JP2001339269A - Surface acoustic wave device - Google Patents

Surface acoustic wave device

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JP2001339269A
JP2001339269A JP2001081031A JP2001081031A JP2001339269A JP 2001339269 A JP2001339269 A JP 2001339269A JP 2001081031 A JP2001081031 A JP 2001081031A JP 2001081031 A JP2001081031 A JP 2001081031A JP 2001339269 A JP2001339269 A JP 2001339269A
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acoustic wave
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Hideaki Nakahata
英章 中幡
Satoru Fujii
知 藤井
Shinichi Shikada
真一 鹿田
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface acoustic wave device which is suitable for mass production and has superior operation characteristics in a high-frequency range. SOLUTION: This device is equipped with a diamond layer 3, a ZnO layer 4 formed on the diamond layer 3 and having thickness tz, an interdigital electrode 5 which is formed on the ZnO layer 4 and excites and receives a surface acoustic wave, and an SiO2 layer 6 formed on the ZnO layer 4 and having thickness tS while covering the interdigital electrode 5. Here, kh1 and kh2 given by equations kh1=5.2π.(tz/λ) and kh2=5.2π.(tS/λ) are within certain numeric ranges, where λ is the wavelength of a surface acoustic wave of secondary mode. Then the higher harmonic of give times the excited surface acoustic wave of secondary mode is used.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ダイヤモンドを含
む表面弾性波素子に関するものであり、特に、GHz帯
以上の高周波領域においても良好な動作特性を有する表
面弾性波素子に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface acoustic wave device containing diamond, and more particularly, to a surface acoustic wave device having good operation characteristics even in a high frequency range of GHz band or higher.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ダイヤモンドを含む表面弾性波素
子としては、特開平10−276061号公報に記載さ
れるように、ダイヤモンド層の上にZnO層を形成し、
このZnO層の上に表面弾性波の励振及び受信を行う櫛
形電極を形成し、更に、ZnO層の上に櫛形電極を覆う
ようにしてSiO2層を形成した表面弾性波素子が知ら
れている。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a surface acoustic wave device containing diamond, a ZnO layer is formed on a diamond layer as described in JP-A-10-276061.
There is known a surface acoustic wave device in which a comb-shaped electrode for exciting and receiving a surface acoustic wave is formed on the ZnO layer, and a SiO2 layer is formed on the ZnO layer so as to cover the comb-shaped electrode.

【0003】この表面弾性波素子は、櫛形電極の厚さ、
ZnO層の厚さ及びSiO2層の厚さを最適な組み合わ
せとすることにより、良好な伝搬特性、電気機械結合特
性及び周波数温度特性を実現し、更に良好な伝搬損失を
実現しようとするものであり、伝搬速度8000〜12
000m/sにおいて、周波数温度特性が−15〜+1
5ppm/゜Cであり、電気機械結合係数が0.1〜
1.3%を実現している。
This surface acoustic wave device has a thickness of a comb-shaped electrode,
By optimally combining the thickness of the ZnO layer and the thickness of the SiO2 layer, good propagation characteristics, electromechanical coupling characteristics, and frequency temperature characteristics are realized, and further good propagation loss is to be realized. , Propagation speed 8000-12
000 m / s, the frequency-temperature characteristic is -15 to +1
5 ppm / ° C, and the electromechanical coupling coefficient is 0.1 to
1.3% has been achieved.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た従来の表面弾性波素子にあっては、10GHz程度の
高周波帯に用いようとすると、伝搬速度を10000m
/sの高速なものとしても、櫛形電極の線幅と線間を合
わせて0.5μm程度とし、線幅を0.25μm程度の
細さにする必要がある。このため、量産化には問題があ
る。
However, in the conventional surface acoustic wave device described above, if it is used in a high frequency band of about 10 GHz, the propagation speed is 10,000 m.
Even at a high speed of / s, the line width and the line interval of the comb-shaped electrode need to be about 0.5 μm, and the line width needs to be as thin as about 0.25 μm. For this reason, there is a problem in mass production.

【0005】また、従来材料では、例えば、水晶では、
伝搬速度が3150m/sであり、到底、高周波帯の表
面弾性波素子には用いることができない。
[0005] In the conventional materials, for example, in the case of quartz,
Since the propagation speed is 3150 m / s, it cannot be used for a surface acoustic wave device in a high frequency band.

【0006】一方、表面弾性波素子において、高周波帯
では電気機械結合係数が小さくなるという問題もある。
例えば、水晶では、基本波で0.1%であるが、5倍波
では0.025%と小さくなる。電気機械結合係数が小
さいと、低損失のフィルタを実現できなくなる。
On the other hand, in the surface acoustic wave device, there is also a problem that the electromechanical coupling coefficient becomes small in a high frequency band.
For example, in the case of quartz, the fundamental wave is 0.1%, but in the case of the fifth harmonic, it is as small as 0.025%. If the electromechanical coupling coefficient is small, a low-loss filter cannot be realized.

【0007】そこで本発明は、このような問題点を解決
するためになされたものであって、量産性に適し、高周
波領域で動作特性に優れる表面弾性波素子を提供するこ
とを目的とする。
The present invention has been made in order to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a surface acoustic wave device which is suitable for mass production and has excellent operation characteristics in a high frequency range.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】すなわち、本発明に係る
表面弾性波素子は、ダイヤモンド層と、ダイヤモンド層
の上に形成され厚さtzのZnO層と、ZnO層の上に
形成され表面弾性波の励振及び受信を行う櫛形電極と、
櫛形電極を覆いZnO層の上に形成され厚さtSのSi
O2層を備え、二次モードの表面弾性波の基本波の波長
をλとしたときに、kh1=5・2π・(tz/λ)、
kh2=5・2π・(tS/λ)で与えられるkh1及
びkh2が、横軸にkh1、縦軸にkh2を与える二次
元直交座標グラフにおいて、座標(kh1=4.4、k
h2=7.4)で与えられる点Aと、座標(kh1=
5.0、kh2=6.9)で与えられる点Bと、座標
(kh1=5.2、kh2=6.2)で与えられる点C
と、座標(kh1=5.0、kh2=5.6)で与えら
れる点Dと、座標(kh1=4.5、kh2=5.1)
で与えられる点Eと、座標(kh1=4.0、kh2=
4.6)で与えられる点Fと、座標(kh1=3.5、
kh2=4.4)で与えられる点Gと、座標(kh1=
3.0、kh2=4.1)で与えられる点Hと、座標
(kh1=2.8、kh2=4.0)で与えられる点I
と、座標(kh1=2.6、kh2=3.4)で与えら
れる点Jと、座標(kh1=3.0、kh2=3.0)
で与えられる点Kと、座標(kh1=3.5、kh2=
2.9)で与えられる点Lと、座標(kh1=3.5、
kh2=2.0)で与えられる点Mと、座標(kh1=
3.0、kh2=2.0)で与えられる点Nと、座標
(kh1=2.5、kh2=2.0)で与えられる点O
と、座標(kh1=2.0、kh2=2.0)で与えら
れる点Pと、座標(kh1=1.8、kh2=2.6)
で与えられる点Qと、座標(kh1=1.7、kh2=
4.0)で与えられる点Rと、座標(kh1=2.0、
kh2=4.5)で与えられる点Sと、座標(kh1=
2.5、kh2=5.2)で与えられる点Tと、座標
(kh1=3.0、kh2=5.7)で与えられる点U
と、座標(kh1=3.5、kh2=6.1)で与えら
れる点Vと、座標(kh1=4.0、kh2=6.8)
で与えられる点Wと、A点とを順に線分で結ぶ23本の
線分からなる領域ABCDEFGHIJKLMNOPQ
RSTUVWAの23本の線上を含む内部に与えられ、
励起される二次モードの表面弾性波の5倍高調波が用い
られることを特徴とする。
That is, a surface acoustic wave device according to the present invention comprises a diamond layer, a ZnO layer formed on the diamond layer and having a thickness of tz, and a surface acoustic wave device formed on the ZnO layer. A comb-shaped electrode for exciting and receiving
Si with a thickness of tS formed on the ZnO layer covering the comb-shaped electrode
When an O2 layer is provided and the wavelength of the fundamental wave of the second-order mode surface acoustic wave is λ, kh1 = 5.2ππ (tz / λ),
In the two-dimensional orthogonal coordinate graph in which kh1 and kh2 given by kh2 = 5.2π (tS / λ) are given by kh1 on the horizontal axis and kh2 on the vertical axis, the coordinates (kh1 = 4.4, k
h2 = 7.4) and a coordinate (kh1 =
5.0, kh2 = 6.9) and point C given by coordinates (kh1 = 5.2, kh2 = 6.2)
And a point D given by coordinates (kh1 = 5.0, kh2 = 5.6) and coordinates (kh1 = 4.5, kh2 = 5.1)
And a coordinate point (kh1 = 4.0, kh2 =
4.6), and a point F given by coordinates (kh1 = 3.5,
kh2 = 4.4) and the coordinates (kh1 =
3.0, kh2 = 4.1) and point I given by coordinates (kh1 = 2.8, kh2 = 4.0)
And a point J given by coordinates (kh1 = 2.6, kh2 = 3.4) and coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 3.0)
And the coordinates (kh1 = 3.5, kh2 =
2.9) and coordinates (kh1 = 3.5,
kh2 = 2.0) and coordinates (kh1 = 2.0)
3.0, kh2 = 2.0) and a point O given by coordinates (kh1 = 2.5, kh2 = 2.0)
And a point P given by coordinates (kh1 = 2.0, kh2 = 2.0) and coordinates (kh1 = 1.8, kh2 = 2.6)
And the coordinates (kh1 = 1.7, kh2 =
4.0) and coordinates (kh1 = 2.0,
kh2 = 4.5) and the coordinates (kh1 = 4.5)
2.5, kh2 = 5.2) and a point T given by coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 5.7)
And a point V given by coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 6.1) and coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 6.8)
ABCDEFGHIJKLMNOPQ consisting of 23 line segments that sequentially connect the point W given by and the point A with line segments
Given inside including 23 lines of RSTUWA,
A fifth harmonic of the surface acoustic wave of the second-order mode to be excited is used.

【0009】また本発明に係る表面弾性波素子は、ダイ
ヤモンド層と、ダイヤモンド層の上に形成され厚さtz
のZnO層と、ZnO層の上に形成され表面弾性波の励
振及び受信を行う櫛形電極と、櫛形電極を覆いZnO層
の上に形成され厚さtSのSiO2層を備え、二次モー
ドの表面弾性波の基本波の波長をλとしたときに、kh
1=5・2π・(tz/λ)、kh2=5・2π・(t
S/λ)で与えられるkh1及びkh2が、横軸にkh
1、縦軸にkh2を与える二次元直交座標グラフにおい
て、座標(kh1=4.4、kh2=6.9)で与えら
れる点Aと、座標(kh1=5.0、kh2=6.4)
で与えられる点Bと、座標(kh1=5.2、kh2=
6.2)で与えられる点Cと、座標(kh1=5.0、
kh2=5.6)で与えられる点Dと、座標(kh1=
4.6、kh2=5.2)で与えられる点Eと、座標
(kh1=4.4、kh2=5.0)で与えられる点F
と、座標(kh1=4.0、kh2=4.6)で与えら
れる点Gと、座標(kh1=3.5、kh2=4.4)
で与えられる点Hと、座標(kh1=3.0、kh2=
4.1)で与えられる点Iと、座標(kh1=2.8、
kh2=4.0)で与えられる点Jと、座標(kh1=
2.6、kh2=3.4)で与えられる点Kと、座標
(kh1=2.8、kh2=3.0)で与えられる点L
と、座標(kh1=3.2、kh2=2.4)で与えら
れる点Mと、座標(kh1=2.7、kh2=2.4)
で与えられる点Nと、座標(kh1=2.2、kh2=
3.0)で与えられる点Oと、座標(kh1=2.2、
kh2=3.5)で与えられる点Pと、座標(kh1=
2.5、kh2=4.7)で与えられる点Qと、座標
(kh1=3.0、kh2=5.2)で与えられる点R
と、座標(kh1=3.5、kh2=5.7)で与えら
れる点Sと、座標(kh1=4.0、kh2=6.3)
で与えられる点Tと、A点とを順に線分で結ぶ、20本
の線分からなる領域ABCDEFGHIJKLMNOP
QRSTAの20本の線上を含む内部に与えられ、励起
される二次モードの表面弾性波の5倍高調波が用いられ
ることを特徴とする。
Further, a surface acoustic wave device according to the present invention has a diamond layer and a thickness tz formed on the diamond layer.
A ZnO layer, a comb-shaped electrode formed on the ZnO layer for exciting and receiving surface acoustic waves, and a SiO2 layer formed on the ZnO layer and covering the comb-shaped electrode and having a thickness of tS. When the wavelength of the fundamental wave of the elastic wave is λ, kh
1 = 5.2π · (tz / λ), kh2 = 5.2π · (t
Kh1 and kh2 given by (S / λ) are kh on the horizontal axis.
1. In a two-dimensional orthogonal coordinate graph in which kh2 is given on the vertical axis, a point A given by coordinates (kh1 = 4.4, kh2 = 6.9) and a coordinate (kh1 = 5.0, kh2 = 6.4)
And the coordinates (kh1 = 5.2, kh2 =
6.2) and coordinates (kh1 = 5.0,
kh2 = 5.6) and coordinates (kh1 =
4.6, kh2 = 5.2) and point F given by coordinates (kh1 = 4.4, kh2 = 5.0)
And a point G given by coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 4.6) and coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 4.4)
And the coordinates (kh1 = 3.0, kh2 =
4.1) and the coordinates (kh1 = 2.8,
kh2 = 4.0), and a coordinate (kh1 =
2.6, kh2 = 3.4) and a point L given by coordinates (kh1 = 2.8, kh2 = 3.0)
And a point M given by coordinates (kh1 = 3.2, kh2 = 2.4) and coordinates (kh1 = 2.7, kh2 = 2.4)
And the coordinates (kh1 = 2.2, kh2 =
3.0) and coordinates (kh1 = 2.2,
kh2 = 3.5) and a point P given by coordinates (kh1 = 3.5)
2.5, kh2 = 4.7) and a point R given by coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 5.2)
And a point S given by coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 5.7) and coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 6.3)
ABCDEFGHIJKLMNOP consisting of 20 line segments connecting the point T and the point A given by
It is characterized in that a fifth harmonic of a second-order mode surface acoustic wave applied and excited inside and including 20 lines of QRSTA is used.

【0010】また本発明に係る表面弾性波素子は、前述
の表面弾性波の動作中心周波数をf0、表面弾性波の伝
播速度をvとしたときに、伝搬速度vが4500〜65
00m/sであり、櫛形電極の電極ピッチdm+df
が、dm+df=(5・v)/(2・f0)で与えられ
ることを特徴とする。
In the surface acoustic wave device according to the present invention, when the operating center frequency of the surface acoustic wave is f0 and the propagation speed of the surface acoustic wave is v, the propagation speed v is 4500 to 65.
00 m / s, and the electrode pitch of the comb-shaped electrode dm + df
Is given by dm + df = (5 · v) / (2 · f0).

【0011】また本発明に係る表面弾性波素子は、前述
の櫛形電極の電極線幅が0.5μm以上であり、表面弾
性波の動作中心周波数が5.0〜11.3GHzである
ことを特徴とする。
Further, the surface acoustic wave device according to the present invention is characterized in that the electrode line width of the above-mentioned comb-shaped electrode is 0.5 μm or more and the operating center frequency of the surface acoustic wave is 5.0 to 11.3 GHz. And

【0012】さらに本発明に係る表面弾性波素子は、前
述の櫛形電極の電極線幅が0.5μm以上であり、表面
弾性波の動作中心周波数が9.5〜10.5GHzであ
ることを特徴とする。
Further, in the surface acoustic wave device according to the present invention, the electrode line width of the above-mentioned comb-shaped electrode is 0.5 μm or more, and the operating center frequency of the surface acoustic wave is 9.5 to 10.5 GHz. And

【0013】これらの発明によれば、励起する二次モー
ドの表面弾性波の5倍高調波を用いることにより、高周
波領域で良好な伝播特性、電気機械結合係数、周波数温
度特性を得ることができる。また、櫛形電極の電極部分
の線幅を大きくできるため、量産性の向上が図れる。
According to these inventions, a good propagation characteristic, an electromechanical coupling coefficient, and a frequency temperature characteristic can be obtained in a high frequency region by using the fifth harmonic of the surface acoustic wave of the second mode to be excited. . Further, since the line width of the electrode portion of the comb-shaped electrode can be increased, mass productivity can be improved.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、添付図面に基づき、本発明
の実施形態について説明する。尚、各図において同一要
素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。ま
た、図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致して
いない。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. In each of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted. Also, the dimensional ratios in the drawings do not always match those described.

【0015】図1に本実施形態に係る表面弾性波素子の
断面図を示す。本図に示すように、本実施形態に係る表
面弾性波素子1は、シリコン製の基板2の上にダイヤモ
ンド層3を備えている。ダイヤモンド層3を構成するダ
イヤモンドとしては、天然型ダイヤモンド、合成ダイヤ
モンドのいずれであってもよい。また、単結晶ダイヤモ
ンド、多結晶ダイヤモンド又はアモルファスダイヤモン
ドのいずれを用いてもよい。なお、図1では、シリコン
の基板2上に薄膜としてダイヤモンド層3を形成してい
るが、ダイヤモンド単体を用いてもよい。
FIG. 1 is a sectional view of a surface acoustic wave device according to this embodiment. As shown in the figure, the surface acoustic wave device 1 according to the present embodiment includes a diamond layer 3 on a silicon substrate 2. The diamond constituting the diamond layer 3 may be any of natural diamond and synthetic diamond. Further, any of single crystal diamond, polycrystal diamond and amorphous diamond may be used. In FIG. 1, the diamond layer 3 is formed as a thin film on the silicon substrate 2, but a single diamond may be used.

【0016】合成ダイヤモンドの場合は、CVD、イオ
ンプレーティング法、PVD、熱フィラメント法など、
あらゆる製造方法を用いてダイヤモンド層を形成するこ
とができる。
In the case of synthetic diamond, CVD, ion plating, PVD, hot filament method, etc.
Any manufacturing method can be used to form the diamond layer.

【0017】ダイヤモンド層3の上には、ZnO層4が
形成されている。ZnO層4は、構成するZnOがc軸
配向性ZnOであることが望ましい。ここで、「c軸配
向」であるとは、ZnO膜の(001)面が基板と平行
であるように形成されていることをいう。形成されたZ
nO膜がc軸配向であり、また多結晶であれば、ZnO
の本来有する圧電性を十分に利用した表面弾性波素子を
実現することが可能となる。
On the diamond layer 3, a ZnO layer 4 is formed. It is desirable that the ZnO layer 4 is composed of ZnO having c-axis orientation. Here, “c-axis orientation” means that the ZnO film is formed such that the (001) plane is parallel to the substrate. Z formed
If the nO film is c-axis oriented and polycrystalline, then ZnO
It is possible to realize a surface acoustic wave device that makes full use of the inherent piezoelectricity of the device.

【0018】ZnO層4の上には、櫛形電極5が形成さ
れている。櫛形電極5は、表面弾性波の励振及び受信を
行うものである。図2に示すように、櫛形電極5は、例
えば、シングル電極タイプとされ、電極51と電極52
を備えて構成される。
On the ZnO layer 4, a comb-shaped electrode 5 is formed. The comb electrode 5 excites and receives surface acoustic waves. As shown in FIG. 2, the comb-shaped electrode 5 is, for example, a single electrode type, and includes an electrode 51 and an electrode 52.
It is comprised including.

【0019】電極51と電極52は、相対向して設けら
れ、それぞれ他方へ向けて突出する櫛歯状の電極部53
を多数形成している。
The electrode 51 and the electrode 52 are provided to face each other, and each has a comb-shaped electrode portion 53 projecting toward the other.
Are formed.

【0020】この電極部53のピッチ(線幅dm+線間
df)は、表面弾性波の動作中心周波数をf0、表面弾
性波の伝播速度をvとすると、次の式(1)により与え
られる。
The pitch (line width dm + line-to-line df) of the electrode portions 53 is given by the following equation (1), where f0 is the operating center frequency of the surface acoustic wave and v is the propagation speed of the surface acoustic wave.

【0021】 dm+df=(5・v)/(2・f0) ‥‥(1) また、伝搬速度vが4500〜6500m/sである場
合、電極部53は、その線幅dmを0.5μm以上とし
て形成される。このため、電極部53がある程度の線幅
を有するため、櫛形電極5の製造が容易となり、表面弾
性波素子1の量産が容易となる。
Dm + df = (5 · v) / (2 · f0) ‥‥ (1) When the propagation speed v is 4500 to 6500 m / s, the electrode unit 53 has a line width dm of 0.5 μm or more. Is formed as For this reason, since the electrode portion 53 has a certain line width, the manufacture of the comb-shaped electrode 5 is facilitated, and the mass production of the surface acoustic wave device 1 is facilitated.

【0022】なお、図2では、シングル電極タイプのも
のを示したが、櫛形電極5としては、二本の電極部53
を一組として突出させるダブル電極タイプのものであっ
てもよい。
FIG. 2 shows a single electrode type, but the comb-shaped electrode 5 has two electrode portions 53.
May be a double electrode type projecting as one set.

【0023】また、櫛形電極5を挟み込むように、両側
に反射器電極(グレーティング反射器等)を配置し、入
出力電極間で発生する表面弾性波を反射器電極の間で多
重反射させ定在波を発生させる表面弾性波共振器の構成
をとってもよい。
Further, reflector electrodes (grating reflectors and the like) are arranged on both sides so as to sandwich the comb-shaped electrode 5, and the surface acoustic waves generated between the input and output electrodes are multiple-reflected between the reflector electrodes to be standing. A configuration of a surface acoustic wave resonator that generates a wave may be employed.

【0024】櫛型電極5などを構成する材料は、導電性
材料であればよく、加工性等の点からはアルミニウムが
好ましく用いられる。
The material forming the comb electrode 5 and the like may be a conductive material, and aluminum is preferably used from the viewpoint of workability and the like.

【0025】また、櫛型電極5などにアルミニウムを用
いた場合、アルミニウム製の櫛型電極5における表面弾
性波の伝播速度の温度変化は、ダイヤモンド層3及びZ
nO層4の温度変化と同符号であり、SiO2層6の温
度変化と異符号である。
When aluminum is used for the comb-shaped electrode 5 and the like, the temperature change of the propagation speed of the surface acoustic wave in the aluminum-made comb-shaped electrode 5 depends on the diamond layer 3 and Z
It has the same sign as the temperature change of the nO layer 4 and has the same sign as the temperature change of the SiO2 layer 6.

【0026】ZnO層4の上には、櫛形電極5を覆うよ
うにしてSiO2層6が形成されている。SiO2層6
は、表面弾性波素子1における温度特性を良好にする機
能を有し、また、圧電体及び櫛型電極5に対する保護膜
としても機能し、外部環境からの湿気及び不純物等の影
響を著しく低減させるものである。
On the ZnO layer 4, an SiO 2 layer 6 is formed so as to cover the comb-shaped electrode 5. SiO2 layer 6
Has a function of improving the temperature characteristics of the surface acoustic wave device 1 and also functions as a protective film for the piezoelectric body and the comb-shaped electrode 5 to significantly reduce the influence of moisture and impurities from the external environment. Things.

【0027】このSiO2層6を構成するSiO2として
は、アモルファスであることが望ましい。また、SiO
2層6の表面弾性波の伝播速度の温度変化は、ダイヤモ
ンド層3及びZnO層4の温度変化と異符号となってい
る。このため、例えば表面弾性波素子1の温度が上昇す
ると、SiO2層6の表面弾性波の伝播速度は増大が、
ダイヤモンド層3及びZnO層4の表面弾性波の伝播速
度は減少する。従って、SiO2層6がダイヤモンド層
3及びZnO層4における伝播速度の温度変化を相殺
し、その結果、表面弾性波素子1の伝播速度が温度変化
に対し安定したものとなる。
The SiO2 constituting the SiO2 layer 6 is desirably amorphous. In addition, SiO
The temperature change of the propagation speed of the surface acoustic wave of the two layers 6 has a different sign from the temperature change of the diamond layer 3 and the ZnO layer 4. Therefore, for example, when the temperature of the surface acoustic wave device 1 rises, the propagation speed of the surface acoustic wave of the SiO2 layer 6 increases.
The propagation speed of the surface acoustic waves in the diamond layer 3 and the ZnO layer 4 decreases. Therefore, the SiO2 layer 6 cancels the temperature change of the propagation speed in the diamond layer 3 and the ZnO layer 4, and as a result, the propagation speed of the surface acoustic wave device 1 becomes stable against the temperature change.

【0028】次に、本実施形態に係る表面弾性波素子1
の実施例を説明する。
Next, the surface acoustic wave device 1 according to this embodiment
An example will be described.

【0029】この実施例では、圧電体であるZnO層4
の厚さtzと保護層であるSiO2層6の厚さtSを変
えて表面弾性波素子1を製造し、最適な伝播速度v、電
気機械結合係数K2及び温度周波数特性TCFを与える
ようなZnO層4の厚さtz及びSiO2層6の厚さt
Sの最適化を行った。
In this embodiment, the ZnO layer 4 which is a piezoelectric material is used.
The surface acoustic wave device 1 is manufactured by changing the thickness tz of the protective layer and the thickness tS of the SiO2 layer 6 as a protective layer, and a ZnO layer which gives an optimum propagation velocity v, an electromechanical coupling coefficient K2, and a temperature-frequency characteristic TCF. 4 and the thickness t of the SiO2 layer 6
S optimization was performed.

【0030】(第一実施例)本実施例の表面弾性波素子
は、以下のように製造した。
(First Embodiment) The surface acoustic wave device of this embodiment was manufactured as follows.

【0031】10mm×10mm×1mmのシリコン基
板上にマイクロ波プラズマCVD法を用いてダイヤモン
ドを50μmまで成膜した後、ダイヤモンド表面をダイ
ヤモンドコート研磨機を用いて膜厚20μmまで研磨し
た。多結晶ダイヤモンドの原料には、CH4をH2で10
0倍に希釈したガスを用いた。
After a diamond film was formed to a thickness of 50 μm on a silicon substrate of 10 mm × 10 mm × 1 mm using a microwave plasma CVD method, the diamond surface was polished to a film thickness of 20 μm using a diamond coat polishing machine. As a raw material for polycrystalline diamond, CH4 is
A gas diluted 0-fold was used.

【0032】そして、このダイヤモンドの上に、ZnO
多結晶をArと酸素の混合ガスでスパッタする方法によ
り、ZnO薄膜を形成した。スパッタ条件は、基板温度
400゜C、RFパワー160W、圧力2.7Paとし
た。スパッタの時間を変えることにより、ZnOの膜厚
を変化させることができる。そして、kh1=1.6〜
6.0となるように、ZnO層の膜厚tzを変えたもの
を作製した。
Then, on this diamond, ZnO
A ZnO thin film was formed by sputtering a polycrystal with a mixed gas of Ar and oxygen. The sputtering conditions were a substrate temperature of 400 ° C., an RF power of 160 W, and a pressure of 2.7 Pa. By changing the sputtering time, the thickness of ZnO can be changed. And kh1 = 1.6-
A ZnO layer having a different thickness tz was prepared so as to have a thickness of 6.0.

【0033】ここで、kh1は、ZnO層の厚さを表面
弾性波の波長λに対して相対的に表現するためのパラメ
ータであり、次の式(2)により表されるものである。
Here, kh1 is a parameter for expressing the thickness of the ZnO layer relative to the wavelength λ of the surface acoustic wave, and is represented by the following equation (2).

【0034】 kh1=2π・(tz/λM) =5・2π・(tz/λ) ‥‥(2) 但し、λMは、5倍高調波の波長であり、λ/5であ
る。
Kh1 = 2π ・ (tz / λ M ) = 5.2ππ (tz / λ)) (2) where λ M is the wavelength of the fifth harmonic and λ / 5.

【0035】次に、ZnO層の上にAlを抵抗加熱法に
より蒸着し、櫛形電極を形成した。櫛形電極は、フォト
リソグラフィー及びエッチングにより、シングル電極構
造の持つさまざまな線幅のものを形成した。
Next, Al was deposited on the ZnO layer by the resistance heating method to form a comb-shaped electrode. Comb-shaped electrodes having various line widths of a single electrode structure were formed by photolithography and etching.

【0036】そして、櫛形電極を覆うようにして、Zn
O層の上に非晶質SiO2膜を形成した。非晶質SiO2
膜の形成は、基板温度150゜C、高周波パワー200
W、Ar:O2=1:1の混合ガス、圧力0.01To
rr、ターゲットSiO2の条件の下でスパッタリング
より行った。スパッタの時間を変えることにより、Si
O2の膜厚を変化させることができる。そして、kh2
=2.0〜5.0となるように、SiO2層の膜厚tS
を変えたものを作製した。
Then, Zn is covered so as to cover the comb-shaped electrode.
An amorphous SiO2 film was formed on the O layer. Amorphous SiO2
The film is formed at a substrate temperature of 150 ° C. and a high frequency power of 200
W, mixed gas of Ar: O2 = 1: 1, pressure 0.01 To
The sputtering was performed under the conditions of rr and target SiO2. By changing the sputtering time, Si
The thickness of O2 can be changed. And kh2
= 2.0-5.0 so that the thickness tS of the SiO2 layer
Was produced with a change in

【0037】ここで、kh2は、SiO2層の厚さを表
面弾性波の波長λに対して相対的に表現するためのパラ
メータであり、次の式(3)により表されるものであ
る。
Here, kh2 is a parameter for expressing the thickness of the SiO 2 layer relative to the wavelength λ of the surface acoustic wave, and is expressed by the following equation (3).

【0038】 kh2=2π・(tS/λM) =5・2π・(tS/λ) ‥‥(3) このようにして、図1に示すような構造を有し、ZnO
層4及びSiO2層6の厚さの異なる表面弾性波素子を
製造した。
Kh2 = 2π · (tS / λ M ) = 5.2 · π · (tS / λ) ‥‥ (3) In this way, ZnO has a structure as shown in FIG.
Surface acoustic wave devices having different thicknesses of the layer 4 and the SiO2 layer 6 were manufactured.

【0039】そして、これらの各表面弾性波素子につい
て、電極51に高周波電力を印加して二次モードの表面
弾性波を励起させ、v=fλM(f:中心周波数)の関
係から、励起された表面弾性波の伝播速度を求めた。
Then, for each of these surface acoustic wave devices, a high-frequency power is applied to the electrode 51 to excite the second-order mode surface acoustic wave, and the surface acoustic wave is excited from the relation of v = fλ M (f: center frequency). The propagation velocity of the surface acoustic wave was calculated.

【0040】各表面弾性波素子の電気機械結合係数K2
は、ネットワークアナライザ(横河ヒューレットパッカ
ード社製、8791A)を用いて二次モードにおいて測
定された各表面弾性波素子の櫛形電極の放射コンダクタ
ンスの実部Gに基づき、次の式(4)により求めた。
The electromechanical coupling coefficient K2 of each surface acoustic wave device
Is calculated by the following formula (4) based on the real part G of the radiation conductance of the comb-shaped electrode of each surface acoustic wave element measured in the second mode using a network analyzer (manufactured by Yokogawa Hewlett-Packard Company, 8791A). Was.

【0041】 K2=G/(8・f0・C・N) ‥‥(4) 但し、f0は中心周波数、Cは櫛形電極の全静電容量、
Nは櫛形電極の対の数である。
K2 = G / (8 · f0 · C · N) (4) where f0 is the center frequency, C is the total capacitance of the comb-shaped electrode,
N is the number of pairs of comb electrodes.

【0042】そして、温度周波数特性TCFは、表面弾
性波素子をヒーターで加熱し、室温から80゜Cまで変
化させ、10゜Cおきに中心周波数を測定したところ、
直線関係が得られ、この直線の傾きから求めた。
The temperature-frequency characteristic TCF was obtained by heating the surface acoustic wave element with a heater, changing the temperature from room temperature to 80 ° C., and measuring the center frequency at intervals of 10 ° C.
A linear relationship was obtained, which was determined from the slope of this line.

【0043】また、表面弾性波素子のZnO層の正確な
厚さtz及びSiO2層の正確な厚さtSは、上述した
各パラメータを測定した後、表面弾性波素子を切断し、
切断面をSEMで観察することにより求めた。そして、
厚さtz、tSに基づいて、パラメータkh1及びkh
2を求め、対応するパラメータの結果を評価した。
After measuring the above parameters, the surface acoustic wave element was cut, and the accurate thickness tz of the ZnO layer and the accurate thickness tS of the SiO 2 layer of the surface acoustic wave element were determined.
It was determined by observing the cut surface with an SEM. And
Based on the thicknesses tz, tS, the parameters kh1 and kh
2 and the results of the corresponding parameters were evaluated.

【0044】図3は、本実施例により製造された表面弾
性波素子について、ZnO層の厚さとSiO2層の厚さ
に対する電気機械結合係数K2の変化を二次元直交座標
グラフとして示したものである。図3のグラフにおい
て、横軸はZnO層の厚さに関するパラメータkh1
(上述の式(2)参照)であり、縦軸はSiO2層の厚
さに関するパラメータkh2(上述の式(3)参照)で
ある。また、グラフの各曲線に付随する数値は、曲線に
対応する電気機械結合係数K2の値である。これらの単
位は%である。
FIG. 3 is a two-dimensional orthogonal coordinate graph showing the change of the electromechanical coupling coefficient K2 with respect to the thickness of the ZnO layer and the thickness of the SiO2 layer in the surface acoustic wave device manufactured according to this embodiment. . In the graph of FIG. 3, the horizontal axis represents the parameter kh1 relating to the thickness of the ZnO layer.
(See the above equation (2)), and the vertical axis is a parameter kh2 (see the above equation (3)) relating to the thickness of the SiO2 layer. The numerical value associated with each curve in the graph is the value of the electromechanical coupling coefficient K2 corresponding to the curve. These units are%.

【0045】図4は、本実施例により製造された表面弾
性波素子について、ZnO層の厚さとSiO2層の厚さ
に対する伝播速度vの変化を二次元直交座標グラフとし
て示したものである。図4のグラフにおいて、横軸はZ
nO層の厚さに関するパラメータkh1、縦軸はSiO
2層の厚さに関するパラメータkh2である。また、グ
ラフの各曲線に付随する数値は、曲線に対応する伝播速
度vの値である。伝播速度vの単位は、m/sである。
FIG. 4 is a two-dimensional orthogonal coordinate graph showing the change in the propagation velocity v with respect to the thickness of the ZnO layer and the thickness of the SiO 2 layer in the surface acoustic wave device manufactured according to this embodiment. In the graph of FIG. 4, the horizontal axis is Z
The parameter kh1 relating to the thickness of the nO layer, the vertical axis is SiO
This is a parameter kh2 relating to the thickness of the two layers. The numerical value attached to each curve in the graph is the value of the propagation velocity v corresponding to the curve. The unit of the propagation speed v is m / s.

【0046】図5は、本実施例により製造された表面弾
性波素子について、ZnO層の厚さとSiO2層の厚さ
に対する温度周波数特性TCFの変化を二次元直交座標
グラフとして示したものである。図4のグラフにおい
て、横軸はZnO層の厚さに関するパラメータkh1、
縦軸はSiO2層の厚さに関するパラメータkh2であ
る。また、グラフの各曲線に付随する数値は、曲線に対
応する温度周波数特性TCFの値である。温度周波数特
性TCFの単位は、ppm/゜Cである。
FIG. 5 is a two-dimensional orthogonal coordinate graph showing the change in the temperature frequency characteristic TCF with respect to the thickness of the ZnO layer and the thickness of the SiO2 layer in the surface acoustic wave device manufactured according to this embodiment. In the graph of FIG. 4, the horizontal axis represents the parameter kh1 relating to the thickness of the ZnO layer,
The vertical axis is the parameter kh2 relating to the thickness of the SiO2 layer. The numerical value attached to each curve in the graph is the value of the temperature frequency characteristic TCF corresponding to the curve. The unit of the temperature frequency characteristic TCF is ppm / ° C.

【0047】ここで、図3において電気機械結合係数K
2が0.2〜0.56%を満たし、図4において伝播速
度vが4500m/s以上を満たし、かつ、図5におい
て温度周波数特性TCFが−20〜+20ppm/゜C
を満たすkh1及びkh2の数値範囲を図6に示す。
Here, the electromechanical coupling coefficient K in FIG.
2 satisfies 0.2 to 0.56%, the propagation velocity v satisfies 4500 m / s or more in FIG. 4, and the temperature-frequency characteristic TCF in FIG. 5 is −20 to +20 ppm / ° C.
FIG. 6 shows the numerical ranges of kh1 and kh2 that satisfy the conditions.

【0048】図6は、図3〜図5と同様に、横軸をkh
1、縦軸をkh2とした二次元直交座標グラフである。
本図において、電気機械結合係数K2が0.2〜0.5
6%であり、伝播速度vが4500m/s以上であり、
かつ、温度周波数特性TCFが−20〜+20ppm/
゜Cであるkh1及びkh2の数値は、本図中の点A、
B、C、D、E、F、G、H、I、J、K、L、M、
N、O、P、Q、R、S、T、U、V、W、Aを順に線
分で結んでなる領域(各線分上を含む)で与えられる。
FIG. 6 is similar to FIG. 3 to FIG.
1 is a two-dimensional orthogonal coordinate graph in which the vertical axis is kh2.
In this figure, the electromechanical coupling coefficient K2 is 0.2 to 0.5.
6%, the propagation velocity v is 4500 m / s or more,
And the temperature-frequency characteristic TCF is -20 to +20 ppm /
The numerical values of kh1 and kh2, which are ゜ C, are points A,
B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M,
N, O, P, Q, R, S, T, U, V, W, and A are given by a region (including on each line segment) which is sequentially connected by a line segment.

【0049】ここで、点Aは座標(kh1=4.4、k
h2=7.4)で与えられ、点Bは座標(kh1=5.
0、kh2=6.9)で与えられ、点Cは座標(kh1
=5.2、kh2=6.2)で与えられ、点Dは座標
(kh1=5.0、kh2=5.6)で与えられ、点E
は座標(kh1=4.5、kh2=5.1)で与えら
れ、点Fは座標(kh1=4.0、kh2=4.6)で
与えられ、点Gは座標(kh1=3.5、kh2=4.
4)で与えられ、点Hは座標(kh1=3.0、kh2
=4.1)で与えられ、点Iは座標(kh1=2.8、
kh2=4.0)で与えられ、点Jは座標(kh1=
2.6、kh2=3.4)で与えられ、点Kは座標(k
h1=3.0、kh2=3.0)で与えられ、点Lは座
標(kh1=3.5、kh2=2.9)で与えられ、点
Mは座標(kh1=3.5、kh2=2.0)で与えら
れ、点Nは座標(kh1=3.0、kh2=2.0)で
与えられ、点Oは座標(kh1=2.5、kh2=2.
0)で与えられ、点Pは座標(kh1=2.0、kh2
=2.0)で与えられ、点Qは座標(kh1=1.8、
kh2=2.6)で与えられ、点Rは座標(kh1=
1.7、kh2=4.0)で与えられ、点Sは座標(k
h1=2.0、kh2=4.5)で与えられ、点Tは座
標(kh1=2.5、kh2=5.2)で与えられ、点
Uは座標(kh1=3.0、kh2=5.7)で与えら
れ、点Vは座標(kh1=3.5、kh2=6.1)で
与えられ、点Wは座標(kh1=4.0、kh2=6.
8)で与えられる。
Here, the point A has coordinates (kh1 = 4.4, k
h2 = 7.4), and point B has coordinates (kh1 = 5.
0, kh2 = 6.9), and the point C has coordinates (kh1
= 5.2, kh2 = 6.2), point D is given by coordinates (kh1 = 5.0, kh2 = 5.6) and point E
Is given by coordinates (kh1 = 4.5, kh2 = 5.1), point F is given by coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 4.6), and point G is given by coordinates (kh1 = 3.5). , Kh2 = 4.
4), and the point H has coordinates (kh1 = 3.0, kh2
= 4.1), and the point I has coordinates (kh1 = 2.8,
kh2 = 4.0), and the point J has coordinates (kh1 =
2.6, kh2 = 3.4), and the point K has coordinates (k
h1 = 3.0, kh2 = 3.0), point L is given by coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 2.9), and point M is coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 2.0), point N is given by coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 2.0), and point O is given by coordinates (kh1 = 2.5, kh2 = 2.
0), and the point P has coordinates (kh1 = 2.0, kh2
= 2.0), and the point Q has coordinates (kh1 = 1.8,
kh2 = 2.6), and the point R has coordinates (kh1 = 2.6).
1.7, kh2 = 4.0), and the point S has coordinates (k
h1 = 2.0, kh2 = 4.5), point T is given by coordinates (kh1 = 2.5, kh2 = 5.2), and point U is given by coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 5.7), point V is given by coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 6.1), and point W is given by coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 6.
8).

【0050】すなわち、励起される二次モードの表面弾
性波の5倍高調波を用い、図6に示す点A、B、C、
D、E、F、G、H、I、J、K、L、M、N、O、
P、Q、R、S、T、U、V、W、Aを順に線分で結ん
でなる領域(各線分上を含む)で与えられるkh1及び
kh2の数値をとることにより、電気機械結合係数K2
が0.2〜0.56%であり、伝播速度vが4500m
/s以上であり、かつ、温度周波数特性TCFが−20
〜+20ppm/゜Cである表面弾性波素子が得られ
る。
That is, using the fifth harmonic of the surface acoustic wave of the second mode to be excited, points A, B, C,
D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O,
The electromechanical coupling coefficient is obtained by taking the numerical values of kh1 and kh2 given in an area (including on each line segment) in which P, Q, R, S, T, U, V, W, and A are sequentially connected by line segments. K2
Is 0.2 to 0.56% and the propagation velocity v is 4500 m
/ S or more, and the temperature-frequency characteristic TCF is −20.
Thus, a surface acoustic wave device having a concentration of +20 ppm / ° C can be obtained.

【0051】また、表面弾性波素子の伝搬速度vが45
00〜6500m/sである場合、上述の式(1)によ
り、櫛形電極の電極部の線幅を0.5μm以上として形
成することができる。このため、櫛形電極の製造が容易
となり、表面弾性波素子の量産が容易となる。
When the propagation velocity v of the surface acoustic wave element is 45
When the speed is 00 to 6500 m / s, the line width of the electrode portion of the comb-shaped electrode can be formed to be 0.5 μm or more according to the above equation (1). Therefore, the manufacture of the comb-shaped electrode is facilitated, and the mass production of the surface acoustic wave device is facilitated.

【0052】また、櫛形電極の電極部の線幅を0.5μ
m以上とし、表面弾性波の動作中心周波数を5.0〜1
1.3GHzとした場合又は表面弾性波の動作中心周波
数を9.5〜10.5GHzとした場合でも、上述した
電気機械結合係数K2、伝播速度v及び温度周波数特性
TCFの特性が得られる。
Further, the line width of the electrode portion of the comb electrode is set to 0.5 μm.
m and the operating center frequency of the surface acoustic wave is 5.0 to 1
Even when the frequency is set to 1.3 GHz or the operating center frequency of the surface acoustic wave is set to 9.5 to 10.5 GHz, the above-described characteristics of the electromechanical coupling coefficient K2, the propagation speed v, and the temperature frequency characteristic TCF can be obtained.

【0053】(第二実施例)本実施例の表面弾性波素子
は、第一実施例と同様な手法を用い、条件を変更して1
0GHzの中心周波数で動作する表面弾性波素子を製造
した。
(Second Embodiment) The surface acoustic wave device of this embodiment uses the same method as that of the first embodiment, and
A surface acoustic wave device operating at a center frequency of 0 GHz was manufactured.

【0054】ZnOの膜厚tzを変化させてパラメータ
kh1が2.0〜6.0となるように表面弾性波素子を
製造した。また、SiO2の膜厚tSを変化させてパラ
メータkh2が2.0〜8.0となるように表面弾性波
素子を製造した。
A surface acoustic wave device was manufactured by changing the thickness tz of ZnO so that the parameter kh1 was 2.0 to 6.0. Further, a surface acoustic wave device was manufactured by changing the thickness tS of SiO2 so that the parameter kh2 was 2.0 to 8.0.

【0055】そして、第一実施例と同様に、ZnO層の
厚さとSiO2層の厚さに対する電気機械結合係数K2、
伝播速度v及び温度周波数特性TCFの変化を表した二
次元直交座標グラフを作成し、それらの二次元直交座標
グラフに基づいて、電気機械結合係数K2が0.4〜
0.56%を満たし、伝播速度vが4500m/s以上
を満たし、かつ、温度周波数特性TCFが−20〜+2
0ppm/゜Cを満たすkh1及びkh2の数値範囲を
二次元直交座標グラフとして表した。
Then, similarly to the first embodiment, the electromechanical coupling coefficient K2 with respect to the thickness of the ZnO layer and the thickness of the SiO2 layer,
A two-dimensional rectangular coordinate graph representing the change in the propagation velocity v and the temperature frequency characteristic TCF is created, and based on the two-dimensional rectangular coordinate graph, the electromechanical coupling coefficient K2 is 0.4 to
0.56%, the propagation velocity v satisfies 4500 m / s or more, and the temperature-frequency characteristic TCF is −20 to +2.
Numerical ranges of kh1 and kh2 satisfying 0 ppm / ゜ C were represented as a two-dimensional orthogonal coordinate graph.

【0056】その二次元直交座標グラフを図7に示す。FIG. 7 shows the two-dimensional orthogonal coordinate graph.

【0057】図7において、横軸はkh1、縦軸はkh
2である。本図において、電気機械結合係数K2が0.
4〜0.56%であり、伝播速度vが4500m/s以
上であり、かつ、温度周波数特性TCFが−20〜+2
0ppm/゜Cであるkh1及びkh2の数値は、本図
中の点A、B、C、D、E、F、G、H、I、J、K、
L、M、N、O、P、Q、R、S、T、Aを順に線分で
結んでなる領域(各線分上を含む)で与えられる。
In FIG. 7, the horizontal axis is kh1, and the vertical axis is kh.
2. In this figure, the electromechanical coupling coefficient K2 is 0.
4 to 0.56%, the propagation velocity v is 4500 m / s or more, and the temperature-frequency characteristic TCF is -20 to +2.
The numerical values of kh1 and kh2 which are 0 ppm / ゜ C are points A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K,
L, M, N, O, P, Q, R, S, T, and A are given by a region (including on each line segment) formed by sequentially connecting the line segments.

【0058】ここで、点Aは座標(kh1=4.4、k
h2=6.9)で与えられ、点Bは座標(kh1=5.
0、kh2=6.4)で与えられ、点Cは座標(kh1
=5.2、kh2=6.2)で与えられ、点Dは座標
(kh1=5.0、kh2=5.6)で与えられ、点E
は座標(kh1=4.6、kh2=5.2)で与えら
れ、点Fは座標(kh1=4.4、kh2=5.0)で
与えられ、点Gは座標(kh1=4.0、kh2=4.
6)で与えられ、点Hは座標(kh1=3.5、kh2
=4.4)で与えられ、点Iは座標(kh1=3.0、
kh2=4.1)で与えられ、点Jは座標(kh1=
2.8、kh2=4.0)で与えられ、点Kは座標(k
h1=2.6、kh2=3.4)で与えられ、点Lは座
標(kh1=2.8、kh2=3.0)で与えられ、点
Mは座標(kh1=3.2、kh2=2.4)で与えら
れ、点Nは座標(kh1=2.7、kh2=2.4)で
与えられ、点Oは座標(kh1=2.2、kh2=3.
0)で与えられ、点Pは座標(kh1=2.2、kh2
=3.5)で与えられ、点Qは座標(kh1=2.5、
kh2=4.7)で与えられ、点Rは座標(kh1=
3.0、kh2=5.2)で与えられ、点Sは座標(k
h1=3.5、kh2=5.7)で与えられ、点Tは座
標(kh1=4.0、kh2=6.3)で与えられる。
Here, point A has coordinates (kh1 = 4.4, k
h2 = 6.9), and point B has coordinates (kh1 = 5.
0, kh2 = 6.4), and point C has coordinates (kh1
= 5.2, kh2 = 6.2), point D is given by coordinates (kh1 = 5.0, kh2 = 5.6) and point E
Is given by coordinates (kh1 = 4.6, kh2 = 5.2), point F is given by coordinates (kh1 = 4.4, kh2 = 5.0), and point G is given by coordinates (kh1 = 4.0). , Kh2 = 4.
6), and the point H has coordinates (kh1 = 3.5, kh2
= 4.4), and the point I has coordinates (kh1 = 3.0,
kh2 = 4.1), and point J is represented by coordinates (kh1 =
2.8, kh2 = 4.0), and the point K has coordinates (k
h1 = 2.6, kh2 = 3.4), point L is given by coordinates (kh1 = 2.8, kh2 = 3.0), and point M is coordinates (kh1 = 3.2, kh2 = 2.4), point N is given by coordinates (kh1 = 2.7, kh2 = 2.4), and point O is given by coordinates (kh1 = 2.2, kh2 = 3.
0), and the point P has coordinates (kh1 = 2.2, kh2
= 3.5), and the point Q has coordinates (kh1 = 2.5,
kh2 = 4.7), and the point R has coordinates (kh1 =
3.0, kh2 = 5.2), and the point S has coordinates (k
h1 = 3.5, kh2 = 5.7), and the point T is given by coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 6.3).

【0059】すなわち、図7に示す点A、B、C、D、
E、F、G、H、I、J、K、L、M、N、O、P、
Q、R、S、T、Aを順に線分で結んでなる領域(各線
分上を含む)で与えられるkh1及びkh2の数値をと
ることにより、電気機械結合係数K2が0.4〜0.5
6%であり、伝播速度vが4500m/s以上であり、
かつ、温度周波数特性TCFが−20〜+20ppm/
゜Cである表面弾性波素子が得られる。
That is, points A, B, C, D, and
E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O, P,
By taking the numerical values of kh1 and kh2 given in an area (including on each line segment) connecting Q, R, S, T, and A in order with the line segment, the electromechanical coupling coefficient K2 is 0.4 to 0.2. 5
6%, the propagation velocity v is 4500 m / s or more,
And the temperature-frequency characteristic TCF is -20 to +20 ppm /
A surface acoustic wave device having ΔC is obtained.

【0060】また、表面弾性波素子の伝搬速度vが45
00〜6500m/sである場合、上述の式(1)によ
り、櫛形電極の電極部の線幅を0.5μm以上として形
成することができる。このため、櫛形電極の製造が容易
となり、表面弾性波素子の量産が容易となる。
When the propagation velocity v of the surface acoustic wave device is 45
When the speed is 00 to 6500 m / s, the line width of the electrode portion of the comb-shaped electrode can be formed to be 0.5 μm or more according to the above equation (1). Therefore, the manufacture of the comb-shaped electrode is facilitated, and the mass production of the surface acoustic wave device is facilitated.

【0061】また、櫛形電極の電極部の線幅を0.5μ
m以上とし、表面弾性波の動作中心周波数を5.0〜1
1.3GHzとした場合又は表面弾性波の動作中心周波
数を9.5〜10.5GHzとした場合でも、上述した
電気機械結合係数K2、伝播速度v及び温度周波数特性
TCFの特性が得られる。
The line width of the electrode portion of the comb-shaped electrode is set to 0.5 μm.
m and the operating center frequency of the surface acoustic wave is 5.0 to 1
Even when the frequency is set to 1.3 GHz or the operating center frequency of the surface acoustic wave is set to 9.5 to 10.5 GHz, the above-described characteristics of the electromechanical coupling coefficient K2, the propagation speed v, and the temperature frequency characteristic TCF can be obtained.

【0062】[0062]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、励
起する二次モードの表面弾性波の5倍高調波を用いるこ
とにより、高周波領域で良好な伝播特性、電気機械結合
係数、周波数温度特性を得ることができる。
As described above, according to the present invention, good propagation characteristics, electromechanical coupling coefficient, and frequency temperature can be obtained in the high frequency region by using the fifth harmonic of the surface acoustic wave in the second mode to be excited. Properties can be obtained.

【0063】また、櫛形電極の電極部分の線幅を大きく
できるため、量産性の向上が図れる。
Further, since the line width of the electrode portion of the comb-shaped electrode can be increased, the mass productivity can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係る表面弾性波素子の説明
図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram of a surface acoustic wave device according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の表面弾性波素子における櫛形電極の説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of a comb electrode in the surface acoustic wave device of FIG.

【図3】第一実施例に係る表面弾性波素子における電気
機械結合係数の説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an electromechanical coupling coefficient in the surface acoustic wave device according to the first embodiment.

【図4】第一実施例に係る表面弾性波素子における伝播
特性の説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of a propagation characteristic in the surface acoustic wave device according to the first embodiment.

【図5】第一実施例に係る表面弾性波素子における温度
周波数特性の説明図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of a temperature frequency characteristic in the surface acoustic wave device according to the first embodiment.

【図6】第一実施例に係る表面弾性波素子におけるパラ
メータkh1及びkh2の説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram of parameters kh1 and kh2 in the surface acoustic wave device according to the first embodiment.

【図7】第二実施例に係る表面弾性波素子におけるパラ
メータkh1及びkh2の説明図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of parameters kh1 and kh2 in the surface acoustic wave device according to the second embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…表面弾性波素子、2…基板、3…ダイヤモンド層、
4…ZnO層、5…櫛形電極、6…SiO2層。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Surface acoustic wave element, 2 ... Substrate, 3 ... Diamond layer,
4: ZnO layer, 5: comb-shaped electrode, 6: SiO2 layer.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中幡 英章 兵庫県伊丹市昆陽北一丁目1番1号 住友 電気工業株式会社伊丹製作所内 (72)発明者 藤井 知 兵庫県伊丹市昆陽北一丁目1番1号 住友 電気工業株式会社伊丹製作所内 (72)発明者 鹿田 真一 兵庫県伊丹市昆陽北一丁目1番1号 住友 電気工業株式会社伊丹製作所内 Fターム(参考) 5J097 AA13 AA21 DD04 DD07 DD08 EE08 FF02 FF05 HA02 HA03 KK05 KK09  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Hideaki Nakahata 1-1-1, Koyo Kita, Itami-shi, Hyogo Sumitomo Electric Industries, Ltd. Itami Works (72) Inventor Satoshi Fujii Kochi Kita-cho, Itami-shi, Hyogo No. 1-1 In Itami Works, Sumitomo Electric Industries, Ltd. (72) Inventor Shinichi Shibata 1-1-1, Koyokita, Itami-shi, Hyogo F-term in Itami Works, Sumitomo Electric Industries, Ltd. 5J097 AA13 AA21 DD04 DD07 DD08 EE08 FF02 FF05 HA02 HA03 KK05 KK09

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ダイヤモンド層と、 前記ダイヤモンド層の上に形成され厚さtzのZnO層
と、 前記ZnO層の上に形成され表面弾性波の励振及び受信
を行う櫛形電極と、 前記櫛形電極を覆い前記ZnO層の上に形成され厚さt
SのSiO2層と、を備え、 二次モードの前記表面弾性波の基本波の波長をλとした
ときに、kh1=5・2π・(tz/λ)、kh2=5
・2π・(tS/λ)で与えられる前記kh1及び前記
kh2が、横軸に前記kh1、縦軸に前記kh2を与え
る二次元直交座標グラフにおいて、座標(kh1=4.
4、kh2=7.4)で与えられる点Aと、座標(kh
1=5.0、kh2=6.9)で与えられる点Bと、座
標(kh1=5.2、kh2=6.2)で与えられる点
Cと、座標(kh1=5.0、kh2=5.6)で与え
られる点Dと、座標(kh1=4.5、kh2=5.
1)で与えられる点Eと、座標(kh1=4.0、kh
2=4.6)で与えられる点Fと、座標(kh1=3.
5、kh2=4.4)で与えられる点Gと、座標(kh
1=3.0、kh2=4.1)で与えられる点Hと、座
標(kh1=2.8、kh2=4.0)で与えられる点
Iと、座標(kh1=2.6、kh2=3.4)で与え
られる点Jと、座標(kh1=3.0、kh2=3.
0)で与えられる点Kと、座標(kh1=3.5、kh
2=2.9)で与えられる点Lと、座標(kh1=3.
5、kh2=2.0)で与えられる点Mと、座標(kh
1=3.0、kh2=2.0)で与えられる点Nと、座
標(kh1=2.5、kh2=2.0)で与えられる点
Oと、座標(kh1=2.0、kh2=2.0)で与え
られる点Pと、座標(kh1=1.8、kh2=2.
6)で与えられる点Qと、座標(kh1=1.7、kh
2=4.0)で与えられる点Rと、座標(kh1=2.
0、kh2=4.5)で与えられる点Sと、座標(kh
1=2.5、kh2=5.2)で与えられる点Tと、座
標(kh1=3.0、kh2=5.7)で与えられる点
Uと、座標(kh1=3.5、kh2=6.1)で与え
られる点Vと、座標(kh1=4.0、kh2=6.
8)で与えられる点Wと、前記A点とを順に線分で結
ぶ、23本の線分からなる領域ABCDEFGHIJK
LMNOPQRSTUVWAの前記23本の線上を含む
内部に与えられ、 励起される前記二次モードの表面弾性波の5倍高調波が
用いられること、を特徴とする表面弾性波素子。
A diamond layer; a ZnO layer having a thickness of tz formed on the diamond layer; a comb electrode formed on the ZnO layer for exciting and receiving surface acoustic waves; A thickness t formed on the ZnO layer
S2 SiO2 layer, where kh1 = 5.2π. (Tz / λ) and kh2 = 5, where λ is the wavelength of the fundamental wave of the surface acoustic wave in the second mode.
In the two-dimensional orthogonal coordinate graph in which the kh1 and the kh2 given by 2π · (tS / λ) give the kh1 on the horizontal axis and the kh2 on the vertical axis, the coordinates (kh1 = 4.
4, a point A given by kh2 = 7.4) and coordinates (kh
1 = 5.0, kh2 = 6.9), point C given by coordinates (kh1 = 5.2, kh2 = 6.2), and coordinates (kh1 = 5.0, kh2 = 5.6) and coordinates (kh1 = 4.5, kh2 = 5.
Point E given by 1) and coordinates (kh1 = 4.0, kh
2 = 4.6) and coordinates (kh1 = 3.
5, a point G given by kh2 = 4.4) and coordinates (kh
1 = 3.0, kh2 = 4.1), a point I given by coordinates (kh1 = 2.8, kh2 = 4.0), and a point I given by coordinates (kh1 = 2.6, kh2 = 3.4) and the coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 3.
0) and coordinates (kh1 = 3.5, kh
2 = 2.9) and the coordinates (kh1 = 3.
5, a point M given by kh2 = 2.0) and coordinates (kh
1 = 3.0, kh2 = 2.0), a point O given by coordinates (kh1 = 2.5, kh2 = 2.0), and a coordinate (kh1 = 2.0, kh2 = 2.0) and coordinates (kh1 = 1.8, kh2 = 2.
6) and the coordinates (kh1 = 1.7, kh
2 = 4.0) and coordinates (kh1 = 2.4.0).
0, kh2 = 4.5) and coordinates (kh
1 = 2.5, kh2 = 5.2), a point T given by coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 5.7), and a point U given by coordinates (kh1 = 3.5, kh2 = 6.1) and the coordinates (kh1 = 4.0, kh2 = 6.
An area ABCDEFGHIJK consisting of 23 line segments connecting the point W given in 8) and the point A in order by a line segment.
A surface acoustic wave element provided inside and including the 23 lines of the LMNOPQRSTUVWA and using a fifth harmonic of a surface acoustic wave of the second-order mode to be excited.
【請求項2】 ダイヤモンド層と、 前記ダイヤモンド層の上に形成され厚さtzのZnO層
と、 前記ZnO層の上に形成され表面弾性波の励振及び受信
を行う櫛形電極と、 前記櫛形電極を覆い前記ZnO層の上に形成され厚さt
SのSiO2層と、を備え、 二次モードの前記表面弾性波の基本波の波長をλとした
ときに、kh1=5・2π・(tz/λ)、kh2=5
・2π・(tS/λ)で与えられる前記kh1及び前記
kh2が、横軸に前記kh1、縦軸に前記kh2を与え
る二次元直交座標グラフにおいて、座標(kh1=4.
4、kh2=6.9)で与えられる点Aと、座標(kh
1=5.0、kh2=6.4)で与えられる点Bと、座
標(kh1=5.2、kh2=6.2)で与えられる点
Cと、座標(kh1=5.0、kh2=5.6)で与え
られる点Dと、座標(kh1=4.6、kh2=5.
2)で与えられる点Eと、座標(kh1=4.4、kh
2=5.0)で与えられる点Fと、座標(kh1=4.
0、kh2=4.6)で与えられる点Gと、座標(kh
1=3.5、kh2=4.4)で与えられる点Hと、座
標(kh1=3.0、kh2=4.1)で与えられる点
Iと、座標(kh1=2.8、kh2=4.0)で与え
られる点Jと、座標(kh1=2.6、kh2=3.
4)で与えられる点Kと、座標(kh1=2.8、kh
2=3.0)で与えられる点Lと、座標(kh1=3.
2、kh2=2.4)で与えられる点Mと、座標(kh
1=2.7、kh2=2.4)で与えられる点Nと、座
標(kh1=2.2、kh2=3.0)で与えられる点
Oと、座標(kh1=2.2、kh2=3.5)で与え
られる点Pと、座標(kh1=2.5、kh2=4.
7)で与えられる点Qと、座標(kh1=3.0、kh
2=5.2)で与えられる点Rと、座標(kh1=3.
5、kh2=5.7)で与えられる点Sと、座標(kh
1=4.0、kh2=6.3)で与えられる点Tと、前
記A点とを順に線分で結ぶ、20本の線分からなる領域
ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTAの前記2
0本の線上を含む内部に与えられ、 励起される前記二次モードの表面弾性波の5倍高調波が
用いられること、を特徴とする表面弾性波素子。
2. A diamond layer; a ZnO layer formed on the diamond layer and having a thickness of tz; a comb electrode formed on the ZnO layer for exciting and receiving surface acoustic waves; A thickness t formed on the ZnO layer
S2 SiO2 layer, where kh1 = 5.2π. (Tz / λ) and kh2 = 5, where λ is the wavelength of the fundamental wave of the surface acoustic wave in the second mode.
In the two-dimensional orthogonal coordinate graph in which the kh1 and the kh2 given by 2π · (tS / λ) give the kh1 on the horizontal axis and the kh2 on the vertical axis, the coordinates (kh1 = 4.
4, kh2 = 6.9) and a point A given by coordinates (kh
Point B given by 1 = 5.0, kh2 = 6.4), point C given by coordinates (kh1 = 5.2, kh2 = 6.2), and coordinates (kh1 = 5.0, kh2 = 5.6) and the coordinates (kh1 = 4.6, kh2 = 5.
A point E given by 2) and coordinates (kh1 = 4.4, kh
2 = 5.0) and coordinates (kh1 = 4.
0, kh2 = 4.6) and coordinates (kh
1 = 3.5, kh2 = 4.4), a point I given by coordinates (kh1 = 3.0, kh2 = 4.1), and a point I given by coordinates (kh1 = 2.8, kh2 = 4.0) and coordinates (kh1 = 2.6, kh2 = 3.
4) and the coordinates (kh1 = 2.8, kh
2 = 3.0) and coordinates (kh1 = 3.0).
2, a point M given by kh2 = 2.4) and coordinates (kh
1 = 2.7, kh2 = 2.4), a point N given by coordinates (kh1 = 2.2, kh2 = 3.0), and a point O given by coordinates (kh1 = 2.2, kh2 = A point P given by 3.5) and coordinates (kh1 = 2.5, kh2 = 4.
7) and the coordinates (kh1 = 3.0, kh
2 = 5.2) and coordinates (kh1 = 3.
5, a point S given by kh2 = 5.7) and coordinates (kh
1 = 4.0, kh2 = 6.3), and the point A is sequentially connected to the point A by a line segment. The area ABCDEFGHIJKLMNOPQRSTA is composed of 20 line segments.
5. A surface acoustic wave device, wherein a fifth harmonic of a surface acoustic wave of the second mode, which is provided and excited inside including zero lines, is used.
【請求項3】 前記表面弾性波の動作中心周波数をf
0、前記表面弾性波の伝播速度をvとしたときに、 前記伝搬速度vが4500〜6500m/sであり、 前記櫛形電極の電極ピッチが、dm+df=(5・v)
/(2・f0)で与えられること、を特徴とする請求項
1又は2に記載の表面弾性波素子。
3. An operation center frequency of the surface acoustic wave is represented by f
0, when the propagation velocity of the surface acoustic wave is v, the propagation velocity v is 4500 to 6500 m / s, and the electrode pitch of the comb-shaped electrode is dm + df = (5 · v)
3. The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the surface acoustic wave device is given by: / (2 · f0).
【請求項4】 前記櫛形電極の電極線幅が0.5μm以
上であり、 前記表面弾性波の動作中心周波数が5.0〜11.3G
Hzであること、を特徴とする請求項1又は2に記載の
表面弾性波素子。
4. An electrode line width of said comb-shaped electrode is 0.5 μm or more, and an operation center frequency of said surface acoustic wave is 5.0-11.3G.
3. The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the frequency is Hz.
【請求項5】 前記櫛形電極の電極線幅が0.5μm以
上であり、 前記表面弾性波の動作中心周波数が9.5〜10.5G
Hzであること、を特徴とする請求項1又は2に記載の
表面弾性波素子。
5. An electrode line width of said comb-shaped electrode is 0.5 μm or more, and an operation center frequency of said surface acoustic wave is 9.5 to 10.5G.
3. The surface acoustic wave device according to claim 1, wherein the frequency is Hz.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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