JPH10318913A - 反射率測定装置 - Google Patents
反射率測定装置Info
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- JPH10318913A JPH10318913A JP10130539A JP13053998A JPH10318913A JP H10318913 A JPH10318913 A JP H10318913A JP 10130539 A JP10130539 A JP 10130539A JP 13053998 A JP13053998 A JP 13053998A JP H10318913 A JPH10318913 A JP H10318913A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/50—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
- G01J3/51—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors using colour filters
-
- G—PHYSICS
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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- G01J3/46—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
- G01J3/52—Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using colour charts
- G01J3/524—Calibration of colorimeters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
-
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- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ユーザーにとって、より簡単で信頼できるや
り方で測定装置の校正および検査を行えるように測定装
置を改良すること。 【解決手段】 手持ち式装置として設計された測定装置
であって、ハウジング１と、該ハウジング１内に移動可
能に配設され、検査対象物に光を照射しその検査対象物
により反射される光を集光するようにした光測定ヘッド
２と、集光した光を電気信号に変換する光電変換装置４
と、前記電気信号を処理し、装置を制御するコンピュー
ター５と、前記電気信号の処理から得られた測定値を表
示する表示装置６と、装置機能を制御するコンピュータ
ー５と協働する操作部材７とを備える。
り方で測定装置の校正および検査を行えるように測定装
置を改良すること。 【解決手段】 手持ち式装置として設計された測定装置
であって、ハウジング１と、該ハウジング１内に移動可
能に配設され、検査対象物に光を照射しその検査対象物
により反射される光を集光するようにした光測定ヘッド
２と、集光した光を電気信号に変換する光電変換装置４
と、前記電気信号を処理し、装置を制御するコンピュー
ター５と、前記電気信号の処理から得られた測定値を表
示する表示装置６と、装置機能を制御するコンピュータ
ー５と協働する操作部材７とを備える。
Description
【０００１】発明の背景発明の分野 本発明は、検査対象物の光の反射率値および／またはそ
の反射率値から得られる測定値を測定する測定装置、さ
らに詳しくは、分光光度計に関する。当該技術の水準 本発明のような分光光度計等の測定装置は、米国特許第
４９６８１４０号、第４９６１６４６号、および第４９
２９０８４号（欧州特許公報番号ＥＰ−Ｂ−０３２８４
８３、ＥＰ−Ｂ−０３３１６２９、およびＥＰ−Ｂ−０
３２７４９９に対応）に記載されている。これらコンピ
ューター制御の測定装置は、手持ち式装置として具現化
されており、測定時ハウジングから伸延し、測定後ハウ
ジングに格納される可動式の測定ヘッドを備えている。
の反射率値から得られる測定値を測定する測定装置、さ
らに詳しくは、分光光度計に関する。当該技術の水準 本発明のような分光光度計等の測定装置は、米国特許第
４９６８１４０号、第４９６１６４６号、および第４９
２９０８４号（欧州特許公報番号ＥＰ−Ｂ−０３２８４
８３、ＥＰ−Ｂ−０３３１６２９、およびＥＰ−Ｂ−０
３２７４９９に対応）に記載されている。これらコンピ
ューター制御の測定装置は、手持ち式装置として具現化
されており、測定時ハウジングから伸延し、測定後ハウ
ジングに格納される可動式の測定ヘッドを備えている。
【０００２】多くの測定装置と同様、本発明の具体例に
係る測定装置も、定期的に校正をしたり、測定結果の信
頼性を確認する場合に、装置のスペクトルの校正に関し
チェックを行う必要がある。このような校正やチェック
は、測定装置とは別の構成部品として設けられる各測定
装置に対応した専用の校正検査対象物（校正標準）を測
定することにより行われる。そして、そのような測定値
を、記憶されている対応の基準値に対しコンピューター
で評価して、チェックすべき測定装置の特性についての
表示を出したり、また、測定装置にそのような機能を装
備している場合には、自動的に校正が行われるようにし
ている。
係る測定装置も、定期的に校正をしたり、測定結果の信
頼性を確認する場合に、装置のスペクトルの校正に関し
チェックを行う必要がある。このような校正やチェック
は、測定装置とは別の構成部品として設けられる各測定
装置に対応した専用の校正検査対象物（校正標準）を測
定することにより行われる。そして、そのような測定値
を、記憶されている対応の基準値に対しコンピューター
で評価して、チェックすべき測定装置の特性についての
表示を出したり、また、測定装置にそのような機能を装
備している場合には、自動的に校正が行われるようにし
ている。
【０００３】このような校正およびチェック工程には、
格別の注意と一定の規則正しさが必要である。すなわ
ち、所定の期間内に行う必要があり、また、校正検査対
象物に対する測定装置の位置決め、すなわち、測定ヘッ
ドの位置決めを正確に行って、測定結果に悪影響のない
ようにしなければならない。 発明の概要 本発明の目的は、ユーザーにとって、より簡単で信頼で
きるやり方で測定装置の校正および検査を行えるように
測定装置を改良することにある。特に、ユーザーが校正
および検査について関与することのないようにするこ
と、すなわち、全工程を装置で自動的に行えるようにす
ることを目的とする。
格別の注意と一定の規則正しさが必要である。すなわ
ち、所定の期間内に行う必要があり、また、校正検査対
象物に対する測定装置の位置決め、すなわち、測定ヘッ
ドの位置決めを正確に行って、測定結果に悪影響のない
ようにしなければならない。 発明の概要 本発明の目的は、ユーザーにとって、より簡単で信頼で
きるやり方で測定装置の校正および検査を行えるように
測定装置を改良することにある。特に、ユーザーが校正
および検査について関与することのないようにするこ
と、すなわち、全工程を装置で自動的に行えるようにす
ることを目的とする。
【０００４】本発明に係る装置は、装置内に常置され且
つ測定ヘッドで始動可能な少なくとも１つの校正検査対
象物を含む。校正検査対象物は、例えば、測定ヘッド内
の休止位置に配設することができる。斯く構成すること
により、校正検査対象物を所定のプログラムに従って自
動的に測定し、そして各校正・チェック作用を行うこと
が可能である。また、常に正確で安定した測定を行え、
しかも常時使用可能である。また、校正検査対象物は、
いつでも使用することができ、しかも、校正検査対象物
を別体としている従来の測定装置でよく起きるような、
他の測定装置の一部である他の類似検査対象物と混同す
るようなこと、がない。
つ測定ヘッドで始動可能な少なくとも１つの校正検査対
象物を含む。校正検査対象物は、例えば、測定ヘッド内
の休止位置に配設することができる。斯く構成すること
により、校正検査対象物を所定のプログラムに従って自
動的に測定し、そして各校正・チェック作用を行うこと
が可能である。また、常に正確で安定した測定を行え、
しかも常時使用可能である。また、校正検査対象物は、
いつでも使用することができ、しかも、校正検査対象物
を別体としている従来の測定装置でよく起きるような、
他の測定装置の一部である他の類似検査対象物と混同す
るようなこと、がない。
【０００５】本発明を添付の図面に基づいてさらに詳細
に説明する。 好適実施例の詳細な説明 図１に示した測定装置は、手持ち式にした測定装置であ
り、装置の機能上の要素を全て装備したほぼ立方体のハ
ウジング１を備えている。なお、前記要素中には、可動
測定ヘッド２、該測定ヘッド２を移動させる駆動装置
３、光電変換装置４、コンピューター５、表示装置６、
およびキーボード７からなる操作体とが含まれる。前記
ハウジング１は、検査対象物Ｏ上に測定装置を位置決め
させるのに用いる照準装置８をさらに備えている。ま
た、前記測定装置２の下方には、前記測定ヘッド２とと
もに移動可能な、フィルターホイール９が設けられてい
て、該フィルターホイールを介し、いくつかの異なるフ
ィルター９ａを測定光線経路内に選択的に案内するよう
にしている。
に説明する。 好適実施例の詳細な説明 図１に示した測定装置は、手持ち式にした測定装置であ
り、装置の機能上の要素を全て装備したほぼ立方体のハ
ウジング１を備えている。なお、前記要素中には、可動
測定ヘッド２、該測定ヘッド２を移動させる駆動装置
３、光電変換装置４、コンピューター５、表示装置６、
およびキーボード７からなる操作体とが含まれる。前記
ハウジング１は、検査対象物Ｏ上に測定装置を位置決め
させるのに用いる照準装置８をさらに備えている。ま
た、前記測定装置２の下方には、前記測定ヘッド２とと
もに移動可能な、フィルターホイール９が設けられてい
て、該フィルターホイールを介し、いくつかの異なるフ
ィルター９ａを測定光線経路内に選択的に案内するよう
にしている。
【０００６】測定ヘッド２は、通常、前記ハウジング１
内の休止位置Ｐ0 に位置している。例えば適宜の操作体
を作動させて測定工程を始動させると、測定ヘッド２
は、駆動装置３を介してハウジング１から伸延して測定
位置ＰM に位置する。この測定位置では、測定ヘッド２
は照準装置８の真上に位置する。測定工程の終了時、測
定ヘッド２は、ハウジング１内部の休止位置Ｐ0 に格納
される。前記変換装置４は、測定ヘッド２とともにキャ
リッジ（図示せず）上に配設しており、測定ヘッドとと
もに移動するようにしている。
内の休止位置Ｐ0 に位置している。例えば適宜の操作体
を作動させて測定工程を始動させると、測定ヘッド２
は、駆動装置３を介してハウジング１から伸延して測定
位置ＰM に位置する。この測定位置では、測定ヘッド２
は照準装置８の真上に位置する。測定工程の終了時、測
定ヘッド２は、ハウジング１内部の休止位置Ｐ0 に格納
される。前記変換装置４は、測定ヘッド２とともにキャ
リッジ（図示せず）上に配設しており、測定ヘッドとと
もに移動するようにしている。
【０００７】測定工程では、測定ヘッド２は、該測定ヘ
ッド２の下、すなわち、照準装置８の下、に位置する検
査対象物（図２）に作用して、測定ヘッドに配置した光
源から標準角度範囲内で測定光を照射し、そして検査対
象物から反射する光を標準角度範囲内で集めて、それを
変換装置４に通すようにする。この工程では、前記フィ
ルターホイール９におけるフィルター９ａの１つを位置
決めすることにより選択されるタイプの測定方法で行わ
れるやり方で、測定光および集光した反射光の分光組成
に影響を与えることが可能である。場合によっては、フ
ィルター９ａを、照射光線路内、或は、集光光線路内の
みに位置決めさせてもよい。この場合、測定光または反
射光だけが影響を受けることになる。集光された光は、
変換装置４で分光光度上の分析を受ける、すなわち、例
えば、可視波長域（３８０―７３０ｎｍ）において略１
０ｎｍ幅をもつ３６の波長域内で各反射率を測定して、
対応した電気信号に変換する。次いで、それら信号をコ
ンピューター５に送って処理し、ＣＩＥに基づく色座標
等の各測定に対する関係測定値をもとめる。そして、そ
れら測定値を表示装置上に出力する。なお、本装置の測
定機能および機械的シーケンスは全てコンピューター５
によって制御される。
ッド２の下、すなわち、照準装置８の下、に位置する検
査対象物（図２）に作用して、測定ヘッドに配置した光
源から標準角度範囲内で測定光を照射し、そして検査対
象物から反射する光を標準角度範囲内で集めて、それを
変換装置４に通すようにする。この工程では、前記フィ
ルターホイール９におけるフィルター９ａの１つを位置
決めすることにより選択されるタイプの測定方法で行わ
れるやり方で、測定光および集光した反射光の分光組成
に影響を与えることが可能である。場合によっては、フ
ィルター９ａを、照射光線路内、或は、集光光線路内の
みに位置決めさせてもよい。この場合、測定光または反
射光だけが影響を受けることになる。集光された光は、
変換装置４で分光光度上の分析を受ける、すなわち、例
えば、可視波長域（３８０―７３０ｎｍ）において略１
０ｎｍ幅をもつ３６の波長域内で各反射率を測定して、
対応した電気信号に変換する。次いで、それら信号をコ
ンピューター５に送って処理し、ＣＩＥに基づく色座標
等の各測定に対する関係測定値をもとめる。そして、そ
れら測定値を表示装置上に出力する。なお、本装置の測
定機能および機械的シーケンスは全てコンピューター５
によって制御される。
【０００８】このあたりまでは、図示した本測定装置
は、最初に記述した米国特許第４９６８１４０号、第４
９６１６４６号および第４２９２０８４号に開示されて
いる手持ち式分光光度計と構造および機能が完全に対応
しており、当業者にはこれ以上の詳細な説明は要らない
であろう。本願ではこれらの特許の主題を参考として取
り上げている。
は、最初に記述した米国特許第４９６８１４０号、第４
９６１６４６号および第４２９２０８４号に開示されて
いる手持ち式分光光度計と構造および機能が完全に対応
しており、当業者にはこれ以上の詳細な説明は要らない
であろう。本願ではこれらの特許の主題を参考として取
り上げている。
【０００９】本発明の具体例に係る測定装置は、１０、
１１、１２、１３で示した一連の内部校正検査対象物を
備えており、これら校正検査対象物をＰ0 、Ｐ1 、
Ｐ2 、Ｐ 3 で示したハウジング内の各適宜の校正測定位
置に配設している。なお、図示した具体例では、これら
校正測定位置の１つを測定ヘッドの休止位置とすること
もできるが、必ずしもそのようにする必要はない。コン
ピューター５によって制御される駆動装置３は、測定ヘ
ッド２を校正測定位置Ｐ0 、Ｐ1 、Ｐ2 、Ｐ3 の各々の
位置に選択的に位置させたり変位させたりすることがで
きる。同時に、コンピューター５は、これらのＰ0 、Ｐ
1 、Ｐ2 、Ｐ3 の各々の校正測定位置において、測定位
置ＰM の場合と同様、始動し測定操作をするようプログ
ラムされている。また、各校正検査対象物１０乃至１３
は、ハウジング１内に配設されており、校正測定位置に
位置する測定ヘッドに対して、該測定ヘッドが測定位置
ＰM に位置するときの検査対象物Ｏと同じ位置をとるよ
うな配設としている。
１１、１２、１３で示した一連の内部校正検査対象物を
備えており、これら校正検査対象物をＰ0 、Ｐ1 、
Ｐ2 、Ｐ 3 で示したハウジング内の各適宜の校正測定位
置に配設している。なお、図示した具体例では、これら
校正測定位置の１つを測定ヘッドの休止位置とすること
もできるが、必ずしもそのようにする必要はない。コン
ピューター５によって制御される駆動装置３は、測定ヘ
ッド２を校正測定位置Ｐ0 、Ｐ1 、Ｐ2 、Ｐ3 の各々の
位置に選択的に位置させたり変位させたりすることがで
きる。同時に、コンピューター５は、これらのＰ0 、Ｐ
1 、Ｐ2 、Ｐ3 の各々の校正測定位置において、測定位
置ＰM の場合と同様、始動し測定操作をするようプログ
ラムされている。また、各校正検査対象物１０乃至１３
は、ハウジング１内に配設されており、校正測定位置に
位置する測定ヘッドに対して、該測定ヘッドが測定位置
ＰM に位置するときの検査対象物Ｏと同じ位置をとるよ
うな配設としている。
【００１０】本発明の具体例では、当該装置のハウジン
グ１内に配設している内部校正検査対象物１０、１１、
１２、１３は、使用目的によっては、別異の基準対象物
としてもよい。絶対白色の校正には白色標準が必要であ
るが、スペクトルの校正のチェックには異なる有色標準
が用いられる。また、濃度計の検査タイルを校正検査対
象物として用いることも可能である。また、本発明では
ハウジング内に組み込んだ校正検査対象物により、様々
な校正および検査工程に必要な校正検査対象物の測定
を、時間制御、事象制御、あるいはユーザー制御、に基
づいたやり方で自動的に行うことができる。
グ１内に配設している内部校正検査対象物１０、１１、
１２、１３は、使用目的によっては、別異の基準対象物
としてもよい。絶対白色の校正には白色標準が必要であ
るが、スペクトルの校正のチェックには異なる有色標準
が用いられる。また、濃度計の検査タイルを校正検査対
象物として用いることも可能である。また、本発明では
ハウジング内に組み込んだ校正検査対象物により、様々
な校正および検査工程に必要な校正検査対象物の測定
を、時間制御、事象制御、あるいはユーザー制御、に基
づいたやり方で自動的に行うことができる。
【００１１】測定装置の絶対白色の校正値に対する白色
標準が校正位置Ｐ0 でもある休止位置に位置し、残りの
校正位置Ｐ1 乃至Ｐ3 に１１から１３までの１つの色標
準が位置している状態で、測定装置のスペクトル校正を
チェックすると仮定する。もし、絶対白色の校正値だけ
のチェックが必要な場合、すなわち、スペクトルの校正
の検査だけが必要な場合は、不要な校正検査対象物を除
いてもよい。また、個々の校正検査対象物１０乃至１３
の校正測定位置Ｐ0 乃至Ｐ3 における配置を別異の配置
にすることも勿論可能である。さらには、他の校正測定
対象物を配して種類の異なる検査を行うことも可能であ
る。
標準が校正位置Ｐ0 でもある休止位置に位置し、残りの
校正位置Ｐ1 乃至Ｐ3 に１１から１３までの１つの色標
準が位置している状態で、測定装置のスペクトル校正を
チェックすると仮定する。もし、絶対白色の校正値だけ
のチェックが必要な場合、すなわち、スペクトルの校正
の検査だけが必要な場合は、不要な校正検査対象物を除
いてもよい。また、個々の校正検査対象物１０乃至１３
の校正測定位置Ｐ0 乃至Ｐ3 における配置を別異の配置
にすることも勿論可能である。さらには、他の校正測定
対象物を配して種類の異なる検査を行うことも可能であ
る。
【００１２】コンピューターのプログラムを適宜なもの
にすることにより、各測定工程の直前でコンピューター
５で例えば絶対白色の校正を自動的に行うようにしても
よい。また、測定ヘッド内の光源の不安定性を修正し
て、測定値を安定的にすることも可能である。また、仮
にユーザーが例えば測定工程を手動で始動させても、最
初測定ヘッドは、白色標準１０の上方の休止位置Ｐ0 に
位置したままの状態である。コンピューター５によっ
て、先ず、白色標準１０の測定と絶対白色の自動校正が
行われる。その後、測定ヘッド２が測定位置ＰM に伸延
して、検査対象物Ｏの測定が行われる。次いで、測定ヘ
ッドが休止位置Ｐ0 に戻り、測定結果が計算されて表示
される。
にすることにより、各測定工程の直前でコンピューター
５で例えば絶対白色の校正を自動的に行うようにしても
よい。また、測定ヘッド内の光源の不安定性を修正し
て、測定値を安定的にすることも可能である。また、仮
にユーザーが例えば測定工程を手動で始動させても、最
初測定ヘッドは、白色標準１０の上方の休止位置Ｐ0 に
位置したままの状態である。コンピューター５によっ
て、先ず、白色標準１０の測定と絶対白色の自動校正が
行われる。その後、測定ヘッド２が測定位置ＰM に伸延
して、検査対象物Ｏの測定が行われる。次いで、測定ヘ
ッドが休止位置Ｐ0 に戻り、測定結果が計算されて表示
される。
【００１３】絶対白色の校正を行う場合、白色標準１０
を測定し、また、装置の自動校正を行う場合は、この過
程で得られる校正測定値をコンピューター５に記憶され
ている基準値とともに用いて従来通りのやり方で行う。
なお、上記したように、自動校正は、従来の方法で行わ
れる。絶対白色の校正を行う場合の白色標準の測定も、
前記フィルターホイール９のフィルター９ａの１つ以上
を用いて行うことができる。もし装置の正しい設定が例
えばデリバリーの前や直後に行われた場合には、それに
よって得られた校正測定結果も、上記した通り今後の基
準測定値としてコンピューターに記憶させることができ
るようにしており、この目的のため、本測定装置には、
対応の操作モードが装備されている。
を測定し、また、装置の自動校正を行う場合は、この過
程で得られる校正測定値をコンピューター５に記憶され
ている基準値とともに用いて従来通りのやり方で行う。
なお、上記したように、自動校正は、従来の方法で行わ
れる。絶対白色の校正を行う場合の白色標準の測定も、
前記フィルターホイール９のフィルター９ａの１つ以上
を用いて行うことができる。もし装置の正しい設定が例
えばデリバリーの前や直後に行われた場合には、それに
よって得られた校正測定結果も、上記した通り今後の基
準測定値としてコンピューターに記憶させることができ
るようにしており、この目的のため、本測定装置には、
対応の操作モードが装備されている。
【００１４】また、スペクトルの校正、つまり、測定装
置の設定の正しさとその信頼性、をチェックする場合の
１つの選択肢は、例えば、フィルターホイール９に設け
られた所謂バンドグラスにより白色標準１０を測定する
ことである。なお、好ましいバンドグラスとしては、例
えば、Ｓｃｈｏｔｔ社製のＢＧ３６型があげられる。こ
の測定過程において、白色標準のスペクトル反射率を校
正測定値として求め、それを記憶されている対応の基準
測定値と比較する。偏差値を品質判断基準とし、この基
準値を、例えば、測定した校正測定値と記憶されている
基準測定値との差の二乗和の平方根として計算する。そ
して、偏差値が所定の公差しきい値以上である場合は、
コンピューター５がそのことを表示装置６によって警告
等の適当な方法で表示する。なお、警告は、この種の最
新計測装置で通常行われるように、インターフェースを
介して外部コンピューターに送るようにすることもでき
る。
置の設定の正しさとその信頼性、をチェックする場合の
１つの選択肢は、例えば、フィルターホイール９に設け
られた所謂バンドグラスにより白色標準１０を測定する
ことである。なお、好ましいバンドグラスとしては、例
えば、Ｓｃｈｏｔｔ社製のＢＧ３６型があげられる。こ
の測定過程において、白色標準のスペクトル反射率を校
正測定値として求め、それを記憶されている対応の基準
測定値と比較する。偏差値を品質判断基準とし、この基
準値を、例えば、測定した校正測定値と記憶されている
基準測定値との差の二乗和の平方根として計算する。そ
して、偏差値が所定の公差しきい値以上である場合は、
コンピューター５がそのことを表示装置６によって警告
等の適当な方法で表示する。なお、警告は、この種の最
新計測装置で通常行われるように、インターフェースを
介して外部コンピューターに送るようにすることもでき
る。
【００１５】本測定装置のスペクトル反射率は、１１乃
至１３の色標準でチェックすることも可能である。この
場合には、色標準をスペクトルで測定し、例えば校正測
定値としてのＣＩＥＬＡＢに基づいて、各々の色座標を
求める。そして、それらの色座標を、記憶されている各
色標準における適当な基準色座標と比較して各色差を求
める。このようにして求められた色差が１つでも所定の
公差しきい値以上である場合、コンピューター５は適宜
警告を発する。このようなチェックも、フィルターホイ
ール９の位置を変えること、すなわちフィルター９ａを
変えること、により行うことができる。なお、フィルタ
ー９ａは、このような測定工程でよく用いられる従来型
のフィルターであり、例えば、ＵＶ−カットフィルタ
ー、Ｄ６５フィルター、偏光フィルター等である。
至１３の色標準でチェックすることも可能である。この
場合には、色標準をスペクトルで測定し、例えば校正測
定値としてのＣＩＥＬＡＢに基づいて、各々の色座標を
求める。そして、それらの色座標を、記憶されている各
色標準における適当な基準色座標と比較して各色差を求
める。このようにして求められた色差が１つでも所定の
公差しきい値以上である場合、コンピューター５は適宜
警告を発する。このようなチェックも、フィルターホイ
ール９の位置を変えること、すなわちフィルター９ａを
変えること、により行うことができる。なお、フィルタ
ー９ａは、このような測定工程でよく用いられる従来型
のフィルターであり、例えば、ＵＶ−カットフィルタ
ー、Ｄ６５フィルター、偏光フィルター等である。
【００１６】また、濃度段階ウェッジ（ｇｒａｙｓｔａ
ｇｅｗｅｄｇｅ）を測定することによっても、本装置の
測定装置の線形性のチェックを行うことができ、例え
ば、１枚の黒色タイルと、２枚の灰色タイルと、１枚の
白色タイルとからなる校正検査対象物を用いて行うこと
ができる。すなわち、濃度段階ウェッジのタイル（校正
検査対象物）の１枚づつ（この場合は、４枚）につい
て、可視スペクトル域におけるスペクトル反射率を測定
して、記憶されている対応の基準値と比較対照する。下
記の式に基づいて各波長域ｊに対するＫｊ値を品質の測
定とする。
ｇｅｗｅｄｇｅ）を測定することによっても、本装置の
測定装置の線形性のチェックを行うことができ、例え
ば、１枚の黒色タイルと、２枚の灰色タイルと、１枚の
白色タイルとからなる校正検査対象物を用いて行うこと
ができる。すなわち、濃度段階ウェッジのタイル（校正
検査対象物）の１枚づつ（この場合は、４枚）につい
て、可視スペクトル域におけるスペクトル反射率を測定
して、記憶されている対応の基準値と比較対照する。下
記の式に基づいて各波長域ｊに対するＫｊ値を品質の測
定とする。
【００１７】
【数１】
【００１８】ただし、ＲＭｉｊおよびＲＳｉｊは、タイ
ルｉで測定されたスペクトル反射率値、すなわち、波長
ｊに対する記憶された対応の基準値とする。Ｋｊ値の１
つでも所定の公差限界以上である場合は、適宜の警告が
発せられる。上記したように、自動校正を時間制御や事
象制御によって行ってもよく、例えば、コンピューター
５のプログラムを、所定の時間間隔で或は所定の測定回
数後に、チェックや校正を行うことができる。
ルｉで測定されたスペクトル反射率値、すなわち、波長
ｊに対する記憶された対応の基準値とする。Ｋｊ値の１
つでも所定の公差限界以上である場合は、適宜の警告が
発せられる。上記したように、自動校正を時間制御や事
象制御によって行ってもよく、例えば、コンピューター
５のプログラムを、所定の時間間隔で或は所定の測定回
数後に、チェックや校正を行うことができる。
【００１９】本発明がその精神や要旨から逸脱すること
なく他の特定の形態に具現化できるものであることは、
当業者なら認識されることである。従って、ここに開示
した実施例は、あらゆる点で説明的なものであり限定的
なものではないと見なされる。本発明の範囲は、以上の
記述によってではなく、添付のクレームによって示され
ており、その趣旨および範囲内で行われる全ての変更お
よびその同等物は、本発明の範囲に包含されると解釈さ
れる。
なく他の特定の形態に具現化できるものであることは、
当業者なら認識されることである。従って、ここに開示
した実施例は、あらゆる点で説明的なものであり限定的
なものではないと見なされる。本発明の範囲は、以上の
記述によってではなく、添付のクレームによって示され
ており、その趣旨および範囲内で行われる全ての変更お
よびその同等物は、本発明の範囲に包含されると解釈さ
れる。
【図１】本発明の装置の一具体例を示す基本概念図であ
る。
る。
【図２】測定ヘッドが休止位置にある状態を示した、図
１の装置の模式図である。
１の装置の模式図である。
【図３】測定ヘッドが測定位置にある状態を示した、図
１の装置の模式図である。
１の装置の模式図である。
１ ハウジング ２ 光測定ヘッド ３ 駆動装置 ４ 光電変換装置 ５ コンピューター ６ 表示装置 ７ キーボード ８ 照準装置 ９ フィルターホイール ９ａ フィルター １０ 校正検査対象物 １１ 校正検査対象物 １２ 校正検査対象物 １３ 校正検査対象物
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 598062310 Ａｌｔｈａｒｄｓｔｒａｓｓｅ 70，8105 Ｒｅｇｅｎｓｄｏｒｆ，Ｓｗｉｔｚｅｒ ｌａｎｄ
Claims (15)
- 【請求項１】 光の反射率値を測定し且つ検査対象物の
光の反射率値と該反射率値から得られる測定値との少な
くとも一方を表示する装置であって、 ハウジングと、 前記ハウジング内に移動可能に配設され、前記検査対象
物に測定光を照射し該検査対象物による反射光を集光す
る、光測定ヘッドと、 前記光測定ヘッドにより集光された光を対応する電気信
号に変換する光電変換装置と、 前記装置を制御して前記電気信号を処理して一連の測定
値を得るようにしたコンピューターであって、一連の校
正測定値に対応する複数の基準値を記憶しているもの
と、 前記処理により得られた測定値を表示する表示装置と、 前記コンピューターに連動して前記装置の作用を制御し
て、測定工程の始動時、前記測定ヘッドをモーターによ
り休止位置から測定位置に移動させ且つ前記休止位置に
戻すようにした操作手段とを備えてなり、前記測定位置
が、校正検査対象物を配置させる少なくとも１つの校正
位置を含み、前記測定ヘッドを、前記コンピューターで
制御して前記校正検査対象物を測定して一連の校正測定
値を出すよう成す一方、前記コンピューターがその校正
測定値と前記記憶した基準値とを用いて前記装置の校正
を行うようにしたことを特徴とする装置。 - 【請求項２】 前記測定位置が、前記測定ヘッドを前記
モーターによる移動で位置させることができ且つ前記コ
ンピューターで制御することができる、少なくとも２つ
の校正位置と、これら校正位置の各々に配置される校正
検査対象物とからなり、前記コンピューターで、各検査
対象物に対して測定を行って校正測定値を出すととも
に、該コンピューターで、各検査対象物に対する前記校
正測定値と記憶された基準値とにより前記装置の校正を
行うようにしたことを特徴とする請求項１に記載の装
置。 - 【請求項３】 前記コンピューターは、ユーザーによる
制御、時間による制御および事象による制御の少なくと
も１つにより制御される始動手段によって、自動的に各
校正検査対象物の測定を行うようにしたことを特徴とす
る請求項２に記載の装置。 - 【請求項４】 前記校正検査対象物の少なくとも１つが
白色標準であることを特徴とする請求項２に記載の装
置。 - 【請求項５】 前記校正検査対象物の少なくとも１つが
有色標準であることを特徴とする請求項２に記載の装
置。 - 【請求項６】 複数の前記校正検査対象物同士を濃度段
階ウェッジとしたことを特徴とする請求項２に記載の装
置。 - 【請求項７】 前記測定ヘッドは、前記コンピューター
により制御される光学フィルターを少なくとも１つ備え
ており、該フィルターが、前記校正検査対象物の少なく
とも１つを測定するとき、照射経路と集光経路との少な
くとも一方の経路に選択的に挿入されるようにしたこと
を特徴とする請求項２に記載の装置。 - 【請求項８】 前記測定ヘッドは、前記コンピューター
により制御される少なくとも２つの異なる光学フィルタ
ーを備えており、該フィルターが、前記校正検査対象物
の少なくとも１つを測定するとき、照射経路と集光経路
との少なくとも一方の経路に選択的に挿入されるように
したことを特徴とする請求項２に記載の装置。 - 【請求項９】 前記フィルターがバンドグラスであるこ
とを特徴とする請求項７に記載の装置。 - 【請求項１０】 前記コンピューターが前記校正測定値
を前記基準値として記憶することを特徴とする請求項２
に記載の装置。 - 【請求項１１】 前記コンピューターが、前記校正測定
値を前記基準値と比較対照し、その比較対照結果を表示
することを特徴とする請求項２に記載の装置。 - 【請求項１２】 前記装置が、スペクトル色測定装置で
あることを特徴とする請求項２に記載の装置。 - 【請求項１３】 前記校正検査対象物の１つが、有色標
準であり、前記校正測定値および基準値が色座標であ
り、また前記基準値と測定値との比較参照結果が色差で
あることを特徴とする請求項１２に記載の装置。 - 【請求項１４】 前記校正検査対象物の１つが、白色標
準であり、前記校正測定値および基準値がスペクトル反
射率値であり、また、前記基準値と測定値との比較参照
結果が前記測定値と前記スペクトル反射率値との差の二
乗和の平方根であることを特徴とする請求項１２に記載
の装置。 - 【請求項１５】 複数の校正検査対象物同士を濃度段階
ウェッジとし、前記測定値および前記基準値がスペクト
ル反射率値であり、また、各々のスペクトル域について
の前記基準値と前記測定値との比較対照結果を品質測定
として、該品質測定を前記校正検査対象物でのスペクト
ル域内で測定された測定値と記憶された対応の基準値と
の差の二乗和の平方根としたことを特徴とする請求項１
２に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP971077805 | 1997-05-13 | ||
| EP97107780A EP0878704B1 (de) | 1997-05-13 | 1997-05-13 | Remissionsmessvorrichtung |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10318913A true JPH10318913A (ja) | 1998-12-04 |
Family
ID=8226790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10130539A Pending JPH10318913A (ja) | 1997-05-13 | 1998-05-13 | 反射率測定装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5982501A (ja) |
| EP (1) | EP0878704B1 (ja) |
| JP (1) | JPH10318913A (ja) |
| CA (1) | CA2231958A1 (ja) |
| DE (1) | DE59712476D1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017015516A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | ガスセンサ |
Families Citing this family (33)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6385552B1 (en) * | 1999-08-10 | 2002-05-07 | Tyco Telecommunications (Us) Inc. | Method for collecting test measurements |
| ATE274184T1 (de) | 1999-10-11 | 2004-09-15 | Gretag Macbeth Ag | Vorrichtung zur automatischen ausmessung von messfeldern |
| DE60134019D1 (de) | 2000-03-31 | 2008-06-26 | Cosmetic Technologies Llc | Vorrichtung zur ausgabe von personenbezogener kosmetik |
| US6597454B1 (en) * | 2000-05-12 | 2003-07-22 | X-Rite, Incorporated | Color measurement instrument capable of obtaining simultaneous polarized and nonpolarized data |
| JP4054853B2 (ja) * | 2000-10-17 | 2008-03-05 | 独立行政法人農業・食品産業技術総合研究機構 | 近赤外分光法を用いた血液分析法 |
| US8636173B2 (en) | 2001-06-01 | 2014-01-28 | Cosmetic Technologies, L.L.C. | Point-of-sale body powder dispensing system |
| US8573263B2 (en) | 2001-09-24 | 2013-11-05 | Cosmetic Technologies, Llc | Apparatus and method for custom cosmetic dispensing |
| US6615881B2 (en) | 2001-09-24 | 2003-09-09 | Imx Labs, Inc. | Apparatus and method for custom cosmetic dispensing |
| CA2461307C (en) | 2001-09-24 | 2011-01-11 | Imx Labs, Inc. | Apparatus and method for custom cosmetic dispensing |
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| DE102004021448B4 (de) * | 2004-04-30 | 2016-12-29 | Carl Zeiss Spectroscopy Gmbh | Spektrometrischer Reflexionsmesskopf und Verfahren zu dessen interner Rekalibrierung |
| DE102004021601B4 (de) * | 2004-05-03 | 2020-10-22 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Inline-Messung und Regelung bei Druckmaschinen |
| WO2006020189A2 (en) | 2004-07-19 | 2006-02-23 | Barthomolew Julie R | Customized retail point of sale dispensing methods |
| ES2641599T3 (es) | 2004-11-08 | 2017-11-10 | Cosmetic Technologies Llc | Distribuidor automatizado de cosméticos personalizados |
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| DE102007038752A1 (de) * | 2007-08-16 | 2009-02-19 | Giesecke & Devrient Gmbh | Verfahren für die Kalibrierung eines Sensorsystems |
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| DE102009042252B4 (de) | 2009-09-22 | 2014-03-06 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Meßvorrichtung |
| DE102010013069B4 (de) * | 2010-03-26 | 2012-12-06 | Hommel-Etamic Gmbh | Meßvorrichtung |
| DE102010035147B4 (de) | 2010-08-23 | 2016-07-28 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Meßvorrichtung |
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| DE102012018580B4 (de) | 2012-09-20 | 2015-06-11 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Messvorrichtung und Messverfahren zur Inprozess-Messung an Prüflingen während eines Bearbeitungsvorganges an einer Bearbeitungsmaschine, insbesondere einer Schleifmaschine |
| CN104280122B (zh) | 2013-07-08 | 2019-02-22 | 美泰有限公司 | 色度计校准***和方法 |
| EP3935997A1 (en) | 2015-06-08 | 2022-01-12 | Cosmetic Technologies, LLC | Automated delivery system of a cosmetic sample |
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| DE102018133152A1 (de) * | 2018-12-20 | 2020-06-25 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Verfahren zur Kalibrierung eines Spektrometers |
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-
1997
- 1997-05-13 EP EP97107780A patent/EP0878704B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1997-05-13 DE DE59712476T patent/DE59712476D1/de not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-04-22 CA CA002231958A patent/CA2231958A1/en not_active Abandoned
- 1998-05-11 US US09/075,202 patent/US5982501A/en not_active Expired - Lifetime
- 1998-05-13 JP JP10130539A patent/JPH10318913A/ja active Pending
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| JP2017015516A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | ガスセンサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0878704B1 (de) | 2005-11-09 |
| US5982501A (en) | 1999-11-09 |
| CA2231958A1 (en) | 1998-11-13 |
| DE59712476D1 (de) | 2005-12-15 |
| EP0878704A1 (de) | 1998-11-18 |
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