JP2001168022A - 加熱処理装置及び加熱処理方法 - Google Patents
加熱処理装置及び加熱処理方法Info
- Publication number
- JP2001168022A JP2001168022A JP2000291712A JP2000291712A JP2001168022A JP 2001168022 A JP2001168022 A JP 2001168022A JP 2000291712 A JP2000291712 A JP 2000291712A JP 2000291712 A JP2000291712 A JP 2000291712A JP 2001168022 A JP2001168022 A JP 2001168022A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hot plate
- heat treatment
- space
- heating
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Surface Heating Bodies (AREA)
- Resistance Heating (AREA)
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Furnace Details (AREA)
- Drying Of Solid Materials (AREA)
Abstract
に昇降温できる加熱処理装置を提供する 【解決手段】 ポストエクスポージャーベーキング装置
44内には,熱伝導性と強度性に優れた窒化アルミニウ
ムからなる熱板70が設けられ,この熱板70は,その
下面に印刷されたヒータ71によって加熱される。断熱
性の優れたPTFEからなるサポート65は,前記熱板
70に密着して,熱板70の全周囲を支持している。さ
らに前記熱板70下方に形成された熱交換室T内にノズ
ル74を設け,熱板70を降温させるときには,熱板7
0の裏面に対して冷却用の気体を吹き付けるように構成
されている。
Description
る加熱処理装置と加熱処理方法に関する。
ジスト処理工程においては,半導体ウエハ(以下,「ウ
エハ」)の表面にレジスト液を塗布した後の加熱処理
(プリベーキング)や,パターンの露光を行った後の加
熱処理(ポストエクスポージャーベーキング)等,種々
の加熱処理が行われている。
によって行われる。この加熱処理装置は,処理容器内に
アルミニウムからなる厚みのある円盤状の熱板を有して
おり,この熱板上に処理対象となるウエハを載置し,前
記熱板に内蔵されている発熱体によって熱板を所定温度
に加熱することで,ウエハを加熱処理していた。
やレジスト液の種類,プロセスの種類等により,加熱す
る温度が異なるため,熱板温度を変更する必要がある。
このとき,ウェハ製造のスループットを向上させるため
熱板の昇降温を高速で行うことが好ましい。
昇温する場合には,熱板外縁部や熱板下方から熱が逃げ
てしまい,また,熱板を降温する場合には,熱が加熱処
理装置内に蓄熱され,熱の交換がスムーズに行われない
ため,熱板の昇降温に長時間要していた。
であり,従来の加熱処理装置に比べて熱板温度を高速に
昇降温できる加熱処理装置及び加熱処理方法を提供し
て,前記問題の解決を図ることをその目的としている。
を熱板上で加熱する加熱処理装置において,前記加熱処
理装置は,前記熱板の少なくとも周縁部を支持する支持
部材を有し,前記支持部材の材質が,断熱材であること
を特徴とする,加熱処理装置が提供される。
とすることにより,熱板に蓄えられた熱が熱板の外縁部
から放熱することを抑制できるので,熱板を高速に昇温
できると共に,加熱処理中,熱板面内の温度が均一に保
たれる。
に,前記支持部材が前記熱板に密着し,前記熱板の全周
囲を支持する構造を有することとしてもよい。
着させて,前記熱板の全周囲を支持することにより,請
求項1の発明に比べてさらに熱板の放射が抑制されるの
で,熱板を高速に昇温でき,また熱板面内の温度の均一
性が向上する。
2の加熱処理装置において,前記熱板の下方に空間部が
形成され,前記空間部を形成する一部が開閉自在である
ことを特徴としている。
ば,前記熱板下方に,例えばケーシング等により囲まれ
空間部を形成し,その空間部の一部に開閉自在な蓋体や
扉を取り付けることにより,前記熱板を加熱するときに
は,前記空間部を閉鎖して保温し,前記熱板を冷却する
ときには,前記空間部を開放して熱を逃がすことができ
るので,従来に比べて,より高速に熱板を昇降温するこ
とができる。
方に空間部を形成すると共に,この空間部の雰囲気を排
気する排気管を備えたことを特徴としている。したがっ
て,例えば加熱の際には空間部を閉鎖して保温し,熱板
を冷却する際には,この排気管から空間部ないの雰囲気
を積極的に排気することで,より高速に熱板を昇降温す
ることができる。
おいて,請求項5のように,前記熱板裏面に対して冷却
用の気体を吹き付ける気体供給手段を有するようにして
も良い。計客用の気体としては,例えばドライエアが適
しているが,一般的な不活性ガス,その他通常の空気を
用いてもよい。
用の気体を吹き付けることにより,前記熱板を冷却する
際に,前記熱板に蓄えられていた熱が気体により急速に
奪われるため,従来よりも高速に冷却することができ
る。
加熱処理装置において,前記熱板の材質が,窒化アルミ
ニウムであることを特徴としている。
ムにすることにより,熱伝導性が増大し,熱板を従来よ
りも高速に昇降温することができる。また窒化アルミニ
ウムは,従来用いられていたアルミニウムに比べて,強
度性にも優れているので,熱板を薄くすることができる
ため,熱に対する応答性が増し,高速に昇降温すること
ができる。
おいて,請求項7のように,前記熱板が,所定のパター
ンに印刷された発熱体を有することとしてもよい。
を直接印刷することによって,従来のように例えば電熱
線で巻かれた銅板を熱板に内蔵させる必要がないので,
熱板を薄く保つことが可能となり,コンパクト化され
る。
と,前記熱板の下方に形成され,一部が開閉自在な空間
部とを有する加熱処理装置を用いて前記基板を加熱処理
するにあたり,少なくとも前記基板の加熱処理中は,前
記空間部が閉鎖され,前記熱板の冷却時には,前記空間
部が開放されることを特徴とする加熱処理方法が提供さ
れる。
記基板の処理中は,前記空間部を閉鎖して保温し,前記
基板を所定の温度で加熱することができる。特に,前記
熱板を昇温する場合には,熱板からの放熱が抑制される
ので,従来よりも高速で昇温できる。また前記熱板を冷
却するときには,前記空間部を開放することにより,従
来に比べてより高速に降温することができる。
と,前記熱板の下方に形成され,一部が開閉自在な空間
部と,前記熱板裏面に対して冷却用の気体を吹き付ける
気体供給手段とを有する加熱処理装置を用いて前記基板
を加熱処理するにあたり,少なくとも前記基板の加熱処
理中は,前記空間部が閉鎖され,前記熱板の冷却時に
は,前記空間部が開放され,前記気体供給手段から冷却
用の気体が前記熱板裏面に吹き付けられることを特徴と
する加熱処理方法が提供される。
記基板の処理中は,前記空間部を閉鎖して保温し,前記
基板を所定の温度で加熱することができる。特に,前記
熱板を昇温する場合には,熱板からの放熱が抑制される
ので,従来よりも高速で昇温できる。前記熱板を冷却す
るときには,前記空間部を開放し,前記熱板裏面に冷却
用の気体を吹き付けることにより,従来に比べてより高
速に降温することができる。
板を加熱する熱板と,前記熱板の下方に形成された空間
部と,前記空間部の雰囲気を排気する排気管と,前記熱
板裏面に対して冷却用の気体を吹き付ける気体供給手段
とを有する加熱処理装置を用いて前記基板を加熱処理す
るにあたり,少なくとも前記基板の加熱処理中は,前記
空間部が閉鎖され,前記熱板の冷却時には,前記排気管
から排気すると共に,前記気体供給手段から冷却用の気
体が前記熱板裏面に吹き付けられることを特徴としてい
る。
と同様,前記空間部を閉鎖して保温し,前記基板を所定
の温度で加熱することができ,また前記熱板を昇温する
場合には,熱板からの放熱が抑制されるので,従来より
も高速で昇温できる。そして熱板を冷却するときには,
前記空間部ないの雰囲気が排気管から積極的に排気され
るとともに,前記熱板裏面に冷却用の気体が吹き付けら
れるので,さらに従来よりも高速に熱板を降温すること
ができ,またパーティクルも当該排気管から直接吸引し
てこれを排気できるので空間部内を汚染することはな
い。
態について説明する。図1は,本実施の形態にかかる加
熱処理装置としてのポストエクスポージャーベーキング
装置を含む塗布現像処理システム1の平面図であり,図
2は,塗布現像処理システム1の正面図であり,図3
は,塗布現像処理システム1の背面図である。
うに,例えば25枚のウェハWをカセット単位で外部か
ら塗布現像処理システム1に対して搬入出したり,カセ
ットCに対してウェハWを搬入出したりするカセットス
テーション2と,塗布現像処理工程の中で枚葉式に所定
の処理を施す各種処理装置を多段配置してなる処理ステ
ーション3と,この処理ステーション3に隣接して設け
られている図示しない露光装置との間でウェハWの受け
渡しをするインターフェイス部4とを一体に接続した構
成を有している。
るカセット載置台5上の所定の位置に,複数のカセット
CをX方向(図1中の上下方向)に一列に載置自在とな
っている。そして,このカセット配列方向(X方向)と
カセットCに収容されたウェハWのウェハ配列方向(Z
方向;鉛直方向)に対して移送可能なウェハ搬送体7が
搬送路8に沿って移動自在に設けられており,各カセッ
トCに対して選択的にアクセスできるようになってい
る。
テーション3側の第3の処理装置群G3に属するアライ
メント装置32とエクステンション装置33に対しても
アクセスできるように構成されている。
搬送装置13が設けられており,主搬送装置13の周辺
には各種処理装置が多段に配置されて処理装置群を構成
している。該塗布現像処理システム1においては,4つ
の処理装置群G1,G2,G3,G4が配置されており,第1及
び第2の処理装置群G1,G2は現像処理システム1の正面
側に配置され,第3の処理装置群G3は,カセットステー
ション2に隣接して配置され,第4の処理装置群G4は,
インターフェイス部4に隣接して配置されている。さら
にオプションとして破線で示した第5の処理装置群G5を
背面側に別途配置可能となっている。
に,2種類のスピンナ型処理装置,例えばウェハWに対
してレジストを塗布して処理するレジスト塗布装置15
と,ウェハWに現像液を供給して処理する現像処理装置
16が下から順に2段に配置されている。第2の処理装
置群G2の場合も同様に,レジスト塗布装置17と,現像
処理装置18とが下から順に2段に積み重ねられている
に,ウェハWを冷却処理するクーリング装置30,レジ
スト液とウェハWとの定着性を高めるためのアドヒージ
ョン装置31,ウェハWの位置合わせを行うアライメン
ト装置32,ウェハWを待機させるエクステンション装
置33,レジスト液塗布後にシンナー溶剤の乾燥を行う
プリベーキング装置34,35及び現像処理後の加熱処
理を施すポストベーキング装置36,37等が下から順
に例えば8段に重ねられている。
グ装置40,載置したウェハWを自然冷却させるエクス
テンション・クーリング装置41,エクステンション装
置42,クーリング装置43,露光処理後の加熱処理を
行う本実施の形態にかかるポストエクスポージャーベー
キング装置44,45,ポストベーキング装置46,4
7等が下から順に例えば8段に積み重ねられている。
ウェハ搬送体50が設けられている。このウェハ搬送体
50はX方向(図1中の上下方向),Z方向(垂直方
向)の移動とθ方向(Z軸を中心とする回転方向)の回
転が自在にできるように構成されており,第4の処理装
置群G4に属するエクステンション・クーリング装置4
1,エクステンション装置42,周辺露光装置51及び
図示しない露光装置に対してアクセスできるように構成
されている。
クスポージャーベーキング装置44について詳しく説明
する。図4に示したように,このポストエクスポージャ
ーベーキング装置41は,ケーシング61内に,上側に
位置して上下自在な蓋体62と,下側に位置していて蓋
体62と一体となって処理室Sを形成する熱板収容部6
3とからなっている。
なる略円錐状の形態を有し,頂上部には,排気部62a
が設けられており,処理部S内の雰囲気は,排気部62
aから均一に排気されるようになっている。
ス64,ケース64内に配置された円盤状の熱板70,
この熱板70の全周囲を支持し,断熱性の良好なポリイ
ミド系やフッ素系合成樹脂,例えばPBI(ポリペンダ
イミダゾール)やPTFE(ポリテトラフルオレエチレ
ン)からなる支持部材としてのサポート65を有してい
る。
着できるようにリング状に構成されている。さらに断熱
材であるフッ素系合成樹脂を使用しているため,加熱処
理中に熱板70の熱が熱板周辺部から放熱することが抑
制される。したがって,熱板70面内の温度が均一に保
たれるため,熱板70上に載置されたウェハWが均一に
加熱される。なお,このサポート65は筒状の支持台6
7に支持されている。またサポート65には,図5に示
したように吹き出し口66が設けられ,処理室S内に向
けて例えば空気や不活性ガス等を吹き出すことが可能で
ある。
くできるように,熱伝導性と強度性に優れた窒化アルミ
ニウムからなり,その厚みは従来より薄い,例えば3m
mである。
うに例えば,銅板に電熱線を巻いたヒータが内蔵されて
いるのではなく,給電によって発熱する銀製のヒータ7
1が例えば同心円状に印刷されている。したがって,ヒ
ータ71の厚みは,ほとんどなく,熱板70と併せても
3mm程度と薄くなっている。
タルのように,多数の通気部72が形成された穴あきの
底板73が取り付けられており,この底板73と熱板7
0とサポート65とにより囲まれた空間部Tを形成して
いる。
けて例えば冷却用の気体,たとえば常温のエアを垂直方
向に吹き出すノズル74が,例えば8カ所に設けられて
いる。もちろんこのノズルの数は任意,複数であっても
よい。このノズル74の配置は,図5に示したように,
同心状に各々4カ所ずつ配置されており,平面からみ
て,熱板70の温度測定用の温度センサ75(図5中の
xで示している)の位置と重ならないように設定されて
いる。各ノズル74は,エア供給管76で連通してお
り,ケーシング61外からエアが供給されると,各ノズ
ル74から,各々同一風速のエアが熱板70の裏面に向
けて吹きつけられるようになっている。
3本の昇降ピン81が熱板70上から突出するための孔
82が,3カ所に形成されている。そしてこれら各孔8
2と底板73との間には,昇降ピン81の外周を被って
ノズル74とは雰囲気隔離するための筒状のガイド83
が各々垂直に配置されている。これらガイド83によっ
て熱板70下に配線されている各種コードなどによって
昇降ピン81の上下動が支障を受けることはなく,また
ノズル74から吹き出されるエアが孔82からウエハW
に向けて吐出されることを防止できる。なお昇降ピン8
1は,モータ等の適宜の駆動装置84によって上下動自
在である。
64aが形成されており,またポストエクスポージャー
ベーキング装置44のケーシング61の下部側方にも適
宜の排気口61aが形成され,前記排気口61aには,
前記した塗布現像処理システム1の他の処理装置からの
排気を集中して行っている排気部(図示せず)に通ずる
排気管85が接続されている。
としてのポストエクスポージャーベーキング装置44の
作用を,塗布現像処理システム1で行われるウェハWの
塗布現像処理のプロセスと共に説明する。
処理のウェハWを1枚取りだし,第3の処理装置群G3に
属するアライメント装置32に搬入する。次いで,アラ
イメント装置32にて位置合わせの終了したウェハW
は,主搬送装置13によって,アドヒージョン装置3
1,クーリング装置30,レジスト塗布装置15又1
7,プリベーキング装置33又は34に順次搬送され,
所定の処理が施される。その後,ウェハWは,エクステ
ンション・クーリング装置41に搬送される。
ーリング装置41からウェハ搬送体50によって取り出
され,その後,周辺露光装置51を経て図示しない露光
装置に搬送される。露光処理の終了したウェハWは,ウ
ェハ搬送体50によりエクステンション装置42に搬送
された後,主搬送装置13に保持される。次いで,この
ウェハWはポストエクスポージャベーキング装置44又
は45に搬送される。
44におけるウェハWの作用について詳しく説明する。
体50によって,ポストエクスポージャベーキング装置
44内に搬入され,予め上昇して待機していた昇降ピン
81に受け渡される。そして,昇降ピン81の下降に伴
い,ウェハWが下降し,熱板70上に載置される。この
時,例えばヒータ71の加熱により,ウェハWが140
℃に加熱される。また,加熱処理中は,ウェハ表面から
発生した溶剤等を排気口62aから排気している。そし
て所定時間の加熱が終了すると,昇降ピン81が再び上
昇してウェハを支持し,主搬送装置13に受け渡してポ
ストエクスポージャーベーキング装置44外に搬出され
る。
によって露光後のポストエキスポージャベーキングの温
度も異なっている。したがって,上記したように140
℃で加熱する場合だけではなく,それより低温,たとえ
ば90℃で加熱する場合もある。この場合,熱板70を
速やかに冷却して90℃の加熱準備を行う必要がある
が,本実施の形態にかかるポストエクスポージャーベー
キング装置44は,そのような熱板の降温に対して好適
に対処できる。
トの最後のウエハWの加熱処理が終了した後,図6に示
したように,ノズル74から常温のエアを熱板70の裏
面に吹きつける。
た窒化アルミニウムを使用し,薄く形成されていること
から,裏面から吹きつけられる常温のエアによって高速
に冷却される。
℃で加熱させる場合もある。この場合,熱板70を速や
かに加熱して280℃の加熱準備を行う必要があるが,
上述したように熱伝導性の優れた熱板70を使用すると
共に,熱板70は断熱性の良好なサポート65によって
支持されているので,熱板70下面に印刷されたヒータ
71によって,従来よりも高速に昇温させることができ
る。
ポージャーベーキング装置44の加熱処理中は,熱板7
0が断熱材からなるサポート65に支持されていること
により,熱板70の熱の放熱が抑えられることから熱板
70の昇温速度が向上すると共に,熱板70面内の温度
が均一に保たれるので,ウェハWが均一に加熱される。
れ,その材質が熱伝導性の優れた窒化アルミニウム使用
していることから,熱板70の応答性が増し,高速に昇
降温されることができる。さらに,熱板70が薄くされ
たので,ポストエクスポージャーベーキング装置44全
体もコンパクト化することができる。
る底板73の通気部72は常時開口していたが,前記通
気部72に例えば適宜の蓋体を取り付けて開閉自在と
し,空間部Tを閉鎖できるように構成してもよい。この
ように,空間部Tを開閉自在とすることにより,ウェハ
Wを加熱処理するときには,前記通気部72を閉鎖し,
空間部T内を保温することができるので,ウェハWを所
定の温度で安定して加熱処理できる。また,熱板70を
昇温するときにも,通気部72を閉鎖し,空間部Tから
の放熱を防ぐことができるので,より高速に昇温するこ
とができる。一方,熱板70を冷却するときは,前記空
間部Tを開放することにより,速やかに熱を逃がすこと
ができる。
図7に示すように,熱板70下側の空間部Tを形成する
底板73の周辺部に,通気部90を設けて,図8に示す
ようなリリーフ弁91を取り付ける。このリリーフ弁9
1は,通気部90を開閉自在な蓋部92を有し,さらに
回動部93を中心として回動自在である。そして,スプ
リング等の付勢部材(図示せず)によって常態では,こ
の蓋部92は通気部90を閉鎖するように付勢されてい
る。
方からの,すなわち空間部Tからの圧力がかかった場合
には,付勢部材の付勢に抗して通気部90が開放され
る。すなわち,熱板70を降温させるときに,前記ノズ
ル74から冷却用の気体を噴出させると,空間部Tの内
圧が上昇するので,それによって蓋部92は開放され,
気体の流出に伴い熱が放出される。また熱板70を昇温
させるとき,及びウェハWの加熱処理中には,ノズル7
4からの気体の流出が停止するので,前記蓋部92は付
勢により,通気部90を閉鎖し,空間部Tを経由して熱
板70の熱が逃げないようにする。その結果,熱板70
の昇降温を促進され,より高速に熱板70を昇降温させ
ることが可能となる。なお,かかる作用を実現するリリ
ーフ弁は,前記したリリーフ弁91のような構造に限ら
れないことはもちろんである。
9に示した例は,熱板70の下方の空間部T内の雰囲気
を外部に排出する排気管101を有するポストエクスポ
ージャベーキング装置102である。このポストエクス
ポージャベーキング装置101において,図4に示した
ポストエクスポージャベーキング装置44と同一の符号
で示される部材,構成等は,各々同一の部材,構成等を
示し,重複した説明は省略している。
102においては,熱板70の下方の空間部T内は閉鎖
空間としている。そしてノズル74からエアを吹き出し
て熱板70を急速に冷却する際には,この排気管101
から空間部T内の雰囲気を外部に排出するようにする。
その結果,空間部T内でパーティクルなどが舞い上がっ
て周囲を汚染することが防止できる。また熱板70をよ
り高速に冷却することが可能である。
熱しているときには,排気管101は閉鎖される。これ
によって,空間部T内の雰囲気が外部に漏れないので,
空間部Tはいわば保温状態となっており,これによって
熱板70に対する加熱効率は向上する。
ージャベーキングを行う加熱処理装置として具体化され
ていたが,もちろんプリベーキング装置等の他の加熱処
理装置としてもよい。さらには,基板はウエハWであっ
たが,もちろん方形の他の基板,たとえばLCD基板の
加熱処理装置に対しても適用可能である。
れた熱が熱板の外縁部から放熱することを抑制できるの
で,従来よりも熱板を高速昇温できる。したがって,異
なった温度への設定変更にあたっては,従来よりも時間
がかからず,スループットの向上に寄与する。また熱板
面内の温度の均一性が向上するので,歩留まりの向上も
図られる。
支持部材を熱板と密着させて,熱板の全周囲を支持する
ことにより,請求項1の発明に比べてさらに熱板の放熱
が抑制されるので,熱板を高速に昇温できる。したがっ
て,従来よりも異なった温度への設定変更に時間がかか
らず,スループットの向上に寄与する。また熱板面内の
温度の均一性が向上するので,歩留まりの向上も図られ
る。
するときには,熱板下方に形成される空間部を閉鎖して
保温し,熱板を冷却するときには,前記空間部を開放し
たり,排気管から排気して熱を逃がすことができるの
で,従来に比べて,より高速に熱板を昇降温することが
できる。したがって,従来よりも異なった温度への設定
変更に時間がかからず,スループットの向上に寄与す
る。
際に,前記熱板に蓄えられていた熱が気体により急速に
奪われるため,従来よりも高速に冷却することができ
る。したがって,従来よりも異なった温度への設定変更
に時間がかからず,スループットの向上に寄与する。
ミニウムにすることにより,熱伝導性が増大し,熱板を
従来より高速に昇降温することができる。したがって,
従来よりも異なった温度への設定変更に時間がかから
ず,スループットの向上が図られる。さらに,窒化アル
ミニウムは,従来用いられていたアルミニウムに比べ
て,強度性にも優れているので,熱板を薄くすることが
できるため,熱に対する応答性が増し,この点からもス
ループットの向上が図られる。
となる発熱体を直接印刷することによって,従来に比べ
て,熱板を薄く保つことが可能となる。したがって,熱
板を高速昇降し,スループットの向上が図られると共
に,コンパクト化される。
下方に形成される空間部を閉鎖して保温し,基板を所定
の温度で加熱することができる。また,熱板を昇温する
場合には,熱板からの放熱が抑制されるので,従来より
も高速で昇温できる。一方前記熱板を冷却するときに
も,前記空間部を開放することにより,従来に比べてよ
り高速に降温することができる。したがって,従来より
も異なった温度への設定変更に時間がかからず,スルー
プットの向上に寄与する。
下方に形成される空間部を閉鎖して保温し,基板を所定
の温度で加熱することができる。特に,熱板を昇温する
場合には,熱板からの放熱が抑制されるので,従来より
も高速で昇温できる。また熱板を冷却するときには,前
記空間部を開放し,前記熱板裏面に冷却用の気体を吹き
付けることにより,従来に比べてより高速に降温するこ
とができる。したがって,従来よりも異なった温度への
設定変更に時間がかからず,スループットの向上に寄与
する。
下方に形成される空間部を閉鎖して保温するようにした
ので,昇温速度が向上し,また熱板を冷却するときに
は,排気管によって積極的に空間部の雰囲気を排気する
ので,従来に比べてより高速に降温することができる。
したがって,従来よりも異なった温度への設定変更に時
間がかからず,スループットの向上に寄与する。またパ
ーティクルの舞上がりを抑え,浮遊するパーティクルも
直接排気できるから,空間部内を清浄に維持できる。
ベーキング装置を備えた塗布現像処理システムの外観を
示す平面図である。
ベーキング装置の縦断面の説明図である。
ベーキング装置の平面からの説明図である。
ーキング装置における熱板の裏面に気体を吹き付けてい
る状態を示す側面からの説明図である。
のポストエクスポージャーベーキング装置の縦断面の説
明図である。
内の熱板下方にある底板の通気部に蓋体を取り付けた場
合の拡大説明図である。
に排気管を設けた他の実施の形態の縦断面の説明図であ
る。
Claims (10)
- 【請求項1】 基板を熱板上で加熱する加熱処理装置に
おいて,前記加熱処理装置は,前記熱板の少なくとも周
縁部を支持する支持部材を有し,前記支持部材の材質
が,断熱材であることを特徴とする,加熱処理装置。 - 【請求項2】 前記支持部材が前記熱板に密着し,前記
熱板の全周囲を支持する構造を有することを特徴とす
る,請求項1に記載の加熱処理装置。 - 【請求項3】 前記熱板の下方に空間部が形成され,こ
の空間部を形成する部材の一部が開閉自在であることを
特徴とする,請求項1又は2のいずれかに記載の加熱処
理装置。 - 【請求項4】 前記熱板の下方に空間部が形成され,こ
の空間部の雰囲気を排気する排気管を有することを特徴
とする,請求項1又は2のいずれかに記載の加熱処理装
置。 - 【請求項5】 前記熱板の裏面に対して冷却用の気体を
吹き付ける気体供給手段を有することを特徴とする,請
求項1,2,3又4のいずれかに記載の加熱処理装置。 - 【請求項6】 前記熱板の材質が,窒化アルミニウムで
あることを特徴とする,請求項1,2,3,4又は5の
いずれかに記載の加熱処理装置。 - 【請求項7】 前記熱板は,所定のパターンに印刷され
た発熱体を有することを特徴とする,請求項1,2,
3,4,5又は6のいずれかに記載の加熱処置装置。 - 【請求項8】 基板を加熱する熱板と,前記熱板の下方
に形成され,一部が開閉自在な空間部とを有する加熱処
理装置を用いて前記基板を加熱処理するにあたり,少な
くとも前記基板の加熱処理中は,前記空間部が閉鎖さ
れ,前記熱板の冷却時には,前記空間部が開放されるこ
とを特徴とする,加熱処理方法。 - 【請求項9】 基板を加熱する熱板と,前記熱板の下方
に形成され,一部が開閉自在な空間部と,前記熱板裏面
に対して冷却用の気体を吹き付ける気体供給手段とを有
する加熱処理装置を用いて前記基板を加熱処理するにあ
たり,少なくとも前記基板の加熱処理中は,前記空間部
が閉鎖され,前記熱板の冷却時には,前記空間部が開放
されると共に,前記気体供給手段から冷却用の気体が前
記熱板裏面に吹き付けられることを特徴とする,加熱処
理方法。 - 【請求項10】 基板を加熱する熱板と,前記熱板の下
方に形成された空間部と,前記空間部の雰囲気を排気す
る排気管と,前記熱板裏面に対して冷却用の気体を吹き
付ける気体供給手段とを有する加熱処理装置を用いて前
記基板を加熱処理するにあたり,少なくとも前記基板の
加熱処理中は,前記空間部が閉鎖され,前記熱板の冷却
時には,前記排気管から排気すると共に,前記気体供給
手段から冷却用の気体が前記熱板裏面に吹き付けられる
ことを特徴とする,加熱処理方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000291712A JP4021139B2 (ja) | 1999-09-30 | 2000-09-26 | 加熱処理装置及び加熱処理方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11-278438 | 1999-09-30 | ||
JP27843899 | 1999-09-30 | ||
JP2000291712A JP4021139B2 (ja) | 1999-09-30 | 2000-09-26 | 加熱処理装置及び加熱処理方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004223067A Division JP3845647B2 (ja) | 1999-09-30 | 2004-07-30 | 加熱処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001168022A true JP2001168022A (ja) | 2001-06-22 |
JP4021139B2 JP4021139B2 (ja) | 2007-12-12 |
Family
ID=26552878
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000291712A Expired - Lifetime JP4021139B2 (ja) | 1999-09-30 | 2000-09-26 | 加熱処理装置及び加熱処理方法 |
JP2004223067A Expired - Fee Related JP3845647B2 (ja) | 1999-09-30 | 2004-07-30 | 加熱処理装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004223067A Expired - Fee Related JP3845647B2 (ja) | 1999-09-30 | 2004-07-30 | 加熱処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP4021139B2 (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003282403A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-03 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用保持体 |
WO2006006391A1 (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-19 | Kyocera Corporation | ウェハ加熱装置と半導体製造装置 |
WO2006085527A1 (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Tokyo Electron Limited | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
WO2006087938A1 (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Tokyo Electron Limited | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
WO2006087955A1 (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Tokyo Electron Limited | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006332410A (ja) * | 2005-05-27 | 2006-12-07 | Kyocera Corp | ウェハ加熱装置およびそれを用いた半導体製造装置 |
JP2008166658A (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
JP2008166659A (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
JP2008244390A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Nuflare Technology Inc | 気相成長装置及び気相成長方法 |
KR101120285B1 (ko) | 2007-07-30 | 2012-03-07 | 엔엑스피 비 브이 | 스트레스 완충 반도체 부품 및 그의 제조 방법 |
CN104949476A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-09-30 | 芜湖鸣人热能设备有限公司 | 热能烘干设备 |
JP2019096844A (ja) * | 2017-11-28 | 2019-06-20 | 京セラ株式会社 | 試料保持具 |
JP2021009977A (ja) * | 2019-07-03 | 2021-01-28 | 株式会社幸和 | 基板処理装置及び方法 |
CN114488723A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-05-13 | 深圳市龙图光电有限公司 | 半导体芯片用相移掩模版光刻胶烘烤方法及存储介质 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5559736B2 (ja) * | 2011-04-18 | 2014-07-23 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板加熱装置、これを備える塗布現像装置、及び基板加熱方法 |
CN104596231A (zh) * | 2015-01-04 | 2015-05-06 | 丹阳市开发区晶鼎电热设备厂 | 插拔式电热膜微晶板烘箱 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03131016A (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-04 | Tokyo Electron Ltd | 加熱装置 |
JPH08316138A (ja) * | 1996-04-19 | 1996-11-29 | Tokyo Electron Ltd | レジスト処理装置 |
JPH10214767A (ja) * | 1997-01-29 | 1998-08-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板熱処理装置 |
JPH10284382A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Komatsu Ltd | 温度制御装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2649568B2 (ja) * | 1989-01-25 | 1997-09-03 | 東京エレクトロン株式会社 | 加熱装置 |
JP3033852B2 (ja) * | 1991-03-27 | 2000-04-17 | 川崎製鉄株式会社 | 窒化アルミニウムヒータ用抵抗体及び抵抗ペースト組成物 |
-
2000
- 2000-09-26 JP JP2000291712A patent/JP4021139B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-07-30 JP JP2004223067A patent/JP3845647B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH03131016A (ja) * | 1989-10-17 | 1991-06-04 | Tokyo Electron Ltd | 加熱装置 |
JPH08316138A (ja) * | 1996-04-19 | 1996-11-29 | Tokyo Electron Ltd | レジスト処理装置 |
JPH10214767A (ja) * | 1997-01-29 | 1998-08-11 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板熱処理装置 |
JPH10284382A (ja) * | 1997-04-07 | 1998-10-23 | Komatsu Ltd | 温度制御装置 |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003282403A (ja) * | 2002-03-22 | 2003-10-03 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体製造装置用保持体 |
US8519309B2 (en) | 2004-06-28 | 2013-08-27 | Kyocera Corporation | Wafer heating apparatus and semiconductor manufacturing apparatus |
WO2006006391A1 (ja) * | 2004-06-28 | 2006-01-19 | Kyocera Corporation | ウェハ加熱装置と半導体製造装置 |
US8071916B2 (en) | 2004-06-28 | 2011-12-06 | Kyocera Corporation | Wafer heating apparatus and semiconductor manufacturing apparatus |
WO2006085527A1 (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-17 | Tokyo Electron Limited | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006222354A (ja) * | 2005-02-14 | 2006-08-24 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
WO2006087938A1 (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Tokyo Electron Limited | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006228820A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006228816A (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-31 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
WO2006087955A1 (ja) * | 2005-02-15 | 2006-08-24 | Tokyo Electron Limited | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
US7902485B2 (en) | 2005-02-15 | 2011-03-08 | Tokyo Electron Limited | Temperature setting method of thermal processing plate, temperature setting apparatus of thermal processing plate, program, and computer-readable recording medium recording program thereon |
JP4509820B2 (ja) * | 2005-02-15 | 2010-07-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 熱処理板の温度設定方法,熱処理板の温度設定装置,プログラム及びプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
JP2006332410A (ja) * | 2005-05-27 | 2006-12-07 | Kyocera Corp | ウェハ加熱装置およびそれを用いた半導体製造装置 |
JP2008166659A (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
JP2008166658A (ja) * | 2007-01-05 | 2008-07-17 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置 |
JP2008244390A (ja) * | 2007-03-29 | 2008-10-09 | Nuflare Technology Inc | 気相成長装置及び気相成長方法 |
KR101120285B1 (ko) | 2007-07-30 | 2012-03-07 | 엔엑스피 비 브이 | 스트레스 완충 반도체 부품 및 그의 제조 방법 |
CN104949476A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-09-30 | 芜湖鸣人热能设备有限公司 | 热能烘干设备 |
JP2019096844A (ja) * | 2017-11-28 | 2019-06-20 | 京セラ株式会社 | 試料保持具 |
JP2021009977A (ja) * | 2019-07-03 | 2021-01-28 | 株式会社幸和 | 基板処理装置及び方法 |
CN114488723A (zh) * | 2022-04-02 | 2022-05-13 | 深圳市龙图光电有限公司 | 半导体芯片用相移掩模版光刻胶烘烤方法及存储介质 |
CN114488723B (zh) * | 2022-04-02 | 2022-07-01 | 深圳市龙图光电有限公司 | 半导体芯片用相移掩模版光刻胶烘烤方法及存储介质 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3845647B2 (ja) | 2006-11-15 |
JP2004336076A (ja) | 2004-11-25 |
JP4021139B2 (ja) | 2007-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3910821B2 (ja) | 基板の処理装置 | |
KR100646516B1 (ko) | 가열처리 장치 및 가열처리 방법 | |
JP2001168022A (ja) | 加熱処理装置及び加熱処理方法 | |
US20170372926A1 (en) | Substrate treating unit, baking apparatus including the same, and substrate treating method using baking apparatus | |
US11842906B2 (en) | Heating treatment apparatus and heating treatment method | |
US10586719B2 (en) | Substrates support apparatus, substrate treating system including the same, and substrate treating method | |
JP2002093799A (ja) | 基板の熱処理方法及び基板の熱処理装置 | |
JP3811103B2 (ja) | 熱的処理装置および熱的処理方法 | |
US20010029890A1 (en) | Heat treatment method, heat treatment apparatus and treatment system | |
KR102099116B1 (ko) | 기판 처리 장치 및 방법 | |
JP2002093687A (ja) | 基板の熱処理方法及び基板の熱処理装置 | |
JP3909222B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP3831310B2 (ja) | 処理装置 | |
JP3898895B2 (ja) | 加熱処理装置及び加熱処理方法 | |
KR20180001690A (ko) | 베이크 장치 및 이를 이용한 기판 처리 방법 | |
JP3519664B2 (ja) | 加熱処理装置 | |
JP2002270484A (ja) | 冷却処理装置及び冷却処理方法 | |
KR102224987B1 (ko) | 가열 처리 장치 | |
JP4021140B2 (ja) | 加熱処理装置 | |
JP2001230201A (ja) | 加熱・冷却処理装置及び方法,基板処理装置 | |
JP2002324790A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2005191239A (ja) | 熱処理方法、熱処理装置および基板処理装置 | |
JP4066255B2 (ja) | 基板の処理装置及び基板の処理方法 | |
KR102444878B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
JP2003158121A (ja) | 成膜装置及び成膜方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040428 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040601 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040802 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20060815 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20060925 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20070925 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070926 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101005 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4021139 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131005 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |