JP2001502414A - スライド及び試料の調製品質を評価するための方法及び装置 - Google Patents

スライド及び試料の調製品質を評価するための方法及び装置

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Abstract

(57)【要約】 自動化された生物学的試料のスクリーニングを行う装置(500)がスライド及び試料の調製及び品質の評価を報告する。その自動化された生物学的試料のスクリーニング装置(500)はスライドの物理特性、試料の収集品質、及び試料の調製品質を反映するパラメータを測定する。この自動化されたシステム(500)は対象物の測定値を報告し、評価の首尾一貫した標準(118、120、122、124、126)を使用する。この自動化されたシステム(500)は診療所からのスライドセットの特性を評価する(103)。前記自動化システム(500)はこれらの特性が与えられた生物学的スクリーニング装置のトレーニング機能の範囲内にあるかどうかを判定する。さらに、定期的な見直しではなく、自動化システム(500)によって正常に走査されたスライド(201)が試料調製評価の一部(90、100)として使われる。

Description

【発明の詳細な説明】 スライド及び試料の調製品質を評価するための方法及び装置 本発明は、スライド及び試料の調製品質を評価するための方法及び装置に関し 、特に、スライド上に固定されて染色された生物学的試料の母集団を自動的に評 価する方法及び装置に関する。 発明の背景 試料が採取される病気のプロセスは、試料の固定又は染色などの試料の調製が 不適切であるか、又は首尾一貫していない場合には検出できない可能性がある。 結果として、病気のスクリーニングの効率を高めるためには、少なくとも最低品 質レベルの生物学的試料を提供する必要がある。試料の調製の評価のための方法 は、問題の病気のプロセスを検出することができるための、選択された品質のレ ベルを提供する技法及び材料を使って、試料が調製されることを確保する。 さらに、そのような評価は調製された処理がコンピュータによる検査に適して いるかどうかを判定することができる。選択された自動化システムのための要求 に合わせてその評価を調整することができる。さらに、改善を必要とする試料の 調製及び物理的特性についての情報を含めることができる。 試料の調製は細胞の形態学的詳細などの試料の特性に影響する。生物学的試料 の中の細胞の形態学的詳細は、生物学的試料の目視検査又はコンピュータによる 検査のために完全な状態で見えるようになっていなければならない。細胞を固定 することによって細胞の構造が動かないようにする。染色によってその固定され た細胞の構造が見えるようになる。試料の固定が不適切であると、細胞の形態学 的詳細が変化し、劣化する可能性がある。染色が不適切であると、細胞の詳細が 不明瞭になるか、又は細胞の構造が見えなくなる可能性がある。その評価は、自 動化された装置によって視覚的な検査又は分析のために細胞の良好な固定及び染 色を提供するような方法で試料の調製が行なわれているかどうかを判定する必要 がある。参考資料として、S.パッテン(Patten)による「子宮細胞の診 断細胞学(Diagnostic Cytopathology of the Uterine Cervix)」の1〜9ページ及び、ウイード(Wied )、バール(Bahr)及びバーテルス(Bartels)によって編集された 「子宮癌の細胞学的処理の自動化(The Automation of Ut erine Cancer Cytology)」の406〜415ページにあ る、S.パッテン(Patten)による「ルーチン的診断細胞学的処理の感度 及び詳細度」を参照されたい。現在、試料の調製は人間の目視検査によって定期 的に評価されている。 上記の参考文献の中で記述されているように、試料の収集又はサンプリングは 試料の診断上の有効性に強い影響を持つ別の特性である。その試料が解剖学的に 間違った場所で採取されるか、又は不適切な技法でサンプルされた場合、細胞の 種類の適切なスペクトルが現われない可能性がある。その評価は試料の収集が検 査のための細胞の良好なサンプルを提供するかどうかを判定する必要がある。 スライドの物理的特性は生物学的試料の自動検査のために重要である。スライ ドの厚さ、スライドのカバースリップ又はマーキングの位置合わせは効果的な画 像処理及びコンピュータによる検査のために所定のパラメータの範囲内になけれ ばならない。これらの品質は得られたサンプルの品質及び十分性を含む。本発明 は、初めて、これらの品質を測定するための実用的で客観的な方法及び装置を提 供する。 したがって、本発明の動機は試料の染色及び固定、試料の収集の品質及びスラ イドの物理的特性の客観的な測度を提供するための方法及び装置を提供すること である。 発明の概要 本発明はスライドの特性及び試料の調製品質の評価のための方法及び装置を提 供する。本発明の方法及び装置は画像解析システムと、動き制御器と、照明シス テムと、画像転送インターフェースとを含む。画像解析システムはカメラを備え ている画像収集システムをさらに含む。この画像収集システムはスライド上に搭 載されている試料の画像データを収集するために構築されている。画像収集シス テムはデータ処理システムに結合されて、画像収集システムからデータ処理シス テムに対して画像データを転送する。データ処理システムは複数のステップのプ ロセスを実装している。第1のステップはスライドの物理的特性の評価を含む。 第2のステップは試料の収集の品質の評価を含む。第3のステップはスライドの 処理品質の評価を含む。第4のステップは試料の調製品質の評価を含む。第5の ステップは試料の分析の精度の評価を含む。 本発明の他の目的、特徴及び利点は好適な実施形態の説明、特許請求の範囲及 び以下の図面から、当業分野の技術に熟達した人にとっては明らかとなる。ここ で図面の中の同じ番号の要素は同じである。 図面の簡単な説明 本発明を例示するために、付属の図面を参照しながら好適な実施形態が説明さ れる。 図1A、図1B及び図1Cは本発明の一実施形態を示す。 図2は本発明によるスライド及び試料の調製品質を評価するための方法のフロ ーチャートを示す。 図3はスライド及び試料の調製品質を評価するための方法のフローチャートで ある。 図4は好適な実施形熊の装置の単純化された略ブロック図である。 図5Aは分析される試料を含んでいるカバースリップ及びスライドの概略図を 示す。 図5Bは単独の低倍率の視野の図である。 図6は試料の最善の焦点位置が決定されるプロセスの高レベルのフローダイア グラムである。 図7は好適な実施形態において異なる焦点深度の場所から収集されて処理され る画像による処理のフローダイアグラムである。 図8及び図9は勾配フォーカススコア(gradient focus sc ore)と呼ばれる方法を使っている、初期フォーカススキャンの処理のフロー チャートを含み、パターン認識のフォーカシング(合焦)方法を適用するための 開始点を決定するフローダイアグラムを含んでいる。 図10は一組の焦点深度にわたる勾配フォーカススコアのプロット例、同じ物 のフィルタされたバージョン及びそのフィルタされたバージョンの計算結果であ り、このプロットは勾配フォーカススコアにおいてピークを見つける方法を示す ために使われる。 図11は試料の表面上で、細胞フォーカススキャンと呼ばれるパターン認識フ ォーカススキャンの径路を示す。 図12A、図12B、図12C及び図12Dは4種類の単純なバイナリの形態 学的演算を示す。 図13は細胞フォーカススコア形態学的プロセスのデータフローダイアグラム である。 好適実施形態の詳細な説明 本発明の現在好適な実施形態において、ここで開示されるシステムは次の資料 に示されて開示されているような、子宮頸部パップ(pap)スミアを解析する ためのシステムの中で使われている。それらは1992年2月18日出願のアラ ン(Alan)C.ネルソン(Nelson)らによる「通常の生物学的試料を 識別するための方法(Method For Identifying Nor mal Biomedical Specimens)」と題する、米国特許出 願第07/838,064号;1992年2月18日出願のエス.ジェームスリ ー(S.James Lee)他による「データ処理技法を使って対象物を識別 するための方法(Method For Identifying Objec ts Using Data Processing Techniques) 」と題する、米国特許出願第07/838,395号の一部継続出願である、1 994年1月10日出願の米国特許出願第08/179,812号;1992年 2月18出願のリチャード(Richard)エス.ジョンストン(S.Joh nston)他による「迅速に処理するデータシーケンサのための方法及び装置 (Method And Apparatus For Rapidly Pr ocessing Data Sequences)」と題する、現在は米国特 許第5,315,700となっている米国特許出願第07/838,070号; 1992年2月18日出願のジョン(Jon)ダブリュ.ハエンガ(W.Hay enga)他による「顕微鏡的画像信号の動的訂正のための方法及び装置(Me thod and Apparatus for Dynamic Corre ction of Microscopic Image Signals)」 と題する、現在は米国特許第5,361,140号となっている、米国特許出願 第07/838,065;及び1994年9月7日出願のハエンガ他による「フ ォーカスされた顕微鏡的画像の迅速な捕捉のための方法及び装置(Method and Apparatus for Rapid Capture of Focused Microscopic Images)」と題する、米国特 許出願第08/302,355(これは1992年2月18日出願の米国特許出 願第07/838,063の一部継続出願である)であり、これらの開示はそれ ぞれの全体が、それらに対する前述の引用によって本明細書の記載に援用する。 また、本発明は次の特許出願の中で記述されているような生物学的及び細胞学 的システムにも関連しており、それは1994年9月20日出願(特に他に注記 しない限り)の本発明と同じ譲受人に対して譲渡されているものであり、そして それらはすべて引用によって本明細書の記載に援用する。それらは、「視野優先 付け装置及び方法(Field Prioritization Appara tus and Method)」と題する、クアン(Kuan)他に対する米 国特許出願第08/309,118号;「生物学的試料についての細胞のグルー ピングの自動識別のための装置(Apparatus for Automat ed Identification of Cell Groupings on a Biological Specimen)」と題する、ウイルヘル ム(Wilhelm)他に対する米国特許出願第08/309,061号;「生 物学的試料における厚い細胞のグルーピングの自動識別のための装置(Appa ratus for Automated Identification o f Thick Cell Groupings on a Biologic al Specimen)」と題する、メイヤー(Meyer)他に対する米国 特許出願第08/309,116号;「生物学的分析システムの自己校正装置( Biological Analysis System Self Cali bration Apparatus)」と題する、リー(Lee)他に対する 米国特許出願第08/098,115号;「複数の細胞パターンの識別及び統合 化のための装置(Apparatus for Identification and Integration of Multiple Cell Pa tterns)」と題する、リー(Lee)他に対する米国特許出願第08/3 08,992号;「細胞学的システムの動的正規化のための方法(A Meth od for Cytological System Dynamic No rmalization)」と題する、リー(Lee)他に対する米国特許出願 第08/309,063号;「顕微鏡のスライド・カバースリップを検出するた めの方法及び装置(Method and Apparatus for D etecting a Microscope Slide Coversli p)」と題する、ローゼンロフ(Rosenlof)他に対する米国特許出願第 08/309,248号;「カバースリップの接着剤の中の泡を検出するための 装置(Apparatus for Detecting Bubbles i n Coverslip Adhesive)」と題する、ローゼンロフ(Ro senlof)他に対する米国特許出願第08/309,077号;「細胞学的 スライド・スコアリング装置(Cytological Slide Scor ing Apparatus)」と題する、リー(Lee)他に対する米国特許 出願第08/309,931号;「画像平面の変調パターン認識のための方法及 び装置(Method and Apparatus for Image P lane Modulation Pattern Recognition) 」と題する、リー(Lee)他に対する米国特許出願第08/309,148号 ;「自由な状態で置かれている細胞の識別のための装置(Apparatus for the Identification of Free‐Lying Cells)」と題する、リー(Lee)他に対する米国特許出願第08/3 09,250号;「自動化された細胞学的スコアリングのための不適切な条件の 検出のための方法及び装置(Method and Apparatus fo r Detection of Unsuitable Conditions for Automated Cytology Scoring)」と題す る、ウイルヘルム(Wilhelm)他に対する米国特許出願第08/309, 117号である。また、本明細書の記載に援用するのは、「生物学的試料の母集 団に対するスライド及び試料の調製を絶えず監視し、予測するための方法及び装 置(Method and Apparatus for Continuou sly Monitoring and Forcasting Slide and Specimen Preparation for a Biolo gical Specimen Population)」と題する、同じ譲渡 人 に対して譲渡された、1995年5月31日出願の、リー(Lee)他に対する 米国特許出願第08/455,296号である。 ここで図1A、図1B及び図1Cを参照すると、スライド及び試料の調製品質 を評価するための、本発明の装置の一実施形態500の概略図が示されている。 本発明のこの装置は画像システム502、動き制御システム504、画像処理シ ステム536、中央処理システム540、及びワークステーション542を含む 。画像システム502は照明装置508、画像光学系510、CCDカメラ51 2、照明センサ514及び画像捕捉及びフォーカスシステム516から構成され ている。画像捕捉及びフォーカスシステム516はCCDカメラ512に対する ビデオタイミングデータを提供し、CCDカメラ512は前記捕捉及びフォーカ スシステム516に対して走査線を含んでいる画像を提供する。照明センサの強 度が画像捕捉及びフォーカスシステム516に対して提供され、そこで照明セン サ514が光学系510からの画像のサンプルを受信する。いくつかの実施形態 においては、光学系510はカラーフィルタを含む場合がある。本発明の一実施 形態において、その光学系は自動化顕微鏡511をさらに含む。照明装置508 はスライドの照明を提供する。画像捕捉及びフォーカスシステム516はVME バス538に対してデータを提供する。VMEバスはそのデータを画像処理シス テム536に対して分配する。画像処理システム536はフィールドオブビュー (field‐of‐view)プロセッサ568から構成されている。画像は 画像バス564に沿って画像捕捉及びフォーカスシステム516から送られる。 中央プロセッサ540はVMEバス538を通じて本発明の動作を制御する。1 つの実施形態においては、中央プロセッサ562はモトローラ(MOTOROL A)の68030CPUを含む。モーションコントローラ504はトレイ取扱器 518、顕微鏡ステージ制御器520、顕微鏡のトレイコントローラ522及び 校正スライド524から構成されている。モータ駆動器526はスライドを光学 系の下に位置決めする。バーコード読取器528はスライド524上にあるバー コー ドを読む。タッチセンサ530はスライドが顕微鏡の対物レンズの下にあるかど うかを判定し、そしてドアインターロック532はドアが開かれている場合に動 作を防止する。モーションコントローラ534は中央プロセッサ540に応答し てモータ駆動器526を制御する。イーサネット通信システム560はワークス テーション542に対して通信し、システムの制御を提供する。ハードディスク 544はワークステーション550によって制御される。1つの実施形態におい ては、ワークステーション550は1台のワークステーションを含むことができ る。テープドライブ546はモデム548、モニタ552、キーボード554、 及びマウスポインティング装置556と同様に、ワークステーション550に接 続されている。プリンタ558はイーサネット560に接続されている。 動作時に、中央コンピュータ540はリアルタイムオペレーティングシステム で稼動し、顕微鏡511及びプロセッサを制御して顕微鏡511からの画像を取 得してディジタル化する。また、コンピュータ540は顕微鏡511のステージ を制御して試料を顕微鏡の対物レンズの下に位置決めし、そしてコンピュータ5 40の制御下で画像を受信する1台から15台までのフィールドオブビュー(F OV)プロセッサ568から制御する。 ここで説明されている各種のプロセスは、ディジタルプロセッサ上で実行する のに適したソフトウェアで実現できることは理解されるはずである。そのソフト ウェアは例えば、中央プロセッサ540の中に組み込むことができる。 ここで図2を参照すると、本発明のスライド及び試料の調製品質を評価するた めの方法のプロセスフローチャートが示されている。ステップ10において、専 門の技師が代表的な正常及び異常のスライドのある一組の研究質のスライドを収 集する。好適な実施形態においては、評価者は400個のスライドを収集する。 そのスライドセットは次のスライドを含む。 200枚の正常な限界内にあるスライド 150枚の低級SILスライド 50枚の高級SILスライド 低級うろこ状皮膜内損傷(squamous intraephitheli al lesions)(SIL)及び高級SILは低級及び高級の同母異父の 子宮頸部のSILである。 各カテゴリー内のスライドは1年以内に作られたものであることが望ましく、 そして研究所の単独のスライドケースアーカイブからランダムに選択されたもの でなければならない。1つの好適な実施形態においては、すべてのスライドはガ ラスのカバースリップを備えていることが望ましい。 例えば、自動化のシステムが参照された特許の中に記述されており、ステップ 20においてスライド及び試料の調製品質を評価するためのデータを得るために 、そのスライドセットを処理する。1つの好適な実施形態においては、その自動 化システムはワシントン州のベルヴュー(Bellevue)にあるネオパスイ ンコーポレーション(NeoPath、Inc)から入手できるAutoPap(R) 300を含むことができる。その自動化システムは獲得されたスライドから のデータを得る。 ステップ30〜70において、自動化システムはステップ20において得られ たデータについて一連のテストを実行する。ステップ30において、自動化シス テムはスライドの物理特性テストを実行してPapスミアスライドの物理特性を 評価し、それらがAutoPap(R)300システムなどの所定の自動化生物学 的試料のアナライザによって正常に走査されるかどうかを判定する。スライドの 物理特性テストは研究所から得られたスライドの物理特性を評価する。これらの 物理特性としては、例えば、表1に示されているような特性がある。<装置及び試料> 図4を参照すると、本発明の装置の一例の単純化された略ブロック図が示され ており、これは本発明の方法及び装置を非常に容易に説明するために示されてい る。図に示されている装置は中央コンピュータ101、リアルタイム走査制御器 システム102(これは画像捕捉システム104と一緒に顕微鏡のモータ駆動の ステージ103の動きを制御する)、ストロボスコープの照明システム105、 低パワーの顕微鏡対物レンズ107、CCDタイプの電子カメラ108、1つ又 はそれ以上の専用の画像処理システム109、及びタッチセンサ110を含む。 ストロボスコープ照明システム105は試料106上に短時間の光のフラッシュ をフォーカスする。試料106はガラスのスライド201上にマウントされ、透 明のカバースリップ202の下で保護されている。 コンピュータ101は以下に詳細に説明されるフォーカシング手順のステップ をガイドするためにプログラムすることができる。図4において、各種のコンポ ーネントの間の矢印は一般に情報の流れを表す。 図5Aはスライド201のさらに詳しい外観を示している。スライド201の 上には代表的な試料106がマウントされていて、透明のカバースリップ202 で覆われている。代表的なスライド201は長さ80mm×幅27mm×厚さ1 mmである。代表的なカバースリップ202は長さ60mm×幅24mm×厚さ 0.13mmである。試料106上の最善のフォーカスは、スライドとカバース リップとの組合せにおける歪みのため、そして試料自身の本質的に三次元の性質 のために、点によって変わる。 グリッド203が図5Bの中のスライド201の上に重畳されて示されている 。グリッド203は本発明の物理的実施形態においては見えないが、ここでは説 明の目的のために使われている。グリッド203は寸法を測るための目盛りとし て示されているのではない。グリッド203は図5Bの中にさらに詳細が示され ている210などの低倍率の視野の中へのスライドの分割を示している。各低倍 率視野210は例えば25個の高倍率の視野211に分割される。本発明の一実 施形態においては、捕捉されてディジタル化された低倍率の視野は512×51 2のピクセルを含んでおり、約1.4mm×1.4mmの試料の領域を表してい る。 <カバースリップの発見> 図6と一緒に図4を参照すると、中央コンピュータ101がプロセスステップ 401において所定の中央の場所へステージ103を移動させるスキャン制御器 102に対して命令を発行することによって試料の上でのフォーカシングが開始 される。その中央の場所は試料106の概略分かっている物理的位置に関して、 小さなカバースリップであっても、試料の上に正しく置かれた場合、中央位置の 周りのかなりの領域をカバーしなければならないように選ばれる。 ステップ402において、中央コンピュータ101はスライド201に対して 垂直の軸においてステージ103を動かすようにスキャン制御器102に指令し 、試料106がタッチセンサ110に近付くようにさせる。この運動はステップ 4 03においてタッチセンサ110が試料106上のカバースリップ202との接 触を記録するまで、又はステップ404において、行程の終点に到達するまで継 続する。ステップ404において移動の終点に到着することは、スライドが存在 しないか、又はその装置にとっては薄過ぎるスライドがあることを示しており、 その場合、問題のスライドの自動処理はステップ405において停止する。 タッチセンサ110がステップ403において試料106の上のカバースリッ プと接触したことを示すと、スキャン制御器102は中央コンピュータ101に 対して接触が発生したステージの位置を報告し、中央コンピュータ101はその 位置をステップ406において記憶する。この位置は中央点におけるカバースリ ップのトップのステージ位置を示し、フォーカシングのための開始点として使わ れる。タッチセンサが所定の高さよりも高い点においてカバースリップと接触し たことを示す場合、そのスライドは厚過ぎる。その場合、問題のスライドの自動 処理は停止する。特に、タッチセンサ110の位置はこの目的のために設計され たターゲット(目標)を使うことによって、対物レンズ107の焦点面からの既 知の距離となるように校正されている。ステップ411において、この校正がス テージ103を、中央の接触位置においてカバースリップ202の頂部のちょう ど下に対物レンズ107の焦点面があるような位置に対して、ステージ103を 移動させるために使われる。 しかし、カバースリップの位置が必ずより良好に決定されてからでなければ、 フォーカシングを継続することはできない。この目的に向かってステップ407 において、ステップ402〜404において上で説明された第1の接触と実質的 に同様なさらに4回の接触が、最小の中央カバースリップ領域の範囲内でスライ ド上の別々の位置において行なわれる。これらの各接触におけるカバースリップ の位置も記録される。ステップ408において、その5つの接触位置から最小二 乗法によって1つの平面が作られ、その平面の傾きが許容最大値と比較される。 その傾きが最大値を超過した場合、又は4つの接触のうちのどれかが位置の記録 に失敗した場合、そのスライドの処理はステップ405において停止される。ス テップ408において傾き過ぎているカバースリップは普通はそのスライドが装 置内に不適切に装着されていることを示す。 この点において、カバースリップの概略位置が知られているので、そのエッジ に対するさらに詳細のサーチがステップ409において行なわれる。ステップ4 10において、カバースリップのエッジが見つからなかった場合、又はエッジが 不適切なサイズ又は形状を示していた場合、そのスライドの処理はふたたびステ ップ405において停止される。 ステップ411において、ステージは対物レンズ107の焦点面がカバースリ ップ202の接触された表面のちょうど下にあるような高さにおいて、中央の接 触位置へ戻される。ステップ412において、試料106のフォーカシングが進 行し、中央コンピュータ101は初期フォーカススキャンを実行するために、画 像捕捉システム104によってステージ103の動きを調整するようにスキャン 制御器102に指令し、初期フォーカススキャンは中央の接触位置におけるカバ ースリップ202の表面のちょうど下からの画像がCCDカメラ108に焦点を 結ぶ場所から開始される。 <初期フォーカススキャン> ここで、図4も参照しながら、図5A、図5B、図6、図7、図8、図9、図 10及び図11を順番に参照して、初期フォーカススキャンについて詳細に説明 する。 フォーカススキャンの目的は最善の焦点面を見つけるために、試料における異 なる焦点面からの画像を捕捉して処理することである。この好適な実施形態にお いては、フォーカススキャンは次のように実行される。図4及び図7を一緒に参 照しながら説明すると、中央コンピュータ101はステップ1501において、 画像が収集されるステージ位置のリストをスキャン制御器102に対して渡す。 このステージ位置は対物レンズ107が試料106の中の異なる面にフォーカス させるように選定される。 スキャン制御器102はステージの動きのタイミングを計算し、1つのテーブ ルを作り、画像が収集されるべき時に、そしてステージが各位置にある時にステ ージの次々の場所を与える。テーブルのエントリーはステップ1502において 計算されて画像捕捉システム104に対して渡される。 ステップ1503において、画像捕捉システム104がそのテーブルを受け取 ると、スキャン制御器102はステージ103の運動を起動する。ステージの運 動は精度を確保するためにステップ1504においてエンコーダによって監視さ れる。ステージの位置が正しくなかった場合、それはコンピュータ101へ報告 され、コンピュータ101はステージをリセットして処理を再開することができ る。 テーブルにリストされるたびに、画像捕捉システム104はステップ1505 においてストロボ照明装置105をフラッシュさせる信号を発生する。照明装置 105はステップ1506において指定された位置にある試料106上に光の短 いフラッシュをフォーカスする。照明システムはステップ1507において光セ ンサによってストロボのフラッシュを監視する。フラッシュが欠落していた場合 、又はフラッシュの強度が正しくなかった場合、それはコンピュータ101に対 して報告され、コンピュータ101はそのスライドの処理を停止させることがで きる。 ステップ1508において、対物レンズ107は試料106の照明された視野 からの画像をカメラ108上にフォーカスする。ステップ1509において、画 像捕捉システム104はカメラ108からこのようにして得られた画像のディジ タル表現を収集する。1つの例においては、画像のディジタル表現は512行× 512カラムのピクセルから構成され、各ピクセルには最も暗いレベルを表して いる0から、最も明るいレベルを表している255までが割り当てられる。必要 な場合、画像はアナログ形式でカメラ108から画像捕捉システム104へ送ら れ、その後、アナログからディジタルへの変換器を通過してディジタル表現を生 成することができる。 画像捕捉システム104はそれが取得した各ディジタル画像を画像プロセッサ 109へステップ1510において送信する。専用の画像プロセッサ109は画 像捕捉システム104から送られてきた各画像について、あらかじめプログラム されたシーケンスの形態学的、計算的及び論理的な演算を実行し、フォーカスの 品質についての1つ又はそれ以上の測度を導く。これらの測度はステップ151 1において計算されてコンピュータ101へ送られる。コンピュータ101がス テップ1501においてスキャン制御器102に対して元々送られたリストの中 のすべての画像からの測度を受け取ると、コンピュータ101はステップ151 2において最適なフォーカス位置を決定するために、その測度のリストを処理す る。 画像が捕捉されて処理されている間ずっと、ステージ103は収集される画像 のリストがすべて尽くされるまで、ステップ1503以降から、スキャン制御器 102からの命令に従って試料106を動かし続ける。 上記のように、対物レンズ107が中央の接触位置におけるカバースリップの 表面の直ぐ下の画像平面上にフォーカスされる場所から初期フォーカススキャン が開始される。初期フォーカススキャンはさらにカバースリップの下へ進み、カ バースリップの最大の光学的厚さに対応している深さを通過するまで、対物レン ズ107の焦点の各深さごとに1つの画像を収集する。カバースリップの光学的 厚さの最大値は採用されている特定の装置によって変わる所定の許容厚さであっ てよい。 初期フォーカススキャンは試料の上にシステムをフォーカスするために、シー ド(seed)点と呼ばれる開始点を識別するために使われる。この開始点が試 料の中の細胞から導かれているか、又はスライドの表面上の塵などの他の物質か ら導かれるかどうかは重要ではないので、形態学的パターン認識は初期フォーカ ススキャンに対しては使われない。 代わりに、より単純な強度勾配フォーカス品質測度が次のように計算される。 図8を参照されたい。この図8はその勾配フォーカススコアを計算する時に画像 プロセッサに対するプロセスフローチャートを示している。最初に、ステップ6 01において、画像のグレイレベルからヒストグラムが計算される。このヒスト グラムは画像の中の照明の輝度、又は光のレベルの測度を計算するために使われ る。特に、光のレベルは0.1%又はそれ以上の画像のピクセルがより高い強度 を記録する最高強度のレベルとして定義することができる。 ステップ602において、光の強度における水平及び垂直の勾配が、ディジタ ル化された画像の中の各ピクセルにおいて計算される。垂直の勾配の場合、その 計算は各ピクセルにおいて、そのピクセルの直ぐ上のピクセルの強度値からその ピクセルの直ぐ下の強度値を差し引くことによって計算される。水平の勾配も同 様な方法で計算される。これらの勾配は画像の尖鋭度の測度において画像のノイ ズの影響を減らすためにしきい値に対して比較される。所定のしきい値以下の勾 配は0として扱われる。この開示の恩恵を利用できる当業分野の技術に熟達した 人であれば、そのしきい値は実験的に導かれるか、又は使用されている特定の画 像装置のノイズ特性から得られることが理解される。 視野の範囲内で異なる領域の最善のフォーカス位置を識別することができるた めに、画像プロセッサはステップ603において、図5Bに示されているのと同 様に、5つのグリッドによってその視野を5つに分割する。それ以降の処理では 、そのグリッドの中の25個の各領域に対してそれぞれ25個の別々のフォーカ ス測度を計算する。 ステップ604において、画像の中の25個のグリッド領域の各々に対して2 つ(すなわち、50個)のヒストグラムが計算される。その2つのヒストグラム はそれぞれ水平及び垂直の勾配画像について計算される。 パターン認識を実行しないフォーカシング手順の場合でも、適切な範囲の空間 周波数から情報を得るために、フォーカスされるべき対象物のサイズについての 何らかのデータを取らなければならない。ここで説明されるフォーカシングシス テムは小さい対象物について低倍率で動作するように設計されているので、強度 勾配アルゴリズムはステップ605において25個の各領域における50個の最 大勾配だけを使うことによってサイズを考慮に入れる。残りの勾配のヒストグラ ムは無視される。 ステップ606において、これらの50個の勾配の二乗値が合計され、フォー カススキャンにおける各画像に対して25個のフォーカススコアを作り出すため に、光のレベルによって割算される。その光のレベルは二乗特性から線形までの 、それぞれの照明における依存性を減らすためにそのスコアを正規化するために 使われる。これは何らかの理由で照明が不明瞭である場合に、そのアルゴリズム を画像について使うことができるので便利である。 画像処理システム109が最初のフォーカススキャンにおいて各画像に対する 25個の勾配フォーカススコアを計算すると、マッチしているフォーカス位置と 一緒に、これらのスコアを図7の中のステップ1511で示されているように、 そして上記のように中央コンピュータ101に対して送り返す。 図7のステップ1512における中央コンピュータ101のタスクは、25の 各領域内のフォーカス位置の関数としてフォーカススコアにおけるピークを探す こと、ノイズによる寄生変動を無視すること、そして最善の焦点面の初期近似を 得ることである。中央コンピュータ101はこれを図9に示されているように実 行する。 最初に、ステップ620において、各領域に対するスコアがフォーカススコア におけるノイズを減らすためにフォーカス位置にわたってフィルタされる。この 目的のために、最大値の半分における半値幅がその対物レンズの視野の深さに等 しいガウシアンカーネルが使われる。 第2に、ステップ621において、位置に対するフォーカススコアの微分が各 領域及び位置に対して計算される。それは各位置と領域におけるフィルタされた フォーカススコアを、その次の位置のフィルタされた同じ領域に対するフォーカ ススコアから差し引くことによって行なわれる。 第3に、ステップ622において、すべての領域におけるフォーカススコアの 中のピークが識別される。それは2つの正の微分値の次に2つの負の微分値が続 く位置に渡ってのパターンを探すこと、そして寄生のピークを見つけることを避 けるために、そのピークにおけるフォーカススコアが所定の最低値以上であるこ とを確認するためにチェックすることによって行なわれる。ピークの正確な位置 はゼロ交差に対する勾配の線形補間によって見つけられる。 図7はフォーカス位置に対する、元のフォーカススコア701、ガウスフィル タ型のフォーカススコア702、及びフィルタされたスコアの差703の一例を プロットすることによってそのピークを見つけるプロセスを示している。図7に プロットされているスコアは単独の領域から見出された値を表している。704 におけるその微分値の補間された値がゼロである位置はそのピークの計算された 位置を表す。ピークの前の正の微分値、及びピークの後の負の微分値に留意され たい。 第4に、ステップ623において、ピークにおけるフィルタされたフォーカス スコアの二次微分をそのピークの大きさで割ることによって、各ピークの尖鋭度 が測定される。尖鋭度は与えられたフォーカス位置に対する優先度がどの程度決 定的であるかをそのピークが示す指示値を提供する。 第5に、ステップ624において、すべての領域の中で見つかったすべてのピ ークが2つのクラスに分けられる。それらはカバースリップの光学的厚さが最小 のもの、又は見つかった最高のものより下のもの、及びそれ以外のものである。 それらはカバースリップのトップの塵埃から来るピークと試料そのものから来る ピークとを分けるために分割される。 第6に、ステップ625において、各領域の中で、各クラスの中のフォーカス スコアが最高のピークが維持され、一方、同じ領域の中の他のピーク及びクラス は無視される。結果として、考慮する各クラスの中に最高でも25個のピークが ある。 第7に、ステップ626において、各クラスの中のピークの位置の重み付けら れた平均値が、各クラスの中の全視野に対する最善のフォーカス位置を表すため に取られる。ピークの位置はステップ623において計算された相対的なピーク 尖鋭度によって重み付けられて、その重み付けられた平均値が導かれる。どれか のピークの尖鋭度がそのクラスの中の最も鋭いピークの値の4分の1以下である 場合、このステップにおいては、ソフト過ぎるピークであるとして平均化の計算 から除外される。これによって可能なフォーカス位置が最高でも2つ残される。 すべてのピークが上位クラスの中にあることが可能であり、その場合、このステ ージにおいてはただ1つのフォーカス位置があることに留意されたい。 第8に、カバースリップのトップにフォーカスする可能性を避けるために、2 つのフォーカス位置があった場合に、ステップ627において低い方の(カバー スリップよりさらに下の)クラスがその試料における最善のフォーカスを表して いるとして選定される。 第9に、そして最後に、ステップ628において、ステップ622で有効なピ ークが見つからなかった場合、ステップ630においてそのスキャンは最善のフ ォーカス位置を見つけることができない。それ以外の場合、ステップ627にお いて選定されたフォーカス位置がステップ629においてコンピュータ101に よってスコアされる。これで初期フォーカススキャンの説明は終わる。 <初期スキャンの複数の試み> 図6に戻って参照すると、ステップ412における初期フォーカススキャンの 結果は、開始フォーカス位置か、又はピークが見つからなかったかのいずれかで ある。ほとんどすべての場合において、カバースリップの厚さ及び位置に対する 物理的な条件を満足する試料を挟んでいるスライドが使われる時、上記の初期フ ォーカススキャンは成功する。これはフォーカスするために非常に小さな物質が 必要であり、そのスキャンはスライドの中央において行なわれ、そこにはいくつ かの試料がある可能性があるからである。 しかし、ステップ413において失敗であることが分かった場合、フォーカシ ングのシード点を見つけるために追加の試みがなされる。特に、試行の設定回数 より少ない回数の試行がステップ414において行なわれた場合、フォーカスス キャンがそのときちようど試行された視野に隣接した視野において、ステップ4 15において新しい位置が選択され、そして処理はステップ412に戻って別の 初期スキャンを試行する。次々の試行が元の接触点の回りに螺旋形のパターンで 発生し、その中央の接触位置にできるだけ近いままの状態で新しい視野を選択し 続ける。試行の設定回数のすべてがステップ414において不成功であった時だ け、スライドの処理はステップ405において終了する。 初期フォーカス位置がステップ412において見つかると、パターン認識又は 細胞のフォーカススキャンがこの点から開始される。この点は焦点面のマップを 生成するためのシード点と呼ばれる。 図11は試料の表面にわたっての細胞のフォーカススキャンの径路を示してい る。ここで、シード点の位置は「X」でマークされている。四角形801は走査 される視野を示しており、矢印802はステージがそれに従って動く径路を示し ている。示されている径路に従うことの目的は、走査に掛かる時間を最小にしな がら、スライドから代表的なサンプルを得るためにサンプルにできるだけ近付く ようにすることである。使用されるステージは1つの次元内だけを移動するより も二次元において同時に移動する方が時間がかからず、したがって、示されてい る対角線上で動くことによって運動の速度が最大になる。 また図6へ戻ると、ステップ416において、第1の走査が図11の中のシー ド点の右側で、そしてシード点の隣から発生する。図11の中に示されているジ グザグのパターンは走査がカバースリップのエッジの1つに近付くたびに、例え ば804におけるように旋回する。全体のパターンは図11の中のカバースリッ プの右端から離れる前に終りに来なければならない。次に走査はステップ422 及び416において再開され、ふたたびシード点に隣接して開始され、シード点 の左側へ、図11の中の丸印でマークされている走査において行なわれる。図1 1の中に描かれている走査の最後の逆転803は、804及び他のすべての逆転 のような3ステップではなく、5ステップ掛かることに留意されたい。これは以 下に説明される条件の下で、逆転におけるステップの数は試料の処理をスピード アップするために3から5に増加されていることを示す。 最初の2つの細胞のフォーカススキャンはシード点によって定義される焦点面 に中心が置かれている。細胞のフォーカススキャンは上記の勾配スキャンよりず っと浅く、4つの画像だけの収集と処理から構成され、大雑把にはこの場合も対 物レンズの焦点の深さによって分けられる。これによって細胞スキャンがずっと 速くなる。細胞スキャンから最善のフォーカス位置を見つけることは、勾配スキ ャンから見つけるよりも必然的に単純な操作になる。というのは、作業する点が 4つだけしかないからである。ノイズから信号を取り出すための画像の処理にず っと大きな負担が掛けられ、そして特に、よく分離された細胞の核を認識してそ の上に主としてフォーカスするためにより大きな負担が掛けられる。細胞が寄り 集まっていて、それぞれの核が明確に区別できない場合にはあまり有用な情報を 提供しないことが多い。 <細胞の形態学> 細胞フォーカススキャンにおける画像の処理は単純な形態学的演算の組合せか ら構成される。図12A〜図12Dは4つの単純なバイナリの形態学的演算を示 している。図12Aは3×3での侵食(erosion)を示しており、一方、 図12Bは同じブロックについての拡張(dilation)を示している。図 12Cは5×5のワイヤーフレームによる侵食を示しており、図12Dは同じワ イヤーフレームでの拡張を示している。 侵食又は拡張などの形態学的演算は2つのエンティティ(存在)を使う。第1 のエンティティは演算が行われる画像であり、第2のエンティティはその演算が 実行される構造化要素である。構造化要素はピクセルの格子として考えることが でき、その値は「オン」又は「オフ」のいずれかであり、それはユニークな中央 のピクセルを所有している。図12A〜図12Dの中で構造化要素の中央ピクセ ルはXでマークされている。 形態学的演算は構造化要素の中央を順に元の画像の中の各ピクセルの上に置く こととして想像される。バイナリの演算はピクセルが「オン」又は「オフ」のい ずれかである画像について行なわれる。2つの最も単純な演算はバイナリの侵食 及び拡張である。バイナリの侵食は構造化要素が画像の中心にある時に、その要 素の「オン」ピクセルと整列している画像の「オフ」ピクセルを少なくとも1つ 有する、画像内のすべてのピクセルを「オフ」にする。拡張は構造化要素が画像 の中心にある時に、「オン」の構造化ピクセルと整列している画像の「オン」ピ クセルを少なくとも1つ有する、画像内のすべてのピクセルを「オン」にする。 他のすべてのピクセルは「オフ」にセットされる。 バイナリの侵食及び拡張はグレースケールの侵食及び拡張に対して容易に一般 化される。グレイスケールの侵食はその要素の中の「オン」のピクセルに対応す るピクセルの値の最小値によって画像の中の各ピクセルの値を置き換える。グレ イスケールの拡張はその要素の中の「オン」のピクセルに対応するピクセルの値 の最大値で各ピクセルの値を置き換える。侵食及び拡張は複合の演算を作るため に組み合わせられる。特に、同じ要素についての拡張の後に侵食が続く場合はク ロージング(閉鎖)と呼ばれ、侵食の後に拡張が続く場合はオープニング(開放 )と呼ばれる。 図13は細胞フォーカススコアの形態学的プロセスのデータフローダイアグラ ムである。各細胞フォーカススキャンからの各画像はカメラ108の中に記億さ れた後、そして画像捕捉システム104によってディジタル化された後、画像プ ロセッサ109によってこの演算の集合によって処理される。図10に示されて いるように、そのプロセスは4つの主な分岐を有する。 第1の分岐においては、画像1001のグレースケール値のヒストグラム10 11が取られ、そして白、サイト(細胞)、及び黒のレベルと呼ばれる3つのグ レースケール値1012がそのヒストグラムから計算される。白の値は上記の勾 配フォーカススコアの説明の中で記述されている光のレベルと同じである。サイ トレベルはその白の値の95%として定義される。その名前が意味するように、 このレベル以下のグレイレベルの画像の領域はおそらく少なくともいくつかの細 胞質による領域を表す。黒レベルは白の値の1/15にノイズのフロアを表す量 を加えた値として定義される。黒の値以下のグレイレベルの画像の領域は試料の 厚い皮又は他の材質のいずれかを表す。そのような領域はフォーカシングにおけ る考慮から除外される。 細胞形態学的プロセスの第2の分岐においては、元の画像1001の中の各ピ クセルはステップ1021においてテストされ、そのグレイレベルがサイトのし きい値を超えているかどうかがチェックされる。超えていた場合、それに対応す るバイナリ画像の中のピクセルが0にセットされ、超えていなかった場合、その バイナリピクセルは1にセットされる。このようにして作られたバイナリ画像は 5×5のボックスによって形態学的オープニング1022を通り、その後に43 ×43のボックスによるオープニング1023を通る。 5×5のボックスによるオープニング1022は実際に細胞を表すには小さ過 ぎる領域を(拒否)するために設けられ、一方、43×43のボックスによるオ ープニング1023は細胞と細胞との間にすきまがあるのではなく、細胞が積み 重なったグループを表しているのに違いないような大きな領域を検出するために 設けられている。自由な状態で置かれている細胞におけるフォーカシングの条件 に従って、この2つのオープニングの結果がステップ1024において排他的オ アが取られて細胞質のバイナリイメージを発生する。それは次に5×5のボック スによって拡張され(S1025)、それぞれの細胞のエッジ上にある可能性が ある任意の核をピックアップする。 細胞フォーカススコアのアルゴリズムの第3の分岐はステップ1031におい て元の画像1001の各ピクセルをチェックし、そのグレイレベルが上で定義さ れた黒レベルより大きいかどうかが判定される。大きかった場合、それに対応し ているバイナリイメージのピクセルが1にセットされ、それ以外の場合は0にセ ットされる。結果の黒のバイナリイメージは43×43のボックスによって侵食 され(S1032)、試料の厚い皮のエッジにフォーカスすること、又は人工的 なもので縁取られた領域の上にフォーカスすることを避けるために、43×43 のボックスによって侵食される(S1032)。次にその暗いバイナリ画像は細 胞質のバイナリ画像とANDが取られ(S1033)、認識されるべき核に対す る許容された領域を表しているバイナリ画像が作り出される。 このアルゴリズムの第4及び最終の分岐は核を検出するために設けられている 。それは5×5の領域による元の画像1001のグレースケールクロージング1 041から開始される。普通はこのクロージングによって画像から問題の核が消 去される。次に、元の画像1001がステップ1042においてクロージングの 結果から差し引かれ、テクスチャーが強化された反転画像が作り出され、その中 で核が際立って明るいスポットとして現われる。 核を識別するバイナリイメージを出現させるために、クロージングの結果はス テップ1043において8で割算され、次にステップ1044においてテクスチ ャー強化された画像に対してテストされる。テクスチャー強化画像のグレイレベ ルがローカルな光のレベルのこの測度のレベルを超過した場合、問題のピクセル にはステップ1044において核の潜在的な部分としてのフラグが立てられる。 このバイナリ画像は許容された領域のバイナリ画像とANDが取られ(1045 )、可能な核のピクセルのバイナリマスクが生成される。 このようにしてステップ1045において作り出されたバイナリマスク画像は 、 核のサイズ又は形状についての制限がほとんど課せられていないという欠陥を有 する。次のステップはこの制限を修正するために設けられている。先ず最初に、 2×2のボックスによるオープニング1046が適用されて孤立したピクセル又 は単独の幅の糸状のピクセルが消去される。第2に、7×7の中空のフレームの ピクセルによる結果のマスクの拡張1047が反転され(S1048)、次に有 望な核のうちの7×7のフレームの内部にフィットしない部分を取り除くための マスクとアンドが取られる(S1049)。これはその予想される核がほぼ楕円 の形であることを要求する。第3に、そして最後に、マスクの中の核のエッジを 含ませるために、結果のバイナリ画像が3×3のボックスによって拡張される( S1050)。このステップ1050の結果は最終のマスク画像であり、それは フォーカシングの条件をすべて満足している核を識別する。 核が識別された後であっても、それらがフォーカスされた尖鋭度を測定する必 要性がまだ残っている。この測定を行うために、ステップ1042において作ら れたテクスチャー強化画像が3×3のブロックによって侵食され(S1051) 、そしてその結果の画像がテクスチャー強化画像そのものから差し引かれ(S1 052)、強化された勾配の画像を作り出す。ステップ1053において、この 強化された勾配の画像は次に、ステップ1050からの最終のマスク画像が0を 含んでいる場合には0にセットされ、最終のマスク画像が1を含んでいる場合は そのまま変わらずに残される。 最後に、見つけられた核の物質の品質、及びもちろん、その核上のフォーカス の尖鋭度の測度を得るために、その結果の画像のグレイレベルからのヒストグラ ムがステップ1054において取られる。2つの測度がステップ1055におい て1054のヒストグラムから次のように計算される。先ず第1に、白レベルの 5%以下の強化勾配画像のレベルはすべて核ではない物質によるものであるとし て無視される。次に、このレベルより上のピクセルは許容できる核ピクセルの合 計数の和に向かってカウントされ、そして核の尖鋭度の測度が白レベルの5%以 上であるピクセルの強化された勾配レベルの二乗平均値として計算される。受け 入れ可能な核ピクセルの和は見つかった有効な試料の量の測度であり、一方、核 の尖鋭度の測度は光のレベルについての依存性を減らすために白レベルによって 割算されてから、細胞フォーカススコアとして使われる。 <細胞のフォーカス処理> 中央コンピュータ101はこのようにして実行された各細胞フォーカススキャ ンに対して画像プロセッサ109から4つのフォーカススコア及び4つのピクセ ルカウントを受け取る。コンピュータはこれらの測度を処理する。その処理は以 下に説明されるように行なわれる。 先ず最初に、コンピュータはどのフォーカススコアが最高であるかを決定する 。最高のフォーカススコアがカバースリップから最も遠いものであった場合、そ のフォーカススキャンの結果はより良い焦点面を探索するためにカバースリップ からさらに遠くへ動かす必要があることを示している。そうでなかった場合、フ ォーカススコアが最高である画像の核ピクセルのカウント値がチェックされて、 それがその画像の0.1%を超えているかどうかが判定される。超えていなかっ た場合、この視野の中でフォーカスするのには明らかに不十分なので、コンピュ ータは同じ平面内での走査を続けることを決定する。 核ピクセルのカウント値がその画像の0.1%より大きかった場合、そしてフ ォーカススコアが最高である画像がカバースリップに最も近いものであった場合 、そのフォーカススキャンはより良い焦点面を探索するために、カバースリップ に対してより近くへ動かす必要があることを示している。非常にまばらなスライ ドの上のカバースリップの上の材料にフォーカスしようとする動きを防ぐために 、カバースリップに向かって動かす前に十分なデータが必要である。 フォーカススコアが最大である画像がそのスキャンの頂部にもなく、又は底部 にもなかった場合、そしてフォーカススコアが最大である画像がその画像の0. 1%を超えていない核ピクセルカウントを持っている場合、フォーカススコアに おける差はそのピークを見つけるために線形に補間することができる。その補間 は図7の中の704として示されている補間されたゼロ交差に類似している、微 分値におけるゼロ交差に対して行なわれる。これは最善のフォーカスを見つける ことに成功したことを示し、そしてその位置が記録される。最後に、さらフォー カスすることに対する指示は記録された最善の焦点面に関して中央に置くことで ある。 試料のフォーカススキャンにおける細胞フォーカススキャンの使用に従うため に、ふたたび図6を参照されたい。上記のように、ステップ416における第1 の2つの細胞フォーカススキャンは、シード点によって定義される焦点面を中心 としている。ステップ417において、これらの走査の第1の結果がコンピュー タ101によって処理される。結果を導いた後、コンピュータ101はステップ 418において次の細胞スキャンを要求する。 そのときちょうど処理されたフォーカススキャンの結果が、フォーカスを下げ なければならない(S1103)ことを示していた場合、その要求された走査4 18は、そのときちようど処理された走査より低いフォーカスステップを中心に して行なわれる。その結果が1105において十分なデータが得られなかったこ とを示していた場合、その要求された走査418は、そのときちょうど処理され た走査と同じ平面を中心とするものである。フォーカスをもっと高くすべきであ ることをその結果がステップ1107において示している場合、最後に成功した フォーカススキャンの平面がテストされて、現在のフォーカス位置がその上のカ バースリップの光学的厚さの最小値の半分より小さいかどうかチェックされる。 そうであった場合、その要求された走査418は1フォーカスステップの高い所 に中心が置かれる。そうでなかった場合、カバースリップのトップにフォーカス しようとするのを避けるために、要求された走査418はちょうど処理された走 査と同じ平面を中心にして行なわれる。 ふたたび図6を参照すると、ステップ419においてコンピュータはそのとき ちょうど要求されたフォーカススキャンの位置をテストし、それが図11の中に 示されている走査パターンに従って、そのカバースリップの右又は左の端の点に あるかどうかがチェックされる。そうでなかった場合、コンピュータはステップ 417へ戻ってちようど完了した走査の結果を計算し、そしてその後、ステップ 418において新しい走査を要求する。各細胞スキャンの焦点の高さはそれより 2つ前の走査の結果に基づいていることに留意されたい。これによってスキャン 制御器102、画像捕捉システム104、画像プロセッサ109、及びコンピュ ータ101が、計算の結果を待つのに費やす遅延時間なしで、ステージが動くこ とができるのと同じ速さで並列にフォーカススキャンを連続的に処理することが できる。 ステップ419においてカバースリップの終りに達した時、ステップ420に おいてまだ処理されるべき2つのフォーカススキャンの結果がある。その時、ス テップ421において、コンピュータはフォーカススキャンが図11の中で示さ れているようにシード点から両方向に既に進行してしまったかどうかを判定する 。その場合、試料の細胞フォーカススキャンはステップ423において完了する 。そうでなかった場合、機械はステップ422においてシード点へ戻り、その後 、ステップ416において逆方向に戻って走査を開始する。両方の方向における 最初の2つのフォーカススキャンはシード点の平面を中心として行なわれる。 試料の上で正確にフォーカスするには最低の回数の正常な細胞フォーカススキ ャンが必要である。1つの実施形態においては、スキャンの最低回数は24であ る。図11に示されているように、すべてのスキャンが完了した後でこの数値に 達していなかった場合、その試料は自動処理に対して拒否されなければならない 。この理由のために拒否されたPapスミアはうろこ状の細胞性が不十分である ために、普通は不満足なものである。さらに、スライドの1つの領域においての みスキャンが成功している可能性がある。正常に行なわれたフォーカススキャン がスライドのすべての領域をカバーしない場合、そのスライドは試料が狭過ぎる 領 域内に分布しているとして拒否される。 試料の焦点面のモデルが利用できると、それをガイドとして使って低倍率にお いてカバースリップの下の試料全体をスキャンすることができる。また、それは 試料の高倍率フォーカシングのための開始点としても使うことができる。焦点面 が傾き過ぎていた場合、高倍率のフォーカシングは高倍率の視野全体に対しては 不可能である場合がある。焦点面が傾き過ぎている場合、スライドの処理は終了 する。焦点面の変化が激し過ぎる場合、フォーカスの範囲は不正確なフォーカス 情報を提供していた可能性がある。フォーカスマップが変わり過ぎている場合、 スライドの処理は「試料上でフォーカスすることができない」として終了する。 また、試料の上のカバースリップの光学的厚さを評価するために、タッチセン サによって与えられたカバースリップの高さと一緒に、正常なフォーカススキャ ンのデータを使うこともできる。カバースリップの光学的厚さが厚過ぎるか又は 薄過ぎる場合、試料が高分解能の対物レンズを通じて見られる時、受け入れるこ とのできない大きな球面の変形が生じる。結果として、その試料は高倍率の顕微 鏡検査には不適切である可能性がある。その試料からカバースリップのトップに 対する測度、すなわち、光学的厚さが第1の所定の距離より大きかった場合、又 は第2の所定の距離より小さかった場合、そのスライドの処理は終了する。 この好適な実施形態において、試料の低倍率スキャンを案内するために焦点面 のモデルが使われる。試料の領域が異常でないかどうかが分析される。各スライ ドの領域の視野は異常性を含んでいる可能性がある場合にランク付けられる。視 野がランク付けされた視野が少なすぎた場合、そのスライドは正しく走査されて おらず、したがってそのスライドに対する処理は終了する。低倍率のスキャンの 間に、泡の領域が識別される。泡の領域が多過ぎた場合、そのスライドの処理は 終了する。 1つの実施形態においては、低倍率のスキャンの後、焦点面のモデルが高倍率 のスキャンに対して生成される。視野の深さは高倍率においては減らされるので 、 より正確な焦点面が必要である。フォーカスのパンニングは低倍率の焦点面の場 合と同じ方法で行なわれる。ただし、そのパンニングは高倍率において行なわれ る。高倍率の面が変化があり過ぎる場合、又はフォーカスのパンニングが正常に 行なわれることが少な過ぎる場合、そのスライドの処理は停止する。高倍率の面 に変化があり過ぎる場合、又は成功したフォーカスのパンニングが少な過ぎる場 合、そのスライドの処理は終了する。 高倍率のスキャンは高倍率の焦点面のモデルが生成された後で実行される。高 倍率のスキャンの間に、低倍率のスキャン時に異常性を含んでいる可能性がある として識別されたスライドの領域は、画像化されて高倍率で分析される。高倍率 の焦点面は高倍率の画像化に対する焦点位置の初期評価値として役立つ。高倍率 の焦点面によって与えられる位置が所定のフォーカスの基準に合格しない画像に 導く場合、異なるフォーカス位置において同じスライドの領域において追加の画 像収集が試行される。所定の回数の収集試行の後、その領域が所定のフォーカス 基準を満たさない場合、そのスライドの領域は捨てられる。高倍率のスキャン時 にスライドの十分にフォーカスされた領域が少な過ぎた場合、スライドの処理は 終了する。高倍率のスキャンの間に、所定の回数より少ないスキャンが第1の試 行で十分にフォーカスされた場合、又は十分にフォーカスされなかったスライド の領域が多過ぎた場合、その高倍率の焦点面のモデルは不正確であった可能性が ある。 良好な画像を補償するために画像の品質がチェックされる。各画像に対して、 画像の飽和、0又は255の値のピクセルがカウントされる。飽和している画像 の数がカウントされる。低倍率又は高倍率のスキャンのいずれかの間に飽和した 画像が多過ぎた場合、この光学系は信頼性の高い試料の表示又は画像化のために は十分でない可能性がある。さらに、汚れによって光の径路が不明瞭になってい る場合、ストライピングなどの画像の人工的な構造があるシステムにおいては検 出される可能性がある。ストライピングが所定の数の画像以上で検出された場合 、 そのスライドは試料の正確な表示又は画像化ができるには汚れ過ぎている可能性 がある。 評価の間に、自動化されたシステムはあらかじめ選択されたどれかの基準に対 して許容できる範囲以外に落ちたスライドに対しては処理を中断する。自動化シ ステムは処理に失敗したスライドの比率をカウントすることができる。1つの好 適な実施形態においては、そのスライドセットは処理に失敗しているスライドの 比率が6%以下であれば合格とみなされ、それ以外の場合、それの集合は不合格 であるとみなされる。 ステップ40において、自動化システムはそのスライド上でサンプルされた試 料の物質の品質及び十分性を評価するために試料収集品質テスト(Specim en Collection Quality Test)を実行する。試料の 集合の品質は診療所のサンプリング道具及び技法によって大きく変わる。この好 適な実施形態においては、試料収集品質テストは2つのテストを含むことができ る。表2及び表3はスライドセットがテストされる品質をリストしている。これ らのテストに合格しないスライドは不合格の試料収集品質を含む。表2はスライ ドのセットアップ関連の不具合を示している。表3は処理の適切性に関連した不 具合を示している。処理の適切性の不具合は、例えば、処理結果がそのプロセス が検出した基準細胞の数が少な過ぎた時、信頼性が期待できないスライドを含む 可能性がある。これらの理由のために処理に失敗しているスライドの比率が測定 される。好適な実施形態においては、最初のテストで不合格となったスライドの 比率が7%以下であった場合、そのスライドセットは最初のテストで合格である とみなされ、それ以外の場合は、そのスライドセットは不合格となる。 好適な実施形態においては、第2の試料品質テストはすべての正常なスライド に対する基準細胞の比率を測定しランク付けする。基準細胞の比率はスライド上 で検出された基準細胞(すなわち、自由な状態で置かれている中間細胞)の数を そのスライド上で検出されたすべての対象物の数で割った値である。1つの好適 な実施形熊においては、正常のスライドの85%がその基準細胞の比率が0.0 15より大きかった場合、そのスライドセットはそのテストに合格しているとみ なされる。それ以外の場合、そのスライドセットは不合格となる。 スライドセットは試料収集品質テストに合格するためには両方の試料品質テス トに合格する必要がある。 自動化システムはステップ50においてスライド取扱い品質テスト(Slid e Handling Quality Test)を実行する。このスライド 取扱い品質テストはスライドの処理慣行がAutoPap(R)300システムな どの選択された自動化システム上での効果的な処理を行うために修正される可能 性があるかどうかを判定する。そのテストはスライドのバーコード付け、クリー ニング、及び載置の慣行をあらかじめ選択された診療所のサイトで評価する。表 4及び表5はスライド取扱い品質の不具合に対するテストをリストしている。図 4はスライドのセットアップ関連の不具合をリストしている。表5は画像処理の 方法の適切性に関連する不具合を示している。このシステムはこれらのテストに 不合格であるスライドの比率を測定する。好適な実施形態においては、不合格で あったスライドの比率が5%以下であった場合、そのスライドセットはスライド 取扱い品質テストに合格したと考えられる。それ以外の場合、そのスライドセッ トは不合格となる。 この自動化システムはステップ60において調製品質テスト(Prepara tion Quality Test)を実行する。調製品質テストは研究室の 固定化、染色、及びカバースリップを付加するプロセスの結果を評価し、細胞の 提供が受け入れ可能な範囲内にあるかどうかをチェックする。好適な実施形態に おいては、5つのテストが調製品質テストを含む。フルテストに合格するには、 そのスライドセットはすべてのテストに合格しなければならない。表6及び表7 を参照すると、表に示されている理由のために処理に失敗するスライドは調製品 質不良を構成する。 細胞質の染色密度が測定される。細胞質の染色の測度が所定の限界外にある場 合、その自動化装置はそのスライドを正確にスコアすることができない。そのス ライドは画像処理の方法には不適切であると言われる。 また、基準細胞核と細胞質との間のコントラストもある。このコントラストの 測度が所定の限界の範囲外にあった場合、そのスライドはその装置の画像処理の 方法に対しては不適切であると言われる。 これらの理由のために処理に失敗しているスライドの比率が測定される。表6 はスライドのセットアップ関連の不良を示している。表7は画像処理方法の適切 性に関連した不良を示している。好適な実施形態においては、最初のテストに不 合格であったスライドの比率が5%以下であった場合、そのスライドセットはそ の最初のテストに合格し、それ以外の場合、そのスライドセットは不合格となる 。 第2の調製品質テストはそのスライド上で検出された基準細胞の核染色密度を 測定する。測定値は「平均染色」ビンの中に格納される。検出された各中間細胞 核に対する平均の光学的密度が計算される。そのスライド上で検出されたすべて の中間セル核に対するデータが、10ビンのヒストグラムの中に蓄積される。正 常なスライドに対する平均の染色スコアが計算される。好適な実施形態において は平均の染色スコアが4.2より大きく、6.4より小さい場合、そのスライド セットはこのテストに合格し、それ以外の場合、そのスライドセットは不合格と なる。 第3の調製品質テストはスライド上で検出された潜在的に異常な細胞核の数を カウントする(ステージ3以上)。子宮頸部内(endocervical)コ ンポーネント細胞を含む正常なスライドの第80百分位数が計算される。好適な 実施形態においては、その第80百分位数が3より大きかった場合、そのスライ ドセットはこのテストに合格する。それ以外の場合、そのスライドセットは不合 格となる。 第4の調製品質テストは子宮頸部内成分細胞を含む正常なスライドのQCスコ アの第80百分位数を測定する。好適な実施形態においては、その第80百分位 数が0.15より大きく、0.6より小さかった場合、そのスライドセットはこ のテストに合格する。それ以外の場合、そのスライドセットは不合格となる。 第5の調製品質テストは子宮頸部内成分細胞を含む正常スライドに対する基準 細胞核テクスチャーのメディアン(核の不明瞭さの平均値)を測定する。この又 は詳細実施形態においては、そのメディアンが5.65より大きかった場合、そ のスライドセットはこのテストに合格する。それ以外の場合、そのスライドセッ トは不合格となる。 ステップ70において、自動化システムは分類テスト(Classifica tion Test)を実行する。分類テストはその顧客のスライド及び細胞の 提供がAutoPap(R)300システムのトレーニング範囲内にあってシステ ムによって効果的に解釈され得るかどうかを評価する。このテストはスライドの 分類の精度を評価する。 システムの精度テストは異常な試料の形態に対する感度を評価する。正常なス ライドのQCスコアの第80百分位数が計算される。好適な実施形態においては 、低級スライドの70パーセント以上及び高級スライドの80パーセント以上の QCスコアが正常なスライドに対する第80百分位数以上であった場合、そのス ライドセットはこのテストに合格し、それ以外の場合、そのスライドセットは不 合格となる。 ステップ80において、自動化システムはステップ30〜70におけるテスト からの結果を統合化する。好適な実施形態においては、そのスライドセットは各 テストに合格していなければならない。さもなければそのスライドセットは不合 格とみなされる。そのスライドセットが合格であった場合、そのテストの結果の 統合化はそのスライドセットが許容できることをステップ90において示す。そ のスライドセットが不合格であった場合、テスト結果の統合化によってその研究 所又は診療所のプロセスの調整のための勧告がステップ100においてなされる 。 次に図3を参照すると、この図は本発明のスライド及び試料の調製品質を評価 するための方法の、さらに詳細のフローチャートを示している。本発明の1つの 実施形態においては、スライド103において収集される。ステップ104にお いて、その収集されたスライドはクリーンな状態にされてバーコードがそのスラ イドに付加される。プロセスステップ106において、そのスライドはここで説 明された各種の品質管理方法に従って処理される。処理は図3に示されているよ うな、そして以下の表に対する参照によって説明されているようなプロセスステ ップ108からプロセスステップ126までのステップを含む。プロセスステッ プ108においては、物理的特性に対する品質管理処理に不合格であるスライド の比率が求められる。プロセスステップ118においては、スライドはスライド の6%以上がこのテストに不合格であった場合、物理特性に関する品質管理処理 に不合格であるとして受け入れられないと判定される。プロセスステップ110 において、試料収集特性に対する品質管理処理に不合格であるスライドの比率が 求められる。プロセスステップ120において、スライドはそのスライドの7% 以上がこのテストに不合格であった場合、試料収集特性に対する品質管理処理に 不合格であるとして受け入れられないと判定される。プロセスステップ112に おいて、スライドの取り扱い品質特性に対する品質管理処理に不合格であるスラ イドの比率が求められる。プロセスステップ122において、スライドはそのス ライドの5%以上がこのテストに不合格であった場合にスライドの取扱い品質特 性に対する品質管理処理に不合格であるとして受け入れられないと判定される。 プロセスプロセス114において、試料調製特性に対する品質管理処理に不合格 であるスライドの比率が求められる。プロセスステップ124において、スライ ドはそのスライドの5%以上がこのテストに不合格である場合、試料品質特性に 対する品質管理処理に不合格であるとして受け入れられないと判定される。プロ セスステップ116において、異常なスライドの比率が正常な処理の第80百分 位数よりスコアリングが高いと判定されている。プロセスステップ126におい て、スライドは低級スライドの70パーセント以下又は高級スライドの80%以 下のスコアが正常な試料の第80百分位数より高い場合、受け入れられないと判 定される。 本発明は特許法に適合するため、及びこの新しい原理を適用するため、そして 必要に応じてそのような特殊化されたコンポーネントを構築して使用するために 必要な情報を、この分野の技術に熟達した人に提供するために、ここでかなり詳 細に説明されてきた。しかし、本発明は異なる装置及び機器によっても実行でき ること、そして各種の変更が装置の詳細及び動作手順の両方に対して、本発明そ のものの適用範囲から逸脱することなしに達成され得ることは理解されるはずで ある。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 リー,シー−ヨン,ジェー. アメリカ合衆国.98006 ワシントン,ベ レヴュー,フォーティシックスス ストリ ート 14116 サウスイースト 【要約の続き】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.スライド及び試料の調製品質に対してスライドセットをテストするための 方法であって、 a)前記スライドセットの中の少なくとも1つのスライドに対してスライド及 び試料の調製品質を評価し、評価(30、40、50、60、70)を発生する ようにするステップと、 b)少なくとも1つのスライドの評価(80)に基づいて前記スライドセット のスライド及び試料調製品質を決定するステップとを含むテスト方法。 2.請求項1に記載の方法において、スライド及び試料の調製品質を評価する ステップが、前記スライドセットからの1つのスライドの物理特性を評価するス テップをさらに含むことを特徴とする方法(30)。 3.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価するステップ (30)が少なくとも1つのスライド寸法の測定を行うステップ(表1)をさら に含むことを特徴とする方法。 4.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ステ ップ(30)がスライドのカバースリップの少なくとも1つの面の特性のチェッ クを行うステップ(表1)をさらに含むことを特徴とする方法。 5.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価するステップ (30)がスライドのカバースリップの長さが所定の一組の限界値の範囲内にあ るかどうかをチェックするステップ(表1)をさらに含むことを特徴とする方法 。 6.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ステ ップ(30)が、スライドのカバースリップの幅が所定の限界値(表1)の範囲 内にあるかどうかをチェックするステップをさらに含むことを特徴とする方法。 7.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ステ ップ(30)が、カバースリップの面積が所定の限界値(表1)の範囲内にある かどうかをチェックするステップをさらに含むことを特徴とする方法。 8.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ステ ップ(30)が、少なくとも1つの試料のカバースリップのトップに対する距離 が所定の量(表1)より小さいかどうかをチェックするステップをさらに含むこ とを特徴とする方法。 9.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ステ ップ(30)が、少なくとも1つの試料からカバースリップの頂部までの距離が 所定の量(表1)より大きいかどうかをチェックするステップをさらに含むこと 特徴とする方法。 10.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ス テップ(30)が、前記スライドの少なくとも1つの幾何学的特性(表1)をチ ェックするステップをさらに含むことを特徴とする方法。 11.請求項2に記載の方法において、スライド物理特性を評価する前記ステ ップ(30)が、スライドのカバースリップの角部が所定の限界値(表1)の範 囲内で四角形であるかどうかをチェックするステップをさらに含むことを特徴と する方法。 12.請求項2に記載の方法において、スライドの物理特性を評価する前記ス テップ(30)が、スライドのカバースリップがスライド上で所定の限界値(表 1)より多く斜めになっているかどうかをチェックするステップをさらに含むこ とを特徴とする方法。 13.請求項2に記載の方法において、前記スライドは画像形成器(502) を備えている細胞学的スクリーニングシステム(500)によって眺められ、前 記画像形成器502は試料(106)上に合焦が可能であり、前記画像形成器が 所定の精度に対して試料の上に合焦されたかどうかをチェックするステップをさ らに含むことを特徴とする方法(図6)。 14.請求項1に記載の方法において、スライド及び試料の品質を評価する前 記ステップが、スライドの取扱い品質を評価するステップ(50)をさらに含む ことを特徴とする方法。 15.請求項1に記載の方法において、試料の調製品質を評価する前記ステッ プが、資料の材料の品質を評価するステップ(40)をさらに含むことを特徴と する方法。 16.請求項15に記載の方法において、試料の材料の品質を評価する前記ス テップ(40)が、 a)スライドのセットアップ関連の不良をチェックするステップ(表2)と b)プロセスの適性不良をチェックするステップ(表3)とをさらに含むこと を特徴とする方法。 17.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、スライドの所定の中央領域において見ることができる試料の材 料が欠けているかどうかをチェックするステップ(表2)をさらに含むことを特 徴とする方法。 18.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、低倍率の焦点面モデルを生成するために低倍率において正常に 合焦する点の数が所定の数より少ないかどうかをチェックするステップ(表2) をさらに含むことを特徴とする方法。 19.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、スライド上の見える使用材料が所定の基準に適合するかどうか をチェックするステップ(表2)をさらに含むことを特徴とする方法。 20.請求項15に記載の方法において、前記スライドは画像形成器(502 )を備えている細胞学的スクリーニングシステム(500)によって眺められ、 前記画像形成器(502)は試料(106)上に合焦できることを特徴とし、そ して試料の材料品質を評価する前記ステップが、前記細胞学的スクリーニングシ ステムが試料の所定の数の領域以上において正常に合焦したかどうかをチェック す るステップ(図6)をさらに含むことを特徴とする方法。 21.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、その試料が所定の角度以上傾いているかどうかをチェックする ステップ(表2)をさらに含むことを特徴とする方法。 22.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、低倍率の走査の後でランク付けられた視野の数が所定の数より 少ないかどうかをチェックするステップ(表2)をさらに含むことを特徴とする 方法。 23.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、高倍率の焦点面モデルを生成するための点の数が所定の数より 少ないかどうかをチェックするステップ(表2)をさらに含むことを特徴とする 方法。 24.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、高倍率の焦点面が所定の量より多く変動しているかどうかをチ ェックするステップ(表2)をさらに含むことを特徴とする方法。 25.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、高倍率走査における合焦された視野の数が所定の数より少ない かどうかをチェックするステップ(表2)をさらに含むことを特徴とする方法。 26.請求項15に記載の方法において、試料の材料品質を評価する前記ステ ップ(40)が、 a)基準細胞の数が所定の数より少ないかどうかをチェックするステップ(表 3)と、 b)少なくとも1回の初期試行において合焦された視野が所定の比率より少な いかどうかをチェックするステップ(表3)と、 c)合焦されなかった視野が所定の比率より多いかどうかをチェックするステ ップ(表3)とをさらに含むことを特徴とする方法。 27.請求項14に記載の方法において、スライドの取扱い品質を評価する前 記ステップ(50)が、 a)スライドのセットアップ関連の不良をチェックするステップ(表4)と、 b)スライドの分析の適性不良をチェックするステップ(表5)とをさらに含 むことを特徴とする方法。 28.請求項27に記載の方法において、スライドのセットアップ関連の不良 をチェックする前記ステップ(表4)が、 a)スライドのバーコードが正しく読めたかどうかをチェックするステップ( 表4)と、 b)前記スライドが所定の角度より大きく傾いているかどうかをチェックする ステップ(表4)とをさらに含むことを特徴とする方法。 29.請求項27に記載の方法において、スライドの分析の適性不良をチェッ クする前記ステップ(表5)が、 a)ストライピングが所定の量より多いかどうかについてスライドの画像品質 ををチェックするステップ(表5)と、 b)画像の飽和量が所定の量より多いかどうかをチェックするステップ(表5 )とをさらに含むことを特徴とする方法。 30.請求項29に記載の方法において、画像の飽和をチェックする前記ステ ップ(表5)が、高倍率の画像の飽和が第1の所定の量より大きいかどうかにつ いてチェックするステップ(表5)をさらに含むことを特徴とする方法。 31.請求項29に記載の方法において、画像の飽和をチェックする前記ステ ップ(表5)が、高倍率の画像の飽和が第2の所定の量より大きいかどうかにつ いてチェックするステップ(表5)をさらに含むことを特徴とする方法。 32.請求項29に記載の方法において、画像の飽和をチェックする前記ステ ップ(表5)が、低倍率の画像の飽和が所定の量より大きいかどうかについてチ ェックするステップ(表5)をさらに含むことを特徴とする方法。 33.請求項1に記載の方法において、スライド及び調製品質を評価する前記 ステップが、 a)調製品質が不良かどうかをテストするステップ(60)と、 b)スライドの分析の適切性不良をテストするステップ(70)とをさらに含 むことを特徴とする方法。 34.請求項33に記載の方法において、調製品質の不良をテストするための 前記ステップ(60)が、 a)スライド上の泡の面積が所定の量より大きいかどうかをチェックするステ ップ(表6)と、 b)低倍率の走査の後でランキングが十分な視野が所定の量より少ないかどう かをチェックするステップ(表6)とをさらに含むことを特徴とする方法。 35.請求項33に記載の方法において、スライドの分析の適切性の不良をテ ストする前記ステップ(70)が、染色の品質をチェックするステップ(表7) をさらに含むことを特徴とする方法。 36.請求項35に記載の方法において、染色の品質をチェックする前記ステ ップ(表7)が、核の染色の平均値が所定の限界値内にあるかどうかをチェック するステップ(表7)をさらに含むことを特徴とする方法。 37.請求項35に記載の方法において、染色の品質をチェックする前記ステ ップ(表7)が、細胞質の染色が所定の限界値内にあるかどうかをチェックする ステップ(表7)をさらに含むことを特徴とする方法。 38.請求項35に記載の方法において、染色の品質をチェックする前記ステ ップ(表7)が、核の染色の詳細が所定の限界値内にあるかどうかをチェックす るステップ(表7)をさらに含むことを特徴とする方法。 39.請求項35に記載の方法において、染色の品質をチェックする前記ステ ップ(表7)が、核‐細胞質のコントラストが所定の限界値内にあるかどうかを チェックするステップ(表7)をさらに含むことを特徴とする方法。 40.請求項33に記載の方法において、スライドの分析の適切性の不良をチ ェックする前記ステップ(70)が、基準セルの数をカウントして、前記基準セ ルの数が所定の限界値内にあるかどうかを判定するステップ(表7)をさらに含 むことを特徴とする方法。 41.請求項33に記載の方法において、スライドの分析の適切性不良に対す るテストの前記ステップ(70)が、画像の飽和をチェックするステップ(表7 )をさらに含むことを特徴とする方法。 42.請求項41に記載の方法において、画像の飽和をチェックする前記ステ ップ(表7)が、高解像度の画像の飽和が所定の量より大きいかどうかに関して 画像をチェックするステップ(表7)をさらに含むことを特徴とする方法。 43.請求項41に記載の方法において、画像の飽和をチェックする前記ステ ップ(表7)が、低解像度の画像の飽和が所定の量より大きいかどうかに関して 画像をチェックするステップ(表7)をさらに含むことを特徴とする方法。 44.請求項1に記載の方法において、少なくとも1つのパラメータが測定さ れるステップが、少なくとも1つのパラメータが所定の限界値内にあるかどうか を判定するステップ(106)をさらに含むことを特徴とする方法。 45.請求項44に記載の方法において、少なくとも1つのパラメータがあら かじめ選択された自動化システムのトレーニング範囲内にあるかどうかを判定す るステップ(70)をさらに含むことを特徴とする方法。 46.スライドの1つの母集団に対してスライド及び試料の調製品質を分析す るための分析装置(500)であって、 a)前記スライドの母集団の代表値である画像データを得るための画像収集手 段(104)と、 b)前記画像データを受信するために接続されていて、スライドの品質データ の出力データを備えている、少なくとも1つのスライド品質測度値を計算するた めの手段(109)と、 c)前記スライド品質データを受信して統合化するために接続されているデー タ処理システム(101)とを含み、前記データ処理システム(101)は母集 団の適切性データ出力を提供することを特徴とする装置。 47.請求項46に記載の装置において、少なくとも1つのスライド品質測度 値を計算するための手段(109)が、前記画像データを受信するために接続さ れていて、前記スライド品質データ出力に接続されているスライドの物理特性デ ータ出力を備えている、スライドの物理特性をテストするための手段(101) を含むことを特徴とする装置。 48.請求項46に記載の装置において、少なくとも1つのスライド品質測度 値を計算するための手段(109)が、前記画像データを受信するために接続さ れている試料物質の品質(101)をテストするため、及び前記スライド品質デ ータ出力に対して接続されている試料材料の品質データを提供するための手段を 含むことを特徴とする装置。 49.請求項46に記載の装置において、少なくとも1つのスライド品質測度 値を計算するための手段(109)が、前記画像データを受信するために接続さ れているスライドの取扱い品質(101)をテストするため、及びスライドの品 質データ出力に接続されているスライドの取扱い品質データ出力を提供するため の手段を含むことを特徴とする装置。 50.請求項46に記載の装置において、少なくとも1つのスライド品質測度 値を計算するための手段(109)が、前記画像データを受信するために接続さ れているスライド及び試料の品質(101)をテストするため、及びスライドの 品質データ出力に接続されているスライド及び試料の品質データ出力を提供する ための手段を含むことを特徴とする装置。 51.請求項46に記載の装置において、少なくとも1つのスライド品質測度 値を計算するための手段(109)が、前記画像データを受信するために接続さ れているシステムの精度(101)をテストするため、及びスライドの品質デー タ出力に接続されているシステムの精度データ出力を提供するための手段を含む ことを特徴とする装置。 52.請求項46に記載の装置において、前記データ処理システム(109) がスライドの取扱い技法における変さらに対する勧告(100)を提供するため の手段(101)をさらに含むことを特徴とする装置。 53.請求項46に記載の装置において、前記データ処理システム(109) が試料調製技法における変化に対する勧告(100)を提供するための手段(1 01)をさらに含むことを特徴とする装置。 54.請求項46に記載の装置において、前記画像収集手段(104)が自動 化された顕微鏡(108)をさらに含むことを特徴とする装置。
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