JP2001077265A - 樹脂封止型半導体装置の製造方法 - Google Patents

樹脂封止型半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JP2001077265A
JP2001077265A JP24752199A JP24752199A JP2001077265A JP 2001077265 A JP2001077265 A JP 2001077265A JP 24752199 A JP24752199 A JP 24752199A JP 24752199 A JP24752199 A JP 24752199A JP 2001077265 A JP2001077265 A JP 2001077265A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
frame
resin
mold
sealing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP24752199A
Other languages
English (en)
Inventor
Kunikazu Takemura
邦和 竹村
Masanori Nano
匡紀 南尾
Katsuki Uchiumi
勝喜 内海
Osamu Adachi
修 安達
Takahiro Matsuo
隆広 松尾
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP24752199A priority Critical patent/JP2001077265A/ja
Publication of JP2001077265A publication Critical patent/JP2001077265A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/93Batch processes
    • H01L24/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L24/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/93Batch processes
    • H01L2224/95Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
    • H01L2224/97Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 樹脂封止後のリードカット工程でのブレード
切断により、切断したリード部の端面に金属バリが発生
するといった課題があった。 【解決手段】 樹脂封止した後のリードフレームに対し
て、リード切断して樹脂封止型半導体装置を分離する
際、切断するリード部4の上部に封止樹脂8a、下部に
封止樹脂8bを形成し、それら封止樹脂8a,8bとと
もにリード部4を回転ブレード11によって共切りする
ことにより、リード部の切断した端面へのカエリ部の発
生を防止できるものである。さらにブレード切断を往復
で行い、リード部4に対して2度切りを行うことによ
り、さらにカエリの発生を防止できるものである。した
がってリード部の不良をなくして実装信頼性の高い樹脂
封止型半導体装置を得ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、QFN(Quad
Flat Non−leaded Package)
と称される外部端子となるリード部が片面封止された小
型/薄型の樹脂封止型半導体装置の製造方法に関するも
のであり、特に生産効率を向上させるとともに、リード
部の信頼性を向上させた樹脂封止型半導体装置を実現す
るための製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化に対応するため
に、樹脂封止型半導体装置などの半導体部品の高密度実
装が要求され、それにともなって、半導体部品の小型、
薄型化が進んでいる。また小型で薄型でありながら、多
ピン化が進み、高密度の小型、薄型の樹脂封止型半導体
装置が要望されている。
【0003】以下、従来のQFN型の樹脂封止型半導体
装置に使用するリードフレームについて説明する。
【0004】図42は、従来のリードフレームの構成を
示す図であり、図42(a)は平面図であり、図42
(b)は図42(a)のA−A1箇所の断面図である。
【0005】図42に示すように、従来のリードフレー
ムは、フレーム枠101と、そのフレーム枠101内
に、半導体素子が載置される矩形状のダイパッド部10
2と、ダイパッド部102の角部をその先端部で支持
し、端部がフレーム枠101と接続した吊りリード部1
03と、半導体素子を載置した場合、その載置した半導
体素子と金属細線等の接続手段により電気的に接続する
ビーム状のリード部104とより構成されている。そし
てリード部104は、封止樹脂で封止された際、封止樹
脂部に埋設される部分はインナーリード部104aを構
成し、封止樹脂部より露出する部分はアウターリード部
104bを構成するものであり、インナーリード部10
4aとアウターリード部104bとは、一体で連続して
設けられている。図42において、破線で示した領域
は、半導体素子を搭載して樹脂封止型半導体装置を構成
する場合、封止樹脂で封止する領域を示しており、また
一点鎖線で示した部分は、半導体素子を搭載して樹脂封
止し、樹脂封止型半導体装置を構成した後、リード部1
04(アウターリード部104b)を金型で切断する部
分を示している。
【0006】また、従来のリードフレームは、図42
(b)に示すように、ダイパッド部102は吊りリード
部103によって支持されているが、その吊りリード部
103に設けたディプレス部によってダイパッド部10
2がリード部104上面に対して上方に配置されるよ
う、アップセットされているものである。
【0007】次に従来の樹脂封止型半導体装置について
説明する。図43は、図42に示したリードフレームを
用いた樹脂封止型半導体装置を示す図であり、図43
(a)は、内部構成を破線で示した透視平面図であり、
図43(b)は図43(a)のB−B1箇所の断面図で
ある。
【0008】図43に示すように、リードフレームのダ
イパッド部102上に半導体素子105が搭載され、そ
の半導体素子105とリード部104のインナーリード
部104aとが金属細線106により電気的に接続され
ている。そしてダイパッド部102上の半導体素子10
5、インナーリード部104aの外囲は封止樹脂107
により封止されている。そしてそのリード部104(イ
ンナーリード部104a)の底面部分は封止樹脂107
の底面からスタンドオフを有して露出して、外部端子1
08を構成している。なお、封止樹脂107の側面から
はアウターリード部104bが露出しているが、実質的
に封止樹脂107の側面と同一面である。
【0009】次に従来の樹脂封止型半導体装置の製造方
法について説明する。
【0010】まず図44に示すように、フレーム枠と、
そのフレーム枠内に、半導体素子が載置される矩形状で
あって、アップセットされたダイパッド部102と、ダ
イパッド部102の角部をその先端部で支持し、端部が
フレーム枠と接続した吊りリード部と、半導体素子を載
置した場合、その載置した半導体素子と金属細線等の接
続手段により電気的に接続するビーム状のリード部10
4とを有したリードフレームを用意する。
【0011】そして図45に示すように、ダイパッド部
102上に銀ペースト等の接着剤により半導体素子10
5を搭載しボンディングする。
【0012】次に図46に示すように、ダイパッド部1
02上に搭載された半導体素子105の表面の電極パッ
ド(図示せず)とリード部104のインナーリード部1
04aとを金属細線106により電気的に接続する。
【0013】次に図47に示すように、半導体素子10
5が搭載された状態のリードフレームの少なくともリー
ド部104の底面に封止シート109を密着させる。こ
の封止シート109はリード部104の底面に封止樹脂
が回り込まないように保護し、リード部104の底面を
露出させるための部材である。
【0014】次に図48に示すように、リードフレーム
を金型内に載置し、金型によりリード部104を封止シ
ート109に対して押圧した状態でエポキシ系樹脂より
なる封止樹脂107を注入し、リードフレームの外囲と
してダイパッド部102、半導体素子105、リード部
104の上面領域と金属細線106の接続領域を封止す
る。図49には外囲を封止樹脂107で封止した状態を
示している。
【0015】次に図50に示すように、リードフレーム
のリード部104の底面に密着させていた封止シート1
09をピールオフ等により除去する。
【0016】次に図51に示すように、リード部104
の切断部110に対して、金型による切断刃111でリ
ードカットを行い、樹脂封止型半導体装置を分離する。
【0017】そして図52に示すように、リードフレー
ムのダイパッド部102上に半導体素子105が搭載さ
れ、その半導体素子105とリード部104のインナー
リード部104aとが金属細線106により電気的に接
続され、外囲が封止樹脂107により封止され、そして
そのリード部104(インナーリード部104a)の底
面部分は封止樹脂107の底面からスタンドオフを有し
て露出して、外部端子108を構成するとともに、封止
樹脂107の側面からはアウターリード部104bが露
出し、実質的に封止樹脂107の側面と同一面を構成し
た樹脂封止型半導体装置を得る。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のリ
ードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製
造方法では、特にリードフレームに対して樹脂封止した
後は、金型の切断刃によるリードカットを行っていたた
め、その切断工程において、リードカット時の衝撃によ
りリード部の隣接する封止樹脂の部分に樹脂カケ、クラ
ック等が起こり、またリード部が封止樹脂部分から脱落
するといった課題があった。従来の樹脂封止型半導体装
置の構造は、リード部がその上面だけを封止樹脂で覆わ
れたいわゆる片面封止構造であるため、金型の切断刃に
よるリードカットでは、その衝撃いかんによって、リー
ド部、封止樹脂部の破損が発生しやすい状況であった。
【0019】さらに近年、大型のリードフレーム基板上
に半導体素子を搭載し、金属細線で接続した後、外囲を
全体で封止する一括成形が進んでいるが、この一括成形
では、リードフレーム上面全体を封止樹脂が覆った構成
の場合は、リードカットだけでなく、封止樹脂部もカッ
トしなければならないため、金型の切断刃によるカット
手段では対応できないという課題が顕在化してきてい
る。
【0020】本発明は前記した従来の課題および今後の
樹脂封止型半導体装置の製造工程の動向に対応できる樹
脂封止型半導体装置の製造方法を提供するものであり、
生産性を高め、リードフレーム、または基板から樹脂封
止型半導体装置を分離する際の切断工程でリード部、封
止樹脂部に欠陥、欠損の発生しない樹脂封止型半導体装
置の製造方法を提供するものである。
【0021】
【課題を解決するための手段】前記従来の課題を解決す
るために、本発明の樹脂封止型半導体装置の製造方法
は、金属板よりなるフレーム本体と、前記フレーム本体
の略中央領域内に配設された半導体素子搭載用のダイパ
ッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持し、他端部
でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少なくとも先
端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、他端部が前
記フレーム枠と接続したリード部と、前記リード部のフ
レーム枠と接続した領域近傍に設けられた切断部とより
なるリードフレームを用意する工程と、前記用意したリ
ードフレームの前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載
する工程と、前記ダイパッド部上に搭載した前記半導体
素子の主面上の電極パッドと、前記リードフレームのリ
ード部の各上面とを金属細線により接続する工程と、封
止金型として、前記リードフレームの表面側に当接し、
前記リードフレームのリード部の切断部に相当する部分
に彫り込み部を有した第1の金型と、前記第1の金型と
ともに前記リードフレームを挟み込む第2の金型とを用
意する工程と、前記リードフレームの裏面側の少なくと
もリード部の各底面に封止シートを密着させる工程と、
前記第1の金型と第2の金型との間に前記リードフレー
ムを載置し、少なくとも前記リードフレームのリード部
の端部に押圧力を付加し、前記リード部の底面を前記封
止シートに押圧した状態で封止樹脂を注入して、前記リ
ードフレームの上面側として前記半導体素子、ダイパッ
ド部、金属細線、および前記リード部の底面を除く領域
を封止樹脂により樹脂封止するとともに、前記第1の金
型の彫り込み部に封止樹脂を注入して前記フレームのリ
ード部の切断部上に封止樹脂を形成する工程と、樹脂封
止後に前記封止シートを前記リードフレームより除去す
る工程と、前記リードの切断部上面に対してブレードに
よる切削を行い、前記切断部上に形成された封止樹脂と
共に切断部を切断して樹脂封止型半導体装置を得る工程
とよりなる樹脂封止型半導体装置の製造方法である。
【0022】また、本発明の樹脂封止型半導体装置の製
造方法は、金属板よりなるフレーム本体と、前記フレー
ム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載用の
ダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持し、
他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少なく
とも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、他端
部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リード
部の前記フレーム枠と接続した領域近傍に設けられ、他
のリード部分よりも薄厚の切断部とよりなるリードフレ
ームを用意する工程と、前記用意したリードフレームの
前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載する工程と、前
記ダイパッド部上に搭載した前記半導体素子の主面上の
電極パッドと、前記リードフレームのリード部の各上面
とを金属細線により接続する工程と、封止金型として、
前記リードフレームの表面側に当接する第1の金型と、
前記第1の金型とともに前記リードフレームを挟み込む
第2の金型とを用意する工程と、前記リードフレームの
裏面側の少なくともリード部の各底面に封止シートを密
着させる工程と、前記第1の金型と第2の金型との間に
前記リードフレームを載置し、少なくとも前記リードフ
レームのリード部の端部に押圧力を付加し、前記リード
部の底面を前記封止シートに押圧した状態で封止樹脂を
注入して、前記リードフレームの上面側として前記半導
体素子、ダイパッド部、金属細線、および前記リード部
の底面を除く領域を封止樹脂により樹脂封止するととも
に、前記リードフレームの前記リード部の切断部の薄厚
による段差部分に封止樹脂を注入して前記フレームのリ
ード部の切断部底面に封止樹脂を形成する工程と、樹脂
封止後に前記封止シートを前記リードフレームより除去
する工程と、前記リードの切断部上面に対してブレード
による切削を行い、前記切断部底面に形成した封止樹脂
と共に切断部を切断して樹脂封止型半導体装置を得る工
程とよりなる樹脂封止型半導体装置の製造方法である。
【0023】また、本発明の樹脂封止型半導体装置の製
造方法は、金属板よりなるフレーム本体と、前記フレー
ム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載用の
ダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持し、
他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少なく
とも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、他端
部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リード
部の前記フレーム枠と接続した領域近傍に設けられ、他
のリード部分よりも薄厚の切断部とよりなるリードフレ
ームを用意する工程と、前記用意したリードフレームの
前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載する工程と、前
記ダイパッド部上に搭載した前記半導体素子の主面上の
電極パッドと、前記リードフレームのリード部の各上面
とを金属細線により接続する工程と、封止金型として、
前記リードフレームの表面側に当接し、前記リードフレ
ームのリード部の切断部に相当する部分に彫り込み部を
有した第1の金型と、前記第1の金型とともに前記リー
ドフレームを挟み込む第2の金型とを用意する工程と、
前記リードフレームの裏面側の少なくともリード部の各
底面に封止シートを密着させる工程と、前記第1の金型
と第2の金型との間に前記リードフレームを載置し、少
なくとも前記リードフレームのリード部の端部に押圧力
を付加し、前記リード部の底面を前記封止シートに押圧
した状態で封止樹脂を注入して、前記リードフレームの
上面側として前記半導体素子、ダイパッド部、金属細
線、および前記リード部の底面を除く領域を封止樹脂に
より樹脂封止するとともに、前記リードフレームの前記
リード部の切断部の薄厚による段差部分と前記第1の金
型の彫り込み部とに封止樹脂を注入して前記フレームの
リード部の切断部上下面に封止樹脂を形成する工程と、
樹脂封止後に前記封止シートを前記リードフレームより
除去する工程と、前記リードの切断部上面に対してブレ
ードによる切削を行い、前記切断部上下面に形成した封
止樹脂と共に切断部を切断して樹脂封止型半導体装置を
得る工程とよりなる樹脂封止型半導体装置の製造方法で
ある。
【0024】また、本発明の樹脂封止型半導体装置の製
造方法は、金属板よりなるフレーム本体と、前記フレー
ム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載用の
ダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持し、
他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少なく
とも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、他端
部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リード
部の前記フレーム枠と接続した領域近傍に設けられ、他
のリード部分よりも薄厚の切断部とよりなるリードフレ
ームを用意する工程と、前記用意したリードフレームの
前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載する工程と、前
記ダイパッド部上に搭載した前記半導体素子の主面上の
電極パッドと、前記リードフレームのリード部の各上面
とを金属細線により接続する工程と、封止金型として、
前記リードフレームの表面側に当接し、前記リードフレ
ームのリード部の切断部に相当する部分に彫り込み部を
有した第1の金型と、前記第1の金型とともに前記リー
ドフレームを挟み込む第2の金型とを用意する工程と、
前記リードフレームの裏面側の少なくともリード部の各
底面に封止シートを密着させる工程と、前記第1の金型
と第2の金型との間に前記リードフレームを載置し、少
なくとも前記リードフレームのリード部の端部に押圧力
を付加し、前記リード部の底面を前記封止シートに押圧
した状態で封止樹脂を注入して、前記リードフレームの
上面側として前記半導体素子、ダイパッド部、金属細
線、および前記リード部の底面を除く領域を封止樹脂に
より樹脂封止するとともに、前記リードフレームの前記
リード部の切断部の薄厚による段差部分と前記第1の金
型の彫り込み部とに封止樹脂を注入して前記フレームの
リード部の切断部上下面に封止樹脂を形成する工程と、
樹脂封止後に前記封止シートを前記リードフレームより
除去する工程と、前記リードの切断部上面に対してブレ
ードによる切削を行い、前記切断部上下面に形成した封
止樹脂と共に切断部を切断し、さらに前記切削の経路に
対して逆方向にブレードにより切削して往復切断して樹
脂封止型半導体装置を分離する工程とよりなる樹脂封止
型半導体装置の製造方法である。
【0025】前記構成の通り、本発明の樹脂封止型半導
体装置の製造方法は、ブレードによるリードカットによ
り、生産性を高め、リードフレーム、基板から樹脂封止
型半導体装置を分離する際の切断工程でリード部、封止
樹脂部に欠陥、欠損の発生を防止できるものである。
【0026】さらに樹脂封止した後のリードフレームに
対して、リード切断して樹脂封止型半導体装置を分離す
る際、切断するリード部の上部、または下部、または上
下部に封止樹脂を形成し、その状態で封止樹脂と共にリ
ードカットするため、リード端面へのカエリ部の発生を
防止できるものである。また、第1の切削の経路に対し
て逆方向にブレードにより第2の切削を行い、切断部を
往復で共切りすることにより、リード部の切断した端面
にカエリが発生したとしても、さらに第2の切削を行
い、その第1の切削で発生した縦カエリ部および横カエ
リ部を除去でき、カエリ部の発生のない樹脂封止型半導
体装置を得ることができるものである。
【0027】
【発明の実施の形態】以下、本発明のリードフレームと
それを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法の一実施
形態について図面を参照しながら説明する。
【0028】まず本実施形態のリードフレームについて
説明する。
【0029】図1は本実施形態のリードフレームの一部
分を示す図であり、図1(a)は平面図であり、図1
(b)は図1(a)のC−C1箇所の断面図である。
【0030】図1に示すように、本実施形態のリードフ
レームは、フレーム枠1と、そのフレーム枠1内に、半
導体素子が載置される矩形状のダイパッド部2と、ダイ
パッド部2の角部をその先端部で支持し、端部がフレー
ム枠1と接続した吊りリード部3と、半導体素子を載置
した場合、その載置した半導体素子と金属細線等の接続
手段により電気的に接続するビーム状のリード部4とよ
り構成されている。そしてリード部4は、封止樹脂で封
止された際、封止樹脂部に埋設される部分はインナーリ
ード部4aを構成し、封止樹脂部より露出する部分はア
ウターリード部4bを構成するものであり、インナーリ
ード部4aとアウターリード部4bとは、一体で連続し
て設けられている。図1において、破線で示した領域
は、半導体素子を搭載して樹脂封止型半導体装置を構成
する場合、封止樹脂で封止する領域を示しており、また
一点鎖線で示した部分は、半導体素子を搭載して樹脂封
止し、樹脂封止型半導体装置を構成した後、リード部4
(アウターリード部4b)を切断する切断部5を示して
いる。
【0031】また、本実施形態のリードフレームは、図
1(b)に示すように、ダイパッド部2は吊りリード部
3によって支持されているが、その吊りリード部3に設
けたディプレス部によってダイパッド部2がリード部4
上面に対して上方に配置されるよう、アップセットされ
ているものである。
【0032】なお、リードフレームは、図1に示した構
成よりなるパターンが1つではなく、複数個、左右、上
下に連続して配列されるものである。
【0033】次に本実施形態のリードフレームを用いた
樹脂封止型半導体装置について説明する。図2は、図1
に示したリードフレームを用いた樹脂封止型半導体装置
を示す図であり、図2(a)は、内部構成を破線で示し
た透視平面図であり、図2(b)は図2(a)のD−D
1箇所の断面図である。
【0034】図2に示すように、リードフレームのダイ
パッド部2上に半導体素子6が搭載され、その半導体素
子6とリード部4のインナーリード部4aとが金属細線
7により電気的に接続されている。そしてダイパッド部
2上の半導体素子6、インナーリード部4aの外囲は封
止樹脂8により封止されている。そしてそのリード部4
(インナーリード部4a)の底面部分は封止樹脂8の底
面からスタンドオフを有して露出して、外部端子9を構
成している。なお、封止樹脂8の側面からはアウターリ
ード部4bが露出しているが、実質的に封止樹脂8の側
面と同一面である。
【0035】次に本実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法について説明する。
【0036】まず図3に示すように、フレーム枠と、そ
のフレーム枠内に、半導体素子が載置される矩形状であ
って、アップセットされたダイパッド部2と、ダイパッ
ド部2の角部をその先端部で支持し、端部がフレーム枠
と接続した吊りリード部と、半導体素子を載置した場
合、その載置した半導体素子と金属細線等の接続手段に
より電気的に接続するビーム状のリード部4とを有した
リードフレームを用意する。
【0037】そして図4に示すように、ダイパッド部2
上に銀ペースト等の接着剤により半導体素子6を搭載し
ボンディングする。
【0038】次に図5に示すように、ダイパッド部2上
に搭載された半導体素子6の表面の電極パッド(図示せ
ず)とリード部4のインナーリード部4aとを金属細線
7により電気的に接続する。
【0039】次に図6に示すように、半導体素子6が搭
載された状態のリードフレームの少なくともリード部4
の底面に封止シート10を密着させる。この封止シート
10はリード部4の底面に封止樹脂が回り込まないよう
に保護し、リード部4の底面を露出させるための部材で
ある。
【0040】次に図7に示すように、リードフレームを
金型内に載置し、金型によりリード部4を封止シート1
0に対して押圧した状態でエポキシ系樹脂よりなる封止
樹脂8を注入し、リードフレームの外囲としてダイパッ
ド部2、半導体素子6、リード部4の上面領域と金属細
線7の接続領域を封止する。図8には外囲を封止樹脂8
で封止した状態を示している。
【0041】次に図9に示すように、リードフレームの
リード部4の底面に密着させていた封止シート10をピ
ールオフ等により除去する。
【0042】次に図10に示すように、リード部4の切
断部5に対して、回転ブレード11でリードカットを行
う。なお、ここで使用するブレード11の幅は通常、ウ
ェハーのダイシングで使用するブレードと同様な100
[μm]程度である。
【0043】そして図11に示すように、リードフレー
ムのダイパッド部2上に半導体素子6が搭載され、その
半導体素子6とリード部4のインナーリード部4aとが
金属細線7により電気的に接続され、外囲が封止樹脂8
により封止され、そしてそのリード部4(インナーリー
ド部4a)の底面部分は封止樹脂8の底面からスタンド
オフを有して露出して、外部端子9を構成するととも
に、封止樹脂8の側面からはアウターリード部4bが露
出し、実質的に封止樹脂8の側面と同一面を構成した樹
脂封止型半導体装置を得るものである。
【0044】以上、本実施形態のリードフレームを用い
て樹脂封止型半導体装置を製造する際、樹脂封止後のリ
ードカット工程では、金型の切断刃に代えて、基板ダイ
シング等で用いるような回転ブレード11で切削して切
断することにより、切断されるリード部4(切断部5)
に対しては、切断時の押圧力による衝撃が印加されず、
リード部4、そのリード部4近傍の封止樹脂8に対する
ダメージを解消してリードカットすることができる。そ
のため、リード部、封止樹脂部に欠陥、欠損の発生をな
くして信頼性の高い樹脂封止型半導体装置を得ることが
できる。
【0045】次に本実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法で得られた樹脂封止型半導体装置に起こり得る
別の課題について説明する。
【0046】図12は本実施形態の樹脂封止型半導体装
置の課題を示す断面図である。図12に示す樹脂封止型
半導体装置は、基本構成は前記した図2に示した樹脂封
止型半導体装置と同様であるが、製造過程において、回
転ブレードでリード部4の切断部5を切削してリードカ
ットしているため、回転ブレードによる回転力とリード
部4の素材である金属材料との関係により、切断したリ
ード部4のアウターリード部4bの面に金属材によるカ
エリ部12(金属バリ)が形成されてしまう。このカエ
リ部12により、樹脂封止型半導体装置を基板実装する
際、実装不良を誘発したり、ハンダ接合時のハンダブリ
ッジを起こしたりする可能性があり、カエリ部12が発
生しないようリードカット、または発生したカエリ部1
2を除去する必要性が生じている。なお、図12では、
カエリ部12は、リード部4の底面側に示しているが、
リード部4の側面側、およびリード部4の上面側にも発
生する場合もある。
【0047】通常、カエリ部12の発生要因としては、
リード切断で用いる回転ブレードの切削によって、リー
ド部4を構成している材料である金属材(例えばCu
材)がはね上げられ、金属材の一部が薄膜状に突出し、
カエリ部12として切断されたリード部4の端面に残留
するものと考えられる。
【0048】以下、本発明の樹脂封止型半導体装置の製
造方法について、主としてリード部4の側面側と底面側
とに発生するカエリ部12の除去、またはそれ自体の発
生を防止する実施形態について、課題解決における実施
形態として図面を参照しながら説明する。
【0049】まず課題解決の第1の実施形態について説
明する。
【0050】図13〜図21は、本実施形態の樹脂封止
型半導体装置の製造方法を示す工程ごとの断面図であ
る。なお、本実施形態で用いるリードフレームは図1に
示したリードフレームと同様な構成である。
【0051】まず図13に示すように、フレーム枠と、
そのフレーム枠内に、半導体素子が載置される矩形状で
あって、アップセットされたダイパッド部2と、ダイパ
ッド部2の角部をその先端部で支持し、端部がフレーム
枠と接続した吊りリード部と、半導体素子を載置した場
合、その載置した半導体素子と金属細線等の接続手段に
より電気的に接続するビーム状のリード部4とを有した
リードフレームを用意する。
【0052】そして図14に示すように、ダイパッド部
2上に銀ペースト等の接着剤により半導体素子6を搭載
しボンディングする。
【0053】次に図15に示すように、ダイパッド部2
上に搭載された半導体素子6の表面の電極パッド(図示
せず)とリード部4のインナーリード部4aとを金属細
線7により電気的に接続する。
【0054】次に図16に示すように、半導体素子6が
搭載された状態のリードフレームの少なくともリード部
4の底面に封止シート10を密着させる。この封止シー
ト10はリード部4の底面に封止樹脂が回り込まないよ
うに保護し、リード部4の底面を露出させるための部材
である。
【0055】次に図17に示すように、第1の金型13
と第2の金型(図示せず)との金型よりなる封止金型内
にリードフレームを載置し、第1の金型13によりリー
ド部4を封止シート10に対して押圧した状態でエポキ
シ系樹脂よりなる封止樹脂8を注入し、リードフレーム
の外囲としてダイパッド部2、半導体素子6、リード部
4の上面領域と金属細線7の接続領域を封止する。な
お、ここで使用する第1の金型13は、リードフレーム
の表面側に当接し、リードフレームのリード部4の切断
部に相当する部分に彫り込み部14を有した金型であ
り、リード部4の切断部を含む上面領域に封止樹脂を形
成する構成を有したものである。
【0056】図18には外囲を封止樹脂8で封止した状
態を示し、リード部4の切断部に相当する部分に彫り込
み部14による封止樹脂8aが形成されている。
【0057】次に図19に示すように、リードフレーム
のリード部4の底面に密着させていた封止シート10を
ピールオフ等により除去する。
【0058】次に図20に示すように、リード部4の切
断箇所に対して、回転ブレード11でリードカットを行
う。なお、ここで使用するブレード11の幅は通常、ウ
ェハーのダイシングで使用するブレードと同様な100
[μm]程度である。そしてこのリードカットではリー
ド部4とともにその上面に形成された封止樹脂8aとと
もに共切りを行うものである。
【0059】そして図21に示すように、リードフレー
ムのダイパッド部2上に半導体素子6が搭載され、その
半導体素子6とリード部4のインナーリード部4aとが
金属細線7により電気的に接続され、外囲が封止樹脂8
により封止され、そしてそのリード部4(インナーリー
ド部4a)の底面部分は封止樹脂8の底面からスタンド
オフを有して露出して、外部端子9を構成するととも
に、封止樹脂8の側面からはアウターリード部4bが露
出し、封止樹脂8の側面と同一面を構成した樹脂封止型
半導体装置を得るものである。そして特にアウターリー
ド部4b上には封止樹脂8aが金型形成による段差を有
して形成されているものである。またリード部4の端
面、特にリード部4の端面の上部にはカエリ部の発生は
ない。
【0060】以上、本実施形態では、樹脂封止した後の
リードフレームに対して、リード切断して樹脂封止型半
導体装置を分離する際、リード部の切断部を含む領域に
封止樹脂を形成し、その封止樹脂を介在させて回転ブレ
ードによってリード部を共切りしてフルカットして樹脂
封止型半導体装置を分離するため、リード部の切断した
端面へのカエリ部の発生を防止してリードカットできる
ものである。しかも短時間によるリードカットが可能で
あり、生産性を高めることができる。
【0061】次に課題解決の第2の実施形態について説
明する。
【0062】図22〜図30は、本実施形態の樹脂封止
型半導体装置の製造方法を示す工程ごとの断面図であ
る。なお、本実施形態で用いるリードフレームは図1に
示したリードフレームと同様な構成であるが、リード部
4のフレーム枠1と接続した領域近傍であって、切断部
5を含む領域には他のリード部分よりも厚みが薄い薄厚
部が形成されているものである。
【0063】まず図22に示すように、フレーム枠と、
そのフレーム枠内に、半導体素子が載置される矩形状で
あって、アップセットされたダイパッド部2と、ダイパ
ッド部2の角部をその先端部で支持し、端部がフレーム
枠と接続した吊りリード部と、半導体素子を載置した場
合、その載置した半導体素子と金属細線等の接続手段に
より電気的に接続するビーム状のリード部4とを有し、
リード部4のフレーム枠1と接続した領域近傍であっ
て、切断部を含む領域には他のリード部分よりも厚みが
薄い薄厚部15が形成されたリードフレームを用意す
る。
【0064】そして図23に示すように、ダイパッド部
2上に銀ペースト等の接着剤により半導体素子6を搭載
しボンディングする。
【0065】次に図24に示すように、ダイパッド部2
上に搭載された半導体素子6の表面の電極パッド(図示
せず)とリード部4のインナーリード部4aとを金属細
線7により電気的に接続する。
【0066】次に図25に示すように、半導体素子6が
搭載された状態のリードフレームの少なくともリード部
4の底面に封止シート10を密着させる。この封止シー
ト10はリード部4の底面に封止樹脂が回り込まないよ
うに保護し、リード部4の底面を露出させるための部材
である。
【0067】次に図26に示すように、第1の金型13
と第2の金型(図示せず)との金型よりなる封止金型内
にリードフレームを載置し、第1の金型13によりリー
ド部4を封止シート10に対して押圧した状態でエポキ
シ系樹脂よりなる封止樹脂8を注入し、リードフレーム
の外囲としてダイパッド部2、半導体素子6、リード部
4の上面領域と金属細線7の接続領域を封止する。な
お、ここで使用する第1の金型13は、リードフレーム
の表面側に当接し、リードフレームのリード部4の切断
部に相当する部分に彫り込み部14を有した金型であ
り、リード部4の切断部を含む上面領域に封止樹脂を形
成する構成を有したものである。
【0068】図27には外囲を封止樹脂8で封止した状
態を示し、リード部4の切断部に相当する部分に彫り込
み部14による封止樹脂8aが形成され、リード部4の
下面の薄厚部15には、その段差分の封止樹脂8bが形
成されている。
【0069】次に図28に示すように、リードフレーム
のリード部4の底面に密着させていた封止シート10を
ピールオフ等により除去する。
【0070】次に図29に示すように、リード部4の切
断箇所に対して、回転ブレード11でリードカットを行
う。なお、ここで使用するブレード11の幅は通常、ウ
ェハーのダイシングで使用するブレードと同様な100
[μm]程度である。そしてこのリードカットではリー
ド部4とともにその上面に形成された封止樹脂8a、お
よび下面に形成された封止樹脂8bとともに共切りを行
うものである。
【0071】そして図30に示すように、リードフレー
ムのダイパッド部2上に半導体素子6が搭載され、その
半導体素子6とリード部4のインナーリード部4aとが
金属細線7により電気的に接続され、外囲が封止樹脂8
により封止され、そしてそのリード部4(インナーリー
ド部4a)の底面部分は封止樹脂8の底面からスタンド
オフを有して露出して、外部端子9を構成するととも
に、封止樹脂8の側面からはアウターリード部4bが露
出し、封止樹脂8の側面と同一面を構成した樹脂封止型
半導体装置を得るものである。そして特にアウターリー
ド部4b上部には封止樹脂8aが金型形成による段差を
有して形成され、アウターリード部4b下部には封止樹
脂8bがその薄厚部15による段差を有して形成されて
いるものである。またリード部4の端面、特にリード部
4の端面の上部および下部にはカエリ部の発生はない。
【0072】以上、本実施形態では、樹脂封止した後の
リードフレームに対して、リード切断して樹脂封止型半
導体装置を分離する際、リード部の切断部を含む領域の
上下部に封止樹脂を形成し、その封止樹脂を介在させて
回転ブレードによってリード部を共切りしてフルカット
して樹脂封止型半導体装置を分離するため、リード部の
切断した端面へのカエリ部の発生を防止してリードカッ
トできるものである。しかも短時間によるリードカット
が可能であり、生産性を高めることができる。また本実
施形態では前記した第1の実施形態に加えて、切断する
リード部の下部にも共切り用の樹脂を介在させて切断す
るため、よりカエリ部の発生を防止できるものである。
【0073】また本実施形態では、リード部4の切断す
る領域を含む領域の下部にリード部4の厚みを他よりも
薄い薄厚部15を形成したリードフレームを用い、さら
にリード部の切断する領域を含む領域の上部に封止樹脂
を形成するために彫り込み部14を有した金型で封止
し、リード部4の切断する領域の上下部には封止樹脂8
a,8bを形成して共切りしてリードカットした例を示
したが、リード部4の切断する領域を含む領域の下部に
リード部4の厚みを他よりも薄い薄厚部15を形成した
リードフレームを用いて、通常の金型によって封止し、
リード部4の下部にのみ封止樹脂を形成して共切りして
もよい。この場合、特にリード部4の切断面の端面下部
に発生するカエリ部を防止できるものである。
【0074】次に課題解決の第3の実施形態について説
明する。
【0075】図31〜図41は、本実施形態の樹脂封止
型半導体装置の製造方法を示す工程ごとの断面図であ
る。なお、本実施形態で用いるリードフレームは図1に
示したリードフレームと同様な構成であるが、リード部
4のフレーム枠1と接続した領域近傍であって、切断部
5を含む領域には他のリード部分よりも厚みが薄い薄厚
部が形成されているものである。また本実施形態の製造
方法は基本的には前記した第2の実施形態の工程と同様
であり、往復カットする構成が加わったものである。
【0076】まず図31に示すように、フレーム枠と、
そのフレーム枠内に、半導体素子が載置される矩形状で
あって、アップセットされたダイパッド部2と、ダイパ
ッド部2の角部をその先端部で支持し、端部がフレーム
枠と接続した吊りリード部と、半導体素子を載置した場
合、その載置した半導体素子と金属細線等の接続手段に
より電気的に接続するビーム状のリード部4とを有し、
リード部4のフレーム枠1と接続した領域近傍であっ
て、切断部を含む領域には他のリード部分よりも厚みが
薄い薄厚部15が形成されたリードフレームを用意す
る。
【0077】そして図32に示すように、ダイパッド部
2上に銀ペースト等の接着剤により半導体素子6を搭載
しボンディングする。
【0078】次に図33に示すように、ダイパッド部2
上に搭載された半導体素子6の表面の電極パッド(図示
せず)とリード部4のインナーリード部4aとを金属細
線7により電気的に接続する。
【0079】次に図34に示すように、半導体素子6が
搭載された状態のリードフレームの少なくともリード部
4の底面に封止シート10を密着させる。この封止シー
ト10はリード部4の底面に封止樹脂が回り込まないよ
うに保護し、リード部4の底面を露出させるための部材
である。
【0080】次に図35に示すように、第1の金型13
と第2の金型(図示せず)との金型よりなる封止金型内
にリードフレームを載置し、第1の金型13によりリー
ド部4を封止シート10に対して押圧した状態でエポキ
シ系樹脂よりなる封止樹脂8を注入し、リードフレーム
の外囲としてダイパッド部2、半導体素子6、リード部
4の上面領域と金属細線7の接続領域を封止する。な
お、ここで使用する第1の金型13は、リードフレーム
の表面側に当接し、リードフレームのリード部4の切断
部に相当する部分に彫り込み部14を有した金型であ
り、リード部4の切断部を含む上面領域に封止樹脂を形
成する構成を有したものである。
【0081】図36には外囲を封止樹脂8で封止した状
態を示し、リード部4の切断部に相当する部分に彫り込
み部14による封止樹脂8aが形成され、リード部4の
下面の薄厚部15には、その段差分の封止樹脂8bが形
成されている。
【0082】次に図37に示すように、リードフレーム
のリード部4の底面に密着させていた封止シート10を
ピールオフ等により除去する。
【0083】次に図38に示すように、リード部4の切
断箇所に対して、回転ブレード11で第1の切削による
リードカットを行う。なお、ここで使用するブレード1
1の幅は通常、ウェハーのダイシングで使用するブレー
ドと同様な100[μm]程度である。そしてこのリー
ドカットではリード部4とともにその上面に形成された
封止樹脂8a、および下面に形成された封止樹脂8bと
ともに共切りを行うものである。
【0084】そして図39,図40に示すように、リー
ド部4の前記第1の切削で形成した溝の経路に対して、
逆方向にブレード11により復路で第2の切削を行い、
往復切断する。
【0085】そして図41に示すように、リードフレー
ムのダイパッド部2上に半導体素子6が搭載され、その
半導体素子6とリード部4のインナーリード部4aとが
金属細線7により電気的に接続され、外囲が封止樹脂8
により封止され、そしてそのリード部4(インナーリー
ド部4a)の底面部分は封止樹脂8の底面からスタンド
オフを有して露出して、外部端子9を構成するととも
に、封止樹脂8の側面からはアウターリード部4bが露
出し、封止樹脂8の側面と同一面を構成した樹脂封止型
半導体装置を得るものである。そして特にアウターリー
ド部4b上部には封止樹脂8aが金型形成による段差を
有して形成され、アウターリード部4b下部には封止樹
脂8bがその薄厚部15による段差を有して形成されて
いるものである。またリード部4の端面、特にリード部
4の端面の上部および下部にはカエリ部の発生はない。
【0086】以上、本実施形態では、樹脂封止した後の
リードフレームに対して、リード切断して樹脂封止型半
導体装置を分離する際、リード部の切断部を含む領域の
上下部に封止樹脂を形成し、その封止樹脂を介在させて
回転ブレードによってリード部を共切りしてフルカット
して樹脂封止型半導体装置を分離するため、リード部の
切断した端面へのカエリ部の発生を防止してリードカッ
トできるものである。しかも短時間によるリードカット
が可能であり、生産性を高めることができる。また本実
施形態では前記した第1の実施形態に加えて、切断する
リード部の下部にも共切り用の樹脂を介在させて往復切
断するため、よりカエリ部の発生を防止できるものであ
る。
【0087】なお、各実施形態において、切断時のブレ
ードの回転数、被切断物の送り速度、ブレードのサイ
ズ、ブレード材質等については、適宜、最適値を設定す
る。また、使用する回転ブレードについても、通常のダ
イシングに使用する断面がU型または平坦なブレード以
外に、断面形状がV型のブレードを用いてもよい。
【0088】さらに各実施形態では、フレーム枠内に1
つのダイパッド部と、それに対向して配置された複数の
リード部とにより構成されたユニットをその領域内に複
数ユニットを有したリードフレームに対して、各ユニッ
トごとに樹脂封止してパッケージ部を構成し、各ユニッ
ト間に露出したリード部をその切断部で切断する例を示
したが、本実施形態で示したように、リード部に対して
徐々に切削を行い、またその切削をブレードの形状、
幅、切断する面の方向を変えてリードカットを実施する
手段によって、一括成形としてリードフレーム内の各ユ
ニットを包括して全面樹脂封止し、各ユニット間のリー
ド部の上面、すなわち各ユニット間のリード部の切断部
に封止樹脂が形成された場合においても、同様な作用効
果を奏するものである。
【0089】
【発明の効果】以上、本発明の樹脂封止型半導体装置の
製造方法において、樹脂封止後のリードカット工程で
は、金型の切断刃に代えて、基板ダイシング等で用いる
ような回転ブレードで切削して切断することにより、切
断されるリード部に対しては、切断時の押圧力による衝
撃が印加されず、リード部、そのリード部近傍の封止樹
脂に対するダメージを解消してリードカットすることが
できる。そのため、リード部、封止樹脂部に欠陥、欠損
の発生をなくして信頼性の高い樹脂封止型半導体装置を
得ることができる。
【0090】さらに樹脂封止した後のリードフレームに
対して、リード切断して樹脂封止型半導体装置を分離す
る際、切断するリード部の上部、または下部、または上
下部に封止樹脂を形成し、その状態で封止樹脂と共にリ
ードカットすることにより、リード端面へのカエリ部の
発生を防止できるものである。さらに、第1の切削の経
路に対して逆方向にブレードにより第2の切削を行い、
切断部を往復で共切りすることにより、リード部の切断
した端面にカエリが発生したとしても、さらに第2の切
削を行い、その第1の切削で発生した縦カエリ部および
横カエリ部を除去できるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態のリードフレームを示す図
【図2】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置を
示す図
【図3】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図4】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図5】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図6】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図7】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図8】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図9】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置の
製造方法を示す断面図
【図10】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図11】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図12】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の課題を示す断面図
【図13】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図14】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図15】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図16】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図17】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図18】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図19】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図20】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図21】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図22】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図23】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図24】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図25】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図26】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図27】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図28】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図29】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図30】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図31】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図32】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図33】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図34】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図35】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図36】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図37】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図38】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図39】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図40】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図41】本発明の一実施形態の樹脂封止型半導体装置
の製造方法を示す断面図
【図42】従来のリードフレームを示す図
【図43】従来の樹脂封止型半導体装置を示す図
【図44】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図45】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図46】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図47】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図48】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図49】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図50】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図51】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【図52】従来の樹脂封止型半導体装置の製造方法を示
す断面図
【符号の説明】
1 フレーム枠 2 ダイパッド部 3 吊りリード部 4 リード部 5 切断部 6 半導体素子 7 金属細線 8 封止樹脂 9 外部端子 10 封止シート 11 回転ブレード 12 カエリ部 13 第1の金型 14 彫り込み部 15 薄厚部 101 フレーム枠 102 ダイパッド部 103 吊りリード部 104 リード部 105 半導体素子 106 金属細線 107 封止樹脂 108 外部端子 109 封止シート 110 切断部 111 切断刃
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 23/28 H01L 23/28 A (72)発明者 内海 勝喜 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 安達 修 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 (72)発明者 松尾 隆広 大阪府高槻市幸町1番1号 松下電子工業 株式会社内 Fターム(参考) 4M109 AA01 BA01 CA21 DA10 FA00 5F061 AA01 BA01 CA21 CB12 CB13 EA03 5F067 AA01 AA09 AB04 BC12 BD05 BD10 DB00 DE14

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金属板よりなるフレーム本体と、前記フ
    レーム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載
    用のダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持
    し、他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少
    なくとも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、
    他端部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リ
    ード部のフレーム枠と接続した領域近傍に設けられた切
    断部とよりなるリードフレームを用意する工程と、前記
    用意したリードフレームの前記ダイパッド部上に半導体
    素子を搭載する工程と、前記ダイパッド部上に搭載した
    前記半導体素子の主面上の電極パッドと、前記リードフ
    レームのリード部の各上面とを金属細線により接続する
    工程と、封止金型として、前記リードフレームの表面側
    に当接し、前記リードフレームのリード部の切断部に相
    当する部分に彫り込み部を有した第1の金型と、前記第
    1の金型とともに前記リードフレームを挟み込む第2の
    金型とを用意する工程と、前記リードフレームの裏面側
    の少なくともリード部の各底面に封止シートを密着させ
    る工程と、前記第1の金型と第2の金型との間に前記リ
    ードフレームを載置し、少なくとも前記リードフレーム
    のリード部の端部に押圧力を付加し、前記リード部の底
    面を前記封止シートに押圧した状態で封止樹脂を注入し
    て、前記リードフレームの上面側として前記半導体素
    子、ダイパッド部、金属細線、および前記リード部の底
    面を除く領域を封止樹脂により樹脂封止するとともに、
    前記第1の金型の彫り込み部に封止樹脂を注入して前記
    フレームのリード部の切断部上に封止樹脂を形成する工
    程と、樹脂封止後に前記封止シートを前記リードフレー
    ムより除去する工程と、前記リードの切断部上面に対し
    てブレードによる切削を行い、前記切断部上に形成され
    た封止樹脂と共に切断部を切断して樹脂封止型半導体装
    置を得る工程とよりなることを特徴とする樹脂封止型半
    導体装置の製造方法。
  2. 【請求項2】 金属板よりなるフレーム本体と、前記フ
    レーム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載
    用のダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持
    し、他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少
    なくとも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、
    他端部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リ
    ード部の前記フレーム枠と接続した領域近傍に設けら
    れ、他のリード部分よりも薄厚の切断部とよりなるリー
    ドフレームを用意する工程と、前記用意したリードフレ
    ームの前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載する工程
    と、前記ダイパッド部上に搭載した前記半導体素子の主
    面上の電極パッドと、前記リードフレームのリード部の
    各上面とを金属細線により接続する工程と、封止金型と
    して、前記リードフレームの表面側に当接する第1の金
    型と、前記第1の金型とともに前記リードフレームを挟
    み込む第2の金型とを用意する工程と、前記リードフレ
    ームの裏面側の少なくともリード部の各底面に封止シー
    トを密着させる工程と、前記第1の金型と第2の金型と
    の間に前記リードフレームを載置し、少なくとも前記リ
    ードフレームのリード部の端部に押圧力を付加し、前記
    リード部の底面を前記封止シートに押圧した状態で封止
    樹脂を注入して、前記リードフレームの上面側として前
    記半導体素子、ダイパッド部、金属細線、および前記リ
    ード部の底面を除く領域を封止樹脂により樹脂封止する
    とともに、前記リードフレームの前記リード部の切断部
    の薄厚による段差部分に封止樹脂を注入して前記フレー
    ムのリード部の切断部底面に封止樹脂を形成する工程
    と、樹脂封止後に前記封止シートを前記リードフレーム
    より除去する工程と、前記リードの切断部上面に対して
    ブレードによる切削を行い、前記切断部底面に形成した
    封止樹脂と共に切断部を切断して樹脂封止型半導体装置
    を得る工程とよりなることを特徴とする樹脂封止型半導
    体装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 金属板よりなるフレーム本体と、前記フ
    レーム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載
    用のダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持
    し、他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少
    なくとも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、
    他端部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リ
    ード部の前記フレーム枠と接続した領域近傍に設けら
    れ、他のリード部分よりも薄厚の切断部とよりなるリー
    ドフレームを用意する工程と、前記用意したリードフレ
    ームの前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載する工程
    と、前記ダイパッド部上に搭載した前記半導体素子の主
    面上の電極パッドと、前記リードフレームのリード部の
    各上面とを金属細線により接続する工程と、封止金型と
    して、前記リードフレームの表面側に当接し、前記リー
    ドフレームのリード部の切断部に相当する部分に彫り込
    み部を有した第1の金型と、前記第1の金型とともに前
    記リードフレームを挟み込む第2の金型とを用意する工
    程と、前記リードフレームの裏面側の少なくともリード
    部の各底面に封止シートを密着させる工程と、前記第1
    の金型と第2の金型との間に前記リードフレームを載置
    し、少なくとも前記リードフレームのリード部の端部に
    押圧力を付加し、前記リード部の底面を前記封止シート
    に押圧した状態で封止樹脂を注入して、前記リードフレ
    ームの上面側として前記半導体素子、ダイパッド部、金
    属細線、および前記リード部の底面を除く領域を封止樹
    脂により樹脂封止するとともに、前記リードフレームの
    前記リード部の切断部の薄厚による段差部分と前記第1
    の金型の彫り込み部とに封止樹脂を注入して前記フレー
    ムのリード部の切断部上下面に封止樹脂を形成する工程
    と、樹脂封止後に前記封止シートを前記リードフレーム
    より除去する工程と、前記リードの切断部上面に対して
    ブレードによる切削を行い、前記切断部上下面に形成し
    た封止樹脂と共に切断部を切断して樹脂封止型半導体装
    置を得る工程とよりなることを特徴とする樹脂封止型半
    導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 金属板よりなるフレーム本体と、前記フ
    レーム本体の略中央領域内に配設された半導体素子搭載
    用のダイパッド部と、先端部で前記ダイパッド部を支持
    し、他端部でフレーム枠と接続した吊りリード部と、少
    なくとも先端部が前記ダイパッド部に向かって延在し、
    他端部が前記フレーム枠と接続したリード部と、前記リ
    ード部の前記フレーム枠と接続した領域近傍に設けら
    れ、他のリード部分よりも薄厚の切断部とよりなるリー
    ドフレームを用意する工程と、前記用意したリードフレ
    ームの前記ダイパッド部上に半導体素子を搭載する工程
    と、前記ダイパッド部上に搭載した前記半導体素子の主
    面上の電極パッドと、前記リードフレームのリード部の
    各上面とを金属細線により接続する工程と、封止金型と
    して、前記リードフレームの表面側に当接し、前記リー
    ドフレームのリード部の切断部に相当する部分に彫り込
    み部を有した第1の金型と、前記第1の金型とともに前
    記リードフレームを挟み込む第2の金型とを用意する工
    程と、前記リードフレームの裏面側の少なくともリード
    部の各底面に封止シートを密着させる工程と、前記第1
    の金型と第2の金型との間に前記リードフレームを載置
    し、少なくとも前記リードフレームのリード部の端部に
    押圧力を付加し、前記リード部の底面を前記封止シート
    に押圧した状態で封止樹脂を注入して、前記リードフレ
    ームの上面側として前記半導体素子、ダイパッド部、金
    属細線、および前記リード部の底面を除く領域を封止樹
    脂により樹脂封止するとともに、前記リードフレームの
    前記リード部の切断部の薄厚による段差部分と前記第1
    の金型の彫り込み部とに封止樹脂を注入して前記フレー
    ムのリード部の切断部上下面に封止樹脂を形成する工程
    と、樹脂封止後に前記封止シートを前記リードフレーム
    より除去する工程と、前記リードの切断部上面に対して
    ブレードによる切削を行い、前記切断部上下面に形成し
    た封止樹脂と共に切断部を切断し、さらに前記切削の経
    路に対して逆方向にブレードにより切削して往復切断し
    て樹脂封止型半導体装置を分離する工程とよりなること
    を特徴とする樹脂封止型半導体装置の製造方法。
JP24752199A 1999-09-01 1999-09-01 樹脂封止型半導体装置の製造方法 Pending JP2001077265A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24752199A JP2001077265A (ja) 1999-09-01 1999-09-01 樹脂封止型半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP24752199A JP2001077265A (ja) 1999-09-01 1999-09-01 樹脂封止型半導体装置の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001077265A true JP2001077265A (ja) 2001-03-23

Family

ID=17164738

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP24752199A Pending JP2001077265A (ja) 1999-09-01 1999-09-01 樹脂封止型半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001077265A (ja)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002289742A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2002368179A (ja) * 2001-06-04 2002-12-20 Sony Corp リードフレーム、面実装型半導体パッケージおよびその製造方法
JP2003086750A (ja) * 2001-09-11 2003-03-20 Rohm Co Ltd 電子部品の製造方法
US6835600B2 (en) 2001-02-15 2004-12-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Lead frame and method for fabricating resin-encapsulated semiconductor device using the same
JP2011071558A (ja) * 2011-01-11 2011-04-07 Rohm Co Ltd 電子部品およびその製造方法
JP2013062527A (ja) * 2006-10-04 2013-04-04 Rohm Co Ltd 半導体装置
JP2013191874A (ja) * 2013-05-22 2013-09-26 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置、多面付樹脂封止型半導体装置、リードフレーム、および樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2015181206A (ja) * 2015-07-13 2015-10-15 大日本印刷株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6835600B2 (en) 2001-02-15 2004-12-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd Lead frame and method for fabricating resin-encapsulated semiconductor device using the same
JP2002289742A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置およびその製造方法
JP2002368179A (ja) * 2001-06-04 2002-12-20 Sony Corp リードフレーム、面実装型半導体パッケージおよびその製造方法
JP4569048B2 (ja) * 2001-06-04 2010-10-27 ソニー株式会社 面実装型半導体パッケージおよびその製造方法
JP2003086750A (ja) * 2001-09-11 2003-03-20 Rohm Co Ltd 電子部品の製造方法
JP2013062527A (ja) * 2006-10-04 2013-04-04 Rohm Co Ltd 半導体装置
JP2011071558A (ja) * 2011-01-11 2011-04-07 Rohm Co Ltd 電子部品およびその製造方法
JP2013191874A (ja) * 2013-05-22 2013-09-26 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置、多面付樹脂封止型半導体装置、リードフレーム、および樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2015181206A (ja) * 2015-07-13 2015-10-15 大日本印刷株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3062192B1 (ja) リ―ドフレ―ムとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP3879452B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2002261228A (ja) リードフレーム
JP2972096B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置
JP2003017646A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2002076040A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JP2005223331A (ja) リードフレーム、これを利用した半導体チップパッケージ及びその製造方法
JP2003174131A (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
JP3801121B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2000307049A (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2001077265A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2002026223A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2001077266A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2001077279A (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2001077268A (ja) 樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP4172111B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP4362902B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP4570797B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2002134439A (ja) 半導体チップの製造方法と樹脂封止型半導体装置およびその製造方法
JP2001077130A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2001077281A (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP4446719B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2001077275A (ja) リードフレームとそれを用いた樹脂封止型半導体装置の製造方法
JP2007081232A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0936300A (ja) 半導体装置およびその製造方法