JP2001307351A - 光学ピックアップ装置のトラッキングサーボ方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 記録時における高精度なトラッキングサーボ
を可能にし、記録密度の高密度化を可能にする。 【解決手段】 回折手段３により１つのメインビームＭ
Ｂを中心に少なくとも２対のサイドビーム（少なくとも
４つの１次光ＳＢ、ＳＢ）を形成するようにするととも
に、各サイドビームは、メインビームを中心にそれぞれ
１．５トラックピッチ分のずれが生じるように形成し、
４つのサイドビームのうち光学ディスク６の回転方向に
おいてメインビームの前方に位置するものと後方に位置
するものを組み合わせてサイドプッシュプル信号を生成
し、これら組におけるサイドビームを各別のサイドフォ
トディテクター８ｂ、８ｂに受光してトラッキングエラ
ー検出用の信号として用いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は新規な光学ピックア
ップ装置のトラッキングサーボ方法に関する。詳しく
は、記録可能な光学ディスクのディスクドライブ装置に
も用いられる光学ピックアップ装置において、特に記録
時に高精度なトラッキングサーボを可能にする技術に関
する。

【０００２】

【従来の技術】光学式記録媒体、例えば、ＣＤ（Compac
t Disc）等のディスクドライブ装置におけるトラッキン
グサーボ方式として、ＤＰＰ（Differential Push Pul
l）法が知られている。

【０００３】ＤＰＰ法は、メインビームＭＢと２つのサ
イドビームＳＢ、ＳＢとからそれぞれ得られる各受光素
子の出力信号を演算することにより、トラッキングエラ
ー信号を生成するものである。

【０００４】具体的には、ＤＰＰ法は、レーザ光源から
出射されたビームの往路中に回折手段（グレーティン
グ）を配設し、光学ディスク上に０次回折光（メインビ
ーム）と２つの１次回折光（サイドビーム）の３つのビ
ーム光による各スポットを形成し、これらの戻り光をそ
れぞれのフォトディテクターａ、ｂ、ｂにより受光し
て、メインビームによるメインスポットＭＳを信号の書
き込み又は読み取りに用い、サイドビームによるサイド
スポットＳＳ、ＳＳをトラッキングエラー検出用に用い
る方式である。

【０００５】図７、図９及び図１１に示すように、メイ
ンスポットＭＳを受光するメインフォトディテクターａ
は縦横の４つに分割され、サイドスポットＳＳ、ＳＳを
受光するサイドフォトディテクターｂ、ｂは左右に２つ
に分割されている。尚、各分割素子の出力信号をＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、Ｈで示す。そしてこれらフォ
トディテクターａ、ｂ、ｂからの出力信号間の演算出力
からトラッキングエラー信号が生成される。

【０００６】即ち、メインフォトディテクターａの出力
信号からメインプッシュプル（ＭＰＰ）信号を生成し、
サイドフォトディテクターｂ、ｂの出力信号からサイド
プッシュプル（ＳＰＰ１、ＳＰＰ２）信号を生成し、以
下の演算式で、ディフェレンシャルプッシュプル（ＤＰ
Ｐ）信号が得られる。

【０００７】ＭＰＰ＝（Ｂ＋Ｃ）−（Ａ＋Ｄ） ＳＰＰ１＝Ｅ−Ｆ ＳＰＰ２＝Ｇ−Ｈ ＤＰＰ＝ＭＰＰ−Ｋ・（ＳＰＰ１＋ＳＰＰ２） ∴ＤＰＰ＝（（Ｂ＋Ｃ）−（Ａ＋Ｄ））−Ｋ・（（Ｅ−
Ｆ）＋（Ｇ−Ｈ）） Ｋ：係数。

【０００８】図７は、光学部品等のばらつきがない場合
におけるフォトディテクターａ、ｂ、ｂと各スポットＭ
Ｓ、ＳＳ、ＳＳとの関係を模式的に示し、図８は図７に
おけるＳＰＰ１信号、ＳＰＰ２信号、ＭＰＰ信号、ＤＰ
Ｐ信号の波形を示す。

【０００９】図８から解るように、ＳＰＰ１信号とＳＰ
Ｐ２信号は同相で、ＭＰＰ信号はＳＰＰ１信号及びＳＰ
Ｐ信号２とは逆相で、ＤＰＰ信号はＭＰＰ信号と同相で
それぞれ出力される。

【００１０】図９は、光学部品のばらつき等により各ス
ポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳの間隔がずれている場合（図面
ではスポット間の間隔が広がった場合を示す。）のフォ
トディテクターａ、ｂ、ｂと各スポットＭＳ、ＳＳ、Ｓ
Ｓとの位置関係を模式的に示し、図１０は図９における
ＳＰＰ１信号、ＳＰＰ２信号、ＭＰＰ信号、ＤＰＰ信号
の波形を示す。尚、本図において実線で示すものが、信
号読取時（リード時）の各ＰＰ（プッシュプル）信号で
あり、破線で示すものが後述する信号記録時（ライト
時）のＳＰＰ信号、ＤＰＰ信号である。

【００１１】信号読取時の場合、ＳＰＰ１信号、ＳＰＰ
２信号に正負逆のＤＣオフセットが発生するが、両ＤＣ
オフセット量の絶対値は同じであり、よって、上記演算
式によりこれらＤＣオフセット量がキャンセルされ、Ｄ
ＰＰ信号はＤＣオフセットがない状態で出力されるた
め、オントラック状態を維持することができる（図１０
実線参照）。

【００１２】図１１は、対物レンズ、フォトディテクタ
ー等の位置ずれにより各スポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳが各
フォトディテクターａ、ｂ、ｂ上で一方（図面では右
方）にずれている場合のフォトディテクターａ、ｂ、ｂ
と各スポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳとの位置関係を模試的に
示し、図１２は図１１におけるＳＰＰ１信号、ＳＰＰ２
信号、ＭＰＰ信号、ＤＰＰ信号の波形を示す。尚、本図
において実線で示すものが、信号読取時（リード時）の
各ＰＰ（プッシュプル）信号であり、破線で示すものが
後述する信号記録時（ライト時）の各ＰＰ（プッシュプ
ル）信号である。

【００１３】信号読取時の場合、ＳＰＰ１信号、ＳＰＰ
２信号及びＭＰＰ信号には何れもＤＣオフセットが発生
するが、上記演算式によりこれらＤＣオフセット量がキ
ャンセルされ、ＤＰＰ信号はＤＣオフセットがない状態
で出力されるため、オントラック状態を維持することが
できる。

【００１４】このように、ＤＰＰ方式は、光学部品のば
らつき等により各スポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳの間隔がず
れている場合（図９参照）及び対物レンズ、フォトディ
テクター等の位置ずれにより各スポットＭＳ、ＳＳ、Ｓ
Ｓが各フォトディテクターａ、ｂ、ｂ上で一方にずれて
いる場合（図１１参照）のいずれにおいても、トラッキ
ングエラー信号（ＤＰＰ信号）のＤＣオフセット量を演
算式上でキャンセルすることができるため、信号読取系
の光学ピックアップにおいてはたいへん有効なトラッキ
ングサーボ方式とされている。

【００１５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、光学部品の
ばらつき等により各スポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳの間隔が
ずれている場合（図９参照）や対物レンズ、フォトディ
テクター等の位置ずれにより各スポットＭＳ、ＳＳ、Ｓ
Ｓが各フォトディテクターａ、ｂ、ｂ上で一方にずれて
いる場合（図１１参照）において生じたオフセット量を
キャンセルすることができるのは、上述のように光学デ
ィスクの信号を読み取る場合だけである。

【００１６】即ち、光学式記録媒体、例えば、ＣＤ−Ｒ
（Compact Disc-Recordable）、ＣＤ−ＲＷ（Compact D
isc-ReWritable）等の光ディスクのドライブ装置におい
て、光学部品のばらつき等により各スポットＭＳ、Ｓ
Ｓ、ＳＳの間隔がずれてオフセット量が生じている場合
の信号記録時には、図１０の波形図において破線で示す
ように、ＳＰＰ１信号のＤＣオフセット量１とＳＰＰ２
信号のＤＣオフセット量２とが異なってしまう。具体的
には、ＳＰＰ２信号のオフセット量２はＳＰＰ１信号の
オフセット量１よりも絶対値が小さく発生してしまい最
終出力信号であるＤＰＰ信号に上記演算式ではキャンセ
ルできないＤＣオフセット量３が生じてしまう。

【００１７】また、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等の光ディス
クのドライブ装置において、対物レンズ、フォトディテ
クター等の位置ずれにより各スポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳ
が各フォトディテクターａ、ｂ、ｂ上で一方にずれてオ
フセット量が生じている場合の信号記録時には、図１２
の波形図において破線で示すように、ＳＰＰ１信号のＤ
Ｃオフセット量１′とＳＰＰ２信号のＤＣオフセット量
２′とが異なってしまう。具体的には、ＳＰＰ２信号の
オフセット量２′はＳＰＰ１信号のオフセット量１′よ
りも小さく発生してＤＣレベルが下がってしまい最終出
力信号であるＤＰＰ信号に上記演算式ではキャンセルで
きないＤＣオフセット量３′が生じてしまう。

【００１８】このように、記録時においてはトラッキン
グサーボをかけるとＤＰＰ信号のＤＣオフセット分だけ
ずれが生じ、デトラック状態（トラックから外れた状
態）が生じ、記録特性を悪化させてしまうという問題が
ある。

【００１９】かかる問題は、光学ディスクｃの信号記録
時は一方のサイドビーム（メインビームＭＢに先行する
サイドビーム）ＳＢ１はピットｄ、ｄ、・・・がまった
く形成されていない未記録状態のディスク面にて反射さ
れ、他方のサイドビーム（メインビームＭＢを後追する
サイドビーム）ＳＢ２はピットｄ、ｄ、・・・が形成さ
れた記録状態トラックＴとトラックＴとの間のディスク
面にて反射されるためである（図１１参照）。

【００２０】そして、光学ピックアップ装置において上
記オフセット量を許容範囲内にするためには、光学部品
自体の精度や対物レンズ、フォトディテクター自体の精
度、これらの設置位置精度等を高くしなければならず、
装置のコスト高を招来する。また、記録密度の高密度化
を図るとき、上記ＤＣオフセット量の許容範囲はさらに
狭くしなければならず、結局、光学ピックアップ装置に
あっては、記録密度の高密度化を図ることが困難である
という問題がある。

【００２１】そこで、本発明は、特に記録時における高
精度なトラッキングサーボを可能にし、記録密度の高密
度化を可能にすることを課題とする。

【００２２】

【課題を解決するための手段】本発明光学ピックアップ
装置のトラッキングサーボ方法は、上記した課題を解決
するために、回折手段により１つのメインビームを中心
に少なくとも２対のサイドビーム（少なくとも４つの１
次光）を形成するようにするとともに、各サイドビーム
は、メインビームを中心にそれぞれｎ＋０．５（ｎは０
を除く整数）トラックピッチ分のずれが生じるように形
成し、少なくとの４つのサイドビームのうち光学ディス
クの回転方向においてメインビームの前方に位置するも
のと後方に位置するものであってメインビームに対して
内周側及び／又は外周側に位置するサイドビームを組み
合わせてサイドプッシュプル信号を生成し、これら組に
おけるサイドビームを各別のサイドフォトディテクター
に受光してトラッキングエラー検出用の信号として用い
たものである。

【００２３】従って、本発明光学ピックアップ装置のト
ラッキングサーボ方法によれば、光学ディスクの半径方
向に同じ側に寄ったもの同士のサイドビームによる各フ
ォトディテクターにおけるサイドプッシュプル信号とし
て用いたので、信号記録時においても、サイドプッシュ
プル信号を生成するサイドビームの光学ディスクにおけ
るピットの形成状態（ピットの有無）が同じであるた
め、これらサイドプッシュプル信号に生じるＤＣオフセ
ット量は同じであり、よって、これらサイドビームから
のサイドプッシュプル信号及びメインビームからのメイ
ンプッシュプル信号に基づいて生成したトラッキングエ
ラー信号（ＤＰＰ信号）には、ＤＣオフセット量が生じ
ておらず、高精度なトッラッキングサーボを可能にし、
また、記録密度の高密度化を実現することができる。

【００２４】

【発明の実施の形態】以下に、本発明光学ピックアップ
装置のトラッキングサーボ方法の実施の形態について添
付図面を参照して説明する。

【００２５】図１は、本発明にかかる光学ピックアップ
装置１の光学部品の構成について説明する概略図であ
る。

【００２６】光学ピックアップ装置１は、ビーム光Ｂを
発生するレーザ光源２と該レーザ光源２から出射された
ビーム光Ｂを回折させる回折手段３と、ビーム光Ｂを透
過又は所定の方向に反射させるビームスプリッタ４と、
平行光束を形成するコリメータレンズ５と光学ディスク
６の信号面にビーム光Ｂを集光させる対物レンズ７と、
光学ディスク６からの戻り光を受光するフォトディテク
ター８とを有する。

【００２７】回折手段３はビームＢを１つのメインビー
ムＭＢと２対のサイドビーム（４つの１次光）ＳＢ１−
ｆ、ＳＢ１−ｂ、ＳＢ２−ｆ、ＳＢ２−ｂとに分離す
る。ここでメインビームＭＢは０次光で、サイドビーム
ＳＢは±１次光であり、このように２組の回折光（０次
光と±１次光を１組とする。）を発生させるためには、
例えば２つの回折格子を所定の角度を付けて貼り合わせ
たものやホログラムを用いることができ、０次光は共通
で互いに異なった所定の方向に回折する２組の±１次光
で形成することができる。

【００２８】図２は、記録時における各ビームとピット
との関係を模式的に説明するための光学ディスク６面の
模式図である。

【００２９】そして、図２に示すように、１組の回折光
はそのうち２つのサイドビームＳＢ１−ｆ、ＳＢ１−ｂ
がメインビームＭＢを中心に１．５トラックピッチ分外
周側と内周側とにずれ、かつ、外周側にずれたサイドビ
ームＳＢ１−ｆは光学ディスク６の回転方向においてメ
インビームＭＢよりやや前方に、また、内周側にずれた
サイドビームＳＢ１−ｂは光学ディスク６の回転方向に
おいてメインビームＭＢよりやや後方に集光される。

【００３０】また、別の１組の回折光も同様にそのうち
２つのサイドビームＳＢ２−ｆ、ＳＢ２−ｂがメインビ
ームＭＢを中心に１．５トラックピッチ分内周側と外周
側とにずれ、かつ、内周側にずれたサイドビームＳＢ２
−ｆは光学ディスク６の回転方向においてメインビーム
ＭＢよりやや前方に、また、外周側にずれたサイドビー
ムＳＢ２−ｂは光学ディスク６の回転方向においてメイ
ンビームＭＢよりやや後方に集光される。尚、各組のメ
インビームＭＢは共通となっている。

【００３１】このように、メインビームＭＢの外周側に
ずれたサイドビームＳＢ１−ｆとサイドビームＳＢ２−
ｂはピット９、９、・・・がまったく形成されていない
未記録状態のディスク面にて反射され、また、メインビ
ームＭＢの内周側にサイドビームＳＢ２−ｆとサイドビ
ームＳＢ１−ｂはピット９、９、・・・が形成された記
録状態のトラックＴとトラックＴとの間のディスク面に
て反射される（図２参照）。

【００３２】フォトディテクター８は上記「従来の技
術」で説明したものと同じく、メインフォトディテクタ
ー８ａと２つのサイドフォトディテクター８ｂ、８ｂと
からなり、メインフォトディテクター８ａは縦横の４つ
に分割されメインスポットＭＳを受光し、一方のサイド
フォトディテクター８ｂは上記２組の回折光のうち前後
にそれぞれ２つに形成された前方側のサイドスポットＳ
Ｓ１−ｆ、ＳＳ２−ｆを受光し、他方のサイドフォトデ
ィテクター８ｂは上記２組の回折光のうち前後にそれぞ
れ２つに形成された後方側のサイドスポットＳＳ１−
ｂ、ＳＳ２−ｂを受光する。また、各分割素子の出力信
号は上記従来の技術と同様にＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆ、
Ｇ、Ｈで示す（図３参照）。そしてこれらフォトディテ
クター８ａ、８ｂ、８ｂからの出力信号間の演算出力か
らトラッキングエラー信号を生成する。

【００３３】ここで、上記「発明が解決しようとする課
題」で説明したように、フォトディテクター上の各スポ
ットＭＳ、ＳＳ、ＳＳの間隔がずれている場合（図４参
照）や各スポットＭＳ、ＳＳ、ＳＳがフォトディテクタ
ー８上において一方にずれている場合（図５参照）にあ
っては、信号記録時において、サイドフォトディテクタ
ー８ｂ、８ｂには次のようにサイドスポットＳＳ１−
ｆ、ＳＳ２−ｆ、ＳＳ１−ｂ、ＳＳ２−ｂが集光される
ため、各サイドプッシュプル信号（ＳＰＰ１信号とＳＰ
Ｐ２信号）に生じるＤＣオフセット量が同じになる。

【００３４】即ち、サイドスポットＳＳ１−ｆとＳＳ２
−ｂとは光学ディスク６の未記録部分により反射された
戻り光であるため、これらが各別のプッシュプル信号と
した場合この各別のプッシュプル信号に生ずるＤＣオフ
セット量は同じであり、また、サイドスポットＳＳ２−
ｆとＳＳ１−ｂとは光学ディスク６の記録部分（ピット
９、９、・・・が形成されたトラックＴ間に挟まれた部
分）により反射された戻り光であるため、これらが各別
のプッシュプル信号とした場合この各別のプッシュプル
信号に生ずるＤＣオフセット量（上記未記録部分による
ものとは相違する。）は同じである。

【００３５】そして、一方のサイドフォトディテクター
８ｂに受光されるのは、未記録部分によるサイドスポッ
トＳＳ１−ｆと記録部分によるサイドスポットＳＳ２−
ｆであり、また、他方のサイドフォトディテクター８ｂ
に受光されるのは、未記録部分によるサイドスポットＳ
Ｓ１−ｂと記録部分によるサイドスポットＳＳ２−ｂで
ある。

【００３６】従って、各サイドフォトディテクター８
ｂ、８ｂには、サイドスポットＳＳのそれぞれ異なった
２種類のＤＣオフセット成分が加算されるが、加算され
たオフセット量の合計が同じになり、ＳＰＰ１信号とＳ
ＰＰ２信号とに生じるＤＣオフセット量が同じになる。

【００３７】これにより、上記従来の技術で説明したよ
うに、ＤＣオフセット量が同じＳＰＰ１信号とＳＰＰ２
信号に基づきＤＰＰ信号を演算すれば、上記演算式上で
ＤＣオフセット量をキャンセルすることができ、最終出
力であるＤＰＰ信号にＤＣオフセット量が生ぜず、デト
ラックしない状態で信号の記録を行なうことができる。

【００３８】そして、このように生成されたＤＤＰ信号
によりトラッキングサーボをかけることにより、デトラ
ックせずに光学ディスク６に信号の記録を行なうことが
できる。

【００３９】図６は、本発明光学ピックアップ装置のト
ラッキングサーボ方法の変形例であり、この変形例が上
記実施の形態と相異するところは、各サイドフォトディ
テクター８ｂで受光するサイドスポットＳＳが１つであ
ることである。

【００４０】この変形例で用いられるフォトディテクタ
ー１０は、そのサイドフォトディテクター１０ｂ、１０
ｂがメインフォトディテクター１０ａよりも、内周側又
は外周側に偏倚して配設され、また、４つのサイドスポ
ットＳＳ、ＳＳ、・・・のうち、メインスポットＭＳよ
りも光学ディスク６の内周側又は外周側に寄った２つの
サイドスポットＳＳ、ＳＳをサイドフォトディテクター
１０ｂ、１０ｂに受光する。

【００４１】具体的には、図２におけるサイドスポット
ＳＳ、ＳＳ、・・・のうちメインスポットＭＳより内周
側に位置するサイドスポットＳＢ２−ｆとＳＢ１−ｂを
サイドフォトディテクター１０ｂ、１０ｂにて受光す
る。

【００４２】かかる場合、サイドスポットＳＢ２−ｆと
ＳＢ１−ｂはともに、光学ディスク６の記録部分（ピッ
ト９、９、・・・が形成されたトラックＴ間に挟まれた
部分）により反射された戻り光であるため、これらが各
別のプッシュプル信号とした場合この各別のプッシュプ
ル信号に生ずるＤＣオフセット量は同じである。

【００４３】従って、かかるＤＣオフセット量は上記演
算式でキャンセルすることができるため、これらサイド
スポットＳＢ２−ｆとＳＢ１−ｂのサイドプッシュプル
信号（ＳＰＰ１信号、ＳＰＰ２信号）及びメインビーム
からのメインプッシュプル信号（ＭＰＰ信号）に基づい
て生成したトラッキングエラー信号（ＤＰＰ信号）には
ＤＣオフセット量がキャンセルされており、デトラック
しない状態で信号の記録を行なうことができる。

【００４４】尚、この変形例では、サイドスポットＳ
Ｓ、ＳＳ、・・・のうちメインスポットＭＳより内周側
に位置するものを選択したが、本発明はこれに限らず、
外周側に位置したもの同士を選択するようにしても良
い。

【００４５】また、上記実施の形態及び変形例におい
て、サイドビームのメインビームに対するずれ量を１．
５トラックピッチとしたが、これに限らず、２．５トラ
ックピッチ分、３．５トラックピッチ分でも可能であ
る。

【００４６】尚、上記した実施の形態及び変形例におい
て示した各部の形状及び構造は、何れも本発明を実施す
るに当たっての具体化のほんの一例を示したものにすぎ
ず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈
されることがあってはならいものである。

【００４７】

【発明の効果】以上に記載したところから明らかなよう
に、本発明光学ピックアップ装置のトッラッキングサー
ボ方法は、レーザ光源から出射されたビーム光を回折手
段により１つのメインビームとサイドビームとに分けて
対物レンズを介して光学ディスク上に集光させ、該光学
ディスクの戻り光をフォトディテクターで受光する際
に、メインビームをメインフォトディテクターに受光さ
せて信号の読取用又は記録用及びサーボエラー検出用と
し、サイドビームを各別のサイドフォトディテクターに
それぞれ受光させてトラッキングエラー検出用として用
いる光学ピックアップ装置のトラッキングサーボ方法に
おいて、上記回折手段はメインビームを中心に少なくと
も２対のサイドビーム（少なくとも４つの１次光）を形
成するようにし、各サイドビームは、メインビームを中
心にそれぞれｎ＋０．５（ｎは０を除く整数）トラック
ピッチ分のずれが生じるように形成され、少なくとの４
つのサイドビームのうち光学ディスクの回転方向におい
てメインビームの前方に位置するものと後方に位置する
ものであってメインビームに対して内周側及び／又は外
周側に位置するサイドビームを組み合わせてサイドプッ
シュプル信号を生成し、これら組におけるサイドビーム
を各別のサイドフォトディテクターに受光してトラッキ
ングエラー検出用の信号として用いたことを特徴とす
る。

【００４８】従って、本発明光学ピックアップ装置のト
ラッキングサーボ方法によれば、光学ディスクの半径方
向に同じ側に寄ったもの同士のサイドビームによる各フ
ォトディテクターにおけるサイドプッシュプル信号とし
て用いたので、信号記録時においても、サイドプッシュ
プル信号を生成するサイドビームの光学ディスクにおけ
るピットの形成状態（ピットの有無）が同じであるた
め、これらサイドプッシュプル信号に生じるＤＣオフセ
ット量は同じであり、よって、これらサイドビームから
のサイドプッシュプル信号及びメインビームからのメイ
ンプッシュプル信号に基づいて生成したトラッキングエ
ラー信号（ＤＰＰ信号）には、ＤＣオフセット量が生じ
ておらず、高精度なトッラッキングサーボを可能にし、
また、記録密度の高密度化を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図２乃至図５とともに本発明光学ピックアップ
装置の実施の形態を示すもので、本図は全体の構成を概
略的に示す側面図である。

【図２】記録時のにおける光学ディスク上でのスポット
の配置を模式的に示す図である。

【図３】光学部品のばらつき及び対物レンズ、フォトデ
ィテクター等に位置ずれがない状態におけるフォトディ
テクターとスポットとの関係を模式的に示す図である。

【図４】光学部品等のばらつきがある状態におけるフォ
トディテクターとスポットとの関係を模式的に示す図で
ある。

【図５】対物レンズ、フォトディテクター等に位置ずれ
がある状態におけるフォトディテクターとスポットとの
関係を模式的に示す図である。

【図６】本発明の変形例を示し、光学部品のばらつき及
び対物レンズ、フォトディテクター等に位置ずれがない
状態におけるフォトディテクターとスポットとの関係を
模式的に示す図である。

【図７】対物レンズ、フォトディテクター等に位置ずれ
がない状態におけるフォトディテクターとスポットとの
関係を模式的に示す図である。

【図８】図７における各プッシュプル信号の波形図であ
る。

【図９】光学部品等のばらつきがある状態におけるフォ
トディテクターとスポットとの関係を模式的に示す図で
ある。

【図１０】図９における各プッシュプル信号の波形図で
ある。

【図１１】対物レンズ、フォトディテクター等に位置ず
れがある状態におけるフォトディテクターとスポットと
の関係を模式的に示す図である。

【図１２】図１１における各プッシュプル信号の波形図
である。

【図１３】記録時における各ビームとピットとの関係を
模式的に説明するためのディスク面の模式図である。

【符号の説明】

１…光学ピックアップ装置、Ｂ…ビーム光、ＭＢ…メイ
ンビーム、ＳＢ…サイドビーム、２…レーザ光源、３…
回折手段、５…コリメータレンズ、６…光学ディスク、
７…対物レンズ、８ａ…メインフォトディテクター、８
ｂ…サイドフォトディテクター、ＭＳ…メインスポッ
ト、ＳＳ…サイドスポット、１０ａ…メインフォトディ
テクター、１０ｂ…サイドフォトディテクター

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 丸山 務 東京都品川区北品川６丁目７番35号 ソニ ー株式会社内 Ｆターム(参考） 5D118 AA13 BA01 BB01 CD03 CF05 CG05 CG17 CG24 CG36 CG44 DA35 5D119 AA29 BA01 BB01 EA02 JA22 KA08 KA19

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 レーザ光源から出射されたビーム光を回
   折手段により１つのメインビームとサイドビームとに分
   けて対物レンズを介して光学ディスク上に集光させ、該
   光学ディスクの戻り光をフォトディテクターで受光する
   際に、メインビームをメインフォトディテクターに受光
   させて信号の読取用又は記録用及びサーボエラー検出用
   とし、サイドビームを各別のサイドフォトディテクター
   にそれぞれ受光させてトラッキングエラー検出用として
   用いる光学ピックアップ装置のトラッキングサーボ方法
   において、 上記回折手段はメインビームを中心に少なくとも２対の
   サイドビーム（少なくとも４つの１次光）を形成するよ
   うにし、 各サイドビームは、メインビームを中心にそれぞれｎ＋
   ０．５（ｎは０を除く整数）トラックピッチ分のずれが
   生じるように形成され、 少なくとの４つのサイドビームのうち光学ディスクの回
   転方向においてメインビームの前方に位置するものと後
   方に位置するものであってメインビームに対して内周側
   及び／又は外周側に位置するサイドビームを組み合わせ
   てサイドプッシュプル信号を生成し、 これら組におけるサイドビームを各別のサイドフォトデ
   ィテクターに受光してトラッキングエラー検出用の信号
   として用いたことを特徴とする光学ピックアップ装置の
   トラッキングサーボ方法。