JP2001337109A - Contact probe - Google Patents
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、弾性変形可能な線
状のプローブ本体と、そのプローブ本体を保持するプロ
ーブ保持具とを有するコンタクトプローブに関するもの
である。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a contact probe having an elastically deformable linear probe main body and a probe holder for holding the probe main body.
【０００２】[0002]
【従来の技術】この種のコンタクトプローブとして、図
５，６に示すコンタクトプローブ５１が従来から知られ
ている。このコンタクトプローブ５１は、例えば回路基
板検査装置に装着されて所定の電気的検査を実行するた
めのものであって、回路基板検査装置におけるプローブ
案内機構（図示せず）に取り付けられるプローブ保持具
５２と、プローブ保持具５２によって保持された状態で
プローブ案内機構の案内に従って所定の検査位置に接触
させられるプローブ本体３とを備えている。プローブ保
持具５２は、プローブ案内機構に取り付けるための取付
部１１と、プローブ本体３の後端部を圧入して固定する
ための圧入用孔１２ａが形成されたプローブ固定部１２
と、プローブ本体３の先端部を挿通可能なガイド孔１３
ａが形成された案内部１３とを一体化して構成され、図
６（ａ）に示すように、その側面視形状がコ字状に形成
されている。2. Description of the Related Art As a contact probe of this type, a contact probe 51 shown in FIGS. The contact probe 51 is mounted on, for example, a circuit board inspection apparatus to execute a predetermined electrical inspection, and is provided with a probe holder 52 attached to a probe guide mechanism (not shown) in the circuit board inspection apparatus. And a probe main body 3 that is brought into contact with a predetermined inspection position in accordance with the guidance of the probe guide mechanism while being held by the probe holder 52. The probe holder 52 includes an attachment portion 11 for attachment to the probe guide mechanism, and a probe fixing portion 12 having a press-fitting hole 12a for press-fitting and fixing the rear end of the probe main body 3.
And a guide hole 13 through which the distal end of the probe body 3 can be inserted.
6A is formed integrally with the guide portion 13 formed with a. As shown in FIG. 6A, the side view shape is formed in a U-shape.
【０００３】一方、プローブ本体３は、いわゆる座屈型
プローブであって、金属製弾性細線を所定形状に曲げ加
工して製作されている。このプローブ本体３では、その
後端部２１がプローブ保持具５２の圧入用孔１２ａに圧
入されてプローブ固定部１２から上方に突出させられる
と共に、その先端部２２がガイド孔１３ａに挿通させら
れて案内部１３から下方に突出させられている。また、
後端部２１および先端部２２の中間部位である変形部２
３は、プロービング時に先端部２２が相対的に上動し易
いように予め曲げ加工されており、プロービング時に
は、弾性変形して先端部２２を回路基板に向けて付勢す
る。On the other hand, the probe body 3 is a so-called buckling type probe, and is manufactured by bending a metal elastic thin wire into a predetermined shape. In the probe main body 3, the rear end 21 is press-fitted into the press-fitting hole 12a of the probe holder 52 so as to protrude upward from the probe fixing portion 12, and the distal end 22 is inserted into the guide hole 13a to guide the probe. It protrudes downward from the part 13. Also,
Deformed portion 2 which is an intermediate portion between rear end portion 21 and front end portion 22
3 is bent in advance so that the distal end portion 22 is relatively easily moved upward during probing, and elastically deforms to bias the distal end portion 22 toward the circuit board during probing.
【０００４】このコンタクトプローブ５１を用いた電気
的検査に際しては、まず、コンタクトプローブ５１をプ
ローブ案内機構に取り付ける。次に、プローブ案内機構
がコンタクトプローブ５１を所定の検査位置に移動させ
て回路基板の表面Ｘに向けて下動させることにより、プ
ローブ本体３の先端を表面Ｘに接触させる。次いで、図
７に示すように、プローブ案内機構が、回路基板に向け
てプローブ保持具５２をさらに下動させることにより、
プローブ本体３の変形部２３が弾性変形する。この際に
は、変形部２３の弾性変形に伴い、先端部２２が、ガイ
ド孔１３ａの案内に従って後端部２１に対して相対的に
上動させられ、これにより、プローブ本体３の先端が、
回路基板の表面Ｘに向けて付勢される。この後、プロー
ブ本体３を介して回路基板に検査用信号を出力すること
により、所定の電気的検査を実行する。[0004] In the electrical inspection using the contact probe 51, first, the contact probe 51 is attached to a probe guide mechanism. Next, the probe guide mechanism moves the contact probe 51 to a predetermined inspection position and moves the contact probe 51 downward toward the surface X of the circuit board, thereby bringing the tip of the probe main body 3 into contact with the surface X. Next, as shown in FIG. 7, the probe guide mechanism further lowers the probe holder 52 toward the circuit board,
The deformation portion 23 of the probe body 3 is elastically deformed. At this time, with the elastic deformation of the deformable portion 23, the distal end portion 22 is relatively moved upward with respect to the rear end portion 21 according to the guide of the guide hole 13a.
It is urged toward the surface X of the circuit board. Thereafter, a predetermined electrical test is executed by outputting a test signal to the circuit board via the probe main body 3.
【０００５】[0005]
【発明が解決しようとする課題】ところが、従来のコン
タクトプローブ５１には、以下の問題点がある。すなわ
ち、従来のコンタクトプローブ５１では、変形部２３を
予め曲げ加工しておくことにより、弾性変形し易い向き
が予め規定されている。しかし、例えば高速なプロービ
ングを実行した際には、図８（ａ）に示すように、変形
部２３が、本来的には弾性変形しにくい方向にも変形す
ることがある。かかる場合には、同図（ｂ）に実線で示
すように、先端部２２が傾くため、その先端が、接触さ
せられるべき本来の位置（同図に破線で示すプローブ本
体３の接触位置）から位置ずれした位置に接触するとい
う問題点がある。また、変形部２３が、予め規定された
向き以外の向きにも変形した場合には、先端部２２がガ
イド孔１３ａの縁部に強く押し当てられてプローブ本体
３とプローブ保持具５２との間に摩擦力が生じるため、
プローブ本体３の摺動が妨げられる結果、プローブ本体
３の先端が回路基板の表面Ｘに向けて強く押し付けられ
る。したがって、コンタクトプローブ５１には、プロー
ブ本体３の損傷や回路基板の傷付きを招くことがあると
いう問題も存在する。However, the conventional contact probe 51 has the following problems. That is, in the conventional contact probe 51, the direction in which the deformable portion 23 is easily elastically deformed is defined in advance by bending the deformable portion 23 in advance. However, for example, when high-speed probing is performed, as shown in FIG. 8A, the deformable portion 23 may deform in a direction in which elastic deformation is originally difficult. In such a case, as shown by the solid line in FIG. 4B, the tip 22 is inclined, so that the tip moves from the original position to be brought into contact (the contact position of the probe main body 3 shown by the broken line in FIG. 4). There is a problem that it touches a position shifted. When the deforming portion 23 is deformed in a direction other than the direction defined in advance, the distal end portion 22 is strongly pressed against the edge of the guide hole 13a and the gap between the probe main body 3 and the probe holder 52 is formed. Produces frictional force on
As a result of preventing the probe body 3 from sliding, the tip of the probe body 3 is strongly pressed toward the surface X of the circuit board. Therefore, the contact probe 51 also has a problem that the probe body 3 may be damaged or the circuit board may be damaged.
【０００６】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
ものであり、プローブ本体の損傷および検査対象体の傷
付きを防止しつつ、検査位置への正確なプロービングが
可能なコンタクトプローブを提供することを主目的とす
る。The present invention has been made in view of the above problems, and provides a contact probe capable of accurately probing to an inspection position while preventing damage to a probe body and damage to an inspection object. Its main purpose is to:
【０００７】[0007]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく請
求項１記載のコンタクトプローブは、弾性変形可能な線
状のプローブ本体と、プローブ本体における後端部を固
定する固定部、および弾性変形状態におけるプローブ本
体の先端部を所定方向に案内する案内部を有するプロー
ブ保持具とを備えているコンタクトプローブにおいて、
プローブ保持具に固定されると共に弾性変形状態におけ
るプローブ本体の後端部および先端部の間の側面が接触
した際にプローブ本体に対して接触方向への弾性変形を
阻止する第１の弾性変形規制板を備えていることを特徴
とする。According to a first aspect of the present invention, there is provided a contact probe, comprising: a linear probe body capable of elastic deformation; a fixing portion for fixing a rear end of the probe body; A probe holder having a guide portion for guiding the distal end portion of the probe body in a predetermined direction in the state,
A first elastic deformation regulation that is fixed to the probe holder and that prevents elastic deformation in the contact direction with respect to the probe body when the side surface between the rear end and the front end of the probe body in the elastic deformation state contacts. It is characterized by having a plate.
【０００８】請求項２記載のコンタクトプローブは、請
求項１記載のコンタクトプローブにおいて、プローブ本
体を挟んで第１の弾性変形規制板に対向するようにプロ
ーブ保持具に固定されると共に弾性変形状態におけるプ
ローブ本体の側面が接触した際にプローブ本体に対して
接触方向への弾性変形を阻止する第２の弾性変形規制板
をさらに備えていることを特徴とする。According to a second aspect of the present invention, in the contact probe according to the first aspect, the contact probe is fixed to the probe holder so as to face the first elastic deformation regulating plate with the probe body interposed therebetween and is in an elastically deformed state. It is characterized by further comprising a second elastic deformation restricting plate for preventing elastic deformation of the probe main body in the contact direction when the side surface of the probe main body comes into contact.
【０００９】[0009]
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明に係るコンタクトプローブの好適な発明の実施の形態
について説明する。なお、従来のコンタクトプローブ５
１と同一の構成要素については、同一の符号を付して重
複した説明を省略する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of a contact probe according to the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. The conventional contact probe 5
The same components as those in 1 are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
【００１０】最初に、本発明におけるコンタクトプロー
ブ１の構成について、図１，２を参照して説明する。First, the configuration of the contact probe 1 according to the present invention will be described with reference to FIGS.
【００１１】コンタクトプローブ１は、例えば回路基板
検査装置に装着され、その回路基板検査装置による所定
の電気的検査の際に、検査対象の回路基板に接触可能に
構成されている。具体的には、図１，２に示すように、
コンタクトプローブ１は、回路基板検査装置におけるプ
ローブ案内機構に取り付けられるプローブ保持具２と、
金属製弾性細線を所定形状に曲げ加工して製作されると
共にプローブ保持具２によって保持された状態でプロー
ブ案内機構の案内に従って回路基板に接触させられるプ
ローブ本体３とを備えている。この場合、プローブ保持
具２は、取付部１１、プローブ固定部１２および案内部
１３が、例えばポリアセタール樹脂で一体成形され、図
２（ａ）に示すように、その側面視形状がコ字状に形成
されている。The contact probe 1 is mounted on, for example, a circuit board inspection apparatus, and is configured to be able to contact a circuit board to be inspected at the time of a predetermined electrical inspection by the circuit board inspection apparatus. Specifically, as shown in FIGS.
The contact probe 1 includes a probe holder 2 attached to a probe guide mechanism in a circuit board inspection device;
A probe main body 3 is manufactured by bending a metal elastic thin wire into a predetermined shape, and is brought into contact with a circuit board in accordance with the guidance of the probe guide mechanism while being held by the probe holder 2. In this case, in the probe holder 2, the mounting portion 11, the probe fixing portion 12, and the guide portion 13 are integrally formed of, for example, a polyacetal resin, and as shown in FIG. Is formed.
【００１２】また、図１，２に示すように、プローブ保
持具２には、本発明における第１の弾性変形規制板に相
当し例えばポリアセタール樹脂で形成された案内板１４
が配設されている。この案内板１４は、プローブ本体３
の変形部２３が案内板１４側に弾性変形した際に、変形
部２３の側面が接触することにより、その接触方向への
変形部２３の弾性変形を阻止する。この場合、平板１４
は、その表面１４ａがプローブ本体３における変形部２
３の曲げ方向に対して平行で、かつ、図２（ｂ）に示す
ように、プローブ本体３の変形部２３と、その表面１４
ａとの間に極く狭い隙間が形成されるように、例えば接
着によってプローブ保持具２の取付部１１に固定されて
いる。As shown in FIGS. 1 and 2, the probe holder 2 has a guide plate 14 corresponding to a first elastic deformation regulating plate of the present invention and formed of, for example, polyacetal resin.
Are arranged. The guide plate 14 is used for the probe main body 3.
When the deformed portion 23 elastically deforms toward the guide plate 14, the side surfaces of the deformed portion 23 come into contact with each other, thereby preventing elastic deformation of the deformed portion 23 in the contact direction. In this case, the flat plate 14
Means that the surface 14a of the probe body 3
2B, the deformed portion 23 of the probe main body 3 and the surface 14 thereof are parallel to the bending direction of the probe body 3 as shown in FIG.
The probe holder 2 is fixed to the mounting portion 11 of the probe holder 2 by, for example, bonding so that a very narrow gap is formed between the probe holder 2 and the gap a.
【００１３】次に、コンタクトプローブ１を用いた電気
的検査の方法について、各図を参照して説明する。Next, a method of electrical inspection using the contact probe 1 will be described with reference to the drawings.
【００１４】まず、コンタクトプローブ１をプローブ案
内機構に取り付ける。この際には、例えばプローブ保持
具２の取付部１１をプローブ案内機構に把持させて固定
すると共に、プローブ本体３の後端部２１に検査信号出
力用の信号ケーブルを接続する。次に、プローブ案内機
構がコンタクトプローブ１を所定の検査位置に移動させ
て回路基板の表面Ｘに向けて下動させることにより、プ
ローブ本体３の先端を表面Ｘに接触させる。次いで、プ
ローブ案内機構が、回路基板に向けてプローブ保持具２
をさらに下動させることにより、図３に示すように、プ
ローブ本体３の変形部２３が弾性変形する。この場合、
変形部２３が案内板１４側に弾性変形してその表面１４
ａに接触したときには、平板１４は、その表面１４ａ側
へに向けての変形部２３の弾性変形を阻止する。したが
って、変形部２３は、予め規定された向きとは異なる少
なくとも１方向への弾性変形が阻止されると共に、平板
１４の表面１４ａに沿って（つまり、予め加工された曲
げの向きに沿って）弾性変形する。この結果、先端部２
２が、ガイド孔１３ａの案内に従って後端部２１に対し
て相対的に上動させられるため、プローブ本体３の先端
が表面Ｘに向けて付勢される。この後、プローブ本体３
を介して回路基板に所定の検査用信号を出力することに
より、所定の電気的検査を実行する。First, the contact probe 1 is attached to the probe guide mechanism. At this time, for example, the mounting portion 11 of the probe holder 2 is gripped and fixed by the probe guiding mechanism, and a signal cable for outputting a test signal is connected to the rear end 21 of the probe main body 3. Next, the probe guide mechanism moves the contact probe 1 to a predetermined inspection position and moves the contact probe 1 downward toward the surface X of the circuit board, thereby bringing the tip of the probe main body 3 into contact with the surface X. Next, the probe guide mechanism moves the probe holder 2 toward the circuit board.
Is further lowered, as shown in FIG. 3, the deformable portion 23 of the probe body 3 is elastically deformed. in this case,
The deformable portion 23 is elastically deformed toward the guide plate 14 and its surface 14
a, the flat plate 14 prevents elastic deformation of the deformable portion 23 toward the surface 14a. Therefore, the deformable portion 23 is prevented from being elastically deformed in at least one direction different from the predetermined direction, and is along the surface 14a of the flat plate 14 (that is, along the preformed bending direction). Elastically deform. As a result, the tip 2
2 is moved upward relative to the rear end portion 21 according to the guide of the guide hole 13a, so that the front end of the probe main body 3 is urged toward the surface X. After this, the probe body 3
A predetermined electrical test is executed by outputting a predetermined test signal to the circuit board via the.
【００１５】このように、このコンタクトプローブ１に
よれば、プローブ本体３における変形部２３の側方に平
板１４を配設し、プロービング時には、この平板１４の
表面１４ａに沿って変形部２３を弾性変形させることに
より、接触させるべき本来の位置にプローブ本体３の先
端を接触させることが可能となる。また、先端部２２の
案内板１４側への傾きを防止できるため、プローブ本体
３がガイド孔１３ａの案内に従ってスムーズに上下動す
る。したがって、プローブ本体３の先端を常に一定の付
勢力で表面Ｘに接触させることができ、これにより、プ
ローブ本体３の破損、および回路基板の傷付きを防止す
ることができる。As described above, according to the contact probe 1, the flat plate 14 is disposed on the side of the deformed portion 23 in the probe body 3, and the elastically deformed portion 23 is protruded along the surface 14a of the flat plate 14 during probing. By deforming, the tip of the probe main body 3 can be brought into contact with the original position to be brought into contact. Further, since the tip portion 22 can be prevented from tilting toward the guide plate 14, the probe main body 3 smoothly moves up and down according to the guide of the guide hole 13a. Therefore, the tip of the probe main body 3 can always be brought into contact with the surface X with a constant urging force, thereby preventing the probe main body 3 from being damaged and the circuit board from being damaged.
【００１６】なお、本発明は、上記した本発明の実施の
形態に示した構成に限定されない。例えば、本発明の実
施の形態では、変形部２３の１つの側面が平板１４に接
触可能に構成した例について説明したが、本発明におけ
るコンタクトプローブは、これに限定されず、図４
（ａ）に示すコンタクトプローブ３１のように、本発明
における第２の弾性変形規制板としての平板１４をさら
に配設し、プローブ本体３を挟むようにして、平行状態
でかつ互いに対向するように両平板１４，１４を配置し
てもよい。この場合には、予め規定した向きとは異なる
少なくとも２方向への変形部２３の弾性変形を阻止でき
ると共に、両平板１４，１４に沿って（つまり、予め規
定した向きに沿って）変形部２３を弾性変形させること
ができる。この結果、プローブ本体３のプロービング
（接触位置）精度をさらに向上させることができる。The present invention is not limited to the configuration shown in the embodiment of the present invention. For example, in the embodiment of the present invention, an example in which one side surface of the deformable portion 23 is configured to be able to contact the flat plate 14 has been described. However, the contact probe in the present invention is not limited to this.
As in the contact probe 31 shown in (a), a flat plate 14 as a second elastic deformation restricting plate in the present invention is further provided, and both flat plates are placed in a parallel state and opposed to each other so as to sandwich the probe main body 3. 14, 14 may be arranged. In this case, elastic deformation of the deformable portion 23 in at least two directions different from the predetermined direction can be prevented, and the deformable portion 23 along the flat plates 14, 14 (that is, along the predetermined direction). Can be elastically deformed. As a result, the probing (contact position) accuracy of the probe main body 3 can be further improved.
【００１７】また、本発明の実施の形態では、１つのプ
ローブ保持具２に、１本のプローブ本体３を保持させる
例について説明したが、本発明におけるコンタクトプロ
ーブはこれに限定されず、図４（ｂ）に示すコンタクト
プローブ４１のように、１つのプローブ保持具４２に、
２本のプローブ本体３，３を保持させてもよい。さら
に、本発明の実施の形態では、本発明における第１の弾
性変形規制板としての平板１４を接着剤によってプロー
ブ保持具２の取付部１１に固定した例について説明した
が、本発明は、これに限定されず、取付部１１、プロー
ブ固定部１２、案内部１３および平板１４を一体成形し
てコンタクトプローブを構成することもできる。また、
各部材の材質は、本発明の実施の形態に示したポリアセ
タール樹脂に限定されず、プローブ本体がスムーズに摺
動可能な各種素材を用いて構成することができる。さら
に、本発明の実施の形態では、プローブ本体３の変形部
２３と、平板１４の表面１４ａとの間に極く狭い隙間が
形成される例について説明したが、変形部２３と表面１
４ａとを予め接触させておく構成を採用することもでき
る。また、本発明におけるプローブ本体は、予め曲げ加
工したタイプに限定されず、一直線状タイプのプローブ
本体の上端部２１を圧入用孔１２ａに圧入し、かつ先端
部２２をガイド孔１３ａの縁部に接触させておくことに
より、その一直線状タイプのプローブ本体を座屈させた
状態でプローブ固定部１２に保持させることもできる。Further, in the embodiment of the present invention, an example in which one probe main body 3 is held by one probe holder 2 has been described. However, the contact probe in the present invention is not limited to this. As in a contact probe 41 shown in FIG.
Two probe bodies 3 may be held. Further, in the embodiment of the present invention, an example in which the flat plate 14 as the first elastic deformation restricting plate in the present invention is fixed to the mounting portion 11 of the probe holder 2 with an adhesive has been described. However, the present invention is not limited to this, and the contact probe can be formed by integrally molding the mounting portion 11, the probe fixing portion 12, the guide portion 13, and the flat plate 14. Also,
The material of each member is not limited to the polyacetal resin described in the embodiment of the present invention, and can be configured using various materials that allow the probe body to slide smoothly. Further, in the embodiment of the present invention, an example in which an extremely narrow gap is formed between the deformed portion 23 of the probe main body 3 and the surface 14a of the flat plate 14 has been described.
4a may be adopted in advance. Further, the probe main body in the present invention is not limited to the type that has been bent in advance, and the upper end portion 21 of the linear type probe main body is press-fitted into the press-fitting hole 12a, and the tip end portion 22 is provided at the edge of the guide hole 13a. By keeping the probe body in contact, the probe body of the linear type can be held by the probe fixing portion 12 in a buckled state.
【００１８】[0018]
【発明の効果】以上のように、請求項１記載のコンタク
トプローブによれば、弾性変形状態におけるプローブ本
体の側面が接触した際にプローブ本体に対して接触方向
への弾性変形を阻止する第１の弾性変形規制板を備えた
ことにより、プローブ本体の第１の弾性変形規制板側へ
の弾性変形を阻止することができるため、プロービング
精度を向上させることができる。また、プローブ本体の
先端部が案内部によってスムーズに案内されるため、プ
ローブ本体の破損、およびプロービング対象体の傷付き
を防止することができる。As described above, according to the contact probe of the first aspect, when the side surface of the probe body in the elastic deformation state comes into contact with the probe body, the first deformation preventing the probe body from being elastically deformed in the contact direction. Since the elastic deformation restricting plate is provided, it is possible to prevent the probe body from being elastically deformed toward the first elastic deformation restricting plate, so that the probing accuracy can be improved. Further, since the distal end portion of the probe main body is smoothly guided by the guide portion, it is possible to prevent damage to the probe main body and damage to the probing target body.
【００１９】また、請求項２記載のコンタクトプローブ
によれば、プローブ本体を挟んで第１の弾性変形規制板
に対向するように第２の弾性変形規制板をプローブ保持
具に固定したことにより、第１および第２の弾性変形規
制板によって、予め規定した向きとは異なる２方向への
プローブ本体の弾性変形を阻止することができるため、
プロービング精度をさらに向上させることができる。According to the contact probe of the second aspect, the second elastic deformation restricting plate is fixed to the probe holder so as to face the first elastic deformation restricting plate with the probe body interposed therebetween. Since the first and second elastic deformation restricting plates can prevent elastic deformation of the probe main body in two directions different from the predetermined direction,
Probing accuracy can be further improved.
【図１】本発明の実施の形態に係るコンタクトプローブ
１の外観斜視図である。FIG. 1 is an external perspective view of a contact probe 1 according to an embodiment of the present invention.
【図２】（ａ）はコンタクトプローブ１を側面から見た
断面図、（ｂ）はコンタクトプローブ１を正面から見た
断面図である。2A is a cross-sectional view of the contact probe 1 as viewed from the side, and FIG. 2B is a cross-sectional view of the contact probe 1 as viewed from the front.
【図３】（ａ）はプローブ本体３の先端が回路基板の表
面Ｘに付勢された状態のコンタクトプローブ１を側面か
ら見た断面図、（ｂ）はその状態のコンタクトプローブ
１を正面から見た断面図である。3A is a cross-sectional view of the contact probe 1 in a state where the tip of the probe main body 3 is urged against the surface X of the circuit board, and FIG. 3B is a front view of the contact probe 1 in that state. It is sectional drawing seen.
【図４】（ａ）は本発明の他の実施の形態に係るコンタ
クトプローブ３１の外観斜視図、（ｂ）は本発明のさら
に他の実施の形態に係るコンタクトプローブ４１の外観
斜視図である。FIG. 4A is an external perspective view of a contact probe 31 according to another embodiment of the present invention, and FIG. 4B is an external perspective view of a contact probe 41 according to still another embodiment of the present invention. .
【図５】従来のコンタクトプローブ５１の外観斜視図で
ある。FIG. 5 is an external perspective view of a conventional contact probe 51.
【図６】（ａ）はコンタクトプローブ５１を側面から見
た断面図、（ｂ）はコンタクトプローブ５１を正面から
見た断面図である。6A is a cross-sectional view of the contact probe 51 as viewed from the side, and FIG. 6B is a cross-sectional view of the contact probe 51 as viewed from the front.
【図７】（ａ）はプローブ本体３の先端が回路基板の表
面Ｘに付勢された状態のコンタクトプローブ５１を側面
から見た断面図、（ｂ）はその状態のコンタクトプロー
ブ５１を正面から見た断面図である。FIG. 7A is a cross-sectional view of the contact probe 51 in a state where the tip of the probe main body 3 is urged against the surface X of the circuit board as viewed from the side, and FIG. It is sectional drawing seen.
【図８】（ａ）はプローブ本体３の先端部２２が撓んだ
状態のコンタクトプローブ５１を正面から見た断面図、
（ｂ）はその状態のプローブ本体３の先端部２２の近傍
を正面から見た断面図である。FIG. 8A is a cross-sectional view of a contact probe 51 in a state where a distal end portion 22 of a probe main body 3 is bent, as viewed from the front;
(B) is a cross-sectional view of the vicinity of the distal end portion 22 of the probe main body 3 in that state as viewed from the front.
１ コンタクトプローブ ２ プローブ保持具 ３ プローブ本体 １２ プローブ固定部 １２ａ 圧入用孔 １３ 案内部 １３ａ ガイド孔 １４ 平板 ２１ 後端部 ２２ 先端部 ２３ 変形部 ３１ コンタクトプローブ ４１ コンタクトプローブ ４２ プローブ保持具 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Contact probe 2 Probe holder 3 Probe main body 12 Probe fixing part 12a Press-fit hole 13 Guide part 13a Guide hole 14 Flat plate 21 Rear end 22 Front end 23 Deformation part 31 Contact probe 41 Contact probe 42 Probe holder
Claims (2)
当該プローブ本体における後端部を固定する固定部、お
よび弾性変形状態における前記プローブ本体の先端部を
所定方向に案内する案内部を有するプローブ保持具とを
備えているコンタクトプローブにおいて、 前記プローブ保持具に固定されると共に前記弾性変形状
態における前記プローブ本体の前記後端部および前記先
端部の間の側面が接触した際に当該プローブ本体に対し
て当該接触方向への弾性変形を阻止する第１の弾性変形
規制板を備えていることを特徴とするコンタクトプロー
ブ。1. An elastically deformable linear probe main body,
A contact probe having a fixing portion for fixing a rear end portion of the probe body and a guide portion for guiding a tip portion of the probe body in an elastically deformed state in a predetermined direction; And a first body that prevents elastic deformation in the contact direction with respect to the probe body when the side surface between the rear end and the front end of the probe body in the elastic deformation state comes into contact with each other. A contact probe comprising an elastic deformation restricting plate.
性変形規制板に対向するように前記プローブ保持具に固
定されると共に前記弾性変形状態における前記プローブ
本体の前記側面が接触した際に当該プローブ本体に対し
て当該接触方向への弾性変形を阻止する第２の弾性変形
規制板をさらに備えていることを特徴とする請求項１記
載のコンタクトプローブ。2. When the probe body is fixed to the probe holder so as to face the first elastic deformation restricting plate with the probe body interposed therebetween, and when the side surface of the probe body in the elastic deformation state comes into contact with the first elastic deformation regulating plate, The contact probe according to claim 1, further comprising a second elastic deformation restricting plate for preventing elastic deformation of the probe body in the contact direction.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000156736A JP2001337109A (en) | 2000-05-26 | 2000-05-26 | Contact probe |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000156736A JP2001337109A (en) | 2000-05-26 | 2000-05-26 | Contact probe |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001337109A true JP2001337109A (en) | 2001-12-07 |
Family
ID=18661485
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000156736A Pending JP2001337109A (en) | 2000-05-26 | 2000-05-26 | Contact probe |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001337109A (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010190757A (en) * | 2009-02-19 | 2010-09-02 | Nagoya Institute Of Technology | Load applying mechanism using buckling |
| US7956288B2 (en) | 2005-09-09 | 2011-06-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact and method of manufacturing conductive contact |
| CN102735884A (en) * | 2012-06-21 | 2012-10-17 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | Bracket for measuring head of flying-probe tester and design method of bracket |
-
2000
- 2000-05-26 JP JP2000156736A patent/JP2001337109A/en active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7956288B2 (en) | 2005-09-09 | 2011-06-07 | Nhk Spring Co., Ltd. | Conductive contact and method of manufacturing conductive contact |
| JP2010190757A (en) * | 2009-02-19 | 2010-09-02 | Nagoya Institute Of Technology | Load applying mechanism using buckling |
| CN102735884A (en) * | 2012-06-21 | 2012-10-17 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | Bracket for measuring head of flying-probe tester and design method of bracket |
| CN102735884B (en) * | 2012-06-21 | 2014-09-10 | 深圳市大族激光科技股份有限公司 | Bracket for measuring head of flying-probe tester and design method of bracket |
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