JP2002033644A - マイクロパワーrc発振器 - Google Patents
マイクロパワーrc発振器Info
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
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- H03B5/00—Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
- H03B5/02—Details
- H03B5/04—Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. power supply, load, temperature
Landscapes
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
るマイクロパワーRC発振器を提供する。 【解決手段】 RC発振回路200は、多数個のインバ
ータ210,220,230と、抵抗Rv及びキャパシ
タCを有するRC回路とを含む。温度変化に対して相反
した抵抗特性を有するP+拡散抵抗とポリシリコン抵抗
が所定の比率で組合された単位抵抗が多数個集まって抵
抗を構成する。抵抗値調整部240は、単位抵抗を選択
できる。駆動電源回路100は、温度変化に対して相反
した特性を有する電流源と出力部(負荷)を利用して温
度変化に対して安定した電圧レベルの基準信号を得て、
これのファンアウト能力を増大させて、RC発振回路に
駆動電源として供給する。
Description
ものであり、より具体的には、低電力型であり、温度変
化に対して安定した発振周波数特性を有し、抵抗値を調
節して発振周波数を可変させることができるマイクロパ
ワーRC発振器に関するものである。
ッサ、マイクロ制御器、フリップ−フロップ回路、ラッ
チ回路などのような電子回路にクロック信号やタイミン
グ信号を提供するために使用されており、電子産業にお
いて応用分野は無数に広い。正確であり、安定した基準
周波数は、水晶発振器回路(crystal osci
llator circuit)を利用して得ることが
できる。
な高品質の基準周波数を必要としなく、大量生産性を考
慮する必要があるので、RC発振器回路がさらに低廉な
費用のクロック信号源乃至タイミング信号源になる。か
つ、RC発振器は、通常抵抗(R)やキャパシタンス
(C)を変更させて可変周波数を発生させることができ
るという点、そして集積回路で加工し難しいインダクタ
の使用を避けることができるという点などで有利であ
る。
にバッテリを使用する電子回路応用分野は、電流消耗量
が相当に小さいことが要求される。そこで、このような
応用分野には一般的に電力消耗量が小さいマイクロパワ
ーRC発振回路が有利である。低電力消耗量はバッテリ
の使用時間を長くすることに有利であるためである。マ
イクロパワーRC発振回路と関連した従来技術として、
“MICROPOWER RC OSCILLATOR
HAVING HYSTERESIS PRODUC
ED BY SWITCHING CURRENT S
OURCESTO A TRANSISTOR”という
タイトルでStuart B.Shacterによって
提案された米国特許(特許番号第5570067)があ
る。この特許に従うと、RC発振器はRC回路と充放電
回路、通常の比較器とこの比較器の基準電圧を変更する
ための通常のヒステリシス回路を使用しない代わりに、
ヒステリシスを得るために複数の増幅器回路を採用し、
これら増幅器回路のスレッショルド電圧を変更する。こ
のような構成に従うと、発振周波数が内部遅延素子によ
る影響を受けるのが小さく、RC発振器が低電流で低電
力条件下で動作することができ、回路を単純化させるこ
とができるという長所を呈示する。
要求されるまた異なる大事な点は、温度変化に対する動
作特性、特に、発振周波数特性が安定でなければならな
いという点である。前記の特許は、この点に対して具体
的な教示をしなかった。RC発振回路において、発振周
波数の安定した温度特性を得る一つの方法は、温度変化
に対して安定した特性を有する基準電源を採用すること
である。これに関する従来技術の例としては、“ADJ
USTABLE TEMPERATURE COEFF
ICENTCURRENT REFERENCE”とい
うタイトルでLawrenceM.Burnsによって
提案された米国特許(特許番号第5823329)と、
“TEMPERATURE STABILIZED C
ONSTANT FRACTION VOLTAGE
CONTROLLED CURRENT SOURC
E”というタイトルでDavid W.Entriki
nなどによって提案された米国特許(特許番号5672
961)などが知られている。これらの特許は、温度特
性が安定した回路構成を示すが、電源回路にのみ焦点を
合わせており、これのRC発振器への応用例を開示して
いない。
(R)の値を調節して発振周波数を可変させることがで
きるという点がよく知られている。大部分のマイクロパ
ワーRC発振器回路の場合、単一チップで具現される。
この時、抵抗値を容易に調節し、発振周波数がチップ製
造工程上の偏差に独立的な関係を有するようにするため
に、抵抗(R)をチップ外部に配置する構成を取ること
が一般的である。これによると、RC発振器回路を作る
工程がより複雑になり、回路が大きくなる短所がある。
ンス(C)を基本的に含むこと以外に、発振回路に電源
を供給する基準電源と発振信号の電圧レベルを調節する
回路などがさらに必要である。しかし、以上で言及され
た従来技術は、RC発振器の一部構成に関連したもので
ある。以上で言及された低電力消耗、温度変化に対する
安定した発振周波数特性、単一チップ化の可能性そし
て、発振周波数制御の容易性などが総体的に考慮された
評価される低電力消耗型RC発振器の例がある。この従
来技術は“LOW POWER RC OSCILLA
TOR USING A LOW VOLTAGE B
IAS CIRCUIT”というタイトルでTimot
hy G.O’Shaughnessyによって提案さ
れた米国特許(特許番号第5585765)である。こ
の特許は、電圧制御発振器(VCO)のような個別的な
発振器を採用してRC時定数を利用して発振器−生成周
期(oscillator−generated pe
riod)と比べて、その比較結果によって全体RC発
振器回路の周波数を調整することで、自己校正(sel
f−calibrating)が可能である発振器回路
を提案している。この特許は、自己校正によって正確な
発振周波数を作り出すことができ、自己温度補償機能も
有し、安定した発振周波数特性を有するという長所があ
る。しかし、このような長所を有するために複雑な回路
構成を必要とする点が問題として指摘される。
の目的は、電力消耗量が小さく、温度変化に対して相補
的な特性を有する可変抵抗をチップ内部に内蔵し、温度
変化に対して安定した発振周波数特性を有し、回路の構
成が比較的簡単なマイクロパワーRC発振器を提供する
ことにある。
して相反した特性を有する抵抗要素の組合せである多数
個の単位抵抗を可変的に選択することにより、温度変化
に対して安定した周波数特性を示すと同時に、発振周波
数の値を制御することができるマイクロパワーRC発振
器を提供することにある。
パワーRC発振器は、温度変化に対して互いに相反した
特性を有する電流源と負荷を利用して温度変化に対して
安定した電圧レベルの基準信号を得て、この基準信号の
電流ファンアウト(fan−out)能力を増大させて
駆動電源を生成する駆動電源回路手段と、各々が前記駆
動電源回路手段から前記駆動電源の供給を受けて駆動さ
れる直列連結された多数個のインバータ回路、出力端に
連結された最先頭インバータの出力端と最後方インバー
タの入力端との間に挿入されて閉ループを形成する抵抗
およびこの抵抗と最後方インバータの入力端の接続ノー
ドと前記最先頭インバータの入力端との間に挿入される
キャパシタを有するRC回路を含み、前記出力端には前
記RC回路の時定数によって定まる周波数により発振す
る発振信号が表れるRC発振回路手段とを含む。
ータに応じてその大きさが可変的に設定される可変抵抗
であり、温度変化に対して互いに相反した特性を有する
抵抗要素を所定の比率で組合せて構成される。望ましく
は、前記抵抗値データをデコーディングして発振周波数
の決定に有効に寄与する抵抗値を選択するための抵抗値
調整部をさらに具備する。
られる発振信号の電圧レベルが被供給所で必要とするそ
れに合わないこともありうる。このような場合に対応す
るために、望ましくは、前記マイクロパワーRC発振器
は前記RC発振回路手段から出力される発振信号の電圧
レベルを所定のレベルにシフティングして出力する出力
レベル変換手段を付加的に含む。
段の駆動電源とRC回路の抵抗が温度変化に対して非常
に安定した特性を有するので、発振信号の周波数変動幅
が従来に比べて極めて小さくなる。発振回路全体で必要
とする供給電圧が大略1.6V〜3.6V程度の範囲で
あり、電流消耗量が6μA程度で小さく設計することが
できるので、低電圧低電力型RC発振器を具現すること
に望ましい回路構成である。
は、各々が駆動電源を独立的に供給されて駆動される直
列連結された多数個のインバータ回路と、出力端に連結
された最先頭インバータの出力端と最後方インバータの
入力端との間に挿入されて閉ループを形成し、外部が供
給される抵抗値設定データによってその抵抗値が可変さ
れる可変抵抗部および、前記最先頭インバータの入力端
と前記最後方インバータの入力端との間に挿入されるキ
ャパシタを有するRC回路とを含む構成を有する。発振
信号の周波数は前記RC回路の時定数によって定まる。
て、多数個の単位抵抗と、前記抵抗値設定データに依拠
して前記多数個の単位抵抗のうちで発振周波数の決定に
寄与する有効抵抗を選択するための抵抗値調整部を含
む。多数個の単位抵抗の各々は、望ましい構成例とし
て、温度変化に対して相反した抵抗特性を有するP+拡
散抵抗とポリシリコン抵抗の組合せにより構成される。
これら両者の組合せ比率は温度変化に対して二つの抵抗
アイテムが有する周波数変化程度を相殺させることがで
きる比率が望ましく、これによって各単位抵抗は、温度
変化に対して安定した周波数特性を有することができ
る。前記抵抗値調整部は、前記抵抗値設定データをデコ
ーディングして多数個の出力ポートに出力するデコーダ
と、このデコーダの各出力ポートに各々連結されて、前
記各出力ポートの出力値をインバーティングするための
多数個のインバータと、前記単位抵抗に各々対応する抵
抗選択部としての多数の両方向転送ゲートとを含み、前
記両方向転送ゲートの各々の一端は互いに共通接続さ
れ、他端は前記多数個の単位抵抗の一端に各々接続さ
れ、前記両方向転送ゲートの各々の第1制御端は前記デ
コーダの対応出力ポートに連結され、第2制御端は前記
対応出力ポートに連結されたインバータの出力端に連結
される構成を有する。
る抵抗の特性が安定したものとなって、温度変化に対す
る発振周波数の変動幅が小さくなる。また、抵抗を外部
で可変制御することができて発振周波数の制御が容易に
なる。さらに、可変抵抗部を異なる構成要素と共に単一
チップに内蔵することができる。
ましい実施形態をより詳細に説明する。
イクロパワーRC発振器400の構成を図示する。マイ
クロパワーRC発振器400は駆動電源回路100とR
C発振回路200を具備する。
0から駆動電源を各々受けて動作する直列連結された多
数個のインバータ回路と、抵抗とキャパシタにより構成
されるRC回路を利用して、キャパシタ(C)が前記R
C回路の時定数によって定まる周波数により充放電を反
復するようにすることで、出力端へ前記周波数で発振す
る電圧波形を作り出す。具体的には、RC発振回路20
0は直列連結された多数個例えば、3個のインバータ2
10,220,230を含む。3個のインバータ21
0,220,230の各々は、駆動電源回路100の出
力端に連結される。かつ、RC発振回路200は可変抵
抗RvとキャパシタCを含むが、可変抵抗Rvは出力端
に連結された最先頭インバータ230の出力端と最後方
インバータ210の入力端の間に挿入されて閉ループを
形成し、キャパシタCは可変抵抗Rvと最後方インバー
タ210の入力端の接続ノードと最先頭インバータ23
0の入力端との間に挿入される。RC発振回路200
は、可変抵抗Rvの抵抗値を可変的に選択するための抵
抗値調整部240をさらに含む。
0の3個のインバータ210,220,230に必要で
ある駆動電源Vddaを供給するものとして、温度補償
基準電圧部110とバッファ増幅部130を基本的に含
む。さらに、必要によっては、温度補償基準電圧部11
0とバッファ増幅部130との間に挿入されて、温度補
償基準電圧部110が生成した基準信号(基準電圧)V
refの電圧レベルを所定の比率で増幅させて得た新し
い基準信号Vref′をバッファ増幅部130に提供す
る電圧増幅部120をさらに具備することができる。
場合を例示的に図示している。この場合によると、電圧
増幅部120は演算増幅器122とこの演算増幅器12
2の出力端と接地との間に直列に連結された電圧分配用
抵抗R1と抵抗R2を含む。演算増幅器122の非反転
端子は温度補償基準電圧部110の出力端に連結され、
反転端子は抵抗R1と抵抗R2の連結ノードに連結され
る。
で具現することができる。演算増幅器122の非反転端
子は電圧増幅部120の出力端に連結され、反転端子は
自身の出力端と共通に連結され、前記出力端はRC発振
回路200の3個のインバータ210,220,230
に各々連結される構成を有する。
よってRC発振回路200から出力される発振信号の電
圧レベルを発振信号の被供給所で必要とする所定のレベ
ルに昇圧して出力する出力レベル変換回路300をさら
に具備することができる。この出力レベル変換回路30
0はRC発振回路200の出力端に連結されてRC発振
回路200から出力される発振信号を昇圧させて出力す
るレベルシフト部310とこのレベルシフト部310の
出力端に連結されて昇圧された発振信号の入力を利用し
て、出力端に表れる発振信号の振幅が供給電圧Vddレ
ベルに殆ど一致されるように信号処理をする出力バッフ
ァ部320を含む。この出力バッファ部320を通じて
外部の応用対象に発振信号が伝達される。
補償基準電圧部110の望ましい一具体例に従う回路構
成を図示する。図2で、温度補償基準電圧部110は出
力端N3と接地との間で直列連結された抵抗R4とMO
SトランジスタMN7を含む出力部(output s
tage)114と、前記出力端N3に連結され、温度
変化に正比例する特性の電流を出力端ブランチに提供す
るPTAT電流源(proportional to
absolute temperaturecurre
nt source)112を含む。MOSトランジス
タMN7はソースとゲートを短絡させてダイオードとし
て作用する。
たように、第1MOSトランジスタMN1と第1抵抗R
5が直列で連結された第1ブランチと第2抵抗R3と第
2MOSトランジスタMN4が直列で連結された第2ブ
ランチを有し、さらにこれら第1及び第2ブランチにブ
ランチ電流Iを供給する電流ミラー部(MOSトランジ
スタMP1,MP2,MN3)を含む。望ましくは、第
1抵抗R5はMOSトランジスタMN2で具現する。さ
らに具体的には、ブランチ電流Iが式I=(Vgs2−
Vgs3)/(R5+R3)=nVT1nKで決定され
るように第2抵抗R3の両端は、第1及び第2MOSト
ランジスタMN1とMN4のゲートに各々連結されて、
第1及び第2ブランチは閉ループを形成する。ここで、
nは理想係数(ideality factor)であ
り、Vgs3とVgs2は各々弱反転領域(weak
inversion region)での第1及び第2
MOSトランジスタMN1,MN4のゲート−ソース電
圧であり、VTは第1及び第2MOSトランジスタMN
1,MN4のスレッショルド電圧であり、Kは第2MO
SトランジスタMN4のソース−ドレインのチャネル幅
に対する第1MOSトランジスタMN1のソース−ドレ
インのチャネル幅の大きさの比を示す。PTAT電流源
112は、さらに多数個のMOSトランジスタMP3,
MP4,MP5,MN5,MN6を利用して構成される
電流ミラーリング回路を含み、このような構成によって
この電流ミラーリング回路は、第2ブランチのブランチ
電流Iをミラーリングして出力部114に供給する。
値調整部240)の望ましい回路構成を含むRC発振回
路200の構成を例示的に図示する。可変抵抗部は可変
抵抗Rvと抵抗値調整部240により構成される。
Rv2,Rv3,Rv4を含む。各々の単位抵抗は、絶
対温度の変化に対して相反した抵抗特性を有するP+拡
散抵抗とポリシリコン抵抗が直列で結合されて自己温度
補償特性(self−temperature com
pensated)を有する。図面でP+拡散抵抗(P
+拡散層)は250a,252a,254a,256a
で表わされており、ポリシリコン抵抗(Rpoly領
域)は250b,252b,254b,256bで表わ
されている。
抵抗値設定データに依拠して多数個の単位抵抗のうち
で、発振周波数の決定に寄与する有効抵抗を選択する回
路である。このような機能のために抵抗値調整部240
は前記抵抗値設定データをデコーディングして多数個の
出力ポートに出力するデコーダ280と、このデコーダ
280の各々の出力ポートに各々連結されて、前記各出
力ポートの出力値をインバーティングするための多数個
のインバータ266,268,270,272、そして
前記単位可変抵抗Rv1,Rv2,Rv3,Rv4に各
々対応する多数の両方向転送ゲート(bidirect
ional tranmission gate又はb
idirectional transducer)2
58,260,262,264を含む。両方向転送ゲー
ト258,260,262,264の各々の一端は互い
に共通に接続され、他端は多数個の単位抵抗Rv1,R
v2,Rv3,Rv4の一端に各々個別的に接続され、
両方向転送ゲート258,260,262,264の各
々の第1制御端はデコーダ280の対応出力ポートに連
結され、第2制御端は前記対応出力ポートに連結された
インバータの出力端に連結される。このような構成によ
って、両方向転送ゲート258,260,262,26
4はRC発振回路200の出力端で得られる出力電圧V
2の発振周波数の値を決定することに有効に寄与する可
変抵抗Rvの有効抵抗値を選択する抵抗選択部の役割を
担当する。
路300の望ましい構成を例示的に図示する。出力レベ
ル変換回路300は低電圧パルスV2を高電圧Vddの
パルスに昇圧させるレベルシフト部310を含む。発振
信号の需要所がレベルシフト部310で出力される発振
信号の振幅とは異なる振幅の発振信号を必要とする場合
には、レベルシフト部310の発振信号の振幅をバッフ
ァリングして前記需要所が必要とする振幅の発振信号へ
変換させる出力バッファ部320をさらに含むことが望
ましい。
交差結合型(cross−coupled type)
として、ゲートがディスエーブルスイッチ(DS)に連
結され、一端が接地端に連結されたMOSトランジスタ
MN10と、供給電圧VddとMOSトランジスタMN
10との間の第1ブランチに直列で連結される多数のM
OSトランジスタMP6,MP7及びMN8と、供給電
圧VddとMOSトランジスタMN10との間の第2ブ
ランチに直列で連結されるMOSトランジスタMP8,
MP9及びMN9と、入力端N4とMOSトランジスタ
MN9のゲート端子との間に挿入されて発振信号CLK
Aの論理値を反転させるインバータ312を含む。MO
SトランジスタMP7とMP9はドレインとゲートを短
絡させて、ダイオードで作用するように構成し、MOS
トランジスタMP6とMOSトランジスタMP8の各ゲ
ートはMOSトランジスタMN9とMOSトランジスタ
MN8に各々交差連結される。
端との間に直列で連結されたMOSトランジスタMN1
1及びMN12と、出力端N6と供給電圧Vddとの間
に並列で連結されたMOSトランジスタMP10及びM
P11を含む。MOSトランジスタMP10及びMN1
2のゲートはレベルシフト部310の出力端N5に接続
され、MOSトランジスタMN11とMP11のゲート
はマイクロパワーRC発振器400全体の作動可否を制
御するディスエーブルスイッチ(DS、図示せず)に接
続される。
パワーRC発振器400の構成について説明した。以下
では、このマイクロパワーRC発振器400の動作特性
を説明する。
0の特徴は、MOSトランジスタが有する弱反転領域
(weak inversion region)での
絶対温度に対する相補的な特性(complement
ary to absolute temperatu
re:以下CTATと言う)を利用して自己温度補償特
性(self−temperature compen
sating characteristic)がある
基準電圧回路という点である。温度補償特性に対して具
体的に記述すれば、次のごときである。閉ループL1に
対する電圧式は次の数式1のごときである。 [数式1]Vgs2−Vgs3=IR3+IR5 これをブランチ電流Iに対して整理すれば、次のごとき
である。 [数式2] I=(Vgs2−Vgs3)/(R3+R5)
イン電流(subthreshold drain c
urrent)Idは下の数式3のように表現される。 [数式3]Id=Ido(W/L)(eVgs/nVT) 数式3をVgsに対して再び整理すれば、 [数式4]Vgs=nVT1n(IL/IdoW) のようになるので、Vgs2とVgs3は各々次のよう
に書ける。ここで、Lはソースとドレインとの間に電流
が流れる方向へのチャネル長さであり、WはLと直角方
向のチャネル幅である。 [数式5]Vgs2=nVT1n(IL/IdoW) [数式6]Vgs3=nVT1n(IL/IdoKW) 上の二つの式からVgs2とVgs3の差異は、 [数式7] Vgs2−Vgs3=nVT1n(IL/IdoW)−Vgs =nVT1n(IL/IdoKW) =nVT1nK になる。だから、出力端N3に表れる基準電圧Vref
は [数式8]Vref=IR4+Vgs7 で書くことができ、数式7を数式2に代入してブランチ
電流を求めた後に、その結果を数式8に代入すれば、最
終的に基準電圧Vrefは次の数式9のごときである。 [数式9]Vref=R4(nVT1nK)/(R3+
R5)+Vgs7
数は絶対温度に対して比例的(PTAT)である特性を
有するので、数式2を考慮すれば、ブランチ電流Iも同
一の特性を有し、従って数式9の右辺一番目項は、絶対
温度の変化に比例してその値が変わる。これに反して、
MOSトランジスタMN7の弱反転領域でスレッショル
ド電圧の温度係数はCTAT特性を有するので、数式9
の右辺二番目の二番目項は、絶対温度の変化に反比例的
に変わる。即ち、絶対温度の変化に対する数式9の右辺
の二つ項の変化値は、互いに相殺関係を有するので、温
度補償基準電圧部110から出力される基準信号Vre
fは温度変化に無関係に安定したレベルを維持すること
ができる。基準電圧のレベルは、供給電圧Vddのそれ
に比べて低いので、RC発振回路200での電力消耗量
を大きく減らすことができる。さらに、K値の調節を通
じて数式9の右辺一番目項の傾きを調整することもでき
て、回路設計をするときにこれを活用すれば、有用であ
る。
の非反転端子(+)に供給されてそのレベルが下の数式
10によって増幅される。[数式10]Vref′=
(1+R1/R2)Vref 増幅された基準電圧Vref′は再びバッファ増幅部1
30の非反転端子に供給される。バッファ増幅部130
はRC発振回路200などのように後端に連結される負
荷の駆動に必要である十分な電流量をバッファリングす
ることによって前記基準信号のファンアウト(fan−
out)能力を増大させて、駆動電源Vddaを作り出
して、これをRC発振回路200の3個のインバータ2
10,220,230に各々供給する。
3と図5を参照して説明する。最先頭インバータ230
の入力端に連結されたキャパシタCの第1電極電圧V3
を“ハイ(Vdda)”で仮定するとき、第2電極の電
圧V1はVdda+Vspにポンピングされ、出力端電
圧V2は“ロー(GND)”に強制される。ここで、V
spはキャパシタCの初期電圧である。電圧V1が放電
し始めてロジックスレッショルド電圧(logic t
hreshold voltage)まで下がるとき
に、電圧V3は“ロー”に反転され、電圧V1はやはり
Vsp−Vddaまで下がって出力端電圧V2は“ハイ
(Vdda)”に反転される。続けて、出力端電圧V2
によってキャパシタCは再び充電が始まって、電圧V1
がロジックスレッショルド電圧に至ると、V3は再び
“ハイ”に反転され、出力端電圧V2は再び“ロー(G
ND)”に反転される。このように、キャパシタCの反
復的な充放電動作によって出力端には図5の(b)に図
示された矩形波パルスが表れる。
T2を求めると、下の数式11及び12のごときであ
る。 [数式11]−Vsp+(Vdda−Vsp)(1−e
−T1/RC)=Vsp T1=RvC1n{(Vdda+Vsp)/Vsp} [数式12] (Vdda+Vsp)e−T2/RC)=Vsp T2=RvC1n{(Vdda+Vsp)/Vsp} 出力端電圧波形V2の発振周期Tは‘T1+T2’であ
るので、電圧波形V2の発振周波数f_oscは [数式13] f_osc=1/(T1+T2) =1/2RvC1n{(Vdda+Vsp)/Vsp} で表わされ、例えば、Vsp=Vdda/2である場合
を仮定すれば、発振周波数f_oscは大略 [数式14]f_osc=1/2.2RvC になる。
f_oscの変化が抵抗値Rvと静電容量Cの大きさに
よって左右されるので、抵抗RvとキャパシタCの工程
許容誤差(process tolerance)とロ
ット(lot)間分布が発振周波数f_oscの特性に
大事な要素になる。
敏感に変動しないようにするためには、抵抗とキャパシ
タの温度特性が安定していることが要求される。しか
し、一般的に、抵抗は温度に敏感な特性を示す。抵抗の
温度依存性に関する式は次のごときである。 [数式15]R(dT)=R25(1.0+TC1*d
T+TC2*dT2) ただし、R25は摂氏25度での面積抵抗(squar
e resistance)であり、TC1とTC2は
温度係数であり、dTは摂氏25度と温度の差異を各々
示す。上の式で、括弧内のdT2は無視しても十分に正
確な抵抗値を得ることができる。
抗別温度係数を示す。
ve)とポリシリコン抵抗(Rpoly)は温度変化に
対して互いに相反した特性を有する。
抵抗の温度変化に対する抵抗特性を示す。P+拡散抵抗
の抵抗値は温度変化に対して比例関係を有するが、Rp
oly抵抗の抵抗値は温度変化に対して反比例関係を有
することが分かる。
の抵抗アイテムを混用して単位抵抗を構成すると、相殺
効果によって温度特性が安定した抵抗を構成することが
できるという点に注目する必要がある。図3の可変抵抗
Rvは種々の単位可変抵抗Rv1,Rv2,Rv3,R
v4を直列で結合して構成した例を示す。そして、一つ
の単位可変抵抗は上の二つの抵抗のアイテムを直列で組
合せて構成する。
きの絶対値が相異である。これは、単位可変抵抗を構成
することにおいて、二つの抵抗アイテムを単純に同一で
ある比率で含む場合は、温度変化に対して安定した抵抗
値を得られないということを意味する。単位可変抵抗が
温度変化に対して安定した抵抗値を有するためには、P
+拡散抵抗とポリシリコン抵抗が有する温度係数TC1
とTC2を考慮して両者を適切な比率で組合せをすべき
である。そして、このような構成によって単位可変抵抗
は自己温度補償特性を有する。最適の組合せ比率を求め
ることは、当業者には比較的容易であるので、ここでは
説明を省略する。
は、発振周波数f_oscの値を異なるように作る必要
がある。このような必要に応じるためには、RC発振回
路200のキャパシタの静電容量及び/又は抵抗の抵抗
値を可変させることができなければならない。これと関
連して、本発明は図3に例示したように、抵抗値を可変
的に設定することができる可変抵抗Rvとこれの抵抗値
を調整する抵抗値調整部240を含むRC発振回路を提
案する。
抗に対応する両方向転送ゲート258,260,26
2,264のオン又はオフ状態によって決定される。両
方向転送ゲート258,260,262,264は二つ
の方向のうちいずれの方向へも同一の伝達特性を示す素
子であり、キャパシタCが充放電を繰り返すために、転
送ゲートも両方向型を採用する必要がある。両方向転送
ゲート258,260,262,264の各々のオン/
オフはデコーダ280の対応出力ポートのロジックレベ
ルと前記対応出力ポートに連結されたインバータの出力
値のロジックレベルによって決定される。図3に例示さ
れたように、単位可変抵抗と両方向転送ゲートの個数を
4個にした場合には、デコーダ280の入力データは2
ビットで構成される。この2ビット入力データは外部手
段から与えられる。この外部手段は、可変抵抗Rvの抵
抗値の可変的調整を通じて発振周波数を選択する制御手
段でありうる。
イクロパワーRC発振器400をワン−チップ(one
−chip)に具現するときに、可変抵抗Rvと抵抗値
調整部240もそのチップ内に内蔵することができる。
データs0,s1に対するデコーダ280の出力ポート
p0,p1,p2,p3のロジック状態及び各ロジック
状態に対応する可変抵抗Rvの大きさを示す。
コーダ280の入力値によって変更され、究極的に出力
電圧V2の発振周波数は、デコーダ280の入力値を利
用して可変させることができる。
300の動作を説明する。図4のレベルシフト部310
は入力端N4を通って0〜V2のスイング幅を有するR
C発振回路200の出力端に表れる発振信号V2の入力
を受けて、出力端N5を通じて入力信号の振幅よりさら
に大きなスイング幅を有する発振信号を出力する。レベ
ルシフト部310から得られる大きなスイング幅の発振
信号はインバータ回路機能をする出力バッファ部320
を経て、供給電圧Vddのスイング幅を有する発振信号
へ変換出力される。
ある。ディスエーブルスイッチ(DS)はマイクロパワ
ーRC発振器400全体の駆動を制御するスイッチング
手段として、マイクロパワーRC発振器400を作動さ
せる間に常に“ハイ”信号として入力されるので、MO
SトランジスタMN10及びMN11はオンになり、M
OSトランジスタMP11はオフになる。
タMN8とMN9のゲートにはRC発振回路200の発振
信号CLKA(=V2)とこれの反転信号CLKBが各
々入力される。外部から提供されるディスエーブルスイ
ッチ(図示せず)の信号DSが“ハイ”という前提下
に、発振信号CLKAが“ハイ”である場合、MOSト
ランジスタMN8とMN9は各々“オン”と“オフ”に
なる。その結果MOSトランジスタMP8とMP6は各
々“オン”と“オフ”になって出力ノードN5には殆ど
供給電圧Vddに近い電圧、厳密にはVdd−Vgsが
表れる。これと反対で、発振信号CLKAが“ロー”で
ある場合、MOSトランジスタMN8とMN9は各々
“オフ”と “オン”になって出力ノードN5には接地
電圧が表れる。
維持される間は、MOSトランジスタMP10がオフに
なり、MOSトランジスタMN12がオンになって、出
力ノードN6には接地電圧が表れる。反対に出力ノード
N5に接地電圧が表れると、今度は反対にMOSトラン
ジスタMP10がオンになり、MOSトランジスタMN
12がオフになって、出力ノードN6には完全なレベル
(full−level)の供給電圧Vddが表れる。
電力消耗量を有するようにするものであった。RC発振
回路200での電力消耗PavgはRC発振回路200
に供給される電圧Vddaと電流Iavgの掛け算で示
すことができるので、次の式16に示すことができる。 [数式16] Pavg=Vdda*Iavg=Vdda*(Q/T) =Vdda*(CVdda)/T=C(Vdda)2/T =C(Vdda)2f_osc
力は、駆動電源Vddaの電圧レベルに一番大きく左右
されることが分かった。しかし、駆動電源回路100の
バッファ増幅部130を電圧フォロア(voltage
follower)により構成すれば、RC発振回路
200で必要とする駆動電源Vddaの電圧レベルを増
大させなく、電流駆動能力は十分に増大させることがで
きる。これによってRC発振器を低電力型に構成するこ
とができる。
回路300は電力消耗量が小さいタイプである。発振信
号の被供給所で必要とするレベルに昇圧させるためにレ
ベルシフト部310が作り出さなければならない電圧
は、ただMOSトランジスタMP10及びMN12のゲ
ートオン/オフに必要である程度の低い電圧であるの
で、レベルシフト部310での電力消耗量は相当に低
い。
RC発振器400の概念を低電圧LDI(LCD dr
iver IC)に応用するために20KHz〜40K
Hz低電圧(1.8V〜3.6V)低電力RC発振回路
200を設計し、その特性を測定した。回路サイズは
0.076mm×0.032mmであり、適用された製
造工程は0.65μm n−well CMOS製造工
程であった。特性測定において、主関心事項は供給電圧
Vddに対する周波数、電流、基準電圧及びデューティ
の変化特性と温度に対する周波数、電流及び基準電圧の
変化である。実際で作ったマイクロパワーRC発振器4
00において、回路の正常な供給電圧(normal
supply voltage)は2.4Vであり、接
地端に流れる回路の総消費電流(current co
nsumption)Iddは6.3μA程度である。
器400の供給電圧(supplyvoltage)V
ddを1.8〜3.6Vの範囲で可変させたときの、マ
イクロパワーRC発振器400の発振信号の発振周波数
(frequency)、総消費電流Idd、発振信号
のデューティ比、そして温度補償基準電圧部110で得
られる基準信号Vrefの変化特性を図示する。図面の
グラフを通じて分かるように、測定結果によると、前記
発振信号の発振周波数と消費電流Iddは、大略200
Hz(34.15〜34.35Khz)と270nA
(6.28〜6.55μA)程度の偏差を示した。これ
から分かるように、発振周波数や消費電流は供給電圧V
ddの変動に対して無視することができる程度の変化の
み示して、非常に安定していると評価することができ
る。さらに、供給電圧に対する出力発振信号のデューテ
ィ比と、前記基準電圧Vrefの変化幅は各々大略0.
35%及び0.015V程度で、これから、大きな変化
なしに安定した特性を示すことが確認された。
クロパワーRC発振器400の発振周波数、総消費電流
Idd及び基準電圧Vrefの変化特性を図示する。−
45℃〜100℃程度の温度変化に対する発振周波数の
偏差は大略1.43KHz程度であり、総消費電流Id
dと基準電圧Vrefは各々大略4μAと0.02V程
度の変化を示した。温度範囲が−25℃〜75℃程度の
動作領域での温度変化に対して消費電流Iddは5.1
6〜8.13μA程度の偏差を示し、基準電圧Vref
の偏差は大略21.3mA程度を示した。本発明は、抵
抗に焦点を合わせて安定した温度特性を得るための考慮
を提案したが、抵抗にのみ限定しなくて、RC発振回路
200のキャパシタCや両方向転送ゲート258,26
0,262,264の温度特性までも安定化させること
ができる設計上の考慮をすると、特性の偏差はさらに減
らすことができる。
する発振信号の発振周波数の変動特性を示す。デコーダ
280の入力データを3ビットにして(図3では便宜上
2ビットである場合を例示的に説明した)その値を1か
ら8まで可変させた場合、可変抵抗Rvの抵抗値が変化
しながら発振周波数の大きさが可変されるが、この時、
発振周波数の変化幅は9KHz程度になった。
部110の出力部(outputstage)114の
トランジスタは温度に対する電圧変動特性と製造工程上
の要件を充足させると、MOSトランジスタでなくても
よい。即ち、出力部のトランジスタが温度変化に対して
反比例的な電圧降下特性即ち、CTAT特性を有するこ
と、そしてPTAT電流源112を構成するMOSトラ
ンジスタと共に製造することができれば、バイポーラト
ランジスタを利用することもできる。例えば、図16と
図17は出力部のトランジスタとしてMOSトランジス
タの代わりにバイポーラトランジスタを採用した場合の
温度補償基準電圧部110−1,110−2の回路構成
例を各々図示する。
はCMOS工程によって製造される基板バイポーラトラ
ンジスタ(substrate bipolar tr
ansistor)Q1であり、図17の出力部114
−2のトランジスタはBiCMOS工程によって製造さ
れるバイポーラトランジスタQ2である。基板バイポー
ラトランジスタは構造的にエミッタがP型基板に連結さ
れたバイポーラトランジスタとして、CMOS工程で製
造可能であるバイポーラトランジスタである。図16と
図17は各々SPNP(substrate PNP)
型バイポーラトランジスタQ1とNPN型バイポーラト
ランジスタQ2を採用した場合を例示しており、バイポ
ーラトランジスタQ1,Q2の各々はコレクタとベース
が短絡されてダイオードとして作用する。
電圧Vrefは次のように書ける。知られたように、バ
イポーラトランジスタは温度変化に対するベース−エミ
ッタ電圧VBEの変化特性が−2.0mV/℃として、
基本的にCTAT特性を有する。従って、次の式でIR
4はPTAT特性を示し、VBE1又はVBE2はCT
AT特性を示す。 [数式17] Vref=IR4+VBE1 又は =IR4+VBE2 ここで、VBE1又はVBE2はバイポーラトランジス
タQ1又はQ2のベース−エミッタ電圧である。
説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属す
る技術分野において通常の知識を有するものであれば本
発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正また
は変更できる。例えば、図2や図4の回路を構成するM
OSトランジスタの種類を変更させて、たとえば、N型
をP型にもしくは反対にP型をN型に変更させて、新し
い回路を構成することもでき、かつ、図16、図17で
バイポーラトランジスタQ1又はQ2をPNP型バイポ
ーラトランジスタへ変更することもできる。このような
変形の例は本発明の特許請求の範囲の等価的な意味や範
囲に属する変形例である。
電力供給量の削減、温度に対する独立的な回路構成そし
て、抵抗とキャパシタの工程許容誤差(process
tolerance)の最小化問題などである。回路
の実際の具現と特性の測定を通じて確認することができ
るように、本発明によるマイクロパワーRC発振器はま
ず、温度変化に対して安定した周波数特性を有するの
で、温度変化に大きな影響を受けなく、正確な発振信号
を作り出すことができる。さらに、RC発振回路に供給
する駆動電圧のレベルを低くして、出力レベル変換回路
でも低電圧を利用することで、発振器を低電力型に構成
することができて、携帯用電子装置のクロック信号源と
しての応用性がよくなる。
ーRC発振器の構成を示す図である。
例による回路構成を示す図である。
を含むRC発振回路の構成を示す図である。
構成を示す図である。
2,V3ノードの電圧波形図である。
す図である。
を示す図である。
可変させたときの、該発振器の発振周波数の変化特性を
示す図である。
可変させたときの、該発振器の総消費電流の変化特性を
示す図である。
を可変させたときの、該発振器の発振信号のデューティ
比の変化特性を示す図である。
を可変させたときの、温度補償基準電圧部で得られる基
準電圧の変化特性を示す図である。
の発振周波数の変化特性を示す図である。
の総消費電流の変化特性を示す図である。
れる基準電圧の変化特性を示す図である。
振周波数の変動特性を示す図である。
体例による回路構成を示す図である。
体例による回路構成を示す図である。
散抵抗 250b,252b,254b,256b ポリシ
リコン抵抗 C キャパシタ 258,260,262,264 両方向転送ゲー
ト 280 デコーダ 300 出力レベル変換回路 310 レベルシフト部 320 出力バッファ部 400 マイクロパワーRC発振器
Claims (24)
- 【請求項1】 温度変化に対して互いに相反した特性を
有する電流源と負荷を利用して温度変化に対して安定し
た電圧レベルの基準信号を得て、この基準信号の電流フ
ァンアウト(fan−out)能力を増大させて駆動電
源を生成する駆動電源回路手段と、 各々が前記駆動電源回路手段から前記駆動電源の供給を
受けて駆動される直列連結された多数個のインバータ回
路と、出力端に連結された最先頭インバータの出力端と
最後方インバータの入力端との間に挿入されて閉ループ
を形成する可変抵抗および、最後方インバータの入力端
と前記可変抵抗の接続ノードと前記最先頭インバータの
入力端との間に挿入されるキャパシタを有するRC回路
とを含んで、前記可変抵抗は外部から供給される抵抗値
データに応じてその大きさが可変的に設定され、温度変
化に対して互いに相反した特性を有する抵抗要素を所定
の比率で組合せて構成され、前記出力端には前記RC回
路の時定数によって定まる周波数により発振する発振信
号が表れるRC発振回路手段とを具備することを特徴と
するマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項2】 前記RC発振回路手段から出力される発
振信号の電圧レベルを所定のレベルにシフティングして
出力する出力レベル変換手段をさらに具備することを特
徴とする請求項1に記載のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項3】 前記可変抵抗は、温度変化に対して相反
した抵抗特性を有するP+拡散抵抗とポリシリコン抵抗
を所定の比率で結合して温度補償特性を有するように構
成されたことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載
のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項4】 前記可変抵抗は、 多数個の単位抵抗と、 外部から供給される抵抗値設定データに依拠して前記多
数個の単位抵抗のうちで発振周波数の決定に寄与する有
効抵抗を選択するための抵抗値調整部とを具備し、 前記多数個の単位抵抗の各々は、温度変化に対して相反
した抵抗特性を有するP+拡散抵抗とポリシリコン抵抗
が直列に結合して自己温度補償特性を有することを特徴
とする請求項1又は請求項2に記載のマイクロパワーR
C発振器。 - 【請求項5】 前記多数個の単位抵抗は互いに直列に連
結され、 前記抵抗値調整部は、 前記抵抗値設定データをデコーディングして多数個の出
力ポートに出力するデコーダと、 このデコーダの各出力ポートに各々連結されて、前記各
出力ポートの出力値をインバーティングするための多数
個のインバータと、 前記単位抵抗に各々対応する抵抗選択部としての多数の
両方向転送ゲートとを含み、 前記両方向転送ゲートの各々の一端は互いに共通接続さ
れ、他端は前記多数個の単位抵抗の一端に各々接続さ
れ、前記両方向転送ゲートの各々の第1制御端は前記デ
コーダの対応出力ポートに連結され、第2制御端は前記
対応出力ポートに連結された前記インバータの出力端に
連結されることを特徴とする請求項4に記載のマイクロ
パワーRC発振器。 - 【請求項6】 前記出力レベル変換手段は、 前記RC発振回路手段から供給される前記発振信号を、
その振幅より大きな振幅を有する昇圧された発振信号に
変換して出力するレベルシフト回路と、 前記昇圧された発振信号の入力に応じて出力発振信号の
振幅を供給電圧のレベルに合わせて出力する出力バッフ
ァ回路とを具備することを特徴とする請求項2に記載の
マイクロパワーRC発振器。 - 【請求項7】 前記駆動電源回路手段は、 第3抵抗(R4)及びこの第3抵抗(R4)に直列連結
され、温度変化に対して反比例的な電圧降下特性を示す
第3トランジスタで具現されたダイオードを含む出力部
と、この出力部に連結されて温度変化に正比例する特性
の電流を前記出力部に供給するPTAT電流源を具備
し、前記基準信号は、前記出力部の両端にかかる電圧に
なるように構成された温度補償基準電圧部と、 この温度補償基準電圧部が生成した前記基準信号のファ
ンアウト(fan−out)能力を増大させるためのバ
ッファ増幅部とを含むことを特徴とする請求項1に記載
のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項8】 前記第3トランジスタは、弱反転領域で
ソース−ゲート電圧が温度変化に反比例する特性を示す
MOSトランジスタ(MN7)であることを特徴とする
請求項7に記載のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項9】 前記第3トランジスタはBiCMOS工
程によって製造されるNPN型バイポーラトランジスタ
であることを特徴とする請求項7に記載のマイクロパワ
ーRC発振器。 - 【請求項10】 前記第3トランジスタはCMOS工程
によって製造されるSNPN(substrate N
PN)型バイポーラトランジスタであることを特徴とす
る請求項7に記載のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項11】 前記温度補償基準電圧部と前記バッフ
ァ増幅部との間に挿入されて、前記温度補償基準電圧部
が生成した前記基準信号の電圧レベルを増幅させて、前
記バッファ増幅部に供給する電圧増幅部をさらに具備す
ることを特徴とする請求項7に記載のマイクロパワーR
C発振器。 - 【請求項12】 前記PTAT電流源は、 第1MOSトランジスタ(MN1)と第1抵抗(R5)
が直列連結された第1ブランチ、第2抵抗(R3)と第
2MOSトランジスタ(MN4)が直列連結された第2
ブランチ、そして前記第1抵抗(R5)及び前記第2抵
抗(R3)にブランチ電流(I)を供給するミラー電流
源を含み、前記ブランチ電流(I)が下の式 I=(Vgs2−Vgs3)/(R5+R3)=nVT
1nK で決定されるように、前記第2抵抗(R3)の両端は前
記第1MOSトランジスタ(MN1)と前記第2MOS
トランジスタ(MN4)のゲートに各々連結される構成
の第1回路と、 この第1回路のブランチ電流をミラーリングして前記負
荷に供給する第2回路とを含み、 前記式で、nは理想係数(ideality fact
or)であり、Vgs3とVgs2は各々弱反転領域で
表れる前記第1及び第2MOSトランジスタ(MN1,
MN4)のゲート−ソース電圧であり、VTは前記第1
及び第2MOSトランジスタ(MN1,MN4)のスレ
ッショルド電圧であり、R5及びR3は前記第1及び第
2抵抗の抵抗値を示し、Kは前記第1MOSトランジス
タ(MN1)と前記第2MOSトランジスタ(MN4)
との間のソース−ドレインチャネル幅(W)の大きさの
比を示すことを特徴とする請求項7に記載のマイクロパ
ワーRC発振器。 - 【請求項13】 出力端子と接地との間に直列結合され
た出力端抵抗と出力端トランジスタで具現されたダイオ
ードとを含み、前記出力端トランジスタは、温度変化に
対して反比例的な電圧降下特性を有する出力部および、
この出力部に連結されて温度変化に正比例する電流特性
を有するPTAT電流源を具備し、前記出力端子の温度
変化に対して安定的な電圧レベルの基準信号が表れる温
度補償基準電圧手段と、 この温度補償基準電圧手段が生成した前記基準信号の電
圧レベルを増幅して出力するための電圧増幅手段と、 この電圧増幅手段によって増幅された基準信号を電圧フ
ォロア方式にバッファリングしてファンアウト(fan
−out)能力が増大した駆動電源を出力するためのバ
ッファ増幅手段と、 このバッファ増幅手段から各々前記駆動電源の供給を受
けて駆動される直列連結された多数個のインバータと、
出力端に連結された最先頭インバータの出力端と最後方
インバータの入力端との間に挿入されて閉ループを形成
し、外部から供給される抵抗値設定データによってその
抵抗値が可変される可変抵抗部および、前記最先頭イン
バータの入力端と前記最後方インバータの入力端との間
に挿入されるキャパシタを有するRC回路とを含んで、
前記出力端に前記RC回路の時定数によって定まる発振
周波数の発振信号を生成するRC発振回路手段と、 前記発振信号を所定のレベルに昇圧させて出力するレベ
ルシフト回路とを具備することを特徴とするマイクロパ
ワーRC発振器。 - 【請求項14】 前記出力端トランジスタは、弱反転領
域でソース−ゲート電圧が温度変化に反比例する特性を
示すMOSトランジスタ(MN7)であることを特徴と
する請求項13に記載のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項15】 前記出力端トランジスタは、BiCM
OS工程によって製造されるNPN型バイポーラトラン
ジスタであることを特徴とする請求項13に記載のマイ
クロパワーRC発振器。 - 【請求項16】 前記出力端トランジスタはCMOS工
程によって製造されるSNPN(substrate
NPN)型バイポーラトランジスタであることを特徴と
する請求項13に記載のマイクロパワーRC発振器。 - 【請求項17】 RC発振回路手段内の前記可変抵抗部
は、 多数個の単位抵抗と、 前記抵抗値設定データに依拠して前記多数個の単位抵抗
のうちで前記発振周波数の決定に有効に寄与する有効抵
抗を選択するための抵抗値調整部とを具備し、 前記多数個の単位抵抗の各々は、温度変化に対して相反
した抵抗特性を有するP+拡散抵抗とポリシリコン抵抗
を所定の比率で含んで安定的な温度特性を示すように構
成されたことを特徴とする請求項13に記載のマイクロ
パワーRC発振器。 - 【請求項18】 前記多数個の単位抵抗は互いに直列に
連結され、 前記抵抗値調整部は、 前記抵抗値設定データをデコーディングして多数個の出
力ポートに出力するデコーダと、 このデコーダの各出力ポートに各々連結されて、前記各
出力ポートの出力値をインバーティングするための多数
個のインバータと、 前記単位抵抗に各々対応する抵抗選択部としての多数の
両方向転送ゲートとを含み、 前記両方向転送ゲートの各々の一端は互いに共通接続さ
れ、他端は前記多数個の単位抵抗の一端に各々接続さ
れ、前記両方向転送ゲートの各々の第1制御端は前記デ
コーダの対応出力ポートに連結され、第2制御端は前記
対応出力ポートに連結された前記インバータの出力端に
連結されることを特徴とする請求項17に記載のマイク
ロパワーRC発振器。 - 【請求項19】 前記PTAT電流源は、第1MOSト
ランジスタ(MN1)と第1抵抗(R5)が直列連結さ
れた第1ブランチ、第2抵抗(R3)と第2MOSトラ
ンジスタ(MN4)が直列連結された第2ブランチ、そ
して前記第1及び第2抵抗(R5,R3)にブランチ電
流(I)を供給する電流ミラー部を含み、前記ブランチ
電流(I)が下の式 I=(Vgs2−Vgs3)/(R5+R3)=nVT
1nK で決定されるように、前記第2抵抗(R3)の両端は前
記第1及び第2MOSトランジスタ(MN1,MN4)
のゲートに各々連結される構成の第1回路と、 この第1回路のブランチ電流をミラーリングして前記出
力部に供給する第2回路とを含み、 前記式で、nは理想係数であり、Vgs3とVgs2は
各々弱反転領域で表れる前記第1及び第2MOSトラン
ジスタのゲート−ソース電圧であり、R5及びR3は前
記第1及び第2抵抗の抵抗値を示し、VTは前記第1及
び第2MOSトランジスタのスレッショルド電圧であ
り、Kは前記第2MOSトランジスタのソース−ドレイ
ンのチャネル幅に対する前記第1MOSトランジスタの
ソース−ドレインのチャネル幅の大きさの比を示すこと
を特徴とする請求項13に記載のマイクロパワーRC発
振器。 - 【請求項20】 前記昇圧された発振信号の入力に応じ
て出力信号のレベルが供給電圧に合うようにバッファリ
ングして出力する出力バッファ回路をさらに具備するこ
とを特徴とする請求項13に記載のマイクロパワーRC
発振器。 - 【請求項21】 前記レベルシフト回路と前記出力バッ
ファ回路は、外部から供給されるディスエーブル(di
sable)信号によって作動が中断される構成を有す
ることを特徴とする請求項20に記載のマイクロパワー
RC発振器。 - 【請求項22】 各々が駆動電源を独立的に供給されて
駆動される直列連結された多数個のインバータ回路と、 出力端に連結された最先頭インバータの出力端と最後方
インバータの入力端との間に挿入されて閉ループを形成
し、外部から供給される抵抗値設定データによってその
抵抗値が可変される可変抵抗部および、前記最先頭イン
バータの入力端と前記最後方インバータの入力端との間
に挿入されるキャパシタを有するRC回路とを具備し、 前記可変抵抗部は、 多数個の単位抵抗と、 前記抵抗値設定データに依拠して前記多数個の単位抵抗
のうちで発振周波数の決定に寄与する有効抵抗を選択す
るための抵抗値調整部とを具備し、 多数個の単位抵抗の各々は、温度変化に対して相反した
抵抗特性を有するP+拡散抵抗とポリシリコン抵抗を所
定の比率で含み、 前記RC回路の時定数によって定まる発振周波数を有す
る発振信号を前記出力端に生成することを特徴とするマ
イクロパワーRC発振器。 - 【請求項23】 前記抵抗値調整部は、 前記抵抗値設定データをデコーディングして多数個の出
力ポートに出力するデコーダと、 このデコーダの各出力ポートに各々連結されて、前記各
出力ポートの出力値をインバーティングするための多数
個のインバータと、及び前記単位抵抗に各々対応する抵
抗選択部としての多数の両方向転送ゲートとを含み、 前記両方向転送ゲートの各々の一端は互いに共通接続さ
れ、他端は前記多数個の単位抵抗の一端に各々接続さ
れ、前記両方向転送ゲートの各々の第1制御端は前記デ
コーダの対応出力ポートに連結され、第2制御端は前記
対応出力ポートに連結された前記インバータの出力端に
連結されることを特徴とする請求項22に記載のマイク
ロパワーRC発振器。 - 【請求項24】 前記可変抵抗部と前記デコーダを単一
チップに内蔵して構成することを特徴とする請求項22
に記載のマイクロパワーRC発振器。
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---|---|
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Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005176363A (ja) * | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Hynix Semiconductor Inc | 可変駆動電圧により動作するオシレータ |
JP2005217762A (ja) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Fujitsu Ltd | 発振回路および半導体装置 |
JP2006279517A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Toshiba Corp | 電圧レベル変換回路及び半導体集積回路装置 |
JP2007325273A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 超低電力rc発振器 |
JP2009070211A (ja) * | 2007-09-14 | 2009-04-02 | Panasonic Corp | 電圧発生回路 |
JP2012009929A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Renesas Electronics Corp | 可変容量素子 |
JP2012124806A (ja) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Panasonic Corp | 半導体リレー |
JP2013005109A (ja) * | 2011-06-14 | 2013-01-07 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 発振回路 |
US8436687B2 (en) | 2009-12-24 | 2013-05-07 | Fujitsu Semiconductor Limited | Oscillating apparatus |
JP2013131832A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 発振回路 |
JP2013143018A (ja) * | 2012-01-11 | 2013-07-22 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 基準電圧生成回路,それを有する発振回路および発振回路の発振周波数の校正方法 |
US9391595B2 (en) | 2013-11-27 | 2016-07-12 | Seiko Epson Corporation | Clock signal generation circuit, detection device, sensor, electronic apparatus, and moving object |
JP2016201703A (ja) * | 2015-04-10 | 2016-12-01 | セイコーエプソン株式会社 | Cr発振回路 |
WO2018159033A1 (ja) * | 2017-03-02 | 2018-09-07 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 発振回路、計時回路、電子機器および発振回路の制御方法 |
WO2020250485A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体リレー |
Families Citing this family (48)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3887260B2 (ja) * | 2002-04-09 | 2007-02-28 | 沖電気工業株式会社 | 分圧抵抗のレイアウト方法 |
CA2393651A1 (en) * | 2002-07-29 | 2004-01-29 | Ralph Dickson Mason | Low power oscillator and power down method |
KR100446305B1 (ko) * | 2002-08-20 | 2004-09-01 | 삼성전자주식회사 | 제어 가능한 슈미트 트리거를 이용한 전원 전압 및 온도에무관한 rc 오실레이터 |
JP2004146866A (ja) * | 2002-10-21 | 2004-05-20 | Denso Corp | 発振回路 |
US20040263260A1 (en) * | 2003-06-30 | 2004-12-30 | Ashoke Ravi | Device and method of wide-range tuning of oscillators |
US7543253B2 (en) * | 2003-10-07 | 2009-06-02 | Analog Devices, Inc. | Method and apparatus for compensating for temperature drift in semiconductor processes and circuitry |
SE526944C2 (sv) * | 2003-11-27 | 2005-11-22 | Peltor Ab | Hörselskydd |
KR100586545B1 (ko) * | 2004-02-04 | 2006-06-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 오실레이터용 전원공급회로 및 이를이용한 전압펌핑장치 |
KR101051686B1 (ko) * | 2004-04-27 | 2011-07-25 | 매그나칩 반도체 유한회사 | 다단 알시(rc) 오실레이터 및 주파수 튜닝 방법 |
KR100696943B1 (ko) * | 2004-10-12 | 2007-03-20 | 전자부품연구원 | 온도 및 전압 변화에 독립적인 출력을 가지는 발진기 |
US7113881B2 (en) * | 2004-11-04 | 2006-09-26 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for semi-automatic extraction and monitoring of diode ideality in a manufacturing environment |
JP4098298B2 (ja) * | 2004-11-16 | 2008-06-11 | ローム株式会社 | Cr発振回路および電子装置 |
KR100688533B1 (ko) * | 2005-02-15 | 2007-03-02 | 삼성전자주식회사 | 공정산포,전압 및 온도에 덜민감한 저항-커패시터 발진회로 |
US7413342B2 (en) * | 2005-02-22 | 2008-08-19 | Micron Technology, Inc. | DRAM temperature measurement system |
DE102005022337A1 (de) * | 2005-05-13 | 2006-11-23 | Texas Instruments Deutschland Gmbh | Spannungsgesteuerte Stromquelle |
JP2006325292A (ja) * | 2005-05-17 | 2006-11-30 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | チャージポンプ方式昇圧回路及びアンテナスイッチ |
US7408421B2 (en) * | 2006-07-05 | 2008-08-05 | International Business Machines Corporation | Determining thermal absorption using ring oscillator |
US8476709B2 (en) | 2006-08-24 | 2013-07-02 | Infineon Technologies Ag | ESD protection device and method |
US7576598B2 (en) * | 2006-09-25 | 2009-08-18 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference and method for providing same |
US8102201B2 (en) | 2006-09-25 | 2012-01-24 | Analog Devices, Inc. | Reference circuit and method for providing a reference |
DE102006060870A1 (de) * | 2006-12-22 | 2008-07-24 | Atmel Duisburg Gmbh | Integrierbare Schaltungsanordnung und integrierte Schaltung |
US7714563B2 (en) * | 2007-03-13 | 2010-05-11 | Analog Devices, Inc. | Low noise voltage reference circuit |
JP2008244665A (ja) * | 2007-03-26 | 2008-10-09 | Fujitsu Ltd | 発振回路及び半導体装置 |
US20080265860A1 (en) * | 2007-04-30 | 2008-10-30 | Analog Devices, Inc. | Low voltage bandgap reference source |
US7605578B2 (en) | 2007-07-23 | 2009-10-20 | Analog Devices, Inc. | Low noise bandgap voltage reference |
US8203392B2 (en) * | 2007-08-24 | 2012-06-19 | Standard Microsystems Corporation | Oscillator stabilized for temperature and power supply variations |
US7612606B2 (en) * | 2007-12-21 | 2009-11-03 | Analog Devices, Inc. | Low voltage current and voltage generator |
US7598799B2 (en) * | 2007-12-21 | 2009-10-06 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
US7760033B2 (en) * | 2007-12-31 | 2010-07-20 | Intel Corporation | Ring oscillators for NMOS and PMOS source to drain leakage and gate leakage |
US7880533B2 (en) * | 2008-03-25 | 2011-02-01 | Analog Devices, Inc. | Bandgap voltage reference circuit |
US7902912B2 (en) * | 2008-03-25 | 2011-03-08 | Analog Devices, Inc. | Bias current generator |
US7750728B2 (en) * | 2008-03-25 | 2010-07-06 | Analog Devices, Inc. | Reference voltage circuit |
US7907003B2 (en) * | 2009-01-14 | 2011-03-15 | Standard Microsystems Corporation | Method for improving power-supply rejection |
CN101488750B (zh) * | 2009-02-20 | 2013-01-30 | 华为技术有限公司 | 振荡频率的补偿方法和装置及锁相环电路 |
JP2011155489A (ja) * | 2010-01-27 | 2011-08-11 | Toshiba Corp | 半導体集積回路装置および発振周波数較正方法 |
US20120326260A1 (en) * | 2011-06-21 | 2012-12-27 | William French | Photodiode that incorporates a charge balanced set of alternating n and p doped semiconductor regions |
US8531249B2 (en) | 2011-12-16 | 2013-09-10 | Issc Technologies Corp. | Oscillator for generating output signal with adjustable frequency |
US8868962B2 (en) * | 2012-02-08 | 2014-10-21 | Arm Limited | Monitoring circuit and method |
KR20140100855A (ko) * | 2013-02-07 | 2014-08-18 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 주기신호생성회로 |
US9300247B2 (en) * | 2013-05-06 | 2016-03-29 | Texas Instruments Incorporated | RC oscillator with additional inverter in series with capacitor |
KR102074946B1 (ko) * | 2013-10-30 | 2020-02-07 | 삼성전자 주식회사 | 온도 보상 저전류 발진기 회로, 및 이를 포함하는 장치 |
CN108023546A (zh) * | 2016-11-04 | 2018-05-11 | 德昌电机(深圳)有限公司 | Rc振荡器以及包括其的电机驱动集成电路和电机装置 |
US10483985B2 (en) | 2017-01-23 | 2019-11-19 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Oscillator using supply regulation loop and operating method thereof |
CN107134979B (zh) * | 2017-04-21 | 2020-06-16 | 四川和芯微电子股份有限公司 | Rc振荡器 |
CN109756204B (zh) * | 2019-03-05 | 2023-11-14 | 广东合微集成电路技术有限公司 | 一种滤波器、振荡产生电路和电子器件 |
CN110492849B (zh) * | 2019-09-02 | 2023-07-28 | 成都锐成芯微科技股份有限公司 | 一种rc振荡电路 |
US11398796B1 (en) * | 2021-01-26 | 2022-07-26 | Micron Technology, Inc. | Temperature compensated oscillators and associated methods |
CN113489460B (zh) * | 2021-07-02 | 2023-10-20 | 珠海市杰理科技股份有限公司 | Rc振荡电路及rc振荡器 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5440277A (en) * | 1994-09-02 | 1995-08-08 | International Business Machines Corporation | VCO bias circuit with low supply and temperature sensitivity |
US5570067A (en) | 1995-06-06 | 1996-10-29 | National Semiconductor Corporation | Micropower RC oscillator having hysteresis produced by switching current sources to a transistor |
US5585765A (en) | 1995-06-07 | 1996-12-17 | American Microsystems, Inc. | Low power RC oscillator using a low voltage bias circuit |
US5672961A (en) | 1995-12-29 | 1997-09-30 | Maxim Integrated Products, Inc. | Temperature stabilized constant fraction voltage controlled current source |
US5828329A (en) | 1996-12-05 | 1998-10-27 | 3Com Corporation | Adjustable temperature coefficient current reference |
US6198356B1 (en) * | 1999-07-12 | 2001-03-06 | Nortel Networks Limited | Voltage controlled oscillator power supply and temperature compensation circuit |
-
2000
- 2000-05-23 KR KR1020000027841A patent/KR100347349B1/ko active IP Right Grant
-
2001
- 2001-05-16 US US09/859,785 patent/US6462625B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-05-18 JP JP2001149846A patent/JP3772300B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011072018A (ja) * | 2003-12-08 | 2011-04-07 | Hynix Semiconductor Inc | 可変駆動電圧により動作するオシレータ |
JP2005176363A (ja) * | 2003-12-08 | 2005-06-30 | Hynix Semiconductor Inc | 可変駆動電圧により動作するオシレータ |
JP2005217762A (ja) * | 2004-01-29 | 2005-08-11 | Fujitsu Ltd | 発振回路および半導体装置 |
JP4514460B2 (ja) * | 2004-01-29 | 2010-07-28 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 発振回路および半導体装置 |
JP2006279517A (ja) * | 2005-03-29 | 2006-10-12 | Toshiba Corp | 電圧レベル変換回路及び半導体集積回路装置 |
JP2007325273A (ja) * | 2006-06-01 | 2007-12-13 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 超低電力rc発振器 |
JP4510054B2 (ja) * | 2006-06-01 | 2010-07-21 | 三星電機株式会社 | 超低電力rc発振器 |
JP2009070211A (ja) * | 2007-09-14 | 2009-04-02 | Panasonic Corp | 電圧発生回路 |
US8436687B2 (en) | 2009-12-24 | 2013-05-07 | Fujitsu Semiconductor Limited | Oscillating apparatus |
JP2012009929A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Renesas Electronics Corp | 可変容量素子 |
JP2012124806A (ja) * | 2010-12-10 | 2012-06-28 | Panasonic Corp | 半導体リレー |
JP2013005109A (ja) * | 2011-06-14 | 2013-01-07 | Lapis Semiconductor Co Ltd | 発振回路 |
JP2013131832A (ja) * | 2011-12-20 | 2013-07-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 発振回路 |
JP2013143018A (ja) * | 2012-01-11 | 2013-07-22 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 基準電圧生成回路,それを有する発振回路および発振回路の発振周波数の校正方法 |
US9112510B2 (en) | 2012-01-11 | 2015-08-18 | Socionext Inc. | Reference voltage generation circuit, oscillation circuit including the same and method for calibrating oscillation frequency of oscillation circuit |
US9391595B2 (en) | 2013-11-27 | 2016-07-12 | Seiko Epson Corporation | Clock signal generation circuit, detection device, sensor, electronic apparatus, and moving object |
JP2016201703A (ja) * | 2015-04-10 | 2016-12-01 | セイコーエプソン株式会社 | Cr発振回路 |
US9716501B2 (en) | 2015-04-10 | 2017-07-25 | Seiko Epson Corporation | CR oscillation circuit |
WO2018159033A1 (ja) * | 2017-03-02 | 2018-09-07 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 発振回路、計時回路、電子機器および発振回路の制御方法 |
JPWO2018159033A1 (ja) * | 2017-03-02 | 2019-12-26 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 発振回路、計時回路、電子機器および発振回路の制御方法 |
JP7053564B2 (ja) | 2017-03-02 | 2022-04-12 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 発振回路、計時回路、電子機器および発振回路の制御方法 |
WO2020250485A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 半導体リレー |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20020000889A1 (en) | 2002-01-03 |
US6462625B2 (en) | 2002-10-08 |
JP3772300B2 (ja) | 2006-05-10 |
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KR20010106856A (ko) | 2001-12-07 |
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