JP2001212122A

JP2001212122A - Ｘ線画像診断装置

Info

Publication number: JP2001212122A
Application number: JP2000024318A
Authority: JP
Inventors: Katsumi Suzuki; 克己鈴木
Original assignee: Hitachi Medical Corp
Current assignee: Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Priority date: 2000-02-01
Filing date: 2000-02-01
Publication date: 2001-08-07
Anticipated expiration: 2020-02-01
Also published as: WO2001056473A1; US6661874B2; US20030118153A1; JP4497619B2

Abstract

(57)【要約】【課題】前画像の残像の多い画素だけを空読みするこ
とにより、空読みに要する時間を短縮することができる
Ｘ線画像診断装置を提供する。【解決手段】本装置は、被検体の透過Ｘ線を受光して
Ｘ線画像を出力する平面検出器11と、このＸ線画像を記
憶する画像記憶手段12と、Ｘ線画像を表示する表示手段
13と、画像読み出し開始信号や空読みをする特定画素抽
出のための閾値を送る操作卓14と、平面検出器11の画像
データの読み出し制御を行う読み出し制御手段15と、平
面検出器11の前画像の画像データを記憶し、空読みした
特定画素の画像データを上書き記憶する前画像記憶手段
16と、前画像記憶手段16の画像データの中から上記閾値
に基づき特定画素を抽出し、そのアドレスを決定する読
み出しアドレス決定手段17を具備し、読み出し制御手段
15がアドレス決定された特定画素のみの空読みを行うよ
うに平面検出器11の読み出し制御する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被検体を透過した
Ｘ線を平面検出器にて検出して被検体の診断部位のＸ線
画像を得るＸ線画像診断装置に係り、特に平面検出器が
有する残像の除去技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、Ｘ線画像診断装置では、被検体に
Ｘ線を照射し、被検体の診断部位を透過したＸ線を平面
検出器（参考文献；「Paul R. Granfors; Performance
Characteristics of an Amorphous Silicon Flat panel
Ｘ-ray Imaging Detector. Proc. SPIE Medical Imagi
ng, Feb. 1999. pp. 480〜488」）などのＸ線受光系で
受像し、このＸ線受光系から出力されるＸ線画像をTVモ
ニタなどに表示する構成をとっている。

【０００３】Ｘ線画像診断装置に使用されている平面検
出器は、被検体を透過したＸ線を光に変換するシンチレ
ータと、このシンチレータから出力される光を電荷に変
換するフォトダイオード（例えば、アモルファスシリコ
ン型）とから構成され、フォトダイオードの電荷をスイ
ッチング素子（例えば、TFT）を経由して読み出すこと
によってＸ線画像を得ている。

【０００４】上記の平面検出器において、フォトダイオ
ードから一度電荷を読み出した後にも、フォトダイオー
ド内に読み残しの電荷が存在することが知られている。
図５に、フォトダイオード内の読み残し電荷、すなわち
残像が時間と共にどのように減少するかを表した例を示
す（詳細については、文献「R. L. Weisfield; HighPer
formance Amorphous Silicon Image Sensor for Ｘ-ray
Diagnostic MedicalImaging Applications. Proc. SPI
E Medical Imaging, Feb. 1999. pp. 307〜317. 」を参
照のこと）。図５から明らかのように、フォトダイオー
ド内の読み残しの電荷は、Ｘ線透視やＸ線撮影の画像を
次々と撮像して行く１秒以下の短い時間では殆ど変化せ
ず、次の画像に前画像の残像という形で影響を及ぼすこ
とになる。

【０００５】前画像の残像を除去する方法としては、平
面検出器から次の画像を画像記憶手段に記憶する前に、
平面検出器のフォトダイオ−ド内の読み残しの電荷を、
画像記憶手段に記憶することなしに、読み出すこと（以
下、空読みという）が行われている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来の技術では、前画像の残像を除去するためには、平
面検出器の全部のフォトダイオード、すなわち前画素の
空読みを行わなければならず、この空読みのために、さ
らに１画像の読み出しを行うだけの時間を待たなければ
ならなかった。

【０００７】また、Ｘ線画像内に非常に輝度の高い領域
を持つような場合には、１回の空読みだけでは、残像の
除去が不十分で、数画像分の空読みを行わなければなら
ないことがある。図６は、その例を説明するための図
で、図６（a）は、Ｘ線像を受光した平面検出器のフォ
トダイオードに蓄積され電荷の分布の一例（Ｘ線画像）
を示したものである。図６（a）のＸ線画像では、二次
元のＸ又はＹアドレスの中央部に非常に輝度の高い領域
が存在することが多い。図６（b）は、図６(ａ)のＸ線
画像について、１回の空読みを行った後の、平面検出器
のフォトダイオードに蓄積された電荷の分布を示したも
ので、中央部にはまだ輝度の高い領域が残っている。こ
のため、この高輝度部分の残像を除去するためには、数
画像分の空読みが必要となる。

【０００８】本発明は、上記の事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、前画像の残像の多い画素だけを
空読みすることにより、空読みに要する時間を短縮する
ことができるＸ線画像診断装置を提供することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のＸ線画像診断装置は、被検体にＸ線を照射
するＸ線源と、このＸ線源と対向配置され前記被検体の
透過Ｘ線を入力してＸ線画像データを出力する平面Ｘ線
検出器と、該出力したＸ線画像を画像データとして記憶
する画像記憶手段と、該記憶した画像データを画像表示
する表示手段と、画像の読出開始信号を出力する操作手
段と、該出力した読出開始信号を受けて前記平面Ｘ線検
出器からＸ線画像のデータを読み出し制御する読出制御
手段とを備えたＸ線画像診断装置において、前記操作手
段は、所定の時相より１つ前の時相で得たＸ線画像デー
タを前記平面Ｘ線検出器から前記画像記憶手段へ読み出
した後の読み出しデータの分布によりその読出範囲を決
定する手段を備えると共に、前記読出制御手段は、該決
定した読出範囲に基づいて前記平面Ｘ線検出器の読み残
しデータを読み出し制御する手段を備えたものである。

【００１０】また、画像の読み出し開始信号を出力する
操作卓と、被検体の透過Ｘ線を受光してＸ線画像を出力
する平面検出器と、該平面検出器から出力されるＸ線画
像を画像データとして記憶する画像記憶手段と、該画像
記憶手段に記憶されている画像データをＸ線画像として
表示する表示手段と、前記操作卓からの画像の読み出し
開始信号を受けて前記平面検出器からＸ線画像データを
読み出すための制御を行う読み出し制御手段とを具備す
るＸ線画像診断装置において、前記平面検出器より出力
されたＸ線画像の画像データを記憶するとともに、前記
平面検出器が次の画像データを出力する前に前記平面検
出器の特定画素の空読みを行い、該空読み画像データを
上書き記憶する前画像記憶手段と、該前画像記憶手段に
記憶されている画像データから特定画素を抽出し、該特
定画素の位置に対応するアドレスを算出して前記読み出
し制御手段に出力する読み出しアドレス決定手段とを備
え、前記特定画素は画像データの輝度値を基準にして抽
出され、前記読み出し制御手段は前記読み出しアドレス
決定手段から入力された特定画素のアドレスに従って前
記平面検出器の特定画素のみを空読みする制御を行うも
のである。

【００１１】この構成では、従来のＸ線画像診断装置に
対し、前画像記憶手段と読み出しアドレス決定手段を追
加したことにより、前画像記憶手段にて画像データの輝
度値を基準にした空読みをする特定画素の抽出及び特定
画素から空読みした画像データによる上書きを行うこと
ができるため、空読み前及び空読み後の平面検出器にお
ける各画素での電荷の読み残し状況を把握することがで
き、更に読み出しアドレス決定手段にて空読みをする特
定画素のアドレスを決定することができるので、読み出
し制御手段を介して、平面検出器の特定画素のみの空読
みを実施させることができる。その結果、空読みが特定
画素のみに限定されるので、空読み時間の短縮が図られ
る。

【００１２】本発明のＸ線画像診断装置では更に、前記
前画像記憶手段の特定画素は特定値（以下、閾値とい
う）以上の輝度値を持つ画素である。この構成では、平
面検出器の画素のうちの空読みされる特定画素が特定の
輝度値を閾値として抽出されるので、高輝度値を持つ画
素が空読みされることになり、この空読みによって、平
面検出器の読み残し電荷の多い画素から電荷の読み出し
が行われ、効率良く読み残し電荷の低減が図られる。

【００１３】本発明のＸ線画像診断装置では更に、前記
前画像記憶手段の特定画素の抽出及び前記平面検出器の
特定画素の空読みを複数回実行するものである。この構
成では、空読みを１回実行しただけでは、平面検出器の
読み残し電荷の除去が不十分な場合に、平面検出器の空
読みする特定画素の抽出、空読みを２回以上実行するも
のであり、その結果、平面検出器の読み残し電荷の除去
を十分に、かつ効率良く行うことができる。

【００１４】本発明のＸ線画像診断装置では更に、前記
前画像記憶手段の画像データから第２回目以降の空読み
の特定画素を抽出する基準となる閾値は、前回の閾値に
基づいて決定される。この構成では、空読みの特定画素
の抽出基準の閾値を前回の閾値と関連付けて決定できる
ので、例えば両者の比率を一定にするなどして閾値が容
易に決定される。また、平面検出器の画素の輝度値と関
連付けて閾値が決定されるので、平面検出器に読み残さ
れた電荷の状況が容易に把握され、また平面検出器に読
み残された電荷も確実に低減させることができる。

【００１５】本発明のＸ線画像診断装置では更に、前記
前画像記憶手段の画像データから第２回目以降の空読み
の特定画素を１フレームの画素数から第１回目の空読み
の特定画素の画素数を差し引いたものとする。この構成
では、１フレームの画像データの読み出し時間の間に２
回の空読みを行うことができる。例えば、第１回目の空
読みで閾値以上の輝度値の大きい画素を読み出し、第２
回目の空読みで、輝度値の大きい順に画像データを読み
出すことで、効率良く空読みを行うことができる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明のＸ線画像診断装置
の実施例を添付図面により説明する。図１は、本発明の
Ｘ線画像診断装置の一実施例の構成を示すブロック図で
ある。図１において、本実施例のＸ線画像診断装置は、
被検体（図示せず）を透過した透過Ｘ線を受光してＸ線
画像を出力する平面検出器（２次元検出器）11と、この
平面検出器11から出力されるＸ線画像を画像データとし
て記憶する画像記憶手段12と、この画像記憶手段12に記
憶されている画像データをＸ線画像としてモニタ等に表
示する表示手段13と、操作者が平面検出器11の画像の読
み出しを開始するための信号などを読み出し制御手段15
に送る操作卓14と、操作卓14からの画像の読み出し開始
信号などを受けて平面検出器11の画像データの読み出し
制御を行う読み出し制御手段15と、この読み出し制御手
段15からの制御信号により平面検出器11から出力された
画像データが画像記憶手段12に記憶された後、画像記憶
手段12に記憶されている画像データを記憶するととも
に、この記憶された画像データの上に、空読みした特定
画素のみの画像データを上書き記憶する前画像記憶手段
16と、この前画像記憶手段16に記憶されている画像デー
タの中の特定画素だけを抽出し、それらの特定画素の位
置に対応するアドレスを算出して、その特定画素のアド
レスを読み出し制御手段15に出力することにより、平面
検出器11の特定画素だけを空読みさせる読み出しアドレ
ス決定手段17とから構成される。

【００１７】本発明における特徴部分は平面検出器11の
画像データの空読みのやり方に関するものであり、図１
において平面検出器11の画像データの空読みに関係する
要素は、平面検出器11と、前画像記憶手段16と、読み出
しアドレス決定手段17と、読み出し制御手段15である。
以下、これらの要素について、その内容を説明する。

【００１８】先ず、平面検出器11は、従来の技術の欄に
記載した如く、平板状のシンチレータとフォトダイオー
ドアレイから成り、フォトダイオードの電荷はスイッチ
ング素子を経由して読み出される。平面検出器11によっ
てＸ線像が撮像されると、平面検出器11のフォトダイオ
ードアレイの各素子に、Ｘ線像のＸ線量分布に対応した
電荷が蓄積される。従って、フォトダイオードアレイの
各素子はＸ線画像の各画素に対応し、フォトダイオード
アレイの各素子に蓄積された電荷は画像データ（画素
値）に対応する。ここで、フォトダイオードに蓄積され
た電荷は完全に読み出すには時間がかかるので実質的な
画像データとしては、フォトダイオードからスイッチン
グ素子を介して読み出された電荷量が対応する。

【００１９】読み出し制御手段15は、操作卓14からの画
像読み出し開始信号を受けて、平面検出器11の画像デー
タの１回目の読み出し制御を行い、読み出された１回目
の画像データは画像記憶手段12と前画像記憶手段16に出
力される。画像記憶手段12に出力された画像データは、
そこで記憶され、表示手段13に表示されて、医用診断に
供される。前画像記憶手段16に出力された１回目の画像
データは、そこで記憶され、特定画素の抽出に使用され
る。

【００２０】読み出し制御手段16は更に、読み出しアド
レス決定手段17で決定された特定画素のアドレスの情報
に基づいて、平面検出器11の特定画素のみについて、２
回目の画像データの読み出し、即ち空読みを行い、前画
像記憶手段16に出力する。このとき、２回目の画像デー
タについては、画像記憶手段12には出力しない。前画像
記憶手段16では、特定画素について、２回目の画像デー
タを１回目の画像データの上に上書き記憶する。

【００２１】前画像記憶手段16は、読み出し制御手段15
の制御のもとで、１回目の画像データを記憶した後に、
空読みの対象となる特定画素の抽出に利用される。特定
画素の抽出された後に、前画像記憶手段16は、その特定
画素について、２回目の画像データを記憶する。前画像
記憶手段16に記憶された各回目の画像データはそれぞ
れ、次の回の特定画素の抽出に利用される。

【００２２】読み出しアドレス決定手段17は、前画像記
憶手段16に記憶された画像データに基づき特定画素を抽
出し、その抽出された特定画素の読み出しアドレスを決
定して、読み出し制御手段15に出力するものである。

【００２３】特定画素の抽出は、通常平面検査器11のフ
ォトダイオードに蓄積された電荷に対応する画像デー
タ、すなわち輝度値に基づいて行われる。この輝度値が
大きい程残像が大きくなるので、所定の輝度値を輝度閾
値（以下、閾値という）として設定し、この閾値より大
きい輝度値を持つ画素を特定画素として抽出するもので
ある。

【００２４】この閾値の設定は、図１の実線で示す如
く、操作卓14にて直接設定してもよいし、図１の破線で
示す如く、閾値設定手段18を別に設けて、この閾値設定
手段18にて設定してもよい。後者の場合、閾値設定手段
18に閾値テーブルを持たせてその中から閾値を選択させ
るとか、閾値設定手段18に数式を持たせ、変数を選択さ
せるとかして、閾値を設定することができる。また、こ
の閾値設定の機能については、閾値を用いて特定画素の
抽出を行う読み出しアドレス決定手段17に持たせてもよ
い。

【００２５】特定画素の抽出は、１回の場合もあるが、
２回以上の場合もある。１回目の特定画素の抽出では、
閾値は通常輝度値で設定されるが、２回目以降について
は必ずしも輝度値のみではなく、他の項目、例えば画素
数などで設定される場合もある。

【００２６】また、閾値を輝度値で設定する場合、高い
輝度値で設定すると、特定画素数が少なくなって読み出
し時間は短縮するが、残像が多くなり、空読み回数を多
くしなければならず、低い輝度値で設定すると、特定画
素数が多くなり読み出し時間が長くなり、空読みの効率
が悪くなる。従って、閾値の設定の仕方は重要である。
本実施例では前画像データのうちの最高輝度値に一定の
比率を乗じた値が閾値として設定されている。

【００２７】次に、図１に示した本発明のＸ線画像診断
装置の一実施例の動作例について説明する。先ず、Ｘ線
画像の撮像モードとしては、透視モードと撮影モードが
ある。透視モードでは、被検体の撮影位置を決めるため
に、少ないＸ線量で被検体の撮像を行い、連続的に平面
検出器11からＸ線画像を読み出し、モニタ等の表示手段
13に動画表示する。これに対し、撮影モードでは、透視
モードにて決定された被検体の撮影位置において、比較
的多いＸ線量で、雑音成分の少ない鮮明な画像を撮像
し、平面検出器11からＸ線画像を読み出す。上記の透視
モードでは、例えば毎秒30枚のＸ線画像を平面検出器11
から読み出して、表示手段13に表示する。

【００２８】Ｘ線を被検体に照射した後、操作者がＸ線
画像の読み出しを開始する信号を操作卓14より読み出し
制御手段15に入力することによって、被検体を透過した
Ｘ線を受光した平面検出器11からＸ線画像が出力され、
画像記憶手段12に記憶される。

【００２９】今、撮影モードから透視モードに移行する
場合について考える。撮影モードにおいて、平面検出器
11から出力されたＸ線画像の画像データは画像記憶手段
12に記憶された後、同じ画像データは前画像記憶手段16
にも記憶される。ここで、前画像記憶手段16に記憶され
ている画像データ（撮影モードのＸ線画像の画像デー
タ）の輝度値が大きくなるほど、透視モードへ移行した
際に、表示手段13に表示されるＸ線画像に現れる残像が
大きくなる。

【００３０】そこで、読み出しアドレス決定手段17は、
前画像記憶手段16に記憶されている画像データの中か
ら、輝度閾値以上の輝度値を持つ画素を探し出し、それ
らの画素を空読みする特定画素としてアドレスを決定
し、決定したアドレスを読み出し制御手段15に送る。こ
こで、閾値については、図５の残像特性、又は撮影モー
ドから透視モードへの切り替えに要する時間などを考慮
して操作者（又は閾値設定手段18）が予め決めておき、
操作卓14（又は閾値設定手段18）より読み出しアドレス
決定手段17に送る。

【００３１】読み出し制御手段15は、読み出しアドレス
決定手段17より送られた空読みする特定画素のアドレス
に基づいて平面検出器11より画像データの読み出し（空
読み）を行うとともに、読み出された画像データを前画
像記憶手段16に上書き記憶する。

【００３２】空読み終了後、操作卓14より透視モードで
のＸ線画像の読み出しを開始する信号がすぐに入力され
なければ、すなわち次の自相での透視モードへの移行に
時間的余裕がある場合には、前画像記憶手段16に記憶さ
れている、１回目の空読み時に上書きされた画像データ
を用い２回目の空読みを行う。この２回目の空読みを行
う特定画素のアドレスを決めるための閾値としては、１
回目の空読みで使用した閾値（特定の値）に基づいて新
たな閾値が操作卓14、又は閾値設定手段18で設定されて
読み出しアドレス決定手段17に送られる。この新しい閾
値の設定法については後述する。

【００３３】上記の空読み処理は、操作卓14より透視モ
ードでのＸ線画像の読み出しを開始する信号が入力され
るまで繰り返される。これらの処理を繰り返すことによ
り、空読み時間を短縮するために特定画素だけを空読み
するだけでなく、別のモードが操作卓14より入力される
までの時間的余裕がある場合には、より広範囲の画像デ
ータの空読みを行うことができる。

【００３４】次に、図2を用いて読み出しアドレス決定
手段17の動作例を説明する。図2は、読み出しアドレス
決定手段17において、前画像記憶手段16に記憶されてい
る画像データの中から閾値以上の輝度値を持つ画素を空
読みする特定画素として探し出す処理の流れを説明する
ためのフローチャートである。

【００３５】図2において、前画像記憶手段16に記憶さ
れている画像データは、読み出しアドレス決定手段17の
判断ブロック21に1画素ずつ読み出される。判断ブロッ
ク21では、読み出された画素の画像データと、予め決め
られた閾値とを比較する。前画像記憶手段16から読み出
された画素の画像データが閾値より大きい場合には、処
理ブロック22にてこの画素のアドレスが空読みをする特
定画素のアドレスとして決定され、読み出し制御手段15
に送られる。読み出しアドレス決定手段17は、以上述べ
た処理を前画像記憶手段16に記憶されている画像データ
の画素の数だけ繰り返し行う。

【００３６】次に、2回目の空読みの際の閾値の決定法
の一例について説明する。この2回目の空読みの際の閾
値Ｔ₁は1回目の空読みで使用した閾値に基づいて新しい
閾値として操作卓13又は閾値設定手段18によって設定さ
れ、読み出しアドレス決定手段17に送られる。1回目の
空読み時の閾値をＴとし、平面検出器11のフォトダイオ
ード内の蓄積電荷に対する電荷読み出し後の読み残し電
荷の割合をW％とすると、新たに設定する2回目の空読み
の際の閾値T₁は、下式で表される。Ｔ₁＝Ｔ×（Ｗ／100）……………（1）

【００３７】図3は、空読みの際の閾値と前画像記憶手
段16に記憶されている画像データとの関係を説明するた
めの模式図である。図3（a）は、前画像記憶手段16に記
憶されている空読み前の画像データの任意の1ラインの
輝度分布を示している。図3（a）において、予め決めら
れている閾値T以上の輝度領域α（領域S₂とS₄）に対応
する特定画素のアドレスが読み出しアドレス決定手段17
で決められ、そのアドレスに従って各特定画素の空読み
が読み出し制御手段15によって行われる。

【００３８】図3（b）は、空読み後の前画像記憶手段16
に記憶されている画像データの任意の1ラインの輝度分
布を示している。空読みの行われた特定画素は、前画像
記憶手段16に、上書き記憶されるため、前画像記憶手段
16に記憶される空読み後の画像データは、図3（b）に示
す如く、空読みされた領域S₂とS₄の特定画素についての
画像データは、最初の輝度値のW％の輝度値分布を有
し、空読みされなかった輝度領域S₁とS₃とS₅の画素につ
いての画像データは、最初の輝度値（閾値T以下）のま
まの輝度値分布を有する。

【００３９】ここで、操作卓13又は閾値設定手段18で
は、式（1）に従って、新たな閾値T₁（＝T×(W／100)）
を設定し、読み出しアドレス決定手段17ではこの新しい
閾値T ₁以上の輝度領域α₁（領域S₁₂とS₂とS₃とS₄とS₅₁
とS₅₃）に対応する特定画素のアドレスを決定し、その
アドレスに従って読み出し制御手段15によって2回目の
空読みが行われる。

【００４０】また、繰り返し空読みを行う場合には、3
回目以降の空読みの閾値（T₂、T₃…）については、上記
の2回目の空読みの閾値T₁（＝T×(W／100)）と同様に、
T₂＝T₁×(W／100)などとして設定すればよい。

【００４１】次に、繰り返し空読みを行う場合の2回目
の空読みの閾値の決め方の他の例について説明する。こ
の例は、1回目の空読みと2回目の空読みを、平面検出器
11から１枚の画像を読み出す時間と同じ時間内に終わら
せようとするものである。このことから、例えば、平面
検出器11から読み出される画像データの総数、すなわち
1枚の画像の画素数をN、1回目の空読みで前画像記憶手
段16に上書き記憶した画像データの数をｎ₁としたと
き、2回目の空読みの対象となる画像データの数ｎ ₂は、ｎ₂＝Ｎ−ｎ₁……………（2）で表される。

【００４２】2回目の空読みの閾値T₁は、1回目の空読み
終了時に前画像記憶手段16に記憶されている画像データ
を輝度値の高い順に画素を並べた場合のn₂番目の画素の
輝度値となる。従って、この閾値T₁は、式(1)の如く自
動的に決まらず、前画像記憶手段16に記憶されている画
像データの中から探す必要がある。

【００４３】以下に、読み出しアドレス決定手段での本
例の閾値を用いた2回目の空読みを行う画素のアドレス
を決定する処理手順について説明する。図４は、読み出
しアドレス決定手段17において２回目の空読みを行う特
定画素のアドレスを探し出す処理の流れを説明するため
のフローチャートである。図４において、前画像記憶手
段16には、１回目の空読みが終了した後の、空読み画像
データを上書き記憶した画像データが記憶されている。
先ず、処理ブロック41では、前画像記憶手段16の画像デ
ータの中から最大輝度値Tmaxが検出される。次に、判断
ブロック42では、前画像記憶手段16から読み出された画
像データと前記最大輝度値Tmaxとを比較し、同じ値であ
る場合にはこの画像データは次の判断ブロック43に送ら
れる。もし、前画像記憶手段16から読み出された画像デ
ータと前記最大輝度値Tmaxとが異なる値の場合には、処
理ブロック44にて最大輝度値Tmaxの値が変更される。

【００４４】次に、判断ブロック43では、送られてきた
画像データが２回目の空読みを行う画像データの数n₂に
含まれるのか否かを判断し、空読みを行う画数データの
数n₂に含まれる場合には、処理ブロック45にて、前記画
像データのアドレスが空読み対象となる特定画素のアド
レスとして決定され、読み出し制御手段15に送られる。
しかし空読みを行う画像データの数n₂に含まれない場合
(n₂を越えた場合)には、処理ブロック46にて、空読み対
象となる特定画素のアドレスを探し出す処理は終了とさ
れる。以上の処理は、処理ブロック47にて、空読み画素
数がｎ₂に達するまで繰り返し行われる。

【００４５】上記の例では、平面検出器11の１枚の画像
を読み出す時間だけ空読みを行う場合について説明した
が、例えば、循環器検査のように撮影と撮影との間隔が
数画像分空いていて、その時間が予めわかっているとき
には、空読みをある決められた回数だけ繰り返したり、
或いは前画像記憶手段16に記憶されている画像データを
全て所望の値Tmax以下にするなどの条件を設定して上記
の処理を繰り返したりすればよい。ここで、所望の値Tm
axは、残像が次の画像に影響を与えない輝度値として決
められる値である。

【００４６】更に、上記実施例では、撮影モードから透
視モードへ時相を移行する場合について述べたが、本発
明は透視モードから撮影モードへの移行時、或いは撮影
モードで２枚以上のＸ線画像を読み出すときの次の画像
の画像データを読み出すまでの間や透視モードと透視モ
ードとの間についても適用可能であることは言うまでも
ない。

【００４７】また、本実施例では、画像記憶手段と前画
像記憶手段とを別個の記憶手段として設けたもので説明
したが、画像記憶手段の一部を前画像記憶手段として使
用するように構成してもよいことは言うまでもない。

【００４８】

【発明の効果】以上説明した如く、本発明によれば、前
画像の中の残像の多い画素だけを選んで空読みすること
ができるので、空読みに要する時間を短縮することが可
能なＸ線画像診断装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のＸ線画像診断装置の一実施例の構成を
示すブロック図。

【図２】読み出しアドレス決定手段17において、前画像
記憶手段16に記憶されている画像データの中から閾値以
上の輝度値を持つ画素を空読みする特定画素として探し
出す処理の流れを説明するためのフローチャート。

【図３】空読みの際の閾値と前画像記憶手段16に記憶さ
れている画像データとの関係を説明するための模式図。

【図４】読み出しアドレス決定手段17において２回目の
空読みを行う特定画素のアドレスを探し出す処理の流れ
を説明するためのフローチャート。

【図５】平面検出器の残像が時間と共にどのように減少
するかを表した例。

【図６】平面検出器の残像の空読み前後の変化を表した
例。

【符号の説明】

11…平面検出器 12…画像記憶手段 13…表示手段 14…操作卓 15…読み出し制御手段 16…前画像記憶手段 17…読み出しアドレス決定手段 18…閾値設定手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被検体にＸ線を照射するＸ線源と、この
Ｘ線源と対向配置され前記被検体の透過Ｘ線を入力して
Ｘ線画像データを出力する平面Ｘ線検出器と、該出力し
たＸ線画像を画像データとして記憶する画像記憶手段
と、該記憶した画像データを画像表示する表示手段と、
画像の読出開始信号を出力する操作手段と、該出力した
読出開始信号を受けて前記平面Ｘ線検出器からＸ線画像
のデータを読み出し制御する読出制御手段とを備えたＸ
線画像診断装置において、前記操作手段は、所定の時相
より１つ前の時相で得たＸ線画像データを前記平面Ｘ線
検出器から前記画像記憶手段へ読み出した後の読み残し
データの分布によりその読出範囲を決定する手段を備え
ると共に、前記読出制御手段は、該決定した読出範囲に
基づいて前記平面Ｘ線検出器の読み残しデータを読み出
し制御する手段を備えたことを特徴とするＸ線画像診断
装置。