JP2001074557A

JP2001074557A - 分光光度計

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Publication number: JP2001074557A
Application number: JP25360099A
Authority: JP
Inventors: Hiroshi Hayakawa; 広志早川; Naoto Mori; 直人森; Kaoru Ikehata; 薫池端
Original assignee: Jasco Corp
Current assignee: Jasco Corp
Priority date: 1999-09-07
Filing date: 1999-09-07
Publication date: 2001-03-23

Abstract

(57)【要約】【課題】測定結果を見やすくできる分光光度計を提供
すること【解決手段】試料部から出力される出力光を光電子増
倍管２で電気信号に変換し、演算部１２等で試料部中の
試料の偏光性を測定できる分光光度計において、測定を
行う前に予め測定条件設定メモリ１３に複数のレスポン
スを設定しておく。すると、光電子増倍管２のＨＴ電圧
をレスポンス選択部１４が受けることで、レスポンス選
択部１４は測定条件設定メモリ１３に設定された複数の
レスポンスから演算部１２が測定中に用いるレスポンス
を１つに選択し、設定する。すると、出力光が弱くなる
程、長く設定したレスポンスを使って測定するようにす
ることで、出力光が弱い場合に測定結果に混入するノイ
ズの影響を減らすことができ、測定結果が見やすくな
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分光光度計に関す
るもので、より具体的には測定されるデータの処理部分
や表示部分の構造の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】円二色性分光光度計は、その測定結果を
円二色性信号（ＣＤ信号）として出力しており、光の偏
光性が左右で異なる程出力されるＣＤ信号の波形は右円
偏光側或いは左円偏光側へ大きく振幅するようになる。
また、これらの信号は、リアルタイムでモニタ等にグラ
フ表示されたりプリントアウトされたりする。

【０００３】ところで、検出器の出力を基に得られる測
定結果は、一般に連続スキャンやステップスキャンによ
って算出された結果である。すなわち、図１に示すよう
に、連続スキャンとは、光源の波長を一定の速度でスキ
ャンさせながら吸収量を測定し、一定の時間Ｔ（レスポ
ンス）ごとにその時間内に取り込まれた光の吸収量の平
均値を求め、その値をその時間内にスキャンされた波長
のうちのある一点の波長の光の吸収量に決定する。

【０００４】よって、最終的に測定結果として出力され
るスペクトルデータは実際には前後の波長のデータの平
均値によるデータとなってしまうが、一定の速度で波長
を動かしながらデータを取りこんでいるため測定を迅速
に終了させられる。

【０００５】一方、ステップスキャンは、図２に示すよ
うに、設定した間隔（データ間隔）で波長のスキャンを
一定時間止めてレスポンスごとのデータの積算を行って
いる。従って、その止めた波長位置ごとの正確なデータ
が得られるので、波長純度の高いスペクトルデータが得
られる。しかし、各波長毎に一時停止するため、レスポ
ンスが長くなるほど（精度よく測定を行うほど）、一回
の測定に要する時間がかかってしまう。

【０００６】さらに、上記いずれのスキャンの場合も、
レスポンスは予め設定された複数の中から１つを選択
し、一回の測定では単一のレスポンスで実行していた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、ステップス
キャンを単一のレスポンスで測定すると、以下のような
問題が生じる。すなわち、試料の光吸収が強く起こる領
域では出力されるＣＤ信号のＳ／Ｎが悪くなる傾向があ
り測定結果が見にくくなることがある。

【０００８】一方、Ｓ／Ｎが悪い領域でもしっかり測定
できるような長いレスポンスを設定して測定すると、そ
れまで十分良好に測定されていたＳ／Ｎ領域まで必要以
上に長いレスポンスでスキャンすることになり測定時間
が長くなり、実用に供し得なくなる。

【０００９】一例を示すと、図３（ａ）に示すような３
００ｎｍ附近に高い光吸収を示す光学的に無偏光な試料
の円二色性を調べた場合、その試料の偏光特性をＣＤ信
号として検出すると、どの波長帯域においても微弱な振
幅の波形を示すはずである。しかし、実際には、図３
（ｂ）に示すように、３００ｎｍ附近の比較的光吸収が
良好な部分ではＣＤ信号の大きさが他の波長領域の大き
さよりもノイズの影響で測定結果が見にくくなってい
る。

【００１０】また、連続スキャンの場合、レスポンスを
長くすると、スペクトルピークがつぶれてしまって測定
結果が見にくくなったり、測定誤差の原因となってい
た。

【００１１】さらに、どちらのスキャンで測定した場合
も、測定結果をリアルタイムでモニタ等にグラフ表示す
るようになっている。そのため、測定を開始する前にグ
ラフのスケールを±１〜１０００ｍｄｅｇの範囲で予め
フルスケールを設定しなくてはならなかった。

【００１２】しかし、図４或いは図５に示すように、測
定中に表示されるグラフは振り切れてしまったり、或い
は表示されたグラフの変化が小さすぎてリアルタイム表
示される測定結果が見にくかった。また、測定後に最適
なスケールにわざわざ直す面倒もあった。

【００１３】上記のような課題は、円二色性分光光度計
のみならず、試料部の試料に光を照射し、その試料部か
らの出力光の強度を検出する分光光度計全般の課題でも
ある。

【００１４】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題を解決
し、測定時間を必要以上に長くせずにレスポンスを最適
化したり測定結果のモニタ状態を改善することで、測定
結果を見やすくできる分光光度計を提供することにあ
る。

【００１５】

【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ために、本発明に係る分光光度計では、光源の光を試料
部に入力し、予め決められた間隔（レスポンス，時定
数）ごとに前記試料部から出力される出力光を測定手段
で測定する分光光度計において、複数個の前記間隔と、
前記間隔を設定する設定手段と、前記出力光の光量を測
定する光量測定手段と、測定中に前記光量測定手段の出
力に応じて前記複数個の間隔の中からいずれか１つの間
隔を選択する選択手段を備えるように構成する（請求項
１）。

【００１６】このように構成すると、試料部から出力さ
れる出力光の強度が小さくても、測定結果に混入するノ
イズの影響の差を解消することができ、しかも全体とし
て測定時間があまり長くならない。具体的には、分光光
度計は予め決められた間隔（レスポンス）ごとに測定し
たデータを取り込んでから所定の演算を行い測定結果を
出力するので、出力光の強度が大きいときのレスポンス
と、出力光の強度が小さいときのレスポンスをそれぞれ
別に設定することで、レスポンスの長さを変化させなが
ら測定できるようになる。

【００１７】したがって、出力光の強度が小さいときの
レスポンスを出力光の強度が大きいときのレスポンスよ
り長くすることが可能となり、出力光の強度が小さいと
きに測定結果に混入するノイズの影響を小さくできるよ
うになる。また、出力光の強度が大きいときにはレスポ
ンスを短くして測定できるので、出力光の強度が小さい
ときのレスポンスで全ての波長領域の測定を行うよりも
測定を短時間に終えることができるようになる。

【００１８】請求項１の構成に加えて、前記測定手段
は、光電子増倍管を備え、前記光量測定手段は、測定す
る前記出力光の光量を、光電子増倍管に対する制御電圧
を基に測定するように構成することができる（請求項
２）。このように構成すると、光量測定手段は出力光の
強度を簡単に把握できるようになるので選択手段による
間隔（レスポンス）の選択が良好に行えるようになる。

【００１９】すなわち、光電子増倍管の制御電圧は、出
力信号を一定にするように働くので、試料部中の試料の
光吸収が強くなって試料部からの出力光が小さくなるに
したがい大きくなる。よって、その制御電圧により、簡
単に試料から出力される光量を推定できる。そして、制
御電圧が大きいほどレスポンスを長くすると、出力光の
強度が小さいときに測定結果に混入するノイズの影響を
小さくできる。

【００２０】さらに、請求項１または請求項２の構成に
加えて、前記試料部中の試料の円二色性を前記測定手段
で測定できるように構成する（請求項３）。この構成は
実施の形態で示してある。実施の形態中の測定結果に示
されているように、光源の光が試料部中の試料に吸収さ
れて試料部から出力される出力光の強度が小さい程、電
気信号に変換され、さらに所定の信号処理をされて得ら
れる出力光の持つ円二色性は、特に、光の吸収が強く行
われる帯域の波長位置での測定結果に含まれるノイズの
影響を少なくできる。

【００２１】上記の構成とは別に、光源の光を試料部に
入力し、その試料部から出力される出力光を測定手段で
測定し、その測定した測定結果を表示手段へ出力表示す
る分光光度計において、前記表示手段に表示するフルス
ケールを複数有し、前記測定手段で求めた測定結果の大
きさに応じて使用するフルスケールを選択するスケール
選択手段と、その選択手段で選択されたフルスケールで
表示されるように前記表示手段に向けて出力する出力手
段とを備えるように構成する（請求項４）。

【００２２】このように構成すると、分光光度計で測定
される測定結果の読み間違い等を防止できるようにな
る。具体的には、第２,第３の実施の形態に示している
ように、分光光度計で測定される測定結果をリアルタイ
ムで表示手段に表示するとき、フルスケールに比べてグ
ラフ表示される測定結果のピークや谷間等の振幅が小さ
すぎたり、或いは、これらの測定結果がフルスケールに
比べて大きすぎて振りきれてしまい表示手段に表示され
ないようなことが無くなる。

【００２３】表示手段に測定結果のピークや谷間が入り
きらないと測定終了後に表示設定をやり直さなくてはな
らないので最終的な測定データを得られるまでの時間が
かかり過ぎてしまうが上記の構成に最適な状態で測定結
果の全体像がわかるので余計な手間が必要なくなる。

【００２４】本発明は、いずれも従来一回の測定中には
単一の測定条件で実行していたのを条件を複数設定し、
出力に応じて適宜切替えることにより、全体として短時
間で精度の高い測定ができ、測定結果がみやすくなると
いう点で共通する。

【００２５】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る分光光度計の
第１の実施の形態を説明する。図６は、係る分光光度計
の概略構成を示している。同図に示すように、この分光
光度計は、光源から出射された光を試料部（セル）に照
射したり、試料部（試料）から出射される光を所定位置
に導くための光学系を含む分光器本体１と、その分光器
本体１から出射される光を検出するとともに、その受光
強度に応じた検出信号を出力する光検出器２と、その光
検出器２から出力される検出信号に基づいて所定の信号
処理をし、測定結果を求める信号処理装置３と、信号処
理装置３で求めた測定結果を出力する出力装置４を備え
ている。さらに、この出力装置４に対して出力する際の
条件等は、入力装置５を介して信号処理装置３に与えら
れるようになっている。

【００２６】本実施の形態では、検出器２として光電子
増倍管を用いている。また、出力装置４としては、出力
表示するモニタが用いられる。もちろんプロッター等の
印刷装置でも良い。入力装置５は、キーボードや、タッ
チパネル等の文字等を入力する装置や、マウス等のポイ
ンティングデバイスが用いられる。

【００２７】信号処理装置３の内部構造は、図７に示す
ようになっている。すなわち、入力側に信号処理部１０
を持ち、この信号処理部１０にて光検出器（光電子増倍
管）２から与えられる検出信号を前置増幅器にてインピ
ーダンス変換したり、その前置増幅器の出力を直流増幅
器に接続し、そこにおいてその出力の直線成分を増幅し
て検出器駆動制御部１１に与えるようになっている。

【００２８】検出器駆動制御部１１は、光検出器（光電
子増倍管）２の陰極電圧をコントロールし、出力信号の
直流成分が一定になるようにフィードバック制御されて
いる。従って、この検出器駆動制御部１１からの制御電
圧（ＨＴ電圧）は、光検出器２への受光量が小さいもの
ほど、大きな値となる。つまり、試料の吸光度が大きい
場合に、制御電圧が高くなる。

【００２９】また、光検出器２から出力される検出信号
は、上記したごとく信号処理部１０で前処理された後、
演算部１２に与えられる。一方、キーボード，マウス等
の入力装置５から与えられる測定条件は、測定条件設定
メモリ１３に記憶保持され、その記憶された測定条件
（後述するようにレスポンスは除く）が、演算部１２に
与えられる。

【００３０】そして、演算部１２では、測定条件設定メ
モリ１３に格納された条件にしたがって、信号処理部１
０から与えられた検出信号に基づいて所定の演算処理を
し、試料の偏光性を円二色性信号（ＣＤ信号）として求
める。そして、その算出結果をモニタ４に出力表示す
る。なお、係る演算処理するためのアルゴリズムは、従
来と同様のものを用いることができるので、その詳細な
説明は省略する。

【００３１】図８は、スペクトル測定する際の条件設定
画面の一例を示している。同図に示すように、従来の装
置と同様に、感度，開始・終了波長，データ読み込み間
隔などの各種の条件を入力するようになっている。この
データ入力方式は、表示装置４に表示された設定画面に
対し、入力装置５を操作し、プルダウンメニュー方式
（図中逆三角形のある入力領域）を用いて予め用意され
た条件を選択したり、操作者が任意の値を入力すること
によって設定するようになる。係る入力操作・方式は、
従来と同様である。

【００３２】ここで、本発明では、レスポンスを複数個
入力できるようにしている。より具体的には、オートレ
スポンス処理機能の設定は、走査モード入力ボックスｂ
１とレスポンス入力ボックスｂ２に所定の入力を行うこ
とによって実行できる。

【００３３】つまり、レスポンス入力ボックスｂ２で
は、測定を行う上でのレスポンスの上限ｈと下限ｌを入
力することにより、そのレスポンスの可変範囲を特定す
るようにしている。そして、この上限ｈ，下限ｌの入力
は、予め用意された値から選択するプルダウンメニュー
方式により設定するようになっている。もちろん、この
入力方法（上限，下限による特定）に限ることはなく、
予め、採り得る複数のレスポンスの値を具体的に入力す
るようにしてもよく、各種の方法が採れる。

【００３４】また、本形態では、従来からある１つのレ
スポンスを使用する測定方法にも対応できるようにして
いる。つまり、上限ｈと下限ｌを同一の値を入力する
と、従来方式による単一レスポンスに基づく測定ができ
るようにしている。これに対応して、操作モードも、オ
ートレスポンスか否かを特定するようになっている。つ
まり、複数のレスポンスを適宜切り替えるオートレスポ
ンスを用いる場合には、図示するように走査モード入力
ボックスｂ１の表示を「Ｓｔｅｐ（ＡｕｔｏＲｅｓｐ
ｏｎｓｅ）」のようにオートレスポンス用にし、そうで
ない場合には「Ｓｔｅｐ」等を選択するようにする。も
ちろん、Ｓｔｅｐ（ステップスキャン）に限らず、連続
スキャンによって走査されるように走査モード入力ボッ
クスｂ１の設定を行うことも可能である。

【００３５】そして、実際の測定に際しては、入力・設
定された複数個のレスポンスの中で、レスポンス選択部
１４によって択一的に１つのレスポンスのみが選択さ
れ、その選択されたレスポンスは、演算部１２に与えら
れるようになる。そして、レスポンス選択部１４による
選択は、検出器駆動制御部１１から出力される制御電圧
に基づいて決定される。

【００３６】このように光電子増倍管２の出力を処理す
ることで、ある波長帯域附近で測定されるデータの演算
部１２で処理されるデータ量と、別の波長帯域附近で測
定されたデータが演算部１２で処理されるデータ量を変
えて測定していくことができるようになる。

【００３７】これにより、測定されるデータに誤差（ノ
イズ）が混入しやすい波長帯域の測定においては取り込
むデータ量を増加させる。すると、測定結果の誤差は少
なくなり、その測定結果を明瞭で見やすいものにでき
る。また、測定されるデータにノイズが混入しにくい周
波数帯域の測定に関しては、レスポンスを短くし迅速に
測定を進めることができる。

【００３８】従って、レスポンス選択部１４の機能とし
ては、検出器駆動制御部１１の制御電圧を監視し、その
制御電圧が大きいときはレスポンスを長くし、制御電圧
が小さいときはレスポンスを短くするように制御する。
つまり、制御電圧が大きい場合は、そもそもの光電子増
倍管２における受光量が少ないことを意味するので、検
出信号とノイズ成分のレベルが近いので、レスポンスを
長くして確実に検出信号を認識できるようにする。逆
に、制御電圧が小さく受光量が多い時には、レスポンス
を短くして高速処理をするようにしている。

【００３９】より具体的には、例えば図９に示すよう
に、制御電圧（ＨＴ電圧）とレスポンスが比例関係に対
応付けられた場合、レスポンス選択部１４は、その比例
式を記憶し、所定のサンプリングタイムごとに制御電圧
に基づいて演算処理し、対応するレスポンスを決定し、
演算部１２に与えるようになる。そして、上記演算式
は、例えば図示するようにレスポンスの上限ｈと下限ｌ
に対応する制御電圧（ＨＴ電圧）の上限電圧ｈ′と下限
電圧ｌ′を設定しておくことにより、簡単に求めること
ができる。

【００４０】なお、レスポンスの切り替えパターンは、
上記したように一次関数（比例関数）に限ることはな
く、二次関数その他の関数としても良い。さらには、図
１０に示すように、縦軸にレスポンス間隔をとり、横軸
にＨＴ電圧をとるとき、上限電圧ｈ′に相当する点ｃと
下限電圧ｌ′に相当する点ｄ間を階段状に結ぶように上
限電圧ｈ′と下限電圧ｌ′間に位置する各ＨＴ電圧に対
するレスポンスを決め、それに基づいて選択するように
しても良い。このように階段状にした場合には、レスポ
ンスの値が離散的になるため、ｈ，ｌを受け取ったなら
ばそれに対応するテーブルを作成し、実際のレスポンス
選択部１４における選択処理は、そのテーブルを参照し
て行っても良い。これにより、より高速な処理ができ
る。

【００４１】なお、本実施の形態ではデータの取り込み
時間間隔のカウントをデジタル処理で行うためレスポン
スとしたが、アナログ的に時定数によりデータの取り込
み時間間隔をカウントしても構わない。

【００４２】さらにまた、レスポンス選択部１４で決定
したレスポンスや、測定条件設定メモリ１３に記憶され
たデータは、上記したように演算部１２に与えられる
が、必要に応じて所定のデータ・情報が分光器本体１側
に与えられるのは言うまでもない。

【００４３】次に、上記分光光度計１の作用について説
明する。試料を分光器本体１にセットし、波長を逐次変
えながら試料に所定の光を照射し、その透過光を光検出
器（光電子増倍管）２で検出する。この検出した検出信
号を信号処理部１０を介して演算部１２に与え、そこに
おいて測定条件（レスポンス）に応じた演算処理を行
い、ＣＤ信号を算出しモニタ４に出力する。

【００４４】このとき、検出器駆動制御部１１から出力
されるＨＴ電圧を取得し、ＨＴ電圧、つまり測定波長に
対する試料の吸光度に応じたレスポンスに設定する。こ
れにより、図１１に示すような測定結果が得られる。

【００４５】すなわち、図１１は、本実施の形態による
試料の測定結果の一例を試料の光吸収特性を添えて示し
てある。図１１（ａ）に、偏光特性のほとんどない試料
の光吸収量を波長ごとに示した。そして、図１１（ｂ）
に、この試料をオートレスポンス処理で測定した測定結
果Ｌ１と、レスポンスを０．２５秒に固定して測定した
測定結果Ｌ２を示した。

【００４６】図から明らかなように、本実施の形態のよ
うに試料の光の吸収具合によってレスポンスを０．２５
〜１６秒の間で変化させながら測定した場合、試料の光
吸収が特に強く起こる３００ｎｍ附近における測定結果
のノイズの混入が低減されているのがわかる。

【００４７】以下、本発明に係る分光光度計の第２の実
施の形態を説明する。本実施の形態と第１の実施の形態
の異なる点は試料部に照射した光の透過光を測定する測
定系のみである。そこで、第１の実施の形態と共通する
部材に関しては同一符号を付しそれらの部材の説明は省
略する。

【００４８】図１２は、係る分光光度計の信号処理装置
３′を示している。同図に示すように、光検出器である
光電子増倍管２の出力が信号処理部１０に入力され、こ
の信号に基づき、信号処理部１０は検出器駆動制御部１
１を操作して光電子増倍管２に対してフィードバック制
御する構成部分は第１の実施の形態と同一である。さら
に、信号処理部１０の出力に基づき演算部１２′が演算
処理し、試料の偏光性をＣＤ信号としてモニタに出力す
る構成も同一である。

【００４９】ここで本実施の形態では、演算部１２′で
求めたＣＤ信号をモニタに出力表示する際のフルスケー
ルを切り替えることができるようにしている。すなわ
ち、本形態においても、キーボード等の入力装置５から
与えられる測定条件は、測定条件設定メモリ１３′に記
憶保持され、その記憶された測定条件が、演算部１２′
に与えられる。ここでいう設定条件は、第１の実施の形
態と基本的に同じである。但し、本形態では、一回の測
定ではレスポンスは同一のものを用いたため、測定条件
の設定画面は、図８に示すものを基本とし、レスポンス
の入力ボックスを１つにしたものにより実現できる。ま
た、オートレスポンス機能がなくなることから、走査モ
ードもオートレスポンスに関するものは当然なくなる。
もちろん、必要な測定条件は、分光器本体１にも与えら
れる。

【００５０】そして、演算部１２′では、測定条件設定
メモリ１３′に格納された条件にしたがって、信号処理
部１０から与えられた検出信号に基づいて所定の演算処
理をすることで試料の偏光性を円二色性信号（ＣＤ信
号）として求める。そして、その算出結果を出力装置た
るモニタ４に出力表示すべく、演算結果を出力する。

【００５１】ここで、本形態では、演算部１２′で求め
らたれＣＤ信号は、モニタ出力部１５に与えられ、そこ
において設定されたフルスケールのグラフ上の所望の位
置に出力表示するように調整され、モニタ４上に所定の
レイアウトで出力表示される。なお、第１の実施の形態
では、出力表示する部分は要部ではないため演算部１２
の出力をそのまま出力装置４に接続するように描画した
が、実際には、第２の実施の形態のようにモニタ出力部
が設けられる。

【００５２】そして、求められたＣＤ信号は、上記モニ
タ出力部１５とともに、モニタ制御部１６にも与えられ
る。このモニタ制御部１６は、モニタ出力部１５で出力
表示するグラフのフルスケールの値を設定するもので、
ＣＤ信号の大きさに応じてフルスケールを変更するよう
になっている。

【００５３】すなわち、ＣＤ信号が小さい場合には、フ
ルスケールも小さい値にして、出力の変化等がわかるよ
うにし、ＣＤ信号が大きい場合には、フルスケールも大
きい値にして振り切れることがないようにする。

【００５４】具体的には、フルスケールの各値として、
±１→２→５→１０→１００→２００→１０００ｍｄｅ
ｇを保持している。そして、与えられたＣＤ信号の大き
さが、現在のフルスケールの値を超えた場合には、一つ
上のフルスケールに設定しなおす。また、ＣＤ信号が減
少してきた場合でも、一旦拡大された表示域は測定され
る光の吸収量が減ってきても縮小されることはない。さ
らに、測定が開始されるとモニタ制御部１５ではモニタ
４に表示できるフルスケールのうち、最小の設定値（上
記の例では±１ｍｄｅｇ）を選択するようになる。

【００５５】また、切り替えのタイミングとしては、フ
ルスケールに達した時でも良いし、たとえばフルスケー
ルの９０％などというようにフルスケールに近づいた時
とするなど、各種のものを採り得る。

【００５６】上記のように構成すると、測定を行いなが
ら常にモニタ（出力装置）４に表示される測定結果を最
適なフルスケールで表示できるようになり、測定結果が
見やすくなる。そして、具体的な測定結果の一例を示す
と、図１３，図１４のようになる。

【００５７】図１３，図１４は、本実施の形態によって
ある試料の偏向特性をＣＤ信号の形でモニタ４に出力し
た様子を示し、図１３（ａ），（ｂ），図１４（ａ），
（ｂ）にかけてこの順で測定は進んでいるものとする。

【００５８】まず、図１３（ａ）に示すように、測定開
始当初におけるモニタ４へ表示される測定結果は縦軸を
ＣＤ信号の強度（ｍｄｅｇ）とし、横軸に波長（ｎｍ）
をとるグラフとして表されていて、そのグラフのフルス
ケールは縦軸±１ｍｄｅｇ，横軸２００〜３５０ｎｍと
なっている。図１３（ｂ）に示すように、測定が進むに
つれて試料の光の吸収が１ｍｄｅｇを超えると、モニタ
４のフルスケールは変更されて、縦軸の表示域が±２０
ｍｄｅｇまで広がる。なお、図１４（ａ）に示すよう
に、一旦拡大された表示域は測定される光の吸収量が減
ってきても縮小されることはない。

【００５９】さらに、図１４（ｂ）に示すように、本実
施の形態では測定が終了するまで縦軸の表示域はその測
定されるＣＤ信号を超える度に広げられる。同図に示す
ように、上記の測定では最終的に縦軸の表示スケールが
±３０ｍｄｅｇまで広げられている。なお、上記の測定
においては、モニタ４のフルスケールの変更は縦軸のみ
の変更になっているが、横軸に対しても測定中にスケー
ル設定が変更されるようになっていても構わない。

【００６０】また、上記の測定では、フルスケール表示
の切り換えを、±１→２０→３０ｍｄｅｇとしたが、こ
れはあくまで一例である。例えば、測定前に行う測定条
件設定メモリ１３′に登録するフルスケール表示の登録
が±１→２→５→１０→１００→２００→１０００ｍｄ
ｅｇとしてあったとしても、モニタ制御部１６はモニタ
出力部１５に上記フルスケールの登録値をこの順番どお
りに表示スケールの拡大をしていく必要はない。

【００６１】つまり、演算部１２′からモニタ制御部１
６に出力されるＣＤ信号の変化が急な場合には、モニタ
４のフルスケールを上記したような登録値から間欠的に
その登録値を用いるようにしても良い。具体的には上記
のように±１→２→５→１０→１００→２００→１００
０ｍｄｅｇの設定値が登録されていたとすると、実際に
モニタ４のフルスケールの変更が±１→５→１００→１
０００ｍｄｅｇの順に切り換えられても構わない。

【００６２】また、上記した実施の形態では、予め使用
する各フルスケールの値をモニタ制御部１６に登録して
いたが、このフルスケールの値も入力装置５を介して条
件設定メモリ１３′に記憶させ、それに基づいてモニタ
制御部１６で使用するフルスケールを決定するようにし
てもよい。

【００６３】図１５は、本発明に係る分光光度計の第３
の実施の形態の要部を示している。同図に示すように、
本実施の形態では、上記した第１の実施の形態と第２の
実施の形態の２つの機能を持たせている。すなわち、入
力装置５を用いて、複数のレスポンスを含めた測定条件
を入力する。そして、実際の測定に際しては、ＨＴ電圧
に応じてレスポンスを変化させることにより、演算部１
２″では、高精度な測定が実行され、求められたＣＤ信
号が出力される。

【００６４】一方、その求められたＣＤ信号は、モニタ
出力部１５を介してモニタ４に出力表示される。このと
き、モニタ制御部１６からの制御信号に基づき、ＣＤ信
号の増加に対応してフルスケールが切り替わるようにな
る。

【００６５】上記した各実施の形態では、いずれもデー
タの取込間隔（サンプリングタイム）は、一定であっ
た。しかし、例えば図１３（ａ）のように測定開始当初
は、検出信号の変化が小さく、ある時期から急激に変化
し始めることが有る。係る場合、変化があまりないの
に、短い間隔でデータを取得すると、無用な演算処理が
多くなり、負荷が大きくなる。一方、取込間隔を長くす
ると、急な変化に対応できない。

【００６６】そこで、本形態では、１回の測定中におい
てデータの取込間隔を変えることができるようにした。
すなわち、図１６に示すような入力画面を用意する。そ
して、時間変化測定画面中のデータ取り込み間隔入力ボ
ックスｂ３の設定をプルダウンメニューにより「タイム
テーブル」を選択する。すると、図１６に示すように、
タイムテーブルボックスが開くので、同図に示すように
所定の形式にのっとってデータ取り込み間隔を設定し、
記憶する。

【００６７】このように、演算部１２がどれくらいの時
間間隔で試料を測定していくかをタイムテーブル用メモ
リにて設定することで、効率よく測定でき、全体として
短時間でかつ高精度な測定が可能となる。なお、本形態
のブロック図としては、上記した各実施の形態のブロッ
ク図と等価となり、入力装置５を介して入力するデー
タ、つまり、条件設定メモリに記録される情報並びにそ
れに基づく処理（データの取得間隔）が異なる。換言す
れば、上記したいずれの実施の形態にも適用できる。

【００６８】

【発明の効果】以上のように、本発明に係る分光光度計
では、請求項１の構成により、測定時間を必要以上に長
くせずにレスポンスを最適化しつつ、その測定結果に混
入するノイズの影響を抑えられることから、測定結果が
見やすくなる。

【００６９】そして、請求項２の構成により、出力光の
強度が測定しやすくなることから、レスポンスの最適化
がより上手くできるようになるので測定結果が見やすく
なる。

【００７０】さらに、請求項３のように構成すると、上
記の構成の効果が顕著に現れる。

【００７１】円二色性信号は、特に試料の偏光性が少な
い波長部分の測定結果にノイズが入り込みやすいため、
測定結果が見やすくなる。

【００７２】上記の構成とは別に、請求項４のように構
成することによっても、特にリアルタイムでモニタ等に
測定結果をグラフ表示する場合において、その結果の全
体像が把握しやすくなるので測定結果が見やすくなる。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の分光光度計における測定データの処理方
法を説明するための図である。

【図２】従来の分光光度計における測定データの処理方
法を説明するための図である。

【図３】（ａ）は、ある試料の光吸収特性を示した図で
ある。（ｂ）は、従来の分光光度計における測定結果の
一例を示した図である。

【図４】従来の分光光度計における課題を説明するため
の図である。

【図５】従来の分光光度計における課題を説明するため
の図である。

【図６】本発明に係る分光光度計の第１の実施の形態を
示す図である。

【図７】本発明に係る分光光度計の第１の実施の形態の
要部の回路構成を示す図である。

【図８】本発明に係る分光光度計の第１の実施の形態の
操作方法を説明するための図である。

【図９】本発明に係る分光光度計の第１の実施の形態に
おけるレスポンスの切替処理方法を説明するための図で
ある。

【図１０】本発明に係る分光光度計の第１の実施の形態
における別のレスポンス切替処理方法を説明するための
図である。

【図１１】（ａ）は、ある試料の光吸収特性を示した図
である。（ｂ）は、本発明に係る分光光度計の第１の実
施の形態の測定結果の一例を示した図である。

【図１２】本発明に係る分光光度計の第２の実施の形態
の要部の回路構成を示す図である。

【図１３】（ａ），（ｂ）は、本発明に係る分光光度計
の第２の実施の形態による測定結果を示した図である。

【図１４】（ａ），（ｂ）は、本発明に係る分光光度計
の第２の実施の形態による測定結果を示した図である。

【図１５】本発明に係る分光光度計の第３の実施の形態
の要部の回路構成を示す図である。

【図１６】本発明に係る分光光度計の変形例を説明する
ための図である。

【図１７】本発明に係る分光光度計の変形例を説明する
ための図である。

【符号の説明】

１分光器本体２光検出器３信号処理装置４出力装置，モニタ（表示手段）５入力装置１０信号処理部１１検出器駆動制御部（光量測定手段）１４レスポンス選択部（選択手段）１３，１３′ 測定条件設定メモリ１２，１２′，１２″ 演算部（測定手段）１５モニタ出力部（出力手段）１６モニタ制御部（スケール選択手段）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者池端薫東京都八王子市石川町2967番地の５日本分光株式会社内Ｆターム(参考） 2G020 CD03 CD23 CD32 CD33 CD51 2G059 AA01 EE01 EE12 FF01 KK02 KK03 MM03 MM18 NN10

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光源の光を試料部に入力し、前記試料部
から出力される出力光を予め決められた間隔ごとに測定
手段で測定する分光光度計において、複数個の前記間隔と、前記間隔を設定する設定手段と、前記出力光の光量を測定する光量測定手段と、測定中に前記光量測定手段の出力に応じて前記複数個の
間隔の中からいずれか１つの間隔を選択する選択手段を
備えたことを特徴とする分光光度計。
【請求項２】前記測定手段は、光電子増倍管を備え、
前記光量測定手段は、測定する前記出力光の光量を、光
電子増倍管に対する制御電圧を基に測定することを特徴
とする請求項１に記載の分光光度計。
【請求項３】前記試料部中の試料の円二色性を前記測
定手段で測定できるようにしたことを特徴とする請求項
１または請求項２に記載の分光光度計。
【請求項４】光源の光を試料部に入力し、その試料部
から出力される出力光を測定手段で測定し、その測定し
た測定結果を表示手段へ出力表示する分光光度計におい
て、前記表示手段に表示するフルスケールを複数有し、前記測定手段で求めた測定結果の大きさに応じて使用す
るフルスケールを選択するスケール選択手段と、その選択手段で選択されたフルスケールで表示されるよ
うに前記表示手段に向けて出力する出力手段とを備えた
ことを特徴とする分光光度計。