段と、 前記位相比較手段から出力された前記位相誤差信号に基
    づいてジッタを計測するジッタ計測手段と、 前記ジッタ計測手段によって計測された前記ジッタを変
    化させることのできる変数Ｘと変数Ｙとの２変数で定義
    されたＸＹ平面上の初期領域における前記ジッタの最小
    値を求めるジッタ最小値探索手段とを備え、 前記ジッタ最小値探索手段は、前記初期領域を互いに等
    しい形状を有する複数の第１分割領域に分割し、前記複
    数の第１分割領域の重心にそれぞれ位置する複数の第１
    ジッタ計測点で計測されたジッタのうち最小のジッタが
    計測された前記複数の第１分割領域のうちの１つを探索
    し、 前記ジッタ最小値探索手段は、探索した前記複数の第１
    分割領域のうちの前記１つを互いに等しい形状を有する
    複数の第２分割領域に分割し、前記複数の第２分割領域
    の重心にそれぞれ位置する複数の第２ジッタ計測点で計
    測されたジッタのうち最小のジッタが計測された前記複
    数の第２分割領域のうちの１つを探索し、探索した前記
    複数の第２分割領域のうちの前記１つに含まれる前記複
    数の第２ジッタ計測点のうちの１つに対応する前記変数
    Ｘと前記変数Ｙとの最適な組み合わせを決定するＰＬＬ
    回路。
19. 【請求項１９】 前記変数Ｘは、遮断周波数を含み、 前記変数Ｙは、ブースト量を含む、請求項１８記載のＰ
    ＬＬ回路。
20. 【請求項２０】 前記位相調整手段は、前記位相比較手
    段から出力された前記位相誤差信号の前記位相ずれを調
    整するように、前記チャージポンプ回路に含まれる出力
    段における電流バランスを可変する、請求項１８記載の
    ＰＬＬ回路。