JP2001195563A

JP2001195563A - 画像処理装置、補正方法及び記録媒体

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Publication number: JP2001195563A
Application number: JP2000004545A
Authority: JP
Inventors: Osamu Tsujii; 修辻井
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2000-01-13
Filing date: 2000-01-13
Publication date: 2001-07-19
Anticipated expiration: 2020-01-13
Also published as: US20010015407A1; US6570150B2; JP4497615B2

Abstract

(57)【要約】【課題】照射領域が検出手段内の検出領域よりも小さ
い場合であっても、適切に画像用デ−タに対して補正を
行うことを課題とする。【解決手段】被写体画像を検出するための検出領域を
含む検出部と、前記検出領域における照射領域に対応す
る第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記検出
領域における照射領域に対応する第2の領域に基いた画
像用デ−タに補正を行う第1の処理と、前記第2の領域の
うち前記第１の領域と重ならない領域に基いた画像用デ
−タの処理を行う第2の処理とを含む補正回路と、を有
することを特徴とする画像処理装置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は例えば、Ｘ線フラッ
トパネルセンサ等の被写体画像を検出する検出手段から
出力される画像用データの処理を行うための画像処理装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ある種の蛍光体に放射線（Ｘ線、α線、
β線、γ線、電子線、紫外線等）を照射すると、この放
射線エネルギーの一部が蛍光体中に蓄積され、この蛍光
体に可視光等の励起光を照射すると、蓄積されたエネル
ギーに応じて蛍光体が輝尽発光を示すことが知られてお
り、このような性質を示す蛍光体は蓄積性蛍光体（輝尽
性蛍光体）呼ばれる。この蓄積性蛍光体を利用して、人
体等の被写体の放射線画像情報を一旦蓄積性蛍光体のシ
ートに記録し、この蓄積性蛍光体シートをレーザ光等の
励起光で走査して輝尽発光光を生ぜしめ、得られた輝尽
発光光を光電的に読み取って画像信号を得、この画像信
号に基づき写真感光材料等の記録材料、ＣＲＴ等の表示
装置に被写体の放射線画像を可視像として出力させる放
射線画像情報記録再生システムが提案されている。

【０００３】また、近年においては半導体のセンサを使
用して同様にＸ線画像を撮影する装置が開発されてい
る。これらのシステムは、従来の銀塩写真を用いる放射
線写真システムと比較して極めて広い放射線露出域にわ
たって画像を記録しうるという実用的な利点を有してい
る。すなわち、非常に広いダイナミックレンジのＸ線を
光電変換手段により読み取って電気信号に変換し、この
電気信号を用いて写真感光材料等の記録材料、ＣＲＴ等
の表示装置に放射線画像を可視像として出力させること
によって、放射線露光量の変動に影響されない放射線画
像を得ることができる。

【０００４】ここでＸ線画像を検出するための半導体の
センサは、広面積、高分解能化が進み４３×３５ｃｍの
半切細部の画像に対して、２０００×２５００画素、あ
るいはそれ以上の画素から構成される。このような広い
面積の検出領域を有する半導体のセンサに関しては、各
画素の補正が必要である。必要な補正としては、オフセ
ット補正、ゲイン補正（シェーディング補正）を考える
ことが出来る。オフセット補正は、影響毎に収集するこ
とが可能であり、Ｘ線曝射と同じ積分時間のオフセット
をキャンセルする技術が知られている。ゲイン補正に関
しては、被検査体がない状態で、Ｘ線を曝射してその画
像を白画像として、補正係数を計算するわけであるが、
この画像を頻繁にとることは著しく作業性を悪化させる
ものである。そこで、予め撮影したゲイン補正係数を長
期にわたって、たとえば１週間、１ヶ月、１年間使用す
ることが考えられる。センサ特性の温度変化、経年変化
を考慮すると、なるべく頻繁に撮影したほうがよいと考
えられる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】センサとX線焦点との
距離が近い状態で撮影を行う場合がある。例えば、骨撮
影の場合には、センサとX線焦点との距離が１ｍで撮影
される。このような場合において、センサの検出領域が
４３×４３cmの面積を考えると、一般のX線装置の照射
角度は１２度であり、１２度の放射角で１ｍの距離で
は、検出領域の全面を照射することはできない。

【０００６】ところで、このような撮影条件で被写体画
像を検出する場合には、補正用のデ−タを取得する場合
においても、この距離で照射することによって補正用画
像を取得することが望ましい。

【０００７】しかしながら、従来においては、上記のよ
うな場合における被写体画像の適切な補正の方法が存在
していなかった。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、被写体画像を検出するための検出領域を含む検出
手段と、前記検出領域における照射領域に対応する第1
の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域に
おける照射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ
−タに補正を行う第1の処理と、前記第2の領域のうち前
記第１の領域と重ならない領域に基いた画像用デ−タの
処理を行う第2の処理とを含む補正手段とを有すること
を特徴とする画像処理装置を提供する。

【０００９】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に
対応する前記検出領域よりも小さい第1の領域に基いた
補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照射領域
に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行
う補正手段とを有することを特徴とする画像処理装置を
提供する。

【００１０】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に
対応する第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前
記検出領域における照射領域に対応する第2の領域に基
いた画像用デ−タに補正を行う補正手段とを有し、前記
補正手段は、前記検出領域における照射領域が前記検出
領域よりも小さいことに基いて、前記画像用デ−タに対
して補正を加える処理を含むことを特徴とする画像処理
装置を提供する。

【００１１】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に
対応する第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前
記検出領域における照射領域に対応する第2の領域に基
いた画像用デ−タに補正を行う補正手段と、前記検出領
域における照射領域を認識する認識手段とを有し、前記
補正手段は、前記認識手段による認識結果に基づいて、
前記画像用デ−タに対して補正を行う処理を含むことを
特徴とする画像処理装置を提供する。

【００１２】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正する
ための補正方法において、前記検出領域における照射領
域に対応する第1の領域に基いた補正用デ−タを用い
て、前記検出領域における照射領域に対応する第2の領
域に基いた画像用デ−タに補正を行う第1の処理と、前
記第2の領域のうち前記第１の領域と重ならない領域の
画像用デ−タの処理を行う第2の処理とを行うことを特
徴とする補正方法を提供する。

【００１３】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正する
ための補正方法において、前記検出領域における照射領
域に対応する前記検出領域よりも小さい第1の領域に基
いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照射
領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補正
を行うことを特徴とする補正方法を提供する。

【００１４】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像用デ−タを補正す
るための補正方法において、前記検出領域における照射
領域が前記検出領域よりも小さいことに基いて、前記検
出領域における照射領域に対応する第1の領域に基いた
補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照射領域
に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行
うこを特徴とする補正方法を提供する。

【００１５】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像用デ−タを補正す
るための補正方法において、前記検出領域に照射される
照射領域を認識し、前記認識手段による認識結果に基づ
いて、前記検出領域における照射領域に対応する第1の
領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域にお
ける照射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−
タに補正を行うことを特徴とする補正方法を提供する。

【００１６】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正する
ためのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶
媒体において、前記検出領域における照射領域に対応す
る第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記検出
領域における照射領域に対応する第2の領域に基いた画
像用デ−タに補正を行う第1の工程と、前記第2の領域の
うち前記第１の領域と重ならない領域の画像用デ−タの
処理を行う第2の工程と、を有することを特徴とするコ
ンピュ−タ読取り可能な記憶媒体を提供する。

【００１７】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正する
ためのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶
媒体において、前記検出領域における照射領域に対応す
る前記検出領域よりも小さい第1の領域に基いた補正用
デ−タを用いて、前記検出領域における照射領域に対応
する第2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行う工程
を有することを特徴とするコンピュ−タ読取り可能な記
憶媒体を提供する。

【００１８】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正する
ためのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶
媒体において、前記検出領域における照射領域が前記検
出領域よりも小さいことに基いて、前記検出領域におけ
る照射領域に対応する第1の領域に基いた補正用デ−タ
を用いて、前記検出領域における照射領域に対応する第
2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行う工程を有す
ることを特徴とするコンピュ−タ読取り可能な記憶媒体
を提供する。

【００１９】また、被写体画像を検出するための検出領
域を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正する
ためのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶
媒体において、前記検出領域に照射される照射領域を認
識する工程と、前記認識手段による認識結果に基づい
て、前記検出領域における照射領域に対応する第1の領
域に基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域におけ
る照射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タ
に補正を行う工程とを有することを特徴とするコンピュ
−タ読取り可能な記憶媒体を提供する。

【００２０】

【発明の実施の形態】（第1の実施の形態）図１は、本
発明の第1の実施の形態の画像処理装置の主要構成要素
である。

【００２１】501は、被写体である患者の透過したX線分
布を画像化するための検出手段であるX線フラットパネ
ルセンサである。本実施の形態としては、アモルファス
のセンサを使用している。

【００２２】X線フラットパネルセンサ501のような半導
体センサの補正にはオフセット補正と、白補正（ゲイン
補正、シェ−ディング補正）の二つが考えられるが、こ
こでは白補正について開示する。白補正は、一般的に
は、X線焦点とX線フラットパネルセンサ501に被検査体
がない状態でX線をセンサ501に照射し、その照射によて
センサ501から出力される補正画像（補正用デ−タ）を
用いて、センサ501から出力される画像デ−タの補正を
することである。補正画像を得るための撮影の際、テ−
ブル撮影の場合、あるいは特殊な撮影を考える場合は、
X線焦点と、X線フラットパネルセンサ501の間に、天板
やスリットを挿入する場合がある。

【００２３】506は、センサ501から出力された補正画像
を用いて画像を補正するための補正手段である。

【００２４】図１を用いて、本実施の形態の画像処理装
置の動作を説明する。

【００２５】病院で使用される場合においてセンサの検
出領域（図１３の８で示す領域）の全領域に対して補正
画像を撮影することが不可能な場合があるので、予め製
品の工場出荷時に検出領域の全域に対する補正デ−タを
取得する。そして第1の補正係数計算手段502によって補
正係数を算出し、その補正係数を第1の補正係数保存手
段503に保存する。この第1の補正係数保存手段503に保
存された補正係数を第1の補正係数とする。しかしなが
ら、補正デ−タはセンサの経年変化、温度変化も考慮し
てなるべく頻繁にとることが望ましい。そこで、病院で
はセンサの検出領域中の照射可能な領域の補正デ−タを
取得する。そして、そして第1の補正係数計算手段502に
よって補正係数を算出し、その補正係数を第２の補正係
数保存手段504に保存する。この第２の補正係数保存手
段504に保存された補正係数を第２の補正係数とする。
これらはX線のシェ−ディングの違いもあり単純には連
結できないので、第２の補正係数計算手段505によっ
て、それぞれの補正画像に対して近似する関数を多項式
で求めて、第2の補正係数の外側に、第1の補正係数を連
結する。そして補正回路507で、この連結された補正係
数（第3の補正係数）を用いて、センサから出力される
画像デ−タに対して、補正を行う。

【００２６】次に、図１の画像処理装置の詳細について
説明する。

【００２７】センサ５０１から出力された補正画像は、
第一の補正係数計算手段５０２に転送される。第一の補
正係数計算手段５０２は、認識手段６０１、割り算手段
６０２、とＬＯＧ変換手段６０３より構成される。

【００２８】認識手段６０１は、画像縮小部３０１、照
射野絞りの有無判定３０２、プロファイル解析３０３よ
り構成される。画像縮小部３０１では、入力画像２６８
８×２６８８画素の画像に対して３３６×３３６画素程
度の縮小画像を出力する。後に続く処理の演算時間を短
くするためにオリジナル１２ビット画像が、下位４ビッ
トの削除して８ビットに変換する事も考えられる。

【００２９】照射野絞りの有無制定３０２においては、
入力画像領域に全体に対してＸ線入射領域がどの様に分
布するかを抽出する。入射Ｘ線領域は、入力画像面全般
に分布している場合もあるが、ある一部にＸ線が照射さ
れる場合（この場合、照射野絞りがあると言う）がある
からである。最初に照射野絞りの有無を判定する。図６
（Ａ）に画像の例を示す。

【００３０】照射野絞りがあるとすれば、Ｘ線未照射部
分が画像の周辺領域にあるため、入力画像の周辺領域の
画素値の平均値と入力画像の中心部の平均画素値を比較
する。経験的に周辺平均画素値が、中央平均画素値の５
パーセントより小さい場合に照射野絞りがあると判断す
る事が出来る。図６（Ｂ）に周辺領域と中心領域の例を
示す。

【００３１】照射野絞りがある場合は、プロファイル解
析３０３により縦方向と横方向にたいしてプロファイル
を何本か抽出する。抽出したプロファイルの２次微分値
をからピーク点を２点抽出する。複数のプロファイルに
対して２次微分のピーク値の座標を求めて、平均的な線
分を求めて照射野領域の線分を求めることが出来る。図
６（Ｃ）にプロファイル位置の例、（Ｄ）に２次微分ピ
ーク検出の例、（Ｅ）各プロファイルの検出位置、
（Ｆ）に決定照射野領域を示す。照射野領域は、矩形に
近似され４本の直線式で記憶することもできるし、マス
ク画像として２次元ビットマップとして記憶することも
可能である。

【００３２】割り算手段６０２においては、抽出された
照射野領域の中央画素（３２×３２画素程度）の平均値
Ｖａを求めて、補正画像の照射野領域Ａ１内部の画素Ｖ
に対して、Ｖ／Ｖａ＝Ｖ１を計算する。これによって、
画素のゲインとＸ線源のシェーディングの両方を補正す
ることが可能である。具体的には、割り算結果に対して
は定数Ｋが掛けられて、有効ビット長１６ビットで保存
される。補正画像の照射野領域Ａ１に対する補正係数に
対して、ＬＯＧ変換手段６０３によりＬＯＧ変換され
る。ＬＯＧ変換により１２ビットに圧縮される。

【００３３】第一の補正画像の照射野領域Ａ１に対する
補正係数および補正画像の照射野領域情報が第一の補正
係数保存手段５０３に保存される。ただし、本実施例に
おいては、第一の補正画像は、照射野絞りを行わずに、
工場の出荷時等に撮影されることを想定しているので、
照射野領域はセンサの全領域であるが、これに限定され
るものではない。

【００３４】次に病院等で撮影される第二の補正画像に
ついて説明する。第二の補正画像も同様に第一の補正係
数計算手段５０２を使用して、補正係数の計算がされる
が違いは照射野は限定されていることである。これを図
３にしめす。第一の補正係数は（Ａ）に、第二の補正係
数は（Ｂ）にしめす。線で示した部分のプロファイルを
下に示す。使用するＸ線装置、あるいはＸ線焦点からセ
ンサまでの距離がことなるシェーディングの様子もこと
なる可能性がある。第二の補正画像に対する照射領域を
Ａ２、割り算手段の出力をＶ／Ｖａ＝Ｖ２とする。

【００３５】図５に示す第二の補正係数計算手段につい
て説明する。多項式近似手段７０１、照射野領域の比較
手段７０２、誤差計算手段７０３、つなぎ合わせ手段７
０４、ＬＯＧ変換手段７０５より構成される。多項式近
似手段７０１は、第一の補正係数Ｖ１（Ｘ，Ｙ）、第二
の補正係数Ｖ２（Ｘ，Ｙ）に対する多項式Ｆ１（Ｘ，
Ｙ）、Ｆ２（Ｘ，Ｙ）をそれぞれ求める。具体的には、
Ｆ１（Ｘ，Ｙ）＝ａＸ＾２＋ｂＹ＾２＋ｃＸＹ＋ｄＸ＋
ｅＹ＋ｆ、Ｆ２（Ｘ，Ｙ）＝ｓＸ＾２＋ｔＹ＾２＋ｕＸ
Ｙ＋ｖＸ＋ｗＹ＋ｚとした場合の各係数を最小二乗法で
もとめることである。ここでは、二次の関数を使用した
が三次関数を使用してもよいし、更に次数をあげてもよ
い。

【００３６】照射野領域の比較手段７０２は、照射野領
域Ａ１とＡ２の大小関係の比較である。ここで紹介する
例は、Ａ２がＡ１の部分になっているが、この方法の必
要条件ではない。比較の手法としては、照射領域がビッ
トマップで保存されている場合は、画像的に認識するこ
とが出来、領域が直線で表現されている場合は、線分と
して求めることが出来る。本実施例では内部であるＡ２
を基本に第三の補正係数を決定し、Ａ２の外形部分が接
続部分として決定される。

【００３７】誤差計算手段７０３について説明する。基
準補正係数がＶ２となったので、Ａ２の外側に対して誤
差分を計算する。つまり、Ａ１の領域からＡ２の領域を
差し引いた部分をＡ３とすると、Ａ３の領域に対してＦ
１（Ｘ，Ｙ）を計算して、それと第一の補正係数Ｖ１
（Ｘ，Ｙ）の誤差分Ｄ（Ｘ，Ｙ）をもとめる。

【００３８】Ｄ（Ｘ，Ｙ）＝Ｖ１（Ｘ，Ｙ）／Ｆ１
（Ｘ，Ｙ）、ただし、（Ｘ，Ｙ）はＡ３の領域。

【００３９】そして、やはりＡ３の領域に対してＦ２
（Ｘ，Ｙ）を設けて、これと誤差分Ｄ（Ｘ，Ｙの和をＡ
３に対する第三の補正係数Ｖ３３とする。

【００４０】Ｖ３３（Ｘ，Ｙ）＝Ｄ（Ｘ，Ｙ）×Ｆ２
（Ｘ，Ｙ）、ただし、（Ｘ，Ｙ）はＡ３の領域。

【００４１】照射野領域Ａ２に対する補正係数Ｖ３２
（Ｘ，Ｙ）＝Ｖ２（Ｘ，Ｙ）、ただし、（Ｘ，Ｙ）はＡ
２の領域、となる。

【００４２】基本的に以上の処理で補正係数の連結処理
は完了するが、つなぎ目に段差アーチファクトが発生す
ることも考えられる。このためにつなぎめ処理７０４を
行う。つなぎめ処理は、照射領域Ａ２の外周の画素値に
対して、Ｖ３２（Ｘ，Ｙ）とＶ３３（Ｘ，Ｙ）の和Ｓ３
２，Ｓ３３を求める。

【００４３】Ｓ３２＝ΣＶ３２（Ｘ，Ｙ）、ただし、
（Ｘ，Ｙ）はＡ２の外周Ｓ３３＝ΣＶ３３（Ｘ，Ｙ）、ただし、（Ｘ，Ｙ）はＡ
２の外周

【００４４】Ｓ３２とＳ３３が等しければ段差なく補正
係数が連結されていると判断することが出来る。その差
をＡ２の周辺画素数で割ったものを求めてそれをＤ３と
する。

【００４５】Ｄ３＝（Ｓ３２−Ｓ３３）／Ａ２の外周画素数、つなぎめ処理は、このＤ３をＶ３３に足して、最終的な
連結補正係数Ｖ３にする処理である。

【００４６】Ｖ３（Ｘ，Ｙ）＝Ｖ３３（Ｘ，Ｙ）＋Ｄ
３、ただし、（Ｘ，Ｙ）はＡ３の領域。

【００４７】照射野領域Ａ２に対する補正係数は、Ｖ３
（Ｘ，Ｙ）＝Ｖ３２（Ｘ，Ｙ）、ただし、（Ｘ，Ｙ）は
Ａ２の領域、である。以上によって求められた補正係数
をＬＯＧ変換手段７０５によりＬＯＧ変換して、最終的
な補正係数が計算される。本撮影の画像にたいする補正
は、本画像のデータ（画像用データ）に対してオフセッ
ト補正、ＬＯＧ変換した後に図に示す白補正手段によっ
て第三の補正係数を減算することにより行われる。図１
７に近似関数と補正係数の連結の様子を示している。

【００４８】（第２の実施の形態）図８は、本発明の第
２の実施の形態の画像処理装置の主要構成要素である。

【００４９】501は、被写体である患者の透過したX線分
布を画像化するための検出手段であるX線フラットパネ
ルセンサである。本実施の形態としては、アモルファス
のセンサを使用している。

【００５０】X線フラットパネルセンサ501のような半導
体センサの補正にはオフセット補正と、白補正（ゲイン
補正、シェ−ディング補正）の二つが考えられるが、こ
こでは白補正について開示する。白補正は、一般的に
は、X線焦点とX線フラットパネルセンサ501に被検査体
がない状態でX線をセンサ501に照射し、その照射によて
センサ501から出力される補正画像（補正用デ−タ）を
用いて、センサ501から出力される画像デ−タの補正を
することである。補正画像を得るための撮影の際、テ−
ブル撮影の場合、あるいは特殊な撮影を考える場合は、
X線焦点と、X線フラットパネルセンサ501の間に、天板
やスリットを挿入する場合がある。

【００５１】516は、センサ501から出力された補正画像
を用いて画像を補正するための補正手段である。

【００５２】図８を用いて、本実施の形態の画像処理装
置の動作を説明する。

【００５３】まず、検出手段であるX線フラットパネル
センサ501の検出領域内（図１３の８で示す領域）の照
射領域に対応する部分から出力された補正画像（補正用
デ−タ）は、第1の実施の形態で用いられた第1の補正係
数計算手段と同じ補正係数計算手段502によって補正係
数を算出し、その補正係数を第1の実施の形態で用いら
れた第1の補正係数保存手段同じ補正係数保存手段503に
保存する。そして、その補正係数の照射領域をキャリブ
レ−ション領域保存手段504に保存する。センサからの
画像デ−タに対しては、補正係数計算手段513とキャリ
ブレ−ション領域保存手段514からの情報に基づいて、
補正画像を得るために照射した照射領域と、画像デ−タ
を得るために照射した照射領域との重なり部分のみを補
正し、重ならない部分の画像デ−タを画像として出力し
ないようにする。

【００５４】次に、図８の画像処理装置の詳細について
説明する。

【００５５】センサ５０１から出力された補正画像は、
補正係数計算手段５０２に転送される。補正係数計算手
段５０２は、認識手段６０１と、割り算手段６０２、Ｌ
ＯＧ変換手段６０３より構成される（図２）。

【００５６】認識手段６０１は、画像縮小部３０１、照
射野絞りの有無判定３０２、プロファイル解析３０３よ
り構成される。画像縮小部３０１では、入力画像２６８
８×２６８８画素の画像に対して３３６×３３６画素程
度の縮小画像を出力する。後に続く処理の演算時間を短
くするためにオリジナル１２ビット画像が、下位４ビッ
トの削除して８ビットに変換する事も考えられる。

【００５７】認識手段６０１においては、入力画像領域
に全体に対してＸ線入射領域がどの様に分布するかを抽
出する。入射Ｘ線領域は、入力画像面全般に分布してい
る場合もあるが、ある一部にＸ線が照射される場合（こ
の場合、照射野絞りがあると言う）があるからである。
最初に照射野絞りの有無を判定する。図６（Ａ）に画像
の例を示す。

【００５８】照射野絞りがあるとすれば、Ｘ線未照射部
分が画像の周辺領域にあるため、入力画像の周辺領域の
画素値の平均値と入力画像の中心部の平均画素値を比較
する。経験的に周辺平均画素値が、中央平均画素値の５
パーセントより小さい場合に照射野絞りがあると判断す
る事が出来る。図６（Ｂ）に周辺領域と中心領域の例を
示す。

【００５９】照射野絞りがある場合は、プロファイル解
析３０３により縦方向と横方向にたいしてプロファイル
を何本か抽出する。抽出したプロファイルの２次微分値
をからピーク点を２点抽出する。複数のプロファイルに
対して２次微分のピーク値の座標を求めて、平均的な線
分を求めて照射野領域の線分をもとめることが出来る。
図６（Ｃ）にプロファイル位置の例、（Ｄ）に２次微分
ピーク検出の例、（Ｅ）各プロファイルの検出位置、
（Ｆ）に決定照射野領域を示す。照射野領域は、矩形に
近似され４本の直線式で記憶することもできるし、マス
ク画像として２次元ビットマップとして記憶することも
可能である。補正画像の照射の領域情報は、キャリブレ
ーション領域保存手段５１４に記憶される。

【００６０】割り算手段６０２においては、抽出された
照射野領域の中央画素（３２×３２画素程度）の平均値
Ｖａと求めて、補正画像の照射野領域Ａｃ内部の画素Ｖ
に対して、Ｖ／Ｖａを計算する。これによって、画素の
ゲインとＸ線源のシェーディングの両方を補正すること
が可能である。具体的には、割り算結果に対しては定数
Ｋが掛けられて、有効ビット長１６ビットで保存され
る。

【００６１】補正画像の照射野領域Ａｃに対する補正係
数に対して、ＬＯＧ変換手段６０３によりＬＯＧ変換さ
れる。ＬＯＧ変換により１２ビットに圧縮されて、結果
は補正係数保存手段５０３で保存される。

【００６２】次に実際に撮影された被検査体の画像に関
する補正をおこなう白補正手段５１５を説明する。補正
画像と被検査体画像の照射領域の関係を図９を用いて説
明する。（Ａ）が補正画像（キャリブレーション）画像
の領域をしめす。センサ領域全体に対して、中央部の一
部のみが補正画像の撮影領域となっている。（Ｂ）に示
すのが、被検査体画像の撮影照射野領域である。（Ｂ）
に示すように、２枚の照射野領域は完全にはオーバーラ
ップしていない。そのために、被検査体画像の全部を白
補正することは出来ず、（Ｃ）に示すように、２枚の画
像がオーバーラップするところの補正が可能で、画像出
力できる。しかし、表示に際しては単純に被検査体画像
の撮影領域中の補正画像可能領域のみを表示するのは、
操作者に不親切であるので、破線で示すように照射野領
域の輪郭を表示することが考えられる。また、輪郭以外
にも画像領域が補正画像との関係で一部不出力になって
いることを文章で出力することも出きる。

【００６３】白補正手段５１５について説明する。図１
０に示す照射野抽出７０１、キャリブレーション（補正
画像）領域と被検査体画像の比較手段７０２、ＬＯＧ変
換７０３、減算手段７０４から構成される。照射野抽出
７０１は認識手段６０１とほぼ同じ処理が行われる。違
う点は、照射野領域中に対象物が写し込まれているの
で、２次微分のピークが被検査体内のエッジ部で検知さ
れることもあるが、抽出点の平均化処理をすることによ
り輪郭線の直線式を抽出することが可能である。

【００６４】キャリブレーション（補正画像）領域と被
検査体画像の比較手段７１２は、被検査体画像の照射野
領域中で補正係数が保存されている領域を決定する。輪
郭を示す直線式の計算で求める方法と、２枚の照射野領
域を示す２次元ビットマップをＡＮＤ処理しても求める
ことが可能である。

【００６５】次に、比較手段７１２で決定された画像出
力領域に対して、ＬＯＧ変換７１３、減算手段７１４を
行うことにより出力画像が決定される。図示しない画像
出力装置に画像が出力される際には、周波数強調処理、
階調変化処理等がおこなわれて出力される。

【００６６】以上に説明した補正手段は、第1の実施の
形態では、第1の補正係数計算手段502、第1の補正係数
保存手段503、第2の補正係数保存手段504、第2の補正係
数計算手段505及び、演算手段506を含む構成のものを示
し、第2の実施の形態では、補正係数計算手段502、補正
係数保存手段503、キャリブレション領域保存手段及び
白補正手段515を含む構成のものを示したが、これに限
らず、センサ501内の検出領域における照射領域に対応
する第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記検
出領域における照射領域に対応する第2の領域に基いた
画像用デ−タに補正を行う第1の処理と、第2の領域のう
ち前記第１の領域と重ならない領域の画像用デ−タの処
理を行う第2の処理とを含む構成のものであればよい。
また、補正手段はセンサ501内の検出領域における、照
射領域に対応する前記検出領域よりも小さい第1の領域
に基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における
照射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに
補正を行う処理を含む構成であってもよい。また、補正
手段は、センサ501内の検出領域における照射領域に対
応する第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記
検出領域における照射領域に対応する第2の領域に基い
た画像用デ−タに補正を行う処理と、その検出領域に照
射される照射領域が前記検出領域よりも小さいことに基
いて、検出領域から出力される画像用デ−タに対して補
正を加える処理を含む構成であってもよい。また、さら
に、補正手段は、センサ５０１内の検出領域における照
射領域を認識する手段と、センサ501内の検出領域にお
ける照射領域に対応する第1の領域に基いた補正用デ−
タを用いて、前記検出領域における照射領域に対応する
第2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行うととも
に、その認識手段による認識結果に基づいて、画像用デ
−タに対して補正を行う手段を含む構成であってもよ
い。

【００６７】次に、上記の第１又は第２の実施の形態で
説明した検出手段（Ｘ線フラットパネルセンサ）及び補
正手段を用いたＸ線撮像システムの全体を説明する。

【００６８】図１１を用いて、Ｘ線撮像システムの全体
を説明する。１０１はＸ線室、１０２はＸ線制御室、１
０３は診断室を表している。本Ｘ線撮像システムの全体
的な動作はシステム制御部１１０によって支配される。

【００６９】操作者インターフェース１１１は、ディス
プレイ上のタッチパネル、マウス、キーボード、ジョイ
スティック、フットスイッチなどがある。操作者インタ
ーフェース１１１から撮像条件（静止画、動画、Ｘ線管
電圧、管電流、Ｘ線照射時間など）および撮像タイミン
グ、画像処理条件、被験者ＩＤ、取込画像の処理方法な
どの設定を行うことが出来るが、ほとんどの情報は、不
図示の放射線情報システムから転送されるので、個別に
入力する必要はない。操作者の重要な作業は、撮影した
画像の確認作業である。つまり、アングルが正しいか、
患者が動いていないか、画像処理が適切か等の判断を行
なう。

【００７０】そして、システム制御部１１０はＸ線撮像
シーケンスを司る撮像制御部２１４に、操作者１０５あ
るいは放射線情報システム５０７の指示に基づいた撮像
条件を指示し、データを取り込む。撮像制御部２１４は
その指示に基づき放射線源２１１であるＸ線発生装置１
２０、撮像用寝台１３０、Ｘ線検出器１４０を駆動して
画像データを取り込み、画像処理部１０に転送後、操作
者指定の画像処理を施してディスプレイ１６０に表示、
同時にオフセット補正、ＬＯＧ変換、およびゲイン補正
の基本画像処理を行った生データを外部記憶装置１６１
に保存する。画像処理部１０は、第１の実施の形態の第
１及び第２の補正係数計算手段５０２、５０５、白補正
手段５０６又は、第２の実施の形態の補正係数計算手段
５０２、白補正手段５１５を含む構成である。外部記憶
装置１６１は、第１の実施の形態の第１及び第２の補正
係数保存手段又は、第２の実施の形態の補正係数保存手
段５０３、キャリブレーション領域保存手段５０４を含
んだ構成であり、外部記憶装置１６１には、生画像の他
に処理プログラム、保存画像リスト、ゲイン補正用画像
等が保存される。このように、第１又は第２の実施の形
態で説明した補正手段は、図１２の画像処理部１０、外
部記録装置１６１が相当する。

【００７１】さらに、システム制御部１１０は撮像者１
０５の指示に基づいて、再画像処理及び再生表示、ネッ
トワーク上の装置への画像データの転送・保存、ディス
プレイ表示やフィルムへの印刷などを行う。

【００７２】次に、信号の流れを追って順次説明を加え
る。

【００７３】Ｘ線発生装置１２０にはＸ線管球１２１と
Ｘ線絞り１２３とが含まれる。Ｘ線管球１２１は撮像制
御部２１４に制御された高圧発生電源１２４によって駆
動され、Ｘ線ビーム１２５を放射する。Ｘ線絞り１２３
は撮像制御部２１４により駆動され、撮像領域の変更に
伴い、不必要なＸ線照射を行わないようにＸ線ビーム１
２５を整形する。Ｘ線ビーム１２５はＸ線透過性の撮像
用寝台１３０の上に横たわった被検体１２６に向けられ
る。撮像用寝台１３０は、撮像制御部２１４の指示に基
づいて駆動される。Ｘ線ビーム１２５は、被検体１２６
および撮像用寝台１３０を透過した後にＸ線検出部１４
０に照射される。

【００７４】Ｘ線検出部１４０はグリッド１４１、シン
チレータ１４２、光検出器アレー（検出領域）８、Ｘ線
露光量モニタ１４４および駆動回路１４５から構成され
る。グリッド１４１は、被検体１２６を透過することに
よって生じるＸ線散乱の影響を低減する。グリッド１４
１はＸ線低吸収部材と高吸収部材とから成り、例えば、
ＡｌとＰｂとのストライプ構造をしている。そして、光
検出器アレー８とグリッド１４１との格子比の関係によ
りモワレが生じないようにＸ線照射時には撮像制御部２
１４の指示に基づいてグリッド１４１を振動させる。図
１で示したＸ線フラットパネルセンサー５０１の構成要
素としては、シンチレータ１４２、光検出器アレー８お
よび駆動回路１４５である。

【００７５】シンチレータ１４２ではエネルギーの高い
Ｘ線によって蛍光体の母体物質が励起され、再結合する
際の再結合エネルギーにより可視領域の蛍光が得られ
る。その蛍光はＣａＷｏ４やＣｄＷＯ４などの母体自身
によるものやＣｓｌ：ＴｌやＺｎｓ：Ａｇなどの母体内
に付活された発光中心物質によるものがある。

【００７６】このシンチレータ１４２に隣接して光検出
器アレー８が配置されている。この光検出器アレー８は
光子を電気信号に変換する。Ｘ線露光量モニタ１４４は
Ｘ線透過量を監視するものである。Ｘ線露光量モニタ１
４４は結晶シリコンの受光素子などを用いて直接Ｘ線を
検出しても良いし、シンチレータ１４２からの光を検出
してもよい。この例では、光検出器アレー８を透過した
可視光（Ｘ線量に比例）を光検出器アレー８基板裏面に
成膜されたアモーファスシリコン受光素子で検知し、撮
像制御部２１４にその情報を送り、撮像制御部２１４は
その情報に基づいて高圧発生電源１２４を駆動してＸ線
を遮断あるいは調節する。駆動回路１４５は、撮像制御
部２１４の制御下で、光検出器アレー（フラットパネル
センサ）８を駆動し、各画素から信号を読み出す。光検
出器アレー８、周辺駆動回路１４５については後で詳述
する。

【００７７】Ｘ線検出部１４０からの画像信号は、Ｘ線
室１０１からＸ線制御室１０２内の画像処理部１０へ転
送される。この転送の際、Ｘ線室１０１内はＸ線発生に
伴うノイズが大きいため、画像データがノイズのために
正確に転送されない場合が有るため、転送路の耐雑音性
を高くする必要がある。誤り訂正機能を持たせた伝送系
にする事やその他、例えば、差動ドライバによるシール
ド付き対より線や光ファイバによる転送路を用いること
が望ましい。画像処理部１０では、撮像制御部２１４の
指示に基づき表示データを切り替える（後に詳しく述べ
る）。その他、画像データの補正（第１の実施の形態の
第１の補正係数計算手段５０２、第２の補正係数計算手
段５０４、白補正手段５０６で行う補正動作又は第２の
実施の形態の補正係数計算手段５０２、白補正手段５１
５で行う補正動作）、空間フィルタリング、リカーシブ
処理などをリアルタイムで行ったり、階調処理、散乱線
補正、各種空間周波数処理などを行うことも可能であ
る。

【００７８】処理された画像はディスプレイアダプタ１
５１を介してディスプレイ１６０に表示される。またリ
アルタイム画像処理と同時に、データの補正のみ行われ
た基本画像は、外部記憶装置１６１に保存される。高速
記憶装置１６１としては、大容量、高速かつ高信頼性を
満たすデータ保存装置が望ましく、例えば、ＲＡＩＤ等
のハードディスクアレー等が望ましい。また、操作者の
指示に基づいて、外部記憶装置１６１に蓄えられた画像
データは外部記憶装置１６２に保存される。その際、画
像データは所定の規格（例えば、ＩＳ＆Ｃ）を満たすよ
うに再構成された後に、外部記憶装置に保存される。外
部記憶装置は、例えば、光磁気ディスク１６２、ＬＡＮ
上のファイルサーバ１７０内のハードディスクなどであ
る。

【００７９】本Ｘ線撮像システムはＬＡＮボード１６３
を介して、ＬＡＮに接続する事も可能であり、ＨＩＳと
のデータの互換性を持つ構造を有している。ＬＡＮに
は、複数のＸ線撮像システムを接続する事は勿論のこ
と、動画・静止画を表示するモニタ１７４、画像データ
をファイリングするファイルサーバ１７０、画像をフィ
ルムに出力するイメージプリンタ１７２、複雑な画像処
理や診断支援を行う画像処理用端末１７３などが接続さ
れる。本Ｘ線撮像システムは、所定のプロトコル（例え
ば、ＤＩＣＯＭ）に従って、画像データを出力する。そ
の他、ＬＡＮに接続されたモニタを用いて、Ｘ線撮像時
に医師によるリアルタイム遠隔診断が可能である。

【００８０】図１２に光検出アレー８の一例の等価回路
を示す。以下の例は２次元アモーファスシリコンセンサ
について説明を加えていくが、検出素子は特に限定する
必要はなく、例えばその他の固体撮像素子（電荷結合素
子など）あるいは光電子倍増管のような素子であっても
Ａ／Ｄ変換部の機能、構成については同様である。

【００８１】さて、図１２に戻って説明を加える。１素
子の構成は光検出部２１と電荷の蓄積および読み取りを
制御するスイッチングＴＦＴ２２とで構成され、一般に
はガラスの基板上に配されたアモーファスシリコン（α
−Ｓｉ）で形成される。光検出部２１中の２１−Ｃはこ
の例では単に寄生キャパシタンスを有した光ダイオード
でもよいし、光ダイオード２１−Ｄと検出器のダイナミ
ックレンジを改良するように追加コンデンサ２１−Ｃを
並列に含んでいる光検出器と捉えても良い。ダイオード
２１−ＤのアノードＡは共通電極であるバイアス配線Ｌ
ｂに接続され、カソードＫはコンデンサ２１−Ｃに蓄積
された電荷を読み出すための制御自在なスイッチングＴ
ＦＴ２２に接続されている。この例では、スイッチング
ＴＦＴ２２はダイオード２１−ＤのカソードＫと電荷読
み出し用増幅器２６との間に接続された薄膜トランジス
タである。

【００８２】スイッチングＴＦＴ２２と信号電荷はリセ
ット用スイッチング素子２５を操作してコンデンサ２１
−Ｃをリセットした後に、放射線１を放射することによ
り、光ダイオード２１−Ｄで放射線量に応じた電荷を発
生し、コンデンサ２１−Ｃに蓄積される。その後、再
度、スイッチングＴＦＴ２２と信号電荷はリセット用ス
イッチング素子２５を操作して容量素子２３に電荷を転
送する。そして、光ダイオード２１−Ｄにより蓄積され
た量を電位信号として前置増幅器２６によって読み出
し、Ａ／Ｄ変換を行うことにより入射放射線量を検出す
る。

【００８３】図１３は２次元に配列した光電変換装置
（図１１の光検出アレイ８及び駆動回路１４５に相当）
を表した等価回路図である。図１２で示された光電変換
素子を具体的に２次元に拡張して構成した場合における
光電変換動作について述べる。

【００８４】光検出アレー８の画素は２０００×２００
０〜４０００×４０００程度の画素から構成され、アレ
ー面積は２００ｍｍ×２００ｍｍ〜５００ｍｍ×５００
ｍｍ程度である。図９において、光検出アレー８は４０
９６×４０９６の画素から構成され、アレー面積は４３
０ｍｍ×４３０ｍｍである。よって、１画素のサイズは
約１０５×１０５μｍである。１ブロック内の４０９６
画素を横方向に配線し、４０９６ラインを順に縦に配置
する事により各画素を２次元的に配置している。

【００８５】上記の例では４０９６×４０９６画素の光
検出器アレー８を１枚の基板で構成した例を示したが、
４０９６×４０９６画素の光検出器アレー８を２０４８
×２０４８個の画素を持つ４枚の光検出器で構成するこ
ともできる。２０４８×２０４８個の検出器を４枚で１
つの光検出器アレー８を構成する場合は、分割して製作
する事により歩留まりが向上するなどのメリットがあ
る。

【００８６】前述の通り１画素は、光電変換素子２１と
スイッチングＴＦＴ２２とで構成される。２１−（１，
１）〜２１−（４０９６，４０９６）は前述の光電変換
素子２１に対応するものであり、光検出ダイオードのカ
ソード側をＫ、アノード側をＡとして表している。２２
−（１，１）〜２２−（４０９６，４０９６）はスイッ
チングＴＦＴ２２に対応するものである。

【００８７】２次元光検出器アレー８の各列の光電変換
素子２１−（ｍ，ｎ）のＫ電極は対応するスイッチング
ＴＦＴ２２−（ｍ，ｎ）のソース、ドレイン導電路によ
りその列に対する共通の列信号線（Ｌｃ１〜４０９６）
に接続されている。例えば、列１の光電変換素子２１−
（１，１）〜（１，４０９６）は第１の列信号配線Ｌｃ
１に接続されている。各行の光電変換素子２１のＡ電極
は共通にバイアス配線Ｌｂを通して前述のモードを操作
するバイアス電源３１に接続されている。各行のＴＦＴ
２２のゲート電極は行選択配線（Ｌｒ１〜４０９６）に
接続されている。例えば、行１のＴＦＴ２２−（１，
１）〜（４０９６，１）は行選択配線Ｌｒ１に接続され
る。行選択配線Ｌｒはラインセレクタ部３２を通して撮
像制御部３３に接続されている。ラインセレクタ部３２
は例えばアドレスデコーダ３４と４０９６個のスイッチ
素子３５から構成される。この構成により任意のライン
Ｌｒｎを読み出すことが可能である。ラインセレクタ部
３２は最も簡単に構成するならば単に液晶ディスプレイ
などに用いられているシフトレジスタによって構成する
ことも可能である。

【００８８】列信号配線Ｌｃは撮像制御部３３により制
御される信号読み出し部３６に接続されている。２５は
列信号配線Ｌｒをリセット基準電源２４の基準電位にリ
セットするためのスイッチ、２６は信号電位を増幅する
ための前置増幅器、３８はサンプルホールド回路、３９
はアナログマルチプレクサ、４０はＡ／Ｄ変換器をそれ
ぞれ表す。それぞれの列信号配線Ｌｃｎの信号は前置増
幅器２６により増幅されサンプルホールド回路３８によ
りホールドされる。その出力はアナログマルチプレクサ
３９により順次Ａ／Ｄ変換器４０へ出力されディジタル
値に変換され画像処理部１０に転送される。

【００８９】光電変換装置は４０９６×４０９６個の画
素を４０９６個のラインＬｃｎに分け、１行あたり４０
９６画素の出力を同時に転送し、この列信号配線Ｌｃを
通して前置増幅器２６−１〜４０９６、サンプルホール
ド部３８−１〜４０９６を通してアナログマルチプレク
サ３９によって順次、Ａ／Ｄ変換器４０に出力される。

【００９０】図９ではあたかもＡ／Ｄ変換器４０が１つ
で構成されているように表されているが、実施には４〜
３２の系統で同時にＡ／Ｄ変換を行う。これは、アナロ
グ信号帯域Ａ／Ｄ変換レートを不必要に大きくすること
なく、画像信号の読み取り時間を短くすることが要求さ
れるためである。

【００９１】蓄積時間とＡ／Ｄ変換時間とは密接な関係
にあり、高速にＡ／Ｄ変換を行うとアナログ回路の帯域
が広くなり所望のＳ／Ｎを達成することが難しくなる。
従って、Ａ／Ｄ変換速度を不必要に速くすることなく、
画像信号の読み取り時間を短くすることが要求される。
そのためには、多くのＡ／Ｄ変換器４０を用いてＡ／Ｄ
変換を行えばよいが、その場合はコストが高くなる。よ
って、上述の点を考慮して適当な値を選択する必要があ
る。

【００９２】放射線１の照射時間はおよそ１０〜５００
ｍｓｅｃであるので、全画面の取り込み時間あるいは電
荷蓄積時間を１００ｍｓｅｃのオーダーあるいはやや短
めにすることが適当である。

【００９３】例えば、全画素を順次駆動して１００ｍｓ
ｅｃで画像を取り込むために、アナログ信号帯域を５０
ＭＨｚ程度にし、例えば１０ＭＨｚのサンプリングレー
トでＡ／Ｄ変換を行うと、最低でも４系統のＡ／Ｄ変換
器４０が必要になる。本撮像装置では１６系統で同時に
Ａ／Ｄ変換を行う。１６系統のＡ／Ｄ変換器４０の出力
はそれぞれに対応する１６系統の図示しないメモリ（Ｆ
ＩＦＯなど）に入力される。そのメモリを選択して切り
替えることで連続した１ラインの走査線にあたる画像デ
ータとして以後の画像処理部１０、あるいはそのメモリ
に転送される。この後、画像、グラフとしてディスプレ
イなどの表示装置に表示を行う。

【００９４】（他の実施形態）本発明は、前述した実施
形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコード
を記録した記憶媒体を、システムあるいは装置に供給
し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（または
ＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒体に格納されたプログラムコ
ードを読出し実行することによっても、達成されること
は言うまでもない。

【００９５】この場合、記憶媒体から読出されたプログ
ラムコード自体が本発明の新規な機能を実現することに
なり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発
明を構成することになる。

【００９６】プログラムコードを供給するための記憶媒
体としては、例えば、フロッピーディスク、ハードディ
スク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯＭ，Ｃ
Ｄ−Ｒ，磁気テープ不揮発性のメモリカード、ＲＯＭな
どを用いることができる。

【００９７】また、コンピュータが読出したプログラム
コードを実行することによって、前述した実施形態の機
能が実現される他、そのプログラムコードの指示に基づ
き、コンピュータ上で稼働しているＯＳなどが実際の処
理の一部または全部を行い、その処理によっても前述し
た実施形態の機能が実現され得る。

【００９８】さらに、記憶媒体から読出されたプログラ
ムコードが、コンピュータに挿入された機能拡張ボード
やコンピュータに接続された機能拡張ユニットに備わる
メモリに書込まれた後、そのプログラムコードの指示に
基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニットに備わ
るＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部を行い、そ
の処理によっても前述した実施形態の機能が実現され得
る。

【００９９】尚、本発明は、前述した実施形態の機能を
実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記
憶媒体からそのプログラムをパソコン通信等通信ライン
を介して要求者にそのプログラムを配信する場合にも適
用できる。

【０１００】

【発明の効果】本発明により、照射領域が検出手段内の
検出領域よりも小さい場合であっても、適切に画像用デ
−タに対して補正を行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】第1の実施の形態を説明するための図である。

【図２】第1又は第2の実施の形態を説明するための図で
ある。

【図３】第1の実施の形態を説明するための図である。

【図４】第１又は第2の実施の形態を説明するための図
である。

【図５】第１の実施の形態を説明するための図である。

【図６】第１又は第2の実施の形態を説明するための図
である。

【図７】第１又は第2の実施の形態を説明するための図
である。

【図８】第2の実施の形態を説明するための図である。

【図９】第2の実施の形態を説明するための図である。

【図１０】第2の実施の形態を説明するための図であ
る。

【図１１】第1又は第2の実施の形態で説明した検出手段
及び補正手段を用いたX線撮像システムの全体図であ
る。

【図１２】図１１のX線撮像システムの１部分を表す図
である。

【図１３】図１１のX線撮像システムの１部分を表す図
である。

【符号の説明】

８光検出アレイ５０１Ｘ線フラットパネルセンサ５０２第一の補正係数計算手段５０３第一の補正係数保存手段５０４第二の補正係数保存手段５０５第二の補正係数計算手段５０６白補正手段５０７補正手段５１４キャリブレ−ション領域保存手段５１５白補正手段５１６補正手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被写体画像を検出するための検出領域を
含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に対応する第1の領域に
基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照
射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補
正を行う第1の処理と、前記第2の領域のうち前記第１の
領域と重ならない領域に基いた画像用デ−タの処理を行
う第2の処理とを含む補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項２】被写体画像を検出するための検出領域を
含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に対応する前記検出領域
よりも小さい第1の領域に基いた補正用デ−タを用い
て、前記検出領域における照射領域に対応する第2の領
域に基いた画像用デ−タに補正を行う補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。
【請求項３】被写体画像を検出するための検出領域を
含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に対応する第1の領域に
基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照
射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補
正を行う補正手段とを有し、前記補正手段は、前記検出領域における照射領域が前記
検出領域よりも小さいことに基いて、前記画像用デ−タ
に対して補正を加える処理を含むことを特徴とする画像
処理装置。
【請求項４】被写体画像を検出するための検出領域を
含む検出手段と、前記検出領域における照射領域に対応する第1の領域に
基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照
射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補
正を行う補正手段と、前記検出領域における照射領域を認識する認識手段とを
有し、前記補正手段は、前記認識手段による認識結果に基づい
て、前記画像用デ−タに対して補正を行う処理を含むこ
とを特徴とする画像処理装置。
【請求項５】請求項１乃至請求項４のいづれか１項に
おいて、前記第2の処理は、前記第1の処理で用いた補正
用デ−タとは異なる補正用デ−タを用いて、前記重なら
ない領域に基いた画像用デ−タの補正を行うことを特徴
とする画像処理装置。
【請求項６】請求項１乃至請求項４のいづれか１項に
おいて、前記補正手段は、第1の領域に基いた補正用デ
−タと、前記第1の領域とは異なる前記検出領域におけ
る照射領域に対応する領域に基いた補正用デ−タとを連
結することによって補正用デ−タを作成する第3の処理
を含み、前記第3の処理によって作成した補正用デ−タ
を用いて前記第1及び第2の処理を行うことを特徴とする
画像処理装置。
【請求項７】請求項１乃至請求項４のいづれか１項に
おいて、前記第2の処理は、前記重ならない領域に基い
た画像用デ−タを表示しないように処理することを特徴
とする画像処理装置。
【請求項８】請求項７において、前記第2の処理は前
記重ならない領域に関する情報を表示するように処理す
ることを特徴とする画像処理装置。
【請求項９】請求項８において、前記情報は、前記第
2の領域の輪郭であることを特徴とする画像処理装置。
【請求項１０】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正するた
めの補正方法において、前記検出領域における照射領域に対応する第1の領域に
基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照
射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補
正を行う第1の処理と、前記第2の領域のうち前記第１の
領域と重ならない領域の画像用デ−タの処理を行う第2
の処理とを行うことを特徴とする補正方法。
【請求項１１】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正するた
めの補正方法において、前記検出領域における照射領域に対応する前記検出領域
よりも小さい第1の領域に基いた補正用デ−タを用い
て、前記検出領域における照射領域に対応する第2の領
域に基いた画像用デ−タに補正を行うことを特徴とする
補正方法。
【請求項１２】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像用デ−タを補正する
ための補正方法において、前記検出領域における照射領域が前記検出領域よりも小
さいことに基いて、前記検出領域における照射領域に対
応する第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記
検出領域における照射領域に対応する第2の領域に基い
た画像用デ−タに補正を行うこを特徴とする補正方法。
【請求項１３】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像用デ−タを補正する
ための補正方法において、前記検出領域に照射される照射領域を認識し、前記認識手段による認識結果に基づいて、前記検出領域
における照射領域に対応する第1の領域に基いた補正用
デ−タを用いて、前記検出領域における照射領域に対応
する第2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行うこと
を特徴とする補正方法。
【請求項１４】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正するた
めのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶媒
体において、前記検出領域における照射領域に対応する第1の領域に
基いた補正用デ−タを用いて、前記検出領域における照
射領域に対応する第2の領域に基いた画像用デ−タに補
正を行う第1の工程と、前記第2の領域のうち前記第１の領域と重ならない領域
の画像用デ−タの処理を行う第2の工程と、を有することを特徴とするコンピュ−タ読取り可能な記
憶媒体。
【請求項１５】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正するた
めのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶媒
体において、前記検出領域における照射領域に対応する前記検出領域
よりも小さい第1の領域に基いた補正用デ−タを用い
て、前記検出領域における照射領域に対応する第2の領
域に基いた画像用デ−タに補正を行う工程を有すること
を特徴とするコンピュ−タ読取り可能な記憶媒体。
【請求項１６】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正するた
めのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶媒
体において、前記検出領域における照射領域が前記検出領域よりも小
さいことに基いて、前記検出領域における照射領域に対
応する第1の領域に基いた補正用デ−タを用いて、前記
検出領域における照射領域に対応する第2の領域に基い
た画像用デ−タに補正を行う工程を有することを特徴と
するコンピュ−タ読取り可能な記憶媒体。
【請求項１７】被写体画像を検出するための検出領域
を含む検出手段から出力される画像デ−タを補正するた
めのプログラムを含むコンピュ−タ読取り可能な記憶媒
体において、前記検出領域に照射される照射領域を認識する工程と、前記認識手段による認識結果に基づいて、前記検出領域
における照射領域に対応する第1の領域に基いた補正用
デ−タを用いて、前記検出領域における照射領域に対応
する第2の領域に基いた画像用デ−タに補正を行う工程
と、を有することを特徴とするコンピュ−タ読取り可能な記
憶媒体。