JP2001221815A - ホ−ル素子を備えた電流検出装置 - Google Patents

ホ−ル素子を備えた電流検出装置

Info

Publication number
JP2001221815A
JP2001221815A JP2000028047A JP2000028047A JP2001221815A JP 2001221815 A JP2001221815 A JP 2001221815A JP 2000028047 A JP2000028047 A JP 2000028047A JP 2000028047 A JP2000028047 A JP 2000028047A JP 2001221815 A JP2001221815 A JP 2001221815A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
current path
path forming
forming conductor
conductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000028047A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3230580B2 (ja
Inventor
Hiroichi Goto
博一 後藤
Akira Hasegawa
晃 長谷川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sanken Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanken Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sanken Electric Co Ltd filed Critical Sanken Electric Co Ltd
Priority to JP2000028047A priority Critical patent/JP3230580B2/ja
Publication of JP2001221815A publication Critical patent/JP2001221815A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3230580B2 publication Critical patent/JP3230580B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ホール素子を使用して大電流を容易に検出す
ることが困難であった。 【解決手段】 U字状電流通過形成用導体4と樹脂成形
体5とから成る第1の部品1を設ける。ホール素子を含
む半導体チップ20が固着された支持板21とリード端
子22〜25と樹脂成形体30とから成る第2の部品2
を設ける。第1及び第2の部品1,2を接着して電流検
出装置とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する分野】本発明は、ホ−ル素子を備えた電
流検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ホ−ル素子は、ここに印加される磁界に
正比例した電圧即ちホ−ル電圧を発生する。従って、ホ
−ル素子を電流通路に沿って配置すると、電流通路を流
れる電流に比例して発生する磁界がホ−ル素子に作用
し、ホ−ル素子から電流に比例した電圧を得ることがで
きる。電流通路の電流の検出感度を高めるためには、電
流通路をホ−ル素子に出来る限り接近させた方が良い。
この目的のために、本件出願人はPCT/JP99/0
5408において、ホ−ル素子を含む半導体基体の上面
に絶縁膜を介して被検出電流が流れる導体層を設けた半
導体装置を提案した。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記構造の
半導体装置において、導体層に10A程度の電流を流す
ことはできるが、これよりも大きな電流(例えば100
A程度)を流すことは困難である。
【0004】そこで、本発明の目的は、比較的大きな電
流を検出することができるホ−ル素子を備えた電流検出
装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、上記
目的を達成するための本発明は、 電気回路の電流を検
出するための装置であって、ホ−ル素子と前記ホ−ル素
子を支持する金属製支持板と前記ホ−ル素子を外部に接
続するための複数のリ−ド端子と被検出電流を流すため
の電流通路形成用導体と絶縁性包囲体とを備え、前記電
流通路形成用導体はここに流れる電流に基づいて発生す
る磁界を前記ホ−ル素子に作用させることができる位置
に配置され、前記絶縁物包囲体は、前記ホ−ル素子と前
記支持板と前記複数のリ−ド端子と前記電流通路形成用
導体とを一体化するように配置されていることを特徴と
する電流検出装置に係わるものである。
【0006】なお、請求項2に示すように、電流通路形
成用導体は平面的に見て、U字状電流通路を形成するも
のであることが望ましい。また、請求項3に示すよう
に、電流通路を狭めるための補助溝を形成することが望
ましい。また、請求項4に示すように、電流通路形成用
導体と支持板との間にホ−ル素子を配置することが望ま
しい。また、請求項5に示すように支持板の電流通路形
成用導体に対向しない主面にホ−ル素子を配置すること
もできる。また、請求項6に示すように、電流通路形成
用導体を被覆する第1の樹脂成形体と、ホ−ル素子と支
持板と複数のリ−ド端子とを被覆する第2の樹脂成形体
とを独立に形成し、これらを接着することが望ましい。
また、請求項7に示すように少なくとも接着層の一部に
沿って絶縁シ−トを設けることが望ましい。また、請求
項8に示すように、第1の樹脂成形体に、第2の樹脂成
形体の位置決め部分を設けることが望ましい。また、請
求項9に示すように、U字状電流通路形成用導体の中間
部分の両主面に樹脂成形体を設けることが望ましい。ま
た、請求項10に示すように、ホ−ル素子形成用半導体
基体に増幅器を形成することが望ましい。また、請求項
11及び12に示すように、電流検出の感度を高めるた
めに第1及び第2のホ−ル素子を設けることができる。
【0007】
【発明の効果】各請求項の発明によれば次の効果が得ら
れる。 (1) ホール素子と一体的に電流通過形成用導体を設
けたので、ホール素子に接近させて例えば100Aのよ
うな大電流を流すことが可能になり、且つ両者の位置関
係を予め高精度に設定することができ、大電流の検出を
高精度に行うことができる。 (2) ホール素子と支持板とリード端子と電流通路形
成用導体とが一体化されているので、電気回路に対する
接続及び配置が容易になる。また、請求項2の発明によ
れば、導体に溝によってU字状の電流通過が形成されて
おり、平面的に見てこのU字状電流通路の中にホール素
子の主動作領域が配置されているので、ホール素子に対
して作用する磁束の数が多くなり、電流の検出感度が高
くなる。また、請求項3の発明によれば、導体に補助溝
を設けて電流通路を狭めているので、放熱性及び機械的
強度を高めるために導体を比較的幅広に形成したにも拘
らず、電流を集中的に流すことができ、ホール素子に対
して有効に作用する磁束を増大させることができる。ま
た、請求項4の発明によれば、支持板と電流通路形成用
導体との間にホール素子が配置されているので、支持板
がホール素子のシールド層として機能し、外部からの不
要電界ノイズを低減することができる。また、請求項5
の発明によれば、電流通路形成用導体とホ―ル素子との
間に支持板が配置されているので、電流通路形成用導体
からの静電ノイズを低減することができる。また、請求
項6の発明によれば、電流通路形成用導体のための第1
の樹脂成形体と、ホール素子のための第2の樹脂成形体
との組み合せで絶縁性包囲体を構成するので、支持板及
び外部リード端子を電流通路形成用導体によって制限さ
れずに形成することが可能になり、コストの低減を図る
ことができる。また、それぞれを別の製造工程で正確且
つ能率的に形成することができる。また、請求項7の発
明によれば、絶縁シ−トを挟むことにより、電流通路形
成導体とホ−ル素子の絶縁耐圧を向上できる。また、請
求項8の発明によれば、第1及び第2の樹脂成形体の組
み合せであるにも拘らず、両者の位置関係を正確に設定
することができる。また、請求項9の発明によれば、電
流通路形成用導体に溝が設けられているにも拘らず、樹
脂成形体を設けたので、機械的に安定した電流通路を提
供することができる。また、請求項10の発明によれ
ば、電流検出装置の小型化を達成することができる。ま
た、請求項11及び12の発明によれば、電流検出感度
の向上及び耐ノイズ性の向上を図ることができる。
【0008】
【実施形態及び実施例】次に、図1〜図16を参照して
本発明の実施形態及び実施例を説明する。
【0009】
【第1の実施例】図1〜図11に示す第1の実施例の電
流検出装置は、図4に示す第1の部品1と第2の部品2
とを図2に示すように接着層3で相互に結合したものか
ら成る。
【0010】第1の部品1は、被測定電流即ち被検出電
流を流すための電流通路形成用導体4と、絶縁物包囲体
としての第1の樹脂成形体5とから成る。
【0011】電流通路形成用導体4は、例えば100A
程度の電流を流すことができる比較的厚い銅板にニッケ
ルメッキ層を設けた金属板をプレス加工したものであ
り、平面的に見て図7に示すように全体としてU字状に
形成され、溝6を介して並置された第1及び第2の部分
7、8と、第1及び第2の部分7、8の一方の端を相互
に連結するように配置された第3の部分9とを有してい
る。帯状に延びている第1及び第2の部分7、8は、図
7で破線で区画して示すように第1及び第2の端子部分
7a、8aと、これ等よりも幅が狭い中間部分7b、8
bと、第1及び第2のホール素子隣接部分7c、8cと
を有する。第1及び第2の端子部分7a、8aには、こ
の導体4を電気回路に直列に接続するための貫通孔10
a、10bが設けられている。従って、第1及び第2の
端子部分7a、8aは電気回路導体(図示せず)に対し
てビスで固定される。導体4の第1及び第2のホール素
子隣接部分7c、8cには、この外周縁から内側に向う
ように切り込み溝11a、11b、11c、11dが形
成されている。この溝11a〜11dは電流通路を溝6
寄りに狭める働き、及び樹脂成形体5との噛み合いを強
めて結合強度を向上させる働きを有する。第3の部分9
にも切り込み溝11e、11fが形成されている。この
溝11e、11fも電流通路を溝6寄りに狭める働きを
有する。また、第3の部分9には樹脂成形体5との噛み
合いを強めて結合強度を向上させるために2つの貫通孔
12a、12bが設けられている。
【0012】第1の樹脂成形体5は、導体4の機械的安
定性の向上及び電気的絶縁及び第2の部品2の位置決め
のために設けられている。更に詳細には、導体4の第1
及び第2の中間部分7b、8bの大部分と第1及び第2
のホール素子隣接部分7c、8c及び第3の部分9の一
方の主面(下面)を覆い且つ溝6、11a、11b、1
1c、11d、11e、11f及び貫通孔12a、12
bに充填されている第1の樹脂部分5aと、第1及び第
2の中間部分7b、8bの他方の主面(上面)の大部分
を覆う第2の樹脂部分5bとを有する。第2の樹脂部分
5bは図2及び図4から明らかなように導体4の上面か
ら突出し、第2の部品2即ちホールICの位置決め及び
機械的支持体として機能し、更に、導体4の第1及び第
2の部分7、8の機械的安定性向上に寄与している。第
1の樹脂部分5aは導体4を支持すると共に電気的に絶
縁する働きを有する。なお、第1の樹脂部分5aの導体
4の下面側における厚みは放熱性を良くするために第2
の樹脂部分5bの導体4の上面側における厚みよりも薄
く形成されている。また、第1及び第2の樹脂部分5
a、5bは周知のトランスファモールド法によって一体
に形成されている。
【0013】第2の部品2はホールIC即ちホール素子
を含む半導体装置であって、ホール素子を含む半導体チ
ップ20と、この支持板21と、この支持板21に連結
された外部リード端子22と、支持板21に連結されて
いない外部リード端子23、24、25と、内部接続ワ
イヤ26、27、28、29と、樹脂封止体即ち樹脂成
形体30とから成る。
【0014】半導体チップ20は金属支持板21に固着
されている。例えばAl線から成る内部接続ワイヤ2
6、27、28、29は、半導体チップ20と支持板2
1、外部リード端子23、24、25との間を電気的に
接続している。絶縁性包囲体としての樹脂成形体30は
半導体チップ20、支持板21、外部リード端子22、
23、24、25の一部、内部接続ワイヤ26、27、
28、29を覆うように周知のトランスファモールド法
によって形成されている。このホールIC側の樹脂成形
体30は、図4に示すように電流通路形成体としての第
1の部品1の導体4の平坦な露出主面31上に配置され
る主面32と、第2の樹脂部分5bの位置決め用段差面
33に対向させる側面34とを有する。第1の部品1側
の主面31と第2の部品2側の主面32との間及び第1
の部品1側の段差面33と第2の部品2側の側面34と
は図2に示すように絶縁性接着材から成る層3によって
互いに固着される。従って、電流検出装置の組立が終了
した後には、第1及び第2の部品1、2及びこれ等の樹
脂成形体5、30が一体化され、実質的に単一の電気部
品となる。
【0015】半導体チップ20は、図9に概略的に示す
底面図から明らかなように周知のホール素子35と、増
幅器36と、制御電流供給回路37と、第1、第2、第
3及び第4の端子38、39、40、41とを有し、平
面的に見て四角形に形成されている。
【0016】ホール素子35、増幅器36及び制御電流
供給回路37は化合物半導体(例えばガリウム砒素)か
ら成る同一の半導体基体42の中に周知の方法で形成さ
れている。半導体チップ20の形成方法及び構成は周知
であるので、図10及び図11には本発明に係わる電流
通路形成用の第1の部品1と直接に関係するホール素子
35のみが示され、増幅器36及び制御電流供給回路3
7の図示は省略されている。
【0017】平面的に見て四角形の半導体基体42の中
には、ホール素子35を形成するためにn型の第1、第
2、第3、第4及び第5の半導体領域43、44、4
5、46、47と、p型の第6、第7及び第8の半導体
領域48、49、50が形成されている。n型の第5の
半導体領域47は半導体基体42の大部分を占めるp型
の第8の半導体領域50の中に島状に形成され、図10
に示すように平面的に見て十字状のパターンを有する。
n型の第1及び第2の半導体領域43、44はn型の第
5の半導体領域47の不純物濃度よりも高い不純物濃度
を有するn+ 型半導体領域であって、図10に示すよう
にY軸方向において互いに離間して対向配置され且つ第
5の半導体領域47の中に島状に形成されている。この
第1及び第2の半導体領域43、44には図9に示すよ
うに第1及び第2の電極51、52がオーミック接触し
ている。第1及び第2の電極51、52は制御電流供給
回路37に接続されているので、第5の半導体領域47
に第1の半導体領域43から第2の半導体領域44に向
って周知の制御電流Ic が流れる。従って、第1及び第
2の半導体領域43、44を制御電流供給用半導体領域
と呼ぶこともできる。なお、第1及び第2の電極51、
52は周知の制御電流供給回路37を介して直流電源接
続用の第3及び第4の端子40、41に接続されてい
る。
【0018】n型の第3及び第4の半導体領域45、4
6は、n型の第5の半導体領域47の不純物濃度よりも
高い不純物濃度を有するn+ 型半導体領域であって、第
5の半導体領域47のY軸方向の中央部分の両端の近く
に配置されている。この第3及び第4の半導体領域4
5、46の一部は第5の半導体領域47に隣接し、残部
はp型半導体から成る第6及び第7の半導体領域48、
49に隣接している。X軸方向において互いに対向して
いる第3及び第4の半導体領域45、46には図9及び
図11に示すように第3及び第4の電極53、54がオ
ーミック接触している。従って、第3及び第4の半導体
領域45、46をホール電圧検出用半導体領域と呼ぶこ
ともできる。p型の第6及び第7の半導体領域48、4
9はn+ 型の第3及び第4の半導体領域45、46の第
5の半導体領域47に対する接触面積を制限するもので
ある。
【0019】第1及び第2の半導体領域43、44間に
制御電流Ic が流れ、この制御電流Ic に対して直交す
るように磁界を印加すると、第3及び第4の半導体領域
45、46間に周知のホール効果の原理に従ってホール
電圧が得られる。従って、ホール素子35のホール電圧
を発生させるための主動作領域は、第5の半導体領域4
7における第1及び第2の半導体領域43、44の相互
間及び第3及び第4の半導体領域45、46の相互間で
ある。しかし、概略的には第5の半導体領域47の全体
をホール素子の主動作領域と呼ぶことができる。ホール
電圧検出用の第3及び第4の電極53、54は、図9に
示すように周知の増幅器36を介して第1及び第2の端
子38、39に接続されている。
【0020】半導体基体42の一方の主面には例えばシ
リコン酸化膜から成る絶縁膜55が設けられ、他方の主
面には例えばアルミニウムから成る金属層56が設けら
れている。絶縁膜55は多層配線構造とするために第1
及び第2の絶縁膜55a、55bの積層体から成る。第
1及び第2の電極51、52は第1及び第2の絶縁膜5
5a、55bの開口を介して第1及び第2の半導体領域
43、44に接続され、第3及び第4の電極53、54
は第1の絶縁膜55aの開口を介して第3及び第4の半
導体領域45、46に接続されている。半導体基体42
の他方の主面の金属層56は導電性又は絶縁性の接合材
57によって支持板21に固着されている。
【0021】支持板21は、図8から明らかなように、
この主面に垂直な方向から見て即ち平面的に見て全体的
に四角形のパターンに形成されており、半導体チップ2
0よりも大きな面積を有する。支持板21と第1〜第4
の外部リード端子22〜25とはリードフレームに基づ
いて形成されており、互いに同一厚み且つ同一の材料の
例えば銅板にニッケルメッキした金属板から成る。支持
板21及びリード端子22〜25は、電流通路形成用導
体4よりも薄く形成されている。支持板21はワイヤ2
6によって半導体チップ20の第1の端子38に接続さ
れている。この支持板21に連結された外部リード端子
22は一般にはグランドに接続される。半導体チップ2
0の第2、第3及び第4の端子39、40、41は、ワ
イヤ27、28、29によって外部リード端子23、2
4、25に接続されている。
【0022】支持板21に固着された半導体チップ20
は、図1から明らかなように平面的に見てその大部分が
電流通路形成用導体4の溝6の内側になるように配置さ
れている。更に詳細には、図1及び図5で破線で示すよ
うに少なくともホール素子35の主動作領域が平面的に
見て溝6の内側になるように半導体チップ20が配置さ
れている。
【0023】図1の電流検出装置によって電流を検出す
る時には、被検出電流が流れている電気回路に導体4の
第1及び第2の端子部7a、7bを接続し、U字状電流
通路を形成する導体4に電流を流す。電流通路形成用導
体4は平面的に見てホール素子35の主動作領域となる
第5の半導体領域47の3方向に近接しているので、電
流通路形成用導体4に電流が流れると、アンペアの右ネ
ジの法則に従って図11で破線で示す向きの磁界Hが発
生し、3方向からホ−ル素子35に磁界即ち磁束が作用
する。この磁界Hの向きは第5の半導体領域47の制御
電流Ic の向きに垂直であるので、第3及び第4の半導
体領域45、46間即ち第3及び第4の電極53、54
間にホール電圧が発生する。このホール電圧は磁界Hに
比例し、磁界Hは被検出電流に比例するので、ホール電
圧によって被検出電流を検出することができる。
【0024】本実施例の電流検出装置は次の利点を有す
る。 (1) ホール素子35と一体的に電流通路形成用導体
4を設けたので、ホール素子35に接近させて例えば1
00Aのような大電流を流すことが可能になり、且つ両
者の位置関係を予め高精度に設定することができ、大電
流の検出を高精度に行うことができる。 (2) 導体4の溝6によってU字状の電流通路が形成
されており、平面的に見てこのU字状電流通路の中にホ
ール素子35の主動作領域となる第5の半導体領域47
が配置されているので、第5の半導体領域47に対して
作用する磁束の数が多くなり、電流の検出感度が高くな
る。 (3) 導体4に補助溝11a〜11fを設けて電流通
路を狭めているので、放熱性及び機械的強度を向上させ
るために導体4を比較的幅広に形成したにも拘らず、電
流を集中的に流すことができ、ホール素子35に対して
有効に作用する磁束を増大させることができる。 (4) 支持板21と電流通路形成用導体4との間に半
導体チップ20が配置されているので、支持板21が半
導体チップ20のシールド層として機能し、外部からの
不要電界ノイズを低減することができる。 (5) ホール素子35を含む第2の部品2と大電流が
流れる電流通路形成用の第1の部品1との組み合せで電
流検出装置を構成するので、支持板21及び外部リード
端子22〜25を電流通路形成用導体4よりも薄くする
ことが可能になり、ホールIC即ち第2の部品2を低コ
スト且つ容易に形成することができる。また、第1及び
第2の部品1、2を別の製造工程で正確且つ能率的に形
成することができる。 (6) 第1及び第2の部品1、2の組み合せであるに
も拘らず、第1の部品1に位置決め用段差面33が設け
られているので、両者の位置関係を正確に設定すること
ができる。 (7) 電流通路形成用導体4に溝6が設けられている
にも拘らず、トランスファモールド法で樹脂成形体5を
設けたので、機械的に安定した電流通路を提供すること
ができる。 (8) 電流通路形成用導体4とホ−ル素子35とが一
体化されているので、電気回路に対する接続及び配置が
容易になる。
【0025】
【第2の実施例】次に、図12〜図15を参照して第2
の実施例の電流検出装置を説明する。但し、図12〜図
15において図1〜図11と共通する部分には同一の符
号を付してその説明を省略する。また、図12〜図15
の説明において、図1〜図11も参照する。
【0026】図12〜図15に示す第2の実施例の電流
検出装置は、図13及び図15に概略的に示すように第
1及び第2のホール素子35、35′の組合せによって
電流を検出するように構成されている。なお、第1及び
第2のホール素子35、35′は同一構造であるので、
互いに共通する部分には同一の符号を付し、第2のホー
ル素子35′の各部の符号にダッシュを付して両者を区
別する。
【0027】図12に示す電流通路形成用導体4aは、
第1及び第2のホール素子35、35′の主動作領域で
ある第5の半導体領域47、47′に隣接するS字状電
流通路形成するために、第1及び第2の溝6,6′と複
数の補助溝60とを有する。第1及び第2の溝6,6’
は互いに逆の方向から切り込まれている。電流通路形成
用導体4aの第1及び第2の端子部分61,62は、図
7の第1及び第2の端子部分7a、7bと同様に被検出
電流が流れる電気回路に接続される。第1及び第2のホ
ール素子35、35’の主動作領域としての第5の半導
体領域47,47’は平面的に見て第1及び第2の溝
6,6’の内側に配置されている。第1及び第2のホー
ル素子35,35’を含む半導体チップ20’は図14
に示すように金属支持板21に固着されている。半導体
チップ20’、支持板21、外部リード端子22,2
3,24,25、電流通過形成用導体4aは、図12及
び図14に示すように樹脂成形体63によって互いに一
体になるように封止されている。なお、この樹脂成形体
63を第1の実施例の第1及び第2の樹脂成形体5、3
0のように分けて形成することができる。
【0028】電流通路形成用導体に流れる電流に基づい
て生じる磁界Hの向きは第1及び第2のホール素子3
5、35′に対して図14で破線で示すように互いに逆
になる。第1及び第2のホール素子35、35′に周知
の制御電流Ic を流すために第1のホール素子35の第
1及び第2の電極51、52と第2のホール素子35′
の第1及び第2の電極51′、52′とが図15の周知
の制御電流供給回路37aに接続されている。第1及び
第2のホール素子35、35′の出力電圧を合成して被
検出電流に対応する電圧を得るための出力回路36a
は、第1、第2及び第3の差動増幅器71、72、73
から成る。第1の差動増幅器71の正入力端子は第1の
ホール素子35の第3の電極53に接続され、この負入
力端子は第1のホール素子35の第4の電極54に接続
されている。第2の差動増幅器72の正入力端子は第2
のホール素子35′の第3の電極53′に接続され、こ
の負入力端子は第2のホール素子35′の第4の電極5
4′に接続されている。従って、第1の差動増幅器71
から得られる第1のホール電圧Vh1と第2の差動増幅器
72から得られる第2のホール電圧−Vh2は互いに逆の
極性を有する。第3の差動増幅器73の正入力端子は第
1の差動増幅器71に接続され、この負入力端子は第2
の差動増幅器72に接続されている。従って、第3の差
動増幅器73からはVh1−(−Vh2)=Vh1+Vh2の出
力が得られる。即ち、演算手段としての第3の差動増幅
器73からは、第1の差動増幅器71の出力Vh1の絶対
値と第2の差動増幅器72の出力−Vh2の絶対値との和
が得られる。なお、第2の差動増幅器72の出力段に反
転回路を設け、第3の差動増幅器73の代りに加算器を
設けることによってVh1+Vh2を示す出力を得ることも
できる。
【0029】第1及び第2のホール素子35、35′
は、図14に示すように共通の半導体基体42aに形成
されている。勿論、第1及び第2のホール素子35、3
5′を個別の半導体基体に形成することもできる。
【0030】第2の実施例は第1の実施例と同一の効果
を有する他に次の効果も有する。 (1) 第1及び第2のホール素子35、35′の出力
の絶対値の加算値が得られるので、電流検出感度が大き
くなる。 (2) 電流通路形成用導体4aの中間部分を第1及び
第2のホール素子35、35′で共用しているので、ス
ペースの増大が抑えられている。 (3) 第1及び第2のホール素子35、35′を並置
し、この合成出力を得る構成であり、且つ第1及び第2
のホール素子35、35′に対する磁界Hの方向が逆に
なるので、不要な外部磁界(ノイズ)が第1及び第2の
ホール素子35、35′に加わった場合にこれ等の相殺
が生じ、外部磁界の影響の少ない電流検出を行うことが
できる。即ち不要外部磁界に基づくホール電圧をV0 と
すると、第1の差動増幅器71の出力はVh1+V0 、第
2の差動増幅器72の出力は−Vh2+V0 となり、第3
の差動増幅器73の出力はVh1+V0 −(−Vh2+V0
)=Vh1+Vh2となり、不要外部磁界の影響の少ない
出力を得ることができ、電流Is の検出精度が向上す
る。
【0031】
【変形例】本発明は上述の実施例に限定されるものでな
く、例えば次の変形が可能なものである。 (1) 図7の溝6及び図12の溝6,6’の代りに、
図16に示すようにJ字状溝6aを設け、この溝6aで
囲まれた部分にホール素子35を配置することができ
る。なお、J字状溝6aに囲まれた部分80は放熱体及
び電界シールドよして機能する。 (2) 各実施例において、半導体基体42、42aの
電流通路形成用導体4,4aと反対側の主面上に磁性体
から成る集磁板を配置することができる。 (3) 第1の実施例において第1及び第2の部品1,
2に分割して形成せずに、樹脂成形体5、30を共通の
樹脂成形体(封止体)とすることができる。 (4) 半導体基体42、42a’をシリコン等の別の
半導体で形成することができる。 (5) 図17及び図18に示すように第1の部品1と
第2の部品2との間に絶縁シ−ト100を配置すること
ができる。図17及び図18では絶縁性シ−トが接着層
3と第2の部品2の樹脂成形体30との間に配置され、
樹脂成形体30に固着されていると共に接着層3にも固
着されている。この絶縁シ−ト100は半導体チップ2
0と電流通路形成用導体4との間に配置されているの
で、これ等の間の絶縁耐圧の向上に寄与する。なお、絶
縁シ−ト100と第2の樹脂成形体30との間にも接着
層を設けることができる。また、絶縁シ−ト100を半
導体チップ20と導体4との間及びこの近傍を含む部分
のみに配置することができる。 (6) 図19及び図20に示すように半導体チップ2
0を支持板21の導体4に対向しない側の主面に配置す
ることができる。これにより、支持板21が半導体チッ
プ20の静電シ−ルドとして機能する。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施例の電流検出装置を示す平面図であ
る。
【図2】図1の第1の実施例の電流検出装置のA−A線
の一部を示す断面図である。
【図3】図1のB−3線を示す断面図である。
【図4】図1の電流検出装置を第1及び第2の部品に分
解して図2と同様に示す断面図である。
【図5】図1の第1の部品の平面図である。
【図6】図1の第2の部品を示す平面図である。
【図7】図5の第1の部品の電流通路形成用導体を示す
断面図である。
【図8】図6の第2の部品を樹脂成形体を省いて示す平
面図である。
【図9】図8の半導体チップの底面図である。
【図10】図9の半導体基体のホール素子部分を示す平
面図である。
【図11】図9のC−C線の一部を示す断面図である。
【図12】第2の実施例の電流検出装置の一部を示す平
面図である。
【図13】第2の実施例のS字状電流通路と第1及び第
2のホール素子とを示す平面図である。
【図14】第2の実施例の電流検出装置の一部を図13
のD−D線に相当する部分で示す断面図である。
【図15】第2の実施例の電流検出装置を示す電気回路
図である。
【図16】変形例の電流通路形成用導体を示す平面図で
ある。
【図17】変形例の電流検出装置を図2と同様に示す断
面図である。
【図18】図17の電流検出装置を図3と同様に示す断
面図である。
【図19】別の変形例の電流検出装置を図2と同様に示
す断面図である。
【図20】図19の電流検出装置を図3と同様に示す断
面図である。
【符号の説明】
1、2 第1及び第2の部品 4 電流通路形成用導体 5、30 樹脂成形体 20 半導体チップ 21 支持板 22〜25 外部リード端子 35 ホール素子
【手続補正書】
【提出日】平成12年9月29日(2000.9.2
9)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項1
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項4
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項5
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項9
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0005
【補正方法】変更
【補正内容】
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決し、上記
目的を達成するための本発明は、電気回路の電流を検出
するための装置であって、ホ−ル素子と前記ホ−ル素子
を支持する金属製支持板と前記ホ−ル素子を外部に接続
するための複数のリ−ド端子と被検出電流を流すための
電流通路形成用導体と絶縁性包囲体とを備え、前記電流
通路形成用導体はここに流れる電流に基づいて発生する
磁界を前記ホ−ル素子に作用させることができるよう
に、前記支持板に対向する位置に配置され、前記絶縁物
包囲体は、前記ホ−ル素子と前記支持板と前記複数のリ
−ド端子と前記電流通路形成用導体とを一体化するよう
に配置されていることを特徴とする電流検出装置に係わ
るものである。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電気回路の電流を検出するための装置で
    あって、 ホ−ル素子と前記ホ−ル素子を支持する金属製支持板と
    前記ホ−ル素子を外部に接続するための複数のリ−ド端
    子と被検出電流を流すための電流通路形成用導体と絶縁
    性包囲体とを備え、 前記電流通路形成用導体はここに流れる電流に基づいて
    発生する磁界を前記ホ−ル素子に作用させることができ
    る位置に配置され、 前記絶縁物包囲体は、前記ホ−ル素子と前記支持板と前
    記複数のリ−ド端子と前記電流通路形成用導体とを一体
    化するように配置されていることを特徴とする電流検出
    装置。
  2. 【請求項2】 前記電流通路形成用導体は、溝を介して
    並置されている第1及び第2の部分と前記第1及び第2
    の部分を連結する第3の部分とを有し、全体としてU字
    状電流通路を形成する板状体であり、前記ホ−ル素子の
    主動作領域が平面的に見て前記溝の内側に配置されてい
    ることを特徴とする請求項1記載の電流検出装置。
  3. 【請求項3】 前記電流通路形成用導体は、その外周縁
    から内側に向かって切り込まれた電流通路を狭めるため
    の溝を有していることを特徴とする請求項2記載の電流
    検出装置。
  4. 【請求項4】 前記支持板は前記電流通路形成用導体に
    対向するように配置され、前記ホ−ル素子は前記支持板
    の前記電流通路形成用導体に対向する側の主面に配置さ
    れていることを特徴とする請求項1又は2又は3記載の
    電流検出装置。
  5. 【請求項5】 前記支持板は前記電流通路形成用導体に
    対向するように配置され、前記ホ−ル素子は、前記支持
    板の前記電流通路形成用導体に対向する側と反対側の主
    面に配置されていることを特徴とする請求項1又は2又
    は3記載の電流検出装置。
  6. 【請求項6】 前記絶縁性包囲体は、前記電流通路形成
    用導体の一部を被覆している第1の樹脂成形体と、前記
    ホ−ル素子と前記支持板と前記複数のリ−ド端子とを一
    体化している第2の樹脂成形体と、前記第1及び第2の
    樹脂成形体を相互に接着する接着層とから成ることを特
    徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の電流検出装
    置。
  7. 【請求項7】 少なくとも前記接着層の一部に沿って絶
    縁シ−トが配置されていることを特徴とする請求項6記
    載の電流検出装置。
  8. 【請求項8】 前記第1の樹脂成形体は前記第2の樹脂
    成形体を位置決めするための部分を有していることを特
    徴とする請求項6又は7記載の電流検出装置。
  9. 【請求項9】 前記第1の樹脂成形体は、U字状電流通
    路形成用導体の中間部分においては、前記導体の両主面
    及び前記溝の中に配置され、前記導体の前記中間部分よ
    りも前記第3の部分側の部分においては前記導体の一方
    の主面を露出させるように配置されていることを特徴と
    する請求項2記載の電流検出装置。
  10. 【請求項10】 前記ホ−ル素子は半導体基体に形成さ
    れており、更に、前記半導体基体に前記ホ−ル素子の出
    力電圧を増幅する増幅器が形成されていることを特徴と
    する請求項1乃至9のいずれかに記載の電流検出装置。
  11. 【請求項11】 電気回路の電流を検出するための装置
    であって、第1及び第2のホ−ル素子と、前記第1及び
    第2のホ−ル素子を支持する金属製の支持板と、前記第
    1及び第2のホ−ル素子を外部に接続するための複数の
    リ−ド端子と、被検出電流を流すための電流通路形成用
    導体と、絶縁性包囲体とを備え、 前記電流通路形成用導体は、平面的に見てS字状電流通
    路を形成するための第1及び第2の溝を有し、 平面的に見て前記第1のホ−ル素子は前記第1の溝の内
    側に配置され、前記第2のホ−ル素子は前記第2の溝の
    内側に配置され、 前記電流通路形成用導体はここに流れる電流に基づいて
    発生する磁界を前記第1及び第2のホ−ル素子に作用さ
    せることができる位置に配置され、 前記絶縁物包囲体は、前記第1及び第2のホ−ル素子と
    前記支持板と前記複数のリ−ド端子と前記電流通路形成
    用導体とを一体化するように配置されていることを特徴
    とする電流検出装置。
  12. 【請求項12】 前記第1及び第2のホ−ル素子の出力
    電圧の絶対値の加算値に対応する出力を得るように前記
    第1及び第2のホ−ル素子に接続された出力手段を備え
    ていることを特徴とする請求項11記載の電流検出装
    置。
JP2000028047A 2000-02-04 2000-02-04 ホ−ル素子を備えた電流検出装置 Expired - Fee Related JP3230580B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000028047A JP3230580B2 (ja) 2000-02-04 2000-02-04 ホ−ル素子を備えた電流検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000028047A JP3230580B2 (ja) 2000-02-04 2000-02-04 ホ−ル素子を備えた電流検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001221815A true JP2001221815A (ja) 2001-08-17
JP3230580B2 JP3230580B2 (ja) 2001-11-19

Family

ID=18553522

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000028047A Expired - Fee Related JP3230580B2 (ja) 2000-02-04 2000-02-04 ホ−ル素子を備えた電流検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3230580B2 (ja)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6876189B2 (en) 2001-11-26 2005-04-05 Asahi Kasei Electronics Co., Ltd. Current sensor
JP2005174595A (ja) * 2003-12-08 2005-06-30 Taiheiyo Seiko Kk 電流センサ内蔵ヒューズ装置
US7265531B2 (en) 2002-09-20 2007-09-04 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US7476816B2 (en) 2003-08-26 2009-01-13 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7598601B2 (en) 2003-08-26 2009-10-06 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7709754B2 (en) 2003-08-26 2010-05-04 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7859105B2 (en) 2002-04-04 2010-12-28 Hitachi, Ltd. Power converter, power system provided with same, and mobile body
US8080994B2 (en) 2006-05-12 2011-12-20 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US8093670B2 (en) 2008-07-24 2012-01-10 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for integrated circuit having on chip capacitor with eddy current reductions
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile
US11320466B1 (en) 2020-10-29 2022-05-03 Allegro Microsystems, Llc Differential current sensor
US11402409B1 (en) 2021-03-22 2022-08-02 Allegro Microsystems, Llc Differential current sensor package
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame
US11800813B2 (en) 2020-05-29 2023-10-24 Allegro Microsystems, Llc High isolation current sensor

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6876189B2 (en) 2001-11-26 2005-04-05 Asahi Kasei Electronics Co., Ltd. Current sensor
US7859105B2 (en) 2002-04-04 2010-12-28 Hitachi, Ltd. Power converter, power system provided with same, and mobile body
US7265531B2 (en) 2002-09-20 2007-09-04 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US7476816B2 (en) 2003-08-26 2009-01-13 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7598601B2 (en) 2003-08-26 2009-10-06 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
US7709754B2 (en) 2003-08-26 2010-05-04 Allegro Microsystems, Inc. Current sensor
JP2005174595A (ja) * 2003-12-08 2005-06-30 Taiheiyo Seiko Kk 電流センサ内蔵ヒューズ装置
US8080994B2 (en) 2006-05-12 2011-12-20 Allegro Microsystems, Inc. Integrated current sensor
US8093670B2 (en) 2008-07-24 2012-01-10 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for integrated circuit having on chip capacitor with eddy current reductions
US10333055B2 (en) 2012-01-16 2019-06-25 Allegro Microsystems, Llc Methods for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US8629539B2 (en) 2012-01-16 2014-01-14 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9299915B2 (en) 2012-01-16 2016-03-29 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9620705B2 (en) 2012-01-16 2017-04-11 Allegro Microsystems, Llc Methods and apparatus for magnetic sensor having non-conductive die paddle
US9190606B2 (en) 2013-03-15 2015-11-17 Allegro Micosystems, LLC Packaging for an electronic device
US9865807B2 (en) 2013-03-15 2018-01-09 Allegro Microsystems, Llc Packaging for an electronic device
US10345343B2 (en) 2013-03-15 2019-07-09 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US10753963B2 (en) 2013-03-15 2020-08-25 Allegro Microsystems, Llc Current sensor isolation
US10991644B2 (en) 2019-08-22 2021-04-27 Allegro Microsystems, Llc Integrated circuit package having a low profile
US11800813B2 (en) 2020-05-29 2023-10-24 Allegro Microsystems, Llc High isolation current sensor
US11320466B1 (en) 2020-10-29 2022-05-03 Allegro Microsystems, Llc Differential current sensor
US11402409B1 (en) 2021-03-22 2022-08-02 Allegro Microsystems, Llc Differential current sensor package
US11768230B1 (en) 2022-03-30 2023-09-26 Allegro Microsystems, Llc Current sensor integrated circuit with a dual gauge lead frame

Also Published As

Publication number Publication date
JP3230580B2 (ja) 2001-11-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4164626B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP3230580B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP2001339109A (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP4025958B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
US6791313B2 (en) Electrical current detector having a U-shaped current path and hall-effect device
JP2001230467A (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
US6841989B2 (en) Hall-effect current detector
JP2001165963A (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
JP4757195B2 (ja) 電流センサ
US6424018B1 (en) Semiconductor device having a hall-effect element
JP2002202327A (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
US11092621B2 (en) Current sensor
JP4164629B2 (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
US6781358B2 (en) Hall-effect current detector
JP4200358B2 (ja) ホール素子を備えた電流検出装置
JP4164624B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
JP4164625B2 (ja) ホ−ル素子を備えた電流検出装置
US20240145362A1 (en) Power Semiconductor Module Arrangement
WO2023248729A1 (ja) 抵抗体の実装構造
WO2023140046A1 (ja) 半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees