JP2000293868A

JP2000293868A - 光ディスク装置

Info

Publication number: JP2000293868A
Application number: JP11097339A
Authority: JP
Inventors: Shinichi Yamada; 真一山田; Masayoshi Abe; 雅祥阿部; Hiroyuki Yamaguchi; 博之山口
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1999-04-05
Filing date: 1999-04-05
Publication date: 2000-10-20

Abstract

(57)【要約】【課題】ヘッダーフィールドでのトラッキングエラー
信号のオフセットやトラッキングエラー検出用の検出器
のずれやディスクの偏心による対物レンズの変位によっ
て生じるトラッキングエラー信号のオフセットがあって
も光ビームがトラックの中心に制御される光ディスク装
置を提供する。【解決手段】ディスク１００のトラックに対して直行
する一方の方向にずれた位置に形成された第１のピット
列と、トラックに対して直行する他方の方向にずれた位
置に形成された第２のピット列上を光ビームが通過する
際の全反射光量信号（加算器１３０の出力）の振幅の差
に基づいて第２のＴＥ信号を検出してプッシュプル法に
よるＴＥ信号（減算器１２５の出力）を補正する。ま
た、ヘッダーフィールドではＳ／Ｈ回路８５０によって
トラッキング制御系をホールド状態にする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、トラックが形成さ
れたディスクに情報を記録し、またはディスクから情報
を再生する光ディスク装置のトラッキング制御に関する
ものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスク装置として、所定の回
転数で回転している光ディスクに半導体レーザ等の光源
より発生した光ビームを集束して照射し、光ディスク上
の記録されている信号を再生する光ディスク装置があ
る。ディスクの断面を示す図２７を用いて光ディスクの
一例を説明する。ディスクには複数のトラックが、スパ
イラル状に形成されており、凹部と凸部の両方がトラッ
クである。トラックのピッチは０．７４マイクロメータ
（以下、μｍと記す）である。情報面上には相変化材料
等で記録膜が付けられている。ディスク上に情報を記録
する場合には、光ビームが常にトラック上に位置するよ
うにトラッキング制御しながら、光ビームの強度を情報
に応じて変化させることによって記録膜の反射率を変え
る。ディスク上の情報を再生する場合には、光ビームが
常にトラック上に位置するようにトラッキング制御しな
がら光ディスクからの反射光を光検出器で受光する。光
検出器の出力を処理することによって情報を再生する。

【０００３】次に、図２８を用いてアドレスについて説
明する。黒く塗りつぶした部分が凸部である。ピット列
で示した部分がヘッダーフィールドである。ピットは、
凸の形状になっている。ヘッダーフィールドは各セクタ
ーの先頭に配置されている。ピット列は、凸部のトラッ
クと凹部のトラックの中間位置に配置されている。この
ヘッダーフィールドの構成は、一般にＣＡＰＡ（Ｃｏｎ
ｐｌｅｍｅｎｔａｒｙＡｌｌｏｃａｔｅｄＰｉｔＡ
ｄｄｒｅｓｓ）と呼ばれる。ヘッダーフィールドは、Ｖ
ａｒｉａｂｌｅＦｒｅｑｕｅｎｃｙＯｓｉｌｌａｔ
ｏｒ（以下、ＶＦＯと記す）とセクターのアドレスで構
成される。ＶＦＯ１、２は、単一の周波数で記録されて
おり、ＰｈａｓｅＬｏｃｋｅｄＬｏｏｐ（以下、Ｐ
ＬＬと記す）を引き込むために使用される。セクターア
ドレス１は、凹部のセクターのアドレスを示し、セクタ
ーアドレス２は、凸部のセクターのアドレスを示す。ヘ
ッダーフィールド以外の領域は、情報の書き換えが可能
な領域である。以下、リライタブル領域と記す。

【０００４】トラッキング制御のためのトラックずれ量
の検出も同様にしてディスクからの反射光より得てい
る。一般にプッシュプル法と呼ばれるトラッキングエラ
ー検出方式について説明する。以下、トラッキングエラ
ーをＴＥと記す。プッシュプル法はファーフィールド法
とも呼ばれる方式である。この方式は、ディスクからの
反射光又は透過光のファーフィールドパターンよりトラ
ックと光ビームの位置ずれを検出する方式である。プッ
シュプル法は、ディスク上の案内溝で回折された光をト
ラック中心に対して対称に配置された２分割の光検出器
の受光部での出力差として取り出すことによってＴＥ信
号を検出する方式である。図２９に示すように、光ビー
ムと溝の凸部及び凹部の中心が一致している場合には左
右対称な反射回折分布が得られ、それ以外の場合は左右
で光強度がずれる。光ビームがトラックを横断したとき
の２分割光検出器の出力差を図３０に示す。凹部及び凸
部の中心でＴＥ信号は零になる。トラッキング制御は、
ＴＥ信号に応じてディスク上の光ビームをトラックと直
交する方向に移動することによって行う。光ビームのト
ラックと直交する方向への移動はトラッキングアクチュ
エータによって集束レンズを移動させることにより行
う。

【０００５】ヘッダーフィールドのピット列は、凸部の
トラックと凹部のトラックの中間位置に配置されている
のでトラックの中心に光ビームがあってもトラッキング
エラー信号は零にならない。従って、ヘッダーフィール
ドでトラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制
御を行うと光ビームはトラックの中心から外れることに
なる。

【０００６】また、集束レンズの光軸と光ビームの光軸
がずれると光検出器上でも光ビームが動いてしまうため
にプッシュプル法によるＴＥ信号にオフセットが発生す
る。通常ディスクには偏心があるので集束レンズはディ
スクの偏心に追従するように動き、オフセットが発生す
る。従って、トラッキングエラー信号を零にするように
トラッキング制御しても光ビームはトラックの中心から
ずれる。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、ヘッ
ダーフィールドでのトラッキングエラー検出のオフセッ
トやトラッキングエラー検出用光検出器のずれ及びディ
スクの偏心による集束レンズの偏位によって生じるトラ
ッキングエラー信号のオフセットによって光ビームをト
ラックの中心に制御することが困難である。

【０００８】本発明の目的は、ヘッダーフィールドでの
トラッキングエラー信号のオフセットやトラッキングエ
ラー検出用の検出器のずれ及び集束レンズの偏位による
トラッキングエラー信号のオフセットがあっても、光ビ
ームを正確にトラックの中心に制御する光ディスク装置
を提供することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の光ディスク装置は、トラックに対して直行
する一方の向きにずれた位置に形成された第１のピット
列とトラックに対して直行する他方の向きにずれた位置
に形成された第２のピット列とを配置したディスクに光
ビームを収束照射してディスクに記録されている情報を
検出する再生信号検出手段と、トラックと光ビームの位
置ずれをプッシュプル法により検出する第１のトラッキ
ングエラー検出手段と、再生信号検出手段の出力する第
１のピット列及び第２のピット列の再生信号から光ビー
ムとトラックの位置ずれを検出する第２のトラッキング
エラー検出手段と、光ビームをトラックを横切るように
移動させる移動手段と、第１のトラッキングエラー検出
手段の出力に基づいて光ビームがトラック上に位置する
ように前記移動手段を制御するトラッキング制御手段
と、第２のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
てトラッキング制御手段の目標位置を変える補正手段と
を備え、光ビームが第１及び第２のピット列上を通過す
る際は第１のトラッキングエラー検出手段の出力に応じ
て前記トラッキング制御手段が動作しないように構成す
る。

【００１０】本発明の光ディスク装置は、上記の構成に
おいて、プッシュプル法によるＴＥ信号に基づくトラッ
キング制御の目標位置を、トラックに対して直行する一
方の方向にずれた位置に形成された第１のピット列と、
トラックに対して直行する他方の方向にずれた位置に形
成された第２のピット列上を光ビームが通過する際の再
生信号に基づいて光ビームとトラックの位置ずれを検出
する第２のＴＥ信号に基づいて補正すると共に、光ビー
ムが第１及び第２のピット列上を通過する際は第１のト
ラッキングエラー検出手段の出力に応じてトラッキング
制御手段が動作しないようにするので、ヘッダーフィー
ルドでのトラッキングエラー信号のオフセットやトラッ
キングエラー検出用の検出器のずれやディスクの偏心に
よる対物レンズの変位によって生じるトラッキングエラ
ー信号のオフセットがあっても光ビームはトラックの中
心に制御される。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。

【００１２】（実施の形態１）図１は、本発明の実施の
形態１における光ディスク装置のブロック図である。デ
ィスク１００は、モータ１０１の回転軸１０２に取り付
けられ、所定の回転数で回転する。ディスク１００はス
パイラル状に凹凸で形成されたトラックを有しており、
凸部及び凹部は共にトラックであり、情報が記録され
る。トラックのピッチは０．６μｍである。また、凸部
及び凹部の幅は約０．６μｍである。

【００１３】移送台１１５には、レーザ１０９、カップ
リングレンズ１０８、偏光ビームスプリッタ１１０、１
／４波長板１０７、全反射鏡１０５、光検出器１１３、
アクチュエータ１０４が取り付けられており、移送台１
１５は、移送モータ１１４によってディスク１００の半
径方向に移動するように構成されている。

【００１４】移送台１１５に取り付けられたレーザ１０
９より発生した光ビーム１０６は、カップリングレンズ
１０８で平行光にされた後に、偏光ビームスプリッタ１
１０、１／４波長板１０７を通過し、全反射鏡１０５で
反射され、集束レンズ１０３によりディスク１００の情
報面上に集束して照射される。ディスク１００の情報面
により反射された反射光は、集束レンズ１０３を通過し
て全反射鏡１０５で反射され、１／４波長板１０７、偏
光ビームスプリッタ１１０、検出レンズ１１１、円筒レ
ンズ１１２を通過して４個の受光部からなる光検出器１
１３上に入射する。

【００１５】集束レンズ１０３はアクチュエータ１０４
の可動部に取り付けられている。なお、フォーカス制御
は本発明と直接関係しないので説明を一部省略する。ア
クチュエータ１０４はフォーカス用コイル，トラッキン
グ用コイル，フォーカス用の永久磁石及びトラッキング
用の永久磁石より構成されている。したがって、アクチ
ュエータ１０４のフォーカス用コイル（図示せず）に電
力増幅器１５２を用いて電圧を加えるとコイルに電流が
流れ、コイルはフォーカス用の永久磁石（図示せず）か
ら磁気力を受ける。よって、集束レンズ１０３はディス
ク１００の面と垂直な方向（図では上下方向）に移動す
る。集束レンズ１０３は光ビームの焦点とディスクの情
報面とのずれを示すフォーカスエラー信号に応じて光ビ
ーム１０６の焦点が常にディスク１００の情報面に位置
するように制御されている。

【００１６】また、トラッキング用コイル（図示せず）
に電力増幅器１４５を用いて電圧を加えると、コイルに
電流が流れ、トラッキング用の永久磁石（図示せず）か
ら磁気力を受ける。よって、集束レンズ１０３はディス
ク１００の半径方向、すなわちディスク１００上のトラ
ックを横切るように（図上では左右に）移動する。

【００１７】光検出器１１３は、４個の受光部より形成
されている。光検出器１１３上に入射したディスクから
の反射光は、それぞれ電流に変換され、Ｉ／Ｖ変換器１
１６，１１７，１１８，１１９へ送られる。Ｉ／Ｖ変換
器１１６，１１７，１１８，１１９は、入力される電流
をその電流レベルに応じた電圧に変換する。

【００１８】加算器１２０，１２１，１２３，１２４，
１３０は、入力信号を加算して出力する。減算器１２
２，１２５は、入力信号を減算して出力する。

【００１９】減算器１２２の出力は、ディスクに照射さ
れる光ビームの焦点とディスク１００の情報面とのずれ
を示すフォーカスエラー信号である。フォーカスエラー
信号は、アナログ・ディジタル変換器１４９、位相補償
回路１５０、ディジタル・アナログ変換器１５１、電力
増幅器１５２へ送られる。電力増幅器１５２によりアク
チュエータ１０４のフォーカス用コイルに電流が流れ
る。

【００２０】アナログ・ディジタル変換器１４９（以
下、Ａ／Ｄ変換器と記す）は、アナログ信号をディジタ
ル信号に変換する。また、ディジタル・アナログ変換器
１５１（以下、Ｄ／Ａ変換器と記す）は、ディジタル信
号をアナログ信号に変換する。

【００２１】位相補償回路１５０はディジタルフィルタ
であり、フォーカス制御系を安定にする機能を有する。
従って、フォーカスエラー信号に応じて集束レンズ１０
３が駆動され、光ビームの焦点が常に情報面上に位置す
る。

【００２２】図１に示した光学系は、一般にプッシュプ
ル法と呼ばれるＴＥ信号の検出方式を構成している。従
って、減算器１２５の出力がディスクに照射される光ビ
ームとディスク１００のトラックとのずれを示すＴＥ信
号を示す。以下では、減算器１２５の出力を第１のＴＥ
信号と記す。第１のＴＥ信号は、スイッチ１５５、Ａ／
Ｄ変換器１４３、加算器１４２、位相補償回路１４４、
サンプルホールド回路（以下、Ｓ／Ｈ回路と記す）８５
０、Ｄ／Ａ変換器１７０、電力増幅器１４５へ送られ
る。電力増幅器１４５によりアクチュエータ１０４のト
ラッキング用コイルに電流が流れる。

【００２３】位相補償回路１４４はディジタルフィルタ
であり、トラッキング制御系を安定にする機能を有す
る。従って、第１のＴＥ信号に応じて集束レンズ１０３
が駆動されるので光ビームが常にトラックを追従する。

【００２４】また、ディジタルに変換された第１のＴＥ
信号はローパスフィルタ１４６、Ｄ／Ａ変換器１４７、
加算器１４８を介して電力増幅器１２９に送られる。従
って、移送モータ１１４は第１のＴＥ信号の低周波成分
に応じて制御される。即ち、トラッキング制御系におい
ては、高い周波数の外乱に対してはアクチュエータ１０
４で追従し、低い周波数成分の外乱に対しては移送モー
タ１１４で追従する構成になっている。

【００２５】加算器１３０は、加算器１２３と加算器１
２４の出力を加算する。即ち、加算器１３０の出力は光
検出器１１３の全受光量となる。以下では、加算器１３
０の出力信号を、全反射光量信号と記す。加算器１３０
の出力は、アドレス再生回路１３１に送られる。アドレ
ス再生回路１３１は、セクターアドレスを再生し、マイ
クロプロセッサ１４０（以下、マイコンと記す）に送
る。また、アドレスに同期した信号をゲート生成回路１
３２に送る。

【００２６】ゲート生成回路１３２は、アドレス部でハ
イレベルになるＩＤ信号をスイッチ１３３へ出力する。
また、アドレス部のＶＦＯ１の直後にサンプル・ホール
ド回路１３６（以下、Ｓ／Ｈ回路と記す）へパルスを出
力する。以下では、ＶＦＯ１サンプル信号と記す。ま
た、アドレス部のＶＦＯ２の直後にＳ／Ｈ回路１３７へ
パルスを出力する。以下では、ＶＦＯ２サンプル信号と
記す。また、ＶＦＯ２サンプル信号の直後にＳ／Ｈ回路
１３９へパルスを出力する。以下では、データ更新信号
と記す。

【００２７】Ｓ／Ｈ回路８５０は、ＩＤ部直前のＤ／Ａ
変換器１７０の入力値をサンプリングしてＩＤ部の期間
は保持する。即ち、ＩＤ部ではトラッキング制御系がホ
ールド状態になる。

【００２８】スイッチ１３３，ＨＰＦ１７２，絶対値回
路１３４，ＬＰＦ１３５，Ｓ／Ｈ回路１３６，１３７，
１３９及び減算器１３８は、第２のＴＥ信号を生成する
ための回路を構成する。Ｓ／Ｈ回路１３９の出力は第２
のＴＥ信号となる。

【００２９】第２のＴＥ信号は、Ａ／Ｄ変換器１５３で
ディジタル信号に変換され、乗算器１５６，ＬＰＦ１５
７及びスイッチ１５４を介して加算器１４２へ送られ
る。

【００３０】乗算器１５６は、入力信号に所定の係数を
乗算して出力する。所定の係数は、第１のＴＥ信号の検
出感度と第２のＴＥ信号の検出感度が等しくする係数で
ある。以下では、乗算器１５６の出力を正規化された第
２のＴＥ信号と記す。

【００３１】トラッキング制御を動作させる際のマイコ
ン１４０の動作を説明する。初期状態でマイコン１４０
は、スイッチ１５４を開いた状態でスイッチ１５５を閉
じてトラッキング制御を動作させる。集束レンズ１０４
は、第１のＴＥ信号に基づいて駆動される。

【００３２】アドレス再生回路１３１は、アドレスを読
み取り、マイコン１４０へアドレスを送る。アドレス再
生回路１３１は、アドレスに同期した信号をゲート生成
回路１３２へ送る。ゲート生成回路１３２は、ＩＤ信
号，ＶＦＯ１サンプル信号，ＶＦＯ２サンプル信号及び
データ更新信号を出力する。従って、Ｓ／Ｈ回路１３９
から第２のＴＥ信号が出力される。マイコン１４０は、
スイッチ１５４を閉じて第２のＴＥ信号に応じて、第１
のＴＥ信号に基づいて動作しているトラッキング制御系
の目標位置を補正する。補正は、第１のＴＥ信号に基づ
くトラッキング制御系に加算器１４２を介して第２のＴ
Ｅ信号に対応するオフセットを加えることで行う。

【００３３】以下各ブロックについて詳細に説明する。

【００３４】まず、第２のＴＥ信号の検出方法について
図２を用いて説明する。図２（ａ）は、トラックと光ビ
ームの関係を示す模式図であり、図２（ｂ）は、加算器
１３０の出力である全反射光量信号の波形を示したもの
である。図２（ａ）では光ビームが、凸部のトラック
（黒く塗りつぶした部分）の中心を移動する場合を示し
ている。ディスクからの反射光量は、図２（ｂ）に示す
ようにピットによって変調される。ＶＦＯ１のピット列
と光ビームの距離およびＶＦＯ２のピット列と光ビーム
の距離が等しいのでＶＦＯ１での振幅ｍ１とＶＦＯ２で
の振幅ｎ１は等しくなる。

【００３５】光ビームが、トラックとトラックの中間位
置を移動する場合を図３に示す。図３（ｂ）は全反射光
量信号を示しており、ＶＦＯ１のピット列と光ビームの
距離はＶＦＯ２のピット列と光ビームの距離に比べ短い
ので、振幅ｍ２はＶＦＯ２での振幅ｎ２に比べ大きくな
る。

【００３６】光ビームが、図３の場合と逆の中間位置に
位置している場合を図４に示す。図４（ｂ）は全反射光
量信号を示しており、ＶＦＯ１のピット列と光ビームの
距離はＶＦＯ２のピット列と光ビームの距離に比べ長い
ので、振幅ｍ３はＶＦＯ２での振幅ｎ３に比べ小さくな
る。

【００３７】図２，図３，図４に示したように、ＶＦＯ
１とＶＦＯ２での全反射光量信号の振幅差を検出するこ
とで光ビームとトラックのずれを検出することができ
る。図５は、トラックずれと第２のＴＥ信号の関係を示
したものである。なお、凸部のトラックと凹部のトラッ
クではＶＦＯ１とＶＦＯ２のトラック中心からのずれの
方向が逆になるので凸部のトラックと凹部のトラックで
の第２のＴＥ信号のトラックずれに対する傾きは逆にな
る。

【００３８】次にＶＦＯ１とＶＦＯ２での全反射光量信
号の振幅を検出する方式について説明する。図６は、ゲ
ート生成回路１３２の出力信号と加算器１３０の出力信
号の関係を示したものである。図６（ａ）は光ビームと
ヘッダーフィールドの関係、図６（ｂ）は加算器１３０
の出力波形、図６（ｃ）はＩＤ信号、図６（ｄ）はＶＦ
Ｏ１サンプル信号、図６（ｅ）はＶＦＯ２サンプル信
号、図６（ｆ）はデータ更新信号の各波形である。

【００３９】ゲート生成回路１３２は、アドレス再生回
路１３１が出力した前のセクターでのアドレス同期信号
を基準にして次のセクターでのＩＤ信号、ＶＦＯ１サン
プル信号、ＶＦＯ２サンプル信号、データ更新信号をそ
れぞ生成する。ゲート生成回路１３２は、内部に発振器
とその発振器の出力を計数するカンターを有している。
アドレス同期信号に応じてカウンターをクリアーし、カ
ウンター値に基づいて上述したゲート信号を生成する。

【００４０】ＩＤ信号は、ヘッダーフィールドの直前の
時間ｔ１０からヘッダーフィールド直後の時間ｔ１４ま
での期間でハイレベルになる。ＶＦＯ１サンプル信号
は、ＶＦＯ１の後端である時間ｔ１１でハイレベルにな
るパルス信号である。ＶＦＯ２サンプル信号はＶＦＯ２
の後端である時間ｔ１２でハイレベルになるパルス信号
である。データ更新信号はＶＦＯ２信号の直後である時
間ｔ１３でハイレベルになるパルス信号である。

【００４１】ＩＤ信号がハイレベルになるとスイッチ１
３３が閉じる。従って、加算器１３０の出力信号がＨＰ
Ｆ１７２を介して絶対値回路１３４に入力される。絶対
値回路１３４は、零レベルを基準に入力信号の絶対値を
出力する。ＨＰＦ１７２は、直流成分を除去する。ＬＰ
Ｆ１３５は、入力信号の高域周波数成分を除去して出力
する。

【００４２】ＬＰＦ１３５の出力のレベルは、図２，図
３，図４に示したｍ及びｎに応じたレベルになる。Ｓ／
Ｈ回路１３６は、コントロール端子ｃが、ハイレベルに
なるとサンプル状態になり、ローレベルになるとホール
ド状態になる。なお、Ｓ／Ｈ回路１３７，１３９も同様
の構成である。

【００４３】従って、時間ｔ１０でのＬＰＦ１３５の出
力を保持して出力する。この時点でのＳ／Ｈ回路１３６
の出力は図２，図３，図４でのｍを示す。同様に、Ｓ／
Ｈ回路１３７は、時間ｔ１１でのＬＰＦ１３５の出力を
保持して出力する。この時点でのＳ／Ｈ回路１３７の出
力は図２，図３，図４でのｎを示す。

【００４４】減算器１３８は、Ｓ／Ｈ回路１３６とＳ／
Ｈ回路１３７の出力の差を出力する。即ち、時間ｔ１１
以後の減算器の出力は（ｍ−ｎ）の値を示す。Ｓ／Ｈ回
路１３９は、時間ｔ１２での減算器１３８の出力を保持
して出力する。従って、Ｓ／Ｈ回路１３８の出力は、Ｖ
ＦＯ１での全反射光量信号の振幅とＶＦＯ２の全反射光
量信号の振幅差を示す。即ち、第２のＴＥ信号となる。

【００４５】ＨＰＦ１７２と絶対値回路１３４につい
て、図７を用いて説明する。コンデンサ２００，抵抗２
０１がＨＰＦ１７２を構成する。端子２０８がスイッチ
１３３に接続され、端子２０９がＬＰＦ１３５に接続さ
れる。ＨＰＦ１７２の出力は、ゲインが１倍のアンプ２
０３とゲインが−１倍のアンプ２０４に送られる。アン
プ２０３，２０４にはダイオード２０５、２０６が接続
されている。よって、アンプ２０３，２０４の出力が負
の場合には、出力は零になる。アンプ２０３，２０４の
出力は加算器２０７に送られ、加算器２０７の出力は端
子２０９に送られる。

【００４６】図８は、図７の回路の動作を説明するもの
で、図８（ａ）は端子２０８に入力する信号波形、図８
（ｂ）はＩＤ信号、図８（ｃ）はアンプ２０３の出力、
図８（ｄ）はアンプ２０４の出力、図８（ｅ）は加算器
２０７の出力の各波形である。加算器２０７の出力は、
ＶＦＯ部の全反射光量信号の振幅の中心を基準にして絶
対値に変換した波形となる。

【００４７】ＬＰＦ１３５は、上述した構成で絶対値回
路１３４の出力信号である図８（ｅ）に示した信号のピ
ットによって生じる高周波成分を除去する。従って、Ｌ
ＰＦ１３５の出力は、ＶＦＯでの全反射光量信号の振幅
を示す。

【００４８】次に、第２のＴＥ信号をトラッキング制御
系に加算するブロックについて説明する。第２のＴＥ信
号は、Ａ／Ｄ変換器１５３によってディジタル信号に変
換された後、乗算器１５６を介してディジタルフィルタ
であるＬＰＦ１５７に送られる。図９は、ＬＰＦ１５７
のゲイン及び位相の特性を示したもので、図９（ａ）は
ゲイン特性である。縦軸はデシベル（ｄＢ）、横軸は周
波数を対数（Ｌｏｇ）で示している。１Ｈｚまで平坦な
特性で、１Ｈｚ以上では−２０ｄＢ／ｄｅｃとなり、１
０Ｈｚで０ｄＢとなる。図９（ｂ）は位相特性であり、
縦軸は位相を度で表し、横軸は図９（ａ）と同じであ
る。

【００４９】次に、第２のＴＥ信号をトラッキング制御
系に加算した場合のトラッキング制御系の特性について
説明する。即ち、スイッチ１５４が閉じている状態での
特性である。第１のＴＥ信号である減算器１２５の出力
をＰ、加算器１４２の出力をＱ、第２のＴＥ信号である
Ｓ／Ｈ回路１３９の出力をＲとして、図１０にそのブロ
ック線図を示す。

【００５０】信号線Ｏは光ビームの位置を示す。信号線
Ｔはトラックの位置を示す。減算器３５０の出力は、光
ビームとトラックのずれを示す。信号Ｕは、光ビームと
トラックの真のずれを示す信号である。以下では、信号
Ｕを真のトラックずれ信号と記す。真のトラックずれ信
号Ｕは、０次ホルダー３５４、ＬＰＦ３５１を介して加
算器３５３に送られる。なお、ＬＰＦ３５１は、上述し
たディジタルフィルタであるＬＰＦ１５７に相当する。
０次ホルダー３５４は、第２のＴＥ信号がＩＤ部のみで
検出される信号であることに対応している。

【００５１】信号線Ｄは、上述した光検出器１１３の位
置ずれや集束レンズの変位によって生じる第１のＴＥ信
号のオフセットを示している。従って、加算器３５２の
出力は第１のＴＥ信号を示す。

【００５２】信号線Ｕと信号線Ｑの伝達特性を図１１に
示す。なお、信号線Ｄのレベルは零としている。図１１
（ａ）はゲイン特性で、縦軸はデシベル（ｄＢ）、横軸
は周波数を対数（Ｌｏｇ）で示している。１Ｈｚまで平
坦な特性で、１Ｈｚ以上では−２０ｄＢ／ｄｅｃとな
り、１０Ｈｚで０ｄＢとなる。１０Ｈｚ以上では０ｄＢ
になる。図１１（ｂ）は位相特性を示しており、縦軸は
位相を度で表し、横軸は図１１（ａ）と同じである。

【００５３】第１のＴＥ信号のみによるトラッキング制
御系の場合、即ちスイッチ１５４が開いている場合に
は、周波数によらずゲインは０ｄＢになる。従って、ス
イッチ１５４が閉じることによって１０Ｈｚ以下でのゲ
インが高くなる。１０Ｈｚ以下の周波数では第２のＴＥ
信号が支配的になる。第２のＴＥ信号は真のトラックず
れ信号を０次ホルダーを介した信号であるので信号線Ｄ
の影響は受けない。従って、信号線Ｄの影響が低減され
て、光検出器１１３の位置ずれや集束レンズの変位によ
って生じる第１のＴＥ信号のオフセット（図１０での
Ｄ）があっても光ビームはトラック中心を追従する。

【００５４】次に、Ｓ／Ｈ回路８５０によってＩＤ部の
直前のＤ／Ａ変換器１７０の入力値をサンプリングして
光ビームがＩＤ部を通過する期間は保持する動作につい
て図１２を用いて説明する。最初にＩＤ部の期間で、Ｓ
／Ｈ回路８５０でＩＤ部の直前の値を保持しない場合の
動作について説明した後に保持した場合の動作を説明す
る。

【００５５】図１２（ａ）は第１のＴＥ信号波形を、図
１２（ｂ）はＩＤ信号波形を、図１２（ｃ）は第２のＴ
Ｅ信号波形をそれぞれ示している。ＩＤ部の期間はＩＤ
信号波形がハイレベルの期間である。

【００５６】ＩＤ部のピット列は、トラックの中心から
ずれた位置に配置されているので、第１のＴＥ信号は図
１２（ａ）に示すようにピット列のずれに応じたオフセ
ットを発生する。即ち、ＩＤ部での第１のＴＥ信号は、
光ビームのトラックの中心からのずれに対応していな
い。従って、ＩＤ部で疑似の第１のＴＥ信号がＡ／Ｄ１
４３に入力されると、その信号に応じて集束レンズが駆
動されるので、光ビームはトラック中心からずれること
になる。第２のＴＥ信号の検出系は、ＩＤ部での光ビー
ムとトラック中心のずれを検出するので図１２（ｃ）に
破線で示すようにＩＤ部通過後にオフセットを生じる。
ＩＤ部を通過後は、第１のＴＥ信号は光ビームとトラッ
クのずれを示す本来の信号となるので、光ビームがトラ
ック中心に位置するように制御される。しかしながら、
第２のＴＥ信号のレベルは次のＩＤ部まで保持されるの
で、光ビームをトラック中心からずらすように動作す
る。

【００５７】ＩＤ部の期間で、Ｓ／Ｈ回路８５０でＩＤ
部の直前の値を保持する本来の動作について説明する。
ＩＤ部では、Ｓ／Ｈ回路８５０によってトラッキングア
クチュエータの駆動値がＩＤ部直前の値に保持されるの
で、光ビームはトラックの中心に保持される。従って、
第２のＴＥ信号は、図１２（ｃ）に実線で示すように零
のままである。従って、次のＩＤ部までの期間でＩＤ部
の影響によって光ビームがトラック中心からずれること
がない。

【００５８】（実施の形態２）以下、本発明の実施の形
態２について、そのブロック図である図１３を用いて説
明する。上述した実施の形態１と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態１と異なる
点は、測定回路８５１、減算器８５２が付加されている
点である。

【００５９】測定回路８５１は、ＩＤ部の直前及び直後
の第１のＴＥ信号のレベルを取り込み、その平均値を出
力する。端子ａにＡ／Ｄ変換された第１のＴＥ信号が、
端子ｃにＩＤ信号ががそれぞれ入力される。端子ｂが出
力端子である。測定回路８５１は端子ｃの信号の立ち上
がりエッジを検出してそのときの端子ａに入力される信
号レベルを測定する。この値をＥ１とする。また、端子
ｃの信号の立ち上がりエッジを検出して同様に測定す
る。この値をＥ２とする。測定後に（Ｅ１＋Ｅ２）／２
の値を計算し、端子ｂに出力する。

【００６０】測定回路８５１の出力は、減算器８５２に
送られる。減算器８５２の出力は、ＬＰＦ１５７、スイ
ッチ１５４及び加算器１４２を介してトラッキング制御
系に加算される。

【００６１】図１４は光ビームとトラックの関係を示す
模式図である。図１４に示した線上を光ビームが移動し
た場合の測定回路８５１、減算器８５２の動作を説明す
る。図１４は、光ディスク装置に外部から加わった衝撃
等によってＩＤ部で光ビームがトラック中心からずれた
場合の一例を示している。矢印で示した線上を光ビーム
が移動する場合の動作を説明する。図１４に示した線上
を光ビームが移動した場合の波形を図１５に示す。図１
５（ａ）は第１のＴＥ信号波形を示している。同様に、
図１５（ｂ）はＩＤ信号、図１５(ｃ) は正規化された
第２のＴＥ信号、図１５（ｄ）は減算器８５２の出力信
号をそれぞれ示す。

【００６２】図１４に示すように、衝撃等によって光ビ
ームがトラック中心からずれると第１のＴＥ信号は図１
５（ａ）に示すように所定の値になる。ＩＤ部の直前の
値をＥ３とし、直後の値をＥ４とする。なお、Ｅ３＝Ｅ
４であるとする。第１のＴＥ信号は衝撃等が無くなると
零になる。また、衝撃が加わった期間がＩＤ部の期間で
あるので、図１５（ｃ）に示すように正規化された第２
のＴＥ信号もＥ３になる。従って、減算器８５２の出力
は零になる。ＩＤ部の直前及び直後の第１のＴＥ信号の
レベルを正規化した第２のＴＥ信号から減算すること
で、ＩＤ部で衝撃等が加わったことによって光ビームが
トラックの中心からずれても第２のＴＥ信号が影響を受
けることがない。

【００６３】なお、測定回路８５１及び減算器８５２が
無い場合には正規化された第２のＴＥ信号は図１５
（ｃ）に示したＥ３になるので、次のＩＤ部までの期間
は第２のＴＥ信号によって光ビームはトラックの中心か
らずれるという問題が生じる。

【００６４】（実施の形態３）以下、本発明の実施の形
態３について、そのブロック図である図１６を用いて説
明する。上述した実施の形態１と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態１と異なる
点は、平均値算出回路８５５及び減算器８５６が追加さ
れている点である。また、マイコン１４０がマイコン８
５７に変更されている点である。

【００６５】上述したように第１のＴＥ信号は、光検出
器１１３の位置ずれによってオフセットが発生する。ま
た、集束レンズ１０３がディスクの偏心等により光ビー
ムの光軸からずれるとオフセットが発生する。光検出器
１１３の位置ずれと集束レンズ１０３の偏位によるオフ
セットがある場合の第１のＴＥ信と第２のＴＥ信号につ
いて図１７を用いて説明する。なお、光検出器１１３の
位置ずれは、光ビームとトラックの中心のずれが０．１
μｍ相当であるとする。

【００６６】図１７（ａ）の太い破線はスイッチ１５４
が開いた状態での第１のＴＥ信号を、また、太い実線は
スイッチ１５４が閉じた場合での波形を示す。図１７
（ｂ）には、スイッチ１５４が開いた状態での正規化さ
れた第２のＴＥ信号を太い破線で、また、スイッチ１５
４が閉じた場合を太い実線で示している。

【００６７】スイッチ１５４が開いた状態では、第２の
ＴＥ信号による補正が動作しないので第１のＴＥ信号が
零になるように制御される。従って、第１のＴＥ信号
は、図１７（ａ）に太い破線で示すようにほぼ零にな
る。しかしながら、光検出器１１３の位置ずれと集束レ
ンズ１０３の偏位によるオフセットが発生するので、正
規化された第２のＴＥ信号は図１７（ｂ）に太い破線で
示す波形となる。直流成分はオフトラック０．１μｍ相
当である。交流成分は、ディスクの偏心による集束レン
ズ１０３の偏位によって生じる成分である。従って、デ
ィスクの回転に同期している。

【００６８】この状態でスイッチ１５４が閉じると、第
２のＴＥ信号による補正機能が動作するので第２のＴＥ
信号が零になるように制御される。従って、正規化され
た第２のＴＥ信号は、図１７（ｂ）に太い実線で示すよ
うにほぼ零になる。第２のＴＥ信号による補正系のゲイ
ンは、図１１に示すように低域の周波数域で２０ｄＢあ
るので、制御算差の直流成分は約０．０１μｍとなる。
正規化された第２のＴＥ信号には、０．０１μｍ相当の
直流のオフセットが残る。従って、第１のＴＥ信号は、
図１７（ａ）の太い実線で示すように０．０９μｍ相当
の直流成分のオフセットを持つ。

【００６９】この状態で平均値算出回路８５５は、マイ
コン８５７から送られるディスクが１回転する期間を示
す１回転信号に基づいてディスク１回転の第１のＴＥ信
号を加算してその平均値を出力する。従って、平均値算
出回路８５５の出力は、０．０９μｍ相当のレベルにな
り、減算器８５６の−端子に０．０９μｍ相当の信号が
設定される。この状態でスイッチ１５４を開くと減算器
８５６の出力は、光検出器１１３の位置ずれによるオフ
セットの０．０９μｍ相当が除去された信号になる。即
ち、減算器８５６の出力は、０．０１μｍ相当のオフセ
ットを持った信号になる。この状態で再度スイッチ１５
４を閉じると、上述した０．０１μｍ相当のオフセット
が第２のＴＥ信号による補正機能によって０．００１μ
ｍ相当に低減される。

【００７０】平均値算出手段８５５及び減算器８５６を
追加することで、光検出器１１３の位置ずれによる光ビ
ームのトラック中心からのずれをより低減できる。な
お、ディスク１回転の第１のＴＥ信号を加算してその平
均値を算出することにより、集束レンズ１０３の偏位に
よるオフセットの影響を除去できる。

【００７１】トラックへ情報を記録する場合の動作につ
いて説明する。マイコン８５７は、目的のセクタを検索
すると、レーザ駆動回路１７５を制御してレーザ１０９
のパワーを記録情報に応じて変調する。また、記録中は
正規化された第２のＴＥ信号を取り込み、所定の範囲に
あるか否かを調べる。所定の範囲を超えた場合には記録
動作を停止する。第２のＴＥ信号は、光検出器１１３の
位置ずれや集束レンズ１０３の偏位の影響を受けない信
号であるので、光ビームが隣接のトラックに近づいたこ
とを正確に検出できる。従って、隣接のトラックの情報
を破壊することがない。

【００７２】（実施の形態４）以下、本発明の実施の形
態４について、そのブロック図である図１８を用いて説
明する。上述した実施の形態３と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態３と異なる
点は、平均値算出回路８５５の端子ａに入力される信号
が第１のＴＥ信号から正規化された第２のＴＥ信号に変
更されている点である。

【００７３】実施の形態３では、第１のＴＥ信号でトラ
ッキング制御を行い、第２のＴＥ信号で目標位置を補正
した際の第１のＴＥ信号の平均値に基づいて、光検出器
１１３の位置ずれに応じたオフセットを補正する構成で
あった。

【００７４】本実施の形態４では、スイッチ１５４を開
いた状態で正規化した第２のＴＥ信号の平均値を測定
し、その値を減算器８５６へ送る。なお、光検出器１１
３の位置ずれと集束レンズ１０３の偏位による第１のＴ
Ｅ信号のオフセットは、実施の形態３と同様とする。

【００７５】図１９（ａ）に、スイッチ１５４が開いた
状態での第１のＴＥ信号を太い破線で示し、また、太い
実線でスイッチ１５４が閉じた場合の波形を示してい
る。図１９（ｂ）には、スイッチ１５４が開いた状態で
の正規化された第２のＴＥ信号を太い破線で、また、太
い実線でスイッチ１５４が閉じた場合の波形をそれぞれ
示している。

【００７６】スイッチ１５４が開いた状態では、第２の
ＴＥ信号による補正が動作しないので、第１のＴＥ信号
が零になるように制御される。従って、第１のＴＥ信号
は、波形（ａ）に太い破線で示すようにほぼ零になる。
しかしながら、第１のＴＥ信号には光検出器１１３の位
置ずれと集束レンズ１０３の偏位によるオフセットが発
生するので、正規化された第２のＴＥ信号は波形（ｂ）
に太い破線で示す波形となる。直流成分はオフトラック
０．１μｍ相当である。交流成分は、ディスクの偏心に
よる集束レンズ１０３の偏位によって生じる成分であ
る。

【００７７】この状態で平均値算出回路８５５は、マイ
コン８５７から送られる１回転信号に基づいてディスク
１回転の正規化された第２のＴＥ信号を加算してその平
均値を出力する。光検出器１１３の位置ずれは、光ビー
ムとトラックの中心のずれが０．１μｍ相当であるの
で、平均値算出回路８５５の出力はオフトラック０．１
μｍ相当のレベルになる。従って、減算器８５６の出力
は、光検出器１１３の位置ずれによる０．１μｍ相当の
オフセットが除去された信号になる。即ち、減算器８５
６の出力は、光検出器１１３の位置ずれによるオフセッ
トが除去された信号になる。補正が完了した後にスイッ
チ１５４を閉じて第２のＴＥ信号による補正を開始す
る。

【００７８】上記構成により、光検出器１１３の位置ず
れによる第１のＴＥ信号のオフセットが除去でき、光ビ
ームは正確にトラックの中心を追従する。

【００７９】（実施の形態５）以下、本発明の実施の形
態５について、そのブロック図である図２０を用いて説
明する。前記実施の形態１と同じブロックには同一の番
号を付して説明を省略する。実施の形態１と異なる点
は、凹凸判別回路５００、反転増幅器５０１、５０３、
スイッチ５０２、５０４が追加されている点である。ま
た、ディスク１００がディスク５５０に変更されている
点である。

【００８０】ディスク５５０に形成されたトラックの模
式図を図２１に示す。斜線で示した部分が凸部を示す。
ＩＤ部はアドレス部を示し、他の部分がリライタブル領
域である。トラックＡは、左側が凸部で形成され、右側
が凹部で形成されている。中央のＱ２点で凸部と凹部が
切り替わっている。光ビームをトラックＡ上にあるよう
にトラッキング制御する際は、Ｑ２点を検出して第１の
ＴＥ信号の極性を切り替える必要がある。

【００８１】図２２（ａ）にＱ０点での、図２２（ｂ）
にＱ４点での第１のＴＥ信号の特性をそれぞれ示す。凹
凸が逆になるので、Ｑ０点とＱ４点では第１のＴＥ信号
の極性が逆になる。また、ＶＦＯ１とＶＦＯ２のずれの
方向が逆になる。従って、第２のＴＥ信号の極性も逆に
なる。第１のＴＥ信号と同様にＱ２点を検出して第２の
ＴＥ信号の極性を切り替える必要がある。

【００８２】凹凸判別回路５００は、加算器１３０及び
減算器１２５の出力信号を取り込んで、光ビームが凹部
のトラックか凸部のトラックのどちらにあるかの判別行
う。反転増幅器５０１，５０３は、入力信号を反転して
出力する。スイッチ５０２、５０４は端子ｄのコントロ
ール信号により、端子ａまたは端子ｂの信号を端子ｃに
出力する。スイッチ５０２およびスイッチ５０４の端子
ｄには、凹凸判別回路５００の凹凸判別信号が入力され
る。

【００８３】凹凸判別回路５００のブロックを図２３に
示す。端子９００には減算器１２５が、端子９０８には
加算器１３０が、端子９１４にはスイッチ５０２，５０
４の端子ｄがそれぞれ接続されている。ＬＰＦ９０１，
９０７は入力信号の低周波数成分を出力する。コンパレ
ータ９０３，９０５，９０６は、端子ａのレベルが端子
ｂのレベルより高い場合にハイレベルを出力する。

【００８４】図２４の波形を用いて動作を説明する。図
２４（ａ）は、端子９００に入力される信号を示す。図
２４の（ｂ）はＬＰＦ９０１の出力を、（ｃ）はコンパ
レータ９０５の出力を、（ｄ）はコンパレータ９０３の
出力を、（ｅ）はフリップフロップの出力を、（ｆ）は
端子９０８に入力される信号を、（ｇ）はＬＰＦ９０７
の出力を、（ｈ）はコンパレータ９０６の出力を、
（ｉ）は遅延回路９１５の出力を、（ｊ）はラッチ９１
３の出力をそれぞれ示している。

【００８５】ＬＰＦ９０１の出力はＩＤ部のピットの影
響により図２４（ｂ）のようになる。基準電源９０４を
Ｅ２０にすることでコンパレータ９０５の出力は図２４
（ｃ）に示すように時間ｔ３０でハイレベルになる。従
って、フリップフロップ９１２の出力は図２４（e)に示
すように時間ｔ３０でローレベルになる。基準電源９０
２をＥ２１にすることでコンパレータ９０３の出力は図
２４（ｄ）に示すように時間ｔ３２でハイレベルにな
る。従って、フリップフロップ９１２の出力は時間ｔ３
２でハイレベルになる。ＬＰＦ９０７の出力はＩＤ部の
ピットの影響により図２４（ｇ）のようになる。基準電
源９０９をＥ２２にすることでコンパレータ９０６の出
力は図２４（ｈ）に示すように時間ｔ３０からｔ３３の
期間でハイレベルになる。従って、遅延回路９１５の出
力は図２４（ｉ）に示す波形となる。

【００８６】ラッチ９１３は、遅延回路９１５の出力信
号の立ち下がりエッジでフリップフロップ９１２の出力
レベルをラッチして出力する。この場合には凹凸判別回
路５００の出力はハイレベルになる。凹凸が切り替わる
と図２４（ａ）に示すピットによる成分が、前半が負で
後半が正のレベルになる。従って、凹凸判別回路５００
の出力はローレベルになる。

【００８７】凹凸判別回路５００の出力に応じて第１及
び第２のＴＥ信号の極性を切り替えてから加算器１４２
で加算するように構成している。また、ＬＰＦ１５７に
入力する前に第２のＴＥ信号の極性を切り替えるので、
Ｑ２点を通過した場合でもＬＰＦ１５７の出力が連続
し、トラッキング制御が安定する。

【００８８】図２５を用いてＬＰＦ１５７の動作を説明
する。図２５（ａ）は第２のＴＥ信号を、図２５（ｂ）
はＬＰＦ１５７の入力信号を、図２５（ｃ）はＬＰＦ１
５７の出力をそれぞれ示している。破線は、極性を切り
替えない場合を示す。Ｑ２点を通過後の応答性がフィル
タの応答性によって悪くなり、Ｑ２点通過後所定期間は
光ビームがトラック中心からずれる。即ち、第１のＴＥ
信号と第２のＴＥ信号の極性を切り替えた後に加算する
ことで凹部と凸部の切り替わり点でトラッキング制御の
精度が向上する。

【００８９】光検出器１１３の位置ずれによる第１のＴ
Ｅ信号のオフセットの補正について説明する。オフセッ
ト測定回路９５０は、凹凸が切り替わった直後の第１の
ＴＥ信号のレベルを測定し、そのレベルの０．５倍のレ
ベルを減算器８５６へ送る。なお、レベル測定の際は、
スイッチ１５４は開いており、第２のＴＥ信号による補
正機能は動作していない。

【００９０】図２６を用いて動作を説明する。図２６
（ａ）は、光ビームが図２１に示すトラックＡ上のＩＤ
部の直前のＱ１点での第１のＴＥ信号の特性を示してい
る。図２６（ｂ）は、光ビームがトラックＡ上のＩＤ部
の直後のＱ３点での第１のＴＥ信号の特性を示してい
る。光検出器１１３の位置ずれによってＤのオフセット
が第１のＴＥ信号に発生した場合を示し、破線はオフセ
ットがない場合を示す。

【００９１】トラックＡの凸部通過時は、第１のＴＥ信
号は零レベルになる。但し、光検出器１１３の位置ずれ
のためにトラック中心から距離Ｌ離れた位置に光ビーム
は制御されている。この状態でＩＤ部を通過してＱ３点
に到達すると、光ビームのトラック中心からの距離はＱ
２時点と同じである。これは、ＩＤ部でトラッキング用
のコイルへの駆動電流はホールド状態にしているためで
ある。従って、Ｑ３点での第１のＴＥ信号のレベルは２
＊Ｄとなる。即ち、光検出器１１３の位置ずれによるオ
フセットの２倍のレベルになる。そこで、オフセット測
定回路９５０は、測定値を０．５倍して減算器８５６へ
送る。従って、減算器８５６の出力は、光検出器１１３
の位置ずれによる第１のＴＥ信号のオフセットが除去さ
れた信号になる。

【００９２】本実施の形態５では、第２のＴＥによる補
正を停止した状態でオフセット測定回路９５０を動作さ
せるとしたが、第２のＴＥ信号による補正が動作してい
る場合には、光ビームはトラックの中心を通過するので
Ｑ２点ではＤとなりＱ３点では−Ｄとなる。従って、第
２のＴＥ信号による補正が動作している状態でオフセッ
ト測定回路９５０を動作させる場合にはＱ２点での測定
値を減算器８５６に設定すれば上述したのと同様な効果
が得られる。

【００９３】

【発明の効果】以上述べたことから明らかなように、本
発明はトラックに対して直行する一方の方向にずれた位
置に形成された第１のピット列と、トラックに対して直
行する他方の方向にずれた位置に形成された第２のピッ
ト列上を光ビームが通過する際の再生信号に基づいて、
光ビームとトラックの位置ずれを検出する第２のＴＥ信
号に基づいて補正すると共に光ビームが第１及び第２の
ピット列上を通過する際は、プッシュプル法による第１
のＴＥ信号に応じてトラッキング制御手段が動作しない
ようにするので、ヘッダーフィールドでのオフセットや
第１のＴＥ信号検出用の検出器のずれやディスクの偏心
による集束レンズの変位によって生じるオフセットが第
１のＴＥ信号に発生しても光ビームはトラックの中心に
制御される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１における光ディスク装置
のブロック図

【図２】本発明の実施の形態１におけるヘッダーフィー
ルドの構成と全反射光量を示す図

【図３】本発明の実施の形態１におけるヘッダーフィー
ルドの構成と全反射光量を示す図

【図４】本発明の実施の形態１におけるヘッダーフィー
ルドの構成と全反射光量を示す図

【図５】本発明の実施の形態１における第２のＴＥ信号
を説明するための波形図

【図６】本発明の実施の形態１におけるゲート信号生成
回路のゲート信号を説明するための波形図

【図７】本発明の実施の形態１における絶対値検出回路
のブロック図

【図８】本発明の実施の形態１における絶対値検出回路
を説明するための波形図

【図９】本発明の実施の形態１におけるＬＰＦの特性図

【図１０】本発明の実施の形態１におけるトラッキング
制御系のブロック線図

【図１１】本発明の実施の形態１におけるトラッキング
制御系の特性図

【図１２】本発明の実施の形態１におけるＳ／Ｈ回路を
付加することによる効果を説明するための波形図

【図１３】本発明の実施の形態２における光ディスク装
置のブロック図

【図１４】本発明の実施の形態２における光ビームとト
ラックの関係を示す模式図

【図１５】本発明の実施の形態２における測定回路を付
加することによる効果を説明するための波形図

【図１６】本発明の実施の形態３における光ディスク装
置のブロック図

【図１７】本発明の実施の形態３における第１及び第２
のＴＥ信号を示す波形図

【図１８】本発明の実施の形態４における光ディスク装
置のブロック図

【図１９】本発明の実施の形態４における第１及び第２
のＴＥ信号を示す波形図

【図２０】本発明の実施の形態５における光ディスク装
置のブロック図

【図２１】本発明の実施の形態５における光ディスクの
模式図

【図２２】本発明の実施の形態５における第１のＴＥ信
号とトラックの関係を示す図

【図２３】本発明の実施の形態５における凹凸判別回路
のブロック図

【図２４】本発明の実施の形態５における凹凸判別回路
の動作を説明するための波形図

【図２５】本発明の実施の形態５におけるＬＰＦの動作
を説明するための波形図

【図２６】本発明の実施の形態５における第１のＴＥ信
号とトラックとの関係を示す図

【図２７】従来例の光ディスク装置のディスクの模式図

【図２８】従来例の光ディスク装置のヘッダーフィール
ドの模式図

【図２９】従来例の光ディスク装置のプッシュプル法に
よるＴＥ信号検出方式を示す模式図

【図３０】従来例の光ディスク装置のプッシュプル法に
よるＴＥ信号とトラックの関係を示す図

【符号の説明】

１００ディスク１０１モータ１０３集束レンズ１０４アクチュエータ１０５全反射ミラー１０６光ビーム１０７１／４波長板１０８カップリングレンズ１０９レーザ１１０偏向ビームスプリッター１１１検出レンズ１１２円筒レンズ１１３光検出器１１４移送モータ１１５移送台１１６，１１７，１１８，１１９Ｉ／Ｖ変換器１２０，１２１，１２３，１２４，１４２加算器１２２，１２５減算器１３１アドレス再生回路１３２ゲート生成回路１３４絶対値検出回路１３５，１４６，１５７ＬＰＦ１３６，１３７，１３９，８５０Ｓ／Ｈ回路１４０マイコン１４３，１４９，１５３Ａ／Ｄ変換器１４４，１５０位相補償フィルタ１４５，１５２電力増幅器１４７，１５１Ｄ／Ａ変換器１５６乗算器１７１モータ制御回路１７５レーザ駆動回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者山口博之大阪府門真市大字門真1006番地松下電器産業株式会社内Ｆターム(参考） 5D118 AA13 AA18 BA01 BB02 BC08 BC09 BF02 BF03 CA13 CD03 CD11 DA35

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第１のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第２
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第１のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第１のピット列及び第２の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第２のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第１のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第２のトラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキン
グ制御手段の目標位置を変える補正手段とを備え、光ビ
ームが第１及び第２のピット列上を通過する際は前記ト
ラッキング制御手段をホールド状態にするように構成し
たことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項２】トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第１のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第２
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第１のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第１のピット列及び第２の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第２のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第１のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第２のトラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキン
グ制御手段の目標位置を変える補正手段とを備え、光ビ
ームが第１及び第２のピット列上を通過する際は前記第
１のトラッキングエラー検出手段をホールド状態にする
ように構成したことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項３】トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第１のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第２
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第１のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第１のピット列及び第２の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第２のトラッキングエラー検出手段と、第１
のピット列及び第２のピット列の直前又は直後の前記第
１のトラッキングエラー検出手段の出力のレベルに基づ
いて前記第２のトラッキングエラー検出手段の出力信号
を補正して出力する第１の補正手段と、光ビームをトラ
ックを横切るように移動させる移動手段と、前記第１の
トラッキングエラー検出手段の出力に基づいて光ビーム
がトラック上に位置するように前記移動手段を制御する
トラッキング制御手段と、前記第１の補正手段の出力に
基づいて前記トラッキング制御手段の目標位置を変える
第２の補正手段とを備えたことを特徴とする光ディスク
装置。
【請求項４】第１のピット列及び第２のピット列の直
前又は直後の前記第１のトラッキングエラー検出手段の
出力値を第２のトラッキングエラー検出手段の出力から
減算して出力するように第１の補正手段を構成すること
を特徴とする請求項３記載の光ディスク装置。
【請求項５】トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第１のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第２
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第１のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第１のピット列及び第２の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第２のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第１のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第２のトラッ
キングエラー検出手段の出力の所定の期間の平均値を算
出する平均値算出手段と、前記平均値算出手段の出力が
零になるように前記第１のトラッキングエラー検出手段
の出力信号にオフセットを加算する調整手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項６】調整手段は、予め求めた平均値算出手段
の出力値を第１のトラッキングエラー検出手段の出力か
ら減算することで出力信号のオフセットの調整を行うよ
うに構成したことを特徴とする請求項５記載の光ディス
ク装置。
【請求項７】トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第１のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第２
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第１のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第１のピット列及び第２の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第２のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第１のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第２のトラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキン
グ制御手段の目標位置を変える補正手段と、前記第１の
トラッキングエラー検出手段の出力の所定の期間の平均
値を算出する平均値算出手段と、前記平均値算出手段の
出力が零になるように前記第１のトラッキングエラー検
出手段の出力信号にオフセットを加算する調整手段とを
備えたことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項８】調整手段は、第１のトラッキングエラー
検出手段の出力から求めた平均値算出手段の出力値を加
算することで出力信号のオフセットの調整を行うように
構成したことを特徴とする請求項７記載の光ディスク装
置。
【請求項９】平均値算出手段は、所定の期間をディス
クが１回転する期間の整数倍とするように構成したこと
を特徴とする請求項５又は請求項７記載の光ディスク装
置。
【請求項１０】トラックに対して直行する一方の向き
にずれた位置に形成された第１のピット列とトラックに
対して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第
２のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照
射してディスクに記録されている情報を検出する再生信
号検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファ
ーフィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ず
れを検出する第１のトラッキングエラー検出手段と、前
記再生信号検出手段の出力する第１のピット列及び第２
のピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ず
れを検出する第２のトラッキングエラー検出手段と、光
ビームをトラックを横切るように移動させる移動手段
と、前記第１のトラッキングエラー検出手段の出力に基
づいて光ビームがトラック上に位置するように前記移動
手段を制御するトラッキング制御手段と、前記第２のト
ラッキングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッ
キング制御手段の目標位置を変える補正手段とを備え、
前記第２のトラッキングエラー検出手段の出力信号のレ
ベルに応じてディスクへの情報の記録を停止することを
特徴とする光ディスク装置。
【請求項１１】凹部と凸部が交互に連結して形成され
た連続するトラックと光ビームの位置ずれをディスクか
らの反射光又は透過光のファーフィールドパターンより
検出するトラッキングエラー検出手段と、光ビームがト
ラックを横切るように移動する移動手段と、前記トラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて光ビームがトラ
ック上に位置するように前記移動手段を制御するトラッ
キング制御手段と、凹部と凸部で前記トラッキング制御
手段の極性を切り替える極性切り替え手段と、凹部と凸
部の切り替わり点の前後の前記トラッキングエラー検出
手段の出力値に基づいて前記トラッキングエラー検出手
段の出力信号のオフセットを調整する調整手段とを備え
たことを特徴とする光ディスク装置。
【請求項１２】調整手段は、凹部と凸部の切り替わり
点の直前と直後のトラッキングエラー検出手段のレベル
が等しくなるように検出の極性切り替え前の点でオフセ
ットを加算するように構成したことを特徴とする請求項
１１記載の光ディスク装置。
【請求項１３】トラックに対して直行する一方の向き
にずれた位置に形成された先行する第１のピット列とト
ラックに対して直行する他方の向きにずれた位置に形成
された後続する第２のピット列が凹部のトラックと凸部
のトラックではトラックに対して逆向きにずれた位置に
配置されているディスクに光ビームを収束照射してディ
スクに記録されている情報を検出する再生信号検出手段
と、ディスクからの反射光又は透過光のファーフィール
ドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれを検出す
る第１のトラッキングエラー検出手段と、前記再生信号
検出手段の出力する第１のピット列及び第２のピット列
の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれを検出す
る第２のトラッキングエラー検出手段と、光ビームをト
ラックを横切るように移動させる移動手段と、前記第１
のトラッキングエラー検出手段の出力に基づいて光ビー
ムがトラック上に位置するように前記移動手段を制御す
るトラッキング制御手段と、凹部と凸部のトラックで前
記第１のトラッキングエラー検出手段の検出の極性が一
致するように極性を切り替える第１の極性切り替え手段
と、凹部と凸部のトラックで前記第２のトラッキングエ
ラー検出手段の検出の極性が一致するように極性を切り
替える第２の極性切り替え手段と、前記第２のトラッキ
ングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキング
制御手段の目標位置を変える補正手段とを備えたことを
特徴とする光ディスク装置。