CN110582703A - 自动分析装置 - Google Patents
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Abstract
本发明的目的在于通过简易的方法来提高恒温仪所保持的多个反应容器内的反应液的温度均匀性。本发明的自动分析装置包括:恒温仪,该恒温仪具有用于搭载反应容器的多个位置,该反应容器中注入了混合有试剂和检体的反应液;以及加热所述恒温仪的带状加热器,所述带状加热器以该带状加热器的两端区域邻接的方式卷绕安装于恒温仪的外周,所述带状加热器包括:因通电而发热的发热电阻体、通过配置成将所述发热电阻体夹在中间而使其与外部电绝缘的绝缘膜、以及安装于所述发热电阻体的两端部且向该发热电阻体供电的第一及第二供电线,所述带状加热器的两端区域中的发热电阻体的宽度形成得比其他区域中的发热电阻体的宽度要窄。
Description
技术领域
本发明涉及具有将反应物的温度调节至规定的温度范围功能的自动分析装置。
背景技术
在临床检查中,进行分析血液、尿液等检体中的成分、检查有无微生物等的检体检查。近年来,对检体检查要求高效化、省力化和高精度化,开发出了自动进行这些检体检查的自动分析装置并已积极地用于临床检查。在自动分析装置中,有进行生化学检查的生化学自动分析装置、进行免疫学检查的免疫自动分析装置等。例如,在生化学自动分析装置中,通过对检体添加会和目标物质发生反应的试剂,利用化学反应进行显色,并且利用吸光光度法对该显色进行测光而得到吸光度随时间的变化,求出吸光度变化率等,并将其代入校准曲线,求出目标成分浓度,以此方式进行比色分析。另外在免疫自动分析装置中,对于包含于检体中的特定的测定对象物质,通过会发生特异性反应的抗原抗体反应进行标记,对所标记的物质量进行定量,并将其代入校准曲线来求出目标成分浓度,以此方式进行免疫分析。
对于这些反应,存在最有效地进行该反应的恰当温度。一般,以人体中存在的物质作为对象的检体检查在接近于人体温度的37℃下反应效率较好。为此,多数自动分析装置中,利用控制在37℃附近的恒温仪等来进行测定对象物质的化学反应。
专利文献1中公开了“将构成恒温仪的加热器、温度传感器的电线穿过恒温仪的旋转管轴并在旋转管轴周围卷绕数圈。卷绕部分使用柔性的带状电线,并以可与电线拧紧在一起或松开的板簧为导向进行固定。设有联动检测板和位置传感器,其与旋转管轴联动,并在电线被拧紧到一定程度时检测到这一情况,使步进电机反向旋转。恒温仪上试管的保持位置的顺序为每过一次循环便隔开数个间距,并在数次循环中使恒温仪的反向旋转一次转过数个位置,同时进行拧紧量修正,通过这样的旋转控制,使得在第数次循环中最初的保持位置回到试管保持位置a并且电线的累积拧紧量为0”。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本专利特开2001-83160号公报
发明内容
发明所要解决的技术问题
在自动分析装置中,虽然如上所述在37℃附近进行测定对象物质的化学反应,但是在试剂、检体更加微量化的情况下、在提高检查精度的情况下,有需要进一步提高反应液的温度均匀性。由此,需要能够进一步提高各反应液的温度均匀性的恒温仪。专利文献1中记载的发明是通过加热器进行加热类型的恒温仪的发明,并未提及恒温仪内的温度均匀性。
本发明是鉴于上述问题而完成的,涉及一种自动分析装置,其目的在于提供一种通过简单的方法来提高恒温仪所保持的多个反应容器内的反应液的温度均匀性,并且能够在抑制装置自身大型化的同时提高测量精度的稳定性的自动分析装置。
解决技术问题所采用的技术方案
为了解决上述问题,本发明所涉及的自动分析装置的第一方式的特征在于,包括:恒温仪,该恒温仪具有用于搭载反应容器的多个位置,所述反应容器中注入了混合有试剂和检体的反应液;以及带状加热器,该带状加热器对所述恒温仪进行加热,所述带状加热器以该带状加热器的两端区域相邻接的方式卷绕安装于恒温仪的外周,所述带状加热器包括:因通电而发热的发热电阻体、通过配置成夹持所述发热电阻体从而使其与外部电绝缘的绝缘膜、以及安装于所述发热电阻体的两端部且向该发热电阻体供电的第一及第二供电线,所述带状加热器的两端区域中的发热电阻体宽度比其他区域中的发热电阻体宽度要窄。
另外,本发明所涉及的自动分析装置的第二方式的特征在于,包括:恒温仪,该恒温仪具有用于搭载反应容器的多个位置,所述反应容器中注入了混合有试剂和检体的反应液;以及带状加热器,该带状加热器对所述恒温仪进行加热,所述带状加热器以该带状加热器的两端区域相邻接的方式卷绕安装于恒温仪的外周,所述带状加热器包括:因通电而发热的发热电阻体、通过配置成将所述发热电阻体夹在中间从而使其与外部电绝缘的绝缘膜、以及安装于所述发热电阻体的两端部且向该发热电阻体供电的第一及第二供电线,所述带状加热器的两端区域排列配置在与所述带状加热器的长边方向垂直的方向上,所述发热电阻体在与通过所述第一供电线及所述第二供电线的通电方向垂直的方向上具有相同的截面积大小,接合所述第一供电线的接合部和接合所述第二供电线的接合部相比于在与所述带状加热器的长边方向垂直的方向上排列的位置更靠近所述发热电阻体的端部侧。
发明效果
根据本发明,涉及一种自动分析装置,其通过简易的方法能够提高恒温仪所保持的反应液的温度均匀性。
附图说明
图1是本发明的自动分析装置的俯视图。
图2是示意性地示出本发明的一个实施方式所涉及的自动分析装置的主要部分即恒温仪的结构的简要结构图的一个示例。
图3是在图2中所示的箭头A方向上观察到的恒温仪的侧面结构中省略了隔热材料的简要主视图、和示意性地示出在B方向上观察到的恒温仪的上表面结构的简要俯视图。
图4是示意性地示出在图3中所示的在C-C截面方向上观察到的恒温仪的剖面结构的简要剖视图。
图5是图3的简要主视图中的发热电阻体的狭小部形状发生变化的一个示例。
图6是图3的简要主视图中的供电线的安装方向发生变化的一个示例。
图7是示意性地示出其它实施方式所涉及的自动分析装置的主要部分即恒温仪的结构的简要结构图的一个示例。
图8是在图6中所示的箭头A方向上观察到的恒温仪的侧面结构中省略了隔热材料的简要主视图、和示意性地示出在B方向上观察到的恒温仪的上表面结构的简要俯视图。
图9是示出图8的简要主视图中的供电线的安装状态发生变化的一个示例的简要主视图。
图10是示意性地示出又一其它实施方式所涉及的自动分析装置的主要部分即恒温仪的结构的简要结构图的一个示例。
图11是在图10中所示的箭头A方向上观察到的恒温仪的侧面结构中省略了隔热材料的简要主视图、和示意性地示出在B方向上观察到的恒温仪的上表面结构的简要俯视图。
图12是本发明的实施例所涉及的恒温仪的温度分布的一个示例。
具体实施方式
以下,基于附图针对本发明所涉及的自动分析装置100的一个实施方式进行说明。另外,在用于说明本实施方式的所有图中,具有相同功能的部分原则上标注相同的标号。另外由于附图是用于示意性地表示实施方式,因此存在与实际相比而省略或简化的情况。另外本发明不限于自动分析装置100,在DNA等的分析装置中也能够适用。
图1是示意性地示出本发明的一个实施方式所涉及的自动分析装置的整体结构的简要整体结构图。
本实施方式所涉及的自动分析装置100具有恒温仪1,该恒温仪1使得被检查的检体和试剂混合后的反应液中在一定温度下反应一定时间。
在图示的自动分析装置100的情况下,除了上述恒温仪1以外,在其工作台101上还设有检体支架搭载部102、检体分注机构103、检体分注针头及反应容器保持构件搭载部104、检体分注针头及反应容器废弃孔105、检体分注针头及反应容器传送机构106、检体针头安装位置107、反应容器搅拌机构108、反应液吸引机构109、试剂分注机构110、试剂保管库111、检测单元112。此外,试剂保管库111一体地设有试剂盘3 113、试剂容器114、试剂盘3盖板115,试剂盘3盖板115上设置有分注孔116。
恒温仪1对多个反应容器2进行保持,并使其在一定温度下,恒温仪1设置于自动分析装置100的工作台101上的规定位置,通过旋转运动来使反应容器2在圆周方向上移动。由此,能够将反应容器2配置于检体分注针头及反应容器传送机构106、检体分注机构103、试剂分注机构110的工作位置。
检体支架117搭载部102设置于自动分析装置100的工作台101上的规定位置,并且可以搭载多个检体支架117。另外,基于控制信号,检体支架117能够在X轴方向上移动。检体支架117上排列收纳有多个检体容器118,其中分别储存有包含作为分析对象的抗原的检体。
检体分注针头及反应容器保持构件搭载部104设置于自动分析装置100的工作台101上的规定位置,并且架设有多个检体分注针头及反应容器保持构件119。另外,检体分注针头及反应容器保持构件119中排列收纳有未使用的检体分注针头120以及反应容器2。
检体分注机构103设置于自动分析装置100的工作台101上的规定位置,基于控制信号从检体针头安装位置105安装检体分注针头120,并且将检体分注针头120浸渍于检体容器118内的检体中,将检体吸引至检体分注针头120内来进行采集。另外,基于控制信号将检体分注针头120浸渍于储存有试剂的反应容器2内的试剂中,将检体吐出至反应容器2内来进行分注。此外,还基于控制信号重复进行对储存于反应容器2内的检体和试剂的反应液进行吸引之后再吐出的动作,来搅拌反应容器2内的反应液。
检体分注针头120以及反应容器传送机构106保持着检体分注针头120以及反应容器2进行移动,从而使检体分注针头120以及反应容器2在自动分析装置100的工作台101上移动变位。检体分注针头及反应容器传送机构106基于控制信号将检体分注针头120以及反应容器2配置于工作台101上所期望的三维位置。
试剂保管库111设置于自动分析装置100的工作台101上的规定位置,在低温下保持多个试剂容器114,该多个试剂容器114存储有包含抗原抗体反应中使用的抗原和标记物质的试剂。试剂容器114收纳于能够保持多个试剂容器114的试剂盘3上。试剂保管库111设置有进行试剂收纳、取出用的试剂盘3盖板115。试剂盘3盖板115上设置有分注孔116,无需开闭试剂盘3盖板115,试剂分注机构110就能对存储于试剂容器114内的试剂进行吸引。试剂盘3 113能够以Z方向(前后方向)为轴进行旋转,并且基于控制信号能够将检查中使用的试剂移动到分配孔116的正下方。
试剂分注机构110设置于自动分析装置100的工作台101上的规定位置,并且基于控制信号将喷嘴穿过分注孔116浸渍于收纳在试剂保冷库内的试剂盘3上的试剂容器114内的试剂中,吸引试剂并采集。并且,基于控制信号将试剂吐出分注至配备于恒温仪1上的空的反应容器2内。
控制部121如下地控制动作:自动分析装置100的控制部经由键盘、触摸板等接收操作者输入的测定请求并制定分析计划,并且将制定的分析计划发送至分析装置,从而基于分析计划向每个机构发送控制信号。也可将存储分析请求信息、分析参数、分析结果等的存储部一并设置于控制部内。
更具体而言,检体分注针头及反应容器传送机构106移动至检体分注针头及反应容器保持构件119的上方,然后下降并抓住未使用的反应容器2再上升,移动至恒温仪1的反应容器设置孔10的上方,然后下降来设置反应容器2。
试剂分注机构110旋转移动到试剂盘3盖板115的分注孔116的上方后下降,将试剂分注机构110的前端接触规定的试剂容器114内的试剂的液面,吸引规定量的试剂。接着,使试剂分注机构110上升且移动至恒温仪1的试剂吐出位置的上方,将试剂吐出至反应容器2。
接着,检体分注针头及反应容器传送机构106移动至检体分注针头及反应容器保持构件119的上方,然后下降并抓住未使用的检体分注针头120再上升,移动至检体分注针头安装位置121的上方,然后下降来设置检体分注针头120。检体分注机构103能够进行旋转及上下动作,将其移动至检体分注针头安装位置121的上方再下降,将检体分注针头120安装于检体分注机构103的前端。安装有检体分注针头120的检体分注机构103移动至载置于传送支架的检体容器118的上方后下降,对保持于检体容器118中的检体进行吸引,且吸引规定量。吸引了检体的检体分注机构103移动至恒温仪1的检体吐出位置再下降,将检体吐出至恒温仪1上已经被分注了试剂的反应容器2中。在吐出检体之后,检体分注机构103移动至检体分注针头120以及反应容器2废弃孔的上方,将使用过的检体分注针头120废弃至废弃孔。
被吐出了检体和试剂的反应容器2通过恒温仪1的旋转而移动至反应容器2传送位置,并且通过检体分注针头120及反应容器2传送机构来向反应容器搅拌装置108进行传送。反应容器搅拌装置108使反应容器2进行自转和公转的旋转运动来将反应容器2内的检体和试剂进行混合。结束了搅拌的反应容器2通过检体分注针头及反应容器传送机构106返回至恒温仪1的反应容器传送位置。反应液吸引机构109能够旋转和上下移动,将其移动至检体和试剂被分注、混合且在恒温仪1上经过了规定时间的反应容器2的上方后下降,吸引反应容器2内的反应液。将由反应液吸引机构109吸引的反应液送至检测单元112来检测测定对象物。控制部基于测定对象物的检测值导出并显示测定结果。吸引了反应液的反应容器2通过恒温仪1的旋转移动至反应容器废弃位置108,并且通过检体分注针头及反应容器传送机构106从恒温仪1移动至检体分注针头及反应容器废弃孔105的上方然后将其废弃。
接着,针对如上所述那样构成的本实施方式所涉及的自动分析装置100中,将存储于反应容器2内的反应液保管在一定温度下的恒温仪1的结构以及作用进行详细阐述。
实施例1
图2是示意性地示出本发明的一个实施方式所涉及的自动分析装置的主要部分即恒温仪的结构的简要结构图的一个示例。
图3是在图2中所示的箭头A方向上观察到的恒温仪的侧面结构中省略了隔热材料的简要主视图、和示意性地示出在B方向上观察到的恒温仪的上表面结构的简要俯视图。
图4是示意性地示出在图3中所示的在C-C截面方向上观察到的恒温仪1的剖面结构的简要剖视图。
一般情况下,恒温仪的加热采用加热器。加热器包括由通电而发热的箔状的发热电阻体。发热电阻体被多个绝缘膜夹在中间从而与外部电绝缘。由于该绝缘膜是以将发热电阻体夹在中间的方式进行层叠并粘接的结构,因此在发热电阻体周围会形成相当多的接合面。发热电阻体的两端存在用于安装向发热电阻体供电的供电线的电极部。在加热器的制造工序中,为了容易地将供电线安装于电极部,与发热电阻体的其它区域相比,电极部的宽度较宽。
发热电阻体的发热量与垂直于通电方向的发热电阻体的截面积成反比。即,在电流方向的长度相等而宽度不同的加热电阻体中通过恒定电流的情况下,宽度越小发热量越大,且每单位面积的发热量(发热密度)越高。为此,电极部具有比其它区域低的发热密度。例如带状加热器在沿着恒温仪的外周安装的情况下,绝缘膜的接合部所形成的非发热区域和电极部所形成的发热密度较低的区域位于带状加热器的长边方向的端部彼此的相对面上。并且带状加热器的长边方向的端部彼此的相对面有时会产生间隙。由此,在恒温仪的外周方向上,温度有可能产生偏差。
在本实施方式所涉及的自动分析装置中,恒温仪1采用设有对多个存储有反应液的反应容器2进行存放的盘3、对盘3进行加热的带状加热器4、阻断恒温仪1散热的隔热材料5的结构。
盘3例如由利用铝合金、铜合金等热传导率较高的材料形成。盘3上沿其外周等间隔地设有多个用于存放反应容器2的反应容器设置孔10。用于加热反应容器2的带状加热器4粘贴于盘3的外周,带状加热器4的外侧以及盘3的除反应容器存储孔10附近以外的上表面和下表面安装有用于阻断盘3的不必要的散热的隔热材料5。隔热材料5由例如利用聚乙烯等热传导率较低材料形成。盘3经由旋转轴9与自动分析装置100相连结,通过驱动机构等的动作能够以旋转轴9为中心旋转。由此,通过使反应容器设置孔10移动至任意的位置,能够与检体分注针头及反应容器传送机构106相连接,从而能够进行反应容器2的设置、取出。另外能够与检体分注机构103、试剂分注机构110、反应液吸引机构109相连接,从而能够进行检体、试剂的分注、吸引。
在图示的示例中,盘3是以旋转轴9为中心的圆板形状,反应容器设置孔10以旋转轴9为中心沿着外周等间距地设置,带状加热器4沿着盘3的侧面卷绕配置。带状加热器4的侧面以及盘3的除反应容器存储孔附近以外的上表面和下表面配备有隔热材料5。
带状加热器4沿盘4的外周安装,并且在图示的示例中,带状加热器4的端部彼此配置成相对。
带状加热器4由因为通电而发热的发热电阻体6、将发热电阻体6与外部电绝缘的绝缘膜7、向发热电阻体6供电的第一供电线8和第二供电线8a构成。
绝缘膜7使发热电阻体6与盘3、隔热材料5、外部电绝缘。另外绝缘膜7由例如图4的第一绝缘膜7a、第二绝缘膜7b构成,发热电阻体6夹在第一绝缘膜7a、第二绝缘膜7b间,由于第一绝缘膜7a、第二绝缘膜7b通过粘结剂等直接接合,因此发热电阻体6的周围存在相当多的绝缘膜7a、绝缘膜7b的接合区域7c。
发热电阻体6由因为通电而发热的不锈钢箔、镍铬铁合金箔等材质形成。发热电阻体6如图3的简要主视图所示那样,由长边方向上的厚度相同的带状形成。在发热电阻体6中,长边方向的一端具有第一电极部6a,另一端具有第二电极部6b。另外第一端部6a安装有第一供电线8,第二端部6b安装有第二供电线8a。
在图3的示例中,第一电极部6a和第二电极部6b的宽度比发热电阻体6的其它区域要宽。另外发热电阻体6的第一电极部6a附近和第二电极部6b附近具有比发热电阻体6的其它区域的宽度要窄的狭小部6c。
此外,发热电阻体6形成为在带状加热器4的长边方向端部处折返,狭小部6c彼此相邻。
带状加热器4的长度形成得比盘3的外周长度要短,以使得粘贴于盘3时不会产生重叠,因此带状加热器4的长边方向的端部会产生相当多的间隙。另外如前所述由于在发热电阻体6的周围中存在绝缘膜7的接合区域7c,因此如图3所示,在带状加热器4的端部的相对部会产生宽度W3的非发热区域。
图5是图3的简要主视图中的发热电阻体6的狭小部6c形状发生变化的一个示例。
发热电阻体6的狭小部6c的宽度并不一定要相同,例如如图5所示,也可在发热电阻体6中设置空隙来作为宽度较窄的狭小部6c。在附图中,记载了在两端部区域设置5个孔的形状。另外,孔的个数、形状不限于图5的方式。
接着,针对上述结构的恒温仪1的作用、效果,利用图3所示的恒温仪1的简要主视图和简要俯视图进行详细阐述。
在图3的简要主视图中,W1、W2、W3是将带状加热器4在长边方向上进行分割后的各范围,W1是发热电阻体6的狭小部6c与第一电极部6a或第二电极部6b所在的范围,W2是发热电阻体6所在的范围,W3是不存在发热电阻体6的非发热区域的范围。另外,W1、W2、W3分别对应于图3的简要俯视图中以旋转轴9为中心的盘3的角度范围θ1、θ2、θ3。另外r1表示盘3外周的半径,r2表示排列反应容器存储孔的间隔半径。
根据焦耳定律,发热电阻体6的发热量与电阻值以及电流值的平方成正比。另外电阻值与垂直于通电方向的发热电阻体6的截面积成反比。即,在通电方向的长度相等而宽度不同的加热电阻体6中通电的情况下,宽度越小发热量越大,且每单位面积的发热量(发热密度)越高。由于第一电极部6a以及第二电极部6b的宽度比其它的发热电阻体6的宽度要宽,因此与其它的发热电阻体6相比发热密度较低。与此相对,狭小部6c的宽度比其它的发热电阻体6的宽度要小,因此与其它的发热电阻体6相比发热密度较高。
由此,在图3的范围W1中,虽然存在第一电极部6a以及第二电极部6b这样发热密度较低的区域,但是由于狭小部6c的发热密度较高,因此与范围W2相比发热密度较高。
在材质和形状相同的情况下,发热密度较高部位的温度上升。由此,在带状加热器4中,图3的简要俯视图所示的角度范围θ1的温度与θ2、θ3相比较高。
另一方面,带状加热器4的发热量根据物体内的温度梯度通过热传导进行导热,因此除了经由粘贴在带状加热器4外侧的隔热材料5向空气中散发的热量之外,还向温度低于带状加热器4的盘3的旋转轴4的方向进行导热。虽然范围θ3是非发热区域,但是随着向盘3的旋转轴9的方向进行导热,因温度梯度而从温度较高的θ1向范围θ3导热,其结果是范围θ3温度上升。
即,通过增加θ1发热密度来补偿非发热区域的范围θ3的温度下降,从而使位于半径r2的分度圆上的各个反应容器的温度分布均匀。
图6是示出图3的简要主视图中供电线8的安装状态发生变化时的一个示例的简要主视图。
在本实施方式所涉及的自动分析装置中,带状加热器4的第一供电线8以从第一电极部6a向第二电极部6b的方向延伸的方式安装,第二供电线8a以从第二电极部6b向第一电极部6a的相反方向延伸的方式安装。
由此,能够在带状加热器4和第一供电线8以及第二供电线8a捆成束的状态下且不会从恒温仪的外部轮廓突出地布线至电源。另外,作为用于降低被保持在恒温仪内的多个反应液之间的温度偏差的其它方法,可以增加恒温仪的厚度并使带状加热器的两端部在厚度方向上延长,但增加恒温仪的厚度会导致整体尺寸、重量的增加。与此相对,根据本申请发明,能够均匀地对恒温仪进行加温而不会大幅改变恒温仪的大小。
另外,本实施例的恒温仪以圆盘形状进行了说明,但本发明不限于此。例如也可在长方体的恒温仪周围安装加热器。
实施例2
接着,针对本发明其它的实施方式所涉及的自动分析装置,基于图7、图8进行说明。另外,针对说明中与上述自动分析装置相同的结构,在图中标注相同的编号,并省略其详细说明。图7是示意性地示出实施例2所涉及的自动分析装置100的主要部分即恒温仪1的结构的简要结构图的一个示例。
图8是在图7中所示的箭头A方向上观察到的恒温仪1的侧面结构中省略了隔热材料5的简要主视图、和示意性地示出在B方向上观察到的恒温仪1的上表面结构的简要俯视图。
在本实施方式所涉及的自动分析装置100中,在发热电阻体6的第一电极部6a附近和第二电极部6b附近具有宽度较窄的狭小部6c,并且第一电极部6a以及第二电极部6b和狭小部6c在垂直于带状加热器4的长边方向的方向上排列设置。
发热电阻体6如图8的简要主视图所示那样,形成为沿绝缘膜7的长边方向上的厚度相同的带状。发热电阻体6的狭小部6c的宽度A形成为比其它区域的宽度B要窄。另外,宽度A无需在通电方向上均相同。
在此,在发热电阻体6中,自安装有第一供电线8的第一端部起的发热电阻体6的端部侧、或者自安装有第二供电线8a的第二端部起的发热电阻体6的端部侧不通电,因此不发热。由此,恒温仪1的圆周方向上存在非发热区域。
接着,针对上述结构的恒温仪1的作用、效果,利用图8所示的恒温仪1的简要主视图和简要俯视图进行详细阐述。
图8的简要主视图中,W1、W2、W3是将带状加热器4在长边方向上分割后的各个范围,W1是狭小部6c的范围,W2是发热电阻体6的范围,W3是非发热区域的范围。另外,W1、W2、W3分别对应于图8的简要俯视图中以旋转轴9为中心的盘3的角度范围θ1、θ2、θ3。另外r1表示盘3外周的半径,r2表示反应容器存储孔缩排列的分度圆半径。
图8中示出的发热电阻体6的宽度B基本相同。另一方面,由于狭小部6c位于图8的W1的范围,因此相比于范围W2,范围W1的发热密度较高。
在盘3的外周中,图8的简要俯视图中示出的角度范围θ1的温度比θ2、θ3的要高,从区域θ1向着区域θ2和区域θ3的圆周方向上发生热传导。另一方面,由于范围θ3是非发热区域的范围,因此不会因带状加热器4而使温度上升,但是由于温度低于范围θ1,因此在温度梯度的作用下会从θ2的区域向范围θ3导热,其结果是范围θ3的温度上升。
即,通过增加θ1发热密度来补偿非发热区域的范围θ3的温度下降,从而使位于半径r2的分度圆上的各个反应容器的温度分布均匀。
图9是示出图8的简要主视图中供电线8的安装状态发生变化时的一个示例的简要主视图。
在本实施方式所涉及的自动分析装置中,带状加热器4的第一供电线8以从第一电极部6a向第二电极部6b的方向延伸的方式安装,第二供电线8a以从第二电极部6b向第一电极部6a的相反方向延伸的方式安装。
由此能够在带状加热器4和第一供电线8以及第二供电线8a捆成束的状态下且不会从恒温仪的外部轮廓突出地布线至电源。
实施例3
接着,进一步针对本发明其它的实施方式所涉及的自动分析装置100,基于图10、图11进行说明。另外,针对说明中与上述自动分析装置100相同的结构,在图中标注相同的编号,并省略其详细说明。
图10是示意性地示出又一其它实施方式所涉及的自动分析装置100的主要部分即恒温仪1的结构的简要结构图的一个示例。
图11是在图10中所示的箭头A方向上观察到的恒温仪1的侧面结构中省略了隔热材料5的简要主视图、和示意性地示出在B方向上观察到的恒温仪1的上表面结构的简要俯视图。
在本实施方式所涉及的自动分析装置100中,发热电阻体6具有均匀的宽度,并且第一电极部6a和第一供电线的接合部、以及第二电极部6b和第二供电线的接合部配置成比在垂直于带状加热器4的长边方向的方向上排列的位置更靠发热电阻体6的端部侧。
接着,针对上述结构的恒温仪1的作用、效果,利用图11所示的恒温仪1的简要主视图和简要俯视图进行详细阐述。
在图11的简要主视图中,由于带状加热器4的全范围中发热电阻体6的宽度A都相同,因此发热电阻体6的发热密度也相同。
在图11的简要俯视图中,第一电极部6a和第一供电线的接合部、以及第二电极部6b和第二供电线8a的接合部在恒温仪的圆周方向上以相同的角度重叠。发热电阻体6由于通电而发热,因此自接合部起的发热电阻体6的端部侧成为非发热区域。
在此,在恒温仪1的圆周方向上,所有角度都具有带状加热器4的发热电阻体6,并且所有角度下发热电阻体器6都因通电而发热,因此使位于半径为r2的分度圆上的每个反应容器的温度分布均匀。
接着,为了对本发明的效果更具体地进行说明,针对图2、图3、图4中示出的自动分析装置的主要部分的恒温仪1的作用进行说明。
图12是示意性地示出在实施例1所涉及的恒温仪1中的温度分布的说明图。图12中示出的温度分布图中的纵轴表示温度。横轴表示以旋转轴9为中心将y=0的位置设为θ=0°且沿顺时针方向至360°为止的角度。另外,非发热区域的范围W3(θ3)的中心位于横轴的90°上。在图12中,实线表示盘3上的反应液设置孔所在的分度圆r2上的温度分布,并且单点划线表示带状加热器4上的发热电阻体6的温度分布。
在带状加热器4上的温度分布中,发热密度较高的范围θ1的温度高于范围θ2以及θ3的温度。与此相比,在盘3上的反应液设置孔所在的分度圆r2上的温度分布中,温度偏差得到抑制,所有角度都是大致相同的温度分布。
由此,通过利用发热密度较高的发热范围θ1的发热来补偿范围θ3的温度下降,从而使温度分布均匀。
另外,本发明并不限于上述的实施例,还包含各种各样的变形例。例如,所述的实施方式是为了便于理解本发明而进行的详细说明,并不限于要具备所说明的所有结构。另外,可以将某实施例的结构的一部分替换成其它实施例,另外,还可以将其他实施例的结构替换至某个实施例的结构中。另外,关于各实施例结构的一部分,也可以进行其它结构的追加、删除、替换。例如上述盘3可以不是圆板形状,而是设置成多边形,并且反应容器设置孔10可以不等间隔地进行设置,并且带状加热器4也能够以马蹄形设置在盘3的背面侧。
标号说明
1 恒温仪
2 反应容器
3 盘
4 带状加热器
5 隔热材料
6 发热电阻体6a第一电极部
6b 第二电极部
6c 狭小部
7 绝缘膜
7a 第一绝缘膜
7b 第二绝缘膜
7c 接合区域
8 第一供电线
8a 第二供电线
9 旋转轴
10 反应容器设置孔
100 自动分析装置
101 工作台
102 检体支架搭载部
103 检体分注机构
104 检体分注针头及反应容器保持构件搭载部
105 检体分注针头及反应容器废弃孔
106 检体分注针头及反应容器传送机构
107 检体针头安装位置
108 反应容器搅拌装置
109 反应液吸引机构
110 试剂分注机构
111 试剂保管库
112 检测单元
113 试剂盘
114 试剂容器
115 试剂盘盖板
116 分注孔
117 检体支架
118 检体容器
119 检体分注针头及反应容器保持构件
120 检体分注针头
121 控制部。
Claims (6)
1.一种自动分析装置,其特征在于,包括:
恒温仪,该恒温仪具有用于搭载反应容器的多个位置,所述反应容器中注入了混合有试剂和检体的反应液;以及
加热所述恒温仪的带状加热器,
所述带状加热器以该带状加热器的两端区域相邻接的方式卷绕安装于恒温仪的外周,
所述带状加热器包括:因通电而发热的发热电阻体、通过配置成将所述发热电阻体夹在中间而使其与外部电绝缘的绝缘膜、以及安装于所述发热电阻体的两端部且向该发热电阻体供电的第一及第二供电线,
所述带状加热器的两端区域中的发热电阻体的宽度形成得比其他区域中的发热电阻体的宽度要窄。
2.一种自动分析装置,其特征在于,包括:
恒温仪,该恒温仪具有搭载反应容器的多个位置,所述反应容器中注入了混合有试剂和检体的反应液;以及
加热所述恒温仪的带状加热器,
所述带状加热器以该带状加热器的两端区域相邻接的方式卷绕安装于恒温仪的外周,
所述带状加热器包括:因通电而发热的发热电阻体、通过配置成将所述发热电阻体夹在中间而使其与外部电绝缘的绝缘膜、以及安装于所述发热电阻体的两端部且向该发热电阻体供电的第一及第二供电线,
所述带状加热器的两端区域排列配置在与所述带状加热器的长边方向垂直的方向上,
所述发热电阻体在与通过所述第一供电线及所述第二供电线的通电方向垂直的方向上具有相同的截面积大小,
接合所述第一供电线的接合部和接合所述第二供电线的接合部相比于在与所述带状加热器的长边方向垂直的方向上排列的位置更靠所述发热电阻体的端部侧。
3.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述发热电阻体以将所述带状加热器的长边方向的两端折返以使所述带状加热器的两端区域隔开规定的间隔彼此相对的方式配置。
4.如权利要求1或2所述的自动分析装置,其特征在于,
所述第一供电线和所述第二供电线以分别沿相反方向延伸的方式安装。
5.如权利要求1或2所述的自动分析装置,其特征在于,
所述发热电阻体的两端部区域中设置有孔。
6.如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
所述带状加热器的两端区域排列配置在与所述带状加热器的长边方向垂直的方向上。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017-020000 | 2017-02-07 | ||
JP2017020000 | 2017-02-07 | ||
PCT/JP2018/001313 WO2018147029A1 (ja) | 2017-02-07 | 2018-01-18 | 自動分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN110582703A true CN110582703A (zh) | 2019-12-17 |
CN110582703B CN110582703B (zh) | 2023-01-06 |
Family
ID=63107387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201880009662.1A Active CN110582703B (zh) | 2017-02-07 | 2018-01-18 | 自动分析装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11300488B2 (zh) |
EP (1) | EP3581936B1 (zh) |
JP (1) | JP6659877B2 (zh) |
CN (1) | CN110582703B (zh) |
WO (1) | WO2018147029A1 (zh) |
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- 2018-01-18 CN CN201880009662.1A patent/CN110582703B/zh active Active
- 2018-01-18 JP JP2018567331A patent/JP6659877B2/ja active Active
- 2018-01-18 US US16/480,337 patent/US11300488B2/en active Active
- 2018-01-18 EP EP18751057.3A patent/EP3581936B1/en active Active
- 2018-01-18 WO PCT/JP2018/001313 patent/WO2018147029A1/ja unknown
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |