JP2001157833A - 液処理装置及び液処理方法 - Google Patents

液処理装置及び液処理方法

Info

Publication number
JP2001157833A
JP2001157833A JP34500499A JP34500499A JP2001157833A JP 2001157833 A JP2001157833 A JP 2001157833A JP 34500499 A JP34500499 A JP 34500499A JP 34500499 A JP34500499 A JP 34500499A JP 2001157833 A JP2001157833 A JP 2001157833A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chemical
storage tank
liquid
processing apparatus
chemical solution
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP34500499A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3561836B2 (ja
Inventor
Naoki Shindo
尚樹 新藤
Shigenori Kitahara
重徳 北原
Keiji Taguchi
啓治 田口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP34500499A priority Critical patent/JP3561836B2/ja
Publication of JP2001157833A publication Critical patent/JP2001157833A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3561836B2 publication Critical patent/JP3561836B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Feeding, Discharge, Calcimining, Fusing, And Gas-Generation Devices (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 構造を簡単にすると共に、薬液の吐出側で所
定時間内での薬液の量を管理して、処理効率の向上を図
れるようにした液処理装置及び液処理方法を提供するこ
と。 【解決手段】 薬液Lを貯留する貯留槽62aと、貯留
槽62a内の薬液Lの量を検出する秤量センサ70c
と、貯留槽62a内の薬液Lが貯留槽62a内から吐出
し始めてから所定量を吐出するまでの時間を検出する吐
出量検出センサ70dと、秤量センサ70cと吐出量検
出センサ70dからの信号に基いて所定の信号を発する
制御手段(CPU80)とを設けることにより、貯留槽
62a内の薬液Lが吐出し始めてから所定量を吐出する
までの時間を検出し、検出された時間に基いて貯留槽6
2aから吐出される薬液Lの吐出量が適正か否かを監視
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、液処理装置及び
液処理方法に関するもので、例えば半導体ウエハやLC
D用ガラス基板等の被処理体を処理する薬液を適正量で
使用可能にする液処理装置及び液処理方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体製造装置の製造工程にお
いては、半導体ウエハやLCD用ガラス等の被処理体
(以下にウエハ等という)を例えばアンモニア水(NH
4OH)やフッ化水素酸(HF)等の薬液やリンス液
(純水)等の洗浄液が貯留された洗浄槽に順次浸漬して
洗浄処理を行う液処理方法が広く採用されている。この
液処理すなわち洗浄処理においてウエハ等を洗浄処理す
る洗浄液の薬液濃度は、プロセス性能を満たすために、
重要な管理項目に挙げられている。
【0003】そこで、従来では、図10に示すように、
洗浄槽1と図示しない純水供給源とを接続する処理液供
給管に開閉切換弁2を介して薬液貯留槽3を接続し、こ
の薬液貯留槽3の上部と薬液搬送用ガス例えば窒素(N
2)ガスの供給源(図示せず)とを開閉弁4を介設した
ガス供給管5を介して接続して、ガス圧によって薬液貯
留槽3内の薬液の所定量を処理液供給管6内を流れる純
水中に混合(調合)して所定濃度の洗浄液を生成してい
る。この際、薬液貯留槽3の外部側方に配設された上限
センサ7a及び下限センサ7bによって薬液貯留槽3内
の薬液Lの許容上限量と下限量を検出し、また、秤量セ
ンサ7cによって薬液の所定貯留量を検出し、更に薬液
吐出確認センサ7dによって薬液の吐出の確認例えば薬
液吐出確認センサ7dがOFFすれば薬液が吐出された
ことが確認でき、薬液吐出確認センサ7dがONのまま
であれば薬液が吐出されないことが確認できるような洗
浄液濃度の調整機構が採用されている。
【0004】また、別の薬液濃度調整機構として、図1
1に示すように、洗浄槽1内の洗浄液の薬液濃度を検
出、あるいは、処理液供給管6中を流れる薬液が混合
(調合)された洗浄液の薬液濃度を検出する濃度計8を
設けて、洗浄液の薬液濃度を監視するものも知られてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者す
なわち薬液吐出確認センサ7dによって薬液の吐出の確
認を行うものにおいては、薬液吐出確認センサ7dのO
N,OFF動作によって薬液を圧送(吐出)した/圧送
(吐出)しないの判別を行うことは可能であるが、肝心
の洗浄槽へ圧送する洗浄液の薬液濃度を管理することは
できないという問題があった。これに対し後者すなわち
洗浄槽1内又は処理液供給管6中を流れる洗浄液の薬液
濃度を濃度計8を用いて検出するものにおいては、薬液
濃度を管理することができるが、濃度計8は高価な上、
設置にスペースを要するという問題があった。
【0006】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、構造を簡単にすると共に、薬液の吐出側で薬液濃度
を管理して、処理効率の向上を図れるようにした液処理
装置及び洗浄処理方法を提供することを目的とするもの
である。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は以下のように構成する。
【0008】(1)請求項1記載の液処理装置は、薬液
を貯留する貯留槽と、 上記貯留槽内の薬液の量を検出
する秤量検出手段と、 上記貯留槽内から吐出される薬
液の所定量を検出する吐出量検出手段と、 上記秤量検
出手段と吐出量検出手段からの信号に基いて所定量吐出
される時間を検出し、所定の信号を発する制御手段と、
を具備することを特徴とする。ここで、薬液としては、
例えばフッ化水素酸(HF)、塩酸(HCL)、アンモ
ニア水(NH4OH)や過酸化水素(H2O2)等の薬液
が使用される。
【0009】このように構成することにより、貯留槽内
に貯留された薬液の量と薬液の吐出し始めの量を秤量検
出手段にて検出し、貯留槽内から吐出される薬液の所定
量を吐出量検出手段にて検出し、そして、秤量検出手段
と吐出量検出手段からの信号を受けて制御手段で所定量
吐出するまでの時間を検出し、制御手段から所定の信号
例えばアラーム等の制御信号を発することができる。こ
の場合の制御手段の制御形態としては、予め記憶(設
定)された時間外に吐出量検出手段からの検出信号が制
御手段に伝達された場合に所定の制御信号を発する制御
と、吐出量検出手段からの検出信号により検出される時
間と、予め実験等により求められた所定時間当りの吐出
量のデータとを比較して、所定の制御信号を発する制御
とがある。したがって、薬液の吐出側で所定時間内での
薬液の量を管理することができるので、処理効率の向上
を図ることができる。
【0010】(2)請求項2記載の液処理装置は、請求
項1記載の液処理装置において、上記貯留槽の吐出側に
接続する薬液供給管と、薬液を混合して被処理体に処理
を施す処理部に純水を供給する処理液供給管とを開閉切
換手段を介して接続し、制御手段からの信号に基いて上
記開閉切換手段を制御可能に形成してなる、ことを特徴
とする。
【0011】このように構成することにより、秤量検出
手段と吐出量検出手段からの信号を受ける制御手段から
の制御信号に基いて開閉切換手段を制御することができ
るので、薬液の吐出量が適量範囲外の場合には開閉切換
手段を閉じて不適量の薬液の吐出を停止することができ
る。したがって、純水中に混合される薬液の濃度を管理
できるので、処理効率の向上が図れ、また、薬液濃度が
不十分な場合の処理を即座に回避することができ、処理
に供される被処理体のダメージを少なくすることができ
る。
【0012】(3)請求項3記載の液処理装置は、請求
項2記載の液処理装置において、上記薬液供給管に流量
調整手段を介設してなる、ことを特徴とする。
【0013】このように構成することにより、薬液の吐
出量を調整することができるので、使用目的に応じた吐
出量の薬液を使用することができる。
【0014】(4)請求項4記載の液処理装置は、請求
項2記載の液処理装置において、上記薬液供給管を複数
設け、各薬液供給管に流量調整手段を介設してなる、こ
とを特徴とする。
【0015】このように構成することにより、薬液の吐
出量を選択的に調整することができるので、使用目的に
応じた吐出量の薬液を使用することができる。
【0016】(5)請求項5記載の液処理装置は、請求
項1又は2記載の液処理装置において、上記貯留槽と、
この貯留槽内の薬液を搬送するためのガスの供給源とを
開閉手段を介設するガス供給管を介して接続し、制御手
段からの信号に基いて上記開閉手段を制御可能に形成し
てなる、ことを特徴とする。
【0017】このように構成することにより、秤量検出
手段と吐出量検出手段からの信号を受ける制御手段から
の制御信号に基いて開閉手段を制御することができるの
で、薬液の吐出量が適量範囲外の場合には開閉手段を閉
じて搬送用ガスの供給を停止すると共に、不適量の薬液
の吐出を停止することができる。したがって、薬液濃度
が不十分な場合の処理を即座に回避することができ、処
理に供される被処理体のダメージを少なくすることがで
きる。
【0018】(6)請求項6記載の液処理装置は、請求
項4記載の液処理装置において、上記開閉手段は、加圧
のガス圧が調整可能な圧力調整機能を具備する、ことを
特徴とする。
【0019】このように構成することにより、搬送用ガ
スの供給圧を調整することができるので、薬液の吐出量
を調整することができると共に、薬液濃度を調整するこ
とができる。
【0020】(7)請求項7記載の液処理装置は、請求
項5記載の液処理装置において、上記貯留槽とガス供給
源とを複数のガス供給管を介して接続し、各ガス供給管
に、各々異なる圧力調整機能を具備する開閉手段を介設
してなる、ことを特徴とする。
【0021】このように構成することにより、搬送用ガ
スの供給圧を選択的に調整することができるので、薬液
の吐出量を微調整することができると共に、薬液濃度を
微調整することができる。
【0022】(8)請求項8記載の液処理装置は、請求
項1ないし7のいずれかに記載の液処理装置において、
上記貯留槽は、異なる種類の薬液を貯留する複数のタン
クを含む、ことを特徴とする。
【0023】このように構成することにより、異なる種
類の複数の薬液の吐出量を管理することができると共
に、薬液濃度を管理することができる。
【0024】(9)請求項9記載の液処理装置は、請求
項1ないし7のいずれかに記載の液処理装置において、
上記貯留槽は、同一種類の薬液を貯留する同一形状の複
数のタンクからなり、上記各タンクの吐出口を集合し、
上記タンクのうちの1つに秤量検出手段と吐出量検出手
段を設けてなる、ことを特徴とする。
【0025】このように構成することにより、目的に応
じた薬液の使用量(吐出量)を適宜増大することができ
ると共に、1つの秤量検出手段と吐出量検出手段で吐出
量を管理することができる。したがって、貯留槽を構成
するタンクの数に関係なく一箇所で薬液の吐出量を管理
することができ、検出機器類の削減を図ることができる
と共に、貯留槽のスペースの有効利用を図ることができ
る。
【0026】(10)請求項10記載の液処理方法は、
貯留槽内に貯留された薬液を貯留槽から吐出するに当た
って、上記貯留槽内の薬液が吐出し始めてから所定量を
吐出するまでの時間を検出し、検出された時間に基いて
上記貯留槽から吐出される薬液の吐出量が適正か否かを
判別可能にした、ことを特徴とする。
【0027】このように構成することにより、上記請求
項1記載の発明と同様に、薬液の吐出側で所定時間内で
の薬液の量を管理することができるので、処理効率の向
上を図ることができる。
【0028】(11)請求項11記載の液処理方法は、
貯留槽内に貯留された薬液を貯留槽から吐出して、処理
液供給管内を流れる純水中に混合するに当たって、上記
貯留槽内の薬液が吐出し始めてから所定量を吐出するま
での時間を検出し、検出された時間に基いて上記貯留槽
から吐出される薬液の吐出量が適正か否かを判別し、上
記薬液の吐出量が適正範囲外の場合に、薬液の吐出を停
止する、ことを特徴とする。
【0029】このように構成することにより、上記請求
項2記載の発明と同様に、貯留槽から吐出される薬液の
吐出量が適正か否かを判別し、薬液の吐出量が適正範囲
外の場合に、薬液の吐出を停止するので、純水中に混合
される薬液の濃度を管理できるので、処理効率の向上が
図れ、また、薬液の吐出量が不十分な状態の薬液による
処理を停止することができ、処理に供される被処理体の
ダメージを少なくすることができる。
【0030】(12)請求項12記載の液処理方法は、
請求項10又は11記載の液処理方法において、上記処
理槽内に薬液搬送用のガスを供給して、ガス圧によって
薬液の吐出を行うようにし、上記薬液の吐出量が適正範
囲外の場合に、ガスの供給を停止する、ことを特徴とす
る。
【0031】このように構成することにより、上記請求
項5記載の発明と同様に、薬液の吐出量が適量範囲外の
場合には開閉手段を閉じて搬送用ガスの供給を停止する
と共に、不適量の薬液の吐出を停止することができるの
で、薬液の吐出量や薬液濃度が不十分な場合の処理を即
座に回避することができ、処理に供される被処理体のダ
メージを少なくすることができる。
【0032】
【発明の実施の形態】以下に、この発明の実施の形態を
図面に基いて詳細に説明する。この実施形態では半導体
ウエハの洗浄処理システムに適用した場合について説明
する。
【0033】図1はこの発明に係る液処理装置を適用し
た洗浄処理システムの一例を示す概略平面図である。
【0034】上記洗浄処理システムは、被処理体である
半導体ウエハW(以下にウエハという)を水平状態に収
納する容器例えばキャリア10を搬入、搬出するための
搬送部20と、ウエハWを薬液、洗浄液等の液処理する
と共に乾燥処理する処理部30と、搬送部20と処理部
30との間に位置してウエハWの受渡し、位置調整及び
姿勢変換等を行うインターフェース部40とで主に構成
されている。
【0035】上記搬送部20は、洗浄処理システムの一
側端部に併設して設けられるキャリア搬入部21とキャ
リア搬出部22が併設されると共に、ウエハ搬出入部2
3が設けられている。この場合、キャリア搬入部21と
ウエハ搬出入部23との間には図示しない搬送機構が配
設されており、この搬送機構によってキャリア10がキ
ャリア搬入部21からウエハ搬出入部23へ搬送される
ように構成されている。
【0036】また、キャリア搬出部22とウエハ搬出入
部23には、それぞれキャリアリフタ(図示せず)が配
設され、このキャリアリフタによって空のキャリア10
を搬送部20の上方に設けられたキャリア待機部(図示
せず)への受け渡し及びキャリア待機部からの受け取り
を行うことができるように構成されている。
【0037】上記ウエハ搬出入部23は、上記インター
フェース部40に向かって開口しており、その開口部に
は蓋開閉装置24が配設されている。この蓋開閉装置2
4によってキャリア10の蓋体(図示せず)が開放ある
いは閉塞されるようになっている。したがって、ウエハ
搬出入部23に搬送された未処理のウエハWを収納する
キャリア10の蓋体を蓋開閉装置24によって取り外し
てキャリア10内のウエハWを搬出可能にし、全てのウ
エハWが搬出された後、再び蓋開閉装置24によって蓋
体を閉塞することができる。また、キャリア待機部から
ウエハ搬出入部23に搬送された空のキャリア10の蓋
体を蓋開閉装置24によって取り外してキャリア10内
にウエハWを搬入可能にし、全てのウエハWが搬入され
た後、再び蓋開閉装置24によって蓋体を閉塞すること
ができる。なお、ウエハ搬出入部23の開口部近傍に
は、キャリア10内に収納されたウエハWの枚数を検出
するマッピングセンサ25が配設されている。
【0038】上記インターフェース部40には、ウエハ
搬出入部23のキャリア10から1枚又は複数枚(例え
ば25枚)のウエハWを取り出して搬送する水平方向
(X,Y方向),垂直方向(Z方向)及び回転(θ方
向)可能なウエハ取出しアーム41と、後述する姿勢変
換装置43から1枚又は複数枚(例えば25枚)のウエ
ハWを受け取ってウエハ搬出入部23に搬送された空の
キャリア10内に収納する水平方向(X,Y方向),垂
直方向(Z方向)及び回転(θ方向)可能なウエハ収納
アーム42と、ウエハ取出しアーム41によって取り出
された1枚又は複数枚(例えば25枚)のウエハWを垂
直状態に変換する姿勢変換装置43が配設されている。
【0039】一方、上記処理部30には、ウエハWに付
着するパーティクルや有機物汚染、酸化膜等を除去する
第1〜第4の洗浄処理ユニット31〜34と、乾燥処理
ユニット35が直線状に配列されている。この場合、第
1〜第4の洗浄処理ユニット31〜34にこの発明に係
る液処理装置が組み込まれている。また、上記各ユニッ
ト31〜34,35と対向する位置から上記インターフ
ェース部40に延在して設けられた搬送路36に、X,
Y方向(水平方向)、Z方向(垂直方向)及び回転
(θ)可能なウエハ搬送チャック37が配設されてい
る。
【0040】次に、この発明に係る液処理装置について
説明する。 ◎第一実施形態 図2はこの発明に係る液処理装置の第一実施形態を示す
概略断面図、図3は液処理装置の第一実施形態の一部を
示す概略断面図である。
【0041】上記液処理装置は、薬液としての薬液例え
ばフッ化水素酸(HF)の希釈液(DHF)やリンス液
例えば純水等の洗浄液を貯留すると共に洗浄液中に被処
理体であるウエハWを浸漬してその表面を洗浄する洗浄
槽50と、この洗浄槽50と純水供給源60とを接続す
べく洗浄槽50内に配設される洗浄液供給ノズル51と
純水供給源60とを接続する処理液供給管61と、薬液
例えばフッ化水素酸(HF)、塩酸(HCL)、アンモ
ニア水(NH4OH)及び過酸化水素(H2O2)を貯留
する貯留槽62a〜62dと、注入開閉切換弁63(開
閉切換手段)を介して処理液供給管61と貯留槽62a
〜62dとを接続する薬液供給管64と、貯留槽62a
〜62d内に薬液搬送用ガス例えば窒素(N2)ガス等
の不活性ガスを供給するN2ガス供給手段65と、貯留
槽62a〜62d内の薬液Lの状況を監視する検出部7
0と、この検出部70からの検出信号に基いて所定の制
御信号を発する制御手段80とで主に構成されている。
【0042】この場合、洗浄槽50は、洗浄液を貯留す
る内槽50aと、この内槽50aの開口部の外方縁部を
覆う外槽50bとで構成されており、外槽50bの底部
に設けられた排出口に排出管52が接続されている。ま
た、洗浄槽50は筐体53内に収容されて洗浄処理部が
構成されており、この洗浄処理部には、後述する排気機
構54と排液機構55が設けられている。
【0043】上記処理液供給管61には、純水供給源6
0側から順に、処理時間制御用の温度計66、開閉弁6
7、フローメータ68、圧力レギュレータ69及び上記
注入開閉切換弁63が介設されており、圧力レギュレー
タ69には、空気開閉弁71と大容量用及び精密用の2
つのレギュレータ72a,72bを介設した空気供給管
73を介して空気供給源74が接続されている。したが
って、空気供給源74から圧力レギュレータ69に供給
される制御用の空気によって圧力レギュレータ69を制
御することにより、所定流量の純水が洗浄槽50内に供
給されるように構成されている。なお、処理液供給管6
1に介設される開閉弁67と、空気供給管73に介設さ
れる空気開閉弁71は、共にソレノイド式に形成される
と共に、図示しないリレー回路を介して互いに接続され
ており、処理液供給管61に介設された開閉弁67が閉
じた時に空気開閉弁71も閉じるように形成されてい
る。このように、開閉弁67が閉じた時に空気開閉弁7
1を閉じるようにしたのは、開閉弁67が閉じること
で、圧力レギュレータ69に純水が流れない状態となっ
た際に、圧力レギュレータ69に制御用の空気が供給し
続けることとなり、圧力レギュレータ69に過負荷がか
かるので、これを防止するために、開閉弁67と同時に
空気開閉弁71を閉じるようにしたためである。
【0044】また、処理液供給管61における開閉弁6
7の上流側(純水供給源60側)と注入開閉切換弁63
の上流側(開閉弁67側)との間には、洗浄処理(薬液
処理、リンス処理)以外のときに常時純水を少量供給す
る節水用のバイパス管75が接続されている。このバイ
パス管75の処理液供給管61と近接する部位に、補助
開閉弁76が介設されている。このように、補助開閉弁
76を処理液供給管61に近接して設けることにより、
上記洗浄槽50で薬液処理を行った後に、洗浄槽50内
に残留する薬液がバイパス管75に流れ込んで、次のリ
ンス処理の際に純水中に薬液が混入するのを防止するこ
とができる。
【0045】一方、上記貯留槽62a〜62dは、それ
ぞれ有底円筒状の容器(タンク)にて形成されており、
底部に設けられたポート(図示せず)にそれぞれ薬液供
給管64が接続されている。また、各薬液供給管64に
は、薬液開閉弁77a〜77dを介設した薬液補給管7
8a〜78dを介して薬液供給源79a〜79dが接続
されており、各貯留槽62a〜62d内に例えばHF、
HCL、NH4OH、H2O2 が貯留されるようになって
いる。なお、各薬液供給管64には薬液の流量を調整す
るオリフィス64a〜64dが介設されている。
【0046】また、上記N2ガス供給手段65は、各貯
留槽62a〜62dの上部に設けられた供給ポート(図
示せず)にガス供給管81を介して接続される搬送用ガ
スの供給源82(以下にN2ガス供給源82という)
と、このガス供給管81において、ガス供給源82側か
ら順に介設される大容量用及び精密用のレギュレータ8
3a,83bと、フィルタ84と、圧力調整機能を具備
するガス開閉弁85(開閉手段)とで形成されている。
なお、貯留槽62a〜62dの上部には排気ポート(図
示せず)が設けられており、この排気ポートに接続する
排気管86に排気用開閉弁87が介設されている。ま
た、排気管86から分岐する分岐管88に安全弁89が
介設されている。
【0047】上記検出部70は、各貯留槽62a〜62
dの外側部に配設される上限センサ70a、下限センサ
70b、秤量センサ70c(秤量検出手段)及び吐出量
検出センサ70d(吐出量検出手段)とで構成されてい
る。このうち、上限センサ70aと下限センサ70bに
よって貯留槽62a〜62d内に貯留された薬液Lの上
限量と下限量が検出され、秤量センサ70cによって貯
留槽62a〜62d内に貯留された薬液Lの所定量の有
無が検出され、また、吐出量検出センサ70dによって
貯留槽62a〜62d内の薬液Lが貯留槽62a〜62
d内から吐出し始めてから所定量の吐出が検出されるよ
うになっている。これらセンサ70a〜70dは、いず
れも静電容量型センサ素子にて形成されており、吐出量
検出センサ70dからの検出信号により制御手段80に
組み込まれたタイマによって時間が検出され、制御手段
80から所定の制御信号が発せられるように形成されて
いる。すなわち、制御手段80において、予め記憶(設
定)された時間外に吐出量検出センサ70dからの検出
信号が制御手段80に伝達された場合に、制御手段80
から所定の制御信号、例えばアラーム等が発せられる。
また、制御手段80の別の制御形態としては、吐出量検
出センサ70dからの検出信号により検出される時間
と、予め実験等により求められた所定時間当たりの吐出
量のデータとを比較して、所定の制御信号、例えばアラ
ーム等を発するような制御がある。
【0048】なお、上記センサ70a〜70dは、必ず
しも静電容量型センサである必要はなく、例えば透過型
センサ等その他の形式のセンサであってもよい。
【0049】上記制御手段80は、検出部70の秤量セ
ンサ70cと吐出量検出センサ70dからの検出信号に
より検出された時間と、予め記憶された情報{例えば実
験等によって求められた所定の薬液濃度に適合した一定
時間当りの吐出量}とを比較演算処理して所定の制御信
号、例えばアラーム等の警報や上記注入開閉切換弁63
とガス開閉弁85の閉成操作指令等を発する中央演算処
理装置(CPU)にて形成されている(図3参照)。
【0050】以下に、この発明に係る液処理装置を用い
た薬液濃度の管理方法(制御方法)について、図3に示
すHFの貯留槽62aを代表して詳細に説明する。
【0051】上記のように形成される検出部70の吐出
量検出センサ70dと制御手段80(以下にCPU80
という)を設けることにより、例えば吐出量検出センサ
70dが、貯留槽62a内の薬液Lの吐出し始めから6
0±5秒以内の領域を検出した場合を適量な吐出量と設
定しておくと、この吐出量検出センサ70dがOFFの
検出信号を制御手段80(以下にCPU80という)に
伝達した時、この時間内の場合は、所定の吐出量の薬液
Lが吐出されて純水に混合(調合)されて所定の薬液濃
度の洗浄液が生成される。また、吐出量検出センサ70
dが、貯留槽62a内の薬液Lの吐出し始めから60±
5秒以内にOFFしなければ、所定の吐出量の薬液Lが
吐出されず、薬液濃度が不十分であることが判る。した
がって、例えば、吐出量検出センサ70dからの、OF
F信号(検出信号)が、CPU80に貯留槽62a内の
薬液Lの吐出し始めから55秒より早く伝達すれば、薬
液Lが所定量より多量に吐出され、洗浄槽50内の洗浄
液の薬液濃度が濃くなるので、この場合は、CPU80
から注入開閉切換弁63及びガス開閉弁85に制御信号
が伝達されて、注入開閉切換弁63及びガス開閉弁85
が即座に閉じられる。これと同時にアラームが表示され
る。また、吐出量検出センサ70dからのOFF信号
(検出信号)が、CPU80に貯留槽62a内の薬液L
の吐出し始めから65秒より遅く伝達すれば、薬液Lが
所定量より少なく吐出され、洗浄槽50内の洗浄液の薬
液濃度が薄くなるので、この場合も、CPU80から注
入開閉切換弁63及びガス開閉弁85に制御信号が伝達
されて、注入開閉切換弁63及びガス開閉弁85が即座
に閉じられる。また、これと同時にアラームが表示され
る。したがって、所定量の薬液Lが吐出されない場合
は、純水のみが洗浄槽50内に供給され、ウエハWが不
十分な濃度の洗浄液によって処理されることを防止する
ことができる。
【0052】なお、上記薬液Lの吐出量は、薬液濃度に
応じて設定され、純水の供給量に対するN2ガスの加圧
力すなわちN2ガスの供給圧によって設定される。
【0053】次に、洗浄処理部側における排気及び排液
構造について、図2、図4〜図6を参照して説明する。
図4は洗浄処理部における排気機構を示す概略断面図、
図5は図4のA−A線に沿う断面図、図6は洗浄処理部
における排液機構を示す横断面図(a)及び縦断面図で
ある。
【0054】上記排気機構54は、上記洗浄槽50を収
容する筐体53の底部の一側に設けられた排気口90に
連通する主排気通路91と、この主排気通路91に接続
する排気切換ボックス92と、この排気切換ボックス9
2内に配設されて排気されるガスを酸系ガスとアルカリ
系ガスとに切り換える排気切換弁93と、排気切換ボッ
クス92から分岐されて外部の排気回収部94a,94
b(図2)に接続する2つの分岐通路95a,95bと
で主に構成されている。
【0055】この場合、筐体53の底部における排気口
90と洗浄槽50との間には、仕切板96が排気口90
側に向かって傾斜状に立設されている。この仕切板96
によって筐体53内の排気ガスが排気口90側に流れる
ようになっている。また、主排気通路91内には、図示
しないアクチュエータによって開閉するダンパ97が配
設されている。また、排気切換ボックス92内に配設さ
れる排気切換弁93は、図4及び図5に示すように、排
気切換ボックス92に設けられた分岐口92a,92b
の間に位置する回転可能な操作軸93bに一端が装着さ
れた板状弁体93aと、操作軸93bを回転するアクチ
ュエータ93cとで構成されており、図示しない制御部
からの信号を受けてアクチュエータ93cが正逆方向に
回動することで、板状弁体93aが分岐口92a,92
bの一方を閉塞し得るように構成されている。例えば、
洗浄槽50内に酸系の薬液Lが使用されて洗浄処理され
る場合には、その情報を制御部から受けてアクチュエー
タ93cが回動(図5において半時計方向に回動)して
板状弁体93aが酸側の分岐口92aを開放すると共
に、アルカリ側の分岐口92bを閉塞して、酸系の排気
ガスを酸系の分岐通路95a側へ流すことができる(図
5参照)。排気ガスがアルカリ系である場合は、上記動
作と逆にアクチュエータ93cが逆方向に回動(図5に
おいて時計方向に回動)して板状弁体93aがアルカリ
側の分岐口92bを開放すると共に、酸側の分岐口92
aを閉塞して、アルカリ系の排気ガスをアルカリ系の分
岐通路95b側へ流すことができる。なお、分岐通路9
5a,95bには、それぞれ図示しないアクチュエータ
によって開閉するダンパ98a,98bが配設されてい
る。
【0056】一方、上記排液機構55は、図2に示すよ
うに、洗浄槽50の底部に設けられた排液口(図示せ
ず)にドレン弁100を介して接続する主排液通路10
1と、この主排液管路101に接続する薬液切換ボック
ス102と、この薬液切換ボックス102に設けられる
3つの切換通路103a,103b,103cをそれぞ
れを開閉する薬液切換弁104a,104b,104c
と、切換通路103a,103b,103cに接続する
薬液分岐管路105a,105b,105cとで主に構
成されている(図6参照)。
【0057】この場合、切換通路103a,103b,
103cは、薬液切換ボックス102の一側部に互いに
平行に設けられており、各切換通路103a,103
b,103cに直交状に薬液分岐管路105a,105
b,105cが接続されている(図6参照)。そして、
各切換通路103a,103b,103c内に設けられ
た弁座106に薬液切換弁104a,104b,104
cが就座可能に配設され、各薬液切換弁104a,10
4b,104cは、薬液切換ボックス102の外側に配
設された往復動可能な直動アクチュエータ107a,1
07b,107cによって開閉移動可能に構成されてい
る。
【0058】上記のように排液機構を構成することによ
り、例えば、上記洗浄槽50内でHFの薬液を使用した
場合、その情報を制御部から受けて直動アクチュエータ
107a,107b,107cが作動し、例えばHF排
液用の直動アクチュエータ107aが、図6(a)にお
いて左側に移動して薬液切換弁104aを弁座106か
ら離隔し、切換通路103aと薬液分岐管路105aと
の接続口108を開放する。すると、排液(HF)は、
主排液通路101を流れて薬液切換ボックス102内に
流れた後、切換通路103aを介して薬液分岐管路10
5aに流れ、薬液回収部109a(図2)に回収され
る。このとき、他の薬液切換弁104b,104cは弁
座106に就座しており、薬液分岐管路105b,10
5cにはHFは流れないようになっている。また、洗浄
処理に使用する薬液がHCLやNH4OHの場合には、
上記薬液切換弁104aに代わって薬液切換弁104b
又は104cが開放し、HCLやNH4OHを薬液分岐
管路105b,105cを介して同様に所定の薬液回収
部109b,109c(図2)に回収することができ
る。
【0059】なお、図2に示すように、上記洗浄槽50
の上方には純水供給ノズル56が配設されている。この
純水供給ノズル56は、処理液供給管61の純水供給源
60と開閉弁67との間から分岐される分岐管57に接
続されている。また、処理液供給管61における開閉弁
67とフローメータ68との間には、補助開閉弁58を
介設した補助供給管59を介して温調純水供給源60A
が接続されている。なお、補助供給管59には、戻り開
閉弁59aを介設した戻り管59bが接続されている。
【0060】上記のように構成される洗浄処理装置にお
いて、ウエハWを洗浄処理する場合は、まず、処理液供
給管61の開閉弁67を開放すると共に、圧力レギュレ
ータ69に空気を供給して圧力レギュレータ69を開放
して、純水供給源60から純水を洗浄槽50内に供給す
る。そして、この状態で、所定の薬液例えばHFを貯留
する貯留槽62aの注入開閉切換弁63を開放する一
方、貯留槽62aに接続するガス供給管81に介設され
たガス開閉弁85を開放して貯留槽62a内に貯留され
た薬液(HF)の液面に向かってN2ガスを供給するこ
とにより、所定の吐出量のHFを処理液供給管61内を
流れる純水中に混合(調合)して所定濃度の洗浄液(D
HF)を生成して、洗浄槽50内に供給することができ
る。この際、上述したように、検出部70の秤量センサ
70cによって貯留槽62a内に貯留された薬液Lの設
定量の有無が検出され、また、吐出量検出センサ70d
によって貯留槽62a内の薬液L(HF)が貯留槽62
a内から吐出し始めてから所定量を吐出するまでが検出
され、この検出信号がCPU80に伝達されて、CPU
80で時間が検出され、所定の吐出量のHFが吐出され
たか否かが監視される。ここで、HFが所定の吐出量よ
り多いか、少ない場合には、上述したようにCPU80
からの制御信号によって注入開閉切換弁63及びガス開
閉弁85が閉じられて、HFの供給が即座に停止され、
洗浄槽50内には純水のみが供給される。また、これと
同時にアラームが表示される。したがって、濃度が不十
分な洗浄液によってウエハWが処理されるのを防止する
ことができ、ウエハWのダメージを少なくすることがで
きる。なお、所定量のHFが吐出されている場合は、洗
浄処理が続行される。
【0061】また、別の薬液例えばHCLを用いて洗浄
処理する場合は、HCLを貯留した貯留槽62bの注入
開閉切換弁63を開放する一方、貯留槽62bに接続す
るガス供給管81に介設されたガス開閉弁85を開放し
て、HFの場合と同様に所定の吐出量のHCLを処理液
供給管61内を流れる純水中に混合(調合)して所定濃
度の洗浄液(HCL)を生成して、洗浄槽50内に供給
する。以下、同様にNH4OHを用いた洗浄処理を行う
ことができる。したがって、1つの処理ユニットで異な
る種類の薬液を用いた洗浄処理を行うことができる。な
お、1種類の薬液を用いた洗浄処理を行う場合には、上
記貯留槽62a〜62dの1つを処理液供給管61に接
続した構造とすればよい。
【0062】◎第二実施形態 図7は、この発明に係る液処理装置の第二実施形態を示
す概略断面図である。
【0063】第二実施形態は、N2ガス圧を微調整可能
にして、薬液例えばHFの濃度の微細調整を可能にした
場合である。すなわち、ガス供給管81を複数(図面で
は2つの場合を示す)並設して貯留槽62aに接続する
と共に、薬液供給管64も複数(図面では2つの場合を
示す)並設して処理液供給管61に接続し、各ガス供給
管81にそれぞれ精密量のレギュレータ83b、フィル
タ84及びガス開閉弁85を介設し、また、各薬液供給
管64にそれぞれ流量調整用のオリフィス64Aと薬液
開閉弁77を介設した場合である。なお、各ガス供給管
81に介設されるレギュレータ83bは、それぞれ同じ
圧力調整できるものであってもよく、異なる圧力調整で
きるものであってもよい。また、各薬液供給管64に介
設されるオリフィス64Aも同様に、それぞれ同じか、
あるいは異なる流量調整できるものであってもよい。
【0064】このように構成することにより、各ガス開
閉弁85,85の1つをを選択的に開閉動作するか、あ
るいは双方のガス開閉弁85,85を同時に開閉動作す
ることができ、それに伴ってN2ガス圧を任意の設定圧
に調整することができると共に、HFの吐出量を調整す
ることができる。また、各薬液開閉弁77,77の1つ
をを選択的に開閉動作するか、あるいは双方の薬液開閉
弁77,77を同時に開閉動作することによって、HF
の吐出量を調整することができる。したがって、薬液
(HF)の濃度の微細調整が可能となり、ウエハWの種
類や枚数等に対応した濃度のHFを供給して薬液処理を
施すことができる。また、一度に全てのガス開閉弁8
5,85と全ての薬液開閉弁77,77を開放して濃度
の高いHFを洗浄槽50に供給することにより、薬液処
理の立上げを早くする等の手法も採用することができ
る。
【0065】なお、第二実施形態において、ガス供給管
81及び薬液開閉弁77が2つの場合について説明した
が、勿論3つ以上のガス供給管81及び薬液開閉弁77
を設けてもよい。
【0066】なお、第二実施形態において、その他の部
分は上記第一実施形態と同じであるので、同一部分には
同一符号を付して、その説明は省略する。
【0067】◎第三実施形態 図8は、この発明に係る液処理装置の第三実施形態を示
す概略断面図である。
【0068】第三実施形態は、同一種類の薬液を一度に
多量に吐出可能にした場合である。すなわち、貯留槽6
2a〜62d(以下に符号62aで代表する)を、同一
種類の薬液を貯留する同一形状の複数(図面では3個の
場合を示す)のタンク110a〜110cにて形成し、
各タンク110a〜110cの吐出口を集合し、タンク
110a〜110cのうちの1つ110aに秤量センサ
70cと吐出量検出センサ70dを設けた場合である。
この場合、各タンク110a〜110cの底部に設けら
れた吐出ポート(図示せず)に接続する薬液供給分岐管
111a〜111cを同じ長さにして薬液供給管64に
接続させて吐出口を集合させる方が望ましい。また、ガ
ス供給管81から分岐されて各タンク110a〜110
cに接続するガス供給分岐管111a〜111cも同様
に同じ長さにする方が好ましい。なお、各タンク110
a〜110cには、上限センサ70aと下限センサ70
bが設けられて、タンク110a〜110c内の薬液L
の排液状況等の検出が可能になっており、上限センサ7
1aにより、N2ガスの過剰加圧によるタンク110a
〜110cの破裂防止が図られている。
【0069】上記のように、貯留槽62aを、同一種類
の薬液を貯留する同一形状の複数のタンク110a〜1
10cにて形成し、各タンク110a〜110cの吐出
口を集合し、タンクのうちの1つ110aに秤量センサ
70cと吐出量検出センサ70dを設けることにより、
1組の秤量センサ70cと吐出量検出センサ70dで吐
出量を監視して各タンク110a〜110c内の薬液L
を同時に吐出することができる。この場合、タンク11
0a〜110cの数を適宜増減することで、使用目的に
応じた薬液濃度の洗浄液を生成することができる。した
がって、各タンク110a〜110cに秤量センサ70
cと吐出量検出センサ70dを設けることなく、多量の
薬液Lを吐出することができるので、検出機器類の削減
が図れると共に、貯留槽62aの設置スペースの有効利
用が図れる。
【0070】なお、第三実施形態において、その他の部
分は上記第一実施形態及び第二実施形態と同じであるの
で、同一部分には同一符号を付して説明は省略する。
【0071】◎第四実施形態 図9は、この発明に係る液処理装置の第四実施形態の要
部を示す概略断面図である。
【0072】第四実施形態は、純水の流量の変動による
洗浄処理精度の体はを防止すべく純水の流量を一定に制
御可能にした場合である。すなわち、上記処理液供給管
61における純水供給源60側に純水の流量を検出する
検出手段例えば流量計112を介設すると共に、この流
量計112の二次側すなわち洗浄槽50側に圧力調整手
段例えば圧力レギュレータ113を介設し、そして、流
量計112にて検出された検出信号(流量の変動値)を
受けて一定の流量となるような制御信号を圧力レギュレ
ータ113に伝達するコントローラ114を設けて、純
水の流量を一定に制御するようにした場合である。
【0073】このように、純水の流量を一定に制御する
ことにより、薬液濃度を一定に維持することができるの
で、洗浄処理精度の向上が図れる。例えば、薬液にHF
を使用する洗浄処理においては、洗浄槽50内の薬液濃
度(HF濃度)が一定化されるので、エッチングの再現
性の向上が図れる。
【0074】なお、上記説明では、流量計112の二次
側すなわち洗浄槽50側に圧力レギュレータ113を配
設する場合について説明したが、圧力レギュレータ11
3を流量計112の一次側即ち純水供給源60側に配設
してコントローラ114からの制御信号をフィードバッ
クさせるようにしてもよい。
【0075】なお、第四実施形態において、その他の部
分は上記第一実施形態ないし第三実施形態と同じである
ので、同一部分には同一符号を付して、その説明は省略
する。
【0076】なお、上記実施形態では、この発明に係る
液処理装置及び液処理方法を半導体ウエハの洗浄処理シ
ステムに適用した場合について説明したが、半導体ウエ
ハ以外の例えばLCD用ガラス基板等にも適用できるこ
とは勿論である。
【0077】
【発明の効果】以上に説明したように、この発明によれ
ば、上記のように構成されているので、以下のような優
れた効果が得られる。
【0078】(1)請求項1、10記載の発明によれ
ば、貯留槽内に貯留された薬液の量と薬液の吐出し始め
の量を秤量検出手段にて検出し、貯留槽内から吐出され
る薬液の所定量を吐出量検出手段にて検出し、これら両
信号を受けて制御手段で所定量吐出するまでの時間を検
出し、制御手段から所定の信号例えばアラーム等の制御
信号を発することができる。したがって、薬液の吐出側
で所定時間内での薬液の量を管理することができるの
で、処理効率の向上を図ることができる。
【0079】(2)請求項2、11記載の発明によれ
ば、秤量検出手段と吐出量検出手段からの信号を受ける
制御手段からの制御信号に基いて開閉切換手段を制御す
ることができるので、薬液の吐出量が適量範囲外の場合
には開閉切換手段を閉じて不適量の薬液の吐出を停止す
ることができるので、純水中に混合される薬液の濃度を
管理できるので、処理効率の向上が図れ、また、薬液濃
度が不十分な場合の処理を即座に回避することができ、
処理に供される被処理体のダメージを少なくすることが
できる。したがって、上記(1)に加えて製品歩留まり
の向上が図れると共に、装置及び処理の信頼性の向上が
図れる。
【0080】(3)請求項3記載の発明によれば、薬液
の吐出量を調整することができるので、使用目的に応じ
た吐出量の薬液を使用することができる。
【0081】(4)請求項4記載の発明によれば、薬液
の吐出量を選択的に調整することができるので、上記
(1)に加えて使用目的に応じた吐出量の薬液を使用す
ることができる。
【0082】(5)請求項5、12記載の発明によれ
ば、秤量検出手段と吐出量検出手段からの信号を受ける
制御手段からの制御信号に基いて開閉手段を制御するこ
とができるので、薬液の吐出量が適量範囲外の場合には
開閉手段を閉じて搬送用ガスの供給を停止すると共に、
不適量の薬液の吐出を停止することができるので、薬液
濃度が不十分な場合の処理を即座に回避することがで
き、処理に供される被処理体のダメージを少なくするこ
とができる。したがって、上記(1)に加えて製品歩留
まりの向上が図れると共に、装置及び処理の信頼性の向
上が図れる。
【0083】(6)請求項6記載の発明によれば、搬送
用ガスの供給圧を調整することができるので、薬液の吐
出量を調整することができると共に、薬液濃度を調整す
ることができる。したがって、上記(1)に加えて処理
能力の向上を図ることができる。
【0084】(7)請求項7記載の発明によれば、搬送
用ガスの供給圧を選択的に調整することができるので、
薬液の吐出量を微調整することができると共に、薬液濃
度を微調整することができる。したがって、上記(1)
に加えて処理能力の向上を図ることができる。
【0085】(8)請求項8記載の発明によれば、異な
る種類の複数の薬液の吐出量を管理することができると
共に、薬液濃度を管理することができるので、上記
(1)に加えて処理効率の向上を図ることができる。
【0086】(9)請求項9記載の発明によれば、目的
に応じた薬液の使用量(吐出量)を適宜増大することが
できると共に、1つの秤量検出手段と吐出量検出手段で
吐出量を管理することができるので、上記(1)に加え
て貯留槽を構成するタンクの数に関係なく一箇所で薬液
の吐出量を管理することができ、スペースの有効利用を
図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る液処理装置を適用した洗浄処理
システムを示す概略平面図である。
【図2】この発明に係る液処理装置の第一実施形態を示
す概略断面図である。
【図3】上記液処理装置の一部を示す概略断面図であ
る。
【図4】上記液処理装置における排気機構を示す断面図
である。
【図5】図4のA−A線に沿う断面図である。
【図6】上記液処理装置における排液機構を示す断面図
(a)及び(a)のA−A線に沿う断面図(b)であ
る。
【図7】この発明に係る液処理装置の第二実施形態を示
す概略断面図である。
【図8】この発明に係る液処理装置の第三実施形態を示
す概略断面図である。
【図9】この発明に係る液処理装置の第四実施形態の要
部を示す概略断面図である。
【図10】従来の液処理装置を示す概略断面図である。
【図11】従来の別の液処理装置を示す概略断面図であ
る。
【符号の説明】
50 洗浄槽 60 純水供給源 61 処理液供給管 62a〜62d 貯留槽 63 注入開閉切換弁(開閉切換手段) 64 薬液供給管 64a〜64d,64A オリフィス 65 N2ガス供給手段 70 検出部 70c 秤量センサ(秤量検出手段) 70d 吐出量検出センサ(吐出量検出手段) 77,77a〜77d 薬液開閉弁(開閉手段) 80 CPU(制御手段) 81 ガス供給管 82 N2ガス供給源(ガス供給源) 85 ガス開閉弁(開閉手段) 110a〜110c タンク L 薬液
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 田口 啓治 佐賀県鳥栖市西新町1375番地41 東京エレ クトロン九州株式会社佐賀事業所内 Fターム(参考) 4G068 AA02 AA06 AB15 AC05 AD40 AE01 AE05 AF01 AF32 AF37

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 薬液を貯留する貯留槽と、 上記貯留槽内の薬液の量を検出する秤量検出手段と、 上記貯留槽内から吐出される薬液の所定量を検出する吐
    出量検出手段と、 上記秤量検出手段と吐出量検出手段からの信号に基いて
    所定量吐出される時間を検出し、所定の信号を発する制
    御手段と、を具備することを特徴とする液処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の液処理装置において、 上記貯留槽の吐出側に接続する薬液供給管と、薬液を混
    合して被処理体に処理を施す処理部に純水を供給する処
    理液供給管とを開閉切換手段を介して接続し、制御手段
    からの信号に基いて上記開閉切換手段を制御可能に形成
    してなる、ことを特徴とする液処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の液処理装置において、 上記薬液供給管に流量調整手段を介設してなる、ことを
    特徴とする液処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項2記載の液処理装置において、 上記薬液供給管を複数設け、各薬液供給管に流量調整手
    段を介設してなる、ことを特徴とする液処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項1又は2記載の液処理装置におい
    て、 上記貯留槽と、この貯留槽内の薬液を搬送するためのガ
    スの供給源とを開閉手段を介設するガス供給管を介して
    接続し、制御手段からの信号に基いて上記開閉手段を制
    御可能に形成してなる、ことを特徴とする液処理装置。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の液処理装置において、 上記開閉手段は、加圧のガス圧が調整可能な圧力調整機
    能を具備する、ことを特徴とする液処理装置。
  7. 【請求項7】 請求項5記載の液処理装置において、 上記貯留槽とガス供給源とを複数のガス供給管を介して
    接続し、各ガス供給管に、各々異なる圧力調整機能を具
    備する開閉手段を介設してなる、ことを特徴とする液処
    理装置。
  8. 【請求項8】 請求項1ないし7のいずれかに記載の液
    処理装置において、上記貯留槽は、異なる種類の薬液を
    貯留する複数のタンクを含む、ことを特徴とする液処理
    装置。
  9. 【請求項9】 請求項1ないし7のいずれかに記載の液
    処理装置において、 上記貯留槽は、同一種類の薬液を貯留する同一形状の複
    数のタンクからなり、上記各タンクの吐出口を集合し、
    上記タンクのうちの1つに秤量検出手段と吐出量検出手
    段を設けてなる、ことを特徴とする液処理装置。
  10. 【請求項10】 貯留槽内に貯留された薬液を貯留槽か
    ら吐出するに当たって、 上記貯留槽内の薬液が吐出し始めてから所定量を吐出す
    るまでの時間を検出し、検出された時間に基いて上記貯
    留槽から吐出される薬液の吐出量が適正か否かを判別可
    能にした、ことを特徴とする液処理方法。
  11. 【請求項11】 貯留槽内に貯留された薬液を貯留槽か
    ら吐出して、処理液供給管内を流れる純水中に混合する
    に当たって、 上記貯留槽内の薬液が吐出し始めてから所定量を吐出す
    るまでの時間を検出し、検出された時間に基いて上記貯
    留槽から吐出される薬液の吐出量が適正か否かを判別
    し、 上記薬液の吐出量が適正範囲外の場合に、薬液の吐出を
    停止する、ことを特徴とする液処理方法。
  12. 【請求項12】 請求項10又は11記載の液処理方法
    において、 上記処理槽内に薬液搬送用のガスを供給して、ガス圧に
    よって薬液の吐出を行うようにし、上記薬液の吐出量が
    適正範囲外の場合に、ガスの供給を停止する、ことを特
    徴とする液処理方法。
JP34500499A 1999-12-03 1999-12-03 液処理装置及び液処理方法 Expired - Fee Related JP3561836B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34500499A JP3561836B2 (ja) 1999-12-03 1999-12-03 液処理装置及び液処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34500499A JP3561836B2 (ja) 1999-12-03 1999-12-03 液処理装置及び液処理方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001157833A true JP2001157833A (ja) 2001-06-12
JP3561836B2 JP3561836B2 (ja) 2004-09-02

Family

ID=18373640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34500499A Expired - Fee Related JP3561836B2 (ja) 1999-12-03 1999-12-03 液処理装置及び液処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3561836B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1837894A1 (en) * 2006-03-22 2007-09-26 Tokyo Electron Limited Process liquid supply system, process liquid supply method, and storage medium
JP2009049108A (ja) * 2007-08-16 2009-03-05 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および処理液成分補充方法
JP2009512545A (ja) * 2005-10-21 2009-03-26 ロンザ ア−ゲ− 質量流量制御システム
JP2010232521A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 処理液供給装置および処理液供給方法
JPWO2014103523A1 (ja) * 2012-12-28 2017-01-12 株式会社Screenホールディングス 処理装置とその排気切換装置並びに排気切換ユニットと切換弁ボックス
CN113375053A (zh) * 2020-02-25 2021-09-10 Kc股份有限公司 气体混合供应装置、混合***及气体混合供应方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009512545A (ja) * 2005-10-21 2009-03-26 ロンザ ア−ゲ− 質量流量制御システム
EP1837894A1 (en) * 2006-03-22 2007-09-26 Tokyo Electron Limited Process liquid supply system, process liquid supply method, and storage medium
JP2007258289A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Tokyo Electron Ltd 液処理装置並びに液処理装置の処理液供給方法及び処理液供給プログラム。
JP4700536B2 (ja) * 2006-03-22 2011-06-15 東京エレクトロン株式会社 液処理装置並びに液処理装置の処理液供給方法及び処理液供給プログラム。
US8408234B2 (en) 2006-03-22 2013-04-02 Tokyo Electron Limited Process liquid supply system, process liquid supply method, and storage medium
JP2009049108A (ja) * 2007-08-16 2009-03-05 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および処理液成分補充方法
JP2010232521A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 処理液供給装置および処理液供給方法
JPWO2014103523A1 (ja) * 2012-12-28 2017-01-12 株式会社Screenホールディングス 処理装置とその排気切換装置並びに排気切換ユニットと切換弁ボックス
CN113375053A (zh) * 2020-02-25 2021-09-10 Kc股份有限公司 气体混合供应装置、混合***及气体混合供应方法
CN113375053B (zh) * 2020-02-25 2023-09-15 Kc股份有限公司 气体混合供应装置、混合***及气体混合供应方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3561836B2 (ja) 2004-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI754525B (zh) 基板處理裝置
KR102480691B1 (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기억 매체
KR102416923B1 (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기억 매체
KR100455904B1 (ko) 세정처리방법및세정처리장
US5035200A (en) Processing liquid supply unit
US20180158699A1 (en) Method of cleaning substrate processing apparatus and system of cleaning substrate processing apparatus
US20100143081A1 (en) Semiconductor manufacturing apparatus and method
KR100863782B1 (ko) 기판처리장치 및 기판처리방법
JP2020198389A (ja) 基板処理装置及びその制御方法
JP2001157833A (ja) 液処理装置及び液処理方法
US7014715B2 (en) Photoresist supply apparatus and method of controlling the operation thereof
JP2008198689A (ja) 基板処理装置
KR20110065340A (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 방법, 및 이 기판 처리 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 기록 매체
JP2011114319A (ja) 気体置換装置および気体置換方法
JP6922048B2 (ja) 基板処理装置、基板処理方法及び記録媒体
US6119709A (en) Feeding apparatus and replenishing method of processing solution
JP3343776B2 (ja) 洗浄処理装置及び洗浄処理方法
JP3888612B2 (ja) 洗浄処理方法及び洗浄処理装置
JP2003142448A (ja) 基板洗浄装置の運転方法
CN209804605U (zh) 液体处理装置
KR102678991B1 (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기억 매체
JPH11204476A (ja) 洗浄処理装置及び洗浄処理方法
JP3557581B2 (ja) 液処理装置
JP3137806B2 (ja) 真空室の大気開放方法及びその装置
KR100639674B1 (ko) 반도체 소자 제조설비의 에어공급장치와 이를 이용한에어공급방법

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040302

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040419

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040519

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040519

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3561836

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100611

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130611

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees