JP2000241495A - 自動エージング検査装置 - Google Patents

自動エージング検査装置

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JP2000241495A
JP2000241495A JP11042495A JP4249599A JP2000241495A JP 2000241495 A JP2000241495 A JP 2000241495A JP 11042495 A JP11042495 A JP 11042495A JP 4249599 A JP4249599 A JP 4249599A JP 2000241495 A JP2000241495 A JP 2000241495A
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JP
Japan
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aging
main
test
temperature stress
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JP11042495A
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English (en)
Inventor
Takao Miyai
隆雄 宮井
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 生産性の向上、省人化、エネルギーロスを削
減し、設備コストを下げ、さらにエージング検査での不
良解析時間を短縮することができる。 【解決手段】 主検査ラインBと分離して、主検査ライ
ンBでの被検査数より多数の被検査物Aに温度ストレス
を継続的に印加可能な温度ストレス印加手段2を設け
た。主検査ラインBは、エージング手段4、電気特性検
査手段5、良否判定手段6および各手段間に被検査物A
を搬送する複数の搬送手段3とを備え、生産リードタイ
ムの長い温度ストレス印加手段2を主検査ラインBより
前の先頭工程でバッチ処理し、生産リードタイムの短い
エージング手段4と電気特性検査手段5を主検査ライン
Bで自動連続処理する。これにより、工程内の仕掛かり
在庫を1箇所に集中し、しかも人手による搬送作業は温
度ストレス印加手段2から主検査ラインBへの1回です
むため、作業効率が高まり、省人化を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、被検査物製造工
程で、加熱を伴うエージング検査を行う自動エージング
検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の装置は、図12に示され
るように、加熱を伴うエージング検査を生産ラインの最
終工程で長時間にわたり、人手搬送で実施している(自
動車用被検査物のエージング及び電子部品のスクリーニ
ング実施基準 社団法人日本自動車部品工業会 JAP
IA EL001)。すなわち、予備加熱・乾燥手段1
1、エージング手段13および特性検査手段15にそれ
ぞれ対応した搬送手段10,12,14に被検査物を載
せて搬送し、各手段で処理を行った後、良品を梱包、出
荷する。この際、予備加熱・乾燥手段11、エージング
手段13および特性検査手段15の各手段は生産リード
タイムが長く個々にバッチ生産している。また、予備加
熱・乾燥手段11の後、充填硬化を含む加工工程を行
い、その後にエージング検査を行っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術には以下の問題点がある。
【0004】 図12に示すように、生産リードタイ
ムが長い手段が工程内に複数あるため、工程内の仕掛か
り在庫が増える。また、被検査物を機能が異なる搬送手
段に、異なる作業場所で、何回も人手作業で移載するた
め、人の作業効率が悪く、作業者も多く必要となる。
【0005】 バッチ生産では、装置全体を昇降温す
るため、エネルギーロスが大きく、さらに生産リードタ
イムが長くなる要因なっている。
【0006】 検査不良品を人手で取り出すため、作
業ミスで不良品が良品に混入する可能性がある。
【0007】 被検査物を数多く断続通電するには、
被検査物の入力ラッシュ電流(定格電流の数十倍)によ
る電源の電圧降下を防止するため、定格電力に比べて大
容量の電源を準備する必要があり、設備のコスト上昇の
原因になっている。
【0008】 検査装置で不良を発見しても、全工程
の加工が終了しているため、不良原因を解析するのに被
検査物の分解が必要となり、解析時間がかかり、不良ロ
スの金額も大きくなる。
【0009】したがって、この発明の目的は、連続自動
生産することで、生産性の向上、省人化、エネルギーロ
スを削減し、設備コストを下げ、さらにエージング検査
での不良解析時間を短縮することができる自動エージン
グ検査装置を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
にこの発明の請求項1記載の自動エージング検査装置
は、被検査物に対してエージング検査を行う主検査ライ
ンと分離して、主検査ラインでの被検査数より多数の被
検査物に温度ストレスを継続的に印加可能な温度ストレ
ス印加手段を設けたことを特徴とする。
【0011】このように、被検査物に対してエージング
検査を行う主検査ラインと分離して、主検査ラインでの
被検査数より多数の被検査物に温度ストレスを継続的に
印加可能な温度ストレス印加手段を設けたので、工程内
の仕掛かり在庫を1箇所に集中し、しかも人手による搬
送作業は温度ストレス印加手段から主検査ラインへの1
回ですむため、作業効率が高まり、省人化を実現でき
る。
【0012】また、エージング検査ラインをインライン
しながら設備をコンパクト化、設備全体を加熱冷却しな
いので省エネルギー化できる。
【0013】請求項2記載の自動エージング検査装置
は、請求項1において、主検査ラインは、エージング手
段、電気特性検査手段、良否判定手段およびこれらの各
手段間に被検査物を搬送する複数の搬送手段とを備え、
生産リードタイムの長い温度ストレス印加手段を主検査
ラインより前の先頭工程でバッチ処理し、生産リードタ
イムの短い前記エージング手段と電気特性検査手段を前
記主検査ラインで自動連続処理するようにした。
【0014】従来、生産リードタイムが長く個々にバッ
チ生産していた手段(乾燥手段、予備加熱手段、エージ
ング手段、電気特性検査手段)を、生産リードタイムが
長い温度ストレス印加手段と、生産リードタイムが短い
エージング手段と電気特性検査手段に被検査物へのスト
レスが同等になるように分割し、温度ストレス印加手段
は主検査ラインと分離してバッチ生産しておき、エージ
ング手段と電気特性検査手段は主検査ラインで自動連続
生産し、温度ストレス印加手段に比べて少数の被検査物
に対して昇降温することで、エネルギーロス、生産リー
ドタイムの短縮を図ることができる。
【0015】また、従来の人手のバッチ装置が工程にあ
ると、工程の仕掛かり在庫が多くなり、生産の流れがと
ぎれ、生産リードタイムが長くなる。これに対して上記
構成では、先頭工程の長時間の温度ストレス印加手段で
はバッチであり仕掛かり在庫ができるが、それ以降の工
程では連続自動生産が可能であり、生産リードタイムを
短縮でき、工程の仕掛かり在庫を大幅に減らすことがで
き、大幅な省人化ができる。
【0016】請求項3記載の自動エージング検査装置
は、請求項2において、搬送手段は、被検査物を積載し
この被検査物と電気的接続を行う移動電極を備え、前記
移動電極は1本の移動レールで移動可能とされるととも
に移動レールに沿う移動軸を回転中心とする移動電極の
回転を防止する回転防止ガイドを移動レールの両側に設
けた。
【0017】従来の搬送手段では2本の短い移動レール
で被検査物のコネクタとドッキングする移動電極を摺動
しているが、使用温度の厳しい当該装置では、加熱によ
り搬送ベース等が反って、ガイドの平行がずれて、摺動
部がこじれることになり、設備故障、電気接続不良の原
因となる。これに対して上記構成では、移動電極は1本
の移動レールで移動可能とされるとともに移動レールに
沿う移動軸を回転中心とする移動電極の回転を防止する
回転防止ガイドを移動レールの両側に設けたので、搬送
ベース等が反っても、ガイドが1本でガイド間の距離が
長いため、こじれ難く、故障が発生しない。また、回転
防止ガイドによって移動レールに沿う移動軸を回転中心
とする回転方向の位置ずれも発生しない。
【0018】請求項4記載の自動エージング検査装置
は、請求項2において、各搬送手段毎に異なる特性値を
有する耐熱性のある電気素子を備えた。
【0019】従来では、バーコードとバーコードリー
ダ、IDカードとIDカードリーダの2方法が用いられ
ており、両方ともリーダ部の使用温度が限られており、
エージング検査装置では使用困難であるが、上記のよう
に各搬送手段毎に異なる特性値を有する耐熱性のある電
気素子を備えているので、使用環境温度を広く、設備コ
ストも安くできる。また、検査時に電気素子の特性値を
読み込み、検査結果情報と搬送手段を確認し、検査不良
品を自動排出することで、作業ミスで不良品が混入する
ことがなくなる。
【0020】請求項5記載の自動エージング検査装置
は、請求項1または2において、被検査物を複数台、電
源の点滅を行いつつエージング検査を行うとともに、各
被検査物の電源投入タイミングを入力ラッシュ電流のピ
ークが重ならないようにした。
【0021】このように、被検査物を複数台、電源の点
滅を行いつつエージング検査を行うとともに、各被検査
物の電源投入タイミングを入力ラッシュ電流のピークが
重ならないようにしたので、従来より小電流容量の入力
電源でも、被検査物の入力ラッシュ電流(定格電流の数
十倍)による電源の電圧降下が発生しないため、電源容
量、設備コストを抑制できる。
【0022】請求項6記載の自動エージング検査装置
は、請求項1または2において、被検査物をエージング
検査終了後、充填を行い被覆した。
【0023】このように、被検査物をエージング検査終
了後、充填を行い被覆したので、被検査物の分解が容易
になり、解析時間短縮、不良ロスの金額縮小が可能にな
る。
【0024】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態の自動エー
ジング検査装置を図1ないし図11に基づいて説明す
る。
【0025】図1はこの発明の実施の形態の自動エージ
ング検査装置の概念図、図2はこの発明の実施の形態の
自動エージング検査装置の各工程を示す平面図、図3そ
の正面図である。
【0026】図1および図2において、1,30は搬送
手段、2,31は温度ストレス印加手段、3,47は搬
送手段、4,35はエージング手段(断続通電手段)、
5,37は電気特性検査手段、6,38は良否判定手
段、32は供給手段、33は移載エレベータ手段、34
はエージング用恒温保持手段、36は電気特性検査用恒
温保持手段、39は移載エレベータ手段、40は不良品
ストック手段、41,42は搬送コンベア手段、43,
44はパレタイザロボット、45,46は棚段、Aは被
検査物、Bは主検査ラインである。
【0027】図1に示すように、被検査物Aに対してエ
ージング検査を行う主検査ラインBと分離して、温度ス
トレス印加手段2を設けている。温度ストレス印加手段
2は、主検査ラインBでの被検査数より多数の被検査物
Aに温度ストレスを継続的に印加可能である。この場
合、被検査物Aを搬送手段1に多数積載し、多数の搬送
手段1を温度ストレス印加手段2へ投入する。温度スト
レス印加手段2内で、被検査物Aを部品の保管保証温度
内に一定時間高温放置し、潜在的な初期不良を顕在化さ
せる。一定時間経過した被検査物Aを主検査ラインBへ
流すため、搬送手段1から搬送手段3に被検査物Aを移
載し、各手段間を搬送手段3で自動搬送する。
【0028】主検査ラインBは、エージング手段4、電
気特性検査手段5、良否判定手段6およびこれらの各手
段間に被検査物Aを搬送する複数の搬送手段3とを備え
ている。エージング手段4は、商品の動作保証限界温度
内で、商品に高温断続通電を一定時間実施する。またそ
の時の、商品の動作をモニタする。電気特性検査手段5
は、商品の動作保証限界温度内で、量産品の品質ばらつ
きから外れている初期不良を検出するとともに、搬送手
段3に検査結果を記録する。また、エージング手段4、
電気特性検査手段5は乾燥、予備加熱工程を兼ねる。検
査結果を判定する良否判定手段6は、搬送手段3の良否
判定結果から、良品のみを取り出し次工程に送る。不良
は搬送手段3に残したまま排出する。また、この実施の
形態のエージング手段とは、高温放置、高温断続通電を
さすが、温度サイクル、ヒートショック、振動衝撃、連
続通電、温度サイクル通電、ヒートショック通電等の他
のエージング手段についても同様に適応できる。
【0029】図4はこの発明の実施の形態における搬送
手段の平面図、図5はその正面図、図6(a)はこの発
明の実施の形態における搬送手段のドッキング前の動作
説明図(b)はそのドッキング後の動作説明図、図7
(a)はこの発明の実施の形態における搬送手段の移動
電極と被検査物がドッキング前の動作説明図、(b)は
そのドッキング後の動作説明図である。図4〜図7にお
いて、50は搬送ベース、51は移動レール、52はス
ライド部、53は摺動部、54は移動電極、55は回転
防止ガイド、56はパイロットピン、57は検査ケーブ
ル、58は外部電極、59は耐熱性の良好な電気素子、
60は良否判定記録手段、61は摺動軸、70は摺動部
取付ブロック、71は弾性体、72はガイドブロック、
73は検査ピン、74は被検査物コネクタ、75は被検
査物コネクタピンである。
【0030】図4および図5に示すように、搬送手段4
7の搬送ベース50上に、複数のパイロットピン56と
1本の移動レール51と2本の回転防止ガイド55と外
部電極58が取付けられている。移動レール51にスラ
イド部52が嵌め込まれており、Y方向に滑らかに移動
する。摺動部53はスライド部52に固定されており、
Y方向に滑らかに移動する。複数の移動電極54は、摺
動部53に取付けられている。耐熱性の良好な電気素子
59として、抵抗を用いたがコイル等でも可能である。
また、被検査物Aを搬送手段47に積載時、被検査物A
は被検査物Aの基準穴とパイロットピン56で搬送ベー
ス50上に位置決めされる。図7に示すように、移動電
極54は摺動部取付ブロック70、2個の弾性体71、
ガイドブロック72、検査ピン73、検査ケーブル57
を具備する。検査ピン73は移動電極54に絶縁して取
付けられており、外部電極58と検査ケーブル57で接
続されている。また、各搬送手段47毎に異なる特性値
を有する耐熱性の良好な電気素子59が、外部電極58
に取付けられている。
【0031】上記構成の自動エージング検査装置は、生
産リードタイムの長い温度ストレス印加手段2を主検査
ラインBより前の先頭工程でバッチ処理し、生産リード
タイムの短いエージング手段4と電気特性検査手段5を
主検査ラインBで自動連続処理するように構成されてい
る。
【0032】つぎに、この自動エージング検査装置の動
作について説明する。図2および図3に示すように、被
検査物Aを搬送手段30に多数積載後、温度ストレス印
加手段31へ多数の搬送手段30をバッチ投入する。温
度ストレス印加手段31内を部品の保管保証温度内の設
定値に保ち一定時間放置し、潜在的な初期不良を顕在化
させる。一定時間経過後、搬送手段30を取り出し、供
給手段32にセットする。このとき、供給手段32が搬
送手段30から被検査物Aを自動で取り出し、移載エレ
ベータ手段33で位置決めされ空の搬送手段47に被検
査物Aを自動積載する。図7に示すように一定数の被検
査物Aを積載し終わった搬送手段47の移動電極54
と、被検査物Aのコネクタを74を自動接続後、搬送手
段47はコンベア手段41でエージング用恒温保持手段
34内へ送り込まれる。
【0033】エージング用恒温保持手段34内でパレタ
イザロボット43が搬送手段47をコンベア手段41か
ら棚段45に移載し、棚段45の電極部と搬送手段47
の外部電極58を接続し、断続通電手段35の入力電
源、出力負荷を接続、図10に示す一定のパターンで断
続通電を行い、出力電圧をモニタリングし、被検査物A
の動作を確認する。
【0034】断続通電完了後、パレタイザロボット43
が搬送手段47を棚段45からコンベア手段41へ移載
後、搬送手段47はエージング用恒温保持手段34外に
送り出される。被検査物Aの良否判定結果は搬送手段4
7の良否判定記録手段60に保存するエージングが完了
した搬送手段47はコンベア手段41で電気特性検査用
恒温保持手段36内へ送り込まれる。
【0035】電気特性検査用保持手段36内で、パレタ
イザロボット44が搬送手段47をコンベア手段41か
ら棚段46に移載し、棚段46の電極部と搬送手段47
の外部電極58を接続し、電気特性検査を行い、商品の
動作保証限界温度内で、量産品の品質ばらつきから外れ
ている初期不良を検出する。
【0036】断続通電完了後、パレタイザロボット44
が搬送手段47を棚段46からコンベア手段41へ移載
後、搬送手段47は電気特性検査用恒温保持手段36外
に送り出される。被検査物Aの良否判定結果は搬送手段
47の良否判定記録手段60に保存する。またエージン
グ用恒温保持手段34、電気特性検査用恒温保持手段3
6は乾燥、予備加熱手段を兼ねる。
【0037】検査結果を判定する良否判定手段38で、
搬送手段47の良否判定記録手段60から、良否結果を
読み取り、良品の被検査物Aのみを取り出し次工程に送
る。不良の被検査物は搬送手段47に残す。良品取り出
し完了した搬送手段47は移載エレベータ手段39が下
降する。被検査物Aを全て取り出した空の搬送手段47
はコンベア手段41で移載エレベータ手段33へ運ばれ
る。また、不良が残った搬送手段47は不良品ストック
手段40で保管される。
【0038】ここで、上記の検査工程において搬送手段
47の移動電極54と被検査物Aのコネクタを74を自
動接続する動作について説明する。図6および図7に示
すように、被検査物Aの積載完了後、移動電極54をY
方向、被検査物A側へ前進させる。移動電極54が被検
査物コネクタ74の方向へ移動すると、被検査物コネク
タ74の外形によりガイドブロック72がならって入り
込む。この時、被検査物コネクタ74のZ方向の位置ず
れは、2個の弾性体71により補正され、検査ピン73
と被検査物コネクタピン74の安定した接触が得られ
る。
【0039】搬送手段47は、加熱状態で使用されるた
め、熱応力により、搬送ベース50、摺動部53等に反
りが発生する。この反りによって図4中のΨ方向に回転
力がかかっても、1本の移動レール51で移動可能なた
め、摺動部53はこじない。図5中のθ方向に回転力が
かかっても、移動レール51に沿う移動軸を回転中心と
する移動電極54のθ方向の回転を防止する回転防止ガ
イド55を移動レール51の両側に設けているため、移
動電極54の位置精度は保証される。また摺動部53に
回転防止ガイド55を取付けた構造でも、同様の効果が
得られる。
【0040】また、図8はこの発明の実施の形態におい
て搬送手段Noを求める概念図である。図3および図4
中の断続通電手段35、電気特性検査手段37におい
て、図8に示すように各棚段の電極と外部電極58が接
続された状態で、各手段内のプログラムされたコンピュ
ータ本体80で計測回路切替機83内のリレー84を搬
送手段47の耐熱性の良好な電気素子59と計測器82
がつながるように、切り替える。プログラムされたコン
ピュータ本体80は計測器82より測定値を読み取り、
読み取った電気特性値から、搬送手段No表(表1)を
使って、搬送手段Noを計算で求める。
【0041】
【表1】
【0042】各検査終了後、検査結果データと搬送手段
Noをプリンタ81を使って、一緒プリントアウトし、
良否判定手段38では不良の被検査物は搬送手段47に
載せたままで排出することで不良の被検査物の検査デー
タを不良解析に役立てることができる。同図の場合、抵
抗1=150Ω、抵抗2=100Ω、搬送手段No表よ
り搬送手段Noは31となる。
【0043】従来では、バーコードとバーコードリー
ダ、IDカードとIDカードリーダの2方法が用いられ
ており、両方ともリーダ部の使用温度が限られており、
エージング検査装置では使用困難である。当該方式で
は、使用環境温度を広く、設備コストも安くできる。ま
た、電気特性値の基準値を設けることで、検査装置と、
搬送手段との電気接続ができているか否かを確認でき
る。
【0044】また、図9はこの発明の実施の形態におい
て断続通電手段の入力回路概要図、図10はその被検査
物の入力ラッシュ電流を示すグラフ、図11はその被検
査物の断続通電パターン図である。図3および図4中の
断続通電手段35、電気特性検査手段37において被検
査物Aを複数台、電源の点滅を行いつつエージング検査
を行う際、図9に示すようにプログラムされたコンピュ
ータ本体90によって、図11に示されるような複数の
被検査物Aの通電パターンを各々の被検査物A毎に図1
0のTs秒ずつずらして、入力回路切替器93内のリレ
ー94をON、OFFさせることで、図10に示される
ような複数の被検査物Aの入出力ラッシュ電流が重なる
ことを防ぎ、従来より電流容量が小さな入力電源92を
用いても入力電源92の電圧降下を防ぐことができる。
【0045】従来では電気機器毎に電流容量がIpee
kを越える電源装置を使用しており、設備コストが高く
なる要因のひとつであったが、この実施の形態では、入
力ラッシュ電流の重なりを防ぐことで、入力電源の電流
容量をIpeek+Is×nでおさえ、入力電源装置コ
ストを大幅に下げることができる。(Ipeek:入力
ラッシュ電流、Is:定常入力電流、n:入力電源に接
続される被検査物数)。従来の1/10程度の容量の電
源で断続通電可能である。
【0046】また、加工工程に充填硬化工程を含む被検
査物Aの場合、従来のエージング検査装置に示すよう
に、エージング検査装置を最終工程に持ってくるのでは
なく、充填工程をエージング検査装置の最終工程に持っ
てくることで、温度・断続通電不良、電気特性不良の被
検査物エージング手段が充填前に発見できるため、不良
解析のために被覆された充填物を取り除く手間がなくな
り、不良解析時間が大幅に短縮され、不良ロス金額も減
る。
【0047】以上のようにこの実施の形態によれば、エ
ージング検査ラインをインラインしながら設備をコンパ
クト化、設備全体を加熱冷却しないので省エネルギー化
できる。また、先頭工程の長時間の温度ストレス印加手
段ではバッチであり仕掛かり在庫ができるが、それ以降
の工程では連続自動生産が可能であり、生産リードタイ
ムを短縮でき、工程の仕掛かり在庫を大幅に減らすこと
ができ、大幅な省人化ができる。
【0048】また、搬送手段47の移動電極54は1本
の移動レール51で移動可能とされるとともに移動レー
ル51に沿う移動軸を回転中心とする移動電極54の回
転を防止する回転防止ガイド55を移動レール51の両
側に設けたので、搬送ベース50等が反っても、ガイド
55が1本でガイド55間の距離が長いため、こじれ難
く、故障が発生しない。また、回転防止ガイド55によ
って移動レール51に沿う移動軸を回転中心とする回転
方向の位置ずれも発生しない。また、当該方式では、弾
性体71およびガイドブロック72の形状によりコネク
タ74の位置ずれを吸収してドッキングできるため、自
動連続工程でも、接触抵抗が安定して低くなり、断続通
電工程、電気特性検査が安定して測定できる。
【0049】なお、主検査ラインは、被検査物に対して
エージング検査を行うことができれば上記の実施の形態
に限定しない。
【0050】
【発明の効果】この発明の自動エージング検査装置によ
れば、被検査物に対してエージング検査を行う主検査ラ
インと分離して、主検査ラインでの被検査数より多数の
被検査物に温度ストレスを継続的に印加可能な温度スト
レス印加手段を設けたので、工程内の仕掛かり在庫を1
箇所に集中し、しかも人手による搬送作業は温度ストレ
ス印加手段から主検査ラインへの1回ですむため、作業
効率が高まり、省人化を実現できる。また、エージング
検査ラインをインラインしながら設備をコンパクト化、
設備全体を加熱冷却しないので省エネルギー化できる。
【0051】請求項2では、主検査ラインは、エージン
グ手段、電気特性検査手段、良否判定手段およびこれら
の各手段間に被検査物を搬送する複数の搬送手段とを備
え、生産リードタイムの長い温度ストレス印加手段を主
検査ラインより前の先頭工程でバッチ処理し、生産リー
ドタイムの短い前記エージング手段と電気特性検査手段
を前記主検査ラインで自動連続処理するようにしたの
で、従来の人手のバッチ装置が工程にあることで工程の
仕掛かり在庫が多くなり、生産の流れがとぎれ、生産リ
ードタイムが長くなるという課題を解消できる。すなわ
ち、先頭工程の長時間の温度ストレス印加手段ではバッ
チであり仕掛かり在庫ができるが、それ以降の工程では
連続自動生産が可能であり、生産リードタイムを短縮で
き、工程の仕掛かり在庫を大幅に減らすことができ、大
幅な省人化ができる。
【0052】請求項3では、移動電極は1本の移動レー
ルで移動可能とされるとともに移動レールに沿う移動軸
を回転中心とする移動電極の回転を防止する回転防止ガ
イドを移動レールの両側に設けたので、搬送ベース等が
反っても、ガイドが1本でガイド間の距離が長いため、
こじれ難く、故障が発生しない。また、回転防止ガイド
によって移動レールに沿う移動軸を回転中心とする回転
方向の位置ずれも発生しない。
【0053】請求項4では、各搬送手段毎に異なる特性
値を有する耐熱性のある電気素子を備えているので、使
用環境温度を広く、設備コストも安くできる。また、検
査時に電気素子の特性値を読み込み、検査結果情報と搬
送手段を確認し、検査不良品を自動排出することで、作
業ミスで不良品が混入することがなくなる。
【0054】請求項5では、被検査物を複数台、電源の
点滅を行いつつエージング検査を行うとともに、各被検
査物の電源投入タイミングを入力ラッシュ電流のピーク
が重ならないようにしたので、従来より小電流容量の入
力電源でも、被検査物の入力ラッシュ電流(定格電流の
数十倍)による電源の電圧降下が発生しないため、電源
容量、設備コストを抑制できる。
【0055】すなわち、従来では電気機器毎に電流容量
がIpeekを越える電源装置を使用しており、設備コ
ストが高くなる要因のひとつであったが、入力ラッシュ
電流の重なりを防ぐことで、入力電源の電流容量をIp
eek+Is×nでおさえ、入力電源装置コストを大幅
に下げることができる。(Ipeek:入力ラッシュ電
流、Is:定常入力電流、n:入力電源に接続される被
検査物数)。
【0056】請求項6では、被検査物をエージング検査
終了後、充填を行い被覆したので、被検査物の分解が容
易になり、解析時間短縮、不良ロスの金額縮小が可能に
なる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施の形態の自動エージング検査装
置の概念図である。
【図2】この発明の実施の形態の自動エージング検査装
置の各工程を示す平面図である。
【図3】図2の正面図である。
【図4】この発明の実施の形態における搬送手段の平面
図である。
【図5】図4の正面図である。
【図6】(a)はこの発明の実施の形態における搬送手
段のドッキング前の動作説明図 (b)はそのドッキング後の動作説明図である。
【図7】(a)はこの発明の実施の形態における搬送手
段の移動電極と被検査物がドッキング前の動作説明図、
(b)はそのドッキング後の動作説明図である。
【図8】この発明の実施の形態において搬送手段Noを
求める概念図である。
【図9】この発明の実施の形態において断続通電手段の
入力回路概要図である。
【図10】図9の被検査物の入力ラッシュ電流を示すグ
ラフである。
【図11】図10はその被検査物の断続通電パターン図
である。
【図12】従来のエージング検査装置の概念図である。
【符号の説明】 1,30 搬送手段 2,31 温度ストレス印加手段 3,47 搬送手段 4,35 エージング手段(断続通電手段) 5,37 電気特性検査手段 6,38 良否判定手段 A 被検査物 B 主検査ライン 50 搬送ベース 51 移動レール 52 スライド部 53 摺動部 54 移動電極 55 回転防止ガイド 58 外部電極 59 耐熱性の良好な電気素子 60 良否判定記録手段 61 摺動軸 72 ガイドブロック 73 検査ピン 74 被検査物コネクタ 75 被検査物コネクタピン

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査物に対してエージング検査を行う
    主検査ラインと分離して、主検査ラインでの被検査数よ
    り多数の被検査物に温度ストレスを継続的に印加可能な
    温度ストレス印加手段を設けたことを特徴とする自動エ
    ージング検査装置。
  2. 【請求項2】 主検査ラインは、エージング手段、電気
    特性検査手段、良否判定手段およびこれらの各手段間に
    被検査物を搬送する複数の搬送手段とを備え、生産リー
    ドタイムの長い温度ストレス印加手段を主検査ラインよ
    り前の先頭工程でバッチ処理し、生産リードタイムの短
    い前記エージング手段と電気特性検査手段を前記主検査
    ラインで自動連続処理するようにした請求項1記載の自
    動エージング検査装置。
  3. 【請求項3】 搬送手段は、被検査物を積載しこの被検
    査物と電気的接続を行う移動電極を備え、前記移動電極
    は1本の移動レールで移動可能とされるとともに移動レ
    ールに沿う移動軸を回転中心とする移動電極の回転を防
    止する回転防止ガイドを移動レールの両側に設けた請求
    項2記載の自動エージング検査装置。
  4. 【請求項4】 各搬送手段毎に異なる特性値を有する耐
    熱性のある電気素子を備えた請求項2記載の自動エージ
    ング検査装置。
  5. 【請求項5】 被検査物を複数台、電源の点滅を行いつ
    つエージング検査を行うとともに、各被検査物の電源投
    入タイミングを入力ラッシュ電流のピークが重ならない
    ようにした請求項1または2記載の自動エージング検査
    装置。
  6. 【請求項6】 被検査物をエージング検査終了後、充填
    を行い被覆した請求項1または2記載の自動エージング
    検査装置。
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