ES2123476T3 - Metodo para evaluar la calidad de portaobjetos y de preparacion de muestras. - Google Patents

Metodo para evaluar la calidad de portaobjetos y de preparacion de muestras.

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ES2123476T3 ES96920554T ES96920554T ES2123476T3 ES 2123476 T3 ES2123476 T3 ES 2123476T3 ES 96920554 T ES96920554 T ES 96920554T ES 96920554 T ES96920554 T ES 96920554T ES 2123476 T3 ES2123476 T3 ES 2123476T3
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Abstract

UN ANALIZADOR AUTOMATIZADO DE ESPECIMENES BIOLOGICOS (500) QUE REALIZA UNA EVALUACION DE LA CALIDAD DE LA PREPARACION DE PREPARACIONES Y ESPECIMENES. EL ANALIZADOR AUTOMATIZADO DE ESPECIMENES BIOLOGICOS (500) MIDE PARAMETROS QUE REFLEJAN LAS CARACTERISTICAS FISICAS DE LAS PREPARACIONES, LA CALIDAD DE LA TOMA DEL ESPECIMEN, Y LA CALIDAD DE LA PREPARACION DEL ESPECIMEN. EL SISTEMA AUTOMATIZADO (500) PROPORCIONA UNA MEDIDA OBJETIVA Y UTILIZA UN PATRON DE EVALUACION COHERENTE (118, 120, 122, 124, 126). EL SISTEMA AUTOMATIZADO (500) EVALUA CARACTERISTICAS DE UN CONJUNTO DE PREPARACIONES DE UNA CLINICA (103). EL SISTEMA AUTOMATIZADO (500) REALIZA UNA DETERMINACION DE SI ESTAS CARACTERISTICAS ESTAN DENTRO DE LA CAPACIDAD DE ENTRENAMIENTO DE UN DETERMINADO ANALIZADOR BIOLOGICO AUTOMATIZADO. ADEMAS, EN LUGAR DE REVISIONES PERIODICAS, LAS PREPARACIONES (201) QUE HAN SIDO INVESTIGADAS CON EXITO POR EL SISTEMA AUTOMATIZADO (500) PUEDEN UTILIZARSE COMO PARTE DE UNA EVALUACION DE LA PREPARACION DE UN ESPECIMEN (90,100).

Description

Método para evaluar la calidad de portaobjetos y de preparación de muestras.
Esta invención hace referencia a un método y aparato para evaluar la calidad de portaobjetos y de preparación de muestras, y particularmente a un evaluador automatizado de la población de muestras biológicas fijadas e impregnadas en portaobjetos.
Antecedentes de la invención
La investigación de procesos de enfermedad para los cuales se toma una muestra pueden no ser posibles, si las preparaciones de muestras, tales como la fijación o las impregnaciones, son incorrectas o irregulares. Como consecuencia, hay una necesidad de proporcionar muestras biológicas con al menos un nivel mínimo de calidad para asegurar una mayor eficacia en la investigación de enfermedades. Un método de evaluación de la preparación de muestras asegura que las muestras estén preparadas usando una técnica y un material que proporcione un nivel seleccionado de calidad que permita la investigación de procesos de enfermedad de interés.
Además, cualquiera de dichas investigaciones puede determinar más adelante, si las muestras preparadas son adecuadas para el examen por ordenador. Se podrá ajustar la investigación por su aptitud según los requisitos de un sistema automatizado seleccionado. Por otra parte, el asesoramiento puede incluir información acerca de la preparación de la muestra y las características físicas que requieren mejora.
Las preparaciones de muestras afectan a las características de las muestras, incluyendo los detalles morfológicos de las células. El detalle morfológico de las células en muestras biológicas debe permanecer intacto y ser visible para la efectividad de los exámenes de muestras biológicas visuales o por ordenador. La fijación de la célula inmoviliza la estructura celular. La impregnación hace visible la fijación de la estructura celular. La fijación incorrecta de muestras permite que la morfología celular cambie y se degenere. La impregnación impropia puede hacer borroso el detalle celular o puede hacer que la estructura celular no sea visible. La investigación debe determinar si la preparación de la muestra se lleva a cabo de tal forma que proporcione una buena fijación e impregnación de las células para el examen visual o el análisis por dispositivos automáticos. Ver, por ejemplo, la introducción a "Diagnostic Cytopathology of the Uterine Cervix," págs. 1-9, por S. Patten, y "Sensitivity y Specificity of Routine Diagnostic Cytology", por S. Patten en "The Automation of Uterine Cancer Cytlogy," 2 págs. 406 - 415, editado por Wied, Bahr y Bartels. Actualmente, la preparación de muestras se evalúa periódicamente por el análisis visual humano.
Según lo descrito en la referencia antedicha, la recogida de muestras o muestreo es otra característica que tiene un gran impacto en la viabilidad del diagnóstico de una muestra. Si la muestra fue tomada en una ubicación anatómica incorrecta, o recogida con una técnica pobre, puede ocurrir que el correcto espectro de las células tipo no esté presente. La investigación debe determinar si la recogida de muestras proporciona un buen muestrario de células para ser examinadas.
Las características físicas de los portaobjetos son importantes para el examen automatizado de las muestras biológicas. Características físicas tales como el grosor de un portaobjetos, la alineación del cubreobjetos o el etiquetado de un portaobjetos han de estar dentro de unos parámetros predeterminados para obtener una imagen y un examen por ordenador efectivos. Estas cualidades incluyen la calidad y suficiencia de la muestra obtenida. La presente invención proporciona, por primera vez, un práctico método objetivo y un aparato para medir estas cualidades.
La Patente Estadounidense Nº. 4,667,335 describe un método para evaluar el contenido de un volumen de muestra biológica que contiene partículas para evaluar la importancia diagnóstica de ese volumen de muestra biológica. Un número de partes alícuotas de la muestra son distribuidos y examinados a través de un campo de magnificación de baja energía. El número total de partes alícuotas examinados a través de un campo de magnificación de baja energía, si una primera fracción del volumen de la muestra biológica. Se cuenta el porcentaje de las partículas detectadas en la primera fracción. El porcentaje de las partículas detectado se compara con un primer porcentaje conocido. En el caso de que la comparación produzca el resultado de que la muestra contenga un número de partículas insignificante para diagnóstico, se concluye el método. De lo contrario se continúa con el método. Una segunda fracción del volumen de la muestra biológica, comprendiendo una pluralidad de partes alícuotas, es examinada a través de un campo de magnificación de alta energía. El porcentaje de partículas detectadas a través de magnificación de alta energía se totaliza. Esto luego se compara con un segundo porcentaje conocido. La importancia para diagnóstico de la muestra biológica se determina por la comparación del segundo porcentaje de partículas con el porcentaje de partículas contadas en el segundo volumen fraccional.
Es por tanto una motivación de la invención el proveer un procedimiento y un aparato que proporcione medidas objetivas de la impregnación y fijación de muestras, de la calidad de recogida de muestras, y de las características físicas de los portaobjetos.
Resumen de la invención
La invención proporciona un método para la evaluación de las características de los portaobjetos y la calidad de preparación de las muestras de acuerdo con la reivindicación 1.
El método de la invención utiliza un sistema de análisis de imagen que además comprende un sistema magnificador de imagen que tiene una cámara, un controlador de movimiento, un sistema de iluminación, y un interfaz de transferencia de imagen. El sistema magnificador de imagen está construido para aumentar los datos de imagen de una muestra fijada en un portaobjetos. El sistema magnificador de imagen esta unido a un sistema de procesamiento de datos para transferir los datos de imagen del sistema magnificador de imagen, al sistema procesador de datos. El sistema procesador de datos pone en práctica un sistema de múltiples pasos. Un primer paso consiste en la evaluación de las características físicas de los portaobjetos. Un segundo paso consiste en la evaluación de la calidad de la recogida de muestras. Un tercer paso consiste en la evaluación de la calidad de la manipulación de los portaobjetos. Un cuarto paso consiste en la evaluación de la calidad de la preparación de muestras. Un quinto paso consiste en una evaluación de la calidad del análisis de muestras.
Otros objetos, características y ventajas de la presente invención se harán evidentes a los expertos en la materia, a través de la descripción de la realización preferente, de las reivindicaciones y dibujos adjuntos en donde similares números se refieren a similares elementos.
Breve descripción de los dibujos
Para ilustrar esta invención se describirá adjunta una realización preferente, en relación con los dibujos que la acompañan.
Las figuras 1A, 1B y 1C muestran una de las ilustraciones de la invención.
La figura 2 muestra un organigrama del método de la invención para evaluar la calidad de la preparación de los portaobjetos y de las muestras.
La figura 3 es un organigrama de un método de evaluación de la calidad de la preparación de los portaobjetos y de las muestras.
La figura 4 muestra un esquemático y simplificado diagrama de bloque de un aparato de la realización preferente.
La figura 5A muestra un esquema de un cubreobjetos y un portaobjetos que contienen una muestra para ser analizada.
La figura 5B muestra un diagrama de un solo campo visual de baja magnificación.
La figura 6 es un diagrama de flujo de alto nivel de un proceso por el cual se determinan las mejores posiciones focales sobre una muestra.
La figura 7 es un diagrama de flujo de un proceso por el cual las imágenes de diferentes profundidades focales son ampliadas / recopiladas y procesadas en el ejemplo de la realización preferente.
Las figuras 8 y 9 comprenden un diagrama de flujo del procesamiento de un rastreo inicial focal, que utiliza un método denominado punteado focal gradiente, y determina un punto de comienzo para la aplicación del método de enfoque de reconocimiento del patrón.
La figura 10 es un cuadro del ejemplo de un punteado focal gradiente a través de un conjunto de profundidades focales, una versión filtrada del mismo y el derivado computerizado de la versión filtrada, donde se utilizan los trazados para ilustrar un método por el cual los puntos más altos son hallados en el. punteado focal gradiente
La figura 11 muestra una trayectoria del reconocimiento del patrón del rastreo focal, que se denomina rastreo focal celular, sobre la superficie de una muestra.
Las figuras 12A, 12B, 12C, y 12D ilustran cuatro simples operaciones morfológicas binarias.
La figura 13 es un diagrama de flujo de datos del proceso morfológico del punteado focal celular.
Descripción detallada de la realización preferente
En una actual realización preferente de la invención, el sistema que se revela adjunto, se usa en un sistema para analizar frotis de pap cervicales, tal como el mostrado y revelado en la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 07/838,064, titulado "Method For Identifying Normal Biomedical Specimens", por Alan C. Nelson y otros, archivado el 18 de febrero de 1992; Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/179,812 archivado el 10 de enero de 1994, el cual es una continuación en parte de la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 07/838,395, titulado "Method For Identifying Objects Using Data Processing Techniques", por S. James Lee, y otros, archivado el 18 de febrero de 1992; Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 07/838,070, ahora Patente Estadounidense Nº 5,315,700, titulado "Method And Apparatus for Rapidly Processing Data Sequences", por Richard s. Johnston y otros., archivado el 18 de Febrero de 1992; Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 07/838,065, ahora Patente Estadounidense Nº 5,361,140 titulada "Method and Apparatus for Dynamic Correction of Microscopic Image Signals" por Jon W. Hayenga y otros, archivado el 02/18/92; y Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/302,355, archivado el 7 de septiembre de 1994 titulado "Method and Apparatus for Rapid Capture of Focused Microscopic Images" a Hayenga y otros., el cual es una continuación en parte de la serie de aplicaciones Nº 07/838,063 archivado el 18 de febrero de 1992.
La presente invención también está relacionada con sistemas biológicos y citológicos como se describe en las siguientes solicitudes de patentes que están asignadas al mismo asignatario al que está asignada la presente invención, archivada el 20 de septiembre de 1994 (excepto que se indique lo contrario), incluyendo la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,118 a Kuan y otros. Titulado, "Field Prioritization Apparatus and Method", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,061 a Wilhelm y otros., titulado "Apparatus for Automated Identification of Cell Groupings on a Biological Specimen", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,116 a Meyer y otros titulado "Apparatus for Automated Identification of Thick Cell Groupings on a Biological Specimen", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/098,115 a Lee y otros., titulado "Biological Analysis System Self Calibration Apparatus", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/308,992 a Lee y otros., titulado "Apparatus for Identification and Integration of Múltiple Cell Patterns", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,063 a Lee y otros., titulado "A Meted for Cytological System Dynamic Normatization", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,248 a Rosenlof y otros., titulado "Meted and Apparatus for Detecting a Microscope Slide Coverslip", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,077 to Rosenlof y otros. Titulado "Apparatus for Detecting Bubbles in Coverslip Adhesive", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,931 a Lee y otros., titulado "Cytological Slide Scoring Apparatus", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,148 a Lee y otros., titulado "Method and Apparatus for Image Plane Modulation Pattern Recognition", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,250 a Lee y otros., titulado "Apparatus for the Identification of Free-Lying Cells", la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/309,117 a Wilhelm y otros., titulado "Method and Apparatus for Detection of Unsuitable Conditions for Automated Cytology Scoring". También está incorporada por referencia la Serie de Solicitud de Patentes Estadounidense Nº 08/455,296 a Lee y otros., archivado el 31 de Mayo de 1995, asignado al mismo asignatario, titulado "Method and Apparatus for Continously Monitoring and Forecasting Slide and Speciem Preparation for a Biological Specimen Population".
Ahora refiérase a las Figuras 1A, 1B y 1C las cuales muestran un diagrama esquemático de una de las ilustraciones del aparato de la invención para evaluar la calidad de preparación de portaobjetos y de muestras 500. El aparato de la invención comprende un sistema de imagen 502, un sistema de control de moción 504, un sistema procesador de imagen 536, un sistema central de procesamiento 540, y una terminal de trabajo 542. El sistema de imagen 502 está comprendido por un iluminador 508, óptica de imagen 510, una cámara CCD, un sensor de iluminación 514 un sistema de enfoque y captación de imagen 516. El sistema de enfoque y captación de imagen 516 proporciona datos temporales a las cámaras CCD 512, las cámaras CCD 512 proporcionan imágenes consistentes en líneas de rastreo, al sistema de enfoque y captación de imagen 516. Una intensidad del sistema de iluminación es suministrada al sistema de enfoque y captación de imagen 516, donde un sensor de iluminación 514 recibe la muestra de la imagen de la óptica 510. En algunas ilustraciones la óptica 510 puede incluir filtros de color. En una ilustración de la invención la óptica puede incluir además un microscopio automatizado 511. El iluminador 508 proporciona la iluminación del porta objetos. El sistema de enfoque y captación de imagen 516 proporciona datos a un bus VME 538. El bus VME distribuye los datos a un sistema procesador de imagen 536. El sistema procesador de imagen 536 está compuesto por procesadores de campo visual 568. Las imágenes son enviadas por el bus de imagen 564 desde el sistema de enfoque y captación de imagen 516. Un procesador central 540 controla la operación de la invención a través del bus VME 538. En una ilustración, el procesador central 562 comprende un MOTOROLA 68030 CPU. El controlador de moción 504 consta de un manipulador de bandeja 518, un controlador de platina de microscopio 520, un controlador de bandeja de microscopio 522, y un porta objetos de calibración 524. Los accionamientos del motor 526 posicionan el porta objetos debajo de la óptica. Un lector de código de barras 528 lee un código de barras ubicado en el portaobjetos 524. Un sensor de tacto 530 determina si un portaobjetos se encuentra bajo los objetivos del microscopio, y un sistema de entrelazado de puerta 532 previene la operación en caso de que las puertas estén abiertas. El controlador de moción 534 controla los accionamientos de motor 526 como respuesta al procesador central 540. Un sistema de comunicación Ethernet 560 comunica a una terminal de trabajo 542 para proporcionar un control del sistema. Un disco duro es controlado por la terminal de trabajo 550. En una ilustración, la terminal de trabajo 550 puede constar de una terminal de trabajo. Un impulsador de cinta 546 está conectado a la terminal de trabajo 550 así como un modem 548, un monitor 552, un teclado 554, y un dispositivo indicador de ratón. Una impresora 558 está conectada al Ethernet 560.
Durante la operación, el ordenador central 540, ejecuta un sistema de operación a tiempo real, controla el microscopio 511 y el procesador, para adquirir y digitalizar imágenes del microscopio 511. El ordenador 540 también controla la fase 511 del microscopio, para posicionar la muestra bajo el objetivo del microscopio, y procesadores 568 de campo visual (CV) de uno a quince, que reciben imágenes bajo control del ordenador 540.
Ha de entenderse que los distintos procesos descritos aquí pueden ser implementados en un software adecuado para ser ejecutados en un procesador digital. El software puede ser incluido por ejemplo, en el procesador central 540.
Véase ahora la Figura 2, la cual muestra un diagrama de flujo del proceso del método de la invención para evaluar la calidad de portaobjetos y de preparación de muestras. Un técnico recopila un lote de portaobjetos de laboratorio, con portaobjetos representativos de portaobjetos normales y anormales en el paso 10. En la realización preferente, el asesor adquiere 400 portaobjetos. El lote de portaobjetos consta de los siguientes portaobjetos:
200 portaobjetos dentro del límite normal
150 portaobjetos de bajo grado LIS, y
50 portaobjetos de alto grado LIS.
Lesiones intraepiteliales escamosas (LIS) de bajo grado y LIS de alto grado son lesiones intraepiteliales escamosas de bajo grado y de alto grado, del cuello del útero.
En cada categoría, los portaobjetos pueden tener ventajosamente menos de un año y deben ser seleccionados aleatoriamente de un sólo archivo de estuches de porta objetos de laboratorio. En una realización preferente, todos los portaobjetos han de tener preferiblemente un cubreobjetos de cristal.
Un sistema automatizado, como por ejemplo el descrito en las patentes a las que se hace referencia, procesa un lote de portaobjetos para obtener los datos para evaluar la calidad de preparación de portaobjetos y muestras en el paso 20. En una realización preferente, el sistema automatizado puede comprender el AutoPap® 300, disponible de NeoPath, Inc, situado en Bellevue, WA. El sistema automatizado procesa y obtiene datos de los portaobjetos adquiridos.
En los pasos 30 - 70 el sistema automatizado realiza una serie de exámenes sobre los datos obtenidos en el paso 20. En el paso 30, el sistema automatizado realiza un Examen de las Características Físicas de los portaobjetos para evaluar las características de los portaobjetos de Frotis de Pap, para determinar si pueden ser rastreadas satisfactoriamente por un analizador de muestras biológicas automatizado y predeterminado, tal como el Sistema AutoPap® 300. El Examen de las Características Físicas de los portaobjetos evalúa las características físicas de los portaobjetos adquiridos del laboratorio. Estas características físicas pueden incluir, por ejemplo, las características mostradas en la Tabla 1.
TABLA 1
portaobjetos demasiado grueso
Imposibilidad de trazar la superficie del cubreobjetos
Bordes del cubreobjetos no detectados
Longitud del cubreobjetos nº 40, 50, o 60 mm
Anchura del cubreobjetos no con límites
Esquinas del cubreobjetos no cuadradas
Área del cubreobjetos demasiado pequeño
cubreobjetos sesgado sobre el portaobjetos
Imposibilidad de enfocar sobre la muestra
Cubreobjetos y muestra demasiado finos
Cubreobjetos y muestra demasiado gruesos
El aparato y la muestra
Con referencia a la Figura 4, un esquemático diagrama de bloque simplificado de un ejemplo del aparato de la invención se muestra para mayor facilidad al explicar el método y el aparato de la invención. El aparato mostrado consta de un ordenador central 101, un sistema controlador de rastreo a tiempo real 102, el cual coordina el movimiento de la platina motorizada 103 del microscopio, con el sistema de recogida de imagen 104, un sistema de iluminación estroboscópico 105, un objetivo de microscopio de baja energía 107, una cámara electrónica 108 del tipo CCD, uno o más sistemas especializados de procesamiento de imagen 109, y un sensor de contacto 110. El sistema de iluminación estroboscópico 105 enfoca un breve destello de luz sobre la muestra 106. La muestra 106 está fijada sobre un portaobjetos de cristal 201 y protegida bajo un cubreobjetos transparente 202.
El ordenador 101 puede ser programado ventajosamente para guiar los pasos del procedimiento de enfoque tal como se describe en detalle abajo. En la figura 4, las flechas entre los varios componentes generalmente representan el flujo de información entre las distintas partes del aparato.
La figura 5A muestra esquemáticamente una proyección más detallada del porta objetos 201, sobre el cual se fija una típica muestra 106, y luego se cubre con un cubreobjetos transparente 202. Un típico portaobjetos 201 puede medir ochenta milímetros de largo por veintisiete milímetros de ancho por un milímetro de grosor. Un típico cubreobjetos 202 puede medir sesenta milímetros de largo por veinticuatro milímetros de ancho por 0.13 milímetros de grosor. El mejor enfoque sobre una muestra 106 varía de punto en punto, debido ambos a que existe alabeo en la combinación de portaobjetos - cubreobjetos, y a la intrínseca naturaleza tridimensional de la muestra misma.
Una rejilla 203 se muestra superpuesta sobre el portaobjetos 201 en la Figura SB. La rejilla 203 puede no ser visible en la plasmación física de la invención, pero se usa aquí con fines ilustrativos. La rejilla 203 no se muestra en escala La rejilla 203 ilustra una división del portaobjetos en campos visuales de baja magnificación como el 210, mostrado en más detalle en la Figura 5B. Cada uno de los campos visuales de baja magnificación 210, está dividido en veinticinco campos visuales de alta magnificación 211, por ejemplo. En una ilustración de la invención, una imagen digitalizada capturada de un campo visual de baja magnificación contiene 512 x 512 pixels, y representa un área de muestra de alrededor de 1.4 mm x 1.4mm.
Encontrando el cubreobjetos
Con referencia a la Figura 4, mientras que ahora también haciendo referencia a la Figura 6, el enfoque de una muestra comienza con el ordenador central 101 emitiendo instrucciones al controlador de rastreo 102 para mover la platina 103 a una posición central predefinida en el paso 401 del proceso. La posición central se elige en relación con la posición física, aproximadamente conocida, de la muestra 106, de tal manera que incluso un cubreobjetos pequeño debe cubrir, si está situado adecuadamente sobre la muestra, una región considerable alrededor de la posición central.
En el paso 402 el ordenador central 101 ordena al controlador de rastreo 102 mover la platina 103 en el eje perpendicular al portaobjetos 201, de tal forma que la muestra se aproxime al sensor de contacto 110. Este movimiento continúa hasta que el sensor de contacto 110 registra el contacto con el cubreobjetos 202 sobre la muestra 106 en el paso 403, o hasta que se alcance el final del recorrido, que sería entonces el paso 404. El alcance del final del recorrido en el paso 404 indica que, o no hay portaobjetos presente, o que el portaobjetos presente es demasiado fino para el aparato, en cuyo caso el procesamiento automático del portaobjetos en cuestión se detiene en el paso 405.
Cuando el sensor de contacto 110 indica el contacto con el cubreobjetos sobre la muestra 106 en el paso 403, el controlador de rastreo 102 notifica al ordenador central 101, la posición de la platina en la cual el contacto es registrado por el ordenador central 101, el cual lo guarda en el paso 406. Esta ubicación indica la posición de la platina de la parte superior del cubre objetos en el punto central, y se usa como punto inicial para enfocar. Si el sensor de contacto indica que se produce contacto con el cubreobjetos en un punto más alto que una cierta altura predeterminada, el portaobjetos es demasiado grueso. En cuyo caso el procesamiento automático del portaobjetos en cuestión se detiene. En particular, la ubicación del sensor de tacto 110 se calibra por ser una distancia conocida desde el plano focal de la lente del objetivo107, usando objetivos designados para este propósito. En el paso 411, esta calibración se usa para mover la platina 103 a una posición tal, que el plano focal del objetivo 107 yazca justo debajo de la parte superior del cubreobjetos 202, en la posición central de contacto.
Antes de poder continuar con el enfoque, no obstante, hay que determinar mejor la posición del cubreobjetos. Con respecto a este extremo, en el paso 407, se llevan a cabo cuatro contactos más, sustancialmente similares al primero descrito arriba en los pasos 402 a 404, sobre el portaobjetos en posiciones separadas, dentro de una mínima superficie central del cubreobjetos. También se graba la posición del cubreobjetos en cada uno de estos contactos. En el paso 408, de las 5 posiciones de contacto se construye un plano menos cuadrado, y se compara la inclinación del plano con un máximo permitido. Si la inclinación excede del máximo, o si cualquiera de los cuatro contactos falla al grabar la posición, el procesamiento del portaobjetos se detiene en el paso 405. Un cubreobjetos que está excesivamente inclinado en el paso 408, normalmente indica que el portaobjetos está incorrectamente cargado en el aparato.
Llegados a este punto, desde que se conoce la posición aproximada del cubre objetos, se emprende una búsqueda más detallada de sus cantos en el paso 409.
En el paso 411, la platina se devuelve a la posición de contacto central, a una altura tal que el plano focal del objetivo 107 se encuentra justo debajo de la superficie rozada del cubreobjetos 202. En el paso 412 prosigue el enfoque de la muestra 106, con el ordenador central 101 dando instrucciones al controlador de rastreo 102 para coordinar el movimiento de la platina 103 con el sistema de captación de imagen 104 a fin de llevar a cabo un rastreo inicial focal, comenzando desde la posición en la que el objetivo 107 enfoca una imagen desde justo debajo de la superficie del cubreobjetos 202 en la posición central de contacto sobre el CCD de la cámara 108.
El rastreo inicial focal
Llegados a este punto, describimos el rastreo inicial focal en detalle, haciendo referencia sucesivamente a las Figuras 5A, 5B, 6, 7, 8, 9. 10 y 11, aunque haciendo referencia también a la Figura 4.
El objetivo de un rastreo focal es obtener y procesar imágenes de diferentes planos focales en una muestra, a fin de encontrar el mejor plano focal. Cualquier rastreo focal en este ejemplo de la realización preferente, se lleva a cabo como prosigue. Haciendo referencia conjuntamente a las Figuras 4 y 7, el ordenador central 101 pasa al controlador de rastreo 112 una lista de posiciones de la platina, en las cuales las imágenes han de ser recopiladas, en el paso 501. Las posiciones de las platinas se escogen para causar que el objetivo 107 enfoque la muestra 106 en diferentes planos.
El controlador de rastreo 102 calcula el tiempo de movimiento de la platina, y construye un cuadro, dando posiciones consecutivas de la platina cuando las imágenes han de ser recopiladas, y el momento preciso en que la platina se encuentre en cada posición. Las entradas del cuadro se calculan y se pasan al sistema de captación de imagen 104 en el paso 1502.
Una vez que el sistema de captación de imagen 104 ha recibido el cuadro, en el paso 1503, el controlador de rastreo 102 inicia el movimiento de la platina 103. El movimiento de la platina es controlada por codificadores en el paso 1504 para asegurar la exactitud. Cualquier posición incorrecta de la platina será comunicada al ordenador 101, el cual puede reajustar la platina y volver a iniciar el procesamiento.
A cada momento preciso listado en el cuadro, el sistema de captura de imagen 104 indica al iluminador estroboscópico que emita destellos (intermitentemente) en el paso 1505. El iluminador 105 enfoca un breve destello de luz sobre la muestra 106 en la posición específica en el paso 1506. El sistema de iluminación controla los destellos del estróbilo con un sensor de luz en el paso 1507. Cualquier destello de luz que falte o destellos de luz con una intensidad incorrecta, se comunicarán al ordenador 101, que puede detener el procesamiento del portaobjetos.
En el paso 1508, el objetivo 107 enfoca una imagen del campo visual iluminado de la muestra 106 sobre la cámara 108. En el paso 1509, el sistema de captación de imagen 104 recopila una representación digital de la imagen de este modo adquirido de la cámara 108. En un ejemplo, la representación digital de la imagen consiste en 512 filas por 512 columnas de pixels, a cada una de las cuales se le asigna un nivel gris desde cero, representando el nivel más oscuro, hasta 255, representando el nivel más claro. Si fuera necesario, la imagen puede ser enviado de una forma análoga desde la cámara 108 al sistema de captación de imagen 104, y luego se pasa por un análogo a un convertidor digital para crear la representación digital.
El sistema de captación de imagen 104 envía cada imagen digital que obtiene, al procesador(es) de imagen 109 en el paso 1510. El (los) procesador(es) de imagen 109 especializado lleva a cabo una secuencia preprogramada de operaciones morfológicas, de cálculo, y lógicas, en cada imagen enviada desde el sistema de captación de imagen 104, para obtener una o más medidas de calidad focal. Estas medidas son calculadas y enviadas al ordenador 101 en el paso 1511. Una vez que el ordenador 101 recibe las medidas de cada imagen en la lista enviada en un principio al controlador de rastreo 102 en el paso 1501, el ordenador central procesa la lista de medidas con el fin de determinar la posición focal óptima en el paso 1512.
Durante todo el tiempo en que las imágenes son captadas y procesadas, la platina 103 continúa moviendo la muestra 106 de acuerdo con las instrucciones del controlador de rastreo 102, desde el paso 1503 en adelante, hasta que la lista de imágenes a ser recopiladas, está agotada.
El rastreo de foco inicial comienza, como se describe arriba, desde una posición en la que el objetivo 107 está enfocado sobre un plano de imagen justo debajo de la superficie del cubreobjetos en la posición central de contacto. Sigue continuando más abajo del cubreobjetos recopilando una imagen por cada profundidad focal del objetivo 107, hasta que sobrepasa la profundidad correspondiente al máximo grosor óptico del cubreobjetos. El máximo grosor óptico del cubreobjetos puede ser un grosor predeterminado como aceptable, dependiendo del aparato utilizado en particular.
El rastreo inicial focal se utiliza para identificar un punto inicial, denominado el punto de semilla, para enfocar el sistema sobre la muestra. Puesto que no es importante si el punto inicial se deriva o no de las células en la muestra, o simplemente polvo o cualquier otra sustancia sobre la superficie del portaobjetos, no se utiliza un reconocimiento morfológico de patrón para el rastreo inicial focal.
En su lugar, se calcula una medida de la calidad focal de intensidad gradiente más sencilla, de la siguiente manera. Véase la Figura 8, que muestra un diagrama de flujo del proceso, para el procesador de imagen cuando se calcula el punteado focal gradiente. Pare empezar, en el paso 601, se calcula un histograma de los niveles grises de la imagen. Este histograma se utiliza para calcular un indicativo de la claridad de la iluminación, o nivel claro, presente en la imagen. En particular, el nivel claro puede ser definido como el nivel de mayor intensidad, en el que el 0.1% o más de los pixels de la imagen graban una intensidad aún mayor.
En el paso 602, los gradientes horizontales y verticales en la intensidad clara se calculan en cada uno de los pixels en la imagen digitalizada. Para el gradiente vertical, el cómputo se realiza en cada píxel restando el valor de intensidad del píxel inmediatamente inferior, del de el píxel inmediatamente superior. El gradiente horizontal se calcula de forma análoga. Estos gradientes se comparan con un umbral para reducir el efecto del ruido de la imagen sobre el indicativo de la nitidez de la imagen. Los gradientes por debajo del valor umbral predeterminado se tratan como cero. Aquellos expertos en la materia, teniendo el beneficio de la revelación, entenderán que el valor de umbral puede ser obtenido empíricamente, o de las características del aparato de imagen específico que se utiliza.
Para poder distinguir la mejor posición focal de regiones diferentes dentro del campo de visión, el procesador de imagen divide el campo de visión en una rejilla de cinco por cinco, como el mostrado en la Figura 5B, en el paso 603. El procesamiento posterior calcula veinticinco indicativos focales separados, uno por cada uno de las veinticinco regiones de la rejilla.
En el paso 604, se calculan cincuenta histogramas, dos por cada uno de las veinticinco regiones de la rejilla en la imagen.
Los dos histogramas se calculan en las imágenes gradientes horizontales y verticales, respectivamente.
Incluso un procedimiento de enfoque que no lleva a cabo un reconocimiento de patrón debe tomar alguna cuenta del tamaño de los objetos a enfocar, para adquirir información del límite adecuado de frecuencias espaciales. Dado que el sistema de enfoque aquí descrito está diseñado para trabajar a una magnificación baja de objetos pequeños, el algoritmo gradiente de intensidad tiene en cuenta el tamaño, usando solamente los cincuenta gradientes más altos en cada una de las veinticinco regiones en el paso 605. El resto del histograma gradiente se ignora.
En el paso 606, se suman los cuadrados de estos cincuenta gradientes, y se dividen por nivel de claridad para producir veinticinco punteados focales por cada imagen en el rastreo focal. El nivel de claridad se utiliza para normalizar los punteados a fin de reducir su dependencia de la iluminación de cuadrada a linear. Esto es muy útil dado que el algoritmo puede ser utilizado sobre imágenes, en un contexto en el que por algún motivo, la imagen pueda estar oscura.
Una vez que el sistema procesador de imagen 109 ha calculado los veinticinco punteados focales gradientes para cada imagen en el rastreo inicial focal, el sistema procesador de imagen 109 pasa estos punteados, junto con las posiciones focales que se complementan, de vuelta al ordenador central 101, tal y como se describe arriba y se muestra como el paso 1511 en la Figura 7.
La tarea del ordenador central 101 en el paso 1512 de la Figura 7, es la de buscar puntos cumbre en el punteado focal, como una función de la posición focal en cada una de las veinticinco regiones, ignorar fluctuaciones falsas debido al ruido, y hacer una aproximación inicial del mejor plano focal. Esto lo consigue como se muestra en la Figura 9.
Primero, en el paso 620, los punteados para cada región, se filtran a través de posiciones focales a fin de reducir el ruido el los punteados focales. Para conseguir este objetivo, se usa una pepita Gaussiana con una anchura media a un máximo medio, igual a la profundidad del campo del objetivo.
Segundo, en el paso 621, el derivativo del punteado focal con respecto a la posición, se calcula para cada región y cada posición, restando el punteado focal, filtrado en cada posición y en cada región, de los exitosos punteados focales filtrados de la posición para la misma región.
Tercero, en el paso 622, los puntos cumbre en el punteado focal en todas las regiones se identifican buscando patrones a través de la posición de dos derivativos positivos seguidos de dos derivativos negativos, y comprobando para asegurar que el punteado focal en el punto cumbre está por encima de un mínimo predeterminado, para evitar encontrar puntos cumbre falsos. La ubicación del punto cumbre se encuentra en la interpolación linear del gradiente con el cruce de cero.
La Figura 7 ilustra el proceso de encontrar los puntos cumbre trazando un ejemplo de los punteados focales originales 701, el punteado focal 702 filtrado de forma Gaussiana, y las diferencias de los punteados focales 703, contrapuesto con las posiciones focales. Los punteados trazados en la Figura 7 representan los valores hallados en una única región. El cero interpolado del derivativo en el 704 representa la posición del punto cumbre. Atiéndase a los derivativos positivos antes del punto cumbre, y a los derivativos negativos después del punto cumbre.
Cuarto, en el paso 623, la nitidez de cada punto cumbre se mide dividiendo la magnitud del segundo derivativo del punteado focal filtrado en el punto cumbre, por la magnitud del punto cumbre. La nitidez proporciona una indicación que mide el punto cumbre, acerca de la seguridad de una preferencia para la posición focal
Quinto, en el paso 624, todos los puntos cumbre hallados en todas las regiones se dividen en dos clases: aquellos que se hallan a un mínimo o más del grosor óptico del cubreobjetos por debajo del punto cumbre mayor encontrado, y aquellos que no. Se dividen a fin de separar cualquier punto cumbre que pueda proceder del polvo de encima del cubreobjetos, de los puntos cumbre provenientes de la muestra propiamente dicha.
Sexto, en el paso 625, en cada región, se mantiene el punto cumbre con el mayor punteado focal de cada clase, mientras que cualquier otro punto cumbre en la misma región y clase se ignora. Por consiguiente, hay que considerar como máximo veinticinco puntos cumbre en cada clase.
Séptimo, en el paso 626, se coge un promedio evaluado, de la posición de los puntos cumbre en cada clase, para representar la mejor posición focal para el campo de visión completo en cada clase. Los puntos cumbre se miden por la nitidez relativa del punto cumbre calculada en el paso 623 para obtener el promedio con peso. Si algún punto cumbre tiene una nitidez que, resulta ser más que un factor de cuatro menos que el punto cumbre más nítido en la clase, cae del promedio por ser un punto cumbre demasiado blando para este paso. Esto deja como mucho dos posiciones focales posibles. Nótese que es posible que todos los puntos cumbres estén en la clase superior, en cuyo caso sólo hay una posición focal en esta fase.
Octavo, para evitar la posibilidad de enfocar sobre parte superior del cubre objetos, si existen dos posiciones focales, la clase que es inferior (debajo del cubreobjetos), se escoge como representante del mejor foco sobre la muestra, en el paso 627.
Noveno y último, en el paso 628, si no encontrara ningún punto cumbre en el paso 622, el rastreo no logra encontrar la mejor posición focal en el paso 630. De lo contrario, la posición focal escogida en el paso 627 es almacenada por el ordenador 101 en el paso 629. Esto finaliza la discusión sobre el rastreo focal inicial.
Intentos múltiples del rastreo inicial
Haciendo referencia a la Figura 6 anterior, el resultado del rastreo inicial focal en el paso 412 es de este modo una posición focal de inicio, o un fracaso en encontrar un punto cumbre. En casi todos los casos, en los que se utiliza un portaobjetos que porta una muestra y que cumple los requisitos físicos de grosor y colocación, el rastreo focal inicial descrito arriba es satisfactorio. Esto es porque requiere que se enfoque sobre muy poquito material, y el rastreo se realiza en el centro del portaobjetos, donde es probable que halla alguna muestra.
No obstante, si el fallo es encontrado en el paso 413, se realizan intentos adicionales para encontrar un punto pepita para enfocar. En particular, si en el paso 414 se han realizado menos de un número predeterminado de intentos, se selecciona una posición nueva en el paso 415 en un campo de visión adyacente a aquel en el que se acaba de intentar un rastreo focal, y el proceso intenta de nuevo otro rastreo inicial en el paso 412. Los intentos satisfactorios pueden darse en un patrón de espiral alrededor del punto original de contacto, de manera que se continúe seleccionando nuevos campos de visión, mientras que se permanezca tan cerca como sea posible de la posición de contacto central. Únicamente si el número predeterminado de intentos no han tenido éxito en el paso 414, cesa el procesamiento del portaobjetos en el paso 405.
Una vez que una posición focal inicial es hallada en el paso 412, el reconocimiento de patrón, o celular, comienza el rastreo focal a partir de este punto, denominado como punto semilla para crear un mapa de la superficie focal.
La Figura 11 ilustra la trayectoria del rastreo focal celular a través de la superficie de la muestra, en donde la posición del punto semilla está señalada con una "X". Los cuadros 801 indican los campos de visión rastreados, mientras que las flechas 802 muestran la trayectoria que sigue la platina. El objetivo de lo que se describe a continuación, indicado por la trayectoria, es acercarse lo más posible a conseguir una muestra representativa del portaobjetos, mientras que se minimiza el tiempo que se tarda (utilizado) para el rastreo. La platina utilizada tarda el mismo tiempo para moverse simultáneamente en dos dimensiones, como para moverse sólo en una, así que los movimientos diagonales ilustrados maximizan la velocidad de movimiento.
Haciendo referencia por tanto a la anterior Figura 6, en el paso 416, los primeros rastreos se dan a la derecha de, y adyacente al punto de semilla en la Figura 11. El patrón en zig-zag ilustrado en la Figura 11 se voltea, como por ejemplo en 804, cada vez que el rastreo se acerca a uno de los bordes del cubre objetos. Todo el patrón entero debe llegar a su fin, antes del extremo final derecho del cubreobjetos en la Figura 11. El rastreo entonces se retoma en los pasos 422 y 416, y de nuevo comenzando adyacente al punto de semilla, a la izquierda del punto de semilla, en el rastreo marcado con un círculo en la Figura 11. Nótese que la última inversión del rastreo 803, trazado en la Figura 11 tiene 5 pasos, más que los tres pasos dados por 804 y cualquier otra inversión. Esto demuestra el hecho de que bajo las condiciones por describir abajo, el número de pasos en una inversión se ve aumentado de tres a cinco a fin de acelerar el procesamiento de la muestra.
Los dos primeros rastreos focales celulares se centran alrededor del plano focal definido por el punto de semilla. Los rastreos focales celulares son mucho menos profundos que los rastreos gradientes descritos arriba, que consisten en la adquisición y el procesamiento de sólo cuatro imágenes, nuevamente separadas por escasamente la profundidad del foco de la lente del objetivo. Esto hace que el rastreo celular sea más rápido. Encontrar la mejor posición focal de un rastreo celular es necesariamente una operación más sencilla que encontrarlo de un rastreo gradiente, porque sólo hay que trabajar con cuatro puntos. Se le da más peso al procesamiento de una imagen para eliminar la señal de ruido, y en particular, reconocer y enfocar principalmente sobre el núcleo de células bien separadas. Nótese que las células en grupo muchas veces proporcionan menos información útil, si su núcleo no se puede distinguir claramente.
Morfología celular
El procesamiento de una imagen en un rastreo focal celular está compuesto por una combinación de simples operaciones morfológicas. Las Figuras 12A-12D ilustran cuatro simples operaciones morfológicas binarias. La Figura 12A ilustra una erosión con un bloque tres por tres, mientras que la Figura 12B demuestra una dilatación con el mismo bloque. La Figura 12C muestra una erosión con un marco de cinco por cinco, y la Figura 12D ilustra una dilatación con el mismo marco de alambre.
Una operación morfológica, tal como una erosión o dilatación, implica dos entidades. La primera entidad es la imagen sobre la que se opera, y la segunda entidad es un elemento estructurante con el que se realiza la operación. El elemento estructurante puede ser representada como una rejilla de píxels, cuyos valores con "encendido" o "apagado", y que posee un único píxel céntrico. Los píxels céntricos de los elementos estructurantes en las Figuras 12A-12D están señaladas con Xes.
Una operación morfológica puede ser prevista como una colocación del centro del elemento estructurante, sucesivamente, sobre cada píxel de la imagen original. Una operación binaria opera sobre imágenes cuyos píxels están en "encendido" o en "apagado". Las dos operaciones más sencillas son erosión y dilatación. La erosión binaria "apaga" todos los píxels en la imagen que, cuando el elemento estructurante está centrado sobre ellos, tienen al menos un píxel "apagado" de la imagen alineada con un píxel "encendido" del elemento. Todos los demás píxels en la imagen están puestos en "encendido". La dilación "enciende" todos los píxels en la imagen, que cuando el elemento estructurante está centrado sobre ellos, tienen al menos un píxel "encendido" de la imagen alineado con un píxel "encendido" del elemento estructurante. Todos los demás píxels están "apagados".
La erosión binaria y la dilatación están fácilmente generalizadas a la erosión y dilatación de escala de grises. La erosión de escala gris reemplaza el valor de cada píxel en la imagen, por el mínimo de los valores de esos píxels que corresponden a píxels "encendidos" en el elemento. La dilatación de escala gris reemplaza el valor de cada píxel con el máximo de los valores de aquellos píxels que corresponden con los píxels "encendidos" en el elemento. La erosión y la dilatación se combinan para hacer operaciones compuestas. En particular, una dilación seguida de una erosión con el mismo elemento se denomina cierre, mientras que una erosión seguida de una dilatación es una apertura.
La Figura 13 es un diagrama de flujo de datos del punteado focal celular del proceso morfológico. Cada imagen de cada rastreo focal celular, después de ser guardada en la cámara 108 y digitalizada por el sistema de captación de imagen 104 se procesa a través de este conjunto de operaciones por el procesador(es) de imagen(es) 109. Como se muestra en la Figura 10, el proceso tiene cuatro ramas principales.
En la primera rama se toma un histograma 1011 de los valores de escala gris de la imagen 1001, y tres valores de la escala gris 1012, llamados el nivel blanco, cito, y oscuro, se calculan del histograma. El valor blanco es el mismo que el nivel claro descrito en la discusión anterior del punteado focal gradiente. El nivel cito está definido como el 95% del valor del nivel blanco. Como insinúa el nombre, las regiones de la imagen con niveles grises por debajo de este nivel, probablemente representen zonas con al menos algún citoplasma. El nivel oscuro está definido como 1/15 del valor blanco, más una cantidad que representa un fondo de ruido. Las regiones de la imagen con niveles grises por debajo del valor oscuro representan grumos espesos de muestra, o artificios de otro material. Estas regiones se excluyen en su consideración para el enfoque.
En la segunda rama del proceso morfológico celular, cada píxel en la imagen original 1001 se examinan en el paso 1021 para ver si sus niveles grises exceden el umbral cito. Si es así, el píxel correspondiente en una imagen binaria se pone en cero; si no, el píxel binario se pone en uno. La imagen binaria así producida pasa por la apertura morfológica 1022 por un recuadro de cinco por cinco, seguida de una apertura 1023 por un recuadro de 43 por 43.
La apertura 1022 por el recuadro cinco por cinco está diseñada para rechazar las regiones que son demasiado pequeñas para representar exactamente las células, mientras que la apertura 1023 por el recuadro 43 por 43 detecta regiones que son tan grandes que deben representar grupos de células pegadas unas a otras, más que células con espacios entre ellas. De acuerdo con los requisitos de enfoque sobre células que están sueltas, el resultado de las dos aperturas esta ordenado junto exclusivamente en el paso 1024 para generar una imagen binaria citoplásmica, que es entonces dilatada 1025 por un recuadro cinco por cinco, para recoger cualquier núcleo que pueda estar en los bordes de sus células.
La tercera rama del algoritmo del punteado focal celular comprueba cada píxel de la imagen original 1001 en el paso 1031 para averiguar si tiene un nivel gris mayor que el nivel oscuro definido arriba. Si es así, el píxel correspondiente de una imagen binaria se pone a uno, si no, se pone a cero. La resultante imagen binaria oscura se erosiona 1032 por un recuadro 43 por 43 para prevenir el enfoque sobre los bordes de grumos espesos de muestra, o en regiones atadas con artificios. La imagen binaria oscura es entonces añadida 1033 con la imagen binaria citoplásmica, para producir una imagen binaria que represente la región permitida para los núcleos, para que puedan ser reconocidos.
El cuarto y último ramo del algoritmo está diseñado para detectar los núcleos. Comienza con una cierre de escala gris 1041 de la imagen original 1001 por un cubo cinco por cinco. Este cierre borrará por lo general los núcleos de interés de la imagen. La imagen original 1001 entonces se resta en el paso 1042 del resultado del cierre para producir una imagen invertida de textura mejorada, en donde los núcleos aparecen tan prominentemente como puntos claros.
A fin de desarrollar una imagen binaria que identifique los núcleos, el resultado del cierre se divide por ocho en el paso 1043, luego se examina en contraste con una imagen de textura mejorada en el paso 1044. Si el nivel gris de la imagen de textura mejorada excede a aquel de este indicativo del nivel de luz local, el píxel en cuestión está señalada como potencialmente parte de un núcleo en el paso 1044. Esta imagen binaria está añadida 1045 con las imágenes binarias de las regiones permitidas, para generar una máscara binaria de posibles píxels nucleares.
La imagen de máscara binaria producida de este modo en el paso 1045 tiene el defecto de que se le han hecho pocas restricciones del tamaño o forma nuclear. Los siguientes pasos están diseñados para rectificar esta limitación. Primero, se aplica una apertura 1046 por un recuadro de dos por dos, para eliminar pixels aislados o pixels de hilos de anchura única. Segundo, una dilación 1047 de la máscara resultante se invierte 1048 por un marco hueco de pixels de dos por dos, entonces añadida 1049 con la máscara para deshacerse de esas partes de posibles núcleos que no van a caber dentro del marco de siete por siete. Esto requiere que los posible núcleos tenga más o menos una forma elíptica. Tercero y último, la imagen binaria resultante se dilata 1050 con un recuadro de tres por tres, para incluir los bordes de los núcleos en la máscara. El resultado del paso 1050 es la imagen de máscara final, la cual identifica los núcleos que cumplan todos los requisitos para el enfoque.
Incluso después de que se hayan identificado los núcleos, sigue siendo necesario medir la nitidez con las que están enfocadas. Para hacer esto, la imagen de textura mejorada, producida en el paso 1042, se erosiona 1051 por un tabique, y se resta la imagen resultante 1052 de la imagen misma de textura mejorada, para producir una imagen de gradiente mejorado. En le paso 1053, esta imagen de gradiente mejorado se pone entonces a cero en donde quiera que la imagen de máscara final del paso 1050 contenga un cero, y se deja sin alteración en donde la imagen final de máscara contenga un uno.
Finalmente, se toma un histograma 1054 de los niveles grises de la imagen resultante, con el fin de sumar un indicativo de la cantidad de materia nuclear encontrada, y por su puesto, la nitidez del foco sobre los núcleos. Dos indicativos se calculan del histograma 1054 en el paso 1055 como prosigue. En primer lugar, cualquier nivel de la imagen gradiente aumentada por debajo de 5% del nivel blanco es ignorado por ser material no nuclear. Después, cualquier píxel por encima de este nivel se calcula hacia la suma del número total de pixels nucleares aceptables, y su indicativo de nitidez nuclear se calcula como promedio al cuadrado del nivel gradiente aumentado de aquellos pixels que están por encima del 5% del nivel blanco. La suma de pixels nucleares aceptables es un indicativo de la cantidad total de muestras útiles encontradas, mientras que el indicativo de la nitidez nuclear se divide por el nivel blanco para reducir la dependencia del nivel de luz, y luego se utiliza como punteado focal celular.
Procesamiento focal celular
El ordenador central 101 de este modo recibe cuatro punteados focales y cuatro recuentos de pixels de los procesador(es) de imagen 109 para cada rastreo focal celular llevado a cabo. El ordenador procesa estos indicadores. El procesamiento sucede de la siguiente manera descrita abajo.
Primero, el ordenador determina cual de los punteados focales es el superior. Si el punteado focal superior es el más lejano del cubreobjetos, el resultado del rastreo focal es un indicio de que es necesario alejarse más del cubreobjetos para buscar un mejor plano focal. Si no, el recuento de pixels nucleares de la imagen con el punteado focal superior se comprueba para ver si excede el 0.1% de la imagen. Si no, aparentemente no hay suficiente sobre lo que enfocar en este campo visual, y el ordenador determina seguir rastreando en el mismo plano.
Si el recuento de pixels nucleares es mayor del 0.1% de la imagen, y la imagen con el punteado focal superior es la que está más cerca del cubreobjetos, el resultado del rastreo focal es un indicio de que puede ser necesario acercarse más al cubreobjetos para buscar un plano focal mejor. Se requieren suficientes datos antes de acercarse hacia el cubreobjetos con el fin de prevenir moverse hacia enfoques intentados sobre la materia encima del cubreobjetos sobre porta objetos dispersos.
Si la imagen con el punteado focal superior no está ni en la parte superior ni en la parte inferior del rastreo, y la imagen con el punteado focal superior tiene un recuento de pixels que excede el 0.1% de la imagen, entonces las diferencias de los punteados focales pueden ser interpoladas de forma linear para localizar la cumbre. La interpolación se hace al cruce de cero en el derivativo, análogo al cruce interpolado de cero mostrado como 704 en la Figura 7. Esto indica un hallazgo con éxito del mejor enfoque, y se grava su ubicación. Finalmente, el indicativo para más enfoque es centrarse en el mejor plano focal gravado.
Haciendo referencia de nuevo a la Figura 6, para seguir el manejo de rastreos focales celulares en el rastreo focal de la muestra. Como se anota arriba, los primeros dos rastreos focales celulares en el paso 416 se centran en el plano definido por el punto semilla. En el paso 417, el resultado del primero de estos rastreos se procesa por el ordenador 101. Después de obtener el resultado, el ordenador 101 solicita el siguiente rastreo celular en el paso 418.
Si el resultado del rastreo focal recién procesado indica que el foco debe ser bajado 1103, el rastreo solicitado 418 se centra un paso focal inferior que del rastreo recién procesado. Si el resultado indicara que no había suficientes datos disponibles 1105, el rastreo solicitado 418 se centra sobre el mismo plano que el rastreo recién procesado. Si el resultado indicara que el foco debe ser elevado 1107, el plano del último rastreo focal con éxito es examinado para ver que la actual posición focal está por encima de menos de la mitad del mínimo de grosor óptico del cubreobjetos. En caso de ser así, el rastreo solicitado 418 se centra un paso focal superior. En caso de no ser así, para prevenir enfoques intentados sobre la parte superior del cubreobjetos, el rastreo solicitado 418 se centra sobre el mismo plano que el rastreo recién procesado.
Haciendo referencia de nuevo a la Figura 6, en el paso 419 el ordenador examina la posición del rastreo focal recién solicitado, para ver si es al extremo final derecho o al extremo final izquierdo del cubreobjetos, de acuerdo con el patrón de rastreo mostrado en la Figura 11. Si no resulta se así, el ordenador vuelve al paso 417 para calcular el resultado del rastreo recién completado, después solicitar un nuevo rastreo otra vez en el paso 418. Nótese que la altura focal de cada rastreo celular está basada en el resultado del rastreo dos anterior a este. Esto permite al controlador de rastreo 102, al sistema de captación de imagen 104, el (los) procesador(es) de imagen 109, y el ordenador 101 a procesar continuamente rastreos focales en paralelo tan rápido como se puede mover la platina, sin tiempo atrasado gastado a la espera de los resultados del cálculo.
Cuando se alcanza el final de un cubreobjetos en el paso 419, hay dos resultados del rastreo focal para ser aún procesados en el paso 420. Entonces, en el paso 421, el ordenador comprueba si el rastreo focal ya ha avanzado en ambas direcciones partiendo del punto de semilla, como se muestra en la Figura 11. Si es así, se ha completado el rastreo focal celular de la muestra en el paso 423. Si no es así, la máquina vuelve al punto de semilla en el paso 422, entonces comienza a rastrear en la dirección contraria de vuelta al paso 416. Los primeros dos rastreos focales en ambas direcciones se centran en el plano del punto de semilla.
Un número mínimo de rastreos focales celulares satisfactorios se necesita para enfocar con precisión sobre la muestra. En un ejemplo de plasmación, el número mínimo es de 24 rastreos. Si no se alcanza este número después de que todos los rastreos, como se muestra en la Figura 11, se hayan completado, se debe rechazar la muestra para procesamiento automático. Los Frotis de Pap rechazados por este motivo son normalmente insatisfactorios por su insuficiente celularidad escamosa. Adicionalmente, es posible tener rastreos satisfactorios únicamente en una región del portaobjetos. Si los rastreos focales satisfactorios no cubren todas las áreas del portaobjetos, el portaobjetos se rechaza por tener una muestra distribuida por un área demasiado pequeña.
Una vez que el modelo de la superficie focal de la muestra está disponible, puede ser usada como una guía para rastrear la muestra entera bajo un cubre objetos a una magnificación de baja energía. Puede también ser usado como el punto de inicio para el enfoque de magnificación de alta energía de la muestra. Si la superficie focal está demasiado inclinada, un enfoque de alta energía puede no ser posible para la totalidad del campo de visión de alta energía. Si la superficie focal está demasiado inclinada, el procesamiento del portaobjetos se cesa. Si la superficie focal es demasiado variable, los focos panorámicos, pueden haber proporcionado información focal imprecisa. Si el mapa focal es demasiado variable, el procesamiento del portaobjetos cesa por "imposibilidad de enfocar sobre la muestra".
Los datos de rastreo focal satisfactorio pueden ser utilizados, junto con la altura del cubreobjetos dada por el sensor de contacto, para estimar el grosor óptico del cubreobjetos sobre la muestra. Si el grosor óptico de la muestra es demasiado grande o demasiado pequeño, entonces se produce una aberración esférica inaceptablemente grande, cuando se examina la muestra a través de una lente de objetivo de alta resolución. Como resultado, la muestra puede ser inapropiada para examen microscópico de alta energía. Si el indicativo superior del grosor óptico de la muestra al cubreobjetos, es mayor que la distancia primeramente predeterminada o menor que la distancia segundamente predeterminada, se termina el procesamiento del portaobjetos.
En la realización preferente, el modelo de superficie focal se utiliza para guiar rastreos de la muestra de magnificación de baja energía. Las áreas de la muestra son analizadas para el caso de que existiera una anormalidad potencial. Cada campo visual del área del portaobjetos se clasifica por su probabilidad de contener alguna anormalidad. Si se clasifican demasiado pocos campos visuales, puede ser que no se haya rastreado el portaobjetos adecuadamente, por lo tanto se termina el procesamiento del portaobjetos. Durante el rastreo de magnificación de baja energía, se identifica las áreas de burbujas. Si existen demasiado áreas de burbujas, se termina el procesamiento del portaobjetos.
En una ilustración, tras el rastreo de magnificación de baja energía, un modelo de superficie focal se crea para el rastreo de magnificación de alta energía. Desde que la profundidad del campo se reduce en la magnificación de alta energía, se requiere una superficie focal más precisa. Los focos panorámicos se realizan de la misma manera que para la superficie focal de magnificación de baja energía, excepto que las vistas panorámicas se realicen en magnificación de alta energía. Si la superficie de magnificación de alta energía es demasiado variable o demasiado pocos focos panorámicos resultan satisfactorios, se termina el procesamiento del portaobjetos.
Se lleva a cabo un rastreo de magnificación de alta energía después de que el modelo de superficie focal de magnificación de alta energía ha sido creado. Durante el rastreo de magnificación de alta energía, las regiones del porta objetos identificadas que potencialmente puedan contener anormalidades durante el rastreo de baja energía, son transformadas en imágenes y analizadas en magnificación de alta energía. La superficie focal de magnificación de alta energía sirve de estimación inicial de la posición focal para imágenes de alta energía. Si la posición dada por la superficie focal de magnificación de alta energía lleva a unas imágenes, que no reúnen criterios focales predeterminados, se realizan intentos de adquisición de imagen adicional en la misma región del portaobjetos en diferentes posiciones focales. Si tras un número predeterminado de intentos de adquisición, la región permanece fuera del criterio focal predeterminado, la región del portaobjetos se abandona. Si son demasiado pocas las regiones del portaobjetos que se enfocan adecuadamente durante el rastreo de magnificación de alta energía, se termina el procesamiento del portaobjetos. Si durante el rastreo de magnificación de alta energía, se enfocan adecuadamente en el primer intento, menos de un número predeterminado de, o son demasiadas las regiones que no están enfocadas adecuadamente, el modelo de superficie focal de magnificación de alta energía, puede haber sido impreciso.
Se examina la calidad de la imagen para asegurar una buena imaginería. La saturación de imagen, pixels con valores de 0 ó 255, se cuentan para cada imagen. SE cuenta el número de imágenes con saturación. Si son demasiado las imágenes que están saturadas durante el rastreo de magnificación de ambos alta o baja energía, puede ser que la óptica no sea la adecuada para la visión o imaginería fiable de muestras. En adición a esto, si la suciedad oscurece la trayectoria óptica, los artificios de imaginería como las líneas, pueden ser detectadas en algunos sistemas. Si se detectan líneas en más de un número predeterminado de imágenes, el portaobjetos puede estar demasiado sucio para permitir la visión o imaginería precisa de la muestra.
Durante la evaluación, el sistema automatizado suspende el procesamiento de portaobjetos que caen fuera de un gama aceptable, para cualquiera de los criterios preseleccionados. El sistema automatizado puede contar una proporción de portaobjetos que fallan en el procesamiento. En una realización preferente el estuche de portaobjetos se considera que pasa , si la proporción de portaobjetos que fallan el procesamiento es menor de 6%, de lo contrario el estuche de portaobjetos falla.
En el paso 40, el sistema automatizado realiza un Examen de Calidad de Recogida de Muestras, para evaluar la calidad y suficiencia del material de muestra recogida sobre el portaobjetos. La calidad de recogida de muestras depende en gran medida de los instrumentos y técnicas clínicos de muestreo para la recogida de muestras. En la realización preferente, el Examen de Calidad de Recogida de Muestras puede constar de dos pruebas. Las Tablas 2 y 3 enumeran cualidades para las que el estuche de portaobjetos puede ser examinado. Los portaobjetos que fallen estas pruebas, comprenden los fracasos de la calidad de la recogida de muestras. La Tabla 2 expone en forma de tabla los errores relacionados con la disposición de los portaobjetos. La Tabla 3 expone en forma de tabla los fallos relacionados con los fallos de idoneidad para proceso. Los fallos de idoneidad para el proceso pueden incluir, por ejemplo, los portaobjetos para los cuales no se puede esperar, que los resultados del proceso sean fidedignos, por ejemplo, cuando el proceso detecta demasiadas pocas células de referencia. La proporción de células que fallan el procesamiento por estos motivos está medido. En la realización preferente, si la proporción de portaobjetos que fallan la primera prueba es menor de 7%, se considera que el estuche de portaobjetos pasa la primera prueba; de lo contrario, el estuche de portaobjetos falla.
En la realización preferente, el segundo examen de la calidad de muestras, examina y alista el índice relativo de células de referencia para todos los portaobjetos normales. El índice relativo de células de referencia es el número de células de referencia detectadas (esto es, células intermedias libres) sobre un portaobjetos dividido por el número de todos los objetos detectados sobre el portaobjetos. En una realización preferente, si el 85% de los portaobjetos normales tienen una referencia de índice relativo de células mayor del 0.015, entonces el estuche de portaobjetos se considera que pasa el examen, de lo contrario el estuche de portaobjetos falla.
Se exige que el estuche de portaobjetos pase ambos exámenes de calidad de la muestra para pasar el Examen de Calidad de la Recogida de Muestras.
TABLA 2
Ausencia de material en el centro
Demasiado pocos puntos para un mapa focal de baja energía
Muestra distribuida en área pequeña
Imposibilidad de enfocar sobre muestra
Inclinación de muestra
Demasiado pocos campos clasificados en un rastreo de baja energía
Demasiado pocos puntos para mapa focal de alta energía
Superficie focal de alta energía demasiado variable
Demasiado pocos campos enfocados en rastreo de alta energía
TABLA 3
Insuficientes células de referencia
Calidad de imagen no dentro de los límites, porcentaje de campos enfocados
primer intento.
Calidad de imagen no dentro de los límites, porcentaje de campos nunca
enfocados.
El sistema automatizado realiza un Examen de Manejo de portaobjetos en el paso 50. El Examen de Manejo de portaobjetos determina si las prácticas de manejo de portaobjetos necesitan ser modificadas para facilitar el procesamiento efectivo en un sistema automatizado seleccionado, como el Sistema AutoPap® 300. El examen evalúa la calidad del código de barras, de la limpieza, y prácticas de carga en una situación clínica preseleccionada. Las Tablas 4 y 5 enumeran exámenes para los fallos de calidad en el manejo de portaobjetos. La Tabla 4 tabula fallos relacionados con la disposición de los portaobjetos. La Tabla 5 tabula los fallos relacionados con los fallos de idoneidad de los métodos de procesamiento de imagen. El sistema mide la proporción de los portaobjetos que fallan estos exámenes. En la realización preferente, si la proporción de portaobjetos que han fallado es menos del 5%, se considera que el estuche de portaobjetos pasa el examen de calidad en el manejo de portaobjetos; de lo contrario, el estuche de portaobjetos falla.
TABLA 4
Código de barras del portaobjetos no leído
Portaobjetos inclinado
TABLA 5
Calidad de imagen no dentro de límites, líneas excesivas.
Calidad de imagen no dentro de límites, saturación de imagen de magnificación
de alta energía (cantidades pequeñas)
Calidad de imagen no dentro de límites, saturación de imagen de magnificación
de alta energía (grandes cantidades)
Calidad de imagen no dentro de límites,
saturación de imagen de magnificación de baja energía.
El sistema automatizado realiza un Examen de Calidad de la Preparación en el paso 60. El Examen de Calidad de la Preparación evalúa el resultado de laboratorio de la fijación, la impregnación, y procesos de cubrir portaobjetos con cubreobjetos, para ver si la presentación de células está dentro de una gama aceptable. En la realización preferente, cinco de los exámenes incluyen exámenes de calidad de la preparación - para pasar el examen entero, el estuche de portaobjetos deba pasar todos los exámenes. Haciendo referencia a las Tablas 6 y 7, los portaobjetos que fallan el procesamiento por las razones tabuladas suponen los fallos de calidad de la preparación.
Se mide la densidad de la impregnación del citoplasma. Si la medida de la impregnación del citoplasma fuera de límites predeterminados, el dispositivo automático puede que no puntúe el portaobjetos con exactitud. Se denomina al portaobjetos inadecuado para métodos de procesamiento de imagen.
Así mismo el contraste entre los núcleos de células de referencia y los citoplasmas. Si este indicativo de contraste está fuera de los límites predeterminados, se denomina el portaobjetos inadecuado para métodos de procesamiento de imágenes del dispositivo.
Se mide la proporción de portaobjetos que fallan el procesamiento por este motivo. La Tabla 6 tabula fallos relacionados con dispositivos de portaobjetos. La Tabla 7 tabula fallos relacionados con fallos de idoneidad de los métodos de procesamiento de imagen. En la realización preferente, si la proporción de los portaobjetos que fallaron el primer examen es menor de un 5%, el estuche de portaobjetos pasa el primer examen; de lo contrario, el estuche de porta objetos falla.
TABLA 6
Demasiadas burbujas
Demasiados campos clasificados en rastreo de baja energía.
TABLA 7
Promedio de impregnación no dentro de límites
Impregnación de citoplasma no dentro de límites
Detalles de impregnación no dentro de límites
Contraste de núcleo / citoplasma no dentro de límites
Insuficientes células de referencia
Calidad de imagen no dentro de límites, saturación de imagen de magnificación
de alta energía (grandes cantidades)
Calidad de imagen no dentro de límites, saturación de imagen de magnificación
de baja energía.
El segundo examen de calidad de la preparación mide la densidad de impregnación nuclear de las células de referencia detectadas en el portaobjetos. Los indicativos se almacenan en una basura de "mala impregnación". La densidad óptica media para cada núcleo celular intermedio que se detecta, es calculada. Los datos para todos los núcleos celulares intermedios que se detectan en el portaobjetos, se acumulan en un histograma de 10 basuras. Se calcula el punteado medio de impregnación para los portaobjetos normales. En la realización preferente, si el punteado de impregnación promedio es mayor que 4.2 y menor que 6.4, el estuche de portaobjetos pasa el examen; de lo contrario, el estuche de portaobjetos falla.
El tercer examen de calidad de la preparación cuenta el número de núcleos celulares potencialmente anormales que se detectan en un portaobjetos (anormalidades de la fase 3). Se calcula el 80avo percentil de portaobjetos normales que contienen células de componentes endocervicales. En la realización preferente, si el 80avo percentil es mayor que 3, el estuche de portaobjetos pasa el examen; de lo contrario el estuche de portaobjetos falla.
El cuarto examen de calidad de preparación mide el 80avo percentil del punteado QC de los portaobjetos normales que contienen células de componentes endocervicales. En la plasmación preferida, si el 80avo percentil es mayor que 0.15 y menor que 0.6, el estuche de portaobjetos pasa el examen; de lo contrario, es estuche de portaobjetos falla.
En el paso 70, el sistema automatizado realiza un Examen de Clasificación. El Examen de Clasificación evalúa si la presentación de células y portaobjetos del cliente están dentro del límite de entrenamiento del Sistema AutoPap® 300, para posibilitar una interpretación efectiva por el sistema. El examen evalúa la exactitud de las clasificaciones de portaobjetos.
El examen de exactitud del sistema evalúa la sensitividad a la morfología anormal de la muestra. Se calcula el 80avo percentil del punteado QC del porta objetos normal. En la realización preferente, si más del 70% de los porta objetos de bajo grado y el 80% de los portaobjetos de alto grado tienen punteados QC por encime del 80avo percentil para portaobjetos normales, el estuche de portaobjetos pasa el examen; de lo contrario, es estuche de porta objetos falla.
En el paso 80, el sistema automatizado entonces integra los resultados de los exámenes en los pasos 30-70. En la realización preferente, el estuche de porta objetos tiene que pasar cada examen, o se considera que el estuche de porta objetos ha fallado. Si el estuche de portaobjetos pasa, la integración del resultado del examen expresa que el estuche de portaobjetos es aceptable en el paso 90. Si el estuche de portaobjetos falla, la integración del resultado del examen hace recomendaciones para el ajustamiento del proceso de laboratorio o proceso clínico en el paso 100.
Ahora haciendo referencia a la Figura 3, la Figura 3 muestra un organigrama más detallado del método de asesoramiento para la calidad de la preparación de muestras y portaobjetos de la invención. En una ilustración de la invención, los portaobjetos son recopilados en el paso 103. En el paso 104 del proceso, los portaobjetos recopilados se limpian y se pega un código de barras a los portaobjetos. En el paso 106 del proceso, se procesan los portaobjetos de acuerdo con los diversos métodos de control de calidad descritos aquí. El proceso incluye desde el paso 108 del proceso hasta el paso 126 del proceso, como se muestra en la Figura 3 y como se describe arriba con referencia a las tablas anteriores. En el paso 108 del proceso se determina que, un porcentaje de los portaobjetos suspende el procesamiento del control de calidad, debido a características físicas. En el paso 118 del proceso se determina, que los porta objetos son inaceptables por suspender el procesamiento del control de calidad, debido a características físicas, si más del 6% de los portaobjetos falló el examen. En el paso 110 del proceso se determina que, un porcentaje de porta objetos suspende el procesamiento del control de calidad debido a características de la recogida de muestras. En el paso 110 del proceso se determina que, un porcentaje de portaobjetos son inaceptables por suspender el procesamiento del control de calidad, debido a características de la recogida de muestras, si más del 7% de los portaobjetos suspende el examen. En el paso 112 del proceso se determina que, un porcentaje de portaobjetos suspende el procesamiento del control de calidad, debido a características de la calidad del manejo de portaobjetos. En el paso 122 del proceso se determina que, los porta objetos son inaceptables por suspender el procesamiento de control de calidad, debido a características de la calidad del manejo de portaobjetos, si más del 5% de los portaobjetos suspende el examen. En el paso 114 del proceso se determina que, un porcentaje de portaobjetos suspende el procesamiento del control de calidad debido a características de preparación de las muestras. En el paso 124 del proceso se determina que, los portaobjetos son inaceptables por suspender el procesamiento del control de calidad debido a características de calidad de la muestra, si más del 5% de los portaobjetos suspende este examen. En el paso 116 del proceso se determina que, un porcentaje de portaobjetos anormales puntúa más alto que el 80avo percentil de muestras normales. En el paso 126 del proceso se determina que, los portaobjetos no son aceptables si menos del 70% del portaobjetos de bajo grado o menos del 80% de portaobjetos de alto grado tienen punteados superiores que el 80avo percentil de muestras normales.
La invención ha sido descrita aquí con bastante detalle con el fin de cumplir con los Estatutos de Patentes, y proporcionar a aquellos expertos en la materia la información necesaria para aplicar los novedosos principios y construir y usar estos componentes especializados tal como se requiere. No obstante, hay que entender que la invención se puede llevar a cabo específicamente por equipos y dispositivos distintos, y que se pueden llevar a cabo varias modificaciones, ambas en los detalles del equipo y procedimiento operativo, sin alejarse del ámbito de la invención misma.

Claims (14)

1. Un método para evaluar un estuche de portaobjetos utilizando un sistema automático de rastreo de portaobjetos, en donde el sistema automático de rastreo de portaobjetos incluye un ordenador central (101), un sistema a tiempo real de control de rastreo (102) que coordina el movimiento de la fase motorizada (103) de un microscopio con un sistema de captación de imagen (104), un sistema de iluminación estroboscópico (105), un objetivo de microscopio a baja energía (107), una cámara electrónica (108) del tipo CCD, uno o más sistemas procesadores de imagen especializados (109), un sensor de tacto (110) en donde el sistema de iluminación estroboscópico (105) enfoca un breve destello de luz sobre la muestra (106) y la muestra (106) se monta encima del porta objetos de cristal (201) y se protege bajo un cubreobjetos transparente (202), el método incluye los siguientes pasos:
a)
utilizar el sistema automático de rastreo de portaobjetos para evaluar las características físicas del portaobjetos; y
b)
determinar si un portaobjetos puede ser rastreado satisfactoriamente por un analizador automatizado predeterminado de muestras biológicas, basado en los pasos de evaluar las características físicas del portaobjetos.
2. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye el paso de realizar al menos una medida de las dimensiones del portaobjetos.
3. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar al menos una característica de la superficie del cubreobjetos de un portaobjetos.
4. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar si una longitud del cubreobjetos de un portaobjetos está dentro de un conjunto de límites predeterminados.
5. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar si una anchura del cubreobjetos de un portaobjetos está dentro de límites predeterminados.
6. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar si un área de cubreobjetos está dentro de límites predeterminados.
7. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar si al menos una distancia superior de la muestra al cubreobjetos es menor que una la cantidad predeterminada.
8. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar si al menos una distancia superior de la muestra al cubreobjetos es mayor que una cantidad predeterminada.
9. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar al menos una propiedad geométrica del portaobjetos.
10. El método de reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además incluye revisar si las esquinas del cubreobjetos del portaobjetos son cuadradas en relación con unos límites predeterminados.
11. El método de la reivindicación 1, en donde el paso de evaluar las características físicas de un portaobjetos además comprende revisar si el cubre objetos de un portaobjetos está desviado sobre el portaobjetos en más de un límite predeterminado.
12. El método de la reivindicación 2, en donde el portaobjetos está siendo vista por un sistema automatizado que tiene un dispositivo de imagen, en donde le dispositivo de imagen es capaz de enfocar sobre una muestra, el método además incluye el paso revisar si el dispositivo de imagen a enfocado sobre la muestra en un grado predeterminado de exactitud.
13. El método de la reivindicación 1, en donde se mide al menos un parámetro de la característica física, además incluye el paso de determinar si al menos un parámetro está dentro de los límites.
\newpage
14. El método de la reivindicación 1, en donde se mide al menos un parámetro de la característica física, además incluye el paso de determinar si al menos un parámetro está dentro de la gama de los analizadores predeterminados automatizados de muestras biológicas.
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