JP2000293868A - 光ディスク装置 - Google Patents
光ディスク装置Info
- Publication number
- JP2000293868A JP2000293868A JP11097339A JP9733999A JP2000293868A JP 2000293868 A JP2000293868 A JP 2000293868A JP 11097339 A JP11097339 A JP 11097339A JP 9733999 A JP9733999 A JP 9733999A JP 2000293868 A JP2000293868 A JP 2000293868A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- track
- tracking error
- light beam
- output
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ヘッダーフィールドでのトラッキングエラー
信号のオフセットやトラッキングエラー検出用の検出器
のずれやディスクの偏心による対物レンズの変位によっ
て生じるトラッキングエラー信号のオフセットがあって
も光ビームがトラックの中心に制御される光ディスク装
置を提供する。 【解決手段】 ディスク100のトラックに対して直行
する一方の方向にずれた位置に形成された第1のピット
列と、トラックに対して直行する他方の方向にずれた位
置に形成された第2のピット列上を光ビームが通過する
際の全反射光量信号(加算器130の出力)の振幅の差
に基づいて第2のTE信号を検出してプッシュプル法に
よるTE信号(減算器125の出力)を補正する。ま
た、ヘッダーフィールドではS/H回路850によって
トラッキング制御系をホールド状態にする。
信号のオフセットやトラッキングエラー検出用の検出器
のずれやディスクの偏心による対物レンズの変位によっ
て生じるトラッキングエラー信号のオフセットがあって
も光ビームがトラックの中心に制御される光ディスク装
置を提供する。 【解決手段】 ディスク100のトラックに対して直行
する一方の方向にずれた位置に形成された第1のピット
列と、トラックに対して直行する他方の方向にずれた位
置に形成された第2のピット列上を光ビームが通過する
際の全反射光量信号(加算器130の出力)の振幅の差
に基づいて第2のTE信号を検出してプッシュプル法に
よるTE信号(減算器125の出力)を補正する。ま
た、ヘッダーフィールドではS/H回路850によって
トラッキング制御系をホールド状態にする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、トラックが形成さ
れたディスクに情報を記録し、またはディスクから情報
を再生する光ディスク装置のトラッキング制御に関する
ものである。
れたディスクに情報を記録し、またはディスクから情報
を再生する光ディスク装置のトラッキング制御に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来の光ディスク装置として、所定の回
転数で回転している光ディスクに半導体レーザ等の光源
より発生した光ビームを集束して照射し、光ディスク上
の記録されている信号を再生する光ディスク装置があ
る。ディスクの断面を示す図27を用いて光ディスクの
一例を説明する。ディスクには複数のトラックが、スパ
イラル状に形成されており、凹部と凸部の両方がトラッ
クである。トラックのピッチは0.74マイクロメータ
(以下、μmと記す)である。情報面上には相変化材料
等で記録膜が付けられている。ディスク上に情報を記録
する場合には、光ビームが常にトラック上に位置するよ
うにトラッキング制御しながら、光ビームの強度を情報
に応じて変化させることによって記録膜の反射率を変え
る。ディスク上の情報を再生する場合には、光ビームが
常にトラック上に位置するようにトラッキング制御しな
がら光ディスクからの反射光を光検出器で受光する。光
検出器の出力を処理することによって情報を再生する。
転数で回転している光ディスクに半導体レーザ等の光源
より発生した光ビームを集束して照射し、光ディスク上
の記録されている信号を再生する光ディスク装置があ
る。ディスクの断面を示す図27を用いて光ディスクの
一例を説明する。ディスクには複数のトラックが、スパ
イラル状に形成されており、凹部と凸部の両方がトラッ
クである。トラックのピッチは0.74マイクロメータ
(以下、μmと記す)である。情報面上には相変化材料
等で記録膜が付けられている。ディスク上に情報を記録
する場合には、光ビームが常にトラック上に位置するよ
うにトラッキング制御しながら、光ビームの強度を情報
に応じて変化させることによって記録膜の反射率を変え
る。ディスク上の情報を再生する場合には、光ビームが
常にトラック上に位置するようにトラッキング制御しな
がら光ディスクからの反射光を光検出器で受光する。光
検出器の出力を処理することによって情報を再生する。
【0003】次に、図28を用いてアドレスについて説
明する。黒く塗りつぶした部分が凸部である。ピット列
で示した部分がヘッダーフィールドである。ピットは、
凸の形状になっている。ヘッダーフィールドは各セクタ
ーの先頭に配置されている。ピット列は、凸部のトラッ
クと凹部のトラックの中間位置に配置されている。この
ヘッダーフィールドの構成は、一般にCAPA(Con
plementaryAllocated Pit A
ddress)と呼ばれる。ヘッダーフィールドは、V
ariable Frequency Osillat
or(以下、VFOと記す)とセクターのアドレスで構
成される。VFO1、2は、単一の周波数で記録されて
おり、Phase Locked Loop(以下、P
LLと記す)を引き込むために使用される。セクターア
ドレス1は、凹部のセクターのアドレスを示し、セクタ
ーアドレス2は、凸部のセクターのアドレスを示す。ヘ
ッダーフィールド以外の領域は、情報の書き換えが可能
な領域である。以下、リライタブル領域と記す。
明する。黒く塗りつぶした部分が凸部である。ピット列
で示した部分がヘッダーフィールドである。ピットは、
凸の形状になっている。ヘッダーフィールドは各セクタ
ーの先頭に配置されている。ピット列は、凸部のトラッ
クと凹部のトラックの中間位置に配置されている。この
ヘッダーフィールドの構成は、一般にCAPA(Con
plementaryAllocated Pit A
ddress)と呼ばれる。ヘッダーフィールドは、V
ariable Frequency Osillat
or(以下、VFOと記す)とセクターのアドレスで構
成される。VFO1、2は、単一の周波数で記録されて
おり、Phase Locked Loop(以下、P
LLと記す)を引き込むために使用される。セクターア
ドレス1は、凹部のセクターのアドレスを示し、セクタ
ーアドレス2は、凸部のセクターのアドレスを示す。ヘ
ッダーフィールド以外の領域は、情報の書き換えが可能
な領域である。以下、リライタブル領域と記す。
【0004】トラッキング制御のためのトラックずれ量
の検出も同様にしてディスクからの反射光より得てい
る。一般にプッシュプル法と呼ばれるトラッキングエラ
ー検出方式について説明する。以下、トラッキングエラ
ーをTEと記す。プッシュプル法はファーフィールド法
とも呼ばれる方式である。この方式は、ディスクからの
反射光又は透過光のファーフィールドパターンよりトラ
ックと光ビームの位置ずれを検出する方式である。プッ
シュプル法は、ディスク上の案内溝で回折された光をト
ラック中心に対して対称に配置された2分割の光検出器
の受光部での出力差として取り出すことによってTE信
号を検出する方式である。図29に示すように、光ビー
ムと溝の凸部及び凹部の中心が一致している場合には左
右対称な反射回折分布が得られ、それ以外の場合は左右
で光強度がずれる。光ビームがトラックを横断したとき
の2分割光検出器の出力差を図30に示す。凹部及び凸
部の中心でTE信号は零になる。トラッキング制御は、
TE信号に応じてディスク上の光ビームをトラックと直
交する方向に移動することによって行う。光ビームのト
ラックと直交する方向への移動はトラッキングアクチュ
エータによって集束レンズを移動させることにより行
う。
の検出も同様にしてディスクからの反射光より得てい
る。一般にプッシュプル法と呼ばれるトラッキングエラ
ー検出方式について説明する。以下、トラッキングエラ
ーをTEと記す。プッシュプル法はファーフィールド法
とも呼ばれる方式である。この方式は、ディスクからの
反射光又は透過光のファーフィールドパターンよりトラ
ックと光ビームの位置ずれを検出する方式である。プッ
シュプル法は、ディスク上の案内溝で回折された光をト
ラック中心に対して対称に配置された2分割の光検出器
の受光部での出力差として取り出すことによってTE信
号を検出する方式である。図29に示すように、光ビー
ムと溝の凸部及び凹部の中心が一致している場合には左
右対称な反射回折分布が得られ、それ以外の場合は左右
で光強度がずれる。光ビームがトラックを横断したとき
の2分割光検出器の出力差を図30に示す。凹部及び凸
部の中心でTE信号は零になる。トラッキング制御は、
TE信号に応じてディスク上の光ビームをトラックと直
交する方向に移動することによって行う。光ビームのト
ラックと直交する方向への移動はトラッキングアクチュ
エータによって集束レンズを移動させることにより行
う。
【0005】ヘッダーフィールドのピット列は、凸部の
トラックと凹部のトラックの中間位置に配置されている
のでトラックの中心に光ビームがあってもトラッキング
エラー信号は零にならない。従って、ヘッダーフィール
ドでトラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制
御を行うと光ビームはトラックの中心から外れることに
なる。
トラックと凹部のトラックの中間位置に配置されている
のでトラックの中心に光ビームがあってもトラッキング
エラー信号は零にならない。従って、ヘッダーフィール
ドでトラッキングエラー信号に基づいてトラッキング制
御を行うと光ビームはトラックの中心から外れることに
なる。
【0006】また、集束レンズの光軸と光ビームの光軸
がずれると光検出器上でも光ビームが動いてしまうため
にプッシュプル法によるTE信号にオフセットが発生す
る。通常ディスクには偏心があるので集束レンズはディ
スクの偏心に追従するように動き、オフセットが発生す
る。従って、トラッキングエラー信号を零にするように
トラッキング制御しても光ビームはトラックの中心から
ずれる。
がずれると光検出器上でも光ビームが動いてしまうため
にプッシュプル法によるTE信号にオフセットが発生す
る。通常ディスクには偏心があるので集束レンズはディ
スクの偏心に追従するように動き、オフセットが発生す
る。従って、トラッキングエラー信号を零にするように
トラッキング制御しても光ビームはトラックの中心から
ずれる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、ヘッ
ダーフィールドでのトラッキングエラー検出のオフセッ
トやトラッキングエラー検出用光検出器のずれ及びディ
スクの偏心による集束レンズの偏位によって生じるトラ
ッキングエラー信号のオフセットによって光ビームをト
ラックの中心に制御することが困難である。
ダーフィールドでのトラッキングエラー検出のオフセッ
トやトラッキングエラー検出用光検出器のずれ及びディ
スクの偏心による集束レンズの偏位によって生じるトラ
ッキングエラー信号のオフセットによって光ビームをト
ラックの中心に制御することが困難である。
【0008】本発明の目的は、ヘッダーフィールドでの
トラッキングエラー信号のオフセットやトラッキングエ
ラー検出用の検出器のずれ及び集束レンズの偏位による
トラッキングエラー信号のオフセットがあっても、光ビ
ームを正確にトラックの中心に制御する光ディスク装置
を提供することである。
トラッキングエラー信号のオフセットやトラッキングエ
ラー検出用の検出器のずれ及び集束レンズの偏位による
トラッキングエラー信号のオフセットがあっても、光ビ
ームを正確にトラックの中心に制御する光ディスク装置
を提供することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の光ディスク装置は、トラックに対して直行
する一方の向きにずれた位置に形成された第1のピット
列とトラックに対して直行する他方の向きにずれた位置
に形成された第2のピット列とを配置したディスクに光
ビームを収束照射してディスクに記録されている情報を
検出する再生信号検出手段と、トラックと光ビームの位
置ずれをプッシュプル法により検出する第1のトラッキ
ングエラー検出手段と、再生信号検出手段の出力する第
1のピット列及び第2のピット列の再生信号から光ビー
ムとトラックの位置ずれを検出する第2のトラッキング
エラー検出手段と、光ビームをトラックを横切るように
移動させる移動手段と、第1のトラッキングエラー検出
手段の出力に基づいて光ビームがトラック上に位置する
ように前記移動手段を制御するトラッキング制御手段
と、第2のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
てトラッキング制御手段の目標位置を変える補正手段と
を備え、光ビームが第1及び第2のピット列上を通過す
る際は第1のトラッキングエラー検出手段の出力に応じ
て前記トラッキング制御手段が動作しないように構成す
る。
に、本発明の光ディスク装置は、トラックに対して直行
する一方の向きにずれた位置に形成された第1のピット
列とトラックに対して直行する他方の向きにずれた位置
に形成された第2のピット列とを配置したディスクに光
ビームを収束照射してディスクに記録されている情報を
検出する再生信号検出手段と、トラックと光ビームの位
置ずれをプッシュプル法により検出する第1のトラッキ
ングエラー検出手段と、再生信号検出手段の出力する第
1のピット列及び第2のピット列の再生信号から光ビー
ムとトラックの位置ずれを検出する第2のトラッキング
エラー検出手段と、光ビームをトラックを横切るように
移動させる移動手段と、第1のトラッキングエラー検出
手段の出力に基づいて光ビームがトラック上に位置する
ように前記移動手段を制御するトラッキング制御手段
と、第2のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
てトラッキング制御手段の目標位置を変える補正手段と
を備え、光ビームが第1及び第2のピット列上を通過す
る際は第1のトラッキングエラー検出手段の出力に応じ
て前記トラッキング制御手段が動作しないように構成す
る。
【0010】本発明の光ディスク装置は、上記の構成に
おいて、プッシュプル法によるTE信号に基づくトラッ
キング制御の目標位置を、トラックに対して直行する一
方の方向にずれた位置に形成された第1のピット列と、
トラックに対して直行する他方の方向にずれた位置に形
成された第2のピット列上を光ビームが通過する際の再
生信号に基づいて光ビームとトラックの位置ずれを検出
する第2のTE信号に基づいて補正すると共に、光ビー
ムが第1及び第2のピット列上を通過する際は第1のト
ラッキングエラー検出手段の出力に応じてトラッキング
制御手段が動作しないようにするので、ヘッダーフィー
ルドでのトラッキングエラー信号のオフセットやトラッ
キングエラー検出用の検出器のずれやディスクの偏心に
よる対物レンズの変位によって生じるトラッキングエラ
ー信号のオフセットがあっても光ビームはトラックの中
心に制御される。
おいて、プッシュプル法によるTE信号に基づくトラッ
キング制御の目標位置を、トラックに対して直行する一
方の方向にずれた位置に形成された第1のピット列と、
トラックに対して直行する他方の方向にずれた位置に形
成された第2のピット列上を光ビームが通過する際の再
生信号に基づいて光ビームとトラックの位置ずれを検出
する第2のTE信号に基づいて補正すると共に、光ビー
ムが第1及び第2のピット列上を通過する際は第1のト
ラッキングエラー検出手段の出力に応じてトラッキング
制御手段が動作しないようにするので、ヘッダーフィー
ルドでのトラッキングエラー信号のオフセットやトラッ
キングエラー検出用の検出器のずれやディスクの偏心に
よる対物レンズの変位によって生じるトラッキングエラ
ー信号のオフセットがあっても光ビームはトラックの中
心に制御される。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら詳細に説明する。
て、図面を参照しながら詳細に説明する。
【0012】(実施の形態1)図1は、本発明の実施の
形態1における光ディスク装置のブロック図である。デ
ィスク100は、モータ101の回転軸102に取り付
けられ、所定の回転数で回転する。ディスク100はス
パイラル状に凹凸で形成されたトラックを有しており、
凸部及び凹部は共にトラックであり、情報が記録され
る。トラックのピッチは0.6μmである。また、凸部
及び凹部の幅は約0.6μmである。
形態1における光ディスク装置のブロック図である。デ
ィスク100は、モータ101の回転軸102に取り付
けられ、所定の回転数で回転する。ディスク100はス
パイラル状に凹凸で形成されたトラックを有しており、
凸部及び凹部は共にトラックであり、情報が記録され
る。トラックのピッチは0.6μmである。また、凸部
及び凹部の幅は約0.6μmである。
【0013】移送台115には、レーザ109、カップ
リングレンズ108、偏光ビームスプリッタ110、1
/4波長板107、全反射鏡105、光検出器113、
アクチュエータ104が取り付けられており、移送台1
15は、移送モータ114によってディスク100の半
径方向に移動するように構成されている。
リングレンズ108、偏光ビームスプリッタ110、1
/4波長板107、全反射鏡105、光検出器113、
アクチュエータ104が取り付けられており、移送台1
15は、移送モータ114によってディスク100の半
径方向に移動するように構成されている。
【0014】移送台115に取り付けられたレーザ10
9より発生した光ビーム106は、カップリングレンズ
108で平行光にされた後に、偏光ビームスプリッタ1
10、1/4波長板107を通過し、全反射鏡105で
反射され、集束レンズ103によりディスク100の情
報面上に集束して照射される。ディスク100の情報面
により反射された反射光は、集束レンズ103を通過し
て全反射鏡105で反射され、1/4波長板107、偏
光ビームスプリッタ110、検出レンズ111、円筒レ
ンズ112を通過して4個の受光部からなる光検出器1
13上に入射する。
9より発生した光ビーム106は、カップリングレンズ
108で平行光にされた後に、偏光ビームスプリッタ1
10、1/4波長板107を通過し、全反射鏡105で
反射され、集束レンズ103によりディスク100の情
報面上に集束して照射される。ディスク100の情報面
により反射された反射光は、集束レンズ103を通過し
て全反射鏡105で反射され、1/4波長板107、偏
光ビームスプリッタ110、検出レンズ111、円筒レ
ンズ112を通過して4個の受光部からなる光検出器1
13上に入射する。
【0015】集束レンズ103はアクチュエータ104
の可動部に取り付けられている。なお、フォーカス制御
は本発明と直接関係しないので説明を一部省略する。ア
クチュエータ104はフォーカス用コイル,トラッキン
グ用コイル,フォーカス用の永久磁石及びトラッキング
用の永久磁石より構成されている。したがって、アクチ
ュエータ104のフォーカス用コイル(図示せず)に電
力増幅器152を用いて電圧を加えるとコイルに電流が
流れ、コイルはフォーカス用の永久磁石(図示せず)か
ら磁気力を受ける。よって、集束レンズ103はディス
ク100の面と垂直な方向(図では上下方向)に移動す
る。集束レンズ103は光ビームの焦点とディスクの情
報面とのずれを示すフォーカスエラー信号に応じて光ビ
ーム106の焦点が常にディスク100の情報面に位置
するように制御されている。
の可動部に取り付けられている。なお、フォーカス制御
は本発明と直接関係しないので説明を一部省略する。ア
クチュエータ104はフォーカス用コイル,トラッキン
グ用コイル,フォーカス用の永久磁石及びトラッキング
用の永久磁石より構成されている。したがって、アクチ
ュエータ104のフォーカス用コイル(図示せず)に電
力増幅器152を用いて電圧を加えるとコイルに電流が
流れ、コイルはフォーカス用の永久磁石(図示せず)か
ら磁気力を受ける。よって、集束レンズ103はディス
ク100の面と垂直な方向(図では上下方向)に移動す
る。集束レンズ103は光ビームの焦点とディスクの情
報面とのずれを示すフォーカスエラー信号に応じて光ビ
ーム106の焦点が常にディスク100の情報面に位置
するように制御されている。
【0016】また、トラッキング用コイル(図示せず)
に電力増幅器145を用いて電圧を加えると、コイルに
電流が流れ、トラッキング用の永久磁石(図示せず)か
ら磁気力を受ける。よって、集束レンズ103はディス
ク100の半径方向、すなわちディスク100上のトラ
ックを横切るように(図上では左右に)移動する。
に電力増幅器145を用いて電圧を加えると、コイルに
電流が流れ、トラッキング用の永久磁石(図示せず)か
ら磁気力を受ける。よって、集束レンズ103はディス
ク100の半径方向、すなわちディスク100上のトラ
ックを横切るように(図上では左右に)移動する。
【0017】光検出器113は、4個の受光部より形成
されている。光検出器113上に入射したディスクから
の反射光は、それぞれ電流に変換され、I/V変換器1
16,117,118,119へ送られる。I/V変換
器116,117,118,119は、入力される電流
をその電流レベルに応じた電圧に変換する。
されている。光検出器113上に入射したディスクから
の反射光は、それぞれ電流に変換され、I/V変換器1
16,117,118,119へ送られる。I/V変換
器116,117,118,119は、入力される電流
をその電流レベルに応じた電圧に変換する。
【0018】加算器120,121,123,124,
130は、入力信号を加算して出力する。減算器12
2,125は、入力信号を減算して出力する。
130は、入力信号を加算して出力する。減算器12
2,125は、入力信号を減算して出力する。
【0019】減算器122の出力は、ディスクに照射さ
れる光ビームの焦点とディスク100の情報面とのずれ
を示すフォーカスエラー信号である。フォーカスエラー
信号は、アナログ・ディジタル変換器149、位相補償
回路150、ディジタル・アナログ変換器151、電力
増幅器152へ送られる。電力増幅器152によりアク
チュエータ104のフォーカス用コイルに電流が流れ
る。
れる光ビームの焦点とディスク100の情報面とのずれ
を示すフォーカスエラー信号である。フォーカスエラー
信号は、アナログ・ディジタル変換器149、位相補償
回路150、ディジタル・アナログ変換器151、電力
増幅器152へ送られる。電力増幅器152によりアク
チュエータ104のフォーカス用コイルに電流が流れ
る。
【0020】アナログ・ディジタル変換器149(以
下、A/D変換器と記す)は、アナログ信号をディジタ
ル信号に変換する。また、ディジタル・アナログ変換器
151(以下、D/A変換器と記す)は、ディジタル信
号をアナログ信号に変換する。
下、A/D変換器と記す)は、アナログ信号をディジタ
ル信号に変換する。また、ディジタル・アナログ変換器
151(以下、D/A変換器と記す)は、ディジタル信
号をアナログ信号に変換する。
【0021】位相補償回路150はディジタルフィルタ
であり、フォーカス制御系を安定にする機能を有する。
従って、フォーカスエラー信号に応じて集束レンズ10
3が駆動され、光ビームの焦点が常に情報面上に位置す
る。
であり、フォーカス制御系を安定にする機能を有する。
従って、フォーカスエラー信号に応じて集束レンズ10
3が駆動され、光ビームの焦点が常に情報面上に位置す
る。
【0022】図1に示した光学系は、一般にプッシュプ
ル法と呼ばれるTE信号の検出方式を構成している。従
って、減算器125の出力がディスクに照射される光ビ
ームとディスク100のトラックとのずれを示すTE信
号を示す。以下では、減算器125の出力を第1のTE
信号と記す。第1のTE信号は、スイッチ155、A/
D変換器143、加算器142、位相補償回路144、
サンプルホールド回路(以下、S/H回路と記す)85
0、D/A変換器170、電力増幅器145へ送られ
る。電力増幅器145によりアクチュエータ104のト
ラッキング用コイルに電流が流れる。
ル法と呼ばれるTE信号の検出方式を構成している。従
って、減算器125の出力がディスクに照射される光ビ
ームとディスク100のトラックとのずれを示すTE信
号を示す。以下では、減算器125の出力を第1のTE
信号と記す。第1のTE信号は、スイッチ155、A/
D変換器143、加算器142、位相補償回路144、
サンプルホールド回路(以下、S/H回路と記す)85
0、D/A変換器170、電力増幅器145へ送られ
る。電力増幅器145によりアクチュエータ104のト
ラッキング用コイルに電流が流れる。
【0023】位相補償回路144はディジタルフィルタ
であり、トラッキング制御系を安定にする機能を有す
る。従って、第1のTE信号に応じて集束レンズ103
が駆動されるので光ビームが常にトラックを追従する。
であり、トラッキング制御系を安定にする機能を有す
る。従って、第1のTE信号に応じて集束レンズ103
が駆動されるので光ビームが常にトラックを追従する。
【0024】また、ディジタルに変換された第1のTE
信号はローパスフィルタ146、D/A変換器147、
加算器148を介して電力増幅器129に送られる。従
って、移送モータ114は第1のTE信号の低周波成分
に応じて制御される。即ち、トラッキング制御系におい
ては、高い周波数の外乱に対してはアクチュエータ10
4で追従し、低い周波数成分の外乱に対しては移送モー
タ114で追従する構成になっている。
信号はローパスフィルタ146、D/A変換器147、
加算器148を介して電力増幅器129に送られる。従
って、移送モータ114は第1のTE信号の低周波成分
に応じて制御される。即ち、トラッキング制御系におい
ては、高い周波数の外乱に対してはアクチュエータ10
4で追従し、低い周波数成分の外乱に対しては移送モー
タ114で追従する構成になっている。
【0025】加算器130は、加算器123と加算器1
24の出力を加算する。即ち、加算器130の出力は光
検出器113の全受光量となる。以下では、加算器13
0の出力信号を、全反射光量信号と記す。加算器130
の出力は、アドレス再生回路131に送られる。アドレ
ス再生回路131は、セクターアドレスを再生し、マイ
クロプロセッサ140(以下、マイコンと記す)に送
る。また、アドレスに同期した信号をゲート生成回路1
32に送る。
24の出力を加算する。即ち、加算器130の出力は光
検出器113の全受光量となる。以下では、加算器13
0の出力信号を、全反射光量信号と記す。加算器130
の出力は、アドレス再生回路131に送られる。アドレ
ス再生回路131は、セクターアドレスを再生し、マイ
クロプロセッサ140(以下、マイコンと記す)に送
る。また、アドレスに同期した信号をゲート生成回路1
32に送る。
【0026】ゲート生成回路132は、アドレス部でハ
イレベルになるID信号をスイッチ133へ出力する。
また、アドレス部のVFO1の直後にサンプル・ホール
ド回路136(以下、S/H回路と記す)へパルスを出
力する。以下では、VFO1サンプル信号と記す。ま
た、アドレス部のVFO2の直後にS/H回路137へ
パルスを出力する。以下では、VFO2サンプル信号と
記す。また、VFO2サンプル信号の直後にS/H回路
139へパルスを出力する。以下では、データ更新信号
と記す。
イレベルになるID信号をスイッチ133へ出力する。
また、アドレス部のVFO1の直後にサンプル・ホール
ド回路136(以下、S/H回路と記す)へパルスを出
力する。以下では、VFO1サンプル信号と記す。ま
た、アドレス部のVFO2の直後にS/H回路137へ
パルスを出力する。以下では、VFO2サンプル信号と
記す。また、VFO2サンプル信号の直後にS/H回路
139へパルスを出力する。以下では、データ更新信号
と記す。
【0027】S/H回路850は、ID部直前のD/A
変換器170の入力値をサンプリングしてID部の期間
は保持する。即ち、ID部ではトラッキング制御系がホ
ールド状態になる。
変換器170の入力値をサンプリングしてID部の期間
は保持する。即ち、ID部ではトラッキング制御系がホ
ールド状態になる。
【0028】スイッチ133,HPF172,絶対値回
路134,LPF135,S/H回路136,137,
139及び減算器138は、第2のTE信号を生成する
ための回路を構成する。S/H回路139の出力は第2
のTE信号となる。
路134,LPF135,S/H回路136,137,
139及び減算器138は、第2のTE信号を生成する
ための回路を構成する。S/H回路139の出力は第2
のTE信号となる。
【0029】第2のTE信号は、A/D変換器153で
ディジタル信号に変換され、乗算器156,LPF15
7及びスイッチ154を介して加算器142へ送られ
る。
ディジタル信号に変換され、乗算器156,LPF15
7及びスイッチ154を介して加算器142へ送られ
る。
【0030】乗算器156は、入力信号に所定の係数を
乗算して出力する。所定の係数は、第1のTE信号の検
出感度と第2のTE信号の検出感度が等しくする係数で
ある。以下では、乗算器156の出力を正規化された第
2のTE信号と記す。
乗算して出力する。所定の係数は、第1のTE信号の検
出感度と第2のTE信号の検出感度が等しくする係数で
ある。以下では、乗算器156の出力を正規化された第
2のTE信号と記す。
【0031】トラッキング制御を動作させる際のマイコ
ン140の動作を説明する。初期状態でマイコン140
は、スイッチ154を開いた状態でスイッチ155を閉
じてトラッキング制御を動作させる。集束レンズ104
は、第1のTE信号に基づいて駆動される。
ン140の動作を説明する。初期状態でマイコン140
は、スイッチ154を開いた状態でスイッチ155を閉
じてトラッキング制御を動作させる。集束レンズ104
は、第1のTE信号に基づいて駆動される。
【0032】アドレス再生回路131は、アドレスを読
み取り、マイコン140へアドレスを送る。アドレス再
生回路131は、アドレスに同期した信号をゲート生成
回路132へ送る。ゲート生成回路132は、ID信
号,VFO1サンプル信号,VFO2サンプル信号及び
データ更新信号を出力する。従って、S/H回路139
から第2のTE信号が出力される。マイコン140は、
スイッチ154を閉じて第2のTE信号に応じて、第1
のTE信号に基づいて動作しているトラッキング制御系
の目標位置を補正する。補正は、第1のTE信号に基づ
くトラッキング制御系に加算器142を介して第2のT
E信号に対応するオフセットを加えることで行う。
み取り、マイコン140へアドレスを送る。アドレス再
生回路131は、アドレスに同期した信号をゲート生成
回路132へ送る。ゲート生成回路132は、ID信
号,VFO1サンプル信号,VFO2サンプル信号及び
データ更新信号を出力する。従って、S/H回路139
から第2のTE信号が出力される。マイコン140は、
スイッチ154を閉じて第2のTE信号に応じて、第1
のTE信号に基づいて動作しているトラッキング制御系
の目標位置を補正する。補正は、第1のTE信号に基づ
くトラッキング制御系に加算器142を介して第2のT
E信号に対応するオフセットを加えることで行う。
【0033】以下各ブロックについて詳細に説明する。
【0034】まず、第2のTE信号の検出方法について
図2を用いて説明する。図2(a)は、トラックと光ビ
ームの関係を示す模式図であり、図2(b)は、加算器
130の出力である全反射光量信号の波形を示したもの
である。図2(a)では光ビームが、凸部のトラック
(黒く塗りつぶした部分)の中心を移動する場合を示し
ている。ディスクからの反射光量は、図2(b)に示す
ようにピットによって変調される。VFO1のピット列
と光ビームの距離およびVFO2のピット列と光ビーム
の距離が等しいのでVFO1での振幅m1とVFO2で
の振幅n1は等しくなる。
図2を用いて説明する。図2(a)は、トラックと光ビ
ームの関係を示す模式図であり、図2(b)は、加算器
130の出力である全反射光量信号の波形を示したもの
である。図2(a)では光ビームが、凸部のトラック
(黒く塗りつぶした部分)の中心を移動する場合を示し
ている。ディスクからの反射光量は、図2(b)に示す
ようにピットによって変調される。VFO1のピット列
と光ビームの距離およびVFO2のピット列と光ビーム
の距離が等しいのでVFO1での振幅m1とVFO2で
の振幅n1は等しくなる。
【0035】光ビームが、トラックとトラックの中間位
置を移動する場合を図3に示す。図3(b)は全反射光
量信号を示しており、VFO1のピット列と光ビームの
距離はVFO2のピット列と光ビームの距離に比べ短い
ので、振幅m2はVFO2での振幅n2に比べ大きくな
る。
置を移動する場合を図3に示す。図3(b)は全反射光
量信号を示しており、VFO1のピット列と光ビームの
距離はVFO2のピット列と光ビームの距離に比べ短い
ので、振幅m2はVFO2での振幅n2に比べ大きくな
る。
【0036】光ビームが、図3の場合と逆の中間位置に
位置している場合を図4に示す。図4(b)は全反射光
量信号を示しており、VFO1のピット列と光ビームの
距離はVFO2のピット列と光ビームの距離に比べ長い
ので、振幅m3はVFO2での振幅n3に比べ小さくな
る。
位置している場合を図4に示す。図4(b)は全反射光
量信号を示しており、VFO1のピット列と光ビームの
距離はVFO2のピット列と光ビームの距離に比べ長い
ので、振幅m3はVFO2での振幅n3に比べ小さくな
る。
【0037】図2,図3,図4に示したように、VFO
1とVFO2での全反射光量信号の振幅差を検出するこ
とで光ビームとトラックのずれを検出することができ
る。図5は、トラックずれと第2のTE信号の関係を示
したものである。なお、凸部のトラックと凹部のトラッ
クではVFO1とVFO2のトラック中心からのずれの
方向が逆になるので凸部のトラックと凹部のトラックで
の第2のTE信号のトラックずれに対する傾きは逆にな
る。
1とVFO2での全反射光量信号の振幅差を検出するこ
とで光ビームとトラックのずれを検出することができ
る。図5は、トラックずれと第2のTE信号の関係を示
したものである。なお、凸部のトラックと凹部のトラッ
クではVFO1とVFO2のトラック中心からのずれの
方向が逆になるので凸部のトラックと凹部のトラックで
の第2のTE信号のトラックずれに対する傾きは逆にな
る。
【0038】次にVFO1とVFO2での全反射光量信
号の振幅を検出する方式について説明する。図6は、ゲ
ート生成回路132の出力信号と加算器130の出力信
号の関係を示したものである。図6(a)は光ビームと
ヘッダーフィールドの関係、図6(b)は加算器130
の出力波形、図6(c)はID信号、図6(d)はVF
O1サンプル信号、図6(e)はVFO2サンプル信
号、図6(f)はデータ更新信号の各波形である。
号の振幅を検出する方式について説明する。図6は、ゲ
ート生成回路132の出力信号と加算器130の出力信
号の関係を示したものである。図6(a)は光ビームと
ヘッダーフィールドの関係、図6(b)は加算器130
の出力波形、図6(c)はID信号、図6(d)はVF
O1サンプル信号、図6(e)はVFO2サンプル信
号、図6(f)はデータ更新信号の各波形である。
【0039】ゲート生成回路132は、アドレス再生回
路131が出力した前のセクターでのアドレス同期信号
を基準にして次のセクターでのID信号、VFO1サン
プル信号、VFO2サンプル信号、データ更新信号をそ
れぞ生成する。ゲート生成回路132は、内部に発振器
とその発振器の出力を計数するカンターを有している。
アドレス同期信号に応じてカウンターをクリアーし、カ
ウンター値に基づいて上述したゲート信号を生成する。
路131が出力した前のセクターでのアドレス同期信号
を基準にして次のセクターでのID信号、VFO1サン
プル信号、VFO2サンプル信号、データ更新信号をそ
れぞ生成する。ゲート生成回路132は、内部に発振器
とその発振器の出力を計数するカンターを有している。
アドレス同期信号に応じてカウンターをクリアーし、カ
ウンター値に基づいて上述したゲート信号を生成する。
【0040】ID信号は、ヘッダーフィールドの直前の
時間t10からヘッダーフィールド直後の時間t14ま
での期間でハイレベルになる。VFO1サンプル信号
は、VFO1の後端である時間t11でハイレベルにな
るパルス信号である。VFO2サンプル信号はVFO2
の後端である時間t12でハイレベルになるパルス信号
である。データ更新信号はVFO2信号の直後である時
間t13でハイレベルになるパルス信号である。
時間t10からヘッダーフィールド直後の時間t14ま
での期間でハイレベルになる。VFO1サンプル信号
は、VFO1の後端である時間t11でハイレベルにな
るパルス信号である。VFO2サンプル信号はVFO2
の後端である時間t12でハイレベルになるパルス信号
である。データ更新信号はVFO2信号の直後である時
間t13でハイレベルになるパルス信号である。
【0041】ID信号がハイレベルになるとスイッチ1
33が閉じる。従って、加算器130の出力信号がHP
F172を介して絶対値回路134に入力される。絶対
値回路134は、零レベルを基準に入力信号の絶対値を
出力する。HPF172は、直流成分を除去する。LP
F135は、入力信号の高域周波数成分を除去して出力
する。
33が閉じる。従って、加算器130の出力信号がHP
F172を介して絶対値回路134に入力される。絶対
値回路134は、零レベルを基準に入力信号の絶対値を
出力する。HPF172は、直流成分を除去する。LP
F135は、入力信号の高域周波数成分を除去して出力
する。
【0042】LPF135の出力のレベルは、図2,図
3,図4に示したm及びnに応じたレベルになる。S/
H回路136は、コントロール端子cが、ハイレベルに
なるとサンプル状態になり、ローレベルになるとホール
ド状態になる。なお、S/H回路137,139も同様
の構成である。
3,図4に示したm及びnに応じたレベルになる。S/
H回路136は、コントロール端子cが、ハイレベルに
なるとサンプル状態になり、ローレベルになるとホール
ド状態になる。なお、S/H回路137,139も同様
の構成である。
【0043】従って、時間t10でのLPF135の出
力を保持して出力する。この時点でのS/H回路136
の出力は図2,図3,図4でのmを示す。同様に、S/
H回路137は、時間t11でのLPF135の出力を
保持して出力する。この時点でのS/H回路137の出
力は図2,図3,図4でのnを示す。
力を保持して出力する。この時点でのS/H回路136
の出力は図2,図3,図4でのmを示す。同様に、S/
H回路137は、時間t11でのLPF135の出力を
保持して出力する。この時点でのS/H回路137の出
力は図2,図3,図4でのnを示す。
【0044】減算器138は、S/H回路136とS/
H回路137の出力の差を出力する。即ち、時間t11
以後の減算器の出力は(m−n)の値を示す。S/H回
路139は、時間t12での減算器138の出力を保持
して出力する。従って、S/H回路138の出力は、V
FO1での全反射光量信号の振幅とVFO2の全反射光
量信号の振幅差を示す。即ち、第2のTE信号となる。
H回路137の出力の差を出力する。即ち、時間t11
以後の減算器の出力は(m−n)の値を示す。S/H回
路139は、時間t12での減算器138の出力を保持
して出力する。従って、S/H回路138の出力は、V
FO1での全反射光量信号の振幅とVFO2の全反射光
量信号の振幅差を示す。即ち、第2のTE信号となる。
【0045】HPF172と絶対値回路134につい
て、図7を用いて説明する。コンデンサ200,抵抗2
01がHPF172を構成する。端子208がスイッチ
133に接続され、端子209がLPF135に接続さ
れる。HPF172の出力は、ゲインが1倍のアンプ2
03とゲインが−1倍のアンプ204に送られる。アン
プ203,204にはダイオード205、206が接続
されている。よって、アンプ203,204の出力が負
の場合には、出力は零になる。アンプ203,204の
出力は加算器207に送られ、加算器207の出力は端
子209に送られる。
て、図7を用いて説明する。コンデンサ200,抵抗2
01がHPF172を構成する。端子208がスイッチ
133に接続され、端子209がLPF135に接続さ
れる。HPF172の出力は、ゲインが1倍のアンプ2
03とゲインが−1倍のアンプ204に送られる。アン
プ203,204にはダイオード205、206が接続
されている。よって、アンプ203,204の出力が負
の場合には、出力は零になる。アンプ203,204の
出力は加算器207に送られ、加算器207の出力は端
子209に送られる。
【0046】図8は、図7の回路の動作を説明するもの
で、図8(a)は端子208に入力する信号波形、図8
(b)はID信号、図8(c)はアンプ203の出力、
図8(d)はアンプ204の出力、図8(e)は加算器
207の出力の各波形である。加算器207の出力は、
VFO部の全反射光量信号の振幅の中心を基準にして絶
対値に変換した波形となる。
で、図8(a)は端子208に入力する信号波形、図8
(b)はID信号、図8(c)はアンプ203の出力、
図8(d)はアンプ204の出力、図8(e)は加算器
207の出力の各波形である。加算器207の出力は、
VFO部の全反射光量信号の振幅の中心を基準にして絶
対値に変換した波形となる。
【0047】LPF135は、上述した構成で絶対値回
路134の出力信号である図8(e)に示した信号のピ
ットによって生じる高周波成分を除去する。従って、L
PF135の出力は、VFOでの全反射光量信号の振幅
を示す。
路134の出力信号である図8(e)に示した信号のピ
ットによって生じる高周波成分を除去する。従って、L
PF135の出力は、VFOでの全反射光量信号の振幅
を示す。
【0048】次に、第2のTE信号をトラッキング制御
系に加算するブロックについて説明する。第2のTE信
号は、A/D変換器153によってディジタル信号に変
換された後、乗算器156を介してディジタルフィルタ
であるLPF157に送られる。図9は、LPF157
のゲイン及び位相の特性を示したもので、図9(a)は
ゲイン特性である。縦軸はデシベル(dB)、横軸は周
波数を対数(Log)で示している。1Hzまで平坦な
特性で、1Hz以上では−20dB/decとなり、1
0Hzで0dBとなる。図9(b)は位相特性であり、
縦軸は位相を度で表し、横軸は図9(a)と同じであ
る。
系に加算するブロックについて説明する。第2のTE信
号は、A/D変換器153によってディジタル信号に変
換された後、乗算器156を介してディジタルフィルタ
であるLPF157に送られる。図9は、LPF157
のゲイン及び位相の特性を示したもので、図9(a)は
ゲイン特性である。縦軸はデシベル(dB)、横軸は周
波数を対数(Log)で示している。1Hzまで平坦な
特性で、1Hz以上では−20dB/decとなり、1
0Hzで0dBとなる。図9(b)は位相特性であり、
縦軸は位相を度で表し、横軸は図9(a)と同じであ
る。
【0049】次に、第2のTE信号をトラッキング制御
系に加算した場合のトラッキング制御系の特性について
説明する。即ち、スイッチ154が閉じている状態での
特性である。第1のTE信号である減算器125の出力
をP、加算器142の出力をQ、第2のTE信号である
S/H回路139の出力をRとして、図10にそのブロ
ック線図を示す。
系に加算した場合のトラッキング制御系の特性について
説明する。即ち、スイッチ154が閉じている状態での
特性である。第1のTE信号である減算器125の出力
をP、加算器142の出力をQ、第2のTE信号である
S/H回路139の出力をRとして、図10にそのブロ
ック線図を示す。
【0050】信号線Oは光ビームの位置を示す。信号線
Tはトラックの位置を示す。減算器350の出力は、光
ビームとトラックのずれを示す。信号Uは、光ビームと
トラックの真のずれを示す信号である。以下では、信号
Uを真のトラックずれ信号と記す。真のトラックずれ信
号Uは、0次ホルダー354、LPF351を介して加
算器353に送られる。なお、LPF351は、上述し
たディジタルフィルタであるLPF157に相当する。
0次ホルダー354は、第2のTE信号がID部のみで
検出される信号であることに対応している。
Tはトラックの位置を示す。減算器350の出力は、光
ビームとトラックのずれを示す。信号Uは、光ビームと
トラックの真のずれを示す信号である。以下では、信号
Uを真のトラックずれ信号と記す。真のトラックずれ信
号Uは、0次ホルダー354、LPF351を介して加
算器353に送られる。なお、LPF351は、上述し
たディジタルフィルタであるLPF157に相当する。
0次ホルダー354は、第2のTE信号がID部のみで
検出される信号であることに対応している。
【0051】信号線Dは、上述した光検出器113の位
置ずれや集束レンズの変位によって生じる第1のTE信
号のオフセットを示している。従って、加算器352の
出力は第1のTE信号を示す。
置ずれや集束レンズの変位によって生じる第1のTE信
号のオフセットを示している。従って、加算器352の
出力は第1のTE信号を示す。
【0052】信号線Uと信号線Qの伝達特性を図11に
示す。なお、信号線Dのレベルは零としている。図11
(a)はゲイン特性で、縦軸はデシベル(dB)、横軸
は周波数を対数(Log)で示している。1Hzまで平
坦な特性で、1Hz以上では−20dB/decとな
り、10Hzで0dBとなる。10Hz以上では0dB
になる。図11(b)は位相特性を示しており、縦軸は
位相を度で表し、横軸は図11(a)と同じである。
示す。なお、信号線Dのレベルは零としている。図11
(a)はゲイン特性で、縦軸はデシベル(dB)、横軸
は周波数を対数(Log)で示している。1Hzまで平
坦な特性で、1Hz以上では−20dB/decとな
り、10Hzで0dBとなる。10Hz以上では0dB
になる。図11(b)は位相特性を示しており、縦軸は
位相を度で表し、横軸は図11(a)と同じである。
【0053】第1のTE信号のみによるトラッキング制
御系の場合、即ちスイッチ154が開いている場合に
は、周波数によらずゲインは0dBになる。従って、ス
イッチ154が閉じることによって10Hz以下でのゲ
インが高くなる。10Hz以下の周波数では第2のTE
信号が支配的になる。第2のTE信号は真のトラックず
れ信号を0次ホルダーを介した信号であるので信号線D
の影響は受けない。従って、信号線Dの影響が低減され
て、光検出器113の位置ずれや集束レンズの変位によ
って生じる第1のTE信号のオフセット(図10での
D)があっても光ビームはトラック中心を追従する。
御系の場合、即ちスイッチ154が開いている場合に
は、周波数によらずゲインは0dBになる。従って、ス
イッチ154が閉じることによって10Hz以下でのゲ
インが高くなる。10Hz以下の周波数では第2のTE
信号が支配的になる。第2のTE信号は真のトラックず
れ信号を0次ホルダーを介した信号であるので信号線D
の影響は受けない。従って、信号線Dの影響が低減され
て、光検出器113の位置ずれや集束レンズの変位によ
って生じる第1のTE信号のオフセット(図10での
D)があっても光ビームはトラック中心を追従する。
【0054】次に、S/H回路850によってID部の
直前のD/A変換器170の入力値をサンプリングして
光ビームがID部を通過する期間は保持する動作につい
て図12を用いて説明する。最初にID部の期間で、S
/H回路850でID部の直前の値を保持しない場合の
動作について説明した後に保持した場合の動作を説明す
る。
直前のD/A変換器170の入力値をサンプリングして
光ビームがID部を通過する期間は保持する動作につい
て図12を用いて説明する。最初にID部の期間で、S
/H回路850でID部の直前の値を保持しない場合の
動作について説明した後に保持した場合の動作を説明す
る。
【0055】図12(a)は第1のTE信号波形を、図
12(b)はID信号波形を、図12(c)は第2のT
E信号波形をそれぞれ示している。ID部の期間はID
信号波形がハイレベルの期間である。
12(b)はID信号波形を、図12(c)は第2のT
E信号波形をそれぞれ示している。ID部の期間はID
信号波形がハイレベルの期間である。
【0056】ID部のピット列は、トラックの中心から
ずれた位置に配置されているので、第1のTE信号は図
12(a)に示すようにピット列のずれに応じたオフセ
ットを発生する。即ち、ID部での第1のTE信号は、
光ビームのトラックの中心からのずれに対応していな
い。従って、ID部で疑似の第1のTE信号がA/D1
43に入力されると、その信号に応じて集束レンズが駆
動されるので、光ビームはトラック中心からずれること
になる。第2のTE信号の検出系は、ID部での光ビー
ムとトラック中心のずれを検出するので図12(c)に
破線で示すようにID部通過後にオフセットを生じる。
ID部を通過後は、第1のTE信号は光ビームとトラッ
クのずれを示す本来の信号となるので、光ビームがトラ
ック中心に位置するように制御される。しかしながら、
第2のTE信号のレベルは次のID部まで保持されるの
で、光ビームをトラック中心からずらすように動作す
る。
ずれた位置に配置されているので、第1のTE信号は図
12(a)に示すようにピット列のずれに応じたオフセ
ットを発生する。即ち、ID部での第1のTE信号は、
光ビームのトラックの中心からのずれに対応していな
い。従って、ID部で疑似の第1のTE信号がA/D1
43に入力されると、その信号に応じて集束レンズが駆
動されるので、光ビームはトラック中心からずれること
になる。第2のTE信号の検出系は、ID部での光ビー
ムとトラック中心のずれを検出するので図12(c)に
破線で示すようにID部通過後にオフセットを生じる。
ID部を通過後は、第1のTE信号は光ビームとトラッ
クのずれを示す本来の信号となるので、光ビームがトラ
ック中心に位置するように制御される。しかしながら、
第2のTE信号のレベルは次のID部まで保持されるの
で、光ビームをトラック中心からずらすように動作す
る。
【0057】ID部の期間で、S/H回路850でID
部の直前の値を保持する本来の動作について説明する。
ID部では、S/H回路850によってトラッキングア
クチュエータの駆動値がID部直前の値に保持されるの
で、光ビームはトラックの中心に保持される。従って、
第2のTE信号は、図12(c)に実線で示すように零
のままである。従って、次のID部までの期間でID部
の影響によって光ビームがトラック中心からずれること
がない。
部の直前の値を保持する本来の動作について説明する。
ID部では、S/H回路850によってトラッキングア
クチュエータの駆動値がID部直前の値に保持されるの
で、光ビームはトラックの中心に保持される。従って、
第2のTE信号は、図12(c)に実線で示すように零
のままである。従って、次のID部までの期間でID部
の影響によって光ビームがトラック中心からずれること
がない。
【0058】(実施の形態2)以下、本発明の実施の形
態2について、そのブロック図である図13を用いて説
明する。上述した実施の形態1と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態1と異なる
点は、測定回路851、減算器852が付加されている
点である。
態2について、そのブロック図である図13を用いて説
明する。上述した実施の形態1と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態1と異なる
点は、測定回路851、減算器852が付加されている
点である。
【0059】測定回路851は、ID部の直前及び直後
の第1のTE信号のレベルを取り込み、その平均値を出
力する。端子aにA/D変換された第1のTE信号が、
端子cにID信号ががそれぞれ入力される。端子bが出
力端子である。測定回路851は端子cの信号の立ち上
がりエッジを検出してそのときの端子aに入力される信
号レベルを測定する。この値をE1とする。また、端子
cの信号の立ち上がりエッジを検出して同様に測定す
る。この値をE2とする。測定後に(E1+E2)/2
の値を計算し、端子bに出力する。
の第1のTE信号のレベルを取り込み、その平均値を出
力する。端子aにA/D変換された第1のTE信号が、
端子cにID信号ががそれぞれ入力される。端子bが出
力端子である。測定回路851は端子cの信号の立ち上
がりエッジを検出してそのときの端子aに入力される信
号レベルを測定する。この値をE1とする。また、端子
cの信号の立ち上がりエッジを検出して同様に測定す
る。この値をE2とする。測定後に(E1+E2)/2
の値を計算し、端子bに出力する。
【0060】測定回路851の出力は、減算器852に
送られる。減算器852の出力は、LPF157、スイ
ッチ154及び加算器142を介してトラッキング制御
系に加算される。
送られる。減算器852の出力は、LPF157、スイ
ッチ154及び加算器142を介してトラッキング制御
系に加算される。
【0061】図14は光ビームとトラックの関係を示す
模式図である。図14に示した線上を光ビームが移動し
た場合の測定回路851、減算器852の動作を説明す
る。図14は、光ディスク装置に外部から加わった衝撃
等によってID部で光ビームがトラック中心からずれた
場合の一例を示している。矢印で示した線上を光ビーム
が移動する場合の動作を説明する。図14に示した線上
を光ビームが移動した場合の波形を図15に示す。図1
5(a)は第1のTE信号波形を示している。同様に、
図15(b)はID信号、図15(c) は正規化された
第2のTE信号、図15(d)は減算器852の出力信
号をそれぞれ示す。
模式図である。図14に示した線上を光ビームが移動し
た場合の測定回路851、減算器852の動作を説明す
る。図14は、光ディスク装置に外部から加わった衝撃
等によってID部で光ビームがトラック中心からずれた
場合の一例を示している。矢印で示した線上を光ビーム
が移動する場合の動作を説明する。図14に示した線上
を光ビームが移動した場合の波形を図15に示す。図1
5(a)は第1のTE信号波形を示している。同様に、
図15(b)はID信号、図15(c) は正規化された
第2のTE信号、図15(d)は減算器852の出力信
号をそれぞれ示す。
【0062】図14に示すように、衝撃等によって光ビ
ームがトラック中心からずれると第1のTE信号は図1
5(a)に示すように所定の値になる。ID部の直前の
値をE3とし、直後の値をE4とする。なお、E3=E
4であるとする。第1のTE信号は衝撃等が無くなると
零になる。また、衝撃が加わった期間がID部の期間で
あるので、図15(c)に示すように正規化された第2
のTE信号もE3になる。従って、減算器852の出力
は零になる。ID部の直前及び直後の第1のTE信号の
レベルを正規化した第2のTE信号から減算すること
で、ID部で衝撃等が加わったことによって光ビームが
トラックの中心からずれても第2のTE信号が影響を受
けることがない。
ームがトラック中心からずれると第1のTE信号は図1
5(a)に示すように所定の値になる。ID部の直前の
値をE3とし、直後の値をE4とする。なお、E3=E
4であるとする。第1のTE信号は衝撃等が無くなると
零になる。また、衝撃が加わった期間がID部の期間で
あるので、図15(c)に示すように正規化された第2
のTE信号もE3になる。従って、減算器852の出力
は零になる。ID部の直前及び直後の第1のTE信号の
レベルを正規化した第2のTE信号から減算すること
で、ID部で衝撃等が加わったことによって光ビームが
トラックの中心からずれても第2のTE信号が影響を受
けることがない。
【0063】なお、測定回路851及び減算器852が
無い場合には正規化された第2のTE信号は図15
(c)に示したE3になるので、次のID部までの期間
は第2のTE信号によって光ビームはトラックの中心か
らずれるという問題が生じる。
無い場合には正規化された第2のTE信号は図15
(c)に示したE3になるので、次のID部までの期間
は第2のTE信号によって光ビームはトラックの中心か
らずれるという問題が生じる。
【0064】(実施の形態3)以下、本発明の実施の形
態3について、そのブロック図である図16を用いて説
明する。上述した実施の形態1と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態1と異なる
点は、平均値算出回路855及び減算器856が追加さ
れている点である。また、マイコン140がマイコン8
57に変更されている点である。
態3について、そのブロック図である図16を用いて説
明する。上述した実施の形態1と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態1と異なる
点は、平均値算出回路855及び減算器856が追加さ
れている点である。また、マイコン140がマイコン8
57に変更されている点である。
【0065】上述したように第1のTE信号は、光検出
器113の位置ずれによってオフセットが発生する。ま
た、集束レンズ103がディスクの偏心等により光ビー
ムの光軸からずれるとオフセットが発生する。光検出器
113の位置ずれと集束レンズ103の偏位によるオフ
セットがある場合の第1のTE信と第2のTE信号につ
いて図17を用いて説明する。なお、光検出器113の
位置ずれは、光ビームとトラックの中心のずれが0.1
μm相当であるとする。
器113の位置ずれによってオフセットが発生する。ま
た、集束レンズ103がディスクの偏心等により光ビー
ムの光軸からずれるとオフセットが発生する。光検出器
113の位置ずれと集束レンズ103の偏位によるオフ
セットがある場合の第1のTE信と第2のTE信号につ
いて図17を用いて説明する。なお、光検出器113の
位置ずれは、光ビームとトラックの中心のずれが0.1
μm相当であるとする。
【0066】図17(a)の太い破線はスイッチ154
が開いた状態での第1のTE信号を、また、太い実線は
スイッチ154が閉じた場合での波形を示す。図17
(b)には、スイッチ154が開いた状態での正規化さ
れた第2のTE信号を太い破線で、また、スイッチ15
4が閉じた場合を太い実線で示している。
が開いた状態での第1のTE信号を、また、太い実線は
スイッチ154が閉じた場合での波形を示す。図17
(b)には、スイッチ154が開いた状態での正規化さ
れた第2のTE信号を太い破線で、また、スイッチ15
4が閉じた場合を太い実線で示している。
【0067】スイッチ154が開いた状態では、第2の
TE信号による補正が動作しないので第1のTE信号が
零になるように制御される。従って、第1のTE信号
は、図17(a)に太い破線で示すようにほぼ零にな
る。しかしながら、光検出器113の位置ずれと集束レ
ンズ103の偏位によるオフセットが発生するので、正
規化された第2のTE信号は図17(b)に太い破線で
示す波形となる。直流成分はオフトラック0.1μm相
当である。交流成分は、ディスクの偏心による集束レン
ズ103の偏位によって生じる成分である。従って、デ
ィスクの回転に同期している。
TE信号による補正が動作しないので第1のTE信号が
零になるように制御される。従って、第1のTE信号
は、図17(a)に太い破線で示すようにほぼ零にな
る。しかしながら、光検出器113の位置ずれと集束レ
ンズ103の偏位によるオフセットが発生するので、正
規化された第2のTE信号は図17(b)に太い破線で
示す波形となる。直流成分はオフトラック0.1μm相
当である。交流成分は、ディスクの偏心による集束レン
ズ103の偏位によって生じる成分である。従って、デ
ィスクの回転に同期している。
【0068】この状態でスイッチ154が閉じると、第
2のTE信号による補正機能が動作するので第2のTE
信号が零になるように制御される。従って、正規化され
た第2のTE信号は、図17(b)に太い実線で示すよ
うにほぼ零になる。第2のTE信号による補正系のゲイ
ンは、図11に示すように低域の周波数域で20dBあ
るので、制御算差の直流成分は約0.01μmとなる。
正規化された第2のTE信号には、0.01μm相当の
直流のオフセットが残る。従って、第1のTE信号は、
図17(a)の太い実線で示すように0.09μm相当
の直流成分のオフセットを持つ。
2のTE信号による補正機能が動作するので第2のTE
信号が零になるように制御される。従って、正規化され
た第2のTE信号は、図17(b)に太い実線で示すよ
うにほぼ零になる。第2のTE信号による補正系のゲイ
ンは、図11に示すように低域の周波数域で20dBあ
るので、制御算差の直流成分は約0.01μmとなる。
正規化された第2のTE信号には、0.01μm相当の
直流のオフセットが残る。従って、第1のTE信号は、
図17(a)の太い実線で示すように0.09μm相当
の直流成分のオフセットを持つ。
【0069】この状態で平均値算出回路855は、マイ
コン857から送られるディスクが1回転する期間を示
す1回転信号に基づいてディスク1回転の第1のTE信
号を加算してその平均値を出力する。従って、平均値算
出回路855の出力は、0.09μm相当のレベルにな
り、減算器856の−端子に0.09μm相当の信号が
設定される。この状態でスイッチ154を開くと減算器
856の出力は、光検出器113の位置ずれによるオフ
セットの0.09μm相当が除去された信号になる。即
ち、減算器856の出力は、0.01μm相当のオフセ
ットを持った信号になる。この状態で再度スイッチ15
4を閉じると、上述した0.01μm相当のオフセット
が第2のTE信号による補正機能によって0.001μ
m相当に低減される。
コン857から送られるディスクが1回転する期間を示
す1回転信号に基づいてディスク1回転の第1のTE信
号を加算してその平均値を出力する。従って、平均値算
出回路855の出力は、0.09μm相当のレベルにな
り、減算器856の−端子に0.09μm相当の信号が
設定される。この状態でスイッチ154を開くと減算器
856の出力は、光検出器113の位置ずれによるオフ
セットの0.09μm相当が除去された信号になる。即
ち、減算器856の出力は、0.01μm相当のオフセ
ットを持った信号になる。この状態で再度スイッチ15
4を閉じると、上述した0.01μm相当のオフセット
が第2のTE信号による補正機能によって0.001μ
m相当に低減される。
【0070】平均値算出手段855及び減算器856を
追加することで、光検出器113の位置ずれによる光ビ
ームのトラック中心からのずれをより低減できる。な
お、ディスク1回転の第1のTE信号を加算してその平
均値を算出することにより、集束レンズ103の偏位に
よるオフセットの影響を除去できる。
追加することで、光検出器113の位置ずれによる光ビ
ームのトラック中心からのずれをより低減できる。な
お、ディスク1回転の第1のTE信号を加算してその平
均値を算出することにより、集束レンズ103の偏位に
よるオフセットの影響を除去できる。
【0071】トラックへ情報を記録する場合の動作につ
いて説明する。マイコン857は、目的のセクタを検索
すると、レーザ駆動回路175を制御してレーザ109
のパワーを記録情報に応じて変調する。また、記録中は
正規化された第2のTE信号を取り込み、所定の範囲に
あるか否かを調べる。所定の範囲を超えた場合には記録
動作を停止する。第2のTE信号は、光検出器113の
位置ずれや集束レンズ103の偏位の影響を受けない信
号であるので、光ビームが隣接のトラックに近づいたこ
とを正確に検出できる。従って、隣接のトラックの情報
を破壊することがない。
いて説明する。マイコン857は、目的のセクタを検索
すると、レーザ駆動回路175を制御してレーザ109
のパワーを記録情報に応じて変調する。また、記録中は
正規化された第2のTE信号を取り込み、所定の範囲に
あるか否かを調べる。所定の範囲を超えた場合には記録
動作を停止する。第2のTE信号は、光検出器113の
位置ずれや集束レンズ103の偏位の影響を受けない信
号であるので、光ビームが隣接のトラックに近づいたこ
とを正確に検出できる。従って、隣接のトラックの情報
を破壊することがない。
【0072】(実施の形態4)以下、本発明の実施の形
態4について、そのブロック図である図18を用いて説
明する。上述した実施の形態3と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態3と異なる
点は、平均値算出回路855の端子aに入力される信号
が第1のTE信号から正規化された第2のTE信号に変
更されている点である。
態4について、そのブロック図である図18を用いて説
明する。上述した実施の形態3と同じブロックには同一
の番号を付して説明を省略する。実施の形態3と異なる
点は、平均値算出回路855の端子aに入力される信号
が第1のTE信号から正規化された第2のTE信号に変
更されている点である。
【0073】実施の形態3では、第1のTE信号でトラ
ッキング制御を行い、第2のTE信号で目標位置を補正
した際の第1のTE信号の平均値に基づいて、光検出器
113の位置ずれに応じたオフセットを補正する構成で
あった。
ッキング制御を行い、第2のTE信号で目標位置を補正
した際の第1のTE信号の平均値に基づいて、光検出器
113の位置ずれに応じたオフセットを補正する構成で
あった。
【0074】本実施の形態4では、スイッチ154を開
いた状態で正規化した第2のTE信号の平均値を測定
し、その値を減算器856へ送る。なお、光検出器11
3の位置ずれと集束レンズ103の偏位による第1のT
E信号のオフセットは、実施の形態3と同様とする。
いた状態で正規化した第2のTE信号の平均値を測定
し、その値を減算器856へ送る。なお、光検出器11
3の位置ずれと集束レンズ103の偏位による第1のT
E信号のオフセットは、実施の形態3と同様とする。
【0075】図19(a)に、スイッチ154が開いた
状態での第1のTE信号を太い破線で示し、また、太い
実線でスイッチ154が閉じた場合の波形を示してい
る。図19(b)には、スイッチ154が開いた状態で
の正規化された第2のTE信号を太い破線で、また、太
い実線でスイッチ154が閉じた場合の波形をそれぞれ
示している。
状態での第1のTE信号を太い破線で示し、また、太い
実線でスイッチ154が閉じた場合の波形を示してい
る。図19(b)には、スイッチ154が開いた状態で
の正規化された第2のTE信号を太い破線で、また、太
い実線でスイッチ154が閉じた場合の波形をそれぞれ
示している。
【0076】スイッチ154が開いた状態では、第2の
TE信号による補正が動作しないので、第1のTE信号
が零になるように制御される。従って、第1のTE信号
は、波形(a)に太い破線で示すようにほぼ零になる。
しかしながら、第1のTE信号には光検出器113の位
置ずれと集束レンズ103の偏位によるオフセットが発
生するので、正規化された第2のTE信号は波形(b)
に太い破線で示す波形となる。直流成分はオフトラック
0.1μm相当である。交流成分は、ディスクの偏心に
よる集束レンズ103の偏位によって生じる成分であ
る。
TE信号による補正が動作しないので、第1のTE信号
が零になるように制御される。従って、第1のTE信号
は、波形(a)に太い破線で示すようにほぼ零になる。
しかしながら、第1のTE信号には光検出器113の位
置ずれと集束レンズ103の偏位によるオフセットが発
生するので、正規化された第2のTE信号は波形(b)
に太い破線で示す波形となる。直流成分はオフトラック
0.1μm相当である。交流成分は、ディスクの偏心に
よる集束レンズ103の偏位によって生じる成分であ
る。
【0077】この状態で平均値算出回路855は、マイ
コン857から送られる1回転信号に基づいてディスク
1回転の正規化された第2のTE信号を加算してその平
均値を出力する。光検出器113の位置ずれは、光ビー
ムとトラックの中心のずれが0.1μm相当であるの
で、平均値算出回路855の出力はオフトラック0.1
μm相当のレベルになる。従って、減算器856の出力
は、光検出器113の位置ずれによる0.1μm相当の
オフセットが除去された信号になる。即ち、減算器85
6の出力は、光検出器113の位置ずれによるオフセッ
トが除去された信号になる。補正が完了した後にスイッ
チ154を閉じて第2のTE信号による補正を開始す
る。
コン857から送られる1回転信号に基づいてディスク
1回転の正規化された第2のTE信号を加算してその平
均値を出力する。光検出器113の位置ずれは、光ビー
ムとトラックの中心のずれが0.1μm相当であるの
で、平均値算出回路855の出力はオフトラック0.1
μm相当のレベルになる。従って、減算器856の出力
は、光検出器113の位置ずれによる0.1μm相当の
オフセットが除去された信号になる。即ち、減算器85
6の出力は、光検出器113の位置ずれによるオフセッ
トが除去された信号になる。補正が完了した後にスイッ
チ154を閉じて第2のTE信号による補正を開始す
る。
【0078】上記構成により、光検出器113の位置ず
れによる第1のTE信号のオフセットが除去でき、光ビ
ームは正確にトラックの中心を追従する。
れによる第1のTE信号のオフセットが除去でき、光ビ
ームは正確にトラックの中心を追従する。
【0079】(実施の形態5)以下、本発明の実施の形
態5について、そのブロック図である図20を用いて説
明する。前記実施の形態1と同じブロックには同一の番
号を付して説明を省略する。実施の形態1と異なる点
は、凹凸判別回路500、反転増幅器501、503、
スイッチ502、504が追加されている点である。ま
た、ディスク100がディスク550に変更されている
点である。
態5について、そのブロック図である図20を用いて説
明する。前記実施の形態1と同じブロックには同一の番
号を付して説明を省略する。実施の形態1と異なる点
は、凹凸判別回路500、反転増幅器501、503、
スイッチ502、504が追加されている点である。ま
た、ディスク100がディスク550に変更されている
点である。
【0080】ディスク550に形成されたトラックの模
式図を図21に示す。斜線で示した部分が凸部を示す。
ID部はアドレス部を示し、他の部分がリライタブル領
域である。トラックAは、左側が凸部で形成され、右側
が凹部で形成されている。中央のQ2点で凸部と凹部が
切り替わっている。光ビームをトラックA上にあるよう
にトラッキング制御する際は、Q2点を検出して第1の
TE信号の極性を切り替える必要がある。
式図を図21に示す。斜線で示した部分が凸部を示す。
ID部はアドレス部を示し、他の部分がリライタブル領
域である。トラックAは、左側が凸部で形成され、右側
が凹部で形成されている。中央のQ2点で凸部と凹部が
切り替わっている。光ビームをトラックA上にあるよう
にトラッキング制御する際は、Q2点を検出して第1の
TE信号の極性を切り替える必要がある。
【0081】図22(a)にQ0点での、図22(b)
にQ4点での第1のTE信号の特性をそれぞれ示す。凹
凸が逆になるので、Q0点とQ4点では第1のTE信号
の極性が逆になる。また、VFO1とVFO2のずれの
方向が逆になる。従って、第2のTE信号の極性も逆に
なる。第1のTE信号と同様にQ2点を検出して第2の
TE信号の極性を切り替える必要がある。
にQ4点での第1のTE信号の特性をそれぞれ示す。凹
凸が逆になるので、Q0点とQ4点では第1のTE信号
の極性が逆になる。また、VFO1とVFO2のずれの
方向が逆になる。従って、第2のTE信号の極性も逆に
なる。第1のTE信号と同様にQ2点を検出して第2の
TE信号の極性を切り替える必要がある。
【0082】凹凸判別回路500は、加算器130及び
減算器125の出力信号を取り込んで、光ビームが凹部
のトラックか凸部のトラックのどちらにあるかの判別行
う。反転増幅器501,503は、入力信号を反転して
出力する。スイッチ502、504は端子dのコントロ
ール信号により、端子aまたは端子bの信号を端子cに
出力する。スイッチ502およびスイッチ504の端子
dには、凹凸判別回路500の凹凸判別信号が入力され
る。
減算器125の出力信号を取り込んで、光ビームが凹部
のトラックか凸部のトラックのどちらにあるかの判別行
う。反転増幅器501,503は、入力信号を反転して
出力する。スイッチ502、504は端子dのコントロ
ール信号により、端子aまたは端子bの信号を端子cに
出力する。スイッチ502およびスイッチ504の端子
dには、凹凸判別回路500の凹凸判別信号が入力され
る。
【0083】凹凸判別回路500のブロックを図23に
示す。端子900には減算器125が、端子908には
加算器130が、端子914にはスイッチ502,50
4の端子dがそれぞれ接続されている。LPF901,
907は入力信号の低周波数成分を出力する。コンパレ
ータ903,905,906は、端子aのレベルが端子
bのレベルより高い場合にハイレベルを出力する。
示す。端子900には減算器125が、端子908には
加算器130が、端子914にはスイッチ502,50
4の端子dがそれぞれ接続されている。LPF901,
907は入力信号の低周波数成分を出力する。コンパレ
ータ903,905,906は、端子aのレベルが端子
bのレベルより高い場合にハイレベルを出力する。
【0084】図24の波形を用いて動作を説明する。図
24(a)は、端子900に入力される信号を示す。図
24の(b)はLPF901の出力を、(c)はコンパ
レータ905の出力を、(d)はコンパレータ903の
出力を、(e)はフリップフロップの出力を、(f)は
端子908に入力される信号を、(g)はLPF907
の出力を、(h)はコンパレータ906の出力を、
(i)は遅延回路915の出力を、(j)はラッチ91
3の出力をそれぞれ示している。
24(a)は、端子900に入力される信号を示す。図
24の(b)はLPF901の出力を、(c)はコンパ
レータ905の出力を、(d)はコンパレータ903の
出力を、(e)はフリップフロップの出力を、(f)は
端子908に入力される信号を、(g)はLPF907
の出力を、(h)はコンパレータ906の出力を、
(i)は遅延回路915の出力を、(j)はラッチ91
3の出力をそれぞれ示している。
【0085】LPF901の出力はID部のピットの影
響により図24(b)のようになる。基準電源904を
E20にすることでコンパレータ905の出力は図24
(c)に示すように時間t30でハイレベルになる。従
って、フリップフロップ912の出力は図24(e)に示
すように時間t30でローレベルになる。基準電源90
2をE21にすることでコンパレータ903の出力は図
24(d)に示すように時間t32でハイレベルにな
る。従って、フリップフロップ912の出力は時間t3
2でハイレベルになる。LPF907の出力はID部の
ピットの影響により図24(g)のようになる。基準電
源909をE22にすることでコンパレータ906の出
力は図24(h)に示すように時間t30からt33の
期間でハイレベルになる。従って、遅延回路915の出
力は図24(i)に示す波形となる。
響により図24(b)のようになる。基準電源904を
E20にすることでコンパレータ905の出力は図24
(c)に示すように時間t30でハイレベルになる。従
って、フリップフロップ912の出力は図24(e)に示
すように時間t30でローレベルになる。基準電源90
2をE21にすることでコンパレータ903の出力は図
24(d)に示すように時間t32でハイレベルにな
る。従って、フリップフロップ912の出力は時間t3
2でハイレベルになる。LPF907の出力はID部の
ピットの影響により図24(g)のようになる。基準電
源909をE22にすることでコンパレータ906の出
力は図24(h)に示すように時間t30からt33の
期間でハイレベルになる。従って、遅延回路915の出
力は図24(i)に示す波形となる。
【0086】ラッチ913は、遅延回路915の出力信
号の立ち下がりエッジでフリップフロップ912の出力
レベルをラッチして出力する。この場合には凹凸判別回
路500の出力はハイレベルになる。凹凸が切り替わる
と図24(a)に示すピットによる成分が、前半が負で
後半が正のレベルになる。従って、凹凸判別回路500
の出力はローレベルになる。
号の立ち下がりエッジでフリップフロップ912の出力
レベルをラッチして出力する。この場合には凹凸判別回
路500の出力はハイレベルになる。凹凸が切り替わる
と図24(a)に示すピットによる成分が、前半が負で
後半が正のレベルになる。従って、凹凸判別回路500
の出力はローレベルになる。
【0087】凹凸判別回路500の出力に応じて第1及
び第2のTE信号の極性を切り替えてから加算器142
で加算するように構成している。また、LPF157に
入力する前に第2のTE信号の極性を切り替えるので、
Q2点を通過した場合でもLPF157の出力が連続
し、トラッキング制御が安定する。
び第2のTE信号の極性を切り替えてから加算器142
で加算するように構成している。また、LPF157に
入力する前に第2のTE信号の極性を切り替えるので、
Q2点を通過した場合でもLPF157の出力が連続
し、トラッキング制御が安定する。
【0088】図25を用いてLPF157の動作を説明
する。図25(a)は第2のTE信号を、図25(b)
はLPF157の入力信号を、図25(c)はLPF1
57の出力をそれぞれ示している。破線は、極性を切り
替えない場合を示す。Q2点を通過後の応答性がフィル
タの応答性によって悪くなり、Q2点通過後所定期間は
光ビームがトラック中心からずれる。即ち、第1のTE
信号と第2のTE信号の極性を切り替えた後に加算する
ことで凹部と凸部の切り替わり点でトラッキング制御の
精度が向上する。
する。図25(a)は第2のTE信号を、図25(b)
はLPF157の入力信号を、図25(c)はLPF1
57の出力をそれぞれ示している。破線は、極性を切り
替えない場合を示す。Q2点を通過後の応答性がフィル
タの応答性によって悪くなり、Q2点通過後所定期間は
光ビームがトラック中心からずれる。即ち、第1のTE
信号と第2のTE信号の極性を切り替えた後に加算する
ことで凹部と凸部の切り替わり点でトラッキング制御の
精度が向上する。
【0089】光検出器113の位置ずれによる第1のT
E信号のオフセットの補正について説明する。オフセッ
ト測定回路950は、凹凸が切り替わった直後の第1の
TE信号のレベルを測定し、そのレベルの0.5倍のレ
ベルを減算器856へ送る。なお、レベル測定の際は、
スイッチ154は開いており、第2のTE信号による補
正機能は動作していない。
E信号のオフセットの補正について説明する。オフセッ
ト測定回路950は、凹凸が切り替わった直後の第1の
TE信号のレベルを測定し、そのレベルの0.5倍のレ
ベルを減算器856へ送る。なお、レベル測定の際は、
スイッチ154は開いており、第2のTE信号による補
正機能は動作していない。
【0090】図26を用いて動作を説明する。図26
(a)は、光ビームが図21に示すトラックA上のID
部の直前のQ1点での第1のTE信号の特性を示してい
る。図26(b)は、光ビームがトラックA上のID部
の直後のQ3点での第1のTE信号の特性を示してい
る。光検出器113の位置ずれによってDのオフセット
が第1のTE信号に発生した場合を示し、破線はオフセ
ットがない場合を示す。
(a)は、光ビームが図21に示すトラックA上のID
部の直前のQ1点での第1のTE信号の特性を示してい
る。図26(b)は、光ビームがトラックA上のID部
の直後のQ3点での第1のTE信号の特性を示してい
る。光検出器113の位置ずれによってDのオフセット
が第1のTE信号に発生した場合を示し、破線はオフセ
ットがない場合を示す。
【0091】トラックAの凸部通過時は、第1のTE信
号は零レベルになる。但し、光検出器113の位置ずれ
のためにトラック中心から距離L離れた位置に光ビーム
は制御されている。この状態でID部を通過してQ3点
に到達すると、光ビームのトラック中心からの距離はQ
2時点と同じである。これは、ID部でトラッキング用
のコイルへの駆動電流はホールド状態にしているためで
ある。従って、Q3点での第1のTE信号のレベルは2
*Dとなる。即ち、光検出器113の位置ずれによるオ
フセットの2倍のレベルになる。そこで、オフセット測
定回路950は、測定値を0.5倍して減算器856へ
送る。従って、減算器856の出力は、光検出器113
の位置ずれによる第1のTE信号のオフセットが除去さ
れた信号になる。
号は零レベルになる。但し、光検出器113の位置ずれ
のためにトラック中心から距離L離れた位置に光ビーム
は制御されている。この状態でID部を通過してQ3点
に到達すると、光ビームのトラック中心からの距離はQ
2時点と同じである。これは、ID部でトラッキング用
のコイルへの駆動電流はホールド状態にしているためで
ある。従って、Q3点での第1のTE信号のレベルは2
*Dとなる。即ち、光検出器113の位置ずれによるオ
フセットの2倍のレベルになる。そこで、オフセット測
定回路950は、測定値を0.5倍して減算器856へ
送る。従って、減算器856の出力は、光検出器113
の位置ずれによる第1のTE信号のオフセットが除去さ
れた信号になる。
【0092】本実施の形態5では、第2のTEによる補
正を停止した状態でオフセット測定回路950を動作さ
せるとしたが、第2のTE信号による補正が動作してい
る場合には、光ビームはトラックの中心を通過するので
Q2点ではDとなりQ3点では−Dとなる。従って、第
2のTE信号による補正が動作している状態でオフセッ
ト測定回路950を動作させる場合にはQ2点での測定
値を減算器856に設定すれば上述したのと同様な効果
が得られる。
正を停止した状態でオフセット測定回路950を動作さ
せるとしたが、第2のTE信号による補正が動作してい
る場合には、光ビームはトラックの中心を通過するので
Q2点ではDとなりQ3点では−Dとなる。従って、第
2のTE信号による補正が動作している状態でオフセッ
ト測定回路950を動作させる場合にはQ2点での測定
値を減算器856に設定すれば上述したのと同様な効果
が得られる。
【0093】
【発明の効果】以上述べたことから明らかなように、本
発明はトラックに対して直行する一方の方向にずれた位
置に形成された第1のピット列と、トラックに対して直
行する他方の方向にずれた位置に形成された第2のピッ
ト列上を光ビームが通過する際の再生信号に基づいて、
光ビームとトラックの位置ずれを検出する第2のTE信
号に基づいて補正すると共に光ビームが第1及び第2の
ピット列上を通過する際は、プッシュプル法による第1
のTE信号に応じてトラッキング制御手段が動作しない
ようにするので、ヘッダーフィールドでのオフセットや
第1のTE信号検出用の検出器のずれやディスクの偏心
による集束レンズの変位によって生じるオフセットが第
1のTE信号に発生しても光ビームはトラックの中心に
制御される。
発明はトラックに対して直行する一方の方向にずれた位
置に形成された第1のピット列と、トラックに対して直
行する他方の方向にずれた位置に形成された第2のピッ
ト列上を光ビームが通過する際の再生信号に基づいて、
光ビームとトラックの位置ずれを検出する第2のTE信
号に基づいて補正すると共に光ビームが第1及び第2の
ピット列上を通過する際は、プッシュプル法による第1
のTE信号に応じてトラッキング制御手段が動作しない
ようにするので、ヘッダーフィールドでのオフセットや
第1のTE信号検出用の検出器のずれやディスクの偏心
による集束レンズの変位によって生じるオフセットが第
1のTE信号に発生しても光ビームはトラックの中心に
制御される。
【図1】本発明の実施の形態1における光ディスク装置
のブロック図
のブロック図
【図2】本発明の実施の形態1におけるヘッダーフィー
ルドの構成と全反射光量を示す図
ルドの構成と全反射光量を示す図
【図3】本発明の実施の形態1におけるヘッダーフィー
ルドの構成と全反射光量を示す図
ルドの構成と全反射光量を示す図
【図4】本発明の実施の形態1におけるヘッダーフィー
ルドの構成と全反射光量を示す図
ルドの構成と全反射光量を示す図
【図5】本発明の実施の形態1における第2のTE信号
を説明するための波形図
を説明するための波形図
【図6】本発明の実施の形態1におけるゲート信号生成
回路のゲート信号を説明するための波形図
回路のゲート信号を説明するための波形図
【図7】本発明の実施の形態1における絶対値検出回路
のブロック図
のブロック図
【図8】本発明の実施の形態1における絶対値検出回路
を説明するための波形図
を説明するための波形図
【図9】本発明の実施の形態1におけるLPFの特性図
【図10】本発明の実施の形態1におけるトラッキング
制御系のブロック線図
制御系のブロック線図
【図11】本発明の実施の形態1におけるトラッキング
制御系の特性図
制御系の特性図
【図12】本発明の実施の形態1におけるS/H回路を
付加することによる効果を説明するための波形図
付加することによる効果を説明するための波形図
【図13】本発明の実施の形態2における光ディスク装
置のブロック図
置のブロック図
【図14】本発明の実施の形態2における光ビームとト
ラックの関係を示す模式図
ラックの関係を示す模式図
【図15】本発明の実施の形態2における測定回路を付
加することによる効果を説明するための波形図
加することによる効果を説明するための波形図
【図16】本発明の実施の形態3における光ディスク装
置のブロック図
置のブロック図
【図17】本発明の実施の形態3における第1及び第2
のTE信号を示す波形図
のTE信号を示す波形図
【図18】本発明の実施の形態4における光ディスク装
置のブロック図
置のブロック図
【図19】本発明の実施の形態4における第1及び第2
のTE信号を示す波形図
のTE信号を示す波形図
【図20】本発明の実施の形態5における光ディスク装
置のブロック図
置のブロック図
【図21】本発明の実施の形態5における光ディスクの
模式図
模式図
【図22】本発明の実施の形態5における第1のTE信
号とトラックの関係を示す図
号とトラックの関係を示す図
【図23】本発明の実施の形態5における凹凸判別回路
のブロック図
のブロック図
【図24】本発明の実施の形態5における凹凸判別回路
の動作を説明するための波形図
の動作を説明するための波形図
【図25】本発明の実施の形態5におけるLPFの動作
を説明するための波形図
を説明するための波形図
【図26】本発明の実施の形態5における第1のTE信
号とトラックとの関係を示す図
号とトラックとの関係を示す図
【図27】従来例の光ディスク装置のディスクの模式図
【図28】従来例の光ディスク装置のヘッダーフィール
ドの模式図
ドの模式図
【図29】従来例の光ディスク装置のプッシュプル法に
よるTE信号検出方式を示す模式図
よるTE信号検出方式を示す模式図
【図30】従来例の光ディスク装置のプッシュプル法に
よるTE信号とトラックの関係を示す図
よるTE信号とトラックの関係を示す図
100 ディスク 101 モータ 103 集束レンズ 104 アクチュエータ 105 全反射ミラー 106 光ビーム 107 1/4波長板 108 カップリングレンズ 109 レーザ 110 偏向ビームスプリッター 111 検出レンズ 112 円筒レンズ 113 光検出器 114 移送モータ 115 移送台 116,117,118,119 I/V変換器 120,121,123,124,142 加算器 122,125 減算器 131 アドレス再生回路 132 ゲート生成回路 134 絶対値検出回路 135,146,157 LPF 136,137,139,850 S/H回路 140 マイコン 143,149,153 A/D変換器 144,150 位相補償フィルタ 145,152 電力増幅器 147,151 D/A変換器 156 乗算器 171 モータ制御回路 175 レーザ駆動回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山口 博之 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5D118 AA13 AA18 BA01 BB02 BC08 BC09 BF02 BF03 CA13 CD03 CD11 DA35
Claims (13)
- 【請求項1】 トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第1のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第2
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第1のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第1のピット列及び第2の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第2のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第1のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第2のトラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキン
グ制御手段の目標位置を変える補正手段とを備え、光ビ
ームが第1及び第2のピット列上を通過する際は前記ト
ラッキング制御手段をホールド状態にするように構成し
たことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項2】 トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第1のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第2
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第1のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第1のピット列及び第2の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第2のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第1のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第2のトラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキン
グ制御手段の目標位置を変える補正手段とを備え、光ビ
ームが第1及び第2のピット列上を通過する際は前記第
1のトラッキングエラー検出手段をホールド状態にする
ように構成したことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項3】 トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第1のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第2
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第1のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第1のピット列及び第2の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第2のトラッキングエラー検出手段と、第1
のピット列及び第2のピット列の直前又は直後の前記第
1のトラッキングエラー検出手段の出力のレベルに基づ
いて前記第2のトラッキングエラー検出手段の出力信号
を補正して出力する第1の補正手段と、光ビームをトラ
ックを横切るように移動させる移動手段と、前記第1の
トラッキングエラー検出手段の出力に基づいて光ビーム
がトラック上に位置するように前記移動手段を制御する
トラッキング制御手段と、前記第1の補正手段の出力に
基づいて前記トラッキング制御手段の目標位置を変える
第2の補正手段とを備えたことを特徴とする光ディスク
装置。 - 【請求項4】 第1のピット列及び第2のピット列の直
前又は直後の前記第1のトラッキングエラー検出手段の
出力値を第2のトラッキングエラー検出手段の出力から
減算して出力するように第1の補正手段を構成すること
を特徴とする請求項3記載の光ディスク装置。 - 【請求項5】 トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第1のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第2
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第1のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第1のピット列及び第2の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第2のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第1のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第2のトラッ
キングエラー検出手段の出力の所定の期間の平均値を算
出する平均値算出手段と、前記平均値算出手段の出力が
零になるように前記第1のトラッキングエラー検出手段
の出力信号にオフセットを加算する調整手段とを備えた
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項6】 調整手段は、予め求めた平均値算出手段
の出力値を第1のトラッキングエラー検出手段の出力か
ら減算することで出力信号のオフセットの調整を行うよ
うに構成したことを特徴とする請求項5記載の光ディス
ク装置。 - 【請求項7】 トラックに対して直行する一方の向きに
ずれた位置に形成された第1のピット列とトラックに対
して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第2
のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照射
してディスクに記録されている情報を検出する再生信号
検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファー
フィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれ
を検出する第1のトラッキングエラー検出手段と、前記
再生信号検出手段の出力する第1のピット列及び第2の
ピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれ
を検出する第2のトラッキングエラー検出手段と、光ビ
ームをトラックを横切るように移動させる移動手段と、
前記第1のトラッキングエラー検出手段の出力に基づい
て光ビームがトラック上に位置するように前記移動手段
を制御するトラッキング制御手段と、前記第2のトラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキン
グ制御手段の目標位置を変える補正手段と、前記第1の
トラッキングエラー検出手段の出力の所定の期間の平均
値を算出する平均値算出手段と、前記平均値算出手段の
出力が零になるように前記第1のトラッキングエラー検
出手段の出力信号にオフセットを加算する調整手段とを
備えたことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項8】 調整手段は、第1のトラッキングエラー
検出手段の出力から求めた平均値算出手段の出力値を加
算することで出力信号のオフセットの調整を行うように
構成したことを特徴とする請求項7記載の光ディスク装
置。 - 【請求項9】 平均値算出手段は、所定の期間をディス
クが1回転する期間の整数倍とするように構成したこと
を特徴とする請求項5又は請求項7記載の光ディスク装
置。 - 【請求項10】 トラックに対して直行する一方の向き
にずれた位置に形成された第1のピット列とトラックに
対して直行する他方の向きにずれた位置に形成された第
2のピット列とを配置したディスクに光ビームを収束照
射してディスクに記録されている情報を検出する再生信
号検出手段と、ディスクからの反射光又は透過光のファ
ーフィールドパターンよりトラックと光ビームの位置ず
れを検出する第1のトラッキングエラー検出手段と、前
記再生信号検出手段の出力する第1のピット列及び第2
のピット列の再生信号から光ビームとトラックの位置ず
れを検出する第2のトラッキングエラー検出手段と、光
ビームをトラックを横切るように移動させる移動手段
と、前記第1のトラッキングエラー検出手段の出力に基
づいて光ビームがトラック上に位置するように前記移動
手段を制御するトラッキング制御手段と、前記第2のト
ラッキングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッ
キング制御手段の目標位置を変える補正手段とを備え、
前記第2のトラッキングエラー検出手段の出力信号のレ
ベルに応じてディスクへの情報の記録を停止することを
特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項11】 凹部と凸部が交互に連結して形成され
た連続するトラックと光ビームの位置ずれをディスクか
らの反射光又は透過光のファーフィールドパターンより
検出するトラッキングエラー検出手段と、光ビームがト
ラックを横切るように移動する移動手段と、前記トラッ
キングエラー検出手段の出力に基づいて光ビームがトラ
ック上に位置するように前記移動手段を制御するトラッ
キング制御手段と、凹部と凸部で前記トラッキング制御
手段の極性を切り替える極性切り替え手段と、凹部と凸
部の切り替わり点の前後の前記トラッキングエラー検出
手段の出力値に基づいて前記トラッキングエラー検出手
段の出力信号のオフセットを調整する調整手段とを備え
たことを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項12】 調整手段は、凹部と凸部の切り替わり
点の直前と直後のトラッキングエラー検出手段のレベル
が等しくなるように検出の極性切り替え前の点でオフセ
ットを加算するように構成したことを特徴とする請求項
11記載の光ディスク装置。 - 【請求項13】 トラックに対して直行する一方の向き
にずれた位置に形成された先行する第1のピット列とト
ラックに対して直行する他方の向きにずれた位置に形成
された後続する第2のピット列が凹部のトラックと凸部
のトラックではトラックに対して逆向きにずれた位置に
配置されているディスクに光ビームを収束照射してディ
スクに記録されている情報を検出する再生信号検出手段
と、ディスクからの反射光又は透過光のファーフィール
ドパターンよりトラックと光ビームの位置ずれを検出す
る第1のトラッキングエラー検出手段と、前記再生信号
検出手段の出力する第1のピット列及び第2のピット列
の再生信号から光ビームとトラックの位置ずれを検出す
る第2のトラッキングエラー検出手段と、光ビームをト
ラックを横切るように移動させる移動手段と、前記第1
のトラッキングエラー検出手段の出力に基づいて光ビー
ムがトラック上に位置するように前記移動手段を制御す
るトラッキング制御手段と、凹部と凸部のトラックで前
記第1のトラッキングエラー検出手段の検出の極性が一
致するように極性を切り替える第1の極性切り替え手段
と、凹部と凸部のトラックで前記第2のトラッキングエ
ラー検出手段の検出の極性が一致するように極性を切り
替える第2の極性切り替え手段と、前記第2のトラッキ
ングエラー検出手段の出力に基づいて前記トラッキング
制御手段の目標位置を変える補正手段とを備えたことを
特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11097339A JP2000293868A (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11097339A JP2000293868A (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 光ディスク装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000293868A true JP2000293868A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14189734
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11097339A Withdrawn JP2000293868A (ja) | 1999-04-05 | 1999-04-05 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000293868A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080022246A (ko) * | 2006-09-06 | 2008-03-11 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광픽업의 포토 디텍터 틀어짐 보상방법 |
-
1999
- 1999-04-05 JP JP11097339A patent/JP2000293868A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20080022246A (ko) * | 2006-09-06 | 2008-03-11 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광픽업의 포토 디텍터 틀어짐 보상방법 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6459664B1 (en) | Optical disc tilt control apparatus | |
JP3545181B2 (ja) | 光情報記録再生装置 | |
US6418104B1 (en) | Tilt detector | |
KR20030005380A (ko) | 디스크드라이브장치와 정보독출방법 | |
KR100269847B1 (ko) | 광디스크장치(optical disc apparatus) | |
JP2000293868A (ja) | 光ディスク装置 | |
US6198085B1 (en) | Repeat control apparatus, information reproducing apparatus and information recording apparatus | |
JP2889236B2 (ja) | 光ディスク装置におけるトラッキングサーボ方式 | |
JP4728102B2 (ja) | トラッキングエラー制御装置、トラッキングエラー制御回路、およびトラッキングエラー制御方法 | |
JP2001006190A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2718052B2 (ja) | トラッキングサーボのゲイン調整装置 | |
JP2002150587A (ja) | 光ディスク装置 | |
KR20020010387A (ko) | 광디스크의 최적 재생방법 | |
JP2001067686A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP3658508B2 (ja) | トラッキングエラー信号オフセット補正装置および光ディスク装置 | |
JP4003345B2 (ja) | ディスクドライブ装置 | |
JP2000076668A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP3695863B2 (ja) | 光ディスク装置とそのトラッキング制御方法 | |
JP2000149296A (ja) | 光ディスク装置 | |
JPS6344324A (ja) | 光学式デイスク再生装置のフオ−カスサ−ボゲイン調整回路 | |
JP2001307357A (ja) | 光ディスク装置 | |
JP2001067689A (ja) | トラッキングエラー信号のオフセット補正方法 | |
JP2005071545A (ja) | 光ディスク装置及びトラッキングバランス調整方法 | |
JPH07192288A (ja) | 光ディスク装置 | |
JPH02263336A (ja) | 光学的情報記録再生装置におけるトラッキングサーボ方式 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060209 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20061211 |