JP2000147773A - 感放射線性樹脂組成物 - Google Patents

感放射線性樹脂組成物

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JP2000147773A JP31880298A JP31880298A JP2000147773A JP 2000147773 A JP2000147773 A JP 2000147773A JP 31880298 A JP31880298 A JP 31880298A JP 31880298 A JP31880298 A JP 31880298A JP 2000147773 A JP2000147773 A JP 2000147773A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 各種の放射線に有効に感応し、感度、解像度
およびパターン形状に優れるとともに、特に「ナノエッ
ジラフネス」あるいは「膜面荒れ」を生じることがな
く、高精度の微細なレジストパターンを安定して形成す
ることができる感放射線性樹脂組成物を提供する。 【解決手段】 (イ)ポリ(4-ヒドロキシスチレン)中
のフェノール性水酸基の水素原子の一部が1-エトキシエ
チル基で置換された重合体で代表される樹脂、(ロ)感
放射線性酸発生剤、および(ハ)1,3-ビス(ジメチルア
ミノ)-2-プロパノール、 N,N'-ビス(2-ヒドロキシエチ
ル)ピペラジン、1,2-ビス[4'-{N-(2''-ヒドロキシエ
チル)ピペリジニル}] プロパン、 N,N,N',N'',N''-ペ
ンタキス(2-ヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミ
ン、2,4,6-トリス(ジメチルアミノメチル)フェノー
ル、4-ヒドロキシピリジン等で代表される塩基性化合物
を含有することを特徴とする感放射線性樹脂組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、感放射線性樹脂組
成物に関わり、さらに詳しくは、遠紫外線、X線、荷電
粒子線等の放射線を用いる超微細加工に好適な化学増幅
型レジストとして有用な感放射線性樹脂組成物に関す
る。
【0002】
【従来の技術】集積回路素子の製造に代表される微細加
工の分野においては、集積回路のより高い集積度を得る
ために、リソグラフィーにおけるデザインルールの微細
化が急速に進行しており、近年では、線幅0.5μm以
下の高精度の微細加工を安定して行なうことができるリ
ソグラフィープロセスの開発が強く推し進められてい
る。そのため、微細加工に用いられるレジストについて
も、線幅0.5μm以下のレジストパターンを精度よく
形成しうることが必要とされているが、従来の可視光線
(波長800〜400nm)や近紫外線(波長400〜
300nm)を用いる方法では、このような微細パター
ンを高精度に形成することが極めて困難である。そこ
で、より幅広い焦点深度を達成でき、デザインルールの
微細化に有効な短波長(波長300nm以下)の放射線
を用いるリソグラフィープロセスが提案されている。こ
のような短波長の放射線を用いるリソグラフィープロセ
スとしては、例えば、水銀灯の輝線スペクトル(波長2
54nm)、KrFエキシマレーザー(波長248n
m)、ArFエキシマレーザー(波長193nm)等に
代表される遠紫外線、シンクロトロン放射線等のX線あ
るいは電子線等の荷電粒子線を使用する方法が提案され
ている。そして、これらの短波長の放射線に対応する高
解像度のレジストとして、「化学増幅型レジスト」が提
案され、現在、この化学増幅型レジストの改良が精力的
に進められている。化学増幅型レジストは、それに含有
される感放射線性酸発生剤への放射線の照射(以下、
「露光」という。)により酸を発生させ、この酸の触媒
作用により、レジスト被膜中で化学反応(例えば極性の
変化、化学結合の開裂、架橋反応等)を生起させ、現像
液に対する溶解性が露光部において変化する現象を利用
して、パターンを形成するものである。従来、このよう
な化学増幅型レジストとしては、樹脂成分に、アルカリ
可溶性樹脂中のアルカリ親和性基をt−ブチルエステル
基やt−ブトキシカルボニル基で保護した樹脂(特公平
2−27660号公報参照)、アルカリ可溶性樹脂中の
アルカリ親和性基をシリル基で保護した樹脂(特公平3
−44290号公報参照)、アルカリ可溶性樹脂中のア
ルカリ親和性基をケタール基で保護した樹脂(特開平7
−140666号公報参照)、アルカリ可溶性樹脂中の
アルカリ親和性基をアセタール基で保護した樹脂(特開
平2−161436号公報、特開平5−249682号
公報参照)等を使用したレジスト等、化学増幅型レジス
トに関しては多くの報告がなされている。しかしなが
ら、これらの化学増幅型レジストにはそれぞれ固有の問
題があり、特に設計寸法0.25μm以下の微細加工へ
の実用化に際して種々の困難を伴うことが指摘されてお
り、特に近年、設計寸法0.20μm付近の微細加工を
薄い膜厚で行う際に、パターン形成後のレジスト被膜の
表面および側面の凹凸が大きくなり、設計寸法どおりの
微細加工に支障を来たす、いわゆる「ナノエッジラフネ
ス」あるいは「膜面荒れ」の問題が指摘され始めた。一
方、化学増幅型レジスト用の感放射線性樹脂組成物にお
いて、感光性成分として感放射線性酸発生剤と露光によ
り中性化合物に分解しうる化合物との組み合せを使用す
ることにより、特に線幅制御が容易となることが開示さ
れ(特開平9−43837号公報参照)、また酸の作用
によりアルカリ可溶性となる樹脂、感放射線性酸発生剤
および脂肪族性水酸基を有する3級アミン化合物を含有
する組成物が、特にタイム・ディレイ効果耐性に優れる
ことが開示されている(特開平10−177250号公
報参照)。しかしながら、これらの組成物は、特に設計
寸法0.20μm付近の微細加工を薄い膜厚で行う際の
大きな問題である「ナノエッジラフネス」あるいは「膜
面荒れ」の抑制の点で満足できない。そこで、感度、解
像度、パターン形状に優れるとともに、「ナノエッジラ
フネス」あるいは「膜面荒れ」の問題を解決しうる化学
増幅型レジストの開発が強く求められている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、遠紫
外線、X線あるいは荷電粒子線の如き各種の放射線に有
効に感応し、感度、解像度およびパターン形状に優れる
とともに、特に「ナノエッジラフネス」あるいは「膜面
荒れ」を生じることがなく、高精度の微細なレジストパ
ターンを安定して形成することができる化学増幅型レジ
ストとして有用な感放射線性樹脂組成物を提供すること
にある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本願発明によると、前記
課題は、(イ)(I)下記一般式(1)で表される繰返
し単位と下記一般式(2)で表される繰返し単位とを必
須の単位として有する樹脂、(ロ)感放射線性酸発生
剤、および(ハ)下記一般式(3)〜(8)で表される
化合物の群から選ばれる少なくとも1種の塩基性化合物
を含有することを特徴とする感放射線性樹脂組成物、に
よって達成される。
【0005】
【化9】 〔一般式(1)において、R1 は水素原子またはメチル
基を示し、R2 およびR3 は相互に独立に水素原子また
は炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキ
ル基を示す。〕
【0006】
【化10】 〔一般式(2)において、R4 は水素原子またはメチル
基を示す。〕
【0007】
【化11】 〔一般式(3)において、X1 は主鎖炭素数が2〜8の
ポリメチレン鎖を示し、R5 、R6 、R7 およびR8
相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは
環状のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基または
炭素数7〜12のアラルキル基を示すか、またはR5
6 が結合し、あるいはR7 とR8 が結合して、それぞ
れ一般式(3)中の1個の窒素原子と共に5〜8員環の
複素環構造を形成し、R5 〜R8 の残りが相互に独立に
炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキ
ル基、炭素数6〜12のアリール基または炭素数7〜1
2のアラルキル基を示し、かつ前記ポリメチレン鎖、ア
ルキル基、アリール基、アラルキル基および複素環構造
の少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸基を1個以
上有する。但し、前記ポリメチレン鎖、アルキル基、ア
リール基、アラルキル基および複素環構造は、それらの
任意の炭素−炭素結合間に酸素原子、硫黄原子あるいは
カルボニル基を有することができ、またそれらの任意の
炭素原子に結合した水素原子がアルコキシル基、フェノ
キシ基等の水酸基以外の1種以上の置換基で置換されて
いてもよい。〕
【0008】
【化12】 〔一般式(4)において、R9 およびR10は相互に独立
に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアル
キル基、炭素数6〜12のアリール基または炭素数7〜
12のアラルキル基を示し、かつ前記アルキル基、アリ
ール基およびアラルキル基、並びに一般式(4)中のピ
ペラジン環の少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸
基を1個以上有する。但し、前記アルキル基、アリール
基およびアラルキル基は、それらの任意の炭素−炭素結
合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボニル基を有す
ることができ、またそれらの任意の炭素原子に結合した
水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基等の水酸基以
外の1種以上の置換基で置換されていてもよい。〕
【0009】
【化13】 〔一般式(5)において、X2 は主鎖炭素数が2〜8の
ポリメチレン鎖を示し、R11およびR12は相互に独立に
炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキ
ル基、炭素数6〜12のアリール基もしくは炭素数7〜
12のアラルキル基を示し、かつ前記ポリメチレン鎖、
アルキル基、アリール基およびアラルキル基、並びに一
般式(5)中の1個または2個のピペリジン環の少なく
とも1つが炭素原子に結合した水酸基を1個以上有す
る。但し、前記ポリメチレン鎖、アルキル基、アリール
基およびアラルキル基は、それらの任意の炭素−炭素結
合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボニル基を有す
ることができ、またそれらの任意の炭素原子に結合した
水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基等の水酸基以
外の1種以上の置換基で置換されていてもよい。〕
【0010】
【化14】 〔一般式(6)において、X3 およびX4 は相互に独立
に主鎖炭素数が2〜8のポリメチレン鎖を示し、R13
14、R15、R16およびR17は相互に独立に炭素数1〜
12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素
数6〜12のアリール基または炭素数7〜12のアラル
キル基を示すか、またはR13とR14が相互に結合し、あ
るいはR16とR17が相互に結合して、それぞれ一般式
(6)中の1個の窒素原子と共に5〜8員環の複素環構
造を形成し、R13〜R17の残りが相互に独立に炭素数1
〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭
素数6〜12のアリール基または炭素数7〜12のアラ
ルキル基を示し、かつ前記ポリメチレン鎖、アルキル
基、アリール基、アラルキル基および複素環構造の少な
くとも1つが炭素原子に結合した水酸基を1個以上有す
る。但し、前記ポリメチレン鎖、アルキル基、アリール
基、アラルキル基および複素環構造は、それらの任意の
炭素−炭素結合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボ
ニル基を有することができ、またそれらの任意の炭素原
子に結合した水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基
等の水酸基以外の1種以上の置換基で置換されていても
よい。〕
【0011】
【化15】 〔一般式(7)において、R18、R19、R20、R21、R
22およびR23は相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、
分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素数6〜12のア
リール基または炭素数7〜12のアラルキル基を示す
か、またはR18とR19が相互に結合し、あるいはR20
21が相互に結合し、あるいはR22とR23が相互に結合
して、それぞれ一般式(7)中の1個の窒素原子と共に
5〜8員環の複素環構造を形成し、R18〜R23の残りが
相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは
環状のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基もしく
は炭素数7〜12のアラルキル基を示す。但し、前記ア
ルキル基、アリール基、アラルキル基および複素環構造
は、それらの少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸
基を1個以上有することができ、またそれらの任意の炭
素−炭素結合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボニ
ル基を有することができ、さらにそれらの任意の炭素原
子に結合した水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基
等の水酸基以外の1種以上の置換基で置換されていても
よい。〕
【0012】
【化16】 〔一般式(8)において、R24、R25、R26、R27およ
びR28は相互に独立に水素原子、水酸基、炭素数1〜1
2の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素数
6〜12のアリール基または炭素数7〜12のアラルキ
ル基を示すか、またはR24とR25が相互に結合し、ある
いはR25とR26が相互に結合し、あるいはR26とR27
相互に結合し、あるいはR27とR28が相互に結合して、
それぞれ一般式(8)中の2個の炭素原子と共に6員環
の芳香環構造を形成し、R24〜R28の残りが相互に独立
に水素原子、水酸基、炭素数1〜12の直鎖状、分岐状
もしくは環状のアルキル基、炭素数6〜12のアリール
基または炭素数7〜12のアラルキル基を示し、かつR
24〜R28の少なくとも1つが水酸基であるか、あるいは
前記アルキル基、アリール基、アラルキル基および芳香
環構造の少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸基を
1個以上有する。但し、R24〜R28の少なくとも1つが
水酸基であるとき、残りのR24〜R28の前記アルキル
基、アリール基、アラルキル基および芳香環構造の少な
くとも1つが水酸基を1個以上有することができ、前記
アルキル基、アリール基、アラルキル基および芳香環構
造は、それらの任意の炭素−炭素結合間に酸素原子、硫
黄原子あるいはカルボニル基を有することができ、また
それらの任意の炭素原子に結合した水素原子がアルコキ
シル基、フェノキシ基、ピリジル基等の水酸基以外の1
種以上の置換基で置換されていてもよい。〕
【0013】以下、本発明を詳細に説明する。(イ)成分 本発明における(イ)成分は、前記一般式(1)で表さ
れる繰返し単位(以下、「繰返し単位(1)」とい
う。)と前記一般式(2)で表される繰返し単位(以
下、「繰返し単位(2)」という。)とを必須の単位と
して有し、場合により、さらに他の繰返し単位を有する
樹脂(以下、「樹脂(イ)」という。)からなる。樹脂
(イ)において、繰返し単位(1)、繰返し単位(2)
および他の繰返し単位は、それぞれ単独でまたは2種以
上が存在することができる。樹脂(イ)は、下記式
(9)で表される酸解離性のアセタール基(以下、「ア
セタール基(9)」という。)を有する樹脂である。
【0014】
【化17】 〔式(9)において、R2 およびR3 は一般式(1)に
おけるそれぞれR2 およびR3 と同義である。〕 また、樹脂(イ)は、適当な架橋基(例えば、ジエチレ
ングリコール骨格を有する架橋基等)で部分架橋された
構造を有することもできる。
【0015】一般式(1)において、R2 およびR3
直鎖状、分岐状もしくは環状の炭素数1〜6のアルキル
基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピ
ル基、i−プロピル基、n−ブチル基、i−ブチル基、
sec−ブチル基、t−ブチル基、n−ペンチル基、n
−ヘキシル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基等
を挙げることができる。一般式(1)におけるR2 およ
びR3 としては、特に、水素原子、メチル基、エチル基
が好ましい。
【0016】樹脂(イ)において、繰返し単位(1)の
含有率は、全繰返し単位に対して、好ましくは5〜70
モル%、さらに好ましくは5〜60モル%であり、繰返
し単位(2)の含有率は、全繰返し単位に対して、好ま
しくは10〜95モル%、さらに好ましくは40〜95
モル%であり、他の繰返し単位の含有率は、全繰返し単
位に対して、好ましくは70モル%以下、さらに好まし
くは40モル%以下である。この場合、樹脂(イ)中の
繰返し単位(1)の含有率が5モル%未満では、十分な
解像性能を得ることが困難となる傾向があり、一方70
モル%を超えると、耐熱性が低下する傾向がある。ま
た、繰返し単位(2)の含有率が10モル%未満では、
基板との接着性が低下する傾向があり、一方95モル%
を超えると、未露光部も溶解しやすくなり、レジストパ
ターンの形成が困難となるか、あるいはパターン形状が
損なわれる傾向がある。
【0017】樹脂(イ)としては、例えば、2−ヒドロ
キシスチレン、3−ヒドロキシスチレン、4−ヒドロキ
シスチレン、2−ヒドロキシ−α−メチルスチレン、3
−ヒドロキシ−α−メチルスチレンおよび4−ヒドロキ
シ−α−メチルスチレンの群から選ばれる化合物の1種
以上を、場合により他の重合性不飽和化合物(但し、繰
返し単位(1)に対応する化合物を除く。)の1種以上
と共に、(共)重合した(共)重合体中のフェノール性
水酸基の水素原子の一部を、アセタール基(3)で置換
した構造を有する樹脂や、該樹脂をジエチレングリコー
ル骨格を有する架橋基で部分架橋した構造を有する樹脂
等を挙げることができる。
【0018】また、樹脂(イ)は、場合により、前記
(共)重合体中のフェノール性水酸基の水素原子の一部
を、アセタール基(9)以外の酸解離性基(以下、「他
の酸解離性基」という。)で置換した構造を有すること
ができる。他の酸解離性基としては、例えば、t−ブチ
ル基、ベンジル基、t−ブトキシカルボニル基、t−ブ
トキシカルボニルメチル基、テトラヒドロフラニル基、
テトラヒドロピラニル基等を挙げることができる。
【0019】前記他の重合性不飽和化合物としては、例
えば、スチレン、α−メチルスチレン、2−メチルスチ
レン、3−メチルスチレン、4−メチルスチレン、2−
メトキシスチレン、3−メトキシスチレン、4−メトキ
シスチレン、4−t−ブトキシスチレン、4−ベンジル
オキシスチレン、4−t−ブトキシカルボニルオキシス
チレン、4−t−ブトキシカルボニルメチルオキシスチ
レン、4−(2’−t−ブトキシカルボニルエチルオキ
シ)スチレン、4−テトラヒドロフラニルオキシスチレ
ン、4−テトラヒドロピラニルオキシスチレン等のビニ
ル芳香族化合物;(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)
アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸n−プロピル、
(メタ)アクリル酸i−プロピル、(メタ)アクリル酸
n−ブチル、(メタ)アクリル酸i−ブチル、(メタ)
アクリル酸sec−ブチル、(メタ)アクリル酸t−ブ
チル、(メタ)アクリル酸n−ペンチル、(メタ)アク
リル酸ネオペンチル、(メタ)アクリル酸n−ヘキシ
ル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)
アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸
2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸3−ヒド
ロキシプロピル、(メタ)アクリル酸シクロペンチル、
(メタ)アクリル酸シクロヘキシル、(メタ)アクリル
酸ノルボルニル、(メタ)アクリル酸イソボルニル、
(メタ)アクリル酸トリシクロデカニル、(メタ)アク
リル酸ジシクロペンテニル、(メタ)アクリル酸アダマ
ンチル、(メタ)アクリル酸アダマンチルメチル、(メ
タ)アクリル酸テトラヒドロフラニル、(メタ)アクリ
ル酸テトラヒドロピラニル、(メタ)アクリル酸フェニ
ル、(メタ)アクリル酸ベンジル、(メタ)アクリル酸
フェネチル等の(メタ)アクリル酸エステル類;(メ
タ)アクリル酸、クロトン酸、マレイン酸、フマル酸、
けい皮酸等の不飽和カルボン酸類;(メタ)アクリル酸
2−カルボキシエチル、(メタ)アクリル酸2−カルボ
キシプロピル、(メタ)アクリル酸3−カルボキシプロ
ピル等の不飽和カルボン酸のカルボキシアルキルエステ
ル類;(メタ)アクリロニトリル、α−クロロアクリロ
ニトリル、クロトンニトリル、マレインニトリル、フマ
ロニトリル等の不飽和ニトリル化合物;(メタ)アクリ
ルアミド、N,N−ジメチル(メタ)アクリルアミド、
クロトンアミド、マレインアミド、フマルアミド等の不
飽和アミド化合物;マレイミド、N−フェニルマレイミ
ド、N−シクロヘキシルマレイミド等の不飽和イミド化
合物;N−ビニル−ε−カプロラクタム、N−ビニルピ
ロリドン、2−ビニルピリジン、3−ビニルピリジン、
4−ビニルピリジン、2−ビニルイミダゾール、4−ビ
ニルイミダゾール等の他の含窒素ビニル化合物等を挙げ
ることができる。
【0020】樹脂(イ)としては、ポリ(4−ヒドロキ
シスチレン)、ポリ(4−ヒドロキシ−α−メチルスチ
レン)、4−ヒドロキシスチレン/4−ヒドロキシ−α
−メチルスチレン共重合体、あるいは4−ヒドロキシス
チレンおよび/または4−ヒドロキシ−α−スチレンと
スチレンおよび/またはα−メチルスチレンとの共重合
体中のフェノール性水酸基の水素原子の一部を、アセタ
ール基(9)で置換した構造を有する樹脂、該樹脂をジ
エチレングリコール骨格を有する架橋基で部分架橋した
構造を有する樹脂等が好ましい。
【0021】樹脂(イ)は、例えば、(a)予め製造し
たヒドロキシ(α−メチル)スチレン類の(共)重合体
中のフェノール性水酸基の水素原子の一部にアセタール
基(9)を導入し、場合により該(共)重合体中のフェ
ノール性水酸基の水素原子の一部にさらに他の酸解離性
基を導入する方法、(b)フェノール性水酸基の水素原
子をアセタール基(9)で置換したヒドロキシ(α−メ
チル)スチレン誘導体類とヒドロキシ(α−メチル)ス
チレン類とを、場合により前記他の重合性不飽和化合物
と共に、共重合する方法等により製造することができ
る。樹脂(イ)中のジエチレングリコール骨格を有する
架橋基により部分架橋された構造は、前記(a)の方法
におけるアセタール基(9)および/または他の酸解離
性基の導入に際して、例えば、適当量のジエチレングリ
コールジビニルエーテルを同時に反応させることにより
導入することができる。
【0022】樹脂(イ)のゲルパーミエーションクロマ
トグラフィー(以下、「GPC」という。)によるポリ
スチレン換算重量平均分子量(以下、「Mw」とい
う。)は、前記部分架橋された構造をもたない場合、好
ましくは1,000〜150,000、さらに好ましく
は3,000〜100,000であり、また前記部分架
橋された構造を有する場合、好ましくは8,000〜5
00,000、さらに好ましくは12,000〜30
0,000である。樹脂(イ)のMwを前記範囲とする
ことにより、解像度、現像性等に特に優れた感放射線性
樹脂組成物を得ることができる。本発明において、樹脂
(イ)は、単独でまたは2種以上を混合して使用するこ
とができる。
【0023】(ロ)成分 本発明における(ロ)成分は、露光により酸を発生する
感放射線性酸発生剤(以下、「酸発生剤(ロ)」とい
う。)からなる。酸発生剤(ロ)としては、オニウム
塩化合物、スルホン化合物、スルホン酸エステル化
合物、スルホンイミド化合物、ジアゾメタン化合物
等を挙げることができる。以下に、酸発生剤(ロ)の例
を示す。 オニウム塩:オニウム塩としては、例えば、ヨードニ
ウム塩、スルホニウム塩、ホスホニウム塩、ジアゾニウ
ム塩、アンモニウム塩、ピリジニウム塩等を挙げること
ができる。オニウム塩化合物の具体例としては、ビス
(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムノナフルオロ
−n−ブタンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェ
ニル)ヨードニウムトリフルオロメタンスルホネート、
ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム2−トリ
フルオロメチルベンゼンスルホネート、ビス(4−t−
ブチルフェニル)ヨードニウムピレンスルホネート、ビ
ス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウムn−ドデシ
ルベンゼンスルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニ
ル)ヨードニウムp−トルエンスルホネート、ビス(4
−t−ブチルフェニル)ヨードニウムベンゼンスルホネ
ート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウム1
0−カンファースルホネート、ビス(4−t−ブチルフ
ェニル)ヨードニウムn−オクタンスルホネート、ジフ
ェニルヨードニウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネ
ート、ジフェニルヨードニウムトリフルオロメタンスル
ホネート、ジフェニルヨードニウム2−トリフルオロメ
チルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウムピ
レンスルホネート、ジフェニルヨードニウムn−ドデシ
ルベンゼンスルホネート、ジフェニルヨードニウムp−
トルエンスルホネート、ジフェニルヨードニウムベンゼ
ンスルホネート、ジフェニルヨードニウム10−カンフ
ァースルホネート、ジフェニルヨードニウムn−オクタ
ンスルホネート、トリフェニルスルホニウムノナフルオ
ロ−n−ブタンスルホネート、トリフェニルスルホニウ
ムトリフルオロメタンスルホネート、トリフェニルスル
ホニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスルホネー
ト、トリフェニルスルホニウムピレンスルホネート、ト
リフェニルスルホニウムn−ドデシルベンゼンスルホネ
ート、トリフェニルスルホニウムp−トルエンスルホネ
ート、トリフェニルスルホニウムベンゼンスルホネー
ト、トリフェニルスルホニウム10−カンファースルホ
ネート、トリフェニルスルホニウムn−オクタンスルホ
ネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェニルスルホニ
ウムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、4−t−
ブチルフェニル・ジフェニルスルホニウムトリフルオロ
メタンスルホネート、4−t−ブチルフェニル・ジフェ
ニルスルホニウム2−トリフルオロメチルベンゼンスル
ホネート、4−t−ブトキシフェニル・ジフェニルスル
ホニウムピレンスルホネート、4−t−ブトキシフェニ
ル・ジフェニルスルホニウムn−ドデシルベンゼンスル
ホネート、4−t−ブトキシフェニル・ジフェニルスル
ホニウムp−トルエンスルホネート、4−t−ブトキシ
フェニル・ジフェニルスルホニウムベンゼンスルホネー
ト、4−t−ブトキシフェニル・ジフェニルスルホニウ
ム10−カンファースルホネート、4−t−ブトキシフ
ェニル・ジフェニルスルホニウムn−オクタンスルホネ
ート等を挙げることができる。
【0024】スルホン化合物:スルホン化合物として
は、例えば、β−ケトスルホン、β−スルホニルスルホ
ン、これらのα−ジアゾ化合物等を挙げることができ
る。スルホン化合物の具体例としては、フェナシルフェ
ニルスルホン、メシチルフェナシルスルホン、ビス(フ
ェニルスルホニル)メタン、4−トリスフェナシルスル
ホン等を挙げることができる。 スルホン酸エステル化合物:スルホン酸エステル化合
物としては、例えば、アルキルスルホン酸エステル、ハ
ロアルキルスルホン酸エステル、アリールスルホン酸エ
ステル、イミノスルホネート等を挙げることができる。
スルホン酸エステル化合物の具体例としては、α−メチ
ロールベンゾインパーフルオロブタンスルホネート、α
−メチロールベンゾイントリフルオロメタンスルホネー
ト、α−メチロールベンゾイン2−トリフルオロメチル
ベンゼンスルホネート、フェナシルフェニルスルホン、
メシチルフェナシルスルホン、ビス(フェニルスルホニ
ル)メタン、4−トリスフェナシルスルホン等を挙げる
ことができる。 スルホンイミド化合物:スルホンイミド化合物として
は、例えば、下記式(10)
【0025】
【化18】 〔式(10)において、Zはアルキレン基、アリーレン
基、アルコキシレン基等の2価の基を示し、R29はアル
キル基、アリール基、ハロゲン置換アルキル基、ハロゲ
ン置換アリール基等の1価の基を示す。)で表される化
合物を挙げることができる。
【0026】スルホンイミド化合物の具体例としては、
N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)スクシン
イミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキシ)
フタルイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオ
キシ)ジフェニルマレイミド、N−(トリフルオロメチ
ルスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプト−
5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフ
ルオロメチルスルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ
[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキ
シイミド、N−(トリフルオロメチルスルホニルオキ
シ)ビシクロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ
−2,3−ジカルボキシイミド、N−(トリフルオロメ
チルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(カンフ
ァースルホニルオキシ)スクシンイミド、N−(カンフ
ァースルホニルオキシ)フタルイミド、N−(カンファ
ースルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N−(カ
ンファースルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘ
プト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−
(カンファースルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ
[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキ
シイミド、N−(カンファースルホニルオキシ)ビシク
ロ[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−
ジカルボキシイミド、N−(カンファースルホニルオキ
シ)ナフチルイミド、N−(4−メチルフェニルスルホ
ニルオキシ)スクシンイミド、N−(4−メチルフェニ
ルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(4−メチル
フェニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイミド、N
−(4’−メチルフェニルスルホニルオキシ)ビシクロ
[2.2.1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキ
シイミド、N−(4’−メチルフェニルスルホニルオキ
シ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−
エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(4’−メチ
ルフェニルスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]
ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジカルボキシイミ
ド、N−(カンファースルホニルオキシ)ナフチルイミ
ド、N−(2−トリフルオロメチルフェニルスルホニル
オキシ)スクシンイミド、N−(2−トリフルオロメチ
ルフェニルスルホニルオキシ)フタルイミド、N−(2
−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)ジフ
ェニルマレイミド、N−(2’−トリフルオロメチルフ
ェニルスルホニルオキシ)ビシクロ[2.2.1]ヘプ
ト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−
(2’−トリフルオロメチルフェニルスルホニルオキ
シ)−7−オキサビシクロ[2.2.1]ヘプト−5−
エン−2,3−ジカルボキシイミド、N−(2’−トリ
フルオロメチルフェニルスルホニルオキシ)ビシクロ
[2.2.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3−ジ
カルボキシイミド、N−(2−トリフルオロメチルフェ
ニルスルホニルオキシ)ナフチルイミド、N−(4−フ
ルオロフェニルスルホニルオキシ)スクシンイミド、N
−(4−フルオロフェニル)フタルイミド、N−(4−
フルオロフェニルスルホニルオキシ)ジフェニルマレイ
ミド、N−(4’−フルオロフェニルスルホニルオキ
シ)ビシクロ[2.1.1]ヘプト−5−エン−2,3
−ジカルボキシイミド、N−(4’−フルオロフェニル
スルホニルオキシ)−7−オキサビシクロ[2.1.
1]ヘプト−5−エン−2,3−ジカルボキシイミド、
N−(4’−フルオロフェニルスルホニルオキシ)ビシ
クロ[2.1.1]ヘプタン−5,6−オキシ−2,3
−ジカルボキシイミド、N−(4−フルオロフェニルス
ルホニルオキシ)ナフチルイミド等を挙げることができ
る。 ジアゾメタン化合物:ジアゾメタン化合物としては、
例えば、下記式(11)
【0027】
【化19】 〔式(11)において、R30およびR30は相互に独立に
アルキル基、アリール基、ハロゲン置換アルキル基、ハ
ロゲン置換アリール基等の1価の基を示す。〕で表され
る化合物を挙げることができる。
【0028】ジアゾメタン化合物の具体例としては、ビ
ス(トリフルオロメチルスルホニル)ジアゾメタン、ビ
ス(t−ブチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シク
ロヘキシルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(フェニル
スルホニル)ジアゾメタン、ビス(p−トルエンスルホ
ニル)ジアゾメタン、ビス(1,4−ジオキサスピロ
[4.5] デカン−7−スルホニル)ジアゾメタン、シ
クロヘキシルスルホニル・t−ブチルスルホニルジアゾ
メタン、メチルスルホニル・p−トルエンスルホニルジ
アゾメタン等を挙げることができる。
【0029】本発明における酸発生剤(ロ)としては、
オニウム塩化合物およびジアゾメタン化合物が好まし
く、特に、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウ
ムノナフルオロ−n−ブタンスルホネート、ビス(4−
t−ブチルフェニル)ヨードニウムトリフルオロメタン
スルホネート、ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨード
ニウムp−トルエンスルホネート、ビス(4−t−ブチ
ルフェニル)ヨードニウム10−カンファースルホネー
ト、トリフェニルスルホニウムノナフルオロ−n−ブタ
ンスルホネート、トリフェニルスルホニウムトリフルオ
ロメタンスルホネート、トリフェニルスルホニウムp−
トルエンスルホネート、トリフェニルスルホニウム10
−カンファースルホネート、4−t−ブトキシフェニル
・ジフェニルスルホニウムノナフルオロ−n−ブタンス
ルホネート、4−t−ブトキシフェニル・ジフェニルス
ルホニウムトリフルオロメタンスルホネート、4−t−
ブトキシフェニル・ジフェニルスルホニウムp−トルエ
ンスルホネート、4−t−ブトキシフェニル・ジフェニ
ルスルホニウム10−カンファースルホネート、ビス
(t−ブチルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(シクロ
ヘキシルスルホニル)ジアゾメタン、ビス(1,4−ジ
オキサスピロ [4.5] デカン−7−スルホニル)ジア
ゾメタン等が好ましい。
【0030】本発明において、酸発生剤(ロ)は、単独
でまたは2種以上を混合して使用することができる。本
発明における酸発生剤(ロ)の使用量は、樹脂(イ)1
00重量部当り、好ましくは0.1〜20重量部、特に
好ましくは0.5〜10重量部である。この場合、酸発
生剤(ロ)の使用量が0.1重量部未満であると、感度
が低下する傾向があり、一方20重量部を越えると、レ
ジストの塗布性が低下する傾向がある。
【0031】(ハ)成分 本発明における(ハ)成分は、前記一般式(3)で表さ
れる化合物(以下、「塩基性化合物(3)」とい
う。)、前記一般式(4)で表される化合物(以下、
「塩基性化合物(4)」という。)、前記一般式(5)
で表される化合物(以下、「塩基性化合物(5)」とい
う。)、前記一般式(6)で表される化合物(以下、
「塩基性化合物(6)」という。)、前記一般式(7)
で表される化合物(以下、「塩基性化合物(7)」とい
う。)および前記一般式(8)で表される化合物(以
下、「塩基性化合物(8)」という。)の群から選ばれ
る少なくとも1種の塩基性化合物(以下、塩基性化合物
(3)〜(8)をまとめて「塩基性化合物(ハ)」とい
うこともある。)からなる。感放射線性酸発生剤を含有
する化学増幅型感放射線性樹脂組成物においては、酸拡
散制御剤として塩基性物質を添加することにより、パタ
ーン形状、パターン上層部における庇の発生防止をより
改良できることが既に知られている。本発明者らは、前
記樹脂(イ)を含有する化学増幅型感放射線性樹脂組成
物において、特に「ナノエッジラフネス」あるいは「膜
面荒れ」の改善方法について鋭意検討した結果、酸拡散
制御剤成分として塩基性化合物(ハ)を使用することに
より、感放射線性樹脂組成物の諸性能が著しく改良され
ることを見い出し、本発明を成すに至った。
【0032】以下に、塩基性化合物(ハ)の例を具体的
に示す。塩基性化合物(3)の具体例としては、N,
N,N’−トリメチル−N’−(2−ヒドロキシエチ
ル)エチレンジアミン、N,N,N’−トリエチル−
N’−(2−ヒドロキシエチル)エチレンジアミン、
N,N,N’−トリメチル−N’−(2−ヒドロキシプ
ロピル)エチレンジアミン、N,N,N’−トリエチル
−N’−(2−ヒドロキシプロピル)エチレンジアミ
ン、N,N,N’−トリフェニル−N’−(2−ヒドロ
キシエチル)エチレンジアミン、N,N,N’−トリベ
ンジル−N’−(2−ヒドロキシエチル)エチレンジア
ミン、N,N,N’−トリベンジル−N’−(2−ヒド
ロキシプロピル)エチレンジアミン、N,N,N’−ト
リメチル−N’−(4−ヒドロキシフェニル)エチレン
ジアミン、N,N,N’−トリメチル−N’−(4−ヒ
ドロキシベンジル)エチレンジアミン、N,N,N’−
トリメチル−N’−(2−ヒドロキシエチル)トリメチ
レンジアミン、N,N,N’−トリメチル−N’−(2
−ヒドロキシエチル)テトラメチレンジアミン、N,
N,N’−トリメチル−N’−(2−ヒドロキシエチ
ル)ペンタメチレンジアミン、N,N,N’−トリメチ
ル−N’−(2−ヒドロキシエチル)ヘキサメチレンジ
アミン、N,N,N’−トリメチル−N’−(2−ヒド
ロキシエチル)ヘプタメチレンジアミン、N,N,N’
−トリメチル−N’−(2−ヒドロキシエチル)オクタ
メチレンジアミン、1,3−ビス(ジメチルアミノ)−
2−プロパノール、1,3−ビス(ジエチルアミノ)−
2−プロパノール、1−ジメチルアミノ−2−(3’−
ヒドロキシピロリジノ)エタン、1−ジメチルアミノ−
2−(3’−ヒドロキシメチルピロリジノ)エタン、1
−ジメチルアミノ−2−{3’−(2''−ヒドロキシエ
チル)ピロリジノ}エタン、1−ジメチルアミノ−2−
(4’−ヒドロキシピペリジノ)エタン等の水酸基を1
個有する化合物;
【0033】N,N’−ジメチル−N,N’−ビス(2
−ヒドロキシエチル)エチレンジアミン、N,N’−ジ
エチル−N,N’−ビス(2−ヒドロキシエチル)エチ
レンジアミン、N,N’−ジメチル−N,N’−ビス
(2−ヒドロキシプロピル)エチレンジアミン、N,
N’−ジエチル−N,N’−ビス(2−ヒドロキシプロ
ピル)エチレンジアミン、N,N’−ジメチル−N,
N’−ビス(4−ヒドロキシフェニル)エチレンジアミ
ン、N,N’−ジメチル−N,N’−ビス(4−ヒドロ
キシベンジル)エチレンジアミン、1,2−ビス(3’
−ヒドロキシピロリジノ)エタン、1,2−ビス(3’
−ヒドロキシメチルピロリジノ)エタン、1,2−ビス
{(3’−(2''−ヒドロキシエチル) ピロリジノ}エ
タン、1,2−ビス(4’−ヒドロキシピペリジノ)エ
タン、1,2−ビス(4’−ヒドロキシメチルピペリジ
ノ)エタン、1,2−ビス{(4’−(2''−ヒドロキ
シエチル) ピペリジノ}エタン、1−モルホリノ−2−
{ビス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}エタン等の
水酸基を2個有する化合物;
【0034】N−メチル−N,N’,N’−トリス(2
−ヒドロキシエチル)エチレンジアミン、N−n−ドデ
シル−N,N’,N’−トリス(2−ヒドロキシエチ
ル)エチレンジアミン、N−メチル−N,N’,N’−
トリス(4−ヒドロキシフェニル)エチレンジアミン、
N−メチル−N,N’,N’−トリス(4−ヒドロキシ
ベンジル)エチレンジアミン、1−(3’−ヒドロキシ
ピロリジノ)−2−{ビス(2’−ヒドロキシエチル)
アミノ}エタン、1−(4’−ヒドロキシピペリジノ)
−2−{ビス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}エタ
ン等の水酸基を3個有する化合物;
【0035】N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒ
ドロキシエチル)エチレンジアミン、N,N,N’,
N’−テトラキス(2−ヒドロキシプロピル)エチレン
ジアミン、N,N,N’,N’−テトラキス(4−ヒド
ロキシフェニル)エチレンジアミン、N,N,N’,
N’−テトラキス(4−ヒドロキシベンジル)エチレン
ジアミン、N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒド
ロキシ−3−メトキシプロピル)エチレンジアミン、
N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒドロキシ−3
−エトキシプロピル)エチレンジアミン、N,N,
N’,N’−テトラキス(2−ヒドロキシ−3−n−プ
ロポキシプロピル)エチレンジアミン、N,N,N’,
N’−テトラキス(2−ヒドロキシ−3−フェノキシプ
ロピル)エチレンジアミン、N,N’−ジメチル−N,
N’−ビス(2,3−ジヒドロキシプロピル)エチレン
ジアミン、N,N’−ジエチル−N,N’−ビス(2,
3−ジヒドロキシプロピル)エチレンジアミン、N−メ
チル−N,N’,N’−トリス(2,3−ジヒドロキシ
プロピル)エチレンジアミン、N,N,N’,N’−テ
トラキス(2,3−ジヒドロキシプロピル)エチレンジ
アミン等の水酸基を4個以上有する化合物等を挙げるこ
とができる。
【0036】塩基性化合物(4)の具体例としては、N
−メチル−N’−(2−ヒドロキシエチル)ピペラジ
ン、N−エチル−N’−(2−ヒドロキシエチル)ピペ
ラジン、N−n−プロピル−N’−(2−ヒドロキシエ
チル)ピペラジン、N−n−ブチル−N’−(2−ヒド
ロキシエチル)ピペラジン、N−n−ヘキシル−N’−
(2−ヒドロキシエチル)ピペラジン、N−n−オクチ
ル−N’−(2−ヒドロキシエチル)ピペラジン、N−
n−デシル−N’−(2−ヒドロキシエチル)ピペラジ
ン、N−n−ドデシル−N’−(2−ヒドロキシエチ
ル)ピペラジン、N−メチル−N’−(2−ヒドロキシ
プロピル)ピペラジン、N−メチル−N’−(3−ヒド
ロキシプロピル)ピペラジン、N−フェニル−N’−
(2−ヒドロキシエチル)ピペラジン、N−ベンジル−
N’−(2−ヒドロキシエチル)ピペラジン、N−メチ
ル−N’−(4−ヒドロキシフェニル)ピペラジン、N
−メチル−N’−(4−ヒドロキシベンジル)ピペラジ
ン等の水酸基を1個有する化合物;
【0037】N,N’−ビス(2−ヒドロキシエチル)
ピペラジン、N,N’−ビス(2−ヒドロキシプロピ
ル)ピペラジン、N,N’−ビス(4−ヒドロキシフェ
ニル)ピペラジン、N,N’−ビス(4−ヒドロキシベ
ンジル)ピペラジン、N−メチル−N’−(2,3−ジ
ヒドロキシプロピル)ピペラジン、N−エチル−N’−
(2,3−ジヒドロキシプロピル)ピペラジン等の水酸
基を2個有する化合物;
【0038】N−(2−ヒドロキシエチル)−N’−
(2,3−ジヒドロキシプロピル)ピペラジン、N−
(2−ヒドロキシプロピル)−N’−(2,3−ジヒド
ロキシプロピル)ピペラジン、N−(4−ヒドロキシフ
ェニル)−N’−(2,3−ジヒドロキシプロピル)ピ
ペラジン、N−(4−ヒドロキシベンジル)−N’−
(2,3−ジヒドロキシプロピル)ピペラジン等の水酸
基を3個有する化合物;
【0039】N,N’−ビス(2,3−ジヒドロキシプ
ロピル)ピペラジン、N,N’−ビス(3,4−ジヒド
ロキシフェニル)ピペラジン、N,N’−ビス(3,
4,5−トリヒドロキシフェニル)ピペラジン、N,
N’−ビス(3,4−ジヒドロキシベンジル)ピペラジ
ン、N,N’−ビス(3,4,5−トリヒドロキシベン
ジル)ピペラジン等の水酸基を4個以上有する化合物等
を挙げることができる。
【0040】塩基性化合物(5)の具体例としては、1
−{4’−(N−メチルピペリジニル)}−2−〔4’
−{N−(2''−ヒドロキシエチル)ピペリジニル}〕
エタン、1−{4’−(N−n−ドデシルピペリジニ
ル)}−2−〔4’−{N−(2''−ヒドロキシエチ
ル)ピペリジニル}〕エタン、1−{4’−(N−ベン
ジルピペリジニル)}−2−〔4’−{N−(2''−ヒ
ドロキシエチル)ピペリジニル}〕エタン、1,3−ビ
ス{4’−(N−メチルピペリジニル)}−2−プロパ
ノール、1−{4’−(N−メチルピペリジニル)}−
3−〔4’−{N−(2''−ヒドロキシエチル)ピペリ
ジニル}〕プロパン、1−{4’−(N−メチルピペリ
ジニル)}−6−〔4’−{N−(2''−ヒドロキシエ
チル)ピペリジニル}〕ヘキサン、1−{4’−(N−
メチルピペリジニル)}−8−〔4’−{N−(2''−
ヒドロキシエチル)ピペリジニル}〕オクタン等の水酸
基を1個有する化合物;
【0041】1,2−ビス〔4’−{N−(2''−ヒド
ロキシエチル)ピペリジニル}〕エタン、1,2−ビス
〔4’−{N−(2''−ヒドロキシプロピル)ピペリジ
ニル}〕エタン、1,2−ビス〔4’−{N−(2''−
ヒドロキシエチル)ピペリジニル}〕プロパン、1,2
−ビス〔4’−{N−(2''−ヒドロキシプロピル)ピ
ペリジニル}〕プロパン等の水酸基を2個有する化合
物;
【0042】1−〔4’−{N−(2''−ヒドロキシエ
チル)ピペリジニル}〕−2−〔4’−{N’−
(2'',3''−ジヒドロキシプロピル)ピペリジニ
ル}〕エタン、1−〔4’−{N−(2''−ヒドロキシ
プロピル)ピペリジニル}〕−2−〔4’−{N’−
(2'',3''−ジヒドロキシプロピル)ピペリジニ
ル}〕エタン、1−〔4’−{N−(2''−ヒドロキシ
エチル)ピペリジニル}〕−2−〔4’−{N’−
(2'',3''−ジヒドロキシプロピル)ピペリジニ
ル}〕プロパン、1−〔4’−{N−(2''−ヒドロキ
シプロピル)ピペリジニル}〕−2−〔4’−{N’−
(2'',3''−ジヒドロキシプロピル)ピペリジニ
ル}〕プロパン等の水酸基を3個有する化合物;
【0043】1,2−ビス{N−(2’,3’−ジヒド
ロキシプロピル)ピペラジニル}エタン、1,2−ビス
{N−(3’,4’−ジヒドロキシフェニル)ピペラジ
ニル}エタン、1,2−ビス{N−(3’,4’,5’
−トリヒドロキシフェニル)ピペラジニル}エタン、
1,2−ビス{N−(3’,4’−ジヒドロキシベンジ
ル)ピペラジニル}エタン、1,2−ビス{N−
(3’,4’,5’−トリヒドロキシベンジル)ピペラ
ジニル}エタン等の水酸基を4個以上有する化合物等を
挙げることができる。
【0044】塩基性化合物(6)の具体例としては、ビ
ス(2−ジメチルアミノエチル)・2−ヒドロキシエチ
ルアミン、ビス(2−ジメチルアミノエチル)・2−ヒ
ドロキシプロピルアミン、N,N,N’−トリメチル−
N’−{2−(3’−ヒドロキシピロリジノ)エチ
ル)}エチレンジアミン、ビス(2−ピロリジノエチ
ル)・2−ヒドロキシエチルアミン、ビス(2−ピロリ
ジノエチル)・2−ヒドロキシプロピルアミン、メチル
・2−ピロリジノエチル・2−(3’−ヒドロキシピロ
リジノ)エチルアミン、N,N,N’−トリメチル−
N’−{2−(4’−ヒドロキシピペリジノ)エチ
ル)}エチレンジアミン、N,N−ジメチル−N’−
(2−ピペリジノエチル)−N’−(2−ヒドロキシエ
チル)エチレンジアミン等の水酸基を1個有する化合
物;
【0045】N,N’,N''−トリメチル−N,N''−
ビス(2−ヒドロキシエチル)ジエチレントリアミン、
N,N,N'',N''−テトラメチル−N’−(2,3−
ジヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミン、N−メ
チル−N−(2−ピロリジノエチル)−N’,N’−ビ
ス(2−ヒドロキシエチル)エチレンジアミン、メチル
・ビス{2−(3’−ヒドロキシピロリジノ)エチル}
アミン、ビス(2−ピロリジノエチル)・2,3−ジヒ
ドロキシプロピルアミン、N−メチル−N−(2−ピペ
リジノエチル)−N’,N’−ビス(2−ヒドロキシエ
チル)エチレンジアミン、メチル・ビス{2−(4’−
ヒドロキシピペリジノ)エチル}アミン、ビス(2−モ
ルホリノエチル)・2,3−ジヒドロキシプロピルアミ
ン等の水酸基を2個有する化合物;
【0046】N,N''−ジメチル−N,N’,N''−ト
リス(2−ヒドロキシエチル)ジエチレントリアミン、
N,N''−ジメチル−N,N’,N''−トリス(2−ヒ
ドロキシプロピル)ジエチレントリアミン、N−(2−
ピロリジノエチル)−N,N’,N’−トリス(2−ヒ
ドロキシエチル)エチレンジアミン、N−(2−ピペリ
ジノエチル)−N,N’,N’−トリス(2−ヒドロキ
シエチル)エチレンジアミン、ビス{2−(3’−ヒド
ロキシピロリジノ)エチル}・2−ヒドロキシエチルア
ミン、ビス{2−(4’−ヒドロキシピペリジノ)エチ
ル}・2−ヒドロキシエチルアミン等の水酸基を3個有
する化合物;
【0047】N’−メチル−N,N,N'',N''−テト
ラキス(2−ヒドロキシエチル)ジエチレントリアミ
ン、N’−エチル−N,N,N'',N''−テトラキス
(2−ヒドロキシエチル)ジエチレントリアミン、N’
−n−ブチル−N,N,N'',N''−テトラキス(2−
ヒドロキシエチル)ジエチレントリアミン、N’−n−
ヘキシル−N,N,N'',N''−テトラキス(2−ヒド
ロキシエチル)ジエチレントリアミン、N’−n−オク
チル−N,N,N'',N''−テトラキス(2−ヒドロキ
シエチル)ジエチレントリアミン、N’−n−デシル−
N,N,N'',N''−テトラキス(2−ヒドロキシエチ
ル)ジエチレントリアミン、N’−n−ドデシル−N,
N,N'',N''−テトラキス(2−ヒドロキシエチル)
ジエチレントリアミン、N’−フェニル−N,N,
N'',N''−テトラキス(2−ヒドロキシエチル)ジエ
チレントリアミン、N’−ベンジル−N,N,N'',
N''−テトラキス(2−ヒドロキシエチル)ジエチレン
トリアミン、N,N,N’,N'',N''−ペンタキス
(2−ヒドロキシエチル)ジエチレントリアミン、N,
N,N’,N'',N''−ペンタキス(2−ヒドロキシプ
ロピル)ジエチレントリアミン、N,N,N’,N'',
N''−ペンタキス(4−ヒドロキシフェニル)ジエチレ
ントリアミン、N,N,N’,N'',N''−ペンタキス
(4−ヒドロキシベンジル)ジエチレントリアミン、
N,N,N’,N'',N''−ペンタキス(2−ヒドロキ
シ−3−メトキシプロピル)ジエチレントリアミン、
N,N,N’,N'',N''−ペンタキス(2−ヒドロキ
シ−3−エトキシプロピル)ジエチレントリアミン、
N,N,N’,N'',N''−ペンタキス(2−ヒドロキ
シ−3−n−プロポキシプロピル)ジエチレントリアミ
ン、N,N,N’,N'',N''−ペンタキス(2−ヒド
ロキシ−3−フェノキシプロピル)ジエチレントリアミ
ン、N,N''−ジメチル−N,N’,N''−トリス
(2,3−ジヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミ
ン、N’−メチル−N,N,N'',N''−テトラキス
(2,3−ジヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミ
ン、N,N,N’,N'',N''−ペンタキス(2,3−
ジヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミン等の水酸
基を4個以上有する化合物等を挙げることができる。
【0048】塩基性化合物(7)の具体例としては、
2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノー
ル、2,4,6−トリス(ジエチルアミノメチル)フェ
ノール、2,4,6−トリス(ジフェニルアミノメチ
ル)フェノール、2,4,6−トリス(ジベンジルアミ
ノメチル)フェノール、2,4,6−トリス(ピロリジ
ノメチル)フェノール、2,4,6−トリス(ピペリジ
ノメチル)フェノール、4−モルホリノメチル−2,6
−ビス(ジメチルアミノメチル)フェノール、2,4,
6−トリス(モルホリノメチル)フェノール等の水酸基
を1個有する化合物;
【0049】2,6−ビス(ジメチルアミノメチル)−
4−〔{メチル・(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}
メチル〕フェノール、2,6−ビス(ジメチルアミノメ
チル)−4−〔{メチル・(2’−ヒドロキシプロピ
ル)アミノ}メチル〕フェノール、2,6−ビス(ジメ
チルアミノメチル)−4−(3’−ヒドロキシピロリジ
ノメチル)フェノール、2,6−ビス(ジメチルアミノ
メチル)−4−(4’−ヒドロキシピペリジノメチル)
フェノール等の水酸基を2個有する化合物;
【0050】2,6−ビス(ジメチルアミノメチル)−
4−〔{ビス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}メチ
ル〕フェノール、2,6−ビス(ジメチルアミノメチ
ル)−4−〔{ビス(2’−ヒドロキシプロピル)アミ
ノ}メチル〕フェノール、4−(ジメチルアミノメチ
ル)−2,6−ビス(3’−ヒドロキシピロリジノメチ
ル)フェノール、4−(ジメチルアミノメチル)−2,
6−ビス(4’−ヒドロキシピペリジノメチル)フェノ
ール、2,6−ビス(ピロリジノメチル)−4−〔{ビ
ス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}メチル〕フェノ
ール、2,6−ビス(ピペリジノメチル)−4−〔{ビ
ス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}メチル〕フェノ
ール等の水酸基を3個有する化合物;
【0051】4−ジメチルアミノメチル−2,6−ビス
〔{ビス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}メチル〕
フェノール、4−ジメチルアミノメチル−2,6−ビス
〔{ビス(2’−ヒドロキシプロピル)アミノ}メチ
ル〕フェノール、2,4,6−トリス〔{ビス(2’−
ヒドロキシエチル)アミノ}メチル〕フェノール、2,
4,6−トリス〔{ビス(2’−ヒドロキシプロピル)
アミノ}メチル〕フェノール、2,4,6−トリス
(3’−ヒドロキシピロリジノメチル)フェノール、
2,4,6−トリス(3’−ヒドロキシメチルピロリジ
ノメチル)フェノール、2,4,6−トリス〔{3’−
(2''−ヒドロキシエチル)ピロリジノ}メチル〕フェ
ノール、2,4,6−トリス(4’−ヒドロキシピペリ
ジノメチル)フェノール、2,4,6−トリス(4’−
ヒドロキシメチルピペリジノメチル)フェノール、2,
4,6−トリス〔{4’−(2''−ヒドロキシエチル)
ピペリジノ}メチル〕フェノール、2,4,6−トリス
〔{4’−(2'',3''−ジヒドロキシプロピル)ピペ
リジノ}メチル〕フェノール等の水酸基を4個以上有す
る化合物等を挙げることができる。
【0052】塩基性化合物(8)の具体例としては、2
−ヒドロキシピリジン、3−ヒドロキシピリジン、4−
ヒドロキシピリジン、2−ヒドロキシ−3−メチルピリ
ジン、2−ヒドロキシ−4−メチルピリジン、2−ヒド
ロキシ−5−メチルピリジン、2−ヒドロキシ−6−メ
チルピリジン、3−ヒドロキシ−2−メチルピリジン、
3−ヒドロキシ−4−メチルピリジン、3−ヒドロキシ
−5−メチルピリジン、3−ヒドロキシ−6−メチルピ
リジン、4−ヒドロキシ−2−メチルピリジン、4−ヒ
ドロキシ−3−メチルピリジン、2−ヒドロキシ−4−
エチルピリジン、2−ヒドロキシ−4−n−プロピルピ
リジン、2−ヒドロキシ−4−i−プロピルピリジン、
2−ヒドロキシ−4−n−ブチルピリジン、2−ヒドロ
キシ−4−n−ドデシルピリジン、2−ヒドロキシ−4
−フェニルピリジン、2−ヒドロキシ−4−ベンジルピ
リジン、2−ヒドロキシメチルピリジン、3−ヒドロキ
シメチルピリジン、4−ヒドロキシメチルピリジン、2
−(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、3−(2’−
ヒドロキシエチル)ピリジン、4−(2’−ヒドロキシ
エチル)ピリジン、2−(2’−ヒドロキシプロピル)
ピリジン、3−(2’−ヒドロキシプロピル)ピリジ
ン、4−(2’−ヒドロキシプロピル)ピリジン、4−
(4’−ヒドロキシフェニル)ピリジン、4−(4’−
ヒドロキシベンジル)ピリジン、2−キノリノール、3
−キノリノール、4−キノリノール、1−イソキノリノ
ール、3−イソキノリノール、4−イソキノリノール、
α−ピリドイン等の水酸基を1個有する化合物;
【0053】2,3−ジヒドロキシピリジン、2,4−
ジヒドロキシピリジン、2,5−ジヒドロキシピリジ
ン、2,6−ジヒドロキシピリジン、3,4−ジヒドロ
キシピリジン、3,5−ジヒドロキシピリジン、2−ヒ
ドロキシ−3−ヒドロキシメチルピリジン、2−ヒドロ
キシ−4−ヒドロキシメチルピリジン、2−ヒドロキシ
−5−ヒドロキシメチルピリジン、2−ヒドロキシ−6
−ヒドロキシメチルピリジン、3−ヒドロキシ−4−ヒ
ドロキシメチルピリジン、3−ヒドロキシ−5−ヒドロ
キシメチルピリジン、2−ヒドロキシ−3−(2’−ヒ
ドロキシエチル)ピリジン、2−ヒドロキシ−4−
(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、2−ヒドロキシ
−5−(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、2−ヒド
ロキシ−6−(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、3
−ヒドロキシ−4−(2’−ヒドロキシエチル)ピリジ
ン、3−ヒドロキシ−5−(2’−ヒドロキシエチル)
ピリジン、2,3−ビス(ヒドロキシメチル)ピリジ
ン、2,4−ビス(ヒドロキシメチル)ピリジン、2,
5−ビス(ヒドロキシメチル)ピリジン、2,6−ビス
(ヒドロキシメチル)ピリジン、3,4−ビス(ヒドロ
キシメチル)ピリジン、3,5−ジ(ヒドロキシメチ
ル)ピリジン、2,3−ビス(2’−ヒドロキシエチ
ル)ピリジン、2,4−ビス(2’−ヒドロキシエチ
ル)ピリジン、2,5−ビス(2’−ヒドロキシエチ
ル)ピリジン、2,6−ビス(2’−ヒドロキシエチ
ル)ピリジン、3,4−ビス(2’−ヒドロキシエチ
ル)ピリジン、3,5−ビス(2’−ヒドロキシエチ
ル)ピリジン、3−(2’−ピリジル)−1,2−プロ
パンジオール、3−(3’−ピリジル)−1,2−プロ
パンジオール、3−(4’−ピリジル)−1,2−プロ
パンジオール、2−(2’−ピリジル)−1,3−プロ
パンジオール、2−(3’−ピリジル)−1,3−プロ
パンジオール、2−(4’−ピリジル)−1,3−プロ
パンジオール、2−(2’−ピリジル)−1,4−ブタ
ンジオール、2−(3’−ピリジル)−1,4−ブタン
ジオール、2−(4’−ピリジル)−1,4−ブタンジ
オール、2−(2’−ピリジル)−2,3−ブタンジオ
ール、2−(3’−ピリジル)−2,3−ブタンジオー
ル、2−(4’−ピリジル)−2,3−ブタンジオー
ル、2,3−ジ(2’−ピリジル)−1,4−ブタンジ
オール、2,3−ジ(3’−ピリジル)−1,4−ブタ
ンジオール、2,3−ビス(4’−ピリジル)−1,4
−ブタンジオール、2,3−ビス(2’−ピリジル)−
2,3−ブタンジオール、2、3−ビス(3’−ピリジ
ル)−2,3−ブタンジオール、2、3−ビス(4’−
ピリジル)−2,3−ブタンジオール等の水酸基を2個
有する化合物;
【0054】2,6−ジヒドロキシ−4−ヒドロキシメ
チルピリジン、3,5−ジヒドロキシ−4−ヒドロキシ
メチルピリジン、2,6−ジヒドロキシ−4−(2’−
ヒドロキシエチル)ピリジン、3,5−ジヒドロキシ−
4−(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、4−ヒドロ
キシ−2,6−ビス(ヒドロキシメチル)ピリジン、4
−ヒドロキシ−3,5−ビス(ヒドロキシメチル)ピリ
ジン、4−ヒドロキシ−2,6−ビス(2’−ヒドロキ
シエチル)ピリジン、4−ヒドロキシ−3,5−ビス
(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、2,4,6−ト
リス(ヒドロキシメチル)ピリジン、3,4,5−トリ
ス(ヒドロキシメチル)ピリジン、2,4,6−トリス
(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン、3,4,5−ト
リス(2’−ヒドロキシエチル)ピリジン等の水酸基を
3個有する化合物;
【0055】2,6−ビス(2’−ヒドロキシエチル)
−4−(2’,3’−ジヒドロキシプロピル)ピリジ
ン、2,6−ビス(2’,3’−ジヒドロキシプロピ
ル)ピリジン、2,6−ビス(2’,3’−ジヒドロキ
シプロピル)−4−(2’−ヒドロキシエチル)ピリジ
ン、2,6−ビス(2’,3’−ジヒドロキシプロピ
ル)−4−(2’−ヒドロキシプロピル)ピリジン、
2,4,6−トリス(2’,3’−ジヒドロキシプロピ
ル)ピリジン、3,4,5−トリス(2’,3’−ジヒ
ドロキシプロピル)ピリジン等の水酸基を4個以上有す
る化合物等を挙げることができる。
【0056】本発明において、塩基性化合物(3)〜
(8)としては、それぞれ各窒素原子と各水酸基との間
に炭素原子を2〜3個有する化合物が好ましく、また水
酸基の数としては、それぞれ1〜(窒素原子数×3)が
さらに好ましく、特にそれぞれ1〜(窒素原子数×2+
1)が好ましい。本発明における特に好ましい塩基性化
合物(ハ)は、1,3−ビス(ジメチルアミノ)−2−
プロパノール、1,2−ビス〔4’−{N−(2''−ヒ
ドロキシエチル)ピペリジニル}〕プロパン、N,N,
N’,N’−テトラキス(2−ヒドロキシエチル)エチ
レンジアミン、N,N,N’,N’−テトラキス(2−
ヒドロキシプロピル)エチレンジアミン、N,N’−ビ
ス(2−ヒドロキシエチル)ピペラジン、N,N’−ビ
ス(2−ヒドロキシプロピル)ピペラジン、N,N,
N’,N'',N'' −ペンタキス(2−ヒドロキシエチ
ル)ジエチレントリアミン、N,N,N’,N'',N''
−ペンタキス(2−ヒドロキシプロピル)ジエチレン
トリアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチ
ル)フェノール、2,4,6−トリス〔{(2−ヒドロ
キシエチル)アミノ}メチル〕フェノール、2,4,6
−トリス〔{ビス(2’−ヒドロキシエチル)アミノ}
メチル〕フェノール、3−ヒドロキシピリジン、4−ヒ
ドロキシピリジン等である。
【0057】本発明において、塩基性化合物(ハ)は、
単独でまたは2種以上を混合して使用することができ
る。本発明における塩基性化合物(ハ)の使用量は、樹
脂(イ)100重量部当り、好ましくは0.01〜1重
量部、特に好ましくは0.02〜0.5重量部である。
塩基性化合物(ハ)の使用量を前記範囲内とすることに
より、高感度となり、かつ「ナノエッジラフネス」ある
いは「膜面荒れ」が顕著に抑制された矩形のレジストパ
ターンを得ることができる。
【0058】また、本発明においては、場合により、前
記塩基性化合物(ハ)と共に、該化合物以外の酸拡散制
御剤(以下、「他の酸拡散制御剤」という。)を併用す
ることができる。他の酸拡散制御剤としては、例えば、
トリ−n−ブチルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、
トリ−n−ヘキシルアミン、トリ−n−オクチルアミ
ン、シクロヘキシルジメチルアミン、アニリン、N−メ
チルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、ジフェニル
アミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、
ヘキサメチレンジアミン、ピロリジン、ピペリジン、イ
ミダゾール、4−メチルイミダゾール、ベンズイミダゾ
ール、2−フェニルベンズイミダゾール、ピリジン、2
−メチルピリジン、3−メチルピリジン、4−メチルピ
リジン、2−フェニルピリジン、3−フェニルピリジ
ン、4−フェニルピリジン、2−ベンジルピリジン、3
−ベンジルピリジン、4−ベンジルピリジン、ニコチン
酸アミド、四酪酸リボフラミン、4,4’−ジアミノジ
フェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルエーテ
ル、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジ
アミノジフェニルアミン、2,2−ビス(4’−アミノ
フェニル)プロパン、2−(3’−アミノフェニル)−
2−(4’−アミノフェニル)プロパン、
【0059】2−ジ−n−プロピルアミノ−1−エタノ
−ル、2−ジ−i−プロピルアミノ−1−エタノ−ル、
3−ジ−n−プロピルアミノ−1−プロパノール、3−
ジ−i−プロピルアミノ−1−プロパノール、2−ジ−
n−プロピルアミノ−1−プロパノール、2−ジ−i−
プロピルアミノ−1−プロパノール、1−ジ−n−プロ
ピルアミノ−2−プロパノール、1−ジ−i−プロピル
アミノ−2−プロパノール、2−(4’−アミノフェニ
ル)−2−(3’−ヒドロキシフェニル)プロパン、2
−(4’−アミノフェニル)−2−(4’−ヒドロキシ
フェニル)プロパン、N−(2−ヒドロキシエチル)ピ
ロリジン、N−(2−ヒドロキシプロピル)ピロリジ
ン、N−(2−ヒドロキシエチル)ピペリジン、N−
(2−ヒドロキシプロピル)ピペリジン、N−(2−ヒ
ドロキシエチル)モルホリン、N−(2−ヒドロキシプ
ロピル)モルホリン、2−ヒドロキシピリジン、3−ヒ
ドロキシピリジン、4−ヒドロキシピリジン、α−ピリ
ドイン、メチル・ジエタノールアミン、エチル・ジエタ
ノールアミン、3−ジメチルアミノ−1,2−プロパン
ジオール、3−ジエチルアミノ−1,2−プロパンジオ
ール、2,3−ジヒドロキシピリジン、2,4−ジヒド
ロキシピリジン、2,5−ジヒドロキシピリジン、2,
6−ジヒドロキシピリジン、3,4−ジヒドロキシピリ
ジン、3,5−ジヒドロキシピリジン、トリエタノール
アミン、トリ−2−プロパノールアミン等を挙げること
ができる。
【0060】これらの他の酸拡散制御剤のうち、トリ−
n−ブチルアミン、トリ−n−ペンチルアミン、トリ−
n−ヘキシルアミン、トリ−n−オクチルアミン、ジシ
クロヘキシルメチルアミン、N,N−ジメチルアニリ
ン、ベンズイミダゾール、2−フェニルベンズイミダゾ
ール、2−フェニルピリジン、4−フェニルピリジン、
2−ベンジルピリジン、4−ベンジルピリジン、ニコチ
ン酸アミド、4,4’−ジアミノジフェニルエーテル、
N−(2−ヒドロキシエチル)ピペリジン、N−(2−
ヒドロキシプロピル)ピペリジン、N−(2−ヒドロキ
シエチル)モルホリン、N−(2−ヒドロキシプロピ
ル)モルホリン、α−ピリドイン、トリエタノールアミ
ン等が好ましい。
【0061】前記他の酸拡散制御剤は、単独でまたは2
種以上を混合して使用することができる。他の酸拡散制
御剤の使用量は、塩基性化合物(ハ)と他の酸拡散制御
剤との合計量に対して、通常、70重量%以下、好まし
くは60重量%以下である。この場合、他の酸拡散制御
剤の使用量が70重量%を超えると、本発明における
「ナノエッジラフネス」あるいは「膜面荒れ」の抑制効
果が低下する傾向がある。
【0062】また、本発明の感放射線性樹脂組成物に
は、場合により、下記する溶解制御剤を配合するするこ
とができる。溶解制御剤 溶解制御剤は、感放射線性樹脂組成物のアルカリ可溶性
を制御する性質を有し、酸の存在下で解離、例えば加水
分解させることにより、感放射線性樹脂組成物のアルカ
リ溶解性制御効果を低下もしくは消失させる作用を有す
るか、または感放射線性樹脂組成物のアルカリ溶解性を
促進させる作用を有する化合物である。このような溶解
制御剤としては、例えば、フェノール性水酸基、カルボ
キシル基等の酸性官能基中の水素原子を酸解離性基で置
換した化合物等を挙げることができる。溶解制御剤は、
低分子化合物でも高分子化合物でもよいが、好ましい溶
解制御剤としては、ビスフェノールA、ビスフェノール
F、ビスフェノールSや、1,1−ビス(4’−ヒドロ
キシフェニル)−1−〔4’−{1''−メチル−1''−
(4''' −ヒドロキシフェニル)エチル}フェニル〕エ
タン等の多価フェノール性化合物、あるいは4−ヒドロ
キシフェニル酢酸等のカルボン酸化合物の酸性官能基中
の水素原子を酸解離性基で置換した化合物等を挙げるこ
とができる。好ましい低分子化合物の溶解制御剤の具体
例としては、下記構造式(12)または構造式(13)
で示される化合物を挙げることができる。
【0063】
【化20】
【0064】
【化21】
【0065】また、高分子の溶解制御剤としては、前記
樹脂(イ)以外の酸解離性基含有樹脂(以下、「溶解制
御性樹脂」という。)を使用することができる。ここで
酸解離性基とは、酸の存在下で解離して、溶解制御剤に
対してアルカリ可溶性を発現する置換基を意味する。こ
のような酸解離性基としては、例えば、置換メチル基、
1−置換エチル基、1−分岐アルキル基、シリル基、ゲ
ルミル基、アルコキシカルボニル基、アルコキシカルボ
ニルアルキル基、アシル基、環式酸解離性基等を挙げる
ことができる。前記置換メチル基としては、例えば、メ
トキシメチル基、メチルチオメチル基、エトキシメチル
基、エチルチオメチル基、2−メトキシエトキシメチル
基、ベンジルオキシメチル基、ベンジルチオメチル基、
シクロプロピルメチル基、ベンジル基、p−ブロモベン
ジル基、p−ニトロベンジル基、p−メトキシベンジル
基、p−メチルチオベンジル基、p−エトキシベンジル
基、p−エチルチオベンジル基、ジフェニルメチル基、
トリフェニルメチル基、ピペロニル基等を挙げることが
できる。前記1−置換エチル基としては、例えば、1−
メトキシエチル基、1−メチルチオエチル基、1,1−
ジメトキシエチル基、1−エトキシエチル基、1−エチ
ルチオエチル基、1,1−ジエトキシエチル基、1−フ
ェノキシエチル基、1−フェニルチオエチル基、1,1
−ジフェノキシエチル基、1−ベンジルオキシエチル
基、1−ベンジルチオエチル基、1−シクロプロピルエ
チル基、1−フェニルエチル基、1,1−ジフェニルエ
チル基、α−メチルフェナシル基等を挙げることができ
る。前記1−分岐アルキル基としては、例えば、i−プ
ロピル基、sec−ブチル基、t−ブチル基、1,1−
ジメチルプロピル基、1−メチルブチル基、1,1−ジ
メチルブチル基等を挙げることができる。前記シリル基
としては、例えば,トリメチルシリル基、ジメチル・エ
チルシリル基、メチル・ジエチルシリル基、トリエチル
シリル基、ジメチル・i−プロピルシリル基、メチル・
ジ−i−プロピルシリル基、トリ−i−プロピルシリル
基、ジメチル・t−ブチルシリル基、メチル・ジ−t−
ブチルシリル基、トリ−t−ブチルシリル基、ジメチル
・フェニルシリル基、メチル・ジフェニルシリル基、ト
リフェニルシリル基等を挙げることができる。前記ゲル
ミル基としては、例えば、トリメチルゲルミル基、ジメ
チル・エチルゲルミル基、メチル・ジエチルゲルミル
基、トリエチルゲルミル基、ジメチル・i−プロピルゲ
ルミル基、メチル・ジ−i−プロピルゲルミル基、トリ
−i−プロピルゲルミル基、ジメチル・t−ブチルゲル
ミル基、メチル・ジ−t−ブチルゲルミル基、トリ−t
−ブチルゲルミル基、ジメチル・フェニルゲルミル基、
メチル・ジフェニルゲルミル基、トリフェニルゲルミル
基等を挙げることができる。
【0066】前記アルコキシカルボニル基としては、例
えば、メトキシカルボニル基、エトキシカルボニル基、
i−プロポキシカルボニル基、t−ブトキシカルボニル
基、t−ペンチルオキシカルボニル基等を挙げることが
できる。前記アルコキシカルボニルアルキル基として
は、例えば、t−ブトキシカルボニルメチル基、2−t
−ブトキシカルボニルエチル基等を挙げることができ
る。前記アシル基としては、例えば、アセチル基、プロ
ピオニル基、ブチリル基、ヘプタノイル基、ヘキサノイ
ル基、バレリル基、ピバロイル基、イソバレリル基、ラ
ウリロイル基、ミリストイル基、パルミトイル基、ステ
アロイル基、オキサリル基、マロニル基、スクシニル
基、グルタリル基、アジポイル基、ピペロイル基、スベ
ロイル基、アゼラオイル基、セバコイル基、アクリロイ
ル基、プロピオロイル基、メタクリロイル基、クロトノ
イル基、オレオイル基、マレオイル基、フマロイル基、
メサコノイル基、カンホロイル基、ベンゾイル基、フタ
ロイル基、イソフタロイル基、テレフタロイル基、ナフ
トイル基、トルオイル基、ヒドロアトロポイル基、アト
ロポイル基、シンナモイル基、フロイル基、テノイル
基、ニコチノイル基、イソニコチノイル基、p−トルエ
ンスルホニル基、メシル基等を挙げることができる。前
記環式酸解離性基としては、例えば、シクロプロピル
基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘキ
セニル基、オキソシクロヘキセニル基、4−メトキシシ
クロヘキシル基、テトラヒドロフラニル基、テトラヒド
ロピラニル基、テトラヒドロチオフラニル基、テトラヒ
ドロチオピラニル基、3−ブロモテトラヒドロピラニル
基、4−メトキシテトラヒドロピラニル基、4−メトキ
シテトラヒドロチオピラニル基、S,S−ジオキシド
基、2−1,3−ジオキソラニル基、2−1,3−ジチ
オラニル基、ベンゾ−2−1,3−ジオキソラニル基、
ベンゾ−2−1,3−ジチオラニル基等を挙げることが
できる。
【0067】これらの酸解離性基のうち、t−ブチル
基、ベンジル基、t−ブトキシカルボニル基、t−ブト
キシカルボニルメチル基、テトラヒドロフラニル基、テ
トラヒドロピラニル基、テトラヒドロチオフラニル基、
テトラヒドロチオピラニル基等が好ましい。
【0068】溶解制御性樹脂は、例えば、酸性官能基を
有するアルカリ可溶性樹脂に1種以上の前記酸解離性基
を導入する方法、1種以上の前記酸解離性基を有する単
量体を(共)重合する方法、1種以上の前記酸解離性基
を有する重縮合成分を(共)縮合する方法等によって製
造することができる。溶解制御性樹脂における酸解離性
基の導入率(溶解制御性樹脂中の酸性官能基と酸解離性
基との合計数に対する酸解離性基の数の割合)は、好ま
しくは15〜100%、さらに好ましくは20〜100
%、特に好ましくは20〜80%である。溶解制御性樹
脂のMwは、好ましくは1,000〜150,000、
さらに好ましくは3,000〜100,000である。
溶解制御剤は、低分子化合物および高分子化合物(即
ち、溶解制御性樹脂)それぞれについて、単独でまたは
2種以上を混合して使用することができ、また低分子化
合物と高分子化合物とを併用することもできる。溶解制
御剤の配合量は、樹脂(イ)100重量部当たり、10
0重量部以下が好ましい。この場合、溶解制御剤の配合
量が100重量部を超えると、樹脂組成物の製膜性、膜
強度等が低下する傾向がある。
【0069】他の添加剤 さらに、本発明の感放射線性樹脂組成物には、必要に応
じて、界面活性剤、増感剤等の他の添加剤を配合するこ
とができる。前記界面活性剤は、感放射線性樹脂組成物
溶液の塗布性やストリエーション、レジストの現像性等
を改良する作用を示す。このような界面活性剤として
は、例えば、ポリオキシエチレンラウリルエーテル、ポ
リオキシエチレンステアリルエーテル、ポリオキシエチ
レンオレイルエーテル、ポリオキシエチレンオクチルフ
ェニルエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェニルエ
ーテル、ポリオキシエチレングリコールジラウレート、
ポリオキシエチレングリコールジステアレートのほか、
以下商品名で、KP341(信越化学工業(株)製)、
ポリフローNo.75,No95(共栄社油脂化学工業
(株)製)、エフトップEF301,EF303,EF
352(トーケムプロダクツ(株)製)、メガファック
F171,F172,F173(大日本インキ化学工業
(株)製)、フロラードFC430,FC431(住友
スリーエム(株)製)、アサヒガードAG710,サー
フロンS−382,SC−101,SC−102,SC
−103,SC−104,SC−105,SC−106
(旭硝子(株)製)等を挙げることができる。これらの
界面活性剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用す
ることができる。界面活性剤の配合量は、感放射線性樹
脂組成物中の全固形分100重量部当たり、通常、2重
量部以下である。また、前記増感剤は、放射線のエネル
ギーを吸収して、そのエネルギーを酸発生剤(ロ)に伝
達し、それにより酸の生成量を増加させる作用を示すも
ので、本発明の感放射線性樹脂組成物を用いて得られる
レジストの感度を向上させる効果を有する。増感剤の好
ましい具体例としては、アセトン、ベンゼン、アセトフ
ェノン類、ベンゾフェノン類、ナフタレン類、ビアセチ
ル、エオシン、ローズベンガル、ピレン類、アントラセ
ン類、フェノチアジン類等を挙げることができる。これ
らの増感剤は、単独でまたは2種以上を混合して使用す
ることができる。増感剤の配合量は、感放射線性樹脂組
成物中の全固形分100重量部当たり、通常、50重量
部以下、好ましくは30重量部以下である。また、染料
あるいは顔料を配合することにより、露光時のハレーシ
ョンの影響を緩和でき、接着助剤を配合することによ
り、基板との接着性を改善することができる。さらに、
他の添加剤としては、アゾ化合物、アミン化合物等のハ
レーション防止剤や、保存安定剤、消泡剤、形状改良剤
等を挙げることができる。
【0070】溶剤 本発明の感放射線性樹脂組成物は、その使用に際して、
固形分濃度が例えば0.5〜50重量%、好ましくは
0.5〜40重量%となるように溶剤に溶解したのち、
例えば孔径0.2μm程度のフィルターでろ過すること
によって、レジスト溶液として調製される。前記レジス
ト溶液の調製に使用される溶剤としては、例えば、エチ
レングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコー
ルモノエチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−
プロピルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ブチ
ルエーテル等のエチレングリコールモノアルキルエーテ
ル類;エチレングリコールモノメチルエーテルアセテー
ト、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテー
ト、エチレングリコールモノ−n−プロピルエーテルア
セテート、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテ
ルアセテート等のエチレングリコールモノアルキルエー
テルアセテート類;ジエチレングリコールジメチルエー
テル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチ
レングリコールジ−n−プロピルエーテル、ジエチレン
グリコールジ−n−ブチルエーテル等のジエチレングリ
コールジアルキルエーテル類;プロピレングリコールモ
ノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエ
ーテル、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエー
テル、プロピレングリコールモノ−n−ブチルエーテル
等のプロピレングリコールモノアルキルエーテル類;プ
ロピレングリコールジメチルエーテル、プロピレングリ
コールジエチルエーテル、プロピレングリコールジ−n
−プロピルエーテル、プロピレングリコールジ−n−ブ
チルエーテル等のプロピレングリコールジアルキルエー
テル類;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセ
テート、プロピレングリコールモノエチルエーテルアセ
テート、プロピレングリコールモノ−n−プロピルエー
テルアセテート、プロピレングリコールモノ−n−ブチ
ルエーテルアセテート等のプロピレングリコールモノア
ルキルエーテルアセテート類;
【0071】乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−プロピ
ル、乳酸イソプロピル、乳酸n−ブチル、乳酸イソブチ
ル等の乳酸エステル類;ギ酸メチル、ギ酸エチル、ギ酸
n−プロピル、ギ酸i−プロピル、ギ酸n−ブチル、ギ
酸i−ブチル、ギ酸n−アミル、ギ酸i−アミル、酢酸
メチル、酢酸エチル、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロ
ピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸n−アミ
ル、酢酸i−アミル、酢酸n−ヘキシル、プロピオン酸
メチル、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n−プロピ
ル、プロピオン酸i−プロピル、プロピオン酸n−ブチ
ル、プロピオン酸i−ブチル、酪酸メチル、酪酸エチ
ル、酪酸n−プロピル、酪酸i−プロピル、酪酸n−ブ
チル、酪酸i−ブチル等の脂肪族カルボン酸エステル
類;ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ−2−メチ
ルプロピオン酸エチル、2−ヒドロキシ−3−メチル酪
酸メチル、メトキシ酢酸エチル、エトキシ酢酸エチル、
3−メトキシプロピオン酸メチル、3−メトキシプロピ
オン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メチル、3−
エトキシプロピオン酸エチル、3−メトキシブチルアセ
テート、3−メチル−3−メトキシブチルアセテート、
3−メチル−3−メトキシブチルプロピオネート、3−
メチル−3−メトキシブチルブチレート、アセト酢酸メ
チル、アセト酢酸エチル、ピルビン酸メチル、ピルビン
酸エチル等の他のエステル類;トルエン、キシレン等の
芳香族炭化水素類;メチルエチルケトン、2−ヘプタノ
ン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、シクロヘキサノ
ン等のケトン類;N−メチルホルムアミド、N,N−ジ
メチルホルムアミド、N−メチルアセトアミド、N,N
−ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のア
ミド類;γ−ブチロラクトン等のラクトン類等を挙げる
ことができる。
【0072】これらの溶剤は、単独でまたは2種以上を
混合して使用することができる。レジスト溶液を調製す
る際の溶剤の使用量は、感放射線性樹脂組成物の全固形
分100重量部当たり、通常、100〜20,000重
量部、好ましくは150〜15,000重量部、さらに
好ましくは200〜10,000重量部である。
【0073】レジストパターンの形成 本発明の感放射線性樹脂組成物からレジストパターンを
形成する際には、レジスト溶液を、回転塗布、流延塗
布、ロール塗布等の手段によって、例えばシリコンウェ
ハー、アルミニウムで被覆されたウェハー等の基板上に
塗布したのち、プレベーク(PB)を行うことにより、
レジスト被膜を形成し、その後所望のパターンを形成す
るように該レジスト被膜に露光する。その際に使用する
放射線は、使用する酸発生剤(ロ)の種類に応じて、i
線等の紫外線、エキシマレーザー等の遠紫外線、シンク
ロトロン放射線等のX線、電子線等の荷電粒子線を適宜
選択して使用されるが、特に遠紫外線、X線、荷電粒子
線が好ましい。また、露光量等の露光条件は、感放射線
性樹脂組成物の配合組成、添加剤の種類等に応じて、適
宜選定される。また、本発明の感放射線性樹脂組成物を
用いてレジストパターンを形成する際には、作業雰囲気
中に含まれる塩基性不純物等の影響を防止するため、レ
ジスト被膜上に保護膜を設けることもできる。また、本
発明においては、レジスト被膜のみかけの感度を向上さ
せるために、露光後に焼成(PEB)を行うことが好ま
しい。その加熱条件は、感放射線性樹脂組成物の配合組
成、添加剤の種類等により変わるが、通常、50〜20
0℃、好ましくは80〜160℃である。次いで、アル
カリ現像液で現像することにより、所定のレジストパタ
ーンを形成させる。前記アルカリ現像液としては、例え
ば、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウ
ム、珪酸ナトリウム、メタ珪酸ナトリウム、アンモニア
水、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルアミ
ン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メチ
ル・ジエチルアミン、ジメチル・エタノールアミン、ト
リエタノールアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロ
キシド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリ
ン、ピロール、ピペリジン、1,8−ジアザビシクロ−
[5,4,0]−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシ
クロ−[4.3.0]−5−ノネン等のアルカリ性化合
物を、通常、1〜10重量%、好ましくは2〜5重量%
の濃度となるように溶解したアルカリ性水溶液が使用さ
れる。また、前記現像液には、例えばメタノール、エタ
ノール等の水溶性有機溶剤や界面活性剤を適量添加する
こともできる。なお、このようにアルカリ性水溶液から
なる現像液を使用する場合には、一般に、現像後、水で
洗浄する。
【0074】
【発明の実施の形態】以下、実施例および比較例を挙げ
て、本発明をさらに具体的に説明する。但し、本発明
は、これらの実施例に何ら制約されるものではない。実
施例および比較例における各レジストの評価は、下記の
要領で行った。感度 シリコーンウエハー上に形成したレジスト被膜に露光量
を変えて露光したのち、直ちにPEBを行ない、次いで
アルカリ現像し、水洗し、乾燥して、レジストパターン
を形成したとき、設計線幅0.26μmのライン・アン
ド・スペースパターン(1L1S)を1対1の線幅に形
成する露光量を、最適露光量とし、この最適露光量を、
感度とした。解像度 最適露光量で露光したときに解像されるレジストパター
ンの最小寸法(μm)を、解像度とした。パターン形状 シリコンウエハー上に形成した線幅0.26μmのライ
ン・アンド・スペースパターン(1L1S)の方形状断
面の下辺の寸法La と上辺の寸法Lb とを、走査型電子
顕微鏡を用いて測定して、 0.85≦Lb /La ≦1 を満足し、かつパターンの基部付近の“えぐれ”や上層
部の“庇”のないものを、パターン形状が“良”である
とし、これらの条件の少なくとも1つを満たさないもの
を、パターン形状が“不可”であるとした。膜面荒れ 設計線幅0.26μmのライン・アンド・スペースパタ
ーン(1L1S)について、走査型電子顕微鏡によりラ
インパターンの断面寸法を測定し、図1に示すように、
該ラインパターンの断面寸法のうち、最小寸法をLin、
最大寸法をLout とし、(Lout −Lin)をΔLとし
て、ΔLの値により、下記基準で評価した。なお、図1
における凹凸は実際より誇張されている。 ΔLが0.01μm未満:良 ΔLが0.01μm以上:不可
【0075】
【実施例】実施例1〜21および比較例1〜3 樹脂(イ)、酸発生剤(ロ)、酸拡散制御剤として塩基
性化合物(ハ)または他の化合物、溶解抑制剤および溶
剤を、表1または表2に示す割合で混合して均一溶液と
したのち、孔径0.2μmのメンブランフィルターでろ
過して、レジスト溶液を調製した。次いで、各レジスト
溶液を、シリコンウエハー上にスピンコーターで塗布し
たのち、表3または表4に示す温度および時間でPBを
行って、膜厚0.7μmのレジスト被膜を形成した。そ
の後、表3または表4に示す放射線により露光したの
ち、表3または表4に示す温度および時間でPEBを行
った。その後、2.38重量%テトラメチルアンモニウ
ムヒドロキシド水溶液を用い、23℃で1分間浸漬法に
より現像したのち、水で30秒間洗浄した。各レジスト
の評価結果を、表5に示す。
【0076】
【表1】
【0077】
【表2】
【0078】表1および表2中の各成分は、次のとおり
である。樹脂(イ) A1: ポリ(4−ヒドロキシスチレン)中のフェノー
ル性水酸基の水素原子の32モル%が1−エトキシエチ
ル基で置換された樹脂(Mw=15,000) A2: ポリ(4−ヒドロキシスチレン)中のフェノー
ル性水酸基の水素原子の25モル%が1−エトキシエチ
ル基で置換され、かつ該水素原子の8モル%がt−ブト
キシカルボニル基で置換された樹脂(Mw=16,00
0)酸発生剤(ロ) B1 : ビス(シクロヘキシルスルホニル)ジアゾメ
タン B2 : ビス(1,4−ジオキサスピロ [4.5] デ
カン−7−スルホニル)ジアゾメタン B3 : ビス(t−ブチルスルホニル)ジアゾメタン B4 : トリフェニルスルホニウムンノナフルオロ−
n−ブタンスルホネート B5 : ビス(4−t−ブチルフェニル)ヨードニウ
ム10−カンファースルホネート B6 : 4−t−ブトキシフェニル・ジフェニルスル
ホニウムp−トルエンスルホネート
【0079】酸拡散制御剤 塩基性化合物(ハ) C1 : 1,3−ビス(ジメチルアミノ)−2−プロ
パノール C2 : N,N’−ビス(2−ヒドロキシエチル)ピ
ペラジン C3 : 1,2−ビス〔4’−{N−(2''−ヒドロ
キシエチル)ピペリジニル}〕プロパン C4 : N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒド
ロキシエチル)エチレンジアミン C5 : N,N,N’,N’−テトラキス(2−ヒド
ロキシプロピル)エチレンジアミン C6 : N,N,N’,N'',N''−ペンタキス(2
−ヒドロキシプロピル)ジエチレントリアミン C7 : 2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチ
ル)フェノール C8 : 2,4,6−トリス〔{ビス(2’−ヒドロ
キシエチル)アミノ}メチル〕フェノール C9 : 4−ヒドロキシピリジン
【0080】他の化合物 c1 : トリ−n−ブチルアミン c2 : N,N−ジメチルアニリン c3 : N−(2−ヒドロキシエチル)ピペリジン
【0081】溶解制御剤 D1 : 前記構造式(12)で表される化合物 D2 : ポリ(4−ヒドロキシスチレン)中のフェノ
ール性水酸基の水素原子の25モル%がt−ブトキシカ
ルボニル基で置換された樹脂(Mw=15,000) D3 : ポリ(4−ヒドロキシスチレン)中のフェノ
ール性水酸基の水素原子の25モル%がt−ブトキシカ
ルボニルメチル基で置換された樹脂(Mw=15,00
0) D4 : 4−ヒドロキシスチレンとアクリル酸t−ブ
チルとスチレンとの共重合体(共重合モル比=6:2:
2、Mw=13,000) 溶剤 EL : 乳酸エチル EEP : 3−エトキシプロピオン酸エチル MMP : 3−メトキシプロピオン酸メチル PGMEA : プロピレングリコールモノメチルエーテル
アセテート MAK : 2−ヘプタノン
【0082】
【表3】
【0083】
【表4】
【0084】
【表5】
【0085】
【発明の効果】本発明の感放射線性樹脂組成物は、感
度、解像度およびパターン形状が優れるとともに、特に
設計寸法0.20μm付近の微細加工を薄い膜厚(例え
ば、0.7μm以下)で行う際にも「ナノエッジラフネ
ス」あるいは「膜面荒れ」を生じることがなく、高精度
の微細なレジストパターンを安定して形成することがで
きる。しかも、本発明の感放射線性樹脂組成物は、遠紫
外線、X線あるいは荷電粒子線の如き各種の放射線に有
効に感応することができる。したがって、本発明の感放
射線性樹脂組成物は、今後さらに微細化が進行すると予
想される半導体デバイス製造用の化学増幅型レジストと
して極めて好適に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】膜面荒れの評価手順を説明するレジストパター
ンの側断面図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/027 H01L 21/30 502R (72)発明者 岩永 伸一郎 東京都中央区築地二丁目11番24号 ジェイ エスアール株式会社内 Fターム(参考) 2H025 AA00 AA01 AA02 AA03 AC06 AC08 AD03 BE00 BE10 BG00 CC20 FA12 FA17 4J002 BC121 EN036 EN046 EU046 EU086 EU136 FD200 FD206 FD310 GQ04 4J100 AB02Q AB03Q AB07P AB07Q AJ01Q AJ02Q AJ09Q AL03Q AL04Q AL08Q AL09Q AL11Q AM02Q AM03Q AM15Q AQ06Q AQ08Q AQ12Q BA02Q BA04H BA04Q BA05H BA05Q BA06H BA10H BA15Q BA16Q BA20Q BB01Q BC03P BC03Q BC04Q BC08Q BC09Q BC12Q BC43Q BC53H BC53Q CA01 CA04 CA31 HA61 JA38 JA46

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (イ)(I)下記一般式(1)で表され
    る繰返し単位と下記一般式(2)で表される繰返し単位
    とを必須の単位として有する樹脂、(ロ)感放射線性酸
    発生剤、および(ハ)下記一般式(3)〜(8)で表さ
    れる化合物の群から選ばれる少なくとも1種の塩基性化
    合物を含有することを特徴とする感放射線性樹脂組成
    物。 【化1】 〔一般式(1)において、R1 は水素原子またはメチル
    基を示し、R2 およびR3 は相互に独立に水素原子また
    は炭素数1〜6の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキ
    ル基を示す。〕 【化2】 〔一般式(2)において、R4 は水素原子またはメチル
    基を示す。〕 【化3】 〔一般式(3)において、X1 は主鎖炭素数が2〜8の
    ポリメチレン鎖を示し、R5 、R6 、R7 およびR8
    相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは
    環状のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基または
    炭素数7〜12のアラルキル基を示すか、またはR5
    6 が結合し、あるいはR7 とR8 が結合して、それぞ
    れ一般式(3)中の1個の窒素原子と共に5〜8員環の
    複素環構造を形成し、R5 〜R8 の残りが相互に独立に
    炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキ
    ル基、炭素数6〜12のアリール基または炭素数7〜1
    2のアラルキル基を示し、かつ前記ポリメチレン鎖、ア
    ルキル基、アリール基、アラルキル基および複素環構造
    の少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸基を1個以
    上有する。但し、前記ポリメチレン鎖、アルキル基、ア
    リール基、アラルキル基および複素環構造は、それらの
    任意の炭素−炭素結合間に酸素原子、硫黄原子あるいは
    カルボニル基を有することができ、またそれらの任意の
    炭素原子に結合した水素原子がアルコキシル基、フェノ
    キシ基等の水酸基以外の1種以上の置換基で置換されて
    いてもよい。〕 【化4】 〔一般式(4)において、R9 およびR10は相互に独立
    に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアル
    キル基、炭素数6〜12のアリール基または炭素数7〜
    12のアラルキル基を示し、かつ前記アルキル基、アリ
    ール基およびアラルキル基、並びに一般式(4)中のピ
    ペラジン環の少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸
    基を1個以上有する。但し、前記アルキル基、アリール
    基およびアラルキル基は、それらの任意の炭素−炭素結
    合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボニル基を有す
    ることができ、またそれらの任意の炭素原子に結合した
    水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基等の水酸基以
    外の1種以上の置換基で置換されていてもよい。〕 【化5】 〔一般式(5)において、X2 は主鎖炭素数が2〜8の
    ポリメチレン鎖を示し、R11およびR12は相互に独立に
    炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキ
    ル基、炭素数6〜12のアリール基もしくは炭素数7〜
    12のアラルキル基を示し、かつ前記ポリメチレン鎖、
    アルキル基、アリール基およびアラルキル基、並びに一
    般式(5)中の1個または2個のピペリジン環の少なく
    とも1つが炭素原子に結合した水酸基を1個以上有す
    る。但し、前記ポリメチレン鎖、アルキル基、アリール
    基およびアラルキル基は、それらの任意の炭素−炭素結
    合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボニル基を有す
    ることができ、またそれらの任意の炭素原子に結合した
    水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基等の水酸基以
    外の1種以上の置換基で置換されていてもよい。〕 【化6】 〔一般式(6)において、X3 およびX4 は相互に独立
    に主鎖炭素数が2〜8のポリメチレン鎖を示し、R13
    14、R15、R16およびR17は相互に独立に炭素数1〜
    12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素
    数6〜12のアリール基または炭素数7〜12のアラル
    キル基を示すか、またはR13とR14が相互に結合し、あ
    るいはR16とR17が相互に結合して、それぞれ一般式
    (6)中の1個の窒素原子と共に5〜8員環の複素環構
    造を形成し、R13〜R17の残りが相互に独立に炭素数1
    〜12の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭
    素数6〜12のアリール基または炭素数7〜12のアラ
    ルキル基を示し、かつ前記ポリメチレン鎖、アルキル
    基、アリール基、アラルキル基および複素環構造の少な
    くとも1つが炭素原子に結合した水酸基を1個以上有す
    る。但し、前記ポリメチレン鎖、アルキル基、アリール
    基、アラルキル基および複素環構造は、それらの任意の
    炭素−炭素結合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボ
    ニル基を有することができ、またそれらの任意の炭素原
    子に結合した水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基
    等の水酸基以外の1種以上の置換基で置換されていても
    よい。〕 【化7】 〔一般式(7)において、R18、R19、R20、R21、R
    22およびR23は相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、
    分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素数6〜12のア
    リール基または炭素数7〜12のアラルキル基を示す
    か、またはR18とR19が相互に結合し、あるいはR20
    21が相互に結合し、あるいはR22とR23が相互に結合
    して、それぞれ一般式(7)中の1個の窒素原子と共に
    5〜8員環の複素環構造を形成し、R18〜R23の残りが
    相互に独立に炭素数1〜12の直鎖状、分岐状もしくは
    環状のアルキル基、炭素数6〜12のアリール基もしく
    は炭素数7〜12のアラルキル基を示す。但し、前記ア
    ルキル基、アリール基、アラルキル基および複素環構造
    は、それらの少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸
    基を1個以上有することができ、またそれらの任意の炭
    素−炭素結合間に酸素原子、硫黄原子あるいはカルボニ
    ル基を有することができ、さらにそれらの任意の炭素原
    子に結合した水素原子がアルコキシル基、フェノキシ基
    等の水酸基以外の1種以上の置換基で置換されていても
    よい。〕 【化8】 〔一般式(8)において、R24、R25、R26、R27およ
    びR28は相互に独立に水素原子、水酸基、炭素数1〜1
    2の直鎖状、分岐状もしくは環状のアルキル基、炭素数
    6〜12のアリール基または炭素数7〜12のアラルキ
    ル基を示すか、またはR24とR25が相互に結合し、ある
    いはR25とR26が相互に結合し、あるいはR26とR27
    相互に結合し、あるいはR27とR28が相互に結合して、
    それぞれ一般式(8)中の2個の炭素原子と共に6員環
    の芳香環構造を形成し、R24〜R28の残りが相互に独立
    に水素原子、水酸基、炭素数1〜12の直鎖状、分岐状
    もしくは環状のアルキル基、炭素数6〜12のアリール
    基または炭素数7〜12のアラルキル基を示し、かつR
    24〜R28の少なくとも1つが水酸基であるか、あるいは
    前記アルキル基、アリール基、アラルキル基および芳香
    環構造の少なくとも1つが炭素原子に結合した水酸基を
    1個以上有する。但し、R24〜R28の少なくとも1つが
    水酸基であるとき、残りのR24〜R28の前記アルキル
    基、アリール基、アラルキル基および芳香環構造の少な
    くとも1つが水酸基を1個以上有することができ、前記
    アルキル基、アリール基、アラルキル基および芳香環構
    造は、それらの任意の炭素−炭素結合間に酸素原子、硫
    黄原子あるいはカルボニル基を有することができ、また
    それらの任意の炭素原子に結合した水素原子がアルコキ
    シル基、フェノキシ基、ピリジル基等の水酸基以外の1
    種以上の置換基で置換されていてもよい。〕
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