JP2000258272A - 静電容量型圧力センサ - Google Patents

静電容量型圧力センサ

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JP2000258272A
JP2000258272A JP11119221A JP11922199A JP2000258272A JP 2000258272 A JP2000258272 A JP 2000258272A JP 11119221 A JP11119221 A JP 11119221A JP 11922199 A JP11922199 A JP 11922199A JP 2000258272 A JP2000258272 A JP 2000258272A
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capacitance
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Takahiro Kudo
高裕 工藤
Kimihiro Nakamura
公弘 中村
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、寄生容量の影響を高精度に補正す
ることのできる低コストで汎用性のある静電容量型圧力
センサを提供することを課題とする。 【解決手段】 基準容量となる固定コンデンサCcを設
け、固定コンデンサと圧力検出用のコンデンサC1〜C
nを切換えて各静電容量を検出する。そして固定コンデ
ンサCcに拠る結果から寄生容量による影響を補正す
る。また温度係数の異なる2つ以上の基準電圧Vref
と設定電圧Vthを設け、それらを任意に組合わせれる
ようにして、圧力センサ部1のコンデンサC1〜nの温
度依存性をほぼ零に、固定コンデンサCcの温度依存成
を大きくして温度を検出することで、高精度な圧力測定
が出来る。また2つの固定コンデンサCc1、Cc2を
用いることにより、より高精度な補正を行うことも可能
である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、加わった圧力によ
る静電容量の変化に基づいて圧力の大きさを求める静電
容量型圧力センサに関する。
【0002】
【従来の技術】圧力又は差圧をダイアフラムの変化とし
て検出し、変位を直接電流値として出力する静電容量型
圧力センサは、ダイアフラムに印可された圧力あるいは
圧力差によるダイアフラムの変位を、ダイアフラムと対
向電極とで形成するコンデンサの静電容量値の変化とし
て検出して圧力を求める。
【0003】このダイアフラムと対向電極との距離の変
位を静電容量値として検出する静電容量型圧力センサ
(以下、圧力センサという)において、計測対象となる
圧力あるいは圧力差によって生じるコンデンサの静電容
量値の変化は、10pFから100pF程度と小さな値
であるため、浮遊容量による影響が大きく、その影響に
より出力特性が非直線的になったり、測定誤差を生じた
りする問題がある。
【0004】これらの問題を解決するものとして、例え
ば特開昭64−71211号公報に示す方法がある。こ
の上記公報に開示されている方法は、2つのコンデンサ
を組合わせて測定し、それぞれでの測定結果を基に、寄
生容量の影響を消去するものである。
【0005】図9にこの方法による回路を示す。図9は
CR発信回路で、同図中のC1、C2が上記圧力センサ
中のコンデンサに対応し、このC1及びC2の静電容量
値を求めることにより圧力又は差圧が求まる。図9の発
信回路の出力の周期は、抵抗値R505(固定)と静電
容量Cの値で決まる。
【0006】図中のコンデンサC1及びC2各々は、ト
ランジスタによるスイッチ503及び504によって接
地/非接地を切換えることができ、これによりコンデン
サは発信回路にアクティブ/インアクティブを変更でき
る。スイッチ503及び504を操作して2つのコンデ
ンサC1及びC2の接続、切り離しを選択しそれぞれの
出力の周期を計測する。
【0007】この周期とコンデンサの静電容量値との関
係は以下の式で表せる。 C1のみ選択:T1=1/f1=(C1+Cp)・k・
R505 C2のみ選択:T2=1/f2=(C2+Cp)・k・
R505 両方選択せず:T3=1/f3=Cp・k・R505 両方選択:T4=1/f4=(C1+C2+Cp)・k
・R505 上式中Cpは寄生容量、kは回路毎に固有な係数を示
す。この4つの式に計測した出力の各周期T1〜T4を
用い、寄生容量Cpと係数kを消去して、静電容量値C
1とC2の比を求める。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記方
法では、寄生容量の影響を消去するためには、2つのコ
ンデンサC1、C2を選択して得られる上記4つの式で
の寄生容量Cpの値が全て同じ値でなければならない。
言い換えればC1とC2の電極との間に介在する各寄生
容量の差が零でなければならない。
【0009】しかしC1、C2の電極間で発生する寄生
容量を零にすることは原理的に不可能であり、もし仮に
ある特定温度下では寄生容量が無くなるように調整が行
えたとしても、C1、C2それぞれの寄生容量の温度特
性は異なるので、温度が変化すると出力誤差を生じるこ
とになる。
【0010】また特開昭64−71211号公報に開示
されている方法は、2つのコンデンサに供給する電流を
抵抗で調節し、2つのコンデンサのアクティブ/インア
クティブをトランジスタスイッチで切換える方式である
が、各トランジスタスイッチのオン抵抗の違い及び温度
依存性の差によりコンデンサC1とC2に供給する電流
が異なってしまい、出力誤差を生じる。
【0011】寄生容量と等価な固定コンデンサを用いて
寄生容量を相殺する方法も一般的に知られている。しか
し通常この固定コンデンサは、Pt基板上などの圧力セ
ンサから離れた場所に配置されるので、圧力センサとは
温度差が生じ、固定コンデンサと圧力センサの熱勾配の
差による補正誤差が発生するという問題があった。
【0012】本発明は上記問題点を鑑みてなされたもの
で、温度による寄生容量の影響を高精度に除くことので
きる低コストで汎用性のある静電容量型圧力センサを提
供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段として、本発明のうちの請求項1に記載の静電容
量型圧力センサは、電極とダイアフラムにより1つ以上
のコンデンサを形成し、圧力又は差圧を該コンデンサの
静電容量の変化として検出するものであり、定電流手
段、固定コンデンサ、スイッチ手段、充放電切換え手段
及び電圧比較手段を備える。定電流手段は、一定電流を
出力する。固定コンデンサは、静電容量が固定のコンデ
ンサである。スイッチ手段は、上記コンデンサ又は上記
固定コンデンサのうち少なくとも一つを選択する。充放
電切換え手段は、上記スイッチ手段が選択したコンデン
サの放電と、上記一定電流による充電とを切換える。電
圧比較手段は、上記スイッチ手段が選択したコンデンサ
の電位が設定電圧に達していなければ充電を、該設定電
圧に達したら放電を上記スイッチ手段に指示する。
【0014】この請求項1に記載の発明によれば、圧力
又は差圧検出用のコンデンサの静電容量のほかに、静電
容量が固定の固定コンデンサによる計測結果が得られ
る。また本発明のうち請求項2に記載の静電容量型圧力
センサは、電極とダイアフラムにより該ダイアフラムの
変位により相対的に静電容量が変化する少なくとも1組
のコンデンサを形成し、圧力又は差圧を該静電容量の変
化として検出するものであり、定電流手段、固定コンデ
ンサ、スイッチ手段、充放電切換え手段及び電圧比較手
段を備える。定電流手段は、一定電流を出力する。固定
コンデンサは静電容量が固定のコンデンサである。スイ
ッチ手段は、上記コンデンサ又は上記固定コンデンサの
うち少なくとも一つを選択する。充放電切換え手段は、
上記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電と、上記
一定電流による充電とを切換える。電圧比較手段は、上
記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が設定電圧
に達していなければ充電を、該設定電圧に達したら放電
を上記スイッチ手段に指示する。
【0015】この請求項2に記載の発明はコンデンサを
対で備えることを特徴とし、圧力又は差圧検出用のコン
デンサの静電容量のほかに、静電容量が固定の固定コン
デンサによる計測結果が得られる。
【0016】また本発明のうち請求項3に記載の静電容
量型圧力センサは、電極とダイアフラムにより1つ以上
のコンデンサを形成し、圧力又は差圧を該コンデンサの
静電容量の変化として検出するものであり、上記定電流
手段、複数の上記固定コンデンサ、上記コンデンサ又は
上記各固定コンデンサのうち少なくとも一つを選択する
スイッチ手段、上記充放電切換え手段及び上記電圧比較
手段を備える。
【0017】この請求項3に記載の発明は、複数の固定
コンデンサを備えることを特徴とし、圧力又は差圧検出
用のコンデンサの静電容量のほかに、静電容量が固定の
複数の固定コンデンサによる計測結果が得られる。
【0018】また本発明のうち請求項4に記載の静電容
量型圧力センサは、電極とダイアフラムにより該ダイア
フラムの変位により相対的に静電容量が変化する少なく
とも1組のコンデンサを形成し、圧力又は差圧を該静電
容量の変化として検出するものであり、上記定電流手
段、複数の上記固定コンデンサ、上記コンデンサ又は上
記各固定コンデンサのうち少なくとも一つを選択するス
イッチ手段、上記充放電切換え手段及び上記電圧比較手
段を備える。
【0019】この請求項4に記載の発明は、コンデンサ
を対で備え、また複数の固定コンデンサを備えることを
特徴とし、圧力又は差圧検出用のコンデンサの静電容量
のほかに、静電容量が固定の複数の固定コンデンサによ
る計測結果が得られる。
【0020】また本発明のうち請求項5に記載の静電容
量型圧力センサは、請求項1又乃至4の何れか1項に記
載の静電容量型圧力センサにおいて、上記スイッチ手段
に選択するコンデンサを指示し、該選択した各コンデン
サに対する上記電圧比較手段による上記スイッチ手段へ
の指示の周期を用いて寄生容量に対する補正を行う演算
制御手段を更に備えることを特徴とする。
【0021】この請求項5の発明によれば、演算制御手
段によりスイッチ手段がコンデンサを選択した時の計測
結果を、固定コンデンサを選択した時の計測結果を用い
て寄生容量に対する補正することができる。
【0022】また本発明のうち請求項6に記載の静電容
量型圧力センサは、請求項1乃至5の何れか1項に記載
の静電容量型圧力センサにおいて、上記定電流手段は、
設定された入力電圧に基づいた大きさの上記一定電流を
出力し、上記スイッチ手段が上記コンデンサの内の1つ
を選択した時、上記コンデンサの温度係数を打ち消す温
度係数を持つ上記入力電圧と上記設定電圧が上記定電流
手段と上記電圧比較手段に与えられることを特徴とす
る。この請求項6の発明によれば、圧力検出用のコンデ
ンサがスイッチ手段によって選択された時、選択された
コンデンサの温度係数は打ち消される。
【0023】また本発明のうち請求項7に記載の静電容
量型圧力センサは、請求項1乃至5の何れか1項に記載
の静電容量型圧力センサにおいて、上記定電流手段は、
設定された入力電圧に基づいた大きさの上記一定電流を
出力し、上記スイッチ手段が上記コンデンサの内の1つ
を選択した時、上記固定コンデンサの温度係数よりも小
さい温度係数を持つ上記入力電圧と上記設定電圧が上記
定電流手段と上記電圧比較手段に与えられることを特徴
とする。この請求項7の発明によれば、圧力検出用のコ
ンデンサがスイッチ手段によって選択された時、固定コ
ンデンサに比例した信号の温度感度を大きく取ることが
できる。
【0024】また本発明のうち請求項8に記載の静電容
量型圧力センサは、請求項1乃至7の何れか1項に記載
の静電容量型圧力センサにおいて、上記定電流手段は、
設定された入力電圧に基づいた大きさの上記一定電流を
出力し、上記スイッチ手段が上記固定コンデンサが選択
された時、上記固定コンデンサの温度係数よりも大きい
温度係数を持つ上記入力電圧と上記設定電圧が上記定電
流手段と上記電圧比較手段に与えられることを特徴とす
る。
【0025】この請求項8の発明によれば、固定コンデ
ンサに比例した信号の温度感度を大きく取ることができ
る。また本発明のうち請求項9に記載の静電容量型圧力
センサは、請求項1乃至7の何れか1項に記載の静電容
量型圧力センサにおいて、上記固定コンデンサを上記コ
ンデンサと同一環境下に配置することを特徴とする。
【0026】この請求項9の発明によれば、環境の変化
に対しても固定コンデンサとコンデンサは同一条件を維
持できる。また本発明のうち請求項10に記載の発明
は、電極とダイアフラムにより1つ以上のコンデンサを
形成し、圧力又は差圧を該コンデンサの静電容量の変化
として検出する圧力センサから該静電容量の変化を周期
の変化として出力する静電容量検出装置についてのもの
であって、定電流手段、スイッチ手段、充放電切換え手
段、電圧比較手段及び出力手段を備えることを特徴とす
る。スイッチ手段は、上記静電容量型圧力センサ内のコ
ンデンサ又は静電容量が固定の1乃至複数の固定コンデ
ンサのうち少なくとも一つを選択する。充放電切換え手
段は、上記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電
と、上記一定電流による充電とを切換える。電圧比較手
段は、上記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が
設定電圧に達していなければ充電を、該設定電圧に達し
たら放電を上記スイッチ手段に指示する出力手段は、上
記電圧比較手段によるスイッチ手段に対する指示を検出
信号として出力する。
【0027】この請求項10に記載の発明によれば、圧
力センサからの静電容量と固定コンデンサによる静電容
量とに対する検出結果を得ることが出来る。また本発明
のうち請求項11に記載の静電容量検出装置は、請求項
10の発明に於て、上記定電流手段、スイッチ手段、充
放電切換え手段、電圧比較手段、出力手段及び固定コン
デンサを同一IC上に構成することを特徴とする。
【0028】この請求項11に記載の発明によれば、各
上記手段及び固定コンデンサを圧力センサと同一環境下
に置くことが可能となる。
【0029】
【発明の実施の形態】図1は本発明の静電容量型圧力セ
ンサの動作原理を示すブロック図である。図1の静電容
量型圧力センサは、圧力センサ部1、検出部2、計数部
3、演算制御部4から構成される。
【0030】圧力センサ部1は、内部に一対乃至3以上
のコンデンサC1〜Cnを有する構成で、封入されてい
る流体に加わる圧力によってダイアフラムを変位させ、
その変位量に基づくコンデンサの静電容量の変化によっ
て圧力を求めるものである。
【0031】検出部2は圧力センサ部1でのコンデンサ
の静電容量の変化を周期出力パルスに変換するもので、
圧力センサ内のコンデンサC1〜Cnを切換えるスイッ
チ部21、選択した圧力センサのコンデンサの静電容量
を周波数信号に変換する静電容量−周波数変換部22及
び固定容量の固定コンデンサCc等から構成される。こ
のうち固定コンデンサCcは、圧力によって静電容量が
変化しない基準の静電容量となるもので、この固定コン
デンサCcを用いて寄生容量による影響を補正する。ま
たこの固定コンデンサCcに対応する基準となるコンデ
ンサを、圧力センサ部1内に、コンデンサC1〜Cnと
同一の封液で満たし、圧力に対して静電容量が変化しな
い形のコンデンサとして備える構成とすることもでき
る。しかしこの構成の場合、圧力センサの封液として一
般的に用いられているシリコンオイルの場合は、比誘電
率が温度及び静電依存性を持つので、静圧のみを検出す
るセンサが必要となり、コストアップする。
【0032】計数部3は、検出部2の出力パルスをカウ
ンタ回路等でカウントしてデジタル値に変換するもので
ある。演算制御部4は、計数部3による計数結果をもと
に出力演算補正を行い、またスイッチ部201の制御を
行う。
【0033】図1の静電容量型圧力センサでは、圧力セ
ンサ部1に加わった圧力に対し、検出部2のスイッチ切
換え部11が圧力センサ内のコンデンサC1〜Cn及び
コンデンサCcを切換え選択し、その静電容量値を矩形
波の周期に変換して出力する。この各コンデンサに対す
る出力を計数部3がカウントし、この結果に基づいて、
演算制御部4が出力演算補正及びスイッチ部201の制
御を行う。
【0034】図2は一対のコンデンサを構成する場合の
圧力センサ部1の構造を示す断面図である。本発明の静
電容量型圧力センサでは、圧力検出用のコンデンサは1
つ乃至3つ以上でも良いが、以下の説明では、静電容量
型圧力センサで一般的に用いられている、ダイヤフラム
を介して相対的に容量が変化する1対のコンデンサを備
える構成について説明する。
【0035】同図中、シリコン基板10は、導電性基板
として用いられるもので、適当な電気導電度として、例
えば約0.1Ωcmを持つ〔100〕面を結晶面方位と
するP形のシリコンウェハ上に、空隙103a及び10
3bに相当する円形の凹みと、その外側のリング状の肉
薄部102を形成するためのリング溝とを各面2回以上
のプラズマエッチングによって形成したものである。リ
ング状の肉薄部102の内側にはそれより厚い平坦部1
01が形成され、この平坦部101と肉薄部102とで
圧力差によって変位するダイアフラムが構成される。こ
のダイアフラムが圧力センサ部1の可動電極となる。な
おシリコン基板10及び肉薄部102の厚さは、測定対
象となる圧力あるいは圧力差の大きさによって適宜に決
定される。
【0036】またこのシリコン基板10の両面に、ムラ
イト−コージェライト系のセラミックからなる絶縁性基
板11a及び11bが静電接合で接合されている。そし
てこの絶縁基板11a及び11bには、それぞれの固定
電極12a及び12b並びに電極13a及び13bが、
クロム、白金、金の3層のマスクスパッタリングによっ
て形成されている。この固定電極12a及び12bと電
極13a及び13bは、圧力が導入される導圧口14a
及び14bの内壁を通して接続されている。
【0037】この2つの固定電極12a及び12bと、
可動電極となるシリコン基板11の平坦部101とで、
相対的に静電容量値が変化する1対のコンデンサC1、
C2が形成されている。
【0038】尚、絶縁性基板11a及び11bのそれぞ
れの静電接合面には、厚さ1.6μmのパイレックスガ
ラスの不図示のスバッタ膜が形成されており、このパイ
レックスガラス膜によって静電接合が可能となる。また
絶縁性基板11a及び11bとしてムライト−コージェ
ライト系のセラミックを使用しているのは、シリコンの
熱膨張係数に極めて近い熱膨張係数をもち、しかも剛性
の高いセラミックを得ることができるためである。
【0039】絶縁性基板11aの下面には、中央に貫通
孔171を有するムライト−コージェライト系のセラミ
ックからなる絶縁部材17が、貫通孔171と導圧口1
4aが導通する状態に位置決めされて、金−錫共晶半田
によって接合されている。この絶縁部材17の上下面に
は、半田付けのためのクロム、白金、金の3層のスパッ
タ膜が形成されている。
【0040】絶縁部材17の下面には、中央に貫通孔1
81を有するステンレスからなる基台18が、貫通孔1
81と導圧口14a及び貫通孔171が導通する状態に
位置決めされて、金−錫共晶半田によって接合されてい
る。この基台18の絶縁部材17との接合部分には半田
付けのためにクロム、白金、金の3層のスパッタ膜が形
成されている。
【0041】これら貫通孔171、181及び導圧口1
4aを通して、封入されている圧力伝達流体19が第1
の圧力P1をダイアフラムの下面に伝える。一方、絶縁
性基板11bには、シリコン基板10との接合部の片隅
に貫通孔が形成されており、両基板を接合した後、この
貫通孔にアルミのマスクスパッタリングによって電極1
6が形成される。この電極16がシリコン基板10から
の引出し電極となる。
【0042】また絶縁性基板11bのシリコン基板10
との接合面とは逆側の表面で、シリコン基板10と接合
面に対応する領域上に、ベアチップによる検出部2が構
成されている。この検出部2が置かれる領域は、圧力セ
ンサ部1の中で最も剛性が高い領域であり、また1対の
コンデンサC1及びC2とも距離が近いので接続配線を
短くすることが出来、配線による浮遊容量が少なくて済
む領域である。この検出部2は、固定電極12a、12
b及び16とアルミ線によって配線接続されている。尚
固定コンデンサCcは、この検出部2のベアチップ内に
作り込む構成としても、或はベアチップ近辺にコンデン
サC1及びC2と同一温度環境化になるように配置する
構成でもよい。
【0043】このような圧力センサ部1周辺及びダイア
フラムの上面部には、基台18等に設けられた貫通孔を
通して導かれた圧力P1に対する圧力P2をダイアフラ
ムの上面に伝えるための、不図示の圧力伝達流体が封入
されている。
【0044】ダイアフラムの両面にかかる圧力P1と圧
力P2との差によって肉薄部102が変形し、平坦部1
01が固定電極12a及び12bに対して垂直に変位す
る。この変位による可動電極である平坦部101と固定
電極12a及び12bとの距離の変化に伴って、静電容
量値C1とC2が相対的に変化しする。この値を測定す
ることによって圧力P1とP2との差が検出される。
【0045】尚この圧力センサ部1において、圧力P1
及びP2の内、一方の圧力を大気圧にすればゲージ圧セ
ンサとなり、また一方を真空にすれば絶対圧センサとな
る。図2のような構成において導入圧力P1、P2の大
小関係は任意ではあるが、以下の説明では便宜上P1<
P2であったとして説明を行う。
【0046】いまP1<P2の差圧が加わると、ダイア
フラムは図2中の矢印の方向に変位する。このダイアフ
ラムの変位に基づいた静電容量C1、C2はそれぞれ検
出部2及び計数部3で検出され、その結果を用いて演算
制御部4で下記(1) 式の演算を行うことによりダイアフ
ラムの変位が求められる。
【0047】 [C1−C2−(Cs1−Cs2)]/[C1+C2−(Cs1+Cs2)] =△d1/d1・・・(1) (1) 式中のd1はダイアフラム21と固定電極31a又
は32bとの間隔、Cs1はコンデンサC1に対する寄
生容量、Cs2のコンデンサC2に対する寄生容量、△
d1は加わった圧力によるダイアフラム21の変位量を
示す。
【0048】ここで、使用温度範囲における固定コンデ
ンサCc選択時の検出信号Tref及び係数A、Bを下
記(2) 、(3) 、(4) 式が成り立つように決め、この(2)
〜(4) 式を(1) 式に代入すると下記(5) 式が求まる。
【0049】 (Cs1−Cs2)=A/C・f(Tref) ・・・(2) (Cs1+Cs2)=B/C・f(Tref) ・・・(3) T1=C・Cs1,T2=C・Cs2 ・・・(4) (T1−T2−A・f(Tref))/(T1+T2−B・f(Tref))= Δd1/d1・・・(5) T1:コンデンサC1の静電容量に応じた出力信号の周
期 T2:コンデンサC2の静電容量に応じた出力信号の周
期 f(Tref):固定コンデンサCcの静電容量に応じ
た出力信号の関数 A、B、C:係数 この(5) 式にスイッチ部210が固定コンデンサCcを
選択時の計測結果を用いることによりダイアフラムの変
位が求まる。
【0050】図3は第1の実施の形態における静電容量
型圧力センサの構成図である。尚同図中圧力センサ部1
は、ここではコンデンサC1、C2以外簡略化されて表
されている。
【0051】同図中検出部2は、スイッチ部21、一定
の静電容量を持つ固定コンデンサCc及び静電容量−周
波数変換部22に対応する定電流回路部23、カレント
ミラー回路24、コンパレータ部25及びモノマルチ部
26により構成される。
【0052】スイッチ部21は演算制御部4の指示によ
りコンデンサC1、C2及び固定コンデンサCcの切換
えを行うもので、例えばMOS型のトランジスタスイッ
チ211〜213及びスイッチ選択回路214により構
成されている。
【0053】定電流回路部23は、入力電圧発生回路2
31、オペアンプ232、電界効果トランジスタ23
3、抵抗R234により構成されている。この定電流回
路部23は、入力電圧発生回路231による設定電圧V
refと、抵抗234を流れる電流ILにより生じる電
圧(図中a点の電圧)とが等しくなるようにオペアンプ
232が電界効果トランジスタ233を制御する。これ
により電流ILは一定値、Vref/R234となる。
【0054】カレントミラー回路24は、定電流回路部
23の発生電流ILと等しい電流Icを安定的に出力す
るもので、MOSトランジスタにより構成される。コン
パレータ部25は設定電圧発生回路251とコンパレー
タ252より構成され、入力電圧が設定電圧発生回路2
51によってコンパレータ252に設定された設定電圧
Vthに達すると出力を“L”レベルから“H”レベル
にする。
【0055】モノマルチ部26は、コンパレータ部25
に出力によってトランジスタスイッチ29のON/OF
Fを切換えるもので、コンパレータ部25の出力が
“H”レベルになるとトランジスタスイッチ29を“O
N”に、出力が“L”レベルになると“OFF”にす
る。
【0056】図3の静電容量型圧力センサでは、スイッ
チ選択回路214が演算制御部4からの指示に基づい
て、スイッチ211〜213のON/OFFを操作して
圧力センサ部1内のコンデンサC1及びC2、及び固定
容量のコンデンサCcから順次選択する。まずコンデン
サC1が選択されたものとする。
【0057】カレントミラー回路24の出力電流Icに
より、スイッチ部21によって選択されたコンデンサが
充電されてゆくと、それに伴い、コンデンサによる電位
(図中b点の電位)が上がる。そしてb点の電圧がコン
パレータ部25の設定電圧Vthに達すると、コンパレ
ータ252の出力は“L”レベルから“H”レベルにタ
ーンオンする。
【0058】コンデンサC1が選択されている時の、電
位が設定電圧Vthに達するまでのコンデンサC1の充
電時間をtc1とすると、tc1は下式のように表され
る。tc1=C1・Vth/Ic=C1・R234・V
th/Vref・・・(6)ここで、仮にVth=2・V
refとすると、tc1は式(7) の様に静電容量値C1
と抵抗値R234のみの関数となる。
【0059】 tc1=2・C1・R234 ・・・(7) モノマルチ部26は、コンパレータ部25の出力が
“H”レベルになった瞬間にトランジスタスイッチ29
を“ON”にする。するとb点はVssに接地されるの
で、コンデンサC1は放電し、b点の電位は0になる。
するとコンパレータ部25は、入力電圧が設定電圧Vt
hより低くなるので、出力を“L”レベルにターンオフ
する。これを受けてモノマルチ部26は、トランジスタ
スイッチ29を“OFF”にする。
【0060】これにより再びコンデンサC1が電流Ic
により充電され、b点が設定電圧Vthに達すると再び
トランジスタスイッチ29が“ON”となりコンデンサ
C1の放電が行われる。以降このような充放電動作が繰
り返され、検出部2からは静電容量C1に比例した一定
周期の方形波信号が出力される。この出力信号の周期t
1は、下記の式で表される。
【0061】 t1=tc1+tr=2・C1・R234+tr ・・・(8) (8) 式中trはモノマルチ部26が、トランジスタスイ
ッチ29を“ON”にしてコンデンサの放電を開始して
から、トランジスタスイッチ29を“OFF”にするま
でのリセット時間である。
【0062】出力信号の周期の検出が終ると、演算制御
部4はスイッチ選択回路21からの指示により、スイッ
チ211〜213を操作し、選択するコンデンサを順次
変更する。これによりコンデンサC1のときと同様の動
作から、コンデンサC2及び固定コンデンサCcに比例
した周期の出力信号が得られる。この出力信号の、コン
デンサC2選択時の周期t2及び固定コンデンサCc選
択時の周期trefは下記(9) 、(10)式の様にそれぞれ
表わせる。
【0063】 t2=tc2+tr=2・C2・R234+tr ・・・(9) tref=tcref+tr=2・Cc・R234+tr ・・・(10) 尚(8) 〜(10)式中の、モノマルチ部26がスイッチ16
を“ON”にしてから“OFF”にするまでのリセット
時間trは数100nsec程度であるので、出力信号
の直線性及び分解能への影響はほとんどない。
【0064】検出部2の矩形波の出力信号は計数部3に
入力され、計数部3によって計数される。その計数結果
は下記(11)、(12)、(13)式で表される。 T1=n・t1・fclk ・・・(11) T2=n・t2・fclk ・・・(12) Tref=n・tref・fclk ・・・(13) n:係数 fclk:計数部3での計数クロック周波数 この計数部3での計数結果を基にして、演算制御部4で
上記(1) 〜(4) 式を用いて演算を行い、寄生容量に対す
る補正がなされたダイアフラムの変位が求まる。これに
より、寄生容量の影響のない、静電容量型センサのダイ
アフラム変位に比例した出力を得ることが可能となる。
【0065】この様に図3の構成では、出力信号の周期
の決定要素としては、トランジスタスイッチ29及び2
11〜213のON抵抗は関与しないので、温度によっ
て各トランジスタスイッチのON抵抗が変化しても、出
力信号はその影響を全く受けない。
【0066】次に第2の実施形態について説明する。上
記第1の実施形態による方式の場合は、静電容量C1、
C2に比例した出力信号の周期T1、T2の温度依存性
を小さくするために、抵抗R234の温度係数を小さく
した場合、固定コンデンサCcの温度係数は抵抗に比べ
て一般的に小さいので、固定コンデンサCcに比例した
信号Trefの温度感度も小さくなる。この点を考慮し
たものが第2の実施形態のよる方式である。
【0067】図4は第2の実施形態における静電容量型
圧力センサの構成図である。図4では、図3の第1の実
施形態と同じ構成要素には同じ番号が付されている。図
4の静電容量型圧力センサでは、定電流回路部27に、
少なくとも2つ以上の入力電圧発生回路271−1〜2
71−nを備えている。これらはそれぞれ異なる電圧値
を持ち、この中からスイッチ選択回路214によるスイ
ッチ275の操作によって選択接続された電圧値が設定
電圧Vrefとしてオペアンプ272に印加される。こ
の構成により定電流回路部27は、演算制御部4からの
指示により2つ以上の異なる電流値から電流ILとして
選択出力することが出来る。
【0068】またコンパレータ部28も、異なる出力電
圧を持つ少なくとも2つ以上の設定電圧発生回路281
−1〜281−nを備える構成となっている。そして演
算制御部4の指示に基づいてスイッチ選択回路214が
スイッチ283を切換えることによりこれらを選択し、
その出力値をコンパレータ282への設定電圧Vthと
することが出来る。この構成により各コンデンサに対し
て適宜な入力電圧Vref及び設定電圧Vthを設定す
ることが出来る。
【0069】これら定電流回路部27の出力電流IL及
びコンパレータ部28への設定電圧Vthの選択は、ス
イッチ選択回路214が選択するコンデンサに応じて決
定される。
【0070】尚各入力電圧発生回路271−1〜271
−n及び設定電圧発生回路281−1〜281−nから
出力される電圧は、同一の回路からの出力でも温度によ
って変化する。よってこれらを温度の関数とすると、入
力電圧発生回路271−1〜271−n及び設定電圧発
生回路281−1〜281−nの選択は、正確には入力
電圧Vref及び設定電圧Vthの温度係数を選択する
ことを意味する。この電圧の温度依存性はトランジスタ
のベース−エミッタ電圧の温度特性を利用すれば、容易
に制御できる。
【0071】図5は、選択した各コンデンサに対する定
電流回路部27での入力電圧Vrefの温度係数とコン
パレータ部28の設定電圧Vthの温度係数の関係を示
す表である。
【0072】図5にあるように、演算制御部4は、コン
デンサC1又はコンデンサC2を選択時は、コンデンサ
C1又はC2の温度係数を打ち消すような入力電圧Vt
hと設定電圧Vrefが設定されるように入力電圧発生
回路271−1〜271−n及び設定電圧発生回路28
1−1〜281−nの中から選択し、スイッチ選択回路
214に指示する。またコンデンサCc選択時には、検
出分解能に応じて温度係数を大きく取る。
【0073】これによりコンデンサC1及びC2に対し
て設定される入力電圧Vth又は設定電圧Vrefは、
静電容量の温度係数を打ち消す温度係数又は、温度係数
がほぼ零の電圧が選択され、また温度検出用の固定コン
デンサCcに対して設定される電圧Vref及びVth
は、温度係数が大きい電圧が選択され、設定される。従
って圧力検出用のコンデンサC1、C2の静電容量の変
化に対しては温度依存性がほぼ零に、また固定コンデン
サCcの静電容量の変化に対しては温度依存性を大きく
できるので、検出部2からの出力信号の周期T1、T2
及びTrefに対して、寄生容量に対する高い精度の温
度補正を実現することが出来る。次に第3の実施形態に
ついて説明する。
【0074】(3) 、(4) 式において寄生容量に対する補
正を行う係数A、Bは通常、複数の任意の温度で決めら
れ、任意の補正ポイント間での係数A、Bは近似で求め
ることになり、近似による誤差が発生する。
【0075】その近似誤差は、補正ポイント間の温度差
が少ない程小さくできるので、より測定精度を向上しよ
うとすると、その分補正ポイントを増やす必要があり、
コストアップするという問題がある。
【0076】この点を考慮したものが第3の実施形態に
よる方式である。図6は、第3の実施形態における静電
容量型圧力センサの構成図である。この図6の構成は、
図3の第1の実施形態の構成を基としたものであり、図
3と同じ構成要素には同じ番号が付されている。
【0077】同図の静電容量型圧力センサでは、スイッ
チ部30内に固定コンデンサCc1及びCc2の2つの
固定コンデンサを備えている。そして演算制御部4の指
示に従って、スイッチ選択回路305がスイッチ301
〜304のON/OFFを操作して圧力センサ部1内の
コンデンサC1とC2、及びこの固定容量のコンデンサ
Cc1及びCc2から順次選択して接続を切換える。
【0078】この図6の静電容量型圧力センサでは、上
記(10)、(13)式に対応する固定コンデンサCc1及びC
c2選択時の周期tref1、tref2及び係数部3
による係数結果Tref1、Tref2は下記(14)、(1
5)及び(16)、(17)で表せる。
【0079】 tref1=tc1ref+tr=2・Cc1・R234+tr ・・・(14) tref2=tc2ref+tr=2・Cc2・R234+tr ・・・(15) Tref1=n・tref1・fclk ・・・(16) Tref2=n・tref2・fclk ・・・(17) また、(8) 、(9) 式で示した静電容量C1、C2に比例
した信号は、測定誤差を考慮すると厳密には(18)、(19)
式のようになる。
【0080】 t11=tc1+terr=2・(C1+Cerr)・R234+tr・(18) t12=tc2+terr=2・(C2+Cerr)・R234+tr・(19) このうちterrは(20)式で表せる。
【0081】 terr=ts+tr ・・・(20) また上式のtsは(21)式で表せる。 ts=2・Cs・R234 ・・・(21) 第3の実施形態では、誤差Cerrを補正するために固
定コンデンサCc1にCc2に比例した信号の計測値を
用いる。
【0082】(14)、(15)式に示した固定コンデンサCc
1、Cc2に比例した信号に、Cerrを考慮すると、
(22)、(23)式になる。 tref11=2・(Cc1+Cerr)・R234 ・・・(22) tref12=2・(Cc2+Cerr)・R234 ・・・(23) 固定コンデンサCc1、Cc2の静電容量値は既知なの
で、Cc2は(24)式で表せる。
【0083】 Cc2=M・Cc1 ・・・(24) (22)、(23)、(24)式より、Cerrは(25)式となる。 Cerr=(M・tref11−tref22)/2/R234/(M−1) ・・・(25) この(25)式のCerrを(18)、(19)式に適用することに
より、厳密に静電容量C1、C2に比例した信号を求め
ることが出来るので、この係数結果を基に演算制御4
で、上記(2) 〜(5) 式の出力・補正演算を行うことによ
り、より高精度に、寄生容量の影響の無い静電容量型圧
力センサのダイアフラム変位に比例した出力を得ること
が可能となる。
【0084】次に第4の実施形態について説明する。第
3の実施形態の方式では、第1の実施形態の方式の場合
と同様、信号の周期T1、T2の温度依存性を小さくす
るために抵抗R234の温度係数を小さくした場合、固
定コンデンサCc1及びCc2に比例した信号Tref
1、Tref2の温度感度も小さくなってしまう。この
点を考慮したものが第4の実施形態による方式である。
【0085】図7は第4の実施形態における静電容量型
圧力センサの構成図である。尚図7では、図4の第2の
実施形態及び図6の第3の実施形態と同じ構成要素には
同じ番号が付されている。
【0086】図7では、図6の第3の実施形態の構成を
基に、定電流回路部23及びコンパレータ部25の代わ
りに、図4の少なくとも2つ以上の入力電圧発生回路2
71−1〜271−nを有する定電流回路部27、及び
異なる出力電圧を持つ少なくとも2つ以上の設定電圧発
生回路281−1〜281−nを有するコンパレータ部
28を備えている。
【0087】この定電流回路部27は演算制御部4から
の指示によりスイッチ275を操作してオペアンプ27
2に印加する電圧値Vrefを変更し、抵抗R274を
流れる電流ILを複数の異なる電流値から選択する。ま
たコンパレータ部28も、演算制御部4からの指示に基
づいてコンパレータ282への設定電圧Vthを複数の
電圧値から選択して最適なものに設定変更する。この構
成により図7の静電容量型圧力センサでは、選択したコ
ンデンサに対する適宜な入力電圧Vref及び設定電圧
Vthを選択設定することが出来る。
【0088】各入力電圧発生回路271−1〜271−
n及び設定電圧発生回路281−1〜281−nから出
力される電圧を温度の関数として見ると、入力電圧発生
回路271−1〜271−n及び設定電圧発生回路28
1−1〜281−nの選択は、入力電圧Vref及び設
定電圧Vthの温度係数を選択することを意味する。こ
の電圧の温度依存性はトランジスタのベース−エミッタ
電圧の温度特性を利用すれば、容易に制御できる。
【0089】図8は、選択した各コンデンサに対する定
電流回路部27での入力電圧Vrefの温度係数とコン
パレータ部28の設定電圧Vthの温度係数の関係を示
す表である。
【0090】図8にあるように、演算制御部4は、コン
デンサC1又はコンデンサC2を選択時は、コンデンサ
C1又はC2の温度係数を打ち消すような入力電圧Vt
hと設定電圧Vrefが設定されるように入力電圧発生
回路271−1〜271−n及び設定電圧発生回路28
1−1〜281−nの中から選択し、スイッチ選択回路
214に指示する。またコンデンサCc選択時には、検
出分解能に応じて温度係数を大きく取る。
【0091】これによりコンデンサC1及びC2に対し
て設定される入力電圧Vth又は設定電圧Vrefは、
静電容量の温度係数を打ち消す温度係数又は、温度係数
がほぼ零の電圧が選択され、また温度検出用の固定コン
デンサCc1、Cc2に対して設定される電圧Vref
及びVthは、温度係数が大きい電圧が選択され、設定
される。従って圧力検出用のコンデンサC1、C2の静
電容量の変化に対しては温度依存性がほぼ零に、また固
定コンデンサCcの静電容量の変化に対しては温度依存
性を大きいものを選択できるので、検出部2からの出力
信号の周期T1、T2、Tref1、Tref2に対し
て、寄生容量に対する高い精度の温度補正を実現するこ
とが出来る。
【0092】この図8の組合わせで出力信号を得る場合
も、静電容量の誤差Cerrが誤差要因となるので、演
算制御部4で(25)式を適用することでより高精度な補正
が可能となる。
【0093】
【発明の効果】本発明の基づく静電容量型圧力センサに
よれば、寄生容量に対する高い補正を可能とし、高精度
な圧力測定を可能とした静電容量型センサを実現するこ
とが出来る。
【0094】また本発明の静電容量型圧力センサは、温
度変化による静電容量の変化を考慮して寄生容量に対す
る補正を行うので、簡単な構成で広い温度範囲に渡る正
確な圧力検出を実現できる。
【0095】更に静電容量の計測値は、トランジスタス
イッチのオン抵抗の影響を受けることがなく、その上拡
散抵抗を使用した場合等に生じる熱雑音が発生しないの
で、高精度な圧力測定を行うことが出来る。
【0096】また固定コンデンサと圧力検出用のコンデ
ンサを同一環境化に置くことが出来るので、温度等の環
境の変化に対して寄生容量の影響を高精度にキャンセル
することができる。
【0097】更に簡単な構成により実現できるので、低
コストで、高精度な圧力測定が可能となる。また、複数
の固定コンデンサを備える構成とした場合、近似誤差を
も含めたより高精度の補正が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による静電容量型センサのブロック図で
ある。
【図2】一対のコンデンサを構成する場合の圧力センサ
の構造を示す断面図である。
【図3】第1の実施の形態における静電容量型圧力セン
サの構成図である。
【図4】第2の実施の形態における静電容量型圧力セン
サの構成図である。
【図5】選択したコンデンサに対する入力電圧の温度係
数及び設定電圧の温度係数の関係を示す表である。
【図6】第3の実施の形態における静電容量型圧力セン
サの構成図である。
【図7】第4の実施の形態における静電容量型圧力セン
サの構成図である。
【図8】第4の実施形態に於ける選択したコンデンサに
対する入力電圧の温度係数及び設定電圧の温度係数の関
係を示す表である。
【図9】従来の静電容量型圧力センサの基本構成を示す
回路図である。
【符号の説明】
1 圧力センサ部 2 検出部 3 計数部 4 演算制御部 21、30 スイッチ部 22 静電容量−周波数変換部 23、27 定電流回路部 24 カレントミラー部 25、28 コンパレータ部 26 モノマルチ部 C1、C2 コンデンサ Cc、Cc1、Cc2 固定コンデンサ

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電極とダイアフラムにより1つ以上のコ
    ンデンサを形成し、圧力又は差圧を該コンデンサの静電
    容量の変化として検出する静電容量型圧力センサにおい
    て、 一定電流を出力する定電流手段と、 静電容量が固定の固定コンデンサと、 前記コンデンサ又は前記固定コンデンサのうち少なくと
    も一つを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電と、前記
    一定電流による充電とを切換える充放電切換え手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が設定電
    圧に達するまでの間充電を、該設定電圧に達したら放電
    を前記スイッチ手段に指示する電圧比較手段と、 を備えることを特徴とする静電容量型圧力センサ。
  2. 【請求項2】 電極とダイアフラムにより該ダイアフラ
    ムの変位により相対的に静電容量が変化する少なくとも
    1組のコンデンサを形成し、圧力又は差圧を該静電容量
    の変化として検出する静電容量型圧力センサにおいて、 一定電流を出力する定電流手段と、 静電容量が固定の固定コンデンサと、 前記コンデンサ又は前記固定コンデンサのうち少なくと
    も一つを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電と、前記
    一定電流による充電とを切換える充放電切換え手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が設定電
    圧に達するまでの間充電を、該設定電圧に達したら放電
    を前記スイッチ手段に指示する電圧比較手段と、 を備えることを特徴とする静電容量型圧力センサ。
  3. 【請求項3】 電極とダイアフラムにより1つ以上のコ
    ンデンサを形成し、圧力又は差圧を該コンデンサの静電
    容量の変化として検出する静電容量型圧力センサにおい
    て、 一定電流を出力する定電流手段と、 静電容量が固定の複数の固定コンデンサと、 前記コンデンサ又は前記各固定コンデンサのうち少なく
    とも一つを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電と、前記
    一定電流による充電とを切換える充放電切換え手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が設定電
    圧に達するまでの間充電を、該設定電圧に達したら放電
    を前記スイッチ手段に指示する電圧比較手段と、 を備えることを特徴とする静電容量型圧力センサ。
  4. 【請求項4】 電極とダイアフラムにより該ダイアフラ
    ムの変位により相対的に静電容量が変化する少なくとも
    1組のコンデンサを形成し、圧力又は差圧を該静電容量
    の変化として検出する静電容量型圧力センサにおいて、 一定電流を出力する定電流手段と、 静電容量が固定の複数の固定コンデンサと、 前記コンデンサ又は前記各固定コンデンサのうち少なく
    とも一つを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電と、前記
    一定電流による充電とを切換える充放電切換え手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が設定電
    圧に達するまでの間充電を、該設定電圧に達したら放電
    を前記スイッチ手段に指示する電圧比較手段と、 を備えることを特徴とする静電容量型圧力センサ。
  5. 【請求項5】 前記スイッチ手段に選択するコンデンサ
    を指示し、該選択した各コンデンサに対する前記電圧比
    較手段による前記スイッチ手段への指示の周期を用いて
    寄生容量の補正を行う演算制御手段を更に備えることを
    特徴とする請求項1乃至4の何れか1つに記載の静電容
    量型圧力センサ。
  6. 【請求項6】 前記定電流手段は、設定された入力電圧
    に基づいた大きさの前記一定電流を出力し、前記スイッ
    チ手段が前記コンデンサの内の1つを選択した時、前記
    コンデンサの温度係数を打ち消す温度係数を持つ前記入
    力電圧と設定電圧が前記定電流手段と電圧比較手段に与
    えられることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項
    に記載の静電容量型圧力センサ。
  7. 【請求項7】 前記定電流手段は、設定された入力電圧
    に基づいた大きさの前記一定電流を出力し、前記スイッ
    チ手段が前記コンデンサの内の1つを選択した時、前記
    固定コンデンサの温度係数よりも小さい温度係数を持つ
    前記入力電圧と設定電圧が前記定電流手段と電圧比較手
    段に与えられることを特徴とする請求項1乃至5の何れ
    か1項に記載の静電容量型圧力センサ。
  8. 【請求項8】 前記定電流手段は、設定された入力電圧
    に基づいた大きさの前記一定電流を出力し、前記スイッ
    チ手段が前記固定コンデンサを選択した時、前記固定コ
    ンデンサの温度係数よりも大きい温度係数を持つ前記入
    力電圧と設定電圧が前記定電流手段と電圧比較手段に与
    えられることを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項
    に記載の静電容量型圧力センサ。
  9. 【請求項9】 前記固定コンデンサを前記コンデンサと
    同一環境下に配置することを特徴とする請求項1乃至8
    の何れか1項に記載の静電容量型圧力センサ。
  10. 【請求項10】 電極とダイアフラムにより1つ以上の
    コンデンサを形成し、圧力又は差圧を該コンデンサの静
    電容量の変化として検出する圧力センサから該静電容量
    の変化を周期の変化として出力する静電容量検出装置で
    あって、 一定電流を出力する定電流手段と、 前記静電容量型圧力センサ内のコンデンサ又は静電容量
    が固定の1乃至複数の固定コンデンサのうち少なくとも
    一つを選択するスイッチ手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの放電と、前記
    一定電流による充電とを切換える充放電切換え手段と、 前記スイッチ手段が選択したコンデンサの電位が設定電
    圧に達していなければ充電を、該設定電圧に達したら放
    電を前記スイッチ手段に指示する電圧比較手段と、 前記電圧比較手段によるスイッチ手段に対する指示を検
    出信号として出力する出力手段と、 を備えることを特徴とする静電容量検出装置。
  11. 【請求項11】 前記定電流手段、スイッチ手段、充放
    電切換え手段、電圧比較手段及び固定コンデンサを同一
    IC上に構成することを特徴とする請求項10記載の静
    電容量検出装置。
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