JP2001241934A - 異物検出方法及びプリンタへッドの製造方法 - Google Patents

異物検出方法及びプリンタへッドの製造方法

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JP2001241934A
JP2001241934A JP2000052381A JP2000052381A JP2001241934A JP 2001241934 A JP2001241934 A JP 2001241934A JP 2000052381 A JP2000052381 A JP 2000052381A JP 2000052381 A JP2000052381 A JP 2000052381A JP 2001241934 A JP2001241934 A JP 2001241934A
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distance
workpiece
measuring
film
protective film
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Masanori Kajikawa
真紀 梶川
Takehito Shiba
岳人 柴
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 透明保護フィルムの貼付された樹脂フィルム
の加工位置を正確に測定すると共に、透明保護フィルム
と樹脂フィルムの間に泡や異物が混入した不良品を選別
することができる加工表面の距離測定方法と異物検出方
法およびそれらを用いたオリフィス加工装置を提供する
こと。 【解決手段】 測定ヘッド14で測定した結果を蓄積手
段15に蓄積し、蓄積手段15で蓄積した測定結果が予
め定められている規定値を越えていない場合に、被加工
体10の加工面までの距離を測定して決定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、非接触による距離
測定方法および異物検出方法と、それらを用いたオリフ
ィス加工装置に関する。
【0002】
【従来の技術】OA機器で用いられているインクジェッ
トプリンタは圧電方式のプリンタヘッドが用いられるこ
とが多い。
【0003】この方式では様々な構造のものが存在する
が、その一例の外観斜視図を図12(a)に、その要部
の展開図を図12(b)に示す。すなわち、圧電体基体
41の一端側には個別のインク加圧室42a、42b、
42c…を形成する複数の溝43a、43b、43c…
が一列に並んで櫛歯状に刻設されている。この櫛歯状の
溝43a、43b、43c…の内側面(土手44a、4
4b、44c…の側壁)、すなわち、溝43a、43
b、43c…が刻設されていない箇所の側面にはそれぞ
れ薄膜電極45a、45b、45c…が形成されてい
る。この薄膜電極45a、45b、45c…は、対面す
る一側面が正極で他側面が負極である。また、薄膜電極
45a、45b、45c…には図示しない配線パターン
により電源と制御部が接続されている。なお、正極と負
極は印字パターンによって入れ替わる場合もある。
【0004】また、土手44a、44b、44c…の表
面には接着剤による接着層を介して、タンク枠体47が
接着固定されている。タンク枠体47の開放側はタンク
板48が接着固定されており、このタンク板48とタン
ク枠体47とでインクタンクを形成している。
【0005】一方、圧電体基体41の上面からタンク枠
体47にかけてはインク室天板50が接着固定されてお
り、各インク加圧室42a、42b、42c…に対応す
る位置にはそれぞれインク吐出口51a、51b、51
c…が設けられている。さらに、インク室天板50の上
面にはポリイミドよりなる樹脂フィルム52が貼付され
ており、インク吐出口51a、51b、51c…と対応
する位置には、オリフィス52a、52b、52c…が
それぞれ孔設されている。 このような構成により、図示しない制御部からの制御で
所定の薄膜電極45a、45b、45c…に電圧が選択
的に印加されると、その電圧が印加された薄膜電極45
a、45b、45c…に対応した圧電体が変形してイン
ク加圧室42a、42b、42c…の体積が急激に減少
して狭くなり、インクがオリフィス52a、52b、5
2c…からインク滴として射出されて図示しない紙面に
画素を形成する。
【0006】したがって、インク室天板50に貼付され
た樹脂フィルム52は、インクを吐出するための微細な
オリフィスが孔設され、このオリフィス52a、52
b、52c…が吐出性能を左右する重要な要素となって
いる。すなわち、樹脂フィルム52は、微小なオリフィ
ス52a、52b、52c…を設けるため加工性が良
く、また、インクに直接に接触するため耐インク性が良
いなどの性能を必要とされる。
【0007】従来、それらの性能を満たす材料として、
SUS、ニッケル、Cr、Alなどの金属板や、所望の
厚み材料を簡易に、しかも安価に得られる、ポリイミド
(PI)、PES、PEEK、PEなどの樹脂フィルム
材などが用いられていた。
【0008】一方、近年の記録技術の進歩に伴って高
速,高精細な記録が要求されるようになり、そのため、
オリフィスはその大きさ(オリフィス径)が微小で、か
つ高密度に形成されるようになってきた。この結果、オ
リフィスの加工法も様々な工夫がなされており、特にレ
ーザ光を用いた加工は、微細加工に適しているため、こ
れらのオリフィスの加工にも用いられている。
【0009】ところが、微小なオリフィスの設けられた
樹脂フィルムと、これに対応したインク加圧室とを正確
に接合することは極めて難しく、互いの位置ずれが多々
生じて吐出性能が劣化し記録品質が低下することが起き
ていた。また、接合に際してなんらかの接着剤を用いる
が、位置ずれにより接合時にその接着剤でインク吐出口
を塞いでしまうことも発生していた。このため、最近で
は樹脂フィルムをインク室天板に接合した後で、レーザ
光によってオリフィス加工をする方法がとられるように
なってきている。
【0010】この樹脂フィルムにオリフィスを孔設する
加工では、インク室天板にオリフィスが未だ加工されて
いない樹脂フィルムを接合した後に、圧電体基体に加工
された溝位置を検出して、その結果によって加工装置の
加工ヘッドを位置合わせし、オリフィスを加工してい
る。
【0011】また、樹脂フィルムは表面の保護のため
に、12μm程度の厚さの透明保護フィルムが表面に貼
付されている。そのため、レーザ光でインク室天板に高
精度にオリフィスを加工するためには、レーザ光の焦点
を加工面に合わせるために、樹脂フィルムの加工面の位
置を測定する必要がある。その手段として、樹脂フィル
ムの加工面を傷つけずに測定できる、非接触の光学式変
位センサを用いて、樹脂フィルムの加工を施す表面の位
置の測定を行っていた。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような樹脂フィルムの加工位置の測定方法では、樹脂フ
ィルムの表面(加工面)に透明保護フィルムが貼付され
ているため、レーザ光による加工を施す位置の加工面を
正しく測定できないという不具合が生じていた。
【0013】また、樹脂フィルムの加工面と透明フィル
ムの間に泡や異物が混入していた場合、加工位置がずれ
て加工精度が低下するため、そのような樹脂フィルム
は、インクジェットのヘッドとして用いるのが不適切で
あるため、加工しないように不良品として排除する必要
があった。
【0014】本発明はこれらの事情にもとづいてなされ
たもので、透明保護フィルムの貼付された樹脂フィルム
の加工位置を正確に測定すると共に、透明保護フィルム
と樹脂フィルムの間に泡や異物が混入した不良品を選別
することができる加工表面の距離測定方法と異物検出方
法及びそれらを用いたオリフィス加工装置を提供するこ
とを目的としている。
【0015】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明による手
段によれば、被加工体の加工面上の複数点における各点
までの距離を測定する第1の測定工程と、この第1の測
定工程により得られた距離と、予め設定された第1の規
定値とを比較する第1の比較工程と、前記加工面に設け
られたフィルム表面上の複数点における各点までの距離
を測定する第2の測定工程と、この第2の測定工程によ
り得られた距離と、予め設定された第2の規定値とを比
較する第2の比較工程と、前記第1及び第2の比較工程
の結果に基づき、前記被加工体の加工面と前記フィルム
との間の異物を検出する工程とを有することを特徴とす
る異物検出方法である。
【0016】また請求項2の発明による手段によれば、
被加工体の加工面上の所定の点までの距離を測定する第
1の測定工程と、前記加工面上の所定の点と対応する前
記加工面に設けられたフィルム表面までの距離を測定す
る第2の工程と、前記第1及び第2の工程により得られ
た距離に基づき前記加工面上の点と前記フィルム表面上
の点との間の距離を算出する算出工程と、この算出工程
により算出された値と予め設定したフィルム厚規定値と
を比較し、前期加工面と前記フィルム間の異物を検出す
る工程とを有することを特徴とする異物検出方法であ
る。
【0017】また請求項3の発明による手段によれば、
複数のインク溝が形成されたプリンタヘッド筐体におけ
る少なくとも前記インク溝を構成する土手の頂部に接着
剤を塗布する工程と、前記接着剤を介して前記プリンタ
へッド筐体に天板を接着する工程と、前記天板上に高分
子材料からなる被加工体を貼り付ける工程と、前記被加
工体の加工面上に保護フィルムを貼り付ける工程と、前
記プリンタへッド撞体を前記土手に対向した方向から撮
像手段で撮像する工程と、レーザ光を所定のビーム形状
に成形する工程と、撮像結果に基づき前記被加工体の位
置合せを行う工程と、位置合せされた前記被加工体上の
前記保護フィルムに前記レーザ光を結像させる工程と、
前記被加工体に前記レーザ光によりオリフィスを形成す
る工程とを有するプリンタヘッドの製造方法において、
前記被加工面の加工面までの距離を測定する第1の測定
工程と、前記保護フィルム表面までの距離を測定する第
2の測定工程と、前記第1及び第2の測定工程により得
られた距離に基づき前記レーザ光の結像位置を決定する
工程とを有することを特徴とするプリンタへッドの製造
方法である。
【0018】また請求項4の発明による手段によれば、
複数のインク溝が形成されたプリンタヘッド筐体におけ
る少なくとも前記インク溝を構成する土手の頂部に接着
剤を塗布する工程と、前記接着剤を介して前記プリンタ
へッド筐体に天板を接着する工程と、前記天板上に高分
子材料からなる被加工体を貼り付ける工程と、前記被加
工体の加工面上に保護フィルムを貼り付ける工程と、前
記プリンタへッド筐体を前記土手に対向した方向から撮
像手段で撮像する工程と、レーザ光を所定のビーム形状
に成形する工程と、撮像結果に基づき前記被加工体の位
置合せを行う工程と、位置合せされた前記被加工体上の
前記保護フィルムに前記レーザ光を結像させる工程と、
前記被加工体に前記レーザ光によりオリフィスを形成す
る工程とを有するプリンタヘッドの製造方法において、
前記被加工面の加工面までの距離を測定する第1の測定
工程と、前記保護フィルム表面までの距離を測定する第
2の測定工程と、前記第1及び第2の測定工程により得
られた距離に基づき前記加工面と前記保護フィルム間の
異物を検出する工程とを有することを特徴とするプリン
タヘッドの製造方法である。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
【0020】図1(a)は本発明の製造方法によって製
造されたプリンタヘッドの外観斜視図で、その要部の展
開図を図1(b)に示す。また、図2はその側面断面図
である。
【0021】すなわち、圧電体基体1の一端側には個別
のインク加圧室2a、2b、2c…を形成する複数の溝
3a、3b、3c…が一列に並んで櫛歯状に刻設されて
いる。この櫛歯状の溝3a、3b、3c…の内側面(土
手4a、4b、4c…の側壁)、すなわち、溝3a、3
b、3c…が刻設されていない箇所の側面にはそれぞれ
薄膜電極5a、5b、5c…が形成されている。この薄
膜電極5a、5b、5c…は、対面する一側面が正極で
他側面が負極である。また、薄膜電極5a、5b、5c
…には図示しない配線パターンにより電源と制御部が接
続されている。なお、正極と負極は印字パターンによっ
て入れ替わる場合もある。
【0022】また、土手4a、4b、4c…の表面には
接着剤による接着層を介して、タンク枠体7が接着固定
されている。タンク枠体7の開放側はタンク板8が接着
固定されており、このタンク板8とタンク枠体7とでイ
ンクタンク9を形成している。
【0023】一方、圧電体基体1の上面からタンク枠体
7にかけてはインク室天板10が接着固定されており、
このインク室天板10の各インク加圧室2a、2b、2
c…と対応する位置にはそれぞれインク吐出口11a、
11b、11c…が設けられている。さらに、インク室
天板10の上面にはポリイミドよりなる樹脂フィルム1
2が貼付されており、インク吐出口11a、11b、1
1c…と対応する位置には、オリフィス12a、12
b、12c…がそれぞれ孔設されている。なお、オリフ
ィス12a、12b、12c…は、吐出口面が不用なイ
ンクや結露等によって濡れることのないため、あるいは
インクの浸み込みを防止するため撥水性を有することが
望まれているのでポリイミド(PI)製で厚さが50μ
m程度有している。 この樹脂フィルム12へのオリフィスの加工は、オリフ
ィス12a、12b、12c…が未だ孔設されていない
樹脂フィルム12をインク室天板10の上面に接着す
る。なお、インク室天板10は、タンク枠7の上面まで接
着してインク加圧室2a、2b、2c…とインクタンク
9の上面を封止している。この状態で、圧電体基体1、
タンク枠体7、インク室天板10と樹脂フィルム12と
が一体物として形成される。
【0024】また、樹脂フィルム12の上表面にはレー
ザで加工する際に、加工時のごみがPI(樹脂フィルム
12)へ付着するのを防ぐため、オリフィス12a、1
2b、12c…を加工する段階では厚さが12μm程度
の透明保護フィルム17が貼付されている。このため、
実際にレーザ光によりオリフィス12a、12b、12
c…を加工する際には、加工面である樹脂フィルム12
の上面の位置を正確に測定する必要がある。
【0025】樹脂フィルム12に孔設されるオリフィス
12a、12b、12c…の断面形状は図3に示すよう
に、レーザ光の入射側である上面側の径が28μm±1
μmであり、厚さが50μmの樹脂フィルム12の板厚
内でレーザ光が広がるテーパ角度が12度±1度であ
る。したがって、図4に示すように、オリフィス12
a、12b、12c…の径とテーパ角度が所定範囲内に
入るように、加工用レーザ光の焦点面に対して、加工面
である樹脂フィルム12の表面を±5μm以下の精度で
位置決めする必要がある。
【0026】次に、透明保護フィルムが貼付された状態
での、樹脂フィルムの加工面の、非接触式による測定方
法と測定装置とおよび異物検出方法について説明する。
【0027】図5は、非接触式の距離の測定装置の構造
を示す模式図で、被測定体である透明保護フィルム17
が貼付された樹脂フィルム12を載置し水平方向に移動
する移動テーブル13が設けられ、この移動テーブル1
3の上方には、透明保護フィルム17までの距離と樹脂
フィルム12の加工面までの距離を測定するレーザ変位
センサを取付けた距離測定手段14が設けられている。
この距離測定手段14は被測定体へ向かう方向と、被測
定体に対して平行な方向に精密な位置決め精度で移動す
る移動手段(不図示)に取付けられている。
【0028】レーザ変位センサは、「共焦点の原理」を
利用したもので、レンズの焦点距離を測長する変位計で
ある。透明保護フィルム17が貼付された樹脂フィルム
12のように多層構造のものでは、複数の光量ピーク
(焦点が合った位置)が現れる。特に、透明保護フィル
ム17の上面と樹脂フィルム12の上面とに強いピーク
が現れる。したがって、このピークの位置によって透明
保護フィルム17の上面と樹脂フィルム12の上面との
位置を知ることができる。なお、使用するレーザ光の波
長は670nmで、最小スポット径は約2μmで、分解
能は0.1μmのものを用いている。
【0029】なお、距離測定手段14には、測定した結
果を蓄積する蓄積手段15と、蓄積した測定結果が規定
値を越えている場合に加工面までの距離を測定できる位
置を探すように制御する制御手段16が接続されてい
る。
【0030】図6は、距離測定手段14で測定する際の
原理の説明図で、透明保護フィルム17の表面までの距
離がd2、樹脂フィルム12の表面までの距離がd1、
d1とd2の差が透明フィルムの厚さDになる。
【0031】以下に、図6に示した原理を用いた測定に
ついて説明する。
【0032】図7は、距離測定方法の説明図で、透明保
護フィルム17の貼付された樹脂フィルム12である対
象物を移動させる方向をk、オリフィス12a、12
b、12c…を加工する、隣り合う位置での樹脂フィル
ム12の表面までの距離d1との差をhとしたとき、樹
脂フィルム12の表面のばらつきの範囲がX(規定値と
する)である場合、差hが樹脂フィルム12の表面のば
らつきの範囲Xを越えているかを判定し、差hが樹脂フ
ィルム12の表面のばらつきの範囲Xを越えていない場
合に、樹脂フィルム12の加工面までの距離を測定して
求める。
【0033】図8では透明保護フィルム17の厚さばら
つきの範囲がYである場合である。透明保護フィルム1
7の表面までの距離d2、樹脂フィルム12の表面まで
の距離d1から求めた厚さDが透明保護フィルム17の
厚さばらつきの範囲Yを越えているかを判定して、厚さ
Dが透明保護フィルム17の厚さばらつきの範囲Yを越
えていない場合に、樹脂フィルム12の加工面までの距
離を測定して求める。
【0034】図9及び図10は、異物検出方法を説明す
る説明図で、透明保護フィルム17の貼付された樹脂フ
ィルム12である対象物を移動させる方向をk、隣り合
う位置での透明保護フィルム17表面までの距離d1の
差がI、透明保護フィルム17表面のばらつきの範囲が
Zである。差Iが透明保護フィルム17表面のばらつき
の範囲Zを越えているかを判定する。図9に示すように
差Iが透明保護フィルム17表面のばらつきの範囲Zを
越えていない場合は、異物は存在しないと判断する。一
方、図10に示すように差Iが透明保護フィルム17表
面のばらつきの範囲Zを越えている場合は、異物Pは存
在すると判断する。
【0035】次に、上述の測定法を用いた具体例を説明
する。なお、各具体例での符号は、図5から図10で用
いたものと同様である。
【0036】(具体例1)透明保護フィルム17の貼付
された樹脂フィルム12である対象物を移動テーブル1
3に取り付け、距離測定手段14で透明保護フィルム1
7の表面までの距離d2と、樹脂フィルム12の加工面
までの距離d1を測定する。
【0037】測定結果を蓄積手段15へ蓄積し、その結
果が規定値を越えていなければ、その位置で加工する。
もし、その結果が規定値を越えていれば、制御手段10
で移動テーブル13を移動させながら、樹脂フィルム1
2の加工面までの距離を測定できる位置を加工位置の近
傍で探す。
【0038】(具体例2)樹脂フィルム12の表面まで
の距離dlを測定し、移動テーブル13を一定量移動さ
せ、隣り合う吐出口11a、11b、11c…と対応す
る樹脂フィルム12の表面までの距離dlを測定す
る。測定した距離dlと距離dlとの差hを蓄積
手段15へ蓄積する。一定方向kへ移動させながら測定
を繰り返し、差h〜hを蓄積する。差h〜h
規定値である樹脂フィルム12の表面のばらつきXの範
囲を越えた場合、樹脂フィルム12の加工面までの距離
を測定できる位置を探す。一方、Xの範囲を越えなかっ
た場合、測定した測定距離d1 〜d1の平均値を、
樹脂フィルム12の加工面までの距離とする。
【0039】(具体例3)透明保護フィルム17表面ま
での距離d2と樹脂フィルム12の表面までの距離d1
を測定し、蓄積手段15へ蓄積する。距離d2と距離d
1から求めた透明保護フィルム17の厚さDが、規定値
である透明保護フィルム17の厚さのはらつきYの範囲
を越えた場合、対象物の測定位置を移動させて測定可能
な位置を探す。越えなかった場合、このとき測定した測
定距離d1を樹脂フィルム12の加工面までの距離とす
る。
【0040】(具体例4)透明保護フィルム17の表面
までの距離d2を測定し、移動テーブル13を一定量
移動させ、隣り合う吐出口11a、11b、11c…と
対応する透明保護フィルム17表面までの距離d2
測定する。距離d2と距離d2を蓄積手段15へ蓄
積し、距離d2と距離d2の差jが透明保護フィル
ム17表面のはらつきの範囲Zを越えた場合、制御手段
16で異物を検出したと判定して報知する。
【0041】次に、オリフィス加工装置の一例について
説明すると、図11に要部を模式的に示すように、XY
テーブル25上にZ軸方向にボールねじ26により上下
動方向に微動自在な保持台27が設けられている。保持
台27には被加工物28を固定する取付部29と、この
取付部29に取付けられた被加工物28を形成している
図1で示した圧電体基体1の土手4a、4b、4c…に
対面する位置に45度に傾斜した反射ミラー30が設け
られている。一方、反射ミラー30の光軸上の上方には
位置検出用のCCDカメラ31が設けられ、このCCD
カメラ31と固定の位置関係が保たれたレーザ測定・加
工ヘッド32が設けられている。このレーザ測定・加工
ヘッド32は、ヘッド部に距離測定ヘッドと加工ヘッド
が隣接して並設されている。距離測定ヘッドには図5で
示した蓄積手段15と制御手段16が接続され、また、
加工ヘッドは図示しない整形光学系を介してレーザ発振
器(不図示)に光学パスが導かれている。
【0042】これらの構成により、レーザ測定・加工ヘ
ッド32で、まず、樹脂フィルム12の加工位置を測定
して、その結果に応じてボールねじ26により上下動方
向に微動自在な保持台を微動させ、Z軸方向のレーザ測
定・加工ヘッド32と樹脂フィルム12の加工距離を固
定する。次に、溝3a、3b、3c…位置の検出結果に
基づいて、CCDカメラ31と予め所定位置関係で固定
されているレーザ測定・加工ヘッド32のレーザ加工ヘ
ッドから、図示しないレーザ発振器から出射し、所定の
ビーム形状に整形されたエキシマレーザ光を照射して樹
脂フィルム12上に結像させてオリフィス12a、12
b、12c…を加工する。
【0043】上述のように本発明によれば、まず、加工
面に透明フィルムを貼り付けた対象物を移動手段に取り
付け、一定方向に移動させながら、透明フィルムまでの
距離と加工面までの距離を測定し、その測定結果を蓄積
する。次に、蓄積した測定結果が規定値を越えている場
合には、加工面までの距離を測定できる位置を探すよう
に制御して、規定値内で加工の行える位置を探索し、そ
れに基づいて加工を行う。したがって、常に正確な加工
を行うことができる。
【0044】また、同様に、測定結果を蓄積した値と規
定値とを比較して、異物の有無を正確に判定し、異物が
存在する場合は不良品として排除することができる。
【0045】
【発明の効果】本発明によれば、透明保護フィルムで覆
われた被加工体の加工面までの距離を正確に測定でき
る。
【0046】また、被加工体と加工面と透明保護フィル
ムの間に異物が存在する場合は、それを正確に検出する
ことができる。
【0047】また、それらを用いたオリフィス加工装置
は正確にオリフィスを加工することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)本発明の製造方法によって製造されたプ
リンタヘッドの外観斜視図、(b)はその展開図。
【図2】本発明の製造方法によって製造されたプリンタ
ヘッドの側面断面図。
【図3】オリフィスの断面図。
【図4】加工用レーザ光との焦点面と加工面との説明
図。
【図5】非接触式の距離の測定装置の構造を示す模式
図。
【図6】距離測定方法の原理説明図。
【図7】距離測定の一例の説明図。
【図8】距離測定の一例の説明図。
【図9】異物検出の説明図。
【図10】異物検出の説明図。
【図11】本発明の加工装置の模式図。
【図12】(a)プリンタヘッドの外観斜視図、(b)
はその展開図。
【符号の説明】
1…圧電体基体、10…インク室天板、12…樹脂フィ
ルム、12a、12b、12c…オリフィス、17…透
明保護フィルム、14…距離測定手段、15…蓄積手
段、16…制御手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) B41J 2/135 G01B 11/00 C G01B 11/00 B23K 101:36 B41J 3/04 103H // B23K 101:36 103N Fターム(参考) 2C057 AF93 AG02 AG12 AP02 AP13 AP23 AP25 AP77 AP82 AQ03 2F065 AA02 AA03 AA06 AA07 AA49 BB01 BB22 DD13 FF04 FF10 FF44 GG04 HH04 JJ01 JJ03 JJ15 JJ26 LL12 MM03 PP12 QQ13 TT03 2F069 AA03 AA60 AA99 DD13 GG71 GG77 HH09 JJ12 NN12 4E068 AF00 CA11 CA17 DA09

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被加工体の加工面上の複数点における各
    点までの距離を測定する第1の測定工程と、 この第1の測定工程により得られた距離と、予め設定さ
    れた第1の規定値とを比較する第1の比較工程と、 前記加工面に設けられたフィルム表面上の複数点におけ
    る各点までの距離を測定する第2の測定工程と、 この第2の測定工程により得られた距離と、予め設定さ
    れた第2の規定値とを比較する第2の比較工程と、 前記第1及び第2の比較工程の結果に基づき、前記被加
    工体の加工面と前記フィルムとの間の異物を検出する工
    程とを有することを特徴とする異物検出方法。
  2. 【請求項2】 被加工体の加工面上の所定の点までの距
    離を測定する第1の測定工程と、 前記加工面上の所定の点と対応する前記加工面に設けら
    れたフィルム表面までの距離を測定する第2の工程と、 前記第1及び第2の工程により得られた距離に基づき前
    記加工面上の点と前記フィルム表面上の点との間の距離
    を算出する算出工程と、 この算出工程により算出された値と予め設定したフィル
    ム厚規定値とを比較し、前期加工面と前記フィルム間の
    異物を検出する工程とを有することを特徴とする異物検
    出方法。
  3. 【請求項3】 複数のインク溝が形成されたプリンタヘ
    ッド筐体における少なくとも前記インク溝を構成する土
    手の頂部に接着剤を塗布する工程と、前記接着剤を介し
    て前記プリンタへッド筐体に天板を接着する工程と、前
    記天板上に高分子材料からなる被加工体を貼り付ける工
    程と、前記被加工体の加工面上に保護フィルムを貼り付
    ける工程と、前記プリンタへッド撞体を前記土手に対向
    した方向から撮像手段で撮像する工程と、レーザ光を所
    定のビーム形状に成形する工程と、撮像結果に基づき前
    記被加工体の位置合せを行う工程と、位置合せされた前
    記被加工体上の前記保護フィルムに前記レーザ光を結像
    させる工程と、前記被加工体に前記レーザ光によりオリ
    フィスを形成する工程とを有するプリンタヘッドの製造
    方法において、 前記被加工面の加工面までの距離を測定する第1の測定
    工程と、前記保護フィルム表面までの距離を測定する第
    2の測定工程と、前記第1及び第2の測定工程により得
    られた距離に基づき前記レーザ光の結像位置を決定する
    工程とを有することを特徴とするプリンタへッドの製造
    方法。
  4. 【請求項4】 複数のインク溝が形成されたプリンタヘ
    ッド筐体における少なくとも前記インク溝を構成する土
    手の頂部に接着剤を塗布する工程と、前記接着剤を介し
    て前記プリンタへッド筐体に天板を接着する工程と、前
    記天板上に高分子材料からなる被加工体を貼り付ける工
    程と、前記被加工体の加工面上に保護フィルムを貼り付
    ける工程と、前記プリンタへッド筐体を前記土手に対向
    した方向から撮像手段で撮像する工程と、レーザ光を所
    定のビーム形状に成形する工程と、撮像結果に基づき前
    記被加工体の位置合せを行う工程と、位置合せされた前
    記被加工体上の前記保護フィルムに前記レーザ光を結像
    させる工程と、前記被加工体に前記レーザ光によりオリ
    フィスを形成する工程とを有するプリンタヘッドの製造
    方法において、 前記被加工面の加工面までの距離を測定する第1の測定
    工程と、前記保護フィルム表面までの距離を測定する第
    2の測定工程と、前記第1及び第2の測定工程により得
    られた距離に基づき前記加工面と前記保護フィルム間の
    異物を検出する工程とを有することを特徴とするプリン
    タヘッドの製造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1318177C (zh) * 2002-12-13 2007-05-30 株式会社迪斯科 激光加工方法
US7648221B2 (en) 2006-10-30 2010-01-19 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha Droplet ejecting apparatus and thickness estimating method
JP2011033372A (ja) * 2009-07-30 2011-02-17 Mitsutoyo Corp 変位計の測定方法
EP2574983A1 (fr) * 2011-09-30 2013-04-03 Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives Procédé et dispositif de lithographie
US8530781B2 (en) 2008-12-09 2013-09-10 Kabushiki Kaisha Toshiba Processing apparatus

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