JP2001083160A - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
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- JP2001083160A JP2001083160A JP25839599A JP25839599A JP2001083160A JP 2001083160 A JP2001083160 A JP 2001083160A JP 25839599 A JP25839599 A JP 25839599A JP 25839599 A JP25839599 A JP 25839599A JP 2001083160 A JP2001083160 A JP 2001083160A
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- rotating
- heat block
- shaft
- rotation
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】
【課題】電気配線された回転体の回転動作による断線を
防ぐ。 【解決手段】ヒートブロック1を構成しているヒータ3
や温度センサ4の電線をヒートブロック1の回転管軸7
の中を通し、回転管軸7周りに数回巻き付ける。巻き付
ける部分にはフレキシブルな帯状の電線20を用い、電
線と一緒に緩締できる板ばね21をガイドにして固定す
る。回転管軸7と連動し、ある程度電線が締め付けられ
たら検知、ステッピングモータ9を逆回転させるための
連動検知板12と位置センサC17を設ける。ヒートブ
ロック1上のベッセル38の保持位置の順番を1サイク
ルあたり数ピッチ置きにし、数サイクルに一回、数ポジ
ション分ヒートブロック1を逆回転させながら、数サイ
クル目に最初の保持位置がベッセル保持位置2aに戻り
かつ電線20の累積締まりが0になるように、締まり修
正を行う回転制御をする。
防ぐ。 【解決手段】ヒートブロック1を構成しているヒータ3
や温度センサ4の電線をヒートブロック1の回転管軸7
の中を通し、回転管軸7周りに数回巻き付ける。巻き付
ける部分にはフレキシブルな帯状の電線20を用い、電
線と一緒に緩締できる板ばね21をガイドにして固定す
る。回転管軸7と連動し、ある程度電線が締め付けられ
たら検知、ステッピングモータ9を逆回転させるための
連動検知板12と位置センサC17を設ける。ヒートブ
ロック1上のベッセル38の保持位置の順番を1サイク
ルあたり数ピッチ置きにし、数サイクルに一回、数ポジ
ション分ヒートブロック1を逆回転させながら、数サイ
クル目に最初の保持位置がベッセル保持位置2aに戻り
かつ電線20の累積締まりが0になるように、締まり修
正を行う回転制御をする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は臨床検査や化学分析
に係わる分析装置における回転体の制御方法と機構に関
するものである。
に係わる分析装置における回転体の制御方法と機構に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】分析装置における回転体の一例とし温度
制御された反応槽を用いて説明する。臨床検査等の分析
装置における反応槽の一例としては、ヒータや温度セン
サ等で温度制御された水等をコンプレッサ等で回し、そ
の流路上に試料や試薬の分注されたセルや反応容器等を
保持し加熱反応させる機構や温度制御されたヒートブロ
ック上に試料や試薬の分注されたセルや反応容器を保持
し加熱反応させる機構が一般的に知られている。
制御された反応槽を用いて説明する。臨床検査等の分析
装置における反応槽の一例としては、ヒータや温度セン
サ等で温度制御された水等をコンプレッサ等で回し、そ
の流路上に試料や試薬の分注されたセルや反応容器等を
保持し加熱反応させる機構や温度制御されたヒートブロ
ック上に試料や試薬の分注されたセルや反応容器を保持
し加熱反応させる機構が一般的に知られている。
【0003】従来の装置として既存の免疫分析装置を一
例に挙げる。キャリーオーバの低減等から使い捨てのチ
ップや反応容器が用いられ、反応槽には温度制御された
アルミのヒートブロックを採用、反応容器を保持、加熱
する穴がヒートブロック上面にマトリクス状に配置され
ている。試料や試薬の分注はX−Y−Z方向に動作する
搬送機構により反応槽外の分注位置に一時反応容器が搬
送されてから行われ、再び反応容器が反応槽に戻され加
熱、保持され免疫反応を待つ。免疫反応が終わったら搬
送機構により吸引位置に搬送され、吸引機構により測定
機構に吸引、測定が行われる。そのため、反応槽は回転
等の動作はせず、ヒートブロックを構成しているヒータ
や温度センサ等の電線は固定され配線もしやすく簡単な
機構で反応槽を構成できた。しかし、近年、生化学分析
や免疫分析では検査の多様化、集中化や検査項目の増加
などから装置のシステム化、分析処理能力や分析精度の
向上など装置に対する要求が高まっている。その結果、
例えば、分注精度を向上させるため使い捨てのチップや
反応容器を用いると、それらを供給する供給機構、それ
らを個別に反応槽等に搬送する搬送機構、それらを用い
試料と試薬の分取、分注を行う分注機構等が必要になっ
てくる。また、分析処理能力の向上させるため、吸引機
構、測定機構をそれぞれ2台設け同時に測定を行う等、
装置の機構も複雑化してきている。
例に挙げる。キャリーオーバの低減等から使い捨てのチ
ップや反応容器が用いられ、反応槽には温度制御された
アルミのヒートブロックを採用、反応容器を保持、加熱
する穴がヒートブロック上面にマトリクス状に配置され
ている。試料や試薬の分注はX−Y−Z方向に動作する
搬送機構により反応槽外の分注位置に一時反応容器が搬
送されてから行われ、再び反応容器が反応槽に戻され加
熱、保持され免疫反応を待つ。免疫反応が終わったら搬
送機構により吸引位置に搬送され、吸引機構により測定
機構に吸引、測定が行われる。そのため、反応槽は回転
等の動作はせず、ヒートブロックを構成しているヒータ
や温度センサ等の電線は固定され配線もしやすく簡単な
機構で反応槽を構成できた。しかし、近年、生化学分析
や免疫分析では検査の多様化、集中化や検査項目の増加
などから装置のシステム化、分析処理能力や分析精度の
向上など装置に対する要求が高まっている。その結果、
例えば、分注精度を向上させるため使い捨てのチップや
反応容器を用いると、それらを供給する供給機構、それ
らを個別に反応槽等に搬送する搬送機構、それらを用い
試料と試薬の分取、分注を行う分注機構等が必要になっ
てくる。また、分析処理能力の向上させるため、吸引機
構、測定機構をそれぞれ2台設け同時に測定を行う等、
装置の機構も複雑化してきている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】例えば、本発明に用い
る免疫分析装置24では、免疫反応の開始温度が重要
で、反応槽28の温度は37±0.3℃に制御されるこ
とが要求されている。また試料と試薬の反応にはキャリ
ーオーバの低減などの理由から反応容器として使い捨て
のベッセル38が用いられ、分析1サイクルあたり時間
の制限等から試料や試薬の分取、分注や反応液の吸引は
ノズル29bが反応槽28上を旋回し定位置で行う機構
になっている。そのためベッセル搬送機構35により反
応槽28上に搬送、保持されたベッセル38が搬送位置
2a、試薬分注位置29a、試料分注位置30a、反応
液の吸引位置33aと1分析サイクルの間に短時間に移
動しなければならない。また、反応槽28には、コスト
や簡単な機構構成の面からベッセル38への加熱手段と
してヒートブロック方式のアルミディスク2が採用さ
れ、ヒートブロック1の上面にベッセル38を保持、加
熱できる保持穴2bが円状に54個設けられている。こ
のヒートブロック1の中心には回転管軸7の一端が軸方
向に取り付けられ、図示しないコンピュータで制御され
たステッピングモータ9の回転により回転管軸7を中心
に回転が可能である。しかし、このヒートブロック1を
回転させると、ヒートブロック1を構成しているヒータ
3や温度センサ4の電線が、電線を回転管軸7の中を通
し、回転管軸7に設けられている穴や切欠き7aから外
へ出して電線中継板18等に固定配線する等しても、一
緒に回転してねじれてしまい、電線にストレスがかか
る。そのため、繰り返すヒートブロック1の時計、反時
計回りの回転、停止により断線することがある。また、
電線へのストレスを少なくし、断線を防ぐためにヒート
ブロック1の回転動作を制限しなければならなかった。
る免疫分析装置24では、免疫反応の開始温度が重要
で、反応槽28の温度は37±0.3℃に制御されるこ
とが要求されている。また試料と試薬の反応にはキャリ
ーオーバの低減などの理由から反応容器として使い捨て
のベッセル38が用いられ、分析1サイクルあたり時間
の制限等から試料や試薬の分取、分注や反応液の吸引は
ノズル29bが反応槽28上を旋回し定位置で行う機構
になっている。そのためベッセル搬送機構35により反
応槽28上に搬送、保持されたベッセル38が搬送位置
2a、試薬分注位置29a、試料分注位置30a、反応
液の吸引位置33aと1分析サイクルの間に短時間に移
動しなければならない。また、反応槽28には、コスト
や簡単な機構構成の面からベッセル38への加熱手段と
してヒートブロック方式のアルミディスク2が採用さ
れ、ヒートブロック1の上面にベッセル38を保持、加
熱できる保持穴2bが円状に54個設けられている。こ
のヒートブロック1の中心には回転管軸7の一端が軸方
向に取り付けられ、図示しないコンピュータで制御され
たステッピングモータ9の回転により回転管軸7を中心
に回転が可能である。しかし、このヒートブロック1を
回転させると、ヒートブロック1を構成しているヒータ
3や温度センサ4の電線が、電線を回転管軸7の中を通
し、回転管軸7に設けられている穴や切欠き7aから外
へ出して電線中継板18等に固定配線する等しても、一
緒に回転してねじれてしまい、電線にストレスがかか
る。そのため、繰り返すヒートブロック1の時計、反時
計回りの回転、停止により断線することがある。また、
電線へのストレスを少なくし、断線を防ぐためにヒート
ブロック1の回転動作を制限しなければならなかった。
【0005】本発明の目的は、ヒートブロックを構成す
るヒータや温度センサの電線をヒートブロックの回転時
にねじれることなく、またストレスをかけないように配
線し、試料や試薬の分注のためにそれぞれの定位置に回
転、停止できるようにヒートブロックが時計、又は反時
計回りに自由に数回転できるようにすることにある。
るヒータや温度センサの電線をヒートブロックの回転時
にねじれることなく、またストレスをかけないように配
線し、試料や試薬の分注のためにそれぞれの定位置に回
転、停止できるようにヒートブロックが時計、又は反時
計回りに自由に数回転できるようにすることにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、ヒートブロック1を構成しているヒータ3と温
度センサ4等の電線をヒートブロック1に固定されてい
る回転管軸7の上端から中に入れ、下端に設けられた切
り欠き7aから外に出し、一端を回転管軸7に固定、他
端を電線が固定される電線中継板18に固定した帯状の
板ばね21をガイドにして回転管軸7に渦巻き状に一緒
に数回巻きつける。ここで電線は回転管軸7中の切欠き
7a付近からフレキシブルな帯状の電線20に繋ぎ変
え、巻きやすくする。またステッピングモータ9の回転
によりヒートブロック1と伴に更に連動して回転する従
動検知板12を設け、ヒータ3や温度センサ4の電線が
回転管軸7にある程度締め付けられたら、従動検知板1
2が入るように設けられた位置センサC17により検知
することで、ステッピングモータ9を逆回転し、ヒート
ブロック1を逆回転させ、同時に電線の締まりを解放す
る。更に、ヒートブロック1上の保持穴2bに搬送され
るベッセル38の順番が最初の分析のために搬送された
保持穴位置1から次の分析のために搬送される保持穴位
置2が順送りではなく、定数ピッチ置きにヒートブロッ
ク1がベッセル搬送位置2aに停止するようにする。こ
の動作を繰り返し、数回の分析サイクルごとに1回、定
数ピッチ分逆回転させて次にベッセル38が搬送される
保持穴位置2bがベッセル搬送位置2aに停止させるこ
とにより、回転管軸7に巻き付けた電線の締まりを解放
しながら回転動作をさせる。この一連の締まり、締まり
解放を繰り返し数分析サイクル目で最初の分析のために
ベッセル38が搬送された保持部穴位置1が再びベッセ
ル搬送位置2aに戻り、電線の累積締まりも0に戻るよ
うにヒートブロック1の回転を制御する。
ために、ヒートブロック1を構成しているヒータ3と温
度センサ4等の電線をヒートブロック1に固定されてい
る回転管軸7の上端から中に入れ、下端に設けられた切
り欠き7aから外に出し、一端を回転管軸7に固定、他
端を電線が固定される電線中継板18に固定した帯状の
板ばね21をガイドにして回転管軸7に渦巻き状に一緒
に数回巻きつける。ここで電線は回転管軸7中の切欠き
7a付近からフレキシブルな帯状の電線20に繋ぎ変
え、巻きやすくする。またステッピングモータ9の回転
によりヒートブロック1と伴に更に連動して回転する従
動検知板12を設け、ヒータ3や温度センサ4の電線が
回転管軸7にある程度締め付けられたら、従動検知板1
2が入るように設けられた位置センサC17により検知
することで、ステッピングモータ9を逆回転し、ヒート
ブロック1を逆回転させ、同時に電線の締まりを解放す
る。更に、ヒートブロック1上の保持穴2bに搬送され
るベッセル38の順番が最初の分析のために搬送された
保持穴位置1から次の分析のために搬送される保持穴位
置2が順送りではなく、定数ピッチ置きにヒートブロッ
ク1がベッセル搬送位置2aに停止するようにする。こ
の動作を繰り返し、数回の分析サイクルごとに1回、定
数ピッチ分逆回転させて次にベッセル38が搬送される
保持穴位置2bがベッセル搬送位置2aに停止させるこ
とにより、回転管軸7に巻き付けた電線の締まりを解放
しながら回転動作をさせる。この一連の締まり、締まり
解放を繰り返し数分析サイクル目で最初の分析のために
ベッセル38が搬送された保持部穴位置1が再びベッセ
ル搬送位置2aに戻り、電線の累積締まりも0に戻るよ
うにヒートブロック1の回転を制御する。
【0007】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図1〜図
5を用いて説明する。
5を用いて説明する。
【0008】先ず、免疫分析装置24の装置の構成の概
略を説明する。免疫分析装置24は図5下側を装置前部
とし、試料が乗せられているラック27aが試料吸引位
置27bへ搬送されるライン機構27c、免疫反応に必
要な試薬の入った蓋付きの試薬ボトル25aが収納され
ている試薬ディスク25、試薬ボトル25aの蓋を開閉
する試薬ボトル蓋開閉機構26、試料や試薬の分取、分
注に用いる図示しないチップと反応容器として用いるベ
ッセル38が保持、収納されているマガジン36aを収
納部から供給し、使用済みのマガジン36aを定位置3
6bに廃棄するマガジン供給廃棄機構36、マガジン3
6aからチップ、ベッセル38を試料と試薬の免疫反応
させる反応槽28、試薬ディスク25の試薬を攪拌する
試薬攪拌機構31、試料と試薬の混合液を攪拌する攪拌
機構37へ搬送するベッセル搬送機構35、試料の分
取、分注を行う試料分注機構30、試薬の分取、分注を
行う分注機構29、反応液を測定機構32へ吸引する吸
引機構33、測定時に反応液と一緒に吸引される試薬が
貯められている試薬保管機構34等から構成されてる。
略を説明する。免疫分析装置24は図5下側を装置前部
とし、試料が乗せられているラック27aが試料吸引位
置27bへ搬送されるライン機構27c、免疫反応に必
要な試薬の入った蓋付きの試薬ボトル25aが収納され
ている試薬ディスク25、試薬ボトル25aの蓋を開閉
する試薬ボトル蓋開閉機構26、試料や試薬の分取、分
注に用いる図示しないチップと反応容器として用いるベ
ッセル38が保持、収納されているマガジン36aを収
納部から供給し、使用済みのマガジン36aを定位置3
6bに廃棄するマガジン供給廃棄機構36、マガジン3
6aからチップ、ベッセル38を試料と試薬の免疫反応
させる反応槽28、試薬ディスク25の試薬を攪拌する
試薬攪拌機構31、試料と試薬の混合液を攪拌する攪拌
機構37へ搬送するベッセル搬送機構35、試料の分
取、分注を行う試料分注機構30、試薬の分取、分注を
行う分注機構29、反応液を測定機構32へ吸引する吸
引機構33、測定時に反応液と一緒に吸引される試薬が
貯められている試薬保管機構34等から構成されてる。
【0009】次に本発明を適用した反応槽28を図1を
用いて説明する。本発明を適用した反応槽28は試料と
試薬が分注されたベッセル38を保持し、ベッセル38
と同じ形状をしたはめあいの保持穴2bを円状に54
個、等間隔に備えた円盤状のアルミブロック2、アルミ
ブロック2内側面から内部に埋め込まれた温度センサ
4、アルミブロック2の外側面に貼り付けられた帯状の
加熱用ヒータ3、アルミブロック2の保温のためにヒー
タ3の上から貼り付けられた断熱材A5、断熱材B6等
から成り加熱手段だけで37±0.3℃に温度制御でき
るヒートブロック1、一端にヒートブロック1が固定さ
れ、軸中に従動プーリ8、従動検知板12が取り付けら
れており、他端に電線を外に出すための切り欠き7aが
設けられている回転管軸7、駆動手段として駆動プーリ
10が回転軸9a先に取り付けられているステッピング
モータ9、ステッピングモータ9やヒートブロック1等
が組み付けられるベース11、回転管軸を受けるための
ベアリング13、ステッピングモータ9の回転によりヒ
ートブロック1が回転管軸7を中心に回転するための伝
動ベルト14、ヒートブロック1の回転位置を制御する
位置センサA15、位置センサB16、位置センサA1
5、位置センサB16が取り付けられている固定板1
9、回転管軸7と連動回転する従動検知板12が入るこ
とでヒータ3と温度センサ4の電線の締まりを検知する
位置センサC17、一方が回転管軸7切り欠き7a近く
に、他方が電線中継ベース18にねじA21a、ねじB
21bで固定されたヒータ3や温度センサ4の電線のず
れ防止のための板ばね21等から構成されている。伝動
ベルト14は従動プーリ8とステッピングモータ9の駆
動プーリ10に掛けられており、回転管軸7は上下2個
のベアリング13を介してベース11に組み付けられて
いる。ステッピングモータ9は図示しないコンピュータ
で制御されており、位置センサA15、位置センサB1
6によりヒートブロック1はベッセル搬送位置2a、試
料分注位置30a、試薬の分注位置29aや反応液の吸
引位置33aなどで自由に回転停止できる。また回転管
軸7にはヒートブロック1を構成するヒータ3と温度セ
ンサ4の電線が通され、回転管軸7下端の切り欠き7a
から軸の外に出され、押え栓22で固定されている。ま
たヒータ3と温度センサ4の電線は回転管軸7中に設け
られた切り欠き7a付近で長さ400mm、幅20m
m、厚さ0.085mmのフレキシブルな帯状の電線2
0に繋ぎ変えられており、板ばね21をガイドに回転管
軸7を中心に時計回り方向に渦巻き状に数回巻かれ、板
ばね21と一緒に緩締できるように電線中継板18を中
継して電源23に配線されている。従動検知板12はヒ
ータ3と温度センサ4の電線がある程度締め付けられた
ら位置センサC17より検知できるように組み付けられ
ている。
用いて説明する。本発明を適用した反応槽28は試料と
試薬が分注されたベッセル38を保持し、ベッセル38
と同じ形状をしたはめあいの保持穴2bを円状に54
個、等間隔に備えた円盤状のアルミブロック2、アルミ
ブロック2内側面から内部に埋め込まれた温度センサ
4、アルミブロック2の外側面に貼り付けられた帯状の
加熱用ヒータ3、アルミブロック2の保温のためにヒー
タ3の上から貼り付けられた断熱材A5、断熱材B6等
から成り加熱手段だけで37±0.3℃に温度制御でき
るヒートブロック1、一端にヒートブロック1が固定さ
れ、軸中に従動プーリ8、従動検知板12が取り付けら
れており、他端に電線を外に出すための切り欠き7aが
設けられている回転管軸7、駆動手段として駆動プーリ
10が回転軸9a先に取り付けられているステッピング
モータ9、ステッピングモータ9やヒートブロック1等
が組み付けられるベース11、回転管軸を受けるための
ベアリング13、ステッピングモータ9の回転によりヒ
ートブロック1が回転管軸7を中心に回転するための伝
動ベルト14、ヒートブロック1の回転位置を制御する
位置センサA15、位置センサB16、位置センサA1
5、位置センサB16が取り付けられている固定板1
9、回転管軸7と連動回転する従動検知板12が入るこ
とでヒータ3と温度センサ4の電線の締まりを検知する
位置センサC17、一方が回転管軸7切り欠き7a近く
に、他方が電線中継ベース18にねじA21a、ねじB
21bで固定されたヒータ3や温度センサ4の電線のず
れ防止のための板ばね21等から構成されている。伝動
ベルト14は従動プーリ8とステッピングモータ9の駆
動プーリ10に掛けられており、回転管軸7は上下2個
のベアリング13を介してベース11に組み付けられて
いる。ステッピングモータ9は図示しないコンピュータ
で制御されており、位置センサA15、位置センサB1
6によりヒートブロック1はベッセル搬送位置2a、試
料分注位置30a、試薬の分注位置29aや反応液の吸
引位置33aなどで自由に回転停止できる。また回転管
軸7にはヒートブロック1を構成するヒータ3と温度セ
ンサ4の電線が通され、回転管軸7下端の切り欠き7a
から軸の外に出され、押え栓22で固定されている。ま
たヒータ3と温度センサ4の電線は回転管軸7中に設け
られた切り欠き7a付近で長さ400mm、幅20m
m、厚さ0.085mmのフレキシブルな帯状の電線2
0に繋ぎ変えられており、板ばね21をガイドに回転管
軸7を中心に時計回り方向に渦巻き状に数回巻かれ、板
ばね21と一緒に緩締できるように電線中継板18を中
継して電源23に配線されている。従動検知板12はヒ
ータ3と温度センサ4の電線がある程度締め付けられた
ら位置センサC17より検知できるように組み付けられ
ている。
【0010】次に上述した反応槽28を適用した免疫分
析装置24の動作を簡単に説明する。
析装置24の動作を簡単に説明する。
【0011】先ず、マガジン供給廃棄機構36により新
しいチップ、ベッセル38が保持されているマガジン3
6aが収納部より、マガジン供給廃棄機構36によりチ
ップ、ベッセル供給位置36bに供給される。チップ、
ベッセル38はベッセル搬送機構35により、チップ搬
送位置30c、反応槽28のヒートブロック1上のベッ
セル搬送位置2aにそれぞれ搬送保持される。ベッセル
38の搬送されたヒートブロック1は試薬の分注位置2
9aまで回転し、試薬分注機構29により試薬の分注が
行われる。その後、再びヒートブロック1は試料分注位
置30aまで回転する。試料分注機構30は、チップ搬
送位置30cにあるチップをチップ保持部に装着、試料
を吸引し、試薬が分注されたベッセル38に分注を行
う。分注が終わったベッセル38はヒートブロック1上
に数分放置され、免疫反応を待つ。その間、ベッセル3
8はベッセル搬送機構35により一旦攪拌機構37に搬
送され、試料と試薬の混合液を攪拌した後、再びヒート
ブロック1上へ搬送、放置される。
しいチップ、ベッセル38が保持されているマガジン3
6aが収納部より、マガジン供給廃棄機構36によりチ
ップ、ベッセル供給位置36bに供給される。チップ、
ベッセル38はベッセル搬送機構35により、チップ搬
送位置30c、反応槽28のヒートブロック1上のベッ
セル搬送位置2aにそれぞれ搬送保持される。ベッセル
38の搬送されたヒートブロック1は試薬の分注位置2
9aまで回転し、試薬分注機構29により試薬の分注が
行われる。その後、再びヒートブロック1は試料分注位
置30aまで回転する。試料分注機構30は、チップ搬
送位置30cにあるチップをチップ保持部に装着、試料
を吸引し、試薬が分注されたベッセル38に分注を行
う。分注が終わったベッセル38はヒートブロック1上
に数分放置され、免疫反応を待つ。その間、ベッセル3
8はベッセル搬送機構35により一旦攪拌機構37に搬
送され、試料と試薬の混合液を攪拌した後、再びヒート
ブロック1上へ搬送、放置される。
【0012】反応が終わったベッセル38は、ヒートブ
ロック1の回転により、反応液の吸引位置33aまで回
転し、吸引機構33により測定機構32に吸引、分析が
行われる。分析が終わったベッセル38はベッセル搬送
機構35によりベッセル廃棄位置38aに、試料を分注
したチップは試料分注機構30によりチップ廃棄位置3
0bに移動されそれぞれ廃棄される。以上の動作を1サ
イクル毎に繰り返す。
ロック1の回転により、反応液の吸引位置33aまで回
転し、吸引機構33により測定機構32に吸引、分析が
行われる。分析が終わったベッセル38はベッセル搬送
機構35によりベッセル廃棄位置38aに、試料を分注
したチップは試料分注機構30によりチップ廃棄位置3
0bに移動されそれぞれ廃棄される。以上の動作を1サ
イクル毎に繰り返す。
【0013】次にヒートブロック1の回転制御の一例を
図4を用いて説明する。先ずステッピングモータ9の回
転によりヒートブロック1を反時計回りに回転させる、
それに連動して従動検知板12も回転、ヒータ3と温度
センサ4の電線20も同時に回転管軸7に締め付けられ
る。しかし、ある程度締め付けられた位置で従動検知板
12が位置センサC17に入りヒートブロック1の回転
が停止、同時に電線20の締まりも停止する。その後、
ステッピングモータ9を逆回転させることにより、ヒー
トブロック1は時計回りに回転、同時に締まりも解放さ
れ、ヒートブロック1のポジション1はベッセル搬送位
置2aに停止する。また、本発明の反応槽28のヒート
ブロック1は、図2に示すように上からみて時計周りに
1から7ポジション置きに2、3、4・・・・54と位
置が決められており、ステッピングモータ9の制御によ
り1サイクルの分析が終わった時点で、例えば最初に分
析がおこなわれたポジション1は7ピッチ分反時計回り
に移動した場所に停止し、ヒートブロック1のヒータ3
や温度センサ4の電線20の締まりは0サイクル目(分
析前)の位置から7ピッチ分(締まる方に0.13回転
分)となり、7サイクル目では49ピッチ分(0.91
回転分)となる、そこで8サイクル目に締まり解放動作
を行い47ピッチ分ヒートブロック1を時計回りに逆回
転させるとベッセル搬送位置にはポジション9が停止す
る。再び1サイクル毎に7ピッチ分ずつ反時計回りに回
転させ、15サイクル目に先に述べたように締まり解放
動作を行うと0サイクル目の位置から−3ピッチ(緩む
方に0.06回転分)の位置となる。同様に23、3
1、39、54サイクル目は8サイクルに1回、46サ
イクル目は7サイクルに1回締まり修正を行うと54サ
イクル目にポジション1は0サイクル目と同じベッセル
搬送位置2aに戻り、累積締まりも0になる。以後この
サイクル動作を繰り返す。
図4を用いて説明する。先ずステッピングモータ9の回
転によりヒートブロック1を反時計回りに回転させる、
それに連動して従動検知板12も回転、ヒータ3と温度
センサ4の電線20も同時に回転管軸7に締め付けられ
る。しかし、ある程度締め付けられた位置で従動検知板
12が位置センサC17に入りヒートブロック1の回転
が停止、同時に電線20の締まりも停止する。その後、
ステッピングモータ9を逆回転させることにより、ヒー
トブロック1は時計回りに回転、同時に締まりも解放さ
れ、ヒートブロック1のポジション1はベッセル搬送位
置2aに停止する。また、本発明の反応槽28のヒート
ブロック1は、図2に示すように上からみて時計周りに
1から7ポジション置きに2、3、4・・・・54と位
置が決められており、ステッピングモータ9の制御によ
り1サイクルの分析が終わった時点で、例えば最初に分
析がおこなわれたポジション1は7ピッチ分反時計回り
に移動した場所に停止し、ヒートブロック1のヒータ3
や温度センサ4の電線20の締まりは0サイクル目(分
析前)の位置から7ピッチ分(締まる方に0.13回転
分)となり、7サイクル目では49ピッチ分(0.91
回転分)となる、そこで8サイクル目に締まり解放動作
を行い47ピッチ分ヒートブロック1を時計回りに逆回
転させるとベッセル搬送位置にはポジション9が停止す
る。再び1サイクル毎に7ピッチ分ずつ反時計回りに回
転させ、15サイクル目に先に述べたように締まり解放
動作を行うと0サイクル目の位置から−3ピッチ(緩む
方に0.06回転分)の位置となる。同様に23、3
1、39、54サイクル目は8サイクルに1回、46サ
イクル目は7サイクルに1回締まり修正を行うと54サ
イクル目にポジション1は0サイクル目と同じベッセル
搬送位置2aに戻り、累積締まりも0になる。以後この
サイクル動作を繰り返す。
【0014】
【発明の効果】以上説明したように、ヒートブロック1
のヒータ3や温度センサ4等の電線をヒートブロック1
の回転管軸7に対し、渦巻き状に数回巻き付け、かつ巻
き付け部分にフレキシブルな帯状の電線20を用いたこ
と、更に電線20と一緒に緩締する板ばね21によるガ
イドを設けたことにより、ヒートブロック1の繰り返す
回転、停止による電線20のねじれ、ストレスやずれを
無くし、断線を防止することができる。また、位置セン
サC17による電線20の締まり監視とヒートブロック
1の回転制御による締まり解放動作により、ヒートブロ
ック1の回転よる電線20の過剰な締まりを押え電線2
0を保護することができる。このようにヒートブロック
1の温度制御に必要なヒータ3や温度センサ4の電線が
うまく配線処理されたことによりヒートブロック1がベ
ッセル搬送位置2a、試料分注位置30a、試薬分注位
置29aや反応液の吸引位置33aに自由に回転、停止
できるので、反応槽28が安価かつ簡単な機構により構
成することが可能になった。
のヒータ3や温度センサ4等の電線をヒートブロック1
の回転管軸7に対し、渦巻き状に数回巻き付け、かつ巻
き付け部分にフレキシブルな帯状の電線20を用いたこ
と、更に電線20と一緒に緩締する板ばね21によるガ
イドを設けたことにより、ヒートブロック1の繰り返す
回転、停止による電線20のねじれ、ストレスやずれを
無くし、断線を防止することができる。また、位置セン
サC17による電線20の締まり監視とヒートブロック
1の回転制御による締まり解放動作により、ヒートブロ
ック1の回転よる電線20の過剰な締まりを押え電線2
0を保護することができる。このようにヒートブロック
1の温度制御に必要なヒータ3や温度センサ4の電線が
うまく配線処理されたことによりヒートブロック1がベ
ッセル搬送位置2a、試料分注位置30a、試薬分注位
置29aや反応液の吸引位置33aに自由に回転、停止
できるので、反応槽28が安価かつ簡単な機構により構
成することが可能になった。
【図1】本発明を適用した免疫分析装置の反応槽の平面
図をA−Aで断面にした断面図である。
図をA−Aで断面にした断面図である。
【図2】反応槽の簡略平面図である。
【図3】回転管軸に巻かれた電線と板ばね部を図1断面
図の下から見た下視図である。
図の下から見た下視図である。
【図4】ヒートブロックの回転と累積締まりを表わした
図である。
図である。
【図5】本発明を適用した免疫分析装置全体の簡略平面
図である。
図である。
【符号の説明】 1…ヒートブロック、2…アルミブロック、2a…ベッ
セル搬送位置、3…ヒータ、4…温度センサ、7…回転
管軸、9…ステッピングモータ、12…従動検知板、1
7…位置センサC、18…電線中継板、20…電線、2
1…板ばね、38…ベッセル、28…反応槽、35…ベ
ッセル搬送機構。
セル搬送位置、3…ヒータ、4…温度センサ、7…回転
管軸、9…ステッピングモータ、12…従動検知板、1
7…位置センサC、18…電線中継板、20…電線、2
1…板ばね、38…ベッセル、28…反応槽、35…ベ
ッセル搬送機構。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G058 AA09 BB09 BB19 BB28 CB15 CD04 CE02 CE08 CF03 CF12 CF17 CF21 CF22 EA02 EA04 EA07 ED35 FA01
Claims (3)
- 【請求項1】 回転、停止を繰り返す電気配線が必要機
器が取り付けられた回転体を具備した分析装置におい
て、駆動手段により回転体が軸方向に固定された回転管
軸あるいは回転軸を中心に時計または反時計回りに回
転、定位置でセンサ等による位置検知手段により停止で
き、回転体に取り付けられている電気機器の電線が回転
体の回転管軸あるいは回転軸の軸端や途中から軸方向へ
配線され、もう一方の軸端や途中から回転管軸あるいは
回転軸周りに渦巻き状に数回巻かれてから電源等に配線
され、回転管軸あるいは回転軸に巻かれている部分の電
線にフレキシブルな帯状の電線が用いられ、電線が緩締
することで繰り返す回転体の回転による電気機器の電線
へのストレスを無くし、断線防止することを目的とした
配線処理を特徴とした分析装置。 - 【請求項2】 請求項1において回転体が駆動手段によ
り時計または反時計回りに回転し、回転体に取り付けら
れている電気機器の電線がある程度締め付けられたら締
まり監視手段により検知され電線の締まりを解放する、
締まり制限手段が設けられており、回転体がある位置か
らある位置へ回転移動する動作において、電線が締まる
方向に1ピッチまたは数ピッチ回転し、次の1ピッチで
停止させたい位置に回転する際、回転体の回転方向が時
計回りなら、α−360°n、反時計回りなら−α+3
60°n、(α=回転ピッチ角、n=回転体の回転数
{1、2、3・・・})式で表わせる回転角分逆回転さ
せ、電線の締まりを解放し停止させたい位置まで移動さ
せることで、回転体の電線の締まりを抑制することを目
的とした回転制御が行われている分析装置。 - 【請求項3】 請求項1において回転体の回転管軸ある
いは回転軸に巻かれている電線が繰り返す回転体の時
計、反時計回りの回転運動によりずれやねじれがないよ
うに一方を回転管軸あるいは回転軸に、他方を電線を固
定する固定器具に固定されている渦巻き状の板ばねをガ
イドにして一緒に巻かれており、回転体の回転に連動し
電線とガイドが一緒に回転管軸あるいは回転軸に対し緩
締するように配線された電線のずれやねじれ防止を目的
としたガイドが設けられていることを特徴とした分析装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25839599A JP2001083160A (ja) | 1999-09-13 | 1999-09-13 | 分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25839599A JP2001083160A (ja) | 1999-09-13 | 1999-09-13 | 分析装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001083160A true JP2001083160A (ja) | 2001-03-30 |
Family
ID=17319653
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25839599A Pending JP2001083160A (ja) | 1999-09-13 | 1999-09-13 | 分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001083160A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018009884A (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2018147029A1 (ja) | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
-
1999
- 1999-09-13 JP JP25839599A patent/JP2001083160A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018009884A (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2018012212A1 (ja) * | 2016-07-14 | 2018-01-18 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
WO2018147029A1 (ja) | 2017-02-07 | 2018-08-16 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
CN110582703A (zh) * | 2017-02-07 | 2019-12-17 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
US11300488B2 (en) | 2017-02-07 | 2022-04-12 | Hitachi High-Tech Corporation | Automatic analysis device |
CN110582703B (zh) * | 2017-02-07 | 2023-01-06 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
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